JP2013174565A - 携帯型マイクロ波測定装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】携帯型マイクロ波測定装置は、筒状のケース10内に、ミリ波を受信するミリ波センサ12と、測定対象から放射されたミリ波帯の熱雑音をミリ波センサ12に導くミリ波レンズ14を設け、ミリ波センサ12の後方に配置された制御回路にて、ミリ波センサ12で受信されたミリ波(熱雑音)の信号レベルを測定することで、測定対象に隠された物品を検出する。ケース10の開口部で、ミリ波レンズ14の光軸を挟んで対向する位置には、光線を出射するポインタ31、32が設けられる。このポインタ31,32は、光線の交点Xにて熱雑音の測定点Sを通知するよう、光線の出射方向が設定される。
【選択図】図2
Description
しかし、この場合、測定対象全体の画像を撮像することはできないことから、撮像画像から物品の位置を特定することができない。
マイクロ波を受信する受信素子と、
測定対象から放射されたマイクロ波帯の熱雑音を前記受信素子に導く電波レンズと、
前記受信素子からの受信信号の信号レベルを測定する測定手段と、
使用者が把持可能な形状で、前記熱雑音を取り込むための開口部を有するケースと、
を備え、前記電波レンズが前記開口部側となるよう、前記ケース内に前記電波レンズ、前記受信素子、及び測定手段を収納してなる携帯型マイクロ波測定装置であって、
前記ケースの開口部周囲に、
前記測定対象に向けて光を照射することで、前記電波レンズを介して前記受信素子に入射する熱雑音の、前記測定対象からの放射位置を案内する発光手段、
を設けたことを特徴とする。
また、請求項3に記載の発明は、請求項2に記載の携帯型マイクロ波測定装置において、
前記受信素子は、前記マイクロ波の受信点が前記電波レンズの焦点位置になるよう前記ケース内に配置され、
前記複数の発光素子は、それぞれ、前記電波レンズの光軸に平行な光線を発するように、前記ケースの開口部周囲に設けられていることを特徴とする。
前記受信素子は、前記マイクロ波の受信点が前記電波レンズの焦点位置になるよう前記ケース内に配置され、
前記複数の発光素子は、それぞれ、各発光素子から出射された光線が前記電波レンズの光軸上で交わり、しかも、該光線の交点が、前記ケースの開口部から前記測定対象までの距離が前記測定手段にて信号レベルを測定し得る測定限界距離となる測定限界点となるよう、前記ケースの開口部周囲に設けられていることを特徴とする。
前記受信素子は、前記マイクロ波の受信点が、前記電波レンズの焦点位置よりも前記電波レンズから離れた位置となるよう前記ケース内に配置され、
前記複数の発光素子は、それぞれ、各発光素子から出射された光線が前記電波レンズの光軸上で交わり、しかも、該光線の交点が、前記電波レンズを介して前記受信素子の受信点に収束されるマイクロ波の発生点となるよう、前記ケースの開口部周囲に設けられていることを特徴とする。
前記電波レンズは、前記ケース内にて当該電波レンズの光軸方向に移動可能に設けられ、
前記複数の発光素子は、それぞれ、各発光素子から出射された光線が前記電波レンズの光軸と交差し、しかも、前記光線と前記光軸との交点を移動できるよう、前記光線の出射方向を調整可能に、前記ケースの開口部周囲に設けられており、
前記ケース内には、更に、
前記ケース内での前記電波レンズの位置を検出する位置センサと、
前記複数の発光素子にそれぞれ設けられ、各発光素子からの光線の出射方向を調整するための複数のアクチュエータと、
前記各発光素子から出射された光線が前記電波レンズの光軸上で交わり、しかも、該光線の前記光軸上での交点が前記電波レンズの位置に対応した設定位置となるよう、前記位置センサにて検出された前記電波レンズの位置に応じて、前記各アクチュエータをそれぞれ駆動する制御手段と、
が設けられていることを特徴とする。
前記電波レンズは、前記開口部から前記受信素子に至るマイクロ波の透過経路上に、光軸を一致させて複数配置されており、
該複数の電波レンズの内、前記開口部に最も近い電波レンズが、前記ケース内にて光軸方向に移動可能に設けられていることを特徴とする。
つまり、請求項3に記載の携帯型マイクロ波測定装置において、複数の発光素子は、それぞれ、電波レンズの光軸に平行な光線を発するように、ケースの開口部周囲に設けられる。
そして、この場合、電波レンズの移動に伴い、測定対象に対する当該携帯型マイクロ波測定装置の最適位置が変化するので、請求項6に記載のように、発光手段を構成する複数の発光素子は、それぞれ、各発光素子から出射された光線が電波レンズの光軸と交差し、しかも、光線と光軸との交点を移動できるよう、光線の出射方向を調整可能にケースの開口部周囲に設けるとよい。
[第1実施形態]
図1(a)に示すように、本実施形態の携帯型マイクロ波測定装置(以下、ハンディスキャナという)2は、測定対象から放射されたミリ波帯の熱雑音を取り込み受信するための本体部4と、使用者が把持するための把持部6とからなる。
