JP5929639B2 - Cyanate ester compound, resin composition, prepreg, laminate, resin sheet, multilayer printed wiring board, and semiconductor device - Google Patents

Cyanate ester compound, resin composition, prepreg, laminate, resin sheet, multilayer printed wiring board, and semiconductor device Download PDF

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Description

本発明は、シアン酸エステル化合物、樹脂組成物、プリプレグ、積層板、樹脂シート、多層プリント配線板、および半導体装置に関する。   The present invention relates to a cyanate ester compound, a resin composition, a prepreg, a laminate, a resin sheet, a multilayer printed wiring board, and a semiconductor device.

近年、電子機器の高機能化等の要求に伴い、電子部品の高密度集積化、更には高密度実装化等が進んでおり、これらに使用される高密度実装対応のプリント配線板等は、従来にも増して、小型化かつ高密度化が進んでいる。このプリント配線板の高密度化への対応として、ビルドアップ方式による多層プリント配線板が多く採用されている(例えば、特許文献1参照)。   In recent years, with the demand for higher functionality of electronic devices, etc., high-density integration of electronic components, and further high-density mounting, etc. are progressing. Compared to the conventional technology, miniaturization and high density are progressing. As a countermeasure for increasing the density of this printed wiring board, a multilayer printed wiring board by a build-up method is often employed (for example, see Patent Document 1).

ビルドアップ方式による多層プリント配線板の絶縁層には、通常、熱硬化性樹脂組成物が用いられる。信頼性等を考慮し、絶縁層には、低熱膨張率で、ガラス転移温度の高い樹脂組成物が求められる。   A thermosetting resin composition is usually used for the insulating layer of the multilayer printed wiring board by the build-up method. Considering reliability and the like, a resin composition having a low coefficient of thermal expansion and a high glass transition temperature is required for the insulating layer.

このような絶縁層に用いる樹脂組成物に求められる要求特性に対し、ノボラック型シアン酸エステル樹脂に無機充填剤を配合した樹脂組成物(特許文献2)が提案されている。しかし、今後のさらなる微細配線化、小型化にともない信頼性の向上が要求される。特に、吸湿後の信頼性の向上が要求されている。また、特許文献3には、高い収率でシアン酸エステルを合成する方法が開示されており、各種構造のシアン酸エステルが開示されているが、その有用な使用方法を含めた開示はなされていない。
A resin composition (Patent Document 2) in which an inorganic filler is blended with a novolak cyanate ester resin has been proposed for the required characteristics required for the resin composition used for such an insulating layer. However, with the further miniaturization and miniaturization in the future, improvement in reliability is required. In particular, improvement in reliability after moisture absorption is required. Further, Patent Document 3 discloses a method for synthesizing cyanate esters with high yield, and cyanate esters having various structures are disclosed. However, disclosure including their useful methods of use has been made. Absent.

特開平07−106767号公報Japanese Patent Application Laid-Open No. 07-106767 特開2006−191150号公報JP 2006-191150 A 特開平9−249746号公報Japanese Patent Laid-Open No. 9-249746 特開平11−255735号公報JP-A-11-255735 特開2011−132167号公報JP 2011-132167 A

本発明は優れた耐吸湿性、高耐熱、低誘電特性、低熱膨張性、及び難燃性に優れるシアン酸エステル化合物、および樹脂組成物を提供するものであり、さらには、当該樹脂組成物を用いた特性のバランスに優れるプリプレグ、樹脂シート、積層板、多層プリント配線板、並びに半導体装置を提供するものである。   The present invention provides a cyanate ester compound excellent in moisture absorption resistance, high heat resistance, low dielectric properties, low thermal expansion, and flame retardancy, and a resin composition. The present invention provides a prepreg, a resin sheet, a laminate, a multilayer printed wiring board, and a semiconductor device that are excellent in the balance of the characteristics used.

このような目的は、下記[1]〜[11]項に記載の本発明により達成される。
[1]下記式(1)で表されるシアン酸エステル化合物。
[式中 R1は、下記の式(2)〜式(5)のいずれかである。]
[式中 R2は、H、C1〜C3の脂肪族炭化水素、C6〜C12の芳香族炭化水素の何れかを示す。]
[2]フルオレン型フェノールとハロゲン化シアンとを反応させて得られることを特徴とするフルオレン型シアン酸エステル化合物。
[3][1]又は[2]に記載のシアン酸エステル化合物を必須成分とする樹脂組成物。
[4]さらにエポキシ樹脂、および硬化剤を含む[3]に記載の樹脂組成物。
[5]さらに無機充填材を含む[4]に記載の樹脂組成物。
[6]前記無機充填材は、シリカ、水酸化アルミニウム、ベーマイト、タルク、及び炭酸カルシウムからなる群より選ばれた少なくとも1種類である[5]に記載の樹脂組成物。
[7][3]ないし[6]のいずれかに記載の樹脂組成物を基材に含浸させてなるプリプレグ。
[8][7]に記載のプリプレグを1枚以上成形してなる積層板。
[9][3]ないし[6]のいずれかに記載の樹脂組成物からなる絶縁層と、フィルムまたは金属箔からなるキャリア層とを有する樹脂シート。
[10]少なくとも[7]のプリプレグ、[8]の積層板および[9]の樹脂シートいずれかを用いて作製される多層プリント配線板。
[11][10]に記載の多層プリント配線板に半導体素子を搭載してなる半導体装置。
Such an object is achieved by the present invention described in the following items [1] to [11].
[1] A cyanate ester compound represented by the following formula (1).
[Wherein R 1 is any one of the following formulas (2) to (5). ]
[Wherein R 2 represents any one of H, a C1-C3 aliphatic hydrocarbon, and a C6-C12 aromatic hydrocarbon. ]
[2] A fluorene-type cyanate compound obtained by reacting a fluorene-type phenol and a cyanogen halide.
[3] A resin composition comprising the cyanate ester compound according to [1] or [2] as an essential component.
[4] The resin composition according to [3], further comprising an epoxy resin and a curing agent.
[5] The resin composition according to [4], further including an inorganic filler.
[6] The resin composition according to [5], wherein the inorganic filler is at least one selected from the group consisting of silica, aluminum hydroxide, boehmite, talc, and calcium carbonate.
[7] A prepreg obtained by impregnating a base material with the resin composition according to any one of [3] to [6].
[8] A laminate obtained by molding one or more prepregs according to [7].
[9] A resin sheet having an insulating layer made of the resin composition according to any one of [3] to [6] and a carrier layer made of a film or metal foil.
[10] A multilayer printed wiring board produced using at least one of [7] prepreg, [8] laminate and [9] resin sheet.
[11] A semiconductor device comprising a semiconductor element mounted on the multilayer printed wiring board according to [10].

