JP2012131946A - Resin composition for printed wiring board, prepreg, laminate, resin sheet, printed wiring board, and semiconductor device - Google Patents

Resin composition for printed wiring board, prepreg, laminate, resin sheet, printed wiring board, and semiconductor device Download PDF

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範行 大東
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a resin composition for a printed wiring board which can make a prepreg in which impregnation to a substrate is excellent, and which is excellent in heat radiation, low thermal expansion, drilling nature, and reliability, further to provide a prepreg made by using the resin composition for a printed wiring board, a laminate made by using the resin composition for a printed wiring board or the prepreg, a printed wiring board made by using at least one of the laminate, the prepreg, and the composition for a printed wiring board, and a semiconductor device made by using the printed wiring board having excellent performance.SOLUTION: The resin composition for a printed wiring board includes (A) an epoxy resin, and (B) an inorganic filler as essential components, wherein (B) the inorganic filler includes (b1) amorphous boron nitride, (b2) amorphous boehmite, and (b3) inorganic fine particles having an average particle diameter of 5-100 nm as essential components.

Description

プリント配線板用樹脂組成物、プリプレグ、積層板、樹脂シート、プリント配線板及び半導体装置に関するものである。   The present invention relates to a resin composition for a printed wiring board, a prepreg, a laminated board, a resin sheet, a printed wiring board, and a semiconductor device.

近年、電子機器の高機能化等の要求に伴い、電子部品の高密度集積化、さらには高密度実装化等が進んでおり、これらに使用される高密度実装対応のプリント配線板等は、従来にも増して、小型薄型化、高密度化、及び多層化が進んでいる。従って、作業性等の基本要求を満たし、且つ、高密度で微細な導体パターンを形成できるプリント配線板として、特に、低熱膨張性、ドリル加工性、及び信頼性に優れるものが求められている。 In recent years, with the demand for higher functionality of electronic devices, etc., high-density integration of electronic components, and further high-density mounting, etc. are progressing. Compared to the prior art, miniaturization, thinning, high density, and multilayering are progressing. Accordingly, a printed wiring board that satisfies basic requirements such as workability and can form a fine conductor pattern with high density is particularly required to have excellent low thermal expansion, drill workability, and reliability.

プリント配線板の製造に用いられるプリプレグは、一般的に、エポキシ樹脂等の熱硬化性樹脂を主成分とする樹脂組成物を溶媒に溶解させてワニスとし、これを基材に含浸させて加熱乾燥させることにより作製される。従来、プリプレグの耐熱性、低熱膨張性等を向上させるために無機充填剤を含有させた樹脂組成物、あるいはプリプレグのドリル加工性等を向上させるために可とう成分を含有させた樹脂組成物を用いて、プリプレグの作製が行われている。 A prepreg used for the production of a printed wiring board is generally prepared by dissolving a resin composition mainly composed of a thermosetting resin such as an epoxy resin in a solvent to make a varnish, impregnating this into a base material, and drying by heating. It is produced by making it. Conventionally, a resin composition containing an inorganic filler to improve the heat resistance, low thermal expansion and the like of a prepreg, or a resin composition containing a flexible component to improve the drill workability of a prepreg, etc. The prepreg has been produced by using it.

例えば、特許文献1に開示されているエポキシ樹脂組成物は、エポキシ樹脂、硬化剤、水酸化アルミニウム又は球状シリカ及び水酸化アルミニウムを含む無機充填剤、コアシェル構造を有し、シェル部分が前記エポキシ樹脂と相溶する樹脂で構成されている微粒子からなる可とう成分を含有し、硬化状態での厚み(Z)方向の熱膨張係数が48以下であることを特徴とし、前記エポキシ樹脂組成物を用いて作製した積層板が、寸法安定性及び孔あけ加工性が良好で、孔あけ加工時のクラックの発生が抑制されることが記載されている。 For example, the epoxy resin composition disclosed in Patent Document 1 has an epoxy resin, a curing agent, an inorganic filler containing aluminum hydroxide or spherical silica and aluminum hydroxide, a core-shell structure, and the shell portion is the epoxy resin. Containing a flexible component composed of fine particles composed of a resin compatible with the resin, and having a thermal expansion coefficient of 48 or less in the thickness (Z) direction in a cured state, using the epoxy resin composition It is described that the laminate produced in this way has good dimensional stability and drilling workability, and the generation of cracks during drilling is suppressed.

特開2009−74036号公報JP 2009-74036 A

しかしながら、無機充填材の微粒子又は可とう成分の微粒子を多量に含有した樹脂組成物のワニスは、粘度が高くなるため、基材へ充分量の樹脂組成物を含浸させること、及び微粒子を均一に含浸させることが困難とであった。
そのため、無機充填材を多く含有することが難しく、低膨張性に優れ、ドリル加工性、および信頼性のすべてにおいて良好な積層板を得ることができなかった。
However, since the varnish of the resin composition containing a large amount of inorganic filler fine particles or flexible component fine particles has a high viscosity, the substrate is impregnated with a sufficient amount of the resin composition, and the fine particles are uniformly dispersed. It was difficult to impregnate.
For this reason, it is difficult to contain a large amount of inorganic filler, it is excellent in low expansibility, and it has not been possible to obtain a laminate that is excellent in all of drilling workability and reliability.

本発明は、上記実情を鑑みて成し遂げられたものであり、本発明の目的は、基材への含浸性が良好で、低熱膨張性、ドリル加工性、及び信頼性に優れるプリプレグ、及び張積層板を作製できるプリント配線板用樹脂組成物を提供することにある。 The present invention has been accomplished in view of the above circumstances, and an object of the present invention is to provide a prepreg having excellent impregnation into a substrate, excellent in low thermal expansion, drilling workability, and reliability, and a stretched laminate. It is providing the resin composition for printed wiring boards which can produce a board.

上記の目的は、下記[1]〜[12]に記載の本発明により達成される。
[1](A)エポキシ樹脂と(B)無機充填材とを含むプリント配線板用樹脂組成物であって、(B)無機充填材は、(b1)不定形の窒化ホウ素、(b2)不定形のベーマイト、および(b3)平均粒径5〜100nmの無機微粒子を必須成分とすることを特徴とするプリント配線板用樹脂組成物。
[2]前記(A)エポキシ樹脂は、ナフタレン構造、ビフェニル構造、アントラセン構造よりなる群から選ばれる少なくとも1種の構造を有するエポキシ樹脂である上記[1]に記載のプリント配線板用樹脂組成物。
[3]前記プリント配線板用樹脂組成物は、さらにシアネート樹脂を含むものである上記[1]、または[2]に記載のエポキシ樹脂組プリント配線板用樹脂組成物。
[4](b3)平均粒径5〜100nmの無機微粒子は、(B)無機充填材中の(b1)不定形の窒化ホウ素と(b2)不定形のベーマイトとの合計100体積部に対して1〜40体積部である上記[1]乃至[3]のいずれか一に記載のプリント配線板用樹脂組成物。
[5]前記(B)無機充填材は、さらに(b4)略立方形状のベーマイトを含むものである上記[1]乃至[4]のいずれか一に記載のプリント配線板用樹脂組成物。
[6]前記(B)無機充填材の配合量は、プリント配線板用樹脂組成物中に55〜90重量%である上記[1]乃至[5]のいずれか一に記載のプリント配線板用樹脂組成物。
[7]上記[1]乃至[6]のいずれか一に記載のプリント配線板用樹脂組成物を基材に含浸してなることを特徴とするプリプレグ。
[8]上記[7]に記載のプリプレグ、又は当該プリプレグを2枚以上重ね合わせた積層体の少なくとも片面に金属箔を有することを特徴とする積層板。
[9]上記[1]乃至[6]のいずれか一に記載のプリント配線板用樹脂組成物よりなる絶縁層をフィルム上、又は金属箔上に形成してなる樹脂シート。
[10]上記[8]に記載の積層板を内層回路基板に用いてなることを特徴とするプリント配線板。
[11]内層回路基板の回路上に、上記[7]に記載のプリプレグ、及び/または[9]に記載の樹脂シートを積層してなるプリント配線板。
[12]上記[10]、または[11]に記載のプリント配線板に半導体素子を搭載してなることを特徴とする半導体装置。
The above object is achieved by the present invention described in the following [1] to [12].
[1] A printed wiring board resin composition comprising (A) an epoxy resin and (B) an inorganic filler, wherein (B) the inorganic filler comprises (b1) amorphous boron nitride, (b2) A resin composition for a printed wiring board, comprising: regular boehmite; and (b3) inorganic fine particles having an average particle diameter of 5 to 100 nm as essential components.
[2] The resin composition for a printed wiring board according to [1], wherein the (A) epoxy resin is an epoxy resin having at least one structure selected from the group consisting of a naphthalene structure, a biphenyl structure, and an anthracene structure. .
[3] The resin composition for an epoxy resin assembled printed wiring board according to the above [1] or [2], wherein the resin composition for a printed wiring board further contains a cyanate resin.
[4] (b3) The inorganic fine particles having an average particle diameter of 5 to 100 nm are in a total volume of 100 parts by volume of (B1) amorphous boron nitride and (b2) amorphous boehmite in the inorganic filler (B). The resin composition for printed wiring boards according to any one of [1] to [3], which is 1 to 40 parts by volume.
[5] The resin composition for a printed wiring board according to any one of [1] to [4], wherein the (B) inorganic filler further contains (b4) substantially cubic boehmite.
[6] The amount of the inorganic filler (B) is 55 to 90% by weight in the resin composition for printed wiring boards, according to any one of [1] to [5] above. Resin composition.
[7] A prepreg obtained by impregnating a substrate with the resin composition for printed wiring boards according to any one of [1] to [6].
[8] A laminate having a metal foil on at least one side of the prepreg according to [7] or a laminate in which two or more prepregs are laminated.
[9] A resin sheet obtained by forming an insulating layer made of the resin composition for printed wiring boards according to any one of [1] to [6] on a film or a metal foil.
[10] A printed wiring board comprising the laminated board according to [8] above as an inner circuit board.
[11] A printed wiring board obtained by laminating the prepreg according to [7] and / or the resin sheet according to [9] on a circuit of an inner layer circuit board.
[12] A semiconductor device comprising a semiconductor element mounted on the printed wiring board according to the above [10] or [11].

本発明によれば、(b1)不定形の窒化ホウ素、(b2)不定形のベーマイト、および(b3)平均粒径5〜100nmの無機微粒子を必須成分としてプリント配線板用樹脂組成物に含有させることにより、前記プリント配線板用樹脂組成物のワニスは低粘度の状態でガラス繊維等の基材に(b1)不定形の窒化ホウ素、(b2)不定形のベーマイト、および(b3)平均粒径5〜100nmの無機微粒子を多量に含侵することができる。
また前記プリント配線板用樹脂組成物の基材への含浸性が良好となる。前記プリント配線板用樹脂組成物を用いて作製したプリプレグは、低熱膨張性、ドリル加工性、及び信頼性に優れる。
さらに、前記積層板、前記プリプレグ、及び前記樹脂組成物のうち少なくともいずれか1つを用いて、性能に優れるプリント配線板を得ることができる。また、本発明によれば、前記プリント配線板を用いて、性能に優れる半導体装置を得ることができる。
According to the present invention, (b1) amorphous boron nitride, (b2) amorphous boehmite, and (b3) inorganic fine particles having an average particle diameter of 5 to 100 nm are contained as essential components in the resin composition for printed wiring boards. Thus, the varnish of the resin composition for printed wiring boards has a low viscosity state on a substrate such as glass fiber (b1) amorphous boron nitride, (b2) amorphous boehmite, and (b3) average particle diameter A large amount of 5 to 100 nm inorganic fine particles can be impregnated.
Moreover, the impregnation property to the base material of the said resin composition for printed wiring boards becomes favorable. A prepreg produced using the resin composition for printed wiring boards is excellent in low thermal expansion, drill workability, and reliability.
Furthermore, the printed wiring board which is excellent in performance can be obtained using at least any one of the laminate, the prepreg, and the resin composition. Further, according to the present invention, a semiconductor device having excellent performance can be obtained using the printed wiring board.

本発明のプリプレグの製造に用いられる含浸塗布設備の一例を示す概略図である。It is the schematic which shows an example of the impregnation coating equipment used for manufacture of the prepreg of this invention. 本発明の積層板の製造方法の一例を示す概略図である。It is the schematic which shows an example of the manufacturing method of the laminated board of this invention. 本発明の積層板の製造方法の他の一例を示す概略図である。It is the schematic which shows another example of the manufacturing method of the laminated board of this invention.

(プリント配線板用樹脂組成物)
まず、プリント配線板用樹脂組成物について説明する。
本発明のプリント配線板用樹脂組成物は、(A)エポキシ樹脂、(B)無機充填材を必須成分とするプリント配線板用樹脂組成物であって、(B)無機充填材が、(b1)不定形の窒化ホウ素、(b2)不定形のベーマイト、および(b3)平均粒径5〜100nmの無機微粒子とを併用してプリント配線板用樹脂組成物に含有させることにより、前記プリント配線板用樹脂組成物のワニスが低粘度の状態で、前記無機充填材を多量に含有させることができる。
また、(b1)不定形の窒化ホウ素、および(b2)不定形のベーマイトは、ともに弾性率が低く、また硬度も低いため、ドリル磨耗性に優れる。
さらに(b3)平均粒径5〜100nmの無機微粒子は、無機充填材の高充填化、繊維基材への含浸性を高め、および積層板の成形性を向上させることができる。従って、プリント配線板用樹脂組成物の硬化物全体の膨張係数を低くし、かつドリル磨耗性を低下することができる。また、放熱性、および難燃性にも優れる。
(Resin composition for printed wiring boards)
First, the resin composition for printed wiring boards will be described.
The resin composition for printed wiring boards of the present invention is a resin composition for printed wiring boards containing (A) an epoxy resin and (B) an inorganic filler as essential components, and (B) the inorganic filler is (b1). The printed wiring board is made to contain a combination of (a) amorphous boron nitride, (b2) amorphous boehmite, and (b3) inorganic fine particles having an average particle diameter of 5 to 100 nm. A large amount of the inorganic filler can be contained in a state where the resin composition varnish has a low viscosity.
In addition, (b1) amorphous boron nitride and (b2) amorphous boehmite both have low elastic modulus and low hardness, and therefore have excellent drill wear.
Furthermore, (b3) inorganic fine particles having an average particle diameter of 5 to 100 nm can increase the filling of the inorganic filler, increase the impregnation property of the fiber base material, and improve the moldability of the laminate. Therefore, the expansion coefficient of the entire cured product of the resin composition for printed wiring boards can be lowered, and drill wear resistance can be lowered. Moreover, it is excellent also in heat dissipation and a flame retardance.

前記(b1)不定形の窒化ホウ素とは、粒状(略立方形状)、短形状、鱗片状、針状、破砕状などの形状の窒化ホウ素が挙げられる。(b1)不定形の窒化ホウ素の形状は、特に限定されないが、放熱性の観点で、粒状、鱗片状が好ましい。また粒子サイズは、ドリル穴位置精度、およびドリル加工後の孔内壁面粗さの点から、平均粒子径0.1〜10μmが好ましい。分散性、含浸性の観点で0.5〜5μmであることがより好ましい。 Examples of the (b1) amorphous boron nitride include boron nitride having a granular shape (substantially cubic shape), a short shape, a scale shape, a needle shape, or a crushed shape. (B1) The shape of the amorphous boron nitride is not particularly limited, but is preferably granular or scaly from the viewpoint of heat dissipation. The particle size is preferably an average particle diameter of 0.1 to 10 μm from the viewpoint of drill hole position accuracy and the inner wall surface roughness after drilling. From the viewpoint of dispersibility and impregnation, it is more preferably 0.5 to 5 μm.

