JP2013257528A - Exposure apparatus - Google Patents

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  • Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an exposure apparatus capable of reducing tact time to improve productivity.SOLUTION: An exposure apparatus performs exposure processing on a substrate that is cut into the separate shape of a finally obtained product. The exposure apparatus includes: an exposure unit having a light source, a frame member disposed downward the light source, and a mask attached to the frame member; a substrate holding unit on which the substrate is mounted; and a leg unit that supports the exposure unit above the substrate holding unit and makes the exposure unit move at least to a vertical direction. With the substrate being mounted on the surface of the substrate holding unit, the leg unit adjusts the position of the exposure unit (in the vertical direction). Light is emitted from the light source of the exposure unit. The light passes through the mask to radiate light of a pattern according to the pattern formed on the mask onto the surface of the substrate.

Description

本発明は、個別形状にカットされた基板に対して露光処理を行う露光装置に関する。   The present invention relates to an exposure apparatus that performs an exposure process on a substrate cut into individual shapes.

従来より、タッチパネルは、例えばATM、自動販売機、携帯情報端末、携帯ゲーム機、電子案内表示板、カーナビゲーション、携帯電話等に広く用いられている。
タッチパネルを液晶パネルの上に載せて使う従来方法に対して、タッチパネル機能を液晶パネルの中に一体化する方法の研究が盛んになっている。このタッチパネルと液晶パネルの一体化には、「インセル」と呼ばれる方法と、「オンセル」と呼ばれる方法がある。
Conventionally, touch panels have been widely used in, for example, ATMs, vending machines, portable information terminals, portable game machines, electronic guidance display boards, car navigation systems, mobile phones, and the like.
In contrast to the conventional method of using a touch panel on a liquid crystal panel, research on methods for integrating a touch panel function into a liquid crystal panel has become active. For integration of the touch panel and the liquid crystal panel, there are a method called “in-cell” and a method called “on-cell”.

インセルは、タッチパネル機能を液晶の画素の中に組み込む方法である。一方、オンセルは、タッチパネル機能をカラー・フィルタ基板と偏光板の間に作り込む方法である。外付けだったタッチパネル部品を一体化できれば、薄型化、軽量化が可能になる。   In-cell is a method of incorporating a touch panel function into a liquid crystal pixel. On-cell, on the other hand, is a method in which a touch panel function is built between the color filter substrate and the polarizing plate. If external touch panel components can be integrated, it will be possible to reduce the thickness and weight.

インセル技術の提案は以前からあったが、複雑な半導体製造プロセスを使うため、歩留まりや表示性能の確保が難しく、実用化が進まずにいた。また、画素内にタッチ・センサを組み込むことで、表示に利用できる面積が減ってしまい、画質劣化の要因にもなっていた。   In-cell technology has been proposed for a long time. However, since a complicated semiconductor manufacturing process is used, it is difficult to secure yield and display performance, and it has not been put into practical use. Also, by incorporating a touch sensor in the pixel, the area that can be used for display is reduced, which also causes deterioration in image quality.

一方、オンセル技術では、カラー・フィルタ基板と偏光板の間に、簡単な透明電極パターンなどを形成するだけで済むため、歩留まりを確保しやすい。また、画素内の有効表示領域の面積も減らないため、画質劣化もほとんどない。   On the other hand, in the on-cell technology, it is only necessary to form a simple transparent electrode pattern between the color filter substrate and the polarizing plate, so it is easy to ensure the yield. Further, since the area of the effective display area in the pixel is not reduced, there is almost no deterioration in image quality.

ところで、近年、タッチパネルセンサの薄型化と製造工程の簡単化のトレンドとして、上述したようなインセル方式、オンセル方式と並んで、カバーガラスに直接パターニングする方法が検討されている。   By the way, in recent years, as a trend of thinning the touch panel sensor and simplifying the manufacturing process, a method of directly patterning on the cover glass has been studied along with the in-cell method and the on-cell method as described above.

現在市場に流通しているカバーガラスは、最終的に得られる製品のサイズにカットした後に強化処理を行っている。この工程を逆にすることが技術的障壁であり、カットされたカバーガラスヘのパターニングが行われている。即ち、強化処理を行った複数取りの大型ガラス基板を露光・パターニング後にカットすると、クラックが入るなどして製品化ができないのが現状である。   The cover glass currently on the market is tempered after being cut into the final product size. Reversing this process is a technical barrier, and the cut cover glass is patterned. In other words, if a plurality of large glass substrates subjected to a tempering process are cut after exposure and patterning, they cannot be commercialized due to cracks.

そこで、製品サイズにカットされたガラス基板に対して露光処理を行う露光装置が求められているが、そのような露光装置では、タクトタイムが大きくなってしまい、生産性向上の妨げとなっている。   Thus, there is a demand for an exposure apparatus that performs an exposure process on a glass substrate that has been cut into a product size. However, in such an exposure apparatus, the tact time is increased, which hinders improvement in productivity. .

特開2001−297971号公報JP 2001-297971 A

本発明は、このような従来の実情に鑑みて考案されたものであり、個別形状にカットされた基板に対して露光処理を行う露光装置において、タクトタイムを短縮して、生産性を向上できる露光装置を提供することを目的とする。   The present invention has been devised in view of such conventional circumstances, and in an exposure apparatus that performs exposure processing on a substrate cut into individual shapes, the tact time can be shortened and productivity can be improved. An object is to provide an exposure apparatus.

