JP2013149870A - Multilayer flexible wiring board and method for manufacturing multilayer flexible wiring board - Google Patents

Multilayer flexible wiring board and method for manufacturing multilayer flexible wiring board Download PDF

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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a multilayer flexible wiring board with excellent folding resistance, insulation reliability, and heat resistance.SOLUTION: A multilayer flexible wiring board (1) includes internal conductive layers (12a, 12b) and external conductive layers (14a, 14b) provided on the internal conductive layers (12a, 12b) via an adhesive resin hardener (13). The internal conductive layers (12a, 12b) and the external conductive layers (14a, 14b) are electrically connected via a blind (17). An alkali dissolution rate of the adhesive resin hardener is higher than or equal to 0.0001 μm/sec and lower than or equal to 0.01 μm/sec. A residual solvent quantity is less than or equal to 0.5 mass%. Tg (glass-transition temperature) is lower than or equal to 125°C.

Description

本発明は、携帯電話端末機などに用いられる多層フレキシブル配線板に関し、特に、各種電子部品が実装されるリジッド部と、折り曲げ又は屈曲性を有するフレキシブル部と、を有する多層フレキシブル配線板に関する。   The present invention relates to a multilayer flexible wiring board used for a mobile phone terminal or the like, and more particularly to a multilayer flexible wiring board having a rigid portion on which various electronic components are mounted and a flexible portion having bending or bending properties.

近年、携帯電話端末機などの分野では、部品実装密度向上のため、配線回路のファイン化や多層化が求められており、多層フレキシブル配線板の比率が増大している。多層フレキシブル配線板は、各種電子部品が実装されるリジッド部と、折り曲げ又は屈曲性を有するフレキシブル部と、を有しており、リジッド部及びフレキシブル部にそれぞれ絶縁層を介して複数の導電層が設けられている。このため、フレキシブル部の各導電層間の絶縁層においては、十分な折り曲げ性又は屈曲性が要求される。   In recent years, in the field of cellular phone terminals and the like, in order to improve component mounting density, finer and multilayered wiring circuits are required, and the ratio of multilayer flexible wiring boards is increasing. The multilayer flexible wiring board has a rigid part on which various electronic components are mounted, and a flexible part having bending or bending properties, and a plurality of conductive layers are respectively provided on the rigid part and the flexible part via an insulating layer. Is provided. For this reason, sufficient bendability or bendability is required in the insulating layer between the conductive layers of the flexible portion.

フレキシブル部の絶縁層としては、エポキシ系の材料やポリイミド系の材料を用いることができる。一般に、エポキシ系の材料は、弾性率が高く、伸度が小さいため、折り曲げ性及び屈曲性が不足するという問題がある。また、多層フレキシブル配線板は、フレキシブル部を折り畳んだ状態で携帯電話端末機などに組み込むため、絶縁層の膜厚を薄くすることが望まれている。このため、フレキシブル部の絶縁層としては、膜厚を薄くしても絶縁信頼性に優れるポリイミド系の材料が用いられている。   As the insulating layer of the flexible portion, an epoxy material or a polyimide material can be used. In general, epoxy-based materials have a high elastic modulus and a low elongation, and thus have a problem of insufficient bendability and bendability. In addition, since the multilayer flexible wiring board is incorporated in a mobile phone terminal or the like with the flexible portion folded, it is desired to reduce the thickness of the insulating layer. For this reason, as the insulating layer of the flexible portion, a polyimide-based material having excellent insulation reliability even when the film thickness is reduced is used.

ところで、多層フレキシブル配線板においては、複数の導電層間にビアホール(めっき穴)を設け、このビア内に銅めっきを施すことにより、複数の導電層間を電気的に接続している。多層フレキシブル配線板に設けられるビアホールとしては、主に多層フレキシブル配線板又はリジッドフレキシブル配線板のコア基板としての両面フレキシブル配線板に設けられる貫通ビアホールと、主に両面フレキシブル配線板、多層フレキシブル配線板及びリジッドフレキシブル配線板の内部導電層と外部導電層との間に設けられるブラインドビアホールとがある。   By the way, in a multilayer flexible wiring board, via holes (plating holes) are provided between a plurality of conductive layers, and copper plating is performed in the vias to electrically connect the plurality of conductive layers. Via holes provided in the multilayer flexible wiring board are mainly through via holes provided in the double-sided flexible wiring board as the core substrate of the multilayer flexible wiring board or the rigid flexible wiring board, and mainly the double-sided flexible wiring board, the multilayer flexible wiring board, and There is a blind via hole provided between the inner conductive layer and the outer conductive layer of the rigid flexible wiring board.

これらのビアホールは、一般にNCドリリング、プラズマエッチング、レーザードリリング、パンチングなどの加工により設けられる。しかしながら、これらの加工によってビアホールを設ける場合、ビアホール形成時にスミアが生じる問題がある。スミアが生じた場合には、フレキシブル配線板の重大欠陥となるビアホールのめっき不良の原因となり、フレキシブル配線板の回路基板の品質が低下する問題がある。また、レーザー加工やドリル加工では、1穴ずつ加工する必要があるため、ロール・ツー・ロールの連続生産が困難になると共に、コストダウンや生産性向上面でも大きな障害となっている。   These via holes are generally provided by processing such as NC drilling, plasma etching, laser drilling, and punching. However, when a via hole is provided by these processes, there is a problem that smear occurs when the via hole is formed. When smear occurs, it causes a plating failure of a via hole, which is a serious defect of the flexible wiring board, and there is a problem that the quality of the circuit board of the flexible wiring board is deteriorated. In addition, in laser processing and drilling, since it is necessary to process each hole, continuous production of roll-to-roll is difficult, and it is a major obstacle in terms of cost reduction and productivity improvement.

一方、ビアホールは、化学的なエッチングによって設けることも可能である。しかしながら、ポリイミド材料を用いた絶縁層をエッチングするためには、ヒドラジンなどの強い還元剤を使用しなければならず、普及の妨げとなっている。また、エッチング速度が遅いため、コストダウンや生産性向上面でも大きな障害となっている。   On the other hand, the via hole can be provided by chemical etching. However, in order to etch an insulating layer using a polyimide material, a strong reducing agent such as hydrazine must be used, which is an obstacle to popularization. In addition, since the etching rate is slow, it is a major obstacle in terms of cost reduction and productivity improvement.

化学的なエッチング性を向上させるために、アルカリ可溶性樹脂、オキサゾリン化合物及び光酸発生化合物からなる樹脂組成物(例えば、特許文献1参照)や、ポリイミド樹脂、オキサゾリン化合物及びエポキシ樹脂からなる接着剤組成物(例えば、特許文献2参照)が提案されている。また、絶縁層にアルカリ可溶性を付与するため、ポリイミドの一部にポリアミド酸構造を有するポリイミド前駆体も提案されている(特許文献3)。   In order to improve chemical etching properties, a resin composition comprising an alkali-soluble resin, an oxazoline compound and a photoacid generator compound (see, for example, Patent Document 1), or an adhesive composition comprising a polyimide resin, an oxazoline compound and an epoxy resin. A thing (for example, refer patent document 2) is proposed. In order to impart alkali solubility to the insulating layer, a polyimide precursor having a polyamic acid structure in a part of the polyimide has also been proposed (Patent Document 3).

特開2006−267145号公報JP 2006-267145 A 特開2008−260907号公報JP 2008-260907 A 特開2011−228493号公報JP 2011-228493 A

しかしながら、特許文献1記載の樹脂組成物を用いた絶縁層は、テトラアルキルアンモニウムヒドロキシドのような強いアルカリ溶液でエッチング処理する必要があるため、樹脂組成物の熱硬化物の機械的強度が低下する場合がある。また、光酸発生化合物を用いることから、未露光部分の光酸発生化合物が分解せずに絶縁層中に残留し、露光・現像後の熱硬化工程で熱分解する。このため、熱硬化工程でアウトガスが発生する場合がある。   However, since the insulating layer using the resin composition described in Patent Document 1 needs to be etched with a strong alkaline solution such as tetraalkylammonium hydroxide, the mechanical strength of the thermoset of the resin composition is reduced. There is a case. Further, since the photoacid generating compound is used, the unexposed portion of the photoacid generating compound remains in the insulating layer without being decomposed, and is thermally decomposed in a thermosetting step after exposure and development. For this reason, outgas may generate | occur | produce in a thermosetting process.

また、特許文献2記載の接着性組成物を用いた場合、溶剤溶解性が低いポリイミドを溶解するためには、N−メチルピロリドンを溶剤として用いる必要がある。このN−メチルピロリドンは、揮発性が低く、またポリイミドとの間の水素結合が強いことから、絶縁層中に残留する問題がある。このため、熱硬化時に絶縁層の樹脂が溶融してビアホールの形状が狭まったり、半田リフロー時にフクレが発生し、冷熱サイクル耐性での絶縁信頼性が低下したりする場合がある。また、エポキシ樹脂は、150℃を越える熱処理を長時間行った場合にポリイミドの柔軟性を損ない、反りや耐折性が低下する場合がある。   Further, when the adhesive composition described in Patent Document 2 is used, N-methylpyrrolidone needs to be used as a solvent in order to dissolve polyimide having low solvent solubility. This N-methylpyrrolidone has a problem of remaining in the insulating layer because it has low volatility and a strong hydrogen bond with polyimide. For this reason, the resin of the insulating layer is melted at the time of thermosetting, and the shape of the via hole is narrowed, or the swelling is generated at the time of solder reflow, and the insulation reliability in the heat cycle resistance may be lowered. Moreover, the epoxy resin impairs the flexibility of the polyimide when heat treatment exceeding 150 ° C. is performed for a long time, and the warpage and folding resistance may be lowered.

また、特許文献3記載のポリイミド前駆体は、ポリアミド酸構造を含むので、絶縁層として用いた場合には熱処理時にポリアミド酸構造がイミド化して水が副生する。このため、半田リフロー時のフクレや冷熱サイクル耐性における絶縁信頼性の低下に繋がる場合がある。   In addition, since the polyimide precursor described in Patent Document 3 includes a polyamic acid structure, when used as an insulating layer, the polyamic acid structure is imidized during heat treatment and water is by-produced. For this reason, it may lead to a decrease in insulation reliability in blistering at the time of solder reflow or thermal cycle resistance.

本発明は、かかる点に鑑みてなされたものであり、耐折性、絶縁信頼性、及び耐熱性に優れた多層フレキシブル配線板及び多層フレキシブル配線板の製造方法を提供することを目的とする。   This invention is made | formed in view of this point, and it aims at providing the manufacturing method of a multilayer flexible wiring board excellent in bending resistance, insulation reliability, and heat resistance, and a multilayer flexible wiring board.

本発明者は、上記課題を解決するために鋭意研究を重ねた結果、所定の物性を有する接着性樹脂硬化物を用いることにより、上記課題を解決できることを見出し、本発明を完成させるに至った。すなわち、本発明は以下の通りである。   As a result of intensive studies to solve the above problems, the present inventors have found that the above problems can be solved by using an adhesive resin cured product having predetermined physical properties, and have completed the present invention. . That is, the present invention is as follows.

本発明の多層フレキシブル配線板は、少なくとも2層の導電層を備えた両面フレキシブル基板からなるコア基板を用いた多層フレキシブル配線板であって、前記導電層上に接着性樹脂硬化物を含む接着性樹脂硬化物層を介して外部導電層が積層してあり、前記接着性樹脂硬化物層に設けられたブラインドビアホールを介して前記コア基板の導電層と前記外部導電層とが電気的に接続されており、前記接着性樹脂硬化物は、アルカリ溶解速度が0.0001μm/sec以上、0.01μm/sec以下であり、残存溶剤量が0.5質量%以下であり、ガラス転移温度(Tg)が125℃以下であることを特徴とする。   The multilayer flexible wiring board of the present invention is a multilayer flexible wiring board using a core substrate composed of a double-sided flexible substrate having at least two conductive layers, and includes an adhesive resin cured product on the conductive layer. An external conductive layer is laminated via a cured resin layer, and the conductive layer of the core substrate and the external conductive layer are electrically connected via a blind via hole provided in the adhesive resin cured layer. The cured adhesive resin has an alkali dissolution rate of 0.0001 μm / sec or more and 0.01 μm / sec or less, a residual solvent amount of 0.5 mass% or less, and a glass transition temperature (Tg). Is 125 ° C. or lower.

本発明の多層フレキシブル配線板においては、コア基板が貫通ビアホールを有しており、前記貫通ビアホールが、前記接着性樹脂硬化物によって充填されていることが好ましい。   In the multilayer flexible wiring board of the present invention, it is preferable that the core substrate has a through via hole, and the through via hole is filled with the cured adhesive resin.

本発明の多層フレキシブル配線板においては、前記接着性樹脂硬化物は、熱機械分析(条件:荷重0.5μN/(μm・μm)、窒素気流下、昇温速度10℃/min)にて、30℃から160℃までの伸度が破断することなく50%以下であって、30℃から180℃までの最大熱膨張係数が5000ppm以上であることが好ましい。   In the multilayer flexible wiring board of the present invention, the cured adhesive resin is subjected to thermomechanical analysis (conditions: load 0.5 μN / (μm · μm), nitrogen flow, temperature increase rate 10 ° C./min), It is preferable that the elongation from 30 ° C. to 160 ° C. is 50% or less without breaking, and the maximum thermal expansion coefficient from 30 ° C. to 180 ° C. is 5000 ppm or more.

本発明の多層フレキシブル配線板においては、前記ブラインドビアホールの内壁に導電性粒子層を有することが好ましい。   In the multilayer flexible wiring board of this invention, it is preferable to have a conductive particle layer on the inner wall of the blind via hole.

本発明の多層フレキシブル配線板においては、前記接着性樹脂硬化物が、(A)水酸基を有する水酸基含有樹脂と、(B)前記水酸基と反応する反応性化合物と、の反応物を含むことが好ましい。   In the multilayer flexible wiring board of the present invention, the cured adhesive resin preferably contains a reaction product of (A) a hydroxyl group-containing resin having a hydroxyl group and (B) a reactive compound that reacts with the hydroxyl group. .

本発明の多層フレキシブル配線板においては、前記反応物が、アミド構造及びエーテル構造を有することが好ましい。   In the multilayer flexible wiring board of the present invention, the reactant preferably has an amide structure and an ether structure.

本発明の多層フレキシブル配線板においては、前記水酸基含有樹脂の前記水酸基が、フェノール性水酸基であることが好ましい。   In the multilayer flexible wiring board of the present invention, the hydroxyl group of the hydroxyl group-containing resin is preferably a phenolic hydroxyl group.

本発明の多層フレキシブル配線板においては、前記水酸基含有樹脂が、アルカリ可溶性ポリイミドであることが好ましい。   In the multilayer flexible wiring board of the present invention, the hydroxyl group-containing resin is preferably alkali-soluble polyimide.

本発明の多層フレキシブル配線板においては、前記反応性化合物が、オキサゾリン化合物であることが好ましい。   In the multilayer flexible wiring board of the present invention, the reactive compound is preferably an oxazoline compound.

本発明の多層フレキシブル配線板においては、前記水酸基含有樹脂が、下記一般式(1)〜(3)で表される構造を有するポリイミドであり、前記反応性化合物が、オキサゾリン化合物であることが好ましい。

Figure 2013149870
Figure 2013149870
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In the multilayer flexible wiring board of the present invention, the hydroxyl group-containing resin is a polyimide having a structure represented by the following general formulas (1) to (3), and the reactive compound is preferably an oxazoline compound. .
Figure 2013149870
Figure 2013149870
Figure 2013149870

本発明の多層フレキシブル配線板においては、前記水酸基含有樹脂が、下記一般式(4)及び下記一般式(5)で表される構造を有するポリイミドであり、前記反応性化合物が。オキサゾリン化合物であることが好ましい。

Figure 2013149870
Figure 2013149870
In the multilayer flexible wiring board of the present invention, the hydroxyl group-containing resin is a polyimide having a structure represented by the following general formula (4) and the following general formula (5), and the reactive compound. An oxazoline compound is preferred.
Figure 2013149870
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本発明の多層フレキシブル配線板の製造方法は、上記多層フレキシブル配線板の製造方法であって、コア基板の導電層上に未硬化接着性樹脂を介して外部導電層を設ける工程と、前記外部導電層にコンフォーマルマスクを形成する工程と、前記コンフォーマルマスクを介して前記未硬化接着性樹脂をアルカリ溶液で溶解除去してビアヒールを形成する工程と、前記未硬化接着性樹脂を加熱硬化させる工程と、前記ビアホール内にめっきを施して前記コア基板の導電層と前記外部導電層とを電気的に接続する工程と、前記外部導電層に配線回路を形成する工程と、を有することを特徴とする。   The method for producing a multilayer flexible wiring board according to the present invention is a method for producing the above-mentioned multilayer flexible wiring board, wherein a step of providing an external conductive layer on the conductive layer of the core substrate via an uncured adhesive resin; Forming a conformal mask on the layer, forming a via heel by dissolving and removing the uncured adhesive resin with an alkaline solution through the conformal mask, and heating and curing the uncured adhesive resin And a step of plating the via hole to electrically connect the conductive layer of the core substrate and the external conductive layer, and a step of forming a wiring circuit in the external conductive layer. To do.

本発明の多層フレキシブル配線板の製造方法においては、前記外部導電層を設ける工程において、補強材を含有するラバー基材を前記外部導電層の主面に当てた状態で、前記外部導電層を加熱及び加圧して前記コア基板の導電層上に前記未硬化接着性樹脂を介して前記外部導電層を設けることが好ましい。   In the method for producing a multilayer flexible wiring board of the present invention, in the step of providing the external conductive layer, the external conductive layer is heated in a state where a rubber base material containing a reinforcing material is applied to the main surface of the external conductive layer. It is preferable that the external conductive layer is provided via the uncured adhesive resin on the conductive layer of the core substrate by applying pressure.

本発明の多層フレキシブル配線板の製造方法においては、前記未硬化接着性樹脂は、熱重量分析による260℃における熱重量減少が0.5%以下であり、50℃の3質量%NaOH水溶液に対するアルカリ溶解速度が0.3μm/sec以上であることが好ましい。   In the method for producing a multilayer flexible wiring board according to the present invention, the uncured adhesive resin has a thermogravimetric decrease at 260 ° C. of 0.5% or less by thermogravimetric analysis, and an alkali with respect to a 3 mass% NaOH aqueous solution at 50 ° C. The dissolution rate is preferably 0.3 μm / sec or more.

本発明によれば、耐折性、絶縁信頼性、及び耐熱性に優れた多層フレキシブル配線板及び多層フレキシブル配線板の製造方法を実現できる。   ADVANTAGE OF THE INVENTION According to this invention, the manufacturing method of the multilayer flexible wiring board excellent in bending resistance, insulation reliability, and heat resistance, and a multilayer flexible wiring board is realizable.

本実施の形態に係る多層フレキシブル配線板の断面模式図である。It is a cross-sectional schematic diagram of the multilayer flexible wiring board which concerns on this Embodiment. 本実施の形態に係る多層フレキシブル配線板のリジッド部の断面模式図である。It is a cross-sectional schematic diagram of the rigid part of the multilayer flexible wiring board which concerns on this Embodiment. 本実施の形態に係る多層フレキシブル配線板の製造工程の概略図である。It is the schematic of the manufacturing process of the multilayer flexible wiring board which concerns on this Embodiment. 本実施の形態に係る多層フレキシブル配線板の製造工程の他の例を示す図である。It is a figure which shows the other example of the manufacturing process of the multilayer flexible wiring board which concerns on this Embodiment.

以下、本発明の一実施の形態について、添付図面を参照して詳細に説明する。
図1は、本発明の一実施の形態に係る多層フレキシブル配線板1の断面模式図である。図2は、図1に示す多層フレキシブル配線板のリジッド部10aの部分拡大図である。図1に示すように、本実施の形態に係る多層フレキシブル配線板1は、両面フレキシブル配線板からなるコア基板10を用いて製造される。コア基材10は、接着性樹脂硬化物を含む接着性樹脂硬化物層11と、この接着性樹脂硬化物層11の両主面上に設けられた一対の導電層12a,12b(以下、「内部導電層12a,12b」という)と、を備える。接着性樹脂硬化物層11は、一対の内部導電層12a,12b間を絶縁する層間絶縁層として機能すると共に、一対の内部導電層12a,12b間を接着する層間接着層として機能する。内部導電層12a,12bには、配線回路が形成されている。
Hereinafter, an embodiment of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.
FIG. 1 is a schematic cross-sectional view of a multilayer flexible wiring board 1 according to an embodiment of the present invention. FIG. 2 is a partially enlarged view of the rigid portion 10a of the multilayer flexible wiring board shown in FIG. As shown in FIG. 1, the multilayer flexible wiring board 1 which concerns on this Embodiment is manufactured using the core board | substrate 10 which consists of a double-sided flexible wiring board. The core base material 10 includes an adhesive resin cured product layer 11 including an adhesive resin cured product, and a pair of conductive layers 12a and 12b (hereinafter referred to as “the adhesive resin cured product layer 11” provided on both main surfaces of the adhesive resin cured product layer 11). Internal conductive layers 12a and 12b "). The cured adhesive resin layer 11 functions as an interlayer insulating layer that insulates between the pair of internal conductive layers 12a and 12b, and functions as an interlayer adhesive layer that bonds between the pair of internal conductive layers 12a and 12b. A wiring circuit is formed in the internal conductive layers 12a and 12b.

多層フレキシブル配線板1は、両端部に設けられ各種電子部品が実装されるリジッド部10aと、リジッド部10a間に設けられ屈曲性を有するフレキシブル部10bとを有する。リジッド部10aは、接着性樹脂硬化物層11の両主面上に設けられた一対の内部導電層12a,12bと、この内部導電層12a,12b上に接着性樹脂硬化物層13a,13bを介して設けられた一対の導電層14a,14b(以下、「外部導電層14a,14b」という)と、一対の外部導電層14a,14bの一部を覆うように設けられたカバーコート15とを有する。接着性樹脂硬化物層13a,13bは、絶縁性を有する接着性樹脂硬化物を含み、内部導電層12aと外部導電層14aとの間及び内部導電層12bと外部導電層14bとの間を絶縁する層間絶縁層として機能すると共に、内部導電層12aと外部導電層14aとの間及び内部導電層12bと外部導電層14bとの間を接着する層間接着層として機能する。なお、接着性樹脂硬化物層11及び接着性樹脂硬化物層13a,13bは、同一の接着性樹脂を用いて形成することができる。外部導電層14a,14bには、配線回路が形成されている。   The multilayer flexible wiring board 1 includes a rigid portion 10a provided at both ends where various electronic components are mounted, and a flexible portion 10b provided between the rigid portions 10a and having flexibility. The rigid portion 10a includes a pair of internal conductive layers 12a and 12b provided on both main surfaces of the adhesive resin cured product layer 11, and adhesive resin cured product layers 13a and 13b on the internal conductive layers 12a and 12b. A pair of conductive layers 14a and 14b (hereinafter referred to as “external conductive layers 14a and 14b”) and a cover coat 15 provided so as to cover a part of the pair of external conductive layers 14a and 14b. Have. The cured adhesive resin layers 13a and 13b include an insulative adhesive resin cured product and insulate between the internal conductive layer 12a and the external conductive layer 14a and between the internal conductive layer 12b and the external conductive layer 14b. In addition to functioning as an interlayer insulating layer, it functions as an interlayer adhesive layer that bonds between the internal conductive layer 12a and the external conductive layer 14a and between the internal conductive layer 12b and the external conductive layer 14b. The cured adhesive resin layer 11 and the cured adhesive resin layers 13a and 13b can be formed using the same adhesive resin. A wiring circuit is formed on the external conductive layers 14a and 14b.

