JP2013229393A - 発光装置 - Google Patents

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Abstract

【課題】小型化、又は薄型化しても高い光取出効率を保つことのできる発光装置を提供する。
【解決手段】本発明の一態様に係る発光装置は、基板2及び基板2上の側壁3を有するケース1と、基板2上の側壁3に囲まれた領域に搭載され、基板111、及び発光層を含む結晶層112を有する、基板2に対して垂直な方向から見た平面形状が長方形の発光素子11と、発光素子11と側壁3との間に位置する、基板111よりも屈折率の小さい低屈折率層4と、を有し、基板111の長手方向の側面111aは、基板2側にテーパーを有する。
【選択図】図1

Description

本発明は、発光装置に関する。
従来の発光装置として、サブマウント上に搭載された発光素子と、発光素子上に光抽出のために形成されたセラミック層と、発光素子の側方に形成された、セラミック層をサブマウントに接続するための層と、を有する装置が知られている(例えば、特許文献1参照)。発光素子とセラミック層をサブマウントに接続するための層との間には、空間が存在する。
また、従来の発光素子として、底面側の発光層に光の反射効率を上げるための反射溝を設けたフェイスダウン型の発光素子が知られている(例えば、特許文献2参照)。
特開2006−5367号公報 特開2002−353497号公報
本発明の目的の一つは、小型化、又は薄型化しても高い光取出効率を保つことのできる発光装置を提供することにある。
上記目的を達成するため、本発明の一態様は、第1の基板及び前記第1の基板上の側壁を有するケースと、前記第1の基板上の前記側壁に囲まれた領域に搭載され、第2の基板、及び発光層を含む結晶層を有する、前記第1の基板に対して垂直な方向から見た平面形状が長方形の発光素子と、前記発光素子と前記側壁との間に位置する、前記第2の基板よりも屈折率の小さい低屈折率層と、を有し、前記第2の基板の長手方向の側面は、前記第1の基板側にテーパーを有する、発光装置を提供する。
上記発光装置において、前記第2の基板の長手方向の側面の前記テーパーのない部分は、前記第2の基板の短手方向の側面よりも平滑度が高いことが好ましい。
上記発光装置において、前記第2の基板は、主面がc面であるGaN基板であり、前記第2の基板の前記長手方向の側面の前記テーパーのない部分はm面であり、前記第2の基板の前記短手方向の側面はa面であってもよい。
上記発光装置において、前記低屈折率層は、空気又は真空の層であることが好ましい。
上記発光装置において、前記ケースは、前記側壁上に形成されたガラス層により密閉されてもよい。
上記発光装置は、複数の前記発光素子を有し、前記低屈折率層は、各々の前記発光素子と前記側壁との間、及び前記複数の発光素子の間に位置してもよい。
本発明によれば、小型化、又は薄型化しても高い光取出効率を保つことのできる発光装置を提供することができる。
図1(a)は、第1の実施の形態に係る発光装置の垂直断面図である。図1(b)は、図1(a)の線分A−Aにおいて切断された発光装置の垂直断面図である。 図2(a)、(b)は、それぞれ第1の実施の形態に係る発光装置の変形例の垂直断面図である。 図3(a)、(b)は、第2の実施の形態に係る発光装置の垂直断面図である。 図4は、第3の実施の形態に係る発光装置の垂直断面図である。 図5(a)、(b)は、それぞれ第4の実施の形態に係る発光装置の垂直断面図及び上面図である。図5(c)は、図5(a)の線分B−Bにおいて切断された発光装置の断面図である。 図6(a)、(b)は、第5の実施の形態に係る発光装置の垂直断面図である。
〔第1の実施の形態〕
図1(a)は、第1の実施の形態に係る発光装置の垂直断面図である。図1(b)は、図1(a)の線分A−Aにおいて切断された発光装置の垂直断面図である。
発光装置10は、基板2及び側壁3から構成されるケース1と、基板2上の側壁3に囲まれた領域に搭載される発光素子11と、発光素子11と側壁3との間に位置する低屈折率層4と、発光素子11上の蛍光体層5を有する。
基板2は、例えば、アルミナ、AlN、金属材料等からなる。側壁3は、例えば、樹脂、アルミナ等からなる。