本発明の請求項1に記載の露光装置は、最終的に得られる製品の個別形状にカットされた基板に対して露光処理を行う露光装置であって、光源、前記光源の下方に配されたフレーム部材、及び前記フレーム部材に取付けられたマスクを有する露光ユニットと、前記基板が載置される基板保持ユニットと、前記露光ユニットを前記基板保持ユニットの上方に支持するとともに、前記露光ユニットを少なくとも鉛直方向に移動させる脚ユニットと、を備え、前記基板保持ユニット表面に基板が載置された状態で、前記脚ユニットにより前記露光ユニットの(鉛直方向の)位置を調整し、前記露光ユニットの前記光源から光を発し、該光が前記マスクを透過して、前記マスクに形成されたパターンに応じたパターンの光を前記基板表面に照射すること、を特徴とする。
本発明の請求項2に記載の露光装置は、請求項1において、前記基板は、予め強化処理が施されたガラス基板であること、を特徴とする。
本発明の請求項3に記載の露光装置は、請求項1又は2において、前記露光ユニットは、前記フレーム部材の(鉛直方向の)位置を調整可能な移動機構を有すること、を特徴とする。
本発明の請求項4に記載の露光装置は、請求項1乃至3のいずれかにおいて、前記基板保持ユニットは、複数の基板を連続的に搬送するコンベアの一部であり、光照射位置において、露光処理がなされる基板を停止した状態で保持すること、を特徴とする。
本発明の請求項5に記載の露光装置は、請求項4において、並行して配された複数の前記コンベアと、該複数のコンベアのそれぞれに対応して配された、複数の前記露光ユニット及び前記脚ユニットとを備えること、を特徴とする。
本発明の請求項6に記載の露光装置は、請求項4において、並行して配された複数の前記コンベアと、前記露光ユニットを、前記複数のコンベアを横切る方向に移動させる、移動手段を備えること、を特徴とする。
An exposure apparatus according to claim 1 of the present invention is an exposure apparatus that performs an exposure process on a substrate that is cut into an individual shape of a finally obtained product, and is disposed below a light source and the light source. An exposure unit having a frame member and a mask attached to the frame member; a substrate holding unit on which the substrate is placed; and supporting the exposure unit above the substrate holding unit; and at least the exposure unit A leg unit that moves in a vertical direction, and with the substrate placed on the surface of the substrate holding unit, the position of the exposure unit (in the vertical direction) is adjusted by the leg unit, and the exposure unit Light is emitted from a light source, the light passes through the mask, and the substrate surface is irradiated with light having a pattern corresponding to the pattern formed on the mask. , Characterized by.
An exposure apparatus according to a second aspect of the present invention is the exposure apparatus according to the first aspect, wherein the substrate is a glass substrate that has been pre-strengthened.
An exposure apparatus according to a third aspect of the present invention is characterized in that, in the first or second aspect, the exposure unit has a moving mechanism capable of adjusting a position (in the vertical direction) of the frame member.
An exposure apparatus according to a fourth aspect of the present invention is the exposure apparatus according to any one of the first to third aspects, wherein the substrate holding unit is a part of a conveyor that continuously conveys a plurality of substrates. The substrate to be exposed is held in a stopped state.
The exposure apparatus according to claim 5 of the present invention is the exposure apparatus according to claim 4, wherein the plurality of conveyors arranged in parallel, and the plurality of exposure units arranged corresponding to each of the plurality of conveyors, and The leg unit is provided.
An exposure apparatus according to claim 6 of the present invention is the exposure apparatus according to claim 4, further comprising: a plurality of conveyors arranged in parallel; and a moving unit that moves the exposure unit in a direction crossing the plurality of conveyors. It is characterized by this.

本発明の露光装置では、光源、前記光源の下方に配されたフレーム部材、及び前記フレーム部材に取付けられたマスクを有する露光ユニットと、前記基板が載置される基板保持ユニットと、前記露光ユニットを前記基板保持ユニットの上方に支持するとともに、前記露光ユニットを少なくとも鉛直方向に移動させる脚ユニットと、を備えている。そして本発明の露光装置では、前記基板保持ユニット表面に、個別形状にカットされた基板が載置された状態で、前記脚ユニットにより前記露光ユニットの(鉛直方向の)位置を調整し、前記露光ユニットの前記光源から光を発し、該光が前記マスクを透過して、前記マスクに形成されたパターンに応じたパターンの光を前記基板表面に照射しているので、個別形状にカットされた複数の基板に対して、迅速に露光処理を行うことができる。これにより本発明では、タクトタイムを短縮して、生産性を向上できる露光装置を提供することができる。   In the exposure apparatus of the present invention, an exposure unit having a light source, a frame member disposed below the light source, and a mask attached to the frame member, a substrate holding unit on which the substrate is placed, and the exposure unit And a leg unit that moves the exposure unit at least in the vertical direction. In the exposure apparatus of the present invention, the position of the exposure unit (in the vertical direction) is adjusted by the leg unit with the substrate cut into an individual shape placed on the surface of the substrate holding unit, and the exposure Since light is emitted from the light source of the unit, the light passes through the mask, and the surface of the substrate is irradiated with light of a pattern corresponding to the pattern formed on the mask, a plurality of pieces cut into individual shapes The exposure processing can be performed quickly on the substrate. As a result, the present invention can provide an exposure apparatus that can shorten the tact time and improve the productivity.

本実施形態にかかる露光装置の一構成例を模式的に示す図であり、(a)は斜視図、(b)は上面図、(c)は断面図である。1A and 1B are diagrams schematically showing a configuration example of an exposure apparatus according to the present embodiment, in which FIG. 1A is a perspective view, FIG. 1B is a top view, and FIG. は、本実施形態の露光装置において、フレーム部材及びアクチュエータの部分の構成を示す斜視図である。These are the perspective views which show the structure of the part of a frame member and an actuator in the exposure apparatus of this embodiment. アクチュエータの構成を模式的に示す図である。It is a figure which shows the structure of an actuator typically. 図1に示す露光装置の動作を説明する図であり、(a)は上面図、(b)は断面図である。2A and 2B are diagrams for explaining the operation of the exposure apparatus shown in FIG. 1, wherein FIG. 1A is a top view and FIG. 露光装置の他の一構成例を模式的に示す上面図である。It is a top view which shows typically the other structural example of exposure apparatus. 露光装置の他の一構成例を模式的に示す図であり、(a)は上面図、(b)は断面図である。It is a figure which shows typically another structural example of exposure apparatus, (a) is a top view, (b) is sectional drawing.

