JP2013128907A - Drawing apparatus and pattern correction device - Google Patents

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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a drawing apparatus capable of preventing contact of the edge of a nozzle and the surface of a substrate.SOLUTION: The drawing device arranges the edge 1a of an inkjet nozzle 1 at a waiting position upward of the surface of the substrate 4 in waiting, and arranges the edge 1a of the nozzle 1 at a drawing position upward of the drawing start point to discharge a liquid material 2 after once stopping the edge 1a of the nozzle 1 at a correction position upward of a drawing start point in drawing. Thus, the contact of the edge 1a of the nozzle 1 and the surface of the substrate 4 can be prevented by setting a correction distance H between the correction position and the drawing position small.

Description

この発明は描画装置およびパターン修正装置に関し、特に、基板の表面に液状物質を吐出してパターンを描画する描画装置と、基板の表面に形成されたパターンの欠陥を修正するパターン修正装置に関する。   The present invention relates to a drawing apparatus and a pattern correction apparatus, and more particularly to a drawing apparatus that draws a pattern by discharging a liquid material on the surface of a substrate, and a pattern correction apparatus that corrects a defect in a pattern formed on the surface of the substrate.

インクジェットを用いて基板の表面にパターンを描画する方法は、他の描画方法に比べてインクの利用効率が高く、作業工程を簡素化できる効果もあって、最近では様々な分野で利用されている。インクの吐出方法としては、圧電式や加熱式、静電吸引式などが知られている。より微細なパターンを描画するためには静電吸引式のインクジェット装置が用いられる(たとえば、特許文献1参照)。   The method of drawing a pattern on the surface of a substrate using an ink jet has higher utilization efficiency of ink than other drawing methods and has the effect of simplifying the work process, and has recently been used in various fields. . As an ink ejection method, a piezoelectric method, a heating method, an electrostatic suction method, and the like are known. In order to draw a finer pattern, an electrostatic suction type ink jet apparatus is used (see, for example, Patent Document 1).

静電吸引式のインクジェット装置では、ノズルに注入した液状物質にパルス電圧を印加する。これにより、ノズル先端から基板に向かって円錐状のテーラーコーンが形成され、テーラーコーンの頂部から基板表面に達するジェット流(液柱)が生じ、液状物質の一部が基板の上に移動して液滴を形成する。この状態でノズルと基板とを相対移動させることにより、基板の表面に所望の形状のパターンを描画することができる。   In an electrostatic suction type ink jet device, a pulse voltage is applied to a liquid substance injected into a nozzle. As a result, a conical tailor cone is formed from the nozzle tip toward the substrate, a jet flow (liquid column) is generated from the top of the tailor cone to the substrate surface, and a part of the liquid substance moves onto the substrate. Form droplets. By relatively moving the nozzle and the substrate in this state, a pattern having a desired shape can be drawn on the surface of the substrate.

また、液晶ディスプレイのTFT(Thin Film Transistor)基板に微細な断線欠陥が存在する場合には、静電吸引式のインクジェット装置を用いて導電性インク(修正液)を断線欠陥部に塗布して修正を行なう(たとえば、特許文献2参照)。   In addition, if there is a minute disconnection defect on the TFT (Thin Film Transistor) substrate of the liquid crystal display, it is corrected by applying conductive ink (correction liquid) to the disconnection defect using an electrostatic suction ink jet device. (For example, refer to Patent Document 2).

特開2010−188264号公報JP 2010-188264 A 特許第4248840号公報Japanese Patent No. 4248840

このような静電吸引式のインクジェット装置では、たとえばガラス管の先端を非常に細く加工したノズルを使用し、描画時にはノズルの先端と基板の表面との間隔を数十μm程度の微小距離に設定する必要がある。その際、ノズルの先端が基板の表面に接触し、ノズル先端を損傷するという問題があった。   In such an electrostatic suction type ink jet device, for example, a nozzle in which the tip of a glass tube is processed to be very thin is used, and at the time of drawing, the distance between the tip of the nozzle and the surface of the substrate is set to a minute distance of about several tens of μm. There is a need to. At that time, there is a problem that the tip of the nozzle contacts the surface of the substrate and damages the tip of the nozzle.

たとえば、ノズルの先端と基板の表面との間隔を設定する際、Z軸ステージを高速で下降させてノズルの先端を待機位置から描画位置に移動させると、Z軸ステージのオーバーシュートや、ノズルを固定支持する部材の振動によってノズルの先端を基板の表面に衝突させてしまう場合がある。ノズルの先端を損傷するとジェット流が乱れて吐出位置が不安定になるので、ノズルの交換が必要になる。   For example, when setting the distance between the tip of the nozzle and the surface of the substrate, if the Z-axis stage is lowered at a high speed and the tip of the nozzle is moved from the standby position to the drawing position, the Z-axis stage overshoot or the nozzle In some cases, the tip of the nozzle collides with the surface of the substrate due to the vibration of the member to be fixedly supported. If the tip of the nozzle is damaged, the jet flow is disturbed and the discharge position becomes unstable, so the nozzle needs to be replaced.

それゆえに、この発明の主たる目的は、ノズルの先端と基板の表面との接触を防止することが可能な描画装置およびパターン修正装置を提供することである。   Therefore, a main object of the present invention is to provide a drawing device and a pattern correction device capable of preventing contact between the tip of the nozzle and the surface of the substrate.

この発明に係る描画装置は、基板の表面に液状物質を吐出してパターンを描画する描画装置であって、先端が基板の表面に対向して配置され、液状物質が注入された静電吸引式のノズルと、基板を水平に保持するとともに、基板とノズルを水平方向に相対移動させる第1の位置決め手段と、ノズルを垂直方向に移動させる第2の位置決め手段と、液状物質にパルス電圧を印加して、ノズルの先端から液状物質を吐出させるパルス電圧発生手段と、第1および第2の位置決め手段とパルス電圧発生手段を制御し、待機時は基板の表面の上方の待機位置にノズルの先端を配置し、描画時は、ノズルを下降させて描画開始点の上方の描画位置にノズルの先端を配置し、ノズルの先端から液状物質を吐出させる制御手段とを備えたものである。制御手段は、ノズルの先端を待機位置から描画位置まで移動させる間にノズルを少なくとも1回停止させる。   A drawing apparatus according to the present invention is a drawing apparatus that draws a pattern by discharging a liquid material onto the surface of a substrate, the tip being disposed opposite the surface of the substrate, and an electrostatic suction type in which the liquid material is injected A first positioning means for holding the substrate horizontally and relatively moving the substrate and the nozzle in the horizontal direction, a second positioning means for moving the nozzle in the vertical direction, and applying a pulse voltage to the liquid substance And controlling the pulse voltage generating means for discharging the liquid substance from the tip of the nozzle, the first and second positioning means and the pulse voltage generating means, and at the time of standby, the tip of the nozzle is placed at a standby position above the surface of the substrate. And at the time of drawing, the nozzle is lowered, the tip of the nozzle is placed at the drawing position above the drawing start point, and a control means for discharging the liquid substance from the tip of the nozzle is provided. The control means stops the nozzle at least once while moving the tip of the nozzle from the standby position to the drawing position.

好ましくは、制御手段は、ノズルの先端を待機位置から下降させて待機位置と描画位置の間の補正位置にノズルの先端を一旦停止させた後に、ノズルの先端を補正位置から描画位置に下降させる。   Preferably, the control unit lowers the tip of the nozzle from the standby position to the drawing position after temporarily stopping the tip of the nozzle at the correction position between the standby position and the drawing position. .

また好ましくは、待機位置と補正位置の間の距離は、補正位置と描画位置の間の距離よりも大きい。   Preferably, the distance between the standby position and the correction position is larger than the distance between the correction position and the drawing position.

また好ましくは、補正位置と描画位置の間の距離は、第2の位置決め手段のオーバーシュート量、またはノズルの垂直方向の振動幅よりも大きく設定される。   Preferably, the distance between the correction position and the drawing position is set larger than the overshoot amount of the second positioning means or the vibration width in the vertical direction of the nozzle.

また好ましくは、補正位置と描画位置の間の距離は1mm以下に設定される。
また好ましくは、第2の位置決め手段は、ノズルによって捨て打ちされた液状物質を受ける捨て打ち部材と、ノズルの先端と基板の間に捨て打ち部材を挿抜する駆動手段と、ノズルと捨て打ち部材との間に設けられ、ノズルの先端と基板の間に捨て打ち部材が挿入されるに従ってノズルを上昇させ、ノズルと基板の間から捨て打ち部材が抜き取られるに従ってノズルを下降させる倣い機構とを含む。制御手段は、駆動手段を制御し、捨て打ち動作時は、ノズルの先端と基板の間に捨て打ち部材を挿入して、ノズルから液状物質を吐出させ、捨て打ち動作の終了後は、ノズルと基板の間から捨て打ち部材を抜き取る。ノズルと基板の間から捨て打ち部材が抜き取られたとき、ノズルの先端は補正位置に配置されている。
Preferably, the distance between the correction position and the drawing position is set to 1 mm or less.
Preferably, the second positioning means includes a discarding member that receives the liquid material discarded by the nozzle, a driving unit that inserts and removes the discarding member between the tip of the nozzle and the substrate, a nozzle and the discarding member, And a scanning mechanism that raises the nozzle as the throwing member is inserted between the tip of the nozzle and the substrate and lowers the nozzle as the throwing member is extracted from between the nozzle and the substrate. The control means controls the driving means, and at the time of the discarding operation, a discarding member is inserted between the tip of the nozzle and the substrate to discharge the liquid material from the nozzle. Remove the scraping member from between the substrates. When the scraping member is extracted from between the nozzle and the substrate, the tip of the nozzle is disposed at the correction position.