発光素子11は、基板2に対して垂直な方向から見た平面形状が長方形のフェイスダウン型のLEDチップであり、基板111及び結晶層112を有する。基板111は、例えば、GaN基板である。結晶層112は、基板111上にエピタキシャル結晶成長により形成されたGaN系(Al1−X−YInGaN、0≦X≦1、0≦Y≦1、0≦X+Y≦1)半導体層であり、n型半導体層とp型半導体層に挟まれた発光層を有する。基板111と結晶層112を同系の材料で形成することにより、基板111と結晶層112の界面における光の反射を抑えることができる。
基板111の長手方向の側面111aは、基板2側にテーパーを有する。また、基板111の短手方向の側面111bも、基板2側にテーパーを有してよい。基板111内を外部に向かって進む光と基板111のテーパー部分の表面との角度が小さくなるため、光が上方に向かって反射しやすくなり、発光装置10の光取出効率が向上する。また、基板111から出る光が基板2や側壁3に吸収され、これらを劣化させることを抑制できる。
図1(b)中の点線は、テーパーにより全反射して発光装置10の上方に向かうような光の軌跡の一例を模式的に表している。この様な角度で基板111と低屈折率層4の界面へ進む光は、テーパーがなければ全反射しないため、効率的に発光装置10から取り出すことができない。
基板111の側面111a、111bのテーパーは、レジストを用いたドライエッチング又はウェットエッチングにより形成される。また、ダイシングによりテーパー加工を施した後、ドライエッチング又はウェットエッチングにより加工部のダメージを除去することにより形成されてもよい。さらに、エッチング条件を制御することにより、テーパー面を曲面に加工してもよい。テーパーの角度と深さは、基板111と低屈折率層4との屈折率から決定される臨界角の大きさに基づいて決定することができる。
基板111の長手方向の側面111aのテーパーのない部分は、基板111の短手方向の側面111bよりも平滑度が高い。例えば、基板111が主面がc面であるGaN基板である場合は、長手方向の側面111aのテーパーのない部分はm面であり、短手方向の側面111bのテーパーのない部分はa面である。平滑度が高い面では、光の散乱が少なく、効率的に光を反射することができる。そのため、面積が大きい長手方向の側面111aの平滑度を短手方向の側面111bの平滑度よりも大きくすることにより、発光装置10の光取出効率を向上させることができる。
また、発光素子11は、結晶層112のn型半導体層とp型半導体層のいずれか一方に接続される電極113と、他方に接続される電極114を有する。電極113、114は、それぞれバンプ12、13を介してケース1の外側まで延びるケース1付属の電極14、15に接続される。バンプ12、13は、例えば、Auスタッドバンプ、又ははんだバンプである。また、バンプ12、13の代わりに、金属微粒子を用いた接合や、拡散接合等の他の手段により、電極113、114を電極14、15に接続してもよい。
低屈折率層4は、基板111よりも屈折率の小さい層であり、基板111内を進んで、基板111と低屈折率層4の界面に臨界角以上の角度で到達した光は、全反射する。低屈折率層4は、例えば、屈折率の低い樹脂からなる層や、空気又は真空の層である。特に、屈折率の低い空気の層又は真空の層であることが好ましい。なお、樹脂から低屈折率層4を形成する場合は、例えば、発光素子11を基板2上に搭載した後、側壁3内に液状の樹脂をポッティングすることにより低屈折率層4を形成することができる。この場合、樹脂中に反射性粒子を含有させてもよい。反射性粒子としては、酸化チタン、酸化ジルコニウム、酸化亜鉛等が挙げられる。
側壁3は、反射率の高い材料からなる場合、発光素子11から発せられる光を反射するリフレクターとしての機能を有するが、発光装置10が小型の装置や、サイドビュー型LEDパッケージ等の薄型の装置である場合、発光素子11と側壁3との距離が短く、また、側壁3が薄く、内壁の角度が垂直に近い。そのため、側壁3に入射する光が吸収されたり透過したりしやすく、側壁3のリフレクターとしての機能は弱くなる。このような場合であっても、基板111と低屈折率層4の界面で光を全反射させることにより、効率よく光を取り出すことができる。すなわち、発光装置10は、小型化、又は薄型化しても、高い光取出効率を保つことができる。