以下では、本発明に係る露光装置の一実施形態について、図面に基づいて説明する。   Hereinafter, an embodiment of an exposure apparatus according to the present invention will be described with reference to the drawings.

図1は、本実施形態に係る露光装置の一構成例を模式的に示す図であり、(a)は斜視図、(b)は上面図、(c)は断面図である。
この露光装置は、最終的に得られる製品の個別形状にカットされた基板に対して露光処理を行う露光装置である。
露光装置1は、光源11、前記光源11の下方に配されたフレーム部材12、及び前記フレーム部材12に取付けられたマスク13を有する露光ユニット10と、前記基板2が載置される基板保持ユニット20と、前記露光ユニット10を前記基板保持ユニット20の上方に支持するとともに、前記露光ユニット10を少なくとも鉛直方向に移動させる脚ユニット30と、を備える。
FIG. 1 is a diagram schematically showing one configuration example of an exposure apparatus according to the present embodiment, in which (a) is a perspective view, (b) is a top view, and (c) is a cross-sectional view.
This exposure apparatus is an exposure apparatus that performs an exposure process on a substrate that is cut into individual shapes of a finally obtained product.
The exposure apparatus 1 includes a light source 11, an exposure unit 10 having a frame member 12 disposed below the light source 11, and a mask 13 attached to the frame member 12, and a substrate holding unit on which the substrate 2 is placed. 20 and a leg unit 30 that supports the exposure unit 10 above the substrate holding unit 20 and moves the exposure unit 10 at least in the vertical direction.

前記基板2は、最終的に得られる製品の個別形状にカットされるとともに、予め強化処理が施されたガラス基板である。
本実施形態において、基板2は、例えば化学強化ガラスからなる。このような化学強化ガラスは、温度が400℃程度のカリウム塩溶融浴に浸漬して化学強化処理を行ったガラスであり、ガラス基板2のナトリウムイオンがカリウムイオンにイオン交換されている。ここで、ナトリウムのイオン半径は95nmであるのに対して、カリウムイオンのイオン半径は133nmであり、カリウムイオンの方がナトリウムイオンよりもイオン半径が大きい。このため、ガラス基板は、表面の化学強化層に起因する圧縮応力によって強度が強化された状態にある。
The substrate 2 is a glass substrate that has been cut into individual shapes of the final product and that has been subjected to a strengthening process in advance.
In the present embodiment, the substrate 2 is made of, for example, chemically strengthened glass. Such a chemically strengthened glass is a glass that has been subjected to a chemical strengthening treatment by being immersed in a potassium salt molten bath at a temperature of about 400 ° C., and sodium ions of the glass substrate 2 are ion-exchanged with potassium ions. Here, the ionic radius of sodium is 95 nm, whereas the ionic radius of potassium ions is 133 nm. The ionic radius of potassium ions is larger than that of sodium ions. For this reason, the glass substrate is in a state where the strength is enhanced by the compressive stress resulting from the chemical strengthening layer on the surface.

また、本実施形態において、基板は、大型のガラス基板を切断した後、強化処理されてなる。このため、大型の強化ガラス基板を切断する必要がないので、製品サイズのガラス基板を効率よく生産することができる。
なお、基板2には、その表面にパターニングする対象となる薄膜が形成され、その薄膜表面にフォトレジスト膜が予め形成されていてもよい。
In the present embodiment, the substrate is reinforced after cutting a large glass substrate. For this reason, since it is not necessary to cut | disconnect a large tempered glass substrate, the glass substrate of a product size can be produced efficiently.
Note that a thin film to be patterned may be formed on the surface of the substrate 2, and a photoresist film may be formed in advance on the thin film surface.

露光ユニット10は、光源11、前記光源11の下方に配されたフレーム部材12、前記フレーム部材12に取付けられたマスク13(フォトマスク)を備える。
光源11としては、例えば、波長365nmを基準波長とする超高圧水銀ランプが好ましい。このランプを使用する場合、点灯/消灯制御を頻繁に行うことは現実的ではないので、継続点灯状態で用いる。そのため、光源からの光の出射/遮蔽動作を行うためには、2次デバイスが必要となる。この2次デバイスとしては通常、モータ駆動のメカニカルなシャッタが搭載される。後述するミラーデバイスは、このシャッタの代替要素の一例である。
The exposure unit 10 includes a light source 11, a frame member 12 disposed below the light source 11, and a mask 13 (photomask) attached to the frame member 12.
As the light source 11, for example, an ultrahigh pressure mercury lamp having a wavelength of 365 nm as a reference wavelength is preferable. When this lamp is used, it is not realistic to frequently perform the lighting / extinguishing control, so that it is used in a continuous lighting state. Therefore, a secondary device is required to perform the light emission / shielding operation from the light source. As this secondary device, a motor-driven mechanical shutter is usually mounted. A mirror device to be described later is an example of an alternative element of the shutter.

フレーム部材12は、マスク13を位置決めして保持する。
マスク13は、例えば、ガラス等の透明基板上に、所定パターンの遮光膜が形成されることで構成される。
The frame member 12 positions and holds the mask 13.
The mask 13 is configured, for example, by forming a light shielding film having a predetermined pattern on a transparent substrate such as glass.