前記(b2)不定形のベーマイトの形状は、粒状(略立方形状)、短形状、鱗片状、針状、破砕状などの形状が挙げられる。(b2)不定形のベーマイトの形状は、特に限定されないが、放熱性の観点で、粒状、鱗片状が好ましい。特に、(b1)不定形の窒化ホウ素と異なる形状の組合せが好ましい。さらに好ましくは、(b1)粒状の窒化ホウ素と(b2)鱗片状のベーマイト、または(b1)鱗片状の窒化ホウ素と(b2)粒状(略立方形状)のベーマイトの組合せである。異なる形状の組合せとすることで、放熱性を高めることができ、かつ、ドリル加工時の切削粉の排出性が良くなるため、ドリルビットの折損が低減する。 Examples of the shape of the (b2) irregular boehmite include granular shapes (substantially cubic shapes), short shapes, scale shapes, needle shapes, and crushed shapes. (B2) The shape of the irregular boehmite is not particularly limited, but granular and scale-like are preferable from the viewpoint of heat dissipation. In particular, (b1) a combination of shapes different from the amorphous boron nitride is preferable. More preferred is a combination of (b1) granular boron nitride and (b2) flaky boehmite, or (b1) flaky boron nitride and (b2) granular (substantially cubic) boehmite. By combining different shapes, it is possible to improve heat dissipation and improve the discharge of cutting powder during drilling, thereby reducing drill bit breakage.

前記(b2)不定形のベーマイトの粒子径は、特に限定されないが、ドリル穴位置精度、およびドリル加工後の孔内壁面粗さの点から、平均粒子径0.1〜8μmが好ましい。また分散性、含浸性の観点で、平均粒子径0.5〜5μmであることが好ましい。 The particle diameter of the (b2) irregular boehmite is not particularly limited, but an average particle diameter of 0.1 to 8 μm is preferable from the viewpoint of drill hole position accuracy and the inner wall surface roughness after drilling. Moreover, it is preferable that it is an average particle diameter of 0.5-5 micrometers from a dispersible and impregnable viewpoint.

前記(b1)不定形の窒化ホウ素と、前記(b2)不定形のベーマイトの含有量は、特に限定されないが、重量比率で、(b1)不定形の窒化ホウ素:(b2)不定形のベーマイト=10:90〜90:10であることが好ましく、熱伝導性の観点からは、特に20:80〜80:20であることが好ましい。 The content of the (b1) amorphous boron nitride and the (b2) amorphous boehmite is not particularly limited, but in terms of weight ratio, (b1) amorphous boron nitride: (b2) amorphous boehmite = The ratio is preferably 10:90 to 90:10, and particularly preferably 20:80 to 80:20 from the viewpoint of thermal conductivity.

前記(b3)平均粒径5〜100nmの無機微粒子は、プリント配線板用樹脂組成物に含有することで、多量の無機充填材を基材中に均一に含浸させることができる。
従って、プリプレグ、または積層板の熱膨張係数を従来よりも小さくすることができる。(b3)平均粒径5〜100nmの無機微粒子は、特に限定されないが、例えば、タルク、焼成タルク、焼成クレー、未焼成クレー、マイカ、ガラス等のケイ酸塩、酸化チタン、アルミナ、シリカ、溶融シリカ等の酸化物、炭酸カルシウム、炭酸マグネシウム、ハイドロタルサイト等の炭酸塩、水酸化アルミニウム、水酸化マグネシウム、水酸化カルシウム等の水酸化物、硫酸バリウム、硫酸カルシウム、亜硫酸カルシウム等の硫酸塩または亜硫酸塩、ホウ酸亜鉛、メタホウ酸バリウム、ホウ酸アルミニウム、ホウ酸カルシウム、ホウ酸ナトリウム等のホウ酸塩、窒化アルミニウム、窒化ホウ素、窒化ケイ素、窒化炭素等の窒化物、チタン酸ストロンチウム、チタン酸バリウム等のチタン酸塩等を挙げることができる。これらの中の1種類を単独で用いることもできるし、2種類以上を併用したりすることもできる。
この中でもシリカ、酸化チタン、硫酸バリウム等が積層板の線熱膨張率を下げる点で好ましい。
By containing the inorganic fine particles (b3) having an average particle diameter of 5 to 100 nm in the resin composition for printed wiring boards, a large amount of inorganic filler can be uniformly impregnated in the substrate.
Therefore, the coefficient of thermal expansion of the prepreg or the laminate can be made smaller than before. (B3) The inorganic fine particles having an average particle diameter of 5 to 100 nm are not particularly limited. For example, silicates such as talc, fired talc, fired clay, unfired clay, mica and glass, titanium oxide, alumina, silica, and molten Oxides such as silica, carbonates such as calcium carbonate, magnesium carbonate and hydrotalcite, hydroxides such as aluminum hydroxide, magnesium hydroxide and calcium hydroxide, sulfates such as barium sulfate, calcium sulfate and calcium sulfite or Sulfites, zinc borate, barium metaborate, aluminum borate, calcium borate, borate such as sodium borate, nitrides such as aluminum nitride, boron nitride, silicon nitride, carbon nitride, strontium titanate, titanate Examples thereof include titanates such as barium. One of these can be used alone, or two or more can be used in combination.
Among these, silica, titanium oxide, barium sulfate, and the like are preferable from the viewpoint of lowering the linear thermal expansion coefficient of the laminate.

前記(b3)平均粒径5〜100nmの無機微粒子の形状は、球状であることが好ましい。ここで、球状とは、真球度が0.8以上のものをいう。1.0に近づくほど真球に近い。算出方法は、例えば、SEMで写真を撮り、その観察される粒子の面積と周囲長から、(真球度)={4π×(面積)÷(周囲長)}で算出される値として算出する。具体的には画像処理装置を用いて100個の粒子について測定した平均値を採用する。)これにより、基材への含浸性が向上する。球状にする方法は、特に限定されないが、例えば、シリカの場合は、燃焼法などの乾式の溶融シリカや沈降法やゲル法などの湿式のゾルゲルシリカなどにより球状にすることができる。 The shape of the inorganic fine particles (b3) having an average particle diameter of 5 to 100 nm is preferably spherical. Here, the spherical shape means that having a sphericity of 0.8 or more. The closer to 1.0, the closer to a true sphere. As a calculation method, for example, a photograph is taken with an SEM, and is calculated as a value calculated by (sphericity) = {4π × (area) ÷ (perimeter length) 2 } from the area and circumference of the observed particle. To do. Specifically, an average value measured for 100 particles using an image processing apparatus is employed. This improves the impregnation of the substrate. The method for making the sphere is not particularly limited. For example, in the case of silica, the sphere can be made spherical by dry fused silica such as a combustion method or wet sol-gel silica such as a precipitation method or a gel method.

前記(b3)平均粒径5〜100nmの微粒子の含有量は、特に限定されないが、(B)無機充填材の(b1)不定形の窒化ホウ素と(b2)不定形のベーマイトとの合計を100体積部として、(b1)不定形の窒化ホウ素と(b2)不定形のベーマイトとの合計100体積部に対して1〜40体積部であることが好ましい。さらに好ましくは、5〜25体積部である。これにより無機充填材の分散性と基材への含浸性に優れる。 The content of the (b3) fine particles having an average particle diameter of 5 to 100 nm is not particularly limited, but the total of (b1) amorphous boron nitride and (b2) amorphous boehmite in (B) inorganic filler is 100. The volume is preferably 1 to 40 parts by volume with respect to a total of 100 parts by volume of (b1) amorphous boron nitride and (b2) amorphous boehmite. More preferably, it is 5 to 25 parts by volume. Thereby, it is excellent in the dispersibility of an inorganic filler and the impregnation property to a base material.

前記(B)無機充填材は、(b1)不定形の窒化ホウ素、(b2)不定形のベーマイト、および(b3)平均粒径5〜100nmの無機微粒子に加え、さらに他の充填材を用いても良い。
他の充填材は、特に限定されないが、例えば、形状の異なるべーマイト、シリカ、水酸化アルミニウム、タルク、シリコーンパウダ、ゴム粒子等が挙げられる。これらの中でも、(b4)粒状(略立方形状)のベーマイトが好ましい。(b4)略立方形状のベーマイトを用いる場合は、(b2)不定形のベーマイトとして、麟片状が好ましい。これによって、放熱性に優れる。
In addition to (b1) amorphous boron nitride, (b2) amorphous boehmite, and (b3) inorganic fine particles having an average particle diameter of 5 to 100 nm, the (B) inorganic filler is further added with other fillers. Also good.
Other fillers are not particularly limited, and examples thereof include boehmite, silica, aluminum hydroxide, talc, silicone powder, and rubber particles having different shapes. Among these, (b4) granular (substantially cubic) boehmite is preferable. When (b4) substantially cubic boehmite is used, (b2) an irregular boehmite is preferably a scaly shape. Thereby, it is excellent in heat dissipation.

前記(B)無機充填材の含有量は、特に限定されないが、プリント配線板用樹脂組成物全体の固形分基準で20〜80重量%であることが好ましく、低熱膨張化、絶縁信頼性、および成形性の観点から、特に45〜75重量%であることが好ましい。 The content of the inorganic filler (B) is not particularly limited, but is preferably 20 to 80% by weight based on the solid content of the entire resin composition for printed wiring boards, and has low thermal expansion, insulation reliability, and From the viewpoint of moldability, it is particularly preferably 45 to 75% by weight.

前記(A)エポキシ樹脂としては、特に限定されないが、例えば、ビスフェノールA型エポキシ樹脂、ビスフェノールF型エポキシ樹脂、ビスフェノールE型エポキシ樹脂、ビスフェノールS型エポキシ樹脂、ビスフェノールZ型エポキシ樹脂(4,4’−シクロヘキシジエンビスフェノール型エポキシ樹脂)、ビスフェノールP型エポキシ樹脂(4,4’−(1,4−フェニレンジイソプリジエン)ビスフェノール型エポキシ樹脂)、ビスフェノールM型エポキシ樹脂(4,4’−(1,3−フェニレンジイソプリジエン)ビスフェノール型エポキシ樹脂)等のビスフェノール型エポキシ樹脂、フェノールノボラック型エポキシ樹脂、クレゾールノボラック型エポキシ樹脂等のノボラック型エポキシ樹脂、ビフェニル型エポキシ樹脂、キシリレン型エポキシ樹脂、フェノールアラルキル型エポキシ樹脂、ビフェニルアラルキル型エポキシ樹脂、ビフェニルジメチレン型エポキシ樹脂、トリスフェノールメタンノボラック型エポキシ樹脂、1,1,2,2−(テトラフェノール)エタンのグリシジルエーテル類、3官能、又は4官能のグリシジルアミン類、テトラメチルビフェニル型エポキシ樹脂等のアリールアルキレン型エポキシ樹脂、ナフタレン骨格変性エポキシ樹脂、メトキシナフタレン変性クレゾールノボラック型エポキシ樹脂、メトキシナフタレンジメチレン型エポキシ樹脂等のナフタレン型エポキシ樹脂、アントラセン型エポキシ樹脂、フェノキシ型エポキシ樹脂、ジシクロペンタジエン型エポキシ樹脂、ノルボルネン型エポキシ樹脂、アダマンタン型エポキシ樹脂、フルオレン型エポキシ樹脂、上記エポキシ樹脂をハロゲン化した難燃化エポキシ樹脂等が挙げられる。これらの中の1種類を単独で用いることもできるし、異なる重量平均分子量を有する2種類以上を併用することもでき、1種類又は2種類以上と、それらのプレポリマーを併用することもできる。
これらのエポキシ樹脂の中でも特に、ビフェニルアラルキル型エポキシ樹脂、ナフタレン骨格変性エポキシ樹脂、及びノボラック型エポキシ樹脂よりなる群から選ばれる少なくとも1種が好ましい。これにより、耐熱性及び難燃性を向上させる。
The (A) epoxy resin is not particularly limited. For example, bisphenol A type epoxy resin, bisphenol F type epoxy resin, bisphenol E type epoxy resin, bisphenol S type epoxy resin, bisphenol Z type epoxy resin (4,4 ′ -Cyclohexyldiene bisphenol type epoxy resin), bisphenol P type epoxy resin (4,4 '-(1,4-phenylenediisopridiene) bisphenol type epoxy resin), bisphenol M type epoxy resin (4,4'-( 1,3-phenylenediisopridiene) bisphenol type epoxy resins), phenol novolac type epoxy resins, cresol novolac type epoxy resins, etc. novolak type epoxy resins, biphenyl type epoxy resins, xylile Type epoxy resin, phenol aralkyl type epoxy resin, biphenyl aralkyl type epoxy resin, biphenyl dimethylene type epoxy resin, trisphenol methane novolak type epoxy resin, glycidyl ethers of 1,1,2,2- (tetraphenol) ethane, 3 Functional or tetrafunctional glycidylamines, arylalkylene type epoxy resins such as tetramethylbiphenyl type epoxy resin, naphthalene type epoxy resin such as naphthalene skeleton modified epoxy resin, methoxynaphthalene modified cresol novolac type epoxy resin, methoxynaphthalene dimethylene type epoxy resin Epoxy resin, anthracene type epoxy resin, phenoxy type epoxy resin, dicyclopentadiene type epoxy resin, norbornene type epoxy resin, adamantane type epoxy resin, full Ren type epoxy resin, flame-retardant epoxy resin or the like halogenated epoxy resins. One of these can be used alone, two or more having different weight average molecular weights can be used in combination, and one or two or more of these prepolymers can be used in combination.
Among these epoxy resins, at least one selected from the group consisting of biphenyl aralkyl type epoxy resins, naphthalene skeleton-modified epoxy resins, and novolak type epoxy resins is preferable. Thereby, heat resistance and a flame retardance are improved.

前記(A)エポキシ樹脂の含有量は、特に限定されないが、プリント配線板用樹脂組成物全体の固形分基準で20〜80重量%とすることが好ましい。含有量が前記下限値未満であると、エポキシ樹脂の硬化性が低下したり、当該プリント配線板用樹脂組成物より得られるプリプレグ、又はプリント配線板の耐湿性が低下したりする場合がある。また、前記上限値を超えると、プリプレグ又はプリント配線板の線熱膨張率が大きくなったり、耐熱性が低下したりする場合がある。 Although content of the said (A) epoxy resin is not specifically limited, It is preferable to set it as 20 to 80 weight% on the solid content basis of the resin composition for printed wiring boards whole. When the content is less than the lower limit, the curability of the epoxy resin may be reduced, or the moisture resistance of the prepreg obtained from the printed wiring board resin composition or the printed wiring board may be reduced. Moreover, when the said upper limit is exceeded, the linear thermal expansion coefficient of a prepreg or a printed wiring board may become large, or heat resistance may fall.

前記(A)エポキシ樹脂の重量平均分子量は、特に限定されないが、重量平均分子量4.0×10〜1.8×10が好ましい。重量平均分子量が前記下限未満であると、ガラス転移点が低下し、前記上限値を超えると流動性が低下し、基材に含浸できない場合がある。重量平均分子量を前記範囲内とすることにより、含浸性に優れたものとすることができる。
前記エポキシ樹脂の重量平均分子量は、例えば、ゲル浸透クロマトグラフィー(GPC)で測定し、ポリスチレン換算の重量分子量として特定することができる。
The weight average molecular weight of the (A) epoxy resin is not particularly limited, but a weight average molecular weight of 4.0 × 10 2 to 1.8 × 10 4 is preferable. If the weight average molecular weight is less than the lower limit, the glass transition point is lowered, and if it exceeds the upper limit, the fluidity is lowered and the substrate may not be impregnated. By setting the weight average molecular weight within the above range, the impregnation property can be improved.
The weight average molecular weight of the epoxy resin can be measured by gel permeation chromatography (GPC), for example, and can be specified as a weight molecular weight in terms of polystyrene.

本発明のプリント配線板用樹脂組成物は、特に限定されないが、シアネート樹脂を含むことが好ましい。これにより、難燃性をより向上させることができる。
前記シアネート樹脂は、特に限定されないが、例えば、ハロゲン化シアン化合物とフェノール類やナフトール類とを反応させ、必要に応じて加熱等の方法でプレポリマー化することにより得ることができる。また、このようにして調製された市販品を用いることもできる。
Although the resin composition for printed wiring boards of this invention is not specifically limited, It is preferable that cyanate resin is included. Thereby, a flame retardance can be improved more.
The cyanate resin is not particularly limited, and can be obtained, for example, by reacting a halogenated cyanide compound with phenols or naphthols, and prepolymerizing by a method such as heating as necessary. Moreover, the commercial item prepared in this way can also be used.