また好ましくは、さらに、基板の表面の高さを測定する測定手段を備え、制御手段は、測定手段の測定結果に基づいて、ノズルの先端と基板の表面の間の距離を補正する。   Further preferably, it further comprises a measuring means for measuring the height of the surface of the substrate, and the control means corrects the distance between the tip of the nozzle and the surface of the substrate based on the measurement result of the measuring means.

また好ましくは、制御手段は、ノズルの先端から液状物質を吐出させながらノズルと基板を水平方向に相対移動させて、基板の表面に液状物質のパターンを描画する。   Preferably, the control means draws a pattern of the liquid material on the surface of the substrate by relatively moving the nozzle and the substrate in the horizontal direction while discharging the liquid material from the tip of the nozzle.

また、この発明に係るパターン修正装置は、基板の表面に形成されたパターンの欠陥を修正するパターン修正装置であって、先端が基板の表面に対向して配置され、修正液が注入された静電吸引式のノズルと、基板を水平に保持するとともに、基板とノズルを水平方向に相対移動させる第1の位置決め手段と、ノズルを垂直方向に移動させる第2の位置決め手段と、修正液にパルス電圧を印加して、ノズルの先端から修正液を吐出させるパルス電圧発生手段と、第1および第2の位置決め手段とパルス電圧発生手段を制御し、待機時は基板の上方の待機位置にノズルの先端を配置し、修正時は、ノズルを下降させて欠陥の上方の描画位置にノズルの先端を配置し、ノズルの先端から修正液を吐出させる制御手段とを備えたものである。制御手段は、ノズルの先端を待機位置から描画位置まで移動させる間にノズルを少なくとも1回停止させる。   The pattern correction apparatus according to the present invention is a pattern correction apparatus for correcting a defect in a pattern formed on the surface of a substrate, the tip of which is arranged facing the surface of the substrate, and a static solution into which correction liquid has been injected. Electrosuction type nozzle, first positioning means for holding the substrate horizontally and relatively moving the substrate and the nozzle in the horizontal direction, second positioning means for moving the nozzle in the vertical direction, and a pulse for the correction liquid A voltage is applied to control the pulse voltage generating means for discharging the correction liquid from the tip of the nozzle, the first and second positioning means, and the pulse voltage generating means. During standby, the nozzle is placed at a standby position above the substrate. The tip is arranged, and at the time of correction, the nozzle is lowered, the tip of the nozzle is arranged at the drawing position above the defect, and control means for discharging the correction liquid from the tip of the nozzle is provided. The control means stops the nozzle at least once while moving the tip of the nozzle from the standby position to the drawing position.

この発明に係る描画装置およびパターン修正装置では、ノズルの先端を待機位置から描画位置まで移動させる間にノズルを少なくとも1回停止させる。したがって、ノズルの停止位置と描画位置との間の距離を小さく設定することにより、ノズルの先端と基板の表面との接触を防止することができる。   In the drawing apparatus and the pattern correction apparatus according to the present invention, the nozzle is stopped at least once while the tip of the nozzle is moved from the standby position to the drawing position. Therefore, by setting the distance between the nozzle stop position and the drawing position small, it is possible to prevent contact between the nozzle tip and the surface of the substrate.

この発明の実施の形態1による描画装置の要部を示すブロック図である。It is a block diagram which shows the principal part of the drawing apparatus by Embodiment 1 of this invention. 図1に示した描画装置の描画動作を示すブロック図である。FIG. 2 is a block diagram showing a drawing operation of the drawing apparatus shown in FIG. 1. 図2に示したノズルを描画位置まで下降させる動作を示す図である。It is a figure which shows the operation | movement which lowers the nozzle shown in FIG. 2 to a drawing position. 図1〜図3に示した描画装置の動作を示すフローチャートである。It is a flowchart which shows operation | movement of the drawing apparatus shown in FIGS. この発明の実施の形態2による描画装置の構成を示す斜視図である。It is a perspective view which shows the structure of the drawing apparatus by Embodiment 2 of this invention. 図5に示した対物レンズ切り替え器の構成を示す斜視図である。It is a perspective view which shows the structure of the objective lens switch shown in FIG. 図6に示した対物レンズ切り替え器の動作を示す図である。It is a figure which shows operation | movement of the objective lens switch shown in FIG. 図5に示した描画装置の動作を示すフローチャートである。6 is a flowchart illustrating an operation of the drawing apparatus illustrated in FIG. 5. 図6に示した支持ユニットの構成を示す正面図である。It is a front view which shows the structure of the support unit shown in FIG. 図9のX−X線断面図である。FIG. 10 is a sectional view taken along line XX in FIG. 9. 図10のB矢視図である。It is B arrow line view of FIG. 図9〜図11に示した支持ユニットの動作を示す図である。It is a figure which shows operation | movement of the support unit shown in FIGS. 図9〜図11に示した支持ユニットの動作を示す他の図である。It is another figure which shows operation | movement of the support unit shown in FIGS. 図9〜図11に示した支持ユニットの動作を示すさらに他の図である。FIG. 12 is still another view showing the operation of the support unit shown in FIGS. 9 to 11. この発明の実施の形態3による描画装置の要部を示す斜視図である。It is a perspective view which shows the principal part of the drawing apparatus by Embodiment 3 of this invention. 図15に示した描画装置の動作を示すフローチャートである。It is a flowchart which shows operation | movement of the drawing apparatus shown in FIG. この発明の実施の形態4によるパターン修正装置の修正対象の基板を示す斜視図である。It is a perspective view which shows the board | substrate of the correction object of the pattern correction apparatus by Embodiment 4 of this invention. 図17に示したオープン欠陥部を修正する工程を示す図である。It is a figure which shows the process of correcting the open defect part shown in FIG.

この発明に係る描画装置では、静電吸引式のインクジェットノズルは、描画(吐出)を行わない待機時には、基板から上方に遠く離れた待機位置に配置される。描画動作時には、ノズルを待機位置から描画を行なう描画位置まで複数段階で下降させてノズル先端の損傷を回避する。   In the drawing apparatus according to the present invention, the electrostatic suction type ink jet nozzle is disposed at a standby position far away from the substrate at the time of standby when drawing (discharge) is not performed. During the drawing operation, the nozzle is lowered in a plurality of stages from the standby position to the drawing position for drawing to avoid damage to the nozzle tip.

すなわち静電吸引型のノズルは、上下方向に移動可能なZ軸ステージに固定され、Z軸ステージは制御装置によって制御される。制御装置は、描画指令に応答してZ軸ステージを駆動させ、第一段階(第一の下降)としてノズルを待避位置から補正位置まで下降させて一旦停止させる。補正位置では、ノズル先端と基板表面の間隔が描画距離Gに補正距離Hを加算した距離(G+H)に設定される。   That is, the electrostatic suction type nozzle is fixed to a Z-axis stage movable in the vertical direction, and the Z-axis stage is controlled by a control device. The control device drives the Z-axis stage in response to the drawing command, and as a first stage (first lowering), lowers the nozzle from the retracted position to the correction position and temporarily stops it. At the correction position, the distance between the nozzle tip and the substrate surface is set to a distance (G + H) obtained by adding the correction distance H to the drawing distance G.

次に制御装置は、Z軸ステージを駆動させ、第二段階(第二の下降)としてノズルを補正距離Hだけ下降させて描画位置で停止させる。描画位置では、ノズル先端と基板表面の間隔が描画距離Gに設定され、ノズル先端からの液状物質の吐出が可能となる。第二段階の下降量は第一段階の下降量よりも小さく設定され、第二段階の下降量は僅かである。   Next, the control device drives the Z-axis stage to lower the nozzle by the correction distance H and stop it at the drawing position as the second stage (second lowering). At the drawing position, the distance between the nozzle tip and the substrate surface is set to the drawing distance G, and the liquid substance can be discharged from the nozzle tip. The descending amount in the second stage is set smaller than the descending amount in the first stage, and the descending amount in the second stage is slight.

補正距離Hは、Z軸ステージのオーバーシュートやノズルを固定する部材の振動による変位よりも大きめに設定される。補正距離Hは、1mm以下の値に設定され、たとえば100μm程度に設定される。補正距離Hを微小な値に設定するので、第二の下降時には、Z軸ステージのオーバーシュートやノズルを固定する部材の振動は、無視できるほど小さく抑制される。したがって、ノズル先端と基板表面との衝突を防止して、ノズル先端が損傷することを回避することができる。また、下降量が小さいので移動時間も僅かであり、2段階に分けてノズルを下降してもタクトタイムには余り影響を与えない。以下、本願発明の実施の形態について図面を用いて詳細に説明する。   The correction distance H is set larger than the displacement caused by the overshoot of the Z-axis stage or the vibration of the member fixing the nozzle. The correction distance H is set to a value of 1 mm or less, for example, about 100 μm. Since the correction distance H is set to a very small value, overshoot of the Z-axis stage and vibration of the member that fixes the nozzle are suppressed to a negligible level during the second lowering. Therefore, collision between the nozzle tip and the substrate surface can be prevented, and damage to the nozzle tip can be avoided. Further, since the descending amount is small, the moving time is short, and even if the nozzle is lowered in two stages, the tact time is not significantly affected. Hereinafter, embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the drawings.

