JP6161293B2 - Manufacturing method of flexible wiring board - Google Patents

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Description

本発明は、フレキシブル配線板の製造方法に関する。   The present invention relates to a method for manufacturing a flexible wiring board.

近年、携帯電話端末機等の分野では、部品実装密度向上のため、配線回路のファイン化や、多層化(両面、又は多層)が求められており、両面フレキシブル配線板や多層フレキシブル配線板の比率が増大している。両面フレキシブル配線板や多層フレキシブル配線板は、層間接続にビアホール(めっき穴)が用いられ、このビアホールに銅めっきを施すことにより、複数の導電層が電気的に接続されている。   In recent years, in the field of mobile phone terminals and the like, in order to improve component mounting density, finer wiring circuits and multilayers (both sides or multilayers) have been demanded. Ratio of double-sided flexible wiring boards and multilayer flexible wiring boards Has increased. The double-sided flexible wiring board and the multilayer flexible wiring board use via holes (plating holes) for interlayer connection, and a plurality of conductive layers are electrically connected by performing copper plating on the via holes.

従来、アルカリ可溶接着性樹脂を含む樹脂層をアルカリ溶液により溶解除去することでビアホールを形成し、このビアホールに銅めっきを施して複数の導電層を電気的に接続する多層フレキシブル配線板の製造方法が提案されている(例えば、特許文献1参照)。この多層フレキシブル配線板の製造方法によれば、穴開け加工設備であるドリル加工機やレーザー加工機等によりビアホールを形成する場合と比較して、製造工程を簡略化すると共に、連続生産に対応することができ、製造コストの低減や生産性の向上を実現できる。   Conventionally, manufacturing a multilayer flexible wiring board that forms a via hole by dissolving and removing a resin layer containing an alkali-soluble adhesive resin with an alkaline solution, and electrically connecting a plurality of conductive layers by copper plating on the via hole A method has been proposed (see, for example, Patent Document 1). According to this multilayer flexible wiring board manufacturing method, the manufacturing process can be simplified and continuous production can be achieved as compared with the case of forming a via hole by a drilling machine or a laser processing machine that is a drilling facility. It is possible to reduce the manufacturing cost and improve the productivity.

特開2012−169346号公報JP 2012-169346 A

しかしながら、上述のような従来の多層フレキシブル配線板の製造方法においては、更なる高密度化の要求においてビアホールの小径化とそれに伴う生産性の安定化が望まれる。また、アルカリ溶液を用いた溶解除去では、ビアホール内部において、樹脂層が、深さ方向だけでなく側面方向に向かっても溶解される。これを、ビアホールのサイドエッチングと呼ぶ。このサイドエッチングが大きいと、銅めっきが十分被覆されずに層間接続の信頼性が低下することがあり得る。   However, in the conventional method for manufacturing a multilayer flexible wiring board as described above, it is desired to reduce the diameter of the via hole and to stabilize the productivity accompanying the demand for further higher density. Further, in the dissolution removal using an alkaline solution, the resin layer is dissolved not only in the depth direction but also in the side surface direction inside the via hole. This is called side etching of the via hole. If this side etching is large, the copper plating may not be sufficiently covered, and the reliability of interlayer connection may be reduced.

本発明は、上記説明した問題点に鑑みてなされたものであり、ビアホールが小径であっても生産性が良好で、且つ、層間接続の信頼性に優れたフレキシブル配線板の製造方法を提供することを目的とする。   The present invention has been made in view of the above-described problems, and provides a method for manufacturing a flexible wiring board that has good productivity even when the via hole has a small diameter and that has excellent interlayer connection reliability. For the purpose.

本発明者は、上記課題を解決するために鋭意研究を重ねた結果、アルカリ可溶性を有する未硬化接着性樹脂層のアルカリ溶液を用いたエッチングに、所定の条件でスプレー噴射処理を行い、その後、所定の条件でスプレーによる水洗処理を行うことにより、スミアの発生を抑制し、且つ、ビアホールのサイドエッチングを抑制できることを見出し、この知見に基づいて本発明をなすに至った。すなわち、本発明は、以下の通りである。   As a result of intensive studies to solve the above-mentioned problems, the inventor performs spray injection treatment under predetermined conditions for etching using an alkali solution of an uncured adhesive resin layer having alkali solubility, and then It has been found that by performing the water washing treatment by spraying under a predetermined condition, it is possible to suppress the occurrence of smear and to suppress the side etching of the via hole, and the present invention has been made based on this finding. That is, the present invention is as follows.

本発明のフレキシブル配線板の製造方法は、第1の導電層の表面上にアルカリ可溶性を有する未硬化接着性樹脂層を設ける工程と、前記未硬化接着性樹脂層の表面上に第2の導電層を設ける工程と、前記第2の導電層の一部を除去してコンフォーマルマスクを形成する工程と、前記コンフォーマルマスクの開口部内に露出する前記未硬化接着性樹脂層を、アルカリ溶液を用いたエッチングにより除去して前記第1の導電層に達するビアホールを形成する工程と、を具備し、前記エッチングは、前記未硬化接着性樹脂層を除去するまでの所要時間の0.1倍〜0.6倍に当たる処理時間で、前記アルカリ溶液を前記第2の導電層側からスプレーで噴射し、その後、スプレーにより水圧0.10MPa以上1.0MPa以下で前記第2の導電層側から水洗することにより行うことを特徴とする。   The method for producing a flexible wiring board of the present invention includes a step of providing an uncured adhesive resin layer having alkali solubility on the surface of the first conductive layer, and a second conductive material on the surface of the uncured adhesive resin layer. A step of forming a layer, a step of forming a conformal mask by removing a part of the second conductive layer, and an uncured adhesive resin layer exposed in the opening of the conformal mask by using an alkaline solution. And a step of forming via holes reaching the first conductive layer by etching used, and the etching takes 0.1 times to a time required to remove the uncured adhesive resin layer The alkali solution is sprayed from the second conductive layer side by a spray at a treatment time corresponding to 0.6 times, and then the second conductive layer side at a water pressure of 0.10 MPa to 1.0 MPa by spraying. And performing by al rinsing.

この構成により、(a)ビアホール形成に伴うスミアの発生を抑制できるのでデスミア処理を省略でき、ビアホール形成コストを大幅に削減できる。また、(b)ビアホールのサイドエッチングを抑制できるため、小径のビアホールを安定的に形成することができるので、配線回路のファインパターン化や層間接続の信頼性に優れたフレキシブル配線板を製造することが可能となる。   With this configuration, (a) the occurrence of smear associated with via hole formation can be suppressed, so desmear processing can be omitted, and the cost for forming via holes can be greatly reduced. In addition, (b) since the side etching of the via hole can be suppressed, a small-diameter via hole can be stably formed, and therefore, a flexible wiring board excellent in the fine patterning of the wiring circuit and the reliability of interlayer connection is manufactured. Is possible.

本発明のフレキシブル配線板の製造方法において、前記第1の導電層が、少なくとも一層の導電層を備えたコア基板の表面に設けられた導電層であることが好ましい。   In the method for manufacturing a flexible wiring board according to the present invention, the first conductive layer is preferably a conductive layer provided on a surface of a core substrate having at least one conductive layer.

また、本発明のフレキシブル配線板の製造方法において、加熱により前記未硬化接着性樹脂層を硬化して絶縁樹脂層を得る工程と、前記ビアホールの内部を含む前記第2の導電層の表面にめっきを施して、前記第1の導電層及び前記第2の導電層を電気的に接続する工程と、さらに具備することが好ましい。   Further, in the method for manufacturing a flexible wiring board of the present invention, the step of curing the uncured adhesive resin layer by heating to obtain an insulating resin layer, and plating on the surface of the second conductive layer including the inside of the via hole It is preferable to further comprise a step of electrically connecting the first conductive layer and the second conductive layer.

また、本発明のフレキシブル配線板の製造方法において、前記第2の導電層に前記コンフォーマルマスクを形成するのと同時に、前記第2の導電層の所定の部位を除去し、前記エッチングにより、前記ビアホールを形成するのと同時に、前記所定の部位に露出する前記未硬化接着性樹脂層を同時に除去することが好ましい。   Further, in the method for manufacturing a flexible wiring board according to the present invention, at the same time as forming the conformal mask on the second conductive layer, a predetermined portion of the second conductive layer is removed, It is preferable to simultaneously remove the uncured adhesive resin layer exposed at the predetermined portion simultaneously with the formation of the via hole.

本発明のフレキシブル配線板の製造方法において、前記アルカリ溶液のスプレー噴射において、液圧が0.15MPa以上0.3MPa以下であることが好ましい。   In the method for producing a flexible wiring board of the present invention, it is preferable that the liquid pressure is 0.15 MPa or more and 0.3 MPa or less in the spray injection of the alkaline solution.

本発明のフレキシブル配線板の製造方法において、前記スプレーによる水洗を60秒〜120秒間行うことが好ましい。   In the method for producing a flexible wiring board of the present invention, it is preferable that the washing with water is performed for 60 seconds to 120 seconds.

本発明のフレキシブル配線板の製造方法において、前記アルカリ溶液のスプレー噴射において、有効処理面内の流量分布が液量比率で有効処理面の中央に比べたバラツキが±20%以内であることが好ましい。   In the method for producing a flexible wiring board according to the present invention, in the spraying of the alkaline solution, the flow rate distribution in the effective processing surface is preferably within ± 20% of the liquid amount ratio compared to the center of the effective processing surface. .

本発明のフレキシブル配線板の製造方法において、前記未硬化接着性樹脂層は、分子鎖中にカルボキシル基又はフェノール性水酸基を有するアルカリ可溶性樹脂を含有することが好ましい。   In the method for producing a flexible wiring board of the present invention, the uncured adhesive resin layer preferably contains an alkali-soluble resin having a carboxyl group or a phenolic hydroxyl group in the molecular chain.

本発明のフレキシブル配線板の製造方法において、前記アルカリ可溶性樹脂が、少なくともフェノール性水酸基及びポリイミド構造を有することが好ましい。   In the method for producing a flexible wiring board of the present invention, it is preferable that the alkali-soluble resin has at least a phenolic hydroxyl group and a polyimide structure.

本発明のフレキシブル配線板の製造方法において、前記未硬化接着性樹脂層が、(a)下記一般式(1)及び(2)で表される構造を含有するポリイミドと、(b)2以上のオキサゾリン基を有するオキサゾリン化合物と、を含有することが好ましい。   In the method for producing a flexible wiring board of the present invention, the uncured adhesive resin layer comprises (a) a polyimide containing a structure represented by the following general formulas (1) and (2), and (b) 2 or more. And an oxazoline compound having an oxazoline group.

Figure 0006161293
(一般式(1)中、Xは単結合、−O−、−SO−、−C(=O)−又はシリコーン含有基を表す。)
Figure 0006161293
(In the general formula (1), X represents a single bond, —O—, —SO 2 —, —C (═O) — or a silicone-containing group.)

Figure 0006161293
(一般式(2)中、Zは単結合又は−C(−CF−を表し、lは1から4の整数を表す。)
Figure 0006161293
(In General Formula (2), Z represents a single bond or —C (—CF 3 ) 2 —, and 1 represents an integer of 1 to 4.)

本発明のフレキシブル配線板の製造方法において、前記未硬化接着性樹脂層が難燃剤を含有することが好ましい。   In the method for producing a flexible wiring board of the present invention, the uncured adhesive resin layer preferably contains a flame retardant.

本発明のフレキシブル配線板の製造方法において、前記未硬化接着性樹脂層が密着材を含有することが好ましい。   In the method for producing a flexible wiring board of the present invention, it is preferable that the uncured adhesive resin layer contains an adhesive.

本発明によれば、ビアホールが小径であっても生産性が良好で、且つ、層間接続の信頼性に優れたフレキシブル配線板の製造方法を提供することができる。   ADVANTAGE OF THE INVENTION According to this invention, even if a via hole is small diameter, productivity is favorable and the manufacturing method of the flexible wiring board excellent in the reliability of interlayer connection can be provided.

第1の実施の形態に係るフレキシブル配線板の製造方法の各工程を示す断面概略図である。It is a cross-sectional schematic diagram which shows each process of the manufacturing method of the flexible wiring board which concerns on 1st Embodiment. 第1の実施の形態に係るフレキシブル配線板の製造方法の各工程を示す断面概略図である。It is a cross-sectional schematic diagram which shows each process of the manufacturing method of the flexible wiring board which concerns on 1st Embodiment. 第2の実施の形態に係るフレキシブル配線板の製造方法の各工程を示す断面概略図である。It is a cross-sectional schematic diagram which shows each process of the manufacturing method of the flexible wiring board which concerns on 2nd Embodiment.

以下、本発明の一実施の形態(以下、「実施の形態」と略記する。)について、詳細に説明する。なお、本発明は、以下の実施の形態に限定されるものではなく、その要旨の範囲内で種々変形して実施することができる。   Hereinafter, an embodiment of the present invention (hereinafter abbreviated as “embodiment”) will be described in detail. In addition, this invention is not limited to the following embodiment, It can implement by changing variously within the range of the summary.

本実施の形態に係るフレキシブル配線板の製造方法は、第1の導電層の表面上にアルカリ可溶性を有する未硬化接着性樹脂層を設ける工程と、前記未硬化接着性樹脂層の表面上に第2の導電層を設ける工程と、前記第2の導電層の一部を除去してコンフォーマルマスクを形成する工程と、前記コンフォーマルマスクの開口部内に露出する前記未硬化接着性樹脂層を、アルカリ溶液を用いたエッチングにより除去して前記第1の導電層に達するビアホールを形成する工程と、を具備し、前記エッチングは、前記未硬化接着性樹脂層を除去するまでの所要時間の0.1倍〜0.6倍に当たる処理時間で、前記アルカリ溶液を前記第2の導電層側からスプレーで噴射し、その後、スプレーにより水圧0.10MPa以上1.0MPa以下で前記第2の導電層側から水洗することにより行うことを特徴とする。   The method for manufacturing a flexible wiring board according to the present embodiment includes a step of providing an uncured adhesive resin layer having alkali solubility on the surface of the first conductive layer, and a step of forming on the surface of the uncured adhesive resin layer. A step of providing a conductive layer, a step of forming a conformal mask by removing a part of the second conductive layer, and the uncured adhesive resin layer exposed in the opening of the conformal mask, And a step of forming a via hole that reaches the first conductive layer by etching using an alkaline solution, and the etching is performed at a time required to remove the uncured adhesive resin layer by 0. The alkaline solution is sprayed from the second conductive layer side by a spray at a treatment time corresponding to 1 to 0.6 times, and then the second pressure is sprayed at a water pressure of 0.10 MPa to 1.0 MPa. And performing by washing from the conductive layer side.

本実施の形態に係るフレキシブル基板の製造方法において、フレキシブル配線板とは、少なくとも2層の導電層を具備し、導電層の間に層間絶縁層を配置したものであり、層間絶縁層を貫通するビアホールを形成し、ビアホールの内部をめっき処理して電気的な導通を可能とし、層間接続したものである。ここで、ビアホールは、貫通ビア又はブラインドビアのいずれであっても良い。   In the method for manufacturing a flexible substrate according to the present embodiment, the flexible wiring board includes at least two conductive layers, an interlayer insulating layer is disposed between the conductive layers, and penetrates the interlayer insulating layer. A via hole is formed, and the inside of the via hole is subjected to a plating process to enable electrical conduction and interlayer connection. Here, the via hole may be either a through via or a blind via.

本実施の形態に係るフレキシブル配線板の製造方法では、まず、第1の導電層の表面上にアルカリ可溶性を有する未硬化接着性樹脂層を設ける。第1の導電層は、例えば、銅箔のような金属箔で構成される。   In the method for manufacturing a flexible wiring board according to the present embodiment, first, an uncured adhesive resin layer having alkali solubility is provided on the surface of the first conductive layer. The first conductive layer is made of a metal foil such as a copper foil, for example.

また、第1の導電層は、コア基板の表面上に既に形成された導電層であっても良い。コア基板とは、少なくとも一層の導電層を有する基板であり、例えば、層間絶縁層の片面又は両面に導電層を設けた単層フレキシブル配線板や、導電層及び層間絶縁層を交互に積層した多層フレキシブル配線板である。   Further, the first conductive layer may be a conductive layer already formed on the surface of the core substrate. The core substrate is a substrate having at least one conductive layer, for example, a single-layer flexible wiring board in which a conductive layer is provided on one or both sides of an interlayer insulating layer, or a multilayer in which conductive layers and interlayer insulating layers are alternately stacked. It is a flexible wiring board.

コア基板の表面に設けられた第1の導電層は、回路形成のためにパターニングされていても良い。   The first conductive layer provided on the surface of the core substrate may be patterned for circuit formation.

アルカリ可溶性を有する未硬化接着性樹脂層は、未硬化状態では、第1の導電層及び第2の導電層を構成する金属箔との接着性を有すると共に、ビアホール形成のためにアルカリ可溶性を有する。また、硬化状態では、第1の導電層及び第2の導電層の間を絶縁する層間絶縁層として機能するため絶縁性を有すると共に、フレキシブル配線板に可僥性を与えるための弾力性を有する。未硬化接着性樹脂層を構成する樹脂組成物の詳細については後述する。   The uncured adhesive resin layer having alkali solubility has adhesiveness to the metal foil constituting the first conductive layer and the second conductive layer in the uncured state, and has alkali solubility for forming a via hole. . Further, in the cured state, it functions as an interlayer insulating layer that insulates between the first conductive layer and the second conductive layer, and has an insulating property, and also has a resiliency for imparting flexibility to the flexible wiring board. . Details of the resin composition constituting the uncured adhesive resin layer will be described later.

未硬化接着性樹脂層は、例えば、樹脂組成物を有機溶媒に溶解し、第1の導電層を含むコア基板の表面上に塗布、乾燥して形成することができる。また、樹脂組成物をフィルム状に成膜し、第1の導電層としての金属箔にラミネートしても良い。   The uncured adhesive resin layer can be formed, for example, by dissolving the resin composition in an organic solvent, and applying and drying on the surface of the core substrate including the first conductive layer. Alternatively, the resin composition may be formed into a film and laminated on a metal foil as the first conductive layer.

次に、未硬化接着性樹脂層の表面上に第2の導電層を設ける。第2の導電層は、例えば、銅箔のような金属箔であり、未硬化接着性樹脂層の第1の導電層側とは反対側の表面に金属箔を貼り付けることにより、第2の導電層を設けることができる。   Next, a second conductive layer is provided on the surface of the uncured adhesive resin layer. The second conductive layer is, for example, a metal foil such as a copper foil, and the second conductive layer is bonded to the surface of the uncured adhesive resin layer on the side opposite to the first conductive layer side. A conductive layer can be provided.

次に、第2の導電層の一部を除去し、未硬化接着性樹脂層の一部を露出させ、ビアホールに対応する開口部を有するコンフォールマスクを形成する。第2の導電層の除去は、例えば、第2の導電層上にレジストマスクを形成し、これを介して第2の導電層をエッチングすることにより行うことができる。   Next, a part of the second conductive layer is removed, a part of the uncured adhesive resin layer is exposed, and a comfort mask having an opening corresponding to the via hole is formed. The removal of the second conductive layer can be performed, for example, by forming a resist mask on the second conductive layer and etching the second conductive layer through the resist mask.

次に、コンフォーマルマスクを介して、その開口部内に露出する未硬化接着性樹脂層を、アルカリ溶液を用いたエッチングにより除去し、ビアホールを形成する。   Next, via the conformal mask, the uncured adhesive resin layer exposed in the opening is removed by etching using an alkaline solution to form a via hole.

アルカリ溶液を用いたエッチングは、(1)未硬化接着性樹脂層を除去するまでの所要時間の0.1倍〜0.6倍に当たる処理時間で行うこと、(2)アルカリ溶液を第2の導電層側からスプレーで噴射すること、及び、(3)アルカリ溶液のスプレー噴射に続いて、スプレーにより水圧0.10MPa以上1.0MPa以下で第2の導電層側から水洗すること、により行われる。   Etching using an alkaline solution is performed in (1) a processing time corresponding to 0.1 to 0.6 times the time required to remove the uncured adhesive resin layer, and (2) the alkaline solution is subjected to the second treatment. Spraying from the conductive layer side, and (3) spraying the alkaline solution followed by washing with water from the second conductive layer side at a water pressure of 0.10 MPa to 1.0 MPa by spraying. .

ここで使用するアルカリ溶液は、未硬化接着性樹脂層に含まれるアルカリ可溶性樹脂を溶解できるものであれば特に限定されない。このようなアルカリ溶液として、炭酸ナトリウム水溶液、炭酸カリウム水溶液、水酸化ナトリウム水溶液、水酸化カリウム水溶液、テトラメチルアンモニウムヒドロキシド水溶液等が挙げられる。これらのうち、一般的なフレキシブル配線板の製造工程で用いられている炭酸ナトリウム水溶液、水酸化ナトリウム水溶液等を用いることが好ましい。   The alkali solution used here is not particularly limited as long as it can dissolve the alkali-soluble resin contained in the uncured adhesive resin layer. Examples of such an alkaline solution include a sodium carbonate aqueous solution, a potassium carbonate aqueous solution, a sodium hydroxide aqueous solution, a potassium hydroxide aqueous solution, and a tetramethylammonium hydroxide aqueous solution. Among these, it is preferable to use sodium carbonate aqueous solution, sodium hydroxide aqueous solution, etc. which are used in the manufacturing process of a general flexible wiring board.

また、アルカリ溶液のスプレー噴射には、例えば、スプレーノズルを有する市販のエッチング装置、現像装置又は剥離装置(以下、アルカリ溶液現像装置と呼ぶ)を用いることができる。有効処理面内に一定量以上の噴射量のアルカリ溶液を噴射する。有効処理面とは、一定時間に噴射されるアルカリ溶液のスプレーパターン及び流量分布が均一な面のことを言う。   For spraying the alkaline solution, for example, a commercially available etching device, developing device or peeling device (hereinafter referred to as an alkaline solution developing device) having a spray nozzle can be used. An alkali solution having an injection amount of a certain amount or more is injected into the effective treatment surface. The effective treatment surface refers to a surface having a uniform spray pattern and flow rate distribution of the alkaline solution sprayed for a predetermined time.

アルカリ溶液現像装置は、特に限定されないが、有効処理面内でのアルカリ溶液の噴射量のバランスが取れており、液だまりや滞留を低減できることが好ましい。好適なアルカリ溶液現像装置として、オシレーション機能を有する装置が挙げられる。   The alkaline solution developing device is not particularly limited, but it is preferable that the injection amount of the alkaline solution within the effective processing surface is balanced, and that liquid pool and retention can be reduced. As a suitable alkaline solution developing apparatus, an apparatus having an oscillation function can be mentioned.

スプレー噴射時には、アルカリ溶液の液だまりや滞留を生じさせないように、恒温漕において温度調節されたアルカリ溶液を連続して噴射し、アルカリ溶液を恒温槽に戻し、循環させることによりことが、有効処理面内のアルカリ溶液が常に更新され、ビアホールのサイドエッチングを低減する観点から好ましい。サイドエッチングとは、導電層に形成されたコンフォーマルマスク径よりも未硬化接着性樹脂層内部方向にエッチング部が拡大していくことであり、このサイドエッチング量を大きくなるとこの後のめっきの被覆性が悪くなり、第1導電層と第2導電層との接続信頼性が悪化させる要因となり得る。   In spray spraying, the alkaline solution is continuously sprayed with a temperature-controlled alkali solution in order to prevent the accumulation and retention of the alkali solution, and the alkali solution is returned to the thermostat and circulated. The in-plane alkaline solution is always renewed, which is preferable from the viewpoint of reducing side etching of via holes. Side etching is the expansion of the etched part toward the inside of the uncured adhesive resin layer rather than the diameter of the conformal mask formed in the conductive layer. And the connection reliability between the first conductive layer and the second conductive layer may deteriorate.

また、サイドエッチングを抑制し、且つ、ビアホールの側壁や底部のスミア、即ち、未硬化接着性樹脂層の残渣を除去する観点から、噴射量が0.2L/分以上の打圧でスプレーすることが好ましい。このために、アルカリ溶液現像装置においては、スプレーノズルが高密度に配置されていることが好ましい。   Also, from the viewpoint of suppressing side etching and removing smear on the side wall and bottom of the via hole, that is, removing the residue of the uncured adhesive resin layer, spraying is performed with a pressure of 0.2 L / min or more. Is preferred. For this reason, in the alkaline solution developing device, it is preferable that the spray nozzles are arranged at high density.

スプレーノズルには、スリット形状のものが、スプレー噴射のインパクトが増大し、且つ、噴射液滴が小粒径化することにより、アルカリ溶液がビアホールの内部に入り込み易くなり、サイドエッチングを抑制する観点から好ましい。   A spray nozzle with a slit shape increases the impact of spray injection, and the droplet size of the spray droplets is reduced, so that the alkaline solution can easily enter the via hole and suppress side etching. To preferred.

スリット形状の場合、噴射量が低下するため、液圧は0.15MPa以上であることが好ましい。ビアホールのサイドエッチング抑制やスミア除去の観点から、液圧は0.2MPa以上であることがより好ましい。   In the case of the slit shape, the liquid pressure is preferably 0.15 MPa or more because the injection amount decreases. From the viewpoint of suppressing side etching of via holes and removing smear, the liquid pressure is more preferably 0.2 MPa or more.

また、アルカリ溶液の噴射流量の面内バランスに関しては、アルカリ溶液が噴射される有効処理面内でのエッチング速度を均一にするため、液量比率で有効処理面の中央に比べたバラツキが±20%以内であることが好ましく、形成されるブラインドビアの形成バラツキを抑制する観点から、±10%以内であることがより好ましい。スリット形状のスプレーノズルを使用する場合、そのスプレーパターンは扇形のため、面内バランスと滞留防止の観点から、アルカリ溶液現像装置はオシレーション機能を有することが特に好ましい。   Further, regarding the in-plane balance of the injection flow rate of the alkali solution, in order to make the etching rate uniform in the effective treatment surface where the alkali solution is injected, the variation in the liquid amount ratio compared to the center of the effective treatment surface is ± 20. % Or less, and more preferably within ± 10% from the viewpoint of suppressing variation in the formation of the blind vias to be formed. When a slit-shaped spray nozzle is used, the spray pattern is fan-shaped, and therefore it is particularly preferable that the alkaline solution developing device has an oscillation function from the viewpoint of in-plane balance and retention prevention.

スプレー噴射の処理時間は、未硬化接着性樹脂層を除去するまでの所要時間の0.1〜0.6倍であることが、ビアホールのサイドエッチングを抑制する観点から好ましく、0.1〜0.5倍であることがより好ましい。ビアホールが逆台形形状を有し、めっき被覆性が良好となる観点から、上記比率は0.15〜0.3倍であることがさらに、好ましい。   The treatment time for spraying is preferably 0.1 to 0.6 times the time required for removing the uncured adhesive resin layer from the viewpoint of suppressing side etching of the via hole, and preferably 0.1 to 0. More preferably, it is 5 times. From the viewpoint of the via hole having an inverted trapezoidal shape and good plating coverage, the ratio is more preferably 0.15 to 0.3 times.