本発明のシアン酸エステル化合物を含む樹脂組成物をプリント配線板の絶縁層に用いた場合、当該多層プリント配線板は、難燃性、耐熱性、低線膨張性、低誘電性、吸湿はんだ耐熱性に優れる。   When the resin composition containing the cyanate ester compound of the present invention is used for an insulating layer of a printed wiring board, the multilayer printed wiring board has flame resistance, heat resistance, low linear expansion, low dielectric property, and moisture absorption solder heat resistance. Excellent in properties.

以下、本発明ついて詳細に説明する。   The present invention will be described in detail below.

まず、本発明のシアン酸エステル化合物について説明する。 First, the cyanate ester compound of the present invention will be described.

シアン酸エステル化合物は、ハロゲン化シアン化合物とフェノール化合物とを反応させることにより得ることができる。
本発明のシアン酸エステル樹脂は、下記一般式(6)に示すフルオレン型フェノール化合物とハロゲン化シアンとを反応させることにより得ることができる。
[式中 R1は、下記の式(7)〜式(10)のいずれかである。]
[式中 R2は、H、C1〜C3の脂肪族炭化水素、C6〜C7の芳香族炭化水素の何れかを示す。]
The cyanate ester compound can be obtained by reacting a cyanogen halide compound with a phenol compound.
The cyanate ester resin of the present invention can be obtained by reacting a fluorene type phenol compound represented by the following general formula (6) with cyanogen halide.
[Wherein R 1 is any one of the following formulas (7) to (10). ]
[Wherein R 2 represents any one of H, a C1-C3 aliphatic hydrocarbon, and a C6-C7 aromatic hydrocarbon. ]

前記シアン酸エステル化合物は、2量化または、3量化したものを含んでいてもよい。   The cyanate ester compound may include a dimerized or trimerized compound.

本発明のシアン酸エステル化合物の合成条件、及び方法は、特に限定されないが、例えば、有機溶媒中に前記一般式(6)で示されるフルオレン型フェノール樹脂を溶解させ、低温でハロゲン化シアン化合物を滴下し、次に低温で3級アミンなどの塩基性化合物を滴下する。ハロゲン化シアンと3級アミンなどの塩基性化合物は、交互に滴下しても良く、同時でも良い。発熱反応による副反応が起こらないよう、低温で反応を進めることにより、高収率でシアン酸エステル化合物を得ることができる。低温とは、副反応がおこる温度以下をいう。好ましくは、0℃以下である。   The synthesis conditions and method of the cyanate ester compound of the present invention are not particularly limited. For example, the fluorene type phenol resin represented by the general formula (6) is dissolved in an organic solvent, and the cyanogen halide compound is formed at a low temperature. Then, a basic compound such as a tertiary amine is added dropwise at a low temperature. The basic compound such as cyanogen halide and tertiary amine may be dropped alternately or simultaneously. By proceeding the reaction at a low temperature so that side reactions due to the exothermic reaction do not occur, a cyanate ester compound can be obtained in a high yield. Low temperature means below the temperature at which side reactions occur. Preferably, it is 0 ° C. or lower.

前記合成条件において、フルオレン型フェノール樹脂とハロゲン化シアンとのモル比率は、フルオレン型フェノール樹脂のフェノール性水酸基1に対してハロゲン化シアンを1.0〜3が好ましい。   In the synthesis conditions, the molar ratio of the fluorene type phenol resin and the cyanogen halide is preferably 1.0 to 3 cyanogen halides with respect to the phenolic hydroxyl group 1 of the fluorene type phenol resin.

前記ハロゲン化シアン化合物としては、特に限定されないが、例えば、塩化シアン、臭化シアンなどを用いることができる。   Although it does not specifically limit as said halogenated cyanide compound, For example, cyanogen chloride, cyanogen bromide, etc. can be used.

前記3級アミンとしては、特に限定されないが、例えば、アルキルアミン、アリールアミン、シクロアルキルアミンのいずれでも良く、例えばトリメチルアミン、トリエチルアミン、メチルジエチルアミン、トリプロピルアミン、トリブチルアミン、メチルジブチルアミンなどが挙げられる。   The tertiary amine is not particularly limited, and may be any of alkylamine, arylamine, and cycloalkylamine, such as trimethylamine, triethylamine, methyldiethylamine, tripropylamine, tributylamine, and methyldibutylamine. .

合成に用いる前記有機溶媒としては、特に限定されないが、例えば、ケトン系溶剤、芳香族系溶剤、エーテル系溶剤、ハロゲン化炭素水素系溶剤、アルコール系溶剤、非プロトン系溶剤、二トリル系溶剤、エステル系溶剤、炭化水素系溶剤などがあり、いずれも用いることができる。これらの1種類または2種類以上を組み合わせて使用することができる。   The organic solvent used for the synthesis is not particularly limited. For example, ketone solvents, aromatic solvents, ether solvents, halogenated hydrocarbon solvents, alcohol solvents, aprotic solvents, nitrile solvents, There are ester solvents and hydrocarbon solvents, and any of them can be used. These 1 type or 2 types or more can be used in combination.