[実施の形態1]
図1は、この発明の実施の形態1による描画装置の要部を示す断面図である。図1において、この描画装置は、静電吸引型のインクジェットノズル1と、パルス電圧発生装置3と、XYステージ5と、描画装置全体を制御する制御装置7とを備える。ノズル1は、ガラス管を引き伸ばして先端径を微小に形成したものである。ノズル1の内部には液状物質(液体)2が注入され、パルス電圧発生装置3から出力されるパルス電圧VPが液状物質2に印加可能になっている。基板4は、XYステージ5の上に水平に固定される。XYステージ5を駆動させることによって基板4の表面の所望の目標位置をノズル1の下方に位置決めすることが可能となっている。
[Embodiment 1]
FIG. 1 is a cross-sectional view showing a main part of a drawing apparatus according to Embodiment 1 of the present invention. In FIG. 1, the drawing apparatus includes an electrostatic suction type inkjet nozzle 1, a pulse voltage generation device 3, an XY stage 5, and a control device 7 that controls the entire drawing device. The nozzle 1 is a glass tube that is stretched to have a very small tip diameter. A liquid substance (liquid) 2 is injected into the nozzle 1, and a pulse voltage VP output from the pulse voltage generator 3 can be applied to the liquid substance 2. The substrate 4 is fixed horizontally on the XY stage 5. By driving the XY stage 5, a desired target position on the surface of the substrate 4 can be positioned below the nozzle 1.

描画動作時にはノズル1の先端1aと基板4の表面とは、微小な描画距離Gを開けて対峙する。この状態でノズル1に注入した液状物質2にパルス電圧VPを印加すると、ノズル1の先端1aから基板4に向かって円錐状のテーラーコーン2aが形成され、テーラーコーン2aの頂部から基板4の表面に達するジェット流(液柱)2bが生じ、液状物質2の一部が基板4の表面上に移動して液滴2cが形成される。   During the drawing operation, the tip 1a of the nozzle 1 and the surface of the substrate 4 face each other with a minute drawing distance G. When the pulse voltage VP is applied to the liquid material 2 injected into the nozzle 1 in this state, a conical tailor cone 2a is formed from the tip 1a of the nozzle 1 toward the substrate 4, and the surface of the substrate 4 is formed from the top of the tailor cone 2a. A jet flow (liquid column) 2b that reaches 1 is generated, and a part of the liquid material 2 moves onto the surface of the substrate 4 to form droplets 2c.

図2は、描画装置を用いて基板4の表面に液状物質2のパターンを描画する方法を示す図である。描画装置は、さらに、制御装置7によって制御されるZ軸ステージ6を備える。ノズル1はZ軸ステージ6に固定される。Z軸ステージ6を駆動させることでノズル1を上下方向に移動させ、ノズル1の先端1aと基板4の表面との間隔を所望の距離に設定することが可能となっている。Z軸ステージ6を駆動させることでノズル1の先端1aと基板4との間隔をパターニング可能な描画距離Gに調整する。   FIG. 2 is a diagram illustrating a method of drawing a pattern of the liquid material 2 on the surface of the substrate 4 using a drawing apparatus. The drawing apparatus further includes a Z-axis stage 6 controlled by the control device 7. The nozzle 1 is fixed to the Z-axis stage 6. By driving the Z-axis stage 6, the nozzle 1 can be moved in the vertical direction, and the distance between the tip 1a of the nozzle 1 and the surface of the substrate 4 can be set to a desired distance. By driving the Z-axis stage 6, the distance between the tip 1 a of the nozzle 1 and the substrate 4 is adjusted to a drawing distance G that can be patterned.

この状態でパルス電圧発生装置3から液状物質2にパルス電圧VPを印加しながら、XYステージ5を駆動させてノズル1と基板4とを水平方向に相対移動させることにより、任意形状のパターン2dを基板4の表面に描画することができる。ここでは、基板4を搭載したXYステージ5を駆動して相対移動させているが、ノズル1をXY方向に移動させる形態であっても良い。描画が終了すると、Z軸ステージ6によって、基板4から上方に大きく離れた待機位置にノズル1が移動される。   In this state, while applying the pulse voltage VP from the pulse voltage generator 3 to the liquid substance 2, the XY stage 5 is driven to move the nozzle 1 and the substrate 4 in the horizontal direction, thereby forming a pattern 2d having an arbitrary shape. Drawing can be performed on the surface of the substrate 4. Here, the XY stage 5 on which the substrate 4 is mounted is driven and relatively moved. However, the nozzle 1 may be moved in the XY directions. When the drawing is completed, the nozzle 1 is moved to a standby position that is largely separated upward from the substrate 4 by the Z-axis stage 6.

ノズル1の先端1aと基板4の表面との間の描画距離Gが数十μmと微小な距離である場合、待機位置から描画位置までノズル1を高速で直接下降させると、Z軸ステージ6が停止位置よりも行き過ぎるオーバーシュートや、ノズル1を固定支持する部材の振動によってノズル1の先端1aを基板4に衝突させてしまうことも想定される。また、オーバーシュートや振動を抑えるためにZ軸ステージ6の下降速度を遅くしたり、減速時間を長くする方法も考えられるが、下降(移動)時間が長くなってタクトタイムが増えるので余り好ましくない。このため、Z軸ステージ6を高速で下降させても、ノズル1の先端1aが基板4に衝突するのを防止し、ノズル1の先端1aを損傷させない方法が必要とされる。   When the drawing distance G between the tip 1a of the nozzle 1 and the surface of the substrate 4 is as small as several tens of μm, when the nozzle 1 is directly lowered from the standby position to the drawing position at a high speed, the Z-axis stage 6 is moved. It is also assumed that the tip 1a of the nozzle 1 collides with the substrate 4 due to overshoot exceeding the stop position or vibration of a member that fixes and supports the nozzle 1. In order to suppress overshoot and vibration, a method of slowing the descending speed of the Z-axis stage 6 or lengthening the deceleration time is conceivable, but it is not preferable because the descending (moving) time becomes longer and the tact time increases. . Therefore, there is a need for a method that prevents the tip 1a of the nozzle 1 from colliding with the substrate 4 and does not damage the tip 1a of the nozzle 1 even when the Z-axis stage 6 is lowered at high speed.

そこで、この実施の形態1では、図3に示すように、待機時にはノズル1の先端1aを待機位置で待機させる。制御装置7は、描画指令に応答して、Z軸ステージ6を駆動させてノズル1を下降させ、ノズル1の先端1aと基板4の表面との間隔が描画距離Gに補正距離Hを加算した距離(G+H)となる補正位置にノズル1の先端1aを一旦停止させる(第一の下降)。次に制御装置7は、Z軸ステージ6を駆動させて補正距離Hだけノズル1を下降させ、ノズル1の先端1aと基板4の表面との間隔を最終的に描画距離Gに合わせる(第二の下降)。   Therefore, in the first embodiment, as shown in FIG. 3, the tip 1a of the nozzle 1 is placed on standby at the standby position during standby. In response to the drawing command, the control device 7 drives the Z-axis stage 6 to lower the nozzle 1, and the distance between the tip 1 a of the nozzle 1 and the surface of the substrate 4 adds the correction distance H to the drawing distance G. The tip 1a of the nozzle 1 is temporarily stopped at the correction position where the distance is (G + H) (first lowering). Next, the control device 7 drives the Z-axis stage 6 to lower the nozzle 1 by the correction distance H, and finally adjusts the interval between the tip 1a of the nozzle 1 and the surface of the substrate 4 to the drawing distance G (second). ).

補正距離Hは、Z軸ステージ6のオーバーシュートやノズル1を固定する部材の振動による変位よりも大きめに設定される。補正距離Hは、1mm以下、たとえば100μm程度とされる。第二の下降量は、第一の下降量よりも小さく設定されることになる。   The correction distance H is set larger than the displacement caused by the overshoot of the Z-axis stage 6 or the vibration of the member that fixes the nozzle 1. The correction distance H is 1 mm or less, for example, about 100 μm. The second descending amount is set smaller than the first descending amount.

ノズル1の高さを2段階に分けてノズル1を下降させる場合、第一の下降ではノズル1の先端1aを補正位置で一旦停止させる。このとき、ノズル1の先端1aと基板4の間隔は十分に大きな距離(G+H)に設定されているため、Z軸ステージ6のオーバーシュートやノズル1を固定する部材に振動があったとしてもノズル1の先端1aを基板4に衝突させることはない。   When lowering the nozzle 1 by dividing the height of the nozzle 1 into two stages, the tip 1a of the nozzle 1 is temporarily stopped at the correction position in the first lowering. At this time, since the distance between the tip 1a of the nozzle 1 and the substrate 4 is set to a sufficiently large distance (G + H), even if the overshoot of the Z-axis stage 6 or the member that fixes the nozzle 1 vibrates, the nozzle The tip 1 a of 1 does not collide with the substrate 4.

