JP2013047673A - Method for manufacturing laminate, laminate, printed wiring board, semiconductor device, and resin composition - Google Patents

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賢 太田
Hiroyuki Hayashi
博之 林
Madoka Yuasa
円 湯浅
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To manufacture a material obtained by reducing bubbles (voids) included in a laminate and to provide the material to a market.SOLUTION: This invention is concerned with a manufacturing method for manufacturing a laminate including no bubbles with a diameter of 30 μm and more by an inspection using an X-ray camera. Further this invention is concerned with a manufacturing method for more easily performing measurement using the X-ray camera and inexpensively and simply manufacturing the laminate by uniformly dispersing and mixing an X-ray contrast medium into a resin composition for the laminate. Further this invention is concerned with a laminate, a printed wiring board, multilayer printed wiring board, and a semiconductor device to be manufactured by utilizing these manufacturing methods.

Description

本発明は、積層板の製造方法、積層板、プリント配線板、半導体装置及び樹脂組成物に関するものである。   The present invention relates to a method for manufacturing a laminate, a laminate, a printed wiring board, a semiconductor device, and a resin composition.

近年、電子機器の高機能化等の要求に伴い、電子部品の高密度集積化、更には高密度実装化等が進んでいる。そのため、これらに使用される高密度実装対応のプリント配線板等は、従来にも増して、小型薄型化かつ高密度化が進んでいる。特に配線の高密度化において、形成される銅配線の太さが数十ミクロンと極めて細くなるため、微細な配線を形成できるだけの平滑性や均一性を有したプリント配線板の樹脂基板の製造が要求される。   2. Description of the Related Art In recent years, with the demand for higher functionality of electronic devices and the like, electronic components have been integrated at a high density and further at a high density mounting. For this reason, printed wiring boards and the like for high-density mounting used for these are becoming smaller and thinner and higher in density than ever before. In particular, when the wiring density is increased, the thickness of the copper wiring formed becomes extremely thin, such as several tens of microns. Therefore, it is possible to produce a printed wiring board resin substrate having smoothness and uniformity enough to form a fine wiring. Required.

しかしながら、プリント配線板や積層板は、一般的には樹脂及びガラスクロスや各種充填剤の複合物であり、数ミクロン〜数十ミクロンの不均一性や空隙が発生しやすい組成であり、高い平滑性や均一性を有したものを作製するには高度な生産技術が必要となる。特に空隙すなわち気泡に関しては上記サイズのものは発生しやすく根絶が困難であり、微細配線の形成のための支障となる可能性のあるものである。   However, printed wiring boards and laminates are generally composites of resins, glass cloths, and various fillers, and have a composition that easily generates non-uniformity and voids of several microns to several tens of microns. Advanced production technology is required to produce a product with good properties and uniformity. In particular, voids or bubbles of the above sizes are likely to be generated and difficult to eradicate, and may hinder the formation of fine wiring.

そこで各種の気泡低減手法を用いたプリント配線板等やその製造方法に関する技術が開示されている。例えば蛍光液を利用して光学顕微鏡で検出する方式が提案されている(例えば、特許文献1参照)。
しかし、この方法の場合、気泡検出のためには銅箔を除去すること、すなわち破壊試験が必要である。銅箔を除去する前の積層板の製品における全数の品質検査を行うことには不適であった。
Therefore, technologies relating to printed wiring boards and the like using various bubble reduction techniques and manufacturing methods thereof are disclosed. For example, a method of detecting with an optical microscope using a fluorescent solution has been proposed (see, for example, Patent Document 1).
However, in this method, it is necessary to remove the copper foil, that is, to perform a destructive test in order to detect bubbles. It was unsuitable for quality inspection of all the products of the laminate before removing the copper foil.

特許第3577801号公報Japanese Patent No. 3577801

本発明の目的は、計測方法の工夫と配合処方の工夫をすることにより、気泡のないプリント配線板等の製造方法を提供するものであり、それによりプリント配線板や積層板やプリプレグを提供するものであり、更にはそれを利用した半導体装置や、それに用いられる樹脂組成物を提供するものである。   An object of the present invention is to provide a method for producing a printed wiring board without bubbles by devising a measurement method and a formulation, thereby providing a printed wiring board, a laminate, and a prepreg. Furthermore, the present invention provides a semiconductor device using the same and a resin composition used therefor.

本発明の目的は、下記(1)〜(16)に記載の本発明により達成される。
(1)樹脂組成物を繊維基材に含浸してプリプレグを作製したのち、前記プリプレグを少なくとも1枚以上重ね合わせた積層体の少なくとも片面に金属箔を積層して積層板を得る積層板の製造方法であって、X線カメラを用いた観察により所定寸法以上の気泡が含まれていないことを確認し、前記所定寸法以上の気泡の存在が確認された場合は、これを不良品とする工程を含むことを特徴とする積層板の製造方法。
(2)前記所定寸法以上の気泡が30μm以上の気泡であることを特徴とする(1)に記載の積層板の製造方法。
(3)前記樹脂組成物が、樹脂と、X線用の造影剤を含むことを特徴とする(1)又は(2)に記載の積層板の製造方法。
(4)前記X線用の造影剤が硫酸バリウム粒子を含むことを特徴とする(3)に記載の積
層板の製造方法。
(5)前記硫酸バリウムの平均粒子径が3μm以下であることを特徴とする(4)に記載の積層板の製造方法。
(6)前記X線用の造影剤の含有量は、前記樹脂組成物全体の0.5質量%以上、70質量%以下であることを特徴とする(3)ないし(5)のいずれか1項に記載の積層板の製造方法。
(7)前記樹脂がエポキシ樹脂を含むことを特徴とする(3)ないし(6)のいずれか1項に記載の積層板の製造方法。
(8)前記樹脂がさらにシアネート樹脂を含むことを特徴とする(3)ないし(7)のいずれか1項に記載の積層板の製造方法。
(9)前記樹脂がさらにフェノール樹脂を含むことを特徴とする(3)ないし(8)のいずれか1項に記載の積層板の製造方法。
(10)前記樹脂組成物がさらに無機充填剤を含むことを特徴とする(1)ないし(9)のいずれか1項に記載の積層板の製造方法。
(11)前記無機充填剤の平均粒子径が、0.3μm以上、5μm以下であることを特徴とする(10)に記載の積層板の製造方法。
(12)前記無機充填剤の含有量が、前記樹脂組成物全体の20質量%以上、85質量%以下であることを特徴とする(10)又は(11)に記載の積層板の製造方法。
(13)(1)ないし(12)のいずれか1項に記載の積層板の製造方法を用いて製造されたことを特徴とする積層板。
(14)(13)に記載の積層板を用いてなることを特徴とする多層又は単層のプリント配線板。
(15)(14)に記載のプリント配線板に半導体素子を搭載してなることを特徴とする半導体装置。
(16)樹脂組成物を繊維基材に含浸してプリプレグを作製したのち、前記プリプレグを少なくとも1枚以上重ね合わせた積層体の少なくとも片面に金属箔を積層して積層板を得る際に、X線カメラを用いた観察により所定寸法以上の気泡が含まれていないことを確認し、前記所定寸法以上の気泡の存在が確認された場合は、これを不良品とする積層板の製造に用いられる、樹脂と、X線用の造影剤を含むことを特徴とする樹脂組成物。
The object of the present invention is achieved by the present invention described in the following (1) to (16).
(1) Fabrication of a laminated plate in which a fiber base material is impregnated with a resin composition to prepare a prepreg, and then a metal foil is laminated on at least one surface of a laminate in which at least one prepreg is laminated. A method for confirming that bubbles of a predetermined size or larger are not included by observation using an X-ray camera, and in the case where the presence of bubbles of a predetermined size or larger is confirmed, the step of making this a defective product The manufacturing method of the laminated board characterized by including.
(2) The method for producing a laminated board according to (1), wherein the bubbles having a predetermined dimension or more are bubbles having a size of 30 μm or more.
(3) The method for producing a laminated board according to (1) or (2), wherein the resin composition contains a resin and a contrast agent for X-rays.
(4) The method for producing a laminated board according to (3), wherein the X-ray contrast medium contains barium sulfate particles.
(5) The method for producing a laminated board according to (4), wherein the barium sulfate has an average particle size of 3 μm or less.
(6) The content of the X-ray contrast medium is 0.5% by mass or more and 70% by mass or less of the entire resin composition, and any one of (3) to (5) The manufacturing method of the laminated board as described in a term.
(7) The method for producing a laminated board according to any one of (3) to (6), wherein the resin includes an epoxy resin.
(8) The method for producing a laminated board according to any one of (3) to (7), wherein the resin further contains a cyanate resin.
(9) The method for producing a laminated board according to any one of (3) to (8), wherein the resin further contains a phenol resin.
(10) The method for producing a laminated board according to any one of (1) to (9), wherein the resin composition further contains an inorganic filler.
(11) The method for producing a laminated board according to (10), wherein the inorganic filler has an average particle size of 0.3 μm or more and 5 μm or less.
(12) Content of the said inorganic filler is 20 mass% or more and 85 mass% or less of the said whole resin composition, The manufacturing method of the laminated board as described in (10) or (11) characterized by the above-mentioned.
(13) A laminate produced by using the laminate production method according to any one of (1) to (12).
(14) A multilayer or single-layer printed wiring board comprising the laminated board according to (13).
(15) A semiconductor device comprising a semiconductor element mounted on the printed wiring board according to (14).
(16) After producing a prepreg by impregnating a fiber base material with a resin composition, when obtaining a laminate by laminating metal foil on at least one side of a laminate in which at least one prepreg is laminated, X When it is confirmed by observation using a line camera that bubbles of a predetermined size or larger are not included, and the presence of bubbles of the predetermined size or larger is confirmed, it is used for manufacturing a laminate having this as a defective product. A resin composition comprising a resin and an X-ray contrast medium.

本発明によれば、気泡、特に直径30μm以上の気泡を無くしたプリント配線板や積層板を製造することが可能となり、高品質の半導体装置や電子製品を得ることができる。   According to the present invention, it is possible to manufacture a printed wiring board or a laminated board from which bubbles, particularly bubbles having a diameter of 30 μm or more are eliminated, and a high-quality semiconductor device or electronic product can be obtained.

本特許の積層板の製造方法に用いられるX線カメラの基本的な構成を模式的に示す構成図である。It is a block diagram which shows typically the basic composition of the X-ray camera used for the manufacturing method of the laminated sheet of this patent. 実施例で用いたX線カメラ装置の構成を模式的に示す構成図である。It is a block diagram which shows typically the structure of the X-ray camera apparatus used in the Example.

以下、本発明の積層板の製造方法、積層板、プリント配線板、半導体装置及び樹脂組成物について説明する。   Hereinafter, the manufacturing method of the laminated board of this invention, a laminated board, a printed wiring board, a semiconductor device, and a resin composition are demonstrated.

本発明の積層板の製造方法は、樹脂組成物を繊維基材に含浸してプリプレグを作製したのち、前記プリプレグを少なくとも1枚以上重ね合わせた積層体の少なくとも片面に金属箔を積層して積層板を得る積層板の製造方法であって、X線カメラを用いた観察により所定寸法以上の気泡が含まれていないことを確認し、前記所定寸法以上の気泡の存在が確認された場合は、これを不良品とする工程を含むことを特徴とする積層板の製造方法である。また、30μm以上の気泡が存在しないことを特徴とする積層板の製造方法とすることができる。   In the method for producing a laminate of the present invention, a fiber base material is impregnated with a resin composition to prepare a prepreg, and then a metal foil is laminated on at least one side of a laminate in which at least one prepreg is laminated. A method for producing a laminated board for obtaining a plate, confirming that bubbles of a predetermined size or more are not included by observation using an X-ray camera, and if the presence of bubbles of a predetermined size or more is confirmed, It is a manufacturing method of the laminated board characterized by including the process which makes this inferior goods. Moreover, it can be set as the manufacturing method of the laminated board characterized by the bubble of 30 micrometers or more not existing.

