JP2017177469A - Resin sheet - Google Patents
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Abstract
Description
本発明は、樹脂シートに関する。さらには、当該樹脂シートの樹脂組成物層の硬化物を含む、プリント配線板、及び半導体装置、に関する。 The present invention relates to a resin sheet. Furthermore, it is related with the printed wiring board containing the hardened | cured material of the resin composition layer of the said resin sheet, and a semiconductor device.
近年、電子機器の小型化を達成すべく、プリント配線板の更なる薄型化が進められており、内層基板や絶縁層の厚さは、さらに薄くなる傾向にある。内層基板や絶縁層の厚さを薄くするものとして、例えば、特許文献1に記載の薄型フィルム用樹脂組成物が知られている。 In recent years, in order to achieve miniaturization of electronic devices, the printed wiring board has been further reduced in thickness, and the thickness of the inner layer substrate and the insulating layer tends to be further reduced. As a material for reducing the thickness of an inner layer substrate or an insulating layer, for example, a thin film resin composition described in Patent Document 1 is known.
特許文献1において、本発明者らは、薄膜フィルムを絶縁層に適用した際に、粗度が大きくなり、剥離強度が低下する傾向があることを見出しており、これらの課題を解決するために熱可塑性樹脂の配合量を所定量とすることを提案している。しかしながら、該文献においては、絶縁層の厚みを薄くした場合の絶縁性能(以下、「薄膜絶縁性」ともいう)についてはなんら検討されていない。 In Patent Document 1, the present inventors have found that when a thin film is applied to an insulating layer, the roughness tends to increase and the peel strength tends to decrease, and in order to solve these problems It has been proposed that the blending amount of the thermoplastic resin is a predetermined amount. However, in this document, no consideration is given to the insulation performance (hereinafter also referred to as “thin film insulation”) when the thickness of the insulating layer is reduced.
絶縁層が薄膜である場合には、無機充填材粒子同士が接触して界面を伝って電流が流れやすくなったり、絶縁層の厚みが薄いことにより静電容量が大きくなりショートしやすくなってしまうなど、従来のものよりも絶縁性能を維持することが難しくなってしまう。 When the insulating layer is a thin film, the inorganic filler particles come into contact with each other and the current easily flows through the interface, or the capacitance of the insulating layer is increased and the short circuit is likely to occur. For example, it becomes difficult to maintain the insulation performance as compared with the conventional one.
本発明の課題は、絶縁性能に優れた薄い絶縁層を付与可能な樹脂シートを提供することにある。 The subject of this invention is providing the resin sheet which can provide the thin insulating layer excellent in the insulation performance.
上記課題を解決すべく鋭意検討した結果、本発明者らは、支持体と、該支持体上に接合した樹脂組成物層と、を含む樹脂シートにおいて、樹脂組成物層の硬化物が特定の誘電正接を満たすことにより、厚みが薄いにもかかわらず絶縁性能に優れた(薄膜絶縁性に優れた)絶縁層を付与することが可能であることを見出した。詳しくは、本発明者らは、常温環境下の樹脂組成物層の硬化物の誘電正接を低くするだけでなく、高温環境下の樹脂組成物層の硬化物の誘電正接も低くすることにより、薄膜絶縁性に優れた絶縁層を付与することが可能であることを見出し、本発明を完成するに至った。 As a result of intensive studies to solve the above problems, the present inventors have found that the cured product of the resin composition layer is specific in a resin sheet comprising a support and a resin composition layer bonded on the support. It has been found that by satisfying the dielectric loss tangent, it is possible to provide an insulating layer having excellent insulating performance (excellent in thin film insulating properties) despite its thin thickness. Specifically, the present inventors not only lower the dielectric loss tangent of the cured product of the resin composition layer under a normal temperature environment, but also lower the dielectric loss tangent of the cured product of the resin composition layer under a high temperature environment, The inventors have found that it is possible to provide an insulating layer excellent in thin film insulation, and have completed the present invention.
すなわち、本発明は以下の内容を含む。
[1] 支持体と、該支持体上に接合した樹脂組成物層と、を含む樹脂シートであって、該樹脂組成物層の硬化物の、測定周波数10GHz、23℃における誘電正接が0.006以下であり、該樹脂組成物層の硬化物の測定周波数10GHz、150℃における誘電正接が0.01以下である、樹脂シート。
[2] 樹脂組成物層の厚みが15μm以下である、[1]に記載の樹脂シート。
[3] 樹脂組成物層の最低溶融粘度が1000poise以上である、[1]または[2]に記載の樹脂シート。
[4] 樹脂組成物層がエポキシ樹脂および硬化剤を含有する、[1]〜[3]のいずれかに記載の樹脂シート。
[5] 樹脂組成物層が無機充填材を含有し、樹脂組成物層中の不揮発成分を100質量%とした場合に、該無機充填材の含有量が50質量%以上である、[1]〜[4]のいずれかに記載の樹脂シート。
[6] プリント配線板の絶縁層形成用である、[1]〜[5]のいずれかに記載の樹脂シート。
[7] 1GHz以上の高周波基板の絶縁層形成用である、[1]〜[5]のいずれかに記載の樹脂シート。
[8] 第1の導体層と、第2の導体層と、第1の導体層と第2の導体層との間に形成された6μm以下の絶縁層と、を含むプリント配線板の、該絶縁層形成用である、[1]〜[7]のいずれかに記載の樹脂シート。
[9] 第1の導体層、第2の導体層、及び、第1の導体層と第2の導体層との間に形成された6μm以下の絶縁層を含む、プリント配線板であって、該絶縁層は、[1]〜[8]のいずれかに記載の樹脂シートの樹脂組成物層の硬化物である、プリント配線板。
[10] [9]に記載のプリント配線板を含む、半導体装置。
That is, the present invention includes the following contents.
[1] A resin sheet comprising a support and a resin composition layer bonded on the support, wherein the dielectric loss tangent of the cured product of the resin composition layer at a measurement frequency of 10 GHz and 23 ° C. is 0.00. The resin sheet which is 006 or less and whose dielectric loss tangent in the measurement frequency of 10 GHz and 150 degreeC of the hardened | cured material of this resin composition layer is 0.01 or less.
[2] The resin sheet according to [1], wherein the resin composition layer has a thickness of 15 μm or less.
[3] The resin sheet according to [1] or [2], wherein the resin composition layer has a minimum melt viscosity of 1000 poise or more.
[4] The resin sheet according to any one of [1] to [3], wherein the resin composition layer contains an epoxy resin and a curing agent.
[5] When the resin composition layer contains an inorganic filler and the nonvolatile component in the resin composition layer is 100% by mass, the content of the inorganic filler is 50% by mass or more. [1] -The resin sheet in any one of [4].
[6] The resin sheet according to any one of [1] to [5], which is for forming an insulating layer of a printed wiring board.
[7] The resin sheet according to any one of [1] to [5], which is used for forming an insulating layer of a high-frequency substrate of 1 GHz or higher.
[8] A printed wiring board including a first conductor layer, a second conductor layer, and an insulating layer of 6 μm or less formed between the first conductor layer and the second conductor layer, The resin sheet according to any one of [1] to [7], which is used for forming an insulating layer.
[9] A printed wiring board including a first conductor layer, a second conductor layer, and an insulating layer of 6 μm or less formed between the first conductor layer and the second conductor layer, The insulating layer is a printed wiring board which is a cured product of the resin composition layer of the resin sheet according to any one of [1] to [8].
[10] A semiconductor device including the printed wiring board according to [9].
本発明によれば、絶縁性能に優れた薄い絶縁層を付与可能な樹脂シートを提供することができる。 ADVANTAGE OF THE INVENTION According to this invention, the resin sheet which can provide the thin insulating layer excellent in insulation performance can be provided.
以下、本発明の樹脂シート、当該樹脂シートの樹脂組成物層の硬化物を備えた、プリント配線板、及び半導体装置について詳細に説明する。 Hereinafter, a printed wiring board and a semiconductor device provided with the resin sheet of the present invention, and a cured product of the resin composition layer of the resin sheet will be described in detail.
本発明の樹脂シートは、支持体と、該支持体上に接合した樹脂組成物層と、を含む。本発明においては、該樹脂組成物層の硬化物の測定周波数10GHz、23℃における誘電正接が0.006以下であり、かつ、該樹脂組成物層の硬化物の測定周波数10GHz、150℃における誘電正接が0.01以下であることを特徴とする。 The resin sheet of this invention contains a support body and the resin composition layer joined on this support body. In the present invention, the dielectric loss tangent of the cured product of the resin composition layer at a measurement frequency of 10 GHz and 23 ° C. is 0.006 or less, and the dielectric constant of the cured product of the resin composition layer at a measurement frequency of 10 GHz and 150 ° C. The tangent is 0.01 or less.
樹脂組成物層は樹脂組成物により形成される。まず、樹脂組成物層を形成する樹脂組成物について説明する。 The resin composition layer is formed of a resin composition. First, the resin composition which forms a resin composition layer is demonstrated.
[樹脂組成物]
樹脂組成物は、特に限定されず、樹脂組成物により形成された樹脂組成物層の硬化物が上述の誘電正接を満たすものであればよい。所定の誘電正接を満たす硬化物を付与する樹脂組成物としては、例えば、硬化性樹脂とその硬化剤を含む組成物が挙げられる。硬化性樹脂としては、プリント配線板の絶縁層を形成する際に使用される従来公知の硬化性樹脂を用いることができ、なかでもエポキシ樹脂が好ましい。したがって一実施形態において、樹脂組成物は、(A)エポキシ樹脂及び(B)硬化剤を含有する。樹脂組成物は、(C)無機充填材を含有しているのが好ましい。樹脂組成物は、さらに、必要に応じて、熱可塑性樹脂、硬化促進剤、難燃剤及びゴム粒子等の添加剤を含んでいてもよい。
[Resin composition]
The resin composition is not particularly limited as long as the cured product of the resin composition layer formed of the resin composition satisfies the above-described dielectric loss tangent. As a resin composition which provides the hardened | cured material which satisfy | fills a predetermined dielectric loss tangent, the composition containing curable resin and its hardening | curing agent is mentioned, for example. As curable resin, the conventionally well-known curable resin used when forming the insulating layer of a printed wiring board can be used, and an epoxy resin is especially preferable. Therefore, in one embodiment, the resin composition contains (A) an epoxy resin and (B) a curing agent. The resin composition preferably contains (C) an inorganic filler. The resin composition may further contain additives such as a thermoplastic resin, a curing accelerator, a flame retardant, and rubber particles as necessary.
以下、樹脂組成物の材料として使用し得る(A)エポキシ樹脂、(B)硬化剤、(C)無機充填材及び添加剤について説明する。 Hereinafter, (A) epoxy resin, (B) curing agent, (C) inorganic filler and additive that can be used as the material of the resin composition will be described.
<(A)エポキシ樹脂>
(A)エポキシ樹脂としては、例えば、ビスフェノールA型エポキシ樹脂、ビスフェノールF型エポキシ樹脂、ビスフェノールS型エポキシ樹脂、ビスフェノールAF型エポキシ樹脂、ジシクロペンタジエン型エポキシ樹脂、トリスフェノール型エポキシ樹脂、ナフトールノボラック型エポキシ樹脂、フェノールノボラック型エポキシ樹脂、tert−ブチル−カテコール型エポキシ樹脂、ナフタレン型エポキシ樹脂、ナフトール型エポキシ樹脂、アントラセン型エポキシ樹脂、グリシジルアミン型エポキシ樹脂、グリシジルエステル型エポキシ樹脂、クレゾールノボラック型エポキシ樹脂、ビフェニル型エポキシ樹脂、線状脂肪族エポキシ樹脂、ブタジエン構造を有するエポキシ樹脂、脂環式エポキシ樹脂、複素環式エポキシ樹脂、スピロ環含有エポキシ樹脂、シクロヘキサンジメタノール型エポキシ樹脂、ナフチレンエーテル型エポキシ樹脂、トリメチロール型エポキシ樹脂、テトラフェニルエタン型エポキシ樹脂等が挙げられる。エポキシ樹脂は1種単独で用いてもよく、2種以上を組み合わせて用いてもよい。(A)成分は、ビスフェノールA型エポキシ樹脂、ビスフェノールF型エポキシ樹脂、及びビフェニル型エポキシ樹脂から選択される1種以上であることが好ましい。
<(A) Epoxy resin>
(A) As an epoxy resin, for example, bisphenol A type epoxy resin, bisphenol F type epoxy resin, bisphenol S type epoxy resin, bisphenol AF type epoxy resin, dicyclopentadiene type epoxy resin, trisphenol type epoxy resin, naphthol novolak type Epoxy resin, phenol novolac type epoxy resin, tert-butyl-catechol type epoxy resin, naphthalene type epoxy resin, naphthol type epoxy resin, anthracene type epoxy resin, glycidyl amine type epoxy resin, glycidyl ester type epoxy resin, cresol novolac type epoxy resin , Biphenyl type epoxy resin, linear aliphatic epoxy resin, epoxy resin having butadiene structure, alicyclic epoxy resin, heterocyclic epoxy resin, spiro Containing epoxy resins, cyclohexanedimethanol type epoxy resins, naphthylene ether type epoxy resin, trimethylol type epoxy resin, tetraphenyl ethane epoxy resin and the like. An epoxy resin may be used individually by 1 type, and may be used in combination of 2 or more type. The component (A) is preferably at least one selected from bisphenol A type epoxy resins, bisphenol F type epoxy resins, and biphenyl type epoxy resins.
エポキシ樹脂は、1分子中に2個以上のエポキシ基を有するエポキシ樹脂を含むことが好ましい。エポキシ樹脂の不揮発成分を100質量%とした場合に、少なくとも50質量%以上は1分子中に2個以上のエポキシ基を有するエポキシ樹脂であるのが好ましい。中でも、1分子中に2個以上のエポキシ基を有し、温度20℃で液状のエポキシ樹脂(以下「液状エポキシ樹脂」という。)と、1分子中に3個以上のエポキシ基を有し、温度20℃で固体状のエポキシ樹脂(以下「固体状エポキシ樹脂」という。)とを含むことが好ましい。エポキシ樹脂として、液状エポキシ樹脂と固体状エポキシ樹脂とを併用することで、優れた可撓性を有し、樹脂組成物層の硬化物の破断強度も向上する。特に固体状エポキシ樹脂は耐熱性が高く、樹脂組成物層の硬化物の誘電正接を高温下でも低くしやすくする。 The epoxy resin preferably contains an epoxy resin having two or more epoxy groups in one molecule. When the nonvolatile component of the epoxy resin is 100% by mass, at least 50% by mass or more is preferably an epoxy resin having two or more epoxy groups in one molecule. Among them, it has two or more epoxy groups in one molecule, and has a liquid epoxy resin (hereinafter referred to as “liquid epoxy resin”) at a temperature of 20 ° C. and three or more epoxy groups in one molecule, It is preferable to contain a solid epoxy resin (hereinafter referred to as “solid epoxy resin”) at a temperature of 20 ° C. By using a liquid epoxy resin and a solid epoxy resin in combination as the epoxy resin, the epoxy resin has excellent flexibility, and the breaking strength of the cured product of the resin composition layer is also improved. In particular, the solid epoxy resin has high heat resistance, and makes it easy to lower the dielectric loss tangent of the cured product of the resin composition layer even at high temperatures.
液状エポキシ樹脂としては、ビスフェノールA型エポキシ樹脂、ビスフェノールF型エポキシ樹脂、ビスフェノールAF型エポキシ樹脂、ナフタレン型エポキシ樹脂、グリシジルエステル型エポキシ樹脂、グリシジルアミン型エポキシ樹脂、フェノールノボラック型エポキシ樹脂、エステル骨格を有する脂環式エポキシ樹脂、シクロヘキサンジメタノール型エポキシ樹脂、グリシジルアミン型エポキシ樹脂、及びブタジエン構造を有するエポキシ樹脂が好ましく、グリシジルアミン型エポキシ樹脂、ビスフェノールA型エポキシ樹脂、ビスフェノールF型エポキシ樹脂、ビスフェノールAF型エポキシ樹脂及びナフタレン型エポキシ樹脂がより好ましい。液状エポキシ樹脂の具体例としては、DIC(株)製の「HP4032」、「HP4032D」、「HP4032SS」(ナフタレン型エポキシ樹脂)、三菱化学(株)製の「828US」、「jER828EL」(ビスフェノールA型エポキシ樹脂)、「jER807」(ビスフェノールF型エポキシ樹脂)、「jER152」(フェノールノボラック型エポキシ樹脂)、「YL7760」(ビスフェノールAF型エポキシ樹脂)、「630」、「630LSD」(グリシジルアミン型エポキシ樹脂)、新日鉄住金化学(株)製の「ZX1059」(ビスフェノールA型エポキシ樹脂とビスフェノールF型エポキシ樹脂の混合品)、新日鉄住金化学(株)製「YD−8125G」(ビスフェノールA型エポキシ樹脂)ナガセケムテックス(株)製の「EX−721」(グリシジルエステル型エポキシ樹脂)、(株)ダイセル製の「セロキサイド2021P」(エステル骨格を有する脂環式エポキシ樹脂)、「PB−3600」(ブタジエン構造を有するエポキシ樹脂)、新日鐵化学(株)製の「ZX1658」、「ZX1658GS」(液状1,4−グリシジルシクロヘキサン)、三菱化学(株)製の「630LSD」(グリシジルアミン型エポキシ樹脂)等が挙げられる。これらは1種単独で用いてもよく、2種以上を組み合わせて用いてもよい。 Liquid epoxy resins include bisphenol A type epoxy resins, bisphenol F type epoxy resins, bisphenol AF type epoxy resins, naphthalene type epoxy resins, glycidyl ester type epoxy resins, glycidyl amine type epoxy resins, phenol novolac type epoxy resins, and ester skeletons. Preferred are cycloaliphatic epoxy resins, cyclohexanedimethanol type epoxy resins, glycidylamine type epoxy resins, and epoxy resins having a butadiene structure. Glycidylamine type epoxy resins, bisphenol A type epoxy resins, bisphenol F type epoxy resins, bisphenol AF Type epoxy resin and naphthalene type epoxy resin are more preferable. Specific examples of the liquid epoxy resin include “HP4032”, “HP4032D”, “HP4032SS” (naphthalene type epoxy resin) manufactured by DIC Corporation, “828US”, “jER828EL” (bisphenol A) manufactured by Mitsubishi Chemical Corporation. Type epoxy resin), "jER807" (bisphenol F type epoxy resin), "jER152" (phenol novolac type epoxy resin), "YL7760" (bisphenol AF type epoxy resin), "630", "630LSD" (glycidylamine type epoxy) Resin), "ZX1059" (mixed product of bisphenol A type epoxy resin and bisphenol F type epoxy resin) manufactured by Nippon Steel & Sumikin Chemical Co., Ltd., "YD-8125G" (bisphenol A type epoxy resin) manufactured by Nippon Steel & Sumikin Chemical Co., Ltd. Nagase ChemteX ( "EX-721" (glycidyl ester type epoxy resin) manufactured by Daicel Corporation, "Celoxide 2021P" (alicyclic epoxy resin having an ester skeleton), "PB-3600" (epoxy resin having a butadiene structure) ), “ZX1658”, “ZX1658GS” (liquid 1,4-glycidylcyclohexane) manufactured by Nippon Steel Chemical Co., Ltd., “630LSD” (glycidylamine type epoxy resin) manufactured by Mitsubishi Chemical Corporation, and the like. These may be used alone or in combination of two or more.
固体状エポキシ樹脂としては、ナフタレン型4官能エポキシ樹脂、クレゾールノボラック型エポキシ樹脂、ジシクロペンタジエン型エポキシ樹脂、トリスフェノール型エポキシ樹脂、ナフトール型エポキシ樹脂、ビフェニル型エポキシ樹脂、ナフチレンエーテル型エポキシ樹脂、アントラセン型エポキシ樹脂、ビスフェノールA型エポキシ樹脂、テトラフェニルエタン型エポキシ樹脂が好ましく、ナフタレン型4官能エポキシ樹脂、ナフトール型エポキシ樹脂、及びビフェニル型エポキシ樹脂がより好ましい。固体状エポキシ樹脂の具体例としては、DIC(株)製の「HP4032H」(ナフタレン型エポキシ樹脂)、「HP−4700」、「HP−4710」(ナフタレン型4官能エポキシ樹脂)、「N−690」(クレゾールノボラック型エポキシ樹脂)、「N−695」(クレゾールノボラック型エポキシ樹脂)、「HP−7200」、「HP−7200HH」、「HP−7200H」(ジシクロペンタジエン型エポキシ樹脂)、「EXA−7311」、「EXA−7311−G3」、「EXA−7311−G4」、「EXA−7311−G4S」、「HP6000」(ナフチレンエーテル型エポキシ樹脂)、日本化薬(株)製の「EPPN−502H」(トリスフェノール型エポキシ樹脂)、「NC7000L」(ナフトールノボラック型エポキシ樹脂)、「NC3000H」、「NC3000」、「NC3000L」、「NC3100」(ビフェニル型エポキシ樹脂)、新日鉄住金化学(株)製の「ESN475V」(ナフタレン型エポキシ樹脂)、「ESN485」(ナフトールノボラック型エポキシ樹脂)、三菱化学(株)製の「YX4000H」、「YL6121」(ビフェニル型エポキシ樹脂)、「YX4000HK」(ビキシレノール型エポキシ樹脂)、「YX8800」(アントラセン型エポキシ樹脂)、大阪ガスケミカル(株)製の「PG−100」、「CG−500」、三菱化学(株)製の「YL7800」(フルオレン型エポキシ樹脂)、三菱化学(株)製の「jER1010」(固体状ビスフェノールA型エポキシ樹脂)、「jER1031S」(テトラフェニルエタン型エポキシ樹脂)等が挙げられる。 Solid epoxy resins include naphthalene type tetrafunctional epoxy resin, cresol novolac type epoxy resin, dicyclopentadiene type epoxy resin, trisphenol type epoxy resin, naphthol type epoxy resin, biphenyl type epoxy resin, naphthylene ether type epoxy resin, Anthracene type epoxy resin, bisphenol A type epoxy resin, and tetraphenylethane type epoxy resin are preferable, and naphthalene type tetrafunctional epoxy resin, naphthol type epoxy resin, and biphenyl type epoxy resin are more preferable. Specific examples of the solid epoxy resin include “HP4032H” (naphthalene type epoxy resin), “HP-4700”, “HP-4710” (naphthalene type tetrafunctional epoxy resin), “N-690” manufactured by DIC Corporation. "(Cresol novolac type epoxy resin)", "N-695" (Cresol novolac type epoxy resin), "HP-7200", "HP-7200HH", "HP-7200H" (Dicyclopentadiene type epoxy resin), "EXA" -7311 "," EXA-7311-G3 "," EXA-7311-G4 "," EXA-7311-G4S "," HP6000 "(naphthylene ether type epoxy resin)," EPPN "manufactured by Nippon Kayaku Co., Ltd. -502H "(trisphenol type epoxy resin)," NC7000L "(naphthol novolak type) Poxy resin), “NC3000H”, “NC3000”, “NC3000L”, “NC3100” (biphenyl type epoxy resin), “ESN475V” (naphthalene type epoxy resin) manufactured by Nippon Steel & Sumikin Chemical Co., Ltd., “ESN485” (naphthol novolak) Type epoxy resin), "YX4000H", "YL6121" (biphenyl type epoxy resin), "YX4000HK" (bixylenol type epoxy resin), "YX8800" (anthracene type epoxy resin), manufactured by Mitsubishi Chemical Corporation, Osaka Gas Chemical “PG-100”, “CG-500” manufactured by Mitsubishi Chemical Corporation, “YL7800” (fluorene type epoxy resin) manufactured by Mitsubishi Chemical Corporation, “jER1010” manufactured by Mitsubishi Chemical Corporation (solid bisphenol A type) Epoxy resin), "jER1031S" (Tetra Eniruetan epoxy resin) and the like.
