JP2013087039A - 単結晶インゴット直径制御方法 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】単結晶インゴット直径制御方法であって、炉22内を鉛直上方に引き上げられているインゴット1の直径を、炉内状態視認窓23を通して計測し、得られた直径データに基づいて製造条件を補正する。前記炉内状態視認窓23を坩堝21内の溶融原料の溶融表面を視認できる位置及び角度に設け、前記溶融表面において得られる第一直径データに基づいた前記製造条件の補正の結果を、前記溶融表面から鉛直上方に間隔をあけた位置において得られる第二直径データに基づいて検証してもよい。
【選択図】図1
Description
図1は、本発明に係る単結晶インゴット直径制御方法を採用したシステムの機能ブロック図である。このシステムでは、インゴット1を製造する単結晶引上げ装置2における、坩堝21の加熱温度や、種結晶の引上速度、回転速度などが、制御装置3により制御されている。制御装置3は、PLCやパーソナルコンピューターなど、データの記憶、演算処理機能、信号入出力インターフェイスを備える公知の装置である。
2 単結晶引上げ装置
3 制御装置
10 稜線
11、11a、11b 撮像手段
12 ガイドレール
13 パルスモータ
14 計測制御装置
15 発光手段
21 坩堝
22 真空炉
23 炉内状態視認窓
Claims (7)
- 炉内を鉛直上方に引き上げられているインゴットの直径を、炉内状態視認窓を通して計測し、得られた直径データに基づいて製造条件を補正することを特徴とする単結晶インゴット直径制御方法。
- 前記炉内状態視認窓を坩堝内の溶融原料の溶融表面を視認できる位置及び角度に設け、前記溶融表面において第一直径データを得るとともに、前記溶融表面から鉛直上方に間隔をあけた位置において第二直径データを得て、前記第一直径データに基づいた前記製造条件の補正の結果を、前記第二直径データに基づいて検証する請求項1に記載の単結晶インゴット直径制御方法。
- 撮像手段を前記炉内状態視認窓の外部に二つ配置し、前記インゴットの長手方向に平行して伸びる二本の輪郭の一方を前記撮像手段の一方で撮影し、他方の輪郭線を前記撮像手段の他方で撮影し、前記映像において前記輪郭が所定位置に写る計測位置まで前記撮像手段を水平移動させ、前記計測位置における前記撮像手段の間隔に基づいて前記直径データを得る請求項1又は2に記載の単結晶インゴット直径制御方法。
- 撮像データに基づいて得られる前記直径データが所定の閾値を超えたときを起点として、前記インゴットの軸線を中心とする1回転周期において、稜線が出現しないタイミングで前記直径データを得る請求項3に記載の単結晶インゴット直径制御方法。
- 前記撮像手段の撮像タイミングを前記インゴットの引上げ長さに関連付ける請求項3又は4に記載の単結晶インゴット直径制御方法。
- 前記撮像手段の撮像対象部位に、種結晶及び前記インゴットの肩部と、前記インゴットの終端部を含める請求項3、4又は5に記載の単結晶インゴット直径制御方法。
- 前記炉の開放作業時に、前記炉の内部に二つの発光手段を配置し、前記発光手段の各々から前記炉内状態視認窓を通して前記炉の外部に向けて光を発し、前記発光手段からの光線の一方を前記撮像手段の一方で撮影し、他方の光線を前記撮像手段の他方で撮影し、前記撮像手段の映像において前記光線が所定位置に写る計測位置まで前記撮像手段を水平移動させ、前記計測位置における前記撮像手段の間隔と前記発光手段の間隔を比較し、前記計測位置における前記撮像手段の間隔に基づいて算出される数値の校正を行なう請求項3、4、5又は6に記載の単結晶インゴット直径制御方法。
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