JP2013117840A - メモリアクセス制御装置および方法 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】メモリ4は、ページ単位での読み出しが可能であり、かつ、複数のページを含むブロック単位で消去可能である。メモリコントローラ3は、メモリ4に対する読み出し要求が発生した後、読み出し命令で指定されたアドレスからアクセスされる可能性のある全てのブロックを候補ブロックとして特定し、候補ブロックに含まれるページの中から所定のルールに基づいて検査対象ページを特定する。メモリコントローラ3は、検査対象ページにエラーが存在するか否かを検査する。
【選択図】図3
Description
上記の実施の形態においては、ホストシステム1からメモリ4に対する読み出し命令が与えられたとき、メモリ4に対する読み出し処理を実行する前に検査対象ページを特定し、検査対象ページに対するエラー検出処理を実行した。別の実施の形態として、メモリ4に対する読み出し処理を実行した後、所定のタイミングで検査対象ページを特定する処理および検査対象ページに対するエラー検出処理を実行してもよい。たとえば、メモリ4に対する読み出し処理を実行した後、ホストシステム1がメモリ4にアクセスしていないタイミングで検査対象ページの特定およびエラー検出を行ってもよい。この場合、検査対象を特定する処理を行うときには、既にアクセスされた領域が確定しているので、アクセスされたブロックの中で読み出し回数RCの最も多いブロックが検査対象ブロックとして特定される。これにより、アクセスされる頻度の高いブロックに検査対象を絞り込むことができ、無駄な検査処理を排除することができる。また、アクセスされたブロック内に関して、エラーが発生する可能性が高い領域に重点をおいてエラーチェックを行うことができる。
2 メモリモジュール
3 メモリコントローラ
4 メモリ
5 リードカウンタ
6 ポインタ記憶部
7 ECC回路
Claims (14)
- 再書き込み可能な不揮発性半導体メモリに対するアクセスを制御するメモリアクセス制御装置であって、
前記不揮発性半導体メモリは、ページ単位での読み出しが可能であり、かつ、複数のページを含むブロック単位で消去可能であり、
前記不揮発性半導体メモリに対する読み出し要求が発生した後、検査対象ページを特定する特定部と、
検査対象ページにエラーが存在するか否かを検査する検査部と、
を備え、
前記特定部は、
読み出し命令で指定されたアドレスからアクセスされる可能性のある全てのブロックを候補ブロックとして特定する候補特定部と、
候補ブロックに含まれるページの中から所定のルールに基づいて検査対象ページを特定するページ特定部と、
を含むメモリアクセス制御装置。 - 請求項1に記載のメモリアクセス制御装置であって、さらに、
前記不揮発性半導体メモリに対する読み出し回数をブロック単位で記憶する読み出し回数記憶部、
を備え、
前記特定部は、
前記読み出し回数記憶部を参照し、候補ブロックの中で読み出し回数が最も多いブロックを検査対象ブロックとして特定するブロック特定部、
を含み、
前記ページ特定部は、検査対象ブロックの中から検査対象ページを特定するメモリアクセス制御装置。 - 請求項2に記載のメモリアクセス制御装置であって、さらに、
各ブロックの検査対象ページを特定するためのポインタを記憶するポインタ記憶部、
を備え、
前記ページ特定部は、前記ポインタ記憶部を参照し、検査対象ブロックに対応するポインタから検査対象ブロック内の検査対象ページを特定するメモリアクセス制御装置。 - 請求項1ないし請求項3のいずれかに記載のメモリアクセス制御装置であって、
前記特定部は、前記不揮発性半導体メモリに対する読み出し処理を実行する前に検査対象ページを特定するメモリアクセス制御装置。 - 請求項1ないし請求項3のいずれかに記載のメモリアクセス制御装置であって、
前記特定部は、前記不揮発性半導体メモリに対する読み出し処理が完了した後、次の読み出し処理が発生するまでの間に検査対象ページを特定するメモリアクセス制御装置。 - 請求項1ないし請求項5のいずれかに記載のメモリアクセス制御装置であって、
前記不揮発性半導体メモリは、1回の読み出し処理において読み出すことのできる最大ページ数が予め定められており、
前記候補特定部は、読み出し処理で指定されたアドレスと前記最大ページ数に基づいてアクセスされる可能性のある全てのブロックを特定するメモリアクセス制御装置。 - 請求項3に記載のメモリアクセス制御装置であって、
前記特定部により検査対象ページが特定された後、対応するブロックのポインタが1ページ分インクリメントされるメモリアクセス制御装置。 - 請求項7に記載のメモリアクセス制御装置であって、
ブロック内の最終ページが検査対象として指定された後は次にブロック内の先頭ページが検査対象として指定されるようポインタが更新されるメモリアクセス制御装置。 - 請求項8に記載のメモリアクセス制御装置であって、
前記特定部によりブロック内の全てのページが検査対象ページとして特定された後、ブロックのポインタが初期位置を指し示すようリセットされるメモリアクセス制御装置。 - 請求項8に記載のメモリアクセス制御装置であって、
前記特定部によりブロック内の全てのページが検査対象ページとして特定された後、検査対象ブロックの読み出し回数が0にリセットされるメモリアクセス制御装置。 - 請求項2に記載のメモリアクセス制御装置であって、
前記読み出し回数記憶部は、前記メモリアクセス制御装置の電源がONされたときから読み出し回数をカウントするメモリアクセス制御装置。 - 再書き込み可能な不揮発性半導体メモリに対するアクセスを制御するメモリアクセス制御方法であって、
前記不揮発性半導体メモリは、ページ単位での読み出しが可能であり、かつ、複数のページを含むブロック単位で消去可能であり、
前記不揮発性半導体メモリに対する読み出し要求が発生した後、検査対象ページを特定する特定ステップと、
検査対象ページにエラーが存在するか否かを検査する検査ステップと、
を備え、
前記特定ステップは、
読み出し命令で指定されたアドレスからアクセスされる可能性のある全てのブロックを候補ブロックとして特定する候補特定ステップと、
候補ブロックに含まれるページの中から所定のルールに基づいて検査対象ページを特定するページ特定ステップと、
を含むメモリアクセス制御方法。 - 請求項12に記載のメモリアクセス制御方法であって、さらに、
前記不揮発性半導体メモリに対する読み出し回数をブロック単位で記憶する読み出し回数記憶ステップ、
を備え、
前記特定ステップは、
前記読み出し回数記憶ステップにより記憶された読み出し回数を参照し、候補ブロックの中で読み出し回数が最も多いブロックを検査対象ブロックとして特定するブロック特定ステップ、
を含み、
前記ページ特定ステップは、検査対象ブロックの中から検査対象ページを特定するメモリアクセス制御方法。 - 請求項13に記載のメモリアクセス制御方法であって、さらに、
各ブロックの検査対象ページを特定するためのポインタを記憶するポインタ記憶ステップ、
を備え、
前記ページ特定ステップは、前記ポインタ記憶ステップで記憶されたポインタを参照し、検査対象ブロックに対応するポインタから検査対象ブロック内の検査対象ページを特定するメモリアクセス制御方法。
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