樹脂組成物層の硬化物の誘電正接を高温下でも低くすることができるという観点から、エポキシ樹脂としては、純度の高い樹脂(例えば塩素イオン等のイオン性不純物が少ない樹脂等)が好ましい。純度の高いエポキシ樹脂としては、例えば、三菱化学(株)製の「828US」、「YL980」、「1750」、「YL983U」、新日鉄住金化学(株)製「YD−8125G」、「YD−825GS」、「ZX−1658GS」、「YDF−8170G」等が挙げられる。 From the viewpoint that the dielectric loss tangent of the cured product of the resin composition layer can be lowered even at high temperatures, the epoxy resin is preferably a high-purity resin (for example, a resin having a small amount of ionic impurities such as chlorine ions). Examples of high-purity epoxy resins include “828US”, “YL980”, “1750”, “YL983U” manufactured by Mitsubishi Chemical Corporation, “YD-8125G”, “YD-825GS” manufactured by Nippon Steel & Sumikin Chemical Co., Ltd. ”,“ ZX-1658GS ”,“ YDF-8170G ”, and the like.
液状エポキシ樹脂としては1分子中に2個以上のエポキシ基を有し、温度20℃で液状の芳香族系エポキシ樹脂が好ましく、固体状エポキシ樹脂としては1分子中に3個以上のエポキシ基を有し、温度20℃で固体状の芳香族系エポキシ樹脂が好ましい。なお、本発明でいう芳香族系エポキシ樹脂とは、その分子内に芳香環構造を有するエポキシ樹脂を意味する。 The liquid epoxy resin is preferably an aromatic epoxy resin having two or more epoxy groups in one molecule and a liquid at a temperature of 20 ° C. The solid epoxy resin has three or more epoxy groups in one molecule. And an aromatic epoxy resin that is solid at a temperature of 20 ° C. is preferable. In addition, the aromatic epoxy resin as used in the field of this invention means the epoxy resin which has an aromatic ring structure in the molecule | numerator.
エポキシ樹脂として、液状エポキシ樹脂と固体状エポキシ樹脂とを併用する場合、それらの量比(液状エポキシ樹脂:固体状エポキシ樹脂)は、質量比で、1:0.5〜1:15の範囲が好ましい。液状エポキシ樹脂と固体状エポキシ樹脂との量比を斯かる範囲とすることにより、i)樹脂シートの形態で使用する場合に適度な粘着性がもたらされる、ii)樹脂シートの形態で使用する場合に十分な可撓性が得られ、取り扱い性が向上する、並びにiii)十分な破断強度を有する樹脂組成物層の硬化物を得ることができる等の効果が得られる。上記i)〜iii)の効果の観点から、液状エポキシ樹脂と固体状エポキシ樹脂の量比(液状エポキシ樹脂:固体状エポキシ樹脂)は、質量比で、1:1.0〜1:12の範囲がより好ましく、1:1.3〜1:10の範囲がさらに好ましい。 When the liquid epoxy resin and the solid epoxy resin are used in combination as the epoxy resin, the quantitative ratio thereof (liquid epoxy resin: solid epoxy resin) is in the range of 1: 0.5 to 1:15 by mass ratio. preferable. By making the quantity ratio of the liquid epoxy resin and the solid epoxy resin within such a range, i) suitable adhesiveness is obtained when used in the form of a resin sheet, ii) when used in the form of a resin sheet Sufficient flexibility is obtained, handling properties are improved, and iii) a cured product of the resin composition layer having sufficient breaking strength can be obtained. From the viewpoint of the effects i) to iii) above, the mass ratio of the liquid epoxy resin to the solid epoxy resin (liquid epoxy resin: solid epoxy resin) is in the range of 1: 1.0 to 1:12. Is more preferable, and the range of 1: 1.3 to 1:10 is even more preferable.
樹脂組成物中のエポキシ樹脂の含有量は、誘電正接が低く、絶縁信頼性を示す絶縁層を得る観点から、好ましくは5質量%以上、より好ましくは9質量%以上、さらに好ましくは11質量%以上である。エポキシ樹脂の含有量の上限は、本発明の効果が奏される限りにおいて特に限定されないが、好ましくは50質量%以下、より好ましくは40質量%以下である。 The content of the epoxy resin in the resin composition is preferably 5% by mass or more, more preferably 9% by mass or more, and still more preferably 11% by mass from the viewpoint of obtaining an insulating layer having a low dielectric loss tangent and insulation reliability. That's it. Although the upper limit of content of an epoxy resin is not specifically limited as long as the effect of this invention is show | played, Preferably it is 50 mass% or less, More preferably, it is 40 mass% or less.
なお、本発明において、樹脂組成物中の各成分の含有量は、別途明示のない限り、樹脂組成物中の不揮発成分を100質量%としたときの値である。 In addition, in this invention, content of each component in a resin composition is a value when the non-volatile component in a resin composition is 100 mass% unless there is separate description.
エポキシ樹脂のエポキシ当量は、好ましくは50〜5000、より好ましくは50〜3000、さらに好ましくは80〜2000、さらにより好ましくは110〜1000である。この範囲となることで、樹脂組成物層の硬化物の架橋密度が十分となり表面粗さの小さい絶縁層をもたらすことができる。なお、エポキシ当量は、JIS K7236に従って測定することができ、1当量のエポキシ基を含む樹脂の質量である。 The epoxy equivalent of the epoxy resin is preferably 50 to 5000, more preferably 50 to 3000, still more preferably 80 to 2000, and even more preferably 110 to 1000. By being in this range, the crosslinked density of the cured product of the resin composition layer is sufficient, and an insulating layer having a small surface roughness can be provided. The epoxy equivalent can be measured according to JIS K7236, and is the mass of a resin containing 1 equivalent of an epoxy group.
エポキシ樹脂の重量平均分子量は、好ましくは100〜5000、より好ましくは250〜3000、さらに好ましくは400〜1500である。ここで、エポキシ樹脂の重量平均分子量は、ゲルパーミエーションクロマトグラフィー(GPC)法により測定されるポリスチレン換算の重量平均分子量である。 The weight average molecular weight of an epoxy resin becomes like this. Preferably it is 100-5000, More preferably, it is 250-3000, More preferably, it is 400-1500. Here, the weight average molecular weight of the epoxy resin is a weight average molecular weight in terms of polystyrene measured by a gel permeation chromatography (GPC) method.
<(B)硬化剤>
硬化剤としては、エポキシ樹脂を硬化する機能を有するものであれば、特に限定されず、例えば、フェノール系硬化剤、ナフトール系硬化剤、活性エステル系硬化剤、ベンゾオキサジン系硬化剤、シアネートエステル系硬化剤、及びカルボジイミド系硬化剤などが挙げられる。硬化剤は1種単独で用いてもよく、又は2種以上を併用してもよい。
<(B) Curing agent>
The curing agent is not particularly limited as long as it has a function of curing an epoxy resin. For example, a phenolic curing agent, a naphthol curing agent, an active ester curing agent, a benzoxazine curing agent, a cyanate ester Examples thereof include a curing agent and a carbodiimide curing agent. A hardening | curing agent may be used individually by 1 type, or may use 2 or more types together.
フェノール系硬化剤及びナフトール系硬化剤としては、耐熱性及び耐水性の観点から、ノボラック構造を有するフェノール系硬化剤、又はノボラック構造を有するナフトール系硬化剤が好ましい。また、導体層との密着性の観点から、含窒素フェノール系硬化剤が好ましく、トリアジン骨格含有フェノール系硬化剤がより好ましい。中でも、耐熱性、耐水性、及び導体層との密着性を高度に満足させる観点から、トリアジン骨格含有フェノールノボラック硬化剤が好ましい。 As the phenol-based curing agent and the naphthol-based curing agent, a phenol-based curing agent having a novolak structure or a naphthol-based curing agent having a novolak structure is preferable from the viewpoint of heat resistance and water resistance. Moreover, from a viewpoint of adhesiveness with a conductor layer, a nitrogen-containing phenol type hardening | curing agent is preferable and a triazine frame | skeleton containing phenol type hardening | curing agent is more preferable. Among these, a triazine skeleton-containing phenol novolac curing agent is preferable from the viewpoint of highly satisfying heat resistance, water resistance, and adhesion to the conductor layer.
フェノール系硬化剤及びナフトール系硬化剤の具体例としては、例えば、明和化成(株)製の「MEH−7700」、「MEH−7810」、「MEH−7851」、日本化薬(株)製の「NHN」、「CBN」、「GPH」、新日鉄住金(株)製の「SN170」、「SN180」、「SN190」、「SN475」、「SN485」、「SN495」、「SN−495V」「SN375」、「SN395」、DIC(株)製の「TD−2090」、「LA−7052」、「LA−7054」、「LA−1356」、「LA−3018−50P」、「EXB−9500」等が挙げられる。 Specific examples of the phenol-based curing agent and the naphthol-based curing agent include, for example, “MEH-7700”, “MEH-7810”, “MEH-7785” manufactured by Meiwa Kasei Co., Ltd., and Nippon Kayaku Co., Ltd. “NHN”, “CBN”, “GPH”, “SN170”, “SN180”, “SN190”, “SN475”, “SN485”, “SN495”, “SN-495V”, “SN375” manufactured by Nippon Steel & Sumikin Co., Ltd. ”,“ SN395 ”,“ TD-2090 ”,“ LA-7052 ”,“ LA-7054 ”,“ LA-1356 ”,“ LA-3018-50P ”,“ EXB-9500 ”manufactured by DIC Corporation, etc. Is mentioned.
活性エステル系硬化剤としては、特に制限はないが、一般にフェノールエステル類、チオフェノールエステル類、N−ヒドロキシアミンエステル類、複素環ヒドロキシ化合物のエステル類等の、反応活性の高いエステル基を1分子中に2個以上有する化合物が好ましく用いられる。当該活性エステル系硬化剤は、カルボン酸化合物及び/又はチオカルボン酸化合物とヒドロキシ化合物及び/又はチオール化合物との縮合反応によって得られるものが好ましい。特に耐熱性向上の観点から、カルボン酸化合物とヒドロキシ化合物とから得られる活性エステル系硬化剤が好ましく、カルボン酸化合物とフェノール化合物及び/又はナフトール化合物とから得られる活性エステル系硬化剤がより好ましい。カルボン酸化合物としては、例えば安息香酸、酢酸、コハク酸、マレイン酸、イタコン酸、フタル酸、イソフタル酸、テレフタル酸、ピロメリット酸等が挙げられる。フェノール化合物又はナフトール化合物としては、例えば、ハイドロキノン、レゾルシン、ビスフェノールA、ビスフェノールF、ビスフェノールS、フェノールフタリン、メチル化ビスフェノールA、メチル化ビスフェノールF、メチル化ビスフェノールS、フェノール、o−クレゾール、m−クレゾール、p−クレゾール、カテコール、α−ナフトール、β−ナフトール、1,5−ジヒドロキシナフタレン、1,6−ジヒドロキシナフタレン、2,6−ジヒドロキシナフタレン、ジヒドロキシベンゾフェノン、トリヒドロキシベンゾフェノン、テトラヒドロキシベンゾフェノン、フロログルシン、ベンゼントリオール、ジシクロペンタジエン型ジフェノール化合物、フェノールノボラック等が挙げられる。ここで、「ジシクロペンタジエン型ジフェノール化合物」とは、ジシクロペンタジエン1分子にフェノール2分子が縮合して得られるジフェノール化合物をいう。 Although there is no restriction | limiting in particular as an active ester type hardening | curing agent, Generally 1 molecule of ester groups with high reaction activity, such as phenol ester, thiophenol ester, N-hydroxyamine ester, ester of a heterocyclic hydroxy compound, are carried out. A compound having two or more thereof is preferably used. The active ester curing agent is preferably obtained by a condensation reaction between a carboxylic acid compound and / or a thiocarboxylic acid compound and a hydroxy compound and / or a thiol compound. In particular, from the viewpoint of improving heat resistance, an active ester curing agent obtained from a carboxylic acid compound and a hydroxy compound is preferable, and an active ester curing agent obtained from a carboxylic acid compound and a phenol compound and / or a naphthol compound is more preferable. Examples of the carboxylic acid compound include benzoic acid, acetic acid, succinic acid, maleic acid, itaconic acid, phthalic acid, isophthalic acid, terephthalic acid, and pyromellitic acid. Examples of the phenol compound or naphthol compound include hydroquinone, resorcin, bisphenol A, bisphenol F, bisphenol S, phenolphthaline, methylated bisphenol A, methylated bisphenol F, methylated bisphenol S, phenol, o-cresol, m- Cresol, p-cresol, catechol, α-naphthol, β-naphthol, 1,5-dihydroxynaphthalene, 1,6-dihydroxynaphthalene, 2,6-dihydroxynaphthalene, dihydroxybenzophenone, trihydroxybenzophenone, tetrahydroxybenzophenone, phloroglucin, Benzenetriol, dicyclopentadiene type diphenol compound, phenol novolac and the like can be mentioned. Here, the “dicyclopentadiene type diphenol compound” refers to a diphenol compound obtained by condensing two molecules of phenol with one molecule of dicyclopentadiene.
具体的には、ジシクロペンタジエン型ジフェノール構造を含む活性エステル化合物、ナフタレン構造を含む活性エステル化合物、フェノールノボラックのアセチル化物を含む活性エステル化合物、フェノールノボラックのベンゾイル化物を含む活性エステル化合物が好ましく、中でもナフタレン構造を含む活性エステル化合物、ジシクロペンタジエン型ジフェノール構造を含む活性エステル化合物がより好ましい。「ジシクロペンタジエン型ジフェノール構造」とは、フェニレン−ジシクロペンチレン−フェニレンからなる2価の構造単位を表す。 Specifically, an active ester compound containing a dicyclopentadiene-type diphenol structure, an active ester compound containing a naphthalene structure, an active ester compound containing an acetylated product of a phenol novolac, and an active ester compound containing a benzoylated product of a phenol novolac are preferred, Of these, active ester compounds having a naphthalene structure and active ester compounds having a dicyclopentadiene type diphenol structure are more preferred. The “dicyclopentadiene type diphenol structure” represents a divalent structural unit composed of phenylene-dicyclopentylene-phenylene.
活性エステル系硬化剤の市販品としては、ジシクロペンタジエン型ジフェノール構造を含む活性エステル化合物として、「EXB9451」、「EXB9460」、「EXB9460S」、「HPC−8000−65T」、「HPC−8000H−65TM」、「EXB−8000L−65TM」(DIC(株)製)、ナフタレン構造を含む活性エステル化合物として「EXB9416−70BK」(DIC(株)製)、フェノールノボラックのアセチル化物を含む活性エステル化合物として「DC808」(三菱化学(株)製)、フェノールノボラックのベンゾイル化物を含む活性エステル化合物として「YLH1026」(三菱化学(株)製)、フェノールノボラックのアセチル化物である活性エステル系硬化剤として「DC808」(三菱化学(株)製)、フェノールノボラックのベンゾイル化物である活性エステル系硬化剤として「YLH1026」(三菱化学(株)製)、「YLH1030」(三菱化学(株)製)、「YLH1048」(三菱化学(株)製)等が挙げられる。 Commercially available active ester curing agents include "EXB9451", "EXB9460", "EXB9460S", "HPC-8000-65T", "HPC-8000H-" as active ester compounds containing a dicyclopentadiene type diphenol structure. 65TM "," EXB-8000L-65TM "(manufactured by DIC Corporation)," EXB9416-70BK "(manufactured by DIC Corporation) as an active ester compound containing a naphthalene structure, and as an active ester compound containing an acetylated product of phenol novolac “DC808” (manufactured by Mitsubishi Chemical Corporation), “YLH1026” (manufactured by Mitsubishi Chemical Corporation) as an active ester compound containing a benzoylated product of phenol novolac, and “DC808” as an active ester curing agent which is an acetylated product of phenol novolac. "( "YLH1026" (Mitsubishi Chemical Corporation), "YLH1030" (Mitsubishi Chemical Corporation), "YLH1048" (Mitsubishi Chemical Corporation) as active ester-based curing agents that are benzoylated phenol novolaks Chemical Co., Ltd.).
ベンゾオキサジン系硬化剤の具体例としては、昭和高分子(株)製の「HFB2006M」、四国化成工業(株)製の「P−d」、「F−a」が挙げられる。 Specific examples of the benzoxazine-based curing agent include “HFB2006M” manufactured by Showa Polymer Co., Ltd., “Pd” and “Fa” manufactured by Shikoku Kasei Kogyo Co., Ltd.
シアネートエステル系硬化剤としては、例えば、ビスフェノールAジシアネート、ポリフェノールシアネート、オリゴ(3−メチレン−1,5−フェニレンシアネート)、4,4’−メチレンビス(2,6−ジメチルフェニルシアネート)、4,4’−エチリデンジフェニルジシアネート、ヘキサフルオロビスフェノールAジシアネート、2,2−ビス(4−シアネート)フェニルプロパン、1,1−ビス(4−シアネートフェニルメタン)、ビス(4−シアネート−3,5−ジメチルフェニル)メタン、1,3−ビス(4−シアネートフェニル−1−(メチルエチリデン))ベンゼン、ビス(4−シアネートフェニル)チオエーテル、及びビス(4−シアネートフェニル)エーテル等の2官能シアネート樹脂、フェノールノボラック及びクレゾールノボラック等から誘導される多官能シアネート樹脂、これらシアネート樹脂が一部トリアジン化したプレポリマーなどが挙げられる。シアネートエステル系硬化剤の具体例としては、ロンザジャパン(株)製の「PT30」及び「PT60」(フェノールノボラック型多官能シアネートエステル樹脂)、「ULL−950S」(多官能シアネートエステル樹脂)、「BA230」、「BA230S75」(ビスフェノールAジシアネートの一部又は全部がトリアジン化され三量体となったプレポリマー)等が挙げられる。 Examples of the cyanate ester curing agent include bisphenol A dicyanate, polyphenol cyanate, oligo (3-methylene-1,5-phenylene cyanate), 4,4′-methylenebis (2,6-dimethylphenyl cyanate), 4,4. '-Ethylidene diphenyl dicyanate, hexafluorobisphenol A dicyanate, 2,2-bis (4-cyanate) phenylpropane, 1,1-bis (4-cyanatephenylmethane), bis (4-cyanate-3,5-dimethyl) Bifunctional cyanate resins such as phenyl) methane, 1,3-bis (4-cyanatephenyl-1- (methylethylidene)) benzene, bis (4-cyanatephenyl) thioether, and bis (4-cyanatephenyl) ether, phenol Novolac and K Polyfunctional cyanate resin derived from tetrazole novolac, these cyanate resins and partially triazine of prepolymer. Specific examples of the cyanate ester curing agent include “PT30” and “PT60” (phenol novolac type polyfunctional cyanate ester resin), “ULL-950S” (polyfunctional cyanate ester resin) manufactured by Lonza Japan Co., Ltd., “ BA230 "," BA230S75 "(a prepolymer in which a part or all of bisphenol A dicyanate is triazine-modified into a trimer) and the like.
カルボジイミド系硬化剤の具体例としては、日清紡ケミカル(株)製の「V−03」、「V−07」等が挙げられる。 Specific examples of the carbodiimide curing agent include “V-03” and “V-07” manufactured by Nisshinbo Chemical Co., Ltd.
(B)成分としては、フェノール系硬化剤、ナフトール系硬化剤、活性エステル系硬化剤及びシアネートエステル系硬化剤から選択される1種以上であることが好ましい。また、樹脂組成物層の硬化物の高温下における誘電正接を低くすることができるという観点から、硬化剤としては、耐熱安定性の高いものが好ましい。耐熱安定性の高い硬化剤としては、活性エステル系硬化剤、シアネートエステル系硬化剤、カルボジイミド系硬化剤等が挙げられる。これらのうち、疎水性が高く、樹脂組成物層の硬化物の高温下における誘電正接を低くすることができるという観点から、活性エステル系硬化剤及びシアネートエステル系硬化剤から選択される1種以上であることがより好ましく、活性エステル系硬化剤であることがさらに好ましい。 (B) As a component, it is preferable that it is 1 or more types selected from a phenol type hardening | curing agent, a naphthol type hardening | curing agent, an active ester type hardening | curing agent, and a cyanate ester type hardening | curing agent. Moreover, as a hardening | curing agent, a thing with high heat stability is preferable from a viewpoint that the dielectric loss tangent under the high temperature of the hardened | cured material of a resin composition layer can be made low. Examples of the curing agent having high heat stability include an active ester curing agent, a cyanate ester curing agent, and a carbodiimide curing agent. Of these, one or more selected from an active ester curing agent and a cyanate ester curing agent from the viewpoint of high hydrophobicity and low dielectric loss tangent of the cured product of the resin composition layer at high temperatures It is more preferable that it is an active ester type curing agent.
エポキシ樹脂と硬化剤との量比は、[エポキシ樹脂のエポキシ基の合計数]:[硬化剤の反応基の合計数]の比率で、1:0.01〜1:2の範囲が好ましく、1:0.015〜1:1.5がより好ましく、1:0.02〜1:1がさらに好ましい。ここで、硬化剤の反応基とは、活性水酸基、活性エステル基等であり、硬化剤の種類によって異なる。また、エポキシ樹脂のエポキシ基の合計数とは、各エポキシ樹脂の固形分質量をエポキシ当量で除した値をすべてのエポキシ樹脂について合計した値であり、硬化剤の反応基の合計数とは、各硬化剤の固形分質量を反応基当量で除した値をすべての硬化剤について合計した値である。エポキシ樹脂と硬化剤との量比を斯かる範囲とすることにより、樹脂組成物層の硬化物の耐熱性がより向上する。 The amount ratio of the epoxy resin and the curing agent is preferably a ratio of [total number of epoxy groups of the epoxy resin]: [total number of reactive groups of the curing agent] in the range of 1: 0.01 to 1: 2. 1: 0.015 to 1: 1.5 are more preferable, and 1: 0.02 to 1: 1 are more preferable. Here, the reactive group of the curing agent is an active hydroxyl group, an active ester group or the like, and varies depending on the type of the curing agent. Moreover, the total number of epoxy groups of the epoxy resin is a value obtained by dividing the value obtained by dividing the solid mass of each epoxy resin by the epoxy equivalent for all epoxy resins, and the total number of reactive groups of the curing agent is: The value obtained by dividing the solid mass of each curing agent by the reactive group equivalent is the total value for all curing agents. By making the quantity ratio of an epoxy resin and a hardening | curing agent into such a range, the heat resistance of the hardened | cured material of a resin composition layer improves more.