「未硬化接着性樹脂層を除去するまでの所要時間」とは、噴射を開始してから未硬化接着性樹脂層が完全に除去されるまでにかかる時間である。未硬化接着性樹脂層が完全に除去されたか否かは、例えば、外観検査装置を用いて確認する。   The “required time until the uncured adhesive resin layer is removed” is the time taken from the start of injection until the uncured adhesive resin layer is completely removed. Whether or not the uncured adhesive resin layer has been completely removed is confirmed using, for example, an appearance inspection apparatus.

上述のアルカリ溶液のスプレー噴射に引き続き、水洗処理を行うことが、コンフォーマルマスクを形成する第2の導電層の表面に付着するドライフィルム剥離片や樹脂残渣、及び、アルカリ溶液を洗浄除去すると共に、ビアホール内部のスミアを除去する観点から好ましい。特に小径のビアホールにおいてビアホール側壁や底部のスミアを除去し、その後のめっきの被覆性を向上させる観点から、水圧は0.10MPa以上0.3MPa以下で、30秒以上120秒以下の処理時間で水洗を行うことが好ましい。さらに、コア基板が具備する導電層からの、層間絶縁層として機能する樹脂の剥離を抑制する観点から、水圧は0.15MPa以上0.3MPa以下で、60秒以上120秒以下の処理時間で水洗することが特に好ましい。   Following the spraying of the alkaline solution described above, washing with water removes the dry film peeling pieces and resin residues adhering to the surface of the second conductive layer forming the conformal mask, and the alkaline solution. From the viewpoint of removing smear in the via hole. In particular, from the viewpoint of removing the via hole sidewall and bottom smear in the small-diameter via hole and improving the coverage of the subsequent plating, the water pressure is 0.10 MPa or more and 0.3 MPa or less, and the washing time is 30 seconds or more and 120 seconds or less. It is preferable to carry out. Further, from the viewpoint of suppressing the peeling of the resin functioning as an interlayer insulating layer from the conductive layer included in the core substrate, the water pressure is 0.15 MPa or more and 0.3 MPa or less, and the water is washed with a treatment time of 60 seconds or more and 120 seconds or less. It is particularly preferable to do this.

水洗装置はアルカリ現像装置と連続していても、分離していても構わないが、水洗処理は、アルカリ溶液によるエッチング処理から時間を置かずに実施することが好ましい。また、水洗処理は一般的にはスプレーにより行うが、有効処理面に前記条件で処理できる装置であれば特に構わない。水洗水は精製水でも市水でも良い。   Although the water washing apparatus may be continuous with the alkali developing apparatus or separated from the alkali developing apparatus, the water washing process is preferably performed without taking any time from the etching process with the alkaline solution. Moreover, although the water washing process is generally performed by spraying, it is not particularly limited as long as it is an apparatus that can process the effective processing surface under the above-described conditions. The washing water may be purified water or city water.

本実施の形態に係るフレキシブル配線板の製造方法においては、上述のビアホール形成の後に、加熱により未硬化接着性樹脂層を硬化して、絶縁樹脂層を得る。   In the method for manufacturing a flexible wiring board according to the present embodiment, after forming the above-described via hole, the uncured adhesive resin layer is cured by heating to obtain an insulating resin layer.

ここで行われる熱硬化処理は、硬化剤の反応の観点から、120℃以上400℃以下の温度で加熱硬化を行うことが好ましい。より好ましくは、加熱温度が150℃以上200℃以下である。   It is preferable that the thermosetting process performed here performs heat curing at the temperature of 120 to 400 degreeC from a viewpoint of reaction of a hardening | curing agent. More preferably, heating temperature is 150 degreeC or more and 200 degrees C or less.

加熱硬化における反応雰囲気は、空気雰囲気下でも不活性ガス雰囲気下でも実施可能である。加熱硬化に要する時間は、反応条件によって異なるが、通常は24時間以内であり、特に好ましくは1時間から8時間の範囲で実施される。   The reaction atmosphere in heat curing can be carried out in an air atmosphere or an inert gas atmosphere. Although the time required for heat curing varies depending on the reaction conditions, it is usually within 24 hours, particularly preferably in the range of 1 hour to 8 hours.

さらに、ビアホールの内部を含む第2の導電層の表面にめっきを施して第1の導電層及び第2の導電層の間で電気的に接続する。これにより、フレキシブル配線板を得ることができる。   Furthermore, the surface of the second conductive layer including the inside of the via hole is plated to electrically connect the first conductive layer and the second conductive layer. Thereby, a flexible wiring board can be obtained.

ここで行われるめっき処理は、まず一般的な無電解銅めっき処理やカーボン微粒子層を積層させた後、電解銅めっきで所定の厚みまでめっきをして形成する。   The plating process performed here is formed by first depositing a general electroless copper plating process or a carbon fine particle layer and then plating to a predetermined thickness by electrolytic copper plating.

(未硬化接着剤層)
本実施の形態において、未硬化接着性樹脂層は、基材上に塗工・乾燥して膜厚40μmで成膜した未硬化層の状態では、水酸化ナトリウム水溶液への溶解速度が0.22μm/秒以上であり、さらに160℃以上で1時間以上加熱することにより得られる樹脂硬化物層の状態では、水酸化ナトリウム水溶液への溶解速度が0.02μm/秒以下であることが好ましい。未硬化及び硬化後のアルカリ溶解速度が上記範囲内であれば、未硬化接着性樹脂層のアルカリ溶解性の制御が容易となり、フレキシブル配線板の製造工程で一般的に使用されているアルカリ溶液現像装置が使用できる。
(Uncured adhesive layer)
In the present embodiment, the uncured adhesive resin layer has a dissolution rate in an aqueous sodium hydroxide solution of 0.22 μm in the state of an uncured layer formed by coating and drying on a substrate to a film thickness of 40 μm. In the state of the cured resin layer obtained by heating at 160 ° C. or higher for 1 hour or longer, the dissolution rate in the aqueous sodium hydroxide solution is preferably 0.02 μm / second or lower. If the alkali dissolution rate after uncured and cured is within the above range, it becomes easy to control the alkali solubility of the uncured adhesive resin layer, and the alkali solution development generally used in the manufacturing process of flexible wiring boards. The device can be used.

また、上述の樹脂硬化物層の弾性率は、フレキシブル配線板の反りが小さく、且つ、柔軟性に優れ、また、ロール・ツー・ロール法での成型を可能とする観点から、0.05GPa〜3.0GPaであることが好ましく、0.05GPa〜2.0GPaであることがより好ましい。   In addition, the elastic modulus of the above-mentioned cured resin layer is such that the warp of the flexible wiring board is small and excellent in flexibility, and from the viewpoint of enabling molding by a roll-to-roll method, from 0.05 GPa to 3.0 GPa is preferable, and 0.05 GPa to 2.0 GPa is more preferable.

(樹脂組成物)
次に、本実施の形態に係るフレキシブル配線板の製造方法に用いられる樹脂組成物について説明する。樹脂組成物は、アルカリ可溶性樹脂と、熱硬化のための反応性化合物と、を含有する。その他に、難燃剤、密着材及び溶媒を含有することができる。
(Resin composition)
Next, the resin composition used for the method for manufacturing a flexible wiring board according to the present embodiment will be described. The resin composition contains an alkali-soluble resin and a reactive compound for thermosetting. In addition, a flame retardant, an adhesion material, and a solvent can be contained.

(アルカリ可溶性樹脂)
アルカリ可溶性樹脂は、アルカリ可溶性を有するために分子鎖中にカルボキシル基又はフェノール性水酸基を有する樹脂であることが好ましい。さらに好ましいのはフェノール性水酸基である。この場合には、架橋剤等との硬化時の反応性に優れるからである。
(Alkali-soluble resin)
The alkali-soluble resin is preferably a resin having a carboxyl group or a phenolic hydroxyl group in the molecular chain in order to have alkali solubility. More preferred is a phenolic hydroxyl group. In this case, it is because the reactivity at the time of hardening with a crosslinking agent etc. is excellent.

また、アルカリ可溶性樹脂としては、例えば、ノボラック樹脂、アクリル樹脂、スチレンとアクリル酸との共重合体、ヒドロキシスチレンの重合体、ポリビニルフェノール、ポリα−メチルビニルフェノール、ポリイミド系樹脂、ポリベンゾオキサゾール系樹脂、ポリビニルフェノール樹脂、レゾール樹脂、フェノール性水酸基を有するアクリル酸誘導体の共重合体、及び、フェノール性水酸基を有するポリビニルアセタール樹脂が挙げられる。これらのうち、ポリビニルフェノール樹脂、ノボラック樹脂、フェノール性水酸基を有するポリイミド樹脂が好ましい。   Examples of the alkali-soluble resin include novolak resin, acrylic resin, copolymer of styrene and acrylic acid, polymer of hydroxystyrene, polyvinylphenol, poly α-methylvinylphenol, polyimide resin, polybenzoxazole Examples thereof include resins, polyvinylphenol resins, resol resins, copolymers of acrylic acid derivatives having phenolic hydroxyl groups, and polyvinyl acetal resins having phenolic hydroxyl groups. Of these, polyvinylphenol resins, novolak resins, and polyimide resins having phenolic hydroxyl groups are preferred.

ポリビニルフェノール樹脂としては、例えば、o−ヒドロキシスチレン、m−ヒドロキシスチレン、p−ヒドロキシスチレン、ジヒドロキシスチレン、トリヒドロキシスチレン、テトラヒドロキシスチレン、ペンタヒドロキシスチレン、2−(o−ヒドロキシフェニル)プロピレン、2−(m−ヒドロキシフェニル)プロピレン、2−(p−ヒドロキシフェニル)プロピレン等のヒドロキシスチレン類の単独又は2種以上を、ラジカル重合開始剤又はカチオン重合開始剤の存在下で重合させた樹脂が挙げられる。ポリビニルフェノール樹脂としては、ゲルパーミエーションクロマトグラフィー測定によるポリスチレン換算の重量平均分子量(MW)が500〜100,000のものが好ましく、1,000〜50,000のものがより好ましい。   Examples of the polyvinylphenol resin include o-hydroxystyrene, m-hydroxystyrene, p-hydroxystyrene, dihydroxystyrene, trihydroxystyrene, tetrahydroxystyrene, pentahydroxystyrene, 2- (o-hydroxyphenyl) propylene, 2- Examples thereof include resins obtained by polymerizing hydroxystyrenes such as (m-hydroxyphenyl) propylene and 2- (p-hydroxyphenyl) propylene alone or in the presence of a radical polymerization initiator or a cationic polymerization initiator. . The polyvinyl phenol resin preferably has a polystyrene-equivalent weight average molecular weight (MW) of 500 to 100,000 as measured by gel permeation chromatography, and more preferably 1,000 to 50,000.

ノボラック樹脂としては、例えば、フェノール、o−クレゾール、m−クレゾール、p−クレゾール、2,5−キシレノール、3,5−キシレノール、o−エチルフェノール、m−エチルフェノール、p−エチルフェノール、プロピルフェノール、n−ブチルフェノール、t−ブチルフェノール、1−ナフトール、2−ナフトール、4,4’−ビフェニルジオール、ビスフェノール−A、ピロカテコール、レゾルシノール、ハイドロキノン、ピロガロール、1,2,4−ベンゼントリオール、フロログルシノール等のフェノール類の少なくとも1種を、酸触媒下、例えば、ホルムアルデヒド、アセトアルデヒド、プロピオンアルデヒド、ベンズアルデヒド、フルフラール等のアルデヒド類(尚、ホルムアルデヒドに代えてパラホルムアルデヒドを、アセトアルデヒドに代えてパラアルデヒドを、用いても良い。)、又は、アセトン、メチルエチルケトン、メチルイソブチルケトン等のケトン類、の少なくとも1種と重縮合させた樹脂が挙げられる。中でもフェノール類としてのフェノール、o−クレゾール、m−クレゾール、p−クレゾール、2,5−キシレノール、3,5−キシレノール、レゾルシノールと、アルデヒド類又はケトン類としてのホルムアルデヒド、アセトアルデヒド、プロピオンアルデヒドとの重縮合体が好ましい。特に、m−クレゾール:p−クレゾール:2,5−キシレノール:3,5−キシレノール:レゾルシノールの混合割合がモル比で40〜100:0〜50:0〜20:0〜20:0〜20の混合フェノール類、又は、フェノール:m−クレゾール:p−クレゾールの混合割合がモル比で1〜100:0〜70:0〜60の混合フェノール類と、ホルムアルデヒドとの重縮合体が好ましい。   Examples of novolak resins include phenol, o-cresol, m-cresol, p-cresol, 2,5-xylenol, 3,5-xylenol, o-ethylphenol, m-ethylphenol, p-ethylphenol, propylphenol. , N-butylphenol, t-butylphenol, 1-naphthol, 2-naphthol, 4,4′-biphenyldiol, bisphenol-A, pyrocatechol, resorcinol, hydroquinone, pyrogallol, 1,2,4-benzenetriol, phloroglucinol At least one phenol such as formaldehyde, acetaldehyde, propionaldehyde, benzaldehyde, furfural and the like (in addition to formaldehyde, paraformaldehyde) And the paraldehyde instead of acetaldehyde, may be used.), Or, acetone, methyl ethyl ketone, ketones such as methyl isobutyl ketone, and at least one and polycondensation resin obtained by the. Among them, the weight of phenol as phenols, o-cresol, m-cresol, p-cresol, 2,5-xylenol, 3,5-xylenol, resorcinol and formaldehyde, acetaldehyde, propionaldehyde as aldehydes or ketones. Condensates are preferred. In particular, the mixing ratio of m-cresol: p-cresol: 2,5-xylenol: 3,5-xylenol: resorcinol is 40 to 100: 0 to 50: 0 to 20: 0 to 20: 0 to 20 in molar ratio. A polycondensate of mixed phenols or mixed phenols of phenol: m-cresol: p-cresol with a molar ratio of 1-100: 0 to 70: 0-60 and formaldehyde is preferable.

溶融粘度を下げることで埋込み性を向上させるために、ノボラック樹脂として、分子内に4,4’−ビフェニリレン基、2,4’−ビフェニリレン基、2,2’−ビフェニリレン基及び/又は1,4−キシリレン基、1,2−キシリレン基、或いは、1,3−キシリレン基等の架橋基を含有するフェノール樹脂、及び、メチレン架橋基を含有するフェノール樹脂の重合単位を共に有するノボラック樹脂を用いることも好ましい。   In order to improve the embedding property by lowering the melt viscosity, the novolak resin has 4,4′-biphenylylene group, 2,4′-biphenylylene group, 2,2′-biphenylylene group and / or 1,4 in the molecule. Use a novolak resin having both a phenol resin containing a cross-linking group such as a xylylene group, a 1,2-xylylene group, or a 1,3-xylylene group, and a phenol resin containing a methylene cross-linking group. Is also preferable.

ノボラック樹脂は、ゲルパーミエーションクロマトグラフィー測定によるポリスチレン換算の重量平均分子量(MW)が、500〜15,000のものが好ましく、1,000〜10,000のものがさらに好ましい。   The novolak resin preferably has a polystyrene-reduced weight average molecular weight (MW) of 500 to 15,000 as measured by gel permeation chromatography, and more preferably 1,000 to 10,000.

さらに、200℃以下の加熱後に得られる硬化物層の耐熱性や柔軟性の観点より、分子中にカルボキシル基又はフェノール性水酸基を有するポリイミド又はポリイミド前駆体、或いは、分子中にカルボキシル基を有するポリベンゾオキサゾール又はポリベンゾオキサゾール前駆体が好ましい。より好ましくはフェノール性水酸基を有するポリイミドである。   Furthermore, from the viewpoint of heat resistance and flexibility of the cured layer obtained after heating at 200 ° C. or less, a polyimide or a polyimide precursor having a carboxyl group or a phenolic hydroxyl group in the molecule, or a poly having a carboxyl group in the molecule Benzoxazole or polybenzoxazole precursors are preferred. More preferred is a polyimide having a phenolic hydroxyl group.

ポリイミドは、酸二無水物とジアミンを反応させ、ポリアミド酸を合成した後に、加熱(加熱イミド化)することによって得ることができる。また、酸二無水物とジアミンを反応させ、ポリアミド酸を合成し、続いて触媒を添加した後にイミド化(化学的イミド化)させることによっても得ることができる。この中で、化学的イミド化が、より低温でイミド化を完結できる点で好ましい。   A polyimide can be obtained by reacting an acid dianhydride and a diamine to synthesize a polyamic acid and then heating (heating imidization). It can also be obtained by reacting an acid dianhydride and a diamine to synthesize a polyamic acid and subsequently imidizing (chemical imidization) after adding a catalyst. Among these, chemical imidation is preferable in that imidization can be completed at a lower temperature.

本実施の形態に係るフレキシブル配線板の製造方法に用いられるポリイミドには、下記一般式(1)及び(2)で表される構造を含むアルカリ可溶性ポリイミドが好ましい。   The polyimide used in the method for manufacturing a flexible wiring board according to the present embodiment is preferably an alkali-soluble polyimide having a structure represented by the following general formulas (1) and (2).

Figure 0006161293
(一般式(1)中、Xは単結合、−O−、−SO−、−C(=O)−又はシリコーン含有基を表す。)
Figure 0006161293
(In the general formula (1), X represents a single bond, —O—, —SO 2 —, —C (═O) — or a silicone-containing group.)

Figure 0006161293
(一般式(2)中、Zは単結合又は−C(−CF−を表し、lは1から4の整数を表す。)
Figure 0006161293
(In General Formula (2), Z represents a single bond or —C (—CF 3 ) 2 —, and 1 represents an integer of 1 to 4.)

このような構造のアルカリ可溶性ポリイミドは、例えば、下記一般式(3)で表されるテトラカルボン酸二無水物を含む酸二無水物成分と、アミノ基を取り除いた残基が上記一般式(2)で表されるジアミンを含むジアミン成分を反応させることで得られる。   The alkali-soluble polyimide having such a structure has, for example, an acid dianhydride component containing a tetracarboxylic dianhydride represented by the following general formula (3), and a residue from which an amino group is removed has the general formula (2 It is obtained by reacting a diamine component containing a diamine represented by

Figure 0006161293
(一般式(3)中、Xは単結合、−O−、−SO−、−C(=O)−又はシリコーン含有基を表す。)
Figure 0006161293
(In general formula (3), X represents a single bond, —O—, —SO 2 —, —C (═O) — or a silicone-containing group.)

上記一般式(3)で表されるテトラカルボン酸二無水物は、3,3’,4,4’−ビフェニルテトラカルボン酸二無水物、2,3,3’,4’−ビフェニルテトラカルボン酸二無水物、2,2’,3,3’−ビフェニルテトラカルボン酸二無水物、3,3’,4,4’−ベンゾフェノンテトラカルボン酸二無水物、2,2’,3,3’−ベンゾフェノンテトラカルボン酸二無水物、3,3’−オキシジフタル酸二無水物、4,4’−オキシジフタル酸二無水物、ビス(3,4−ジカルボキシフェニル)スルホン二無水物、ポリジメチルシロキサン含有酸二無水物等が挙げられる。これらのテトラカルボン酸二無水物は単独又は2種以上混合しても用いてもよい。   The tetracarboxylic dianhydride represented by the general formula (3) is 3,3 ′, 4,4′-biphenyltetracarboxylic dianhydride, 2,3,3 ′, 4′-biphenyltetracarboxylic acid. Dianhydride, 2,2 ′, 3,3′-biphenyltetracarboxylic dianhydride, 3,3 ′, 4,4′-benzophenonetetracarboxylic dianhydride, 2,2 ′, 3,3′- Benzophenone tetracarboxylic dianhydride, 3,3′-oxydiphthalic dianhydride, 4,4′-oxydiphthalic dianhydride, bis (3,4-dicarboxyphenyl) sulfone dianhydride, polydimethylsiloxane-containing acid A dianhydride etc. are mentioned. These tetracarboxylic dianhydrides may be used alone or in combination of two or more.

アミノ基を取り除いた残基が上記一般式(2)で表されるジアミンは、4,4’−ジアミノビフェニル−3,3’−ジオール、3,3’−ジアミノビフェニル−4,4’−ジオール、4,3’−ジアミノビフェニル−3,4’−ジオール、4,4’−ジアミノビフェニル−3,3’,5,5’−テトラオール、3,3’−ジアミノビフェニル−4,4’,5,5’−テトラオール、2,2’−ビス(3−アミノ−4−ヒドロキシフェニル)ヘキサフルオロプロパン、2,2’−ビス(3−アミノ−2,4−ジヒドロキシフェニル)ヘキサフルオロプロパン、2,2’−ビス(4−アミノ−3,5−ジヒドロキシフェニル)ヘキサフルオロプロパン等を挙げられる。これらのジアミンは単独あるいは2種以上混合しても用いてもよい。これらのジアミンの中で、ポリイミドの溶解性、絶縁信頼性や重合速度や入手性の観点から、4,4’−ジアミノビフェニル−3,3’−ジオール、2,2’−ビス(3−アミノ−4−ヒドロキシフェニル)ヘキサフルオロプロパンが好ましいものとして挙げられる。   The diamine in which the residue from which the amino group has been removed is represented by the above general formula (2) is 4,4′-diaminobiphenyl-3,3′-diol, 3,3′-diaminobiphenyl-4,4′-diol. 4,3′-diaminobiphenyl-3,4′-diol, 4,4′-diaminobiphenyl-3,3 ′, 5,5′-tetraol, 3,3′-diaminobiphenyl-4,4 ′, 5,5′-tetraol, 2,2′-bis (3-amino-4-hydroxyphenyl) hexafluoropropane, 2,2′-bis (3-amino-2,4-dihydroxyphenyl) hexafluoropropane, 2,2′-bis (4-amino-3,5-dihydroxyphenyl) hexafluoropropane and the like can be mentioned. These diamines may be used alone or in combination of two or more. Among these diamines, 4,4′-diaminobiphenyl-3,3′-diol and 2,2′-bis (3-amino) are considered from the viewpoints of solubility, insulation reliability, polymerization rate, and availability of polyimide. -4-Hydroxyphenyl) hexafluoropropane is preferred.

アミノ基を取り除いた残基が上記一般式(2)で表されるジアミンの含有量は、全ジアミンに対して5モル%〜30モル%であることが好ましい。より好ましくは10モル%〜25モル%である。5モル%以上であれば、アルカリ溶解性を示し、30モル%以下であれば、溶剤溶解性に優れる。   The content of the diamine in which the residue from which the amino group has been removed is represented by the general formula (2) is preferably 5 mol% to 30 mol% with respect to the total diamine. More preferably, it is 10 mol%-25 mol%. If it is 5 mol% or more, it shows alkali solubility, and if it is 30 mol% or less, it is excellent in solvent solubility.

上記一般式(3)で表されるテトラカルボン酸二無水物以外の酸二無水物成分として、本発明の目的を逸脱しない範囲で、公知のテトラカルボン酸二無水物を用いることができる。テトラカルボン酸二無水物の具体例として、芳香族テトラカルボン酸としては、ピロメリット酸二無水物、2,2−ビス(3,4−ジカルボキシフェニル)プロパン二無水物、2,2−ビス(2,3−ジカルボキシフェニル)プロパン二無水物、1,1−ビス(3,4−ジカルボキシフェニル)エタン二無水物、1,1−ビス(2,3−ジカルボキシフェニル)エタン二無水物、ビス(3,4−ジカルボキシフェニル)メタン二無水物、ビス(2,3−ジカルボキシフェニル)メタン二無水物、2,2−ビス(4−(4−アミノフェノキシ)フェニル)プロパン、1,3−ジヒドロ−1,3−ジオキソ−5−イソベンゾフランカルボン酸−1,4−フェニレンエステル、4−(2,5−ジオキソテトラヒドロフラン−3−イル)−1,2,3,4−テトラヒドロナフタレン−1,2−ジカルボン酸無水物、1,2,5,6−ナフタレンテトラカルボン酸二無水物、2,3,6,7−ナフタレンテトラカルボン酸二無水物、2,3,5,6−ピリジンテトラカルボン酸二無水物、3,4,9,10−ペリレンテトラカルボン酸二無水物、2,2−ビス(3,4−ジカルボキシフェニル)ヘキサフルオロプロパン二無水物、2,2−ビス(4−(3,4−ジカルボキシフェノキシ)フェニル)ヘキサフルオロプロパン二無水物、2,2−ビス(4−(3,4−ジカルボキシベンゾイルオキシ)フェニル)ヘキサフルオロプロパン二無水物、2,2’−ビス(トリフルオロメチル)−4,4’−ビス(3,4−ジカルボキシフェノキシ)ビフェニル二無水物等を挙げられ、脂肪族テトラカルボン酸二無水物としては、シクロブタンテトラカルボン酸二無水物、1,2,3,4−シクロペンタンテトラカルボン酸二無水物、2,3,5,6−シクロヘキサンテトラカルボン酸二無水物、5−(2,5−ジオキソテトラヒドロ−3−フラニル)−3−メチル−3−シクロヘキセン−1,2−ジカルボン酸二無水物、ビシクロ[2,2,2]オクト−7−エン−2,3,5,6テトラカルボン酸二無水物、1,2,3,4−ブタンテトラカルボン酸二無水物等が挙げられる。これらのテトラカルボン酸二無水物は単独あるいは2種以上混合しても用いてもよい。   As the acid dianhydride component other than the tetracarboxylic dianhydride represented by the general formula (3), a known tetracarboxylic dianhydride can be used without departing from the object of the present invention. Specific examples of tetracarboxylic dianhydrides include aromatic tetracarboxylic acids such as pyromellitic dianhydride, 2,2-bis (3,4-dicarboxyphenyl) propane dianhydride, and 2,2-bis. (2,3-dicarboxyphenyl) propane dianhydride, 1,1-bis (3,4-dicarboxyphenyl) ethane dianhydride, 1,1-bis (2,3-dicarboxyphenyl) ethane dianhydride Bis (3,4-dicarboxyphenyl) methane dianhydride, bis (2,3-dicarboxyphenyl) methane dianhydride, 2,2-bis (4- (4-aminophenoxy) phenyl) propane, 1,3-dihydro-1,3-dioxo-5-isobenzofurancarboxylic acid-1,4-phenylene ester, 4- (2,5-dioxotetrahydrofuran-3-yl) -1,2,3 4-tetrahydronaphthalene-1,2-dicarboxylic anhydride, 1,2,5,6-naphthalenetetracarboxylic dianhydride, 2,3,6,7-naphthalenetetracarboxylic dianhydride, 2,3, 5,6-pyridinetetracarboxylic dianhydride, 3,4,9,10-perylenetetracarboxylic dianhydride, 2,2-bis (3,4-dicarboxyphenyl) hexafluoropropane dianhydride, 2 , 2-bis (4- (3,4-dicarboxyphenoxy) phenyl) hexafluoropropane dianhydride, 2,2-bis (4- (3,4-dicarboxybenzoyloxy) phenyl) hexafluoropropane dianhydride Products, 2,2′-bis (trifluoromethyl) -4,4′-bis (3,4-dicarboxyphenoxy) biphenyl dianhydride, etc. Examples of the boronic acid dianhydride include cyclobutanetetracarboxylic dianhydride, 1,2,3,4-cyclopentanetetracarboxylic dianhydride, 2,3,5,6-cyclohexanetetracarboxylic dianhydride, 5 -(2,5-dioxotetrahydro-3-furanyl) -3-methyl-3-cyclohexene-1,2-dicarboxylic dianhydride, bicyclo [2,2,2] oct-7-ene-2,3 , 5,6 tetracarboxylic dianhydride, 1,2,3,4-butanetetracarboxylic dianhydride and the like. These tetracarboxylic dianhydrides may be used alone or in admixture of two or more.