コア基板10は、内部導電層12a,12b及び接着性樹脂硬化物層11を貫通するように設けられた貫通ビアホール16を有する。この貫通ビアホール16を介して一対の内部導電層12a,12bが電気的に接続されている。貫通ビアホール16内には、接着性樹脂硬化物13が充填されている。このように、接着性樹脂硬化物を貫通ビアホール16内に充填することにより、貫通ビアホール壁の導電層を固定し、半田リフロー耐性などの耐熱性や冷熱リサイクル試験での信頼性を向上できる。   The core substrate 10 has a through via hole 16 provided so as to penetrate the internal conductive layers 12 a and 12 b and the cured adhesive resin layer 11. A pair of internal conductive layers 12 a and 12 b are electrically connected through the through via hole 16. The through via hole 16 is filled with the cured adhesive resin 13. In this way, by filling the through-hole 16 with the cured adhesive resin, the conductive layer on the through-hole wall can be fixed, and the heat resistance such as solder reflow resistance and the reliability in the cold-heat recycling test can be improved.

内部導電層12aと外部導電層14aとの間及び内部導電層12bと外部導電層14bとの間には、ブラインドビアホール17が設けられている。このブラインドビアホール17を介して内部導電層12aと外部導電層14aとの間及び内部導電層12bと外部導電層14bとの間は、電気的に接続されている。ブラインドビアホール17内には、カバーコート15が充填されていてもよい。   Blind via holes 17 are provided between the internal conductive layer 12a and the external conductive layer 14a and between the internal conductive layer 12b and the external conductive layer 14b. Via the blind via hole 17, the internal conductive layer 12a and the external conductive layer 14a and the internal conductive layer 12b and the external conductive layer 14b are electrically connected. The blind via hole 17 may be filled with a cover coat 15.

図2に示すように、貫通ビアホール16の内壁には、導電性粒子層16aを介してめっき16bが設けられている。導電性粒子層16aは、貫通ビアホール16内の接着性樹脂硬化物層11を覆うように設けられており、その一部が一対の内部導電層12a,12bと接触している。この導電性粒子層16aを介して一対の内部導電層12a,12bが電気的に接続される。導電性粒子層16aは、例えば、カーボン微粒子などにより構成され、接着性樹脂硬化物層11との高い密着性を有する。このため、導電性粒子層16aを介してめっき16bを設けることにより、接着性樹脂硬化物層11と導電性粒子層16aとの間への他の成分の混入を防ぐことができる。なお、導電性粒子層16aは、必ずしも設ける必要はない。   As shown in FIG. 2, a plating 16b is provided on the inner wall of the through via hole 16 via a conductive particle layer 16a. The conductive particle layer 16a is provided so as to cover the adhesive resin cured product layer 11 in the through via hole 16, and a part thereof is in contact with the pair of internal conductive layers 12a and 12b. A pair of internal conductive layers 12a and 12b are electrically connected via the conductive particle layer 16a. The conductive particle layer 16 a is made of, for example, carbon fine particles and has high adhesion with the adhesive resin cured product layer 11. For this reason, by providing the plating 16b through the conductive particle layer 16a, it is possible to prevent other components from being mixed between the cured adhesive resin layer 11 and the conductive particle layer 16a. Note that the conductive particle layer 16a is not necessarily provided.

ブラインドビアホール17の内壁には、導電性粒子層17aを介してめっき17bが設けられている。導電性粒子層17aは、ブラインドビアホール17内の接着性樹脂硬化物層13a,13bを覆うように設けられており、その一部が内部導電層12a及び外部導電層14a、又は内部導電層12b及び外部導電層14bと接触している。この導電性粒子層17aを介して内部導電層12a及び外部導電層14a、並びに内部導電層12b及び外部導電層14bが電気的に接続される。導電性粒子層17aは、例えば、カーボン微粒子などにより構成され、接着性樹脂層13a,13bとの高い密着性を有する。このため、導電性粒子層17aを介してめっき17bを設けることにより、接着性樹脂硬化物層13a,13bと導電性粒子層17aとの間への他の成分の混入を防ぐことができる。なお、導電性粒子層17aは、必ずしも設ける必要はない。   On the inner wall of the blind via hole 17, plating 17b is provided via a conductive particle layer 17a. The conductive particle layer 17a is provided so as to cover the adhesive resin cured product layers 13a and 13b in the blind via hole 17, and a part of the conductive particle layer 17a is formed of the internal conductive layer 12a and the external conductive layer 14a, or the internal conductive layer 12b and It is in contact with the external conductive layer 14b. The internal conductive layer 12a and the external conductive layer 14a, and the internal conductive layer 12b and the external conductive layer 14b are electrically connected through the conductive particle layer 17a. The conductive particle layer 17a is made of, for example, carbon fine particles and has high adhesion to the adhesive resin layers 13a and 13b. For this reason, by providing the plating 17b via the conductive particle layer 17a, it is possible to prevent other components from being mixed between the cured adhesive resin layers 13a and 13b and the conductive particle layer 17a. Note that the conductive particle layer 17a is not necessarily provided.

フレキシブル部10bは、接着性樹脂硬化物層11の一方の主面上に設けられた内部導電層12aと、この内部導電層12aを覆うように設けられた接着性樹脂硬化物層13aとを有する。フレキシブル部10bの内部導電層12aは、両端側のリジッド部10aに延在するように設けられ、貫通ビアホール16及び/又はブラインドビアホール17を介してリジッド部10aの内部導電層12b及び外部導電層14a,14bと電気的に接続される。   The flexible portion 10b has an internal conductive layer 12a provided on one main surface of the adhesive resin cured product layer 11, and an adhesive resin cured product layer 13a provided so as to cover the internal conductive layer 12a. . The internal conductive layer 12a of the flexible portion 10b is provided so as to extend to the rigid portions 10a on both end sides, and the internal conductive layer 12b and the external conductive layer 14a of the rigid portion 10a through the through via hole 16 and / or the blind via hole 17. , 14b.

接着性樹脂硬化物層13a,13bに含まれる接着性樹脂硬化物は、アルカリ溶解速度が0.0001μm/sec以上0.01μm/sec以下の範囲内である。アルカリ溶解速度が0.0001μm/sec以上であれば、耐折性及び冷熱サイクル(耐熱性)に優れ、アルカリ溶解速度が0.01μm/sec以下であれば、絶縁信頼性やめっき時の残膜性に優れる。接着性樹脂硬化物のアルカリ溶解速度としては、0.0003μm/sec以上0.008μm/sec以下であることが好ましく、0.0005μm/sec以上0.005μm/sec以下であることがより好ましい。   The cured adhesive resin contained in the cured adhesive resin layers 13a and 13b has an alkali dissolution rate in the range of 0.0001 μm / sec to 0.01 μm / sec. If the alkali dissolution rate is 0.0001 μm / sec or more, it is excellent in folding resistance and cooling cycle (heat resistance), and if the alkali dissolution rate is 0.01 μm / sec or less, the insulation reliability and the remaining film during plating Excellent in properties. The alkali dissolution rate of the cured adhesive resin is preferably 0.0003 μm / sec or more and 0.008 μm / sec or less, and more preferably 0.0005 μm / sec or more and 0.005 μm / sec or less.

本実施の形態においては、接着性樹脂硬化物のアルカリ溶解速度の測定は、ルータ加工(外形加工)によりリジッド部10aの外部導電層14a,14bを除去した後、露出した接着性樹脂硬化物層13a,13bに対して実施する。なお、接着性硬化物のアルカリ溶解速度は、外部導電層14a,14bを薄く残した状態で外部導電層14a,14bをエッチングにより除去した後、露出した接着性樹脂硬化物層13a,13bに対して測定することも可能である。   In the present embodiment, the alkali dissolution rate of the cured adhesive resin is measured by removing the outer conductive layers 14a and 14b of the rigid portion 10a by router processing (outer shape processing) and then exposing the cured adhesive resin layer. It carries out with respect to 13a, 13b. In addition, the alkali dissolution rate of the adhesive cured product is such that the external conductive layers 14a and 14b are removed by etching in a state where the external conductive layers 14a and 14b are left thin, and then the adhesive cured resin cured product layers 13a and 13b are exposed. It is also possible to measure.

また、接着性樹脂硬化物は、残存溶剤量が0.5質量%以下である。接着性樹脂硬化物の残存溶剤量が0.5質量%以下であれば、ビア形状及び半田リフロー耐性に優れる。接着性樹脂硬化物の残存溶剤量としては、0.2質量%以下であることが好ましく、0.1質量%以下であることがより好ましく、0.05質量%以下であることがさらに好ましい。また、接着性樹脂硬化物の残存溶剤量の下限値としては、密着性の観点から0質量%を超えていることが好ましい。   Further, the cured adhesive resin has a residual solvent amount of 0.5% by mass or less. When the residual solvent amount of the cured adhesive resin is 0.5% by mass or less, the via shape and the solder reflow resistance are excellent. The amount of residual solvent in the cured adhesive resin is preferably 0.2% by mass or less, more preferably 0.1% by mass or less, and further preferably 0.05% by mass or less. Moreover, as a lower limit of the residual solvent amount of adhesive resin hardened | cured material, it is preferable that it exceeds 0 mass% from an adhesive viewpoint.

接着性樹脂硬化物は、ガラス転移温度(Tg)125℃以下である。ガラス転移点が125℃以下であれば、冷熱サイクル耐性及び絶縁信頼性が向上する。接着性樹脂硬化物のガラス転移温度は、さらに冷熱サイクル耐性及び絶縁信頼性を向上させる観点から、100℃以下であることが好ましく、90℃以下であることがより好ましい。また、接着性樹脂硬化物のガラス転移温度としては、耐熱性の観点から、60℃以上であることが好ましく、80℃以上であることがより好ましい。   The cured adhesive resin has a glass transition temperature (Tg) of 125 ° C. or lower. When the glass transition point is 125 ° C. or lower, the thermal cycle resistance and the insulation reliability are improved. The glass transition temperature of the cured adhesive resin is preferably 100 ° C. or less and more preferably 90 ° C. or less from the viewpoint of further improving the thermal cycle resistance and insulation reliability. Moreover, as a glass transition temperature of adhesive resin hardened | cured material, it is preferable that it is 60 degreeC or more from a heat resistant viewpoint, and it is more preferable that it is 80 degreeC or more.

また、接着性樹脂硬化物は、熱機械分析(TMA)(条件:荷重0.5μN/(μm・μm)、窒素気流下、昇温速度10℃/min)における30℃から160℃までの伸度が、破断することなく50%以下であることが好ましく、45%以下であることがより好ましく、40%以下であることがさらに好ましい。30℃から160℃までの伸度が、破断することなく50%以下であることで、耐折性がより向上し、半田リフロー耐性や冷熱サイクル耐性などの耐熱性がより向上する。   Further, the cured adhesive resin has an elongation from 30 ° C. to 160 ° C. in thermomechanical analysis (TMA) (conditions: load 0.5 μN / (μm · μm), nitrogen flow, temperature rising rate 10 ° C./min). The degree is preferably 50% or less without breaking, more preferably 45% or less, and still more preferably 40% or less. When the elongation from 30 ° C. to 160 ° C. is 50% or less without breaking, folding resistance is further improved, and heat resistance such as solder reflow resistance and thermal cycle resistance is further improved.

また、接着性樹脂硬化物の上記熱機械分析における最大熱膨張係数は、30℃から180℃まででの最大熱膨張係数が、5000ppm以上であることが好ましく、10000ppm以上であることがより好ましく、15000ppm以上であることがさらに好ましい。30℃から180℃まででの最大熱膨張係数が、5000ppm以上であることで、耐折性がより向上し、半田リフロー耐性や冷熱サイクル耐性などの耐熱性がより向上する。   Further, the maximum thermal expansion coefficient in the thermomechanical analysis of the cured adhesive resin is preferably 5000 ppm or more, more preferably 10,000 ppm or more, and the maximum thermal expansion coefficient from 30 ° C. to 180 ° C. More preferably, it is 15000 ppm or more. When the maximum thermal expansion coefficient from 30 ° C. to 180 ° C. is 5000 ppm or more, folding resistance is further improved, and heat resistance such as solder reflow resistance and thermal cycle resistance is further improved.

また、接着性樹脂硬化物の引張弾性率としては、反りを低減すると共に、低反発性となり配線板を機器に組み込む作業を容易にする観点から、0.2GPa以上3GPa以下の範囲内であることが好ましく、0.3GPa以上2GPa以下の範囲内であることがより好ましい。   Further, the tensile elastic modulus of the cured adhesive resin is within the range of 0.2 GPa or more and 3 GPa or less from the viewpoint of reducing warpage and reducing the resilience and facilitating the work of incorporating the wiring board into the device. Is preferable, and it is more preferably within a range of 0.3 GPa or more and 2 GPa or less.

本実施の形態においては、接着性樹脂硬化物のガラス転移温度(Tg)、熱機械分析及び引張弾性率の測定は、ルータ加工(外径加工)によりフレキシブル部10bの接着性樹脂硬化物層11及び内部導電層12aを除去した後、露出した接着性樹脂硬化物層13aを用いて実施する。接着性樹脂硬化物層13aを必要なサイズにカットして測定した。   In the present embodiment, the glass transition temperature (Tg), thermomechanical analysis, and measurement of the tensile elastic modulus of the cured adhesive resin are measured by router processing (outer diameter processing). After the internal conductive layer 12a is removed, the exposed cured adhesive resin layer 13a is used. The adhesive resin cured product layer 13a was cut into a required size and measured.

次に、本実施の形態に係る多層フレキシブル配線板1の製造方法について説明する。
本実施の形態に係る多層フレキシブル配線板1の製造方法は、コア基板10の内部導電層12a,12b上に未硬化接着性樹脂を含む未硬化接着性樹脂層を介して外部導電層14a,14bを設ける工程と、外部導電層14a,14bにコンフォーマルマスクを形成する工程と、コンフォーマルマスクを介して未硬化接着性樹脂層を溶解除去してブラインドビアホール17を形成する工程と、未硬化接着性樹脂層を加熱硬化して接着性樹脂硬化物層13a,13bを形成する工程と、ブラインドビアホール17内にめっき17aを施して内部導電層12a,12bと外部導電層14a,14bとを電気的に接続する工程と、外部導電層14a,14bに配線回路を形成する工程と、を有する。
Next, the manufacturing method of the multilayer flexible wiring board 1 which concerns on this Embodiment is demonstrated.
In the manufacturing method of multilayer flexible wiring board 1 according to the present embodiment, external conductive layers 14a and 14b are disposed on internal conductive layers 12a and 12b of core substrate 10 via uncured adhesive resin layers containing uncured adhesive resin. A step of forming a conformal mask on the external conductive layers 14a and 14b, a step of dissolving and removing the uncured adhesive resin layer through the conformal mask to form the blind via hole 17, and an uncured adhesion The adhesive resin cured product layers 13a and 13b are formed by heating and curing the conductive resin layer, and the inner conductive layers 12a and 12b and the outer conductive layers 14a and 14b are electrically connected by plating 17a in the blind via holes 17. And a step of forming a wiring circuit in the external conductive layers 14a and 14b.

以下、図3を参照して、各工程について詳細に説明する。図3は、本実施の形態に係る多層フレキシブル配線板1の製造工程の概略図である。なお、以下の説明においては、説明の便宜上、未硬化接着性樹脂層及び接着性樹脂硬化物層については、同一の番号の符号(未硬化接着性樹脂層11’,13’又は接着性樹脂硬化物層11,13)を付して説明する。   Hereinafter, each step will be described in detail with reference to FIG. FIG. 3 is a schematic view of a manufacturing process of the multilayer flexible wiring board 1 according to the present embodiment. In the following description, for convenience of explanation, the uncured adhesive resin layer and the cured adhesive resin layer are denoted by the same reference numerals (uncured adhesive resin layers 11 ′ and 13 ′ or cured adhesive resin). Description will be made with physical layers 11 and 13).

コア基板10としては、詳細については後述する接着性樹脂ワニスを塗工・乾燥して得られる未硬化接着性樹脂層11’と、この未硬化接着性樹脂層11’の両主面上に設けられた一対の内部導電層12a,12bと、を備えた両面フレキシブル基板を用いる。この接着性樹脂硬化物層11の接着性樹脂は、アルカリ可溶性樹脂を含む。なお、コア基板10の接着性樹脂硬化物層11としては、必ずしも未硬化接着性樹脂を含むものでなくともよい。例えば、コア基板10としては、従来公知の一般的な絶縁材料を用いて形成された絶縁層と、この絶縁層を介して積層された一対の内部導電層とを有するフレキシブル配線板を用いてもよい。   The core substrate 10 is provided on both main surfaces of an uncured adhesive resin layer 11 ′ obtained by applying and drying an adhesive resin varnish, which will be described in detail later, and the uncured adhesive resin layer 11 ′. A double-sided flexible board provided with a pair of internal conductive layers 12a and 12b is used. The adhesive resin of the cured adhesive resin layer 11 includes an alkali-soluble resin. Note that the cured adhesive resin layer 11 of the core substrate 10 does not necessarily include an uncured adhesive resin. For example, as the core substrate 10, a flexible wiring board having an insulating layer formed using a conventionally known general insulating material and a pair of internal conductive layers laminated via the insulating layer may be used. Good.

まず、未硬化接着性樹脂層11’の両主面上に銅箔を積層して内部導電層12a,12bを設ける。次に、内部導電層12a、12bにドライフィルム(不図示)をラミネートした後、ドライフィルムの露光・現像及び内部導電層12a、12bのエッチングにより、内部導電層12a,12bの一部を除去してコンフォーマルマスク(不図示)を形成する。次に、コンフォーマルマスクを介して内部導電層12a,12bのエッチング領域に露出した未硬化接着性樹脂層11’をアルカリ溶液により溶解除去して貫通ビアホール16を形成する。   First, copper foil is laminated on both main surfaces of the uncured adhesive resin layer 11 'to provide the internal conductive layers 12a and 12b. Next, after laminating a dry film (not shown) on the internal conductive layers 12a and 12b, a part of the internal conductive layers 12a and 12b is removed by exposing and developing the dry film and etching the internal conductive layers 12a and 12b. To form a conformal mask (not shown). Next, the uncured adhesive resin layer 11 ′ exposed in the etching regions of the internal conductive layers 12 a and 12 b through the conformal mask is dissolved and removed with an alkaline solution to form the through via hole 16.

アルカリ溶液としては、未硬化接着性樹脂層11’を溶解除去できるものであれば特に制限はない。アルカリ溶液としては、例えば、炭酸ナトリウム水溶液、水酸化ナトリウム水溶液、水酸化カリウム水溶液などを用いることができる。また、アルカリ溶液による未硬化接着性樹脂層11’の溶解除去においては、一般的なフレキシブル配線板の製造工程で用いられているアルカリスプレー装置などを用いることができる。次に、乾燥炉を用いて、150℃〜200℃で10分〜2時間加熱することにより、未硬化接着性樹脂層11’の未硬化接着性樹脂を硬化させる。   The alkaline solution is not particularly limited as long as it can dissolve and remove the uncured adhesive resin layer 11 '. As the alkaline solution, for example, an aqueous sodium carbonate solution, an aqueous sodium hydroxide solution, an aqueous potassium hydroxide solution, or the like can be used. Further, in dissolving and removing the uncured adhesive resin layer 11 ′ with an alkaline solution, an alkali spray device or the like used in a general flexible wiring board manufacturing process can be used. Next, the uncured adhesive resin of the uncured adhesive resin layer 11 ′ is cured by heating at 150 ° C. to 200 ° C. for 10 minutes to 2 hours using a drying furnace.

次に、貫通ビアホール16内の接着性樹脂硬化物層11に導電性微粒子(例えば、カーボン微粒子)を付着させて導電性粒子層16a(図3において不図示、図2参照)を形成した後、電解銅めっきを施してめっき16bを形成して内部導電層12a,12bを電気的に接続する。次に、サブトラクティブ法などにより内部導電層12a、12bに配線回路を形成することにより、両面フレキシブル配線板10を製造する(図3A参照)。なお、内部導電層12a,12bは、ブラインドビアを介して電気的に接続してもよい。   Next, after forming conductive particle layer 16a (not shown in FIG. 3, refer to FIG. 2) by attaching conductive fine particles (for example, carbon fine particles) to the adhesive resin cured material layer 11 in the through via hole 16, Electrolytic copper plating is performed to form a plating 16b to electrically connect the internal conductive layers 12a and 12b. Next, the double-sided flexible wiring board 10 is manufactured by forming a wiring circuit in the internal conductive layers 12a and 12b by a subtractive method or the like (see FIG. 3A). The internal conductive layers 12a and 12b may be electrically connected through blind vias.

次に、両面フレキシブル配線板10の内部導電層12a,12b上に、接着性樹脂ワニスを塗布・乾燥して未硬化接着性樹脂13’を含む未硬化接着性樹脂層13a’,13b’を設ける。次に、未硬化又は半硬化状態の未硬化接着性樹脂層13a’,13b’上に銅箔などを積層して外部導電層14a,14bを設ける(図3B参照)。ここでは、未硬化接着性樹脂は、コア基板10の貫通ビアホール16内に充填される。なお、銅箔上に接着性樹脂ワニスを塗布・乾燥して未硬化接着性樹脂層13a’(13b’)を有する積層体(樹脂付き銅箔)を内部導電層12a,12b上に積層してもよい。外部導電層14a,14bは、真空プレスや真空ラミネーターを用いることにより、50℃〜140℃、好ましくは70℃〜120℃、より好ましくは90℃〜110℃で積層できる。   Next, on the internal conductive layers 12a and 12b of the double-sided flexible wiring board 10, an adhesive resin varnish is applied and dried to provide uncured adhesive resin layers 13a ′ and 13b ′ including the uncured adhesive resin 13 ′. . Next, a copper foil or the like is laminated on the uncured or semi-cured uncured adhesive resin layers 13a 'and 13b' to provide external conductive layers 14a and 14b (see FIG. 3B). Here, the uncured adhesive resin is filled in the through via hole 16 of the core substrate 10. A laminate (copper foil with resin) having an uncured adhesive resin layer 13a '(13b') is laminated on the internal conductive layers 12a and 12b by applying and drying an adhesive resin varnish on the copper foil. Also good. The external conductive layers 14 a and 14 b can be laminated at 50 ° C. to 140 ° C., preferably 70 ° C. to 120 ° C., more preferably 90 ° C. to 110 ° C. by using a vacuum press or a vacuum laminator.