一般式(6)で示されるフルオレン型フェノール樹脂とハロゲン化シアン化合物とを反応させた後の処理としては、析出した3級アミンなどの塩基性化合物のハロゲン化水素塩をろ過または水洗によって除去する。さらにアミン類を除去するため、酸性水溶液を用いて分液洗浄を行うことができる。希塩酸を主に用いる。最後に脱水のため、無水硫酸ナトリウムなどを用いる。水洗の場合は、分液作業が可能な溶媒を選択する必要がある。なお、洗浄後のイオン性不純物の含有量がNaイオン、Brイオン、Clイオンともに30ppm以下が好ましく。より好ましくは10ppm以下である。30ppm以上の場合、多層プリント配線板の絶縁層に用いた場合、絶縁信頼性に悪影響を及ぼす場合がある。   As a treatment after reacting the fluorene type phenol resin represented by the general formula (6) with a cyanogen halide, the precipitated hydrogen halide salt of a basic compound such as a tertiary amine is removed by filtration or washing with water. . Furthermore, in order to remove amines, separation washing can be performed using an acidic aqueous solution. Dilute hydrochloric acid is mainly used. Finally, anhydrous sodium sulfate or the like is used for dehydration. In the case of washing with water, it is necessary to select a solvent that can be separated. The content of ionic impurities after washing is preferably 30 ppm or less for Na ions, Br ions, and Cl ions. More preferably, it is 10 ppm or less. In the case of 30 ppm or more, when used for an insulating layer of a multilayer printed wiring board, the insulation reliability may be adversely affected.

以下に、本発明の樹脂組成物について説明する。   Below, the resin composition of this invention is demonstrated.

本発明の樹脂組成物は、前記本発明のシアン酸エステル化合物を含む樹脂組成物である。本発明の樹脂組成物は、他のシアン酸エステル化合物、エポキシ樹脂、硬化剤、硬化促進剤、無機充填材、離型剤などの添加剤、その他必要に応じ添加剤を含有することができる。   The resin composition of the present invention is a resin composition containing the cyanate ester compound of the present invention. The resin composition of the present invention may contain other cyanate ester compounds, epoxy resins, curing agents, curing accelerators, inorganic fillers, release agents, and other additives, and other additives as necessary.

本発明の樹脂組成物に用いられるシアン酸エステル化合物はその骨格中にフルオレン構造を含み、9位に2つの芳香族環を含むものであれば特に限定されないが、例えば、9,9-ビス(4-ヒドロキシフェニル)-9H-フルオレン、9,9-ビス(3-メチル-4-ヒドロキシフェニル)-9H-フルオレン、9,9-ビス(3-エチル-4-ヒドロキシフェニル)-9H-フルオレン9,9-ビス(3-プロピル-4-ヒドロキシフェニル)-9H-フルオレン、9,9-ビス(4-ヒドロキシナフチル)-9H-フルオレン、9,9-ビス(6-ヒドロキシナフチル)-9H-フルオレン等が挙げられる。これらの中の1種類を単独で用いることもできるし、2種類以上を併用し、またはそれらの2量体を用いる事もできる。   The cyanate ester compound used in the resin composition of the present invention is not particularly limited as long as it contains a fluorene structure in its skeleton and two aromatic rings at the 9-position. For example, 9,9-bis ( 4-Hydroxyphenyl) -9H-fluorene, 9,9-bis (3-methyl-4-hydroxyphenyl) -9H-fluorene, 9,9-bis (3-ethyl-4-hydroxyphenyl) -9H-fluorene 9 , 9-bis (3-propyl-4-hydroxyphenyl) -9H-fluorene, 9,9-bis (4-hydroxynaphthyl) -9H-fluorene, 9,9-bis (6-hydroxynaphthyl) -9H-fluorene Etc. One of these can be used alone, two or more of them can be used together, or a dimer thereof can be used.

樹脂組成物の含有量は、特に限定されないが、前記樹脂組成物全体の5〜60重量%含有することが好ましい。さらに好ましくは10〜50重量%、特に好ましくは15〜40重量%である。含有量が前記下限値未満であると耐熱性、低熱膨張性、難燃性が低下する。前記上限値を超えると高温高湿下での信頼性試験であるHAST試験やPCT試験での信頼性が低下する場合がある。 Although content of a resin composition is not specifically limited, It is preferable to contain 5 to 60 weight% of the said resin composition whole. More preferably, it is 10 to 50% by weight, and particularly preferably 15 to 40% by weight. If the content is less than the lower limit, the heat resistance, low thermal expansibility, and flame retardancy are reduced. When the upper limit is exceeded, reliability in a HAST test or a PCT test, which is a reliability test under high temperature and high humidity, may be reduced.

前記本発明の樹脂組成物には、本発明のシアン酸エステル化合物以外にも他のシアン酸エステル化合物を併用することができる。このようなシアン酸エステル化合物としては、特に限定されないが、例えば、ビスフェノールA型ジシアン酸エステル、ビスフェノールF型ジシアン酸エステル、ビスフェノールE型ジシアン酸エステル、フェノールノボラック型シアン酸エステル、クレゾールノボラック型シアン酸エステル等が挙げられる。これらの中の1種類を単独で用いることもできるし、異なる重量平均分子量を有する2種類以上を併用したり、1種類または2種類以上と、それらのプレポリマーを併用したりすることもできる。   In addition to the cyanate ester compound of the present invention, other cyanate ester compounds can be used in combination with the resin composition of the present invention. Such a cyanate ester compound is not particularly limited. For example, bisphenol A dicyanate, bisphenol F dicyanate, bisphenol E dicyanate, phenol novolac cyanate, cresol novolac cyanate Examples include esters. One of these can be used alone, or two or more having different weight average molecular weights can be used in combination, or one or two or more of these prepolymers can be used in combination.