さらに、本実施形態の露光装置1において、前記露光ユニット10は、前記フレーム部材12の(鉛直方向の)位置を調整可能な移動機構(アクチュエータ14)を有する。
アクチュエータ14は、マスク13を保持したフレーム部材12を、少なくともY軸の方向(鉛直方向)に移動可能である。これにより、基板保持ユニット20に載置された基板2上に形成される、照明領域の形状又は位置を調整することができる。
なお、本実施形態の露光装置1は、いわゆる、「プロキシミティ露光」装置を主な対象として検討されたものである。ここで、「プロキシミティ露光」とは、マスク(レチクル)とワーク(試料、基板)のギャップを求められる解像度に対応して数μmから数百μm程度に設定して露光する非接触の露光方式を意味する。「プロキシミティ露光」は、マスクをワークに接触させる「コンタクト露光」に比較して、たとえばマスク表面にレジスト材料が展着するようなリスクを回避できる反面、マスク開口部を通過する光(マスク開口通過光)の放射成分(完全な平行光は作れない)によって、マスクパターン外のレジスト材にも微小に露光が進行し、解像度が劣化する。この解像劣化量は、ギャップ量に比例して進行するので、例えばタッチパネルの場合、ギャップ量としては150μm程度が好ましい。
Furthermore, in the exposure apparatus 1 of the present embodiment, the exposure unit 10 has a moving mechanism (actuator 14) that can adjust the position (in the vertical direction) of the frame member 12.
The actuator 14 can move the frame member 12 holding the mask 13 at least in the Y-axis direction (vertical direction). Thereby, the shape or position of the illumination area formed on the substrate 2 placed on the substrate holding unit 20 can be adjusted.
Note that the exposure apparatus 1 of the present embodiment has been studied mainly for a so-called “proximity exposure” apparatus. Here, “proximity exposure” is a non-contact exposure method in which the gap between the mask (reticle) and the workpiece (sample, substrate) is set to several μm to several hundred μm corresponding to the required resolution. Means. “Proximity exposure” can avoid the risk that the resist material spreads on the mask surface, for example, compared to “contact exposure” in which the mask is brought into contact with the workpiece, while light passing through the mask opening (mask opening). Due to the radiation component of the passing light (completely parallel light cannot be produced), the resist material outside the mask pattern is slightly exposed and the resolution deteriorates. Since this resolution degradation proceeds in proportion to the gap amount, for example, in the case of a touch panel, the gap amount is preferably about 150 μm.

図2は、本実施形態の露光装置において、フレーム部材12及びアクチュエータ14の部分の構成を示す斜視図である。また、図3は、アクチュエータ14の構成を模式的に示す図である。本実施形態において、アクチュエータ14は、フィードバック制御を行う。   FIG. 2 is a perspective view showing the configuration of the frame member 12 and the actuator 14 in the exposure apparatus of the present embodiment. FIG. 3 is a diagram schematically showing the configuration of the actuator 14. In the present embodiment, the actuator 14 performs feedback control.

アクチュエータ14は、電磁弁50、フレーム部材12に固定されたノズル51、シリンダケース52内をシリンダ室52a,52bに分けるシリンダ52c、シリンダケース52内に配されたシリンダ52cを付勢するスプリング53、空圧源54、レギュレータ55、及び、オリフィス等とされる絞り56を有する。   The actuator 14 includes a solenoid valve 50, a nozzle 51 fixed to the frame member 12, a cylinder 52c that divides the inside of the cylinder case 52 into cylinder chambers 52a and 52b, a spring 53 that biases the cylinder 52c disposed in the cylinder case 52, An air pressure source 54, a regulator 55, and a restriction 56 such as an orifice are provided.

図3の電磁弁off 状態では、スプリング53に押圧されてシリンダ52cは上方に移動した状態にある。
電磁弁52をONにするとシリンダ室52b が加圧され、シリンダ52c を下方に移動せしめ、スプリング53を圧縮する。このとき、シリンダ室52aには絞り56を通過した圧空が導入されていて、さらにノズル51から排気されている状態で、いわゆるメータアウト駆動状態にある。
In the electromagnetic valve off state of FIG. 3, the cylinder 52c is moved upward by being pressed by the spring 53.
When the solenoid valve 52 is turned on, the cylinder chamber 52b is pressurized, the cylinder 52c is moved downward, and the spring 53 is compressed. At this time, the compressed air that has passed through the throttle 56 is introduced into the cylinder chamber 52a, and the cylinder 51a is in a so-called meter-out drive state in a state where it is exhausted from the nozzle 51.

