JP2013183100A - パッケージ基板の加工方法および位置関係検出装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】表面に分割予定ラインを検出するための第1のマークが形成され、裏面に第1のマークと関連した第2のマークが形成されているパッケージ基板の位置の相関関係を求める位置関係検出工程と、保持テーブルにパッケージ基板の表面側を載置し裏面を露出させて保持するパッケージ基板保持工程と、保持テーブルに保持されたパッケージ基板の裏面を撮像して第2のマークを検出し、保持されたパッケージ基板に形成された第1のマークの位置を算出して分割予定ラインの位置を求める分割予定ライン位置検出工程と、保持テーブルに保持されたパッケージ基板の裏面を分割予定ラインに沿って切断する切断工程とを含む。
【選択図】図9
Description
パッケージ基板に形成された第1のマークと第2のマークを検出して第1のマークと第2のマークの位置の相関関係を求める位置関係検出工程と、
パッケージ基板を保持する保持テーブルにパッケージ基板の表面側を載置し裏面を露出させて保持するパッケージ基板保持工程と、
保持テーブルに保持されたパッケージ基板の裏面を撮像して第2のマークを検出し、該検出した第2のマークと該位置関係検出工程で求めた第1のマークと第2のマークの位置の相関関係に基づいて保持テーブルに保持されたパッケージ基板に形成された第1のマークの位置を算出して分割予定ラインの位置を求める分割予定ライン位置検出工程と、
該分割予定ライン位置検出工程によって求められた分割予定ラインに対応する保持テーブルに保持されたパッケージ基板の裏面に切断手段を位置付けてパッケージ基板を分割予定ラインに沿って切断する切断工程と、を含む、
ことを特徴とするパッケージ基板の加工方法が提供される。
所定の撮像位置においてパッケージ基板の表面を撮像する第1の撮像手段と、該第1の撮像手段と対向して配設されパッケージ基板の裏面を撮像する第2の撮像手段と、該第1の撮像手段および第2の撮像手段によって撮像された画像データに基づいてパッケージ基板に形成された第1のマークと第2のマークの位置の相関関係を求める制御手段と、を具備している、
ことを特徴とする位置関係検出装置が提供される。
先ず、図6に示すように一対の案内レール91、91上にパッケージ基板1の裏面側を載置する。なお、一対の案内レール91、91上に載置されたパッケージ基板1の表面には、図7に示すようにX軸方向の両端部における検出位置A-1およびB-1の第1の分割予定ライン111および第2の分割予定ライン112を検出するための第1のマーク13aおよび13bが形成されている。一方の第1のマーク13aは検出位置A-1におけるは第1の分割予定ライン111と第2の分割予定ライン112との交点に設けられ、他方の第1のマーク13bは検出位置B-1における第1の分割予定ライン111と第2の分割予定ライン112との交点に設けられている。
この切断工程を実施するには、上記位置関係検出工程によって求めたパッケージ基板1の検出位置A-1における第1のマーク13aと検出位置A-2における電極122との位置および検出位置B-1における第1のマーク13bと検出位置B-2における電極122との位置の相関関係のデータを入力手段(IM)から制御手段8に入力する。そして、制御手段8は、入力手段(IM)から入力された相関関係のデータをランダムアクセスメモリ(RAM)83の第1の記憶領域831に格納する。なお、パッケージ基板1の検出位置A-1における第1のマーク13aと検出位置A-2における電極122との位置および検出位置B-1における第1のマーク13bと検出位置B-2における電極122との位置の相関関係のデータは、位置関係検出装置9の制御手段95と切削装置の制御手段8を接続して送信してもよい。
111:第1の分割予定ライン
112:第2の分割予定ライン
12:LEDデバイス
121:凸レンズ
122:電極
2:切削装置
3:チャックテーブル機構
36:保持テーブル
37:加工送り手段
38:第1の割り出し送り手段
4:スピンドル支持機構
42:可動支持基台
43:第2の割り出し送り手段
5:スピンドルユニット
53:回転スピンドル
55:切り込み送り手段
6:切削ブレード
7:撮像手段
8:制御手段
9:位置関係検出装置
92:第1の撮像手段
93:第2の撮像手段
94:位置付け手段
95:制御手段
96:表示手段
Claims (2)
- 格子状に形成された複数の分割予定ラインによって区画された複数の領域にデバイスが配設され、表面には分割予定ラインを検出するための第1のマークが形成され、裏面には第1のマークと関連した第2のマークが形成されているパッケージ基板を、複数の分割予定ラインに沿って個々のパッケージデバイスに分割するパッケージ基板の加工方法であって、
パッケージ基板に形成された第1のマークと第2のマークを検出して第1のマークと第2のマークの位置の相関関係を求める位置関係検出工程と、
パッケージ基板を保持する保持テーブルにパッケージ基板の表面側を載置し裏面を露出させて保持するパッケージ基板保持工程と、
保持テーブルに保持されたパッケージ基板の裏面を撮像して第2のマークを検出し、該検出した第2のマークと該位置関係検出工程で求めた第1のマークと第2のマークの位置の相関関係に基づいて保持テーブルに保持されたパッケージ基板に形成された第1のマークの位置を算出して分割予定ラインの位置を求める分割予定ライン位置検出工程と、