次に、外部導電層14a,14b上にドライフィルム18をラミネートした後、ドライフィルム18の露光・現像により外部導電層14a,14bの一部を露出させる(図3C)。続いて、外部導電層14a,14bをエッチングして外部導電層14a,14bの一部を除去してコンフォーマルマスクを形成すると共に、フレキシブル部10bとなる領域の外部導電層14bを除去する(図3D)。   Next, after laminating the dry film 18 on the external conductive layers 14a and 14b, a part of the external conductive layers 14a and 14b is exposed by exposing and developing the dry film 18 (FIG. 3C). Subsequently, the external conductive layers 14a and 14b are etched to remove a part of the external conductive layers 14a and 14b to form a conformal mask, and the external conductive layer 14b in a region to be the flexible portion 10b is removed (see FIG. 3D).

次に、コンフォーマルマスクを介して外部導電層14a,14bのエッチング領域に露出した未硬化接着性樹脂層13a’、13b’をアルカリ溶液により溶解除去して、ブラインドビアホール17を形成すると共に、アルカリ溶液によりドライフィルム18を剥離する。ここでは、フレキシブル部10bとなる領域の未硬化接着性樹脂層13b’も共に溶解除去する(図3E)。このように、ブラインドビアホール17の形成とドライフィルム18の剥離とをアルカリ溶液で行うことができるので、生産効率が向上する共に、ビア形成コストを低減できる。アルカリ溶液としては、例えば、ドライフィルムの剥離液である3質量%の水酸化ナトリウム水溶液を用いることができる。   Next, the uncured adhesive resin layers 13a ′ and 13b ′ exposed to the etching regions of the external conductive layers 14a and 14b through the conformal mask are dissolved and removed with an alkaline solution to form the blind via holes 17 and the alkali The dry film 18 is peeled off with the solution. Here, the uncured adhesive resin layer 13b 'in the region to be the flexible portion 10b is also dissolved and removed (FIG. 3E). Thus, since formation of the blind via hole 17 and peeling of the dry film 18 can be performed with an alkaline solution, production efficiency can be improved and via formation cost can be reduced. As the alkaline solution, for example, a 3% by mass sodium hydroxide aqueous solution which is a dry film peeling solution can be used.

次に、乾燥炉を用いて、未硬化接着性樹脂層13a’,13b’を加熱硬化させて、接着性樹脂硬化物層13a,13bとする。加熱硬化は、未硬化接着性樹脂層13a’,13b’の反応性の観点から120℃以上、400℃以下の温度で実施することが好ましい。より好ましくは、150℃以上、250℃以下である。   Next, using a drying oven, the uncured adhesive resin layers 13a 'and 13b' are heated and cured to form the cured adhesive resin layers 13a and 13b. The heat curing is preferably performed at a temperature of 120 ° C. or more and 400 ° C. or less from the viewpoint of the reactivity of the uncured adhesive resin layers 13a ′ and 13b ′. More preferably, it is 150 degreeC or more and 250 degrees C or less.

加熱硬化における反応雰囲気は、空気雰囲気下でも不活性ガス雰囲気下でも実施可能である。高温では窒素気流下であることが導電層の酸化を抑制するために好ましい。加熱硬化に要する時間は、反応条件によって異なるが、通常は24時間以内であり、特に好ましくは0.1時間から8時間の範囲で実施される。   The reaction atmosphere in heat curing can be carried out in an air atmosphere or an inert gas atmosphere. In order to suppress the oxidation of a conductive layer, it is preferable that it is under nitrogen stream at high temperature. The time required for heat curing varies depending on the reaction conditions, but is usually within 24 hours, particularly preferably in the range of 0.1 to 8 hours.

次に、ブラインドビアホール17内の接着性樹脂硬化物層13a,13bにカーボン微粒子を付着させて導電性粒子層(図3において不図示、図2参照)を形成した後、電解銅めっきによりめっき17bを形成する。これにより、内部導電層12a及び外部導電層14a、並びに内部導電層12b及び外部導電層14bが電気的に接続される(図3F)。   Next, after carbon fine particles are adhered to the adhesive resin cured product layers 13a and 13b in the blind via hole 17 to form a conductive particle layer (not shown in FIG. 3, refer to FIG. 2), plating 17b is performed by electrolytic copper plating. Form. Thereby, the internal conductive layer 12a and the external conductive layer 14a, and the internal conductive layer 12b and the external conductive layer 14b are electrically connected (FIG. 3F).

次に、サブトラクティブ法により外部導電層14a、14bをパターニングして回路形成を行う(図3G)。次に、従来のフレキシブル基板の配線板方法と同様にして、カバーコート15の形成などの表面処理を行い、多層フレキシブル配線板を製造する(図3H)。   Next, the external conductive layers 14a and 14b are patterned by a subtractive method to form a circuit (FIG. 3G). Next, a surface treatment such as the formation of the cover coat 15 is performed in the same manner as the conventional flexible substrate wiring board method to produce a multilayer flexible wiring board (FIG. 3H).

このように、上記多層フレキシブル配線板の製造方法においては、コンフォーマルマスクを介してアルカリ溶液により未硬化接着性樹脂層13a’,13b’を溶解除去するので、ブラインドビアホール17の形成に伴うスミアの発生を抑制できる。また、アルカリ溶液により未硬化接着性樹脂層13a’,13b’及びドライフィルムレジスト18を共に溶解除去できるので、多層フレキシブル配線板1の製造工程の簡略化も可能である。さらに、未硬化接着性樹脂層13a’,13b’は、アルカリ溶解速度が所定範囲であるため、未硬化接着性樹脂層13a’,13b’を短時間で溶解除去できる。さらに、未硬化接着性樹脂層13a’,13b’の残存溶剤量が所定範囲となるので、ブラインドビアホール17形成後の加熱工程における溶剤の揮発量を低減でき、多層フレキシブル配線板1の膨れなどを低減できる。これにより、回路品質に優れる多層フレキシブル配線板を高い生産効率で製造することが可能となる。   As described above, in the method for manufacturing a multilayer flexible wiring board, the uncured adhesive resin layers 13a ′ and 13b ′ are dissolved and removed by an alkaline solution through a conformal mask. Generation can be suppressed. In addition, since the uncured adhesive resin layers 13a 'and 13b' and the dry film resist 18 can be dissolved and removed together with an alkaline solution, the manufacturing process of the multilayer flexible wiring board 1 can be simplified. Further, since the uncured adhesive resin layers 13a 'and 13b' have an alkali dissolution rate within a predetermined range, the uncured adhesive resin layers 13a 'and 13b' can be dissolved and removed in a short time. Furthermore, since the amount of residual solvent in the uncured adhesive resin layers 13a ′ and 13b ′ is within a predetermined range, the amount of solvent volatilization in the heating process after the formation of the blind via hole 17 can be reduced, and the multilayer flexible wiring board 1 can be swollen. Can be reduced. Thereby, it becomes possible to manufacture a multilayer flexible wiring board excellent in circuit quality with high production efficiency.

なお、上述した製造方法においては、両面フレキシブル配線板10を用いた例について説明したが、両面フレキシブル配線板10に代えて片面フレキシブル配線板、又は多層フレキシブル配線板などを多層フレキシブル配線板1の製造に用いてもよい。   In the manufacturing method described above, an example using the double-sided flexible wiring board 10 has been described. However, instead of the double-sided flexible wiring board 10, a single-sided flexible wiring board or a multilayer flexible wiring board is manufactured. You may use for.

なお、図4に示すように、外部導電層14a,14bは、外部導電層14a,14bを挟むように補強材を有するラバー基材20を押し当てた状態で外部導電層14a,14bを加熱及び加圧して積層してもよい。これにより、多層フレキシブル配線板1の平坦性を向上できる。   As shown in FIG. 4, the outer conductive layers 14a and 14b are heated and pressed with the rubber base material 20 having a reinforcing material so as to sandwich the outer conductive layers 14a and 14b. You may pressurize and laminate. Thereby, the flatness of the multilayer flexible wiring board 1 can be improved.

また、硬化前の半硬化状態の未硬化接着性樹脂層13a’,13b’としては、熱重量分析(TG)による260℃における熱重量減少が0.5%以下であり、50℃における3質量%NaOH水溶液に対するアルカリ溶解速度が0.3μm/sec以上であることが好ましい。これにより、アルカリ溶液による未硬化接着性樹脂層13a’,13b’の溶解除去が容易となるので、多層フレキシブル配線板の生産性が向上する。また、アルカリ水溶液によるブラインドビアの形成が十分できる。また、アルカリ溶解除去後の未硬化接着性樹脂層13a’,13b’の残存溶剤量を低減できるので、多層フレキシブル配線板の品質を向上できる。熱重量分析(TG)による260℃における熱重量減少としては、0.3質量%以下が好ましく、0.1質量%以下がより好ましい。50℃における3%NaOH水溶液に対するアルカリ溶解速度としては、0.4μm/sec以上であることが好ましく、0.5μm/sec以上であることがより好ましい。   Moreover, as uncured adhesive resin layers 13a ′ and 13b ′ in a semi-cured state before curing, the thermogravimetric decrease at 260 ° C. by thermogravimetric analysis (TG) is 0.5% or less, and 3 mass at 50 ° C. It is preferable that the alkali dissolution rate with respect to the% NaOH aqueous solution is 0.3 μm / sec or more. This facilitates dissolution and removal of the uncured adhesive resin layers 13a 'and 13b' with an alkaline solution, thereby improving the productivity of the multilayer flexible wiring board. Further, it is possible to sufficiently form a blind via with an alkaline aqueous solution. Moreover, since the residual solvent amount of the uncured adhesive resin layers 13a 'and 13b' after the alkali dissolution and removal can be reduced, the quality of the multilayer flexible wiring board can be improved. The thermogravimetric decrease at 260 ° C. by thermogravimetric analysis (TG) is preferably 0.3% by mass or less, and more preferably 0.1% by mass or less. The alkali dissolution rate with respect to the 3% NaOH aqueous solution at 50 ° C. is preferably 0.4 μm / sec or more, and more preferably 0.5 μm / sec or more.

次に、接着性樹脂ワニスの構成について詳細に説明する。本実施の形態に係る接着性樹脂ワニスは、(A)水酸基を含有する水酸基含有樹脂と、(B)水酸基含有樹脂の水酸基と反応する反応性化合物とを含むものを用いる。   Next, the configuration of the adhesive resin varnish will be described in detail. The adhesive resin varnish according to the present embodiment uses (A) a hydroxyl group-containing resin containing a hydroxyl group and (B) a reactive compound that reacts with the hydroxyl group of the hydroxyl group-containing resin.

本実施の形態においては、未硬化接着性樹脂層13a’,13b’をアルカリ溶液で溶解除去してブラインドビアを形成する観点から、接着性樹脂ワニスを構成する樹脂としては、アルカリ可溶性官能基を有するアルカリ可溶性樹脂を用いる。アルカリ溶解性官能基としては、水酸基、カルボキシル基、スルホン酸基などが挙げられる。これらの中でも、アルカリ可溶性官能基としては、外部導電層14a,14bを積層する際のプレス時などにおける未硬化接着性樹脂層13a’,13b’の熱反応を抑制する観点から、熱安定性に優れる水酸基が好ましい。また、水酸基は、カルボキシル基と異なり、加熱による脱炭酸が生じないことから、高温で半田リフローした場合においても、熱分解によるアウトガスの発生を抑制できる。このため、本実施の形態においては、接着性樹脂ワニスとしては、(A)水酸基を含有する水酸基含有樹脂を用いることが好ましい。   In the present embodiment, from the viewpoint of forming a blind via by dissolving and removing the uncured adhesive resin layers 13a ′ and 13b ′ with an alkaline solution, the resin constituting the adhesive resin varnish includes an alkali-soluble functional group. An alkali-soluble resin is used. Examples of the alkali-soluble functional group include a hydroxyl group, a carboxyl group, and a sulfonic acid group. Among these, as the alkali-soluble functional group, from the viewpoint of suppressing the thermal reaction of the uncured adhesive resin layers 13a ′ and 13b ′ at the time of pressing or the like when laminating the external conductive layers 14a and 14b, Excellent hydroxyl groups are preferred. In addition, unlike a carboxyl group, a hydroxyl group does not undergo decarboxylation by heating, and therefore, outgassing due to thermal decomposition can be suppressed even when solder reflow is performed at a high temperature. For this reason, in this Embodiment, it is preferable to use (A) hydroxyl-containing resin containing a hydroxyl group as an adhesive resin varnish.

(A)水酸基含有樹脂
水酸基含有樹脂としては、分子内に少なくとも1つの水酸基を含有するものあれば特に制限はない。水酸基としては、(B)反応性化合物との間で反応するものであれば、特に制限はない。これらの中でも、未硬化接着性樹脂層13a’,13b’の硬化時における反応性化合物とのの間の反応性に優れる観点から、フェノール性水酸基が好ましい。
(A) Hydroxyl group-containing resin The hydroxyl group-containing resin is not particularly limited as long as it contains at least one hydroxyl group in the molecule. The hydroxyl group is not particularly limited as long as it reacts with (B) the reactive compound. Among these, a phenolic hydroxyl group is preferable from the viewpoint of excellent reactivity with the reactive compound when the uncured adhesive resin layers 13a ′ and 13b ′ are cured.

水酸基含有樹脂のアルカリ溶解速度としては、アルカリ水溶液を用いて形成するブラインドビアホール17の形状の観点から、0.2μm/sec以上3μm/sec以下の範囲内であることが好ましい。水酸基含有樹脂のアルカリ溶解速度としては、0.3μm/sec以上3μm/sec以下の範囲内であることがより好ましく、0.5μm/sec以上3μm/sec以下の範囲内であることがさらに好ましい。   The alkali dissolution rate of the hydroxyl group-containing resin is preferably in the range of 0.2 μm / sec to 3 μm / sec from the viewpoint of the shape of the blind via hole 17 formed using an alkaline aqueous solution. The alkali dissolution rate of the hydroxyl group-containing resin is more preferably in the range of 0.3 μm / sec to 3 μm / sec, and still more preferably in the range of 0.5 μm / sec to 3 μm / sec.

水酸基含有樹脂としては、ポリビニルフェノール樹脂、ノボラック樹脂、レゾール樹脂、フェノール性水酸基を有するアクリル酸誘導体の共重合体、フェノール性水酸基を有するポリビニルアセタール樹脂及びフェノール性水酸基を有するポリイミド樹脂などが挙げられる。これらの中でも、ポリビニルフェノール樹脂、ノボラック樹脂及びフェノール性水酸基を有するポリイミド樹脂が好ましい。   Examples of the hydroxyl group-containing resin include polyvinyl phenol resin, novolak resin, resol resin, copolymer of acrylic acid derivative having phenolic hydroxyl group, polyvinyl acetal resin having phenolic hydroxyl group, and polyimide resin having phenolic hydroxyl group. Among these, polyvinyl phenol resin, novolak resin, and polyimide resin having a phenolic hydroxyl group are preferable.

ポリビニルフェノール樹脂としては、例えば、o−ヒドロキシスチレン、m−ヒドロキシスチレン、p−ヒドロキシスチレン、ジヒドロキシスチレン、トリヒドロキシスチレン、テトラヒドロキシスチレン、ペンタヒドロキシスチレン、2−(o−ヒドロキシフェニル)プロピレン、2−(m−ヒドロキシフェニル)プロピレン、2−(p−ヒドロキシフェニル)プロピレンなどのヒドロキシスチレン類を単独又は2種以上を、ラジカル重合開始剤又はカチオン重合開始剤の存在下で重合させた樹脂が挙げられる。   Examples of the polyvinylphenol resin include o-hydroxystyrene, m-hydroxystyrene, p-hydroxystyrene, dihydroxystyrene, trihydroxystyrene, tetrahydroxystyrene, pentahydroxystyrene, 2- (o-hydroxyphenyl) propylene, 2- Examples thereof include resins obtained by polymerizing hydroxystyrenes such as (m-hydroxyphenyl) propylene and 2- (p-hydroxyphenyl) propylene alone or in the presence of a radical polymerization initiator or a cationic polymerization initiator. .

ポリビニルフェノール樹脂としては、ゲルパーミエーションクロマトグラフィーにて測定したポリスチレン換算の重量平均分子量(MW)が500〜100,000のものが好ましく、1,000〜50,000のものがより好ましい。   The polyvinyl phenol resin preferably has a polystyrene-equivalent weight average molecular weight (MW) of 500 to 100,000, more preferably 1,000 to 50,000, as measured by gel permeation chromatography.

ノボラック樹脂としては、例えば、フェノール、o−クレゾール、m−クレゾール、p−クレゾール、2,5−キシレノール、3,5−キシレノール、o−エチルフェノール、m−エチルフェノール、p−エチルフェノール、プロピルフェノール、n−ブチルフェノール、t−ブチルフェノール、1−ナフトール、2−ナフトール、4,4’−ビフェニルジオール、ビスフェノール−A、ピロカテコール、レゾルシノール、ハイドロキノン、ピロガロール、1,2,4−ベンゼントリオール、フロログルシノールなどのフェノール類の少なくとも1種を、酸触媒下、例えば、ホルムアルデヒド、アセトアルデヒド、プロピオンアルデヒド、ベンズアルデヒド、フルフラールなどのアルデヒド類(尚、ホルムアルデヒドに代えてパラホルムアルデヒドを、アセトアルデヒドに代えてパラアルデヒドを、用いてもよい。)、又はアセトン、メチルエチルケトン、メチルイソブチルケトンなどのケトン類の少なくとも1種と重縮合させた樹脂が挙げられる。これらの中でも、フェノール類としてのフェノール、o−クレゾール、m−クレゾール、p−クレゾール、2,5−キシレノール、3,5−キシレノール、レゾルシノールと、アルデヒド類又はケトン類としてのホルムアルデヒド、アセトアルデヒド、プロピオンアルデヒドとの重縮合体が好ましい。特に、m−クレゾール:p−クレゾール:2,5−キシレノール:3,5−キシレノール:レゾルシノールの混合割合がモル比で40〜100:0〜50:0〜20:0〜20:0〜20の混合フェノール類、又は、フェノール:m−クレゾール:p−クレゾールの混合割合がモル比で1〜100:0〜70:0〜60の混合フェノール類と、ホルムアルデヒドとの重縮合体が好ましい。   Examples of novolak resins include phenol, o-cresol, m-cresol, p-cresol, 2,5-xylenol, 3,5-xylenol, o-ethylphenol, m-ethylphenol, p-ethylphenol, propylphenol. , N-butylphenol, t-butylphenol, 1-naphthol, 2-naphthol, 4,4′-biphenyldiol, bisphenol-A, pyrocatechol, resorcinol, hydroquinone, pyrogallol, 1,2,4-benzenetriol, phloroglucinol At least one phenol such as formaldehyde, acetaldehyde, propionaldehyde, benzaldehyde, furfural and the like aldehydes (in addition to formaldehyde, paraformal The hydrate, a paraldehyde instead of acetaldehyde, may be used.), Or acetone, methyl ethyl ketone, at least one and polycondensation resin obtained by ketones such as methyl isobutyl ketone. Among these, phenol as phenols, o-cresol, m-cresol, p-cresol, 2,5-xylenol, 3,5-xylenol, resorcinol and formaldehyde, acetaldehyde, propionaldehyde as aldehydes or ketones And a polycondensate are preferred. In particular, the mixing ratio of m-cresol: p-cresol: 2,5-xylenol: 3,5-xylenol: resorcinol is 40 to 100: 0 to 50: 0 to 20: 0 to 20: 0 to 20 in molar ratio. A polycondensate of mixed phenols or mixed phenols of phenol: m-cresol: p-cresol with a molar ratio of 1-100: 0 to 70: 0-60 and formaldehyde is preferable.

未硬化接着性樹脂層13a’,13b’の溶融粘度を下げて埋込み性を向上させる観点から、ノボラック樹脂として、分子内に4,4’−ビフェニリレン基、2,4’−ビフェニリレン基、2,2’−ビフェニリレン基、1,4−キシリレン基、1,2−キシリレン基、1,3−キシリレン基などの架橋基を含有するフェノール樹脂及びメチレン架橋基を含有するフェノール樹脂の重合単位を共に有するノボラック樹脂も好ましい。   From the viewpoint of lowering the melt viscosity of the uncured adhesive resin layers 13a ′ and 13b ′ and improving the embedding property, as a novolak resin, 4,4′-biphenylylene group, 2,4′-biphenylylene group, 2, It has both polymer units of a phenol resin containing a crosslinking group such as a 2′-biphenylylene group, a 1,4-xylylene group, a 1,2-xylylene group, a 1,3-xylylene group, and a phenol resin containing a methylene crosslinking group. A novolac resin is also preferred.

ノボラック樹脂としては、ゲルパーミエーションクロマトグラフィーにて測定したポリスチレン換算の重量平均分子量(MW)が500〜15,000のものが好ましく、1,000〜10,000のものが更に好ましい。   The novolak resin preferably has a polystyrene-equivalent weight average molecular weight (MW) of 500 to 15,000 as measured by gel permeation chromatography, and more preferably 1,000 to 10,000.

また、水酸基含有樹脂としては、耐折性や絶縁信頼性に優れる観点から、フェノール性水酸基を有するポリイミドが特に好ましい。   In addition, as the hydroxyl group-containing resin, a polyimide having a phenolic hydroxyl group is particularly preferable from the viewpoint of excellent folding resistance and insulation reliability.

フェノール性水酸基を有するポリイミド樹脂としては、フェノール性水酸基を主鎖に有するポリイミド樹脂及び/又は末端に有するポリイミド樹脂が挙げられる。これらの中でも、少なくとも主鎖にフェノール性水酸基を有していることが好ましい。   Examples of the polyimide resin having a phenolic hydroxyl group include a polyimide resin having a phenolic hydroxyl group in the main chain and / or a polyimide resin having a terminal. Among these, it is preferable that at least the main chain has a phenolic hydroxyl group.

以下、水酸基含有樹脂として用いられるフェノール性水酸基を有するポリイミドについて詳細に説明する。フェノール性水酸基を有するポリイミドとしては、例えば、以下の実施の形態に示すものが挙げられる。   Hereinafter, a polyimide having a phenolic hydroxyl group used as a hydroxyl group-containing resin will be described in detail. Examples of the polyimide having a phenolic hydroxyl group include those shown in the following embodiments.

(第1の実施の形態)
第1の実施の形態に係るフェノール性水酸基を有するポリイミドは、下記一般式(1)〜下記一般式(3)で表される構造を有するアルカリ可溶性シロキサンポリイミドである。このアルカリ可溶性シロキサンポリイミドは、カルボキシル基無水物を取り除いた残基が下記一般式(2)で表されるテトラカルボン酸二無水物と、アミノ基を取り除いた残基が下記一般式(3)で表されるジアミンと、を反応させることにより得られる。
(First embodiment)
The polyimide having a phenolic hydroxyl group according to the first embodiment is an alkali-soluble siloxane polyimide having a structure represented by the following general formula (1) to the following general formula (3). In this alkali-soluble siloxane polyimide, the residue from which the carboxyl group anhydride is removed is represented by the following general formula (2), and the residue from which the amino group is removed is represented by the following general formula (3). It is obtained by reacting the diamine represented.

