JP2013187269A - 光半導体装置及びその製造方法 - Google Patents

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Abstract

【課題】劣化が少なく光取出効率を向上させた光半導体装置と製造方法が容易な光半導体装置の製造方法を提供する。
【解決手段】光半導体装置は、セラミックス基板2と導体3、4と保護膜5と発光素子6と蛍光体樹脂9で構成され、保護膜5は、白色ガラスとし、耐劣化性と光取出効率を向上させたものである。また、セラミック基板2に発光素子6を搭載する下部には、サーマルビアが設けられて放熱性を向上させている。また、導体と保護膜の製造方法では、スクリーン印刷を使用し、製造容易性を向上させた。
【選択図】図1

Description

本発明は、光半導体装置及びその製造方法に関し、特にセラミック基板を用いた構造の光半導体装置及びその製造方法に関する。
光半導体装置は、基板に発光素子を搭載し、ワイヤ等で配線後、蛍光体樹脂で覆い完成する。近年では発光表示装置の他、種々の照明装置の光源として使用される。基板では、全属性リードフレームやガラスエポキシ基板やセラミックス基板が多く使われ、種々の構造が取られている。
発光素子が搭載され、反射機能を有する壁部が形成された回路基板と、発光素子が被覆される透光性封止部材で構成される表面実装型の光半導体装置が従来技術として知られている(例えば、特許文献1参照、図1)これにより、熱硬化性樹脂をトランスファーモールドしているので、耐光性と量産性に優れた製造方法とすることができる。
特開2008−263235号公報
一般に、光の配光性の要求は、一方方向に限定されない場合もある。
しかしながら、従来技術は、壁部に樹脂を用いるので、樹脂の光劣化により、光取出効率が低下する懸念があるという課題がある。また、回路基板にはプリント配線や金属メッキを使用するため、基板の製造方法が容易ではないという課題がある。
従って、本発明は、上述した課題を解決するためになされたものであり、光取出効率が低下しない、製造容易な光半導体装置を提供することを目的とする。