これらのテトラカルボン酸二無水物の中で、ポリイミドの柔軟性、溶解性、絶縁信頼性や重合速度の観点から、4,4’−オキシジフタル酸二無水物が好ましいものとして挙げられる。   Among these tetracarboxylic dianhydrides, 4,4′-oxydiphthalic dianhydride is preferable from the viewpoint of flexibility, solubility, insulation reliability, and polymerization rate of polyimide.

また、アミノ基を取り除いた残基が上記一般式(2)で表されるジアミン以外のジアミン成分として、本発明の目的を逸脱しない範囲で、公知のジアミンを用いることができる。ジアミンの具体例は、例えば、3,3’−ジアミノベンゾフェノン、4,4’−ジアミノベンゾフェノン、3,3’−ジアミノジフェニルエーテル、4,4’−ジアミノジフェニルエーテル、1,3−ビス(3−アミノフェノキシ)ベンゼン、1,4−ビス(4−アミノフェノキシ)ベンゼン、ビス(3−(3−アミノフェノキシ)フェニル)エーテル、ビス(4−(4−アミノフェノキシ)フェニル)エーテル、1,3−ビス(3−(3−アミノフェノキシ)フェノキシ)ベンゼン、1,4−ビス(4−(4−アミノフェノキシ)フェノキシ)ベンゼン、ビス(3−(3−(3−アミノフェノキシ)フェノキシ)フェニル)エーテル、ビス(4−(4−(4−アミノフェノキシ)フェノキシ)フェニル)エーテル、1,3−ビス(3−(3−(3−アミノフェノキシ)フェノキシ)フェノキシ)ベンゼン、1,4−ビス(4−(4−(4−アミノフェノキシ)フェノキシ)フェノキシ)ベンゼン、4,4’−ビス(3−アミノフェノキシ)ビフェニル、4,4’−ビス(4−アミノフェノキシ)ビフェニル、2,2−ビス[4−(3−アミノフェノキシ)フェニル]プロパン、2,2−ビス[4−(4−アミノフェノキシ)フェニル]プロパン、2,2−ビス[4−(3−アミノフェノキシ)フェニル]−1,1,1,3,3,3−ヘキサフルオロプロパン、2,2−ビス[4−(4−アミノフェノキシ)フェニル]−1,1,1,3,3,3−ヘキサフルオロプロパン、m−フェニレンジアミン、o−フェニレンジアミン、p−フェニレンジアミン、ビス(3−アミノフェニル)スルフィド、ビス(4−アミノフェニル)スルフィド、ビス(3−アミノフェニル)スルホキシド、ビス(4−アミノフェニル)スルホキシド、ビス(3−アミノフェニル)スルホン、ビス(4−アミノフェニル)スルホン、2,2−ビス[4−(3−アミノフェノキシ)フェニル]ブタン、α,ω−ビス(2−アミノエチル)ポリジメチルシロキサン、α,ω−ビス(3−アミノプロピル)ポリジメチルシロキサン、α,ω−ビス(4−アミノブチル)ポリジメチルシロキサン、α,ω−ビス(4−アミノフェニル)ポリジメチルシロキサン、α,ω−ビス(3−アミノプロピル)ポリジフェニルシロキサン等が挙げられる。   Moreover, a well-known diamine can be used in the range which does not deviate from the objective of this invention as a diamine component other than the diamine which the residue remove | excluding the amino group is represented by the said General formula (2). Specific examples of diamines include, for example, 3,3′-diaminobenzophenone, 4,4′-diaminobenzophenone, 3,3′-diaminodiphenyl ether, 4,4′-diaminodiphenyl ether, 1,3-bis (3-aminophenoxy ) Benzene, 1,4-bis (4-aminophenoxy) benzene, bis (3- (3-aminophenoxy) phenyl) ether, bis (4- (4-aminophenoxy) phenyl) ether, 1,3-bis ( 3- (3-aminophenoxy) phenoxy) benzene, 1,4-bis (4- (4-aminophenoxy) phenoxy) benzene, bis (3- (3- (3-aminophenoxy) phenoxy) phenyl) ether, bis (4- (4- (4-Aminophenoxy) phenoxy) phenyl) ether, 1,3-bis (3- (3 (3-Aminophenoxy) phenoxy) phenoxy) benzene, 1,4-bis (4- (4- (4-aminophenoxy) phenoxy) phenoxy) benzene, 4,4′-bis (3-aminophenoxy) biphenyl, 4 , 4′-bis (4-aminophenoxy) biphenyl, 2,2-bis [4- (3-aminophenoxy) phenyl] propane, 2,2-bis [4- (4-aminophenoxy) phenyl] propane, 2, , 2-bis [4- (3-aminophenoxy) phenyl] -1,1,1,3,3,3-hexafluoropropane, 2,2-bis [4- (4-aminophenoxy) phenyl] -1 , 1,1,3,3,3-hexafluoropropane, m-phenylenediamine, o-phenylenediamine, p-phenylenediamine, bis (3-aminophenyl Sulfide, bis (4-aminophenyl) sulfide, bis (3-aminophenyl) sulfoxide, bis (4-aminophenyl) sulfoxide, bis (3-aminophenyl) sulfone, bis (4-aminophenyl) sulfone, 2,2 -Bis [4- (3-aminophenoxy) phenyl] butane, α, ω-bis (2-aminoethyl) polydimethylsiloxane, α, ω-bis (3-aminopropyl) polydimethylsiloxane, α, ω-bis (4-aminobutyl) polydimethylsiloxane, α, ω-bis (4-aminophenyl) polydimethylsiloxane, α, ω-bis (3-aminopropyl) polydiphenylsiloxane, and the like.

これらのジアミンの中で、接着性樹脂硬化物の弾性率を低減させる場合は、ポリオキシエチレンジアミンや、ポリオキシプロピレンジアミン、その他炭素鎖数の異なるオキシアルキレン基を含むポリオキシアルキレンジアミン等の使用が好ましい。ポリオキシアルキレンジアミン類としては、米ハンツマン社製のジェファーミンED−600、ED−900、ED−2003、EDR−148、HK−511等のポリオキシエチレンジアミンや、ジェファーミンD−230、D−400、D−2000、D−4000、独BASF社製のポリエーテルアミンD−230、D−400、D−2000等のポリオキシプロピレンジアミンや、ジェファーミンXTJ−542、XTJ533、XTJ536等のポリテトラメチレンエチレン基をもつもの等が使用例として挙げられ、さらに、未硬化接着性樹脂の溶解性を向上させる場合は、α,ω−ビス(2−アミノエチル)ポリジメチルシロキサン、α,ω−ビス(3−アミノプロピル)ポリジメチルシロキサン、α,ω−ビス(4−アミノブチル)ポリジメチルシロキサン、α,ω−ビス(4−アミノフェニル)ポリジメチルシロキサン、α,ω−ビス(3−アミノプロピル)ポリジフェニルシロキサン、α−(2−アミノプロピル)−ω−アミノポリ(オキシプロピレン)等が使用例として挙げられる。   Among these diamines, when reducing the elastic modulus of the cured adhesive resin, use of polyoxyethylene diamine, polyoxypropylene diamine, and other polyoxyalkylene diamines containing oxyalkylene groups having different numbers of carbon chains may be used. preferable. Examples of polyoxyalkylene diamines include polyoxyethylene diamines such as Jeffamine ED-600, ED-900, ED-2003, EDR-148, and HK-511 manufactured by Huntsman, Inc., and Jeffamine D-230 and D-400. , D-2000, D-4000, polyamine propylene diamine such as polyetheramine D-230, D-400, D-2000 manufactured by BASF Germany, and polytetramethylene such as Jeffamine XTJ-542, XTJ533, XTJ536 Those having an ethylene group are listed as examples of use. Further, in order to improve the solubility of the uncured adhesive resin, α, ω-bis (2-aminoethyl) polydimethylsiloxane, α, ω-bis ( 3-aminopropyl) polydimethylsiloxane, α, ω-bis (4-aminobutyl) Polydimethylsiloxane, α, ω-bis (4-aminophenyl) polydimethylsiloxane, α, ω-bis (3-aminopropyl) polydiphenylsiloxane, α- (2-aminopropyl) -ω-aminopoly (oxypropylene) Etc. are mentioned as usage examples.

これらの弾性率を低減させる目的のジアミンの含有量は、全ジアミンに対して25モル%〜65モル%であることが好ましい。より好ましくは40モル%〜65モル%である。25モル%以上であれば、柔軟性、溶剤溶解性に優れる。65モル%以下であれば、アルカリ可溶性に優れる。   The content of diamine for the purpose of reducing these elastic moduli is preferably 25 mol% to 65 mol% with respect to the total diamine. More preferably, it is 40 mol%-65 mol%. If it is 25 mol% or more, it is excellent in a softness | flexibility and solvent solubility. If it is 65 mol% or less, it is excellent in alkali solubility.

また、水酸基又は/及びカルボキシル基を含むジアミンがポリイミドに導入できる。このようなジアミンとしては、2,5−ジアミノフェノ−ル、3,5−ジアミノフェノ−ル、4,4’−(3,3’−ジヒドロキシ)ジアミノビフェニル、4,4’−(2,2’−ジヒドロキシ)ジアミノビフェニル、2,2’−ビス(3−アミノ−4−ヒドロキシフェニル)ヘキサフルオロプロパン、3−ヒドロキシ−4−アミノビフェニル(HAB)、4,4’−(3,3’−ジカルボキシ)ジフェニルアミン、メチレンビスアミノ安息香酸(MBAA)、2,5−ジアミノ安息香酸(DABA)、3,3’−ジカルボキシ−4,4’−ジアミノジフェニルエ−テル等が挙げられる。   Further, a diamine containing a hydroxyl group or / and a carboxyl group can be introduced into the polyimide. Such diamines include 2,5-diaminophenol, 3,5-diaminophenol, 4,4 ′-(3,3′-dihydroxy) diaminobiphenyl, 4,4 ′-(2,2 '-Dihydroxy) diaminobiphenyl, 2,2'-bis (3-amino-4-hydroxyphenyl) hexafluoropropane, 3-hydroxy-4-aminobiphenyl (HAB), 4,4'-(3,3'- Dicarboxy) diphenylamine, methylenebisaminobenzoic acid (MBAA), 2,5-diaminobenzoic acid (DABA), 3,3′-dicarboxy-4,4′-diaminodiphenyl ether, and the like.

次に、ポリイミドの製造方法について説明する。本実施の形態に係るポリイミドの製造方法は、公知方法を含め、ポリイミドを製造可能な方法が全て適用できる。中でも、有機溶媒中で反応を行うことが好ましい。このような反応において用いられる溶媒として、例えば、N,N−ジメチルホルムアミド、N,N−ジメチルアセトアミド、N−メチル−2−ピロリドン、γ−ブチロラクトン、トリグライム、1,2−ジメトキシエタン、テトラヒドロフラン、1,3−ジオキサン、1,4−ジオキサン、ジメチルスルホキシド、ベンゼン、トルエン、キシレン、メシチレン、フェノール、クレゾール、安息香酸メチル、安息香酸エチルが挙げられる。これらは単独あるいは2種以上混合して用いられる。   Next, a method for producing polyimide will be described. As a method for producing polyimide according to the present embodiment, all methods capable of producing polyimide, including known methods, can be applied. Among these, it is preferable to perform the reaction in an organic solvent. Examples of the solvent used in such a reaction include N, N-dimethylformamide, N, N-dimethylacetamide, N-methyl-2-pyrrolidone, γ-butyrolactone, triglyme, 1,2-dimethoxyethane, tetrahydrofuran, 1 , 3-dioxane, 1,4-dioxane, dimethyl sulfoxide, benzene, toluene, xylene, mesitylene, phenol, cresol, methyl benzoate, and ethyl benzoate. These may be used alone or in combination of two or more.

本実施の形態においては、ビアホール形成後の熱硬化処理において、ビアホールの形状を維持し、アウトガスによる膨れが無いことが要求され、また、部品実装時の半田リフロー時でのアウトガスによる膨れが無いこと、及び、冷熱サイクル試験での信頼性が要求される。このため、硬化後の残存溶剤は、樹脂組成物の硬化物層中に0.5質量%以下であることが好ましい。より好ましくは0.2質量%以下、さらに、好ましくは0.1質量%以下、最も好ましくは0.05質量%以下である。   In this embodiment, in the thermosetting process after forming the via hole, it is required that the shape of the via hole is maintained and there is no swelling due to outgas, and there is no swelling due to outgas during solder reflow during component mounting. And reliability in a thermal cycle test is required. For this reason, it is preferable that the residual solvent after hardening is 0.5 mass% or less in the hardened | cured material layer of a resin composition. More preferably, it is 0.2 mass% or less, More preferably, it is 0.1 mass% or less, Most preferably, it is 0.05 mass% or less.

そのため、反応に用いる溶剤としては、乾燥性に優れる溶剤が好ましく、アミド構造を含まない溶剤であって、揮発性に優れるγ−ブチロラクトン、トリグライム、1,2−ジメトキシエタン、テトラヒドロフラン、1,3−ジオキサン、1,4−ジオキサン、ジメチルスルホキシド、ベンゼン、トルエン、キシレン、メシチレン、フェノール、クレゾール、安息香酸メチル、安息香酸エチル等が好ましい。   Therefore, the solvent used for the reaction is preferably a solvent having excellent drying properties, and is a solvent not containing an amide structure and having excellent volatility, such as γ-butyrolactone, triglyme, 1,2-dimethoxyethane, tetrahydrofuran, 1,3- Dioxane, 1,4-dioxane, dimethyl sulfoxide, benzene, toluene, xylene, mesitylene, phenol, cresol, methyl benzoate, ethyl benzoate and the like are preferable.

N,N−ジメチルホルムアミド、N,N−ジメチルアセトアミド、N−メチル−2−ピロリドン等のアミド構造を有する溶剤を使用する場合、減圧条件においても、本実施の形態のポリイミドとの水素結合のため、溶剤残存量を0.5質量%以下にすることは難しく、アミド構造を有する溶剤を用いて重合を行った場合には、重合後に貧溶剤を添加してポリマーを沈殿させ、析出したポリマーを回収、乾燥させて後、揮発性の良い溶剤に再溶解させて使用することが好ましい。   When using a solvent having an amide structure such as N, N-dimethylformamide, N, N-dimethylacetamide, N-methyl-2-pyrrolidone, etc., because of hydrogen bonding with the polyimide of this embodiment even under reduced pressure conditions It is difficult to reduce the solvent residual amount to 0.5% by mass or less. When polymerization is performed using a solvent having an amide structure, a poor solvent is added after the polymerization to precipitate the polymer, After recovering and drying, it is preferable to use it by re-dissolving in a volatile solvent.

本重合反応における反応原料の濃度は、通常、2質量%〜80質量%、好ましくは20質量%〜50質量%である。   The density | concentration of the reaction raw material in this polymerization reaction is 2 mass%-80 mass% normally, Preferably it is 20 mass%-50 mass%.

反応させるテトラカルボン酸二無水物とジアミンとのモル比は、0.8〜1.2の範囲内である。この範囲内の場合、分子量を上げることができ、伸度等にも優れる。好ましくは0.9〜1.1、より好ましくは0.92〜1.07である。   The molar ratio of the tetracarboxylic dianhydride to be reacted and the diamine is in the range of 0.8 to 1.2. Within this range, the molecular weight can be increased, and the elongation and the like are excellent. Preferably it is 0.9-1.1, More preferably, it is 0.92-1.07.

ポリイミド前駆体の重量平均分子量は、5000以上150000以下であることが好ましい。ここで、重量平均分子量とは、既知の数平均分子量のポリスチレンを標準として、ゲルパーミエーションクロマトグラフィーによって測定される分子量をいう。重量平均分子量は10000以上60000以下がより好ましく、15000以上50000以下が最も好ましい。重量平均分子量が5000以上100000以下であると接着性樹脂硬化物を用いて得られる保護膜の強伸度が改善され、機械物性に優れる。さらに、塗工時に所望する膜厚にて滲み無く塗工できる。   It is preferable that the weight average molecular weight of a polyimide precursor is 5000-150,000. Here, the weight average molecular weight refers to a molecular weight measured by gel permeation chromatography using polystyrene having a known number average molecular weight as a standard. The weight average molecular weight is more preferably from 10,000 to 60,000, and most preferably from 15,000 to 50,000. When the weight average molecular weight is 5,000 or more and 100,000 or less, the strength and elongation of the protective film obtained using the cured adhesive resin is improved, and the mechanical properties are excellent. Furthermore, it can be applied without bleeding at a desired film thickness during coating.

ポリイミドは、以下のような方法で得られる。まず反応原料を室温から80℃で重縮合反応することにより、ポリアミド酸構造からなるポリイミド前駆体が製造される。次に、このポリイミド前駆体を好ましくは100℃〜400℃に加熱してイミド化するか、又は無水酢酸等のイミド化剤を用いて化学イミド化することにより、ポリアミド酸に対応する繰り返し単位構造を有するポリイミドが得られる。加熱してイミド化する場合、副生する水を除去するために、共沸剤(好ましくは、トルエンやキシレン)を共存させて、ディーンシュターク型脱水装置を用いて、還流下、脱水を行うことも好ましい。   Polyimide is obtained by the following method. First, a polyimide precursor having a polyamic acid structure is produced by subjecting a reaction raw material to a polycondensation reaction from room temperature to 80 ° C. Next, this polyimide precursor is preferably heated to 100 ° C. to 400 ° C. to imidize, or chemically imidized using an imidizing agent such as acetic anhydride, thereby repeating unit structure corresponding to polyamic acid. Is obtained. In the case of imidization by heating, in order to remove by-product water, dehydration is carried out under reflux using a Dean-Stark type dehydrator in the presence of an azeotropic agent (preferably toluene or xylene). Is also preferable.

また、80℃〜220℃で反応を行うことにより、ポリイミド前駆体の生成と熱イミド化反応を共に進行させて、ポリイミドを得ることも好ましい。すなわち、ジアミン成分と酸二無水物成分とを有機溶媒中に懸濁又は溶解させ、80℃〜220℃の加熱下に反応を行い、ポリイミド前駆体の生成と脱水イミド化とを共に行わせることにより、ポリイミドを得ることも好ましい。   Moreover, it is also preferable to obtain a polyimide by carrying out the reaction at 80 ° C. to 220 ° C. to advance both the generation of the polyimide precursor and the thermal imidization reaction. That is, the diamine component and the acid dianhydride component are suspended or dissolved in an organic solvent and reacted under heating at 80 ° C. to 220 ° C. to cause both generation of a polyimide precursor and dehydration imidization. It is also preferable to obtain polyimide.

また、ポリイミド前駆体のポリマー主鎖の末端が、モノアミン誘導体又はカルボン酸誘導体からなる末端封止剤で末端封止することも可能である。ポリイミドのポリマー主鎖の末端が封止されることで、末端官能基に由来する貯蔵安定性に優れる。   Moreover, the terminal of the polymer main chain of the polyimide precursor can be end-capped with an end-capping agent made of a monoamine derivative or a carboxylic acid derivative. By sealing the terminal of the polymer main chain of polyimide, the storage stability derived from the terminal functional group is excellent.

モノアミン誘導体からなる末端封止剤としては、例えば、アニリン、o−トルイジン、m−トルイジン、p−トルイジン、2,3−キシリジン、2,6−キシリジン、3,4−キシリジン、3,5−キシリジン、o−クロロアニリン、m−クロロアニリン、p−クロロアニリン、o−ブロモアニリン、m−ブロモアニリン、p−ブロモアニリン、o−ニトロアニリン、p−ニトロアニリン、m−ニトロアニリン、o−アミノフェノール、p−アミノフェノール、m−アミノフェノール,o−アニシジン、m−アニシジン、p−アニシジン,o−フェネチジン、m−フェネチジン、p−フェネチジン、o−アミノベンズアルデヒド、p−アミノベンズアルデヒド、m−アミノベンズアルデヒド、o−アミノベンズニトリル、p−アミノベンズニトリル、m−アミノベンズニトリル,2−アミノビフェニル,3−アミノビフェニル、4−アミノビフェニル、2−アミノフェニルフェニルエーテル、3−アミノフェニルフェニルエーテル,4−アミノフェニルフェニルエーテル、2−アミノベンゾフェノン、3−アミノベンゾフェノン、4−アミノベンゾフェノン、2−アミノフェニルフェニルスルフィド、3−アミノフェニルフェニルスルフィド、4−アミノフェニルフェニルスルフィド、2−アミノフェニルフェニルスルホン、3−アミノフェニルフェニルスルホン、4−アミノフェニルフェニルスルホン、α−ナフチルアミン、β−ナフチルアミン、1−アミノ−2−ナフトール、5−アミノ−1−ナフトール、2−アミノ−1−ナフトール、4−アミノ−1−ナフトール、5−アミノ−2−ナフトール、7−アミノ−2−ナフトール、8−アミノ−1−ナフトール、8−アミノ−2−ナフトール、1−アミノアントラセン、2−アミノアントラセン、9−アミノアントラセン等の芳香族モノアミンを挙げることができ、この中で好ましくはアニリンの誘導体が使用される。これらは単独でも、2種以上を混合して用いることもできる。   Examples of the end capping agent comprising a monoamine derivative include aniline, o-toluidine, m-toluidine, p-toluidine, 2,3-xylidine, 2,6-xylidine, 3,4-xylidine, and 3,5-xylidine. O-chloroaniline, m-chloroaniline, p-chloroaniline, o-bromoaniline, m-bromoaniline, p-bromoaniline, o-nitroaniline, p-nitroaniline, m-nitroaniline, o-aminophenol P-aminophenol, m-aminophenol, o-anisidine, m-anisidine, p-anisidine, o-phenetidine, m-phenetidine, p-phenetidine, o-aminobenzaldehyde, p-aminobenzaldehyde, m-aminobenzaldehyde, o-aminobenzonitrile, p-aminobenzonitrile Ryl, m-aminobenzonitrile, 2-aminobiphenyl, 3-aminobiphenyl, 4-aminobiphenyl, 2-aminophenylphenyl ether, 3-aminophenylphenyl ether, 4-aminophenylphenyl ether, 2-aminobenzophenone, 3 -Aminobenzophenone, 4-aminobenzophenone, 2-aminophenyl phenyl sulfide, 3-aminophenyl phenyl sulfide, 4-aminophenyl phenyl sulfide, 2-aminophenyl phenyl sulfone, 3-aminophenyl phenyl sulfone, 4-aminophenyl phenyl sulfone , Α-naphthylamine, β-naphthylamine, 1-amino-2-naphthol, 5-amino-1-naphthol, 2-amino-1-naphthol, 4-amino-1-naphthol, 5-amino Aromatic monoamines such as 2-naphthol, 7-amino-2-naphthol, 8-amino-1-naphthol, 8-amino-2-naphthol, 1-aminoanthracene, 2-aminoanthracene and 9-aminoanthracene Of these, derivatives of aniline are preferably used. These may be used alone or in combination of two or more.

カルボン酸誘導体からなる末端封止剤としては、主に無水カルボン酸誘導体が挙げられ、例えば、無水フタル酸、2,3−ベンゾフェノンジカルボン酸無水物、3,4−ベンゾフェノンジカルボン酸無水物、2,3−ジカルボキシフェニルフェニルエーテル無水物、3,4−ジカルボキシフェニルフェニルエーテル無水物、2,3−ビフェニルジカルボン酸無水物、3,4−ビフェニルジカルボン酸無水物、2,3−ジカルボキシフェニルフェニルスルホン無水物、3,4−ジカルボキシフェニルフェニルスルホン無水物、2,3−ジカルボキシフェニルフェニルスルフィド無水物、3,4−ジカルボキシフェニルフェニルスルフィド無水物、1,2−ナフタレンジカルボン酸無水物、2,3−ナフタレンジカルボン酸無水物、1,8−ナフタレンジカルボン酸無水物、1,2−アントラセンジカルボン酸無水物、2,3−アントラセンジカルボン酸無水物、1,9−アントラセンジカルボン酸無水物等の芳香族ジカルボン酸無水物が挙げられる。これらの芳香族ジカルボン酸無水物の中で、好ましくは無水フタル酸が使用される。これらは単独でも、2種以上を混合して用いることもできる。   Examples of the end-capping agent comprising a carboxylic acid derivative mainly include carboxylic anhydride derivatives, such as phthalic anhydride, 2,3-benzophenone dicarboxylic acid anhydride, 3,4-benzophenone dicarboxylic acid anhydride, 2, 3-dicarboxyphenyl phenyl ether anhydride, 3,4-dicarboxyphenyl phenyl ether anhydride, 2,3-biphenyl dicarboxylic acid anhydride, 3,4-biphenyl dicarboxylic acid anhydride, 2,3-dicarboxyphenyl phenyl Sulfone anhydride, 3,4-dicarboxyphenyl phenyl sulfone anhydride, 2,3-dicarboxyphenyl phenyl sulfide anhydride, 3,4-dicarboxyphenyl phenyl sulfide anhydride, 1,2-naphthalenedicarboxylic acid anhydride, 2,3-naphthalenedicarboxylic anhydride, 1,8-naphth Dicarboxylic acid anhydride, 1,2-anthracene dicarboxylic acid anhydride, 2,3-anthracene dicarboxylic acid anhydride, 1,9-aromatic dicarboxylic acid anhydrides such as anthracene dicarboxylic acid anhydride. Of these aromatic dicarboxylic acid anhydrides, phthalic anhydride is preferably used. These may be used alone or in combination of two or more.

得られたポリイミド溶液は、脱溶剤することなく、そのまま、あるいはさらに、必要な溶剤、添加剤等を配合して、本実施の形態に係るフレキシブル配線板の未硬化接着性樹脂層を形成するのに用いることもできる。   Without removing the solvent, the obtained polyimide solution can be used as it is or further by adding necessary solvents, additives and the like to form the uncured adhesive resin layer of the flexible wiring board according to the present embodiment. It can also be used.

(反応性化合物)
本実施の形態に係る樹脂組成物において、反応性化合物は、加熱によりアルカリ可溶性樹脂中のフェノール性水酸基と反応して熱硬化を起こす。
(Reactive compounds)
In the resin composition according to the present embodiment, the reactive compound reacts with the phenolic hydroxyl group in the alkali-soluble resin by heating to cause thermosetting.

未硬化接着性樹脂層をアルカリ溶液でエッチングしてビアホールを形成する段階では十分なアルカリ溶解性を維持する一方で、熱硬化処理後はアルカリ溶解性を低下させて、アルカリ耐性を有することが好ましい。熱硬化処理後の硬化物層がアルカリ耐性を有することで、層間絶縁膜に要求される、良好な絶縁信頼性を得ることができる。また、ビルドアップ法で多層化を順次行う場合等、より外層側の導電層に回路をエッチングにより形成する際の、導電層上に形成したドライフィルムのアルカリ剥離時に、硬化物層がアルカリにより溶解されない。   While maintaining a sufficient alkali solubility in the step of forming a via hole by etching the uncured adhesive resin layer with an alkali solution, it is preferable to have an alkali resistance by reducing the alkali solubility after the thermosetting treatment. . Since the cured product layer after the thermosetting treatment has alkali resistance, good insulation reliability required for the interlayer insulating film can be obtained. In addition, the cured product layer is dissolved by alkali when the dry film formed on the conductive layer is peeled off by alkali when the circuit is formed on the outer conductive layer by etching, such as when multilayering is sequentially performed by the build-up method. Not.