前記シアネート樹脂は、特に限定されないが、例えば、ノボラック型シアネート樹脂、ビスフェノールA型シアネート樹脂、ビスフェノールE型シアネート樹脂、テトラメチルビスフェノールF型シアネート樹脂等のビスフェノール型シアネート樹脂、及びナフトールアラルキル型シアネート樹脂等を挙げることができる。   The cyanate resin is not particularly limited, and examples thereof include novolak type cyanate resin, bisphenol A type cyanate resin, bisphenol E type cyanate resin, bisphenol type cyanate resin such as tetramethylbisphenol F type cyanate resin, and naphthol aralkyl type cyanate resin. Can be mentioned.

前記シアネート樹脂は、分子内に2個以上のシアネート基(−O−CN)を有することが好ましい。例えば、2,2’−ビス(4−シアナトフェニル)イソプロピリデン、1,1’−ビス(4−シアナトフェニル)エタン、ビス(4−シアナト−3,5−ジメチルフェニル)メタン、1,3−ビス(4−シアナトフェニル−1−(1−メチルエチリデン))ベンゼン、ジシクロペンタジエン型シアネートエステル、フェノールノボラック型シアネートエステル、ビス(4−シアナトフェニル)チオエーテル、ビス(4−シアナトフェニル)エーテル、1,1,1−トリス(4−シアナトフェニル)エタン、トリス(4−シアナトフェニル)ホスファイト、ビス(4−シアナトフェニル)スルホン、2,2−ビス(4−シアナトフェニル)プロパン、1,3−、1,4−、1,6−、1,8−、2,6−又は2,7−ジシアナトナフタレン、1,3,6−トリシアナトナフタレン、4,4−ジシアナトビフェニル、及びフェノールノボラック型、クレゾールノボラック型の多価フェノール類と、ハロゲン化シアンとの反応で得られるシアネート樹脂、ナフトールアラルキル型の多価ナフトール類と、ハロゲン化シアンとの反応で得られるシアネート樹脂等が挙げられる。これらの中で、フェノールノボラック型シアネート樹脂が難燃性、及び低熱膨張性に優れ、2,2−ビス(4−シアナトフェニル)イソプロピリデン、及びジシクロペンタジエン型シアネートエステルが架橋密度の制御、及び耐湿信頼性に優れている。特に、フェノールノボラック型シアネート樹脂が低熱膨張性の点から好ましい。また、更に他のシアネート樹脂を1種類あるいは2種類以上併用したりすることもでき、特に限定されない。   The cyanate resin preferably has two or more cyanate groups (—O—CN) in the molecule. For example, 2,2′-bis (4-cyanatophenyl) isopropylidene, 1,1′-bis (4-cyanatophenyl) ethane, bis (4-cyanato-3,5-dimethylphenyl) methane, 3-bis (4-cyanatophenyl-1- (1-methylethylidene)) benzene, dicyclopentadiene type cyanate ester, phenol novolac type cyanate ester, bis (4-cyanatophenyl) thioether, bis (4-cyanato) Phenyl) ether, 1,1,1-tris (4-cyanatophenyl) ethane, tris (4-cyanatophenyl) phosphite, bis (4-cyanatophenyl) sulfone, 2,2-bis (4-si Anatophenyl) propane, 1,3-, 1,4-, 1,6-, 1,8-, 2,6- or 2,7-dicyanatonaphthalene, 1 Cyanate resin obtained by reaction of 3,6-tricyanatonaphthalene, 4,4-dicyanatobiphenyl, phenol novolac type, cresol novolac type polyhydric phenols with cyanogen halide, naphthol aralkyl type polyvalent naphthol And cyanate resin obtained by the reaction of a halogenated cyanide. Among these, phenol novolac-type cyanate resin is excellent in flame retardancy and low thermal expansion, and 2,2-bis (4-cyanatophenyl) isopropylidene and dicyclopentadiene-type cyanate ester are used to control the crosslinking density, Excellent moisture resistance reliability. In particular, a phenol novolac type cyanate resin is preferred from the viewpoint of low thermal expansion. Furthermore, other cyanate resins may be used alone or in combination of two or more, and are not particularly limited.

前記シアネート樹脂は、単独で用いてもよいし、重量平均分子量の異なるシアネート樹脂を併用したり、前記シアネート樹脂とそのプレポリマーとを併用したりすることもできる。
前記プレポリマーは、通常、前記シアネート樹脂を加熱反応等により、例えば3量化することで得られるものであり、プリント配線板用樹脂組成物の成形性、流動性を調整するために好ましく使用されるものである。
前記プレポリマーは、特に限定されないが、例えば、3量化率が20〜50重量%のプレポリマーを用いた場合、良好な成形性、流動性を発現できる。
The said cyanate resin may be used independently, can also use together cyanate resin from which a weight average molecular weight differs, or can also use together the said cyanate resin and its prepolymer.
The prepolymer is usually obtained by, for example, trimerizing the cyanate resin by a heat reaction or the like, and is preferably used for adjusting the moldability and fluidity of the resin composition for a printed wiring board. Is.
The prepolymer is not particularly limited. For example, when a prepolymer having a trimerization rate of 20 to 50% by weight is used, good moldability and fluidity can be expressed.

前記シアネート樹脂の含有量は、特に限定されないが、プリント配線板用樹脂組成物全体の固形分基準で5〜60重量%であることが好ましく、より好ましくは10〜50重量%であり、特に好ましくは10〜40重量%である。含有量が前記範囲内であると、シアネート樹脂は、効果的に耐熱性、及び難燃性を発現させることができる。シアネート樹脂の含有量が前記下限未満であると熱膨張性が大きくなり、耐熱性が低下する場合があり、前記上限値を超えるとプリント配線板用樹脂組成物を用いて作製したプリプレグの強度が低下する場合がある。   The content of the cyanate resin is not particularly limited, but is preferably 5 to 60% by weight, more preferably 10 to 50% by weight, particularly preferably based on the solid content of the entire resin composition for printed wiring boards. Is from 10 to 40% by weight. When the content is within the above range, the cyanate resin can effectively exhibit heat resistance and flame retardancy. If the content of the cyanate resin is less than the lower limit, the thermal expansibility may increase, and the heat resistance may decrease.If the content exceeds the upper limit, the strength of the prepreg produced using the resin composition for a printed wiring board is increased. May decrease.

また、本発明のプリント配線板用樹脂組成物は、特に限定されないが、マレイミド樹脂を含むことが好ましい。これにより、耐熱性を向上させることができる。
前記マレイミド樹脂としては、特に限定されないが、N,N’−(4,4’−ジフェニルメタン)ビスマレイミド、ビス(3−エチル−5−メチル−4−マレイミドフェニル)メタン、2,2−ビス[4−(4−マレイミドフェノキシ)フェニル]プロパン等のビスマレイミド樹脂が挙げられる。また、更に他のマレイミド樹脂を1種類あるいは2種類以上併用したりすることもでき、特に限定されない。
Moreover, although the resin composition for printed wiring boards of this invention is not specifically limited, It is preferable that maleimide resin is included. Thereby, heat resistance can be improved.
The maleimide resin is not particularly limited, but N, N ′-(4,4′-diphenylmethane) bismaleimide, bis (3-ethyl-5-methyl-4-maleimidophenyl) methane, 2,2-bis [ And bismaleimide resins such as 4- (4-maleimidophenoxy) phenyl] propane. Furthermore, other maleimide resins can be used alone or in combination of two or more, and are not particularly limited.

前記マレイミド樹脂は、単独で用いてもよいし、重量平均分子量の異なるマレイミド樹脂を併用したり、前記マレイミド樹脂とそのプレポリマーとを併用したりすることもできる。 The maleimide resin may be used alone, or may be used in combination with maleimide resins having different weight average molecular weights, or may be used in combination with the maleimide resin and its prepolymer.

前記マレイミド樹脂の含有量は、特に限定されないが、プリント配線板用樹脂組成物の固形分基準で1〜30重量%であることが好ましく、より好ましくは3〜25重量%であり、さらに好ましくは5〜20重量%である。   The content of the maleimide resin is not particularly limited, but is preferably 1 to 30% by weight, more preferably 3 to 25% by weight, and still more preferably based on the solid content of the resin composition for printed wiring boards. 5 to 20% by weight.

さらに、本発明のプリント配線板用樹脂組成物は、ポリイミド樹脂、トリアジン樹脂、フェノール樹脂、及びメラミン樹脂よりなる群から選ばれる少なくとも1種を含んでいてもよい。   Furthermore, the resin composition for printed wiring boards of the present invention may contain at least one selected from the group consisting of a polyimide resin, a triazine resin, a phenol resin, and a melamine resin.

本発明のプリント配線板用樹脂組成物は、フェノール系硬化剤を使用することができる。フェノール系硬化剤としては、例えば、フェノールノボラック樹脂、アルキルフェノールノボラック樹脂、ビスフェノールAノボラック樹脂、ジシクロペンタジエン型フェノール樹脂、ザイロック型フェノール樹脂、テルペン変性フェノール樹脂、ポリビニルフェノール類等公知慣用のものを単独あるいは2種類以上組み合わせて使用することができる。   A phenolic curing agent can be used for the resin composition for printed wiring boards of the present invention. As the phenolic curing agent, for example, a phenol novolak resin, an alkylphenol novolak resin, a bisphenol A novolak resin, a dicyclopentadiene type phenol resin, a zylock type phenol resin, a terpene modified phenol resin, a polyvinylphenol, or the like can be used alone or Two or more types can be used in combination.

前記フェノール系硬化剤の含有量は、特に限定されないが、エポキシ樹脂との当量比(フェノール性水酸基当量/エポキシ基当量)が1.0未満、0.1以上が好ましい。これにより、未反応のフェノール系硬化剤の残留がなくなり、吸湿耐熱性が向上する。更に、厳しい吸湿耐熱性を必要とする場合は、0.2〜0.5の範囲が特に好ましい。また、フェノール樹脂は、硬化剤として作用するだけでなく、シアネート基とエポキシ基との硬化を促進することができる。 Although content of the said phenol type hardening | curing agent is not specifically limited, The equivalent ratio (phenolic hydroxyl group equivalent / epoxy group equivalent) with an epoxy resin is less than 1.0 and 0.1 or more are preferable. As a result, there remains no unreacted phenolic curing agent, and the moisture absorption heat resistance is improved. Furthermore, when severe moisture absorption heat resistance is required, the range of 0.2 to 0.5 is particularly preferable. In addition, the phenol resin not only acts as a curing agent, but can promote curing of a cyanate group and an epoxy group.

本発明のプリント配線板用樹脂組成物は、必要に応じて、上記成分以外の添加物を、特性を損なわない範囲で添加することができる。上記成分以外の成分は、例えば、エポキシシランカップリング剤、カチオニックシランカップリング剤、アミノシランカップリング剤、チタネート系カップリング剤、シリコーンオイル型カップリング剤等のカップリング剤、イミダゾール類、トリフェニルホスフィン、及び4級ホスホニウム塩等の硬化促進剤、アクリル系重合物等の表面調整剤、染料及び顔料等の着色剤等を挙げることができる。   The resin composition for a printed wiring board of the present invention can be added with additives other than the above components as necessary within a range that does not impair the characteristics. Components other than the above components include, for example, epoxy silane coupling agents, cationic silane coupling agents, aminosilane coupling agents, titanate coupling agents, coupling agents such as silicone oil type coupling agents, imidazoles, and triphenyl. Examples thereof include curing accelerators such as phosphine and quaternary phosphonium salts, surface conditioners such as acrylic polymers, and colorants such as dyes and pigments.

本発明のプリント配線板用樹脂組成物は、プリプレグの調製の際に、溶媒に溶解させてワニスとして用いられる。前記ワニスの調製方法は、特に限定されないが、例えば、前記無機充填剤(B)を溶媒に分散したスラリーを調製し、当該スラリーにその他のプリント配線板用樹脂組成物の成分を添加し、さらに前記溶媒を加えて溶解・混合させる方法等が挙げられる。(b3)平均粒径5〜100nmの無機微粒子は、凝集し易く、樹脂組成物に配合する際に2次凝集してしまうことが多いため、予めスラリー状のものを用いてもよい。このような2次凝集を防止することができ、分散性が向上される。 The resin composition for a printed wiring board of the present invention is used as a varnish after being dissolved in a solvent when preparing a prepreg. The method for preparing the varnish is not particularly limited. For example, a slurry in which the inorganic filler (B) is dispersed in a solvent is prepared, and other components of the resin composition for printed wiring boards are added to the slurry. Examples thereof include a method in which the solvent is added and dissolved and mixed. (B3) Since the inorganic fine particles having an average particle diameter of 5 to 100 nm are likely to aggregate and often aggregate secondarily when blended in the resin composition, a slurry-like one may be used in advance. Such secondary aggregation can be prevented and dispersibility is improved.

前記溶媒としては、特に限定されないが、前記プリント配線板用樹脂組成物に対して良好な溶解性を示す溶媒が好ましく、例えば、シクロヘキサノン、アセトン、メチルエチルケトン、メチルイソブチルケトン、シクロペンタノン、ジメチルホルムアミド、ジメチルアセトアミド、N−メチルピロリドン等が挙げられる。尚、悪影響を及ぼさない範囲で貧溶媒を使用しても構わない。   The solvent is not particularly limited, but a solvent that exhibits good solubility in the resin composition for a printed wiring board is preferable, for example, cyclohexanone, acetone, methyl ethyl ketone, methyl isobutyl ketone, cyclopentanone, dimethylformamide, Examples thereof include dimethylacetamide and N-methylpyrrolidone. In addition, you may use a poor solvent in the range which does not exert a bad influence.

前記ワニスが含むプリント配線板用樹脂組成物の固形分は、特に限定されないが、30〜80重量%が好ましく、特に40〜70重量%が好ましい。これにより、プリント配線板用樹脂組成物の基材への含浸性を向上できる。   Although the solid content of the resin composition for printed wiring boards contained in the varnish is not particularly limited, it is preferably 30 to 80% by weight, particularly preferably 40 to 70% by weight. Thereby, the impregnation property to the base material of the resin composition for printed wiring boards can be improved.

(樹脂シート)
次に、樹脂シートについて説明する。
本発明の樹脂シートは、前記プリント配線板用樹脂組成物からなる絶縁層を金属箔上、またはフィルム上に形成してなるものである。
ここで、プリント配線板用樹脂組成物からなる絶縁層を金属箔、またはフィルム上に形成する方法としては特に限定されないが、例えば、プリント配線板用樹脂組成物を溶剤などに溶解・分散させて樹脂ワニスを調製して、各種塗工装置を用いて樹脂ワニスを基材に塗工した後、これを乾燥する方法、樹脂ワニスをスプレー装置にて基材に噴霧塗工した後、これを乾燥する方法などが挙げられる。
(Resin sheet)
Next, the resin sheet will be described.
The resin sheet of the present invention is formed by forming an insulating layer made of the resin composition for printed wiring board on a metal foil or a film.
Here, the method for forming the insulating layer made of the resin composition for a printed wiring board on a metal foil or film is not particularly limited. For example, the resin composition for a printed wiring board is dissolved and dispersed in a solvent or the like. After preparing a resin varnish and applying the resin varnish to the substrate using various coating devices, drying the resin varnish on the substrate with a spray device, drying the resin varnish The method of doing is mentioned.