蛍光体層5は、蛍光体を含有する熱硬化性樹脂、熱可塑性樹脂、ガラス等からなる層である。低屈折率層4として空気の層又は真空の層を用いる場合は、パッケージ内を密閉するために、蛍光体層5の材料としてガラスを用いることが好ましい。蛍光体層5の材料としてガラスを用いる場合は、側壁3の材料として、ガラスの接着温度に耐えることのできる、セラミックス等の耐熱性に優れた材料を用いる。
蛍光体層5に含まれる蛍光体は、発光素子11から発せられた光のエネルギーを吸収し、蛍光を発する。発光素子11から発せられて蛍光体層5を透過して外部へ射出される光の色と、蛍光体から発せられる蛍光の色との混色が発光装置10の発光色となる。例えば、発光素子11の発光色が青色であり、蛍光体の発光色が黄色である場合は、発光装置10の発光色は白色になる。なお、基板111の上面に、スクリーン印刷、スピンコート、又は、スプレーコート等により蛍光体を含むコーティング層を形成する場合は、蛍光体層5の代わりに蛍光体を含まない樹脂やガラスからなる層を用いてもよい。
基板111の側面111a、111bがテーパーを有することにより、蛍光体層5へ照射される光の分布の均一性が向上し、発光装置10の色度の角度依存性が低減される。
図2(a)、(b)は、それぞれ発光装置10の変形例の垂直断面図である。図2(a)に示される発光装置10は、蛍光体層5上にコーティング層16を有し、図2(b)に示される発光装置10は、発光素子11の基板111と蛍光体層5の間にコーティング層17を有する。
コーティング層16は、蛍光体層5よりも屈折率の低い材料からなり、波長の1/4程度の厚さを有する。例えば、蛍光体層5が蛍光体を有する屈折率が1.4の樹脂からなる場合は、コーティング層16には屈折率が1.4未満の屈折率を有する材料を用いる。また、コーティング層16は多層膜であってもよい。コーティング層16は、蛍光体層5内を進む光が蛍光体層5と外側の空気との界面で反射することを防ぐための反射防止層として機能し、発光装置10の光取出効率を向上させることができる。
コーティング層17は、蛍光体層5よりも屈折率が高く、且つ、基板111よりも屈折率が低い材料からなる。例えば、蛍光体層5が蛍光体を有する屈折率が1.4の樹脂からなり、基板111の屈折率が2.4である場合は、コーティング層16には屈折率が1.4より大きく、2.4より小さい屈折率を有する材料を用いる。蛍光体層5は、発光装置10から外部への光取り出しの観点からは低い屈折率を有することが好ましいが、発光素子11の基板111から蛍光体層5への光取り出しの観点からは、基板111や蛍光体に近い、高い屈折率を有することが好ましい。そのため、屈折率の高いコーティング層17を設けることにより基板111から蛍光体層5への光取出効率を向上させ、蛍光体層5の屈折率を低くすることにより、発光装置10から外部への光取出効率を向上させることができる。コーティング層17は、発光素子11を基板2上に実装した後に塗布により形成されてもよいが、実装前に形成されている方が好ましい。
また、コーティング層17を基板111と蛍光体層5の間に形成することにより、発光素子11から蛍光体層5への熱の伝達を抑制し、熱に起因する蛍光体の発光効率の低下を抑えることができる。
なお、発光装置10を、樹脂やガラスからなるレンズで覆ってもよい。
〔第2の実施の形態〕
第2の実施の形態は、発光素子の構造において、第1の実施の形態と異なる。第1の実施の形態と同様の点については、説明を省略又は簡略化する。
図3(a)は、第2の実施の形態に係る発光装置の垂直断面図である。発光装置20は、基板2及び側壁3から構成されるケース1と、基板2上の側壁3に囲まれた領域に搭載される発光素子21と、発光素子21と側壁3との間に位置する低屈折率層4と、発光素子21の上方に位置する蛍光体層5を有する。
発光素子21は、基板2に対して垂直な方向から見た平面形状が長方形のフェイスダウン型のLEDチップであり、基板211及び結晶層212を有する。基板211は、例えば、GaN基板である。結晶層212は、基板211上にエピタキシャル結晶成長により形成されたGaN系半導体層であり、n型半導体層とp型半導体層に挟まれた発光層を有する。
基板211の長手方向の側面211aは、基板2側にテーパーを有する。また、基板211の短手方向の側面211bも、基板2側にテーパーを有してよい。基板211内を外部に向かって進む光と基板211のテーパー部分の表面との角度が小さくなるため、光が上方に向かって反射しやすくなり、発光装置20の光取出効率が向上する。また、基板211から出る光が基板2や側壁3に吸収され、これらを劣化させることを抑制できる。
