JP2013140428A - エッジ検出装置、エッジ検出プログラム、およびエッジ検出方法 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】以上の課題を解決するために、本発明は、エッジ判断の対象画素Cと比較するための「周辺領域」に関して、当該周辺領域が円形となるように画素値に対して重み付けを行う機能を備えるエッジ検出装置を提供する。
【選択図】図2
Description
<概要>
図1は、本実施例のエッジ検出装置におけるエッジ検出の一例を説明するための概念図である。この図1(a)にあるように、本実施例のエッジ検出装置では、エッジ検出の対象となる中心画素Cに対して、その周辺を円形領域Sとなるように設定する。なおデジタル画像における各画素は矩形であるため、その矩形画素の集合である領域をそのままで円形領域とすることはできない。そこで、円形領域Sにおいて円弧部分をなす画素の画素値については重み付け処理を行い画素値を取得することで、円形領域を選択して画素値を取得した場合と同等の処理となるようにする。
図2は、本実施例のエッジ検出装置における機能ブロックの一例を表す図である。なお、以下に記載する本装置の機能ブロックは、ハードウェア及びソフトウェアの組み合わせとして実現され得る。具体的には、コンピュータを利用するものであれば、CPUや主メモリ、バス、あるいは二次記憶装置(ハードディスクや不揮発性メモリ、CDやDVDなどの記憶メディアとそれらメディアの読取ドライブなど)、情報入力に利用される入力デバイス、印刷機器や表示装置、その他の外部周辺装置などのハードウェア構成部、またその外部周辺装置用のインターフェース、通信用インターフェース、それらハードウェアを制御するためのドライバプログラムやその他アプリケーションプログラム、ユーザ・インターフェース用アプリケーションなどが挙げられる。そして主メモリ上に展開したプログラムに従ったCPUの演算処理によって、入力デバイスやその他インターフェースなどから入力され、メモリやハードディスク上に保持されているデータなどが加工、蓄積されたり、上記各ハードウェアやソフトウェアを制御するための命令が生成されたりする。あるいは本装置の機能ブロックは専用ハードウェアによって実現されてもよい。
なお、正の閾値を使用するか、負の閾値を使用するか、あるいはその両方を使用し、さらに2つの二値画像の境界を検出する処理を加えてエッジとするか、ということはエッジ検出の対象(検出目的)やその他の条件に応じて異なるようにすると良い。例えば白地に書かれた小さな黒文字を検出することが目的である場合には負の閾値を用いることが望ましい。一方、同じ文字でも、幅を持った大きな文字を検出したい場合には正の閾値を使用するほうが望ましい場合もある。
ここで正負の閾値について、より詳細に説明する。すなわち、エッジは画素境界線上に存在するため、画像として表現する際、エッジのどちら側の画素でもエッジ表現に使用することができる。そして輝度差があるエッジ近傍において、暗い側をエッジとして検出する場合には正の閾値が利用され、明るい側をエッジとして検出する場合には負の閾値が利用されることになる。また、正負の閾値それぞれでエッジ検出処理を行い、両方の検出結果を使用して平均化や分散、標準偏差などの統計処理を行い、より正確な位置のエッジを検出するよう構成しても良い。
図6は、上記機能的な各構成要件をハードウェアとして実現した際の、エッジ検出装置における構成の一例を表す概略図である。この図を利用してエッジ検出処理におけるそれぞれのハードウェア構成部の働きについて説明する。
図7は、本実施例のエッジ検出装置における処理の流れの一例を表すフローチャートである。なお、以下に示すステップは、上記のような計算機の各ハードウェア構成によって実行されるステップであっても良いし、媒体に記録され計算機を制御するためのプログラムを構成する処理ステップであっても構わない。
なお上記処理手順は一例であり、同様の結果が得られるものであればその処理内容や順番はさまざまであって良い。例えば、まずすべての画素の画素値を取得し、つづいてエッジ判断対象画素Cを特定する。つづいて、その特定されたエッジ判断対象画素の周辺領域を円形領域とする図3(b)に示すような重み付けを示すテーブルデータであり、周辺領域に含まれない画素の重み付け値を「0.00」とするようなテーブルデータを利用して、先に取得したすべての画素の画素値に対する重み付け処理を行い、ぼけ平均画素値を算出する(その後の処理は上記と同様)、という具合である。
以上のように本実施例のエッジ検出装置によって、エッジ画素の判断をカメラのレンズ形状に応じた周辺領域のぼけ平均画素値との比較で判断することができ、より精度の高いエッジ検出を行うことができる。
<概要>