一実施形態において、樹脂組成物は、先述のエポキシ樹脂及び硬化剤を含む。樹脂組成物は、(A)エポキシ樹脂として液状エポキシ樹脂と固体状エポキシ樹脂との混合物(液状エポキシ樹脂:固体状エポキシ樹脂の質量比は好ましくは1:0.1〜1:15、より好ましくは1:0.3〜1:12、さらに好ましくは1:0.6〜1:10)を、(B)硬化剤としてフェノール系硬化剤、ナフトール系硬化剤、活性エステル系硬化剤及びシアネートエステル系硬化剤からなる群から選択される1種以上(好ましくは活性エステル系硬化剤及びシアネートエステル系硬化剤からなる群から選択される1種以上)を、それぞれ含むことが好ましい。 In one embodiment, the resin composition includes the aforementioned epoxy resin and a curing agent. The resin composition is a mixture of a liquid epoxy resin and a solid epoxy resin (A) as an epoxy resin (mass ratio of liquid epoxy resin: solid epoxy resin is preferably 1: 0.1 to 1:15, more preferably 1: 0.3-1: 12, more preferably 1: 0.6-1: 10), (B) a phenolic curing agent, a naphthol curing agent, an active ester curing agent and a cyanate ester One or more selected from the group consisting of curing agents (preferably one or more selected from the group consisting of active ester curing agents and cyanate ester curing agents) are preferably included.
樹脂組成物中の硬化剤の含有量は特に限定されないが、好ましくは30質量%以下、より好ましくは25質量%以下、さらに好ましくは20質量%以下である。また、下限は特に制限はないが2質量%以上が好ましい。 Although content of the hardening | curing agent in a resin composition is not specifically limited, Preferably it is 30 mass% or less, More preferably, it is 25 mass% or less, More preferably, it is 20 mass% or less. The lower limit is not particularly limited but is preferably 2% by mass or more.
<(C)無機充填材>
一実施形態において、樹脂組成物は無機充填材を含んでいてもよい。無機充填材の材料は特に限定されないが、例えば、シリカ、アルミナ、ガラス、コーディエライト、シリコン酸化物、硫酸バリウム、炭酸バリウム、タルク、クレー、雲母粉、酸化亜鉛、ハイドロタルサイト、ベーマイト、水酸化アルミニウム、水酸化マグネシウム、炭酸カルシウム、炭酸マグネシウム、酸化マグネシウム、窒化ホウ素、窒化アルミニウム、窒化マンガン、ホウ酸アルミニウム、炭酸ストロンチウム、チタン酸ストロンチウム、チタン酸カルシウム、チタン酸マグネシウム、チタン酸ビスマス、酸化チタン、酸化ジルコニウム、チタン酸バリウム、チタン酸ジルコン酸バリウム、ジルコン酸バリウム、ジルコン酸カルシウム、リン酸ジルコニウム、及びリン酸タングステン酸ジルコニウム等が挙げられる。これらの中でもシリカが特に好適である。シリカとしては、例えば、無定形シリカ、溶融シリカ、結晶シリカ、合成シリカ、中空シリカ等が挙げられる。またシリカとしては球状シリカが好ましい。無機充填材は1種単独で用いてもよく、2種以上を組み合わせて用いてもよい。
<(C) Inorganic filler>
In one embodiment, the resin composition may include an inorganic filler. The material of the inorganic filler is not particularly limited. For example, silica, alumina, glass, cordierite, silicon oxide, barium sulfate, barium carbonate, talc, clay, mica powder, zinc oxide, hydrotalcite, boehmite, water Aluminum oxide, magnesium hydroxide, calcium carbonate, magnesium carbonate, magnesium oxide, boron nitride, aluminum nitride, manganese nitride, aluminum borate, strontium carbonate, strontium titanate, calcium titanate, magnesium titanate, bismuth titanate, titanium oxide , Zirconium oxide, barium titanate, barium zirconate titanate, barium zirconate, calcium zirconate, zirconium phosphate, and zirconium tungstate phosphate. Of these, silica is particularly preferred. Examples of the silica include amorphous silica, fused silica, crystalline silica, synthetic silica, and hollow silica. Moreover, spherical silica is preferable as the silica. An inorganic filler may be used individually by 1 type, and may be used in combination of 2 or more type.
無機充填材の平均粒径は、無機充填材を高充填させ薄膜絶縁性を向上させる観点から、1.5μm以下が好ましく、1.3μm以下がより好ましく、1.0μm以下がさらに好ましく、0.9μm以下がさらにより好ましい。該平均粒径の下限は、樹脂組成物層中の分散性向上という観点から、0.05μm以上が好ましく、0.06μm以上がより好ましく、0.07μm以上がさらに好ましい。このような平均粒径を有する無機充填材の市販品としては、例えば、電気化学工業(株)製「UFP−30」、新日鉄住金マテリアルズ(株)製「SPH516−05」、新日鉄住金マテリアルズ(株)製「SP507−05」等が挙げられる。 The average particle size of the inorganic filler is preferably 1.5 μm or less, more preferably 1.3 μm or less, still more preferably 1.0 μm or less, from the viewpoint of improving the thin film insulation by highly filling the inorganic filler. 9 μm or less is even more preferable. From the viewpoint of improving dispersibility in the resin composition layer, the lower limit of the average particle diameter is preferably 0.05 μm or more, more preferably 0.06 μm or more, and further preferably 0.07 μm or more. Examples of commercially available inorganic fillers having such an average particle diameter include “UFP-30” manufactured by Denki Kagaku Kogyo Co., Ltd., “SPH516-05” manufactured by Nippon Steel & Sumikin Materials Co., Ltd., and Nippon Steel & Sumikin Materials. “SP507-05” manufactured by Co., Ltd. and the like can be mentioned.
無機充填材の平均粒径はミー(Mie)散乱理論に基づくレーザー回折・散乱法により測定することができる。具体的にはレーザー回折散乱式粒度分布測定装置により、無機充填材の粒度分布を体積基準で作成し、そのメディアン径を平均粒径とすることで測定することができる。測定サンプルは、無機充填材を超音波によりメチルエチルケトン中に分散させたものを好ましく使用することができる。レーザー回折散乱式粒度分布測定装置としては、(株)島津製作所製「SALD−2200」等を使用することができる。 The average particle diameter of the inorganic filler can be measured by a laser diffraction / scattering method based on Mie scattering theory. Specifically, the particle size distribution of the inorganic filler can be prepared on a volume basis by a laser diffraction / scattering particle size distribution measuring apparatus, and the median diameter can be measured as the average particle diameter. As the measurement sample, an inorganic filler dispersed in methyl ethyl ketone by ultrasonic waves can be preferably used. As a laser diffraction scattering type particle size distribution measuring apparatus, “SALD-2200” manufactured by Shimadzu Corporation can be used.
無機充填材の比表面積は、後述する樹脂組成物層の最低溶融粘度を低くする観点から、好ましくは40m2/g以下、より好ましくは37m2/g以下、さらに好ましくは33m2/g以下である。該比表面積の下限は、樹脂組成物層の適切な粘弾性維持という観点から、好ましくは1m2/g以上、より好ましくは2m2/g以上、さらに好ましくは5m2/g以上である。比表面積は、例えば、BET全自動比表面積測定装置((株)マウンテック製、Macsorb HM−1210)を使用して測定することができる。 The specific surface area of the inorganic filler is preferably 40 m 2 / g or less, more preferably 37 m 2 / g or less, and even more preferably 33 m 2 / g or less, from the viewpoint of lowering the minimum melt viscosity of the resin composition layer described later. is there. The lower limit of the specific surface area is preferably 1 m 2 / g or more, more preferably 2 m 2 / g or more, and still more preferably 5 m 2 / g or more, from the viewpoint of maintaining appropriate viscoelasticity of the resin composition layer. The specific surface area can be measured using, for example, a BET fully automatic specific surface area measuring apparatus (manufactured by Mountec, Macsorb HM-1210).
無機充填材の真密度は、樹脂組成物層中の分散性向上という観点から、好ましくは15g/cm3以下、より好ましくは10g/cm3以下、さらに好ましくは、5g/cm3以下である。該真密度の下限は、好ましくは1g/cm3以上、より好ましくは1.5g/cm3以上、さらに好ましくは、2.0g/cm3以上である。真密度は、例えば、マイクロ・ウルトラピクノメータ(カンタクローム・インスツルメンツ・ジャパン製、MUPY−21T)を使用して測定することができる。 From the viewpoint of improving dispersibility in the resin composition layer, the true density of the inorganic filler is preferably 15 g / cm 3 or less, more preferably 10 g / cm 3 or less, and even more preferably 5 g / cm 3 or less. The lower limit of the true density is preferably 1 g / cm 3 or more, more preferably 1.5 g / cm 3 or more, and still more preferably 2.0 g / cm 3 or more. The true density can be measured using, for example, a micro-ultra pycnometer (manufactured by Cantachrome Instruments Japan, MUPY-21T).
無機充填材は、耐湿性及び分散性を高める観点から、シランカップリング剤、アルコキシシラン化合物、及びオルガノシラザン化合物の少なくとも1種の表面処理剤で表面処理されていることが好ましい。これらは、オリゴマーであってもよい。表面処理剤の例としては、アミノシラン系カップリング剤、エポキシシラン系カップリング剤、メルカプトシラン系カップリング剤、シラン系カップリング剤、オルガノシラザン化合物、チタネート系カップリング剤等が挙げられる。表面処理剤の市販品としては、例えば、信越化学工業(株)製「KBM403」(3−グリシドキシプロピルトリメトキシシラン)、信越化学工業(株)製「KBM803」(3−メルカプトプロピルトリメトキシシラン)、信越化学工業(株)製「KBE903」(3−アミノプロピルトリエトキシシラン)、信越化学工業(株)製「KBM573」(N−フェニル−3−アミノプロピルトリメトキシシラン)、信越化学工業(株)製「SZ−31」(ヘキサメチルジシラザン)、信越化学工業(株)製「KBM103」(フェニルトリメトキシシラン)、信越化学工業(株)製「KBM−4803」(長鎖エポキシ型シランカップリング剤)等が挙げられる。表面処理剤は、1種類単独で用いてもよく、2種類以上を組み合わせて用いてもよい。 The inorganic filler is preferably surface-treated with at least one surface treatment agent of a silane coupling agent, an alkoxysilane compound, and an organosilazane compound from the viewpoint of improving moisture resistance and dispersibility. These may be oligomers. Examples of the surface treatment agent include aminosilane coupling agents, epoxysilane coupling agents, mercaptosilane coupling agents, silane coupling agents, organosilazane compounds, titanate coupling agents, and the like. Examples of commercially available surface treatment agents include “KBM403” (3-glycidoxypropyltrimethoxysilane) manufactured by Shin-Etsu Chemical Co., Ltd., and “KBM803” (3-mercaptopropyltrimethoxy manufactured by Shin-Etsu Chemical Co., Ltd.). Silane), Shin-Etsu Chemical "KBE903" (3-aminopropyltriethoxysilane), Shin-Etsu Chemical "KBM573" (N-phenyl-3-aminopropyltrimethoxysilane), Shin-Etsu Chemical "SZ-31" (hexamethyldisilazane) manufactured by KK, "KBM103" (phenyltrimethoxysilane) manufactured by Shin-Etsu Chemical Co., Ltd., "KBM-4803" manufactured by Shin-Etsu Chemical Co., Ltd. (long-chain epoxy type) Silane coupling agent). A surface treating agent may be used individually by 1 type, and may be used in combination of 2 or more types.
表面処理剤による表面処理の程度は、無機充填材の単位表面積当たりのカーボン量によって評価することができる。無機充填材の単位表面積当たりのカーボン量は、無機充填材の分散性向上の観点から、0.02mg/m2以上が好ましく、0.1mg/m2以上がより好ましく、0.2mg/m2以上が更に好ましい。一方、樹脂ワニスの溶融粘度及びシート形態での溶融粘度の上昇を抑制する観点から、1mg/m2以下が好ましく、0.8mg/m2以下がより好ましく、0.5mg/m2以下が更に好ましい。 The degree of surface treatment with the surface treatment agent can be evaluated by the amount of carbon per unit surface area of the inorganic filler. Carbon content per unit surface area of the inorganic filler, from the viewpoint of improving dispersibility of the inorganic filler is preferably 0.02 mg / m 2 or more, 0.1 mg / m 2 or more preferably, 0.2 mg / m 2 The above is more preferable. On the other hand, 1 mg / m 2 or less is preferable, 0.8 mg / m 2 or less is more preferable, and 0.5 mg / m 2 or less is more preferable from the viewpoint of suppressing the increase in melt viscosity of the resin varnish and the sheet form. preferable.
無機充填材の単位表面積当たりのカーボン量は、表面処理後の無機充填材を溶剤(例えば、メチルエチルケトン(MEK))により洗浄処理した後に測定することができる。具体的には、溶剤として十分な量のMEKを表面処理剤で表面処理された無機充填材に加えて、25℃で5分間超音波洗浄する。上澄液を除去し、固形分を乾燥させた後、カーボン分析計を用いて無機充填材の単位表面積当たりのカーボン量を測定することができる。カーボン分析計としては、(株)堀場製作所製「EMIA−320V」等を使用することができる。 The amount of carbon per unit surface area of the inorganic filler can be measured after the surface-treated inorganic filler is washed with a solvent (for example, methyl ethyl ketone (MEK)). Specifically, a sufficient amount of MEK as a solvent is added to the inorganic filler surface-treated with the surface treatment agent and ultrasonically cleaned at 25 ° C. for 5 minutes. After removing the supernatant and drying the solid, the carbon amount per unit surface area of the inorganic filler can be measured using a carbon analyzer. As the carbon analyzer, “EMIA-320V” manufactured by Horiba, Ltd. can be used.
樹脂組成物中の無機充填材の含有量(充填量)は、樹脂組成物層の厚み安定性を向上させ、並びに絶縁層(樹脂組成物層の硬化物)の誘電正接を低くする観点から、樹脂組成物中の不揮発成分を100質量%としたとき、50質量%以上、好ましくは55質量%以上、より好ましくは60質量%以上である。樹脂組成物中の無機充填材の含有量の上限は、薄膜絶縁性の向上という観点から、好ましくは85質量%以下、より好ましくは80質量%以下である。 From the viewpoint of improving the thickness stability of the resin composition layer and reducing the dielectric loss tangent of the insulating layer (cured product of the resin composition layer), the content (filling amount) of the inorganic filler in the resin composition is as follows. When the nonvolatile component in the resin composition is 100% by mass, it is 50% by mass or more, preferably 55% by mass or more, more preferably 60% by mass or more. The upper limit of the content of the inorganic filler in the resin composition is preferably 85% by mass or less, more preferably 80% by mass or less, from the viewpoint of improving thin film insulation.
<(D)熱可塑性樹脂>
本発明の樹脂組成物は、さらに(D)熱可塑性樹脂を含有していてもよい。
<(D) Thermoplastic resin>
The resin composition of the present invention may further contain (D) a thermoplastic resin.
熱可塑性樹脂としては、例えば、フェノキシ樹脂、ポリビニルアセタール樹脂、ポリオレフィン樹脂、ポリブタジエン樹脂、ポリイミド樹脂、ポリアミドイミド樹脂、ポリエーテルイミド樹脂、ポリスルホン樹脂、ポリエーテルスルホン樹脂、ポリフェニレンエーテル樹脂、ポリカーボネート樹脂、ポリエーテルエーテルケトン樹脂、ポリエステル樹脂が挙げられ、フェノキシ樹脂が好ましい。熱可塑性樹脂は、1種単独で用いてもよく、又は2種以上を組み合わせて用いてもよい。 Examples of the thermoplastic resin include phenoxy resin, polyvinyl acetal resin, polyolefin resin, polybutadiene resin, polyimide resin, polyamideimide resin, polyetherimide resin, polysulfone resin, polyethersulfone resin, polyphenylene ether resin, polycarbonate resin, and polyether. Examples include ether ketone resins and polyester resins, and phenoxy resins are preferred. A thermoplastic resin may be used individually by 1 type, or may be used in combination of 2 or more type.
熱可塑性樹脂のポリスチレン換算の重量平均分子量は8,000〜70,000の範囲が好ましく、10,000〜60,000の範囲がより好ましく、20,000〜60,000の範囲がさらに好ましい。熱可塑性樹脂のポリスチレン換算の重量平均分子量は、ゲルパーミエーションクロマトグラフィー(GPC)法で測定される。具体的には、熱可塑性樹脂のポリスチレン換算の重量平均分子量は、測定装置として(株)島津製作所製LC−9A/RID−6Aを、カラムとして昭和電工(株)製Shodex K−800P/K−804L/K−804Lを、移動相としてクロロホルム等を用いて、カラム温度を40℃にて測定し、標準ポリスチレンの検量線を用いて算出することができる。 The weight average molecular weight in terms of polystyrene of the thermoplastic resin is preferably in the range of 8,000 to 70,000, more preferably in the range of 10,000 to 60,000, and still more preferably in the range of 20,000 to 60,000. The weight average molecular weight in terms of polystyrene of the thermoplastic resin is measured by a gel permeation chromatography (GPC) method. Specifically, the polystyrene-reduced weight average molecular weight of the thermoplastic resin is LC-9A / RID-6A manufactured by Shimadzu Corporation as a measuring device, and Shodex K-800P / K- manufactured by Showa Denko KK as a column. 804L / K-804L can be calculated using a standard polystyrene calibration curve by measuring the column temperature at 40 ° C. using chloroform or the like as a mobile phase.
フェノキシ樹脂としては、例えば、ビスフェノールA骨格、ビスフェノールF骨格、ビスフェノールS骨格、ビスフェノールアセトフェノン骨格、ノボラック骨格、ビフェニル骨格、フルオレン骨格、ジシクロペンタジエン骨格、ノルボルネン骨格、ナフタレン骨格、アントラセン骨格、アダマンタン骨格、テルペン骨格、及びトリメチルシクロヘキサン骨格からなる群から選択される1種以上の骨格を有するフェノキシ樹脂が挙げられる。フェノキシ樹脂の末端は、フェノール性水酸基、エポキシ基等のいずれの官能基でもよい。フェノキシ樹脂は1種単独で用いてもよく、2種以上を組み合わせて用いてもよい。フェノキシ樹脂の具体例としては、三菱化学(株)製の「1256」及び「4250」(いずれもビスフェノールA骨格含有フェノキシ樹脂)、「YX8100」(ビスフェノールS骨格含有フェノキシ樹脂)、及び「YX6954」(ビスフェノールアセトフェノン骨格含有フェノキシ樹脂)が挙げられ、その他にも、新日鉄住金化学(株)製の「FX280」及び「FX293」、三菱化学(株)製の「YX6954BH30」、「YX7553」、「YX7553BH30」、「YL7769BH30」、「YL6794」、「YL7213」、「YL7290」及び「YL7482」等が挙げられる。 Examples of the phenoxy resin include bisphenol A skeleton, bisphenol F skeleton, bisphenol S skeleton, bisphenolacetophenone skeleton, novolac skeleton, biphenyl skeleton, fluorene skeleton, dicyclopentadiene skeleton, norbornene skeleton, naphthalene skeleton, anthracene skeleton, adamantane skeleton, terpene Examples thereof include phenoxy resins having a skeleton and one or more skeletons selected from the group consisting of a trimethylcyclohexane skeleton. The terminal of the phenoxy resin may be any functional group such as a phenolic hydroxyl group or an epoxy group. A phenoxy resin may be used individually by 1 type, and may be used in combination of 2 or more type. Specific examples of the phenoxy resin include “1256” and “4250” (both bisphenol A skeleton-containing phenoxy resin), “YX8100” (bisphenol S skeleton-containing phenoxy resin), and “YX6954” (manufactured by Mitsubishi Chemical Corporation). In addition, "FX280" and "FX293" manufactured by Nippon Steel & Sumikin Chemical Co., Ltd., "YX6954BH30", "YX7553", "YX7553BH30" manufactured by Mitsubishi Chemical Corporation, “YL7769BH30”, “YL6794”, “YL7213”, “YL7290”, “YL7482” and the like.
ポリビニルアセタール樹脂としては、例えば、ポリビニルホルマール樹脂、ポリビニルブチラール樹脂が挙げられ、ポリビニルブチラール樹脂が好ましい。ポリビニルアセタール樹脂の具体例としては、例えば、電気化学工業(株)製の「電化ブチラール4000−2」、「電化ブチラール5000−A」、「電化ブチラール6000−C」、「電化ブチラール6000−EP」、積水化学工業(株)製のエスレックBHシリーズ、BXシリーズ(例えばBX−5Z)、KSシリーズ(例えばKS−1)、BLシリーズ、BMシリーズ等が挙げられる。 Examples of the polyvinyl acetal resin include a polyvinyl formal resin and a polyvinyl butyral resin, and a polyvinyl butyral resin is preferable. Specific examples of the polyvinyl acetal resin include, for example, “Electrical butyral 4000-2”, “Electrical butyral 5000-A”, “Electrical butyral 6000-C”, and “Electrical butyral 6000-EP” manufactured by Denki Kagaku Kogyo Co., Ltd. , Sreck BH series, BX series (for example, BX-5Z), KS series (for example, KS-1), BL series, and BM series manufactured by Sekisui Chemical Co., Ltd.
ポリイミド樹脂の具体例としては、新日本理化(株)製の「リカコートSN20」及び「リカコートPN20」が挙げられる。ポリイミド樹脂の具体例としてはまた、2官能性ヒドロキシル基末端ポリブタジエン、ジイソシアネート化合物及び四塩基酸無水物を反応させて得られる線状ポリイミド(特開2006−37083号公報記載のポリイミド)、ポリシロキサン骨格含有ポリイミド(特開2002−12667号公報及び特開2000−319386号公報等に記載のポリイミド)等の変性ポリイミドが挙げられる。 Specific examples of the polyimide resin include “Rika Coat SN20” and “Rika Coat PN20” manufactured by Shin Nippon Rika Co., Ltd. Specific examples of the polyimide resin include linear polyimide obtained by reacting a bifunctional hydroxyl group-terminated polybutadiene, a diisocyanate compound and a tetrabasic acid anhydride (polyimide described in JP-A-2006-37083), a polysiloxane skeleton. Examples thereof include modified polyimides such as containing polyimide (polyimides described in JP-A Nos. 2002-12667 and 2000-319386).