このため、反応性化合物は、上述のアルカリ可溶性樹脂のフェノール性水酸基と、熱硬化処理前は反応せずアルカリ可溶性を示し、熱硬化処理時に反応して、アルカリ耐性を発現するものであることが望ましい。そのため、反応性化合物は、120℃以下、好ましくは、100℃以下では反応の進行が遅く、150℃以上、好ましくは170℃以上では反応が十分に進行するものが好ましい。   For this reason, the reactive compound is a compound that exhibits alkali resistance by reacting with the phenolic hydroxyl group of the above-described alkali-soluble resin without reacting before the thermosetting treatment and reacting during the thermosetting treatment. desirable. Therefore, the reactive compound is preferably such that the reaction proceeds slowly at 120 ° C. or lower, preferably 100 ° C. or lower, and sufficiently proceeds at 150 ° C. or higher, preferably 170 ° C. or higher.

このような反応性化合物として、オキサゾリン化合物、ベンゾオキサジン化合物、エポキシ化合物及びオキセタン化合物が挙げられる。好ましいものとしては、オキサゾリン化合物、ベンゾオキサジン化合物、オキセタン化合物が挙げられる。特に好ましいものは、反応することで水酸基を副生することの無いオキサゾリン化合物である。   Examples of such reactive compounds include oxazoline compounds, benzoxazine compounds, epoxy compounds, and oxetane compounds. Preferable examples include oxazoline compounds, benzoxazine compounds, and oxetane compounds. Particularly preferred are oxazoline compounds that do not by-produce hydroxyl groups by reaction.

オキサゾリン化合物は、分子内に1個以上のオキサゾリン基を有する化合物である。オキサゾリン基を含有する化合物としては、ポリイミドの水酸基を封止し、さらにポリイミド間の形成する場合、分子内に2個以上のオキサゾリン基を有するものが好ましい。   An oxazoline compound is a compound having one or more oxazoline groups in the molecule. As a compound containing an oxazoline group, a compound having two or more oxazoline groups in the molecule is preferable when the hydroxyl group of polyimide is sealed and further formed between polyimides.

オキサゾリン化合物の具体例としては、1,3−ビス(4,5−ジヒドロ−2−オキサゾリル)ベンゼン、日本触媒社製のK−2010E、K−2020E、K−2030E、2,6−ビス(4−イソプロピル−2−オキサゾリン−2−イル)ピリジン、2,6−ビス(4−フェニル−2−オキサゾリン−2−イル)ピリジン、2,2’−イソプロピリデンビス(4−フェニル−2−オキサゾリン)、2,2’−イソプロピリデンビス(4−ターシャルブチル−2−オキサゾリン)等が挙げられる。これらのオキサゾリン化合物は、単独で用いてもよいし、2種類以上を組み合わせて用いてもよい。   Specific examples of the oxazoline compound include 1,3-bis (4,5-dihydro-2-oxazolyl) benzene, K-2010E, K-2020E, K-2030E, 2,6-bis (4 -Isopropyl-2-oxazolin-2-yl) pyridine, 2,6-bis (4-phenyl-2-oxazolin-2-yl) pyridine, 2,2'-isopropylidenebis (4-phenyl-2-oxazoline) 2,2′-isopropylidenebis (4-tertiarybutyl-2-oxazoline) and the like. These oxazoline compounds may be used alone or in combination of two or more.

オキサゾリン化合物の添加量は、水酸基を有するポリイミドの水酸基のモル量を1とした場合、オキサゾリン基のモル量が、モル比として水酸基/オキサゾリン基=4〜0.5であることが好ましく、3〜0.7がさらに好ましい。水酸基/オキサゾリン基=4以下で樹脂組成物のアルカリ加工性が向上し、水酸基/オキサゾリン基=0.5以上で接着性樹脂硬化物の柔軟性、耐熱性が向上する。   The amount of the oxazoline compound added is preferably such that the molar amount of the oxazoline group is hydroxyl group / oxazoline group = 4 to 0.5 as a molar ratio, assuming that the molar amount of the hydroxyl group of the polyimide having a hydroxyl group is 1. 0.7 is more preferable. When the hydroxyl group / oxazoline group = 4 or less, the alkali processability of the resin composition is improved, and when the hydroxyl group / oxazoline group = 0.5 or more, the flexibility and heat resistance of the cured adhesive resin are improved.

上述のオキサゾリン化合物を含有する樹脂組成物は、溶剤、残存モノマー等の揮発成分を十分に除去し、アルカリ溶液に可溶とするため、真空乾燥法等で50℃〜140℃において1分間〜60分間加熱乾燥して、未硬化接着性樹脂層とすることが好ましい。   The resin composition containing the above oxazoline compound sufficiently removes volatile components such as a solvent and residual monomer and makes it soluble in an alkaline solution. It is preferable to heat and dry for a minute to form an uncured adhesive resin layer.

この未硬化接着性樹脂層はアルカリ溶液に可溶であるため、ビアホール形成を、アルカリ溶液を用いたエッチングで行うことができ、フレキシブル配線板の製造で用いられるレーザードリリング加工等が不要となる。   Since this uncured adhesive resin layer is soluble in an alkaline solution, via holes can be formed by etching using an alkaline solution, and laser drilling or the like used in the production of a flexible wiring board is not required.

また、ビアホール形成後に未硬化接着性樹脂層を加熱することによって硬化物層を得ることができる。加熱の方法については特に限定されないが、例えば160℃〜200℃の加熱で、主として水酸基の封止や架橋反応が生じ、得られた硬化物層はアルカリ溶液へ不溶となる。   Moreover, a hardened | cured material layer can be obtained by heating an uncured adhesive resin layer after via-hole formation. The heating method is not particularly limited, but for example, heating at 160 ° C. to 200 ° C. mainly causes hydroxyl group sealing and crosslinking reaction, and the obtained cured product layer becomes insoluble in an alkaline solution.

本実施の形態に係る樹脂組成物は、反応性化合物として、さらに熱架橋性官能基を有する化合物を含有しても良い。熱架橋性官能基を有する化合物としては、トリアジン系化合物、ベンゾオキサジン化合物及びエポキシ化合物等が挙げられる。   The resin composition according to the present embodiment may further contain a compound having a thermally crosslinkable functional group as the reactive compound. Examples of the compound having a thermally crosslinkable functional group include triazine compounds, benzoxazine compounds, and epoxy compounds.

トリアジン系化合物としては、メラミン類及びシアヌル酸メラミン類等が好ましい。メラミン類としては、メラミン誘導体、メラミンと類似の構造を有する化合物及びメラミンの縮合物等が挙げられる。メラミン類の具体例としては、例えば、メチロール化メラミン、アンメリド、アンメリン、ホルモグアナミン、グアニルメラミン、シアノメラミン、アリールグアナミン、メラム、メレム及びメロンが挙げられる。   As the triazine compound, melamines and cyanuric acid melamines are preferable. Examples of melamines include melamine derivatives, compounds having a structure similar to melamine, and melamine condensates. Specific examples of melamines include, for example, methylolated melamine, ammelide, ammelin, formoguanamine, guanylmelamine, cyanomelamine, arylguanamine, melam, melem and melon.

シアヌル酸メラミン類としては、例えば、シアヌル酸とメラミン類との等モル反応物が挙げられる。また、シアヌル酸メラミン類中のアミノ基又は水酸基のいくつかが、他の置換基で置換されていてもよい。このうちシアヌル酸メラミンは、例えば、シアヌル酸の水溶液とメラミンの水溶液とを混合し、90〜100℃で撹拌下反応させ、生成した沈殿を濾過することによって得ることができ、白色の固体であり、市販品をそのまま、又はこれを微粉末状に粉砕して使用できる。   Examples of the melamine cyanurate include an equimolar reaction product of cyanuric acid and melamine. Moreover, some of the amino groups or hydroxyl groups in melamine cyanurate may be substituted with other substituents. Among these, melamine cyanurate can be obtained by, for example, mixing an aqueous solution of cyanuric acid and an aqueous solution of melamine, reacting at 90 to 100 ° C. with stirring, and filtering the generated precipitate, and is a white solid. A commercially available product can be used as it is or after being pulverized into a fine powder.

ベンゾオキサジン化合物は、モノマーのみからなるものでも良いし、数分子が重合してオリゴマー状態となっていても良い。また、異なる構造を有するベンゾオキサジン化合物を同時に用いても良い。具体的には、ビスフェノールベンゾオキサジンが好ましく用いられる。   The benzoxazine compound may be composed only of monomers, or several molecules may be polymerized into an oligomer state. Moreover, you may use the benzoxazine compound which has a different structure simultaneously. Specifically, bisphenol benzoxazine is preferably used.

エポキシ化合物としては、分子内に少なくとも2個以上のエポキシ基を含むものがより好ましく、硬化性や硬化物特性の点から、フェノールのグリシジルエーテル型のエポキシ樹脂が特に好ましい。具体的には、ビスフェノールA型(又はAD型、S型、F型)のグリシジルエーテル、フェノールノボラック樹脂のグリシジルエーテル、ナフタレン樹脂のグリシジルエーテル等が好ましく用いられる。   As the epoxy compound, those containing at least two epoxy groups in the molecule are more preferred, and phenol glycidyl ether type epoxy resins are particularly preferred from the viewpoint of curability and cured product characteristics. Specifically, bisphenol A type (or AD type, S type, F type) glycidyl ether, phenol novolac resin glycidyl ether, naphthalene resin glycidyl ether, and the like are preferably used.

またエポキシ樹脂を使用する場合は、必要に応じて硬化剤を使用することもできる。   Moreover, when using an epoxy resin, a hardening | curing agent can also be used as needed.

(難燃剤)
また、本実施の形態に係る樹脂組成物は、難燃性を向上する観点から、難燃剤を含有しても良い。難燃剤の種類は特に限定はないが、含ハロゲン化合物、含リン化合物及び無機難燃剤等が挙げられる。これらの難燃剤を一種用いてもよいし、二種以上を混合して使用してもよい。
(Flame retardants)
Moreover, the resin composition which concerns on this Embodiment may contain a flame retardant from a viewpoint of improving a flame retardance. The type of flame retardant is not particularly limited, and examples thereof include halogen-containing compounds, phosphorus-containing compounds, and inorganic flame retardants. One kind of these flame retardants may be used, or two or more kinds may be mixed and used.

難燃剤の添加量は、特に限定されることがなく、用いる難燃剤の種類に応じて適宜に変更すればよい。一般的に、アルカリ可溶性樹脂の含有量を基準として、5質量%から50%の範囲で用いられることが好ましい。   The addition amount of the flame retardant is not particularly limited, and may be appropriately changed according to the type of the flame retardant used. Generally, it is preferably used in the range of 5% by mass to 50% based on the content of the alkali-soluble resin.

含ハロゲン化合物難燃剤としては、塩素を含む有機化合物と臭素を含む化合物等が挙げられる。具体的には、ペンタブロモジフェニルエーテル、オクタブロモジフェニルエーテル、デカブロモジフェニルエーテル、テトラブロモビスフェノールA、ヘキサブロモシクロドデカンテトラブロモビスフェノールA等が挙げられる。   Examples of the halogen-containing compound flame retardant include an organic compound containing chlorine and a compound containing bromine. Specific examples include pentabromodiphenyl ether, octabromodiphenyl ether, decabromodiphenyl ether, tetrabromobisphenol A, hexabromocyclododecane tetrabromobisphenol A, and the like.

含リン化合物難燃剤としては、例えば、ホスファゼン、ホスフィン、ホスフィンオキサイド、リン酸エステル、及び亜リン酸エステル等のリン化合物が挙げられる。特にポリイミド組成物との相溶性の面から、ホスファゼン、ホスファイオキサイド又はリン酸エステルが好ましく用いられる。   Examples of the phosphorus-containing compound flame retardant include phosphorus compounds such as phosphazene, phosphine, phosphine oxide, phosphate ester, and phosphite ester. In particular, from the viewpoint of compatibility with the polyimide composition, phosphazene, phosphioxide, or phosphate ester is preferably used.

無機難燃剤としては、アンチモン化合物及び金属水酸化物等が挙げられる。アンチモン化合物として、三酸化アンチモンと五酸化アンチモン等が挙げられる。アンチモン化合物と上記含ハロゲン化合物難燃剤との併用で、プラスチックの熱分解温度域で、酸化アンチモンが難燃剤からハロゲン原子を引き抜いてハロゲン化アンチモンを生成するため、相乗的に難燃性を上げることができる。金属水酸化物として、水酸化アルミニウム、水酸化マグネシウム等が挙げられる。   Examples of inorganic flame retardants include antimony compounds and metal hydroxides. Examples of the antimony compound include antimony trioxide and antimony pentoxide. Combined use of antimony compounds and the above halogen-containing flame retardants, the antimony oxide pulls out halogen atoms from the flame retardants to produce antimony halides in the thermal decomposition temperature range of plastics, thus synergistically increasing the flame retardancy. Can do. Examples of the metal hydroxide include aluminum hydroxide and magnesium hydroxide.

無機難燃剤を用いた場合、有機溶媒に溶解しないため、その粉末の粒径は100μm以下が好ましい。粉末の粒径は100μm以下であれば、アルカリ可溶性樹脂組成物に混入しやすく、硬化後の樹脂の透明性を損ねることなく好ましい。さらに難燃性を上げるためには、粉末の粒径は50μm以下が好ましく、10μm以下は特に好ましい。   When an inorganic flame retardant is used, it is not dissolved in an organic solvent, so the particle size of the powder is preferably 100 μm or less. If the particle diameter of the powder is 100 μm or less, it is preferable that the powder is easily mixed into the alkali-soluble resin composition without impairing the transparency of the cured resin. In order to further increase the flame retardancy, the particle size of the powder is preferably 50 μm or less, particularly preferably 10 μm or less.

(密着材)
また、本実施の形態に係る樹脂組成物は、金属箔と密着性を向上する観点から、密着材を含有させても良い。密着材としては特に限定されないが、フェノール化合物、含窒素有機化合物、アセチルアセトン金属錯体等を挙げることができる。特にフェノール化合物が好ましい。
(Adhesive material)
In addition, the resin composition according to the present embodiment may contain an adhesion material from the viewpoint of improving adhesion with the metal foil. Although it does not specifically limit as an adhesive material, A phenol compound, a nitrogen-containing organic compound, an acetylacetone metal complex etc. can be mentioned. A phenol compound is particularly preferable.

(溶媒)
本実施の形態に係る樹脂組成物は有機溶媒を含有してもよい。有機溶媒に溶解した状態とすることにより、ワニスとして好ましく使用することができる。
(solvent)
The resin composition according to the present embodiment may contain an organic solvent. By making it the state melt | dissolved in the organic solvent, it can be preferably used as a varnish.

このような有機溶媒としては、例えば、N,N−ジメチルアセトアミド、N,N−ジエチルアセトアミド、N,N−ジメチルホルムアミド、N,N−ジエチルホルムアミド、N−メチル−2−ピロリドン等のアミド溶媒、γ−ブチロラクトン、γ−バレロラクトン等のラクトン溶媒、ジメチルスルホキシド、ジエチルスルホキシド、ヘキサメチルスルホキシド等の含硫黄系溶媒、クレゾール、フェノール等のフェノール系溶媒、ジエチレングリコールジメチルエーテル(ジグライム)、トリエチレングリコールジメチルエーテル(トリグライム)、テトラグライム、ジオキサン、テトラヒドロフラン、安息香酸ブチル、安息香酸エチル、安息香酸メチル等のエーテル系溶媒が挙げられる。また、これらの有機溶媒は、単独で使用してもよいし、複数併用してもよい。   Examples of such organic solvents include amide solvents such as N, N-dimethylacetamide, N, N-diethylacetamide, N, N-dimethylformamide, N, N-diethylformamide, N-methyl-2-pyrrolidone, Lactone solvents such as γ-butyrolactone and γ-valerolactone, sulfur-containing solvents such as dimethyl sulfoxide, diethyl sulfoxide and hexamethyl sulfoxide, phenol solvents such as cresol and phenol, diethylene glycol dimethyl ether (diglyme), triethylene glycol dimethyl ether (triglyme) ), Tetraglyme, dioxane, tetrahydrofuran, butyl benzoate, ethyl benzoate, methyl benzoate and the like. These organic solvents may be used alone or in combination.

(その他)
本実施の形態に係る樹脂組成物は、さらに、塗工膜にする時、その塗工方式に応じて粘度とチクソトロピーの調整を行うため、必要に応じて、フィラーやチクソトロピー性付与剤を添加して用いることも可能である。また、公知の消泡剤、レベリング剤、顔料等の添加剤を加えることも可能である。
(Other)
When the resin composition according to the present embodiment is further made into a coating film, the viscosity and thixotropy are adjusted according to the coating method, so that a filler or a thixotropic agent is added as necessary. Can also be used. Moreover, it is also possible to add additives, such as a well-known antifoamer, a leveling agent, and a pigment.

以下、本実施の形態に係るフレキシブル配線板の製造方法を適用可能な、多層フレキシブル配線板の製造方法について説明する。ここでは、まず、基材上に未硬化接着性樹脂層を形成した積層体を作製し、この基材を、コア基板としての両面フレキシブル基板の両側から積層して多層フレキシブル配線板を作製する。   Hereinafter, a method for manufacturing a multilayer flexible wiring board to which the method for manufacturing a flexible wiring board according to the present embodiment is applicable will be described. Here, first, a laminated body in which an uncured adhesive resin layer is formed on a base material is produced, and this base material is laminated from both sides of a double-sided flexible board as a core board to produce a multilayer flexible wiring board.

(積層体の作製)
積層体の作製は、基材の表面に、樹脂組成物を有機溶媒に溶解したワニスを塗工し、乾燥することにより行う。
(Production of laminate)
The laminate is produced by applying a varnish obtained by dissolving the resin composition in an organic solvent to the surface of the base material and drying it.

ここで使用する基材は、ロール・ツー・ロール法での連続生産可能な塗工、乾燥設備に対応したものであることが好ましい。このような基材としては、導電性基材、ガラスクロス、キャリアフィルム等が挙げられる。これらの中でも、連続生産性やハンドリングの点から導電性基材が好ましい。導電性基材としては、電解銅箔、圧延銅箔、電着フィルム、導電性ペースト付きフィルム、アルミニウム箔フィルム、ステンレス箔フィルム等が挙げられ、配線加工性や基板圧着後の密着性の観点から、電解銅箔又は圧延銅箔が特に好ましい。   It is preferable that the base material used here corresponds to a coating and drying facility capable of continuous production by a roll-to-roll method. Examples of such a substrate include a conductive substrate, a glass cloth, and a carrier film. Among these, a conductive substrate is preferable from the viewpoint of continuous productivity and handling. Examples of the conductive base material include electrolytic copper foil, rolled copper foil, electrodeposition film, film with conductive paste, aluminum foil film, stainless steel foil film, etc., from the viewpoint of wiring workability and adhesion after substrate pressure bonding. Electrolytic copper foil or rolled copper foil is particularly preferred.

塗工方法としては、例えば、バーコート、ローラーコート、ダイコート、ブレードコート、ディップコート、ドクターナイフ、スプレーコート、フローコート、スピンコート、スリットコート及びはけ塗りが挙げられる。   Examples of the coating method include bar coating, roller coating, die coating, blade coating, dip coating, doctor knife, spray coating, flow coating, spin coating, slit coating, and brush coating.

塗工後、必要に応じて、ホットプレート等によりプリベークと呼ばれる加熱処理を行っても良い。   After coating, if necessary, a heat treatment called pre-baking may be performed with a hot plate or the like.

乾燥方法としては、その態様については特に限定されないが、アルカリ溶液に可溶とするため、50℃〜140℃において1分間〜30分間加熱することが好ましい。さらに高温領域(例えば160℃〜200℃)の加熱で主として水酸基の封止や架橋反応が生じ、アルカリ溶液に不溶となる。   Although it does not specifically limit about the aspect as a drying method, In order to make it soluble in an alkaline solution, it is preferable to heat at 50 degreeC-140 degreeC for 1 minute-30 minutes. Further, heating in a high temperature region (for example, 160 ° C. to 200 ° C.) mainly causes hydroxyl group sealing and crosslinking reaction, and becomes insoluble in an alkaline solution.

上記積層体の未硬化接着性樹脂層上に、汚れ等からの保護のためにカバーフィルムを少なくとも一層設けても良い。本実施の形態に係る積層体において、カバーフィルムとしては、低密度ポリエチレン等、未硬化接着性樹脂層を保護できるフィルムであれば限定されない。   At least one cover film may be provided on the uncured adhesive resin layer of the laminate for protection from dirt and the like. In the laminate according to the present embodiment, the cover film is not limited as long as it is a film that can protect the uncured adhesive resin layer, such as low-density polyethylene.

(多層フレキシブル配線板の作製)
次に、コア基板となる両面フレキシブル配線板の両側から、上記積層体を加熱圧着により積層して、多層フレキシブル配線板を作製する。
(Production of multilayer flexible wiring board)
Next, the laminated body is laminated by thermocompression bonding from both sides of the double-sided flexible wiring board to be the core substrate to produce a multilayer flexible wiring board.

コア基板としての両面フレキシブル配線板を用意する。両面フレキシブル配線は、絶縁樹脂層の両面に導電層を設けたものである。導電層は、例えば、線回路である。導電層の材質は、例えば、銅である。例えば、銅箔を公知のサブトラクティブ法によりパターニングすることにより、回路形成を行う。   A double-sided flexible wiring board is prepared as a core substrate. In the double-sided flexible wiring, conductive layers are provided on both sides of an insulating resin layer. The conductive layer is, for example, a line circuit. The material of the conductive layer is, for example, copper. For example, the circuit formation is performed by patterning a copper foil by a known subtractive method.

まず、積層体を両面フレキシブル基板の両側に、未硬化接着性樹脂層が導電層に接触するように配置する。この状態で加熱圧着して積層する。   First, a laminated body is arrange | positioned so that an unhardened adhesive resin layer may contact a conductive layer on both sides of a double-sided flexible substrate. In this state, thermocompression bonding is performed for lamination.

圧着方法は、例えば、熱プレス、熱ラミネート、熱真空プレス及び熱真空ラミネートが挙げられる。この中で、未硬化接着性樹脂層と配線層との接着性や、両面フレキシブル配線板に形成されている貫通孔や銅配線回路への樹脂埋め込み性の観点から、熱真空プレス、熱真空ラミネートが好ましい。さらに、ロール・ツー・ロール法による生産性の観点から、熱真空ラミネートが特に好ましい。   Examples of the pressure bonding method include hot pressing, thermal laminating, thermal vacuum pressing, and thermal vacuum laminating. Among these, from the viewpoints of adhesion between the uncured adhesive resin layer and the wiring layer, and resin embedding properties in the through-holes and copper wiring circuits formed in the double-sided flexible wiring board, thermal vacuum pressing, thermal vacuum laminating Is preferred. Furthermore, from the viewpoint of productivity by the roll-to-roll method, the thermal vacuum lamination is particularly preferable.

熱真空ラミネートを実行可能な真空積層装置においては、真空積層する時にプレス定盤と積層体との間に補強材を含むラバー基材を備えている。ラバー基材は、真空積層装置に固定されていても独立していても良い。   In a vacuum laminating apparatus capable of performing thermal vacuum laminating, a rubber base material including a reinforcing material is provided between a press surface plate and a laminated body when vacuum laminating. The rubber substrate may be fixed to the vacuum laminator or may be independent.

また、ラバー基材は、200℃程度までの耐熱性を具備するものであれば特に限定されないが、シリコーン、又はウレタン素材であることが好ましい。また、ラバーの表面硬度は30度以上70度以下が好ましく、より好ましくは30度以上50度以下である。また、ロール・ツー・ロール製造装置等による連続生産性の観点から、ラバー基材の表面には微小な凹凸構造のあるエンボス加工等が施されていることがより好ましい。   The rubber substrate is not particularly limited as long as it has heat resistance up to about 200 ° C., but is preferably silicone or urethane material. The rubber has a surface hardness of preferably 30 degrees or more and 70 degrees or less, and more preferably 30 degrees or more and 50 degrees or less. Further, from the viewpoint of continuous productivity by a roll-to-roll manufacturing apparatus or the like, it is more preferable that the rubber base material is embossed with a fine uneven structure.

また、ラバー基材の大きさは、積層体より大きいことが、未硬化接着性樹脂が両面フレキシブル配線板の端部から不必要に流れ出す、いわゆる樹脂フローの抑制や、プレス定盤の熱伝導、圧力均一性、どのような積層体の大きさに対してもサイズによる変更の必要性が無く、プレス装置の大きさにも依存しない点等から好ましい。   Also, the size of the rubber substrate is larger than the laminate, and the uncured adhesive resin flows unnecessarily from the end of the double-sided flexible wiring board, so-called resin flow suppression, heat conduction of the press surface plate, This is preferable in view of the fact that there is no need to change the pressure uniformity and the size of any laminate and the size does not depend on the size of the press device.

補強材として、クロスや不織布を用いることが、ラバー基材の変形を抑制し、プレス面内の圧力バラツキを抑え、均一に積層できる点から好ましい。補強材の材質は、耐熱性を具備すればガラス繊維でもスチール繊維でも特に限定されない。   It is preferable to use cloth or non-woven fabric as the reinforcing material from the viewpoint of suppressing deformation of the rubber base material, suppressing pressure variation in the press surface, and uniform lamination. The material of the reinforcing material is not particularly limited as long as it has heat resistance, whether it is glass fiber or steel fiber.

プレス積層する時の積層条件は、温度が80℃以上180℃以下、圧力が0.1MPa以上3MPa以下において0.5分以上10分以下で加熱・加圧処理することが、未硬化接着性樹脂の硬化反応の進行を抑制する観点から好ましい。両面フレキシブル配線板の配線間や内層の貫通孔への樹脂埋め込み性や表面平滑性を良好とする観点から、温度が100℃以上180℃以下、圧力が0.5MPa以上3MPa以下、圧着時間が1分以上5分以下であることが特に好ましい。   The lamination conditions for press lamination are uncured adhesive resin that is heated and pressurized for 0.5 to 10 minutes at a temperature of 80 to 180 ° C. and a pressure of 0.1 to 3 MPa. From the viewpoint of suppressing the progress of the curing reaction. From the viewpoint of improving the resin embedding property and the surface smoothness between the wirings of the double-sided flexible wiring board and in the through hole of the inner layer, the temperature is 100 ° C. to 180 ° C., the pressure is 0.5 MPa to 3 MPa, and the crimping time is 1 It is particularly preferable that the time be from 5 minutes to 5 minutes.

上記の積層条件は、真空プレス又は真空ラミネータ装置には特に依存しないため、生産時間の短縮化においては、真空ラミネータやクイックプレス装置等に好適に用いることができる。   Since the above lamination conditions do not particularly depend on the vacuum press or the vacuum laminator apparatus, they can be suitably used for a vacuum laminator, a quick press apparatus or the like in order to shorten the production time.