フレーム部材12及びマスク13を下降させると、フレーム部材12に固定されたノズル51が、基板載置面(基板保持ユニット20表面)に近接するに応じて先のメータアウトの絞りが強まることとなる。これにより、ノズル51内圧およびシリンダ室52aの圧力が上昇する。シリンダ室52aの圧力とシリンダ52cを上方に押し上げるスプリング53のスプリング力の和が、シリンダ室52bの圧力によるシリンダ52cに対する下向きの力まで高まると、シリンダ室52aとシリンダ室52bとの圧力差によりシリンダ52cはノズル51先端のギャップをそれ以上縮める方向に移動できなくなる。このため、スプリング53とシリンダ室52aとの押圧力の和がシリンダ室52bの圧力差に釣り合う位置で、シリンダ52cと一体に固定されたフレーム部材12は停止する。さて、絞り56がなくても先の動作中のメータアウト効果は得られるのであるが、その場合はシリンダ室52b内に残留していたエアがノズル51先端から流れだしてしまい、ノズル51と基板保持ユニット20表面が接触してしまう可能性があるため好ましくない。   When the frame member 12 and the mask 13 are lowered, the previous meter-out diaphragm is strengthened as the nozzle 51 fixed to the frame member 12 comes close to the substrate placement surface (the surface of the substrate holding unit 20). . Thereby, the internal pressure of the nozzle 51 and the pressure in the cylinder chamber 52a increase. When the sum of the pressure of the cylinder chamber 52a and the spring force of the spring 53 that pushes the cylinder 52c upward increases to a downward force on the cylinder 52c due to the pressure of the cylinder chamber 52b, the pressure difference between the cylinder chamber 52a and the cylinder chamber 52b 52c cannot move in the direction in which the gap at the tip of the nozzle 51 is further reduced. Therefore, the frame member 12 fixed integrally with the cylinder 52c stops at a position where the sum of the pressing forces of the spring 53 and the cylinder chamber 52a is balanced with the pressure difference of the cylinder chamber 52b. Although the meter-out effect during the previous operation can be obtained without the restriction 56, in this case, the air remaining in the cylinder chamber 52b flows out from the tip of the nozzle 51, and the nozzle 51 and the substrate. This is not preferable because the surface of the holding unit 20 may come into contact.

何らかの外力によって20と51を離間させる状態にしたときには、ノズル51の吐出流量が増加する。これにより、ノズル51内およびシリンダ室52aの圧力が減少しシリンダ52cが下降する。このシリンダ室52aの圧力とシリンダ52cを上方に押し上げるスプリング力との和が、シリンダ室52bの圧力と釣り合う位置までシリンダ52cが下降すると、シリンダ52cは一体として上下動するフレーム部材12及びマスク13ともども停止する。   When 20 and 51 are separated by some external force, the discharge flow rate of the nozzle 51 increases. Thereby, the pressure in the nozzle 51 and the cylinder chamber 52a is reduced, and the cylinder 52c is lowered. When the cylinder 52c is lowered to a position where the sum of the pressure in the cylinder chamber 52a and the spring force that pushes the cylinder 52c upward matches the pressure in the cylinder chamber 52b, the cylinder 52c is also moved together with the frame member 12 and the mask 13 that move up and down. Stop.

フレーム部材12,マスク13,シリンダ52c といった重量とスプリング53のスプリング力と、シリンダ室52bに導入されるレギュレータ55のレギュレータ設定圧、シリンダ室52aの室圧がシリンダ52cに作用する釣り合い条件は機械設計的に決められるのであるが、基板保持ユニット20表面とノズル51とのギャップは、シリンダ室52室圧が絞り56と、ノズル51先端部圧力損失比によって決まるものなので、絞り56をより絞れば、基板保持ユニット20表面とノズル51との釣合ギャップはより狭小に調整できる。
また、絞り56を固定したとき、レギュレータ55のレギュレータ圧を調整することでも基板保持ユニット20表面とノズル51との釣合ギャップを調整することができる。
The balance conditions under which the weight of the frame member 12, the mask 13, the cylinder 52c, the spring force of the spring 53, the regulator set pressure of the regulator 55 introduced into the cylinder chamber 52b, and the chamber pressure of the cylinder chamber 52a act on the cylinder 52c are mechanically designed. The gap between the surface of the substrate holding unit 20 and the nozzle 51 is determined by the pressure in the cylinder chamber 52 and the pressure loss ratio at the tip of the nozzle 51. The balance gap between the surface of the substrate holding unit 20 and the nozzle 51 can be adjusted to be narrower.
Further, when the diaphragm 56 is fixed, the balance gap between the surface of the substrate holding unit 20 and the nozzle 51 can also be adjusted by adjusting the regulator pressure of the regulator 55.

これにより、機械的接触をせずに、マスク13と基板2との間のギャップを精密に制御して、マスク下面13aと基板2との間の露光ギャップを所定幅に制御することが可能となる。さらに、この場合、ノズル51と基板載置面(基板保持ユニット20表面)との衝突リスクの軽減が図れるので好ましい。このように、本実施形態のアクチュエータ14では、センサやコントローラを必要としないので、安価な閉ループ制御を実現できる。   This makes it possible to precisely control the gap between the mask 13 and the substrate 2 without mechanical contact, and to control the exposure gap between the mask lower surface 13a and the substrate 2 to a predetermined width. Become. Furthermore, in this case, the risk of collision between the nozzle 51 and the substrate placement surface (substrate holding unit 20 surface) can be reduced, which is preferable. As described above, the actuator 14 according to the present embodiment does not require a sensor or a controller, so that inexpensive closed-loop control can be realized.

なお、露光ユニット10において、光源11とマスク13との間に、コンデンサレンズ(図示せず)が配されていてもよい。コンデンサレンズは、例えば一対の非球面レンズからなり、光源11からの照射光を略平行光とする。   In the exposure unit 10, a condenser lens (not shown) may be disposed between the light source 11 and the mask 13. The condenser lens is composed of, for example, a pair of aspheric lenses, and the irradiation light from the light source 11 is substantially parallel light.

また、マスク13と基板保持ユニット20との間に、縮小投影レンズ(図示せず)が配されていてもよい。縮小投影レンズは、マスク13上のパターンを、基板保持ユニット20に載置された基板2上に縮小投影する。   Further, a reduction projection lens (not shown) may be disposed between the mask 13 and the substrate holding unit 20. The reduction projection lens reduces and projects the pattern on the mask 13 onto the substrate 2 placed on the substrate holding unit 20.