前記他のシアン酸エステル化合物の中でも、ビスフェノールA型ジシアン酸エステル樹脂、ビスフェノールE型ジシアン酸エステル、及びフェノールノボラック型シアン酸エステルを用いることが好ましい。ビスフェノールA型ジシアン酸エステル又はビスフェノールE型ジシアン酸エステルを用いると、吸水率を下げることができ、吸湿処理後の銅との密着性が向上する。また、フェノールノボラック型シアン酸エステルを用いると、高耐熱性の樹脂組成物を得ることができる。   Among the other cyanate ester compounds, it is preferable to use bisphenol A type dicyanate resin, bisphenol E type dicyanate ester, and phenol novolac type cyanate ester. When bisphenol A type dicyanate or bisphenol E type dicyanate is used, the water absorption can be lowered, and the adhesion with copper after moisture absorption treatment is improved. Moreover, when a phenol novolac-type cyanate ester is used, a highly heat-resistant resin composition can be obtained.

本発明に用いるエポキシ樹脂としては、特に限定されないが、ビスフェノールA型エポキシ樹脂、ビスフェノールF型エポキシ樹脂、ビスフェノールS型エポキシ樹脂、ビスフェノールE型エポキシ樹脂、ビスフェノールM型エポキシ樹脂、ビスフェノールP型エポキシ樹脂、ビスフェノールZ型エポキシ樹脂等のビスフェノール型エポキシ樹脂、フェノールノボラック型エポキシ樹脂、クレゾールノボラックエポキシ樹脂等のノボラック型エポキシ樹脂、ビフェニル型エポキシ樹脂、ビフェニルアラルキル型エポキシ樹脂、アリールアルキレン型エポキシ樹脂、ナフタレン型エポキシ樹脂、アントラセン型エポキシ樹脂、フェノキシ型エポキシ樹脂、ジシクロペンタジエン型エポキシ樹脂、ノルボルネン型エポキシ樹脂、アダマンタン型エポキシ樹脂、フルオレン型エポキシ樹脂等のエポキシ樹脂等が挙げられる。これらの中の1種類を単独で用いることもできるし、異なる重量平均分子量を有する2種類以上を併用したり、1種類または2種類以上と、それらのプレポリマーを併用したりすることもできる。これらの中でも、特にビフェニルアラルキル型エポキシ樹脂が好ましい。これにより、プリント配線板の難燃性が向上する。   The epoxy resin used in the present invention is not particularly limited, but bisphenol A type epoxy resin, bisphenol F type epoxy resin, bisphenol S type epoxy resin, bisphenol E type epoxy resin, bisphenol M type epoxy resin, bisphenol P type epoxy resin, Bisphenol type epoxy resin such as bisphenol Z type epoxy resin, novolac type epoxy resin such as phenol novolac type epoxy resin, cresol novolac epoxy resin, biphenyl type epoxy resin, biphenyl aralkyl type epoxy resin, arylalkylene type epoxy resin, naphthalene type epoxy resin , Anthracene type epoxy resin, phenoxy type epoxy resin, dicyclopentadiene type epoxy resin, norbornene type epoxy resin, adamantane type epoxy resin Carboxymethyl resins, epoxy resins such as a fluorene epoxy resin. One of these can be used alone, or two or more having different weight average molecular weights can be used in combination, or one or two or more of these prepolymers can be used in combination. Among these, a biphenyl aralkyl type epoxy resin is particularly preferable. Thereby, the flame retardance of a printed wiring board improves.

前記エポキシ樹脂の重量平均分子量は、特に限定されないが、重量平均分子量2.0×102〜2.0×104が好ましく、特に8.0×102〜1.5×104が好ましい。重量平均分子量が前記下限値未満であるとプリプレグにタック性が生じる場合が有り、前記上限値を超えるとプリプレグ作製時、繊維基材への含浸性が低下し、均一な製品が得られない場合がある。前記エポキシ樹脂の重量平均分子量は、例えばGPCで測定することができる。 Although the weight average molecular weight of the epoxy resin is not particularly limited, the weight average molecular weight is preferably 2.0 × 10 2 to 2.0 × 10 4 , and particularly preferably 8.0 × 10 2 to 1.5 × 10 4 . When the weight average molecular weight is less than the lower limit, tackiness may occur in the prepreg, and when the upper limit is exceeded, the impregnation property to the fiber base material is lowered during prepreg production, and a uniform product cannot be obtained. There is. The weight average molecular weight of the epoxy resin can be measured by GPC, for example.

前記エポキシ樹脂の含有量は、特に限定されないが、樹脂組成物全体の1〜55重量%が好ましく、特に2〜40重量%が好ましい。含有量が前記下限値未満であるとシアネート樹脂の反応性が低下したり、得られる製品の耐湿性が低下したりする場合があり、前記上限値を超えると耐熱性が低下する場合がある。   Although content of the said epoxy resin is not specifically limited, 1 to 55 weight% of the whole resin composition is preferable, and 2 to 40 weight% is especially preferable. If the content is less than the lower limit, the reactivity of the cyanate resin may decrease, or the moisture resistance of the product obtained may decrease, and if the content exceeds the upper limit, the heat resistance may decrease.