基板211の長手方向の側面211aのテーパーのない部分は、基板211の短手方向の側面211bよりも平滑度が高い。例えば、基板211が主面がc面であるGaN基板である場合は、長手方向の側面211aのテーパーのない部分はm面であり、短手方向の側面211bのテーパーのない部分はa面である。
また、発光素子21は、基板211上に形成される透明電極215と、透明電極215に接続される電極213と、結晶層212に接続される電極214を有する。電極213、214は、それぞれワイヤー22、バンプ23を介してケース1の外側まで延びるケース1付属の電極24、25に接続される。
低屈折率層4は、基板211よりも屈折率の小さい層であり、基板211内を進んで、基板211と低屈折率層4の界面に臨界角以上の角度で到達した光は、全反射する。なお、低屈折率層4が樹脂等からなる場合には、その中に反射性粒子を含有させてもよい。
また、図3(b)に示されるように、基板211の上面(図3の上側の面)の一部にエッチングにより凹部211cを設けた後、凹部211c内に電極213を形成してもよい。この場合、例えば、発光素子21の電極213とケース1に付属の電極24をウェッジボンディングする。ウェッジボンディングでは、ボールボンディング等と比べて、ワイヤー22の高さを低くできるため、発光素子21の上面よりも低くワイヤー22を形成することができる。そのため、透明電極215を設けずに蛍光体層5を基板211の上面と接するように配置しても、ワイヤー22に緩衝しない。蛍光体層5を基板211の上面と接するように配置することにより、蛍光体層5を基板211の間に空気の層等の他の層が介在することによる光取出効率の低下を防ぐことができる。
〔第3の実施の形態〕
第3の実施の形態は、発光素子の構造において、第1の実施の形態と異なる。第1の実施の形態と同様の点については、説明を省略又は簡略化する。
図4は、第3の実施の形態に係る発光装置の垂直断面図である。発光装置30は、基板2及び側壁3から構成されるケース1と、基板2上の側壁3に囲まれた領域に搭載される発光素子31と、発光素子31と側壁3との間に位置する低屈折率層4と、発光素子31上の蛍光体層5を有する。
発光素子31は、基板2に対して垂直な方向から見た平面形状が長方形のフェイスダウン型のLEDチップであり、基板311及び結晶層312を有する。基板311は、例えば、GaN基板である。結晶層312は、基板311上にエピタキシャル結晶成長により形成されたGaN系半導体層であり、n型半導体層とp型半導体層に挟まれた発光層を有する。発光素子31は、第1の実施の形態の発光素子11を長手方向に3つ連結した構造を有する。発光装置30は、ライン光の粒状感の少ないライン状光源として用いることができる。
基板311の長手方向の側面311aは、基板2側にテーパーを有する。また、基板311の短手方向の側面311bも、基板2側にテーパーを有してよい。基板311内を外部に向かって進む光と基板311のテーパー部分の表面との角度が小さくなるため、光が上方に向かって反射しやすくなり、発光装置30の光取出効率が向上する。また、基板311から出る光が基板2や側壁3に吸収され、これらを劣化させることを抑制できる。
基板311の長手方向の側面311aのテーパーのない部分は、基板311の短手方向の側面311bよりも平滑度が高い。例えば、基板311が主面がc面であるGaN基板である場合は、長手方向の側面311aのテーパーのない部分はm面であり、短手方向の側面311bのテーパーのない部分はa面である。
また、発光素子31は、結晶層312のn型半導体層とp型半導体層のいずれか一方に接続される電極313a、313b、313cと、他方に接続される電極314a、314b、314cを有する。電極313a、313b、313c、314a、314b、314cは、それぞれバンプ32a、32b、32c、33a、33b、33cを介してケース1の外側まで延びるケース1付属の電極34a、34b、34c、35a、35b、35cに接続される。
低屈折率層4は、基板311よりも屈折率の小さい層であり、基板311内を進んで、基板311と低屈折率層4の界面に臨界角以上の角度で到達した光は、全反射する。
〔第4の実施の形態〕
第4の実施の形態は、発光素子の構造において、第1の実施の形態と異なる。第1の実施の形態と同様の点については、説明を省略又は簡略化する。