該分割予定ライン位置検出工程によって求められた分割予定ラインの位置に対応する保持テーブルに保持されたパッケージ基板の裏面に切断手段を位置付けてパッケージ基板を分割予定ラインに沿って切断する切断工程と、を含む、
ことを特徴とするパッケージ基板の加工方法。 - 格子状に形成された複数の分割予定ラインによって区画された複数の領域にデバイスが配設され、表面には分割予定ラインを検出するための第1のマークが形成され、裏面には第1のマークと関連した第2のマークが形成されているパッケージ基板における第1のマークと第2のマークの位置の相関関係を求める位置関係検出装置であって、
所定の撮像位置においてパッケージ基板の表面を撮像する第1の撮像手段と、該第1の撮像手段と対向して配設されパッケージ基板の裏面を撮像する第2の撮像手段と、該第1の撮像手段および第2の撮像手段によって撮像された画像データに基づいてパッケージ基板に形成された第1のマークと第2のマークの位置の相関関係を求める制御手段と、を具備している、
ことを特徴とする位置関係検出装置。
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Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2016025112A (ja) * | 2014-07-16 | 2016-02-08 | 株式会社ディスコ | レーザー切断方法及びレーザー加工装置 |
CN106024613A (zh) * | 2015-03-25 | 2016-10-12 | 东和株式会社 | 切断装置以及切断方法 |
KR20170095017A (ko) * | 2016-02-12 | 2017-08-22 | 삼성전자주식회사 | 마크 위치 예측 방법 |
JP2020136490A (ja) * | 2019-02-19 | 2020-08-31 | 株式会社ディスコ | 切削装置及び半導体パッケージの製造方法 |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2003045825A (ja) * | 2001-07-27 | 2003-02-14 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 半導体ウェハのダイシング装置およびダイシング方法 |
US20060024920A1 (en) * | 2004-07-29 | 2006-02-02 | Denso Corporation | Method for positioning dicing line of wafer |
JP2008109026A (ja) * | 2006-10-27 | 2008-05-08 | Disco Abrasive Syst Ltd | 半導体ウエーハおよび該半導体ウエーハの製造方法 |
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Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2003045825A (ja) * | 2001-07-27 | 2003-02-14 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 半導体ウェハのダイシング装置およびダイシング方法 |
US20060024920A1 (en) * | 2004-07-29 | 2006-02-02 | Denso Corporation | Method for positioning dicing line of wafer |
JP2008109026A (ja) * | 2006-10-27 | 2008-05-08 | Disco Abrasive Syst Ltd | 半導体ウエーハおよび該半導体ウエーハの製造方法 |
Cited By (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2016025112A (ja) * | 2014-07-16 | 2016-02-08 | 株式会社ディスコ | レーザー切断方法及びレーザー加工装置 |
CN106024613A (zh) * | 2015-03-25 | 2016-10-12 | 东和株式会社 | 切断装置以及切断方法 |
JP2016181640A (ja) * | 2015-03-25 | 2016-10-13 | Towa株式会社 | 切断装置及び切断方法 |
KR20170095017A (ko) * | 2016-02-12 | 2017-08-22 | 삼성전자주식회사 | 마크 위치 예측 방법 |
KR102521372B1 (ko) * | 2016-02-12 | 2023-04-14 | 삼성전자주식회사 | 마크 위치 예측 방법 |
JP2020136490A (ja) * | 2019-02-19 | 2020-08-31 | 株式会社ディスコ | 切削装置及び半導体パッケージの製造方法 |
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