基板保持ユニット20は、その表面に、露光処理が施される被処理基板2が載置される。基板保持ユニット20は、例えば真空吸着、静電吸着、メカニカルクランプなどにより基板2を固定する手段を有していてもよい。
本実施形態の露光装置1において、前記基板保持ユニット20は、複数の基板2を連続的に搬送するコンベア21の一部である。
On the surface of the substrate holding unit 20, the substrate 2 to be processed is placed. The substrate holding unit 20 may have means for fixing the substrate 2 by, for example, vacuum chucking, electrostatic chucking, mechanical clamping, or the like.
In the exposure apparatus 1 of the present embodiment, the substrate holding unit 20 is a part of a conveyor 21 that continuously conveys a plurality of substrates 2.

コンベア21は、例えば、駆動用回転ローラ、回転ローラ、及びコンベアベルトを備える。モータを所定方向に回転させて、コンベアベルトを所定方向に回転させ、これにより、コンベアベルト上に載置された複数の基板2を、連続的に搬送する。
そして、コンベア21は、光照射位置(露光ユニット10の下方位置)において、露光処理がなされる被処理基板2を停止した状態で保持する。
The conveyor 21 includes, for example, a driving rotation roller, a rotation roller, and a conveyor belt. The motor is rotated in a predetermined direction, and the conveyor belt is rotated in a predetermined direction, whereby the plurality of substrates 2 placed on the conveyor belt are continuously conveyed.
And the conveyor 21 hold | maintains in the state which stopped the to-be-processed substrate 2 in which an exposure process is made in a light irradiation position (lower position of the exposure unit 10).

脚ユニット30は、前記露光ユニット10を前記基板保持ユニット20の上方に支持するとともに、前記露光ユニット10を少なくとも鉛直方向に移動させる。
脚ユニット30は、昇降モータ(図示せず)に連結され鉛直方向に延びる昇降脚31を有し、この昇降脚31の上端部には、露光ユニット10が取り付けられている。昇降脚31の数は特に限定されるものではないが、複数とすることが好ましく、例えば3本とする。
The leg unit 30 supports the exposure unit 10 above the substrate holding unit 20 and moves the exposure unit 10 at least in the vertical direction.
The leg unit 30 includes an elevating leg 31 that is connected to an elevating motor (not shown) and extends in the vertical direction. The exposure unit 10 is attached to the upper end of the elevating leg 31. Although the number of the raising / lowering legs 31 is not specifically limited, It is preferable to set it as multiple, for example, it shall be three.

このような構成の露光装置11を用いて、ガラスからなる基板2表面に形成された薄膜をパターニングするには、まず、図4に示すように複数の基板2をコンベア21(基板保持ユニット20)に載置する。
なお、基板2は、その表面にパターニングする対象となる薄膜が形成され、その薄膜表面にフォトレジスト膜が予め形成されている。
In order to pattern the thin film formed on the surface of the substrate 2 made of glass using the exposure apparatus 11 having such a configuration, first, as shown in FIG. 4, a plurality of substrates 2 are transferred to a conveyor 21 (substrate holding unit 20). Placed on.
Note that a thin film to be patterned is formed on the surface of the substrate 2, and a photoresist film is formed in advance on the thin film surface.

このとき、図4(b)に示すように、昇降ユニットは上昇し、その昇降脚31によって露光ユニット10を支持して上昇した状態とされている。
コンベア21は、露光処理がなされる被処理基板2を、処理が行われる所定位置(露光ユニット10の下方位置)まで搬送し、光照射位置において、被処理基板2を停止した状態で保持する。
At this time, as shown in FIG. 4B, the elevating unit is raised, and the exposure unit 10 is supported and raised by the elevating legs 31.
The conveyor 21 conveys the substrate 2 to be processed to a predetermined position (a position below the exposure unit 10) where the processing is performed, and holds the substrate 2 to be stopped at the light irradiation position.

そして、図1(c)に示すように、昇降ユニットの昇降脚31を下降させることで露光ユニット10を下降させ、その状態で、基板2に対して露光処理を行う。このとき、前記脚ユニット30により前記露光ユニット10の鉛直方向の位置を調整してもよい。また、アクチュエータ14により、マスク13を保持したフレーム部材12の少なくともY軸の方向(鉛直方向)の位置を調整してもよい。   Then, as shown in FIG. 1C, the exposure unit 10 is lowered by lowering the elevating legs 31 of the elevating unit, and in this state, the substrate 2 is exposed. At this time, the position of the exposure unit 10 in the vertical direction may be adjusted by the leg unit 30. Further, the position of at least the Y-axis direction (vertical direction) of the frame member 12 holding the mask 13 may be adjusted by the actuator 14.

この状態で、光源11から光を発すると、その光がコンデンサレンズに照射され、コンデンサレンズで集光されて平行光束が形成され、マスク13に照射される。   In this state, when light is emitted from the light source 11, the light is applied to the condenser lens, and is condensed by the condenser lens to form a parallel light beam, which is then applied to the mask 13.

マスク13に照射された平行光束は、マスク13を透過した後、縮小投影レンズ15で縮小されて基板保持ユニット20に載置された基板表面に照射される。その結果、基板2の表面のフォトレジスト膜の一部領域に、マスク13と同じパターンで、縮小された像を結像するように、フォトレジスト膜の一部領域が露光されて潜像が形成される。   The parallel light beam applied to the mask 13 passes through the mask 13, is reduced by the reduction projection lens 15, and is applied to the substrate surface placed on the substrate holding unit 20. As a result, a partial region of the photoresist film is exposed to form a latent image so that a reduced image is formed in the same pattern as the mask 13 on a partial region of the photoresist film on the surface of the substrate 2. Is done.