図5(a)、(b)は、それぞれ第4の実施の形態に係る発光装置の垂直断面図及び上面図である。図5(c)は、図5(a)の線分B−Bにおいて切断された発光装置の断面図である。なお、図5(b)においては蛍光体層5の図示を省略する。
発光装置40は、基板2及び側壁3から構成されるケース1と、基板2上の側壁3に囲まれた領域に搭載される発光素子41と、発光素子41と側壁3との間に位置する低屈折率層4と、発光素子41上の蛍光体層5を有する。
発光素子41は、基板411及び結晶層412を有し、結晶層412の面方向が基板2の面方向と略垂直になるように、すなわち、第1の実施の形態の発光装置10と90°異なる角度で設置される。基板411は、例えば、GaN基板である。結晶層412は、基板411上にエピタキシャル結晶成長により形成されたGaN系半導体層であり、n型半導体層とp型半導体層に挟まれた発光層を有する。
基板411の長手方向の側面411aは、基板2側にテーパーを有する。また、基板411の短手方向の側面411bも、基板2側にテーパーを有してよい。基板411内を外部に向かって進む光と基板411のテーパー部分の表面との角度が小さくなるため、光が上方に向かって反射しやすくなり、発光装置40の光取出効率が向上する。また、基板411から出る光が基板2や側壁3に吸収され、これらを劣化させることを抑制できる。
基板411の長手方向の側面411aのテーパーのない部分は、基板411の短手方向の側面411bよりも平滑度が高い。例えば、基板411が主面がc面であるGaN基板である場合は、長手方向の側面411aのテーパーのない部分はm面であり、短手方向の側面411bのテーパーのない部分はa面である。
側面411bがa面である場合、発光素子41の底面(基板2に平行な面)が、光が散乱しやすいa面になるため、発光素子41の光取出効率が向上する。また、a面の平滑度は、スクライブ条件等を調節することにより制御できる。
また、発光素子41は、結晶層412のn型半導体層とp型半導体層のいずれか一方に接続される電極413と、他方に電極416を介して接続される電極414とを有する。電極413、414は、それぞれバンプ42、13を介してケース1付属の電極46、45に接続される。電極45は、ケース1の内側から外側まで延びる電極であり、電極46は、ケース1の外側の電極44に電気的に接続されたケース1の内側の電極である。
低屈折率層4は、基板411よりも屈折率の小さい層であり、基板411内を進んで、基板411と低屈折率層4の界面に臨界角以上の角度で到達した光は、全反射する。
〔第5の実施の形態〕
第5の実施の形態は、発光素子の構造において、第1の実施の形態と異なる。第1の実施の形態と同様の点については、説明を省略又は簡略化する。
図6(a)は、第5の実施の形態に係る発光装置の垂直断面図である。発光装置50は、基板2及び側壁3から構成されるケース1と、基板2上の側壁3に囲まれた領域に搭載される2つの発光素子51と、各々の発光素子51と側壁3との間、及び2つの発光素子間に位置する低屈折率層4と、発光素子51上の蛍光体層5を有する。
発光素子51は、基板2に対して垂直な方向から見た平面形状が長方形のフェイスダウン型のLEDチップであり、基板511及び結晶層512を有する。基板511は、例えば、GaN基板である。結晶層512は、基板511上にエピタキシャル結晶成長により形成されたGaN系半導体層であり、n型半導体層とp型半導体層に挟まれた発光層を有する。発光素子51は、第1の実施の形態の発光素子11と同様の構造を有する。
基板511の長手方向の側面511aは、基板2側にテーパーを有する。また、基板511の短手方向の側面511bも、基板2側にテーパーを有してよい。基板511内を外部に向かって進む光と基板511のテーパー部分の表面との角度が小さくなるため、光が上方に向かって反射しやすくなり、発光装置50の光取出効率が向上する。また、基板511から出る光が基板2や側壁3に吸収され、これらを劣化させることを抑制できる。
基板511の長手方向の側面511aのテーパーのない部分は、基板511の短手方向の側面511bよりも平滑度が高い。例えば、基板511が主面がc面であるGaN基板である場合は、長手方向の側面511aのテーパーのない部分はm面であり、短手方向の側面511bのテーパーのない部分はa面である。