以上説明した本実施の形態に係るフレキシブル配線板の製造方法によれば、未硬化接着性樹脂層のアルカリ溶液を用いたエッチングを、未硬化接着性樹脂層を除去するまでの所要時間の0.1倍〜0.6倍に当たる処理時間で、アルカリ溶液をスプレーで噴射し、その後、スプレーにより水圧0.10MPa以上1.0MPa以下で水洗して行うことによって、(a)ビアホール形成に伴うスミアの発生を抑制できるので、例えば、過マンガン酸カリウム水溶液等を用いて樹脂を分解除去するデスミア処理や、プラズマやUV照射等によるアッシング処理等を省略でき、ビアホール形成コストを大幅に削減できる。また、(b)ビアホールのサイドエッチングを抑制できるため、導電層に形成されたコンフォーマルマスクを介してアルカリエッチング及び水洗処理を行うことにより、内部形状が逆台形となる小径のビアホールを安定的に形成することができる。これによりビア内部の銅めっき被覆性に優れ、また銅めっき厚みを薄くすることができることから、配線回路のファインパターン化や層間接続の信頼性に優れたフレキシブル配線板を製造することが可能となる。   According to the manufacturing method of the flexible wiring board according to the present embodiment described above, the etching using the alkaline solution of the uncured adhesive resin layer is performed in the time required for removing the uncured adhesive resin layer by 0. By spraying the alkaline solution with a spray at a treatment time corresponding to 1 to 0.6 times, and then washing with water at a water pressure of 0.10 MPa to 1.0 MPa by spraying, (a) smear caused by via hole formation Since generation can be suppressed, for example, a desmear process for decomposing and removing the resin using an aqueous potassium permanganate solution, an ashing process using plasma, UV irradiation, or the like can be omitted, and the via hole formation cost can be greatly reduced. Further, (b) side etching of the via hole can be suppressed, so that by performing alkali etching and water washing treatment through a conformal mask formed in the conductive layer, a small-diameter via hole whose inner shape is an inverted trapezoid can be stably formed. Can be formed. As a result, the copper plating coverage inside the via is excellent, and the copper plating thickness can be reduced, so that it becomes possible to manufacture a flexible wiring board with fine wiring circuit and excellent reliability of interlayer connection. .

上述のような効果に加えて、未硬化接着性樹脂層がアルカリ可溶性樹脂を含んでいるので、アルカリ溶液で溶解除去することによりビアホールを形成できるので、レーザー加工及びドリル加工によるビアホール形成に比べて、製造工程を簡略化でき、また、製造コストを削減することが可能となる。   In addition to the effects as described above, since the uncured adhesive resin layer contains an alkali-soluble resin, it is possible to form a via hole by dissolving and removing it with an alkaline solution. Compared to the formation of a via hole by laser processing and drilling. The manufacturing process can be simplified and the manufacturing cost can be reduced.

また、アルカリ溶液を用いて未硬化接着性樹脂層を溶解除去することにより、レーザー加工及びドリル加工に比べて、短時間でビアホールを形成できるので、フレキシブル配線板の連続生産も可能となる。これにより、回路品質に優れたフレキシブル配線板を高い生産効率で製造することができる。   In addition, by dissolving and removing the uncured adhesive resin layer using an alkaline solution, via holes can be formed in a shorter time compared to laser processing and drilling processing, so that continuous production of flexible wiring boards is also possible. Thereby, the flexible wiring board excellent in circuit quality can be manufactured with high production efficiency.

本実施の形態に係るフレキシブル配線板の製造方法は、フレキシブル配線板の製造に一般的に使用されている、市販でも入手可能なエッチング装置、現像装置、及び、ラミネート設備等のスプレーを有するアルカリ溶液現像装置を使用できるため、追加の設備投資が不要である。   The manufacturing method of a flexible wiring board according to the present embodiment is an alkaline solution that is commonly used for manufacturing a flexible wiring board, and has a spray such as a commercially available etching apparatus, developing apparatus, and laminating equipment. Since the developing device can be used, no additional capital investment is required.

以下、本実施の形態に係るフレキシブル配線板の製造方法を適用した多層フレキシブル配線板の製造方法について、図面を参照して詳細に説明する。   Hereinafter, a method for manufacturing a multilayer flexible wiring board to which the method for manufacturing a flexible wiring board according to the present embodiment is applied will be described in detail with reference to the drawings.

以下、第1の実施の形態に係るフレキシブル配線板の製造方法について説明する。まず、コア基板としての両面フレキシブル配線板を作製する。図1は、第1の実施の形態に係るフレキシブル配線板の製造方法の各工程を示す断面概略図である。図1Aに示すように、積層体11を用いる。この積層体11は、銅箔12a(例えば、銅箔F2−WS(12μm))と、この銅箔12a上に設けられ上記実施の形態に係る樹脂組成物を含む未硬化接着性樹脂層14と、を備える。   Hereinafter, a method for manufacturing the flexible wiring board according to the first embodiment will be described. First, a double-sided flexible wiring board as a core substrate is produced. FIG. 1 is a schematic cross-sectional view showing each step of the method for manufacturing a flexible wiring board according to the first embodiment. As shown in FIG. 1A, a laminate 11 is used. The laminated body 11 includes a copper foil 12a (for example, copper foil F2-WS (12 μm)), an uncured adhesive resin layer 14 that is provided on the copper foil 12a and includes the resin composition according to the above embodiment. .

積層体11は、銅箔12a上に有機溶媒に溶解させた本実施の形態に係る樹脂組成物を塗布してから、95℃にて12分間加熱して未硬化接着性樹脂層14に含まれる有機溶媒を乾燥して除去することにより製造される。   The laminate 11 is included in the uncured adhesive resin layer 14 by applying the resin composition according to the present embodiment dissolved in an organic solvent on the copper foil 12a and then heating at 95 ° C. for 12 minutes. It is produced by removing the organic solvent by drying.

次に、図1Bに示すように、積層体11の未硬化接着性樹脂層14を銅箔12bに重ねて、例えば、100℃にて1分間、4MPaの条件で真空プレスにより積層する。この結果、銅箔12a、未硬化接着性樹脂層14及び銅箔12bからなる積層体13が得られる。   Next, as shown in FIG. 1B, the uncured adhesive resin layer 14 of the laminate 11 is stacked on the copper foil 12b and laminated by, for example, vacuum pressing at 100 ° C. for 1 minute at 4 MPa. As a result, a laminate 13 composed of the copper foil 12a, the uncured adhesive resin layer 14, and the copper foil 12b is obtained.

次に、図1Cに示すように、積層体13の一方の銅箔12b上に感光性のレジスト層を形成し、レジスト層の露光・現像及び銅箔12bのエッチングにより、銅箔12bの一部(以下、エッチング部位という)12b−1を除去してコンフォーマルマスクを形成する。なお、感光性のレジスト層は、後述のビアホール形成のためのアルカリ溶液を用いたエッチングの際に除去される。   Next, as shown in FIG. 1C, a photosensitive resist layer is formed on one copper foil 12b of the laminate 13, and a part of the copper foil 12b is formed by exposing and developing the resist layer and etching the copper foil 12b. A conformal mask is formed by removing 12b-1 (hereinafter referred to as an etching site). The photosensitive resist layer is removed during etching using an alkaline solution for forming a via hole described later.

次に、図1Dに示すように、コンフォーマルマスクを介して銅箔12bのエッチング部位12b−1に露出した未硬化接着性樹脂層14を、アルカリ溶液を用いたエッチングにより除去して、ビアホール15を形成する。ここで行われるアルカリ溶液を用いたエッチングは、上述の通りの条件でのアルカリ溶液の噴射処理及び水洗処理によって行われる。   Next, as shown in FIG. 1D, the uncured adhesive resin layer 14 exposed at the etching site 12b-1 of the copper foil 12b through the conformal mask is removed by etching using an alkaline solution, and the via hole 15 Form. The etching using the alkaline solution performed here is performed by the alkali solution spraying treatment and the water washing treatment under the conditions as described above.

次に、硬化乾燥炉を用いて、例えば、180℃にて1時間加熱することにより、未硬化接着性樹脂層14を熱硬化して絶縁樹脂層16とする。   Next, the uncured adhesive resin layer 14 is thermally cured to form the insulating resin layer 16 by heating at 180 ° C. for 1 hour using a curing and drying furnace, for example.

次に、無電解銅めっき、又は、カーボン微粒子を付着させた後電解銅めっきを施して、ビアホール15の内壁を構成する絶縁樹脂層16及び銅箔12a、12bの表面にめっき層を形成する。このめっき層により、銅箔12a,12b間を電気的に接続する。   Next, electroless copper plating or electrolytic copper plating after carbon fine particles are attached is performed to form a plating layer on the surfaces of the insulating resin layer 16 and the copper foils 12a and 12b constituting the inner wall of the via hole 15. By this plating layer, the copper foils 12a and 12b are electrically connected.

次に、図1Eに示すように、サブトラクティブ法等により銅箔12a,12bをパターニングして回路形成を行うことにより、両面フレキシブル配線板10を得る。   Next, as shown in FIG. 1E, the double-sided flexible wiring board 10 is obtained by patterning the copper foils 12a and 12b by a subtractive method or the like to form a circuit.

次に、上述のようにして得られた両面フレキシブル配線板10をコア基板として用いて、ブラインドビアを用いた多層フレキシブル配線板を作製する。   Next, using the double-sided flexible wiring board 10 obtained as described above as a core substrate, a multilayer flexible wiring board using blind vias is produced.

図2は、第1の実施の形態に係るフレキシブル配線板の製造方法の各工程を示す断面概略図である。第1の実施の形態においては、コア基板としての上述の両面フレキシブル配線板(以下、コア基板と記す)10を用いて多層フレキシブル配線板を製造する。コア基板10においては、上述のブラインドビアが形成された両面フレキシブル配線板の他に、貫通ビアが形成されたものを用いても良い。   FIG. 2 is a schematic cross-sectional view showing each step of the method of manufacturing the flexible wiring board according to the first embodiment. In the first embodiment, a multilayer flexible wiring board is manufactured using the above-described double-sided flexible wiring board (hereinafter referred to as a core board) 10 as a core board. In the core substrate 10, in addition to the double-sided flexible wiring board on which the above-described blind via is formed, a substrate on which a through via is formed may be used.

まず、図2Aに示すように、コア基板10の銅箔12a,12b上に、それぞれ、上述の未硬化接着性樹脂層21a,21bと、銅箔22a,22bと、を順次積層する。   First, as shown in FIG. 2A, the above-mentioned uncured adhesive resin layers 21a and 21b and copper foils 22a and 22b are sequentially laminated on the copper foils 12a and 12b of the core substrate 10, respectively.

この積層工程には、上述のように、未硬化接着性樹脂層及び導電層からなる積層体を、両面フレキシブル配線板の両側に積層する方法を採用することができる。すなわち、銅箔22a,22bの表面に樹脂組成物を有機溶媒に溶解したワニスを塗工、乾燥し、未硬化接着性樹脂層21a,21bを形成し、積層体23a,23bを作製する。これらの積層体23a,23bをコア基板10の両側に配置し、ラバー基材100で挟んで加圧圧縮する。   In this lamination step, as described above, a method of laminating a laminate composed of an uncured adhesive resin layer and a conductive layer on both sides of the double-sided flexible wiring board can be employed. That is, the varnish which melt | dissolved the resin composition in the organic solvent on the surface of copper foil 22a, 22b is applied and dried, uncured adhesive resin layer 21a, 21b is formed, and laminated body 23a, 23b is produced. These laminates 23 a and 23 b are arranged on both sides of the core substrate 10, sandwiched between the rubber base materials 100, and compressed by pressure.

次に、銅箔22a,22b上に、ドライフィルムレジストをラミネートした後、ドライフィルムレジストの露光・現像、及び銅箔22a,22bのエッチングにより、図2Bに示すように、銅箔22a,22bの一部(以下、エッチング部位という)22a−1,22b−1を除去してコンフォーマルマスクを形成する。   Next, after laminating a dry film resist on the copper foils 22a and 22b, exposure and development of the dry film resist and etching of the copper foils 22a and 22b, as shown in FIG. A conformal mask is formed by removing a part (hereinafter referred to as etching site) 22a-1 and 22b-1.

次に、図2Cに示すように、コンフォーマルマスクを介して銅箔22a,22bのエッチング部位22a−1,22b−1に露出した未硬化接着性樹脂層21a,21bを、アルカリ溶液を用いたエッチングにより除去し、ブラインドビア24を形成する。ここで行われるアルカリ溶液を用いたエッチングは、上述の通りの条件でのアルカリ溶液の噴射処理及び水洗処理により行われる。   Next, as shown in FIG. 2C, the uncured adhesive resin layers 21a and 21b exposed at the etching portions 22a-1 and 22b-1 of the copper foils 22a and 22b through the conformal mask were used with an alkaline solution. The blind via 24 is formed by etching. The etching using the alkaline solution performed here is performed by the alkali solution spraying treatment and the water washing treatment under the conditions as described above.

次に、硬化乾燥炉を用いて、例えば、60℃〜200℃で、10分〜5時間加熱することにより、未硬化接着性樹脂層21a、21bを硬化させ、図2Dに示すように、絶縁樹脂層25a,25bを形成する。加熱硬化における反応雰囲気は、空気雰囲気下でも不活性ガス雰囲気下でも実施可能である。このようにして形成された絶縁樹脂層25a,25bと、銅箔22a,22bと、が積層されたものを、外部基板26a,26bと呼ぶ。   Next, the uncured adhesive resin layers 21a and 21b are cured by, for example, heating at 60 ° C. to 200 ° C. for 10 minutes to 5 hours using a curing and drying furnace, and as shown in FIG. Resin layers 25a and 25b are formed. The reaction atmosphere in heat curing can be carried out in an air atmosphere or an inert gas atmosphere. A laminate of the insulating resin layers 25a and 25b formed in this manner and the copper foils 22a and 22b is referred to as external substrates 26a and 26b.

次に、無電解銅めっき、又は、カーボン微粒子を付着させた後電解銅めっきを施して、ブラインドビア24の内壁を構成する絶縁樹脂層25a,25b及び銅箔12a,12bの表面にめっき層を形成する。これにより、コア基板10の一方の主面側の銅箔12aと、外部基板26aの銅箔22aとの間、及びコア基板10の他方の主面側の銅箔12bと、外部基板26bの銅箔22bとの間がそれぞれ電気的に接続される。   Next, the electroless copper plating or the electrolytic copper plating after carbon fine particles are attached is performed, and the plating layers are formed on the surfaces of the insulating resin layers 25a and 25b and the copper foils 12a and 12b constituting the inner wall of the blind via 24. Form. Thus, the copper foil 12a on one main surface side of the core substrate 10 and the copper foil 22a on the other main surface side of the core substrate 10, and the copper foil 12b on the other main surface side of the core substrate 10 and the copper of the external substrate 26b. The foil 22b is electrically connected to each other.

次に、図2Dに示すように、サブトラクティブ法により外部基板26a,26bの銅箔22a,22bをパターニングして回路形成を行う。次に、従来のフレキシブル配線板の製造方法と同様にして、図2Eに示すように、カバーコート27の形成等の絶縁処理を行い、多層フレキシブル配線板20を得る。   Next, as shown in FIG. 2D, circuit formation is performed by patterning the copper foils 22a and 22b of the external substrates 26a and 26b by a subtractive method. Next, in the same manner as in the conventional method for manufacturing a flexible wiring board, as shown in FIG. 2E, insulation treatment such as formation of a cover coat 27 is performed to obtain the multilayer flexible wiring board 20.

以上説明した第1の実施の形態に係る多層フレキシブル配線板20の製造方法によれば、未硬化接着性樹脂層21a,22bのアルカリ溶液を用いたエッチングを、未硬化接着性樹脂層21a,22bを除去するまでの所要時間の0.1倍〜0.6倍に当たる処理時間で、アルカリ溶液をスプレーで噴射し、その後、スプレーにより水圧0.10MPa以上1.0MPa以下で水洗して行うことによって、(a)ブラインドビア24の形成に伴うスミアの発生を抑制できるので、デスミア処理等を省略でき、ブラインドビア形成コストを大幅に削減できる。また、(b)ブラインドビア24のサイドエッチングやコンフォーマルマスクからのオーバーハングを抑制できるため、小径のブラインドビア24を安定的に形成することができるので、配線回路のファインパターン化や層間接続の信頼性に優れた多層フレキシブル配線板20を製造することが可能となる。   According to the manufacturing method of the multilayer flexible wiring board 20 according to the first embodiment described above, the etching using the alkaline solution of the uncured adhesive resin layers 21a and 22b is performed with the uncured adhesive resin layers 21a and 22b. By spraying the alkaline solution with a spray at a processing time corresponding to 0.1 to 0.6 times the time required to remove the water, and then washing with water at a water pressure of 0.10 MPa to 1.0 MPa by spraying. (A) Since the occurrence of smear associated with the formation of the blind via 24 can be suppressed, the desmear process or the like can be omitted, and the blind via formation cost can be greatly reduced. Further, (b) since the side etching of the blind via 24 and the overhang from the conformal mask can be suppressed, the blind via 24 having a small diameter can be stably formed. It becomes possible to manufacture the multilayer flexible wiring board 20 excellent in reliability.

上述のような効果に加えて、未硬化接着性樹脂層21a,21bがアルカリ可溶性樹脂を含んでいるので、アルカリ溶液で溶解除去することによりブラインドビア24を形成できる。これにより、レーザー加工及びドリル加工によるブラインドビア形成に比べて、製造工程を簡略化でき、また、製造コストを削減することが可能となる。   In addition to the effects as described above, since the uncured adhesive resin layers 21a and 21b contain an alkali-soluble resin, the blind via 24 can be formed by dissolving and removing with an alkali solution. As a result, the manufacturing process can be simplified and the manufacturing cost can be reduced as compared to blind via formation by laser processing and drilling.

また、アルカリ溶液を用いて未硬化接着性樹脂層21a,21bを溶解除去することにより、レーザー加工及びドリル加工に比べて、短時間でブラインドビア24を形成できるので、多層フレキシブル配線板20の連続生産も可能となる。これにより、回路品質に優れた多層フレキシブル配線板20を高い生産効率で製造することができる。   In addition, by dissolving and removing the uncured adhesive resin layers 21a and 21b using an alkaline solution, the blind via 24 can be formed in a shorter time compared to laser processing and drilling. Production is also possible. Thereby, the multilayer flexible wiring board 20 excellent in circuit quality can be manufactured with high production efficiency.

また、第1の実施の形態に係る多層フレキシブル配線板20の製造方法によれば、コア基板10と、外部基板26a,26bとの間にカバーコートを設けることなく多層フレキシブル配線板20を構成することができる。このため、従来の方法によって製造された多層フレキシブル配線板に比べて構成の簡略化が可能となると共に、製造工程の大幅な簡略化が可能となる。すなわち、従来の多層フレキシブル配線板の製造方法においては、両面フレキシブル配線板にボンディングシート(接着材)等を介して積層していた。両面フレキシブル配線板には、通常カバーレイと呼ばれる配線回路のカバーコート層がある。本実施の形態に係る多層フレキシブル配線板20の製造方法では、ビルドアップ法により、これまでのカバーレイによるカバーコート層とボンディングシートを未硬化接着性樹脂層21a,21bが兼ねるため、従来に比べて構成が簡略化できる。   Moreover, according to the method for manufacturing the multilayer flexible wiring board 20 according to the first embodiment, the multilayer flexible wiring board 20 is configured without providing a cover coat between the core substrate 10 and the external substrates 26a and 26b. be able to. For this reason, the configuration can be simplified as compared with the multilayer flexible wiring board manufactured by the conventional method, and the manufacturing process can be greatly simplified. That is, in the conventional method for producing a multilayer flexible wiring board, the double-sided flexible wiring board is laminated via a bonding sheet (adhesive) or the like. A double-sided flexible wiring board has a cover coat layer for a wiring circuit, usually called a coverlay. In the manufacturing method of the multilayer flexible wiring board 20 according to the present embodiment, the uncured adhesive resin layers 21a and 21b serve as the cover coat layer and the bonding sheet by the conventional coverlay by the build-up method. The configuration can be simplified.

また、第1の実施の形態に係る多層フレキシブル配線板20の製造方法は、フレキシブル配線板の製造に一般的に使用されているエッチング装置、現像装置、及び、ラミネート設備等のアルカリ溶液現像装置を使用できるため、追加の設備投資が不要である。   In addition, the manufacturing method of the multilayer flexible wiring board 20 according to the first embodiment includes an etching apparatus, a developing apparatus, and an alkaline solution developing apparatus such as a laminating equipment that are generally used for manufacturing a flexible wiring board. Since it can be used, no additional capital investment is required.

次に、本実施の形態に係るフレキシブル配線板の製造方法を適用した、フレキシブル部を有する、ブラインドビアを用いた多層フレキシブル配線板の製造方法について説明する。   Next, the manufacturing method of the multilayer flexible wiring board using the blind via which has the flexible part to which the manufacturing method of the flexible wiring board which concerns on this Embodiment is applied is demonstrated.

フレキシブル部とは、屈曲性や折り曲げ性を有し、且つ折り曲げた後の反発力が小さいことが望まれる部位である。従って肉薄化や柔軟性が必要となる。従来、この部位をルーター等を用いて機械的に削る等により製造している。しかし、本実施の形態に係るフレキシブル配線板の製造方法では、ビアホールをアルカリエッチングすると同時に、この部位をアルカリエッチング除去することにより、簡便に製造できるものである。   The flexible part is a part that has flexibility and bendability and is desired to have a small repulsive force after being bent. Therefore, thinning and flexibility are required. Conventionally, this part is manufactured by mechanically cutting it using a router or the like. However, in the method of manufacturing a flexible wiring board according to the present embodiment, the via hole can be easily manufactured by alkali etching and simultaneously removing this portion by alkali etching.

図3は、第2の実施の形態に係るフレキシブル配線板の製造方法の各工程を示す断面概略図である。コア基板10の作製及びコア基板10の両側に積層体23a,23bを積層するまでは、第1の実施の形態で説明したのと同様であるので、説明を省略する。また、以下の説明において、第1の実施の形態と同様の構成については同一の符号を付し、説明を省略する。   FIG. 3 is a schematic cross-sectional view showing each step of the method for manufacturing a flexible wiring board according to the second embodiment. Since the process up to the fabrication of the core substrate 10 and the laminations 23a and 23b on both sides of the core substrate 10 are the same as those described in the first embodiment, the description thereof is omitted. Moreover, in the following description, the same code | symbol is attached | subjected about the structure similar to 1st Embodiment, and description is abbreviate | omitted.

図3Aに示すように、銅箔22a,22bの一部(エッチング部位)22a―1,22b−1をエッチングにより除去し、コンフォーマルマスクを形成する際に、フレキシブル部に対応するエッチング部位22b−2を同時に除去する。   As shown in FIG. 3A, a part of the copper foils 22a and 22b (etching sites) 22a-1 and 22b-1 is removed by etching to form a conformal mask, and an etching site 22b- corresponding to the flexible portion is formed. Remove 2 simultaneously.

次いで、コンフォーマルマスクを介して、エッチング部位22a−1、22b−1、及び、22b−2で露出する未硬化接着性樹脂層21a,21bを、アルカリ溶液を用いたエッチングにより除去することにより、図3Bに示すように、ブラインドビア24と同時にフレキシブル部31が形成される。   Next, the uncured adhesive resin layers 21a and 21b exposed at the etching sites 22a-1, 22b-1 and 22b-2 are removed by etching using an alkaline solution through a conformal mask. As shown in FIG. 3B, the flexible portion 31 is formed simultaneously with the blind via 24.

以降は、第1の実施の形態で説明したのと同様に、未硬化接着性樹脂層21a、21bを硬化させ、図3Cに示すように、絶縁樹脂層25a,25bを形成する。次に、ブラインドビア24の内壁を構成する絶縁樹脂層25a,25b及び銅箔12a,12bの表面にめっき層を形成する。その後、図3Cに示すように、サブトラクティブ法により外部基板26a,26bの銅箔22a,22bをパターニングして回路形成を行う。次に、従来のフレキシブル基板の配線板方法と同様にして、図3Dに示すように、カバーコート27の形成等の絶縁処理を行い、多層フレキシブル配線板30を得る。   Thereafter, as described in the first embodiment, the uncured adhesive resin layers 21a and 21b are cured to form insulating resin layers 25a and 25b as shown in FIG. 3C. Next, a plating layer is formed on the surfaces of the insulating resin layers 25a and 25b and the copper foils 12a and 12b constituting the inner wall of the blind via 24. Thereafter, as shown in FIG. 3C, the copper foils 22a and 22b of the external substrates 26a and 26b are patterned by the subtractive method to form a circuit. Next, as shown in FIG. 3D, insulation processing such as formation of a cover coat 27 is performed in the same manner as in the conventional flexible substrate wiring board method, and the multilayer flexible wiring board 30 is obtained.

第2の実施の形態に係る多層フレキシブル配線板30の製造方法によれば、第1の実施の形態で説明したのと同様の効果に加えて、以下のような効果を奏する。   According to the method for manufacturing the multilayer flexible wiring board 30 according to the second embodiment, in addition to the same effects as those described in the first embodiment, the following effects can be obtained.

銅箔22a,22bにエッチング部位22a―1、22b−1を設けるのと同時に、フレキシブル部31に対応するエッチング部位22b−2を設けることで、アルカリ溶液で未硬化接着性樹脂層21a,21bを溶解除去して、ブラインドビア24を形成するのと同時に、エッチング部位22b−2に露出する未硬化接着性樹脂層21a,21bを溶解除去することで、フレキシブル部31を形成することができるので、フレキシブル部31を有する多層フレキシブル配線板30を、より短時間で且つ低コストで製造することが可能となる。   By providing the etching sites 22a-1 and 22b-1 on the copper foils 22a and 22b and at the same time providing the etching sites 22b-2 corresponding to the flexible portion 31, the uncured adhesive resin layers 21a and 21b can be formed with an alkaline solution. Since the flexible via 31 can be formed by dissolving and removing the uncured adhesive resin layers 21a and 21b exposed at the etching portion 22b-2 at the same time as forming the blind via 24 by dissolving and removing, The multilayer flexible wiring board 30 having the flexible portion 31 can be manufactured in a shorter time and at a lower cost.

以下、本発明の効果を明確にするために行った実施例について具体的に説明するが、本発明は、これらの例によって何ら限定されるものではない。   Hereinafter, although the Example performed in order to clarify the effect of this invention is described concretely, this invention is not limited at all by these examples.

まず、実施例及び比較例で使用したアルカリ可溶性樹脂を含む樹脂組成物のワニスの調整について説明する。   First, adjustment of the varnish of the resin composition containing the alkali-soluble resin used in Examples and Comparative Examples will be described.