露光処理終了後、図4に示すように、昇降ユニットの昇降脚31を上昇させることで露光ユニット10を上昇させ、再びコンベア21を動作させることで処理済の基板2を搬送するとともに、次に露光処理がなされる基板2を、所定位置(露光ユニット10の下方位置)まで搬送する。   After completion of the exposure process, as shown in FIG. 4, the exposure unit 10 is raised by raising the elevating legs 31 of the elevating unit, and the processed substrate 2 is conveyed by operating the conveyor 21 again. The substrate 2 to be exposed is transferred to a predetermined position (a position below the exposure unit 10).

このように、本発明の露光装置1によれば、個別形状にカットされた複数の基板2に対して、迅速に露光処理を行うことができる。これにより本発明の露光装置1では、タクトタイムを短縮して、生産性を向上することができる。   As described above, according to the exposure apparatus 1 of the present invention, it is possible to quickly perform an exposure process on a plurality of substrates 2 cut into individual shapes. Thereby, in the exposure apparatus 1 of this invention, tact time can be shortened and productivity can be improved.

なお、本発明の露光装置1では、図5に示すように、並行して配された複数の前記コンベア21と、該複数のコンベア21のそれぞれに対応して配された、複数の前記露光ユニット10及び前記脚ユニット30とを備えた構成とすることもできる。これにより、より多くの基板2に対して露光処理をおこなうことができ、生産性をさらに向上することができる。   In the exposure apparatus 1 of the present invention, as shown in FIG. 5, the plurality of conveyors 21 arranged in parallel and the plurality of exposure units arranged corresponding to the plurality of conveyors 21, respectively. 10 and the leg unit 30 may be provided. Thereby, it is possible to perform exposure processing on a larger number of substrates 2 and to further improve productivity.

また、本発明の露光装置では、図6に示すように、並行して配された複数の前記コンベア21と、前記露光ユニット10を、前記複数のコンベア21を横切る方向(コンベア21の幅方向)に移動させる、移動手段40を備えた構成とすることもできる。   In the exposure apparatus of the present invention, as shown in FIG. 6, the plurality of conveyors 21 arranged in parallel and the exposure unit 10 are crossed across the plurality of conveyors 21 (width direction of the conveyor 21). It can also be set as the structure provided with the moving means 40 moved to.

露光ユニット10は、前記移動手段40によって、複数のコンベア21を横切る方向に移動し、それぞれのコンベア21上において、該コンベア21に載置された複数の基板に対して露光処理を行う。これにより、一台の装置で多くの基板に対して露光処理をおこなうことができ、生産性をさらに向上することができる。また、露光ユニットが1台で済むため、装置コストを抑えることもできる。   The exposure unit 10 is moved in the direction crossing the plurality of conveyors 21 by the moving means 40 and performs an exposure process on the plurality of substrates placed on the conveyors 21 on each conveyor 21. Thereby, exposure processing can be performed on many substrates with one apparatus, and productivity can be further improved. In addition, since only one exposure unit is required, the apparatus cost can be reduced.

また、上述した実施形態では、マスクを用いた露光装置の場合について説明したが、本発明は、マスクを用いずに、光源の光路中にMEMSミラーデバイスを配し、露光工程における照射/非照射の切り替えを、前記ミラーデバイスへの信号によって行うような、露光装置にも応用することが可能である。   In the above-described embodiment, the case of an exposure apparatus using a mask has been described. However, in the present invention, a MEMS mirror device is arranged in an optical path of a light source without using a mask, and irradiation / non-irradiation in an exposure process It is also possible to apply to an exposure apparatus in which switching is performed by a signal to the mirror device.

この場合、露光ユニットの構成内容は公知のシングルチップDLPプロジェクターとほぼ同等であり、ランプは紫外光(UV)用のものとし、投影レンズはUV光の透過率が高いものとして成る。投影レンズの焦点位置は1m以内程度にすることが望ましい。   In this case, the configuration of the exposure unit is almost the same as that of a known single-chip DLP projector, the lamp is for ultraviolet light (UV), and the projection lens has high UV light transmittance. It is desirable that the focal position of the projection lens be within about 1 m.

装置をマスクレスとし、ミラーデバイスを用いることで、被処理基板サイズに拡大投射したとき、ミラーデバイスの解像力で丁度パターニングできるという利点がある。
一方、ミラーデバイスは、単にON/OFF信号入力にしてシャッタ機能としてマスク露光用途に用いることができる。このとき、振動や寿命、応答性の面で、ミラーデバイスを用いることが、メカニカルシャッタに比較して有利である。
By using a mirror device with the apparatus being maskless, there is an advantage that patterning can be performed just by the resolving power of the mirror device when enlarged and projected onto the size of the substrate to be processed.
On the other hand, the mirror device can be used for mask exposure as a shutter function simply by inputting an ON / OFF signal. At this time, using a mirror device is more advantageous than a mechanical shutter in terms of vibration, life, and responsiveness.

以上、本発明の露光装置について説明してきたが、本発明はこれに限定されるものではなく、発明の趣旨を逸脱しない範囲で、適宜変更が可能である。   Although the exposure apparatus of the present invention has been described above, the present invention is not limited to this and can be appropriately changed without departing from the spirit of the invention.

本発明は、露光装置に広く適用可能である。特に、モバイル機器の表示部として用いられるタッチパネルなど、最終的に得られる製品の個別形状にカットされた基板に対して露光処理を行う露光装置に適用する場合に、特に好適である。   The present invention is widely applicable to exposure apparatuses. In particular, it is particularly suitable when applied to an exposure apparatus that performs an exposure process on a substrate cut into individual shapes of a finally obtained product, such as a touch panel used as a display unit of a mobile device.

1 露光装置、2 基板、10 露光ユニット11 光源、12フレーム部材、13 マスク、14 アクチュエータ、20 基板保持ユニット、21 コンベア、30 脚ユニット、40 移動手段。   DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Exposure apparatus, 2 board | substrates, 10 exposure unit 11 light source, 12 frame member, 13 mask, 14 actuator, 20 board | substrate holding unit, 21 conveyor, 30 leg unit, 40 moving means.