Figure 2013149870
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(第2の実施の形態)
第2の実施の形態に係るポリイミドは、下記一般式(4)及び下記一般式(5)で表される構造を含むアルカリ可溶性ポリイミドである。このアルカリ可溶性ポリイミドは、下記一般式(6)で表されるテトラカルボン酸二無水物と、アミノ基を取り除いた残基が下記一般式(5)で表されるジアミンと、を反応させることにより得られる。
(Second Embodiment)
The polyimide according to the second embodiment is an alkali-soluble polyimide including a structure represented by the following general formula (4) and the following general formula (5). This alkali-soluble polyimide is obtained by reacting a tetracarboxylic dianhydride represented by the following general formula (6) with a diamine in which the residue from which the amino group has been removed is represented by the following general formula (5). can get.

Figure 2013149870
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Figure 2013149870
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第1の実施の形態に係るアルカリ可溶性ポリイミドの合成に用いられるテトラカルボン酸二無水物としては、上記一般式(2)中、Rは、互いに独立であり、炭素数1〜炭素数30の一価の炭化水素基である。Rとしては、例えば、メチル基、エチル基、プロピル基、ブチル基、ペンチル基、ヘキシル基などのアルキル基;シクロペンチル基、シクロヘキシル基などのシクロアルキル基;フェニル基などのアリール基;ベンジル基、フェネチル基などのアラルキル基;ビニル基、アリル基、プロペニル基、イソプロペニル基、ブテニル基などのアルケニル基などが挙げられる。これら中でも、原料の入手の容易さの観点から、Rとしては、メチル基、エチル基、フェニル基、ビニル基が好ましい。 Examples of the tetracarboxylic dianhydride used for synthesis of the alkali-soluble polyimide according to the first embodiment, in the general formula (2), R 1 is independently from each other, the number 1 to number 30 carbon atoms It is a monovalent hydrocarbon group. Examples of R 1 include alkyl groups such as methyl, ethyl, propyl, butyl, pentyl, and hexyl groups; cycloalkyl groups such as cyclopentyl and cyclohexyl groups; aryl groups such as phenyl groups; benzyl groups, Examples include aralkyl groups such as phenethyl group; alkenyl groups such as vinyl group, allyl group, propenyl group, isopropenyl group, and butenyl group. Among these, from the viewpoint of easy availability of raw materials, R 1 is preferably a methyl group, an ethyl group, a phenyl group, or a vinyl group.

また、Rとしては、アルキルコハク酸無水物、例えば、プロピルコハク酸無水物、ノルボニル酸無水物、プロピルナジック酸無水物などからカルボキシル基無水物を取り除いた残基が挙げられる。これらの中でも、プロピルコハク酸無水物、ノルボニル酸無水物、プロピルナジック酸無水物からカルボキシル基無水物を取り除いた残基であることが好ましい。nは、1〜50、好ましくは3〜30、更に好ましくは5〜15の整数である。nは、同じであってもよく、異なっていてもよい。このようなテトラカルボン酸二無水物としては、例えば、下記式群(7)に示すシリコーン鎖を有するテトラカルボン酸二無水物が挙げられる。 Examples of R 2 include a residue obtained by removing a carboxyl group anhydride from an alkyl succinic anhydride such as propyl succinic anhydride, norbornyl anhydride, propyl nadic acid anhydride, and the like. Among these, a residue obtained by removing a carboxyl group anhydride from propyl succinic anhydride, norbornyl anhydride, or propyl nadic acid anhydride is preferable. n is an integer of 1 to 50, preferably 3 to 30, and more preferably 5 to 15. n may be the same or different. Examples of such tetracarboxylic dianhydrides include tetracarboxylic dianhydrides having a silicone chain represented by the following formula group (7).

Figure 2013149870
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フェノール性水酸基を有するポリイミドにおけるシリコーン鎖を有するテトラカルボン酸二無水物由来の成分の含有量としては、40質量%以上であることが好ましく、60質量%以上であることがより好ましい。   As content of the component derived from the tetracarboxylic dianhydride which has a silicone chain in the polyimide which has a phenolic hydroxyl group, it is preferable that it is 40 mass% or more, and it is more preferable that it is 60 mass% or more.

シリコーン鎖を有するテトラカルボン酸二無水物を用いて得られるフェノール性水酸基を有するポリイミドは、アルカリ溶解速度と低反り性に優れる。また、シリコーン鎖を有するテトラカルボン酸二無水物は、溶剤に対する溶解性に優れるので、例えば、NMPなどのアミド構造を有する重合溶剤を用いずにフェノール性水酸基を有するポリイミドを得ることが可能となる。これにより、乾燥性に優れた重合溶剤を用いることができるので、接着性樹脂硬化物層13a,13bの残存溶剤量を低減することができる。   A polyimide having a phenolic hydroxyl group obtained by using a tetracarboxylic dianhydride having a silicone chain is excellent in alkali dissolution rate and low warpage. In addition, since tetracarboxylic dianhydride having a silicone chain is excellent in solubility in a solvent, for example, it is possible to obtain a polyimide having a phenolic hydroxyl group without using a polymerization solvent having an amide structure such as NMP. . Thereby, since the polymerization solvent excellent in drying property can be used, the residual solvent amount of the adhesive resin cured product layers 13a and 13b can be reduced.

アミノ基を取り除いた残基が上記一般式(3)で表されるジアミンとしては、4,4’−ジアミノビフェニル−3,3’−ジオール、2,2’−ビス(3−アミノ−4−ヒドロキシフェニル)ヘキサフルオロプロパンが挙げられる。これらの中でも、2,2’−ビス(3−アミノ−4−ヒドロキシフェニル)ヘキサフルオロプロパンが特に好ましい。   Examples of the diamine in which the residue from which the amino group has been removed are represented by the above general formula (3) include 4,4′-diaminobiphenyl-3,3′-diol, 2,2′-bis (3-amino-4- Hydroxyphenyl) hexafluoropropane. Among these, 2,2'-bis (3-amino-4-hydroxyphenyl) hexafluoropropane is particularly preferable.

第2の実施の形態に係るアルカリ可溶性ポリイミドの合成に用いられる上記一般式(6)で表されるテトラカルボン酸二無水物としては、3,3’,4,4’−ビフェニルテトラカルボン酸二無水物、2,3,3’,4’−ビフェニルテトラカルボン酸二無水物、2,2’,3,3’−ビフェニルテトラカルボン酸二無水物、3,3’,4,4’−ベンゾフェノンテトラカルボン酸二無水物、2,2’,3,3’−ベンゾフェノンテトラカルボン酸二無水物、3,3’−オキシジフタル酸二無水物、4,4’−オキシジフタル酸二無水物、ビス(3,4−ジカルボキシフェニル)スルホン二無水物、ポリジメチルシロキサン含有酸二無水物などを挙げられる。これらのテトラカルボン酸二無水物は、単独で用いてもよく、2種以上混合しても用いてもよい。   Examples of the tetracarboxylic dianhydride represented by the general formula (6) used for the synthesis of the alkali-soluble polyimide according to the second embodiment include 3,3 ′, 4,4′-biphenyltetracarboxylic acid dihydrate. Anhydride, 2,3,3 ′, 4′-biphenyltetracarboxylic dianhydride, 2,2 ′, 3,3′-biphenyltetracarboxylic dianhydride, 3,3 ′, 4,4′-benzophenone Tetracarboxylic dianhydride, 2,2 ′, 3,3′-benzophenonetetracarboxylic dianhydride, 3,3′-oxydiphthalic dianhydride, 4,4′-oxydiphthalic dianhydride, bis (3 , 4-dicarboxyphenyl) sulfone dianhydride, polydimethylsiloxane-containing acid dianhydride, and the like. These tetracarboxylic dianhydrides may be used alone or in combination of two or more.

アミン基を取り除いた残基が上記一般式(5)で表されるジアミンとしては、4,4’−ジアミノビフェニル−3,3’−ジオール、3,3’−ジアミノビフェニル−4,4’−ジオール、4,3’−ジアミノビフェニル−3,4’−ジオール、4,4’−ジアミノビフェニル−3,3’,5,5’−テトラオール、3,3’−ジアミノビフェニル−4,4’,5,5’−テトラオール、2,2’−ビス(3−アミノ−4−ヒドロキシフェニル)ヘキサフルオロプロパン、2,2’−ビス(3−アミノ−2,4−ジヒドロキシフェニル)ヘキサフルオロプロパン、2,2’−ビス(4−アミノ−3,5−ジヒドロキシフェニル)ヘキサフルオロプロパンなどが挙げられる。これらのジアミンは、単独で用いてもよく、2種以上を混合しても用いてもよい。これらのジアミンの中でも、ポリイミドの溶解性、絶縁信頼性や重合速度や入手性の観点から、4,4’−ジアミノビフェニル−3,3’−ジオール、2,2’−ビス(3−アミノ−4−ヒドロキシフェニル)ヘキサフルオロプロパンが好ましい。   Examples of the diamine in which the residue from which the amine group has been removed are represented by the above general formula (5) include 4,4′-diaminobiphenyl-3,3′-diol and 3,3′-diaminobiphenyl-4,4′-. Diol, 4,3′-diaminobiphenyl-3,4′-diol, 4,4′-diaminobiphenyl-3,3 ′, 5,5′-tetraol, 3,3′-diaminobiphenyl-4,4 ′ , 5,5′-tetraol, 2,2′-bis (3-amino-4-hydroxyphenyl) hexafluoropropane, 2,2′-bis (3-amino-2,4-dihydroxyphenyl) hexafluoropropane 2,2′-bis (4-amino-3,5-dihydroxyphenyl) hexafluoropropane and the like. These diamines may be used alone or in combination of two or more. Among these diamines, 4,4′-diaminobiphenyl-3,3′-diol, 2,2′-bis (3-amino-), from the viewpoints of solubility, insulation reliability, polymerization rate, and availability of polyimide. 4-Hydroxyphenyl) hexafluoropropane is preferred.

上記一般式(5)で表されるジアミンの含有量としては、全ジアミンに対して5モル%〜30モル%であることが好ましく、10モル%〜25モル%であることがより好ましい。上記一般式(5)で表されるジアミンの含有量が5モル%以上であれば、アルカリ溶解性が向上し、30モル%以下であれば、溶剤溶解性が向上する。   As content of the diamine represented by the said General formula (5), it is preferable that it is 5 mol%-30 mol% with respect to all the diamine, and it is more preferable that it is 10 mol%-25 mol%. If the content of the diamine represented by the general formula (5) is 5 mol% or more, the alkali solubility is improved, and if it is 30 mol% or less, the solvent solubility is improved.

また、上記テトラカルボン酸二無水物以外に、本発明の効果を奏する範囲で従来公知のテトラカルボン酸二無水物を合わせて用いることもできる。このようなテトラカルボン酸二無水物としては、例えば、ピロメリット酸二無水物、2,2−ビス(3,4−ジカルボキシフェニル)プロパン二無水物、2,2−ビス(2,3−ジカルボキシフェニル)プロパン二無水物、1,1−ビス(3,4−ジカルボキシフェニル)エタン二無水物、1,1−ビス(2,3−ジカルボキシフェニル)エタン二無水物、ビス(3,4−ジカルボキシフェニル)メタン二無水物、ビス(2,3−ジカルボキシフェニル)メタン二無水物、2,2−ビス(4−(4−アミノフェノキシ)フェニル)プロパン、1,3−ジヒドロ−1,3−ジオキソ−5−イソベンゾフランカルボン酸−1,4−フェニレンエステル、4−(2,5−ジオキソテトラヒドロフラン−3−イル)−1,2,3,4−テトラヒドロナフタレン−1,2−ジカルボン酸無水物、1,2,5,6−ナフタレンテトラカルボン酸二無水物、2,3,6,7−ナフタレンテトラカルボン酸二無水物、2,3,5,6−ピリジンテトラカルボン酸二無水物、3,4,9,10−ペリレンテトラカルボン酸二無水物、2,2−ビス(3,4−ジカルボキシフェニル)ヘキサフルオロプロパン二無水物、2,2−ビス(4−(3,4−ジカルボキシフェノキシ)フェニル)ヘキサフルオロプロパン二無水物、2,2−ビス(4−(3,4−ジカルボキシベンゾイルオキシ)フェニル)ヘキサフルオロプロパン二無水物、2,2’−ビス(トリフルオロメチル)−4,4’−ビス(3,4−ジカルボキシフェノキシ)ビフェニル二無水物などの芳香族テトラカルボン酸や、シクロブタンテトラカルボン酸二無水物、1,2,3,4−シクロペンタンテトラカルボン酸二無水物、2,3,5,6−シクロヘキサンテトラカルボン酸二無水物、5−(2,5−ジオキソテトラヒドロ−3−フラニル)−3−メチル−3−シクロヘキセン−1,2−ジカルボン酸二無水物、ビシクロ[2,2,2]オクト−7−エン−2,3,5,6テトラカルボン酸二無水物、1,2,3,4−ブタンテトラカルボン酸二無水物などの脂肪族テトラカルボン酸二無水物が挙げられる。これらのテトラカルボン酸二無水物は、単独で用いてもよく、2種以上を混合して用いてもよい。これらのテトラカルボン酸二無水物の中でも、ポリイミドの柔軟性、溶解性、絶縁信頼性及び重合速度の観点から、4,4’−オキシジフタル酸二無水物を用いることが好ましい。   In addition to the tetracarboxylic dianhydride, a conventionally known tetracarboxylic dianhydride may be used in combination as long as the effects of the present invention are achieved. Examples of such tetracarboxylic dianhydrides include pyromellitic dianhydride, 2,2-bis (3,4-dicarboxyphenyl) propane dianhydride, 2,2-bis (2,3- Dicarboxyphenyl) propane dianhydride, 1,1-bis (3,4-dicarboxyphenyl) ethane dianhydride, 1,1-bis (2,3-dicarboxyphenyl) ethane dianhydride, bis (3 , 4-Dicarboxyphenyl) methane dianhydride, bis (2,3-dicarboxyphenyl) methane dianhydride, 2,2-bis (4- (4-aminophenoxy) phenyl) propane, 1,3-dihydro -1,3-dioxo-5-isobenzofurancarboxylic acid-1,4-phenylene ester, 4- (2,5-dioxotetrahydrofuran-3-yl) -1,2,3,4-tetrahydrona Talen-1,2-dicarboxylic anhydride, 1,2,5,6-naphthalenetetracarboxylic dianhydride, 2,3,6,7-naphthalenetetracarboxylic dianhydride, 2,3,5,6 -Pyridinetetracarboxylic dianhydride, 3,4,9,10-perylenetetracarboxylic dianhydride, 2,2-bis (3,4-dicarboxyphenyl) hexafluoropropane dianhydride, 2,2- Bis (4- (3,4-dicarboxyphenoxy) phenyl) hexafluoropropane dianhydride, 2,2-bis (4- (3,4-dicarboxybenzoyloxy) phenyl) hexafluoropropane dianhydride, 2 , 2′-bis (trifluoromethyl) -4,4′-bis (3,4-dicarboxyphenoxy) biphenyl dianhydride and the like, and cyclobutanthate Carboxylic dianhydride, 1,2,3,4-cyclopentanetetracarboxylic dianhydride, 2,3,5,6-cyclohexanetetracarboxylic dianhydride, 5- (2,5-dioxotetrahydro- 3-furanyl) -3-methyl-3-cyclohexene-1,2-dicarboxylic dianhydride, bicyclo [2,2,2] oct-7-ene-2,3,5,6 tetracarboxylic dianhydride And aliphatic tetracarboxylic dianhydrides such as 1,2,3,4-butanetetracarboxylic dianhydride. These tetracarboxylic dianhydrides may be used alone or in combination of two or more. Among these tetracarboxylic dianhydrides, 4,4'-oxydiphthalic dianhydride is preferably used from the viewpoint of flexibility, solubility, insulation reliability and polymerization rate of polyimide.

また、上記ジアミン以外に、本発明の効果を奏する範囲で従来公知のジアミノを合わせて用いることができる。このようなジアミンとしては、例えば、3,3’−ジアミノベンゾフェノン、4,4’−ジアミノベンゾフェノン、3,3’−ジアミノジフェニルエーテル、4,4’−ジアミノジフェニルエーテル、1,3−ビス(3−アミノフェノキシ)ベンゼン、1,4−ビス(4−アミノフェノキシ)ベンゼン、ビス(3−(3−アミノフェノキシ)フェニル)エーテル、ビス(4−(4−アミノフェノキシ)フェニル)エーテル、1,3−ビス(3−(3−アミノフェノキシ)フェノキシ)ベンゼン、1,4−ビス(4−(4−アミノフェノキシ)フェノキシ)ベンゼン、ビス(3−(3−(3−アミノフェノキシ)フェノキシ)フェニル)エーテル、ビス(4−(4−(4−アミノフェノキシ)フェノキシ)フェニル)エーテル、1,3−ビス(3−(3−(3−アミノフェノキシ)フェノキシ)フェノキシ)ベンゼン、1,4−ビス(4−(4−(4−アミノフェノキシ)フェノキシ)フェノキシ)ベンゼン、4,4’−ビス(3−アミノフェノキシ)ビフェニル、4,4’−ビス(4−アミノフェノキシ)ビフェニル、2,2−ビス[4−(3−アミノフェノキシ)フェニル]プロパン、2,2−ビス[4−(4−アミノフェノキシ)フェニル]プロパン、2,2−ビス[4−(3−アミノフェノキシ)フェニル]−1,1,1,3,3,3−ヘキサフルオロプロパン、2,2−ビス[4−(4−アミノフェノキシ)フェニル]−1,1,1,3,3,3−ヘキサフルオロプロパン、m−フェニレンジアミン、o−フェニレンジアミン、p−フェニレンジアミン、ビス(3−アミノフェニル)スルフィド、ビス(4−アミノフェニル)スルフィド、ビス(3−アミノフェニル)スルホキシド、ビス(4−アミノフェニル)スルホキシド、ビス(3−アミノフェニル)スルホン、ビス(4−アミノフェニル)スルホン、2,2−ビス[4−(3−アミノフェノキシ)フェニル]ブタン、α,ω−ビス(2−アミノエチル)ポリジメチルシロキサン、α,ω−ビス(3−アミノプロピル)ポリジメチルシロキサン、α,ω−ビス(4−アミノブチル)ポリジメチルシロキサン、α,ω−ビス(4−アミノフェニル)ポリジメチルシロキサン、α,ω−ビス(3−アミノプロピル)ポリジフェニルシロキサンなどが挙げられる。   Moreover, conventionally well-known diamino can be used together with the said diamine in the range with the effect of this invention. Examples of such diamines include 3,3′-diaminobenzophenone, 4,4′-diaminobenzophenone, 3,3′-diaminodiphenyl ether, 4,4′-diaminodiphenyl ether, 1,3-bis (3-amino Phenoxy) benzene, 1,4-bis (4-aminophenoxy) benzene, bis (3- (3-aminophenoxy) phenyl) ether, bis (4- (4-aminophenoxy) phenyl) ether, 1,3-bis (3- (3-aminophenoxy) phenoxy) benzene, 1,4-bis (4- (4-aminophenoxy) phenoxy) benzene, bis (3- (3- (3-aminophenoxy) phenoxy) phenyl) ether, Bis (4- (4- (4-aminophenoxy) phenoxy) phenyl) ether, 1,3-bis ( -(3- (3-aminophenoxy) phenoxy) phenoxy) benzene, 1,4-bis (4- (4- (4-aminophenoxy) phenoxy) phenoxy) benzene, 4,4'-bis (3-aminophenoxy) ) Biphenyl, 4,4′-bis (4-aminophenoxy) biphenyl, 2,2-bis [4- (3-aminophenoxy) phenyl] propane, 2,2-bis [4- (4-aminophenoxy) phenyl ] Propane, 2,2-bis [4- (3-aminophenoxy) phenyl] -1,1,1,3,3,3-hexafluoropropane, 2,2-bis [4- (4-aminophenoxy) Phenyl] -1,1,1,3,3,3-hexafluoropropane, m-phenylenediamine, o-phenylenediamine, p-phenylenediamine, bis (3-amino Phenyl) sulfide, bis (4-aminophenyl) sulfide, bis (3-aminophenyl) sulfoxide, bis (4-aminophenyl) sulfoxide, bis (3-aminophenyl) sulfone, bis (4-aminophenyl) sulfone, 2 , 2-bis [4- (3-aminophenoxy) phenyl] butane, α, ω-bis (2-aminoethyl) polydimethylsiloxane, α, ω-bis (3-aminopropyl) polydimethylsiloxane, α, ω -Bis (4-aminobutyl) polydimethylsiloxane, α, ω-bis (4-aminophenyl) polydimethylsiloxane, α, ω-bis (3-aminopropyl) polydiphenylsiloxane, and the like.

これらのジアミンの中でも、ポリイミドの弾性率を低減させる場合には、ポリオキシエチレンジアミン、ポリオキシプロピレンジアミン、その他炭素鎖数の異なるオキシアルキレン基を含むポリオキシアルキレンジアミンなどを用いることが好ましい。ポリオキシアルキレンジアミン類としては、ハンツマン社製のジェファーミンED−600、ED−900、ED−2003、EDR−148、HK−511などのポリオキシエチレンジアミンや、ジェファーミンD−230、D−400、D−2000、D−4000、BASF社製のポリエーテルアミンD−230、D−400、D−2000などのポリオキシプロピレンジアミンや、ジェファーミンXTJ−542、XTJ−533、XTJ−536などのポリテトラメチレンエチレン基を有するジアミンなどが挙げられる。さらに、ポリイミドの溶解性を向上させる場合には、α,ω−ビス(2−アミノエチル)ポリジメチルシロキサン、α,ω−ビス(3−アミノプロピル)ポリジメチルシロキサン、α,ω−ビス(4−アミノブチル)ポリジメチルシロキサン、α,ω−ビス(4−アミノフェニル)ポリジメチルシロキサン、α,ω−ビス(3−アミノプロピル)ポリジフェニルシロキサン、α−(2−アミノプロピル)−ω−アミノポリ(オキシプロピレン)などを用いることができる。   Among these diamines, polyoxyethylene diamine, polyoxypropylene diamine, and other polyoxyalkylene diamines containing oxyalkylene groups having different numbers of carbon chains are preferably used in order to reduce the elastic modulus of polyimide. Examples of polyoxyalkylene diamines include polyoxyethylene diamines such as Jeffamine ED-600, ED-900, ED-2003, EDR-148, and HK-511 manufactured by Huntsman, Jeffamine D-230, D-400, Polyoxypropylene diamines such as D-2000, D-4000, polyetheramine D-230, D-400, D-2000 manufactured by BASF, and poly, such as Jeffamine XTJ-542, XTJ-533, XTJ-536 Examples thereof include a diamine having a tetramethyleneethylene group. Furthermore, in order to improve the solubility of polyimide, α, ω-bis (2-aminoethyl) polydimethylsiloxane, α, ω-bis (3-aminopropyl) polydimethylsiloxane, α, ω-bis (4 -Aminobutyl) polydimethylsiloxane, α, ω-bis (4-aminophenyl) polydimethylsiloxane, α, ω-bis (3-aminopropyl) polydiphenylsiloxane, α- (2-aminopropyl) -ω-aminopoly (Oxypropylene) and the like can be used.