ミリ波レンズ14は、開口部から入射したミリ波帯の熱雑音をミリ波センサ12に導き、収束させるためのものであり、両面が凸レンズとなるよう、ポリエチレン、アルミナ、テフロン(登録商標)等からなるレンズ材料によって所定のレンズ形状となるよう形成されている。
そして、制御回路基板18は、ミリ波レンズ14を介して開口部11から入射したミリ波帯の熱雑音が、直接、制御回路基板18上の電子部品に入射することのないよう、電波を遮蔽する遮蔽板16の裏面に固定されており、ミリ波センサ12は、ミリ波レンズ14を介して開口部11から入射したミリ波帯の熱雑音を受信できるように、この遮蔽板16を貫通するように配置されている。
ところで、このように、ミリ波センサ12を用いて、測定対象の一点(測定点S)から放射された熱雑音の信号レベルを測定するには、測定対象とハンディスキャナ2との距離を一定距離(上記例の場合、53mm)にする必要があるが、使用者がハンディスキャナ2をそのように配置するのは極めて難しい。
そして、各ポインタ31,32は、各ポインタ31,32から出射される光線が、ミリ波レンズ14の光軸と交わり、且つ、その交点Xとハンディスキャナ2(換言すれば開口部11の開口端)との間の距離が、上述した測定点Sまでの一定距離となるように、ケース10の開口部11に固定されている。
図4に示すように、物品検出処理は、電源SW26がオン状態に切り換えられてから、制御回路40(詳しくはCPU42)において繰り返し実行される処理である。
そして、S160では、駆動回路33〜37を介して、一定時間、LED22及びポインタ31,32を点滅させると共に、ブザー28を鳴動させることにより、使用者に対し物品の存在を報知する。
そして、S180では、ポインタ31,32を消灯させ、ブザー28を鳴動させることにより、当該物品検出処理による検査を終了する旨を報知し、当該物品検出処理を終了する。
また特に、本実施形態のハンディスキャナ2には、ミリ波レンズ14がミリ波帯の熱雑音を取り込む開口部11に、一対のポインタ31,32が設けられている。
[第2実施形態]
次に、本発明の第2実施形態について説明する。
(変形例)
なお、本実施形態のように、ミリ波センサ12を、ミリ波レンズ14の焦点位置に配置した場合、ミリ波レンズ14のレンズ面に対向する領域から入射される熱雑音が、ミリ波レンズ14を介してミリ波センサ12に入射されるので、第1実施形態のように、ハンディスキャナ2と測定対象との間の測定距離が固定されることはない。
[第3実施形態]
次に、本発明の第3実施形態について説明する。
そして、第2実施形態と異なる点は、図7(a)に示すように、測定対象に対する対物レンズとして、ミリ波レンズ14の光軸方向に移動可能なミリ波レンズ50を追加し、ポインタ31,32からの光線の出射角度を自動調整できるようにした点である。
まず、本実施形態では、ミリ波レンズ14と開口部11との間にミリ波レンズ50を配置し、しかも、ミリ波レンズ50をケース10内で本体部4の中心軸方向に移動できるように、ケース10の本体部4の長さが、第2実施形態のものに比べて長くなっている。
そして、操作リング54の内周面には、その中心軸を挟んで対向する位置に、一対の嵌合突起56が突設されている。
そして、ケース10内には、支持リング52の位置を検出するための位置センサ58が設けられている。なお、この位置センサ58は、支持リング52の位置に応じて抵抗値が変化するポテンショメータ等で構成できる。
角度調整機構60は、使用者が操作リング54を操作して、ミリ波レンズ50の位置を変化させた際に、その位置変化(換言すれば測定距離の変化)に応じて、光線の出射方向(光線が中心軸と交差する角度:出射角度)を変化させるためのものであり、次のように構成されている。
そして、この歯車65,66には、自身の回転により歯車65,66(延いてはフォルダ61,62)を回転させるウォームギヤ67,68が噛合されている。
なお、このポインタ調整処理を行うに当たって、ポインタ31,32には、歯車65,66の回転位置から光線の出射角度を検出する角度センサ75,76が設けられており、制御回路40には、この角度センサ75,76からの検出信号が入力される(図8参照)。
また、図8に示すように、本実施形態の制御回路基板18には、上述した駆動回路33〜36に加えて、各角度調整機構60に設けられたモータ71,72を駆動する駆動回路73,74も設けられており、制御回路40は、これら各駆動回路73,74を介してモータ71,72を回転させることで、ポインタ31,32からの光線の出射角度を調整する。
次に、S220では、その検出されたミリ波レンズ50の位置に基づき、ポインタ31,32から出射される光線の交点Xによって使用者に適正な測定距離を通知するのに必要なポインタ31、32の出射角度(目標出射角度)を、ROM44から読み出す。
そして、S240では、S220にて読み込んだ目標出射角度とS230にて検出した実出射角度との差に基づき、モータ71,72の回転量を算出し、その回転量に応じてモータ71,72を駆動することで、ポインタ31,32からの光線の出射角度を目標出射角度に制御し、ポインタ調整処理を一旦終了する。