ポリアミドイミド樹脂の具体例としては、東洋紡績(株)製の「バイロマックスHR11NN」及び「バイロマックスHR16NN」が挙げられる。ポリアミドイミド樹脂の具体例としてはまた、日立化成工業(株)製の「KS9100」、「KS9300」(ポリシロキサン骨格含有ポリアミドイミド)等の変性ポリアミドイミドが挙げられる。 Specific examples of the polyamide-imide resin include “Bilomax HR11NN” and “Bilomax HR16NN” manufactured by Toyobo Co., Ltd. Specific examples of the polyamideimide resin also include modified polyamideimides such as “KS9100” and “KS9300” (polysiloxane skeleton-containing polyamideimide) manufactured by Hitachi Chemical Co., Ltd.
ポリエーテルスルホン樹脂の具体例としては、住友化学(株)製の「PES5003P」等が挙げられる。 Specific examples of the polyethersulfone resin include “PES5003P” manufactured by Sumitomo Chemical Co., Ltd.
ポリスルホン樹脂の具体例としては、ソルベイアドバンストポリマーズ(株)製のポリスルホン「P1700」、「P3500」等が挙げられる。 Specific examples of the polysulfone resin include polysulfone “P1700” and “P3500” manufactured by Solvay Advanced Polymers Co., Ltd.
ポリフェニレンエーテル樹脂の具体例としては、三菱ガス化学(株)製のオリゴフェニレンエーテル・スチレン樹脂「OPE−2St1200」、「OPE−2St2200」、SABIC製「NORYL SA90」等が挙げられる。 Specific examples of the polyphenylene ether resin include oligophenylene ether / styrene resins “OPE-2St1200” and “OPE-2St2200” manufactured by Mitsubishi Gas Chemical Co., Ltd., “NORYL SA90” manufactured by SABIC, and the like.
熱可塑性樹脂としては、フェノキシ樹脂、ポリフェニレンエーテル樹脂、ポリビニルアセタール樹脂が好ましい。したがって好適な一実施形態において、熱可塑性樹脂は、フェノキシ樹脂、ポリフェニレンエーテル樹脂及びポリビニルアセタール樹脂からなる群から選択される1種以上を含む。疎水性が高く、高温における樹脂組成物層の硬化物の誘電正接を低くすることができるという観点から、フェノキシ樹脂、ポリフェニレンエーテル樹脂がより好ましい。 As the thermoplastic resin, phenoxy resin, polyphenylene ether resin, and polyvinyl acetal resin are preferable. Accordingly, in a preferred embodiment, the thermoplastic resin includes one or more selected from the group consisting of a phenoxy resin, a polyphenylene ether resin, and a polyvinyl acetal resin. From the viewpoints of high hydrophobicity and low dielectric loss tangent of the cured product of the resin composition layer at high temperature, phenoxy resins and polyphenylene ether resins are more preferable.
樹脂組成物が熱可塑性樹脂を含有する場合、熱可塑性樹脂の含有量は、好ましくは0.5質量%〜10質量%、より好ましくは0.6質量%〜6質量%、さらに好ましくは0.7質量%〜5質量%である。 When the resin composition contains a thermoplastic resin, the content of the thermoplastic resin is preferably 0.5% by mass to 10% by mass, more preferably 0.6% by mass to 6% by mass, and still more preferably 0.8%. It is 7 mass%-5 mass%.
<(E)硬化促進剤>
本発明の樹脂組成物は、さらに(E)硬化促進剤を含有していてもよい。
<(E) Curing accelerator>
The resin composition of the present invention may further contain (E) a curing accelerator.
硬化促進剤としては、例えば、リン系硬化促進剤、アミン系硬化促進剤、イミダゾール系硬化促進剤、グアニジン系硬化促進剤、金属系硬化促進剤等が挙げられ、リン系硬化促進剤、アミン系硬化促進剤、イミダゾール系硬化促進剤、金属系硬化促進剤が好ましく、アミン系硬化促進剤、イミダゾール系硬化促進剤、金属系硬化促進剤がより好ましい。硬化促進剤は、1種単独で用いてもよく、2種以上を組み合わせて用いてもよい。 Examples of the curing accelerator include a phosphorus-based curing accelerator, an amine-based curing accelerator, an imidazole-based curing accelerator, a guanidine-based curing accelerator, a metal-based curing accelerator, and the like. A curing accelerator, an imidazole curing accelerator, and a metal curing accelerator are preferable, and an amine curing accelerator, an imidazole curing accelerator, and a metal curing accelerator are more preferable. A hardening accelerator may be used individually by 1 type, and may be used in combination of 2 or more type.
リン系硬化促進剤としては、例えば、トリフェニルホスフィン、ホスホニウムボレート化合物、テトラフェニルホスホニウムテトラフェニルボレート、n−ブチルホスホニウムテトラフェニルボレート、テトラブチルホスホニウムデカン酸塩、(4−メチルフェニル)トリフェニルホスホニウムチオシアネート、テトラフェニルホスホニウムチオシアネート、ブチルトリフェニルホスホニウムチオシアネート等が挙げられ、トリフェニルホスフィン、テトラブチルホスホニウムデカン酸塩が好ましい。 Examples of phosphorus curing accelerators include triphenylphosphine, phosphonium borate compounds, tetraphenylphosphonium tetraphenylborate, n-butylphosphonium tetraphenylborate, tetrabutylphosphonium decanoate, (4-methylphenyl) triphenylphosphonium thiocyanate. , Tetraphenylphosphonium thiocyanate, butyltriphenylphosphonium thiocyanate and the like, and triphenylphosphine and tetrabutylphosphonium decanoate are preferable.
アミン系硬化促進剤としては、例えば、トリエチルアミン、トリブチルアミン等のトリアルキルアミン、4−ジメチルアミノピリジン、ベンジルジメチルアミン、2,4,6,−トリス(ジメチルアミノメチル)フェノール、1,8−ジアザビシクロ(5,4,0)−ウンデセン等が挙げられ、4−ジメチルアミノピリジン、1,8−ジアザビシクロ(5,4,0)−ウンデセンが好ましい。 Examples of amine curing accelerators include trialkylamines such as triethylamine and tributylamine, 4-dimethylaminopyridine, benzyldimethylamine, 2,4,6, -tris (dimethylaminomethyl) phenol, 1,8-diazabicyclo. (5,4,0) -undecene and the like are mentioned, and 4-dimethylaminopyridine and 1,8-diazabicyclo (5,4,0) -undecene are preferable.
イミダゾール系硬化促進剤としては、例えば、2−メチルイミダゾール、2−ウンデシルイミダゾール、2−ヘプタデシルイミダゾール、1,2−ジメチルイミダゾール、2−エチル−4−メチルイミダゾール、1,2−ジメチルイミダゾール、2−エチル−4−メチルイミダゾール、2−フェニルイミダゾール、2−フェニル−4−メチルイミダゾール、1−ベンジル−2−メチルイミダゾール、1−ベンジル−2−フェニルイミダゾール、1−シアノエチル−2−メチルイミダゾール、1−シアノエチル−2−ウンデシルイミダゾール、1−シアノエチル−2−エチル−4−メチルイミダゾール、1−シアノエチル−2−フェニルイミダゾール、1−シアノエチル−2−ウンデシルイミダゾリウムトリメリテイト、1−シアノエチル−2−フェニルイミダゾリウムトリメリテイト、2,4−ジアミノ−6−[2’−メチルイミダゾリル−(1’)]−エチル−s−トリアジン、2,4−ジアミノ−6−[2’−ウンデシルイミダゾリル−(1’)]−エチル−s−トリアジン、2,4−ジアミノ−6−[2’−エチル−4’−メチルイミダゾリル−(1’)]−エチル−s−トリアジン、2,4−ジアミノ−6−[2’−メチルイミダゾリル−(1’)]−エチル−s−トリアジンイソシアヌル酸付加物、2−フェニルイミダゾールイソシアヌル酸付加物、2−フェニル−4,5−ジヒドロキシメチルイミダゾール、2−フェニル−4−メチル−5−ヒドロキシメチルイミダゾール、2,3−ジヒドロ−1H−ピロロ[1,2−a]ベンズイミダゾール、1−ドデシル−2−メチル−3−ベンジルイミダゾリウムクロライド、2−メチルイミダゾリン、2−フェニルイミダゾリン等のイミダゾール化合物及びイミダゾール化合物とエポキシ樹脂とのアダクト体が挙げられ、2−エチル−4−メチルイミダゾール、1−ベンジル−2−フェニルイミダゾールが好ましい。 Examples of the imidazole curing accelerator include 2-methylimidazole, 2-undecylimidazole, 2-heptadecylimidazole, 1,2-dimethylimidazole, 2-ethyl-4-methylimidazole, 1,2-dimethylimidazole, 2-ethyl-4-methylimidazole, 2-phenylimidazole, 2-phenyl-4-methylimidazole, 1-benzyl-2-methylimidazole, 1-benzyl-2-phenylimidazole, 1-cyanoethyl-2-methylimidazole, 1-cyanoethyl-2-undecylimidazole, 1-cyanoethyl-2-ethyl-4-methylimidazole, 1-cyanoethyl-2-phenylimidazole, 1-cyanoethyl-2-undecylimidazolium trimellitate, 1-cyanoethyl- 2 Phenylimidazolium trimellitate, 2,4-diamino-6- [2'-methylimidazolyl- (1 ')]-ethyl-s-triazine, 2,4-diamino-6- [2'-undecylimidazolyl- (1 ′)]-ethyl-s-triazine, 2,4-diamino-6- [2′-ethyl-4′-methylimidazolyl- (1 ′)]-ethyl-s-triazine, 2,4-diamino- 6- [2′-Methylimidazolyl- (1 ′)]-ethyl-s-triazine isocyanuric acid adduct, 2-phenylimidazole isocyanuric acid adduct, 2-phenyl-4,5-dihydroxymethylimidazole, 2-phenyl- 4-methyl-5-hydroxymethylimidazole, 2,3-dihydro-1H-pyrrolo [1,2-a] benzimidazole, 1-dodecyl-2-methyl Examples include imidazole compounds such as -3-benzylimidazolium chloride, 2-methylimidazoline, and 2-phenylimidazoline, and adducts of imidazole compounds and epoxy resins, such as 2-ethyl-4-methylimidazole and 1-benzyl-2- Phenylimidazole is preferred.
イミダゾール系硬化促進剤としては、市販品を用いてもよく、例えば、三菱化学(株)製の「P200−H50」、四国化成工業(株)製の「1B2PZ」等が挙げられる。 Commercially available products may be used as the imidazole curing accelerator, and examples thereof include “P200-H50” manufactured by Mitsubishi Chemical Corporation, “1B2PZ” manufactured by Shikoku Kasei Kogyo Co., Ltd., and the like.
グアニジン系硬化促進剤としては、例えば、ジシアンジアミド、1−メチルグアニジン、1−エチルグアニジン、1−シクロヘキシルグアニジン、1−フェニルグアニジン、1−(o−トリル)グアニジン、ジメチルグアニジン、ジフェニルグアニジン、トリメチルグアニジン、テトラメチルグアニジン、ペンタメチルグアニジン、1,5,7−トリアザビシクロ[4.4.0]デカ−5−エン、7−メチル−1,5,7−トリアザビシクロ[4.4.0]デカ−5−エン、1−メチルビグアニド、1−エチルビグアニド、1−n−ブチルビグアニド、1−n−オクタデシルビグアニド、1,1−ジメチルビグアニド、1,1−ジエチルビグアニド、1−シクロヘキシルビグアニド、1−アリルビグアニド、1−フェニルビグアニド、1−(o−トリル)ビグアニド等が挙げられ、ジシアンジアミド、1,5,7−トリアザビシクロ[4.4.0]デカ−5−エンが好ましい。 Examples of the guanidine curing accelerator include dicyandiamide, 1-methylguanidine, 1-ethylguanidine, 1-cyclohexylguanidine, 1-phenylguanidine, 1- (o-tolyl) guanidine, dimethylguanidine, diphenylguanidine, trimethylguanidine, Tetramethylguanidine, pentamethylguanidine, 1,5,7-triazabicyclo [4.4.0] dec-5-ene, 7-methyl-1,5,7-triazabicyclo [4.4.0] Deca-5-ene, 1-methyl biguanide, 1-ethyl biguanide, 1-n-butyl biguanide, 1-n-octadecyl biguanide, 1,1-dimethyl biguanide, 1,1-diethyl biguanide, 1-cyclohexyl biguanide, 1 -Allyl biguanide, 1-phenyl biguanide, 1- ( - tolyl) biguanide, and the like, dicyandiamide, 1,5,7-triazabicyclo [4.4.0] dec-5-ene are preferred.
金属系硬化促進剤としては、例えば、コバルト、銅、亜鉛、鉄、ニッケル、マンガン、スズ等の金属の、有機金属錯体又は有機金属塩が挙げられる。有機金属錯体の具体例としては、コバルト(II)アセチルアセトナート、コバルト(III)アセチルアセトナート等の有機コバルト錯体、銅(II)アセチルアセトナート等の有機銅錯体、亜鉛(II)アセチルアセトナート等の有機亜鉛錯体、鉄(III)アセチルアセトナート等の有機鉄錯体、ニッケル(II)アセチルアセトナート等の有機ニッケル錯体、マンガン(II)アセチルアセトナート等の有機マンガン錯体等が挙げられる。有機金属塩としては、例えば、オクチル酸亜鉛、オクチル酸錫、ナフテン酸亜鉛、ナフテン酸コバルト、ステアリン酸スズ、ステアリン酸亜鉛等が挙げられる。 As a metal type hardening accelerator, the organometallic complex or organometallic salt of metals, such as cobalt, copper, zinc, iron, nickel, manganese, tin, is mentioned, for example. Specific examples of the organometallic complex include organic cobalt complexes such as cobalt (II) acetylacetonate and cobalt (III) acetylacetonate, organic copper complexes such as copper (II) acetylacetonate, and zinc (II) acetylacetonate. Organic zinc complexes such as iron (III) acetylacetonate, organic nickel complexes such as nickel (II) acetylacetonate, and organic manganese complexes such as manganese (II) acetylacetonate. Examples of the organic metal salt include zinc octylate, tin octylate, zinc naphthenate, cobalt naphthenate, tin stearate, and zinc stearate.
樹脂組成物中の硬化促進剤の含有量は特に限定されないが、エポキシ樹脂と硬化剤の不揮発成分を100質量%としたとき、0.01質量%〜3質量%が好ましい。 Although content of the hardening accelerator in a resin composition is not specifically limited, 0.01 mass%-3 mass% are preferable when the non-volatile component of an epoxy resin and a hardening | curing agent is 100 mass%.
<(F)難燃剤>
本発明の樹脂組成物は、さらに(F)難燃剤を含んでもよい。難燃剤としては、例えば、有機リン系難燃剤、有機系窒素含有リン化合物、窒素化合物、シリコーン系難燃剤、金属水酸化物等が挙げられる。難燃剤は1種単独で用いてもよく、又は2種以上を併用してもよい。
<(F) Flame retardant>
The resin composition of the present invention may further contain (F) a flame retardant. Examples of the flame retardant include an organic phosphorus flame retardant, an organic nitrogen-containing phosphorus compound, a nitrogen compound, a silicone flame retardant, and a metal hydroxide. A flame retardant may be used individually by 1 type, or may use 2 or more types together.
難燃剤としては、市販品を用いてもよく、例えば、三光(株)製の「HCA−HQ」、大八化学工業(株)製の「PX−200」等が挙げられる。難燃剤としては加水分解しにくいものが好ましく、例えば、10−(2,5−ジヒドロキシフェニル)−10−ヒドロ−9−オキサ−10−フォスファフェナンスレン−10−オキサイド等が好ましい。 Commercially available products may be used as the flame retardant, for example, “HCA-HQ” manufactured by Sanko Co., Ltd., “PX-200” manufactured by Daihachi Chemical Industry Co., Ltd., and the like. As the flame retardant, those which are difficult to hydrolyze are preferable, and for example, 10- (2,5-dihydroxyphenyl) -10-hydro-9-oxa-10-phosphaphenanthrene-10-oxide and the like are preferable.
樹脂組成物が難燃剤を含有する場合、難燃剤の含有量は特に限定されないが、好ましくは0.5質量%〜20質量%、より好ましくは0.5質量%〜15質量%、さらに好ましくは0.5質量%〜10質量%がさらに好ましい。 When the resin composition contains a flame retardant, the content of the flame retardant is not particularly limited, but is preferably 0.5% by mass to 20% by mass, more preferably 0.5% by mass to 15% by mass, and still more preferably. 0.5 mass%-10 mass% are further more preferable.
<(G)有機充填材>
樹脂組成物は、樹脂組成物層の硬化物の誘電正接を低くする観点から、(G)有機充填材を含んでもよい。有機充填材としては、プリント配線板の絶縁層を形成するに際し使用し得る任意の有機充填材を使用してよく、例えば、ゴム粒子、ポリアミド微粒子、シリコーン粒子等が挙げられる。
<(G) Organic filler>
The resin composition may contain (G) an organic filler from the viewpoint of lowering the dielectric loss tangent of the cured product of the resin composition layer. As the organic filler, any organic filler that can be used in forming the insulating layer of the printed wiring board may be used, and examples thereof include rubber particles, polyamide fine particles, and silicone particles.
ゴム粒子としては、市販品を用いてもよく、例えば、ダウ・ケミカル日本(株)製の「EXL2655」、アイカ工業(株)製の「AC3401N」、「AC3816N」等が挙げられる。 As the rubber particles, commercially available products may be used, and examples thereof include “EXL2655” manufactured by Dow Chemical Japan Co., Ltd., “AC3401N” and “AC3816N” manufactured by Aika Industry Co., Ltd.
ゴム粒子としては、イオン性が低く、樹脂組成物層の硬化物の誘電正接を低くすることができるという観点から、例えば、アイカ工業(株)製の「AC3816N」、「AC3401N」等が好ましい。 As the rubber particles, for example, “AC3816N” and “AC3401N” manufactured by Aika Industry Co., Ltd. are preferable from the viewpoint that the ionicity is low and the dielectric loss tangent of the cured product of the resin composition layer can be lowered.
樹脂組成物が有機充填材を含有する場合、有機充填材の含有量は、好ましくは0.1質量%〜20質量%、より好ましくは0.2質量%〜10質量%、さらに好ましくは0.3質量%〜5質量%、又は0.5質量%〜3質量%である。 When the resin composition contains an organic filler, the content of the organic filler is preferably 0.1% by mass to 20% by mass, more preferably 0.2% by mass to 10% by mass, and still more preferably 0.8%. 3% by mass to 5% by mass, or 0.5% by mass to 3% by mass.
<(H)任意の添加剤>
樹脂組成物は、さらに必要に応じて、他の添加剤を含んでいてもよく、斯かる他の添加剤としては、例えば、有機銅化合物、有機亜鉛化合物及び有機コバルト化合物等の有機金属化合物、並びに増粘剤、消泡剤、レベリング剤、密着性付与剤、及び着色剤等の樹脂添加剤等が挙げられる。
<(H) Optional additive>
The resin composition may further contain other additives as necessary. Examples of such other additives include organic metal compounds such as organic copper compounds, organic zinc compounds, and organic cobalt compounds, And resin additives such as thickeners, antifoaming agents, leveling agents, adhesion-imparting agents, and coloring agents.
本発明の樹脂シートは、薄膜絶縁性が優れた絶縁層(樹脂組成物層の硬化物)をもたらす。したがって本発明の樹脂シートは、プリント配線板の絶縁層を形成するための(プリント配線板の絶縁層形成用の)樹脂シートとして好適に使用することができ、プリント配線板の層間絶縁層を形成するための樹脂シート(プリント配線板の層間絶縁層用樹脂シート)としてより好適に使用することができる。また、例えば、第1の導体層と、第2の導体層と、第1の導体層及び第2の導体層との間に設けられた絶縁層とを備えるプリント配線板において、本発明の樹脂シートにより絶縁層を形成することで、第1及び第2の導体層間の絶縁層の厚みを6μm以下(好ましくは5.5μm以下、より好ましくは5μm以下)としつつ絶縁性能に優れたものとすることができる。 The resin sheet of the present invention provides an insulating layer (cured product of the resin composition layer) having excellent thin film insulation. Therefore, the resin sheet of the present invention can be suitably used as a resin sheet (for forming an insulating layer of a printed wiring board) for forming an insulating layer of a printed wiring board, and forms an interlayer insulating layer of the printed wiring board. Therefore, it can be used more suitably as a resin sheet (resin sheet for an interlayer insulating layer of a printed wiring board). Further, for example, in a printed wiring board including a first conductor layer, a second conductor layer, and an insulating layer provided between the first conductor layer and the second conductor layer, the resin of the present invention. By forming the insulating layer with a sheet, the insulating layer between the first and second conductor layers has a thickness of 6 μm or less (preferably 5.5 μm or less, more preferably 5 μm or less), and excellent insulation performance. be able to.
[樹脂シート]
本発明の樹脂シートは、支持体と、該支持体上に設けられた樹脂組成物層とを備え、樹脂組成物層は樹脂組成物から形成される。
[Resin sheet]
The resin sheet of the present invention includes a support and a resin composition layer provided on the support, and the resin composition layer is formed from the resin composition.
樹脂組成物層の厚さは、プリント配線板の薄型化の観点から、好ましくは15μm以下、より好ましくは12μm以下、さらに好ましくは10μm以下、さらにより好ましくは8μm以下である。樹脂組成物層の厚さの下限は、特に限定されないが、通常、1μm以上、1.5μm以上、2μm以上等とし得る。 The thickness of the resin composition layer is preferably 15 μm or less, more preferably 12 μm or less, still more preferably 10 μm or less, and even more preferably 8 μm or less, from the viewpoint of reducing the thickness of the printed wiring board. Although the minimum of the thickness of a resin composition layer is not specifically limited, Usually, it may be 1 micrometer or more, 1.5 micrometers or more, 2 micrometers or more, etc.
支持体としては、例えば、プラスチック材料からなるフィルム、金属箔、離型紙が挙げられ、プラスチック材料からなるフィルム、金属箔が好ましい。 Examples of the support include a film made of a plastic material, a metal foil, and a release paper, and a film made of a plastic material and a metal foil are preferable.
支持体としてプラスチック材料からなるフィルムを使用する場合、プラスチック材料としては、例えば、ポリエチレンテレフタレート(以下「PET」と略称することがある。)、ポリエチレンナフタレート(以下「PEN」と略称することがある。)等のポリエステル、ポリカーボネート(以下「PC」と略称することがある。)、ポリメチルメタクリレート(PMMA)等のアクリル、環状ポリオレフィン、トリアセチルセルロース(TAC)、ポリエーテルサルファイド(PES)、ポリエーテルケトン、ポリイミド等が挙げられる。中でも、ポリエチレンテレフタレート、ポリエチレンナフタレートが好ましく、安価なポリエチレンテレフタレートが特に好ましい。 When a film made of a plastic material is used as the support, examples of the plastic material include polyethylene terephthalate (hereinafter sometimes abbreviated as “PET”) and polyethylene naphthalate (hereinafter abbreviated as “PEN”). .) Polyester, polycarbonate (hereinafter sometimes abbreviated as “PC”), polymethyl methacrylate (PMMA) and other acrylics, cyclic polyolefin, triacetyl cellulose (TAC), polyether sulfide (PES), polyether Examples include ketones and polyimides. Among these, polyethylene terephthalate and polyethylene naphthalate are preferable, and inexpensive polyethylene terephthalate is particularly preferable.