前記樹脂ワニスに用いられる溶媒は、前記プリント配線板用樹脂組成物中の樹脂成分に対して良好な溶解性を示すことが望ましいが、悪影響を及ぼさない範囲で貧溶媒を使用しても構わない。良好な溶解性を示す溶媒としては、例えばアセトン、メチルエチルケトン、メチルイソブチルケトン、シクロヘキサノン、テトラヒドロフラン、ジメチルホルムアミド、ジメチルアセトアミド、ジメチルスルホキシド、エチレングリコール、セルソルブ系、カルビトール系等が挙げられる。   The solvent used in the resin varnish desirably exhibits good solubility in the resin component in the resin composition for printed wiring boards, but a poor solvent may be used as long as it does not adversely affect the resin varnish. . Examples of the solvent exhibiting good solubility include acetone, methyl ethyl ketone, methyl isobutyl ketone, cyclohexanone, tetrahydrofuran, dimethylformamide, dimethylacetamide, dimethyl sulfoxide, ethylene glycol, cellosolve and carbitol.

前記樹脂ワニス中の固形分含有量としては特に限定されないが、10〜70重量%が好ましく、特に20〜55重量%が好ましい。   Although it does not specifically limit as solid content in the said resin varnish, 10 to 70 weight% is preferable and 20 to 55 weight% is especially preferable.

本発明の樹脂シートは、絶縁層を2層以上有する場合、そのうちの少なくとも1層が本発明の樹脂組成物であることが好ましい。また本発明のプリント配線板用樹脂組成物よりなる絶縁層は、金属箔、またはフィルム上に直接本発明の樹脂組成物よりなる樹脂層を形成することが好ましい。こうすることでプリント配線板製造時において、本発明の樹脂組成物からなる絶縁層が外層回路導体と高いめっきピール強度を発現することができる。   When the resin sheet of the present invention has two or more insulating layers, at least one of them is preferably the resin composition of the present invention. Moreover, it is preferable that the insulating layer which consists of a resin composition for printed wiring boards of this invention forms the resin layer which consists of a resin composition of this invention directly on metal foil or a film. By doing so, the insulating layer made of the resin composition of the present invention can exhibit a high plating peel strength with the outer layer circuit conductor during the production of the printed wiring board.

前記本発明のプリント配線板用樹脂組成物からなる絶縁層の厚さは、0.5〜10μmの厚みであることが好ましい。前記範囲の絶縁層の厚さにすることにより、導体回路との高い密着性を得ることができる。 The insulating layer made of the resin composition for a printed wiring board of the present invention preferably has a thickness of 0.5 to 10 μm. By setting the thickness of the insulating layer within the above range, high adhesion with the conductor circuit can be obtained.

本発明の樹脂シートに用いるフィルムは、特に限定されないが、例えば、ポリエチレンテレフタレート、ポリブチレンテレフタレートなどのポリエステル樹脂、フッ素系樹脂、ポリイミド樹脂などの耐熱性を有した熱可塑性樹脂フィルムなどを用いることができる。   Although the film used for the resin sheet of the present invention is not particularly limited, for example, a polyester resin such as polyethylene terephthalate or polybutylene terephthalate, a thermoplastic resin film having heat resistance such as a fluorine resin, or a polyimide resin may be used. it can.

本発明の樹脂シートに用いる金属箔は、特に限定されないが、例えば、銅及び/又は銅系合金、アルミ及び/又はアルミ系合金、鉄及び/又は鉄系合金、銀及び/又は銀系合金、金及び金系合金、亜鉛及び亜鉛系合金、ニッケル及びニッケル系合金、錫及び錫系合金等の金属箔などを用いることができる。なお、本発明の樹脂シートを製造するにあたっては、絶縁層を積層する金属箔表面の凹凸は、表面粗さ(Rz)が2μm以下であることが好ましい。表面粗さ(Rz)が、2μm以下の金属箔表面上に、本発明の樹脂組成物からなる絶縁層を形成することにより、表面粗さが小さく、かつ、密着性(めっきピール強度)に優れるものとすることができる。
尚、金属の表面粗さ(Rz)は、10点測定を行い、その平均値とした。表面粗さは、JISB0601に基づいて測定した。
Although the metal foil used for the resin sheet of the present invention is not particularly limited, for example, copper and / or copper-based alloy, aluminum and / or aluminum-based alloy, iron and / or iron-based alloy, silver and / or silver-based alloy, Metal foils such as gold and gold-based alloys, zinc and zinc-based alloys, nickel and nickel-based alloys, tin and tin-based alloys, and the like can be used. In manufacturing the resin sheet of the present invention, the surface roughness (Rz) of the irregularities on the surface of the metal foil on which the insulating layer is laminated is preferably 2 μm or less. By forming an insulating layer made of the resin composition of the present invention on the surface of a metal foil having a surface roughness (Rz) of 2 μm or less, the surface roughness is small and adhesion (plating peel strength) is excellent. Can be.
The surface roughness (Rz) of the metal was measured at 10 points, and the average value was obtained. The surface roughness was measured based on JISB0601.

(プリプレグ)
次に、プリプレグについて説明する。
本発明のプリプレグは、前記プリント配線板用樹脂組成物を基材に含浸し、加熱乾燥してなるものである。本発明のプリント配線板用樹脂組成物は、(b1)不定形の窒化ホウ素、と(b2)不定形のベーマイトに(b3)平均粒径5〜100nmの無機微粒子を含有させているため、粘度の低いプリント配線板用樹脂組成物が得られ、従来に比べ基材に多量の充填剤を含浸したプリプレグを得ることができる。
また、得られたプリプレグは、低熱膨張性、ドリル加工性、信頼性、難燃性、およびデスミア耐性に優れる。
(Prepreg)
Next, the prepreg will be described.
The prepreg of the present invention is obtained by impregnating a substrate with the resin composition for printed wiring board and drying by heating. Since the resin composition for printed wiring boards of the present invention contains (b1) amorphous boron nitride and (b2) amorphous boehmite (b3) inorganic fine particles having an average particle diameter of 5 to 100 nm, A resin composition for printed wiring boards having a low level can be obtained, and a prepreg in which a base material is impregnated with a larger amount of filler can be obtained.
Moreover, the obtained prepreg is excellent in low thermal expansion property, drill workability, reliability, flame retardancy, and desmear resistance.

前記基材としては、特に限定されないが、例えば、ガラス織布、ガラス不織布、ガラスペーパー等のガラス繊維基材、紙、アラミド、ポリエステル、芳香族ポリエステル、フッ素樹脂等の合成繊維等からなる織布や不織布、金属繊維、カーボン繊維、鉱物繊維等からなる織布、不織布、マット類等が挙げられる。これらの基材は単独又は併用して使用してもよい。これらの中でもガラス繊維基材が好ましい。これにより、プリプレグの剛性、寸法安定性を向上することができる。このようなガラス繊維基材を構成するガラスとしては、例えば、Eガラス、Cガラス、Aガラス、Sガラス、Dガラス、NEガラス、Tガラス、Hガラス、Qガラス等が挙げられる。これらの中でも、ガラスは、Sガラス、または、Tガラスであるのが好ましい。これにより、ガラス繊維基材の熱膨張係数を比較的小さくすることができる。これらの中でも、ドリル加工性の観点から、Eガラス、Dガラス、NEガラスが好ましい。 The base material is not particularly limited. For example, glass fiber base materials such as glass woven fabric, glass nonwoven fabric, and glass paper, and woven fabric made of synthetic fibers such as paper, aramid, polyester, aromatic polyester, and fluororesin. And woven fabrics, nonwoven fabrics, mats and the like made of nonwoven fabrics, non-woven fabrics, metal fibers, carbon fibers, mineral fibers and the like. These substrates may be used alone or in combination. Among these, a glass fiber base material is preferable. Thereby, the rigidity and dimensional stability of a prepreg can be improved. As glass which comprises such a glass fiber base material, E glass, C glass, A glass, S glass, D glass, NE glass, T glass, H glass, Q glass etc. are mentioned, for example. Among these, it is preferable that glass is S glass or T glass. Thereby, the thermal expansion coefficient of a glass fiber base material can be made comparatively small. Among these, E glass, D glass, and NE glass are preferable from the viewpoint of drill workability.

前記プリント配線板用樹脂組成物を前記基材に含浸させる方法は、特に限定されないが、例えば基材をプリント配線板用樹脂組成物のワニスに浸漬する方法、各種コーターにより塗布する方法、スプレーにより吹き付ける方法等が挙げられる。これらの中でも、基材をプリント配線板用樹脂組成物のワニスに浸漬する方法が好ましい。これにより、基材に対するプリント配線板用樹脂組成物の含浸性が向上する。尚、基材をプリント配線板用樹脂組成物のワニスに浸漬する場合、通常の含浸塗布設備を使用することができる。図1に示すように、基材1を、含浸槽2の前記エポキシ樹脂ワニス3中に浸漬して、基材1にエポキシ樹脂ワニス3を含浸する。その際、含浸槽2が備えるディップロール4(図1では3本)によって基材1はエポキシ樹脂ワニス3中に浸漬される。次いで、エポキシ樹脂ワニス3を含浸した基材1を、垂直方向に引き上げて、水平方向に並設され、対向している1対のスクイズロール又は、コンマロール(図1の5はスクイズロール)の間を通して、基材1へのエポキシ樹脂ワニス3の塗布量を調整する。その後、エポキシ樹脂ワニス3が塗布された基材1を、乾燥機6で所定の温度で加熱して、塗布されたワニス中の溶剤を揮発させると共に樹脂組成物を半硬化させてプリプレグ7を製造する。なお、図1中の上部ロール8はプリプレグ7を進行方向に移動させるために、プリプレグ7の進行方向と同方向に回転している。また、前記エポキシ樹脂ワニスの溶剤を乾燥させる条件は、温度90〜180℃、時間1〜10分で乾燥させることにより半硬化のプリプレグ7を得ることができる。 The method for impregnating the substrate with the resin composition for printed wiring board is not particularly limited. For example, a method of immersing the substrate in a varnish of the resin composition for printed wiring board, a method of applying with various coaters, and spraying. The method of spraying etc. are mentioned. Among these, the method of immersing a base material in the varnish of the resin composition for printed wiring boards is preferable. Thereby, the impregnation property of the resin composition for printed wiring boards with respect to a base material improves. In addition, when a base material is immersed in the varnish of the resin composition for printed wiring boards, a normal impregnation coating equipment can be used. As shown in FIG. 1, the base material 1 is immersed in the epoxy resin varnish 3 of the impregnation tank 2 to impregnate the base material 1 with the epoxy resin varnish 3. In that case, the base material 1 is immersed in the epoxy resin varnish 3 by the dip roll 4 (three in FIG. 1) with which the impregnation tank 2 is equipped. Next, the base material 1 impregnated with the epoxy resin varnish 3 is pulled up in the vertical direction, and a pair of squeeze rolls or comma rolls (5 in FIG. 1 is a squeeze roll) arranged in parallel in the horizontal direction. Through the interval, the application amount of the epoxy resin varnish 3 to the substrate 1 is adjusted. Thereafter, the base material 1 to which the epoxy resin varnish 3 is applied is heated at a predetermined temperature with a dryer 6 to volatilize the solvent in the applied varnish and to semi-cur the resin composition to produce a prepreg 7. To do. Note that the upper roll 8 in FIG. 1 rotates in the same direction as the direction of travel of the prepreg 7 in order to move the prepreg 7 in the direction of travel. Moreover, the conditions which dry the solvent of the said epoxy resin varnish can obtain the semi-hardened prepreg 7 by making it dry at the temperature of 90-180 degreeC for 1 to 10 minutes of time.

(積層板)
次に、積層板について説明する。
本発明の積層板は、基材に上記のプリント配線板用樹脂組成物を含浸してなる樹脂含浸基材層の少なくとも片面に金属箔を有するものである。
本発明の積層板は、例えば、上記のプリプレグ又は当該プリプレグを2枚以上重ね合わせた積層体の少なくとも片面に金属箔を張り付けることで製造できる。
プリプレグ1枚のときは、その上下両面もしくは片面に金属箔を重ねる。また、プリプレグを2枚以上積層することもできる。プリプレグ2枚以上積層するときは、積層したプリプレグの最も外側の上下両面もしくは片面に金属箔あるいはフィルムを重ねる。次に、プリプレグと金属箔とを重ねたものを加熱加圧成形することで積層板を得ることができる。
(Laminated board)
Next, a laminated board is demonstrated.
The laminate of the present invention has a metal foil on at least one surface of a resin-impregnated substrate layer formed by impregnating a substrate with the above resin composition for printed wiring board.
The laminate of the present invention can be produced, for example, by attaching a metal foil to at least one surface of the prepreg or a laminate obtained by superposing two or more prepregs.
When one prepreg is used, the metal foil is overlapped on both the upper and lower surfaces or one surface. Two or more prepregs can be laminated. When two or more prepregs are laminated, a metal foil or film is laminated on the outermost upper and lower surfaces or one surface of the laminated prepreg. Next, a laminate can be obtained by heat-pressing a laminate of a prepreg and a metal foil.

前記加熱する温度は、特に限定されないが、120〜250℃が好ましく、特に150〜220℃が好ましい。前記加圧する圧力は、特に限定されないが、0.1〜5MPaが好ましく、特に0.5〜3MPaが好ましい。また、必要に応じて高温槽等で150〜300℃の温度で後硬化を行っても構わない。 Although the temperature to heat is not specifically limited, 120-250 degreeC is preferable and especially 150-220 degreeC is preferable. Although the pressure to pressurize is not particularly limited, 0.1 to 5 MPa is preferable, and 0.5 to 3 MPa is particularly preferable. Moreover, you may postcure at the temperature of 150-300 degreeC with a high temperature tank etc. as needed.

また、本発明の積層板を製造する別の方法として 、図2に示す絶縁樹脂層付き金属箔を用いた積層板の製造方法が挙げられる。まず、金属箔11に均一な絶縁樹脂層12をコーターで塗工した絶縁樹脂層付き金属箔10を準備し、ガラス繊維等の基材20の両側に、絶縁樹脂層付き金属箔10、10を絶縁樹脂層を内側にして配し(図2(a))、真空中で加熱60〜130℃、加圧0.1〜5MPaでラミネート含浸させる方法により、金属箔付きプリプレグ41を得る(図2(b))。次いで、金属箔付きプリプレグ41を直接加熱加圧成形することで、積層板51を得ることができる(図2(c))。   Another method for producing the laminate of the present invention is a method for producing a laminate using the metal foil with an insulating resin layer shown in FIG. First, a metal foil 10 with an insulating resin layer in which a uniform insulating resin layer 12 is coated on a metal foil 11 with a coater is prepared, and the metal foils 10 and 10 with an insulating resin layer are provided on both sides of a substrate 20 such as glass fiber. A prepreg 41 with a metal foil is obtained by a method of laminating and impregnating with an insulating resin layer inside (FIG. 2 (a)) and heating in a vacuum at 60 to 130 ° C. and a pressure of 0.1 to 5 MPa (FIG. 2). (B)). Next, the laminated plate 51 can be obtained by directly heat-pressing the prepreg 41 with metal foil (FIG. 2C).