Claims (6)

最終的に得られる製品の個別形状にカットされた基板に対して露光処理を行う露光装置であって、
光源、前記光源の下方に配されたフレーム部材、及び前記フレーム部材に取付けられたマスクを有する露光ユニットと、
前記基板が載置される基板保持ユニットと、
前記露光ユニットを前記基板保持ユニットの上方に支持するとともに、前記露光ユニットを少なくとも鉛直方向に移動させる脚ユニットと、を備え、
前記基板保持ユニット表面に基板が載置された状態で、前記脚ユニットにより前記露光ユニットの鉛直方向の位置を調整し、
前記露光ユニットの前記光源から光を発し、該光が前記マスクを透過して、前記マスクに形成されたパターンに応じたパターンの光を前記基板表面に照射すること、を特徴とする露光装置。
An exposure apparatus that performs an exposure process on a substrate that has been cut into individual shapes of a finally obtained product,
An exposure unit having a light source, a frame member disposed below the light source, and a mask attached to the frame member;
A substrate holding unit on which the substrate is placed;
A leg unit that supports the exposure unit above the substrate holding unit and moves the exposure unit at least in the vertical direction; and
With the substrate placed on the surface of the substrate holding unit, the vertical position of the exposure unit is adjusted by the leg unit,
An exposure apparatus that emits light from the light source of the exposure unit, transmits the light through the mask, and irradiates the substrate surface with light having a pattern corresponding to a pattern formed on the mask.
前記基板は、予め強化処理が施されたガラス基板であること、を特徴とする請求項1に記載の露光装置。   The exposure apparatus according to claim 1, wherein the substrate is a glass substrate that has been tempered in advance. 前記露光ユニットは、前記フレーム部材の鉛直方向の位置を調整可能な移動機構を有すること、を特徴とする請求項1又は2に記載の露光装置。   The exposure apparatus according to claim 1, wherein the exposure unit has a moving mechanism capable of adjusting a position of the frame member in a vertical direction. 前記基板保持ユニットは、複数の基板を連続的に搬送するコンベアの一部であり、
光照射位置において、露光処理がなされる基板を停止した状態で保持すること、を特徴とする請求項1乃至3のいずれかに記載の露光装置。
The substrate holding unit is a part of a conveyor that continuously conveys a plurality of substrates,
4. The exposure apparatus according to claim 1, wherein the substrate to be exposed is held in a stopped state at the light irradiation position.
並行して配された複数の前記コンベアと、該複数のコンベアのそれぞれに対応して配された、複数の前記露光ユニット及び前記脚ユニットとを備えること、を特徴とする請求項4に記載の露光装置。   5. The apparatus according to claim 4, comprising a plurality of the conveyors arranged in parallel, and a plurality of the exposure units and the leg units arranged corresponding to each of the plurality of conveyors. Exposure device. 並行して配された複数の前記コンベアと、前記露光ユニットを、前記複数のコンベアを横切る方向に移動させる、移動手段を備えること、を特徴とする請求項4に記載の露光装置。   The exposure apparatus according to claim 4, further comprising a plurality of conveyors arranged in parallel and a moving unit that moves the exposure unit in a direction across the plurality of conveyors.
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2014137559A (en) * 2013-01-18 2014-07-28 Ulvac Japan Ltd Posture controller

Families Citing this family (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US9656229B2 (en) 2012-08-21 2017-05-23 Uop Llc Methane conversion apparatus and process using a supersonic flow reactor
US9689615B2 (en) 2012-08-21 2017-06-27 Uop Llc Steady state high temperature reactor
US9707530B2 (en) 2012-08-21 2017-07-18 Uop Llc Methane conversion apparatus and process using a supersonic flow reactor

Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH01238014A (en) * 1988-03-18 1989-09-22 Hitachi Ltd Gap controlling exposure method and device therefor
JP2007122027A (en) * 2005-09-28 2007-05-17 Semiconductor Energy Lab Co Ltd Laser processing apparatus, exposure apparatus and exposure method
JP2007324562A (en) * 2006-06-05 2007-12-13 Lg Phillips Lcd Co Ltd Photographic apparatus and method
JP2009258195A (en) * 2008-04-14 2009-11-05 Hitachi High-Technologies Corp Proximity exposure device, substrate moving method for proximity exposure device, and method of manufacturing display panel
JP2010135571A (en) * 2008-12-05 2010-06-17 Nikon Engineering Co Ltd Exposure apparatus
JP2011175026A (en) * 2010-02-23 2011-09-08 Nsk Ltd Exposure apparatus, exposure method and method for manufacturing substrate

Patent Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH01238014A (en) * 1988-03-18 1989-09-22 Hitachi Ltd Gap controlling exposure method and device therefor
JP2007122027A (en) * 2005-09-28 2007-05-17 Semiconductor Energy Lab Co Ltd Laser processing apparatus, exposure apparatus and exposure method
JP2007324562A (en) * 2006-06-05 2007-12-13 Lg Phillips Lcd Co Ltd Photographic apparatus and method
JP2009258195A (en) * 2008-04-14 2009-11-05 Hitachi High-Technologies Corp Proximity exposure device, substrate moving method for proximity exposure device, and method of manufacturing display panel
JP2010135571A (en) * 2008-12-05 2010-06-17 Nikon Engineering Co Ltd Exposure apparatus
JP2011175026A (en) * 2010-02-23 2011-09-08 Nsk Ltd Exposure apparatus, exposure method and method for manufacturing substrate

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2014137559A (en) * 2013-01-18 2014-07-28 Ulvac Japan Ltd Posture controller

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