上述の課題を解決するために、本発明は、以下に掲げる構成とした。
本発明の光半導体装置は、セラミックス基板と導体と保護膜と発光素子と蛍光体樹脂で構成され、保護膜は白色ガラスとし、耐劣化性と光取出効率を向上させたものである。
また、セラミック基板に発光素子を搭載する下部には、サーマルビアが設けられて放熱性を向上させている。また、導体と保護膜の製造方法では、スクリーン印刷を使用し、製造容易性を向上させたものである。
本発明は、発光素子の周辺には蛍光体樹脂のみが存在するので、劣化が少なく、光取出効率を向上させた光半導体装置を提供することができる効果を奏する。
また、導体と保護膜をスクリーン印刷で製造するので、製造方法が容易な光半導体装置の製造方法を提供することができる効果を奏する。
本発明の実施例1に係る光半導体装置の平面図と断面側面図である。 本発明の実施例1に用いるセラミックス基板の平面図と断面側面図である。 本発明の実施例1に係る光半導体装置の製造方法を説明する概略断面図である。 本発明の実施例1に係る光半導体装置の導体の平面図と下面図である。 本発明の実施例2に係る光半導体装置の断面側面図である。 本発明の変形例1に係る光半導体装置の平面図と断面側面図である。
以下、本発明を実施するための形態について、図を参照して詳細に説明する。ただし、本発明は以下の記載に何ら限定されるものではない。
以下、図面を参照して本発明の実施例1に係る光半導体装置1を説明する。図1は、本発明の実施例1に係る光半導体装置の平面図と断面側面図である。
図1に示すように、光半導体装置1は、セラミックス基板2、導体(上)3、導体(下)4、保護膜5、発光素子6、ワイヤ7、接着材8、蛍光体樹脂9で構成されている。
セラミックス基板2は、光半導体装置の基台(ベース)となる部位である。例えば、一般的な焼成されたセラミックスであるAl2O3(アルミナ)でできている。例えば、板厚は0.5mmである。光半導体装置の個片となった場合にコーナー部となるスルーホール11があいている。図2参照。
導体(上)3は、セラミック基板2の一方の主面(図において上面側)に配設された電気回路パターンである。図4(a)参照。例えば、導体(上)3の材質は、銀導体ペーストを印刷し焼成したものを使用することができる。ここでは10ミクロンミリ以上の厚さを形成することができる。
導体(下)4は、セラミック基板2のもう一方の主面(図において下面側)に配設された電気回路パターンであり、実装時の外部電極である。図4(b)参照。例えば、導体(下)4の材質は、導体(上)3と同様に銀導体ペーストを印刷し焼成したものを使用することができる。ここでは10ミクロンミリ以上の厚さを形成することができる。
保護膜5は、セラミック基板2の一方の主面の導体(上)3を覆うように配設された膜である。例えば、保護膜5の材質は、白色ガラスペーストを印刷し焼成したものを使用することができる。ここでは10ミクロンミリ以上の厚さを形成することができる。また、素子搭載やワイヤボンディングするための開口部13が設けられ、導体(上)3が露出している。図4(a)の破線部参照。
発光素子6は、通電により発光するものである。セラミック基板2の白色ガラスの保護膜5の開口部13において、発光素子6の一方の主面を導体(上)3に接着剤8を用いて搭載されている。例えば、0.5mm×0.5mm×高さ0.2mmである。また、接着材8は、シリコン樹脂接着材である。
ワイヤ7は、発光素子6のもう一方の主面に配置されている電極と、セラミック基板3の白色ガラスの保護膜5の開口部13の導体(上)3との間を機械的電気的に接続している。例えば、金細線で25ミクロンミリの直径である。
蛍光体樹脂9は、セラミックス基板2の一方の主面において、保護膜5と発光素子6とワイヤ7を樹脂封止したものである。この時発光素子6を中心に半球状のレンズとする。これにより、配光特性を変化させることができる。例えば、蛍光体樹脂9は、蛍光体の混入された熱硬化性のエポキシ樹脂である。
次に、図2、図3を参照して、本発明の実施例1に係る光半導体装置1の製造方法を説明する。図2は、本発明の実施例1に用いるセラミックス基板の平面図と断面側面図である。図3は、本発明の実施例1に係る光半導体装置の製造方法を説明する概略断面図である。
製造工程は、製造順に、導体印刷工程、保護膜印刷工程、チップマウント工程、ワイヤボンディング工程、樹脂封止工程、分離工程となる。
図2に示すように、まず、セラミックス基板2を準備する。セラミックス基板2は、ひとつの光半導体装置1パターンを縦横の複数にマトリクス配列させ、スルーホール11のあいた平形状の板である。配列した交点にスルーホール11が空いている。以下では、パターンを一つに簡略した図で説明する。
図3(a)は(導体印刷工程)を示している。厚膜製法として、導体ペーストをスクリーン印刷によって、セラミックス基板2の一方の主面(図中上側)に回路パターンを配置する。この面は発光素子6の搭載部とワイヤボンディングエリアをパターン化する。その後、銀導体ペーストの場合は約850度の温度にて焼成し、導体(上)3を硬化する。この時スルーホール11の内面(円筒形の内部)にも導体が入り込む。
また、セラミック基板2のもう一方の主面(図中下側)にも同様にパターンを配置する。こちらの面は光半導体装置の実装面になり、外部端子となる。同様に約850度の温度にて焼成し、導体(下)4を硬化する。この時スルーホール11の内面(円筒形の内部)にも導体が入り込み、表裏導体が連結される、スルーホール電極12となる。
図3(b)は(保護膜印刷工程)を示している。白色ガラスペーストをスクリーン印刷によって、セラミックス基板2の一方の主面の導体(上)3の上面に保護パターンを配置する。この面は導体(上)3に重ねるが、発光素子6の搭載部とワイヤボンディングエリアを開口し、開口部13とする。そ の後、約850度にて焼成し、白色ガラスの保護膜5を硬化する。セラミック基板2のもう一方の主面には配置しない。
図3(c)は(マウント工程)を示している。セラミック基板2の白色ガラスの保護膜5の開口部13において、導体(上)3に接着剤8を用いて、マウンター装置によって、発光素子6の一方の主面をマウントする。例えば、接着材8はシリコン樹脂接着材を用いて、170度で硬化させる。
その後、発光素子6のもう一方の主面に配置されている電極と、セラミック基板2の白色ガラスの保護膜5の開口部13の導体(上)3に、ワイヤボンディング装置により、ワイヤ7を接続配線する。例えば、ワイヤ7は金細線で25ミクロンミリの直径である。
図3(d)は(樹脂封止工程)を示している。セラミックス基板2の一方の主面において、トランスファーモールド装置によって、蛍光体樹脂9を樹脂封止する。例えば、樹脂成形は150度の温度でおこなう。
その後、図示していないが、マトリクス配列で一括樹脂封止されたものを、一般的なシンギュレーション装置によって、ダイシング分割し、光半導体装置1を個片化する。例えば、3.0mm×4.0mm×高さ2.0mmである。分割位置(分割ライン)は、図2における破線部である。
以上により、図1に示す光半導体装置1が完成する。
次に、上述の実施例1に係る光半導体装置1とその製造方法の効果を説明する。
本発明の実施例1に係る光半導体装置は、蛍光体樹脂で直接発光素子を封止している。これにより、光半導体装置において、リフレクタ(壁部)を持たないため、配光性の自由度の向上及びリフレクタによる光吸収が抑制され、光取出効率を向上することが可能である。
また、白色ガラスペーストを保護膜として、導体である配線パターンに被覆している。これにより、導体の硫化による劣化が抑制され,また高反射性白色ガラスペーストの採用により,明るさを損なうことのない光半導体装置の信頼性向上が可能である。
また、本発明の実施例1に係る光半導体装置の製造方法は、配線に導体ペーストとスクリーン印刷法を用いているので、導体めっき法等に比べ、製造工程を容易にすることが可能である。さらに、導体の厚さの厚膜化が容易におこなえるので、光半導体装置の伝熱性・放熱性を向上することが可能である。
上述のように、本発明を実施するための形態を記載したが、この開示から当業者には様々な代替実施の形態、実施例が可能であることが明らかになるはずである。
実施例2としては、セラミックス基板2の発光素子が搭載される部分に、貫通孔14をあけ、導体等を入れた、サーマルビア15を形成してもよい。これにより、導体からの放熱の他に、サーマルビア15からの放熱をすることができ、さらに放熱性を向上させることが可能である。図5参照。
製造方法はセラミックス基板2を準備する時に、スルーホール11と同時に貫通孔14をあければよい。例えば、貫通孔14は直径0.5mmである。その後、導体のスクリーン印刷で貫通孔14にも同時に導体ペーストが入る。これらは追加製造工程無しに製造することが可能である。
変形例として、蛍光体樹脂10の形状は、配光特性により、円柱を縦に割ったかまぼこ形状としてもよい。図6参照。さらに、角型やレンズ成形などとすることも可能である。
上述の例では、セラミックス基板2の材質をAlO(アルミナ)としたが、AlN(窒化アルミニウム)または、SiN(窒化珪素)としてもよい。これにより、高熱伝導性または、高強度性を向上することが可能である。
また、蛍光体樹脂9は、蛍光体を混入させたが、無色の透明樹脂であってもよい。
また、蛍光体樹脂9は熱硬化性樹脂としたが、熱可塑性樹脂としてもよい。これにより樹脂選択の範囲を広げることが可能であり、射出成形装置を使用することが可能である。
また、セラミックス基板2の導体(上)3と導体(下)4の連結配線はスルーホール11のスルーホール電極12により接続したが、電気基板における周知技術のビアホールにより接続してもよい。これにより、光半導体装置のコーナー部を直角形状、R形状、面取り形状とすることができ、種々の実装形状に対応することが可能である。
また、発光素子6は、一つ搭載したが、複数の発光素子6を搭載してもよい。これにより、光量を増加することが可能である。
また、発光素子6は、上面電極としたが、フリップ型素子であってもよい。これにより、ワイヤ7の接続を省略することができ、製造工程が削減することが可能である。
また、発光素子6と同時に保護ダイオードを搭載してもよい。図示せず。これにより、保護機能が加わり高信頼性の光半導体装置とすることが可能である。
また、信頼性を向上させるため、導体ペースト上に金属メッキを行ってもよい。
また、保護膜5は、白色ガラスとしたが白色レジストであってもよい。白色ガラスと同様の効果を得ることが可能である。
1、光半導体装置
2、セラミックス基板
3、導体(上)
4、導体(下)
5、保護膜
6、発光素子
7、ワイヤ
8、接着材
9、蛍光体樹脂
10、蛍光体樹脂(変形例)
11、スルーホール
12、スルーホール電極
13、開口部
14、貫通孔
15、サーマルビア