また、樹脂組成物中にX線用の造影剤を配合してX線カメラの増感度を向上させて気泡を検出し易くさせることにより、気泡による不良品を除去することができる積層板の製造方法とすることができる。
また本発明の積層板は、上記の製造方法を用いて製造してなる積層板において、プリプレグを少なくとも1枚以上重ね合わせた積層体であり少なくとも片面に金属箔を有することを特徴とするものである。
In addition, the production of a laminate capable of removing defective products due to air bubbles by blending an X-ray contrast agent in the resin composition to improve the sensitivity of the X-ray camera and make air bubbles easier to detect. It can be a method.
The laminate of the present invention is a laminate produced by using the above production method, and is a laminate in which at least one prepreg is laminated, and has a metal foil on at least one side. is there.

また、本発明の多層のプリント配線板は、プリプレグを絶縁層に用い、上記に記載の積層板を内層回路基板に用い、上記の製造方法を用いて製造することを特徴とするものとすることができる。
また、本発明の半導体装置は、上記に記載のプリント配線板に半導体素子を搭載してなることを特徴とするものである。
また、本発明の樹脂と樹脂組成物は、上記に記載の製造方法を利用して製造される積層板やプリント配線板や半導体装置に利用されるものであることを特徴とする。
Moreover, the multilayer printed wiring board of the present invention is characterized in that it is manufactured using the above-described manufacturing method using the prepreg as an insulating layer, using the above-described laminated board as an inner layer circuit board. Can do.
The semiconductor device of the present invention is characterized in that a semiconductor element is mounted on the printed wiring board described above.
In addition, the resin and the resin composition of the present invention are characterized in that they are used for laminated boards, printed wiring boards, and semiconductor devices manufactured by using the manufacturing method described above.

(積層板の製造方法)
まず、積層板の製造方法に関して詳細に説明する。
後述する樹脂組成物を、後述する繊維基材に含浸して後述するプリプレグを作製したのち、前記プリプレグを少なくとも1枚以上重ね合わせた積層体の少なくとも片面に金属箔を積層したものを積層板と定義する。そして、本発明の積層板の製造方法は、上記工程を得ることに加えて、後述するX線カメラを用いた観察により所定寸法以上の気泡が含まれていないことを確認して、前記所定寸法以上の気泡の存在が確認された場合はこれを不良品とする工程を含むことを特徴とする。X線カメラによる気泡の検出能力は、計測速度を考慮しなければいくらでも細かい画像をとることができる。しかし、後述するプリント配線板に形成される銅配線の配線幅から判断し、直径1μm未満の気泡は検出する必要はないと判断されるため、直径1μm以上の気泡の検出が検査対象とする。なお気泡の径が大きいほどプリント配線板上の銅配線の不良は増加するため、直径で30μm以上の大きな気泡は少なくとも完全に排除することが望ましく、より望ましくは10μm以上、更に望ましくは5μm以上を完全に排除することが望ましい。
(Laminate production method)
First, the manufacturing method of a laminated board is demonstrated in detail.
After a resin substrate (described later) is impregnated into a fiber substrate (described later) to prepare a prepreg (described later), a laminate in which a metal foil is laminated on at least one side of a laminate in which at least one prepreg is stacked is used as a laminate. Define. And in addition to obtaining the said process, the manufacturing method of the laminated board of this invention confirms that the bubble beyond a predetermined dimension is not contained by observation using the X-ray camera mentioned later, The said predetermined dimension When the presence of the above bubbles is confirmed, the method includes a step of making this a defective product. The ability to detect bubbles with an X-ray camera can take as many detailed images as possible without considering the measurement speed. However, judging from the wiring width of a copper wiring formed on a printed wiring board, which will be described later, it is judged that it is not necessary to detect air bubbles having a diameter of less than 1 μm, so detection of air bubbles having a diameter of 1 μm or more is an inspection object. In addition, since the defect of the copper wiring on the printed wiring board increases as the bubble diameter increases, it is desirable to eliminate at least completely the large bubbles of 30 μm or more in diameter, more desirably 10 μm or more, and even more desirably 5 μm or more. It is desirable to eliminate it completely.

(X線カメラ)
次に、本発明の積層板の製造方法におけるX線カメラによる気泡検出法に関して詳細に説明する。
本特許の積層板の製造方法に用いるX線カメラとは、X線源、X線センサ、画像処理装置、を必須要素として構成される装置を示す。基本的な構成図に関して図1に示す。なお、これは基本的な構成要素とそれぞれのつながりについて模式的に示したものであり、これに限定するものではない。ここで1はX線源、2はX線センサ、3はサンプルすなわち評価したいプリント配線板や積層板、4は搬送装置、5は画像処理装置、6は制御装置、7は不良個所をマーキング装置、8はX線、図中の点線は装置間を繋ぐ配線、を示す。搬送装置でサンプルを搬送しながらX線を照射し、サンプルの透過光をX線センサで検出し、画像処理装置でデータを解析し、気泡の存在する場所にはマーキング装置でマーキングを行うという仕組みである。なお制御装置でそれらの動きを全て連動させ制御していることが望ましい。
(X-ray camera)
Next, the bubble detection method by the X-ray camera in the manufacturing method of the laminated board of this invention is demonstrated in detail.
The X-ray camera used in the method for manufacturing a laminated plate of this patent refers to an apparatus that includes an X-ray source, an X-ray sensor, and an image processing apparatus as essential elements. A basic configuration diagram is shown in FIG. This is a schematic illustration of the basic components and their connections, and is not limited to this. Here, 1 is an X-ray source, 2 is an X-ray sensor, 3 is a sample, that is, a printed wiring board or laminate to be evaluated, 4 is a conveying device, 5 is an image processing device, 6 is a control device, and 7 is a marking device for a defective portion. , 8 indicate X-rays, and dotted lines in the figure indicate wirings connecting the devices. A mechanism in which X-rays are irradiated while a sample is being transported by a transport device, the transmitted light of the sample is detected by an X-ray sensor, the data is analyzed by an image processing device, and a marking device is used to mark where bubbles are present It is. It is desirable that all the movements are interlocked and controlled by the control device.

X線源とは、光源としてX線を発生させる装置のことを示す。X線源に関してはX線を発生する装置であるならば特に限定はなく、また出力や形式に関しても特に限定はない。例えば電子銃型X線源、フィールドエミッション型電子銃型X線源、マイクロフォーカスX線源、パルスX線源、市販の卓上型放射光源、超小型電子蓄積リングを有した産業用小型X線源、等の形体のX線源が使用される。なお、拡大して撮影することが必要であるた
め、できるだけ小さい光源からX線を出すことのできるX線源がより望ましい。
An X-ray source refers to a device that generates X-rays as a light source. The X-ray source is not particularly limited as long as it is an apparatus that generates X-rays, and the output and the format are not particularly limited. For example, an electron gun X-ray source, a field emission electron gun X-ray source, a microfocus X-ray source, a pulse X-ray source, a commercially available tabletop radiation source, and a small industrial X-ray source having a micro electron storage ring , Etc. in the form of an X-ray source. Since it is necessary to magnify and image, an X-ray source that can emit X-rays from as small a light source as possible is more desirable.

X線センサとは、X線の像を数値化もしくは可視化するセンサを示す。X線源から出たX線を、観測したい目的のサンプルすなわちプリント配線板等に照射し、透過したX線を検出するために用いる。透過したX線を数値化もしくは可視化できる機能を有した装置等であるならば特に限定はない。例えばCMOSセンサ、電子倍増管、CCDセンサなどが挙げられる。あるいは形状の違いで言えば、ライン型センサ、フラットパネルセンサ、マイクロチャンネルプレート、等の形状のX線センサが使用される。なお、大面積のサンプルの30μm以上、望ましくは10μm以上、更に望ましくは5μm以上のサイズの微小な気泡を高速で検出するためには、高速処理が可能で、デジタル処理が可能で、かつ画素のサイズが小さい装置を用いることがより望ましい。   An X-ray sensor refers to a sensor that digitizes or visualizes an X-ray image. X-rays emitted from the X-ray source are irradiated to a target sample to be observed, that is, a printed wiring board, and used to detect transmitted X-rays. There is no particular limitation as long as it is a device or the like having a function of digitizing or visualizing transmitted X-rays. For example, a CMOS sensor, an electron multiplier, a CCD sensor, and the like can be given. Or speaking of the difference in shape, an X-ray sensor having a shape such as a line type sensor, a flat panel sensor, or a microchannel plate is used. It should be noted that high-speed processing is possible, digital processing is possible, and pixel processing is possible in order to detect small bubbles with a size of 30 μm or more, preferably 10 μm or more, more preferably 5 μm or more in a large area sample at high speed. It is more desirable to use a device with a small size.

画像処理装置は、X線センサより得られた数値もしくは画像から、気泡の場所がどこであるのかを判定する機能を有した装置一般のことを示す。X線センサで得た数値からその部分の気泡の有無を判定する機能が必要である。例えば、X線センサで得た画像を二値化して気泡検出を行う機能があることが必要である。また大量のプリント配線板を検査する必要があるため、大面積を高速で処理する装置であることが望ましい。上記条件を満たす装置であれば専用の装置であろうがパソコンであろうが特に限定しない。   The image processing apparatus indicates a general apparatus having a function of determining where a bubble is from a numerical value or an image obtained from an X-ray sensor. A function for determining the presence / absence of bubbles in the portion from the numerical value obtained by the X-ray sensor is required. For example, it is necessary to have a function of binarizing an image obtained by an X-ray sensor and performing bubble detection. Further, since it is necessary to inspect a large number of printed wiring boards, it is desirable that the apparatus process a large area at high speed. A device that satisfies the above conditions is not particularly limited, whether it is a dedicated device or a personal computer.

不良個所をマーキングする装置とは、上記の画像処理で判定した結果を元に、気泡のある箇所にインキで印を付ける、あるいは打ち抜くなどの処置を行う装置のことを示す。この装置の付けた印を元にして、後ほど不良の無い部分のみを選別して出荷することが可能となる。本特許においてはこの装置は必須の装置ではないが、高速かつ自動で気泡検出を行おうとする場合には必須の装置となる。   The device for marking a defective portion refers to a device for performing a treatment such as marking or punching a portion where there is a bubble based on a result determined by the above image processing. Based on the mark attached to this device, it is possible to select and ship only parts that are not defective later. In this patent, this device is not an indispensable device, but it is an indispensable device when air bubbles are to be detected automatically at high speed.

制御装置とは、X線源、搬送装置、X線センサ、画像処理装置、不良個所をマーキングする装置、等を制御してそれらを連携させて気泡検出を可能とするための装置である。本特許においてこの装置は必須の装置ではないが、高速かつ自動で気泡検出を行おうとした場合には検出速度の向上のために制御装置の利用が必須となる。上記装置の動きを最適に制御できる装置であれば、専用の装置であろうがパソコンによる制御であろうが特に限定しない。   The control device is a device for controlling the X-ray source, the conveyance device, the X-ray sensor, the image processing device, the device for marking a defective portion, and the like, and enabling them to detect bubbles by linking them. In this patent, this device is not an essential device. However, when air bubbles are to be detected automatically at high speed, the use of a control device is essential for improving the detection speed. Any device capable of optimally controlling the movement of the device is not particularly limited, whether it is a dedicated device or a personal computer.