本発明に用いる硬化剤としては、分子内に水酸基を有するものであれば特に限定されない。例えば、フェノールノボラック樹脂、クレゾールノボラック樹脂、ビスフェノールAノボラック樹脂等のノボラック型フェノール樹脂、未変性のレゾールフェノール樹脂、桐油、アマニ油、クルミ油等で変性した油変性レゾールフェノール樹脂等のレゾール型フェノール樹脂等のフェノール樹脂、フェノキシ樹脂などが挙げられる。これらの中の1種類を単独で用いることもできるし、異なる重量平均分子量を有する2種類以上を併用したり、1種類または2種類以上と、それらのプレポリマーを併用したりすることもできる。この中でもノボラック型フェノール樹脂が良く、その中でもビフェニルアラルキル型フェノール樹脂が好ましい。ビフェニルアラルキル型フェノール樹脂を用いることで低吸水の積層板を得ることができ、また得られた積層板は難燃性に優れる。   The curing agent used in the present invention is not particularly limited as long as it has a hydroxyl group in the molecule. For example, resol type phenol resins such as phenol novolac resin, cresol novolak resin, novolak type phenol resin such as bisphenol A novolac resin, unmodified resole phenol resin, oil modified resole phenol resin modified with tung oil, linseed oil, walnut oil, etc. Such as phenol resin and phenoxy resin. One of these can be used alone, or two or more having different weight average molecular weights can be used in combination, or one or two or more of these prepolymers can be used in combination. Among these, novolac type phenol resins are preferable, and among them, biphenyl aralkyl type phenol resins are preferable. By using a biphenyl aralkyl type phenolic resin, a low water absorption laminated board can be obtained, and the obtained laminated board is excellent in flame retardancy.

前記のビフェニルアラルキル型フェノール樹脂の繰り返し単位数は、特に限定されないが、繰り返し単位数が、1〜12が好ましく、特に2〜8が好ましい。平均繰り返し単位数が前記下限値未満であると耐熱性が低下する場合がある。また、前記上限値を超えると他の樹脂との相溶性が低下し、作業性が低下する場合がある。   The number of repeating units of the biphenyl aralkyl type phenol resin is not particularly limited, but the number of repeating units is preferably 1 to 12, and particularly preferably 2 to 8. If the average number of repeating units is less than the lower limit, the heat resistance may decrease. Moreover, when the said upper limit is exceeded, compatibility with other resin will fall and workability | operativity may fall.

前記フェノール樹脂の重量平均分子量は、特に限定されないが、重量平均分子量2.0×102〜1.8×104が好ましく、特に5.0×102〜1.5×104が好ましい。重量平均分子量が前記下限値未満であるとプリプレグにタック性が生じる場合が有り、前記上限値を超えるとプリプレグ作製時、繊維基材への含浸性が低下し、均一な製品が得られない場合がある。前記フェノール樹脂の重量平均分子量は、例えばGPCで測定することができる。 The weight average molecular weight of the phenol resin is not particularly limited, but is preferably 2.0 × 10 2 to 1.8 × 10 4 , and more preferably 5.0 × 10 2 to 1.5 × 10 4 . When the weight average molecular weight is less than the lower limit, tackiness may occur in the prepreg, and when the upper limit is exceeded, the impregnation property to the fiber base material is lowered during prepreg production, and a uniform product cannot be obtained. There is. The weight average molecular weight of the phenol resin can be measured by, for example, GPC.

前記フェノール樹脂の含有量は、特に限定されないが、樹脂組成物全体の1〜55重量%が好ましく、特に5〜40重量%が好ましい。含有量が前記下限値未満であると耐熱性が低下する場合があり、前記上限値を超えると低熱膨張の特性が損なわれる場合がある。   Although content of the said phenol resin is not specifically limited, 1 to 55 weight% of the whole resin composition is preferable, and 5 to 40 weight% is especially preferable. If the content is less than the lower limit, the heat resistance may be reduced, and if the content exceeds the upper limit, the characteristics of low thermal expansion may be impaired.

本発明の樹脂組成物は、無機充填材を含むことが好ましい。これにより、積層板を薄膜化(厚さ0.5mm以下)にしても強度に優れるだけでなく、積層板の低熱膨張化、難燃性の向上を図ることができる。   The resin composition of the present invention preferably contains an inorganic filler. Thereby, even if it makes a laminated board thin (thickness 0.5 mm or less), it not only is excellent in intensity | strength, but the low thermal expansion of a laminated board and the improvement of a flame retardance can be aimed at.

前記無機充填材としては、特に限定されないが、例えばタルク、焼成クレー、未焼成クレー、マイカ、ガラス等のケイ酸塩、酸化チタン、アルミナ、シリカ、溶融シリカ等の酸化物、炭酸カルシウム、炭酸マグネシウム、ハイドロタルサイト等の炭酸塩、水酸化アルミニウム、水酸化マグネシウム、水酸化カルシウム等の水酸化物、硫酸バリウム、硫酸カルシウム、亜硫酸カルシウム等の硫酸塩または亜硫酸塩、ホウ酸亜鉛、メタホウ酸バリウム、ホウ酸アルミニウム、ホウ酸カルシウム、ホウ酸ナトリウム等のホウ酸塩、窒化アルミニウム、窒化ホウ素、窒化ケイ素、窒化炭素等の窒化物、チタン酸ストロンチウム、チタン酸バリウム等のチタン酸塩等を挙げることができる。無機充填材として、これらの中の1種類を単独で用いることもできるし、2種類以上を併用したりすることもできる。これらの中でも特に、シリカが好ましく、溶融シリカ(特に球状溶融シリカ)が低熱膨張性に優れる点で好ましい。その形状は破砕状、球状があるが、繊維基材への含浸性を確保するために樹脂組成物の溶融粘度を下げるには球状シリカを使う等、その目的にあわせた使用方法が採用される。   Examples of the inorganic filler include, but are not limited to, silicates such as talc, fired clay, unfired clay, mica, and glass, oxides such as titanium oxide, alumina, silica, and fused silica, calcium carbonate, and magnesium carbonate. , Carbonates such as hydrotalcite, hydroxides such as aluminum hydroxide, magnesium hydroxide, calcium hydroxide, sulfates or sulfites such as barium sulfate, calcium sulfate, calcium sulfite, zinc borate, barium metaborate, Examples include borates such as aluminum borate, calcium borate and sodium borate, nitrides such as aluminum nitride, boron nitride, silicon nitride and carbon nitride, titanates such as strontium titanate and barium titanate. it can. As the inorganic filler, one of these can be used alone, or two or more can be used in combination. Among these, silica is particularly preferable, and fused silica (particularly spherical fused silica) is preferable in terms of excellent low thermal expansion. The shape is crushed and spherical, but in order to reduce the melt viscosity of the resin composition in order to ensure the impregnation of the fiber substrate, a method of use that suits the purpose, such as using spherical silica, is adopted. .