さらに、本発明の積層板を製造する別の方法として、 図3に示す絶縁樹脂層付き高分子フィルムシートを用いた積層板の製造方法も挙げられる。まず、高分子フィルムシート31に、均一な絶縁樹脂層32をコーターで塗工した絶縁樹脂層付き高分子フィルムシート30を準備し、基材2の両側に絶縁樹脂層付き高分子フィルムシート30、30を絶縁樹脂層を内側にして配し(図3(a))、真空中で加熱60〜130℃、加圧0.1〜5MPaでラミネート含浸させる方法により、高分子フィルムシート付きプリプレグ42を得ることができる(図3(b))。次いで、高分子フィルムシート付きプリプレグ42の少なくとも片面の高分子フィルムシート31を剥離後(図3(c))、高分子フィルムシート31を剥離した面に金属箔11を配し(図3(d))、加熱加圧成形することで積層板52を得ることができる(図3(e))。さらに、両面の高分子フィルムシートを剥離する場合は、前述のプリプレグ同様に、2枚以上積層することもできる。プリプレグを2枚以上積層するときは、積層したプリプレグの最も外側の上下両面もしくは片面に金属箔または高分子フィルムシートを配し、加熱加圧成形することで積層板を得ることができる。
この様な製造方法で得られた積層板は、厚み精度が高く、厚みが均一であり、更には表面平滑性に優れる。
また成形歪の小さい積層板を得ることができるため、当該製造方法により得られた積層板を用い作製したプリント配線板、および半導体装置は、反りが小さく、反りばらつきも小さい。
さらにプリント配線板、および半導体装置を、歩留り良く製造することができる。
Furthermore, as another method for producing the laminate of the present invention, a laminate production method using the polymer film sheet with an insulating resin layer shown in FIG. First, a polymer film sheet 30 with an insulating resin layer obtained by coating a uniform insulating resin layer 32 on the polymer film sheet 31 with a coater, and the polymer film sheet 30 with an insulating resin layer on both sides of the substrate 2; 30 with an insulating resin layer inside (FIG. 3 (a)), and a prepreg 42 with a polymer film sheet is obtained by laminating and impregnating in a vacuum at 60 to 130 ° C. and under a pressure of 0.1 to 5 MPa. Can be obtained (FIG. 3B). Next, after peeling the polymer film sheet 31 on at least one side of the prepreg 42 with the polymer film sheet (FIG. 3C), the metal foil 11 is arranged on the surface from which the polymer film sheet 31 is peeled (FIG. 3D). )), The laminated plate 52 can be obtained by heating and pressing (FIG. 3E). Furthermore, when peeling a double-sided polymer film sheet, two or more sheets can be laminated | stacked like the above-mentioned prepreg. When two or more prepregs are laminated, a laminated sheet can be obtained by placing metal foil or a polymer film sheet on the outermost upper and lower surfaces or one surface of the laminated prepregs, and heating and pressing.
The laminate obtained by such a production method has high thickness accuracy, uniform thickness, and excellent surface smoothness.
In addition, since a laminated board with small molding strain can be obtained, a printed wiring board and a semiconductor device manufactured using the laminated board obtained by the manufacturing method have small warpage and small warpage variation.
Furthermore, a printed wiring board and a semiconductor device can be manufactured with high yield.

前記加熱加圧成形する条件としては、温度は、特に限定されないが、120〜250℃が好ましく、特に150〜220℃が好ましい。前記加圧する圧力は、特に限定されないが、0.1〜5MPaが好ましく、特に0.5〜3MPaが好ましい。
さらに必要に応じて高温槽等で150〜300℃の温度で後硬化を行ってもかまわない。
Although the temperature is not particularly limited as the conditions for the heat and pressure molding, 120 to 250 ° C is preferable, and 150 to 220 ° C is particularly preferable. Although the pressure to pressurize is not particularly limited, 0.1 to 5 MPa is preferable, and 0.5 to 3 MPa is particularly preferable.
Furthermore, if necessary, post-curing may be performed at a temperature of 150 to 300 ° C. in a high-temperature tank or the like.

図2〜3等の積層板は、特に限定されないが、例えば、絶縁樹脂層付き金属箔を製造する装置及び積層板を製造する装置を用いて製造される。
前記絶縁樹脂層付き金属箔を製造する装置において、金属箔は、例えば長尺のシート品を巻物形態にしたもの等を用い、これにより連続的に巻き出すことにより供給することができる。液状の絶縁樹脂は、絶縁樹脂の供給装置により、所定量が連続的に金属箔上に供給される。ここで液状の絶縁樹脂として、本発明の樹脂組成物を溶剤に溶解、分散させた塗布液が用いられる。絶縁樹脂の塗工量は、コンマロールと、当該コンマロールのバックアップロールとのクリアランスにより制御することができる。所定量の絶縁樹脂が塗工された金属箔は、横搬送型の熱風乾燥装置の内部を移送し、液状の絶縁樹脂中に含有される有機溶剤等を実質的に乾燥除去し、必要に応じて、硬化反応を途中まで進めた絶縁樹脂層付き金属箔とすることができる。絶縁樹脂層付き金属箔は、そのまま巻き取ることもできるがラミネートロールにより、絶縁樹脂層が形成された側に保護フィルムを重ね合わせ、当該保護フィルムがラミネートされた絶縁樹脂層付き金属箔を巻き取って、巻物形態の絶縁樹脂層付き金属箔を得ている。図2〜3等の製造方法を用いると、図1のワニスを含浸させる製造方法より、均一な樹脂量の制御、および面内厚み精度に優れるため、半導体素子を搭載した半導体装置の反りばらつきが小さく、歩留まりが向上する。
Although the laminated board of FIGS. 2-3 etc. is not specifically limited, For example, it manufactures using the apparatus which manufactures the metal foil with an insulating resin layer, and the apparatus which manufactures a laminated board.
In the apparatus for producing the metal foil with an insulating resin layer, the metal foil can be supplied by, for example, using a long sheet product in the form of a roll, and continuously unwinding it. A predetermined amount of the liquid insulating resin is continuously supplied onto the metal foil by an insulating resin supply device. Here, as the liquid insulating resin, a coating solution in which the resin composition of the present invention is dissolved and dispersed in a solvent is used. The coating amount of the insulating resin can be controlled by the clearance between the comma roll and the backup roll of the comma roll. The metal foil coated with a predetermined amount of insulating resin is transported inside a horizontal conveying type hot-air drying device to substantially dry and remove the organic solvent contained in the liquid insulating resin. Thus, a metal foil with an insulating resin layer in which the curing reaction has been advanced halfway can be obtained. Although the metal foil with an insulating resin layer can be wound up as it is, a protective film is laminated on the side on which the insulating resin layer is formed by a laminating roll, and the metal foil with an insulating resin layer laminated with the protective film is wound up. Thus, a metal foil with an insulating resin layer in a roll form is obtained. When the manufacturing method such as FIGS. 2 to 3 is used, since the control of the uniform resin amount and the in-plane thickness accuracy are superior to the manufacturing method impregnating the varnish of FIG. Small and yield is improved.

また、この様な製造方法により積層板を得た場合、溶剤中に溶解、分散させたワニスではなく、樹脂組成物を直接繊維基材への含浸性を考慮する必要がある。 無機充填材は、(E)平均粒径5〜100nmの微粒子を用いることで、特に繊維基材への含浸性が向上するため、加熱加圧成形時に、積層板内における樹脂組成物のフローを抑え、溶融樹脂の不均一な移動が抑制されるため、積層板表面のスジ状のムラを防止し、且つ均一な厚みとすることができる。 Moreover, when a laminated board is obtained by such a manufacturing method, it is necessary to consider the impregnation property to the fiber base material directly rather than the varnish melt | dissolved and disperse | distributed in the solvent. Since the inorganic filler (E) uses fine particles having an average particle diameter of 5 to 100 nm, particularly the impregnation property to the fiber base material is improved, the flow of the resin composition in the laminated plate is increased during the heat and pressure molding. Since the non-uniform movement of the molten resin is suppressed, streaky unevenness on the surface of the laminated plate can be prevented and the thickness can be made uniform.

(プリント配線板)
次に、本発明のプリント配線板について説明する。
本発明のプリント配線板は、上記の積層板を内層回路基板に用いてなる。
また、本発明のプリント配線板は、内層回路上に、上記のプリプレグを絶縁層に用いてなる。
(Printed wiring board)
Next, the printed wiring board of the present invention will be described.
The printed wiring board of the present invention uses the above laminated board as an inner layer circuit board.
Moreover, the printed wiring board of this invention uses said prepreg for an insulating layer on an inner layer circuit.

本発明においてプリント配線板とは、絶縁層の上に金属箔等の導電体で回路を形成したものであり、片面プリント配線板(一層板)、両面プリント配線板(二層板)、及び多層プリント配線板(多層板)のいずれであってもよい。多層プリント配線板とは、メッキスルーホール法やビルドアップ法等により3層以上に重ねたプリント配線板であり、内層回路基板に絶縁層を重ね合わせて加熱加圧成形することによって得ることができる。
前記内層回路基板としては、例えば、本発明の積層板の金属層に、エッチング等により所定の導体回路を形成し、導体回路部分を黒化処理したものを好適に用いることができる。
前記絶縁層としては、本発明のプリプレグ、又は本発明のプリント配線板用樹脂組成物からなる樹脂フィルムを用いることができる。尚、前記絶縁層として、前記プリプレグ又は前記プリント配線板用樹脂組成物からなる樹脂フィルムを用いる場合は、前記内層回路基板は本発明の積層板からなるものでなくてもよい。
In the present invention, a printed wiring board is a circuit in which a circuit is formed of a conductive material such as a metal foil on an insulating layer, a single-sided printed wiring board (single-layer board), a double-sided printed wiring board (double-layer board), and a multilayer. Any of printed wiring boards (multilayer boards) may be used. A multilayer printed wiring board is a printed wiring board that is laminated in three or more layers by a plated through hole method, a build-up method, or the like, and can be obtained by heating and press-molding an insulating layer on an inner circuit board. .
As the inner layer circuit board, for example, a metal layer of the laminate of the present invention in which a predetermined conductor circuit is formed by etching or the like and the conductor circuit portion is blackened can be suitably used.
As the insulating layer, a prepreg of the present invention or a resin film made of the resin composition for a printed wiring board of the present invention can be used. In addition, when using the resin film which consists of the said prepreg or the said resin composition for printed wiring boards as said insulating layer, the said inner layer circuit board does not need to consist of a laminated board of this invention.

以下、本発明のプリント配線板の代表例として、本発明の積層板を内層回路基板として用い、本発明のプリプレグを絶縁層として用いる場合の多層プリント配線板について説明する。
前記積層板の片面又は両面に回路形成し、内層回路基板を作製する。場合によっては、ドリル加工、レーザー加工によりスルーホールを形成し、メッキ等で両面の電気的接続をとることもできる。この内層回路基板に前記プリプレグを重ね合わせて加熱加圧形成することで絶縁層を形成する。同様にして、エッチング等で形成した導体回路層と絶縁層とを交互に繰り返し形成することにより、多層プリント配線板を得ることができる。
Hereinafter, as a representative example of the printed wiring board of the present invention, a multilayer printed wiring board in which the laminated board of the present invention is used as an inner circuit board and the prepreg of the present invention is used as an insulating layer will be described.
A circuit is formed on one side or both sides of the laminate to produce an inner layer circuit board. In some cases, through holes can be formed by drilling or laser processing, and electrical connection on both sides can be achieved by plating or the like. The insulating layer is formed by superposing the prepreg on the inner layer circuit board and forming it by heating and pressing. Similarly, a multilayer printed wiring board can be obtained by alternately and repeatedly forming conductive circuit layers and insulating layers formed by etching or the like.

具体的には、前記プリプレグと前記内層回路基板とを合わせて、真空加圧式ラミネーター装置などを用いて真空加熱加圧成形させ、その後、熱風乾燥装置等で絶縁層を加熱硬化させる。ここで加熱加圧成形する条件としては、特に限定されないが、一例を挙げると、温度60〜160℃、圧力0.2〜3MPaで実施することができる。また、加熱硬化させる条件としては、特に限定されないが、一例を挙げると、温度140〜240℃、時間30〜120分間で実施することができる。   Specifically, the prepreg and the inner layer circuit board are combined and subjected to vacuum heating and pressing using a vacuum pressurizing laminator device or the like, and then the insulating layer is heated and cured using a hot air drying device or the like. Although it does not specifically limit as conditions to heat-press form here, If an example is given, it can implement at the temperature of 60-160 degreeC, and the pressure of 0.2-3 MPa. Moreover, it is although it does not specifically limit as conditions to carry out heat hardening, If an example is given, it can implement in temperature 140-240 degreeC and time 30-120 minutes.

尚、次工程においてレーザーを照射し、絶縁層に開口部を形成するが、その前に基材を剥離する必要がある。基材の剥離は、絶縁層を形成後、加熱硬化の前、又は加熱硬化後のいずれに行っても特に問題はない。 In the next step, laser is irradiated to form an opening in the insulating layer, but it is necessary to peel off the substrate before that. There is no particular problem in peeling the base material either after the insulating layer is formed, before heat curing, or after heat curing.

次に、絶縁層にレーザーを照射して、開孔部を形成する。前記レーザーは、エキシマレーザー、UVレーザー及び炭酸ガスレーザー等が使用できる。   Next, the insulating layer is irradiated with laser to form an opening. As the laser, an excimer laser, a UV laser, a carbon dioxide gas laser, or the like can be used.

レーザー照射後の樹脂残渣等(スミア)は過マンガン酸塩、重クロム酸塩等の酸化剤等により除去する処理、すなわちデスミア処理を行うことが好ましい。デスミア処理が不十分で、デスミア耐性が十分に確保されていないと、開孔部に金属メッキ処理を行っても、スミアが原因で上層金属配線と下層金属配線との通電性が十分に確保されなくなるおそれがある。また、平滑な絶縁層の表面を同時に粗化することができ、続く金属メッキにより形成する導電配線回路の密着性を上げることができる。   It is preferable to perform a treatment for removing resin residues (smear) after laser irradiation with an oxidizing agent such as permanganate or dichromate, that is, desmear treatment. If the desmear treatment is inadequate and the desmear resistance is not sufficiently secured, even if metal plating is applied to the opening, sufficient conductivity is ensured between the upper metal wiring and the lower metal wiring due to smear. There is a risk of disappearing. Further, the surface of the smooth insulating layer can be simultaneously roughened, and the adhesion of the conductive wiring circuit formed by subsequent metal plating can be improved.

次に、外層回路を形成する。外層回路の形成方法は、金属メッキにより絶縁樹脂層間の接続を図り、エッチングにより外層回路パターン形成を行う。 Next, an outer layer circuit is formed. The outer layer circuit is formed by connecting the insulating resin layers by metal plating and forming an outer layer circuit pattern by etching.

さらに絶縁層を積層し、前記同様回路形成を行っても良いが、多層プリント配線板では、回路形成後、最外層にソルダーレジストを形成する。ソルダーレジストの形成方法は、特に限定されないが、例えば、ドライフィルムタイプのソルダーレジストを積層(ラミネート)し、露光、及び現像により形成する方法、又は液状レジストを印刷したものを露光、及び現像により形成する方法によりなされる。尚、得られた多層プリント配線板を半導体装置に用いる場合、半導体素子を実装するため接続用電極部を設ける。接続用電極部は、金メッキ、ニッケルメッキ及び半田メッキ等の金属皮膜で適宜被覆することができる。   Further, an insulating layer may be stacked and a circuit may be formed in the same manner as described above. However, in a multilayer printed wiring board, a solder resist is formed on the outermost layer after the circuit is formed. The method of forming the solder resist is not particularly limited. For example, a method of laminating (laminating) a dry film type solder resist and forming it by exposure and development, or a method of printing a liquid resist by exposure and development It is done by the method to do. In addition, when using the obtained multilayer printed wiring board for a semiconductor device, the electrode part for a connection is provided in order to mount a semiconductor element. The connection electrode portion can be appropriately coated with a metal film such as gold plating, nickel plating, or solder plating.