搬送装置とは、サンプルすなわちプリント配線板や積層板等を搬送する装置全般のことを示す。本特許においてこの装置は必須の装置ではないが、高速に精度良く気泡検出を行おうとした場合、好適に用いられると考えられる。サンプルを搬送できるものであるならば特に限定はしないが、形状としてはベルトコンベア形式もしくはトレー搬送方式などが利用できる。なお、サンプルを透過したX線を更にその下のX線センサに届けるためにベルトコンベア形式の場合はベルト、トレー方式の場合はトレーがX線を良く透過させることが可能な材質を選択したり、あるいは検査する箇所のみベルトやトレーがない形態で搬送されてゆくなどの工夫が必要である。また、X線を照射して検査する場所と、その後で不良個所をマーキングする装置は多くの場合少し離れて設置せざるを得ないので、搬送装置の搬送速度等をはじめとして搬送装置の動きを制御装置によって制御されていることで初めて正確な気泡の位置にマーキングすることが可能となる。   The conveying device refers to all devices that convey a sample, that is, a printed wiring board or a laminated board. Although this device is not an essential device in this patent, it is considered that it is preferably used when air bubbles are detected at high speed with high accuracy. The shape is not particularly limited as long as the sample can be conveyed, but the shape may be a belt conveyor type or a tray conveyance method. In addition, in order to deliver X-rays that have passed through the sample to the X-ray sensor below the belt, in the case of the belt conveyor type, a material that can transmit X-rays well can be selected. Or, it is necessary to devise such that the parts to be inspected are transported without a belt or tray. In addition, the place to inspect by irradiating with X-rays and the device that marks the defective part after that must be installed a little apart in many cases. Therefore, the movement of the transfer device including the transfer speed of the transfer device etc. It is possible to mark an accurate bubble position only by being controlled by the control device.

(X線用の造影剤)
次にX線用の造影剤とは、X線による画像化において気泡のある部分と無い部分のコントラストを高くし検出能力を上げるために樹脂組成物に配合するものであり、通常の樹脂組成物と比較してX線に対する遮蔽効果が相対的に高い物質であることが必要である。上記特徴を有する材料であることを満たせば特にその内容に制限はないが、硫酸バリウムや、各種ヨウ素化有機化合物、例えばトリヨウ化フェノール、トリヨウ化ベンゼン、トリヨ
ウ化安息香酸及びその塩等も使用され、また各種金属粒子、例えば金粒子、銀粒子、銅粒子、等が上げられる。X線遮蔽性能、価格、安定性、電気特性等の影響より、硫酸バリウム粒子が最も好適に使用される。
(Contrast agent for X-ray)
Next, an X-ray contrast agent is a compound that is blended into a resin composition in order to increase the contrast between a bubbled portion and a bubble-free portion in imaging with X-rays and increase the detection capability. It is necessary that the substance has a relatively high shielding effect against X-rays. The content is not particularly limited as long as the material has the above characteristics, but barium sulfate and various iodinated organic compounds such as triiodinated phenol, triiodinated benzene, triiodinated benzoic acid and salts thereof are also used. In addition, various metal particles such as gold particles, silver particles, and copper particles can be used. Barium sulfate particles are most preferably used because of the influence of X-ray shielding performance, price, stability, electrical characteristics, and the like.

造影剤の配合量に関しては、特に制限しないが、より好ましくは樹脂組成物全体の0.5質量%以上、70質量%以下であることが望ましく、3質量%以上50質量%以下であることがより望ましい。上記下限値未満であると目的であるX線画像のおけるコントラスト上昇が不十分であり、上記上限値を越えると樹脂組成物としての充填性や電気特性が低下する。   The blending amount of the contrast agent is not particularly limited, but more preferably 0.5% by mass or more and 70% by mass or less of the entire resin composition, and preferably 3% by mass or more and 50% by mass or less. More desirable. If it is less than the above lower limit value, the contrast increase in the target X-ray image is insufficient, and if it exceeds the above upper limit value, the filling property and electrical characteristics as the resin composition are lowered.

造影剤として最も好適に利用される前記硫酸バリウムにおける、平均粒子径や、最大粒子径、最小粒子径に関しては特に制限はないが、評価対象たる気泡のサイズよりも小さい粒子径であることが望ましい。特に、評価対象たる気泡のサイズの10分の1以下であることがより望ましい。それゆえ、硫酸バリウム粒子は、平均粒子径が3μm未満であることが望ましく、100nm以下であることがさらに望ましい。これにより、造影剤の配合量が少量の場合でも、コントラストを高くし検出能力を上げることができる。なお、平均粒子径の計測方法は動的光散式粒度分布計もしくはレーザー光回折式粒度分布計で計測することが必要である。   The average particle diameter, the maximum particle diameter, and the minimum particle diameter in the barium sulfate most preferably used as a contrast agent are not particularly limited, but it is desirable that the particle diameter is smaller than the size of the bubble to be evaluated. . In particular, it is more desirable that it is 1/10 or less of the size of the bubble to be evaluated. Therefore, the barium sulfate particles preferably have an average particle diameter of less than 3 μm, and more preferably 100 nm or less. Thereby, even when the blending amount of the contrast agent is small, the contrast can be increased and the detection capability can be increased. In addition, it is necessary to measure the average particle diameter with a dynamic light scattering particle size distribution meter or a laser light diffraction particle size distribution meter.

また、造影剤が粒子状物質、特に硫酸バリウムであった場合は、造影剤表面を有機もしくは無機材料で表面処理するなどして、材料中への分散性を改善したものを使用することに問題はない。表面処理に使用される化合物としては、シリカ、アルミナ等の無機材料や、各種シランカップリング剤、例えばエポキシシラン、スチリルシラン、メタクリロキシシラン、アクリロキシシラン、メルカプトシラン、N−ブチルアミノプロピルトリメトキシシラン、N−エチルアミノイソブチルトリメトキシシラン、N−メチルアミノプロピルトリメトキシシラン、N−フェニル−3−アミノプロピルトリメトキシシラン、3−(N−アリルアミノ)プロピルトリメトキシシラン、(シクロヘキシルアミノメチル)トリエトキシシラン、N−シクロヘキシルアミノプロピルトリメトキシシラン、N−エチルアミノイソブチルメトキシルジエトキシシラン、(フェニルアミノメチル)メチルジメトキシシラン、N−フェニルアミノメチルトリエトキシシラン、N−メチルアミノプロピルメチルジメトキシシラン、ビニルシラン、イソシアネートシラン、スルフィドシラン、クロロプロピルシラン、ウレイドシラン化合物等の有機材料が上げられ、特に制限しない。   Also, if the contrast agent is a particulate material, especially barium sulfate, there is a problem in using a material that has improved dispersibility in the material, such as by treating the surface of the contrast agent with an organic or inorganic material. There is no. Compounds used for the surface treatment include inorganic materials such as silica and alumina, and various silane coupling agents such as epoxy silane, styryl silane, methacryloxy silane, acryloxy silane, mercapto silane, N-butylaminopropyltrimethoxy. Silane, N-ethylaminoisobutyltrimethoxysilane, N-methylaminopropyltrimethoxysilane, N-phenyl-3-aminopropyltrimethoxysilane, 3- (N-allylamino) propyltrimethoxysilane, (cyclohexylaminomethyl) tri Ethoxysilane, N-cyclohexylaminopropyltrimethoxysilane, N-ethylaminoisobutylmethoxyldiethoxysilane, (phenylaminomethyl) methyldimethoxysilane, N-phenylaminomethyltrieth Shishiran, N- methyl aminopropyl methyl dimethoxy silane, vinyl silane, isocyanate silane, Surufidoshiran, chloropropyl silane, raised organic material such as ureido silane compound is not particularly limited.

(樹脂組成物)
次に、本発明の積層板の製造方法に用いられる樹脂組成物について、詳細に説明する。
前記樹脂組成物には、上述のX線用の造影剤のほかに、エポキシ樹脂等の樹脂を含む。これにより、電気特性に優れる積層板を得ることができる。
(Resin composition)
Next, the resin composition used for the manufacturing method of the laminated board of this invention is demonstrated in detail.
The resin composition contains a resin such as an epoxy resin in addition to the above X-ray contrast agent. Thereby, the laminated board excellent in an electrical property can be obtained.

前記樹脂組成物に用いる樹脂としては、特に限定されないが、エポキシ樹脂を配合することが可能である。エポキシ樹脂としては、例えばビスフェノールA型エポキシ樹脂、ビスフェノールF型エポキシ樹脂、ビスフェノールE型エポキシ樹脂、ビスフェノールS型エポキシ樹脂、ビスフェノールZ型エポキシ樹脂(4,4’−シクロヘキシジエンビスフェノール型エポキシ樹脂)、ビスフェノールP型エポキシ樹脂(4,4’−(1,4)−フェニレンジイソプリジエン)ビスフェノール型エポキシ樹脂)、ビスフェノールM型エポキシ樹脂(4,4’−(1,3−フェニレンジイソプリジエン)ビスフェノール型エポキシ樹脂)等のビスフェノール型エポキシ樹脂、フェノールノボラック型エポキシ樹脂、クレゾールノボラック型エポキシ樹脂等のノボラック型エポキシ樹脂、ビフェニル型エポキシ樹脂、キシリレン型エポキシ樹脂、フェノールアラルキル型エポキシ樹脂、ビフェニルアラルキル型エポキシ樹脂、ビフェニルジメチレン型エポキシ樹脂、トリスフェノールメタンノボラック型エポキシ樹脂、1,1,2,2−(テトラフェノール)エタンのグリシジ
ルエーテル類、3官能、または4官能のグリシジルアミン類、テトラメチルビフェニル型エポキシ樹脂等のアリールアルキレン型エポキシ樹脂、ナフタレン型エポキシ樹脂、アントラセン型エポキシ樹脂、フェノキシ型エポキシ樹脂、ジシクロペンタジエン型エポキシ樹脂、ノルボルネン型エポキシ樹脂、アダマンタン型エポキシ樹脂、フルオレン型エポキシ樹脂等が挙げられる。これらの中の1種類を単独で用いることもできるし、異なる重量平均分子量を有する2種類以上を併用もでき、1種類または2種類以上と、それらのプレポリマーを併用することもできる。
Although it does not specifically limit as resin used for the said resin composition, It is possible to mix | blend an epoxy resin. Examples of the epoxy resin include bisphenol A type epoxy resin, bisphenol F type epoxy resin, bisphenol E type epoxy resin, bisphenol S type epoxy resin, bisphenol Z type epoxy resin (4,4′-cyclohexyldiene bisphenol type epoxy resin), Bisphenol P type epoxy resin (4,4 '-(1,4) -phenylenediisopridiene) bisphenol type epoxy resin), bisphenol M type epoxy resin (4,4'-(1,3-phenylenediisopridiene) ) Bisphenol type epoxy resin), phenol novolak type epoxy resin, cresol novolak type epoxy resin, etc., biphenyl type epoxy resin, xylylene type epoxy resin, phenol aralkyl Type epoxy resin, biphenyl aralkyl type epoxy resin, biphenyl dimethylene type epoxy resin, trisphenol methane novolak type epoxy resin, glycidyl ethers of 1,1,2,2- (tetraphenol) ethane, trifunctional or tetrafunctional Glycidylamines, arylalkylene type epoxy resins such as tetramethylbiphenyl type epoxy resin, naphthalene type epoxy resin, anthracene type epoxy resin, phenoxy type epoxy resin, dicyclopentadiene type epoxy resin, norbornene type epoxy resin, adamantane type epoxy resin And fluorene type epoxy resin. One of these can be used alone, two or more having different weight average molecular weights can be used in combination, and one or two or more thereof and their prepolymers can be used in combination.

これらエポキシ樹脂の中でも、特にビフェニルジメチレン型エポキシ樹脂、ノボラック型エポキシ樹脂、ナフタレン変性クレゾールノボラックエポキシ樹脂、及びアントラセン型エポキシ樹脂よりなる群から選ばれる少なくとも1種が好ましい。これにより、吸湿半田耐熱性及び難燃性を向上させることができる。   Among these epoxy resins, at least one selected from the group consisting of biphenyldimethylene type epoxy resins, novolac type epoxy resins, naphthalene-modified cresol novolac epoxy resins, and anthracene type epoxy resins is particularly preferable. Thereby, moisture absorption solder heat resistance and a flame retardance can be improved.