前記無機充填材の平均粒子径は、特に限定されないが、0.01〜5.0μmが好ましく、特に0.1〜2.0μmが好ましい。無機充填材の粒径が前記下限値未満であるとワニスが高粘度となり、プリプレグ作製時の作業性に影響を与える場合がある。また、前記上限値を超えると、ワニス中で無機充填剤の沈降等の現象が起こる場合がある。この平均粒子径は、例えば粒度分布計(HORIBA製、LA−500)により測定することができる。 The average particle diameter of the inorganic filler is not particularly limited, but is preferably 0.01 to 5.0 μm, particularly preferably 0.1 to 2.0 μm. If the particle size of the inorganic filler is less than the lower limit, the varnish has a high viscosity, which may affect the workability during prepreg production. When the upper limit is exceeded, phenomena such as sedimentation of the inorganic filler may occur in the varnish. This average particle diameter can be measured, for example, by a particle size distribution meter (manufactured by HORIBA, LA-500).

また前記無機充填材は、特に限定されないが、平均粒子径が単分散の無機充填材を用いることもできるし、平均粒子径が多分散の無機充填材を用いることができる。さらに平均粒子径が単分散及び/または、多分散の無機充填材を1種類または2種類以上併用したりすることもできる。   The inorganic filler is not particularly limited, but an inorganic filler having a monodispersed average particle diameter can be used, and an inorganic filler having a polydispersed average particle diameter can be used. Furthermore, one or two or more inorganic fillers having an average particle size of monodisperse and / or polydisperse can be used in combination.

更に平均粒子径5.0μm以下の球状シリカ(特に球状溶融シリカ)が好ましく、特に平均粒子径0.1〜2.0μmの球状溶融シリカが好ましい。これにより、無機充填剤の充填性を向上させることができる。   Furthermore, spherical silica (especially spherical fused silica) having an average particle size of 5.0 μm or less is preferable, and spherical fused silica having an average particle size of 0.1 to 2.0 μm is particularly preferable. Thereby, the filling property of an inorganic filler can be improved.

前記無機充填材の含有量は、特に限定されないが、樹脂組成物全体の20〜80重量%が好ましく、特に30〜70重量%が好ましい。含有量が前記範囲内であると、得られる樹脂組成物の硬化物は、特に低熱膨張性に優れ、低吸水性である。   Although content of the said inorganic filler is not specifically limited, 20 to 80 weight% of the whole resin composition is preferable, and 30 to 70 weight% is especially preferable. When the content is within the above range, the cured product of the resin composition obtained is particularly excellent in low thermal expansion and low water absorption.

本発明の樹脂組成物は、特に限定されないが、カップリング剤を用いることが好ましい。前記カップリング剤は、前記熱硬化性樹脂と、前記無機充填材との界面の濡れ性を向上させることにより、繊維基材に対して熱硬化性樹脂等および無機充填材を均一に定着させ、耐熱性、特に吸湿後の半田耐熱性を改良することができる。   The resin composition of the present invention is not particularly limited, but it is preferable to use a coupling agent. The coupling agent improves the wettability of the interface between the thermosetting resin and the inorganic filler, thereby uniformly fixing the thermosetting resin or the like and the inorganic filler to the fiber substrate, Heat resistance, particularly solder heat resistance after moisture absorption can be improved.

前記カップリング剤としては、特に限定されないが、例えば、エポキシシランカップリング剤、カチオニックシランカップリング剤、アミノシランカップリング剤、チタネート系カップリング剤およびシリコーンオイル型カップリング剤等が上げられ、これらの中から選ばれる1種、または2種以上のカップリング剤を使用しても良い。これにより、無機充填材の界面との濡れ性を高くすることができ、それによって耐熱性をより向上させることできる。   The coupling agent is not particularly limited, and examples thereof include an epoxy silane coupling agent, a cationic silane coupling agent, an amino silane coupling agent, a titanate coupling agent, and a silicone oil type coupling agent. One or two or more coupling agents selected from among them may be used. Thereby, the wettability with the interface of an inorganic filler can be made high, and thereby heat resistance can be improved more.

前記カップリング剤の添加量は、前記無機充填材の比表面積に依存するので特に限定されないが、無機充填材100重量部に対して0.05〜3重量部が好ましく、特に0.1〜2重量部が好ましい。含有量が前記下限値未満であると無機充填材を十分に被覆できないため耐熱性を向上する効果が低下する場合があり、前記上限値を超えると反応に影響を与え、曲げ強度等が低下する場合がある。   The addition amount of the coupling agent is not particularly limited because it depends on the specific surface area of the inorganic filler, but is preferably 0.05 to 3 parts by weight, particularly 0.1 to 2 parts per 100 parts by weight of the inorganic filler. Part by weight is preferred. If the content is less than the lower limit, the inorganic filler cannot be sufficiently coated, and thus the effect of improving the heat resistance may be reduced. If the content exceeds the upper limit, the reaction is affected, and the bending strength is reduced. There is a case.