支持体として金属箔を使用する場合、金属箔としては、例えば、銅箔、アルミニウム箔等が挙げられ、銅箔が好ましい。銅箔としては、銅の単金属からなる箔を用いてもよく、銅と他の金属(例えば、スズ、クロム、銀、マグネシウム、ニッケル、ジルコニウム、ケイ素、チタン等)との合金からなる箔を用いてもよい。 When using metal foil as a support body, as metal foil, copper foil, aluminum foil, etc. are mentioned, for example, Copper foil is preferable. As the copper foil, a foil made of a single metal of copper may be used, and a foil made of an alloy of copper and another metal (for example, tin, chromium, silver, magnesium, nickel, zirconium, silicon, titanium, etc.). It may be used.
支持体は、樹脂組成物層と接合する面にマット処理、コロナ処理、帯電防止処理を施してあってもよい。 The support may be subjected to mat treatment, corona treatment, and antistatic treatment on the surface to be bonded to the resin composition layer.
また、支持体としては、樹脂組成物層と接合する面に離型層を有する離型層付き支持体を使用してもよい。離型層付き支持体の離型層に使用する離型剤としては、例えば、アルキド樹脂、ポリオレフィン樹脂、ウレタン樹脂、及びシリコーン樹脂からなる群から選択される1種以上の離型剤が挙げられる。離型層付き支持体は、市販品を用いてもよく、例えば、アルキド樹脂系離型剤を主成分とする離型層を有するPETフィルムである、リンテック(株)製の「SK−1」、「AL−5」、「AL−7」、東レ(株)製「ルミラーT6AM」、「ルミラーR80」等が挙げられる。 Moreover, as a support body, you may use the support body with a release layer which has a release layer in the surface joined to a resin composition layer. Examples of the release agent used for the release layer of the support with a release layer include one or more release agents selected from the group consisting of alkyd resins, polyolefin resins, urethane resins, and silicone resins. . As the support with a release layer, a commercially available product may be used. For example, “SK-1” manufactured by Lintec Corporation, which is a PET film having a release layer mainly composed of an alkyd resin release agent. , “AL-5”, “AL-7”, “Lumirror T6AM” manufactured by Toray Industries, Inc., “Lumirror R80”, and the like.
支持体の厚みとしては、特に限定されないが、5μm〜75μmの範囲が好ましく、10μm〜60μmの範囲がより好ましい。なお、離型層付き支持体を使用する場合、離型層付き支持体全体の厚さが上記範囲であることが好ましい。 Although it does not specifically limit as thickness of a support body, The range of 5 micrometers-75 micrometers is preferable, and the range of 10 micrometers-60 micrometers is more preferable. In addition, when using a support body with a release layer, it is preferable that the thickness of the whole support body with a release layer is the said range.
樹脂シートは、例えば、有機溶剤に樹脂組成物を溶解した樹脂ワニスを調製し、この樹脂ワニスを、ダイコーター等を用いて支持体上に塗布し、更に乾燥させて樹脂組成物層を形成させることにより製造することができる。 The resin sheet is prepared by, for example, preparing a resin varnish in which a resin composition is dissolved in an organic solvent, applying the resin varnish on a support using a die coater or the like, and further drying to form a resin composition layer. Can be manufactured.
有機溶剤としては、例えば、アセトン、メチルエチルケトン(MEK)及びシクロヘキサノン等のケトン類、酢酸エチル、酢酸ブチル、セロソルブアセテート、プロピレングリコールモノメチルエーテルアセテート及びカルビトールアセテート等の酢酸エステル類、セロソルブ及びブチルカルビトール等のカルビトール類、トルエン及びキシレン等の芳香族炭化水素類、ジメチルホルムアミド、ジメチルアセトアミド(DMAc)及びN−メチルピロリドン等のアミド系溶剤等を挙げることができる。有機溶剤は1種単独で使用してもよく、2種以上を組み合わせて使用してもよい。 Examples of the organic solvent include ketones such as acetone, methyl ethyl ketone (MEK) and cyclohexanone, acetates such as ethyl acetate, butyl acetate, cellosolve acetate, propylene glycol monomethyl ether acetate and carbitol acetate, cellosolve and butyl carbitol, etc. Carbitols, aromatic hydrocarbons such as toluene and xylene, amide solvents such as dimethylformamide, dimethylacetamide (DMAc), and N-methylpyrrolidone. An organic solvent may be used individually by 1 type, and may be used in combination of 2 or more type.
乾燥は、加熱、熱風吹きつけ等の公知の方法により実施してよい。乾燥条件は特に限定されないが、樹脂組成物層中の有機溶剤の含有量が10質量%以下、好ましくは5質量%以下となるように乾燥させる。樹脂ワニス中の有機溶剤の沸点によっても異なるが、例えば30質量%〜60質量%の有機溶剤を含む樹脂ワニスを用いる場合、50℃〜150℃で3分間〜10分間乾燥させることにより、樹脂組成物層を形成することができる。 Drying may be performed by a known method such as heating or hot air blowing. The drying conditions are not particularly limited, but the drying is performed so that the content of the organic solvent in the resin composition layer is 10% by mass or less, preferably 5% by mass or less. Depending on the boiling point of the organic solvent in the resin varnish, for example, when using a resin varnish containing 30% by mass to 60% by mass of the organic solvent, the resin composition is dried at 50 ° C. to 150 ° C. for 3 minutes to 10 minutes. A physical layer can be formed.
樹脂シートにおいて、樹脂組成物層の支持体と接合していない面(即ち、支持体とは反対側の面)には、支持体に準じた保護フィルムをさらに積層することができる。保護フィルムの厚さは、特に限定されるものではないが、例えば、1μm〜40μmである。保護フィルムを積層することにより、樹脂組成物層の表面へのゴミ等の付着やキズを防止することができる。樹脂シートは、ロール状に巻きとって保存することが可能である。樹脂シートが保護フィルムを有する場合、保護フィルムを剥がすことによって使用可能となる。 In the resin sheet, a protective film according to the support can be further laminated on the surface of the resin composition layer that is not bonded to the support (that is, the surface opposite to the support). Although the thickness of a protective film is not specifically limited, For example, they are 1 micrometer-40 micrometers. By laminating the protective film, it is possible to prevent dust and the like from being attached to the surface of the resin composition layer and scratches. The resin sheet can be stored in a roll. When the resin sheet has a protective film, it can be used by peeling off the protective film.
樹脂シートにおける樹脂組成物層の最低溶融粘度は、良好な配線埋め込み性を得る観点から、好ましくは12000poise(1200Pa・s)以下、より好ましくは10000poise(1000Pa・s)以下、さらに好ましくは8000poise(800Pa・s)以下、5000poise(500Pa・s)以下、又は4000poise(400Pa・s)以下である。該最低溶融粘度の下限は、樹脂組成物層が薄くとも厚みを安定して維持するという観点から、1000poise(100Pa・s)以上が好ましく、1500poise(150Pa・s)以上がより好ましく、2000poise(200Pa・s)以上がさらに好ましい。 The minimum melt viscosity of the resin composition layer in the resin sheet is preferably 12000 poise (1200 Pa · s) or less, more preferably 10,000 poise (1000 Pa · s) or less, and even more preferably 8000 poise (800 Pa) from the viewpoint of obtaining good wiring embedding properties. S) or less, 5000 poise (500 Pa · s) or less, or 4000 poise (400 Pa · s) or less. The lower limit of the minimum melt viscosity is preferably 1000 poise (100 Pa · s) or more, more preferably 1500 poise (150 Pa · s) or more, and 2000 poise (200 Pa · s) from the viewpoint of stably maintaining the thickness even if the resin composition layer is thin. -S) or more is more preferable.
樹脂組成物層の最低溶融粘度とは、樹脂組成物層の樹脂が溶融した際に樹脂組成物層が呈する最低の粘度をいう。詳細には、一定の昇温速度で樹脂組成物層を加熱して樹脂を溶融させると、初期の段階は溶融粘度が温度上昇とともに低下し、その後、ある程度を超えると温度上昇とともに溶融粘度が上昇する。最低溶融粘度とは、斯かる極小点の溶融粘度をいう。樹脂組成物層の最低溶融粘度は、動的粘弾性法により測定することができ、例えば、後述する<最低溶融粘度の測定>に記載の方法に従って測定することができる。 The minimum melt viscosity of the resin composition layer refers to the minimum viscosity exhibited by the resin composition layer when the resin of the resin composition layer is melted. Specifically, when the resin composition layer is heated at a constant temperature increase rate to melt the resin, the melt viscosity decreases in the initial stage as the temperature rises, and then exceeds a certain level, the melt viscosity increases as the temperature rises. To do. The minimum melt viscosity refers to the melt viscosity at such a minimum point. The minimum melt viscosity of the resin composition layer can be measured by a dynamic viscoelastic method, and can be measured, for example, according to the method described in <Measurement of minimum melt viscosity> described later.
[硬化物]
本発明の樹脂シートの樹脂組成物層を熱硬化させて得られる硬化物は、測定周波数10GHz、23℃における誘電正接が0.006以下であり、かつ、測定周波数10GHz、150℃における誘電正接が0.01以下である。本発明によれば、樹脂組成物層の硬化物が上記のような特定の誘電正接を満たすことで薄膜絶縁性に優れた絶縁層をもたらすことができる。
[Hardened product]
The cured product obtained by thermally curing the resin composition layer of the resin sheet of the present invention has a dielectric loss tangent at a measurement frequency of 10 GHz and 23 ° C. of 0.006 or less, and a dielectric loss tangent at a measurement frequency of 10 GHz and 150 ° C. 0.01 or less. According to this invention, the hardened | cured material of a resin composition layer can bring about the insulating layer excellent in thin film insulation by satisfy | filling the above specific dielectric loss tangent.
上述のような特定の誘電正接を満たす樹脂組成物層の硬化物は、樹脂組成物中に含まれる成分(例えばエポキシ樹脂及び硬化剤等)として、純度の高い樹脂を用いたり、加水分解しにくい樹脂を用いたり、耐熱性が高い樹脂を用いたり、疎水性の高い樹脂(例えば、活性エステル系硬化剤やオリゴフェニレンエーテル等)を用いることなどにより実現しうる。 The cured product of the resin composition layer satisfying the specific dielectric loss tangent as described above uses a high-purity resin or is not easily hydrolyzed as a component (for example, an epoxy resin and a curing agent) contained in the resin composition. It can be realized by using a resin, using a resin having high heat resistance, or using a resin having high hydrophobicity (for example, an active ester curing agent or oligophenylene ether).
本発明の樹脂シートの樹脂組成物層の熱硬化条件は特に限定されず、例えば、後述するプリント配線板の絶縁層を形成するに際して通常採用される条件を使用してよい。また、樹脂組成物層を熱硬化させる前に予備加熱をしてもよく、熱硬化条件における加熱は予備加熱を含めて複数回行ってもよい。熱硬化条件の一例として、まず樹脂組成物層を100℃で30分間、次いで180℃で30分間、さらに200℃で90分間熱硬化させる。 The thermosetting conditions of the resin composition layer of the resin sheet of the present invention are not particularly limited, and for example, conditions usually employed when forming an insulating layer of a printed wiring board described later may be used. In addition, the resin composition layer may be preheated before thermosetting, and the heating under the thermosetting conditions may be performed a plurality of times including preheating. As an example of heat curing conditions, first, the resin composition layer is thermally cured at 100 ° C. for 30 minutes, then at 180 ° C. for 30 minutes, and further at 200 ° C. for 90 minutes.
本発明の樹脂シートの樹脂組成物層の硬化物(例えば、樹脂組成物層を100℃で30分間、次いで180℃で30分間、さらに200℃で90分間熱硬化させて得られる硬化物)の測定周波数10GHz、23℃における誘電正接は、薄膜絶縁性に優れた絶縁層をもたらすことができるという観点から、0.005以下であるのが好ましく、0.004以下であるのがより好ましく、0.003以下であるのがさらに好ましい。 Cured product of the resin composition layer of the resin sheet of the present invention (for example, a cured product obtained by thermally curing the resin composition layer at 100 ° C. for 30 minutes, then at 180 ° C. for 30 minutes, and further at 200 ° C. for 90 minutes) The dielectric loss tangent at a measurement frequency of 10 GHz and 23 ° C. is preferably 0.005 or less, more preferably 0.004 or less, from the viewpoint that an insulating layer excellent in thin film insulation can be provided. More preferably, it is 0.003 or less.
本発明の樹脂シートの樹脂組成物層の硬化物(例えば、樹脂組成物層を100℃で30分間、次いで180℃で30分間、さらに200℃で90分間熱硬化させて得られる硬化物)の測定周波数10GHz、150℃における誘電正接は、薄膜絶縁性に優れた絶縁層をもたらすことができるという観点から、0.009以下であるのが好ましく、0.008以下であるのがより好ましく、0.007以下であるのがさらに好ましい。 Cured product of the resin composition layer of the resin sheet of the present invention (for example, a cured product obtained by thermally curing the resin composition layer at 100 ° C. for 30 minutes, then at 180 ° C. for 30 minutes, and further at 200 ° C. for 90 minutes) The dielectric loss tangent at a measurement frequency of 10 GHz and 150 ° C. is preferably 0.009 or less, more preferably 0.008 or less, from the viewpoint that an insulating layer having excellent thin film insulation can be provided. More preferably, it is 0.007 or less.
樹脂組成物層の硬化物の測定周波数10GHz、23℃における誘電正接及び測定周波数10GHz、150℃における誘電正接は、例えば、後述する<硬化物の誘電正接の測定>に記載の方法に従って測定することができる。 The dielectric loss tangent of the cured product of the resin composition layer at a measurement frequency of 10 GHz and 23 ° C. and the dielectric loss tangent at a measurement frequency of 10 GHz and 150 ° C. are measured, for example, according to the method described in <Measurement of dielectric loss tangent of cured product> described later. Can do.
本発明の樹脂シートの樹脂組成物層を熱硬化させて得られる硬化物(例えば、樹脂組成物層を100℃で30分間、次いで180℃で30分間熱硬化させて得られる硬化物)の、130℃、85RH%、3.3V印加環境下で100時間経過後の絶縁抵抗値は良好な結果を示す。即ち良好な絶縁抵抗値を示す絶縁層をもたらす。該絶縁抵抗値の上限は、好ましくは1012Ω以下、より好ましくは1011Ω以下、さらに好ましくは1010Ω以下である。下限については特に限定されないが、好ましくは106Ω以上、より好ましくは107Ω以上である。絶縁抵抗値の測定は、後述する<絶縁信頼性の評価、導体層間の絶縁層の厚みの測定>に記載の方法に従って測定することができる。 A cured product obtained by thermally curing the resin composition layer of the resin sheet of the present invention (for example, a cured product obtained by thermally curing the resin composition layer at 100 ° C. for 30 minutes and then at 180 ° C. for 30 minutes), The insulation resistance value after 100 hours under 130 ° C, 85RH%, 3.3V applied environment shows a good result. That is, an insulating layer exhibiting a good insulation resistance value is provided. The upper limit of the insulation resistance value is preferably 10 12 Ω or less, more preferably 10 11 Ω or less, and further preferably 10 10 Ω or less. The lower limit is not particularly limited, but is preferably 10 6 Ω or more, more preferably 10 7 Ω or more. The insulation resistance value can be measured according to the method described in <Evaluation of insulation reliability, measurement of thickness of insulating layer between conductor layers> described later.
本発明には、樹脂組成物層の硬化物であって、測定周波数10GHz、23℃における誘電正接が0.006以下であり、かつ、測定周波数10GHz、150℃における誘電正接が0.01以下である、硬化物も含まれる。硬化物は、本発明の樹脂シートの樹脂組成物層の硬化物と同様の構成である。また硬化物を形成するための樹脂組成物の硬化条件は、樹脂シートの硬化条件と同様である。本発明の硬化物(例えば、樹脂組成物層を100℃で30分間、次いで180℃で30分間、さらに200℃で90分間熱硬化させて得られる硬化物)における、測定周波数10GHz、23℃における誘電正接の好ましい範囲および測定周波数10GHz、150℃における誘電正接の好ましい範囲は、上述した樹脂シートの硬化物と同様である。硬化物の絶縁抵抗値の好ましい範囲についても、上述した樹脂シートの硬化物と同様である。 In the present invention, the cured product of the resin composition layer has a dielectric loss tangent of 0.006 or less at a measurement frequency of 10 GHz and 23 ° C., and a dielectric loss tangent of 0.01 or less at a measurement frequency of 10 GHz and 150 ° C. Some cured products are also included. A hardened | cured material is the structure similar to the hardened | cured material of the resin composition layer of the resin sheet of this invention. Moreover, the curing conditions of the resin composition for forming the cured product are the same as the curing conditions of the resin sheet. In a cured product of the present invention (for example, a cured product obtained by thermally curing a resin composition layer at 100 ° C. for 30 minutes, then at 180 ° C. for 30 minutes, and further at 200 ° C. for 90 minutes) at a measurement frequency of 10 GHz and 23 ° C. The preferred range of dielectric loss tangent and the preferred range of dielectric loss tangent at a measurement frequency of 10 GHz and 150 ° C. are the same as those of the cured resin sheet described above. The preferable range of the insulation resistance value of the cured product is also the same as that of the cured product of the resin sheet described above.
本発明の樹脂シートは、高温における誘電正接を低くすることができるので、高温環境下でも電気信号に起因する熱やノイズの発生を抑制することが可能である。そのため、本発明の樹脂シートは、高周波帯域で使用される、プリント配線板の絶縁層用に好適に使用することができる。高周波帯域とは、1GHz以上(好ましくは1.5GHz以上、より好ましくは3GHz以上)の高周波帯域を意味する。 Since the resin sheet of the present invention can reduce the dielectric loss tangent at high temperatures, it is possible to suppress the generation of heat and noise due to electrical signals even in a high temperature environment. Therefore, the resin sheet of this invention can be used conveniently for the insulating layer of a printed wiring board used in a high frequency band. The high frequency band means a high frequency band of 1 GHz or more (preferably 1.5 GHz or more, more preferably 3 GHz or more).
[プリント配線板、プリント配線板の製造方法]
本発明のプリント配線板は、本発明の樹脂シートの樹脂組成物層の硬化物により形成された絶縁層、第1の導体層、及び第2の導体層を含む。本発明のプリント配線基板は、本発明の硬化物を絶縁層として備えるものであってもよい。絶縁層は、第1の導体層と第2の導体層との間に設けられていて、第1の導体層と第2の導体層とを絶縁している(導体層は配線層ともいう)。本発明の樹脂シートの樹脂組成物層の硬化物により形成された絶縁層は薄膜絶縁性に優れることから、第1及び第2の導体層間の絶縁層の厚みが6μm以下であっても絶縁性に優れる。
[Printed wiring board, printed wiring board manufacturing method]
The printed wiring board of the present invention includes an insulating layer, a first conductor layer, and a second conductor layer formed from a cured product of the resin composition layer of the resin sheet of the present invention. The printed wiring board of the present invention may be provided with the cured product of the present invention as an insulating layer. The insulating layer is provided between the first conductor layer and the second conductor layer, and insulates the first conductor layer and the second conductor layer (the conductor layer is also referred to as a wiring layer). . Since the insulating layer formed from the cured product of the resin composition layer of the resin sheet of the present invention is excellent in thin film insulating properties, it is insulative even if the thickness of the insulating layer between the first and second conductor layers is 6 μm or less. Excellent.
第1及び第2の導体層間の絶縁層の厚みは、好ましくは6μm以下、より好ましくは5.5μm以下、さらに好ましくは5μm以下である。下限については特に限定されないが0.1μm以上とし得る。第1及び第2の導体層間の絶縁層の厚みとは、図1に一例を示したように、第1の導体層5の主面51と第2の導体層6の主面61間の絶縁層7の厚みt1のことをいう。第1及び第2の導体層は絶縁層を介して隣り合う導体層であり、主面51及び主面61は互いに向き合っている。第1及び第2の導体層間の絶縁層の厚みは、後述する<絶縁信頼性の評価、導体層間の絶縁層の厚みの測定>に記載の方法に従って測定することができる。
なお、絶縁層全体の厚みt2は、好ましくは20μm以下、より好ましくは15μm以下、さらに好ましくは12μm以下である。下限については特に限定されないが1μm以上とし得る。
The thickness of the insulating layer between the first and second conductor layers is preferably 6 μm or less, more preferably 5.5 μm or less, and even more preferably 5 μm or less. The lower limit is not particularly limited, but may be 0.1 μm or more. The thickness of the insulating layer between the first and second conductor layers is the insulation between the
The total thickness t2 of the insulating layer is preferably 20 μm or less, more preferably 15 μm or less, and even more preferably 12 μm or less. The lower limit is not particularly limited, but may be 1 μm or more.
本発明のプリント配線板は、上述の樹脂シートを用いて、下記(I)及び(II)の工程を含む方法により製造することができる。
(I)内層基板上に、樹脂シートの樹脂組成物層が内層基板と接合するように積層する工程
(II)樹脂組成物層を熱硬化して絶縁層を形成する工程
The printed wiring board of this invention can be manufactured by the method including the process of following (I) and (II) using the above-mentioned resin sheet.
(I) The process of laminating | stacking so that the resin composition layer of a resin sheet may join to an inner layer board | substrate on an inner layer board | substrate (II) The process of thermosetting a resin composition layer and forming an insulating layer
工程(I)で用いる「内層基板」とは、主として、ガラスエポキシ基板、金属基板、ポリエステル基板、ポリイミド基板、BTレジン基板、熱硬化型ポリフェニレンエーテル基板等の基板、又は該基板の片面又は両面にパターン加工された導体層(回路)が形成された回路基板をいう。またプリント配線板を製造する際に、さらに絶縁層及び/又は導体層が形成されるべき中間製造物の内層回路基板も本発明でいう「内層基板」に含まれる。プリント配線板が部品内蔵回路板である場合、部品を内蔵した内層基板を使用し得る。 The “inner layer substrate” used in step (I) is mainly a glass epoxy substrate, a metal substrate, a polyester substrate, a polyimide substrate, a BT resin substrate, a thermosetting polyphenylene ether substrate, or one or both surfaces of the substrate. A circuit board on which a patterned conductor layer (circuit) is formed. Further, when the printed wiring board is manufactured, an inner layer circuit board of an intermediate product in which an insulating layer and / or a conductor layer is further formed is also included in the “inner layer board” in the present invention. When the printed wiring board is a circuit board with a built-in component, an inner layer board with a built-in component can be used.