前記エポキシ樹脂の含有量は、特に限定されないが、前記樹脂組成物全体の5質量%以上、60質量%以下とすることが好ましい。含有量が前記下限値未満であると樹脂組成物の硬化性が低下したり、当該樹脂組成物より得られるプリプレグ、または多層プリント配線板の耐湿性が低下したりする場合がある。また、前記上限値を超えるとプリプレグ、または多層プリント配線板の線熱膨張率が大きくなったり、耐熱性が低下したりする場合がある。前記エポキシ樹脂の含有量は、好ましくは樹脂組成物全体の10質量%以上、50質量%以下である。   Although content of the said epoxy resin is not specifically limited, It is preferable to set it as 5 to 60 mass% of the said whole resin composition. If the content is less than the lower limit, the curability of the resin composition may be lowered, or the moisture resistance of the prepreg or multilayer printed wiring board obtained from the resin composition may be lowered. Moreover, when the said upper limit is exceeded, the linear thermal expansion coefficient of a prepreg or a multilayer printed wiring board may become large, or heat resistance may fall. The content of the epoxy resin is preferably 10% by mass or more and 50% by mass or less based on the entire resin composition.

前記エポキシ樹脂の重量平均分子量は、特に限定されないが、重量平均分子量1.0×10以上、2.0×10以下が好ましい。重量平均分子量が前記下限値未満であると絶縁樹脂層の表面にタック性が生じる場合が有り、前記上限値を超えると半田耐熱性が低下する場合がある。重量平均分子量を前記範囲内とすることにより、これらの特性のバランスに優れたものとすることができる。なお、前記エポキシ樹脂の重量平均分子量は、例えばGPCで測定することができる。 The weight average molecular weight of the epoxy resin is not particularly limited, but is preferably 1.0 × 10 2 or more and 2.0 × 10 4 or less. When the weight average molecular weight is less than the lower limit value, tackiness may occur on the surface of the insulating resin layer, and when the upper limit value is exceeded, solder heat resistance may decrease. By setting the weight average molecular weight within the above range, it is possible to achieve an excellent balance of these characteristics. In addition, the weight average molecular weight of the said epoxy resin can be measured by GPC, for example.

前記エポキシ樹脂としては、特に限定されないが、実質的にハロゲン原子を含まないものが好ましい。ここで、「実質的にハロゲン原子を含まない」とは、例えばエポキシ樹脂の合成過程において使用されたハロゲン系成分に由来するハロゲンが、ハロゲン除去工程を経てもなお、エポキシ樹脂に残存していることを許容することを意味する。エポキシ樹脂を例に取れば、通常、エポキシ樹脂中に30ppmを超えるハロゲン原子を含まないことが好ましい。   Although it does not specifically limit as said epoxy resin, The thing which does not contain a halogen atom substantially is preferable. Here, “substantially free of halogen atoms” means that, for example, halogen derived from a halogen-based component used in the epoxy resin synthesis process remains in the epoxy resin even after the halogen removal step. It means to allow. Taking an epoxy resin as an example, it is usually preferable that the epoxy resin does not contain a halogen atom exceeding 30 ppm.

また、前記樹脂組成物は、特に限定されないが、シアネート樹脂を使用することも可能である。またエポキシ樹脂の使用に加えてさらにシアネート樹脂を含むことがより好ましい。これにより、難燃性をより向上することができる。前記シアネート樹脂は、特に限定されないが、例えば、ハロゲン化シアン化合物とフェノール類とを反応させ、必要に応じて加熱等の方法でプレポリマー化することにより得ることができる。また、このようにして調製された市販品を用いることもできる。   Moreover, although the said resin composition is not specifically limited, Cyanate resin can also be used. Moreover, it is more preferable that cyanate resin is further included in addition to the use of epoxy resin. Thereby, a flame retardance can be improved more. Although the said cyanate resin is not specifically limited, For example, it can obtain by making a halogenated cyanide compound and phenols react, and prepolymerizing by methods, such as a heating, as needed. Moreover, the commercial item prepared in this way can also be used.

前記シアネート樹脂の種類としては特に限定されないが、例えば、ノボラック型シアネート樹脂、ビスフェノールA型シアネート樹脂、ビスフェノールE型シアネート樹脂、テトラメチルビスフェノールF型シアネート樹脂等のビスフェノール型シアネート樹脂などを挙げることができる。   Although it does not specifically limit as a kind of said cyanate resin, For example, bisphenol-type cyanate resin, such as a novolak-type cyanate resin, bisphenol A-type cyanate resin, bisphenol E-type cyanate resin, tetramethylbisphenol F-type cyanate resin, etc. can be mentioned. .

前記シアネート樹脂は、分子内に2個以上のシアネート基(−O−CN)を有することが好ましい。例えば、2,2’−ビス(4−シアナトフェニル)イソプロピリデン、1,1’−ビス(4−シアナトフェニル)エタン、ビス(4−シアナト−3,5−ジメチルフ
ェニル)メタン、1,3−ビス(4−シアナトフェニル−1−(1−メチルエチリデン))ベンゼン、ジシクロペンタジエン型シアネートエステル、フェノールノボラック型シアネートエステル、ビス(4−シアナトフェニル)チオエーテル、ビス(4−シアナトフェニ
ル)エーテル、1,1,1−トリス(4−シアナトフェニル)エタン、トリス(4−シアナトフェニル)ホスファイト、ビス(4−シアナトフェニル)スルホン、2,2−ビス(4−シアナトフェニル)プロパン、1,3−、1,4−、1,6−、1,8−、2,6−又は2
,7−ジシアナトナフタレン、1,3,6−トリシアナトナフタレン、4,4’−ジシアナトビフェニル、及びフェノールのノボラック型、クレゾールノボラック型の多価フェノール類とハロゲン化シアンとの反応で得られるシアネート樹脂等が挙げられる。これらの中で、フェノールノボラック型シアネート樹脂が難燃性、及び低熱膨張性に優れ、2,2’−ビス(4−シアナトフェニル)イソプロピリデン、及びジシクロペンタジエン型シアネートエステルが架橋密度の制御、及び耐湿信頼性に優れている。特に、フェノールノボラック型シアネート樹脂が低熱膨張性の点から好ましい。また、更に他のシアネート樹脂を1種類あるいは2種類以上併用したりすることもでき、特に限定されない。
The cyanate resin preferably has two or more cyanate groups (—O—CN) in the molecule. For example, 2,2′-bis (4-cyanatophenyl) isopropylidene, 1,1′-bis (4-cyanatophenyl) ethane, bis (4-cyanato-3,5-dimethylphenyl) methane, 3-bis (4-cyanatophenyl-1- (1-methylethylidene)) benzene, dicyclopentadiene type cyanate ester, phenol novolac type cyanate ester, bis (4-cyanatophenyl) thioether, bis (4-cyanato) Phenyl) ether, 1,1,1-tris (4-cyanatophenyl) ethane, tris (4-cyanatophenyl) phosphite, bis (4-cyanatophenyl) sulfone, 2,2-bis (4-si Anatophenyl) propane, 1,3-, 1,4-, 1,6-, 1,8-, 2,6- or 2
, 7-dicyanatonaphthalene, 1,3,6-tricyanatonaphthalene, 4,4′-dicyanatobiphenyl, and phenol novolak-type and cresol novolak-type polyhydric phenols and obtained by reaction with cyanogen halide Examples include cyanate resins. Among these, phenol novolac-type cyanate resin is excellent in flame retardancy and low thermal expansion, and 2,2′-bis (4-cyanatophenyl) isopropylidene and dicyclopentadiene-type cyanate ester control the crosslinking density. And excellent in moisture resistance reliability. In particular, a phenol novolac type cyanate resin is preferred from the viewpoint of low thermal expansion. Furthermore, other cyanate resins may be used alone or in combination of two or more, and are not particularly limited.

前記シアネート樹脂は、単独で用いてもよいし、重量平均分子量の異なるシアネート樹脂を併用したり、前記シアネート樹脂とそのプレポリマーとを併用したりすることもできる。前記プレポリマーは、通常、前記シアネート樹脂を加熱反応などにより、例えば3量化することで得られるものであり、樹脂組成物の成形性、流動性を調整するために好ましく使用されるものである。前記プレポリマーは、特に限定されないが、例えば3量化率が20〜50質量%のプレポリマーを用いた場合、良好な成形性、流動性を発現できる。   The said cyanate resin may be used independently, can also use together cyanate resin from which a weight average molecular weight differs, or can also use together the said cyanate resin and its prepolymer. The prepolymer is usually obtained by, for example, trimerizing the cyanate resin by a heat reaction or the like, and is preferably used for adjusting the moldability and fluidity of the resin composition. Although the prepolymer is not particularly limited, for example, when a prepolymer having a trimerization rate of 20 to 50% by mass is used, good moldability and fluidity can be expressed.

前記シアネート樹脂の含有量は、特に限定されないが、樹脂組成物全体の5〜60質量%であることが好ましい。さらに好ましくは10〜50質量%である。これにより、シアネート樹脂は、効果的に耐熱性、及び難燃性を発現させることができる。シアネート樹脂の含有量が前記下限値未満であると熱膨張性が大きくなり、耐熱性が低下する場合があり、前記上限値を超えると樹脂組成物を用いたプリプレグの強度が低下する場合がある。シアネート樹脂の含有量は、特に好ましくは樹脂組成物の中に10〜40質量%である。   Although content of the said cyanate resin is not specifically limited, It is preferable that it is 5-60 mass% of the whole resin composition. More preferably, it is 10-50 mass%. Thereby, cyanate resin can express heat resistance and a flame retardance effectively. If the content of the cyanate resin is less than the lower limit value, the thermal expansibility increases and the heat resistance may decrease, and if the content exceeds the upper limit value, the strength of the prepreg using the resin composition may decrease. . The content of the cyanate resin is particularly preferably 10 to 40% by mass in the resin composition.

前記樹脂組成物に用いる樹脂としては、特に限定されないが、フェノール樹脂を用いることも可能である。フェノール樹脂単独で使用することも可能であるし、あるいはエポキシ樹脂もしくはエポキシ樹脂とシアネート樹脂の併用樹脂に、硬化剤として併用することも可能である。フェノール系硬化剤としてはフェノールノボラック樹脂、アルキルフェノールノボラック樹脂、ビスフェノールAノボラック樹脂、ジシクロペンタジエン型フェノール樹脂、ザイロック型フェノール樹脂、テルペン変性フェノール樹脂、ポリビニルフェノール類など公知慣用のものを単独あるいは2種以上組み合わせて使用することができる。   Although it does not specifically limit as resin used for the said resin composition, A phenol resin can also be used. The phenol resin can be used alone, or can be used as a curing agent in an epoxy resin or a combination resin of an epoxy resin and a cyanate resin. As the phenolic curing agent, known or commonly used phenolic novolac resins, alkylphenol novolac resins, bisphenol A novolac resins, dicyclopentadiene type phenol resins, zyloc type phenol resins, terpene modified phenol resins, polyvinylphenols, etc. Can be used in combination.

前記フェノール硬化剤の配合量は、特に限定されないが、エポキシ樹脂との当量比(フェノール性水酸基当量/エポキシ基当量)が1.0未満、0.1以上好ましい。これにより、未反応のフェノール硬化剤の残留がなくなり、吸湿耐熱性が向上する。更に、厳しい吸湿耐熱性を必要とする場合は、0.2〜0.5の範囲が特に好ましい。これは、フェノール樹脂は、硬化剤として作用するだけでなく、シアネート基とエポキシ基との硬化を促進することができる。   Although the compounding quantity of the said phenol hardening agent is not specifically limited, The equivalent ratio (phenolic hydroxyl group equivalent / epoxy group equivalent) with an epoxy resin is less than 1.0 and 0.1 or more are preferable. As a result, there remains no unreacted phenol curing agent, and the moisture absorption heat resistance is improved. Furthermore, when severe moisture absorption heat resistance is required, the range of 0.2 to 0.5 is particularly preferable. This is because the phenolic resin not only acts as a curing agent, but can promote curing of cyanate groups and epoxy groups.