本発明の樹脂組成物には、必要に応じて硬化促進剤を用いても良い。前記硬化促進剤としては公知の物を用いることが出来る。例えば、ナフテン酸亜鉛、ナフテン酸コバルト、オクチル酸スズ、オクチル酸コバルト、ビスアセチルアセトナートコバルト(II)、トリスアセチルアセトナートコバルト(III)等の有機金属塩、トリエチルアミン、トリブチルアミン、ジアザビシクロ[2,2,2]オクタン等の3級アミン類、2−フェニル−4−メチルイミダゾール、2−エチル−4−エチルイミダゾール、2−フェニル−4−メチルイミダゾール、2−フェニル−4−メチル−5−ヒドロキシイミダゾール、2−フェニル−4,5−ジヒドロキシイミダゾール等のイミダゾール類、フェノール、ビスフェノールA、ノニルフェノール等のフェノール化合物、酢酸、安息香酸、サリチル酸、パラトルエンスルホン酸等の有機酸等、またはこの混合物が挙げられる。硬化促進剤として、これらの中の誘導体も含めて1種類を単独で用いることもできるし、これらの誘導体も含めて2種類以上を併用したりすることもできる。   You may use a hardening accelerator for the resin composition of this invention as needed. A well-known thing can be used as said hardening accelerator. For example, organic metal salts such as zinc naphthenate, cobalt naphthenate, tin octylate, cobalt octylate, bisacetylacetonate cobalt (II), trisacetylacetonate cobalt (III), triethylamine, tributylamine, diazabicyclo [2, 2,2] tertiary amines such as octane, 2-phenyl-4-methylimidazole, 2-ethyl-4-ethylimidazole, 2-phenyl-4-methylimidazole, 2-phenyl-4-methyl-5-hydroxy Examples include imidazoles such as imidazole and 2-phenyl-4,5-dihydroxyimidazole, phenolic compounds such as phenol, bisphenol A, and nonylphenol, organic acids such as acetic acid, benzoic acid, salicylic acid, and paratoluenesulfonic acid, and mixtures thereof. It is done. As the curing accelerator, one kind including these derivatives can be used alone, or two or more kinds including these derivatives can be used in combination.

前記硬化促進剤の含有量は、特に限定されないが、前記フルオレン型シアン酸エステル樹脂を含む樹脂組成物全体の0.05〜5重量%が好ましく、特に0.2〜2重量%が好ましい。含有量が前記下限値未満であると硬化を促進する効果が現れない場合があり、前記上限値を超えるとプリプレグの保存性が低下する場合がある。   Although content of the said hardening accelerator is not specifically limited, 0.05 to 5 weight% of the whole resin composition containing the said fluorene-type cyanate ester resin is preferable, and 0.2 to 2 weight% is especially preferable. When the content is less than the lower limit, the effect of promoting curing may not appear, and when the content exceeds the upper limit, the storability of the prepreg may deteriorate.

本発明の樹脂組成物は、フェノキシ樹脂、ポリイミド樹脂、ポリアミドイミド樹脂、ポリフェニレンオキサイド樹脂、ポリエーテルスルホン樹脂、ポリエステル樹脂、ポリエチレン樹脂、ポリスチレン樹脂等の熱可塑性樹脂、スチレン−ブタジエン共重合体、スチレン−イソプレン共重合体等のポリスチレン系熱可塑性エラストマー、ポリオレフィン系熱可塑性エラストマー、ポリアミド系エラストマー、ポリエステル系エラストマー等の熱可塑性エラストマ−、ポリブタジエン、エポキシ変性ポリブタジエン、アクリル変性ポリブタジエン、メタクリル変性ポリブタジエン等のジエン系エラストマーを併用しても良い。また、前記フルオレン型シアン酸エステル樹脂を含む樹脂組成物には、必要に応じて、顔料、染料、消泡剤、レベリング剤、紫外線吸収剤、発泡剤、酸化防止剤、難燃剤、イオン捕捉剤等の上記成分以外の添加物を添加しても良い。   The resin composition of the present invention includes thermoplastic resins such as phenoxy resin, polyimide resin, polyamideimide resin, polyphenylene oxide resin, polyethersulfone resin, polyester resin, polyethylene resin, polystyrene resin, styrene-butadiene copolymer, styrene- Polystyrene thermoplastic elastomers such as isoprene copolymers, polyolefin thermoplastic elastomers, polyamide elastomers, thermoplastic elastomers such as polyester elastomers, diene elastomers such as polybutadiene, epoxy modified polybutadiene, acrylic modified polybutadiene, and methacrylic modified polybutadiene May be used in combination. The resin composition containing the fluorene-type cyanate ester resin may include a pigment, a dye, an antifoaming agent, a leveling agent, an ultraviolet absorber, a foaming agent, an antioxidant, a flame retardant, and an ion scavenger as necessary. You may add additives other than the said components, such as.

次に、本発明のプリプレグについて説明する。   Next, the prepreg of the present invention will be described.

本発明のプリプレグは、前記の樹脂組成物を基材に含浸させてなるものである。これにより、誘電特性、高温多湿下での機械的、電気的接続信頼性等の各種特性に優れたプリント配線板を製造するのに好適なプリプレグを得ることができる。   The prepreg of the present invention is obtained by impregnating a base material with the above resin composition. Thereby, it is possible to obtain a prepreg suitable for manufacturing a printed wiring board excellent in various characteristics such as dielectric characteristics, mechanical and electrical connection reliability under high temperature and high humidity.