この結果、ポインタ31,32からの光線の出射角度は、常時、ミリ波レンズ50の位置に応じた最適角度に制御され、使用者は、ポインタ31,32からの光線が測定対象上で交わるようにハンディスキャナ2を位置調整することで、測定対象とハンディスキャナ2との距離を、適正な測定距離に設定できる。
例えば、上記実施形態では、ケース10の開口部11には、2つのポインタ31,32を設けるものとして説明したが、ポインタは、測定対象に光線を当てることで、使用者に、測定可能領域若しくは適正な測定距離を通知できればよいので、複数であればよく、3個或いは4個と個数を増加させてもよい。
Claims (7)
- マイクロ波を受信する受信素子と、
測定対象から放射されたマイクロ波帯の熱雑音を前記受信素子に導く電波レンズと、
前記受信素子からの受信信号の信号レベルを測定する測定手段と、
使用者が把持可能な形状で、前記熱雑音を取り込むための開口部を有するケースと、
を備え、前記電波レンズが前記開口部側となるよう、前記ケース内に前記電波レンズ、前記受信素子、及び測定手段を収納してなる携帯型マイクロ波測定装置であって、
前記ケースの開口部周囲に、
前記測定対象に向けて光を照射することで、前記電波レンズを介して前記受信素子に入射する熱雑音の、前記測定対象からの放射位置を案内する発光手段、
を設けたことを特徴とする携帯型マイクロ波測定装置。 - 前記発光手段は、ビーム状の光線を発する複数の発光素子からなることを特徴とする請求項1に記載の携帯型マイクロ波測定装置。
- 前記受信素子は、前記マイクロ波の受信点が前記電波レンズの焦点位置になるよう前記ケース内に配置され、
前記複数の発光素子は、それぞれ、前記電波レンズの光軸に平行な光線を発するように、前記ケースの開口部周囲に設けられていることを特徴とする請求項2に記載の携帯型マイクロ波測定装置。 - 前記受信素子は、前記マイクロ波の受信点が前記電波レンズの焦点位置になるよう前記ケース内に配置され、
前記複数の発光素子は、それぞれ、各発光素子から出射された光線が前記電波レンズの光軸上で交わり、しかも、該光線の交点が、前記ケースの開口部から前記測定対象までの距離が前記測定手段にて信号レベルを測定し得る測定限界距離となる測定限界点となるよう、前記ケースの開口部周囲に設けられていることを特徴とする請求項2に記載の携帯型マイクロ波測定装置。 - 前記受信素子は、前記マイクロ波の受信点が、前記電波レンズの光軸上で前記電波レンズの焦点位置よりも前記電波レンズから離れた位置となるよう前記ケース内に配置され、
前記複数の発光素子は、それぞれ、各発光素子から出射された光線が前記電波レンズの光軸上で交わり、しかも、該光線の交点が、前記電波レンズを介して前記受信素子の受信点に収束されるマイクロ波の発生点となるよう、前記ケースの開口部周囲に設けられていることを特徴とする請求項2に記載の携帯型マイクロ波測定装置。 - 前記電波レンズは、前記ケース内にて当該電波レンズの光軸方向に移動可能に設けられ、
前記複数の発光素子は、それぞれ、各発光素子から出射された光線が前記電波レンズの光軸と交差し、しかも、前記光線と前記光軸との交点を移動できるよう、前記光線の出射方向を調整可能に、前記ケースの開口部周囲に設けられており、
前記ケース内には、更に、
前記ケース内での前記電波レンズの位置を検出する位置センサと、
前記複数の発光素子にそれぞれ設けられ、各発光素子からの光線の出射方向を調整するための複数のアクチュエータと、
前記各発光素子から出射された光線が前記電波レンズの光軸上で交わり、しかも、該光線の前記光軸上での交点が前記電波レンズの位置に対応した設定位置となるよう、前記位置センサにて検出された前記電波レンズの位置に応じて、前記各アクチュエータをそれぞれ駆動する制御手段と、
が設けられていることを特徴とする請求項2に記載の携帯型マイクロ波測定装置。 - 前記電波レンズは、前記開口部から前記受信素子に至るマイクロ波の透過経路上に、光軸を一致させて複数配置されており、
該複数の電波レンズの内、前記開口部に最も近い電波レンズが、前記ケース内にて光軸方向に移動可能に設けられていることを特徴とする請求項6に記載の携帯型マイクロ波測定装置。
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Publications (1)
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JP2013174565A true JP2013174565A (ja) | 2013-09-05 |
Family
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Family Applications (1)
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