前記樹脂組成物は、造影剤とは別に、他の無機充填剤を配合することもできる。これにより、低熱膨張性、耐熱性及びドリル加工性を向上させることができる。無機充填剤としては、例えばシリカ(アモルファスまたは結晶シリカ、あるいは球状または破砕シリカ)、硼酸亜鉛、タルク、アルミナ、水酸化アルミ、水酸化マグネシウム、ベーマイト(ギブサイトを変性して得られるアルミナ一水和物)、チタニア、ジルコニア、窒化珪素、窒化
アルミニウム、窒化硼素等が挙げられる。これらの中でもアモルファスの球状シリカや、水酸化アルミ、ベーマイトが好ましい。またこれらの無機充填剤のうち複数のものを併用して問題ない。これにより、樹脂組成物の低熱膨張係数化と、耐熱性改善、及びドリル加工性の向上を図ることができる。この無機充填剤の平均粒子径は特に限定されないが、0.3〜5μmであることが好ましく、特に0.5〜3μmであることが好ましい。平均粒子径が前記範囲内であると、特に高充填性と流動性に優れる。なお、前記無機充填剤の平均粒子径の測定は、レーザー回折散乱法により測定することができる。具体的には、無機充填剤の平均粒子径はD50で規定される。また、本無機充填剤の含有量は、特に限定されないが、前記樹脂組成全体の20〜85質量%であることが好ましく、特に25〜75質量%であることが好ましい。含有量が前記範囲内であると、特に耐熱性と流動性とのバランスに優れる。
Apart from the contrast agent, the resin composition can also contain other inorganic fillers. Thereby, low thermal expansion property, heat resistance, and drill workability can be improved. Examples of inorganic fillers include silica (amorphous or crystalline silica, or spherical or crushed silica), zinc borate, talc, alumina, aluminum hydroxide, magnesium hydroxide, boehmite (alumina monohydrate obtained by modifying gibbsite) ), Titania, zirconia, silicon nitride, aluminum nitride, boron nitride and the like. Among these, amorphous spherical silica, aluminum hydroxide, and boehmite are preferable. Moreover, there is no problem in using a plurality of these inorganic fillers in combination. Thereby, the low thermal expansion coefficient of the resin composition, the heat resistance improvement, and the drill workability can be improved. The average particle diameter of the inorganic filler is not particularly limited, but is preferably 0.3 to 5 μm, and particularly preferably 0.5 to 3 μm. When the average particle size is within the above range, the high filling property and fluidity are particularly excellent. The average particle diameter of the inorganic filler can be measured by a laser diffraction scattering method. Specifically, the average particle diameter of the inorganic filler is defined by D50. The content of the inorganic filler is not particularly limited, but is preferably 20 to 85% by mass, and particularly preferably 25 to 75% by mass, based on the entire resin composition. When the content is in the above range, the balance between heat resistance and fluidity is particularly excellent.

前記無機充填剤(特にシリカ)は、予め官能基含有シラン類及び/又はアルキルシラザン類で表面処理して用いてもよい。表面処理を予め施すことで、無機充填剤の凝集を抑制することができ、本発明の樹脂組成物中に良好に分散させることができる。前記官能基含有シラン類及び/又はアルキルシラザン類の官能基含有シラン類としては公知のものを使用することができる。例えばエポキシシラン、スチリルシラン、メタクリロキシシラン、アクリロキシシラン、メルカプトシラン、N−ブチルアミノプロピルトリメトキシシラン、N−エチルアミノイソブチルトリメトキシシラン、N−メチルアミノプロピルトリメトキシシラン、N−フェニル−3−アミノプロピルトリメトキシシラン、3−(N−アリルアミノ)プロピルトリメトキシシラン、(シクロヘキシルアミノメチル)トリエトキシシラン、N−シクロヘキシルアミノプロピルトリメトキシシラン、N−エチルアミノイソブチルメトキシルジエトキシシラン、(フェニルアミノメチル)メチルジメトキシシラン、N−フェニルアミノメチルトリエトキシシラン、N−メチルアミノプロピルメチルジメトキシシラン、ビニルシラン、イソシアネートシラン、スルフィドシラン、クロロプロピルシラン、ウレイドシラン化合物等を挙げることができる。前記アルキルシラザン類としては、例えばヘキサメチルジシラザン(HMDS)、1,3−ジビニル−1,1,3,3−テトラメチルジシラザン、オクタメチルトリシラザン、ヘキサメチルシクロトリシラザンなどを挙げることができる。これらの中でもアルキルシラザン類としてはヘキサメチルジシラザン(HMDS)が好ましい。   The inorganic filler (especially silica) may be used after surface treatment with functional group-containing silanes and / or alkylsilazanes in advance. By applying the surface treatment in advance, aggregation of the inorganic filler can be suppressed and the resin composition of the present invention can be favorably dispersed. Known functional group-containing silanes such as the functional group-containing silanes and / or alkylsilazanes can be used. For example, epoxy silane, styryl silane, methacryloxy silane, acryloxy silane, mercapto silane, N-butylaminopropyltrimethoxysilane, N-ethylaminoisobutyltrimethoxysilane, N-methylaminopropyltrimethoxysilane, N-phenyl-3 -Aminopropyltrimethoxysilane, 3- (N-allylamino) propyltrimethoxysilane, (cyclohexylaminomethyl) triethoxysilane, N-cyclohexylaminopropyltrimethoxysilane, N-ethylaminoisobutylmethoxyldiethoxysilane, (phenylamino Methyl) methyldimethoxysilane, N-phenylaminomethyltriethoxysilane, N-methylaminopropylmethyldimethoxysilane, vinyl silane, isocyanate silane Surufidoshiran, chloropropyl silane, can be cited ureido silane compounds. Examples of the alkylsilazanes include hexamethyldisilazane (HMDS), 1,3-divinyl-1,1,3,3-tetramethyldisilazane, octamethyltrisilazane, hexamethylcyclotrisilazane, and the like. it can. Among these, hexamethyldisilazane (HMDS) is preferable as the alkylsilazanes.

前記無機充填剤(特にシリカ)へ予め表面処理する官能基含有シラン類及び/又はアルキルシラザン類の量は、特に限定しないが、前記第3無機充填剤100質量部に対して0.01質量部以上、5質量部以下であることが好ましい。さらに好ましくは0.1質量部以上、3質量部以下が好ましい。カップリング剤の含有量が前記上限値を超えると、多層プリント配線板製造時において絶縁層にクラックが入る場合があり、前記下限値未満であると、樹脂成分と第3無機充填剤との結合力が低下する場合がある。また前記無機充填剤(特にシリカ)を予め官能基含有シラン類及び/又はアルキルシラザン類で表面処理する方法は、特に限定されないが、湿式方式または乾式方式が好ましい。特に好ましくは湿式方式が好ましい。湿式方式の方が、乾式方式と比較した場合、前記第3無機充填剤の表面へ均一に処理することができる。   The amount of the functional group-containing silanes and / or alkylsilazanes to be surface-treated in advance on the inorganic filler (especially silica) is not particularly limited, but is 0.01 parts by mass with respect to 100 parts by mass of the third inorganic filler. The amount is preferably 5 parts by mass or less. More preferably, it is 0.1 to 3 parts by mass. When the content of the coupling agent exceeds the upper limit value, cracks may occur in the insulating layer during the production of the multilayer printed wiring board, and when the content is less than the lower limit value, the resin component and the third inorganic filler are bonded. The power may be reduced. In addition, a method for subjecting the inorganic filler (particularly silica) to surface treatment with a functional group-containing silane and / or alkylsilazane is not particularly limited, but a wet method or a dry method is preferable. The wet method is particularly preferable. When compared with the dry method, the wet method can uniformly treat the surface of the third inorganic filler.

前記樹脂組成物は、必要に応じて、上記成分以外の添加物を、特性を損なわない範囲で添加することができる。上記成分以外の成分は、例えば、イミダゾール類、トリフェニルホスフィン、及び4級ホスホニウム塩等の硬化促進剤、アクリレート類等の界面活性剤、染料、及び顔料等の着色剤等を挙げることが出できる。   If necessary, the resin composition may contain additives other than the above components as long as the characteristics are not impaired. Examples of the components other than the above components include curing accelerators such as imidazoles, triphenylphosphine, and quaternary phosphonium salts, surfactants such as acrylates, colorants such as dyes, and pigments. .

(プリプレグ)
次に、本発明の積層板の製造方法に用いられるプリプレグについて説明する。
本発明の積層板の製造方法に用いられるプリプレグは、上記樹脂組成物を繊維基材に含
浸してなるものである。これにより、耐熱性、低膨張性及び難燃性に優れたプリプレグを得ることができる。前記基材としては、例えばガラス織布、ガラス不繊布、ガラスペーパー等のガラス繊維基材、紙、アラミド、ポリエステル、芳香族ポリエステル、フッ素樹脂等の合成繊維等からなる織布や不織布、金属繊維、カーボン繊維、鉱物繊維等からなる織布、不織布、マット類等が挙げられる。これらの基材は単独又は混合して使用してもよい。これらの中でもガラス繊維基材が好ましい。これにより、プリプレグの剛性、寸法安定性を向上することができる。
(Prepreg)
Next, the prepreg used for the manufacturing method of the laminated board of this invention is demonstrated.
The prepreg used in the method for producing a laminate of the present invention is obtained by impregnating a fiber base material with the above resin composition. Thereby, the prepreg excellent in heat resistance, low expansibility, and a flame retardance can be obtained. Examples of the base material include glass fiber base materials such as glass woven fabric, glass non-woven fabric, and glass paper, woven fabric and non-woven fabric made of synthetic fibers such as paper, aramid, polyester, aromatic polyester, and fluororesin, and metal fibers. Woven fabrics, nonwoven fabrics, mats and the like made of carbon fibers, mineral fibers, and the like. These substrates may be used alone or in combination. Among these, a glass fiber base material is preferable. Thereby, the rigidity and dimensional stability of a prepreg can be improved.

前記樹脂組成物を前記基材に含浸させる方法は、例えば基材を樹脂ワニスに浸漬する方法、各種コーターによる塗布する方法、スプレーによる吹き付ける方法等が挙げられる。これらの中でも、基材を樹脂ワニスに浸漬する方法が好ましい。これにより、基材に対する樹脂組成物の含浸性を向上することができる。なお、基材を樹脂ワニスに浸漬する場合、通常の含浸塗布設備を使用することができる。   Examples of the method of impregnating the base material with the resin composition include a method of immersing the base material in a resin varnish, a method of applying with various coaters, and a method of spraying with a spray. Among these, the method of immersing the base material in the resin varnish is preferable. Thereby, the impregnation property of the resin composition with respect to a base material can be improved. In addition, when a base material is immersed in a resin varnish, a normal impregnation coating equipment can be used.

前記樹脂ワニスに用いられる溶媒は、前記樹脂組成物に対して良好な溶解性を示すことが望ましいが、悪影響を及ぼさない範囲で貧溶媒を使用しても構わない。良好な溶解性を示す溶媒としては、例えばアセトン、メチルエチルケトン、メチルイソブチルケトン、シクロペンタノン、シクロヘキサノン、ジメチルホルムアミド、ジメチルアセトアミド、N−メチルピロリドン等が挙げられる。前記樹脂ワニスの固形分は、特に限定されないが、前記樹脂組成物の固形分30〜80質量%が好ましく、特に40〜70質量%が好ましい。これにより、樹脂ワニスの基材への含浸性を向上できる。前記基材に前記樹脂組成物を含浸させ、所定温度、例えば90〜180℃で乾燥させることによりプリプレグを得ることができる。   The solvent used in the resin varnish desirably has good solubility in the resin composition, but a poor solvent may be used as long as it does not adversely affect the resin varnish. Examples of the solvent exhibiting good solubility include acetone, methyl ethyl ketone, methyl isobutyl ketone, cyclopentanone, cyclohexanone, dimethylformamide, dimethylacetamide, N-methylpyrrolidone and the like. The solid content of the resin varnish is not particularly limited, but the solid content of the resin composition is preferably 30 to 80% by mass, and particularly preferably 40 to 70% by mass. Thereby, the impregnation property to the base material of the resin varnish can be improved. A prepreg can be obtained by impregnating the base material with the resin composition and drying at a predetermined temperature, for example, 90 to 180 ° C.