第二の下降の下降量が1mm以下と微小であれば、Z軸ステージ6のオーバーシュートやノズル1を固定する部材の振動をほとんど無視できるほど小さく抑制することができるので、ノズル1の先端1aと基板4の表面との衝突を回避することができる。そのため、ノズル1の先端1aと基板4との間の描画距離Gを数十μmに設定しても、ノズル1の損傷を防止することが可能となる。   If the amount of the second descent is as small as 1 mm or less, the overshoot of the Z-axis stage 6 and the vibration of the member that fixes the nozzle 1 can be suppressed so as to be almost negligible. And the surface of the substrate 4 can be avoided. Therefore, even if the drawing distance G between the tip 1a of the nozzle 1 and the substrate 4 is set to several tens of μm, it is possible to prevent the nozzle 1 from being damaged.

また、補正距離Hを微小な距離に設定すると移動時間も僅かなため、2段階に分けてノズル1を下降させてもタクトタイムには余り影響を与えない。   Further, if the correction distance H is set to a very small distance, the moving time is also short, so that the tact time is not affected much even if the nozzle 1 is lowered in two steps.

図4は、この描画装置の動作を示すフローチャートである。制御装置7は、ステップS1において描画位置と描画形状(描画範囲)が指定されると、ステップS2においてXYステージ5を駆動させてノズル1の先端1aを基板4の描画開始点(目標位置)の上方の待機位置に移動させる。次に制御装置7は、ステップS3においてZ軸ステージ6を駆動させてノズル1を下降させ、ノズル1の先端1aを補正位置で一旦停止させる(第一の下降)。   FIG. 4 is a flowchart showing the operation of the drawing apparatus. When the drawing position and the drawing shape (drawing range) are designated in step S1, the control device 7 drives the XY stage 5 in step S2 so that the tip 1a of the nozzle 1 becomes the drawing start point (target position) of the substrate 4. Move to the upper standby position. Next, in step S3, the control device 7 drives the Z-axis stage 6 to lower the nozzle 1, and temporarily stops the tip 1a of the nozzle 1 at the correction position (first lowering).

次いで制御装置7は、ステップS4においてZ軸ステージ6を駆動させてノズル1を下降させ、ノズル1の先端1aを描画位置で停止させる(第二の下降)。次に制御装置7は、ステップS5においてパルス電圧発生装置3にパルス電圧を発生させてノズル1の先端1aから基板4の表面に液滴2cを吐出させるとともに、XYステージ5を駆動させてノズル1を水平方向に移動させ、ステップS1で指定された範囲に液状物質2のパターン2dを描画する。描画が終了すると制御装置7は、ステップS6においてZ軸ステージ6を駆動させ、ノズル1を上昇させてノズル1の先端1aを待機位置に移動させ、一連の工程を終了する。   Next, in step S4, the control device 7 drives the Z-axis stage 6 to lower the nozzle 1, and stops the tip 1a of the nozzle 1 at the drawing position (second lowering). Next, in step S5, the control device 7 causes the pulse voltage generation device 3 to generate a pulse voltage to discharge the droplet 2c from the tip 1a of the nozzle 1 onto the surface of the substrate 4, and also drives the XY stage 5 to drive the nozzle 1. Is moved in the horizontal direction, and the pattern 2d of the liquid substance 2 is drawn in the range designated in step S1. When the drawing is finished, the control device 7 drives the Z-axis stage 6 in step S6, raises the nozzle 1, moves the tip 1a of the nozzle 1 to the standby position, and finishes a series of steps.

なお、ステップS2とステップS3の間に捨て打ち工程を追加して、ノズル1から液状物質2を多量に吐出してノズル1の先端にある液状物質2をリフレッシュしても良い。液状物質2の捨て打ちは、基板4の上ではなく、図示しない捨て打ち板の上にすることが好ましい。   In addition, a discarding process may be added between step S2 and step S3, and the liquid material 2 at the tip of the nozzle 1 may be refreshed by discharging a large amount of the liquid material 2 from the nozzle 1. The discarding of the liquid substance 2 is preferably performed not on the substrate 4 but on a discarding plate (not shown).

[実施の形態2]
図5は、この発明の実施の形態2による描画装置(パターン修正装置)10の構成を示す斜視図である。図5において、描画装置10は、定盤11を備える。定盤11の中央部にチャック12が設けられ、チャック12には基板13が固定される。また、定盤11には、ガントリ型のXYステージ14が搭載されている。XYステージ14は、X軸ステージ14aと門型のY軸ステージ14bとを含む。Y軸ステージ14bは、チャック12を跨ぐように設けられ、図中のY軸方向に移動する。X軸ステージ14aは、Y軸ステージ14bに搭載され、図中のX方向に移動する。
[Embodiment 2]
FIG. 5 is a perspective view showing a configuration of a drawing apparatus (pattern correction apparatus) 10 according to Embodiment 2 of the present invention. In FIG. 5, the drawing apparatus 10 includes a surface plate 11. A chuck 12 is provided at the center of the surface plate 11, and a substrate 13 is fixed to the chuck 12. A gantry-type XY stage 14 is mounted on the surface plate 11. The XY stage 14 includes an X-axis stage 14a and a gate-shaped Y-axis stage 14b. The Y-axis stage 14b is provided so as to straddle the chuck 12, and moves in the Y-axis direction in the drawing. The X-axis stage 14a is mounted on the Y-axis stage 14b and moves in the X direction in the figure.

X軸ステージ14aには、上下方向に移動可能なZ軸ステージ15が搭載される。Z軸ステージ15には、観察光学系16が固定される。観察光学系16の上方にはレーザ17が搭載され、その下方には対物レンズ18を切り替える対物レンズ切り替え器19が固定される。さらに、対物レンズ切り替え器19には、図1で示した静電吸引式のインクジェットノズル1を固定支持する支持ユニット20が固定される。レーザ17は基板13の表面に形成済みのパターンを除去、整形する場合などに用いられ、レーザ加工が不要な場合には搭載されない。   A Z-axis stage 15 that can move in the vertical direction is mounted on the X-axis stage 14a. An observation optical system 16 is fixed to the Z-axis stage 15. A laser 17 is mounted above the observation optical system 16, and an objective lens switching device 19 for switching the objective lens 18 is fixed below the laser 17. Further, a support unit 20 that fixes and supports the electrostatic suction type inkjet nozzle 1 shown in FIG. 1 is fixed to the objective lens switching unit 19. The laser 17 is used for removing and shaping a pattern already formed on the surface of the substrate 13, and is not mounted when laser processing is unnecessary.

X軸ステージ14a、Y軸ステージ14b、およびZ軸ステージ15を制御することにより、観察光学系16、支持ユニット20の各々を基板13表面の所望の位置の上方に移動させることが可能となる。   By controlling the X axis stage 14a, the Y axis stage 14b, and the Z axis stage 15, each of the observation optical system 16 and the support unit 20 can be moved above a desired position on the surface of the substrate 13.

対物レンズ切り替え器19は、図6に示すように、互いに倍率が異なる複数の対物レンズ18をXY方向に移動させるXYステージの可動板19aを備える。可動板19aを移動させることで対物レンズ18の倍率を変更したり、支持ユニット20をXY方向に移動させることが可能となっている。なお、支持ユニット20は、Z軸ステージ15に直接固定してあっても良い。   As shown in FIG. 6, the objective lens switching device 19 includes an XY stage movable plate 19a for moving a plurality of objective lenses 18 having different magnifications in the XY directions. By moving the movable plate 19a, the magnification of the objective lens 18 can be changed, and the support unit 20 can be moved in the XY directions. The support unit 20 may be directly fixed to the Z-axis stage 15.

支持ユニット20は可動板19aの下面に固定され、ノズル1を固定した固定台21と、固定台21を上下に移動させるZ軸ステージ22と、円板状の捨て打ち板23と、捨て打ち板23を水平方向に移動させるX軸ステージ24を備える。捨て打ち板23は、X軸ステージ24に回転可能な状態で支持される。Z軸ステージ22は、カム機構(図示せず)によりX軸ステージ24の移動に連動して上下動することが可能とされる。   The support unit 20 is fixed to the lower surface of the movable plate 19a, and a fixed base 21 to which the nozzle 1 is fixed, a Z-axis stage 22 for moving the fixed base 21 up and down, a disc-shaped discarding plate 23, and a discarding plate An X-axis stage 24 for moving 23 in the horizontal direction is provided. The discarding plate 23 is supported by the X-axis stage 24 in a rotatable state. The Z-axis stage 22 can be moved up and down in conjunction with the movement of the X-axis stage 24 by a cam mechanism (not shown).

図6では、待機状態が示されており、ノズル1の先端1aと捨て打ち板23の表面とは微小な距離を保って対峙しており、液状物質2の捨て打ちが可能な状態にある。図7は、捨て打ち板23をノズル1の下方から外れるように退避した状態を示す斜視図である。   In FIG. 6, a standby state is shown, and the tip 1 a of the nozzle 1 and the surface of the discarding plate 23 are opposed to each other with a minute distance, and the liquid material 2 can be discarded. FIG. 7 is a perspective view showing a state in which the discarding plate 23 is retracted so as to be detached from the lower side of the nozzle 1.