上記ジアミンの含有量としては、全ジアミンに対して25モル%〜65モル%であることが好ましく、40モル%〜65モル%であることがより好ましい。上記ジアミンの含有量が25モル%〜65モル%であることで、ポリイミドの弾性率が好適な範囲となる。また、上記ジアミンの含有量が25モル%以上であれば、柔軟性及び溶剤溶解性が向上し、65モル%以下であれば、アルカリ可溶性が向上する。   As content of the said diamine, it is preferable that it is 25 mol%-65 mol% with respect to all the diamine, and it is more preferable that it is 40 mol%-65 mol%. The elastic modulus of a polyimide becomes a suitable range because content of the said diamine is 25 mol%-65 mol%. Moreover, if content of the said diamine is 25 mol% or more, a softness | flexibility and solvent solubility will improve, and if it is 65 mol% or less, alkali solubility will improve.

次に、ポリイミドの製造方法について説明する。ポリイミドの製造方法としては、公知方法を含めた全てのポリイミドの製造方法が適用できる。これらの中でも、有機溶剤中で反応を行うことが好ましい。ポリイミドの合成に用いられる溶剤としては、例えば、N,N−ジメチルホルムアミド、N,N−ジメチルアセトアミド、N−メチル−2−ピロリドン、γ−ブチロラクトン、トリグライム、1,2−ジメトキシエタン、テトラヒドロフラン、1,3−ジオキサン、1,4−ジオキサン、ジメチルスルホキシド、ベンゼン、トルエン、キシレン、メシチレン、フェノール、クレゾール、安息香酸メチル、安息香酸エチルなどが挙げられる。これらは単独で用いてもよく、2種以上を混合して用いてもよい。   Next, a method for producing polyimide will be described. As a method for producing polyimide, all methods for producing polyimide including known methods can be applied. Among these, it is preferable to perform the reaction in an organic solvent. Examples of the solvent used for the synthesis of polyimide include N, N-dimethylformamide, N, N-dimethylacetamide, N-methyl-2-pyrrolidone, γ-butyrolactone, triglyme, 1,2-dimethoxyethane, tetrahydrofuran, 1 , 3-dioxane, 1,4-dioxane, dimethyl sulfoxide, benzene, toluene, xylene, mesitylene, phenol, cresol, methyl benzoate, ethyl benzoate and the like. These may be used alone or in combination of two or more.

接着性樹脂硬化物層13a,13bの残存溶剤量を好ましい範囲とする観点から、ポリイミドの重合に用いる溶剤としては、乾燥性に優れる溶剤が好ましい。乾燥性に優れる溶剤としては、アミド構造を含まない溶剤が挙げられる。これらの中でも、揮発性に優れるγ−ブチロラクトン、トリグライム、1,2−ジメトキシエタン、テトラヒドロフラン、1,3−ジオキサン、1,4−ジオキサン、ジメチルスルホキシド、ベンゼン、トルエン、キシレン、メシチレン、フェノール、クレゾール、安息香酸メチル、安息香酸エチルなどが好ましい。   From the viewpoint of making the residual solvent amount of the adhesive resin cured product layers 13a and 13b within a preferable range, a solvent having excellent drying property is preferable as a solvent used for polymerization of polyimide. Examples of the solvent having excellent drying properties include solvents that do not contain an amide structure. Among these, γ-butyrolactone, triglyme, 1,2-dimethoxyethane, tetrahydrofuran, 1,3-dioxane, 1,4-dioxane, dimethyl sulfoxide, benzene, toluene, xylene, mesitylene, phenol, cresol, excellent in volatility, Methyl benzoate, ethyl benzoate and the like are preferable.

ポリイミドを合成する際に、N,N−ジメチルホルムアミド、N,N−ジメチルアセトアミド、N−メチル−2−ピロリドンなどのアミド構造を有する溶剤を使用した場合、減圧条件下においても、ポリイミドとアミド構造を有する溶剤との間の水素結合により、溶剤残存量を0.5%以下にすることは難しい。アミド構造を有する溶剤を用いてポリイミドを重合した場合には、重合後に貧溶剤を添加してポリマーを析出させ、析出したポリマーを回収、乾燥させた後、揮発性の良い溶剤に再溶解させて使用することが好ましい。   When a polyimide having a amide structure such as N, N-dimethylformamide, N, N-dimethylacetamide, or N-methyl-2-pyrrolidone is used in the synthesis of polyimide, the polyimide and amide structure are also used under reduced pressure conditions. It is difficult to reduce the residual amount of the solvent to 0.5% or less due to hydrogen bonding between the solvent and the solvent. When a polyimide is polymerized using a solvent having an amide structure, a poor solvent is added after the polymerization to precipitate the polymer, the precipitated polymer is collected and dried, and then dissolved again in a solvent with good volatility. It is preferable to use it.

ポリイミドの合成における反応原料の濃度としては、2質量%〜80質量%であることが好ましく、20質量%〜50質量%であることがより好ましい。   As a density | concentration of the reaction raw material in the synthesis | combination of a polyimide, it is preferable that it is 2 mass%-80 mass%, and it is more preferable that it is 20 mass%-50 mass%.

ポリイミドの合成に用いるテトラカルボン酸二無水物とジアミンとのモル比は、0.8〜1.2の範囲内であることが好ましい。この範囲内の場合、ポリイミドの分子量を上げることができ、伸度なども向上する。テトラカルボン酸二無水物とジアミンとのモル比は、0.9〜1.1であることがより好ましく、0.92〜1.07であることがさらに好ましい。   The molar ratio of tetracarboxylic dianhydride and diamine used for the synthesis of polyimide is preferably in the range of 0.8 to 1.2. Within this range, the molecular weight of the polyimide can be increased, and the elongation and the like are also improved. The molar ratio of tetracarboxylic dianhydride and diamine is more preferably 0.9 to 1.1, and still more preferably 0.92 to 1.07.

ポリイミドの重量平均分子量としては、5000以上100000以下であることが好ましい。ここで、重量平均分子量とは、既知の数平均分子量のポリスチレンを標準として、ゲルパーミエーションクロマトグラフィーによって測定される分子量をいう。重量平均分子量は10000以上60000以下がより好ましく、15000以上50000以下がさらに好ましい。重量平均分子量が5000以上100000以下であると接着剤樹脂ワニスを用いて得られる接着性樹脂硬化物層13a,13bの伸度が改善され、機械物性が向上する。さらに、未硬化接着性樹脂層13a’,13b’の塗工時に所望する膜厚に滲み無く塗工できる。   The weight average molecular weight of the polyimide is preferably 5000 or more and 100,000 or less. Here, the weight average molecular weight refers to a molecular weight measured by gel permeation chromatography using polystyrene having a known number average molecular weight as a standard. The weight average molecular weight is more preferably from 10,000 to 60,000, and even more preferably from 15,000 to 50,000. When the weight average molecular weight is from 5,000 to 100,000, the elongation of the cured adhesive resin layers 13a and 13b obtained using the adhesive resin varnish is improved, and the mechanical properties are improved. Further, it can be applied without bleeding to a desired film thickness when the uncured adhesive resin layers 13a 'and 13b' are applied.

ポリイミドは、具体的には以下のような方法で合成される。まず、反応原料を室温から80℃の範囲内で重縮合反応することにより、ポリアミド酸構造からなるポリイミド前駆体を製造する。次に、このポリイミド前駆体を好ましくは100℃〜400℃に加熱してイミド化するか、または無水酢酸などのイミド化剤を用いて化学イミド化することにより、ポリアミド酸に対応する繰り返し単位構造を有するポリイミドが得られる。加熱してイミド化する場合、副生する水を除去するために、共沸剤(好ましくは、トルエンやキシレン)を共存させて、ディーンシュターク型脱水装置を用いて、還流下、脱水を行うことも好ましい。   Specifically, the polyimide is synthesized by the following method. First, the polyimide precursor which consists of a polyamic acid structure is manufactured by carrying out the polycondensation reaction of the reaction raw material within the range of room temperature to 80 degreeC. Next, the polyimide precursor is preferably heated to 100 ° C. to 400 ° C. to imidize, or chemically imidized using an imidizing agent such as acetic anhydride, thereby repeating unit structure corresponding to polyamic acid. Is obtained. In the case of imidization by heating, in order to remove by-product water, dehydration is carried out under reflux using a Dean-Stark type dehydrator in the presence of an azeotropic agent (preferably toluene or xylene). Is also preferable.

また、80℃〜220℃で反応を行うことにより、ポリイミド前駆体の生成と熱イミド化反応を共に進行させて、ポリイミドを得ることも好ましい。すなわち、ジアミン成分と酸二無水物成分とを有機溶剤中に懸濁または溶解させ、80℃〜220℃の加熱下に反応を行い、ポリイミド前駆体の生成と脱水イミド化とを共に行わせることにより、ポリイミドを得ることも好ましい。   Moreover, it is also preferable to obtain a polyimide by carrying out the reaction at 80 ° C. to 220 ° C. to advance both the generation of the polyimide precursor and the thermal imidization reaction. That is, a diamine component and an acid dianhydride component are suspended or dissolved in an organic solvent, and reacted under heating at 80 ° C. to 220 ° C. to cause both generation of a polyimide precursor and dehydration imidization. It is also preferable to obtain polyimide.

また、ポリイミド前駆体のポリマー主鎖の末端を、モノアミン誘導体またはカルボン酸誘導体からなる末端封止剤で末端封止することも可能である。ポリイミドのポリマー主鎖の末端が封止されることで、末端官能基に由来する貯蔵安定性に優れる。   Moreover, the terminal of the polymer main chain of the polyimide precursor can be end-capped with a terminal capping agent made of a monoamine derivative or a carboxylic acid derivative. By sealing the terminal of the polymer main chain of polyimide, the storage stability derived from the terminal functional group is excellent.

モノアミン誘導体からなる末端封止剤としては、例えば、アニリン、o−トルイジン、m−トルイジン、p−トルイジン、2,3−キシリジン、2,6−キシリジン、3,4−キシリジン、3,5−キシリジン、o−クロロアニリン、m−クロロアニリン、p−クロロアニリン、o−ブロモアニリン、m−ブロモアニリン、p−ブロモアニリン、o−ニトロアニリン、p−ニトロアニリン、m−ニトロアニリン、o−アミノフェノール、p−アミノフェノール、m−アミノフェノール,o−アニシジン、m−アニシジン、p−アニシジン,o−フェネチジン、m−フェネチジン、p−フェネチジン、o−アミノベンズアルデヒド、p−アミノベンズアルデヒド、m−アミノベンズアルデヒド、o−アミノベンズニトリル、p−アミノベンズニトリル、m−アミノベンズニトリル,2−アミノビフェニル,3−アミノビフェニル、4−アミノビフェニル、2−アミノフェニルフェニルエーテル、3−アミノフェニルフェニルエーテル,4−アミノフェニルフェニルエーテル、2−アミノベンゾフェノン、3−アミノベンゾフェノン、4−アミノベンゾフェノン、2−アミノフェニルフェニルスルフィド、3−アミノフェニルフェニルスルフィド、4−アミノフェニルフェニルスルフィド、2−アミノフェニルフェニルスルホン、3−アミノフェニルフェニルスルホン、4−アミノフェニルフェニルスルホン、α−ナフチルアミン、β−ナフチルアミン、1−アミノ−2−ナフトール、5−アミノ−1−ナフトール、2−アミノ−1−ナフトール、4−アミノ−1−ナフトール、5−アミノ−2−ナフトール、7−アミノ−2−ナフトール、8−アミノ−1−ナフトール、8−アミノ−2−ナフトール、1−アミノアントラセン、2−アミノアントラセン、9−アミノアントラセンなどの芳香族モノアミンを挙げることができ、この中で好ましくはアニリンの誘導体が使用される。これらは単独で用いてもよく、2種以上を混合して用いてもよい。   Examples of the end capping agent comprising a monoamine derivative include aniline, o-toluidine, m-toluidine, p-toluidine, 2,3-xylidine, 2,6-xylidine, 3,4-xylidine, and 3,5-xylidine. O-chloroaniline, m-chloroaniline, p-chloroaniline, o-bromoaniline, m-bromoaniline, p-bromoaniline, o-nitroaniline, p-nitroaniline, m-nitroaniline, o-aminophenol P-aminophenol, m-aminophenol, o-anisidine, m-anisidine, p-anisidine, o-phenetidine, m-phenetidine, p-phenetidine, o-aminobenzaldehyde, p-aminobenzaldehyde, m-aminobenzaldehyde, o-aminobenzonitrile, p-aminobenzonitrile Ryl, m-aminobenzonitrile, 2-aminobiphenyl, 3-aminobiphenyl, 4-aminobiphenyl, 2-aminophenylphenyl ether, 3-aminophenylphenyl ether, 4-aminophenylphenyl ether, 2-aminobenzophenone, 3 -Aminobenzophenone, 4-aminobenzophenone, 2-aminophenyl phenyl sulfide, 3-aminophenyl phenyl sulfide, 4-aminophenyl phenyl sulfide, 2-aminophenyl phenyl sulfone, 3-aminophenyl phenyl sulfone, 4-aminophenyl phenyl sulfone , Α-naphthylamine, β-naphthylamine, 1-amino-2-naphthol, 5-amino-1-naphthol, 2-amino-1-naphthol, 4-amino-1-naphthol, 5-amino Aromatic monoamines such as 2-naphthol, 7-amino-2-naphthol, 8-amino-1-naphthol, 8-amino-2-naphthol, 1-aminoanthracene, 2-aminoanthracene, 9-aminoanthracene Of these, derivatives of aniline are preferably used. These may be used alone or in combination of two or more.

カルボン酸誘導体からなる末端封止剤としては、主に無水カルボン酸誘導体が挙げられる。カルボン酸誘導体からなる末端封止剤としては、例えば、無水フタル酸、2,3−ベンゾフェノンジカルボン酸無水物、3,4−ベンゾフェノンジカルボン酸無水物、2,3−ジカルボキシフェニルフェニルエーテル無水物、3,4−ジカルボキシフェニルフェニルエーテル無水物、2,3−ビフェニルジカルボン酸無水物、3,4−ビフェニルジカルボン酸無水物、2,3−ジカルボキシフェニルフェニルスルホン無水物、3,4−ジカルボキシフェニルフェニルスルホン無水物、2,3−ジカルボキシフェニルフェニルスルフィド無水物、3,4−ジカルボキシフェニルフェニルスルフィド無水物、1,2−ナフタレンジカルボン酸無水物、2,3−ナフタレンジカルボン酸無水物、1,8−ナフタレンジカルボン酸無水物、1,2−アントラセンジカルボン酸無水物、2,3−アントラセンジカルボン酸無水物、1,9−アントラセンジカルボン酸無水物などの芳香族ジカルボン酸無水物が挙げられる。これらの芳香族ジカルボン酸無水物の中で、も、無水フタル酸を用いることが好ましい。これらは単独で用いてもよく、2種以上を混合して用いてもよい。   Examples of the terminal blocking agent made of a carboxylic acid derivative mainly include carboxylic anhydride derivatives. Examples of the terminal blocking agent comprising a carboxylic acid derivative include phthalic anhydride, 2,3-benzophenone dicarboxylic acid anhydride, 3,4-benzophenone dicarboxylic acid anhydride, 2,3-dicarboxyphenyl phenyl ether anhydride, 3,4-dicarboxyphenyl phenyl ether anhydride, 2,3-biphenyl dicarboxylic acid anhydride, 3,4-biphenyl dicarboxylic acid anhydride, 2,3-dicarboxyphenyl phenyl sulfone anhydride, 3,4-dicarboxy Phenylphenyl sulfone anhydride, 2,3-dicarboxyphenyl phenyl sulfide anhydride, 3,4-dicarboxyphenyl phenyl sulfide anhydride, 1,2-naphthalenedicarboxylic acid anhydride, 2,3-naphthalenedicarboxylic acid anhydride, 1,8-naphthalenedicarboxylic anhydride, 1,2-a Tiger Sen dicarboxylic acid anhydride, 2,3-anthracene dicarboxylic acid anhydride, 1,9-aromatic dicarboxylic acid anhydrides such as anthracene dicarboxylic acid anhydride. Of these aromatic dicarboxylic acid anhydrides, phthalic anhydride is preferably used. These may be used alone or in combination of two or more.

重合より得られたポリイミド溶液は、脱溶剤することなくそのまま用いてもよい。また、必要な溶剤、添加剤など加えて接着性樹脂ワニスとすることもできる。   You may use the polyimide solution obtained by superposition | polymerization as it is, without removing a solvent. Moreover, it can also be set as an adhesive resin varnish by adding a required solvent, an additive, etc.

(B)反応性化合物
反応性化合物とは、上述したアルカリ可溶性の水酸基含有樹脂の水酸基と反応するものである。反応性化合物が水酸基含有化合物の水酸基と反応することにより、未硬化接着性樹脂層13a’,13b’が加熱硬化して接着性樹脂硬化物層13a,13bのアルカリ耐性が発現される。本実施の形態においては、反応性化合物とは、分子内に水酸基含有樹脂の水酸基と反応する反応性官能基を少なくとも1つ有するものである。反応性官能基としては、例えば、オキサゾリン基、オキサジン基、エポキシ基、オキセタン基などが挙げられる。
(B) Reactive compound A reactive compound reacts with the hydroxyl group of the alkali-soluble hydroxyl group-containing resin described above. When the reactive compound reacts with the hydroxyl group of the hydroxyl group-containing compound, the uncured adhesive resin layers 13a ′ and 13b ′ are heated and cured, and the alkali resistance of the cured adhesive resin layers 13a and 13b is expressed. In the present embodiment, the reactive compound has at least one reactive functional group that reacts with the hydroxyl group of the hydroxyl group-containing resin in the molecule. Examples of the reactive functional group include an oxazoline group, an oxazine group, an epoxy group, and an oxetane group.

本実施の形態に係る多層フレキシブル配線板の製造方法においては、外部導電層14a,14bに形成したコンフォーマルマスクを介して未硬化接着性樹脂層13a’,13b’を溶解除去してブラインドビアホール17を形成する。そして、ブラインドビアホール17を形成してから未硬化接着性樹脂層13a’,13b’を加熱硬化する。このため、未硬化接着性樹脂層13a,13b’においては、加熱前には十分なアルカリ溶解性が必要とされ、加熱硬化後には、接着性樹脂硬化物層13a,13bのアルカリ溶解性を低下させる必要がある。このため、本実施の形態においては、反応性化合物としては、100℃以下、好ましくは120℃以下で水酸基含有樹脂の水酸基との反応の進行が遅く、170℃以上、好ましくは150℃以上で反応が速やかに進行して十分に未硬化接着性樹脂層13a’,13b’が硬化するものを用いる。   In the method for manufacturing a multilayer flexible wiring board according to the present embodiment, the uncured adhesive resin layers 13a ′ and 13b ′ are dissolved and removed through a conformal mask formed on the external conductive layers 14a and 14b, and the blind via hole 17 is removed. Form. Then, after forming the blind via hole 17, the uncured adhesive resin layers 13a 'and 13b' are cured by heating. For this reason, in the uncured adhesive resin layers 13a and 13b ′, sufficient alkali solubility is required before heating, and the alkali solubility of the adhesive resin cured product layers 13a and 13b is lowered after heat curing. It is necessary to let Therefore, in the present embodiment, the reactive compound is 100 ° C. or less, preferably 120 ° C. or less, and the reaction of the hydroxyl group-containing resin with the hydroxyl group proceeds slowly, and the reaction is performed at 170 ° C. or more, preferably 150 ° C. or more. Is used so that the uncured adhesive resin layers 13a ′ and 13b ′ are sufficiently cured.

反応性化合物としては、例えば、オキサゾリン化合物、ベンゾオキサジン化合物、エポキシ化合物、オキセタン化合物などが挙げられる。これらの中でも、オキサゾリン化合物、ベンゾオキサジン化合物、オキセタン化合物が好ましく、水酸基含有樹脂の水酸基との反応により水を副生することの無いオキサゾリン化合物が特に好ましい。ここで、オキサゾリン化合物とは、分子内に少なくとも1個のオキサゾリン基を有する化合物である。また、オキサゾリン化合物としては、水酸基含有化合物の水酸基を封止し、さらに水酸基含有化合物間に架橋を形成する観点から、分子内に2個以上のオキサゾリン基を有するものが好ましい。   Examples of the reactive compound include an oxazoline compound, a benzoxazine compound, an epoxy compound, an oxetane compound, and the like. Among these, an oxazoline compound, a benzoxazine compound, and an oxetane compound are preferable, and an oxazoline compound that does not by-produce water by reaction with a hydroxyl group of a hydroxyl group-containing resin is particularly preferable. Here, the oxazoline compound is a compound having at least one oxazoline group in the molecule. Moreover, as an oxazoline compound, what has two or more oxazoline groups in a molecule | numerator from a viewpoint of sealing the hydroxyl group of a hydroxyl-containing compound and forming bridge | crosslinking between hydroxyl-containing compounds is preferable.

本実施の形態においては、水酸基を有する水酸基含有樹脂(例えば、ポリイミド)に反応性化合物(例えば、オキサゾリン化合物)を適正な量添加し、適正な温度で乾燥する。これにより、所定温度(例えば、48℃)にて3質量%の水酸化ナトリウム水溶液により未硬化接着性樹脂層13a’,13b’を溶解除去して貫通ビア、ブラインドビア、又はスルーホールを形成することが可能となる。また、所定温度(例えば、180℃)にて1時間の熱処理により水酸基含有樹脂の水酸基と反応性化合物(例えば、オキサゾリン化合物のオキサゾリン基)とが反応し、アルカリ水溶液耐性を示すことが可能となる。また、複数のオキサゾリン基を含有する反応化合物を使用した場合、水酸基含有化合物(例えば、ポリイミド)の分子間に架橋が形成される。   In the present embodiment, an appropriate amount of a reactive compound (for example, an oxazoline compound) is added to a hydroxyl group-containing resin (for example, polyimide) having a hydroxyl group, and dried at an appropriate temperature. Thereby, the uncured adhesive resin layers 13a ′ and 13b ′ are dissolved and removed by a 3% by mass aqueous sodium hydroxide solution at a predetermined temperature (for example, 48 ° C.) to form through vias, blind vias, or through holes. It becomes possible. In addition, the hydroxyl group of the hydroxyl group-containing resin reacts with the reactive compound (for example, the oxazoline group of the oxazoline compound) by a heat treatment for 1 hour at a predetermined temperature (for example, 180 ° C.), and can exhibit resistance to an aqueous alkali solution. . Further, when a reaction compound containing a plurality of oxazoline groups is used, cross-linking is formed between the molecules of the hydroxyl group-containing compound (for example, polyimide).