Claims (3)

  1. セラミックス基板と導体と保護膜と発光素子と蛍光体樹脂で構成される光半導体装置において、前記保護膜は、白色ガラスであることを特徴とする光半導体装置。
  2. 前記セラミックス基板の前記発光素子が搭載される部分にサーマルビアが備えられていることを特徴とする請求項1に記載の光半導体装置。
  3. セラミックス基板と導体と保護膜と発光素子と蛍光体樹脂で構成される光半導体装置の製造方法において、前記セラミックス基板に前記導体をスクリーン印刷する工程と、前記導体を覆うように前記保護膜をスクリーン印刷する工程と、発光素子を搭載する工程と、前記セラミックス基板を覆うように蛍光体樹脂を樹脂封止する工程と、個片に分離する工程とを有することを特徴とする光半導体装置の製造方法。
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Cited By (2)

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WO2015050164A1 (ja) * 2013-10-03 2015-04-09 シャープ株式会社 発光装置用基板、発光装置、および、発光装置用基板の製造方法
JP2017111214A (ja) * 2015-12-15 2017-06-22 日本電気硝子株式会社 波長変換部材の製造方法

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2015050164A1 (ja) * 2013-10-03 2015-04-09 シャープ株式会社 発光装置用基板、発光装置、および、発光装置用基板の製造方法
JPWO2015050164A1 (ja) * 2013-10-03 2017-03-09 シャープ株式会社 発光装置、および、発光装置の製造方法
US9728697B2 (en) 2013-10-03 2017-08-08 Sharp Kabushiki Kaisha Light emitting device including a metal substrate for high heat dissipation and increased light efficiency
JP2017111214A (ja) * 2015-12-15 2017-06-22 日本電気硝子株式会社 波長変換部材の製造方法

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