図6の矢印A方向にX軸ステージ24を移動させると、捨て打ち板23も一緒にA方向に移動して、ノズル1の直下から捨て打ち板23が外れるとともに、図視しないカム機構によってZ軸ステージ22が下降端まで下降する。このときZ軸ステージ22に固定した固定台21も下降し、ノズル1の先端1aは捨て打ち板23よりも下方に位置することになる。   When the X-axis stage 24 is moved in the direction of arrow A in FIG. 6, the discarding plate 23 is also moved in the A direction, and the discarding plate 23 is removed from directly below the nozzle 1, and the cam mechanism (not shown) causes Z to move. The axis stage 22 is lowered to the lower end. At this time, the fixed base 21 fixed to the Z-axis stage 22 is also lowered, and the tip 1 a of the nozzle 1 is positioned below the throwing plate 23.

たとえば、観察光学系16で基板13の表面を観察可能な焦点位置にZ軸ステージ15が位置する状態で、捨て打ち板23を退避させると、ノズル1が下降してノズル1の先端1aが補正位置に配置される。補正位置では、ノズル1の先端1aと基板4の表面との間隔が所定距離(G+H)に設定される。   For example, when the discarding plate 23 is retracted in a state where the Z-axis stage 15 is positioned at a focal position where the surface of the substrate 13 can be observed by the observation optical system 16, the nozzle 1 is lowered and the tip 1a of the nozzle 1 is corrected. Placed in position. At the correction position, the distance between the tip 1a of the nozzle 1 and the surface of the substrate 4 is set to a predetermined distance (G + H).

図8は、図5に示した描画装置10の動作を示すフローチャートである。描画装置10には、装置全体を制御する制御装置(図示せず)が設けられている。制御装置は、たとえばパーソナルコンピュータで構成されている。制御装置は、ステップS11において描画位置と描画形状(描画範囲)が指定されると、ステップS12においてXYステージ14および対物レンズ切り替え器19の可動板19aを駆動させ、ノズル1の先端1aを基板4の描画開始点(目標位置)の上方の待機位置に移動させる。   FIG. 8 is a flowchart showing the operation of the drawing apparatus 10 shown in FIG. The drawing apparatus 10 is provided with a control device (not shown) that controls the entire apparatus. The control device is constituted by a personal computer, for example. When the drawing position and drawing shape (drawing range) are designated in step S11, the control device drives the movable plate 19a of the XY stage 14 and the objective lens switching device 19 in step S12, and the tip 1a of the nozzle 1 is placed on the substrate 4. Is moved to a standby position above the drawing start point (target position).

次に制御装置は、ステップS13においてZ軸ステージ15を駆動させ、ノズル1を下降させてノズル1の先端1aを捨て打ち位置に移動させ、ステップS14においてパルス電圧発生装置(図示せず)にパルス電圧VPを発生させて液状物質2の捨て打ちを行なわせる。   Next, the control device drives the Z-axis stage 15 in step S13, lowers the nozzle 1 and moves the tip 1a of the nozzle 1 to the discarding position, and in step S14, pulses the pulse voltage generator (not shown). A voltage VP is generated to cause the liquid material 2 to be discarded.

次いで制御装置は、ステップS15において捨て打ち板23をノズル1の下から退避させる。捨て打ち板23を退避させると、ノズル1も連動して下降し、ノズル1の先端1aは補正位置に移動する(図4の第一の下降に相当)。次に制御装置は、ステップS16においてZ軸ステージ15を駆動させ、ノズル1を補正距離H分だけ下降させてノズル1の先端1aを描画位置に移動させる(図4の第二の下降に相当)。   Next, in step S <b> 15, the control device retracts the discarding plate 23 from below the nozzle 1. When the discarding plate 23 is retracted, the nozzle 1 is also lowered in conjunction with it, and the tip 1a of the nozzle 1 is moved to the correction position (corresponding to the first drop in FIG. 4). Next, in step S16, the control device drives the Z-axis stage 15, lowers the nozzle 1 by the correction distance H, and moves the tip 1a of the nozzle 1 to the drawing position (corresponding to the second lowering in FIG. 4). .

次いで制御装置は、ステップS17においてパルス電圧発生装置にパルス電圧を発生させてノズル1の先端1aから基板13の表面に液滴2cを吐出させるとともに、XYステージ14を駆動させてノズル1を水平方向に移動させ、ステップS11で指定された範囲に液状物質2のパターン2dを描画する。描画が終了すると制御装置は、ステップS18においてZ軸ステージ15を駆動させ、ノズル1を上昇させてノズル1の先端1aを待機位置に移動させ、一連の工程を終了する。   Next, in step S17, the control device causes the pulse voltage generator to generate a pulse voltage to discharge the droplet 2c from the tip 1a of the nozzle 1 onto the surface of the substrate 13, and drives the XY stage 14 to move the nozzle 1 in the horizontal direction. The pattern 2d of the liquid substance 2 is drawn in the range designated in step S11. When the drawing is completed, the control device drives the Z-axis stage 15 in step S18, raises the nozzle 1, moves the tip 1a of the nozzle 1 to the standby position, and ends the series of steps.

図9から図11は、支持ユニット20の構成を示す図であり、特に、図9は支持ユニット20の正面図であり、図10は図9のX−X線断面図であり、図11は図10のB矢視図である。図9から図11は、液状物質2を塗布するノズル1の直下に捨て打ち板23が隙間を開けて対峙しており、捨て打ち動作が可能な状態を示している。   9 to 11 are views showing the configuration of the support unit 20. In particular, FIG. 9 is a front view of the support unit 20, FIG. 10 is a sectional view taken along the line XX of FIG. It is B arrow line view of FIG. 9 to 11 show a state in which the discarding plate 23 is opposed to the nozzle 1 for applying the liquid substance 2 with a gap therebetween so that the discarding operation is possible.

また、図12から図14は、捨て打ち板23が横に退避するとともにノズル1が下降して、ノズル1の先端1aと基板1とが隙間W2(描画距離G)を持って対峙した状態を示す。この状態で基板13の表面に対して液状物質2の塗布が可能となる。図12は支持ユニット20の正面図であり、図13は図12のXIII−XIII線断面図であり、図14は図13のC矢視図である。   12 to 14 show a state in which the throwing plate 23 is retracted sideways and the nozzle 1 is lowered so that the tip 1a of the nozzle 1 and the substrate 1 face each other with a gap W2 (drawing distance G). Show. In this state, the liquid substance 2 can be applied to the surface of the substrate 13. 12 is a front view of the support unit 20, FIG. 13 is a cross-sectional view taken along line XIII-XIII in FIG. 12, and FIG. 14 is a view taken in the direction of arrow C in FIG.

まず、図9から図11を用いて支持ユニット20の構成について説明する。支持ユニット20全体を支持するベース板30は垂直に設けられており、ベース板30の表面に直動案内軸受31のスライド部31aが固定され、ベース板30の裏面に直動案内軸受32のスライド部32aが固定されている。直動案内軸受31のスライド部31aは垂直に配置され、直動案内軸受32のスライド部32aは水平に配置されている。   First, the structure of the support unit 20 is demonstrated using FIGS. 9-11. The base plate 30 that supports the entire support unit 20 is provided vertically, the slide portion 31 a of the linear motion guide bearing 31 is fixed to the surface of the base plate 30, and the slide of the linear motion guide bearing 32 is fixed to the back surface of the base plate 30. The part 32a is fixed. The slide portion 31a of the linear motion guide bearing 31 is disposed vertically, and the slide portion 32a of the linear motion guide bearing 32 is disposed horizontally.

直動案内軸受31のレール部31bには、断面L字型のZ軸ステージ22が固定される。したがって、Z軸ステージ22は、直動案内軸受31によってベース板30に対して上下方向に進退可能に支持される。また、Z軸ステージ22の突出した端部にはローラ33が固定され、その一側面には複数の磁石34が埋設されている。直動案内軸受32のレール部32bには、X軸ステージ24が固定される。したがって、X軸ステージ24は、直動案内軸受32によってベース板30に対して水平方向に進退可能に支持される。   A Z-axis stage 22 having an L-shaped cross section is fixed to the rail portion 31 b of the linear motion guide bearing 31. Therefore, the Z-axis stage 22 is supported by the linear motion guide bearing 31 so as to be able to advance and retract in the vertical direction with respect to the base plate 30. A roller 33 is fixed to the protruding end of the Z-axis stage 22, and a plurality of magnets 34 are embedded on one side surface thereof. The X-axis stage 24 is fixed to the rail portion 32 b of the linear motion guide bearing 32. Therefore, the X-axis stage 24 is supported by the linear motion guide bearing 32 so as to be able to advance and retreat in the horizontal direction with respect to the base plate 30.

ノズル1は、固定台21に保持される。固定台21の一端面には複数の磁石35が埋設されている。固定台21は、磁石34と磁石35の吸引力によりZ軸ステージ22に装着される。磁石34と磁石35とは中心をずらして配置してあるため、固定台21をZ軸ステージ22に装着する際には固定台21は下方に吸引されて、その端面21aがZ軸ステージ22の上面22aに押し付けられて位置決めされる。   The nozzle 1 is held on a fixed base 21. A plurality of magnets 35 are embedded in one end surface of the fixed base 21. The fixed base 21 is attached to the Z-axis stage 22 by the attractive force of the magnet 34 and the magnet 35. Since the magnet 34 and the magnet 35 are arranged so as to be shifted from each other, when the fixing base 21 is mounted on the Z-axis stage 22, the fixing base 21 is attracted downward, and the end surface 21 a of the Z-axis stage 22 is fixed. It is pressed and positioned on the upper surface 22a.