前記金メッキの代表的な方法の1つとして、ニッケル−パラジウム−金無電解メッキ法がある。この方法では、接続用電極部に、クリーナー等の適宜の方法により前処理を行った後、パラジウム触媒を付与し、その後さらに、無電解ニッケルメッキ処理、無電解パラジウムメッキ処理、及び無電解金メッキ処理を順次行う。
ENEPIG法は、前記ニッケル−パラジウム−金無電解メッキ法の無電解金メッキ処理段階において、置換金メッキ処理を行う方法である。下地メッキとしての無電解ニッケルメッキ皮膜と、無電解金メッキ皮膜との間に無電解パラジウムメッキ皮膜を設けることによって、接続用電極部における導体材料の拡散防止性、耐食性が向上する。下地ニッケルメッキ皮膜の拡散防止を図ることができるので、Au−Au接合の信頼性が向上し、また金によるニッケル酸化を防止することができるので、熱負荷の大きい鉛フリー半田接合の信頼性も向上する。ENEPIG法では、通常、無電解パラジウムメッキ処理を行う前に表面処理を行って、メッキ工程での導通不良の発生を防ぐ必要があり、導通不良が甚だしい場合には隣接する端子間でショートを起こす原因となる。一方、本発明のプリント配線板は、表面処理を行わなくても上記のような導通不良がなく、簡単にメッキ処理を行うことができる。
One of the typical gold plating methods is a nickel-palladium-gold electroless plating method. In this method, a pretreatment is performed on the connecting electrode portion by an appropriate method such as a cleaner, and then a palladium catalyst is applied. Thereafter, an electroless nickel plating treatment, an electroless palladium plating treatment, and an electroless gold plating treatment are further performed. Are performed sequentially.
The ENEPIG method is a method in which a substitution gold plating process is performed in the electroless gold plating process stage of the nickel-palladium-gold electroless plating process. By providing the electroless palladium plating film between the electroless nickel plating film as the base plating and the electroless gold plating film, the diffusion preventing property and the corrosion resistance of the conductor material in the connection electrode portion are improved. Since it is possible to prevent the diffusion of the underlying nickel plating film, the reliability of the Au-Au joint is improved and the nickel oxidation due to gold can be prevented. improves. In the ENEPIG method, it is usually necessary to perform surface treatment before performing electroless palladium plating to prevent the occurrence of poor conduction in the plating process. If the poor conduction is severe, a short circuit occurs between adjacent terminals. Cause. On the other hand, the printed wiring board of the present invention does not have the above-described conduction failure without performing surface treatment, and can be easily plated.

(半導体装置)
次に、本発明の半導体装置について説明する。
前記で得られたプリント配線板に半田バンプを有する半導体素子を実装し、半田バンブを介して、前記プリント配線板との接続を図る。そして、プリント配線板と半導体素子との間には液状封止樹脂を充填し、半導体装置を形成する。半田バンプは、錫、鉛、銀、銅、ビスマス等からなる合金で構成されることが好ましい。
(Semiconductor device)
Next, the semiconductor device of the present invention will be described.
A semiconductor element having solder bumps is mounted on the printed wiring board obtained above, and connection to the printed wiring board is attempted through the solder bump. A liquid sealing resin is filled between the printed wiring board and the semiconductor element to form a semiconductor device. The solder bump is preferably made of an alloy made of tin, lead, silver, copper, bismuth or the like.

半導体素子とプリント配線板との接続方法は、フリップチップボンダー等を用いて、基板上の接続用電極部と半導体素子の半田バンプとの位置合わせを行ったあと、IRリフロー装置、熱板、その他加熱装置を用いて半田バンプを融点以上に加熱し、プリント配線板と半田バンプとを溶融接合することにより接続する。尚、接続信頼性を良くするため、予めプリント配線板上の接続用電極部に半田ペースト等、比較的融点の低い金属の層を形成しておいてもよい。この接合工程に先んじて、半田バンプ及び/又はプリント配線板上の接続用電極部の表層にフラックスを塗布することで接続信頼性を向上させることもできる。   The connection method between the semiconductor element and the printed wiring board is to use a flip chip bonder or the like to align the connection electrode part on the substrate and the solder bump of the semiconductor element, and then to an IR reflow device, a heat plate, etc. The solder bumps are heated to a melting point or higher by using a heating device, and the printed wiring board and the solder bumps are connected by fusion bonding. In order to improve connection reliability, a metal layer having a relatively low melting point, such as solder paste, may be formed in advance on the connection electrode portion on the printed wiring board. Prior to this joining step, the connection reliability can be improved by applying a flux to the surface layer of the connection electrode portion on the solder bump and / or printed wiring board.

以下、本発明を実施例及び比較例に基づいて詳細に説明するが、本発明はこれに限定されるものではない。   EXAMPLES Hereinafter, although this invention is demonstrated in detail based on an Example and a comparative example, this invention is not limited to this.

実施例及び比較例において用いた原材料は以下の通りである。
(1)エポキシ樹脂A:ナフタレン変性クレゾールノボラック型エポキシ樹脂(DIC社製HP−5000、エポキシ当量250)
(2)エポキシ樹脂B:ビフェニルジメチレン型エポキシ樹脂(日本化薬社製NC−3000、エポキシ当量275)
(3)フェノール系硬化剤:ビフェニルアルキレン型ノボラック樹脂(明和化成社製「MEH−7851−4L、水酸基当量187」
(4)シアネート樹脂A:ノボラック型シアネート樹脂(ロンザジャパン社製プリマセットPT−30、シアネート当量124)
(5)窒化ホウ素A:鱗片状(昭和電工社製ショウビーエヌUHP−1、平均粒径8〜10μmμmをボールミルで粉砕して平均粒径5μmにしたもの)
(6)窒化ホウ素B:鱗片状(電気化学工業社製SP−7、平均粒径1.4μm)
(7)窒化ホウ素C:粒状(水島鉄工社製の球状グレート(FS−3)をボールミルで粉砕して粒状の平均粒径4μmにしたもの)
(8)平均粒径5〜100nmの微粒子:球状シリカ(トクヤマ社製NSS−5N、平均粒径75nm)
(9)平均粒径5〜100nmの微粒子:硫酸バリウム(堺化学工業社製BF−21、平均粒径50nm)
(10)平均粒径5〜100nmの微粒子:酸化チタン(チタン工業社製ST410WB、平均粒径20nm)
(11)ベーマイトA:鱗片状(河合石灰社製BMF、平均粒径4.0μm)
(12)ベーマイトB:略立方形(河合石灰社製BMB、平均粒径0.5μm)
(13)硬化促進剤:2−エチル−4−メチルイミダゾール(四国化成工業社製2E4MZ)
The raw materials used in Examples and Comparative Examples are as follows.
(1) Epoxy resin A: Naphthalene-modified cresol novolac type epoxy resin (HP-5000 manufactured by DIC, epoxy equivalent 250)
(2) Epoxy resin B: Biphenyl dimethylene type epoxy resin (Nippon Kayaku Co., Ltd. NC-3000, epoxy equivalent 275)
(3) Phenol-based curing agent: biphenylalkylene type novolak resin (“MEH-7851-4L, hydroxyl group equivalent 187” manufactured by Meiwa Kasei Co., Ltd.)
(4) Cyanate resin A: Novolac-type cyanate resin (Lonza Japan Co., Ltd. Primaset PT-30, cyanate equivalent 124)
(5) Boron nitride A: scaly shape (Showa Denko Co., Ltd. Show NU UHP-1, average particle size of 8-10 μm μm crushed with a ball mill to an average particle size of 5 μm)
(6) Boron nitride B: scaly (SP-7 manufactured by Denki Kagaku Kogyo Co., Ltd., average particle size 1.4 μm)
(7) Boron nitride C: granular (spherical grate (FS-3) manufactured by Mizushima Tekko Co., Ltd. was pulverized with a ball mill to have an average particle diameter of 4 μm)
(8) Fine particles having an average particle diameter of 5 to 100 nm: spherical silica (NSS-5N manufactured by Tokuyama Corporation, average particle diameter of 75 nm)
(9) Fine particles having an average particle diameter of 5 to 100 nm: Barium sulfate (BF-21 manufactured by Sakai Chemical Industry Co., Ltd., average particle diameter of 50 nm)
(10) Fine particles having an average particle diameter of 5 to 100 nm: Titanium oxide (ST410WB manufactured by Titanium Industry Co., Ltd., average particle diameter of 20 nm)
(11) Boehmite A: scaly (BMF manufactured by Kawai Lime Co., Ltd., average particle size: 4.0 μm)
(12) Boehmite B: substantially cubic shape (BMB, Kawai Lime Co., Ltd., average particle size 0.5 μm)
(13) Curing accelerator: 2-ethyl-4-methylimidazole (2E4MZ manufactured by Shikoku Chemicals)

(実施例1)
(1)プリント配線板用樹脂組成物含有ワニスの調製
まず、(A)エポキシ樹脂として、ナフタレン骨格含有のエポキシ樹脂Aを22重量部、フェノール系硬化剤を12重量部、(b1)不定形の窒化ホウ素として麟片状の窒化ホウ素Aを30重量部、(b2)不定形のベーマイトとして麟片状のベーマイトAを30重量部、(b3)平均粒径5〜100nmの無機微粒子として球状シリカ粒子を6重量部、硬化促進剤を0.5重量部とを、メチルエチルケトン中に溶解・混合させ、高速撹拌装置を用い撹拌して、樹脂組成物が固形分基準で70重量%のワニスを得た。
Example 1
(1) Preparation of resin composition-containing varnish for printed wiring board First, as (A) epoxy resin, 22 parts by weight of naphthalene skeleton-containing epoxy resin A, 12 parts by weight of phenolic curing agent, (b1) amorphous 30 parts by weight of flaky boron nitride A as boron nitride, (b2) 30 parts by weight of flaky boehmite A as amorphous boehmite, (b3) spherical silica particles as inorganic fine particles having an average particle diameter of 5 to 100 nm 6 parts by weight and 0.5 part by weight of a curing accelerator were dissolved and mixed in methyl ethyl ketone and stirred using a high-speed stirrer to obtain a varnish having a resin composition of 70% by weight based on solid content. .

(2)プリプレグの作製
前記ワニスをガラス織布(厚さ87μm、日東紡績製Eガラス織布、WEA−2116)に含浸し、180℃の加熱炉で2分間乾燥して、プリプレグ中の樹脂組成物が固形分基準で約50重量%のプリプレグを得た。
(2) Preparation of prepreg The varnish was impregnated into a glass woven fabric (thickness 87 μm, Nittobo E glass woven fabric, WEA-2116) and dried in a heating furnace at 180 ° C. for 2 minutes to obtain a resin composition in the prepreg. A prepreg having a solid content of about 50% by weight was obtained.

(3)積層板の作製
前記プリプレグを4枚重ね、その両面に12μmの銅箔(三井金属鉱業社製、3EC−VLP箔)を重ねて、圧力3MPa、温度220℃で2時間加熱加圧成形し、厚さ0.130mmの両面に銅箔を有する積層板を得た。
(3) Fabrication of laminated plate Four prepregs are stacked, and 12 μm copper foil (3EC-VLP foil, manufactured by Mitsui Mining & Smelting Co., Ltd.) is stacked on both sides of the prepreg, followed by heat pressing for 2 hours at a pressure of 3 MPa and a temperature of 220 ° C. And the laminated board which has a copper foil on both surfaces of thickness 0.130mm was obtained.

(4)プリント配線板の製造
両面に銅箔を有する前記積層板を用い、ドリル機で開孔しスルーホールを形成後、無電解メッキで上下銅箔間の導通を図った。
なお、スルーホール壁間は、スルーホール壁間絶縁信頼性を評価するため、スルーホール壁間0.2mmの部分を有する。
両面の銅箔をエッチングすることにより内層回路を両面に形成したL(導体回路幅(μm))/S(導体回路間幅(μm))=50/50)。
次に、内層回路に過酸化水素水と硫酸を主成分とする薬液(旭電化工業(株)製、テックSO−G)をスプレー吹き付けすることにより、粗化処理による凹凸形成を行った。
(4) Production of Printed Wiring Board Using the laminate having copper foil on both sides, a drilling machine was used to form a through hole, and then conduction between the upper and lower copper foils was achieved by electroless plating.
In addition, between through-hole walls, in order to evaluate the insulation reliability between through-hole walls, there is a 0.2 mm portion between through-hole walls.
L (conductor circuit width (μm)) / S (interconductor circuit width (μm)) = 50/50) in which inner layer circuits were formed on both surfaces by etching the copper foils on both sides.
Next, the chemical | medical solution (Asahi Denka Kogyo Co., Ltd. make, Tech SO-G) which has hydrogen peroxide water and a sulfuric acid as a main component was spray-sprayed to the inner layer circuit, and the unevenness | corrugation formation by a roughening process was performed.

次に前記プリプレグを内層回路上に真空積層装置を用いて積層し、温度170℃、時間60分間加熱硬化し、積層体を得た。
その後、得られた積層体が有するプリプレグに、炭酸レーザー装置(日立ビアメカニクス(株)製:LG−2G212)を用いてφ60μmの開孔部(ブラインド・ビアホール)を形成し、70℃の膨潤液(アトテックジャパン社製、スウェリングディップ セキュリガント P)に5分間浸漬し、さらに80℃の過マンガン酸カリウム水溶液(アトテックジャパン社製、コンセントレートコンパクト CP)に10分浸漬後、中和して粗化処理を行った。
次に、脱脂、触媒付与、活性化の工程を経た後、無電解銅メッキ皮膜による約0.5μmの給電層を形成した。この給電層表面に、厚さ25μmの紫外線感光性ドライフィルム(旭化成社製、AQ−2558)をホットロールラミネーターにより貼り合わせ、最小線幅/線間が20/20μmのパターンが描画されたクロム蒸着マスク(トウワプロセス社製)を使用して、位置を合わせ、露光装置(ウシオ電機社製UX−1100SM−AJN01)にて露光、炭酸ソーダ水溶液にて現像し、めっきレジストを形成した。
Next, the prepreg was laminated on the inner layer circuit using a vacuum laminating apparatus, and was cured by heating at a temperature of 170 ° C. for 60 minutes to obtain a laminated body.
Thereafter, an opening (blind via hole) having a diameter of 60 μm is formed on the prepreg of the obtained laminate using a carbonic acid laser device (manufactured by Hitachi Via Mechanics Co., Ltd .: LG-2G212), and a swelling liquid at 70 ° C. (Atotech Japan Co., Swelling Dip Securigant P) for 5 minutes, and further immersed in an 80 ° C. potassium permanganate aqueous solution (Atotech Japan Co., Ltd., Concentrate Compact CP) for 10 minutes, neutralized and roughened The treatment was performed.
Next, after the steps of degreasing, applying a catalyst, and activating, a power supply layer of about 0.5 μm was formed by an electroless copper plating film. Chromium vapor deposition in which a 25 μm thick UV photosensitive dry film (AQ-2558, manufactured by Asahi Kasei Co., Ltd.) is pasted on the surface of the power feeding layer with a hot roll laminator, and a pattern with a minimum line width / line spacing of 20/20 μm is drawn. The position was adjusted using a mask (manufactured by Towa Process Co., Ltd.), exposure was performed with an exposure apparatus (UX-1100SM-AJN01 manufactured by Ushio Electric Co., Ltd.), and development was performed with an aqueous sodium carbonate solution to form a plating resist.

次に、給電層を電極として電解銅めっき(奥野製薬社製81−HL)を3A/dm2、30分間行って、厚さ約25μmの銅配線を形成した。ここで2段階剥離機を用いて、前記めっきレジストを剥離した。各薬液は、1段階目のアルカリ水溶液層にはモノエタノールアミン溶液(三菱ガス化学社製R−100)、2段階目の酸化性樹脂エッチング剤には過マンガン酸カリウムと水酸化ナトリウムを主成分とする水溶液(日本マクダーミッド社製、マキュダイザー9275、9276)、中和には酸性アミン水溶液(日本マクダーミッド社製マキュダイザー9279)をそれぞれ用いた。 Next, electrolytic copper plating (81-HL manufactured by Okuno Pharmaceutical Co., Ltd.) was performed at 3 A / dm 2 for 30 minutes using the power feeding layer as an electrode to form a copper wiring having a thickness of about 25 μm. Here, the plating resist was peeled off using a two-stage peeling machine. Each chemical solution is mainly composed of monoethanolamine solution (R-100 manufactured by Mitsubishi Gas Chemical Co., Ltd.) in the first stage alkaline aqueous solution layer, and potassium permanganate and sodium hydroxide as the main ingredients in the second stage oxidizing resin etchant. An aqueous solution of acidic amine (Mc. Dicer 9279, manufactured by Nihon Mcder Mid Co., Ltd.) was used for neutralization.