〔サンプルS1〕
三口セパラブルフラスコに窒素導入管、温度計、水分分離トラップを備えた玉付冷却管を取り付けた。オイルバス室温で、γ―ブチロラクトン175.7g、トルエン50.0g、2,2’−ビス(3−アミノ−4−ヒドロキシフェニル)ヘキサフルオロプロパン(6FAP)21.02g、ポリアルキルエーテルジアミン(商品名:ジェファーミン(XTJ−542)、ハンツマン社製)42.60gを入れ60℃で均一になるまで攪拌した。さらに、4,4’−オキシジフタル酸二無水物(以下、ODPAと記す)30.09gを少しずつ添加した。30分後、無水フタル酸0.89gを添加した後に180℃まで昇温し、2時間加熱した。反応中、副生する水は、トルエンと共沸し、水分分離トラップを備えた玉付冷却管を用いて、還流下、脱水を行った。副生水を抜いた後、還流を止め、トルエンを全抜きし、室温まで冷却した。次に生成物を5μmのフィルターで加圧ろ過することでポリイミドAワニスを得た。ポリイミドAワニスの重量平均分子量は83000であった。
[Sample S1]
A three-necked separable flask was equipped with a nitrogen condenser, a thermometer, and a ball condenser equipped with a moisture separation trap. At oil bath room temperature, 175.7 g of γ-butyrolactone, 50.0 g of toluene, 21.02 g of 2,2′-bis (3-amino-4-hydroxyphenyl) hexafluoropropane (6FAP), polyalkyl ether diamine (trade name) : Jeffamine (XTJ-542), manufactured by Huntsman) 42.60 g was added and stirred at 60 ° C. until uniform. Furthermore, 30.09 g of 4,4′-oxydiphthalic dianhydride (hereinafter referred to as ODPA) was added little by little. After 30 minutes, 0.89 g of phthalic anhydride was added, and then the temperature was raised to 180 ° C. and heated for 2 hours. During the reaction, by-product water was azeotroped with toluene and dehydrated under reflux using a ball-mounted condenser equipped with a water separation trap. After draining by-product water, the reflux was stopped, toluene was completely drained, and the mixture was cooled to room temperature. Next, the product was pressure filtered through a 5 μm filter to obtain a polyimide A varnish. The weight average molecular weight of the polyimide A varnish was 83,000.

得られたポリイミドAワニスをそのまま用いて、固形分が45質量%になるようにγ―ブチロラクトンで希釈した。ポリイミドAワニス中の固形分が51.1質量%、オキサゾリン基を2つ含有する化合物として1,3−ビス(4,5−ジヒドロ−2−オキサゾリル)ベンゼン(PBO)が6.9質量%、複合水酸化マグネシウムMGZ−5R(堺化学工業社製)が40.0質量%、酸化防止剤としてイルガノックス245(IRG245)(BASF社製)が2.0質量%になるように調合して、サンプルS1のワニスを得た。   The obtained polyimide A varnish was used as it was, and diluted with γ-butyrolactone so that the solid content was 45% by mass. The solid content in the polyimide A varnish was 51.1% by mass, 1,3-bis (4,5-dihydro-2-oxazolyl) benzene (PBO) was 6.9% by mass as a compound containing two oxazoline groups, Compound magnesium hydroxide MGZ-5R (manufactured by Sakai Chemical Industry Co., Ltd.) is 40.0% by mass, and Irganox 245 (IRG245) (manufactured by BASF Co.) is 2.0% by mass as an antioxidant, A varnish of sample S1 was obtained.

〔サンプルS2〕
ODPAの量を30.09gから31.02gに変更し、無水フタル酸を添加せずに、ODPAを添加した後に180℃まで昇温し、2時間加熱したことを除き、サンプルS1と同様に処理して、ポリイミドBワニスを得た。ポリイミドBワニスの重量平均分子量は114000であった。
[Sample S2]
The amount of ODPA was changed from 30.09 g to 31.02 g, and it was processed in the same way as Sample S1 except that phthalate anhydride was added, ODPA was added, the temperature was raised to 180 ° C. and heated for 2 hours. As a result, polyimide B varnish was obtained. The weight average molecular weight of the polyimide B varnish was 114,000.

得られたポリイミドBワニスを、ポリイミドAワニスに代えて用いたことを除きサンプルS1と同様の組成からなるサンプルS2のワニスを調合した。   A sample S2 varnish having the same composition as the sample S1 was prepared except that the obtained polyimide B varnish was used instead of the polyimide A varnish.

〔サンプルS3〕
窒素雰囲気下、セパラブルフラスコに、γ−ブチロラクトン42.0g、トリエチレングリコールジメチルエーテル18.0g、トルエン20.0g、シリコーンジアミン(以下、KF−8010と記す)19.54mmol(信越化学工業社製)、エチレングリコール−ビス−無水トリメリット酸エステル(TMEG)(新日本理化社製)40.00mmolを入れ、ディーンシュタルク装置及び還流器をつけ、180℃で30分間加熱撹拌した。共沸溶媒であるトルエンを除去した後に、25℃まで冷却し、続いてKF−8010 4.89mmol、1,3−ビス(3−アミノフェノキシ)ベンゼン(APB−N)(三井化学社製)15.56mmolを加え、25℃で5時間撹拌した。撹拌後にポリマー固形分の濃度が30重量%となるように、γ−ブチロラクトン/トリエチレングリコールジメチルエーテルの混合溶媒を加え、ポリイミド前駆体の溶液を得た。さらにポリイミド前駆体100質量部に対して、トリス(ブトキシエチル)ホスフェート(TBXP)(大八化学社製)10質量部、ホスファゼン化合物(FP−100)(伏見製薬所社製)7質量部を混合し、サンプルS3のワニスを得た。
[Sample S3]
In a separable flask under a nitrogen atmosphere, 42.0 g of γ-butyrolactone, 18.0 g of triethylene glycol dimethyl ether, 20.0 g of toluene, 19.54 mmol of silicone diamine (hereinafter referred to as KF-8010) (manufactured by Shin-Etsu Chemical Co., Ltd.) Then, 40.00 mmol of ethylene glycol-bis-trimellitic anhydride (TMEG) (manufactured by Shin Nippon Rika Co., Ltd.) was added, and a Dean-Stark apparatus and a reflux were attached, followed by heating and stirring at 180 ° C. for 30 minutes. After removing toluene as an azeotropic solvent, the mixture was cooled to 25 ° C., followed by 4.89 mmol of KF-8010, 1,3-bis (3-aminophenoxy) benzene (APB-N) (manufactured by Mitsui Chemicals) 15 .56 mmol was added and stirred at 25 ° C. for 5 hours. After stirring, a mixed solvent of γ-butyrolactone / triethylene glycol dimethyl ether was added so that the concentration of the solid content of the polymer was 30% by weight to obtain a polyimide precursor solution. Furthermore, 10 parts by mass of tris (butoxyethyl) phosphate (TBXP) (manufactured by Daihachi Chemical Co., Ltd.) and 7 parts by mass of a phosphazene compound (FP-100) (manufactured by Fushimi Pharmaceutical Co., Ltd.) are mixed with 100 parts by mass of the polyimide precursor. As a result, a varnish of sample S3 was obtained.

〔エッチング所要時間〕
アルカリ可溶性樹脂を含む未硬化接着性樹脂層のアルカリエッチング性の評価は以下の手順により実施した。
[Etching time]
Evaluation of the alkali etching property of the uncured adhesive resin layer containing the alkali-soluble resin was performed by the following procedure.

真空吸着できる塗工台(テスター産業社製)上に電解銅箔(F2−WS)(古河電工社製)の粗面側を敷き、真空吸着させることで電解銅箔を貼り付けた。電解銅箔上にアプリケーター(テスター産業社製)を用いて、上述のサンプルS1〜S3のワニスのいずれかを塗布した。その後、乾燥機(SPH−201)(エスペック社製)で加熱乾燥し脱溶剤を行い、樹脂厚40μmの未硬化接着性樹脂付き銅箔を作製した。   A rough surface side of electrolytic copper foil (F2-WS) (manufactured by Furukawa Electric Co., Ltd.) was laid on a coating table (manufactured by Tester Sangyo Co., Ltd.) capable of vacuum adsorption, and the electrolytic copper foil was attached by vacuum adsorption. Using an applicator (manufactured by Tester Sangyo Co., Ltd.) on the electrolytic copper foil, any of the varnishes of the samples S1 to S3 described above was applied. Then, it dried by heating with a dryer (SPH-201) (manufactured by Espec) to remove the solvent, and a copper foil with an uncured adhesive resin having a resin thickness of 40 μm was produced.

得られた未硬化接着性樹脂付き銅箔の樹脂層側を、片面フレキシブル銅張板(エスパネックス(登録商標)M)(新日鉄化学社製)の銅箔面に重ねて、真空プレス(北川精機社製)を用いて、100℃、1.0MPaの条件で2分加圧接着させた。さらに、ドライフィルムレジスト(サンフォート(登録商標)AQ2578)(旭化成イーマテリアルズ社製)をラミネートし、直径3mmの円孔のコンフォーマルマスクパターンを形成した後、塩化第二鉄エッチング液で円孔形成部の銅箔をエッチング除去し未硬化接着性樹脂層を露出させた。   The resin layer side of the obtained copper foil with an uncured adhesive resin is placed on the copper foil surface of a single-sided flexible copper-clad plate (Espanex (registered trademark) M) (manufactured by Nippon Steel Chemical Co., Ltd.), and a vacuum press (Kitakawa Seiki) Was used for pressure bonding at 100 ° C. and 1.0 MPa for 2 minutes. Furthermore, after laminating a dry film resist (Sunfort (registered trademark) AQ2578) (manufactured by Asahi Kasei E-Materials) to form a conformal mask pattern having a diameter of 3 mm, a hole is formed with a ferric chloride etching solution. The copper foil of the forming part was removed by etching to expose the uncured adhesive resin layer.

その後、45℃に加温した3質量%の水酸化ナトリウム水溶液をフルコーン型ノズル(ISJJX8010)(いけうち社製)を用いて、圧力0.18MPa(噴射量0.92L/分)でスプレー噴射し、未硬化接着性樹脂層が完全に除去されるまでに要した時間を、エッチング所要時間(秒)とした。   Thereafter, a 3% by mass sodium hydroxide aqueous solution heated to 45 ° C. was spray-injected at a pressure of 0.18 MPa (injection amount 0.92 L / min) using a full cone type nozzle (ISJJX8010) (manufactured by Ikeuchi Co., Ltd.) The time required until the uncured adhesive resin layer was completely removed was defined as the etching time (seconds).

〔ブラインドビア形状評価〕
実施例及び比較例で作製したフレキシブル配線板のブラインドビアについて、開口部及び断面の形状の光学顕微鏡観察により実施した。アルカリエッチング直後に、任意のブラインドビア50点を、内層コア基板上部から光学顕微鏡観察により観察し、ブラインドビアの底部側の開口部、すなわち底部に露出する内層側銅箔面の、銅箔に形成されたコンフォーマルマスクのエッチング部位に対する面積比により評価した。任意のブラインドビア50点について評価を行い、その平均値を測定値とした。面積比が90%以上を◎、75%以上90%未満を〇、50%以上75%未満を△、50%未満を×とした。
[Blind via shape evaluation]
About the blind via of the flexible wiring board produced by the Example and the comparative example, it implemented by the optical microscope observation of the shape of an opening part and a cross section. Immediately after alkali etching, 50 arbitrary blind vias are observed from the upper part of the inner layer core substrate with an optical microscope, and are formed on the copper foil of the inner layer side copper foil surface exposed at the bottom side of the blind via, that is, the bottom part. The area ratio of the formed conformal mask to the etching site was evaluated. Evaluation was made on 50 arbitrary blind vias, and the average value was taken as the measured value. An area ratio of 90% or more was evaluated as ◎, 75% or more and less than 90% as 〇, 50% or more and less than 75% as Δ, and less than 50% as ×.

また、断面形状については、ブラインドビアを有するフレキシブル配線板をエポキシ樹脂で包埋し、包埋されたフレキシブル配線板に垂直に研磨装置(丸本ストラトス社製)を用いてブラインドビア径の中央位置まで断面研磨加工を行った後、光学顕微鏡観察により観察した。また、任意のブラインドビア10点について評価を行い、その平均値を測定値とした。ブラインドビアの断面形状では、樹脂硬化物層の、コンフォーマルマスク端部からのオーバーハング量が15μm以下を◎とし、15μm超25μm以下を○とし、25μm超30μm以下を△とし、30μmを超える場合は×とした。   As for the cross-sectional shape, a flexible wiring board having a blind via is embedded in an epoxy resin, and a vertical position of the blind via diameter is perpendicular to the embedded flexible wiring board using a polishing apparatus (manufactured by Marumoto Stratos). After performing the cross-section polishing process, it was observed with an optical microscope. Moreover, evaluation was performed for 10 arbitrary blind vias, and the average value was used as a measured value. In the cross-sectional shape of the blind via, when the overhang amount of the cured resin layer from the end of the conformal mask is 15 μm or less, ◎, more than 15 μm to 25 μm or less, ◯, more than 25 μm to 30 μm or less, and over 30 μm Is x.

〔冷熱サイクル試験〕
以下で説明する実施例7〜11及び比較例4で作製した、多層フレキシブル配線板において、直径100μmのブラインドビアを介して内層配線回路と外層配線回路を銅めっきによりデイジーチェーン接続させた配線回路を用い、125℃と−40℃のそれぞれの恒温漕を15分毎に交互に往復させ、その時の接続抵抗値を測定した。各温度での接続抵抗値の初期値からの変動幅(以下、「抵抗変動率」という)が10%以内であるサイクル数が1000サイクル以上である場合を◎、500サイクル以上1000サイクル未満である場合を○とし、500サイクル未満である場合を×とした。
[Cooling cycle test]
In the multilayer flexible wiring board manufactured in Examples 7 to 11 and Comparative Example 4 described below, a wiring circuit in which an inner layer wiring circuit and an outer layer wiring circuit are daisy chain-connected by copper plating through a blind via having a diameter of 100 μm. Each of the constant temperature baths of 125 ° C. and −40 ° C. was alternately reciprocated every 15 minutes, and the connection resistance value at that time was measured. When the number of cycles in which the fluctuation range from the initial value of the connection resistance value at each temperature (hereinafter referred to as “resistance variation rate”) is within 10% is 1000 cycles or more, ◎, 500 cycles or more and less than 1000 cycles The case was marked with ○, and the case with less than 500 cycles was marked with ×.

〔実施例1〕
サンプルS1のワニスを、12μm厚の電解銅箔(F2−WS)(古河電工社製)の片面上にバーコータを用いて塗布した。その後、95℃に加温されたオーブン中で15分間乾燥処理して溶媒を除き、外層材となる未硬化接着性樹脂付き銅箔を得た。この未熱硬化接着性樹脂付き銅箔の樹脂層側を、銅箔厚み12μmの片面フレキシブル配線基板(エスパネックス(登録商標)M)(新日鉄化学製)の銅箔上に重ねて置き、さらに両面から離形用フィルムで挟んで、積層体Aを準備した。
[Example 1]
The varnish of sample S1 was applied on one side of a 12 μm thick electrolytic copper foil (F2-WS) (manufactured by Furukawa Electric) using a bar coater. Then, it dried for 15 minutes in the oven heated at 95 degreeC, the solvent was removed, and the copper foil with uncured adhesive resin used as an outer layer material was obtained. The resin layer side of the copper foil with non-thermosetting adhesive resin is placed on the copper foil of a single-sided flexible wiring board (Espanex (registered trademark) M) (manufactured by Nippon Steel Chemical Co., Ltd.) having a copper foil thickness of 12 μm. The laminate A was prepared by sandwiching with a release film.

次に、上下両面定盤に硬度50度の耐熱シリコンラバーを貼り合せた真空プレス装置(北川精機社製)を予め120℃の真空プレス温度に加熱した。この真空プレス装置に積層体Aを入れて、2分間加圧しない状態で真空引きを行った後、圧力1MPaで2分間加圧し、外層材としての未硬化接着性樹脂付き銅箔と内層コア基板としての片面フレキシブル配線基板とを圧着させて、積層体Bを得た。   Next, a vacuum press apparatus (manufactured by Kitagawa Seiki Co., Ltd.) in which heat-resistant silicon rubber having a hardness of 50 degrees was bonded to both upper and lower surface plates was heated to a vacuum press temperature of 120 ° C. in advance. The laminated body A is put in this vacuum press apparatus, and after evacuation is performed in a state where no pressure is applied for 2 minutes, the pressure is applied at a pressure of 1 MPa for 2 minutes, and the copper foil with an uncured adhesive resin as the outer layer material and the inner layer core substrate The laminate B was obtained by crimping the single-sided flexible wiring board.

次に、積層体Bの外層の銅箔上に、ドライフィルムレジスト(サンフォート(登録商標)AQ2578)(旭化成イーマテリアルズ社製)を、ロールラミネータにより貼り合せた後、露光・現像してレジストマスクを形成した。このレジストマスクを用いて、所定の位置の銅箔をエッチング除去して、銅箔に、コンフォーマルマスクを形成した。ここで、コンフォーマルマスクは、ブラインドビアを形成するための、直径100μmのエッチング部位を300μmのピッチ間隔で複数有していると共に、直径3mmの円孔を有する。   Next, a dry film resist (Sanfort (registered trademark) AQ2578) (manufactured by Asahi Kasei E-Materials Co., Ltd.) is bonded onto the outer layer copper foil of the laminate B by a roll laminator, and then exposed and developed. A mask was formed. Using this resist mask, the copper foil at a predetermined position was removed by etching to form a conformal mask on the copper foil. Here, the conformal mask has a plurality of etching parts with a diameter of 100 μm at a pitch interval of 300 μm and a circular hole with a diameter of 3 mm for forming a blind via.

次に、銅箔をエッチングした積層体Bについて、アルカリ溶液を用いた未硬化接着性樹脂層の溶解除去(アルカリエッチング)を行った。   Next, about the laminated body B which etched the copper foil, melt | dissolution removal (alkali etching) of the uncured adhesive resin layer using an alkaline solution was performed.

積層体Bの銅箔に形成されたコンフォーマルマスクの、直径3mmの円孔の内部に露出した未硬化接着性樹脂層が完全に除去されるまでのエッチング所要時間を、上述の「エッチング所要時間」で説明した通りに測定した。エッチング所要時間は124秒であった。   The time required for etching until the uncured adhesive resin layer exposed in the 3 mm diameter circular hole of the conformal mask formed on the copper foil of the laminate B is completely removed is referred to as the “time required for etching” described above. ”And measured as described above. The time required for etching was 124 seconds.

積層体Bの銅箔に形成されたコンフォーマルマスクの、直径100μmのエッチング部位の内部に露出した未硬化接着性樹脂層に、45℃に加温した3質量%水酸化ナトリウム水溶液を、0.18MPa(噴射量0.92L/分)のフルコーン型スプレーノズルを用いて20秒間スプレー噴射処理し、その後0.12MPa(噴射量0.75L/分)のスプレーを120秒間水洗処理して、未硬化接着性樹脂層をエッチング除去して、複数のブラインドビアを形成した。   A 3 mass% sodium hydroxide aqueous solution heated to 45 ° C. was added to an uncured adhesive resin layer exposed inside an etching site having a diameter of 100 μm of a conformal mask formed on the copper foil of the laminate B. Using a full cone spray nozzle of 18 MPa (spray rate 0.92 L / min), spraying is performed for 20 seconds, and then 0.12 MPa (spray amount 0.75 L / min) of spray is washed with water for 120 seconds to be uncured. The adhesive resin layer was removed by etching to form a plurality of blind vias.

形成されたブラインドビアについて、上述の「ブラインドビア形状評価」で説明した通りに、ブラインドビアの底部側開口部の、コンフォーマルマスクのエッチング部位に対する面積比を求めたところ、75%以上90%未満であった。   Regarding the formed blind via, as described in the above “Blind via shape evaluation”, the area ratio of the opening on the bottom side of the blind via to the etching portion of the conformal mask was determined to be 75% or more and less than 90%. Met.

次に、硬化乾燥炉を用いて、ブラインドビアを形成した積層体Bを180℃で1時間加熱することにより、未硬化接着性樹脂層を硬化させ樹脂硬化物層を形成した。さらに、ブラインドビア内部に無電解銅/電解銅めっき処理を施して、フレキシブル配線板を得た。   Next, the uncured adhesive resin layer was cured by heating the layered product B on which the blind via was formed at 180 ° C. for 1 hour using a curing / drying furnace to form a cured resin layer. Furthermore, an electroless copper / electrolytic copper plating process was performed inside the blind via to obtain a flexible wiring board.

得られたフレキシブル配線板のブラインドビアについて、上述の「ブラインドビア形状評価」で説明した通りに、光学顕微鏡で、断面形状の観察を行った。その結果、内層コア基板と外層材とが銅めっき接続されており、且つ、コンフォーマルマスク端部からの樹脂硬化物層のオーバーハング量は最大12μmであった。   With respect to the obtained blind via of the flexible wiring board, the cross-sectional shape was observed with an optical microscope as described in the above “Blind via shape evaluation”. As a result, the inner layer core substrate and the outer layer material were copper-plated and the overhang amount of the cured resin layer from the end of the conformal mask was 12 μm at the maximum.

このように、実施例1で作製したフレキシブル基板のブラインドビア断面形状はオーバーハング量が小さく、銅めっき性も良好であった。   Thus, the blind via cross-sectional shape of the flexible substrate produced in Example 1 had a small overhang amount and good copper plating properties.

〔比較例1〕
実施例1と同一の方法及び条件で、コンフォーマルマスクが形成された積層体Bを作製した。
[Comparative Example 1]
A layered product B on which a conformal mask was formed was produced under the same method and conditions as in Example 1.

スプレー噴射時間を11秒から20秒に変更した以外は実施例1と同一の方法及び条件で、コンフォーマルマスクのエッチング部位から露出した未硬化接着性樹脂層を、水酸化ナトリウム水溶液を用いたエッチングにより除去して、ブラインドビアを形成した。   Etching the uncured adhesive resin layer exposed from the etching site of the conformal mask with an aqueous sodium hydroxide solution using the same method and conditions as in Example 1 except that the spraying time was changed from 11 seconds to 20 seconds. To form a blind via.

形成されたブラインドビアについて、上述の「ブラインドビア形状評価」で説明した通りに、ブラインドビアの底部側開口部の、コンフォーマルマスクのエッチング部位に対する面積比を求めたところ、10%以下であった。   Regarding the formed blind via, as described in the above “Blind via shape evaluation”, the area ratio of the bottom side opening of the blind via to the etching portion of the conformal mask was found to be 10% or less. .

また、実施例1と同一の方法及び条件で、熱硬化処理及びめっき処理を行って得られたフレキシブル配線板について、ブラインドビアの断面形状の観察を行ったところ、ブラインドビアの底部にスミアが認められ、内層コア基板と外層材とが銅めっき接続されていなかった。   Moreover, when the cross-sectional shape of the blind via was observed for the flexible wiring board obtained by performing the thermosetting treatment and the plating treatment under the same method and conditions as in Example 1, smear was observed at the bottom of the blind via. In other words, the inner layer core substrate and the outer layer material were not connected by copper plating.

〔実施例2〕
真空プレス温度を140℃とした以外は実施例1と同様の方法で、銅箔にコンフォーマルマスク及び直径3mmの円孔が形成された積層体Bを作製した。
[Example 2]
A laminate B in which a conformal mask and a circular hole with a diameter of 3 mm were formed on a copper foil was produced in the same manner as in Example 1 except that the vacuum press temperature was 140 ° C.

積層体Bの銅箔に形成されたコンフォーマルマスクの、直径3mmの円孔の内部に露出した未硬化接着性樹脂層が完全に除去されるまでのエッチング所要時間を、上述の「エッチング所要時間」で説明した通りに測定した。エッチング所要時間は119秒であった。   The time required for etching until the uncured adhesive resin layer exposed in the 3 mm diameter circular hole of the conformal mask formed on the copper foil of the laminate B is completely removed is referred to as the “time required for etching” described above. ”And measured as described above. The time required for etching was 119 seconds.

水洗時間を120秒から60秒に変更した以外は、実施例1と同一の方法及び条件で、積層体Bのコンフォーマルマスクのエッチング部位から露出した未硬化接着性樹脂層を、水酸化ナトリウム水溶液を用いたエッチングにより除去した。   Except for changing the washing time from 120 seconds to 60 seconds, the uncured adhesive resin layer exposed from the etching site of the conformal mask of the laminate B was treated with an aqueous sodium hydroxide solution under the same method and conditions as in Example 1. It removed by the etching using.

形成されたブラインドビアについて、上述の「ブラインドビア形状評価」で説明した通りに、ブラインドビアの底部側開口部の、コンフォーマルマスクのエッチング部位に対する面積比を求めたところ、75%以上90%未満であった。   Regarding the formed blind via, as described in the above “Blind via shape evaluation”, the area ratio of the opening on the bottom side of the blind via to the etching portion of the conformal mask was determined to be 75% or more and less than 90%. Met.

また、実施例1と同一の方法及び条件で、熱硬化処理及びめっき処理を行って得られたフレキシブル配線板について、ブラインドビアの断面形状の観察を行ったところ、内層コア基板と外層材とが銅めっき接続されており、且つ、コンフォーマルマスク端部からの樹脂硬化層のサイドエッチングは最大15μmであった。   Moreover, when the cross-sectional shape of the blind via was observed for the flexible wiring board obtained by performing the thermosetting treatment and the plating treatment under the same method and conditions as in Example 1, the inner core substrate and the outer layer material were found to be Copper plating was connected, and side etching of the cured resin layer from the end of the conformal mask was a maximum of 15 μm.

このように、実施例2で作製したフレキシブル基板のブラインドビアの断面形状はオーバーハング量が小さく、銅めっき性も良好であった。   Thus, the cross-sectional shape of the blind via of the flexible substrate produced in Example 2 had a small overhang amount and good copper plating properties.

〔実施例3〕
実施例2と同様の方法で、コンフォーマルマスクが形成された積層体Bを作製した。
Example 3
A layered product B on which a conformal mask was formed was produced in the same manner as in Example 2.

積層体Bの銅箔に形成されたコンフォーマルマスクの、直径3mmの円孔の内部に露出した未硬化接着性樹脂層が完全に除去されるまでのエッチング所要時間を、上述の「エッチング所要時間」で説明した通りに測定した。エッチング所要時間は119秒であった。   The time required for etching until the uncured adhesive resin layer exposed in the 3 mm diameter circular hole of the conformal mask formed on the copper foil of the laminate B is completely removed is referred to as the “time required for etching” described above. ”And measured as described above. The time required for etching was 119 seconds.

0.20MPa(噴射量0.82L/分)のスリット型スプレーノズルを用い、有効処理面へ噴射される液量分布が、液量比率で10%以内となるようにスプレーノズルをオシレーションさせたこと、及び、水洗圧力を0.18Mpa(噴射量0.82L/分)に、水洗時間を60秒にそれぞれ変更した以外は、実施例1と同一の方法及び条件で、積層体Bのコンフォーマルマスクのエッチング部位から露出した未硬化接着性樹脂層を、水酸化ナトリウム水溶液を用いたエッチングにより除去して、ブラインドビアを形成した。   Using a slit type spray nozzle of 0.20 MPa (injection amount 0.82 L / min), the spray nozzle was oscillated so that the distribution of the amount of liquid injected to the effective treatment surface was within 10% in the liquid amount ratio. And the conformal of layered product B under the same method and conditions as in Example 1 except that the washing pressure was changed to 0.18 Mpa (injection amount 0.82 L / min) and the washing time was changed to 60 seconds. The uncured adhesive resin layer exposed from the etching portion of the mask was removed by etching using an aqueous sodium hydroxide solution to form a blind via.

形成されたブラインドビアについて、上述の「ブラインドビア形状評価」で説明した通りに、ブラインドビアの底部側開口部の、コンフォーマルマスクのエッチング部位に対する面積比を求めたところ、90%以上であった。   Regarding the formed blind via, as described in the above “Blind Via Shape Evaluation”, the area ratio of the bottom side opening of the blind via to the etching site of the conformal mask was 90% or more. .