オキサゾリン化合物としては、例えば、1,3−ビス(4,5−ジヒドロ−2−オキサゾリル)ベンゼン、日本触媒社製のK−2010E、K−2020E、K−2030E、2,6−ビス(4−イソプロピル−2−オキサゾリン−2−イル)ピリジン、2,6−ビス(4−フェニル−2−オキサゾリン−2−イル)ピリジン、2,2’−イソプロピリデンビス(4−フェニル−2−オキサゾリン)、2,2’−イソプロピリデンビス(4−ターシャルブチル−2−オキサゾリン)などが挙げられる。これらのオキサゾリン化合物は、単独で用いてもよく、2種類以上を組み合わせて用いてもよい。   Examples of the oxazoline compound include 1,3-bis (4,5-dihydro-2-oxazolyl) benzene, K-2010E, K-2020E, K-2030E, 2,6-bis (4- Isopropyl-2-oxazolin-2-yl) pyridine, 2,6-bis (4-phenyl-2-oxazolin-2-yl) pyridine, 2,2′-isopropylidenebis (4-phenyl-2-oxazoline), 2,2'-isopropylidenebis (4-tertiarybutyl-2-oxazoline) and the like can be mentioned. These oxazoline compounds may be used alone or in combination of two or more.

オキサゾリン化合物の添加量としては、水酸基含有化合物の水酸基とオキサゾリン化合物のオキサゾリン基とのモル比が、水酸基/オキサゾリン基=0.5〜4であることが好ましく、0.7〜3であることがより好ましい。水酸基/オキサゾリン基=0.5以上であれば、接着性樹脂硬化物層13a,13bの柔軟性、耐熱性が向上し、水酸基/オキサゾリン基=4以下であれば、未硬化接着性樹脂層13a’,13b’のアルカリ加工性が向上する。   As the addition amount of the oxazoline compound, the molar ratio of the hydroxyl group of the hydroxyl group-containing compound to the oxazoline group of the oxazoline compound is preferably hydroxyl group / oxazoline group = 0.5-4, and preferably 0.7-3. More preferred. If the hydroxyl group / oxazoline group = 0.5 or more, the flexibility and heat resistance of the cured adhesive resin layers 13a and 13b are improved. If the hydroxyl group / oxazoline group = 4 or less, the uncured adhesive resin layer 13a. The alkali processability of “, 13b” is improved.

未硬化接着性樹脂層13a’,13b’は、溶剤、残存モノマーなどの揮発成分を十分に除去し、アルカリ水溶液に可溶とする観点から、未硬化接着性樹脂層13a’,13b’は、真空乾燥法などで50℃〜140℃において1分間〜60分間加熱することが好ましい。50℃〜140℃において1分間〜60分間加熱した未硬化接着性樹脂層13a’,13b’は、アルカリ水溶液に可溶となるため、フレキシブルプリント配線板の製造で用いられるレーザードリリング加工などを不要とし、アルカリ水溶液でブラインドビアを加工できる未硬化接着性樹脂層13a’,13b’として使用できる。   From the viewpoint of sufficiently removing volatile components such as a solvent and residual monomer and making it soluble in an alkaline aqueous solution, the uncured adhesive resin layers 13a ′ and 13b ′ are: It is preferable to heat at 50 to 140 ° C. for 1 to 60 minutes by a vacuum drying method or the like. The uncured adhesive resin layers 13a ′ and 13b ′ heated at 50 to 140 ° C. for 1 to 60 minutes are soluble in an alkaline aqueous solution, so that there is no need for laser drilling or the like used in the production of flexible printed wiring boards. And can be used as uncured adhesive resin layers 13a ′ and 13b ′ that can process blind vias with an alkaline aqueous solution.

アルカリ水溶液でブラインドビアを形成した後、残存した未硬化接着性樹脂層13a’,13b’をさらに高温(例えば160℃〜200℃)で加熱することにより、水酸基含有化合物と反応性化合物との間で主として架橋反応が生じ、アルカリ水溶液へ不溶となる。具体的には、形成される未硬化接着性樹脂層13a’,13b’の膜厚いもよるが、オーブン又はホットプレートで最高温度を150℃〜220℃の範囲とし、5分間〜100分間、空気又は窒素などの不活性雰囲気下で加熱することにより、架橋反応が進行する。加熱温度は、処理時間の全体に亘って一定であってもよく、徐々に昇温させてもよい。   After the blind via is formed with an alkaline aqueous solution, the remaining uncured adhesive resin layers 13a ′ and 13b ′ are heated at a higher temperature (for example, 160 ° C. to 200 ° C.), so that the hydroxyl group-containing compound and the reactive compound are heated. In this case, a crosslinking reaction mainly occurs and becomes insoluble in an alkaline aqueous solution. Specifically, depending on the film thickness of the uncured adhesive resin layers 13a ′ and 13b ′ to be formed, the maximum temperature is set in a range of 150 ° C. to 220 ° C. in an oven or a hot plate, and air is applied for 5 minutes to 100 minutes. Alternatively, the crosslinking reaction proceeds by heating in an inert atmosphere such as nitrogen. The heating temperature may be constant over the entire processing time or may be gradually raised.

反応性化合物としてオキサゾリン化合物を用いた場合、架橋反応を経て得られる多層フレキシブル配線板1の硬化した接着性樹脂硬化物層13a,13bには、遊離する成分が実質的にない。この接着性樹脂硬化物13a,13bは、アミド構造とエーテル構造とを有する反応物を含む。この反応物のアミド構造及びエーテル構造は、顕微赤外分光法などで解析できる。   When an oxazoline compound is used as the reactive compound, the cured adhesive resin cured product layers 13a and 13b of the multilayer flexible wiring board 1 obtained through the cross-linking reaction are substantially free from free components. The adhesive resin cured products 13a and 13b include a reaction product having an amide structure and an ether structure. The amide structure and ether structure of this reaction product can be analyzed by microinfrared spectroscopy.

(C)難燃剤
また、本実施の形態に係る接着性樹脂ワニスは、難燃性を向上する観点から、難燃剤を含有させて用いることもできる。難燃剤としては、特に制限されないが、含ハロゲン化合物、含リン化合物及び無機難燃剤などが挙げられる。これらの難燃剤は、単独で用いてもよく、2種以上を混合して使用してもよい。
(C) Flame retardant The adhesive resin varnish according to the present embodiment can also be used by containing a flame retardant from the viewpoint of improving flame retardancy. Although it does not restrict | limit especially as a flame retardant, A halogen-containing compound, a phosphorus-containing compound, an inorganic flame retardant, etc. are mentioned. These flame retardants may be used alone or in combination of two or more.

含ハロゲン化合物としては、塩素を含む有機化合物や臭素を含む有機化合物などが挙げられる。含ハロゲン化合物としては、例えば、ペンタブロモジフェニルエーテル、オクタブロモジフェニルエーテル、デカブロモジフェニルエーテル、テトラブロモビスフェノールA及びヘキサブロモシクロドデカンテトラブロモビスフェノールAなどが挙げられる。   Examples of the halogen-containing compound include an organic compound containing chlorine and an organic compound containing bromine. Examples of the halogen-containing compound include pentabromodiphenyl ether, octabromodiphenyl ether, decabromodiphenyl ether, tetrabromobisphenol A, hexabromocyclododecane tetrabromobisphenol A, and the like.

含リン化合物としては、ホスファゼン、ホスフィン、ホスフィンオキサイド、リン酸エステル及び亜リン酸エステルなどのリン化合物が揚げられる。特に、水酸基含有化合物としてポリイミドを用いる場合には、ポリイミドとの相溶性の面から、ホスファゼン、ホスファイオキサイド又はリン酸エステルを用いることが好ましい。   Examples of the phosphorus-containing compound include phosphorus compounds such as phosphazene, phosphine, phosphine oxide, phosphate ester, and phosphite ester. In particular, when polyimide is used as the hydroxyl group-containing compound, it is preferable to use phosphazene, phosphioxide or phosphate ester from the viewpoint of compatibility with polyimide.

ホスファゼンとしては、フェノキシ基を有する環状ホスファゼンが好ましく、フェノキ基に加えてシアノ基や水酸基を有する環状ホスファゼンがより好ましい。また、水酸基及びフェノキシ基を有する環状ホスファゼンは、未硬化接着性樹脂層13a’,13b’の加熱硬化時に環状ホスファゼンの水酸基と反応性化合物(例えば、オキサゾリン化合物のオキサゾリン基)とが反応してアルカリ可溶性を低下させることができるため好ましい。特に、フェノキシ基にシアノ基を有する環状ホスファゼンとフェノキシ基に水酸基を有する環状ホスファゼンとを混合して用いることが好ましい。   As the phosphazene, a cyclic phosphazene having a phenoxy group is preferable, and a cyclic phosphazene having a cyano group or a hydroxyl group in addition to the phenoxy group is more preferable. The cyclic phosphazene having a hydroxyl group and a phenoxy group is alkalinized by reacting the hydroxyl group of the cyclic phosphazene with a reactive compound (for example, the oxazoline group of the oxazoline compound) when the uncured adhesive resin layers 13a ′ and 13b ′ are heated and cured. Since solubility can be reduced, it is preferable. In particular, it is preferable to use a mixture of a cyclic phosphazene having a cyano group in the phenoxy group and a cyclic phosphazene having a hydroxyl group in the phenoxy group.

無機難燃剤としては、アンチモン化合物や金属水酸化物などが挙げられる。アンチモン化合物としては、三酸化アンチモンや五酸化アンチモンが挙げられる。アンチモン化合物と上記含ハロゲン化合物との併用することにより、所定の温度(例えば、プラスチックの熱分解温度域)で、アンチモン化合物が含ハロゲン化合物からハロゲン原子を引き抜いてハロゲン化アンチモンを生成するため、相乗的に難燃性を上げることができる。金属水酸化物としては、水酸化アルミニウム、水酸化マグネシウムなどが挙げられる。   Examples of inorganic flame retardants include antimony compounds and metal hydroxides. Examples of the antimony compound include antimony trioxide and antimony pentoxide. By using the antimony compound and the halogen-containing compound in combination, the antimony compound pulls out the halogen atom from the halogen-containing compound at a predetermined temperature (for example, the thermal decomposition temperature range of the plastic) to generate antimony halide. The flame retardancy can be increased. Examples of the metal hydroxide include aluminum hydroxide and magnesium hydroxide.

無機難燃剤は、有機溶剤に溶解しないため、その粉末の粒径は100μm以下のものを用いることが好ましい。粉末の粒径は100μm以下であれば、未硬化接着性樹脂層13a’,13b’に混入しやすく、硬化後の接着性樹脂硬化物の透明性を損ねることがないため好ましい。さらに難燃性を上げるためには、粉末の粒径としては、50μm以下であることが好ましく、10μm以下であることがより好ましい。   Since an inorganic flame retardant does not dissolve in an organic solvent, it is preferable to use a powder having a particle size of 100 μm or less. If the particle size of the powder is 100 μm or less, it is preferable because it is easy to be mixed into the uncured adhesive resin layers 13a ′ and 13b ′ and the transparency of the cured cured adhesive resin is not impaired. In order to further increase the flame retardancy, the particle size of the powder is preferably 50 μm or less, and more preferably 10 μm or less.

難燃剤の添加量としては、特に制限されず、用いる難燃剤の種類に応じて適宜選択する。一般的には、水酸基含有化合物の含有量を基準として、5質量%から50%の範囲で用いる。   The addition amount of the flame retardant is not particularly limited and is appropriately selected depending on the type of the flame retardant used. Generally, it is used in the range of 5% by mass to 50% based on the content of the hydroxyl group-containing compound.

未硬化接着性樹脂層13a’,13b’は、接着性樹脂ワニスを用いて塗工膜にする時、その塗工方式に応じて粘度とチクソトロピーの調整を行う。必要に応じて、フィラーやチクソトロピー性付与剤を添加して用いることも可能である。また、公知の消泡剤やレベリング剤や顔料等の添加剤を加えることも可能である。   When the uncured adhesive resin layers 13a 'and 13b' are formed into a coating film using an adhesive resin varnish, the viscosity and thixotropy are adjusted according to the coating method. If necessary, a filler or a thixotropic agent can be added and used. It is also possible to add additives such as known antifoaming agents, leveling agents and pigments.

(D)密着材
また、本実施の形態に係る接着性樹脂ワニスは、内部導電層12a,12b及び外部導電層14a,14bとの密着性を向上する観点から、密着材を含有させて用いることもできる。密着材としては特に制限されないが、フェノール化合物、含窒素有機化合物、アセチルアセトン金属錯体などが挙げられる。これらの中でも、フェノール化合物が特に好ましい。
(D) Adhesive Material The adhesive resin varnish according to the present embodiment is used by including an adhesive material from the viewpoint of improving the adhesion between the internal conductive layers 12a and 12b and the external conductive layers 14a and 14b. You can also. Although it does not restrict | limit especially as an adhesive material, A phenol compound, a nitrogen-containing organic compound, an acetylacetone metal complex etc. are mentioned. Among these, a phenol compound is particularly preferable.

なお、接着性樹脂ワニスは、水酸基含有化合物、反応性化合物などのほか、有機溶剤を含有してもよい。有機溶剤に溶解した状態とすることにより、ワニスとして好ましく使用することができる。   The adhesive resin varnish may contain an organic solvent in addition to a hydroxyl group-containing compound and a reactive compound. By making it the state melt | dissolved in the organic solvent, it can be preferably used as a varnish.

このような有機溶剤としては、N,N−ジメチルアセトアミド、N,N−ジエチルアセトアミド、N,N−ジメチルホルムアミド、N,N−ジエチルホルムアミド、N−メチル−2−ピロリドンなどのアミド系溶剤、γ−ブチロラクトン、γ−バレロラクトンなどのラクトン溶剤、ジメチルスルホキシド、ジエチルスルホキシド、ヘキサメチルスルホキシドなどの含硫黄系溶剤、クレゾール、フェノールなどのフェノール系溶剤、ジエチレングリコールジメチルエーテル(ジグライム)、トリエチレングリコールジメチルエーテル(トリグライム)、テトラグライム、ジオキサン、テトラヒドロフラン、安息香酸ブチル、安息香酸エチル、安息香酸メチルなどのエーテル溶剤が挙げられる。また、これらの有機溶剤は、単独で使用してもよいし、複数併用してもよい。   Examples of such organic solvents include amide solvents such as N, N-dimethylacetamide, N, N-diethylacetamide, N, N-dimethylformamide, N, N-diethylformamide, N-methyl-2-pyrrolidone, γ -Lactone solvents such as butyrolactone and γ-valerolactone, sulfur-containing solvents such as dimethyl sulfoxide, diethyl sulfoxide and hexamethyl sulfoxide, phenol solvents such as cresol and phenol, diethylene glycol dimethyl ether (diglyme), triethylene glycol dimethyl ether (triglyme) And ether solvents such as tetraglyme, dioxane, tetrahydrofuran, butyl benzoate, ethyl benzoate, and methyl benzoate. These organic solvents may be used alone or in combination.

本実施の形態においては、ブラインドビアの形成性、及び、多層板の半田リフローや冷熱サイクル試験の耐熱性を発現させるためには、水酸基含有化合物と反応性化合物との反応を抑えつつ、溶剤を揮発させることが必要となる。アミド系溶剤を用いた場合、水酸基含有化合物(例えば、ポリイミド)の水酸基とアミド系溶剤との水素結合が強く、アミド系溶剤が揮発しにくくなる。このため、接着性樹脂ワニスの溶剤としては、アミド構造を含まない溶剤であって、揮発性に優れるγ−ブチロラクトン、トリグライム、1,2−ジメトキシエタン、テトラヒドロフラン、1,3−ジオキサン、1,4−ジオキサン、ジメチルスルホキシド、ベンゼン、トルエン、キシレン、メシチレン、フェノール、クレゾール、安息香酸メチル、安息香酸エチルなどの溶剤を用いることが好ましい。これらの溶剤は、常圧下で乾燥することにより、残存溶剤量を低減できるので、生産性に優れる。   In the present embodiment, in order to develop the formation property of the blind via and the heat resistance of the solder reflow and the thermal cycle test of the multilayer board, the solvent is added while suppressing the reaction between the hydroxyl group-containing compound and the reactive compound. It is necessary to volatilize. When an amide solvent is used, the hydrogen bond between the hydroxyl group of the hydroxyl group-containing compound (for example, polyimide) and the amide solvent is strong, and the amide solvent is less likely to volatilize. Therefore, as a solvent for the adhesive resin varnish, γ-butyrolactone, triglyme, 1,2-dimethoxyethane, tetrahydrofuran, 1,3-dioxane, 1,4, which does not contain an amide structure and has excellent volatility. -Solvents such as dioxane, dimethyl sulfoxide, benzene, toluene, xylene, mesitylene, phenol, cresol, methyl benzoate, ethyl benzoate are preferably used. Since these solvents can reduce the amount of residual solvent by drying under normal pressure, they are excellent in productivity.

接着性樹脂ワニスは、熱架橋性官能基を有する架橋性化合物を含有しても良い。熱架橋性化合物としては、熱架橋性官能基を介して架橋を形成するものであれば特に制限はないが、例えば、トリアジン系化合物、ベンゾオキサジン化合物などが挙げられる。   The adhesive resin varnish may contain a crosslinkable compound having a thermally crosslinkable functional group. The heat crosslinkable compound is not particularly limited as long as it forms a crosslink via a heat crosslinkable functional group, and examples thereof include triazine compounds and benzoxazine compounds.

トリアジン系化合物としては、メラミン類およびシアヌル酸メラミン類などが好ましい。メラミン類としては、メラミン誘導体、メラミンと類似の構造を有する化合物およびメラミンの縮合物等が挙げられる。メラミン類の具体例としては、例えば、メチロール化メラミン、アンメリド、アンメリン、ホルモグアナミン、グアニルメラミン、シアノメラミン、アリールグアナミン、メラム、メレム、メロンなどが挙げられる。   As the triazine compound, melamines and cyanuric acid melamines are preferable. Examples of melamines include melamine derivatives, compounds having a structure similar to melamine, and melamine condensates. Specific examples of melamines include, for example, methylolated melamine, ammelide, ammelin, formoguanamine, guanylmelamine, cyanomelamine, arylguanamine, melam, melem, melon and the like.

シアヌル酸メラミン類としては、シアヌル酸とメラミン類との等モル反応物が挙げられる。また、シアヌル酸メラミン類中のアミノ基または水酸基のいくつかが、他の置換基で置換されていてもよい。このうちシアヌル酸メラミンは、例えば、シアヌル酸の水溶液とメラミンの水溶液とを混合し、90℃〜100℃で撹拌下反応させ、生成した沈殿を濾過することによって得ることができ、白色の固体であり、市販品をそのまま、またはこれを微粉末状に粉砕して使用できる。   Examples of melamine cyanurates include equimolar reaction products of cyanuric acid and melamines. Moreover, some of the amino groups or hydroxyl groups in the melamine cyanurates may be substituted with other substituents. Among these, melamine cyanurate can be obtained, for example, by mixing an aqueous solution of cyanuric acid and an aqueous solution of melamine, reacting at 90 ° C. to 100 ° C. with stirring, and filtering the generated precipitate, Yes, a commercially available product can be used as it is or after being pulverized into a fine powder.

ベンゾオキサジン化合物は、モノマーのみからなるものでも良いし、数分子が重合してオリゴマー状態となっていてもよい。また、異なる構造を有するベンゾオキサジン化合物を同時に用いても良い。具体的には、ビスフェノールベンゾオキサジンが好ましく用いられる。   The benzoxazine compound may be composed only of monomers, or several molecules may be polymerized into an oligomer state. Moreover, you may use the benzoxazine compound which has a different structure simultaneously. Specifically, bisphenol benzoxazine is preferably used.

また、本実施の形態に係る未硬化接着性樹脂層13a’,13b’は、接着性樹脂ワニスを金属箔上に塗布して乾燥することにより、樹脂付金属箔として用いることも可能である。この場合、銅箔の表面への未硬化接着性樹脂層13a’,13b’を形成するための接着性樹脂ワニスの塗工方法及び乾燥方法については特に制限はない。例えば、接着性樹脂ワニスを銅箔の表面にエッジコータ、グラビアコータ、スピンコータなどを用いて塗工し、加熱炉内で加熱乾燥することにより、銅箔上に半硬化状態の未硬化接着性樹脂層13a’,13b’が形成され樹脂付銅箔が得られる。乾燥後に得られる膜厚は、平均厚さ5μm〜50μmである。未硬化接着性樹脂層13a’,13b’中の溶剤を低減するために、常圧又は減圧にて、50℃〜140℃において1分間〜60分間加熱することが好ましい。   Further, the uncured adhesive resin layers 13a 'and 13b' according to the present embodiment can be used as a resin-coated metal foil by applying an adhesive resin varnish on the metal foil and drying it. In this case, there is no particular limitation on the method of applying and drying the adhesive resin varnish for forming the uncured adhesive resin layers 13a 'and 13b' on the surface of the copper foil. For example, the adhesive resin varnish is coated on the surface of the copper foil using an edge coater, gravure coater, spin coater, etc., and dried in a heating furnace to be semi-cured uncured adhesive resin layer on the copper foil. 13a 'and 13b' are formed to obtain a resin-coated copper foil. The film thickness obtained after drying is an average thickness of 5 μm to 50 μm. In order to reduce the solvent in the uncured adhesive resin layers 13a 'and 13b', it is preferable to heat at 50 ° C to 140 ° C for 1 minute to 60 minutes at normal pressure or reduced pressure.

また、本実施の形態に係る接着性樹脂硬化物13は、基材上に形成された配線パターンを覆うように接着性樹脂硬化物層13a,13bを設けることにより、配線板の配線パターンの保護膜として好適に用いることができる。   Moreover, the adhesive resin hardened | cured material 13 which concerns on this Embodiment protects the wiring pattern of a wiring board by providing adhesive resin hardened | cured material layer 13a, 13b so that the wiring pattern formed on the base material may be covered. It can be suitably used as a film.

以下、本発明の効果を明確にするために行った実施例により具体的に説明するが、本発明は、これらの例によって何ら限定されるものではない。   EXAMPLES Hereinafter, the present invention will be specifically described with reference to examples made to clarify the effects of the present invention, but the present invention is not limited to these examples.