また、発光素子51は、結晶層512のn型半導体層とp型半導体層のいずれか一方に接続される電極513と、他方に接続される電極514を有する。電極513、514は、それぞれバンプ52、53を介してケース1の外側まで延びるケース1付属の電極54、55に接続される。
低屈折率層4は、基板511よりも屈折率の小さい層であり、基板511内を進んで、基板511と低屈折率層4の界面に臨界角以上の角度で到達した光は、全反射する。
図6(b)は、発光装置50の変形例の垂直断面図である。図6(b)に示される発光装置50においては、2つの発光素子51の向かい合う側面511bはテーパーを有さない。このため、例えば、一方の発光素子51から発せられ、他方の発光素子51の基板511に入射した光を、その基板511のテーパーにより全反射することができる。
図6(a)、(b)中の点線は、それぞれの発光装置50における光の軌跡の例を模式的に表している。なお、図6(b)には、光の軌跡を図示しやすくするために、電極513を含まない断面を示している。
(実施の形態の効果)
上記の実施の形態によれば、発光素子11、21、31、41、51と側壁3との間に低屈折率層4を設けること、基板111、211、311、411、511の少なくとも長手方向の側面111a、211a、311a、411a、511aの基板2側にテーパーを設けること、短手方向の平面111b、211b、311b、411b、511bの面よりも平滑度の高い面を長手方向の側面111a、211a、311a、411a、511aに用いること、等により、発光装置10、20、30、40、50の光取出効率を高めることができ、さらに、発光装置10、20、30、40、50は、小型化、又は薄型化しても、高い光取出効率を保つことができる。
本発明は、上記の実施の形態に限定されず、発明の主旨を逸脱しない範囲内において種々変形実施が可能である。例えば、上記の実施の形態では、蛍光体層と直接的又は間接的に接する発光素子の光取り出し面を平面状としたが、ウェットエッチングにより粗面化処理を行ってもよい。粗面化することにより、光取り出し効率が向上する。その際、蛍光体層を発光素子と直接密着させることにより、発光素子の光取り出し面と密着する領域を発光素子の光取り出し面と同様の粗面状としてもよいし、蛍光体層を発光素子とコーティング層を介して間接的に密着させることにより、発光素子側の面を平面状のままとしてもよい。
また、発明の主旨を逸脱しない範囲内において上記の実施の形態の構成要素を任意に組み合わせることができる。
また、上記の実施の形態は特許請求の範囲に係る発明を限定するものではない。また、実施の形態の中で説明した特徴の組合せの全てが発明の課題を解決するための手段に必須であるとは限らない点に留意すべきである。
10、20、30、40、50 発光装置
1 ケース
2 基板
3 側壁
4 低屈折率層
5 蛍光体層
11、21、31、41、51 発光素子
111、211、311、411、511 基板
111a、211a、311a、411a、511a 側面
111b、211b、311b、411b、511b 側面
112、212、312、412、512 結晶層

Claims (6)

  1. 第1の基板及び前記第1の基板上の側壁を有するケースと、
    前記第1の基板上の前記側壁に囲まれた領域に搭載され、第2の基板、及び発光層を含む結晶層を有する、前記第1の基板に対して垂直な方向から見た平面形状が長方形の発光素子と、
    前記発光素子と前記側壁との間に位置する、前記第2の基板よりも屈折率の小さい低屈折率層と、
    を有し、
    前記第2の基板の長手方向の側面は、前記第1の基板側にテーパーを有する、発光装置。
  2. 前記第2の基板の長手方向の側面の前記テーパーのない部分は、前記第2の基板の短手方向の側面よりも平滑度が高い、
    請求項1に記載の発光装置。
  3. 前記第2の基板は、主面がc面であるGaN基板であり、
    前記第2の基板の前記長手方向の側面の前記テーパーのない部分はm面であり、
    前記第2の基板の前記短手方向の側面はa面である、
    請求項2に記載の発光装置。
  4. 前記低屈折率層は、空気又は真空の層である、
    請求項1〜3のいずれか1項に記載の発光装置。
  5. 前記ケースは、前記側壁上に形成されたガラス層により密閉される、
    請求項4に記載の発光装置。
  6. 複数の前記発光素子を有し、
    前記低屈折率層は、各々の前記発光素子と前記側壁との間、及び前記複数の発光素子の間に位置する、