また、実施例1と同一の方法及び条件で、熱硬化処理及びめっき処理を行って得られたフレキシブル配線板について、ブラインドビアの断面形状の観察を行ったところ、内層コア基板と外層材とが銅めっき接続されており、且つ、コンフォーマルマスク端部からの樹脂層のサイドエッチングは最大13μmであった。   Moreover, when the cross-sectional shape of the blind via was observed for the flexible wiring board obtained by performing the thermosetting treatment and the plating treatment under the same method and conditions as in Example 1, the inner core substrate and the outer layer material were found to be Copper plating was connected, and side etching of the resin layer from the end of the conformal mask was 13 μm at maximum.

このように、実施例3で作製したフレキシブル基板のブラインドビアの断面形状はオーバーハング量が小さく、銅めっき性も良好であった。   Thus, the cross-sectional shape of the blind via of the flexible substrate produced in Example 3 had a small overhang amount and good copper plating properties.

〔比較例2〕
実施例2と同様の方法でコンフォーマルマスクが形成された積層体Bを作製した。
[Comparative Example 2]
A layered product B on which a conformal mask was formed was produced in the same manner as in Example 2.

水洗処理の圧力を0.05Mpaに、水洗時間を60秒にそれぞれ変更した以外は実施例1と同一の方法及び条件で、積層体Bのコンフォーマルマスクのエッチング部位から露出した未硬化接着性樹脂層を、水酸化ナトリウム水溶液を用いたエッチングにより除去して、ブラインドビアを形成した。   An uncured adhesive resin exposed from the etching site of the conformal mask of the laminate B under the same method and conditions as in Example 1 except that the water washing pressure was changed to 0.05 Mpa and the water washing time was changed to 60 seconds. The layer was removed by etching with aqueous sodium hydroxide to form a blind via.

形成されたブラインドビアについて、上述の「ブラインドビア形状評価」で説明した通りに、ブラインドビアの底部側開口部の、コンフォーマルマスクのエッチング部位に対する面積比を求めたところ、約20%であった。   Regarding the formed blind via, as described in the above “Blind Via Shape Evaluation”, the area ratio of the opening on the bottom side of the blind via to the etched portion of the conformal mask was about 20%. .

また、実施例1と同一の方法及び条件で、熱硬化処理及びめっき処理を行って得られたフレキシブル配線板について、ブラインドビアの断面形状の観察を行ったところ、ブラインドビアの底部にスミアが認められ、内層コア基板と外層材との銅めっきが十分接続されていなかった。また、コンフォーマルマスク端部からの樹脂硬化層のサイドエッチングは最大15μmであった。   Moreover, when the cross-sectional shape of the blind via was observed for the flexible wiring board obtained by performing the thermosetting treatment and the plating treatment under the same method and conditions as in Example 1, smear was observed at the bottom of the blind via. Therefore, the copper plating between the inner layer core substrate and the outer layer material was not sufficiently connected. The side etching of the cured resin layer from the end of the conformal mask was 15 μm at the maximum.

〔実施例4〕
真空プレス温度を160℃とした以外は実施例1と同一の方法及び条件で、コンフォーマルマスクが形成された積層体Bを作製した。
Example 4
A layered product B on which a conformal mask was formed was produced by the same method and conditions as in Example 1 except that the vacuum press temperature was 160 ° C.

積層体Bの銅箔に形成されたコンフォーマルマスクの、直径3mmの円孔の内部に露出した未硬化接着性樹脂層が完全に除去されるまでのエッチング所要時間を、上述の「エッチング所要時間」で説明した通りに測定した。エッチング所要時間は128秒であった。   The time required for etching until the uncured adhesive resin layer exposed in the 3 mm diameter circular hole of the conformal mask formed on the copper foil of the laminate B is completely removed is referred to as the “time required for etching” described above. ”And measured as described above. The time required for etching was 128 seconds.

0.25MPa(噴射量0.82L/分)のスリット型スプレーノズルを用い、有効処理面へ噴射される液量分布が、液量比率で10%以内となるようにスプレーノズルをオシレーションさせ、スプレー噴射時間を25秒に変更したこと、及び、水洗圧力を0.18Mpa(噴射量0.88L/分)に、水洗時間を60秒にそれぞれ変更した以外は、実施例1と同一の方法及び条件で、積層体Bのコンフォーマルマスクのエッチング部位から露出した未硬化接着性樹脂層を、水酸化ナトリウム水溶液を用いたエッチングにより除去して、ブラインドビアを形成した。   Using a slit type spray nozzle of 0.25 MPa (spray amount 0.82 L / min), the spray nozzle is oscillated so that the liquid amount distribution sprayed to the effective treatment surface is within 10% in the liquid amount ratio, The same method as in Example 1 except that the spraying time was changed to 25 seconds, the washing pressure was changed to 0.18 Mpa (injection amount 0.88 L / min), and the washing time was changed to 60 seconds. Under conditions, the uncured adhesive resin layer exposed from the etching site of the conformal mask of the laminate B was removed by etching using an aqueous sodium hydroxide solution to form a blind via.

形成されたブラインドビアについて、上述の「ブラインドビア形状評価」で説明した通りに、ブラインドビアの底部側開口部の、コンフォーマルマスクのエッチング部位に対する面積比を求めたところ、90%以上であった。   Regarding the formed blind via, as described in the above “Blind Via Shape Evaluation”, the area ratio of the bottom side opening of the blind via to the etching site of the conformal mask was 90% or more. .

また、実施例1と同一の方法及び条件で、熱硬化処理及びめっき処理を行って得られたフレキシブル配線板について、ブラインドビアの断面形状の観察を行ったところ、内層コア基板と外層材とが銅めっき接続されており、且つ、コンフォーマルマスク端部からの樹脂層のサイドエッチングは最大10μmであった。   Moreover, when the cross-sectional shape of the blind via was observed for the flexible wiring board obtained by performing the thermosetting treatment and the plating treatment under the same method and conditions as in Example 1, the inner core substrate and the outer layer material were found to be Copper plating was connected, and side etching of the resin layer from the end of the conformal mask was 10 μm at maximum.

このように、実施例4で作製したフレキシブル基板のブラインドビアの断面形状はオーバーハング量が小さく、銅めっき性も良好であった。   Thus, the cross-sectional shape of the blind via of the flexible substrate produced in Example 4 had a small overhang amount and good copper plating properties.

〔実施例5〕
真空プレス温度を180℃とした以外は実施例1と同様の方法で、コンフォーマルマスクが形成された積層体Bを作製した。
Example 5
A laminate B on which a conformal mask was formed was produced in the same manner as in Example 1 except that the vacuum press temperature was 180 ° C.

積層体Bの銅箔に形成されたコンフォーマルマスクの、直径3mmの円孔の内部に露出した未硬化接着性樹脂層が完全に除去されるまでのエッチング所要時間を、上述の「エッチング所要時間」で説明した通りに測定した。エッチング所要時間は134秒であった。   The time required for etching until the uncured adhesive resin layer exposed in the 3 mm diameter circular hole of the conformal mask formed on the copper foil of the laminate B is completely removed is referred to as the “time required for etching” described above. ”And measured as described above. The etching time was 134 seconds.

スプレー噴射時間を70秒に変更したこと、及び、水洗圧力を0.18Mpaに、水洗時間を120秒にそれぞれ変更した以外は、実施例1と同一の方法及び条件で、積層体Bのコンフォーマルマスクのエッチング部位から露出した未硬化接着性樹脂層を、水酸化ナトリウム水溶液を用いたエッチングにより除去して、ブラインドビアを形成した。   Conformal of layered product B under the same method and conditions as in Example 1 except that the spraying time was changed to 70 seconds, the washing pressure was changed to 0.18 Mpa, and the washing time was changed to 120 seconds. The uncured adhesive resin layer exposed from the etching portion of the mask was removed by etching using an aqueous sodium hydroxide solution to form a blind via.

形成されたブラインドビアについて、上述の「ブラインドビア形状評価」で説明した通りに、ブラインドビアの底部側開口部の、コンフォーマルマスクのエッチング部位に対する面積比を求めたところ、75%以上90%未満であった。   Regarding the formed blind via, as described in the above “Blind via shape evaluation”, the area ratio of the opening on the bottom side of the blind via to the etching portion of the conformal mask was determined to be 75% or more and less than 90%. Met.

また、実施例1と同一の方法及び条件で、熱硬化処理及びめっき処理を行って得られたフレキシブル配線板について、ブラインドビアの断面形状の観察を行ったところ、内層コア基板と外層材とが銅めっき接続されており、且つコンフォーマルマスク端部からの樹脂層のサイドエッチングは最大30μmであった。   Moreover, when the cross-sectional shape of the blind via was observed for the flexible wiring board obtained by performing the thermosetting treatment and the plating treatment under the same method and conditions as in Example 1, the inner core substrate and the outer layer material were found to be Copper plating was connected, and side etching of the resin layer from the end of the conformal mask was 30 μm at maximum.

このように、実施例5で作製したフレキシブル基板のブラインドビアの断面形状はオーバーハング量が小さく、銅めっき性も良好であった。   Thus, the cross-sectional shape of the blind via of the flexible substrate produced in Example 5 had a small overhang amount and good copper plating properties.

〔実施例6〕
サンプルS2のワニスを用い、真空プレス温度を160℃とした以外は、実施例1と同一の方法及び条件で、コンフォーマルマスクが形成された積層体Bを作製した。
Example 6
A laminate B on which a conformal mask was formed was produced by the same method and conditions as in Example 1 except that the varnish of sample S2 was used and the vacuum press temperature was 160 ° C.

積層体Bの銅箔に形成されたコンフォーマルマスクの、直径3mmの円孔の内部に露出した未硬化接着性樹脂層が完全に除去されるまでのエッチング所要時間を、上述の「エッチング所要時間」で説明した通りに測定した。エッチング所要時間は145秒であった。   The time required for etching until the uncured adhesive resin layer exposed in the 3 mm diameter circular hole of the conformal mask formed on the copper foil of the laminate B is completely removed is referred to as the “time required for etching” described above. ”And measured as described above. The time required for etching was 145 seconds.

0.20MPa(噴射量0.82L/分)のスリット型スプレーノズルを用い、有効処理面へ噴射される液量分布が、液量比率で10%以内となるようにスプレーノズルをオシレーションさせ、スプレー噴射時間を36秒に変更したこと、及び、水洗圧力を0.18Mpa(噴射量0.82L/分)に、水洗時間を60秒にそれぞれ変更した以外は、実施例1と同一の方法及び条件で、積層体Bのコンフォーマルマスクのエッチング部位から露出した未硬化接着性樹脂層を、水酸化ナトリウム水溶液を用いたエッチングにより除去して、ブラインドビアを形成した。   Using a slit type spray nozzle of 0.20 MPa (spray amount 0.82 L / min), the spray nozzle is oscillated so that the liquid amount distribution sprayed to the effective treatment surface is within 10% in the liquid amount ratio, The same method as in Example 1 except that the spray spraying time was changed to 36 seconds, the water washing pressure was changed to 0.18 Mpa (injection amount 0.82 L / min), and the water washing time was changed to 60 seconds. Under conditions, the uncured adhesive resin layer exposed from the etching site of the conformal mask of the laminate B was removed by etching using an aqueous sodium hydroxide solution to form a blind via.

形成されたブラインドビアについて、上述の「ブラインドビア形状評価」で説明した通りに、ブラインドビアの底部側開口部の、コンフォーマルマスクのエッチング部位に対する面積比を求めたところ、75%以上90%未満であった。   Regarding the formed blind via, as described in the above “Blind via shape evaluation”, the area ratio of the opening on the bottom side of the blind via to the etching portion of the conformal mask was determined to be 75% or more and less than 90%. Met.

また、実施例1と同一の方法及び条件で、熱硬化処理及びめっき処理を行って得られたフレキシブル配線板について、ブラインドビアの断面形状の観察を行ったところ、内層コア基板と外層材とが銅めっき接続されており、且つ、コンフォーマルマスク端部からの樹脂層のサイドエッチングは最大7μmであった。   Moreover, when the cross-sectional shape of the blind via was observed for the flexible wiring board obtained by performing the thermosetting treatment and the plating treatment under the same method and conditions as in Example 1, the inner core substrate and the outer layer material were found to be Copper plating was connected, and the side etching of the resin layer from the end of the conformal mask was 7 μm at maximum.

このように、実施例6で作製したフレキシブル基板のブラインドビア断面形状はオーバーハング量が小さく、銅めっき性も良好であった。   Thus, the blind via cross-sectional shape of the flexible substrate produced in Example 6 had a small overhang amount and good copper plating properties.

〔比較例3〕
サンプル3のワニスを用いた以外は実施例1と同様の方法で、コンフォーマルマスクが形成された積層体Bを作製した。
[Comparative Example 3]
A layered product B on which a conformal mask was formed was produced in the same manner as in Example 1 except that the varnish of Sample 3 was used.

積層体Bの銅箔に形成されたコンフォーマルマスクの、直径3mmの円孔の内部に露出した未硬化接着性樹脂層が完全に除去されるまでのエッチング所要時間を、上述の「エッチング所要時間」で説明した通りに測定した。エッチング所要時間は22秒であった。   The time required for etching until the uncured adhesive resin layer exposed in the 3 mm diameter circular hole of the conformal mask formed on the copper foil of the laminate B is completely removed is referred to as the “time required for etching” described above. ”And measured as described above. The etching time was 22 seconds.

スプレー噴射時間を11秒から15秒に変更した以外は実施例1と同一の方法及び条件で、積層体Bの、コンフォーマルマスクのエッチング部位から露出した未硬化接着性樹脂層を、水酸化ナトリウム水溶液を用いたエッチングにより除去して、ブラインドビアを形成した。   The uncured adhesive resin layer exposed from the etching part of the conformal mask of the laminate B was subjected to the same method and conditions as in Example 1 except that the spraying time was changed from 11 seconds to 15 seconds. A blind via was formed by removing by etching using an aqueous solution.

形成されたブラインドビアについて、上述の「ブラインドビア形状評価」で説明した通りに、ブラインドビアの底部側開口部の、コンフォーマルマスクのエッチング部位に対する面積比を求めたところ、90%以上であった。   Regarding the formed blind via, as described in the above “Blind Via Shape Evaluation”, the area ratio of the bottom side opening of the blind via to the etching site of the conformal mask was 90% or more. .

また、実施例1と同一の方法及び条件で、熱硬化処理及びめっき処理を行って得られたフレキシブル配線板について、ブラインドビアの断面形状の観察を行ったところ、コンフォーマルマスク端部からの樹脂層のオーバーハングは最少45μmであり、ブラインドビアのサイドウォールへの銅めっき性は不良であった。   Moreover, when the cross-sectional shape of the blind via was observed for the flexible wiring board obtained by performing the thermosetting process and the plating process under the same method and conditions as in Example 1, the resin from the end of the conformal mask The layer overhang was a minimum of 45 μm, and the copper plating property to the side wall of the blind via was poor.

〔実施例7〕
内層コア基板を、以下のようにして作製した。まず、両面フレキシブル配線板としてエスパネックスM(新日鉄化学製、銅箔厚み12μm、絶縁性樹脂層厚20μm)を用意した。この両面フレキシブル配線板に、ドリル加工及び銅めっき処理により直径100μmのブラインドビアを形成した。また、外層材のブラインドビアを形成する所定の位置に直径300μmの銅ランド部と、外層材を積層した後に内層と外層とをブラインドビアを介して無電解銅/電解銅めっき層を形成してデイジーチェーンで接続した回路を形成できるように、100μm幅でランド間を交互に繋いだ銅配線回路(28μm厚)を形成した。
Example 7
The inner layer core substrate was produced as follows. First, Espanex M (manufactured by Nippon Steel Chemical Co., Ltd., copper foil thickness 12 μm, insulating resin layer thickness 20 μm) was prepared as a double-sided flexible wiring board. A blind via having a diameter of 100 μm was formed on this double-sided flexible wiring board by drilling and copper plating. In addition, after laminating the outer layer material with a copper land portion having a diameter of 300 μm at a predetermined position where the outer layer material blind via is formed, the inner layer and the outer layer are formed with an electroless copper / electrolytic copper plating layer via the blind via. A copper wiring circuit (28 μm thick) having a width of 100 μm and alternately connecting lands was formed so that a circuit connected by a daisy chain could be formed.

次に、サンプルS1のワニスを、12μm厚の電解銅箔(F2−WS、古河電工製)上にバーコータを用いて塗布し、その後95℃に加温されたオーブン中で15分乾燥処理をして、40μm厚の未硬化接着性樹脂層を形成して、外層材となる未硬化接着性樹脂付き銅箔を得た。   Next, the varnish of sample S1 was applied onto a 12 μm thick electrolytic copper foil (F2-WS, manufactured by Furukawa Electric) using a bar coater, and then dried in an oven heated to 95 ° C. for 15 minutes. Then, an uncured adhesive resin layer having a thickness of 40 μm was formed to obtain a copper foil with an uncured adhesive resin as an outer layer material.

この未硬化接着性樹脂付き銅箔を、内層コア基板の上下面に重ねて置き、さらに両面から離形用フィルムで挟んだ積層体Cを作製した。   This uncured adhesive resin-coated copper foil was placed on the upper and lower surfaces of the inner layer core substrate, and a laminate C was prepared by sandwiching it with release films from both sides.

積層装置としてロール・トゥ・ロール法での積層が可能なダイヤフラム型真空ラミネータ(名機製作所製)を用いた。積層方法としては、ダイヤフラムのシリコンラバー表面温度を120℃に設定し、積層体Cを真空ラミネータ内部に搬送した後、2分間ラミネート加圧しない状態で真空引きを行い、その後圧力0.9MPaで2分間加圧し、外層材と内層コア基板とを圧着した。   A diaphragm type vacuum laminator (manufactured by Meiki Seisakusho) that can be laminated by the roll-to-roll method was used as the laminating apparatus. As a lamination method, the silicon rubber surface temperature of the diaphragm was set to 120 ° C., and after the laminate C was conveyed into the vacuum laminator, vacuuming was performed for 2 minutes without laminating pressure, and then 2 MPa at a pressure of 0.9 MPa. The outer layer material and the inner layer core substrate were pressure-bonded by pressurizing for a minute.

次に、外層の銅箔上にドライフィルムレジスト(サンフォート(登録商標)AQ2578)(旭化成イーマテリアルズ社製)をロールラミネータにより貼り合せた後、露光・現像、及びエッチングにより、所定の位置の銅箔をエッチング除去し、内層コア基板に形成された銅ランド部の上方に位置するように、コンフォーマルマスクを形成した。コンフォーマルマスクは、直径100μmのエッチング部位をピッチ300μmで複数有すると共に、直径3mmの円孔を有する。これにより、コンフォーマルマスクを有する積層体Dを得た。   Next, after laminating a dry film resist (Sunfort (registered trademark) AQ2578) (manufactured by Asahi Kasei E-Materials Co., Ltd.) on the copper foil of the outer layer with a roll laminator, exposure, development, and etching The copper foil was removed by etching, and a conformal mask was formed so as to be positioned above the copper land portion formed on the inner layer core substrate. The conformal mask has a plurality of etching portions with a diameter of 100 μm at a pitch of 300 μm and has circular holes with a diameter of 3 mm. Thereby, the laminated body D which has a conformal mask was obtained.

積層体Dの銅箔に形成されたコンフォーマルマスクの、直径3mmの円孔の内部に露出した未硬化接着性樹脂層が完全に除去されるまでのエッチング所要時間を、上述の「エッチング所要時間」で説明した通りに測定した。エッチング所要時間は121秒であった。   The time required for etching until the uncured adhesive resin layer exposed in the 3 mm diameter circular hole of the conformal mask formed on the copper foil of the laminate D is completely removed is referred to as the “time required for etching” described above. ”And measured as described above. The time required for etching was 121 seconds.

また、積層体Dの、コンフォーマルマスクの直径100μmのエッチング部位から露出した未硬化接着性樹脂層を、以下のようにして、エッチング除去して、複数のブラインドビアを形成した。エッチングには、山縣機械製の現像装置YCE−85 IIIを用いた。現像装置では、スリット型スプレーノズルを、積層体Dに対して上下に配置し、有効処理面への噴射される液量分布が液量比率で10%以内となるように、毎分40回揺動のオシレーションを行った。   Further, the uncured adhesive resin layer exposed from the etching portion of the conformal mask having a diameter of 100 μm of the laminate D was etched away as follows to form a plurality of blind vias. For the etching, a developing device YCE-85 III manufactured by Yamagata Kikai was used. In the developing device, slit type spray nozzles are arranged above and below the layered product D, and are shaken 40 times per minute so that the distribution of the amount of liquid sprayed to the effective processing surface is within 10% in terms of the liquid amount ratio. Oscillation of motion.

45℃に加温した3質量%水酸化ナトリウム水溶液を、上側は0.25MPa(噴射量0.92L/分)、下側は0.25MPa(噴射量0.92L/分)の圧力で25秒間スプレー噴液処理し、次いで0.18MPa(噴射量0.88L/分)のスプレーで60秒間水洗処理した。   A 3% by weight sodium hydroxide aqueous solution heated to 45 ° C., 25 seconds at a pressure of 0.25 MPa (injection amount 0.92 L / min) on the upper side and 0.25 MPa (injection amount 0.92 L / min) on the lower side The spray fountain treatment was carried out, followed by a water washing treatment with a spray of 0.18 MPa (spray amount 0.88 L / min) for 60 seconds.

形成されたブラインドビアについて、上述の「ブラインドビア形状評価」で説明した通りに、ブラインドビアの底部側開口部の、コンフォーマルマスクのエッチング部位に対する面積比を求めたところ、90%以上であった。   Regarding the formed blind via, as described in the above “Blind Via Shape Evaluation”, the area ratio of the bottom side opening of the blind via to the etching site of the conformal mask was 90% or more. .

次に、硬化乾燥炉を用いて180℃で1時間加熱することにより未硬化接着性樹脂層を硬化させて、樹脂硬化物層を形成した。その後、ブラインドビアの断面形状の観察を行ったところ、ブラインドビアの壁面や底部にはスミアが観測されず、ブラインドビア形成は良好であり、過マンガン酸カリウム水溶液等によるデスミア工程は不要であった。   Next, the uncured adhesive resin layer was cured by heating at 180 ° C. for 1 hour using a curing and drying furnace to form a cured resin layer. After that, when the cross-sectional shape of the blind via was observed, no smear was observed on the wall surface or bottom of the blind via, the formation of the blind via was good, and the desmear process using an aqueous potassium permanganate solution or the like was unnecessary. .

次に、内層コア基板との電気的接続を取るため、ブラインドビアへのめっき処理を行った。まず、ブラインドビアの内壁の樹脂硬化物層に、パラジウム触媒を付着させて活性化処理し、次に、無電解銅めっき浴でエアレーションをさせながら無電解銅めっき層を形成した。その後、電解銅めっきを施して、内層コアの導電層と外層導電層の電気的接続を完了させた。   Next, in order to establish an electrical connection with the inner layer core substrate, a plating process was performed on the blind via. First, a palladium catalyst was attached to the resin cured material layer on the inner wall of the blind via and activated, and then an electroless copper plating layer was formed while aeration was performed in an electroless copper plating bath. Thereafter, electrolytic copper plating was performed to complete the electrical connection between the conductive layer of the inner core and the outer conductive layer.

次に、従来の多層フレキシブル配線板と同様に、外層材に回路形成工程を行った。また、ブラインドビアの周囲には、直径300μmの銅ランド部を形成した。また、内層材側で繋いでいないランド間を幅100μmの配線回路で繋いで内層と外層をデイジーチェーン接続した配線回路を形成した。以降の工程も従来のフレキシブル配線板の製造方法と同様にして実施した。これにより、多層フレキシブル配線板を得た。   Next, a circuit forming process was performed on the outer layer material in the same manner as in the conventional multilayer flexible wiring board. Further, a copper land portion having a diameter of 300 μm was formed around the blind via. In addition, a wiring circuit was formed in which lands that are not connected on the inner layer material side were connected by a wiring circuit having a width of 100 μm and the inner layer and the outer layer were connected in a daisy chain. The subsequent steps were performed in the same manner as the conventional method for manufacturing a flexible wiring board. Thereby, a multilayer flexible wiring board was obtained.

得られた多層フレキシブル配線板のブラインドビアについて、上述の「ブラインドビア形状評価」で説明した通りに、光学顕微鏡で、断面形状の観察を行った。その結果、内層コア基板と外層材とが銅めっき接続されており、且つ、コンフォーマルマスク端部からの樹脂層のサイドエッチングは上下とも最大15μmであった。また、デスミア処理なしでもブラインドビアの底部にスミアは確認されなかった。   With respect to the obtained blind via of the multilayer flexible wiring board, the cross-sectional shape was observed with an optical microscope as described in the above “Blind via shape evaluation”. As a result, the inner layer core substrate and the outer layer material were copper-plated and the side etching of the resin layer from the end of the conformal mask was 15 μm at the top and bottom. In addition, no smear was observed at the bottom of the blind via without desmear treatment.

また、得られた多層フレキシブル配線板について、上述の「冷熱サイクル試験」を行った。その結果は、1000サイクルまで抵抗変動率は10%以下であり、層間接続の信頼性の評価は良好であった。   Further, the above-mentioned “cooling cycle test” was performed on the obtained multilayer flexible wiring board. As a result, the resistance fluctuation rate was 10% or less up to 1000 cycles, and the evaluation of the reliability of the interlayer connection was good.

このように、実施例7で作製した多層フレキシブル配線板は、ブラインドビア形成性及び層間接続の信頼性に優れていた。   Thus, the multilayer flexible wiring board produced in Example 7 was excellent in the blind via formation property and the reliability of interlayer connection.

〔実施例8〕
実施例7と同一の方法及び条件で、コンフォーマルマスクを有する積層体Dを作製した。
Example 8
A laminate D having a conformal mask was produced under the same method and conditions as in Example 7.

積層体Dの銅箔に形成されたコンフォーマルマスクの、直径3mmの円孔の内部に露出した未硬化接着性樹脂層が完全に除去されるまでのエッチング所要時間を、上述の「エッチング所要時間」で説明した通りに測定した。エッチング所要時間は121秒であった。   The time required for etching until the uncured adhesive resin layer exposed in the 3 mm diameter circular hole of the conformal mask formed on the copper foil of the laminate D is completely removed is referred to as the “time required for etching” described above. ”And measured as described above. The time required for etching was 121 seconds.

積層体Dを、スプレー噴射時間を25秒から40秒に変更した以外は、実施例7と同一の条件でエッチング処理し、ブラインドビアを形成した。   The laminated body D was etched under the same conditions as in Example 7 except that the spraying time was changed from 25 seconds to 40 seconds to form blind vias.

形成されたブラインドビアについて、上述の「ブラインドビア形状評価」で説明した通りに、ブラインドビアの底部側開口部の、コンフォーマルマスクのエッチング部位に対する面積比を求めたところ、90%以上であった。   Regarding the formed blind via, as described in the above “Blind Via Shape Evaluation”, the area ratio of the bottom side opening of the blind via to the etching site of the conformal mask was 90% or more. .

以降の工程も、実施例7と同一の条件で行い、多層フレキシブル配線板を得た。   Subsequent steps were performed under the same conditions as in Example 7 to obtain a multilayer flexible wiring board.