<試薬>
実施例及び比較例において、用いた試薬は以下である。
ポリイミド成分:BPDA(三井化学社製)、1,3−ビス(3−アミノフェノキシ)ベンゼン(APB−N)(三井化学社製)、4,4’−オキシジフタル酸二無水物(ODPA)(マナック社製)、ポリアルキルエーテルジアミンBaxxodur(TM)EC302(BASF社製)、2,2’−ビス(3−アミノ−4−ヒドロキシフェニル)ヘキサフルオロプロパン(6FAP)(CHANGZHOU SUNLIGHT MEDICAL RAW MATERIAL CO.,LTD.製)。
オキサゾリン化合物:1,3−ビス(4,5−ジヒドロ−2−オキサゾリル)ベンゼン(PBO)(三國製薬工業社製)。
ホスファゼン化合物:(商品名)FP−300、FP−400(伏見製薬所社製)。
溶剤:1,3−ジメチル−2−イミダゾリジノン(DMI)(ネオス社製)。
その他:トルエン、γ―ブチロラクトン、トリエチレングリコールジメチルエーテル、ジメチルスルホキシド、フェノール、4,4’−ジ(クロロメチル)ビフェニル、ホルマリン水溶液、メタノール、苛性ソーダは、和光純薬工業社製の試薬を特別な精製を実施せずに用いた。
<Reagent>
In the examples and comparative examples, the reagents used are as follows.
Polyimide component: BPDA (Mitsui Chemicals), 1,3-bis (3-aminophenoxy) benzene (APB-N) (Mitsui Chemicals), 4,4'-oxydiphthalic dianhydride (ODPA) (Manac Co., Ltd.), polyalkyl ether diamine Baxodur (TM) EC302 (manufactured by BASF), 2,2′-bis (3-amino-4-hydroxyphenyl) hexafluoropropane (6FAP) (CHANGE ZHOU SUNLIGHT MEDICAL RAW MATERIAL CO.,) LTD.).
Oxazoline compound: 1,3-bis (4,5-dihydro-2-oxazolyl) benzene (PBO) (manufactured by Mikuni Pharmaceutical Co., Ltd.).
Phosphazene compounds: (trade name) FP-300, FP-400 (Fushimi Pharmaceutical Co., Ltd.).
Solvent: 1,3-dimethyl-2-imidazolidinone (DMI) (manufactured by Neos).
Others: Toluene, γ-butyrolactone, triethylene glycol dimethyl ether, dimethyl sulfoxide, phenol, 4,4'-di (chloromethyl) biphenyl, formalin aqueous solution, methanol, caustic soda are specially purified reagents manufactured by Wako Pure Chemical Industries, Ltd. Was used without performing.

<重量平均分子量測定>
重量平均分子量の測定法であるゲルパーミエーションクロマトグラフィー(GPC)は、下記の条件により測定を行った。溶剤としてN,N−ジメチルホルムアミド(和光純薬工業社製、高速液体クロマトグラフ用)を用い、測定前に24.8mmol/Lの臭化リチウム一水和物(和光純薬工業社製、純度99.5%)及び63.2mmol/Lのリン酸(和光純薬工業社製、高速液体クロマトグラフ用)を加えたものを使用した。
カラム:Shodex KD−806M(昭和電工社製)
流速:1.0mL/分
カラム温度:40℃
ポンプ:PU−2080Plus(JASCO社製)
検出器:UV―2075Plus(UV−VIS:紫外可視吸光計、JASCO社製)
また、重量平均分子量を算出するための検量線は、スタンダードポリスチレン(東ソー社製)を用いて作成した。
<Weight average molecular weight measurement>
Gel permeation chromatography (GPC), which is a method for measuring the weight average molecular weight, was measured under the following conditions. Using N, N-dimethylformamide (manufactured by Wako Pure Chemical Industries, Ltd., for high performance liquid chromatograph) as a solvent, 24.8 mmol / L lithium bromide monohydrate (manufactured by Wako Pure Chemical Industries, Ltd., purity before measurement) 99.5%) and 63.2 mmol / L phosphoric acid (manufactured by Wako Pure Chemical Industries, Ltd., for high performance liquid chromatograph) were used.
Column: Shodex KD-806M (manufactured by Showa Denko KK)
Flow rate: 1.0 mL / min Column temperature: 40 ° C
Pump: PU-2080 Plus (manufactured by JASCO)
Detector: UV-2075 Plus (UV-VIS: UV-Visible Absorber, manufactured by JASCO)
A calibration curve for calculating the weight average molecular weight was prepared using standard polystyrene (manufactured by Tosoh Corporation).

<接着性樹脂硬化物のアルカリ溶解速度の測定>
接着性樹脂硬化物のアルカリ溶解速度は、ルータ加工(外形加工)により作製した多層フレキシブルプリント配線板のリジッド部の外部導電層を薄く残し、外部導電層をエッチングにより除去した後、露出した接着性樹脂硬化物層の表面に対して測定した。接着性樹脂硬化物の表面に48℃、3%の水酸化ナトリウム溶液を5〜60min間噴霧した後、水洗し、50℃で5時間、乾燥した。室温にて残存する膜厚を測定し、溶解した膜厚を溶解に掛かった時間で除して、減膜速度を求めた。
<Measurement of alkali dissolution rate of cured adhesive resin>
The alkali dissolution rate of the cured adhesive resin is determined by the adhesive adhesion after the outer conductive layer of the rigid part of the multilayer flexible printed wiring board produced by router processing (outer shape processing) remains thin and the external conductive layer is removed by etching. It measured with respect to the surface of a resin cured material layer. The surface of the cured adhesive resin was sprayed with a 3% sodium hydroxide solution at 48 ° C. for 5 to 60 minutes, washed with water, and dried at 50 ° C. for 5 hours. The film thickness remaining at room temperature was measured and the dissolved film thickness was divided by the time taken for dissolution to determine the film reduction rate.

<接着性樹脂硬化物の残存溶剤量の測定>
接着性樹脂硬化物の残存溶剤量の測定は、ルータ加工(外形加工)により作製した多層フレキシブルプリント配線板のリジッド部の外部導電層を薄く残し、外部導電層をエッチングにより除去した後、露出した接着性樹脂硬化物を用いて実施した。接着性樹脂硬化物を細かくカットして、溶剤DMFに浸漬し、約60℃で一昼夜、加温して残存溶剤を抽出した。Quadrex社製、#007−17(ID−0.32mm、膜厚0.50μm、長さ30m)カラムを用いて、ガスクロマトグラフィー(GC分析)を行って、残存溶剤量を求めた。
<Measurement of residual solvent amount of cured adhesive resin>
The measurement of the amount of residual solvent in the cured adhesive resin was measured after leaving the outer conductive layer of the rigid part of the multilayer flexible printed wiring board produced by router processing (outer shape processing) thin, removing the external conductive layer by etching, and then exposing it. It implemented using the adhesive resin hardened | cured material. The cured adhesive resin was finely cut, immersed in a solvent DMF, and heated at about 60 ° C. overnight to extract the remaining solvent. Using a # 007-17 (ID-0.32 mm, film thickness 0.50 μm, length 30 m) column manufactured by Quadrex, gas chromatography (GC analysis) was performed to determine the amount of residual solvent.

<接着性樹脂硬化物のガラス転移温度、伸度、熱膨張係数、弾性率の測定>
接着性樹脂硬化物のガラス転移温度(Tg)、熱機械分析及び引張弾性率の測定は、以下のようにして得た接着性硬化物層を用いて実施した。まず、ルータ加工(外径加工)によりフレキシブル部の接着性樹脂硬化物層を除去すると共に、内部導電層を薄く残した状態とした後、内部導電層をエッチングにより除去して接着性樹脂硬化物層を得る。次に、接着性樹脂硬化物層を水洗した後、50℃で5時間、乾燥した接着性樹脂硬化物を使用した。接着性樹脂硬化物層の膜厚が30μmとなるように試料を作製した。
<Measurement of glass transition temperature, elongation, thermal expansion coefficient, elastic modulus of cured adhesive resin>
The glass transition temperature (Tg), thermomechanical analysis, and measurement of tensile elastic modulus of the cured adhesive resin were carried out using the adhesive cured product layer obtained as follows. First, the adhesive resin cured product layer of the flexible part is removed by router processing (outer diameter processing), and after leaving the inner conductive layer thin, the inner conductive layer is removed by etching, and the cured adhesive resin product is obtained. Get a layer. Next, after the adhesive resin cured product layer was washed with water, the cured adhesive resin cured product was used at 50 ° C. for 5 hours. A sample was prepared so that the film thickness of the cured adhesive resin layer was 30 μm.

ガラス転移温度(Tg)、伸度及び熱膨張係数(CTE)は、試料をTMA試験機(EXSTAR6000/セイコーインスツルメント社製)にセットして測定した。加重1.25mN/μm、窒素下、10℃/minの昇温速度で測定し、室温から220℃まで昇温させて、ガラス転移温度、伸度を求めた。最大の熱膨張係数は、30℃から180℃まで昇温させて得られた伸度−温度曲線の傾きの接線で得られる熱膨張係数において、その最大値を用いた。弾性率(引張弾性率)は、JIS C 2318に準じて測定した。   The glass transition temperature (Tg), elongation, and thermal expansion coefficient (CTE) were measured by setting the sample in a TMA tester (EXSTAR6000 / Seiko Instruments). Measurement was performed under a load of 1.25 mN / μm, under nitrogen at a rate of temperature increase of 10 ° C./min, and the temperature was raised from room temperature to 220 ° C. to determine the glass transition temperature and elongation. As the maximum thermal expansion coefficient, the maximum value was used in the thermal expansion coefficient obtained by the tangent of the slope of the elongation-temperature curve obtained by raising the temperature from 30 ° C. to 180 ° C. The elastic modulus (tensile elastic modulus) was measured according to JIS C 2318.

<ビア形状の測定>
作製した多層フレキシブル配線板をエポキシ樹脂で包埋した後、断面研磨を行い、光学顕微鏡でブラインドビアの形状を観察した。ブラインドビアの壁面や底部に樹脂残渣が観測されない場合を○とし、ブラインドビアの壁面や底部に樹脂残渣が観測された場合を×とした。
<Measurement of via shape>
The produced multilayer flexible wiring board was embedded with an epoxy resin, then subjected to cross-section polishing, and the shape of the blind via was observed with an optical microscope. The case where no resin residue was observed on the wall surface or bottom of the blind via was marked as ◯, and the case where resin residue was observed on the wall surface or bottom of the blind via was marked as x.

<ハゼ折試験>
耐折性は、ハゼ折試験で評価した。エスパネックス MC−12−20−00CEM(新日鐵化学社製)を用いた銅エッチアウト後の配線面(ラインアンドスペースが20μm/20μm、ベースフィルム厚みが20μm)のくし型基板上に樹脂付銅箔を積層し、所定の乾燥、硬化を行った後、樹脂付銅箔部分の銅層をエッチング除去した。次に、50℃で乾燥して試料を作製し、作製した試料を用いて180度ハゼ折(1往復で1回とカウント)を実施した。ハゼ折部分を光学顕微鏡(ECLIPS LV100 ニコン社製)で観察して、2回以上、樹脂層及び銅層にクラックが入っていない場合を◎とし、2回目にクラックが入ったものを○とし、1回目でクラックが入った場合を×とした。
<Haze folding test>
Folding resistance was evaluated by a goby folding test. Resin on comb substrate of wiring surface (line and space is 20 μm / 20 μm, base film thickness is 20 μm) after copper etch-out using ESPANEX MC-12-20-00CEM (manufactured by Nippon Steel Chemical Co., Ltd.) After laminating the copper foil and performing predetermined drying and curing, the copper layer of the resin-coated copper foil portion was removed by etching. Next, a sample was prepared by drying at 50 ° C., and 180 ° goby folding (counting once with one reciprocation) was performed using the prepared sample. Observe the folded part with an optical microscope (ECLIPS LV100 made by Nikon Co., Ltd.), ◎ if the resin layer and the copper layer are not cracked more than twice, and ◯ if the crack is in the second time, The case where cracks occurred at the first time was marked with x.

<半田リフロー耐性試験>
半田リフロー耐性試験は、JPCA−BM02規格に準じ、銅箔に樹脂付銅箔を積層して所定の乾燥、硬化を行った後、3cm×3cmに切断した試料をハンダ浴に260℃で60秒間浸漬して実施した。500倍の光学顕微鏡で表面を観察し、膜表面に膨れ・焦げなどの異常は見られない場合は○とし、異常が見られた場合は×とした。なお、ここでの膨れは上記のハンダ浴浸漬をした後、硬化膜の表面に5μm以上の盛り上がりがあったことを指し、焦げは1%以上の面積が変色したことを指す。
<Solder reflow resistance test>
In accordance with the JPCA-BM02 standard, the solder reflow resistance test was performed by laminating a copper foil with a resin on a copper foil, performing predetermined drying and curing, and then cutting the sample cut to 3 cm × 3 cm in a solder bath at 260 ° C. for 60 seconds. Dipping was carried out. The surface was observed with a 500-fold optical microscope, and when there was no abnormality such as blistering or scorching on the film surface, it was rated as ◯, and when abnormality was observed, it was marked as x. In addition, the swelling here indicates that the surface of the cured film had a bulge of 5 μm or more after the immersion in the solder bath, and the burning indicates that the area of 1% or more was discolored.

<冷熱サイクル耐性(冷熱衝撃試験)>
冷熱衝撃試験は、JPCA−HD01−2003規格に準じ、作製した4層の配線板を−40℃、120℃、1000サイクルで評価した。サイクル中の接続抵抗の変動が10%以内の場合を○とし、10%を越えた場合を×とした。
<Cooling cycle resistance (cooling shock test)>
In the thermal shock test, the produced four-layer wiring board was evaluated at −40 ° C., 120 ° C., and 1000 cycles according to the JPCA-HD01-2003 standard. The case where the fluctuation of the connection resistance during the cycle was within 10% was marked with ◯, and the case where it exceeded 10% was marked with x.

<絶縁信頼性試験(85℃、湿度85%)>
絶縁信頼性試験は、以下のように実施した。フレキシブルなプリント回路基板の基材としてエスパネックスM(新日鉄化学社製)(絶縁層の厚さ25μm、導体層は銅箔F2−WS(18μm))を使用し、ライン/スペース:50μm/50μmの櫛形配線板を作成した。この回路基板上に、樹脂付銅箔(樹脂部の乾燥後の膜厚が15ミクロン)を積層し、所定の乾燥、硬化を行った後、樹脂層付銅箔の銅箔をエッチング除去した。DC50V、85℃、湿度85%の条件下で8時間放置しながら抵抗を測定し、絶縁抵抗が10の9乗Ω以上の場合を◎とし、10の8乗Ω台の場合を◎とし、10の8乗Ωに達しない場合を×とした。
<Insulation reliability test (85 ° C, 85% humidity)>
The insulation reliability test was performed as follows. Espanex M (manufactured by Nippon Steel Chemical Co., Ltd.) (insulating layer thickness 25 μm, conductor layer copper foil F2-WS (18 μm)) is used as the base material of the flexible printed circuit board. Line / space: 50 μm / 50 μm A comb-shaped wiring board was created. On this circuit board, a copper foil with resin (film thickness after drying of the resin part is 15 microns) was laminated, dried and cured, and then the copper foil of the copper foil with resin layer was removed by etching. The resistance is measured while standing for 8 hours under the conditions of DC 50 V, 85 ° C., and humidity 85%. The case where the insulation resistance is 10 9 Ω or more is ◎, the case of 10 8 Ω is ◎, 10 The case where it did not reach the 8th power of Ω was taken as x.

<絶縁信頼性試験(HAST耐性)>
絶縁信頼性試験は、以下のように実施した。ラインアンドスペースが20μm/20μmのくし型基板上に接着性樹脂ワニスを塗布し、乾燥、180℃、1時間焼成を行った。マイグレーションテスタのケーブルを半田付けし、下記条件にて絶縁抵抗値を測定した。
絶縁劣化評価システム:SIR−12(楠本化成社製)
HASTチャンバー:EHS−211M(エスペック社製)
温度:110℃
湿度:85%
印加電圧:2V
印加時間:528時間
絶縁抵抗値:絶縁抵抗が10の8乗Ω以上の場合を◎とし、10の7乗Ω台の場合を○とし、10の7乗Ωに達しない場合を×とした。
<Insulation reliability test (HAST resistance)>
The insulation reliability test was performed as follows. An adhesive resin varnish was applied onto a comb-type substrate having a line and space of 20 μm / 20 μm, dried, and baked at 180 ° C. for 1 hour. The migration tester cable was soldered, and the insulation resistance value was measured under the following conditions.
Insulation degradation evaluation system: SIR-12 (Enomoto Kasei Co., Ltd.)
HAST chamber: EHS-211M (Espec Corp.)
Temperature: 110 ° C
Humidity: 85%
Applied voltage: 2V
Application time: 528 hours Insulation resistance value: The case where the insulation resistance is 10 8 Ω or more, ◎, the case of 10 7 Ω range is ◯, and the case where it does not reach 10 7 Ω is ×.

<外観(デンドライト)>
上記絶縁信頼性試験の後のくし型基板を光学顕微鏡(ECLIPS LV100 ニコン社製)、透過光、200倍の条件で観察し、デンドライトの発生がみられるものを×とし、見られないものを○とした。
<Appearance (Dendrite)>
The comb substrate after the above insulation reliability test was observed with an optical microscope (ECLIPS LV100, manufactured by Nikon Corporation) under the conditions of transmitted light and 200 times. It was.

[調製例1]
三口セパラブルフラスコに窒素導入管、温度計、水分分離トラップを備えた玉付冷却管を取り付けた。オイルバス室温で、トリエチレングリコールジメチルエーテル(22.5g)、γ―ブチロラクトン(52.5g)、トルエン(20.0g)、4,4’−オキシジフタル酸二無水物(ODPA)1.00g、両末端酸二無水物変性シリコーン(酸無水物当量=約500g/モル)(上記式群(7)参照:X−22−2290AS、信越化学社製)35.00gを入れ均一になるまで攪拌した。さらに、2,2’−ビス(3−アミノ−4−ヒドロキシフェニル)ヘキサフルオロプロパン(6FAP)14.00g、を少しずつ添加した後、180℃まで昇温し、2時間加熱した。反応中、副生する水は、トルエンと共沸し、水分分離トラップを備えた玉付冷却管を用いて、還流下、脱水を行った。副生水を抜いた後、還流を止め、トルエンを除去して室温まで冷却した。次に、生成物を5μmのフィルターで加圧ろ過することでポリイミドAワニスを得た。重量平均分子量は27000であった。
[Preparation Example 1]
A three-necked separable flask was equipped with a nitrogen condenser, a thermometer, and a ball condenser equipped with a moisture separation trap. At oil bath room temperature, triethylene glycol dimethyl ether (22.5 g), γ-butyrolactone (52.5 g), toluene (20.0 g), 4,4′-oxydiphthalic dianhydride (ODPA) 1.00 g, both ends Acid dianhydride-modified silicone (acid anhydride equivalent = about 500 g / mol) (see the above formula group (7): X-22-2290AS, manufactured by Shin-Etsu Chemical Co., Ltd.) 35.00 g was added and stirred until uniform. Furthermore, after adding 14.2Og of 2,2'-bis (3-amino-4-hydroxyphenyl) hexafluoropropane (6FAP) little by little, it heated up to 180 degreeC and heated for 2 hours. During the reaction, by-product water was azeotroped with toluene and dehydrated under reflux using a ball-mounted condenser equipped with a water separation trap. After draining by-product water, the reflux was stopped, toluene was removed, and the mixture was cooled to room temperature. Next, polyimide A varnish was obtained by carrying out pressure filtration of the product with a 5 micrometers filter. The weight average molecular weight was 27000.

樹脂組成物の中のポリイミドAが69質量%、オキサゾリン化合物としての1,3−ビス(4,5−ジヒドロ−2−オキサゾリル)ベンゼン(PBO)が6質量%、難燃剤として伏見製薬社製のFP300が25質量%となるように接着性樹脂ワニスを調合した。樹脂付き金属箔を作成し、その評価を行った。   Polyimide A in the resin composition was 69% by mass, 1,3-bis (4,5-dihydro-2-oxazolyl) benzene (PBO) as an oxazoline compound was 6% by mass, and a flame retardant manufactured by Fushimi Pharmaceutical Co., Ltd. An adhesive resin varnish was prepared so that the FP300 was 25% by mass. Metal foil with resin was created and evaluated.

[調製例2]
三口セパラブルフラスコに窒素導入管、温度計、水分分離トラップを備えた玉付冷却管を取り付けた。オイルバス室温で、1,3−ジメチル−2−イミダゾリジノン(DMI)344g、トルエン90g、ジメチルスルホキシド78.4g、2,2’−ビス(3−アミノ−4−ヒドロキシフェニル)ヘキサフルオロプロパン(6FAP)48.8g、ポリアルキルエーテルジアミンBaxxodur(登録商標)EC302(BASF社製)112.8gを入れ均一になるまで攪拌した。さらに、3,3’,4,4’−ビフェニルテトラカルボン酸二無水物(BPDA)120gを少しずつ添加した後、180℃まで昇温し、3時間加熱した。反応中、副生する水は、トルエンと共沸し、水分分離トラップを備えた玉付冷却管を用いて、還流下、脱水を行った。副生水を抜いた後、還流を止め、トルエンを除去して室温まで冷却した。次に、生成物を5μmのフィルターで加圧ろ過することでポリイミドBワニスを得た。重量平均分子量は28000であった。
[Preparation Example 2]
A three-necked separable flask was equipped with a nitrogen condenser, a thermometer, and a ball condenser equipped with a moisture separation trap. In an oil bath room temperature, 344 g of 1,3-dimethyl-2-imidazolidinone (DMI), 90 g of toluene, 78.4 g of dimethyl sulfoxide, 2,2′-bis (3-amino-4-hydroxyphenyl) hexafluoropropane ( (6FAP) 48.8 g and polyalkyl ether diamine Baxxodur (registered trademark) EC302 (manufactured by BASF) 112.8 g were added and stirred until uniform. Further, 120 g of 3,3 ′, 4,4′-biphenyltetracarboxylic dianhydride (BPDA) was added little by little, and then the temperature was raised to 180 ° C. and heated for 3 hours. During the reaction, by-product water was azeotroped with toluene and dehydrated under reflux using a ball-mounted condenser equipped with a water separation trap. After draining by-product water, the reflux was stopped, toluene was removed, and the mixture was cooled to room temperature. Next, polyimide B varnish was obtained by pressure-filtering the product with a 5 μm filter. The weight average molecular weight was 28000.

続いて、重合溶液にメタノールを添加してポリマーを析出させ、回収したポリマーを50℃、真空下で24時間乾燥した。その後、γ―ブチロラクトン/ジメチルスルホキシド(80/20質量比)混合溶剤を用いて、樹脂組成物の中のポリイミドBが60質量%、オキサゾリン化合物としての1,3−ビス(4,5−ジヒドロ−2−オキサゾリル)ベンゼン(PBO)が15質量%、難燃剤としての伏見製薬社製のFP300とFP400をそれぞれ6質量%と18質量%、酸化防止剤としてのイルガノックス245(IRG245、BASF製)を1質量%になるよう接着性樹脂ワニスを調合した。   Subsequently, methanol was added to the polymerization solution to precipitate a polymer, and the recovered polymer was dried at 50 ° C. under vacuum for 24 hours. Thereafter, using a mixed solvent of γ-butyrolactone / dimethyl sulfoxide (80/20 mass ratio), polyimide B in the resin composition was 60 mass%, and 1,3-bis (4,5-dihydro- as an oxazoline compound. 2-oxazolyl) benzene (PBO) is 15% by mass, FP300 and FP400 made by Fushimi Pharmaceutical Co., Ltd. as flame retardants are 6% by mass and 18% by mass, respectively, and Irganox 245 (IRG245, manufactured by BASF) is used as an antioxidant. An adhesive resin varnish was prepared so as to be 1% by mass.