(積層板)
次に、本発明の積層板について説明する。
本発明の積層板は、上記のプリプレグを少なくとも1枚以上重ね合わせた積層体の少なくとも片面に金属箔を有するものである。これにより、耐熱性、低膨張性及び難燃性に優れた積層板を得ることができる。プリプレグ1枚のときは、その上下両面もしくは片面に金属箔を重ねる。また、プリプレグを2枚以上積層することもできる。プリプレグ2枚以上積層するときは、積層したプリプレグの最も外側の上下両面もしくは片面に金属箔あるいはフィルムを重ねる。次に、プリプレグと金属箔とを重ねたものを加熱加圧成形することで積層板を得ることができる。
(Laminated board)
Next, the laminated board of this invention is demonstrated.
The laminate of the present invention has a metal foil on at least one side of a laminate obtained by superposing at least one prepreg. Thereby, the laminated board excellent in heat resistance, low expansibility, and a flame retardance can be obtained. When one prepreg is used, the metal foil is overlapped on both the upper and lower surfaces or one surface. Two or more prepregs can be laminated. When two or more prepregs are laminated, a metal foil or film is laminated on the outermost upper and lower surfaces or one surface of the laminated prepreg. Next, a laminate can be obtained by heat-pressing a laminate of a prepreg and a metal foil.

前記加熱する温度は、特に限定されないが、120〜220℃が好ましく、特に150〜200℃が好ましい。前記加圧する圧力は、特に限定されないが、1.5〜5MPaが好ましく、特に2〜4MPaが好ましい。 また、必要に応じて高温漕等で150〜30
0℃の温度で後硬化を行ってもかまわない。
Although the temperature to heat is not specifically limited, 120-220 degreeC is preferable and especially 150-200 degreeC is preferable. Although the pressure to pressurize is not particularly limited, it is preferably 1.5 to 5 MPa, and particularly preferably 2 to 4 MPa. Moreover, it is 150-30 with high temperature soot as needed.
Post-curing may be performed at a temperature of 0 ° C.

(多層プリント配線板)
次に、本発明の多層プリント配線板について説明する。
本発明の多層プリント配線板は、上記に記載のプリプレグを絶縁層に用いてなる。また、本発明の多層プリント配線板は、上記に記載の積層板を内層回路基板に用いてなるものとすることができる。
(Multilayer printed wiring board)
Next, the multilayer printed wiring board of the present invention will be described.
The multilayer printed wiring board of the present invention uses the prepreg described above as an insulating layer. Moreover, the multilayer printed wiring board of this invention can use the laminated board as described above for an inner-layer circuit board.

以下に、前記積層板を内層回路基板として用いる場合について説明する。前記内層回路基板となる積層板の片面又は両面に回路形成する。場合によっては、ドリル加工、レーザー加工によりスルーホールを形成し、めっき等で両面の電気的接続をとることもできる。この内層回路基板に市販の樹脂シート、または前記本発明のプリプレグを重ね合わせて加熱加圧成形し、多層プリント配線板を得ることができる。   Below, the case where the said laminated board is used as an inner-layer circuit board is demonstrated. A circuit is formed on one side or both sides of the laminated board to be the inner circuit board. In some cases, through holes can be formed by drilling or laser processing, and electrical connection on both sides can be achieved by plating or the like. A commercially available resin sheet or the prepreg of the present invention is superimposed on the inner layer circuit board and heat-press molded to obtain a multilayer printed wiring board.

具体的には、上記樹脂シートの絶縁層側と内層回路板とを合わせて、真空加圧式ラミネーター装置などを用いて真空加熱加圧成形させ、その後、熱風乾燥装置等で絶縁層を加熱硬化させることにより得ることができる。ここで加熱加圧成形する条件としては、特に限定されないが、一例を挙げると、温度60〜160℃、圧力0.2〜3MPaで実施することができる。また、加熱硬化させる条件としては特に限定されないが、一例を挙げると、温度140〜240℃、時間30〜120分間で実施することができる。   Specifically, the insulating layer side of the resin sheet and the inner layer circuit board are combined, vacuum-pressed using a pressure-pressing laminator, etc., and then the insulating layer is heat-cured with a hot-air dryer or the like. Can be obtained. Although it does not specifically limit as conditions to heat-press form here, If an example is given, it can implement at the temperature of 60-160 degreeC, and the pressure of 0.2-3 MPa. Moreover, it is although it does not specifically limit as conditions to heat-harden, If an example is given, it can implement in temperature 140-240 degreeC and time 30-120 minutes.

また、前記プリプレグを前記内層回路板に重ね合わせ、これを平板プレス装置等で加熱加圧成形することにより得ることができる。ここで加熱加圧成形する条件としては特に限定されないが、一例を挙げると、温度140〜240℃、圧力1〜4MPaで実施することができる。このような平板プレス装置等による加熱加圧成形では、加熱加圧成形と同時に絶縁層の加熱硬化が行われる。   Further, the prepreg can be obtained by superimposing the prepreg on the inner circuit board and heating and pressing it with a flat plate press or the like. Although it does not specifically limit as conditions to heat-press form here, For example, it can implement at the temperature of 140-240 degreeC, and the pressure of 1-4 MPa. In the heat and pressure forming by such a flat plate press apparatus or the like, the insulating layer is heat-cured simultaneously with the heat and pressure forming.

前記多層プリント配線板の製造方法は、前記樹脂シートまたはプリプレグを、内層回路基板の内層回路パターンが形成された面に重ね合わせて連続積層する工程及び導体回路層をセミアディティブ法で形成する工程を含む。   The method of manufacturing the multilayer printed wiring board includes a step of continuously laminating the resin sheet or prepreg on the surface of the inner layer circuit board on which the inner layer circuit pattern is formed and a step of forming a conductor circuit layer by a semi-additive method. Including.

前記樹脂シートまたは前記プリプレグより形成された絶縁層の硬化は、次のレーザー照射及び樹脂残渣の除去を容易にし、デスミア性を向上させるため、半硬化状態にしておく場合もある。また、一層目の絶縁層を通常の加熱温度より低い温度で加熱することにより一部硬化(半硬化)させ、絶縁層上に、一層ないし複数の絶縁層をさらに形成し半硬化の絶縁層を実用上問題ない程度に再度加熱硬化させることにより絶縁層間及び絶縁層と回路との密着力を向上させることができる。この場合の半硬化の温度は、80℃〜200℃が好ましく、100℃〜180℃がより好ましい。なお、次工程においてレーザーを照射し、絶縁層に開口部を形成するが、その前に基材を剥離する必要がある。基材の剥離は、絶縁層を形成後、加熱硬化の前、または加熱硬化後のいずれに行っても特に問題はない。   Curing of the insulating layer formed from the resin sheet or the prepreg may be left in a semi-cured state in order to facilitate the subsequent laser irradiation and removal of the resin residue and improve desmearability. In addition, the first insulating layer is partially cured (semi-cured) by heating at a temperature lower than the normal heating temperature, and one or more insulating layers are further formed on the insulating layer to form a semi-cured insulating layer. The adhesiveness between the insulating layer and the insulating layer and the circuit can be improved by heating and curing again to such an extent that there is no practical problem. The semi-curing temperature in this case is preferably 80 ° C to 200 ° C, more preferably 100 ° C to 180 ° C. In the next step, laser is irradiated to form an opening in the insulating layer, but it is necessary to peel off the substrate before that. There is no particular problem with the peeling of the base material either after the insulating layer is formed, before heat curing, or after heat curing.

なお、前記多層プリント配線板を得る際に用いられる内層回路板は、例えば、銅張積層板の両面に、エッチング等により所定の導体回路を形成し、導体回路部分を黒化処理したものを好適に用いることができる。   The inner layer circuit board used when obtaining the multilayer printed wiring board is preferably, for example, that a predetermined conductor circuit is formed by etching or the like on both surfaces of a copper clad laminate and the conductor circuit portion is blackened. Can be used.

次に、絶縁層に、レーザーを照射して、開孔部を形成する。前記レーザーは、エキシマレーザー、UVレーザー及び炭酸ガスレーザー等が使用できる。   Next, the insulating layer is irradiated with laser to form an opening. As the laser, an excimer laser, a UV laser, a carbon dioxide gas laser, or the like can be used.

レーザー照射後の樹脂残渣等は過マンガン酸塩、重クロム酸塩等の酸化剤などにより除去することが好ましい。また、平滑な絶縁層の表面を同時に粗化することができ、続く金属メッキにより形成する導電配線回路の密着性を上げることができる。   Resin residues after laser irradiation are preferably removed with an oxidizing agent such as permanganate or dichromate. Further, the surface of the smooth insulating layer can be simultaneously roughened, and the adhesion of the conductive wiring circuit formed by subsequent metal plating can be improved.

次に、外層回路を形成する。外層回路の形成方法は、金属メッキにより絶縁樹脂層間の接続を図り、エッチングにより外層回路パターン形成を行う。樹脂シート、またはプリプレグを用いたときと同様にして、多層プリント配線板を得ることができる。   Next, an outer layer circuit is formed. The outer layer circuit is formed by connecting the insulating resin layers by metal plating and forming an outer layer circuit pattern by etching. A multilayer printed wiring board can be obtained in the same manner as when a resin sheet or prepreg is used.

なお、金属箔を有する樹脂シート、またはプリプレグを用いた場合は、金属箔を剥離することなく、導体回路として用いるためにエッチングにより回路形成を行ってもよい。その場合、厚い銅箔を使用した基材付き絶縁樹脂シートを使うと、その後の回路パターン形成においてファインピッチ化が困難になるため、1〜5μmの極薄銅箔を使うか、または12〜18μmの銅箔をエッチングにより1〜5μmに薄くするハーフエッチングする場合もある。   When a resin sheet having a metal foil or a prepreg is used, the circuit may be formed by etching for use as a conductor circuit without peeling off the metal foil. In that case, if an insulating resin sheet with a base material using a thick copper foil is used, it becomes difficult to make a fine pitch in subsequent circuit pattern formation, so use an ultrathin copper foil of 1 to 5 μm, or 12 to 18 μm. In some cases, the copper foil is half-etched to a thickness of 1 to 5 μm by etching.

さらに絶縁層を積層し、前記同様回路形成を行っても良いが、多層プリント配線板の設計上、最外層には、回路形成後、ソルダーレジストを形成する。ソルダーレジストの形成方法は、特に限定されないが、例えば、ドライフィルムタイプのソルダーレジストを積層(ラミネート)し、露光、及び現像により形成する方法、または液状レジストを印刷したものを露光、及び現像により形成する方法によりなされる。なお、得られた多層プリント配線板を半導体装置に用いる場合、半導体素子を実装するため接続用電極部を設ける。接続用電極部は、金めっき、ニッケルメッキ及び半田めっき等の金属皮膜で適宜被覆することができる。このような方法により多層プリント配線板を製造することができる。   Further, an insulating layer may be stacked and a circuit may be formed in the same manner as described above. However, in the design of the multilayer printed wiring board, a solder resist is formed on the outermost layer after the circuit is formed. The method of forming the solder resist is not particularly limited. For example, a method of laminating (laminating) a dry film type solder resist, forming by exposure and development, or forming a printed liquid resist by exposure and development It is done by the method to do. In addition, when using the obtained multilayer printed wiring board for a semiconductor device, the electrode part for a connection is provided in order to mount a semiconductor element. The connection electrode portion can be appropriately coated with a metal film such as gold plating, nickel plating, or solder plating. A multilayer printed wiring board can be manufactured by such a method.

(半導体装置)
次に、本発明の半導体装置について説明する。前記で得られた多層プリント配線板に半田バンプを有する半導体素子を実装し、半田バンプを介して、前記多層プリント配線板との接続を図る。そして、多層プリント配線板と半導体素子との間には液状封止樹脂を充填し、半導体装置を形成する。半田バンプは、錫、鉛、銀、銅、ビスマスなどからなる合金で構成されることが好ましい。
(Semiconductor device)
Next, the semiconductor device of the present invention will be described. A semiconductor element having solder bumps is mounted on the multilayer printed wiring board obtained as described above, and connection with the multilayer printed wiring board is attempted through the solder bumps. A liquid sealing resin is filled between the multilayer printed wiring board and the semiconductor element to form a semiconductor device. The solder bump is preferably made of an alloy made of tin, lead, silver, copper, bismuth or the like.

