JP2013223759A5 - - Google Patents

Description

（１）
光源から出射された光の少なくとも一部を被験者眼の角膜及び眼底に照射し、角膜からの反射光、眼底からの反射光を干渉光として受光素子により受光する干渉光学系を備え、
前記干渉光学系からの出力信号に基づいて被験者眼の眼軸長データを求める演算手段を備える眼軸長測定装置において、
被験者眼の前眼部を撮影する前眼部撮影手段と、を備え、
前記演算手段は、
前記眼軸長測定時における前記前眼部撮影手段からの撮像信号に基づいて干渉光学系の測定光軸と被験者眼の角膜頂点との上下左右方向におけるアライメントずれ量を計測し、計測結果に基づいて前記眼軸長データを補正する演算手段であって、
前記アライメントずれ量と，被験者眼の角膜形状データもしくは予め設定された角膜形状データとに基づいて、前記干渉光学系の測定光軸が被験者眼の角膜頂点からずれた位置にて求められた眼軸長データを補正することによって、被験者眼の角膜頂点から被験者眼眼底との交点までの距離を補正後の眼軸長データとして演算することを特徴とする。

Claims (2)

1. 光源から出射された光の少なくとも一部を被検眼の角膜及び眼底に照射し、角膜からの反射光、眼底からの反射光を干渉光として受光素子により受光する干渉光学系を備え、
   前記干渉光学系からの出力信号に基づいて被験者眼の眼軸長データを求める演算手段を備える眼軸長測定装置であって、
   干渉光学系の測定光軸は、被験者眼に対して上下左右方向に移動可能であって、被験者眼の角膜頂点からずらした位置に移動可能であり、
   予め取得された干渉光学系の測定光軸と被験者眼の角膜頂点との上下左右方向におけるアライメントずれ量に基づいて前記眼軸長データを補正する補正手段を備えることを特徴とする眼軸長測定装置。
2. 請求項１の眼軸長測定装置において、
   被験者眼角膜に対して角膜形状測定用の光を照射し、その反射光を受光して被験者眼の角膜形状を測定する角膜形状測定手段を備え、
   前記補正手段は、
   前記角膜形状測定光学系からの受光信号に基づいて被験者眼の角膜形状を計測し、
   前記アライメントずれ量及び角膜形状測定の計測結果に基づいて前記眼軸長データを補正することを特徴とする眼軸長測定装置。