X軸ステージ24の下端にはモータ36が固定され、モータ36の回転軸は円板状の捨て打ち板23の表面の中央に固定される。モータ36によって捨て打ち板23を所定角度ずつ回転させることにより、液状物質2の捨て打ち位置を少しずつ変えることが可能となる。ノズル1の直下に一定の隙間W1を開けて捨て打ち板23が対峙しており、この状態で捨て打ちが行なわれる。捨て打ちされた液状物質2がノズル1の先端1aに接触してノズル1の先端1aを汚染しないように、予め捨て打ち前に捨て打ち板23を所定角度だけ回転させておく。   A motor 36 is fixed to the lower end of the X-axis stage 24, and the rotation shaft of the motor 36 is fixed to the center of the surface of the disc-shaped discarding plate 23. By rotating the discarding plate 23 by a predetermined angle by the motor 36, the discarding position of the liquid material 2 can be changed little by little. A throwing plate 23 is opposed to a certain gap W1 directly below the nozzle 1, and throwing is performed in this state. In order to prevent the discarded liquid material 2 from coming into contact with the tip 1a of the nozzle 1 and contaminating the tip 1a of the nozzle 1, the discarding plate 23 is rotated in advance by a predetermined angle before being discarded.

Z軸ステージ22に固定されたローラ33は、X軸ステージ24の上端部に当接している。X軸ステージ24の上端部には、水平部24aと傾斜部24bを持つ倣い面(カム面)が形成されている。このため、ノズル1の先端1aの垂直方向の高さ位置は、ローラ33とX軸ステージ24との当接位置で決定される。X軸ステージ24を水平方向に移動させて、ローラ33とX軸ステージ24との当接位置を変えることで、捨て打ち板23の退避とノズル1の下降を同時に行なうことが可能となる。X軸ステージ24を移動させる駆動装置37(たとえばエアシリンダや直動ソレノイドアクチュエータ)はベース板30に固定されており、その出力軸はX軸ステージ24に連結されている。駆動装置37の出力軸は水平方向に伸縮する。   The roller 33 fixed to the Z-axis stage 22 is in contact with the upper end portion of the X-axis stage 24. A copying surface (cam surface) having a horizontal portion 24 a and an inclined portion 24 b is formed at the upper end portion of the X-axis stage 24. Therefore, the vertical height position of the tip 1 a of the nozzle 1 is determined by the contact position between the roller 33 and the X-axis stage 24. By moving the X-axis stage 24 in the horizontal direction and changing the contact position between the roller 33 and the X-axis stage 24, it is possible to retreat the throwing plate 23 and lower the nozzle 1 simultaneously. A drive device 37 (for example, an air cylinder or a linear motion solenoid actuator) that moves the X-axis stage 24 is fixed to the base plate 30, and its output shaft is connected to the X-axis stage 24. The output shaft of the drive device 37 expands and contracts in the horizontal direction.

図9の状態でノズル1が液状物質2の捨て打ちを行なうと、液状物質2が捨て打ち板23上に付着する。捨て打ち終了後、モータ36の回転軸を所定角度だけ回転させて捨て打ち板23を所定角度だけ回転させて、次回の捨て打ちに備える。仮に捨て打ち板23を回転させず常に同じ位置に捨て打ちを実行すると、捨て打ちされた液状物質2の液滴が堆積してノズル1の先端1aに接触し、描画時にパターン2dの周りを汚染することが懸念される。しかし、捨て打ち板23を回転させる機能を備えたことでその心配が払拭される。捨て打ちが完了し、捨て打ち板23の所定角度の回転が終了した時点で、捨て打ち板23の退避とノズル1の下降を駆動装置37の操作により実行する。   When the nozzle 1 discards the liquid material 2 in the state of FIG. 9, the liquid material 2 adheres on the discard plate 23. After the disposal is completed, the rotation shaft of the motor 36 is rotated by a predetermined angle to rotate the disposal plate 23 by a predetermined angle to prepare for the next disposal. If the throwing plate 23 is always rotated at the same position without rotating the throwing plate 23, the discarded liquid material 2 droplets accumulate and come into contact with the tip 1 a of the nozzle 1 to contaminate the pattern 2 d around the drawing. There is a concern to do. However, the concern is eliminated by having the function of rotating the throwing plate 23. When the discarding is completed and the discarding plate 23 is rotated at a predetermined angle, the discarding plate 23 is retracted and the nozzle 1 is lowered by operating the driving device 37.

次にX軸ステージ24の移動に伴ってZ軸ステージ22が下降する工程について説明する。駆動装置37の操作によりX軸ステージ24が水平移動すると、初期はローラ33とX軸ステージ24の水平部24aとが当接した状態にあるため、Z軸ステージ22は下降せず、X軸ステージ24のみが水平方向に移動する。この状態はノズル1の直下から捨て打ち板23が外れるまで続く。その後、ローラ33がX軸ステージ24の傾斜部24bに当接し始めると、Z軸ステージ22は直動案内軸受31によってその自重で下降を始め、Z軸ステージ22の突出部がベース板30の上部に接触した時点で下降が停止する。図12から図14はZ軸ステージ22が下降して停止した状態を示す。   Next, a process of lowering the Z-axis stage 22 as the X-axis stage 24 moves will be described. When the X-axis stage 24 moves horizontally by operating the drive device 37, the roller 33 and the horizontal portion 24a of the X-axis stage 24 are initially in contact with each other, so the Z-axis stage 22 does not descend and the X-axis stage Only 24 moves horizontally. This state continues from directly under the nozzle 1 until the throwing plate 23 comes off. Thereafter, when the roller 33 starts to come into contact with the inclined portion 24 b of the X-axis stage 24, the Z-axis stage 22 starts to descend by its own weight by the linear motion guide bearing 31, and the protruding portion of the Z-axis stage 22 is the upper part of the base plate 30. The descent stops when it touches. 12 to 14 show a state where the Z-axis stage 22 is lowered and stopped.

このような構成にすることで、1つの駆動装置37であっても水平方向と垂直方向の2軸駆動が可能となり、装置の簡略化を実現することができる。また、それにより、捨て打ち板23の退避とノズル1の下降を短時間で行なうことが可能となる。   With such a configuration, even one drive device 37 can be driven biaxially in the horizontal direction and the vertical direction, and the device can be simplified. Further, it is possible to retract the discarding plate 23 and lower the nozzle 1 in a short time.

[実施の形態3]
基板13の厚さにバラツキがある場合、あるいは基板13の設置方法によっては基板13の表面の高さにバラツキを生じることが想定され、バラツキが描画距離G以上に大きい場合にはノズル1を損傷することも考えられる。これを回避する手段として、基板13の表面の高さを描画前に計測して、Z軸ステージ15の移動量を補正することが望ましい。
[Embodiment 3]
If the thickness of the substrate 13 varies, or depending on the installation method of the substrate 13, it is assumed that the surface height of the substrate 13 varies, and if the variation is larger than the drawing distance G, the nozzle 1 is damaged. It is also possible to do. As a means for avoiding this, it is desirable to correct the amount of movement of the Z-axis stage 15 by measuring the height of the surface of the substrate 13 before drawing.

図15は、この発明の実施の形態3による描画装置の要部を示す図であって、図6と対比される図である。図15を参照して、この描画装置が実施の形態2の描画装置と異なる点は、対物レンズ切り替え器19の可動板19aの下面に、基板13の表面の高さを計測する距離センサ40が設けられている点である。   FIG. 15 is a diagram showing a main part of a drawing apparatus according to Embodiment 3 of the present invention, and is a diagram contrasted with FIG. Referring to FIG. 15, this drawing apparatus is different from the drawing apparatus according to the second embodiment in that a distance sensor 40 that measures the height of the surface of the substrate 13 is provided on the lower surface of the movable plate 19 a of the objective lens switch 19. It is a point provided.

この描画装置の制御装置は、距離センサ40を用いて、基準位置から基板13の表面の高さを予め計測し、その計測結果に基づいてノズル1の移動量を補正する。たとえば、基板13の表面の高さの計測値が標準値よりも高い(基板13が標準品よりも厚い)場合には、その計測値に応じて第一の下降で移動させる移動量を減らす。逆に、基板13の表面の高さの計測値が標準値よりも低い(基板13が標準品よりも薄い)場合には、その計測値に応じて第一の下降で移動させる移動量を増やす。   The controller of this drawing apparatus measures the height of the surface of the substrate 13 from the reference position in advance using the distance sensor 40, and corrects the movement amount of the nozzle 1 based on the measurement result. For example, when the measured value of the height of the surface of the substrate 13 is higher than the standard value (the substrate 13 is thicker than the standard product), the amount of movement to be moved in the first lowering is reduced according to the measured value. On the contrary, when the measured value of the height of the surface of the substrate 13 is lower than the standard value (the substrate 13 is thinner than the standard product), the amount of movement to be moved in the first downward movement is increased according to the measured value. .