そして、給電層を過硫酸アンモニウム水溶液(メルテックス(株)製、AD−485)に浸漬処理することで、エッチング除去し、配線間の絶縁を確保した。次に、絶縁層を温度200℃、時間60分で最終硬化させ、最後に回路表面にソルダーレジスト(太陽インキ社製、PSR4000/AUS308)を形成し、プリント配線板を得た。
なお、半導体素子の半田バンプ配列に相当する前記プリント配線板の接続用電極部には、ENEPIG処理を施した。
ENEPIG処理は、[1]クリーナー処理、[2]ソフトエッチング処理、[3]酸洗処理、[4]プレディップ処理、[5]パラジウム触媒付与、[6]無電解ニッケルメッキ処理、[7]無電解パラジウムメッキ処理、[8]無電解金メッキ処理の工程で行われた。
Then, the power feeding layer was immersed in an ammonium persulfate aqueous solution (AD-485 manufactured by Meltex Co., Ltd.) to remove the etching, and ensure insulation between the wirings. Next, the insulating layer was finally cured at a temperature of 200 ° C. for 60 minutes, and finally a solder resist (manufactured by Taiyo Ink Co., PSR4000 / AUS308) was formed on the circuit surface to obtain a printed wiring board.
The connection electrode portion of the printed wiring board corresponding to the solder bump arrangement of the semiconductor element was subjected to ENEPIG treatment.
ENEPIG treatment includes [1] cleaner treatment, [2] soft etching treatment, [3] pickling treatment, [4] pre-dip treatment, [5] palladium catalyst application, [6] electroless nickel plating treatment, [7] The electroless palladium plating treatment and [8] electroless gold plating treatment were performed.

(5)半導体装置の製造
ENEPIG処理を施されたプリント配線板を50mm×50mmの大きさに切断し使用した。半導体素子(TEGチップ、サイズ15mm×15mm、厚み0.8mm)は、Sn/Pb組成の共晶で形成された半田バンプを有し、半導体素子の回路保護膜はポジ型感光性樹脂(住友ベークライト社製、CRC-8300)で形成されたものを使用した。半導体装置の組み立ては、まず、半田バンプにフラックス材を転写法により均一に塗布し、次にフリップチップボンダー装置を用い、プリント配線板上に加熱圧着により搭載した。次に、IRリフロー炉で半田バンプを溶融接合した後、液状封止樹脂(住友ベークライト社製、CRP−4152S)を充填し、液状封止樹脂を硬化させることで半導体装置を得た。尚、液状封止樹脂の効果条件は、温度150℃、120分の条件であった。
(5) Manufacture of Semiconductor Device A printed wiring board subjected to ENEPIG treatment was cut into a size of 50 mm × 50 mm and used. A semiconductor element (TEG chip, size 15 mm × 15 mm, thickness 0.8 mm) has a solder bump formed of a eutectic of Sn / Pb composition, and a circuit protective film of the semiconductor element is a positive photosensitive resin (Sumitomo Bakelite). What was formed by the company make, CRC-8300) was used. In assembling the semiconductor device, first, a flux material was uniformly applied to the solder bumps by a transfer method, and then mounted on a printed wiring board by thermocompression bonding using a flip chip bonder device. Next, after solder bumps were melt-bonded in an IR reflow furnace, a liquid sealing resin (manufactured by Sumitomo Bakelite Co., Ltd., CRP-4152S) was filled and the liquid sealing resin was cured to obtain a semiconductor device. The effect condition of the liquid sealing resin was a temperature of 150 ° C. for 120 minutes.

<実施例2〜5、および比較例1〜4>
表1の配合量で、実施例1と同様にプリプレグ、積層板、プリント配線板、多層プリント配線板、および半導体装置を得た。
前記で得られたプリプレグ、積層板、多層プリント配線板、及び半導体装置について、以下の評価項目の評価を行った。また、実施例及び比較例の樹脂組成物の配合組成、各物性値と評価結果を表1、及び2に示す。尚、表中において、各配合量は「重量部」を示す。
<Examples 2 to 5 and Comparative Examples 1 to 4>
A prepreg, a laminate, a printed wiring board, a multilayer printed wiring board, and a semiconductor device were obtained in the same manner as in Example 1 with the blending amounts in Table 1.
The following evaluation items were evaluated for the prepreg, laminate, multilayer printed wiring board, and semiconductor device obtained above. In addition, Tables 1 and 2 show the blending compositions of the resin compositions of Examples and Comparative Examples, each physical property value, and evaluation results. In the table, each compounding amount represents “parts by weight”.

<実施例6〜11>
表1の配合量で、ワニスを製造し、プリント配線板、および半導体装置を実施例1と同様にして得た。
なお、プリプレグ、積層板は以下の方法によりようにした。
実施例及び比較例の樹脂組成物の配合組成、各物性値と評価結果を表1、及び2に示す。表中において、各配合量は「重量部」を示す。
<Examples 6 to 11>
Varnishes were produced with the blending amounts shown in Table 1, and printed wiring boards and semiconductor devices were obtained in the same manner as in Example 1.
In addition, the prepreg and the laminated board were made with the following method.
Tables 1 and 2 show the composition of the resin compositions of Examples and Comparative Examples, each physical property value, and evaluation results. In the table, each compounding amount represents “part by weight”.

(2)プリプレグの作製
実施例で得られたワニスを38μmのポリエチレンテレフタレート基材(以下、PET基材)上に流延塗布して、温度140℃で時間10分で溶剤を揮発乾燥させて、樹脂層の厚みが30μmになるようにした。前記樹脂層付き基材を、ガラス織布(厚さ87μm、日東紡社製Eガラス織布、WEA−2116)の両面に樹脂層がガラス織布に接するように配し、圧力0.5MPa、温度140℃で1分間の条件で真空加圧式ラミネーター(名機製作所社製MLVP−500)で加熱加圧して、樹脂組成物を含浸させ両面にPET基材を有するプリプレグ得た。
(2) Preparation of prepreg The varnish obtained in the examples was cast on a 38 μm polyethylene terephthalate substrate (hereinafter referred to as PET substrate), and the solvent was evaporated and dried at a temperature of 140 ° C. for 10 minutes. The thickness of the resin layer was set to 30 μm. The base material with a resin layer is arranged so that the resin layer is in contact with the glass woven fabric on both surfaces of a glass woven fabric (thickness 87 μm, Nittobo E glass woven fabric, WEA-2116), and a pressure of 0.5 MPa, A pressure and pressure laminator (MLVP-500 manufactured by Meiki Seisakusho Co., Ltd.) was heated and pressurized under the condition of a temperature of 140 ° C. for 1 minute to impregnate the resin composition to obtain a prepreg having a PET base on both sides.

(3)積層板の作製
次いで、両面のPET基材を剥離したプリプレグを4枚重ね、その両面に12μmの銅箔(三井金属鉱業社製、3EC−VLP箔)を重ねて、圧力1MPa、温度220℃で2時間加熱加圧成形し、絶縁樹脂層の厚み0.4mmの両面に銅箔を有する積層板を得た。
(3) Production of Laminate Next, four prepregs from which the PET base material on both sides was peeled were stacked, and 12 μm copper foil (3EC-VLP foil made by Mitsui Kinzoku Mining Co., Ltd.) was stacked on both sides, pressure 1 MPa, temperature Heat-press molding was performed at 220 ° C. for 2 hours to obtain a laminate having copper foil on both sides of the insulating resin layer having a thickness of 0.4 mm.

表2に示す結果を得るために行った評価項目の内容を以下に示す。 The contents of the evaluation items performed to obtain the results shown in Table 2 are shown below.

(1)無機充填材の沈降性
無機充填材(フィラー)の沈降性は、ワニスを作製した後、250ccのポリ瓶(直径65mm)に入ワニスを入れ、直径50mmの攪拌羽根を用いて、回転数500rpmで30分攪拌した。
その後、ポリ瓶を静置した。乳濁状のワニスが、24時間後に、分離し透明な分部が現れた場合は、その透明部分の厚さ(以下、「分離層さ」という。)を測定して評価した。
なお、24時間後に分離し、分離層が現れた場合は、再度、直径50mmの攪拌羽根を用いて、回転数500rpmで30分攪拌した。
各符号は以下の通りである。
◎:分離層厚さが、10mm以内であった。
○:分離層厚さが、10mm以上が30mm以内であったが、再攪拌で容易に元に戻った。
×:分離層厚さが、30mmを超え、ポリ瓶の底に沈降物が現れた。
(1) Sedimentability of inorganic fillers Sedimentability of inorganic fillers (fillers) is determined by rotating the varnish into a 250 cc plastic bottle (65 mm in diameter) using a stirring blade with a diameter of 50 mm. The mixture was stirred at several 500 rpm for 30 minutes.
Then, the plastic bottle was left still. When the milky varnish separated and a transparent part appeared after 24 hours, the thickness of the transparent part (hereinafter referred to as “separation layer”) was measured and evaluated.
In addition, when it isolate | separated 24 hours later and the separated layer appeared, it stirred again for 30 minutes at the rotation speed of 500 rpm using the stirring blade of diameter 50mm.
Each code is as follows.
A: The separation layer thickness was within 10 mm.
○: Although the separation layer thickness was 10 mm or more and within 30 mm, it was easily restored by re-stirring.
X: Separation layer thickness exceeded 30 mm, and sediment appeared at the bottom of the plastic bottle.

(2)プリプレグの含浸性
プリプレグ、または銅箔付きプリプレグを170℃の温度で1時間硬化後の断面(断面部分の任意の500mmの幅500mmの範囲について)を観察した。
各符号は以下の通りである。
◎:全て含浸
○:モノフィラメント内に微小未含浸箇所あり、または、40%未満が未含浸
×:モノフィラメント内に40%以上が未含浸
(2) Impregnating prepreg of prepreg or copper foil-prepared prepreg was observed at a temperature of 170 ° C. for 1 hour to observe a cross section (in the range of an arbitrary 500 mm width 500 mm of the cross section).
Each code is as follows.
◎: All impregnated ○: There is a minute unimpregnated portion in the monofilament, or less than 40% is not impregnated
X: 40% or more of the monofilament is not impregnated

(3)線熱膨張係数
線熱膨張係数は、TMA(熱機械的分析)装置(TAインスツルメント社製、Q400)を用いて、4mm×20mmの試験片を作製し、温度範囲30〜300℃、10℃/分、荷重5gの条件で2サイクル目の50〜100℃における線膨張係数(CTE)を測定した。尚、サンプルは、各実施例および比較例で得られたプリプレグを2枚用いて、第2樹脂層を向かい合わせて、温度220℃、圧力1MPa、時間120分の条件でプレス積層した後、銅箔を除去したものを用いた。
(3) Linear thermal expansion coefficient The linear thermal expansion coefficient was measured using a TMA (thermomechanical analysis) apparatus (TA Instruments, Q400) to produce a 4 mm × 20 mm test piece, and a temperature range of 30 to 300. The linear expansion coefficient (CTE) at 50 to 100 ° C. in the second cycle was measured under the conditions of 10 ° C./min and a load of 5 g. In addition, a sample uses two prepregs obtained in each Example and Comparative Example, and the second resin layer is face-to-face and pressed and laminated under the conditions of a temperature of 220 ° C., a pressure of 1 MPa, and a time of 120 minutes. What removed the foil was used.

(4)銅箔引き剥がし強度
前記絶縁樹脂層の厚み0.4mmの両面に銅箔を有する積層板の銅箔の引き剥がし強度をJIS C-6481に基づいて測定した。
(4) Copper foil peeling strength The peeling strength of the copper foil of the laminated board which has a copper foil on both surfaces with a thickness of 0.4 mm of the said insulating resin layer was measured based on JIS C-6481.

(5)吸湿半田耐熱性
JIS C-6481に基づいて、50mm×50mm角のサンプルの裏面と表面の半分以外の全銅箔をエッチング除去し、プレシッヤークッカー試験機(エスペック社製)で121℃、2気圧で2時間処理後、260℃の半田槽に30秒間浸漬させて、外観変化の異常の有無を目視にて観察した。
各符号は以下の通りである。
○:異常なし
×:膨れ、剥がれあり
(5) Moisture-absorbing solder heat resistance Based on JIS C-6481, all copper foils except for the back and front half of the 50 mm × 50 mm square sample were removed by etching, and 121 with a prescher cooker tester (Espec Corp.). After treatment at 2 ° C. for 2 hours, the sample was immersed in a solder bath at 260 ° C. for 30 seconds, and the presence or absence of an abnormality in the appearance change was visually observed.
Each code is as follows.
○: No abnormality ×: Swelling or peeling

(6)ドリル摩耗性
得られた積層板を3枚重ねて、上にエントリーボード(三菱瓦斯化学社製LE812F3)、下にバックボード(厚さ1.5mmの紙フェノール板)を配し、ユニオンツール(株)製ドリルビット(KMC L506、直径150μm)を用いて、により、ドリル回転速度200krpm、送り速度2.5m/分、チップロード12.5μm/revのドリル加工条件で、φ150の孔あけ加工(貫通孔:3000穴)を行いった。
ドリル摩耗性の評価は、使用前のドリル刃幅を100%とし、使用後のドリル刃幅の残存率を測定することにより行った。
各符号は以下の通りである。
◎:ドリル刃幅の残存率が、65%以上あった場合。
○:ドリル刃幅の残存率が、50%以上65%未満であった場合。
×:ドリル刃幅の残存率が、50%未満であった場合。
(6) Drill wearability Three layers of the obtained laminates are stacked, and an entry board (LE812F3 manufactured by Mitsubishi Gas Chemical Company) is placed on top, and a backboard (paper phenol board with a thickness of 1.5 mm) is placed on the bottom. Drilling of φ150 using a drill bit (KMC L506, diameter 150 μm) manufactured by Tool Co., Ltd. under drilling conditions of a drill rotation speed of 200 krpm, a feed speed of 2.5 m / min, and a tip load of 12.5 μm / rev. Processing (through hole: 3000 holes) was performed.
Evaluation of drill wearability was performed by measuring the remaining ratio of the drill blade width after use with the drill blade width before use being 100%.
Each code is as follows.
A: When the remaining ratio of the drill blade width is 65% or more.
◯: When the remaining rate of the drill blade width is 50% or more and less than 65%.
X: When the remaining ratio of the drill blade width is less than 50%.

(7)めっき染込性
ドリル加工後の貫通孔めっき染み込み性を評価した。
尚、サンプルは、前記ドリル摩耗性評価のドリル加工で穴あけ加工した貫通孔に、無電界めっきを行い、厚さ1μmのメッキを行った後、電界めっきで厚さ10μmのメッキ厚とした。その後、2500〜3000穴の断面から貫通孔10個観察した。
符号は以下の通り。
◎:染み込み深さが、5μm未満であった場合。
○:染み込み深さが、5μm以上15μm未満であった場合。
×:染み込み深さが、15μm以上であった場合。
(7) Plating penetration The penetration penetration penetration after drilling was evaluated.
The sample was subjected to electroless plating on the through-holes drilled by drilling for the above-described evaluation of wear of the drill, plated with a thickness of 1 μm, and then plated with a thickness of 10 μm by electroplating. Thereafter, 10 through-holes were observed from the cross-section of 2500 to 3000 holes.
The code is as follows.
A: When the penetration depth is less than 5 μm.
○: When the penetration depth is 5 μm or more and less than 15 μm.
X: When the penetration depth is 15 μm or more.

(8)スルーホール間の絶縁信頼性
前記実施例及び比較例で得られたプリント配線板を用い、スルーホール間の絶縁信頼性を評価した。プリント配線板のスルーホール壁間0.2mm部分を用い、印加電圧20V、温度130℃湿度85%の条件で、連続測定で評価した。
なお、絶縁抵抗値が10Ω未満となる時点で終了とした。
各符号は以下の通りである。
◎:200時間を超えた場合。
○:100時間以上200以下であった場合。
×:100時間未満であった場合。
(8) Insulation reliability between through-holes The insulation reliability between through-holes was evaluated using the printed wiring boards obtained in the examples and comparative examples. Using a 0.2 mm portion between through-hole walls of the printed wiring board, evaluation was made by continuous measurement under the conditions of an applied voltage of 20 V, a temperature of 130 ° C. and a humidity of 85%.
The process was terminated when the insulation resistance value was less than 10 8 Ω.
Each code is as follows.
A: When 200 hours are exceeded.
○: When it is 100 hours or more and 200 or less.
X: When it was less than 100 hours.