    請求項1〜5のいずれか1項に記載の発光装置。
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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20160109892A (ko) * 2015-03-13 2016-09-21 서울바이오시스 주식회사 발광 다이오드
KR20160148304A (ko) * 2015-06-16 2016-12-26 삼성전자주식회사 발광 소자 패키지
JP2020120082A (ja) * 2019-01-28 2020-08-06 市光工業株式会社 発光装置および車両用前照灯
JP7503672B2 (ja) 2023-02-03 2024-06-20 晶元光電股▲ふん▼有限公司 光電部品

Families Citing this family (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP6102670B2 (ja) * 2013-10-07 2017-03-29 豊田合成株式会社 発光装置
US9559273B2 (en) * 2013-12-02 2017-01-31 Achrolux Inc. Light-emitting package structure and method of fabricating the same
JP6237181B2 (ja) * 2013-12-06 2017-11-29 日亜化学工業株式会社 発光装置の製造方法
JP2015207754A (ja) * 2013-12-13 2015-11-19 日亜化学工業株式会社 発光装置
KR102346798B1 (ko) 2015-02-13 2022-01-05 삼성전자주식회사 반도체 발광장치
JP6458671B2 (ja) * 2015-07-14 2019-01-30 日亜化学工業株式会社 発光装置の製造方法
CN114078399B (zh) * 2020-08-14 2023-09-22 华为技术有限公司 一种显示面板、增强型偏光片模组及显示装置

Citations (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2005008792A1 (ja) * 2003-07-18 2005-01-27 Sanyo Electric Co., Ltd. 発光ダイオード
JP2007201121A (ja) * 2006-01-26 2007-08-09 Citizen Electronics Co Ltd 半導体発光素子及びその製造方法
JP2007250817A (ja) * 2006-03-16 2007-09-27 Stanley Electric Co Ltd Led
JP2007533160A (ja) * 2004-04-15 2007-11-15 サエス ゲッターズ ソシエタ ペル アチオニ 真空または不活性ガスパッケージled用集積ゲッター
JP2007335529A (ja) * 2006-06-13 2007-12-27 Showa Denko Kk 窒化ガリウム系化合物半導体発光素子
JP2009218569A (ja) * 2008-02-13 2009-09-24 Toyoda Gosei Co Ltd Iii族窒化物半導体からなる発光素子とその製造方法
JP2010506402A (ja) * 2006-10-02 2010-02-25 イルミテックス, インコーポレイテッド Ledのシステムおよび方法
JP2011014767A (ja) * 2009-07-03 2011-01-20 Nippon Electric Glass Co Ltd 発光デバイス及びその製造方法
JP2011040494A (ja) * 2009-08-07 2011-02-24 Koito Mfg Co Ltd 発光モジュール

Family Cites Families (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US8633093B2 (en) * 2001-04-12 2014-01-21 Sumitomo Electric Industries Ltd. Oxygen doping method to gallium nitride single crystal substrate