図16は、この描画装置の動作を示すフローチャートであって、図8と対比される図である。図16を参照して、この描画装置が実施の形態2の描画装置と異なる点は、ステップS11とステップS12の間にステップS11Aが追加されている点である。制御装置は、ステップS11Aにおいて基準位置から基板13の表面の高さを測定し、その測定結果に基づいて、ステップS15におけるノズル1の下降量を補正する。他の構成および動作は、実施の形態2と同じであるので、その説明は繰り返さない。   FIG. 16 is a flowchart showing the operation of this drawing apparatus, and is a figure to be compared with FIG. Referring to FIG. 16, this drawing apparatus is different from the drawing apparatus according to the second embodiment in that step S11A is added between steps S11 and S12. The control device measures the height of the surface of the substrate 13 from the reference position in step S11A, and corrects the descending amount of the nozzle 1 in step S15 based on the measurement result. Since other configurations and operations are the same as those in the second embodiment, description thereof will not be repeated.

この実施の形態3では、基板13の表面の高さがバラツク場合でも、描画時におけるノズル1の先端1aと基板13の表面との間隔を所定の距離Gに設定することができる。したがって、ノズル1の先端1aと基板13の表面との衝突を回避することができ、また、基板13の表面に液状物質2のパターン2dを正確に描画することができる。   In the third embodiment, even when the surface height of the substrate 13 varies, the distance between the tip 1a of the nozzle 1 and the surface of the substrate 13 at the time of drawing can be set to a predetermined distance G. Therefore, the collision between the tip 1a of the nozzle 1 and the surface of the substrate 13 can be avoided, and the pattern 2d of the liquid substance 2 can be accurately drawn on the surface of the substrate 13.

[実施の形態4]
図17は、この発明の実施の形態4によるパターン修正装置の修正対象である基板41を示す斜視図である。パターン修正装置の構成は、実施の形態1〜3で示した描画装置と同じである。
[Embodiment 4]
FIG. 17 is a perspective view showing a substrate 41 that is a correction target of the pattern correction apparatus according to the fourth embodiment of the present invention. The configuration of the pattern correction apparatus is the same as that of the drawing apparatus shown in the first to third embodiments.

図17において、基板41は、ガラス基板のような絶縁基板42を含む。絶縁基板42の表面には、導電性パターン(配線)43が形成されている。導電性パターン43にはオープン欠陥部43aが存在するものとする。液状物質2としては、導電性インク(修正液)44が使用される。オープン欠陥部43aの修正は、欠陥部43aとその両側の正常な導電性パターン43を含む範囲に導電性インク44を塗布した後、導電性インク44を加熱焼成し、欠陥部43aを含む範囲に導電性の修正層を形成することにより行われる。   In FIG. 17, the substrate 41 includes an insulating substrate 42 such as a glass substrate. A conductive pattern (wiring) 43 is formed on the surface of the insulating substrate 42. It is assumed that the conductive pattern 43 has an open defect 43a. As the liquid substance 2, conductive ink (correction liquid) 44 is used. The open defect portion 43a is corrected by applying the conductive ink 44 to the range including the defect portion 43a and the normal conductive pattern 43 on both sides thereof, and then heating and baking the conductive ink 44 to the range including the defect portion 43a. This is done by forming a conductive correction layer.

図18(a)〜(e)は、欠陥部43aを修正する工程を示す断面図である。図18(a)〜(e)の各々のうちの基板41の部分は図17のXVIII−XVIII線断面図である。まず図18(a)に示すように、ノズル1の先端1aを描画開始点(目標位置)の上方の待機位置に配置する。オープン欠陥部43aの一方側(図では左側)の正常な導電性パターン43の端部の中心点が描画開始点とされる。   18A to 18E are cross-sectional views showing a process for correcting the defect portion 43a. 18A to 18E is a cross-sectional view taken along line XVIII-XVIII in FIG. First, as shown in FIG. 18A, the tip 1a of the nozzle 1 is placed at a standby position above the drawing start point (target position). The center point of the end of the normal conductive pattern 43 on one side (left side in the figure) of the open defect 43a is set as a drawing start point.

次に図18(b)に示すように、第一の下降を実施して、ノズル1の先端1aを補正位置で一旦停止させる。このとき、ノズル1の先端1aと基板41の表面との間隔は描画距離Gと補正距離Hの和の距離(G+H)に設定される。次いで図18(c)に示すように、第二の下降を実施して補正距離Hの分だけノズル1を下降させ、ノズル1の先端1aを描画位置に合わせる。このとき、ノズル1の先端1aと基板41の表面との間隔は描画距離Gに設定される。   Next, as shown in FIG. 18B, the first lowering is performed, and the tip 1a of the nozzle 1 is temporarily stopped at the correction position. At this time, the distance between the tip 1a of the nozzle 1 and the surface of the substrate 41 is set to the sum (G + H) of the drawing distance G and the correction distance H. Next, as shown in FIG. 18C, the second lowering is performed to lower the nozzle 1 by the correction distance H, and the tip 1a of the nozzle 1 is aligned with the drawing position. At this time, the interval between the tip 1 a of the nozzle 1 and the surface of the substrate 41 is set to the drawing distance G.

この状態で図18(d)に示すように、パルス電圧発生装置(図示せず)から導電性インク44にパルス電圧VPを印加しながらノズル1と基板41とを導電性パターン43の長さ方向に相対移動させて、導電性インク44のパターンを描画する。導電性インク44のパターンは、オープン欠陥部43aの一方側(図では左側)の正常な導電性パターン43の端部からオープン欠陥部43aを経てオープン欠陥部43aの他方側(図では右側)の正常な導電性パターン43の端部に至る範囲に形成される。導電性インク44のパターンの膜厚が薄い場合には、繰り返し描画して導電性インク44のパターンを複数回積層する。描画が終了すると、ノズル1は基板41から上方に大きく離れた待機位置に移動される。   In this state, as shown in FIG. 18D, the nozzle 1 and the substrate 41 are connected in the length direction of the conductive pattern 43 while applying the pulse voltage VP to the conductive ink 44 from a pulse voltage generator (not shown). The pattern of the conductive ink 44 is drawn. The pattern of the conductive ink 44 is from the end of the normal conductive pattern 43 on one side (left side in the figure) of the open defect part 43a to the other side (right side in the figure) of the open defect part 43a through the open defect part 43a. It is formed in a range reaching the end of the normal conductive pattern 43. When the film thickness of the pattern of the conductive ink 44 is thin, the pattern of the conductive ink 44 is laminated a plurality of times by drawing repeatedly. When the drawing is completed, the nozzle 1 is moved to a standby position far away from the substrate 41.

次に図18(e)に示すように、加熱装置45を用いて導電性インク44のパターンを加熱焼成して導電性の修正層44Aを形成する。これにより、欠陥部43aが修正され、導電性パターン43の導通が確保される。   Next, as shown in FIG. 18E, the conductive correction layer 44 </ b> A is formed by heating and baking the pattern of the conductive ink 44 using the heating device 45. Thereby, the defective part 43a is corrected and the conduction of the conductive pattern 43 is ensured.

この実施の形態4では、ノズル1の先端1aと基板41の表面との間隔を2段階に分けて調整してから欠陥部43aを修正する。したがって、ノズル1の先端1aと基板41の表面の間隔を描画距離Gに調整する際に、ノズル1の先端1aが基板41の表面に接触するのを防止することができ、安定して欠陥部43aを修正することができる。また、ノズル1の先端1aの損傷を回避できるので、ノズル1の交換頻度を低減し、メンテナスの負荷を軽減することができる。なお、実施の形態3と同様に、距離センサ40を用いて、基板41の表面高さを予め計測し、その結果に基づいてノズル1の移動量を補正しても良い。   In this Embodiment 4, after adjusting the space | interval of the front-end | tip 1a of the nozzle 1 and the surface of the board | substrate 41 in two steps, the defect part 43a is corrected. Therefore, when the distance between the tip 1a of the nozzle 1 and the surface of the substrate 41 is adjusted to the drawing distance G, the tip 1a of the nozzle 1 can be prevented from coming into contact with the surface of the substrate 41, and the defect portion can be stabilized. 43a can be modified. Moreover, since damage to the tip 1a of the nozzle 1 can be avoided, the replacement frequency of the nozzle 1 can be reduced, and the maintenance load can be reduced. Similarly to the third embodiment, the distance sensor 40 may be used to measure the surface height of the substrate 41 in advance, and the movement amount of the nozzle 1 may be corrected based on the result.

今回開示された実施の形態はすべての点で例示であって制限的なものではないと考えられるべきである。本発明の範囲は上記した説明ではなくて特許請求の範囲によって示され、特許請求の範囲と均等の意味および範囲内でのすべての変更が含まれることが意図される。   The embodiment disclosed this time should be considered as illustrative in all points and not restrictive. The scope of the present invention is defined by the terms of the claims, rather than the description above, and is intended to include any modifications within the scope and meaning equivalent to the terms of the claims.