半導体素子と多層プリント配線板との接続方法は、フリップチップボンダーなどを用いて基板上の接続用電極部と半導体素子の半田バンプとの位置合わせを行ったあと、IRリフロー装置、熱板、その他加熱装置を用いて半田バンプを融点以上に加熱し、多層プリント配線板と半田バンプとを溶融接合することにより接続する。なお、接続信頼性を良くするため、予め多層プリント配線板上の接続用電極部に半田ペースト等、比較的融点の低い金属の層を形成しておいても良い。この接合工程に先んじて、半田バンプ及び、または多層プリント配線板上の接続用電極部の表層にフラックスを塗布することで接続信頼性を向上させることもできる。   The connection method between the semiconductor element and the multilayer printed wiring board is to align the connection electrode part on the substrate with the solder bump of the semiconductor element using a flip chip bonder, etc. The solder bumps are heated to the melting point or higher by using a heating device, and the multilayer printed wiring board and the solder bumps are connected by fusion bonding. In order to improve connection reliability, a metal layer having a relatively low melting point such as solder paste may be formed in advance on the connection electrode portion on the multilayer printed wiring board. Prior to this bonding step, the connection reliability can be improved by applying a flux to the solder bumps and / or the surface layer of the connection electrode portion on the multilayer printed wiring board.

以下、本発明を実施例及び比較例に基づいて詳細に説明するが、本発明はこれに限定されるものではない。   EXAMPLES Hereinafter, although this invention is demonstrated in detail based on an Example and a comparative example, this invention is not limited to this.

(実施例1)
(1)樹脂ワニスの調製
エポキシ樹脂としてノボラック型エポキシ樹脂(EOCN−1020−75、日本化薬社製、エポキシ当量200)17.5質量部と、無機充填剤としてベーマイト(河合石灰社製、品番BMT−3L、平均粒子径2.9μm、1%熱分解温度420℃)61.9質量部、及び球状ナノシリカ(品番NSS−5N、トクヤマ社製、平均粒子径70nm)3.0質量部と、硬化剤としてフェノール樹脂(MEH7851−4L、明和化成社製、水酸基当量187)17.5質量部と、硬化促進剤としてイミダゾール(四国化成工業社製、品番2E4MZ)0.1質量部とを、メチルイソブチルケトンに溶解・混合させた。次いで、高速撹拌装置を用い撹拌して樹脂ワニスを調製した。
Example 1
(1) Preparation of resin varnish Novolak type epoxy resin (EOCN-1020-75, manufactured by Nippon Kayaku Co., Ltd., epoxy equivalent 200) as epoxy resin, 17.5 parts by mass, boehmite (manufactured by Kawai Lime Co., product number) as inorganic filler BMT-3L, 61.9 parts by mass of an average particle size of 2.9 μm, 1% thermal decomposition temperature of 420 ° C., and 3.0 parts by mass of spherical nano silica (product number NSS-5N, manufactured by Tokuyama, average particle size of 70 nm) 17.5 parts by mass of a phenol resin (MEH7851-4L, manufactured by Meiwa Kasei Co., Ltd., hydroxyl equivalent 187) as a curing agent, and 0.1 parts by mass of imidazole (manufactured by Shikoku Kasei Kogyo Co., Ltd., product number 2E4MZ) as a curing accelerator, Dissolved and mixed in isobutyl ketone. Subsequently, it stirred using the high-speed stirring apparatus and prepared the resin varnish.

(2)プリプレグの作製
前記樹脂ワニスをガラス織布(厚さ94μm、日東紡績製Eガラス織布、WEA−2116)に含浸し、150℃の加熱炉で2分間乾燥して、プリプレグ中のワニス固形分が約50質量%のプリプレグを得た。
(2) Preparation of prepreg The resin varnish was impregnated into a glass woven fabric (thickness 94 μm, Nittobo E glass woven fabric, WEA-2116), dried in a heating furnace at 150 ° C. for 2 minutes, and varnish in the prepreg A prepreg having a solid content of about 50% by mass was obtained.

(3)積層板の作製
前記プリプレグを2枚重ね、両面に12μmの銅箔(三井金属鉱業社製3EC−VLP箔)を重ねて、圧力3MPa、温度220℃で2時間加熱加圧成形し、厚さ0.21mmの両面に銅箔を有する積層板を得た。
(3) Preparation of laminated board Two sheets of the prepreg are stacked, 12 μm copper foil (3EC-VLP foil manufactured by Mitsui Mining & Smelting Co., Ltd.) is stacked on both sides, and pressure-molded at a pressure of 3 MPa and a temperature of 220 ° C. for 2 hours. A laminate having a copper foil on both sides with a thickness of 0.21 mm was obtained.

(4)X線カメラによる検査
前記積層板をX線カメラによって評価した。浜松ホトニクス製130kVタイプ密封型のX線源のL9181−02を用い、同じくラインセンサとしてC10650を用いた。実験用のX線カメラ装置としては図2に示すものを用いた。計測した積層板のサイズは25cm×25cmであり、その4枚分の計測を行った。計測倍率は6倍とした。積層板を搬送するラインスピードは0.5m/分とした。計測後PCで二値化して気泡の検出を行った。画面上で気泡と思われる箇所を抽出し、その位置を画面上で正確に計測した後で、積層板においてその位置に該当する個所を正確マーキングし、その後にその部分を切断し排除した。気泡を有している部分を切断排除することで、気泡がない積層板を得た。
(4) Inspection by X-ray camera The laminate was evaluated by an X-ray camera. A 130 kV sealed X-ray source L9181-02 manufactured by Hamamatsu Photonics was used, and C10650 was also used as the line sensor. The experimental X-ray camera apparatus shown in FIG. 2 was used. The size of the measured laminate was 25 cm × 25 cm, and the measurement for four sheets was performed. The measurement magnification was 6 times. The line speed for conveying the laminate was 0.5 m / min. After measurement, it was binarized with a PC to detect bubbles. After extracting the part which seems to be a bubble on the screen and measuring the position accurately on the screen, the part corresponding to the position on the laminated plate was accurately marked, and then the part was cut and eliminated. By cutting and excluding the part having air bubbles, a laminate without air bubbles was obtained.

(5)破壊試験による気泡検査
前記積層板において銅箔をエッチング処理して完全に除去し、光学顕微鏡観察によって30μm以上の気泡数の場所と数をカウントした。
(5) Bubble inspection by destructive test The copper foil in the laminate was completely removed by etching, and the number and the number of bubbles of 30 μm or more were counted by optical microscope observation.

(実施例2)
(1)樹脂ワニスの調製
エポキシ樹脂としてノボラック型エポキシ樹脂(EOCN−1020−75、日本化薬社製、エポキシ当量200)17.5質量部と、無機充填剤としてベーマイト(河合石灰社製、品番BMT−3L、平均粒子径2.9μm、1%熱分解温度420℃)54.9質量部、及び硫酸バリウムナノ粒子(品番BF−1H、堺化学製、平均粒子径100nm)10.0質量部と、硬化剤としてフェノール樹脂(MEH7851−4L、明和化成社製、水酸基当量187)17.5質量部と、硬化促進剤としてイミダゾール(四国化成工業社製、品番2E4MZ)0.1質量部とを、メチルイソブチルケトンに溶解・混合させた。次いで、高速撹拌装置を用い撹拌して樹脂ワニスを調製した。
(2)以降のプリプレグの作製、積層板の作製、X線カメラによる検査、破壊試験による気泡検査、に関しては実施例1と同様の操作を行った。なおX線カメラによる気泡検出は、樹脂ワニスに造影剤の硫酸バリウム粒子を配合することにより、各段に検出しやすくなり、より細かいボイドの検出まで可能となった。
(Example 2)
(1) Preparation of resin varnish Novolak type epoxy resin (EOCN-1020-75, manufactured by Nippon Kayaku Co., Ltd., epoxy equivalent 200) as epoxy resin, 17.5 parts by mass, boehmite (manufactured by Kawai Lime Co., product number) as inorganic filler BMT-3L, average particle size 2.9 μm, 1% pyrolysis temperature 420 ° C. 54.9 parts by mass, and barium sulfate nanoparticles (product number BF-1H, manufactured by Sakai Chemical, average particle size 100 nm) 10.0 parts by mass And 17.5 parts by mass of a phenol resin (MEH7851-4L, manufactured by Meiwa Kasei Co., Ltd., hydroxyl equivalent 187) as a curing agent, and 0.1 parts by mass of imidazole (manufactured by Shikoku Kasei Kogyo Co., Ltd., product number 2E4MZ) as a curing accelerator. And dissolved in methyl isobutyl ketone. Subsequently, it stirred using the high-speed stirring apparatus and prepared the resin varnish.
(2) The same operations as in Example 1 were performed with respect to the subsequent prepreg production, laminate production, X-ray camera inspection, and bubble inspection by destructive test. In addition, the bubble detection by an X-ray camera became easy to detect at each step | level by mix | blending the barium sulfate particle | grains of a contrast agent with the resin varnish, and it became possible to detect a finer void.

(実施例3)
(1)樹脂ワニスの調製
エポキシ樹脂としてノボラック型エポキシ樹脂(EOCN−1020−75、日本化薬社製、エポキシ当量200)17.5質量部と、無機充填剤としてベーマイト(河合石灰社製、品番BMT−3L、平均粒子径2.9μm、1%熱分解温度420℃)54.9質量部、及び硫酸バリウム粒子(品番W−1、竹原化学工業株式会社製、平均粒子径1.5μm)10.0質量部と、硬化剤としてフェノール樹脂(MEH7851−4L、明和化成社製、水酸基当量187)17.5質量部と、硬化促進剤としてイミダゾール(四国化成工業社製、品番2E4MZ)0.1質量部とを、メチルイソブチルケトンに溶解・混合させた。次いで、高速撹拌装置を用い撹拌して樹脂ワニスを調製した。
(2)以降のプリプレグの作製、積層板の作製、X線カメラによる検査、破壊試験による気泡検査、に関しては実施例1と同様の操作を行った。
(Example 3)
(1) Preparation of resin varnish Novolak type epoxy resin (EOCN-1020-75, manufactured by Nippon Kayaku Co., Ltd., epoxy equivalent 200) as epoxy resin, 17.5 parts by mass, boehmite (manufactured by Kawai Lime Co., product number) as inorganic filler BMT-3L, average particle size 2.9 μm, 1% thermal decomposition temperature 420 ° C. 54.9 parts by mass, and barium sulfate particles (product number W-1, Takehara Chemical Industries, average particle size 1.5 μm) 10 1.0 part by mass, 17.5 parts by mass of a phenol resin (MEH7851-4L, manufactured by Meiwa Kasei Co., Ltd., hydroxyl equivalent 187) as a curing agent, and imidazole (manufactured by Shikoku Kasei Kogyo Co., Ltd., product number 2E4MZ) 0.1 as a curing accelerator Part by mass was dissolved and mixed in methyl isobutyl ketone. Subsequently, it stirred using the high-speed stirring apparatus and prepared the resin varnish.
(2) The same operations as in Example 1 were performed with respect to the subsequent prepreg production, laminate production, X-ray camera inspection, and bubble inspection by destructive test.