内層基板と樹脂シートの積層は、例えば、支持体側から樹脂シートを内層基板に加熱圧着することにより行うことができる。樹脂シートを内層基板に加熱圧着する部材(以下、「加熱圧着部材」ともいう。)としては、例えば、加熱された金属板(SUS鏡板等)又は金属ロール(SUSロール)等が挙げられる。なお、加熱圧着部材を樹脂シートに直接プレスするのではなく、内層基板の表面凹凸に樹脂シートが十分に追随するよう、耐熱ゴム等の弾性材を介してプレスするのが好ましい。 Lamination | stacking of an inner layer board | substrate and a resin sheet can be performed by heat-pressing a resin sheet to an inner layer board | substrate from the support body side, for example. Examples of the member that heat-presses the resin sheet to the inner layer substrate (hereinafter, also referred to as “heat-pressing member”) include a heated metal plate (SUS end plate) or a metal roll (SUS roll). It is preferable that the thermocompression-bonding member is not pressed directly on the resin sheet, but is pressed through an elastic material such as heat-resistant rubber so that the resin sheet sufficiently follows the surface irregularities of the inner layer substrate.
内層基板と樹脂シートの積層は、真空ラミネート法により実施してよい。真空ラミネート法において、加熱圧着温度は、好ましくは60℃〜160℃、より好ましくは80℃〜140℃の範囲であり、加熱圧着圧力は、好ましくは0.098MPa〜1.77MPa、より好ましくは0.29MPa〜1.47MPaの範囲であり、加熱圧着時間は、好ましくは20秒間〜400秒間、より好ましくは30秒間〜300秒間の範囲である。積層は、好ましくは圧力26.7hPa以下の減圧条件下で実施する。 Lamination of the inner layer substrate and the resin sheet may be performed by a vacuum laminating method. In the vacuum laminating method, the thermocompression bonding temperature is preferably in the range of 60 ° C to 160 ° C, more preferably 80 ° C to 140 ° C, and the thermocompression bonding pressure is preferably 0.098 MPa to 1.77 MPa, more preferably 0. The thermocompression bonding time is preferably in the range of 20 seconds to 400 seconds, more preferably in the range of 30 seconds to 300 seconds. Lamination is preferably performed under reduced pressure conditions with a pressure of 26.7 hPa or less.
積層は、市販の真空ラミネーターによって行うことができる。市販の真空ラミネーターとしては、例えば、(株)名機製作所製の真空加圧式ラミネーター、ニッコー・マテリアルズ(株)製のバキュームアップリケーター等が挙げられる。 Lamination can be performed with a commercially available vacuum laminator. Examples of the commercially available vacuum laminator include a vacuum pressure laminator manufactured by Meiki Seisakusho Co., Ltd., a vacuum applicator manufactured by Nikko Materials Co., Ltd., and the like.
積層の後に、常圧下(大気圧下)、例えば、加熱圧着部材を支持体側からプレスすることにより、積層された樹脂シートの平滑化処理を行ってもよい。平滑化処理のプレス条件は、上記積層の加熱圧着条件と同様の条件とすることができる。平滑化処理は、市販のラミネーターによって行うことができる。なお、積層と平滑化処理は、上記の市販の真空ラミネーターを用いて連続的に行ってもよい。 After lamination, the laminated resin sheets may be smoothed under normal pressure (atmospheric pressure), for example, by pressing a thermocompression bonding member from the support side. The pressing conditions for the smoothing treatment can be the same conditions as the thermocompression bonding conditions for the laminate. The smoothing treatment can be performed with a commercially available laminator. In addition, you may perform lamination | stacking and a smoothing process continuously using said commercially available vacuum laminator.
支持体は、工程(I)と工程(II)の間に除去してもよく、工程(II)の後に除去してもよい。 The support may be removed between step (I) and step (II), or may be removed after step (II).
工程(II)において、樹脂組成物層を熱硬化して絶縁層を形成する。 In step (II), the resin composition layer is thermally cured to form an insulating layer.
樹脂組成物層の熱硬化条件は特に限定されず、プリント配線板の絶縁層を形成するに際して通常採用される条件を使用してよい。 The thermosetting conditions for the resin composition layer are not particularly limited, and the conditions normally employed when forming the insulating layer of the printed wiring board may be used.
例えば、樹脂組成物層の熱硬化条件は、樹脂組成物の種類等によっても異なるが、硬化温度は120℃〜240℃の範囲(好ましくは150℃〜220℃の範囲、より好ましくは170℃〜200℃の範囲)、硬化時間は5分間〜120分間の範囲(好ましくは10分間〜100分間、より好ましくは15分間〜90分間)とすることができる。 For example, although the thermosetting conditions of the resin composition layer vary depending on the type of the resin composition, the curing temperature is in the range of 120 ° C to 240 ° C (preferably in the range of 150 ° C to 220 ° C, more preferably in the range of 170 ° C to 200 ° C.) and the curing time can be in the range of 5 minutes to 120 minutes (preferably 10 minutes to 100 minutes, more preferably 15 minutes to 90 minutes).
樹脂組成物層を熱硬化させる前に、樹脂組成物層を硬化温度よりも低い温度にて予備加熱してもよい。例えば、樹脂組成物層を熱硬化させるのに先立ち、50℃以上120℃未満(好ましくは60℃以上110℃以下、より好ましくは70℃以上100℃以下)の温度にて、樹脂組成物層を5分間以上(好ましくは5分間〜150分間、より好ましくは15分間〜120分間)予備加熱してもよい。 Before the resin composition layer is thermally cured, the resin composition layer may be preheated at a temperature lower than the curing temperature. For example, prior to thermosetting the resin composition layer, the resin composition layer is formed at a temperature of 50 ° C. or higher and lower than 120 ° C. (preferably 60 ° C. or higher and 110 ° C. or lower, more preferably 70 ° C. or higher and 100 ° C. or lower). Preheating may be performed for 5 minutes or more (preferably 5 minutes to 150 minutes, more preferably 15 minutes to 120 minutes).
プリント配線板を製造するに際しては、(III)絶縁層に穴あけする工程、(IV)絶縁層を粗化処理する工程、(V)導体層を形成する工程をさらに実施してもよい。これらの工程(III)乃至(V)は、プリント配線板の製造に用いられる、当業者に公知の各種方法に従って実施してよい。なお、支持体を工程(II)の後に除去する場合、該支持体の除去は、工程(II)と工程(III)との間、工程(III)と工程(IV)の間、又は工程(IV)と工程(V)との間に実施してよい。また、必要に応じて、工程(II)〜(V)の絶縁層及び導体層の形成を繰り返して実施し、多層配線板を形成してもよい。この場合、それぞれの導体層間の絶縁層の厚み(図1のt1)は上記範囲内であることが好ましい。 When manufacturing a printed wiring board, you may further implement (III) the process of drilling in an insulating layer, (IV) the process of roughening an insulating layer, and (V) the process of forming a conductor layer. These steps (III) to (V) may be carried out according to various methods known to those skilled in the art, which are used in the production of printed wiring boards. In addition, when removing a support body after process (II), removal of this support body is performed between process (II) and process (III), between process (III) and process (IV), or process ( It may be carried out between IV) and step (V). Moreover, if necessary, the multilayer wiring board may be formed by repeatedly forming the insulating layer and the conductor layer in the steps (II) to (V). In this case, the thickness of the insulating layer between the respective conductor layers (t1 in FIG. 1) is preferably within the above range.
工程(III)は、絶縁層に穴あけする工程であり、これにより絶縁層にビアホール、スルーホール等のホールを形成することができる。工程(III)は、絶縁層の形成に使用した樹脂組成物の組成等に応じて、例えば、ドリル、レーザー、プラズマ等を使用して実施してよい。ホールの寸法や形状は、プリント配線板のデザインに応じて適宜決定してよい。 Step (III) is a step of making a hole in the insulating layer, whereby holes such as via holes and through holes can be formed in the insulating layer. Step (III) may be performed using, for example, a drill, laser, plasma, or the like, depending on the composition of the resin composition used for forming the insulating layer. The dimensions and shape of the holes may be appropriately determined according to the design of the printed wiring board.
工程(IV)は、絶縁層を粗化処理する工程である。粗化処理の手順、条件は特に限定されず、プリント配線板の絶縁層を形成するに際して通常使用される公知の手順、条件を採用することができる。例えば、膨潤液による膨潤処理、酸化剤による粗化処理、中和液による中和処理をこの順に実施して絶縁層を粗化処理することができる。膨潤液としては特に限定されないが、アルカリ溶液、界面活性剤溶液等が挙げられ、好ましくはアルカリ溶液であり、該アルカリ溶液としては、水酸化ナトリウム溶液、水酸化カリウム溶液がより好ましい。市販されている膨潤液としては、例えば、アトテックジャパン(株)製の「スウェリング・ディップ・セキュリガンスP」、「スウェリング・ディップ・セキュリガンスSBU」等が挙げられる。膨潤液による膨潤処理は、特に限定されないが、例えば、30℃〜90℃の膨潤液に絶縁層を1分間〜20分間浸漬することにより行うことができる。絶縁層の樹脂の膨潤を適度なレベルに抑える観点から、40℃〜80℃の膨潤液に絶縁層を5分間〜15分間浸漬させることが好ましい。酸化剤としては、特に限定されないが、例えば、水酸化ナトリウムの水溶液に過マンガン酸カリウムや過マンガン酸ナトリウムを溶解したアルカリ性過マンガン酸溶液が挙げられる。アルカリ性過マンガン酸溶液等の酸化剤による粗化処理は、60℃〜80℃に加熱した酸化剤溶液に絶縁層を10分間〜30分間浸漬させて行うことが好ましい。また、アルカリ性過マンガン酸溶液における過マンガン酸塩の濃度は5質量%〜10質量%が好ましい。市販されている酸化剤としては、例えば、アトテックジャパン(株)製の「コンセントレート・コンパクトCP」、「ドージングソリューション・セキュリガンスP」等のアルカリ性過マンガン酸溶液が挙げられる。また、中和液としては、酸性の水溶液が好ましく、市販品としては、例えば、アトテックジャパン(株)製の「リダクションソリューション・セキュリガントP」が挙げられる。中和液による処理は、酸化剤による粗化処理がなされた処理面を30℃〜80℃の中和液に5分間〜30分間浸漬させることにより行うことができる。作業性等の点から、酸化剤による粗化処理がなされた対象物を、40℃〜70℃の中和液に5分間〜20分間浸漬する方法が好ましい。 Step (IV) is a step of roughening the insulating layer. The procedure and conditions for the roughening treatment are not particularly limited, and known procedures and conditions that are usually used when forming an insulating layer of a printed wiring board can be employed. For example, the insulating layer can be roughened by performing a swelling treatment with a swelling liquid, a roughening treatment with an oxidizing agent, and a neutralization treatment with a neutralizing liquid in this order. Although it does not specifically limit as a swelling liquid, An alkaline solution, surfactant solution, etc. are mentioned, Preferably it is an alkaline solution, As this alkaline solution, a sodium hydroxide solution and a potassium hydroxide solution are more preferable. Examples of commercially available swelling liquids include “Swelling Dip Securigans P” and “Swelling Dip Securigans SBU” manufactured by Atotech Japan Co., Ltd. Although the swelling process by a swelling liquid is not specifically limited, For example, it can perform by immersing an insulating layer for 1 minute-20 minutes in 30 degreeC-90 degreeC swelling liquid. From the viewpoint of suppressing the swelling of the resin in the insulating layer to an appropriate level, it is preferable to immerse the insulating layer in a swelling liquid at 40 ° C. to 80 ° C. for 5 minutes to 15 minutes. Although it does not specifically limit as an oxidizing agent, For example, the alkaline permanganate solution which melt | dissolved potassium permanganate and sodium permanganate in the aqueous solution of sodium hydroxide is mentioned. The roughening treatment with an oxidizing agent such as an alkaline permanganic acid solution is preferably performed by immersing the insulating layer in an oxidizing agent solution heated to 60 to 80 ° C. for 10 to 30 minutes. The concentration of permanganate in the alkaline permanganate solution is preferably 5% by mass to 10% by mass. Examples of commercially available oxidizing agents include alkaline permanganic acid solutions such as “Concentrate Compact CP” and “Dosing Solution Securigans P” manufactured by Atotech Japan Co., Ltd. The neutralizing solution is preferably an acidic aqueous solution. Examples of commercially available products include “Reduction Solution Securigant P” manufactured by Atotech Japan Co., Ltd. The treatment with the neutralizing solution can be performed by immersing the treated surface subjected to the roughening treatment with the oxidizing agent in the neutralizing solution at 30 to 80 ° C. for 5 to 30 minutes. From the viewpoint of workability and the like, a method of immersing an object subjected to roughening treatment with an oxidizing agent in a neutralizing solution at 40 ° C. to 70 ° C. for 5 minutes to 20 minutes is preferable.
一実施形態において、粗化処理後の絶縁層表面の算術平均粗さRaは、好ましくは400nm以下、より好ましくは350nm以下、さらに好ましくは300nm以下、250nm以下、200nm以下、150nm以下、又は100nm以下である。絶縁層表面の算術平均粗さ(Ra)は、非接触型表面粗さ計を用いて測定することができる。非接触型表面粗さ計の具体例としては、ビーコインスツルメンツ社製の「WYKO NT3300」が挙げられる。 In one embodiment, the arithmetic average roughness Ra of the surface of the insulating layer after the roughening treatment is preferably 400 nm or less, more preferably 350 nm or less, further preferably 300 nm or less, 250 nm or less, 200 nm or less, 150 nm or less, or 100 nm or less. It is. The arithmetic average roughness (Ra) of the insulating layer surface can be measured using a non-contact type surface roughness meter. As a specific example of the non-contact type surface roughness meter, “WYKO NT3300” manufactured by Becoins Instruments is cited.
工程(V)は、導体層を形成する工程である。内層基板に導体層が形成されていない場合、工程(V)は第1の導体層を形成する工程であり、内層基板に導体層が形成されている場合、該導体層が第1の導体層であり、工程(V)は第2の導体層を形成する工程である。 Step (V) is a step of forming a conductor layer. When the conductor layer is not formed on the inner layer substrate, the step (V) is a step of forming the first conductor layer. When the conductor layer is formed on the inner layer substrate, the conductor layer is the first conductor layer. Step (V) is a step of forming the second conductor layer.
導体層に使用する導体材料は特に限定されない。好適な実施形態では、導体層は、金、白金、パラジウム、銀、銅、アルミニウム、コバルト、クロム、亜鉛、ニッケル、チタン、タングステン、鉄、スズ及びインジウムからなる群から選択される1種以上の金属を含む。導体層は、単金属層であっても合金層であってもよく、合金層としては、例えば、上記の群から選択される2種以上の金属の合金(例えば、ニッケル・クロム合金、銅・ニッケル合金及び銅・チタン合金)から形成された層が挙げられる。中でも、導体層形成の汎用性、コスト、パターニングの容易性等の観点から、クロム、ニッケル、チタン、アルミニウム、亜鉛、金、パラジウム、銀若しくは銅の単金属層、又はニッケル・クロム合金、銅・ニッケル合金、銅・チタン合金の合金層が好ましく、クロム、ニッケル、チタン、アルミニウム、亜鉛、金、パラジウム、銀若しくは銅の単金属層、又はニッケル・クロム合金の合金層がより好ましく、銅の単金属層が更に好ましい。 The conductor material used for the conductor layer is not particularly limited. In a preferred embodiment, the conductor layer is one or more selected from the group consisting of gold, platinum, palladium, silver, copper, aluminum, cobalt, chromium, zinc, nickel, titanium, tungsten, iron, tin and indium. Contains metal. The conductor layer may be a single metal layer or an alloy layer. As the alloy layer, for example, an alloy of two or more metals selected from the above group (for example, nickel-chromium alloy, copper- A layer formed from a nickel alloy and a copper / titanium alloy). Among them, from the viewpoint of versatility of conductor layer formation, cost, ease of patterning, etc., single metal layer of chromium, nickel, titanium, aluminum, zinc, gold, palladium, silver or copper, or nickel / chromium alloy, copper / An alloy layer of nickel alloy or copper / titanium alloy is preferable, and a single metal layer of chromium, nickel, titanium, aluminum, zinc, gold, palladium, silver or copper, or an alloy layer of nickel / chromium alloy is more preferable, and a single layer of copper is preferable. A metal layer is more preferred.
導体層は、単層構造であっても、異なる種類の金属若しくは合金からなる単金属層又は合金層が2層以上積層した複層構造であってもよい。導体層が複層構造である場合、絶縁層と接する層は、クロム、亜鉛若しくはチタンの単金属層、又はニッケル・クロム合金の合金層であることが好ましい。 The conductor layer may have a single layer structure or a multilayer structure in which two or more single metal layers or alloy layers made of different types of metals or alloys are laminated. When the conductor layer has a multilayer structure, the layer in contact with the insulating layer is preferably a single metal layer of chromium, zinc or titanium, or an alloy layer of nickel / chromium alloy.
導体層の厚さは、所望のプリント配線板のデザインによるが、一般に3μm〜35μm、好ましくは5μm〜30μmである。 Although the thickness of a conductor layer is based on the design of a desired printed wiring board, generally it is 3 micrometers-35 micrometers, Preferably it is 5 micrometers-30 micrometers.
一実施形態において、導体層は、めっきにより形成してよい。例えば、セミアディティブ法、フルアディティブ法等の従来公知の技術により絶縁層の表面にめっきして、所望の配線パターンを有する導体層を形成することができる。以下、導体層をセミアディティブ法により形成する例を示す。 In one embodiment, the conductor layer may be formed by plating. For example, the surface of the insulating layer can be plated by a conventionally known technique such as a semi-additive method or a full additive method to form a conductor layer having a desired wiring pattern. Hereinafter, an example in which the conductor layer is formed by a semi-additive method will be described.
まず、絶縁層の表面に、無電解めっきによりめっきシード層を形成する。次いで、形成されためっきシード層上に、所望の配線パターンに対応してめっきシード層の一部を露出させるマスクパターンを形成する。露出しためっきシード層上に、電解めっきにより金属層を形成した後、マスクパターンを除去する。その後、不要なめっきシード層をエッチング等により除去して、所望の配線パターンを有する導体層を形成することができる。 First, a plating seed layer is formed on the surface of the insulating layer by electroless plating. Next, a mask pattern that exposes a part of the plating seed layer corresponding to a desired wiring pattern is formed on the formed plating seed layer. A metal layer is formed by electrolytic plating on the exposed plating seed layer, and then the mask pattern is removed. Thereafter, an unnecessary plating seed layer can be removed by etching or the like to form a conductor layer having a desired wiring pattern.
本発明の樹脂シートは、配線埋め込み性にも良好な絶縁層をもたらすことから、プリント配線板が部品内蔵回路板である場合にも好適に使用することができる。部品内蔵回路板は公知の製造方法により作製することができる。 Since the resin sheet of the present invention provides an insulating layer having a good wiring embedding property, it can be suitably used even when the printed wiring board is a component built-in circuit board. The component built-in circuit board can be manufactured by a known manufacturing method.
本発明の樹脂シートを用いて製造されるプリント配線板は、本発明の樹脂シートの樹脂組成物層の硬化物である絶縁層と、絶縁層に埋め込まれた埋め込み型配線層と、を備える態様であってもよい。 A printed wiring board manufactured using the resin sheet of the present invention includes an insulating layer that is a cured product of the resin composition layer of the resin sheet of the present invention, and an embedded wiring layer embedded in the insulating layer. It may be.
本発明の樹脂シートを用いて製造されるプリント配線板は、第1及び第2の導体層間の絶縁層の厚みが6μm以下であっても、絶縁信頼性に優れるという特性を示す。130℃、85RH%、3.3V印加環境下で100時間経過後の絶縁抵抗値の上限は、好ましくは1012Ω以下、より好ましくは1011Ω以下、さらに好ましくは1010Ω以下である。下限は特に限定されないが、好ましくは106Ω以上、より好ましくは107Ω以上である。絶縁抵抗値の測定は、後述する<絶縁信頼性の評価、導体層間の絶縁層の厚みの測定>に記載の方法に従って測定することができる。 The printed wiring board manufactured using the resin sheet of the present invention exhibits a characteristic that the insulation reliability is excellent even when the thickness of the insulating layer between the first and second conductor layers is 6 μm or less. The upper limit of the insulation resistance value after 100 hours has elapsed under 130 ° C, 85RH%, 3.3V applied environment is preferably 10 12 Ω or less, more preferably 10 11 Ω or less, and even more preferably 10 10 Ω or less. The lower limit is not particularly limited, but is preferably 10 6 Ω or more, more preferably 10 7 Ω or more. The insulation resistance value can be measured according to the method described in <Evaluation of insulation reliability, measurement of thickness of insulating layer between conductor layers> described later.
[半導体装置]
本発明の半導体装置は、本発明のプリント配線板を含む。本発明の半導体装置は、本発明のプリント配線板を用いて製造することができる。
[Semiconductor device]
The semiconductor device of the present invention includes the printed wiring board of the present invention. The semiconductor device of the present invention can be manufactured using the printed wiring board of the present invention.
半導体装置としては、電気製品(例えば、コンピューター、携帯電話、デジタルカメラ及びテレビ等)及び乗物(例えば、自動二輪車、自動車、電車、船舶及び航空機等)等に供される各種半導体装置が挙げられる。 Examples of the semiconductor device include various semiconductor devices used for electrical products (for example, computers, mobile phones, digital cameras, and televisions) and vehicles (for example, motorcycles, automobiles, trains, ships, and aircrafts).
本発明の半導体装置は、プリント配線板の導通箇所に、部品(半導体チップ)を実装することにより製造することができる。「導通箇所」とは、「プリント配線板における電気信号を伝える箇所」であって、その場所は表面であっても、埋め込まれた箇所であってもいずれでも構わない。また、半導体チップは半導体を材料とする電気回路素子であれば特に限定されない。 The semiconductor device of the present invention can be manufactured by mounting a component (semiconductor chip) on a conductive portion of a printed wiring board. The “conduction location” is a “location where an electrical signal is transmitted on a printed wiring board”, and the location may be a surface or an embedded location. The semiconductor chip is not particularly limited as long as it is an electric circuit element made of a semiconductor.
本発明の半導体装置を製造する際の半導体チップの実装方法は、半導体チップが有効に機能しさえすれば、特に限定されないが、具体的には、ワイヤボンディング実装方法、フリップチップ実装方法、バンプなしビルドアップ層(BBUL)による実装方法、異方性導電フィルム(ACF)による実装方法、非導電性フィルム(NCF)による実装方法、等が挙げられる。ここで、「バンプなしビルドアップ層(BBUL)による実装方法」とは、「半導体チップをプリント配線板の凹部に直接埋め込み、半導体チップとプリント配線板上の配線とを接続させる実装方法」のことである。 The semiconductor chip mounting method for manufacturing the semiconductor device of the present invention is not particularly limited as long as the semiconductor chip functions effectively, but specifically, a wire bonding mounting method, a flip chip mounting method, and no bumps. Examples include a mounting method using a build-up layer (BBUL), a mounting method using an anisotropic conductive film (ACF), and a mounting method using a non-conductive film (NCF). Here, “a mounting method using a build-up layer without a bump (BBUL)” means “a mounting method in which a semiconductor chip is directly embedded in a recess of a printed wiring board and the semiconductor chip and wiring on the printed wiring board are connected”. It is.