得られた多層フレキシブル配線板のブラインドビアについて、上述の「ブラインドビア形状評価」で説明した通りに、光学顕微鏡で、断面形状の観察を行った。その結果、内層コア基板と外層材とが銅めっき接続されており、且つ、コンフォーマルマスク端部からの樹脂層のサイドエッチングは上下とも最大25μmであった。   With respect to the obtained blind via of the multilayer flexible wiring board, the cross-sectional shape was observed with an optical microscope as described in the above “Blind via shape evaluation”. As a result, the inner layer core substrate and the outer layer material were copper-plated and the side etching of the resin layer from the end of the conformal mask was 25 μm at the top and bottom.

また、得られた多層フレキシブル配線板について、上述の「冷熱サイクル試験」を行った。その結果は、880サイクルまで抵抗変動率は10%以下であり、層間接続の信頼性の評価は良好であった。   Further, the above-mentioned “cooling cycle test” was performed on the obtained multilayer flexible wiring board. As a result, the resistance fluctuation rate was 10% or less until 880 cycles, and the reliability of the interlayer connection was evaluated well.

このように、実施例8で作製した多層フレキシブル配線板は、ブラインドビア形成性及び層間接続の信頼性に優れていた。   Thus, the multilayer flexible wiring board produced in Example 8 was excellent in blind via formation property and interlayer connection reliability.

〔実施例9〕
実施例7と同一の方法及び条件で、コンフォーマルマスクを有する積層体Dを作製した。
Example 9
A laminate D having a conformal mask was produced under the same method and conditions as in Example 7.

積層体Dの銅箔に形成されたコンフォーマルマスクの、直径3mmの円孔の内部に露出した未硬化接着性樹脂層が完全に除去されるまでのエッチング所要時間を、上述の「エッチング所要時間」で説明した通りに測定した。エッチング所要時間は121秒であった。   The time required for etching until the uncured adhesive resin layer exposed in the 3 mm diameter circular hole of the conformal mask formed on the copper foil of the laminate D is completely removed is referred to as the “time required for etching” described above. ”And measured as described above. The time required for etching was 121 seconds.

積層体Dを、オシレーション機能のないアルカリ剥離装置を用い、また、スプレー噴射時間を25秒から40秒に変更した以外は、実施例7と同一の条件でエッチング処理し、ブラインドビアを形成した。このときの有効処理面への噴射される液量分布は液量比率で50%以上であった。   The laminated body D was etched under the same conditions as in Example 7 except that an alkali peeling device without an oscillation function was used and the spray spraying time was changed from 25 seconds to 40 seconds to form blind vias. . At this time, the distribution of the amount of liquid injected to the effective treatment surface was 50% or more in terms of the liquid amount ratio.

形成されたブラインドビアについて、上述の「ブラインドビア形状評価」で説明した通りに、ブラインドビアの底部側開口部の、コンフォーマルマスクのエッチング部位に対する面積比を求めたところ、70%以上であった。   As for the formed blind via, as described in the above “Blind via shape evaluation”, the area ratio of the bottom side opening of the blind via to the etching portion of the conformal mask was 70% or more. .

以降の工程も、実施例7と同一の条件で行い、多層フレキシブル配線板を得た。   Subsequent steps were performed under the same conditions as in Example 7 to obtain a multilayer flexible wiring board.

得られた多層フレキシブル配線板のブラインドビアについて、上述の「ブラインドビア形状評価」で説明した通りに、光学顕微鏡で、断面形状の観察を行った。その結果、内層コア基板と外層材とが銅めっき接続されており、且つ、コンフォーマルマスク端部からの樹脂層のサイドエッチングは上下とも最大25μmであった。   With respect to the obtained blind via of the multilayer flexible wiring board, the cross-sectional shape was observed with an optical microscope as described in the above “Blind via shape evaluation”. As a result, the inner layer core substrate and the outer layer material were copper-plated and the side etching of the resin layer from the end of the conformal mask was 25 μm at the top and bottom.

また、得られた多層フレキシブル配線板について、上述の「冷熱サイクル試験」を行った。その結果は、600サイクルまで抵抗変動率は10%以下であり、層間接続の信頼性の評価は良好であった。   Further, the above-mentioned “cooling cycle test” was performed on the obtained multilayer flexible wiring board. As a result, the resistance fluctuation rate was 10% or less up to 600 cycles, and the evaluation of the reliability of the interlayer connection was good.

このように、実施例9で作製した多層フレキシブル配線板は、ブラインドビア形成性及び層間接続の信頼性に優れていた。   As described above, the multilayer flexible wiring board produced in Example 9 was excellent in blind via formation and interlayer connection reliability.

〔実施例10〕
実施例7と同一の方法及び条件で、コンフォーマルマスクを有する積層体Dを作製した。
Example 10
A laminate D having a conformal mask was produced under the same method and conditions as in Example 7.

積層体Dの銅箔に形成されたコンフォーマルマスクの、直径3mmの円孔の内部に露出した未硬化接着性樹脂層が完全に除去されるまでのエッチング所要時間を、上述の「エッチング所要時間」で説明した通りに測定した。エッチング所要時間は121秒であった。   The time required for etching until the uncured adhesive resin layer exposed in the 3 mm diameter circular hole of the conformal mask formed on the copper foil of the laminate D is completely removed is referred to as the “time required for etching” described above. ”And measured as described above. The time required for etching was 121 seconds.

積層体Dを、水洗処理の圧力を0.30MPaに変更した以外は、実施例7と同一の条件でエッチング処理し、ブラインドビアを形成した。   The laminated body D was etched under the same conditions as in Example 7 except that the water washing pressure was changed to 0.30 MPa to form blind vias.

形成されたブラインドビアについて、上述の「ブラインドビア形状評価」で説明した通りに、ブラインドビアの底部側開口部の、コンフォーマルマスクのエッチング部位に対する面積比を求めたところ、90%以上であった。   Regarding the formed blind via, as described in the above “Blind Via Shape Evaluation”, the area ratio of the bottom side opening of the blind via to the etching site of the conformal mask was 90% or more. .

以降の工程も、実施例7と同一の条件で行い、多層フレキシブル配線板を得た。   Subsequent steps were performed under the same conditions as in Example 7 to obtain a multilayer flexible wiring board.

得られた多層フレキシブル配線板のブラインドビアについて、上述の「ブラインドビア形状評価」で説明した通りに、光学顕微鏡で、断面形状の観察を行った。その結果、内層コア基板と外層材とが銅めっき接続されており、且つ、コンフォーマルマスク端部からの樹脂層のサイドエッチングは上下とも最大20μmであった。   With respect to the obtained blind via of the multilayer flexible wiring board, the cross-sectional shape was observed with an optical microscope as described in the above “Blind via shape evaluation”. As a result, the inner layer core substrate and the outer layer material were connected by copper plating, and the side etching of the resin layer from the end of the conformal mask was 20 μm at the top and bottom.

また、得られた多層フレキシブル配線板について、上述の「冷熱サイクル試験」を行った。その結果は、1000サイクルまで抵抗変動率は10%以下であり、層間接続の信頼性の評価は良好であった。   Further, the above-mentioned “cooling cycle test” was performed on the obtained multilayer flexible wiring board. As a result, the resistance fluctuation rate was 10% or less up to 1000 cycles, and the evaluation of the reliability of the interlayer connection was good.

このように、実施例10で作製した多層フレキシブル配線板は、ブラインドビア形成性及び層間接続の信頼性に優れていた。   Thus, the multilayer flexible wiring board produced in Example 10 was excellent in blind via formation property and interlayer connection reliability.

〔比較例4〕
実施例7と同一の方法及び条件で、コンフォーマルマスクを有する積層体Dを作製した。
[Comparative Example 4]
A laminate D having a conformal mask was produced under the same method and conditions as in Example 7.

積層体Dの銅箔に形成されたコンフォーマルマスクの、直径3mmの円孔の内部に露出した未硬化接着性樹脂層が完全に除去されるまでのエッチング所要時間を、上述の「エッチング所要時間」で説明した通りに測定した。エッチング所要時間は121秒であった。   The time required for etching until the uncured adhesive resin layer exposed in the 3 mm diameter circular hole of the conformal mask formed on the copper foil of the laminate D is completely removed is referred to as the “time required for etching” described above. ”And measured as described above. The time required for etching was 121 seconds.

積層体Dを、水洗処理を、送液ポンプの能力を上げた高圧洗浄装置を用いて1.2MPaで60秒間行った以外は、実施例7と同一の条件でエッチング処理し、ブラインドビアを形成した。   The laminated body D is etched under the same conditions as in Example 7 except that the water washing treatment is performed at 1.2 MPa for 60 seconds using a high-pressure washing apparatus with an increased ability of the liquid feed pump to form a blind via. did.

形成されたブラインドビアについて、上述の「ブラインドビア形状評価」で説明した通りに、ブラインドビアの底部側開口部の、コンフォーマルマスクのエッチング部位に対する面積比を求めたところ、90%以上であった。   Regarding the formed blind via, as described in the above “Blind Via Shape Evaluation”, the area ratio of the bottom side opening of the blind via to the etching site of the conformal mask was 90% or more. .

以降の工程も、実施例7と同一の条件で行い、多層フレキシブル配線板を得た。   Subsequent steps were performed under the same conditions as in Example 7 to obtain a multilayer flexible wiring board.

得られた多層フレキシブル配線板のブラインドビアについて、上述の「ブラインドビア形状評価」で説明した通りに、光学顕微鏡で、断面形状の観察を行った。その結果、コンフォーマルマスク端部からの樹脂層のサイドエッチングは上下とも最大35μmであり、ブラインドビアの底部の樹脂が内層コア基板から剥離しており、銅めっきが部分的に断線していることが確認された。   With respect to the obtained blind via of the multilayer flexible wiring board, the cross-sectional shape was observed with an optical microscope as described in the above “Blind via shape evaluation”. As a result, the side etching of the resin layer from the end of the conformal mask is 35 μm at the top and bottom, the resin at the bottom of the blind via is peeled off from the inner core substrate, and the copper plating is partially disconnected. Was confirmed.

〔実施例11〕
実施例7と同一の方法及び条件で、積層体Cを作製した。この積層体Cの外層の銅箔上にドライフィルムレジスト(サンフォート(登録商標)AQ2578)(旭化成イーマテリアルズ社製)をロールラミネータにより貼り合せた。この後、露光・現像及びエッチングにより、所定の位置の銅箔を除去し、内層コア基板に形成された銅ランド部の上方に位置するように、直径100μmのエッチング部位を複数有すると共に、直径3mmの円孔を有するコンフォーマルマスクを形成した。同時にフレキシブル部となる部位も同じ工程にて銅箔を除去した。これにより、コンフォーマルマスク及びフレキシブル部に対応するエッチング部位を有する積層体Eを得た。
Example 11
A layered product C was produced under the same method and conditions as in Example 7. A dry film resist (Sunfort (registered trademark) AQ2578) (manufactured by Asahi Kasei E-Materials Co., Ltd.) was bonded onto the copper foil of the outer layer of the laminate C using a roll laminator. Thereafter, the copper foil at a predetermined position is removed by exposure / development and etching, and a plurality of etching portions having a diameter of 100 μm are provided so as to be located above the copper land portion formed on the inner layer core substrate, and the diameter is 3 mm. A conformal mask having a circular hole was formed. At the same time, the copper foil was removed in the same process for the part to be the flexible part. Thereby, the laminated body E which has an etching site | part corresponding to a conformal mask and a flexible part was obtained.

積層体Eの銅箔に形成されたコンフォーマルマスクの、直径3mmの円孔の内部に露出した未硬化接着性樹脂層が完全に除去されるまでのエッチング所要時間を、上述の「エッチング所要時間」で説明した通りに測定した。エッチング所要時間は121秒であった。   The time required for etching until the uncured adhesive resin layer exposed inside the circular hole having a diameter of 3 mm of the conformal mask formed on the copper foil of the laminate E is completely removed. ”And measured as described above. The time required for etching was 121 seconds.

また、積層体Eの、コンフォーマルマスクの直径100μmのエッチング部位、及び、フレキシブル部に対応するエッチング部位から露出した未硬化接着性樹脂層を、以下のようにして、エッチング除去して、複数のブラインドビア及びフレキシブル部を形成した。エッチングには、山縣機械製の現像装置YCE−85 IIIを用いた。現像装置では、スリット型スプレーノズルを積層体Eに対して上下に配置し、有効処理面への噴射される液量分布が液量比率で10%以内となるように、毎分40回揺動のオシレーションを行った。   In addition, the uncured adhesive resin layer exposed from the etching part of the conformal mask having a diameter of 100 μm and the etching part corresponding to the flexible part of the laminate E is etched and removed as follows. Blind vias and flexible parts were formed. For the etching, a developing device YCE-85 III manufactured by Yamagata Kikai was used. In the developing device, slit type spray nozzles are arranged above and below the laminate E, and swung 40 times per minute so that the distribution of the amount of liquid sprayed to the effective processing surface is within 10% in terms of the liquid volume ratio. Oscillation was performed.

45℃に加温した3質量%水酸化ナトリウム水溶液を、上側は0.2MPa(噴射量0.88L/分)、下側は0.25MPa(噴射量0.92L/分)の圧力で25秒間スプレー噴液処理し、次いで0.18MPa(噴射量0.88L/分)のスプレーで60秒間水洗処理した。   A 3% by mass sodium hydroxide aqueous solution heated to 45 ° C., with an upper pressure of 0.2 MPa (injection amount 0.88 L / min) and a lower side of 0.25 MPa (injection amount 0.92 L / min) for 25 seconds. The spray fountain treatment was carried out, followed by a water washing treatment with a spray of 0.18 MPa (spray amount 0.88 L / min) for 60 seconds.

形成されたブラインドビアについて、上述の「ブラインドビア形状評価」で説明した通りに、ブラインドビアの底部側開口部の、コンフォーマルマスクのエッチング部位に対する面積比を求めたところ、90%以上であった。   Regarding the formed blind via, as described in the above “Blind Via Shape Evaluation”, the area ratio of the bottom side opening of the blind via to the etching site of the conformal mask was 90% or more. .

次に、硬化乾燥炉を用いて180℃で1時間加熱することにより未硬化接着性樹脂層を硬化させて、樹脂硬化物層を形成した。その後、ブラインドビアの断面形状の観察を行ったところ、ブラインドビアの壁面や底部にはスミアが観測されず、ブラインドビア形成は良好であり、過マンガン酸カリウム水溶液等によるデスミア工程は不要であった。   Next, the uncured adhesive resin layer was cured by heating at 180 ° C. for 1 hour using a curing and drying furnace to form a cured resin layer. After that, when the cross-sectional shape of the blind via was observed, no smear was observed on the wall surface or bottom of the blind via, the formation of the blind via was good, and the desmear process using an aqueous potassium permanganate solution or the like was unnecessary. .

次に、内層コア基板との電気的接続を取るため、ブラインドビアへのめっき処理を行った。まず、ブラインドビアの内壁の樹脂硬化物層に、パラジウム触媒を付着させて活性化処理し、次に、無電解銅めっき浴でエアレーションをさせながら無電解銅めっき層を形成した。その後、電解銅めっきを施して、内層コアの導電層と外層導電層の電気的接続を完了させた。   Next, in order to establish an electrical connection with the inner layer core substrate, a plating process was performed on the blind via. First, a palladium catalyst was attached to the resin cured material layer on the inner wall of the blind via and activated, and then an electroless copper plating layer was formed while aeration was performed in an electroless copper plating bath. Thereafter, electrolytic copper plating was performed to complete the electrical connection between the conductive layer of the inner core and the outer conductive layer.

次に、従来の多層フレキシブル配線板と同様に、外層材に回路形成工程を行った。また、ブラインドビアの周囲には、直径300μmの銅ランド部を形成した。また、内層材側で繋いでいないランド間を幅100μmの配線回路で繋いで内層と外層をデイジーチェーン接続した配線回路を形成した。以降の工程も従来のフレキシブル配線板の製造方法と同様にして実施した。これにより、多層フレキシブル配線板を得た。   Next, a circuit forming process was performed on the outer layer material in the same manner as in the conventional multilayer flexible wiring board. Further, a copper land portion having a diameter of 300 μm was formed around the blind via. In addition, a wiring circuit was formed in which lands that are not connected on the inner layer material side were connected by a wiring circuit having a width of 100 μm and the inner layer and the outer layer were connected in a daisy chain. The subsequent steps were performed in the same manner as the conventional method for manufacturing a flexible wiring board. Thereby, a multilayer flexible wiring board was obtained.

得られた多層フレキシブル配線板のブラインドビアについて、上述の「ブラインドビア形状評価」で説明した通りに、光学顕微鏡で、断面形状の観察を行った。その結果、内層コア基板と外層材とが銅めっき接続されており、且つ、コンフォーマルマスク端部からの樹脂層のサイドエッチングは上下とも最大17μmであった。また、デスミア処理なしでもブラインドビアの底部にスミアは確認されなかった。   With respect to the obtained blind via of the multilayer flexible wiring board, the cross-sectional shape was observed with an optical microscope as described in the above “Blind via shape evaluation”. As a result, the inner layer core substrate and the outer layer material were copper-plated and the side etching of the resin layer from the end of the conformal mask was 17 μm at the top and bottom. In addition, no smear was observed at the bottom of the blind via without desmear treatment.

また、得られた多層フレキシブル配線板について、上述の「冷熱サイクル試験」を行った。その結果は、1000サイクルまで抵抗変動率は10%以下であり、層間接続の信頼性の評価は良好であった。   Further, the above-mentioned “cooling cycle test” was performed on the obtained multilayer flexible wiring board. As a result, the resistance fluctuation rate was 10% or less up to 1000 cycles, and the evaluation of the reliability of the interlayer connection was good.

このように、実施例11で作製した多層フレキシブル配線板は、ブラインドビア形成性及び層間接続の信頼性に優れていた。   Thus, the multilayer flexible wiring board produced in Example 11 was excellent in blind via formation property and interlayer connection reliability.

表1及び表2に、実施例1〜11及び比較例1〜4における、ワニス、真空プレス温度、エッチング所要時間(表1及び表2中、「エッチング」と記す)、スプレー噴射時間(表1及び表2中、「噴射」と記す)、噴射時間とエッチング所要時間との比(表1及び表2中、「噴射/エッチング」と記す)、ノズルの種類、オシレーションの有無、液量分布、水洗の圧力及び処理時間、ブラインドビアの開口部及び断面の形状評価、並びに、冷熱サイクル試験の結果を示す。   In Tables 1 and 2, the varnish, the vacuum press temperature, the time required for etching (referred to as “etching” in Tables 1 and 2), and the spray injection time (Table 1) in Examples 1 to 11 and Comparative Examples 1 to 4 And in Table 2, “injection”), ratio of injection time to required etching time (indicated in “Injection / etching” in Tables 1 and 2), nozzle type, presence / absence of oscillation, liquid volume distribution The results of the water washing pressure and treatment time, the blind via opening and cross-sectional shape evaluation, and the thermal cycle test are shown.

Figure 0006161293
Figure 0006161293

Figure 0006161293
Figure 0006161293

なお、本発明は上記実施の形態に限定されず、種々変更して実施することが可能である。上記実施の形態において、添付図面に図示されている大きさや形状等については、これに限定されず、本発明の効果を発揮する範囲内で適宜変更することが可能である。   In addition, this invention is not limited to the said embodiment, It can change and implement variously. In the above-described embodiment, the size, shape, and the like illustrated in the accompanying drawings are not limited to this, and can be appropriately changed within a range in which the effects of the present invention are exhibited.

本発明は、フレキシブル配線板の製造に適用することができ、例えば、高密度で部品の実装が要求される種々の電子部品のためのフレキシブル配線板の製造に好適に適用することが可能である。   The present invention can be applied to the manufacture of a flexible wiring board, for example, can be suitably applied to the manufacture of a flexible wiring board for various electronic components that are required to be mounted at a high density. .

10 両面フレキシブル配線板(コア基板)
11,13,23a,23b 積層体
12a,12b,22a,22b 銅箔
14,21a,21b 未硬化接着性樹脂層
15 ビアホール
16,25a,25b 絶縁樹脂層
20,30 多層フレキシブル配線板
24 ブラインドビア
26a,26b 外部基板
31 フレキシブル部
10 Double-sided flexible wiring board (core substrate)
11, 13, 23a, 23b Laminated body 12a, 12b, 22a, 22b Copper foil 14, 21a, 21b Uncured adhesive resin layer 15 Via hole 16, 25a, 25b Insulating resin layer 20, 30 Multilayer flexible wiring board 24 Blind via 26a 26b External substrate 31 Flexible part

Claims (12)

第1の導電層の表面上にアルカリ可溶性を有する未硬化接着性樹脂層を設ける工程と、前記未硬化接着性樹脂層の表面上に第2の導電層を設ける工程と、前記第2の導電層の一部を除去してコンフォーマルマスクを形成する工程と、前記コンフォーマルマスクの開口部内に露出する前記未硬化接着性樹脂層を、アルカリ溶液を用いたエッチングにより除去して前記第1の導電層に達するビアホールを形成する工程と、を具備し、
前記エッチングは、前記未硬化接着性樹脂層を除去するまでの所要時間の0.1倍〜0.6倍に当たる処理時間で、前記アルカリ溶液を前記第2の導電層側からスプレーで噴射し、その後、スプレーにより水圧0.10MPa以上1.0MPa以下で前記第2の導電層側から水洗することにより行うことを特徴とするフレキシブル配線板の製造方法。
A step of providing an alkali-soluble uncured adhesive resin layer on the surface of the first conductive layer, a step of providing a second conductive layer on the surface of the uncured adhesive resin layer, and the second conductivity Forming a conformal mask by removing a part of the layer; and removing the uncured adhesive resin layer exposed in the opening of the conformal mask by etching using an alkaline solution. Forming a via hole reaching the conductive layer,
The etching is performed by spraying the alkaline solution from the second conductive layer side with a treatment time corresponding to 0.1 to 0.6 times the time required to remove the uncured adhesive resin layer, Then, the method of manufacturing a flexible wiring board is performed by washing with water from the second conductive layer side at a water pressure of 0.10 MPa to 1.0 MPa by spraying.
前記第1の導電層が、少なくとも一層の導電層を備えたコア基板の表面に設けられた導電層であることを特徴とする請求項1記載のフレキシブル配線板の製造方法。   2. The method for manufacturing a flexible wiring board according to claim 1, wherein the first conductive layer is a conductive layer provided on a surface of a core substrate provided with at least one conductive layer. 加熱により前記未硬化接着性樹脂層を硬化して絶縁樹脂層を得る工程と、前記ビアホールの内部を含む前記第2の導電層の表面にめっきを施して、前記第1の導電層及び前記第2の導電層を電気的に接続する工程と、さらに具備することを特徴とする請求項2記載のフレキシブル配線板の製造方法。   A step of curing the uncured adhesive resin layer by heating to obtain an insulating resin layer; and plating the surface of the second conductive layer including the inside of the via hole to thereby form the first conductive layer and the first conductive layer. The method for manufacturing a flexible wiring board according to claim 2, further comprising a step of electrically connecting the two conductive layers. 前記第2の導電層に前記コンフォーマルマスクを形成するのと同時に、前記第2の導電層の所定の部位を除去し、前記エッチングにより、前記ビアホールを形成するのと同時に、前記所定の部位に露出する前記未硬化接着性樹脂層を同時に除去することを特徴とする請求項2又は請求項3記載のフレキシブル配線板の製造方法。   At the same time as forming the conformal mask on the second conductive layer, a predetermined portion of the second conductive layer is removed, and at the same time as forming the via hole by the etching, The method for producing a flexible wiring board according to claim 2 or 3, wherein the exposed uncured adhesive resin layer is removed simultaneously. 前記アルカリ溶液のスプレー噴射において、液圧が0.15MPa以上0.3MPa以下であることを特徴とする請求項1から請求項4のいずれかに記載のフレキシブル配線板の製造方法。   The method for producing a flexible wiring board according to any one of claims 1 to 4, wherein in the spraying of the alkaline solution, the liquid pressure is 0.15 MPa or more and 0.3 MPa or less. 前記スプレーによる水洗を60秒〜120秒間行うことを特徴とする請求項1から請求項5のいずれかに記載のフレキシブル配線板の製造方法。   The method for producing a flexible wiring board according to any one of claims 1 to 5, wherein the washing with water is performed for 60 seconds to 120 seconds. 前記アルカリ溶液のスプレー噴射において、有効処理面内の流量分布が液量比率で有効処理面の中央に比べたバラツキが±20%以内であることを特徴とする請求項1から請求項6のいずれかに記載のフレキシブル配線板の製造方法。   7. The spraying of the alkali solution according to any one of claims 1 to 6, wherein the flow rate distribution in the effective processing surface is within ± 20% of a variation in liquid volume ratio compared to the center of the effective processing surface. The manufacturing method of the flexible wiring board of crab. 前記未硬化接着性樹脂層は、分子鎖中にカルボキシル基又はフェノール性水酸基を有するアルカリ可溶性樹脂を含有することを特徴とする請求項1から請求項7のいずれかに記載のフレキシブル配線板の製造方法。   The said uncured adhesive resin layer contains alkali-soluble resin which has a carboxyl group or a phenolic hydroxyl group in a molecular chain, The manufacturing of the flexible wiring board in any one of Claims 1-7 characterized by the above-mentioned. Method. 前記アルカリ可溶性樹脂が、少なくともフェノール性水酸基及びポリイミド構造を有することを特徴とする請求項8記載のフレキシブル配線板の製造方法。   The method for producing a flexible wiring board according to claim 8, wherein the alkali-soluble resin has at least a phenolic hydroxyl group and a polyimide structure. 前記未硬化接着性樹脂層が、(a)下記一般式(1)及び(2)で表される構造を含有するポリイミドと、(b)2以上のオキサゾリン基を有するオキサゾリン化合物と、を含有することを特徴とする請求項1から請求項7のいずれかに記載のフレキシブル配線板の製造方法。
Figure 0006161293
(一般式(1)中、Xは単結合、−O−、−SO−、−C(=O)−又はシリコーン含有基を表す。)
Figure 0006161293
(一般式(2)中、Zは単結合又は−C(−CF−を表し、lは1から4の整数を表す。)
The uncured adhesive resin layer contains (a) a polyimide containing a structure represented by the following general formulas (1) and (2), and (b) an oxazoline compound having two or more oxazoline groups. The manufacturing method of the flexible wiring board in any one of Claim 1 to 7 characterized by the above-mentioned.
Figure 0006161293
(In the general formula (1), X represents a single bond, —O—, —SO 2 —, —C (═O) — or a silicone-containing group.)
Figure 0006161293
(In General Formula (2), Z represents a single bond or —C (—CF 3 ) 2 —, and 1 represents an integer of 1 to 4.)
前記未硬化接着性樹脂層が難燃剤を含有することを特徴とする請求項1から請求項10のいずれかに記載のフレキシブル配線板の製造方法。   The said uncured adhesive resin layer contains a flame retardant, The manufacturing method of the flexible wiring board in any one of Claims 1-10 characterized by the above-mentioned. 前記未硬化接着性樹脂層が密着材を含有することを特徴とする請求項1から請求項11のいずれかに記載のフレキシブル配線板の製造方法。   The method for producing a flexible wiring board according to any one of claims 1 to 11, wherein the uncured adhesive resin layer contains an adhesion material.
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