(実施例4)
(1)樹脂ワニスの調製
エポキシ樹脂としてノボラック型エポキシ樹脂(EOCN−1020−75、日本化薬社製、エポキシ当量200)17.5質量部と、無機充填剤としてベーマイト(河合石灰社製、品番BMT−3L、平均粒子径2.9μm、1%熱分解温度420℃)34.9質量部、及び硫酸バリウム粒子(品番W−1、竹原化学工業株式会社製、平均粒子径1.5μm)30.0質量部と、硬化剤としてフェノール樹脂(MEH7851−4L、明和化成社製、水酸基当量187)17.5質量部と、硬化促進剤としてイミダゾール(四国化
成工業社製、品番2E4MZ)0.1質量部とを、メチルイソブチルケトンに溶解・混合させた。次いで、高速撹拌装置を用い撹拌して樹脂ワニスを調製した。
(2)以降のプリプレグの作製、積層板の作製、X線カメラによる検査、破壊試験による気泡検査、に関しては実施例1と同様の操作を行った。
Example 4
(1) Preparation of resin varnish Novolak type epoxy resin (EOCN-1020-75, manufactured by Nippon Kayaku Co., Ltd., epoxy equivalent 200) as epoxy resin, 17.5 parts by mass, boehmite (manufactured by Kawai Lime Co., product number) as inorganic filler 34.9 parts by mass of BMT-3L, average particle size 2.9 μm, 1% thermal decomposition temperature 420 ° C.) and barium sulfate particles (Part No. W-1, Takehara Chemical Industries, average particle size 1.5 μm) 30 1.0 part by mass, 17.5 parts by mass of a phenol resin (MEH7851-4L, manufactured by Meiwa Kasei Co., Ltd., hydroxyl equivalent 187) as a curing agent, and imidazole (manufactured by Shikoku Kasei Kogyo Co., Ltd., product number 2E4MZ) 0.1 as a curing accelerator Part by mass was dissolved and mixed in methyl isobutyl ketone. Subsequently, it stirred using the high-speed stirring apparatus and prepared the resin varnish.
(2) The same operations as in Example 1 were performed with respect to the subsequent prepreg production, laminate production, X-ray camera inspection, and bubble inspection by destructive test.

(実施例5)
(1)樹脂ワニスの調製
エポキシ樹脂としてノボラック型エポキシ樹脂(EOCN−1020−75、日本化薬社製、エポキシ当量200)17.5質量部と、無機充填剤兼造影剤として硫酸バリウム粒子(品番W−1、竹原化学工業株式会社製、平均粒子径1.5μm)64.9質量部と、硬化剤としてフェノール樹脂(MEH7851−4L、明和化成社製、水酸基当量187)17.5質量部と、硬化促進剤としてイミダゾール(四国化成工業社製、品番2E4MZ)0.1質量部とを、メチルイソブチルケトンに溶解・混合させた。次いで、高速撹拌装置を用い撹拌して樹脂ワニスを調製した。
(2)以降のプリプレグの作製、積層板の作製、X線カメラによる検査、破壊試験による気泡検査、に関しては実施例1と同様の操作を行った。
(Example 5)
(1) Preparation of resin varnish 17.5 parts by mass of a novolak type epoxy resin (EOCN-1020-75, Nippon Kayaku Co., Ltd., epoxy equivalent 200) as an epoxy resin, and barium sulfate particles (product number) as an inorganic filler and contrast agent W-1, Takehara Chemical Industry Co., Ltd., average particle diameter 1.5 μm) 64.9 parts by mass, and 17.5 parts by mass of a phenolic resin (MEH7851-4L, Meiwa Kasei Co., Ltd., hydroxyl equivalent 187) as a curing agent Then, 0.1 part by mass of imidazole (manufactured by Shikoku Kasei Kogyo Co., Ltd., product number 2E4MZ) as a curing accelerator was dissolved and mixed in methyl isobutyl ketone. Subsequently, it stirred using the high-speed stirring apparatus and prepared the resin varnish.
(2) The same operations as in Example 1 were performed with respect to the subsequent prepreg production, laminate production, X-ray camera inspection, and bubble inspection by destructive test.

(比較例1)
樹脂ワニスの調整、プリプレグの作製、積層板の作製、までは実施例1と同様に操作した。その後、X線カメラによる検査を省き、破壊試験による気泡検査を行った。
(Comparative Example 1)
The same operations as in Example 1 were performed until adjustment of the resin varnish, preparation of the prepreg, and preparation of the laminated plate. Thereafter, the inspection by the X-ray camera was omitted, and the bubble inspection by the destructive test was performed.

(比較例2)
樹脂ワニスの調整、プリプレグの作製、積層板の作製、までは実施例2と同様に操作した。その後、X線カメラによる検査を省き、破壊試験による気泡検査を行った。
(Comparative Example 2)
The same operations as in Example 2 were performed until adjustment of the resin varnish, preparation of the prepreg, and preparation of the laminated plate. Thereafter, the inspection by the X-ray camera was omitted, and the bubble inspection by the destructive test was performed.

以上の評価結果を表1に示す。X線カメラの利用により積層板中の気泡数は減り、特に造影剤の硫酸バリウムを配合した積層板に関しては5μm以上の気泡数も減り、品質の良い積層板を供給できる可能性があることが分かった。またこの積層板を利用したプリント配線板や半導体装置においても品質が向上すると思われる。   The above evaluation results are shown in Table 1. Use of an X-ray camera reduces the number of bubbles in the laminate, and in particular for laminates containing barium sulfate as a contrast agent, the number of bubbles of 5 μm or more may be reduced, possibly providing a good quality laminate. I understood. In addition, it is considered that the quality of printed wiring boards and semiconductor devices using this laminated board is improved.

本発明の製造方法を利用することで、積層板中に含まれる気泡(空隙)を減らした積層板、プリント配線板、多層プリント配線板、及び半導体装置を供給することができ、配線の切断などのおそれの少ない性能や品質の安定した電子材料を供給することを可能とするものである。   By using the manufacturing method of the present invention, it is possible to supply a laminated board, a printed wiring board, a multilayer printed wiring board, and a semiconductor device in which bubbles (voids) contained in the laminated board are reduced. It is possible to supply an electronic material with stable performance and quality.

1 X線源
2 X線センサ
3 サンプル(プリント配線板又は積層板)
4 搬送装置
5 画像処理装置
6 制御装置
7 不良個所マーキング装置
8 X線
1 X-ray source 2 X-ray sensor 3 Sample (printed wiring board or laminated board)
4 Conveying device 5 Image processing device 6 Control device 7 Defect location marking device 8 X-ray

Claims (16)

樹脂組成物を繊維基材に含浸してプリプレグを作製したのち、前記プリプレグを少なくとも1枚以上重ね合わせた積層体の少なくとも片面に金属箔を積層して積層板を得る積層板の製造方法であって、
X線カメラを用いた観察により所定寸法以上の気泡が含まれていないことを確認し、前記所定寸法以上の気泡の存在が確認された場合は、これを不良品とする工程を含むことを特徴とする積層板の製造方法。
A method for producing a laminated board in which a fiber base material is impregnated with a resin composition to prepare a prepreg, and then a metal foil is laminated on at least one surface of a laminated body in which at least one prepreg is laminated. And
It is confirmed by observation using an X-ray camera that bubbles larger than a predetermined size are not included, and when the presence of bubbles larger than the predetermined size is confirmed, this includes a step of making this a defective product A method for producing a laminated board.
前記所定寸法以上の気泡が30μm以上の気泡であることを特徴とする請求項1に記載の積層板の製造方法。   The method for producing a laminated board according to claim 1, wherein the bubbles having a predetermined dimension or more are bubbles having a size of 30 µm or more. 前記樹脂組成物が、樹脂と、X線用の造影剤を含むことを特徴とする請求項1又は2に記載の積層板の製造方法。   The said resin composition contains resin and the contrast agent for X-rays, The manufacturing method of the laminated board of Claim 1 or 2 characterized by the above-mentioned. 前記X線用の造影剤が硫酸バリウム粒子を含むことを特徴とする請求項3に記載の積層板の製造方法。   The method for producing a laminated board according to claim 3, wherein the X-ray contrast medium contains barium sulfate particles. 前記硫酸バリウムの平均粒子径が3μm以下であることを特徴とする請求項4に記載の積層板の製造方法。   The average particle diameter of the said barium sulfate is 3 micrometers or less, The manufacturing method of the laminated board of Claim 4 characterized by the above-mentioned. 前記X線用の造影剤の含有量は、前記樹脂組成物全体の0.5質量%以上、70質量%以下であることを特徴とする請求項3ないし5のいずれか1項に記載の積層板の製造方法。   The laminate according to any one of claims 3 to 5, wherein a content of the contrast agent for X-ray is 0.5% by mass or more and 70% by mass or less of the entire resin composition. A manufacturing method of a board. 前記樹脂がエポキシ樹脂を含むことを特徴とする請求項3ないし6のいずれか1項に記載の積層板の製造方法。   The said resin contains an epoxy resin, The manufacturing method of the laminated board of any one of Claim 3 thru | or 6 characterized by the above-mentioned. 前記樹脂がさらにシアネート樹脂を含むことを特徴とする請求項3ないし7のいずれか1項に記載の積層板の製造方法。   The method for producing a laminated board according to any one of claims 3 to 7, wherein the resin further contains a cyanate resin. 前記樹脂がさらにフェノール樹脂を含むことを特徴とする請求項3ないし8のいずれか1項に記載の積層板の製造方法。   The method for producing a laminated board according to any one of claims 3 to 8, wherein the resin further contains a phenol resin. 前記樹脂組成物が、さらに無機充填剤を含むことを特徴とする請求項1ないし9のいずれか1項に記載の積層板の製造方法。   The method for producing a laminated board according to any one of claims 1 to 9, wherein the resin composition further contains an inorganic filler. 前記無機充填剤の平均粒子径が、0.3μm以上、5μm以下であることを特徴とする請求項10に記載の積層板の製造方法。   The average particle diameter of the said inorganic filler is 0.3 micrometer or more and 5 micrometers or less, The manufacturing method of the laminated board of Claim 10 characterized by the above-mentioned. 前記無機充填剤の含有量が、前記樹脂組成物全体の20質量%以上、85質量%以下であることを特徴とする請求項10又は11に記載の積層板の製造方法。   The method for producing a laminated board according to claim 10 or 11, wherein the content of the inorganic filler is 20% by mass or more and 85% by mass or less of the entire resin composition. 請求項1ないし12のいずれか1項に記載の積層板の製造方法を用いて製造されたことを特徴とする積層板。   A laminate produced by using the laminate production method according to any one of claims 1 to 12. 請求項13に記載の積層板を用いてなることを特徴とする多層又は単層のプリント配線板。   A multilayer or single-layer printed wiring board comprising the laminated board according to claim 13. 請求項14に記載のプリント配線板に半導体素子を搭載してなることを特徴とする半導
体装置。
A semiconductor device comprising a semiconductor element mounted on the printed wiring board according to claim 14.
樹脂組成物を繊維基材に含浸してプリプレグを作製したのち、前記プリプレグを少なくとも1枚以上重ね合わせた積層体の少なくとも片面に金属箔を積層して積層板を得る際に、X線カメラを用いた観察により所定寸法以上の気泡が含まれていないことを確認し、前記所定寸法以上の気泡の存在が確認された場合は、これを不良品とする積層板の製造に用いられる、樹脂と、X線用の造影剤を含むことを特徴とする樹脂組成物。
When a prepreg is produced by impregnating a fiber base material with a resin composition, an X-ray camera is used to obtain a laminate by laminating metal foil on at least one side of a laminate in which at least one prepreg is laminated. It is confirmed by the observation used that bubbles of a predetermined size or more are not included, and when the presence of bubbles of the predetermined size or more is confirmed, a resin used for manufacturing a laminate having this as a defective product and A resin composition comprising an X-ray contrast medium.
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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2014178269A1 (en) * 2013-04-30 2014-11-06 日東電工株式会社 Sealing sheet attachment method
JP2015227809A (en) * 2014-05-30 2015-12-17 住友ベークライト株式会社 Inspection method of inspected object
JP2019112612A (en) * 2017-12-22 2019-07-11 中興化成工業株式会社 Resin molding
JP2021096087A (en) * 2019-12-13 2021-06-24 株式会社島津製作所 Contrast agent for nondestructive inspection and nondestructive inspection method

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2014178269A1 (en) * 2013-04-30 2014-11-06 日東電工株式会社 Sealing sheet attachment method
JP2015227809A (en) * 2014-05-30 2015-12-17 住友ベークライト株式会社 Inspection method of inspected object
JP2019112612A (en) * 2017-12-22 2019-07-11 中興化成工業株式会社 Resin molding
JP7242032B2 (en) 2017-12-22 2023-03-20 中興化成工業株式会社 Resin molded products for food production lines
JP2021096087A (en) * 2019-12-13 2021-06-24 株式会社島津製作所 Contrast agent for nondestructive inspection and nondestructive inspection method

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