表2に記載されている評価結果からわかるように、実施例1〜13では、前記評価(1)〜(8)において良好な結果が得られた。つまり、実施例1〜13では、ワニスの無機充填材の沈降性に優れ、フィラー高充填ワニスにも関わらず、プリプレグの含浸性に優れ、積層板の低熱膨張性、銅箔引き剥がし強度、銅箔の吸湿半田耐熱性に優れていた。また、プリント配線板の加工特性である、ドリルビットのドリル磨耗性、貫通孔のめっき染込性に優れていた。また、プリント配線板のスルーホール間の絶縁性にも優れていた。
一方、比較例1では、無機充填材として、硬度、弾性率の高いシリカのみを使用しているため、プリント配線板の加工特性である、ドリルビットのドリル磨耗性、貫通孔のめっき染込性が劣る結果となった。
比較例2では、無機充填材として、窒化ホウ素のみを使用したため、積層板の銅箔引き剥がし強度、銅箔の吸湿半田耐熱性、プリント配線板の加工特性である貫通孔のめっき染込性、およびプリント配線板のスルーホール間の絶縁性が劣る結果となった。
比較例3では、無機充填材として、ベーマイトのみを使用したため、積層板の低熱膨張性、およびプリント配線板のスルーホール間の絶縁性が劣る結果となった。
比較例4では、ワニスの調製において、平均粒径5〜100nmの微粒子を用いなかったため、ワニスの無機充填材の沈降性、プリプレグの含浸性、銅箔引き剥がし強度、銅箔の吸湿半田耐熱性、プリント配線板の加工特性である貫通孔のめっき染込性、プリント配線板のスルーホール間の絶縁性が劣る結果となった。
As can be seen from the evaluation results shown in Table 2, in Examples 1 to 13, good results were obtained in the evaluations (1) to (8). That is, in Examples 1-13, it is excellent in the sedimentation property of the inorganic filler of a varnish, it is excellent in the impregnation property of a prepreg in spite of a high filler filling varnish, the low thermal expansion property of a laminated board, copper foil peeling strength, copper The foil was excellent in moisture absorption solder heat resistance. Moreover, it was excellent in the drill bit wear resistance of the drill bit and the plating penetration property of the through hole, which are the processing characteristics of the printed wiring board. Moreover, the insulation between the through holes of the printed wiring board was also excellent.
On the other hand, in Comparative Example 1, only silica having a high hardness and elastic modulus is used as the inorganic filler, so that the drill bit wear resistance and the plating penetration of the through hole, which are the processing characteristics of the printed wiring board, are used. Was inferior.
In Comparative Example 2, since only boron nitride was used as the inorganic filler, the copper foil peel strength of the laminated board, the moisture absorption solder heat resistance of the copper foil, the plating penetration property of the through holes, which are the processing characteristics of the printed wiring board, In addition, the insulation between the through holes of the printed wiring board was inferior.
In Comparative Example 3, since only boehmite was used as the inorganic filler, the low thermal expansion property of the laminated board and the insulation between the through holes of the printed wiring board were inferior.
In Comparative Example 4, since fine particles having an average particle diameter of 5 to 100 nm were not used in the preparation of the varnish, the sedimentation property of the inorganic filler of the varnish, the impregnation property of the prepreg, the peel strength of the copper foil, the moisture absorption solder heat resistance of the copper foil As a result, the processing characteristics of the printed wiring board were poor in plating penetration of through holes and insulation between through holes of the printed wiring board.

本発明のプリント配線板用樹脂組成物は、ガラス繊維基材等の基材に含浸させプリプレグとして、さらにはそのプリプレグを用いた積層板として、用いることができる。また、本発明のプリント配線板用樹脂組成物の硬化物は、優れた絶縁性を有することから、例えばプリント配線板の絶縁層に好適に用いることができる。さらに本発明のエポキシ樹脂前駆体組成物の硬化物は、低線膨張であり、耐熱性、及び導体回路との密着性に優れることから、半導体装置のインターポーザとしても用いることができる。半導体装置のプリント配線板としては、マザーボード及びインターポーザが知られている。インターポーザは、マザーボードと同様のプリント配線板であるが、半導体素子(ベアチップ)又はプリント配線板とマザーボードの間に介在し、マザーボード上に搭載される。インターポーザは、マザーボードと同様に、プリント配線板を実装する基板として用いてもよいが、マザーボードと異なる特有の使用方法としては、パッケージ基板又はモジュール基板として用いられる。パッケージ基板とは、プリント配線板の基板としてインターポーザが用いられるという意味である。プリント配線板には、半導体素子をリードフレーム上に搭載し、両者をワイアボンディングで接続し、樹脂で封止するタイプと、インターポーザをパッケージ基板として用い、半導体素子を当該インターポーザ上に搭載し、両者をワイアボンディング等の方法で接続し、樹脂で封止するタイプとがある。   The resin composition for printed wiring boards of the present invention can be used as a prepreg by impregnating a substrate such as a glass fiber substrate, and further as a laminate using the prepreg. Moreover, since the hardened | cured material of the resin composition for printed wiring boards of this invention has the outstanding insulation, it can be used suitably for the insulating layer of a printed wiring board, for example. Furthermore, the cured product of the epoxy resin precursor composition of the present invention has a low linear expansion and is excellent in heat resistance and adhesiveness with a conductor circuit, and therefore can be used as an interposer of a semiconductor device. Mother boards and interposers are known as printed wiring boards for semiconductor devices. The interposer is a printed wiring board similar to the mother board, but is interposed between the semiconductor element (bare chip) or the printed wiring board and the mother board and mounted on the mother board. The interposer may be used as a substrate on which a printed wiring board is mounted in the same manner as a mother board. However, the interposer is used as a package substrate or a module substrate as a specific usage method different from the mother board. The package substrate means that an interposer is used as a printed wiring board substrate. In the printed wiring board, a semiconductor element is mounted on a lead frame, both are connected by wire bonding and sealed with resin, and an interposer is used as a package substrate, and a semiconductor element is mounted on the interposer. Are connected by a method such as wire bonding and sealed with resin.

1…基材
2…含浸槽
3…樹脂ワニス
4…ディップロール
5…スクイズロール
6…乾燥機
7…プリプレグ
8…上部ロール
10…絶縁樹脂層付き金属箔
11…金属箔
12…絶縁樹脂層
20…基材
30…絶縁樹脂層付き高分子フィルムシート
31…高分子フィルムシート
32…絶縁樹脂層
40…プリプレグ
41…金属箔付きプリプレグ
42…高分子フィルムシート付きプリプレグ
51…積層板
52…積層板
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... Base material 2 ... Impregnation tank 3 ... Resin varnish 4 ... Dip roll 5 ... Squeeze roll 6 ... Dryer 7 ... Prepreg 8 ... Upper roll 10 ... Metal foil with an insulating resin layer 11 ... Metal foil 12 ... Insulating resin layer 20 ... Substrate 30 ... polymer film sheet with insulating resin layer 31 ... polymer film sheet 32 ... insulating resin layer 40 ... prepreg 41 ... prepreg with metal foil 42 ... prepreg with polymer film sheet 51 ... laminate 52 ... laminate

Claims (12)

(A)エポキシ樹脂と(B)無機充填材とを含むプリント配線板用樹脂組成物であって、
(B)無機充填材は、(b1)不定形の窒化ホウ素、(b2)不定形のベーマイト、および(b3)平均粒径5〜100nmの無機微粒子を必須成分とすることを特徴とするプリント配線板用樹脂組成物。
(A) A resin composition for a printed wiring board comprising an epoxy resin and (B) an inorganic filler,
(B) The inorganic filler contains (b1) amorphous boron nitride, (b2) amorphous boehmite, and (b3) inorganic fine particles having an average particle diameter of 5 to 100 nm as essential components. Resin composition for board.
前記(A)エポキシ樹脂は、ナフタレン構造、ビフェニル構造、アントラセン構造よりなる群から選ばれる少なくとも1種の構造を有するエポキシ樹脂である請求項1に記載のプリント配線板用樹脂組成物。 The resin composition for a printed wiring board according to claim 1, wherein the (A) epoxy resin is an epoxy resin having at least one structure selected from the group consisting of a naphthalene structure, a biphenyl structure, and an anthracene structure. 前記プリント配線板用樹脂組成物は、さらにシアネート樹脂を含むものである請求項1、または2に記載のプリント配線板用樹脂組成物。   The resin composition for a printed wiring board according to claim 1, wherein the resin composition for a printed wiring board further contains a cyanate resin. 前記(b3)平均粒径5〜100nmの無機微粒子は、(B)無機充填材中の(b1)不定形の窒化ホウ素と(b2)不定形のベーマイトとの合計100体積部に対して1〜40体積部である請求項1ないし3のいずれか一に記載のプリント配線板用樹脂組成物。 The inorganic fine particles (b3) having an average particle size of 5 to 100 nm are 1 to 100 parts by volume in total of (B1) amorphous boron nitride and (b2) amorphous boehmite in the inorganic filler (B). The resin composition for a printed wiring board according to any one of claims 1 to 3, wherein the resin composition is 40 parts by volume. 前記(B)無機充填材は、さらに(b4)略立方形状のベーマイトを含むものである請求項1ないし4のいずれか一に記載のプリント配線板用樹脂組成物。 The printed wiring board resin composition according to any one of claims 1 to 4, wherein the (B) inorganic filler further includes (b4) substantially cubic boehmite. 前記(B)無機充填材の配合量は、プリント配線板用樹脂組成物中に45〜75重量%である請求項1ないし5のいずれか1つに記載のプリント配線板用樹脂組成物。 The resin composition for a printed wiring board according to any one of claims 1 to 5, wherein a blending amount of the (B) inorganic filler is 45 to 75% by weight in the resin composition for a printed wiring board. 請求項1ないし6のいずれか一に記載のプリント配線板用樹脂組成物を基材に含浸してなることを特徴とするプリプレグ。 A prepreg comprising a substrate impregnated with the resin composition for printed wiring boards according to any one of claims 1 to 6. 請求項7に記載のプリプレグ、又は当該プリプレグを2枚以上重ね合わせた積層体の少なくとも片面に金属箔を有することを特徴とする積層板。 A laminate having a metal foil on at least one surface of the prepreg according to claim 7 or a laminate in which two or more prepregs are stacked. 請求項1ないし6のいずれか一に記載のプリント配線板用樹脂組成物よりなる絶縁層をフィルム上、又は金属箔上に形成してなる樹脂シート。 The resin sheet formed by forming the insulating layer which consists of a resin composition for printed wiring boards as described in any one of Claim 1 thru | or on a film or metal foil. 請求項8に記載の積層板を内層回路基板に用いてなることを特徴とするプリント配線板。 A printed wiring board comprising the laminated board according to claim 8 as an inner circuit board. 内層回基板の回路上に、請求項7に記載のプリプレグ、及び/または請求項9に記載の樹脂シートを積層してなるプリント配線板。 A printed wiring board obtained by laminating the prepreg according to claim 7 and / or the resin sheet according to claim 9 on a circuit of an inner layer circuit board. 請求項10、または請求項11に記載のプリント配線板に半導体素子を搭載してなることを特徴とする半導体装置。 12. A semiconductor device comprising a semiconductor element mounted on the printed wiring board according to claim 10 or 11.
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Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2014112464A1 (en) * 2013-01-15 2014-07-24 三菱瓦斯化学株式会社 Resin composition, prepreg, laminate, metal foil-clad laminate, and printed wiring board
JP2015151483A (en) * 2014-02-17 2015-08-24 三菱瓦斯化学株式会社 Resin sheet, metal foil clad laminate sheet and printed wiring board
JP2016079368A (en) * 2014-10-22 2016-05-16 株式会社Kri Low thermal expandable resin composition and manufacturing method therefor
JP2017025186A (en) * 2015-07-21 2017-02-02 住友ベークライト株式会社 Heat-conductive resin composition, laminate for circuit board, circuit board and semiconductor device
JP2019094471A (en) * 2017-11-28 2019-06-20 三菱瓦斯化学株式会社 Resin composition, prepreg, metal foil-clad laminate, resin sheet and printed wiring board
WO2024147356A1 (en) * 2023-01-06 2024-07-11 日産化学株式会社 Solvent-free organic-inorganic hybrid resin composition and cured film

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009144072A (en) * 2007-12-14 2009-07-02 Sekisui Chem Co Ltd Insulation sheet and laminated structure
JP2010031263A (en) * 2008-06-30 2010-02-12 Sumitomo Bakelite Co Ltd Epoxy resin composition, prepreg, laminate, resin sheet, multilayer printed wiring board, and semiconductor device
JP2010106125A (en) * 2008-10-29 2010-05-13 Sumitomo Bakelite Co Ltd Resin composition, prepreg, laminated plate, multilayered printed wiring board, and semiconductor device
JP2010174242A (en) * 2009-12-28 2010-08-12 Sumitomo Bakelite Co Ltd Biphenyl aralkyl type cyanate ester resin, resin composition containing biphenyl aralkyl type cyanate ester resin, and prepreg, laminated plate, resin sheet, multilayer printed wiring board, and semiconductor device obtained using the resin composition
JP2011026419A (en) * 2009-07-24 2011-02-10 Sumitomo Bakelite Co Ltd Resin composition, prepreg, laminated board, multilayer printed wiring, and semiconductor device

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009144072A (en) * 2007-12-14 2009-07-02 Sekisui Chem Co Ltd Insulation sheet and laminated structure
JP2010031263A (en) * 2008-06-30 2010-02-12 Sumitomo Bakelite Co Ltd Epoxy resin composition, prepreg, laminate, resin sheet, multilayer printed wiring board, and semiconductor device
JP2010106125A (en) * 2008-10-29 2010-05-13 Sumitomo Bakelite Co Ltd Resin composition, prepreg, laminated plate, multilayered printed wiring board, and semiconductor device
JP2011026419A (en) * 2009-07-24 2011-02-10 Sumitomo Bakelite Co Ltd Resin composition, prepreg, laminated board, multilayer printed wiring, and semiconductor device
JP2010174242A (en) * 2009-12-28 2010-08-12 Sumitomo Bakelite Co Ltd Biphenyl aralkyl type cyanate ester resin, resin composition containing biphenyl aralkyl type cyanate ester resin, and prepreg, laminated plate, resin sheet, multilayer printed wiring board, and semiconductor device obtained using the resin composition

Cited By (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2014112464A1 (en) * 2013-01-15 2014-07-24 三菱瓦斯化学株式会社 Resin composition, prepreg, laminate, metal foil-clad laminate, and printed wiring board
JPWO2014112464A1 (en) * 2013-01-15 2017-01-19 三菱瓦斯化学株式会社 Resin composition, prepreg, laminate, metal foil clad laminate and printed wiring board
US10138393B2 (en) 2013-01-15 2018-11-27 Mitsubishi Gas Chemical Company, Inc. Resin composition, prepreg, laminate, metal foil-clad laminate, and printed-wiring board
JP2015151483A (en) * 2014-02-17 2015-08-24 三菱瓦斯化学株式会社 Resin sheet, metal foil clad laminate sheet and printed wiring board
JP2016079368A (en) * 2014-10-22 2016-05-16 株式会社Kri Low thermal expandable resin composition and manufacturing method therefor
JP2017025186A (en) * 2015-07-21 2017-02-02 住友ベークライト株式会社 Heat-conductive resin composition, laminate for circuit board, circuit board and semiconductor device
JP2019094471A (en) * 2017-11-28 2019-06-20 三菱瓦斯化学株式会社 Resin composition, prepreg, metal foil-clad laminate, resin sheet and printed wiring board
JP7057542B2 (en) 2017-11-28 2022-04-20 三菱瓦斯化学株式会社 Resin composition, prepreg, metal leaf-clad laminate, resin sheet and printed wiring board
WO2024147356A1 (en) * 2023-01-06 2024-07-11 日産化学株式会社 Solvent-free organic-inorganic hybrid resin composition and cured film

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