本実施例は、上記実施例を基本として、さらにぼけ平均画素値を算出するために設定される周辺領域の大きさを変更可能であることを特徴とするエッジ検出装置である。特に、カメラのレンズ特性などに応じてその周辺領域の大きさを変更することを特徴とする。
図8は、本実施例のエッジ検出装置の機能ブロックの一例を表す図である。この図にあるように、本実施例の「エッジ検出装置」0800は、実施例1を基本として、「対象画素値取得部」0801と、「ぼけ平均画素値算出部」0802と、「判断部」0803と、「重み付け手段」0804を有する。そして、本実施例のエッジ検出装置は、ぼけ平均画素値算出部がさらに「変更手段」0805を有するとともに、「被写界深度取得部」0806と、「変更制御部」0807と、を有することを特徴とする。
また、撮影画像データに含まれる、いわゆる「Exif(エクスチェンジャブル・イメージ・ファイル・フォーマット)情報」で示される焦点距離や絞り値を取得し、これらを変数として被写界深度を算出する構成としても良い。
図10は、本実施例のエッジ検出装置における処理の流れの一例を表すフローチャートである。なお、以下に示すステップは、上記のような計算機の各ハードウェア構成によって実行されるステップであっても良いし、媒体に記録され計算機を制御するためのプログラムを構成する処理ステップであっても構わない。なおエッジ検出全体にかかる処理の流れについての説明は、上記実施例にて図7を用いて説明したものと同様であるので省略する。ここでは図7のステップS0702の処理で利用される周辺領域の大きさ決定に係る処理について説明する。
以上のように本実施例のエッジ検出装置によって、周辺領域の大きさを任意に変更することができる。また、エッジ検出対象の画像を生成したカメラのレンズ特性などに応じてその周辺領域の大きさを変更することで、エッジの検出に適切な大きさに周辺領域を定めて処理を行うことができる。
0201 対象画素取得部
0202 ぼけ平均画素値算出部
0203 判断部
0204 重み付け手段
Claims (7)
- エッジ判断対象画素の画素値である対象画素値を取得する対象画素値取得部と、
エッジ判断対象画素の周辺領域の画素値の平均値であるぼけ平均画素値を算出するぼけ平均画素値算出部と、
対象画素値をぼけ平均画素値で割った値が所定の閾値以上であるか判断する判断部と、
を有し、
ぼけ平均画素値算出部は、エッジ判断対象画素の周辺画素値の平均値を算出するに際して、周辺領域としてエッジ判断対象画素を略中心とした円形領域を選択したと同等となるように周辺画素の画素値に対して重み付けをする重み付け手段を有するエッジ検出装置。 - 判断部での判断結果に応じてエッジ強調画像を生成するエッジ強調画像生成部と、
前記閾値を変更する閾値変更部と、
をさらに有する請求項1に記載のエッジ検出装置。 - ぼけ平均画素値算出部が平均画素値を算出するために選択される周辺領域の大きさを変更する変更手段をさらに有する請求項1または2に記載のエッジ検出装置。
- エッジ判断対象の画像を生成した際の被写界深度を取得する被写界深度取得部と、
取得した被写界深度に応じて前記変更手段によって変更される周辺領域の大きさを制御する変更制御部と、
をさらに有する請求項3に記載のエッジ検出装置。 - 前記画素値は、CIE表色系のLAB色空間で示される明度である請求項1から4のいずれか一に記載のエッジ検出装置。
- エッジ判断対象画素の画素値である対象画素値を取得する対象画素値取得ステップと、
エッジ判断対象画素の周辺領域の画素値の平均値であるぼけ平均画素値を算出するぼけ平均画素値算出ステップと、
対象画素値をぼけ平均画素値で割った値が所定の閾値以上であるか判断する判断ステップと、
を計算機に実行させ、
ぼけ平均画素値算出ステップを、エッジ判断対象画素の周辺画素値の平均値を算出するに際して、周辺領域としてエッジ判断対象画素を略中心とした円形領域を選択したと同等となるように周辺画素の画素値に対して重み付けをする重み付けステップを含み計算機に実行させるエッジ検出プログラム。 - エッジ判断対象画素の画素値である対象画素値を取得する対象画素値取得ステップと、
エッジ判断対象画素の周辺領域の画素値の平均値であるぼけ平均画素値を算出するぼけ平均画素値算出ステップと、
対象画素値をぼけ平均画素値で割った値が所定の閾値以上であるか判断する判断ステップと、
を計算機に実行させ、
ぼけ平均画素値算出ステップを、エッジ判断対象画素の周辺画素値の平均値を算出するに際して、周辺領域としてエッジ判断対象画素を略中心とした円形領域を選択したと同等となるように周辺画素の画素値に対して重み付けをする重み付けステップを含み計算機に実行させるエッジ検出方法。
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