以下、本発明を実施例により具体的に説明するが、本発明はこれらの実施例に限定されるものではない。なお、以下の記載において、「部」及び「%」は、別途明示のない限り、それぞれ「質量部」及び「質量%」を意味する。
以下、本発明を実施例により具体的に説明するが、本発明はこれらの実施例に限定されるものではない。なお、以下の記載において、「部」及び「%」は、別途明示のない限り、それぞれ「質量部」及び「質量%」を意味する。
EXAMPLES The present invention will be specifically described below with reference to examples, but the present invention is not limited to these examples. In the following description, “parts” and “%” mean “parts by mass” and “% by mass”, respectively, unless otherwise specified.
EXAMPLES The present invention will be specifically described below with reference to examples, but the present invention is not limited to these examples. In the following description, “parts” and “%” mean “parts by mass” and “% by mass”, respectively, unless otherwise specified.
[無機充填材の物性値の測定方法]
まずは実施例及び比較例で用いた無機充填材の物性値の測定方法について説明する。
[Method for measuring physical properties of inorganic filler]
First, a method for measuring physical properties of inorganic fillers used in Examples and Comparative Examples will be described.
<平均粒径の測定>
無機充填材100mg、分散剤(サンノプコ(株)製「SN9228」)0.1g、メチルエチルケトン10gをバイアル瓶に秤取り、超音波にて20分間分散した。レーザー折式粒度分布測定装置((株)島津製作所製「SALD−2200」)を使用して、回分セル方式で粒度分布を測定し、メディアン径による平均粒径を算出した。
<Measurement of average particle size>
100 mg of inorganic filler, 0.1 g of a dispersant (“SN9228” manufactured by San Nopco Co., Ltd.) and 10 g of methyl ethyl ketone were weighed in a vial and dispersed with an ultrasonic wave for 20 minutes. A particle size distribution was measured by a batch cell method using a laser folding particle size distribution measuring device (“SALD-2200” manufactured by Shimadzu Corporation), and an average particle size based on the median diameter was calculated.
<比表面積の測定>
BET全自動比表面積測定装置((株)マウンテック製「Macsorb HM−1210」)を使用して、無機充填材の比表面積を測定した。
<Measurement of specific surface area>
The specific surface area of the inorganic filler was measured using a BET fully automatic specific surface area measuring device ("Macsorb HM-1210" manufactured by Mountec Co., Ltd.).
<カーボン量の測定>
無機充填材の単位表面積当たりのカーボン量は、以下の手順に従って測定した。調製例で調製した無機充填材に、溶剤として十分な量のMEKを加えて、25℃で5分間超音波洗浄した。次いで、上澄液を除去し、固形分を乾燥させた。得られた固体について、カーボン分析計((株)堀場製作所製「EMIA−320V」)を用いてカーボン量を測定した。カーボン量の測定値と、使用した無機充填材の質量及び比表面積とに基づいて、無機充填材の単位表面積当たりのカーボン量を算出した。
<Measurement of carbon content>
The amount of carbon per unit surface area of the inorganic filler was measured according to the following procedure. A sufficient amount of MEK as a solvent was added to the inorganic filler prepared in Preparation Example, and ultrasonic cleaning was performed at 25 ° C. for 5 minutes. Subsequently, the supernatant was removed and the solid content was dried. About the obtained solid, carbon amount was measured using the carbon analyzer ("EMIA-320V" by Horiba, Ltd.). Based on the measured value of the carbon amount and the mass and specific surface area of the inorganic filler used, the carbon amount per unit surface area of the inorganic filler was calculated.
<樹脂シートの作製(実施例1〜3、比較例1〜2)>
以下の手順により調製した樹脂組成物(樹脂ワニス)を用いて、実施例及び比較例の樹脂シートを作製した。
<Production of Resin Sheet (Examples 1-3, Comparative Examples 1-2)>
The resin sheet of an Example and a comparative example was produced using the resin composition (resin varnish) prepared with the following procedures.
(樹脂組成物1の調製)
ビスフェノールA型エポキシ樹脂(新日鉄住金化学(株)製「YD−8125G」、エポキシ当量約174)3部、ビキシレノール型エポキシ樹脂(三菱化学(株)製「YX4000HK」、エポキシ当量約185)3部、ビスフェノールAF型エポキシ樹脂(三菱化学(株)製「YL7760」、エポキシ当量約238)8部、ナフタレン型エポキシ樹脂(新日鉄住金化学(株)製「ESN475V」、エポキシ当量約330)12部、フェノキシ樹脂(三菱化学(株)製「YX7553BH30」、固形分30質量%のシクロヘキサノン:メチルエチルケトン(MEK)の1:1溶液)10部、及びソルベントナフサ12部及びシクロヘキサノン10部の混合溶剤に撹拌しながら加熱溶解させた。室温にまで冷却した後、そこへ、活性エステル系硬化剤(DIC(株)製「HPC−8000−65T」、活性基当量約225、不揮発成分65質量%のトルエン溶液)20部、オリゴフェニレンエーテル・スチレン樹脂(三菱ガス化学(株)製「OPE−2St 1200」、固形分72質量%のトルエン溶液)10部、アミン系硬化促進剤(4−ジメチルアミノピリジン(DMAP)、固形分5質量%のMEK溶液)2部、イミダゾール系硬化促進剤(四国化成工業(株)製「1B2PZ」1−ベンジル−2−フェニルイミダゾール、固形分5%のMEK溶液)0.4部、ゴム粒子(アイカ工業(株)製、AC−3401N)2部をソルベントナフサ10部に室温で12時間膨潤させておいたもの、アミノシラン系カップリング剤(信越化学工業(株)製「KBM573」)で表面処理された球状シリカ(新日鉄住金マテリアルズ(株)製「SP507−05」、平均粒径0.91μm、比表面積6.5m2/g、単位表面積当たりのカーボン量0.34mg/m2)160部を混合し、高速回転ミキサーで均一に分散した後に、カートリッジフィルター(ROKITECHNO製「SHP030」)で濾過して、樹脂組成物1を調製した。
(Preparation of resin composition 1)
3 parts of bisphenol A type epoxy resin (“YD-8125G” manufactured by Nippon Steel & Sumikin Chemical Co., Ltd., epoxy equivalent of about 174), 3 parts of bixylenol type epoxy resin (“YX4000HK” manufactured by Mitsubishi Chemical Corporation, about 185 of epoxy equivalent) , 8 parts of bisphenol AF type epoxy resin ("YL7760" manufactured by Mitsubishi Chemical Corporation, epoxy equivalent of about 238), 12 parts of naphthalene type epoxy resin ("ESN475V" manufactured by Nippon Steel & Sumikin Chemical Co., Ltd., about 330 of epoxy equivalent), phenoxy Heat while stirring in a mixed solvent of 10 parts of resin ("YX7553BH30" manufactured by Mitsubishi Chemical Corporation, 1: 1 solution of cyclohexanone: methyl ethyl ketone (MEK) having a solid content of 30% by mass), and 12 parts of solvent naphtha and 10 parts of cyclohexanone. Dissolved. After cooling to room temperature, 20 parts of an active ester curing agent (“HPC-8000-65T” manufactured by DIC Corporation, active group equivalent of about 225, toluene solution with 65% by mass of non-volatile components), oligophenylene ether -10 parts of styrene resin (Mitsubishi Gas Chemical Co., Ltd. "OPE-2St 1200", toluene solution with a solid content of 72% by mass), amine curing accelerator (4-dimethylaminopyridine (DMAP), solid content of 5% by mass MEK solution) 2 parts, imidazole curing accelerator (“1B2PZ” 1-benzyl-2-phenylimidazole, 5% solid MEK solution manufactured by Shikoku Kasei Kogyo Co., Ltd.) 0.4 parts, rubber particles (Aika Industry) Co., Ltd., AC-3401N) 2 parts swollen in 10 parts of solvent naphtha at room temperature for 12 hours, aminosilane coupling agent (Shin-Etsu Chemical) Spherical silica surface-treated with “KBM573” manufactured by Gaku Kogyo Co., Ltd. (“SP507-05” manufactured by Nippon Steel & Sumikin Materials Co., Ltd.), average particle size 0.91 μm, specific surface area 6.5 m 2 / g, unit surface area After mixing 160 parts per carbon (0.34 mg / m 2 ) and uniformly dispersing with a high-speed rotary mixer, the mixture was filtered with a cartridge filter (“SHP030” manufactured by ROKITETECHNO) to prepare Resin Composition 1.
(樹脂組成物2の調製)
ビスフェノールA型エポキシ樹脂(新日鉄住金化学(株)製「YD−8125G」、エポキシ当量約174)2部、ビキシレノール型エポキシ樹脂(三菱化学(株)製「YX4000HK」、エポキシ当量約185)5部、ナフチレンエーテル型エポキシ樹脂(DIC(株)製「EXA−7311−G4」、エポキシ当量約213)5部、ビフェニル型エポキシ樹脂(日本化薬(株)製「NC3000L」、エポキシ当量約272)15部、エポキシ化ポリブタジエン((株)ダイセル製「PB3600」、エポキシ当量約193)2部、フェノキシ樹脂(三菱化学(株)製「YX7553BH30」、固形分30質量%のシクロヘキサノン:メチルエチルケトン(MEK)の1:1溶液)10部を、ソルベントナフサ15部及びシクロヘキサノン10部の混合溶剤に撹拌しながら加熱溶解させた。室温にまで冷却した後、そこへ、トリアジン骨格含有クレゾールノボラック系硬化剤(DIC(株)製「LA3018−50P」、水酸基当量約151、固形分50%の2−メトキシプロパノール溶液)5部、活性エステル系硬化剤(DIC(株)製「HPC−8000−65T」、活性基当量約225、不揮発成分65質量%のトルエン溶液)12部、カルボジイミド樹脂(日清紡ケミカル(株)製「V−03」、カルボジイミド当量216、不揮発成分50質量%のトルエン溶液)10部、アミン系硬化促進剤(4−ジメチルアミノピリジン(DMAP)、固形分5質量%のMEK溶液)1.5部、難燃剤(三光(株)製「HCA−HQ」、10−(2,5−ジヒドロキシフェニル)−10−ヒドロ−9−オキサ−10−フォスファフェナンスレン−10−オキサイド、平均粒径1.2μm)2部、アミノシラン系カップリング剤(信越化学工業(株)製「KBM573」)で表面処理された球状シリカ(新日鉄住金マテリアルズ(株)製「SPH516−05」、平均粒径0.29μm、比表面積16.3m2/g、単位表面積当たりのカーボン量0.43mg/m2)110部を混合し、高速回転ミキサーで均一に分散した後に、カートリッジフィルター(ROKITECHNO製「SHP020」)で濾過して、樹脂組成物2を調製した。
(Preparation of resin composition 2)
2 parts of bisphenol A type epoxy resin (“YD-8125G” manufactured by Nippon Steel & Sumikin Chemical Co., Ltd., epoxy equivalent of about 174), 5 parts of bixylenol type epoxy resin (“YX4000HK” manufactured by Mitsubishi Chemical Corporation, about 185 of epoxy equivalent) , 5 parts of naphthylene ether type epoxy resin (DIC Corporation "EXA-7311-G4", epoxy equivalent of about 213), biphenyl type epoxy resin (Nippon Kayaku Co., Ltd. "NC3000L", epoxy equivalent of about 272) 15 parts, 2 parts of epoxidized polybutadiene ("PB3600" manufactured by Daicel Corporation, epoxy equivalent of about 193), phenoxy resin ("YX7553BH30" manufactured by Mitsubishi Chemical Corporation), 30% by mass of cyclohexanone: methyl ethyl ketone (MEK) 1: 1 solution), 10 parts, solvent naphtha and 15 parts cyclohexane. It was dissolved by heating with stirring in a mixed solvent of non 10 parts. After cooling to room temperature, 5 parts of triazine skeleton-containing cresol novolac-based curing agent (“LA3018-50P” manufactured by DIC Corporation, hydroxyl group equivalent of about 151, 2-methoxypropanol solution having a solid content of 50%), activity Ester-based curing agent (DIC Corporation "HPC-8000-65T", active group equivalent about 225, non-volatile component 65% by weight toluene solution) 12 parts, carbodiimide resin (Nisshinbo Chemical Co., Ltd. "V-03" , Carbodiimide equivalent 216, 10 parts by weight of a non-volatile component 50% by weight toluene solution, 1.5 parts amine curing accelerator (4-dimethylaminopyridine (DMAP), 5% by weight solid MEK solution) 1.5 parts, flame retardant (Sanko) "HCA-HQ", 10- (2,5-dihydroxyphenyl) -10-hydro-9-oxa-10-phosphafe, manufactured by 2 parts of lenthrene-10-oxide (average particle size 1.2 μm), spherical silica surface-treated with an aminosilane coupling agent (“KBM573” manufactured by Shin-Etsu Chemical Co., Ltd.) (manufactured by Nippon Steel & Sumikin Materials Co., Ltd.) SPH516-05 ”, average particle size 0.29 μm, specific surface area 16.3 m 2 / g, carbon amount per unit surface area 0.43 mg / m 2 ) 110 parts were mixed and uniformly dispersed with a high-speed rotary mixer, The resin composition 2 was prepared by filtering with a cartridge filter (“SHP020” manufactured by ROKITECHNO).
(樹脂組成物3の調製)
ナフタレン型エポキシ樹脂(DIC(株)製「HP4032SS」、エポキシ当量約144)4部、ナフチレンエーテル型エポキシ樹脂(DIC(株)製「EXA−7311−G4」、エポキシ当量約213)8部、ナフタレン型エポキシ樹脂(新日鉄住金化学(株)製「ESN475V」、エポキシ当量約330)15部、フェノキシ樹脂(三菱化学(株)製「YX7553BH30」、固形分30質量%のシクロヘキサノン:メチルエチルケトン(MEK)の1:1溶液)5部を、ソルベントナフサ15部及びシクロヘキサノン10部の混合溶剤に撹拌しながら加熱溶解させた。室温にまで冷却した後、そこへ、ビスフェノールAジシアネートのプレポリマー(ロンザジャパン(株)製「BA230S75」、シアネート当量約232、不揮発分75質量%のMEK溶液)20部、多官能シアネートエステル樹脂(ロンザジャパン(株)製「ULL−950S」、シアネート当量約230、不揮発分75質量%のMEK溶液)6部、活性エステル系硬化剤(DIC(株)製「HPC−8000−65T」、活性基当量約225、不揮発成分65質量%のトルエン溶液)6部、カルボジイミド樹脂(日清紡ケミカル(株)製「V−03」、カルボジイミド当量216、不揮発成分50質量%のトルエン溶液)5部、アミン系硬化促進剤(4−ジメチルアミノピリジン(DMAP)、固形分5質量%のMEK溶液)0.4部、硬化促進剤(東京化成(株)製、コバルト(III)アセチルアセトナート(Co(III)Ac)、固形分1質量%のMEK溶液)3部、アミノシラン系カップリング剤(信越化学工業(株)製「KBM573」)で表面処理された球状シリカ(新日鉄住金マテリアルズ(株)製「SPH516−05」、平均粒径0.29μm、比表面積16.3m2/g、単位表面積当たりのカーボン量0.43mg/m2)100部を混合し、高速回転ミキサーで均一に分散した後に、カートリッジフィルター(ROKITECHNO製「SHP020」)で濾過して、樹脂組成物3を調製した。
(Preparation of resin composition 3)
4 parts of naphthalene type epoxy resin (DIC Corporation "HP4032SS", epoxy equivalent of about 144), naphthylene ether type epoxy resin (DIC Corporation "EXA-731-G4", epoxy equivalent of about 213), 8 parts, 15 parts of naphthalene type epoxy resin (“ESN475V” manufactured by Nippon Steel & Sumikin Chemical Co., Ltd., epoxy equivalent of about 330), phenoxy resin (“YX7553BH30” manufactured by Mitsubishi Chemical Co., Ltd.), cyclohexanone: methyl ethyl ketone (MEK) having a solid content of 30% by mass 1: 1 solution) was dissolved by heating in a mixed solvent of 15 parts of solvent naphtha and 10 parts of cyclohexanone with stirring. After cooling to room temperature, 20 parts of a prepolymer of bisphenol A dicyanate ("BA230S75" manufactured by Lonza Japan Co., Ltd., a MEK solution having a cyanate equivalent of about 232 and a non-volatile content of 75% by mass), a polyfunctional cyanate ester resin ( “ULL-950S” manufactured by Lonza Japan Co., Ltd., 6 parts of cyanate equivalent of about 230, MEK solution having a nonvolatile content of 75% by mass, an active ester curing agent (“HPC-8000-65T” manufactured by DIC Corporation), active group Equivalent weight 225, non-volatile component 65% by weight toluene solution) 6 parts, carbodiimide resin (Nisshinbo Chemical Co., Ltd. "V-03", carbodiimide equivalent 216, non-volatile component 50% by weight toluene solution) 5 parts, amine curing Accelerator (4-dimethylaminopyridine (DMAP), MEK solution having a solid content of 5% by mass) 0.4 parts Curing accelerator (manufactured by Tokyo Chemical Industry Co., Ltd., cobalt (III) acetylacetonate (Co (III) Ac), 3 mass% MEK solution), aminosilane coupling agent (Shin-Etsu Chemical Co., Ltd.) Spherical silica surface-treated with “KBM573” manufactured by Nippon Steel & Sumikin Materials Co., Ltd. “SPH516-05”, average particle size 0.29 μm, specific surface area 16.3 m 2 / g, carbon amount per unit surface area 0 .43 mg / m 2 ) 100 parts were mixed and dispersed uniformly with a high-speed rotary mixer, and then filtered through a cartridge filter (“SHP020” manufactured by ROKITECHNO) to prepare Resin Composition 3.
(樹脂組成物4の調製)
ビスフェノールA型エポキシ樹脂(三菱化学(株)製「828EL」、エポキシ当量約186)8部、ビフェニル型エポキシ樹脂(日本化薬(株)製「NC3000L」、エポキシ当量約272)15部、エポキシ化ポリブタジエン((株)ダイセル製「PB3600」、エポキシ当量約193)5部、フェノキシ樹脂(三菱化学(株)製「YX7553BH30」、固形分30質量%のシクロヘキサノン:メチルエチルケトン(MEK)の1:1溶液)10部を、ソルベントナフサ10部及びシクロヘキサノン10部の混合溶剤に撹拌しながら加熱溶解させた。室温にまで冷却した後、そこへ、トリアジン骨格含有クレゾールノボラック系硬化剤(DIC(株)製「LA3018−50P」、水酸基当量約151、固形分50%の2−メトキシプロパノール溶液)5部、活性エステル系硬化剤(DIC(株)製「HPC−8000−65T」、活性基当量約225、不揮発成分65質量%のトルエン溶液)12部、カルボジイミド樹脂(日清紡ケミカル(株)製「V−03」、カルボジイミド当量216、不揮発成分50質量%のトルエン溶液)10部、アミン系硬化促進剤(4−ジメチルアミノピリジン(DMAP)、固形分5質量%のMEK溶液)1.5部、難燃剤(三光(株)製「HCA−HQ」、10−(2,5−ジヒドロキシフェニル)−10−ヒドロ−9−オキサ−10−フォスファフェナンスレン−10−オキサイド、平均粒径1.2μm)2部、ゴム粒子(アイカ工業(株)製、AC−3355)2部をソルベントナフサ8部に室温で12時間膨潤させておいたもの、アミノシラン系カップリング剤(信越化学工業(株)製「KBM573」)で表面処理された球状シリカ((株)アドマテックス製「アドマファインSO−C1」、平均粒径0.63μm、比表面積11.2m2/g、単位表面積当たりのカーボン量0.35mg/m2)110部を混合し、高速回転ミキサーで均一に分散した後に、カートリッジフィルター(ROKITECHNO製「SHP030」)で濾過して、樹脂組成物4を調製した。
(Preparation of resin composition 4)
8 parts of bisphenol A type epoxy resin (Mitsubishi Chemical Corporation “828EL”, epoxy equivalent of about 186), biphenyl type epoxy resin (Nippon Kayaku Co., Ltd. “NC3000L”, epoxy equivalent of about 272),
(樹脂組成物5の調製)
ビスフェノールA型エポキシ樹脂(三菱化学(株)製「828EL」、エポキシ当量約186)10部、ナフタレン型エポキシ樹脂(新日鉄住金化学(株)製「ESN475V」、エポキシ当量約330)15部、エポキシ化ポリブタジエン((株)ダイセル製「PB3600」、エポキシ当量約193)2部、フェノキシ樹脂(三菱化学(株)製「YX6954BH30」、固形分30質量%のシクロヘキサノン:メチルエチルケトン(MEK)の1:1溶液)5部を、ソルベントナフサ12部及びシクロヘキサノン10部の混合溶剤に撹拌しながら加熱溶解させた。室温にまで冷却した後、そこへ、ビスフェノールAジシアネートのプレポリマー(ロンザジャパン(株)製「BA230S75」、シアネート当量約232、不揮発分75質量%のMEK溶液)20部、多官能シアネートエステル樹脂(ロンザジャパン(株)製「ULL−950S」、シアネート当量約230、不揮発分75質量%のMEK溶液)6部、活性エステル系硬化剤(DIC(株)製「HPC−8000−65T」、活性基当量約225、不揮発成分65質量%のトルエン溶液)6部、ブロック型イソシアネート樹脂(DIC(株)製「バーノックD−500」、不揮発成分65質量%の酢酸エチル溶液)5部、アミン系硬化促進剤(4−ジメチルアミノピリジン(DMAP)、固形分5質量%のMEK溶液)0.4部、硬化促進剤(東京化成(株)製、コバルト(III)アセチルアセトナート(Co(III)Ac)、固形分1質量%のMEK溶液)3部、アミノシラン系カップリング剤(信越化学工業(株)製「KBM573」)で表面処理された球状シリカ((株)アドマテックス製「アドマファインSO−C1」、平均粒径0.63μm、比表面積11.2m2/g、単位表面積当たりのカーボン量0.35mg/m2)100部を混合し、高速回転ミキサーで均一に分散した後に、カートリッジフィルター(ROKITECHNO製「SHP030」)で濾過して、樹脂組成物5を調製した。
(Preparation of resin composition 5)
10 parts of bisphenol A-type epoxy resin (Mitsubishi Chemical Corporation “828EL”, epoxy equivalent of about 186), 15 parts of naphthalene type epoxy resin (“ESN475V” manufactured by Nippon Steel & Sumikin Chemical Co., Ltd., epoxy equivalent of about 330), epoxidation 2 parts of polybutadiene ("PB3600" manufactured by Daicel Corporation, epoxy equivalent of about 193), phenoxy resin ("YX6954BH30" manufactured by Mitsubishi Chemical Corporation, 1: 1 solution of cyclohexanone: methyl ethyl ketone (MEK) having a solid content of 30% by mass) 5 parts was heated and dissolved in a mixed solvent of 12 parts of solvent naphtha and 10 parts of cyclohexanone with stirring. After cooling to room temperature, 20 parts of a prepolymer of bisphenol A dicyanate ("BA230S75" manufactured by Lonza Japan Co., Ltd., a MEK solution having a cyanate equivalent of about 232 and a non-volatile content of 75% by mass), a polyfunctional cyanate ester resin ( “ULL-950S” manufactured by Lonza Japan Co., Ltd., 6 parts of cyanate equivalent of about 230, MEK solution having a nonvolatile content of 75% by mass, an active ester curing agent (“HPC-8000-65T” manufactured by DIC Corporation), active group Equivalent weight of about 225, 65 parts by weight non-volatile component in toluene solution) 6 parts, Block-type isocyanate resin (DIC Corporation "Bernock D-500", non-volatile component 65% by weight ethyl acetate solution), 5 parts, amine-based curing acceleration Agent (4-dimethylaminopyridine (DMAP), MEK solution having a solid content of 5 mass%) (Tokyo Kasei Co., Ltd., Cobalt (III) acetylacetonate (Co (III) Ac), MEK solution with a solid content of 1% by mass), 3 parts, aminosilane coupling agent (Shin-Etsu Chemical Co., Ltd. “KBM573” ") Surface-treated spherical silica (" Admafine SO-C1 "manufactured by Admatechs Co., Ltd.), average particle size 0.63 [mu] m, specific surface area 11.2 m < 2 > / g, carbon amount per unit surface area 0.35 mg / m 2 ) 100 parts were mixed and dispersed uniformly with a high-speed rotary mixer, and then filtered with a cartridge filter (“SHP030” manufactured by ROKITECHNO) to prepare
樹脂組成物1〜5の調製に用いた成分とその配合量(不揮発分の質量部)を下記表1に示す。 Table 1 below shows the components used for the preparation of the resin compositions 1 to 5 and their blending amounts (parts by mass of the nonvolatile content).