[調製例3]
4,4’−オキシジフタル酸二無水物(ODPA)7.50g、両末端酸二無水物変性シリコーン(酸無水物当量=約500g/モル)(上記式群(7)参照:X−22−2290AS、信越化学社製)25.00g、2,2’−ビス(3−アミノ−4−ヒドロキシフェニル)ヘキサフルオロプロパン(6FAP)17.50gとした以外は調製例1と同様にしてポリイミドCを得た。
[Preparation Example 3]
4,4′-oxydiphthalic dianhydride (ODPA) 7.50 g, acid dianhydride modified silicone at both ends (acid anhydride equivalent = about 500 g / mol) (see formula group (7) above: X-22-2290AS) (Shin-Etsu Chemical Co., Ltd.) 25.00 g and 2,2′-bis (3-amino-4-hydroxyphenyl) hexafluoropropane (6FAP) 17.50 g. It was.

[調製例4]
撹拌装置、コンデンサー、及び窒素ガス導入管を備えたガラス製反応釜に、フェノール404.2g(4.30モル)、4,4’−ジ(クロロメチル)ビフェニル150.70g(0.6モル)を仕込み100℃で3時間反応させ、その後42%ホルマリン水溶液28.57g(0.4モル)を添加し、その後、100℃で3時間反応させた。その間、生成するメタノールを留去した。反応終了後、得られた反応溶液を冷却し、水洗を3回行った。油層を分離し、減圧蒸留により未反応フェノールを留去することにより251gのフェノールノボラック樹脂Dを得た。
[Preparation Example 4]
In a glass reaction kettle equipped with a stirrer, a condenser, and a nitrogen gas introduction tube, phenol 404.2 g (4.30 mol), 4,4′-di (chloromethyl) biphenyl 150.70 g (0.6 mol) Were added and reacted at 100 ° C. for 3 hours, followed by addition of 28.57 g (0.4 mol) of 42% formalin aqueous solution, and then reacted at 100 ° C. for 3 hours. Meanwhile, the methanol produced was distilled off. After completion of the reaction, the obtained reaction solution was cooled and washed with water three times. The oil layer was separated, and unreacted phenol was removed by distillation under reduced pressure to obtain 251 g of phenol novolac resin D.

得られたフェノールノボラック樹脂を10g、オキサゾリン化合物として1,3−ビス(4,5−ジヒドロ−2−オキサゾリル)ベンゼン(PBO)を2g、難燃剤として伏見製薬社製のFP300を4g、溶剤としてN−メチルピロリドンを40g用いて、接着性樹脂ワニスを調合した。   10 g of the obtained phenol novolac resin, 2 g of 1,3-bis (4,5-dihydro-2-oxazolyl) benzene (PBO) as an oxazoline compound, 4 g of FP300 manufactured by Fushimi Pharmaceutical Co., Ltd. as a flame retardant, and N as a solvent -An adhesive resin varnish was prepared using 40 g of methylpyrrolidone.

[実施例1]
コア基板としては、両面フレキシブル配線板(エスパネックスM、新日鉄化学製、銅箔厚み12μm、絶縁性樹脂層厚20μm)を用いた。この両面フレキシブル配線板にドリル加工及び銅めっき処理により100μmφの貫通ビアホールを形成した。また最少130μmピッチの銅配線回路(28μm厚)を形成した。
[Example 1]
As the core substrate, a double-sided flexible wiring board (Espanex M, manufactured by Nippon Steel Chemical Co., Ltd., copper foil thickness 12 μm, insulating resin layer thickness 20 μm) was used. A through via hole having a diameter of 100 μm was formed on the double-sided flexible wiring board by drilling and copper plating. Further, a copper wiring circuit (28 μm thickness) having a minimum pitch of 130 μm was formed.

樹脂付銅箔(積層体)としては、調製例1より得られた接着性樹脂ワニスを12μm厚の電解銅箔(F2−WS、古河電工製)上にバーコータを用いて塗布し、その後90℃に加温されたオーブン中で30分乾燥処理をして得た。この樹脂付銅箔をコア基板の上下面に重ねて置き、更に両面から離形用フィルムで挟んだものを準備した。   As the copper foil with resin (laminated body), the adhesive resin varnish obtained from Preparation Example 1 was applied onto a 12 μm thick electrolytic copper foil (F2-WS, manufactured by Furukawa Electric) using a bar coater, and then 90 ° C. And dried for 30 minutes in a heated oven. This copper foil with resin was placed on the upper and lower surfaces of the core substrate, and further sandwiched from both sides with a release film.

真空積層装置としては、真空プレス(北川精機社製)の上下両面定盤に内部にガラスクロスを含んでいる硬度50%の耐熱シリコンラバーを全面に貼りあわせたものを用いた。シリコンラバーは50cm角サイズとした。積層方法としては、シリコンラバー表面温度を100℃に予め加温した状態で、前記の積層体を入れ、2分間加圧しない状態で真空引きを行い、その後圧力1MPaで2分間加圧し積層した。   As the vacuum laminating apparatus, a vacuum press (manufactured by Kitagawa Seiki Co., Ltd.) was used in which a heat-resistant silicon rubber having a hardness of 50% and containing glass cloth inside was bonded to the entire surface of the upper and lower surface plates. The silicon rubber was a 50 cm square size. As a laminating method, the above-mentioned laminated body was put in a state where the silicon rubber surface temperature was preliminarily heated to 100 ° C., evacuation was performed without pressurizing for 2 minutes, and then pressurization was performed at a pressure of 1 MPa for 2 minutes for lamination.

次に、コア基板の銅箔と積層体の銅箔との間の接続のため、積層体の銅箔上にドライフィルムをラミネートした後、露光・現像、及びエッチングにより、所定の位置の銅箔を除去してブラインドビアが必要な部位に100μmφのコンフォーマルマスクを形成した。   Next, for connection between the copper foil of the core substrate and the copper foil of the laminated body, after laminating a dry film on the copper foil of the laminated body, the copper foil at a predetermined position by exposure / development and etching And a conformal mask with a diameter of 100 μmφ was formed at a site where a blind via was necessary.

次に、銅箔が除去された部位に、露出した未硬化接着性樹脂層に、48℃に加温した3%水酸化ナトリウム水溶液を約30秒間スプレーして該樹脂層を除去し、ドライフィルムの剥離を行うと共に、ブラインドビアホールを形成した。   Next, a 3% sodium hydroxide aqueous solution heated to 48 ° C. is sprayed on the exposed uncured adhesive resin layer for about 30 seconds on the exposed uncured adhesive resin layer to remove the resin layer. The blind via hole was formed.

次に、硬化乾燥炉を用いて、180℃で1時間加熱することにより、半硬化状態の未硬化接着性樹脂層を硬化して接着性樹脂硬化物層とした。得られたブラインドビアの壁面や底部には、樹脂残渣が観測されず、ブラインドビアホールの形成は良好であり、過マンガン酸カリウム水溶液などによるデスミア工程は不要であった。   Next, the uncured adhesive resin layer in a semi-cured state was cured by heating at 180 ° C. for 1 hour using a curing and drying furnace to obtain a cured adhesive resin layer. Resin residues were not observed on the wall surface and bottom of the obtained blind via, the formation of the blind via hole was good, and the desmear process with an aqueous potassium permanganate solution or the like was unnecessary.

次に、内層コア基板との電気的接続を取るためブラインドビアホールへのめっき処理を行った。まず穴内壁の接着性樹脂硬化物層にカーボン微粒子を付着させ導電性粒子層を形成した。形成方法としてカーボンブラック分散液に浸漬後、酸系水溶液で分散煤を除去した。その後電解銅めっきを施して両面の電気的接続を完了させた。   Next, in order to make an electrical connection with the inner layer core substrate, a plating process for blind via holes was performed. First, carbon fine particles were attached to the cured adhesive resin layer on the inner wall of the hole to form a conductive particle layer. As a forming method, after dipping in a carbon black dispersion, the dispersion wrinkles were removed with an acid-based aqueous solution. Thereafter, electrolytic copper plating was applied to complete electrical connection on both sides.

次に、従来の多層フレキシブル配線板と同様の回路形成工程を行った。以降の工程も従来の多層フレキシブル配線板の製造方法と同様にして実施した。   Next, the circuit formation process similar to the conventional multilayer flexible wiring board was performed. The subsequent steps were performed in the same manner as in the conventional method for manufacturing a multilayer flexible wiring board.

このようにして作製した多層フレキシブル配線板のコア基板への接着性樹脂硬化物埋め込み性や、銅配線回路での表面平滑性については、エポキシ樹脂で包埋した後に断面研磨を行い、光学顕微鏡で観察を行った。貫通ビアホールへの接着性樹脂硬化物埋め込みでは埋め込み不良による空隙などは確認されなかった。また表面平滑性についても銅配線上と配線間での基板厚の差異は3μm以内であった。評価結果を下記表2に示す。   Regarding the embedding property of the adhesive resin cured product into the core substrate of the multilayer flexible wiring board thus produced and the surface smoothness in the copper wiring circuit, the cross-section polishing is performed after embedding with an epoxy resin, and the optical microscope is used. Observations were made. When the adhesive resin cured material was embedded in the through via hole, no voids due to poor embedding were confirmed. Regarding the surface smoothness, the difference in the substrate thickness between the copper wiring and the wiring was within 3 μm. The evaluation results are shown in Table 2 below.

以上のように、実施例1で作製した多層フレキシブル基板は、従来のレーザー加工機を用いる製造方法と異なり、露光・現像工程を通すことにより瞬時に穴あけ加工が可能で、また簡易な積層方法で樹脂埋め込みや表面平滑性が得られる連続生産プロセス化が可能となった。   As described above, the multilayer flexible substrate produced in Example 1 can be drilled instantaneously through an exposure / development process, unlike a manufacturing method using a conventional laser processing machine, and can be a simple lamination method. A continuous production process with resin embedding and surface smoothness has become possible.

実施例1の接着性樹脂硬化物のアルカリ溶解速度、残存溶剤量、Tg(℃)、伸度(%)、最大熱膨張係数(CTE、ppm)、弾性率について下記表1に記載する。実施例1の多層フレキシブル配線板は、ビアホールの形状、耐折性、半田リフロー耐性、冷熱サイクル耐性、及び絶縁信頼性に優れていた。   The alkali dissolution rate, residual solvent amount, Tg (° C.), elongation (%), maximum coefficient of thermal expansion (CTE, ppm), and elastic modulus of the cured adhesive resin of Example 1 are shown in Table 1 below. The multilayer flexible wiring board of Example 1 was excellent in the shape of via holes, folding resistance, solder reflow resistance, thermal cycle resistance, and insulation reliability.

[実施例2〜実施例7及び比較例1〜比較例5]
樹脂組成物ワニスの組成を変えて作製した多層フレキシブル配線板を評価した。実施例2〜実施例7の条件及び結果を下記表1及び下記表2に示す。また、比較例1〜比較例5の条件及び結果を下記表3及び下記表4に示す。実施例2では、樹脂付銅箔を作製する際に90℃、15分、減圧で乾燥した。実施例4〜実施例7、比較例3、4では、調製例2に記載したようにポリマーを貧溶剤に加えることで沈殿させ、回収、乾燥を行った後、組成物を調製した。また、実施例1〜実施例7及び比較例1〜比較例5の乾燥条件及び加熱硬化条件を表1及び表3に示す。
[Examples 2 to 7 and Comparative Examples 1 to 5]
The multilayer flexible wiring board produced by changing the composition of the resin composition varnish was evaluated. The conditions and results of Examples 2 to 7 are shown in Table 1 and Table 2 below. The conditions and results of Comparative Examples 1 to 5 are shown in Table 3 and Table 4 below. In Example 2, the copper foil with resin was dried at 90 ° C. for 15 minutes under reduced pressure. In Examples 4 to 7 and Comparative Examples 3 and 4, as described in Preparation Example 2, the polymer was precipitated by adding it to a poor solvent, and after collecting and drying, a composition was prepared. Tables 1 and 3 show the drying conditions and heat curing conditions of Examples 1 to 7 and Comparative Examples 1 to 5.

Figure 2013149870
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Figure 2013149870
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表1及び表2から分かるように、本実施の形態に係る多層フレキシブル配線板においては、接着性樹脂硬化物のアルカリ溶解速度を所定範囲とすると共に、溶剤残存量を所定値以下とすることにより、耐折性や絶縁信頼性に優れ、しかも耐熱性にも優れた多層フレキシブル配線板を実現できることが分かる。   As can be seen from Table 1 and Table 2, in the multilayer flexible wiring board according to the present embodiment, the alkali dissolution rate of the cured adhesive resin is set within a predetermined range, and the residual solvent amount is set to a predetermined value or less. It can be seen that a multilayer flexible wiring board having excellent folding resistance and insulation reliability and excellent heat resistance can be realized.

Figure 2013149870
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表3及び表4から分かるように、比較例に係る多層フレキシブル配線板においては、接着性樹脂硬化物のアルカリ溶解速度、溶剤残存量、ガラス転移温度の少なくともいずれかが所定範囲外となることから、耐折性、絶縁信頼性、耐熱性の少なくともいずれかが劣っていることが分かる。   As can be seen from Table 3 and Table 4, in the multilayer flexible wiring board according to the comparative example, at least one of the alkali dissolution rate, the residual solvent amount, and the glass transition temperature of the cured adhesive resin is outside the predetermined range. It can be seen that at least one of folding resistance, insulation reliability, and heat resistance is inferior.

本発明は、耐折性、絶縁信頼性、及び耐熱性に優れた多層フレキシブル配線板を実現できるという効果を有し、特に、携帯電話端末機などに用いられるリジッドフレキシブル配線板用の多層フレキシブル配線板として好適に用いることができる。また、ビア形成コストを低減でき、生産効率に優れる多層フレキシブル配線板の製造方法を実現できる。   INDUSTRIAL APPLICABILITY The present invention has an effect that a multilayer flexible wiring board excellent in folding resistance, insulation reliability, and heat resistance can be realized, and in particular, a multilayer flexible wiring for a rigid flexible wiring board used for a mobile phone terminal or the like. It can be suitably used as a plate. Moreover, the manufacturing method of the multilayer flexible wiring board which can reduce via formation cost and is excellent in production efficiency is realizable.

1 多層フレキシブル配線板
10a リジッド部
10b フレキシブル部
11 接着性樹脂硬化物層
12a,12b 内部導電層
13 接着性樹脂硬化物
13’ 未硬化接着性樹脂
13a,13b 接着性樹脂硬化物層
13a’,13b’ 未硬化接着性樹脂層
14a,14b 外部導電層
15 カバーコート
16 貫通ビアホール
16a,17a 導電性粒子層
16b,17b めっき
17 ブラインドビアホール
18 ドライフィルム
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Multilayer flexible wiring board 10a Rigid part 10b Flexible part 11 Adhesive resin cured material layer 12a, 12b Internal conductive layer 13 Adhesive resin cured material 13 'Uncured adhesive resin 13a, 13b Adhesive resin cured material layer 13a', 13b 'Uncured adhesive resin layer 14a, 14b External conductive layer 15 Cover coat 16 Through-via hole 16a, 17a Conductive particle layer 16b, 17b Plating 17 Blind via hole 18 Dry film

Claims (14)

少なくとも2層の導電層を備えた両面フレキシブル基板からなるコア基板を用いた多層フレキシブル配線板であって、前記導電層上に接着性樹脂硬化物を含む接着性樹脂硬化物層を介して外部導電層が積層してあり、前記接着性樹脂硬化物層に設けられたブラインドビアホールを介して前記コア基板の導電層と前記外部導電層とが電気的に接続されており、前記接着性樹脂硬化物は、アルカリ溶解速度が0.0001μm/sec以上、0.01μm/sec以下であり、残存溶剤量が0.5質量%以下であり、ガラス転移温度(Tg)が125℃以下であることを特徴とする多層フレキシブル配線板。   A multilayer flexible wiring board using a core substrate composed of a double-sided flexible substrate having at least two conductive layers, wherein external conductive material is passed through an adhesive resin cured material layer containing an adhesive resin cured material on the conductive layer. Layers are laminated, and the conductive layer of the core substrate and the external conductive layer are electrically connected via a blind via hole provided in the cured adhesive resin layer, and the cured adhesive resin product Has an alkali dissolution rate of 0.0001 μm / sec or more and 0.01 μm / sec or less, a residual solvent amount of 0.5 mass% or less, and a glass transition temperature (Tg) of 125 ° C. or less. A multilayer flexible wiring board. コア基板が貫通ビアホールを有しており、前記貫通ビアホールが、前記接着性樹脂硬化物によって充填されていることを特徴とする請求項1記載の多層フレキシブル配線板。   The multilayer flexible wiring board according to claim 1, wherein the core substrate has through via holes, and the through via holes are filled with the cured adhesive resin. 前記接着性樹脂硬化物は、熱機械分析(条件:荷重0.5μN/(μm・μm)、窒素気流下、昇温速度10℃/min)にて、30℃から160℃までの伸度が破断することなく50%以下であって、30℃から180℃までの最大熱膨張係数が5000ppm以上であることを特徴とする請求項1又は請求項2記載の多層フレキシブル配線板。   The cured adhesive resin has an elongation from 30 ° C. to 160 ° C. by thermomechanical analysis (conditions: load 0.5 μN / (μm · μm), nitrogen flow, temperature increase rate 10 ° C./min). 3. The multilayer flexible wiring board according to claim 1, wherein the multilayer flexible wiring board is 50% or less without breaking and has a maximum coefficient of thermal expansion from 30 ° C. to 180 ° C. of 5000 ppm or more. 前記ブラインドビアホールの内壁に導電性粒子層を有することを特徴とする請求項1から請求項3のいずれかに記載の多層フレキシブル配線板。   The multilayer flexible wiring board according to any one of claims 1 to 3, further comprising a conductive particle layer on an inner wall of the blind via hole. 前記接着性樹脂硬化物が、(A)水酸基を有する水酸基含有樹脂と、(B)前記水酸基と反応する反応性化合物と、の反応物を含むことを特徴とする請求項1から請求項4のいずれかに記載の多層フレキシブル配線板。   The adhesive resin cured product contains a reaction product of (A) a hydroxyl group-containing resin having a hydroxyl group and (B) a reactive compound that reacts with the hydroxyl group. The multilayer flexible wiring board in any one. 前記反応物が、アミド構造及びエーテル構造を有することを特徴とする請求項5記載の多層フレキシブル配線板。   6. The multilayer flexible wiring board according to claim 5, wherein the reactant has an amide structure and an ether structure. 前記水酸基含有樹脂の前記水酸基が、フェノール性水酸基であることを特徴とする請求項5記載の多層フレキシブル配線板。   6. The multilayer flexible wiring board according to claim 5, wherein the hydroxyl group of the hydroxyl group-containing resin is a phenolic hydroxyl group. 前記水酸基含有樹脂が、アルカリ可溶性ポリイミドであることを特徴とする請求項5から請求項7のいずれかに記載の多層フレキシブル配線板。   The multilayer flexible wiring board according to claim 5, wherein the hydroxyl group-containing resin is an alkali-soluble polyimide. 前記反応性化合物が、オキサゾリン化合物であることを特徴とする請求項5から請求項8のいずれかに記載の多層フレキシブル配線板。   The multilayer flexible wiring board according to any one of claims 5 to 8, wherein the reactive compound is an oxazoline compound. 前記水酸基含有樹脂が、下記一般式(1)〜(3)で表される構造を有するポリイミドであり、前記反応性化合物が、オキサゾリン化合物であることを特徴とする請求項5から請求項9のいずれかに記載の多層フレキシブル配線板。
Figure 2013149870
Figure 2013149870
Figure 2013149870
The hydroxyl group-containing resin is a polyimide having a structure represented by the following general formulas (1) to (3), and the reactive compound is an oxazoline compound. The multilayer flexible wiring board in any one.
Figure 2013149870
Figure 2013149870
Figure 2013149870
前記水酸基含有樹脂が、下記一般式(4)及び下記一般式(5)で表される構造を有するポリイミドであり、前記反応性化合物が。オキサゾリン化合物であることを特徴とする請求項5から請求項9のいずれかに記載の多層フレキシブル配線板。
Figure 2013149870
Figure 2013149870
The hydroxyl group-containing resin is a polyimide having a structure represented by the following general formula (4) and the following general formula (5), and the reactive compound. The multilayer flexible wiring board according to any one of claims 5 to 9, wherein the multilayer flexible wiring board is an oxazoline compound.
Figure 2013149870
Figure 2013149870
請求項1から請求項11のいずれかに記載の多層フレキシブル配線板の製造方法であって、コア基板の導電層上に未硬化接着性樹脂を介して外部導電層を設ける工程と、前記外部導電層にコンフォーマルマスクを形成する工程と、前記コンフォーマルマスクを介して前記未硬化接着性樹脂をアルカリ溶液で溶解除去してビアヒールを形成する工程と、前記未硬化接着性樹脂を加熱硬化させる工程と、前記ビアホール内にめっきを施して前記コア基板の導電層と前記外部導電層とを電気的に接続する工程と、前記外部導電層に配線回路を形成する工程と、を有することを特徴とする多層フレキシブル配線板の製造方法。   A method for manufacturing a multilayer flexible wiring board according to any one of claims 1 to 11, wherein an external conductive layer is provided on a conductive layer of a core substrate via an uncured adhesive resin, and the external conductive layer is formed. Forming a conformal mask on the layer, forming a via heel by dissolving and removing the uncured adhesive resin with an alkaline solution through the conformal mask, and heating and curing the uncured adhesive resin And a step of plating the via hole to electrically connect the conductive layer of the core substrate and the external conductive layer, and a step of forming a wiring circuit in the external conductive layer. A method for manufacturing a multilayer flexible wiring board. 前記外部導電層を設ける工程において、補強材を含有するラバー基材を前記外部導電層の主面に当てた状態で、前記外部導電層を加熱及び加圧して前記コア基板の導電層上に前記未硬化接着性樹脂を介して前記外部導電層を設けることを特徴とする請求項12記載の多層フレキシブル配線板の製造方法。   In the step of providing the external conductive layer, in a state where a rubber base material containing a reinforcing material is applied to the main surface of the external conductive layer, the external conductive layer is heated and pressed to form the core on the conductive layer of the core substrate. The method for producing a multilayer flexible wiring board according to claim 12, wherein the external conductive layer is provided via an uncured adhesive resin. 前記未硬化接着性樹脂は、熱重量分析による260℃における熱重量減少が0.5%以下であり、50℃の3質量%NaOH水溶液に対するアルカリ溶解速度が0.3μm/sec以上であることを特徴とする請求項12又は請求項13に記載の多層フレキシブル配線板の製造方法。   The uncured adhesive resin has a thermogravimetric decrease at 260 ° C. of 0.5% or less by thermogravimetric analysis, and an alkali dissolution rate in a 3 mass% NaOH aqueous solution at 50 ° C. of 0.3 μm / sec or more. The method for producing a multilayer flexible wiring board according to claim 12 or 13,
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