JP3767420B2 (ja) 2001-05-29 2006-04-19 豊田合成株式会社 発光素子
US6946788B2 (en) 2001-05-29 2005-09-20 Toyoda Gosei Co., Ltd. Light-emitting element
US7361938B2 (en) 2004-06-03 2008-04-22 Philips Lumileds Lighting Company Llc Luminescent ceramic for a light emitting device
TWI452726B (zh) * 2007-11-30 2014-09-11 Univ California 利用表面粗糙之高度光取出效率之氮化物基發光二極體
KR101497953B1 (ko) * 2008-10-01 2015-03-05 삼성전자 주식회사 광추출 효율이 향상된 발광 소자, 이를 포함하는 발광 장치, 상기 발광 소자 및 발광 장치의 제조 방법
TW201034256A (en) * 2008-12-11 2010-09-16 Illumitex Inc Systems and methods for packaging light-emitting diode devices

Patent Citations (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2005008792A1 (ja) * 2003-07-18 2005-01-27 Sanyo Electric Co., Ltd. 発光ダイオード
JP2007533160A (ja) * 2004-04-15 2007-11-15 サエス ゲッターズ ソシエタ ペル アチオニ 真空または不活性ガスパッケージled用集積ゲッター
JP2007201121A (ja) * 2006-01-26 2007-08-09 Citizen Electronics Co Ltd 半導体発光素子及びその製造方法
JP2007250817A (ja) * 2006-03-16 2007-09-27 Stanley Electric Co Ltd Led
JP2007335529A (ja) * 2006-06-13 2007-12-27 Showa Denko Kk 窒化ガリウム系化合物半導体発光素子
JP2010506402A (ja) * 2006-10-02 2010-02-25 イルミテックス, インコーポレイテッド Ledのシステムおよび方法
JP2009218569A (ja) * 2008-02-13 2009-09-24 Toyoda Gosei Co Ltd Iii族窒化物半導体からなる発光素子とその製造方法
JP2011014767A (ja) * 2009-07-03 2011-01-20 Nippon Electric Glass Co Ltd 発光デバイス及びその製造方法
JP2011040494A (ja) * 2009-08-07 2011-02-24 Koito Mfg Co Ltd 発光モジュール

Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20160109892A (ko) * 2015-03-13 2016-09-21 서울바이오시스 주식회사 발광 다이오드
KR102374671B1 (ko) * 2015-03-13 2022-03-16 서울바이오시스 주식회사 발광 다이오드
KR20160148304A (ko) * 2015-06-16 2016-12-26 삼성전자주식회사 발광 소자 패키지
KR102306671B1 (ko) 2015-06-16 2021-09-29 삼성전자주식회사 발광 소자 패키지
JP2020120082A (ja) * 2019-01-28 2020-08-06 市光工業株式会社 発光装置および車両用前照灯
JP7305970B2 (ja) 2019-01-28 2023-07-11 市光工業株式会社 車両用前照灯
JP7503672B2 (ja) 2023-02-03 2024-06-20 晶元光電股▲ふん▼有限公司 光電部品

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