(実施例1〜3、比較例1〜2の樹脂シートの作製)
支持体として、アルキド樹脂系離型剤(リンテック(株)製「AL−5」)で離型処理したPETフィルム(東レ(株)製「ルミラーR80」、厚み38μm、軟化点130℃、「離型PET」)を用意した。
(Production of resin sheets of Examples 1 to 3 and Comparative Examples 1 and 2)
As a support, a PET film (“Lumirror R80” manufactured by Toray Industries, Inc.) having a release treatment with an alkyd resin release agent (“AL-5” manufactured by Lintec Corporation), a thickness of 38 μm, a softening point of 130 ° C. Type PET ").
各樹脂組成物を離型PET上に、乾燥後の樹脂組成物層の厚みが40μmとなるよう、ダイコーターにて均一に塗布し、70℃から100℃で4.5分又は60℃から90℃で2分間乾燥することにより、離型PET上に樹脂組成物層を形成した。次いで、樹脂シートの支持体と接合していない面に、保護フィルムとしてポリプロピレンフィルム(王子エフテックス(株)製「アルファンMA−411」、厚み15μm)の粗面を、樹脂組成物層と接合するように積層した。これにより、支持体、樹脂組成物層、及び保護フィルムの順からなる誘電正接測定用の樹脂シートを得た。 Each resin composition was uniformly coated on a release PET with a die coater so that the thickness of the resin composition layer after drying was 40 μm, and it was 70 ° C. to 100 ° C. for 4.5 minutes or 60 ° C. to 90 ° C. A resin composition layer was formed on the release PET by drying at 0 ° C. for 2 minutes. Next, a rough surface of a polypropylene film (“Alphan MA-411” manufactured by Oji F-Tex Co., Ltd., thickness 15 μm) as a protective film is bonded to the resin composition layer on the surface of the resin sheet that is not bonded to the support. Laminated so that. This obtained the resin sheet for a dielectric loss tangent measurement which consists of a support body, a resin composition layer, and a protective film in this order.
各樹脂組成物を、離型PET上に、乾燥後の樹脂組成物層の厚みが13μmとなるように塗布したこと以外は、誘電正接測定用の樹脂シートと同様にして、最低溶融粘度測定用及び絶縁信頼性測定用の樹脂シートを得た。 For measuring the minimum melt viscosity, in the same manner as the resin sheet for dielectric loss tangent measurement, except that each resin composition was coated on the release PET so that the thickness of the resin composition layer after drying was 13 μm. And the resin sheet for insulation reliability measurement was obtained.
<最低溶融粘度の測定>
樹脂組成物層の厚みが13μmの樹脂シートを使用し、離型PET(支持体)から樹脂組成物層のみを剥離し、金型で圧縮することにより測定用ペレット(直径18mm、1.2〜1.3g)を作製した。
<Measurement of minimum melt viscosity>
Using a resin sheet having a resin composition layer thickness of 13 μm, peeling only the resin composition layer from the release PET (support) and compressing it with a mold (diameter 18 mm, 1.2 to 1.3 g) was produced.
動的粘弾性測定装置((株)ユー・ビー・エム製「Rheosol−G3000」)を用い、試料樹脂組成物層1gについて、直径18mmのパラレルプレートを使用して、開始温度60℃から200℃まで昇温速度5℃/分にて昇温し、測定温度間隔2.5℃、振動数1Hz、ひずみ1degの測定条件にて動的粘弾性率を測定し、最低溶融粘度(poise)を算出し、表2に示した。 Using a dynamic viscoelasticity measuring apparatus (“Rheosol-G3000” manufactured by UBM Co., Ltd.), using a parallel plate with a diameter of 18 mm, a starting temperature of 60 ° C. to 200 ° C. is used for 1 g of the sample resin composition layer. The temperature was raised at a rate of 5 ° C./min until the measurement, and the dynamic viscoelasticity was measured under the measurement conditions of a measurement temperature interval of 2.5 ° C., a frequency of 1 Hz, and a strain of 1 deg. The results are shown in Table 2.
<硬化物の誘電正接の測定>
離型PETフィルム(リンテック(株)製「501010」、厚み38μm、240mm角)の未処理面がガラス布基材エポキシ樹脂両面銅張積層板(松下電工(株)製「R5715ES」、厚み0.7mm、255mm角)に接するように、ガラス布基材エポキシ樹脂両面銅張積層板上に設置し、該離型PETフィルムの四辺をポリイミド接着テープ(幅10mm)で固定した。
<Measurement of dielectric loss tangent of cured product>
The untreated surface of the release PET film (Lintec Co., Ltd. “501010”, thickness 38 μm, 240 mm square) is a glass cloth base epoxy resin double-sided copper-clad laminate (Matsushita Electric Works, Ltd. “R5715ES”, thickness 0. 7 mm, 255 mm square) was placed on a glass cloth base epoxy resin double-sided copper-clad laminate, and the four sides of the release PET film were fixed with polyimide adhesive tape (width 10 mm).
実施例及び比較例で作製した樹脂組成物層の厚みが40μmの樹脂シート(200mm角)を、バッチ式真空加圧ラミネーター(ニッコー・マテリアルズ(株)製 2ステージビルドアップラミネーター、CVP700)を用いて、樹脂組成物層が離型PETフィルム(リンテック(株)製「501010」)の離型面と接するように、中央にラミネート処理した。ラミネート処理は、30秒間減圧して気圧を13hPa以下とした後、100℃、圧力0.74MPaにて30秒間圧着させることにより実施した。 Using a resin sheet (200 mm square) having a resin composition layer thickness of 40 μm prepared in Examples and Comparative Examples, a batch-type vacuum pressurization laminator (Nikko Materials Co., Ltd. 2-stage buildup laminator, CVP700) The laminate was laminated at the center so that the resin composition layer was in contact with the release surface of the release PET film (“501010” manufactured by Lintec Corporation). The laminating process was carried out by reducing the pressure for 30 seconds to a pressure of 13 hPa or less and then pressing the film at 100 ° C. and a pressure of 0.74 MPa for 30 seconds.
次いで、100℃の温度条件で、100℃のオーブンに投入後30分間、次いで180℃の温度条件で、180℃のオーブンに移し替えた後30分間、熱硬化させた。その後、基板を室温雰囲気下に取り出し、樹脂シートから離型PET(支持体)を剥離した後、さらに200℃のオーブンに投入後90分間の硬化条件で熱硬化させた。 Next, it was cured at 30 ° C. for 30 minutes after being put in a 100 ° C. oven under a temperature condition of 100 ° C., and then for 30 minutes after being transferred to a 180 ° C. oven under a temperature condition of 180 ° C. Thereafter, the substrate was taken out in a room temperature atmosphere, and the release PET (support) was peeled off from the resin sheet. Then, the substrate was put into an oven at 200 ° C. and then cured by curing for 90 minutes.
上記「評価用硬化物」を、幅1.5mm、長さ80mmの試験片に切断し、該試験片について、アジレントテクノロジーズ社製「HP8362B」を用いて、空洞共振摂動法により測定周波数10GHz、測定温度23℃、又は150℃にて誘電正接(Df)を測定した。測定周波数10GHz、測定温度23℃、又は150℃にて誘電正接(Df)を測定した。3本の試験片について測定を行い、平均値を算出し、結果を表2に示した。 The above-mentioned “cured product for evaluation” was cut into a test piece having a width of 1.5 mm and a length of 80 mm, and the test piece was measured using a cavity resonance perturbation method at a measurement frequency of 10 GHz using “HP8362B” manufactured by Agilent Technologies. The dielectric loss tangent (Df) was measured at a temperature of 23 ° C. or 150 ° C. The dielectric loss tangent (Df) was measured at a measurement frequency of 10 GHz and a measurement temperature of 23 ° C. or 150 ° C. Three test pieces were measured, the average value was calculated, and the results are shown in Table 2.
<絶縁信頼性の評価、導体層間の絶縁層の厚みの測定>
(評価用基板の調製)
(1)内層回路基板の下地処理
内層回路基板として、1mm角格子の配線パターン(残銅率が59%)にて形成された回路導体(銅)を両面に有するガラス布基材エポキシ樹脂両面銅張積層板(銅箔の厚さ18μm、基板の厚さ0.3mm、パナソニック(株)製「R1515F」)を用意した。該内層回路基板の両面を、メック(株)製「CZ8201」にて銅表面の粗化処理(銅エッチング量0.5μm)を行った。
<Evaluation of insulation reliability, measurement of insulation layer thickness between conductor layers>
(Preparation of evaluation substrate)
(1) Base treatment of inner layer circuit board Glass cloth base epoxy resin double-sided copper having circuit conductor (copper) formed on both sides as a 1 mm square lattice wiring pattern (residual copper ratio 59%) as inner layer circuit board A tension laminate (copper foil thickness 18 μm, substrate thickness 0.3 mm, “R1515F” manufactured by Panasonic Corporation) was prepared. Both surfaces of the inner layer circuit board were subjected to a copper surface roughening treatment (copper etching amount of 0.5 μm) using “CZ8201” manufactured by MEC.
(2)樹脂シートのラミネート
実施例及び比較例で作製した樹脂組成物層の厚みが13μmの樹脂シートを、バッチ式真空加圧ラミネーター(ニッコー・マテリアルズ(株)製、2ステージビルドアップラミネーター、CVP700)を用いて、樹脂組成物層が内層回路基板と接するように、内層回路基板の両面にラミネートした。ラミネートは、30秒間減圧して気圧を13hPa以下とし、130℃、圧力0.74MPaにて45秒間圧着させることにより実施した。次いで、120℃、圧力0.5MPaにて75秒間熱プレスを行った。
(2) Lamination of resin sheet A resin sheet having a resin composition layer thickness of 13 μm prepared in Examples and Comparative Examples was batch-type vacuum pressure laminator (manufactured by Nikko Materials Co., Ltd., 2-stage buildup laminator, CVP700) was laminated on both surfaces of the inner layer circuit board so that the resin composition layer was in contact with the inner layer circuit board. Lamination was performed by reducing the pressure for 30 seconds to a pressure of 13 hPa or less, and pressing for 45 seconds at 130 ° C. and a pressure of 0.74 MPa. Next, hot pressing was performed at 120 ° C. and a pressure of 0.5 MPa for 75 seconds.
(3)樹脂組成物層の熱硬化
樹脂シートがラミネートされた内層回路基板を、100℃の温度条件で、100℃のオーブンに投入後30分間、次いで180℃の温度条件で、180℃のオーブンに移し替えた後30分間、熱硬化して絶縁層を形成した。
(3) Thermosetting of resin composition layer The inner layer circuit board on which the resin sheet is laminated is placed in a 100 ° C. oven at 100 ° C. for 30 minutes and then in a 180 ° C. oven at 180 ° C. After the transfer, the thermosetting was performed for 30 minutes to form an insulating layer.
(4)ビアホールの形成
絶縁層及び支持体の上方から、三菱電機(株)製CO2レーザー加工機「605GTWIII(−P)」を使用して、支持体の上方からレーザーを照射して、格子パターンの導体上の絶縁層にトップ径(70μm)のビアホールを形成した。レーザーの照射条件は、マスク径が2.5mmであり、パルス幅が16μsであり、エネルギーが0.39mJ/ショットであり、ショット数が2であり、バーストモード(10kHz)で行った。
(4) Formation of via holes From above the insulating layer and the support, using a CO 2 laser processing machine “605GTWIII (-P)” manufactured by Mitsubishi Electric Corporation, a laser is irradiated from above the support to A via hole having a top diameter (70 μm) was formed in the insulating layer on the conductor of the pattern. The laser irradiation conditions were a mask diameter of 2.5 mm, a pulse width of 16 μs, an energy of 0.39 mJ / shot, a shot number of 2, and a burst mode (10 kHz).
(5)粗化処理を行う工程
ビアホールが設けられた回路基板から支持体を剥離し、デスミア処理を行った。なお、デスミア処理としては、下記の湿式デスミア処理を実施した。
(5) Roughening process The support body was peeled from the circuit board provided with the via hole, and the desmear process was performed. In addition, as a desmear process, the following wet desmear process was implemented.
湿式デスミア処理:
膨潤液(アトテックジャパン(株)製「スウェリングディップ・セキュリガントP」、ジエチレングリコールモノブチルエーテル及び水酸化ナトリウムの水溶液)に60℃で5分間、次いで酸化剤溶液(アトテックジャパン(株)製「コンセントレート・コンパクトCP」、過マンガン酸カリウム濃度約6%、水酸化ナトリウム濃度約4%の水溶液)に80℃で10分間、最後に中和液(アトテックジャパン(株)製「リダクションソリューション・セキュリガントP」、硫酸水溶液)に40℃で5分間、浸漬した後、80℃で15分間乾燥した。
Wet desmear treatment:
Swelling solution (“Swelling Dip Securigant P” manufactured by Atotech Japan Co., Ltd., diethylene glycol monobutyl ether and sodium hydroxide aqueous solution) at 60 ° C. for 5 minutes, and then an oxidant solution (“Concentrate” manufactured by Atotech Japan Co., Ltd.)・ Compact CP ”, aqueous solution with potassium permanganate concentration of about 6%, sodium hydroxide concentration of about 4%) at 80 ° C. for 10 minutes, and finally neutralization solution (“ Reduction Solution Securigant P manufactured by Atotech Japan Co., Ltd.) ”, Immersed in sulfuric acid aqueous solution) at 40 ° C. for 5 minutes, and then dried at 80 ° C. for 15 minutes.
(6)導体層を形成する工程
(6−1)無電解めっき工程
上記回路基板の表面に導体層を形成するため、下記1〜6の工程を含むめっき工程(アトテックジャパン(株)製の薬液を使用した銅めっき工程)を行って導体層を形成した。
(6) Step of forming conductor layer (6-1) Electroless plating step In order to form a conductor layer on the surface of the circuit board, a plating step including the following steps 1 to 6 (chemical solution manufactured by Atotech Japan Co., Ltd.) The copper plating process using was performed to form a conductor layer.
1.アルカリクリーニング(ビアホールが設けられた絶縁層の表面の洗浄と電荷調整)
商品名:Cleaning Cleaner Securiganth 902(商品名)を用いて60℃で5分間洗浄した。
2.ソフトエッチング(ビアホール内の洗浄)
硫酸酸性ペルオキソ二硫酸ナトリウム水溶液を用いて、30℃で1分間処理した。
3.プレディップ(Pd付与のための絶縁層の表面の電荷の調整)
Pre. Dip Neoganth B(商品名)を用い、室温で1分間処理した。
4.アクティヴェーター付与(絶縁層の表面へのPdの付与)
Activator Neoganth 834(商品名)を用い、35℃で5分間処理した。
5.還元(絶縁層に付与されたPdを還元)
Reducer Neoganth WA(商品名)とReducer Acceralator 810 mod.(商品名)との混合液を用い、30℃で5分間処理した。
6.無電解銅めっき工程(Cuを絶縁層の表面(Pd表面)に析出)
Basic Solution Printganth MSK−DK(商品名)と、Copper solution Printganth MSK(商品名)と、Stabilizer Printganth MSK−DK(商品名)と、Reducer Cu(商品名)との混合液を用いて、35℃で20分間処理した。形成された無電解銅めっき層の厚さは0.8μmであった。
1. Alkali cleaning (cleaning and charge adjustment of the surface of the insulating layer with via holes)
Product name: Cleaned at 60 ° C. for 5 minutes using Cleaning Cleaner Security 902 (trade name).
2. Soft etching (cleaning inside via holes)
The mixture was treated with an aqueous sodium peroxodisulfate solution at 30 ° C. for 1 minute.
3. Pre-dip (adjustment of surface charge of insulating layer for Pd application)
Pre. Using Dip Neoganth B (trade name), it was treated at room temperature for 1 minute.
4). Activator application (Pd application to the surface of the insulating layer)
Using Activator Neoganth 834 (trade name), it was treated at 35 ° C. for 5 minutes.
5. Reduction (reduction of Pd applied to the insulating layer)
Reducer Neoganth WA (trade name) and Reducer Accelerator 810 mod. Using a mixed solution with (trade name), it was treated at 30 ° C. for 5 minutes.
6). Electroless copper plating process (Cu is deposited on the surface of the insulating layer (Pd surface))
Using a mixture of Basic Solution Print MSK-DK (trade name), Copper solution Print MS MS (trade name), Stabilizer Printganth MSK-DK (trade name), and Reducer Cu (trade name) at 35 ° C. Treated for 20 minutes. The thickness of the formed electroless copper plating layer was 0.8 μm.
(6−2)電解めっき工程
次いで、アトテックジャパン(株)製の薬液を使用して、ビアホール内に銅が充填される条件で電解銅めっき工程を行った。その後に、エッチングによるパターニングのためのレジストパターンとして、ビアホールに導通された直径1mmのランドパターン及び、下層導体とは接続されていない直径10mmの円形導体パターンを用いて絶縁層の表面に10μmの厚さでランド及び導体パターンを有する導体層を形成した。次に、アニール処理を200℃にて90分間行った。この基板を評価用基板Aとした。
(6-2) Electrolytic plating process Subsequently, the electrolytic copper plating process was performed on the conditions with which a via hole is filled with copper using the chemical solution made from Atotech Japan. Thereafter, as a resist pattern for patterning by etching, a land pattern having a diameter of 1 mm conducted to the via hole and a circular conductor pattern having a diameter of 10 mm not connected to the lower layer conductor are used to form a thickness of 10 μm on the surface of the insulating layer. A conductor layer having lands and conductor patterns was formed. Next, annealing was performed at 200 ° C. for 90 minutes. This substrate was designated as evaluation substrate A.
(7)導体層間の絶縁層の厚みの測定
評価用基板AをFIB−SEM複合装置(SIIナノテクノロジー(株)製「SMI3050SE」)を用いて、断面観察を行った。詳細には、導体層の表面に垂直な方向における断面をFIB(集束イオンビーム)により削り出し、断面SEM画像から、導体層間の絶縁層厚を測定した。各サンプルにつき、無作為に選んだ5箇所の断面SEM画像を観察し、その平均値を導体層間の絶縁層の厚みとした。
(7) Measurement of thickness of insulating layer between conductor layers The substrate A for evaluation was subjected to cross-sectional observation using a FIB-SEM composite device (“SMI3050SE” manufactured by SII Nanotechnology Co., Ltd.). Specifically, the cross section in the direction perpendicular to the surface of the conductor layer was cut out by FIB (focused ion beam), and the insulating layer thickness between the conductor layers was measured from the cross section SEM image. For each sample, five cross-sectional SEM images selected at random were observed, and the average value was taken as the thickness of the insulating layer between the conductor layers.
(8)絶縁層の絶縁信頼性の評価
上記において得られた評価用基板Aの直径10mmの円形導体側を+電極とし、直径1mmのランドと接続された内層回路基板の格子導体(銅)側を−電極として、高度加速寿命試験装置(ETAC製「PM422」)を使用し、130℃、85%相対湿度、3.3V直流電圧印加の条件で200時間経過させた際の絶縁抵抗値を、エレクトロケミカルマイグレーションテスター(J−RAS(株)製「ECM−100」)にて測定した(n=6)。6点の試験ピース全てにおいてその絶縁抵抗値が107Ω以上の場合を「○」とし、1つでも107Ω未満の場合は「×」とし、評価結果を、表2に示した。表2に記載の絶縁抵抗値は、6点の試験ピースの絶縁抵抗値の最低値である。
(8) Evaluation of insulation reliability of insulating layer Lattice conductor (copper) side of inner layer circuit board connected to a 1 mm diameter land with the circular conductor side of 10 mm diameter of the evaluation board A obtained above as a positive electrode As an electrode, using an advanced accelerated life test apparatus (“PM422” manufactured by ETAC), the insulation resistance value when 200 hours passed under the conditions of 130 ° C., 85% relative humidity, and 3.3 V DC voltage application, Measurement was performed with an electrochemical migration tester (“ECM-100” manufactured by J-RAS Co., Ltd.) (n = 6). In all six test pieces, when the insulation resistance value was 10 7 Ω or more, “◯” was given, and when even one was less than 10 7 Ω, “X” was given. The evaluation results are shown in Table 2. The insulation resistance values listed in Table 2 are the minimum insulation resistance values of the six test pieces.
5 第1の導体層
51 第1の導体層の主面
6 第2の導体層
61 第2の導体層の主面
7 絶縁層
5
Claims (10)
該樹脂組成物層の硬化物の、測定周波数10GHz、23℃における誘電正接が0.006以下であり、
該樹脂組成物層の硬化物の測定周波数10GHz、150℃における誘電正接が0.01以下である、樹脂シート。 A resin sheet comprising a support and a resin composition layer bonded on the support,
The dielectric loss tangent of the cured product of the resin composition layer at a measurement frequency of 10 GHz and 23 ° C. is 0.006 or less,
The resin sheet whose dielectric loss tangent in the measurement frequency of 10 GHz and 150 degreeC of the hardened | cured material of this resin composition layer is 0.01 or less.
該絶縁層は、請求項1〜8のいずれか1項に記載の樹脂シートの樹脂組成物層の硬化物である、プリント配線板。 A printed wiring board including a first conductor layer, a second conductor layer, and an insulating layer of 6 μm or less formed between the first conductor layer and the second conductor layer,
The printed wiring board, wherein the insulating layer is a cured product of the resin composition layer of the resin sheet according to any one of claims 1 to 8.
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