JP2013247416A - 欠陥検出方法、画像補正方法及び赤外線撮像装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】 固体撮像素子の各画素で入射光に対する出力応答が遅い応答欠陥画素を検出する欠陥検出方法であって、オフセット補正、感度補正及び欠陥補正を実施する補正回路の出力に対して、応答欠陥手段A30にて指定フレームにおける全画面平均値と各画素出力との差分がしきい値から外れることを以って応答欠陥画素を検出する。さらに補正を行うことで、画質が改善された固体撮像装置を提供することが出来る。
【選択図】 図1
Description
図1に、この発明の実施の形態1に係る赤外線撮像装置の構成を示す。図1において、赤外線領域で対象物体を撮像するための撮像素子として赤外線固体撮像素子10を備えている。赤外線固体撮像素子10に前置されているシャッタ12が開いている状態では、被写体13からの赤外線がレンズ11を通り赤外線固体撮像素子10に結像される。赤外線固体撮像素子10は一次元または二次元に配置された多数の画素から構成されており、各画素はそれぞれ入射された赤外線の強度に応じた出力を呈する。赤外線固体撮像素子10の出力は、補正回路1に入力され、ここでオフセット補正、感度補正、欠陥補正の補正処理がなされる。この補正回路1は、例えば従来の補正回路でよく、ここでは一例を示している。
図2に、この発明の実施の形態2に係る赤外線撮像装置の構成を示す。この実施の形態は、実施の形態1に対して画像メモリ32を追加し、応答欠陥検出手段A30を応答欠陥検出手段B31に変更し、補正手段1と応答欠陥検出手段B31との間に画像メモリ32を追加したものである。
図3に、この発明の実施の形態3に係る赤外線撮像装置の構成を示す。この実施の形態は、実施の形態2における画像メモリ32と応答欠陥検出手段B31とを補正回路1の前に配置したものである。
Claims (7)
- 固体撮像素子の各画素で入射光に対する出力応答が遅い応答欠陥画素を検出する欠陥検出方法であって、
出力オフセット補正、感度補正および欠陥補正処理が施された各画素の出力において、前記固体撮像素子に前置される開閉可能なシャッタを閉じた後の指定フレームにおける各画素の出力と全画素の出力平均値との差分を算出し、前記差分が所定の値より大きい画素を応答欠陥画素と判定することを特徴とする欠陥検出方法。 - 固体撮像素子の各画素で入射光に対する出力応答が遅い応答欠陥画素を検出する欠陥検出方法であって、
出力オフセット補正、感度補正および欠陥補正処理が施された各画素の出力において、前記固体撮像素子に前置されるシャッタを閉じた後の時間毎の各フレームにおける各画素の出力変動量であるフレーム間変動量が所定の値より大きい画素を応答欠陥画素と判定することを特徴とする欠陥検出方法。 - 前記請求項1、2いずれかの欠陥検出方法により応答欠陥画素と判定された画素の出力について補正処理を行うことを特徴とする画像補正方法。
- 赤外線固体撮像素子と、前記赤外線固体撮像素子に前置される開閉可能なシャッタと、前記赤外線固体撮像素子の各画素の出力に対してオフセット補正と感度補正および欠陥補正を行う補正回路と、前記補正回路の出力に対して入射光に対する出力応答が遅い応答欠陥画素を検出する応答欠陥検出手段とを備え、
前記応答欠陥検出手段は、前記シャッタを閉じた後の指定フレームにおける各画素の出力と全画素の出力平均値との差分を算出し、前記差分が所定の値より大きい画素を応答欠陥画素であると判定することを特徴とする赤外線撮像装置。 - 赤外線固体撮像素子と、前記赤外線固体撮像素子に前置される開閉可能なシャッタと、前記赤外線固体撮像素子の各画素の出力に対してオフセット補正と感度補正および欠陥補正を行う補正回路と、前記補正回路の出力に対して入射光に対する出力応答が遅い応答欠陥画素を検出する応答欠陥検出手段とを備え、
前記応答欠陥検出手段は、前記シャッタを閉じた後の時間毎の各フレームにおける各画素の出力変動量であるフレーム間変動量が所定の値より大きい画素を応答欠陥画素であると判定することを特徴とする赤外線撮像装置。 - 赤外線固体撮像素子と、前記赤外線固体撮像素子に前置される開閉可能なシャッタと、前記赤外線固体撮像素子の各画素の出力に対して入射光に対する出力応答が遅い応答欠陥画素を検出する応答欠陥検出手段と、前記赤外線固体撮像素子の各画素の出力に対してオフセット補正と感度補正および欠陥補正を行う補正回路とを備え、
前記応答欠陥検出手段は前記シャッタを閉じた後の指定フレームにおける各画素の出力と全画素の出力平均値との差分を算出し、前記差分が所定の値より大きい画素を応答欠陥画素であると判定することを特徴とする赤外線撮像装置。 - 前記補正回路は前記応答欠陥画素の出力に対して補正処理を行うことを特徴とする請求項4乃至6のいずれか記載の赤外線撮像装置。
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