1 インクジェットノズル、2 液状物質、2a テーラーコーン、2b ジェット流、2c 液滴、2d パターン、3 パルス電圧発生装置、4,13,41 基板、5,14 XYステージ、6,15,22 Z軸ステージ、7 制御装置、10 描画装置、11 定盤、12 チャック、14 XYステージ、14a,24 X軸ステージ、14b Y軸ステージ、16 観察光学系、17 レーザ、18 対物レンズ、19 対物レンズ切り替え器、19a 可動板、20 支持ユニット、21 固定台、21a 端面、23 捨て打ち板、24a 水平部、24b 傾斜部、30 ベース板、31,32 直動案内軸受、31a,32a スライド部、31b,32b レール部、33 ローラ、34,35 磁石、36 モータ、37 駆動装置、40 距離センサ、42 絶縁基板、43 導電性パターン、43a オープン欠陥部、44 導電性インク、44A 修正層、45 加熱装置。   1 inkjet nozzle, 2 liquid material, 2a tailor cone, 2b jet flow, 2c droplet, 2d pattern, 3 pulse voltage generator, 4,13,41 substrate, 5,14 XY stage, 6,15,22 Z axis stage 7 control device, 10 drawing device, 11 surface plate, 12 chuck, 14 XY stage, 14a, 24 X axis stage, 14b Y axis stage, 16 observation optical system, 17 laser, 18 objective lens, 19 objective lens switcher, 19a Movable plate, 20 Support unit, 21 Fixed base, 21a End surface, 23 Discarding plate, 24a Horizontal portion, 24b Inclined portion, 30 Base plate, 31, 32 Linear motion guide bearing, 31a, 32a Slide portion, 31b, 32b Rail Part, 33 roller, 34, 35 magnet, 36 motor, 37 drive device, 40 Distance sensor, 42 Insulating substrate, 43 Conductive pattern, 43a Open defect, 44 Conductive ink, 44A Correction layer, 45 Heating device.

Claims (9)

基板の表面に液状物質を吐出してパターンを描画する描画装置であって、
先端が前記基板の表面に対向して配置され、前記液状物質が注入された静電吸引式のノズルと、
前記基板を水平に保持するとともに、前記基板と前記ノズルを水平方向に相対移動させる第1の位置決め手段と、
前記ノズルを垂直方向に移動させる第2の位置決め手段と、
前記液状物質にパルス電圧を印加して、前記ノズルの先端から前記液状物質を吐出させるパルス電圧発生手段と、
前記第1および第2の位置決め手段と前記パルス電圧発生手段を制御し、待機時は前記基板の表面の上方の待機位置に前記ノズルの先端を配置し、描画時は、前記ノズルを下降させて描画開始点の上方の描画位置に前記ノズルの先端を配置し、前記ノズルの先端から前記液状物質を吐出させる制御手段とを備え、
前記制御手段は、前記ノズルの先端を前記待機位置から前記描画位置まで移動させる間に前記ノズルを少なくとも1回停止させる、描画装置。
A drawing apparatus for drawing a pattern by discharging a liquid substance on the surface of a substrate,
An electrostatic suction type nozzle in which a tip is arranged to face the surface of the substrate and the liquid substance is injected;
A first positioning means for holding the substrate horizontally and relatively moving the substrate and the nozzle in a horizontal direction;
Second positioning means for moving the nozzle in the vertical direction;
Pulse voltage generating means for applying a pulse voltage to the liquid material and discharging the liquid material from the tip of the nozzle;
The first and second positioning means and the pulse voltage generating means are controlled, the tip of the nozzle is arranged at a standby position above the surface of the substrate during standby, and the nozzle is lowered during drawing. A control means for disposing the tip of the nozzle at a drawing position above the drawing start point and discharging the liquid substance from the tip of the nozzle;
The drawing device, wherein the control means stops the nozzle at least once while moving the tip of the nozzle from the standby position to the drawing position.
前記制御手段は、前記ノズルの先端を前記待機位置から下降させて前記待機位置と前記描画位置の間の補正位置に前記ノズルの先端を一旦停止させた後に、前記ノズルの先端を前記補正位置から前記描画位置に下降させる、請求項1に記載の描画装置。   The control means lowers the tip of the nozzle from the standby position, temporarily stops the tip of the nozzle at a correction position between the standby position and the drawing position, and then moves the tip of the nozzle from the correction position. The drawing apparatus according to claim 1, wherein the drawing apparatus is lowered to the drawing position. 前記待機位置と前記補正位置の間の距離は、前記補正位置と前記描画位置の間の距離よりも大きい、請求項2に記載の描画装置。   The drawing apparatus according to claim 2, wherein a distance between the standby position and the correction position is larger than a distance between the correction position and the drawing position. 前記補正位置と前記描画位置の間の距離は、前記第2の位置決め手段のオーバーシュート量、または前記ノズルの垂直方向の振動幅よりも大きく設定される、請求項2または請求項3に記載の描画装置。   The distance between the correction position and the drawing position is set to be larger than an overshoot amount of the second positioning means or a vertical vibration width of the nozzle. Drawing device. 前記補正位置と前記描画位置の間の距離は1mm以下に設定される、請求項2から請求項4までのいずれかに記載の描画装置。   The drawing apparatus according to claim 2, wherein a distance between the correction position and the drawing position is set to 1 mm or less. 前記第2の位置決め手段は、
前記ノズルによって捨て打ちされた液状物質を受ける捨て打ち部材と、
前記ノズルの先端と前記基板の間に前記捨て打ち部材を挿抜する駆動手段と、
前記ノズルと前記捨て打ち部材との間に設けられ、前記ノズルの先端と前記基板の間に前記捨て打ち部材が挿入されるに従って前記ノズルを上昇させ、前記ノズルと前記基板の間から前記捨て打ち部材が抜き取られるに従って前記ノズルを下降させる倣い機構とを含み、
前記制御手段は、前記駆動手段を制御し、捨て打ち動作時は、前記ノズルの先端と前記基板の間に前記捨て打ち部材を挿入して、前記ノズルから前記液状物質を吐出させ、捨て打ち動作の終了後は、前記ノズルと前記基板の間から前記捨て打ち部材を抜き取り、
前記ノズルと前記基板の間から前記捨て打ち部材が抜き取られたとき、前記ノズルの先端は前記補正位置に配置されている、請求項2から請求項5までのいずれかに記載の描画装置。
The second positioning means includes
A discarding member for receiving the liquid substance discarded by the nozzle;
Drive means for inserting and removing the discarding member between the tip of the nozzle and the substrate;
The nozzle is provided between the nozzle and the discarding member, and the nozzle is raised as the discarding member is inserted between the tip of the nozzle and the substrate, and the discarding from between the nozzle and the substrate is performed. A scanning mechanism that lowers the nozzle as the member is removed;
The control means controls the driving means, and during the discarding operation, the discarding member is inserted between the tip of the nozzle and the substrate, and the liquid material is discharged from the nozzle, and the discarding operation is performed. After the end, the discard member is extracted from between the nozzle and the substrate,
6. The drawing apparatus according to claim 2, wherein when the discarding member is extracted from between the nozzle and the substrate, the tip of the nozzle is disposed at the correction position. 7.
さらに、前記基板の表面の高さを測定する測定手段を備え、
前記制御手段は、前記測定手段の測定結果に基づいて、前記ノズルの先端と前記基板の表面の間の距離を補正する、請求項1から請求項6までのいずれかに記載の描画装置。
Furthermore, a measuring means for measuring the height of the surface of the substrate is provided,
The drawing apparatus according to claim 1, wherein the control unit corrects a distance between the tip of the nozzle and the surface of the substrate based on a measurement result of the measurement unit.
前記制御手段は、前記ノズルの先端から前記液状物質を吐出させながら前記ノズルと前記基板を水平方向に相対移動させて、前記基板の表面に前記液状物質のパターンを描画する、請求項1から請求項7までのいずれかに記載の描画装置。   The said control means draws the pattern of the said liquid substance on the surface of the said board | substrate by relatively moving the said nozzle and the said board | substrate horizontally while discharging the said liquid substance from the front-end | tip of the said nozzle. Item 8. The drawing device according to any one of Items 7 to 7. 基板の表面に形成されたパターンの欠陥を修正するパターン修正装置であって、
先端が前記基板の表面に対向して配置され、修正液が注入された静電吸引式のノズルと、
前記基板を水平に保持するとともに、前記基板と前記ノズルを水平方向に相対移動させる第1の位置決め手段と、
前記ノズルを垂直方向に移動させる第2の位置決め手段と、
前記修正液にパルス電圧を印加して、前記ノズルの先端から前記修正液を吐出させるパルス電圧発生手段と、
前記第1および第2の位置決め手段と前記パルス電圧発生手段を制御し、待機時は前記基板の上方の待機位置に前記ノズルの先端を配置し、修正時は、前記ノズルを下降させて前記欠陥の上方の描画位置に前記ノズルの先端を配置し、前記ノズルの先端から前記修正液を吐出させる制御手段とを備え、
前記制御手段は、前記ノズルの先端を前記待機位置から前記描画位置まで移動させる間に前記ノズルを少なくとも1回停止させる、パターン修正装置。
A pattern correction apparatus for correcting defects in a pattern formed on a surface of a substrate,
An electrostatic suction nozzle in which a tip is arranged to face the surface of the substrate and a correction liquid is injected;
A first positioning means for holding the substrate horizontally and relatively moving the substrate and the nozzle in a horizontal direction;
Second positioning means for moving the nozzle in the vertical direction;
Pulse voltage generating means for applying a pulse voltage to the correction liquid and discharging the correction liquid from the tip of the nozzle;
The first and second positioning means and the pulse voltage generating means are controlled, and the tip of the nozzle is arranged at a standby position above the substrate during standby, and the nozzle is lowered during correction to correct the defect. A control means for disposing the tip of the nozzle at a drawing position above and discharging the correction liquid from the tip of the nozzle,
The pattern correction apparatus, wherein the control unit stops the nozzle at least once while moving the tip of the nozzle from the standby position to the drawing position.
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