前記基材は、特に限定されないが、ガラス織布、ガラス不織布等のガラス繊維基材、ポリアミド樹脂繊維、芳香族ポリアミド樹脂繊維、全芳香族ポリアミド樹脂繊維等のポリアミド系樹脂繊維、ポリエステル樹脂繊維、芳香族ポリエステル樹脂繊維、全芳香族ポリエステル樹脂繊維等のポリエステル系樹脂繊維、ポリイミド樹脂繊維、フッ素樹脂繊維等を主成分とする織布または不織布で構成される合成繊維基材、クラフト紙、コットンリンター紙、リンターとクラフトパルプの混抄紙等を主成分とする紙基材等の有機繊維基材等が挙げられる。これらの中でもガラス繊維基材が好ましい。これにより、プリプレグの強度が向上し、吸水率を下げることができ、また熱膨張係数を小さくすることができる。   The base material is not particularly limited, but glass fiber base materials such as glass woven fabric and glass nonwoven fabric, polyamide resin fibers, aromatic polyamide resin fibers, polyamide resin fibers such as wholly aromatic polyamide resin fibers, polyester resin fibers, Synthetic fiber substrate, kraft paper, cotton linter composed of woven or non-woven fabric mainly composed of aromatic polyester resin fiber, polyester resin fiber such as wholly aromatic polyester resin fiber, polyimide resin fiber, fluororesin fiber, etc. Examples thereof include organic fiber base materials such as paper base materials mainly composed of paper, mixed paper of linter and kraft pulp, and the like. Among these, a glass fiber base material is preferable. Thereby, the intensity | strength of a prepreg can improve, a water absorption can be lowered | hung, and a thermal expansion coefficient can be made small.

前記ガラス繊維基材を構成するガラスは、特に限定されないが、例えば、Eガラス、Cガラス、Aガラス、Sガラス、Dガラス、NEガラス、Tガラス、Hガラス等が挙げられる。これらの中でもEガラス、Tガラス、または、Sガラスが好ましい。これにより、ガラス繊維基材の高弾性化を達成することができ、熱膨張係数も小さくすることができる。   Although the glass which comprises the said glass fiber base material is not specifically limited, For example, E glass, C glass, A glass, S glass, D glass, NE glass, T glass, H glass etc. are mentioned. Among these, E glass, T glass, or S glass is preferable. Thereby, the high elasticity of a glass fiber base material can be achieved and a thermal expansion coefficient can also be made small.

前記プリプレグを製造する方法は、特に限定されないが、例えば、前述したエポキシ樹脂組成物を用いて樹脂ワニスを調製し、基材を樹脂ワニスに浸漬する方法、各種コーターにより塗布する方法、スプレーにより吹き付ける方法等が挙げられる。これらの中でも、基材を樹脂ワニスに浸漬する方法が好ましい。これにより、基材に対する樹脂組成物の含浸性を向上することができる。なお、基材を樹脂ワニスに浸漬する場合、通常の含浸塗布設備を使用することができる。   The method for producing the prepreg is not particularly limited. For example, a resin varnish is prepared using the epoxy resin composition described above, the substrate is immersed in the resin varnish, the coating method is applied by various coaters, and sprayed. Methods and the like. Among these, the method of immersing the base material in the resin varnish is preferable. Thereby, the impregnation property of the resin composition with respect to a base material can be improved. In addition, when a base material is immersed in a resin varnish, a normal impregnation coating equipment can be used.

前記樹脂ワニスに用いられる溶媒は、前記樹脂組成物中の樹脂成分に対して良好な溶解性を示すことが望ましいが、悪影響を及ぼさない範囲で貧溶媒を使用しても構わない。良好な溶解性を示す溶媒は、例えばアセトン、メチルエチルケトン、メチルイソブチルケトン、シクロヘキサノン、シクロペンタノン、テトラヒドロフラン、ジメチルホルムアミド、ジメチルアセトアミド、ジメチルスルホキシド、エチレングリコール、セルソルブ系、カルビトール系等が挙げられる。   The solvent used in the resin varnish desirably exhibits good solubility in the resin component in the resin composition, but a poor solvent may be used within a range that does not adversely affect the resin varnish. Examples of the solvent exhibiting good solubility include acetone, methyl ethyl ketone, methyl isobutyl ketone, cyclohexanone, cyclopentanone, tetrahydrofuran, dimethylformamide, dimethylacetamide, dimethyl sulfoxide, ethylene glycol, cellosolve, and carbitol.

前記樹脂ワニスの固形分は、特に限定されないが、前記樹脂組成物の固形分50〜80重量%が好ましく、特に60〜78重量% が好ましい。これにより、樹脂ワニスの基材への含浸性を更に向上できる。前記基材に前記樹脂組成物を含浸させる所定温度、特に限定されないが、例えば90〜220℃等で乾燥させることによりプリプレグを得ることが出来る。   The solid content of the resin varnish is not particularly limited, but the solid content of the resin composition is preferably 50 to 80% by weight, and particularly preferably 60 to 78% by weight. Thereby, the impregnation property to the base material of a resin varnish can further be improved. Although it does not specifically limit the predetermined temperature which impregnates the said resin composition to the said base material, A prepreg can be obtained by drying at 90-220 degreeC etc., for example.

次に、本発明の積層板について説明する。 Next, the laminated board of this invention is demonstrated.

本発明の積層板は、上述のプリプレグを少なくとも1枚成形してなるものである。これにより、誘電特性、高温多湿化での機械的、電気的接続信頼性に優れた積層板を得ることができる。   The laminate of the present invention is formed by molding at least one prepreg described above. Thereby, the laminated board excellent in the dielectric property and the mechanical and electrical connection reliability in high temperature and high humidity can be obtained.

プリプレグ1枚のときは、その上下両面もしくは片面に金属箔あるいはフィルムを重ねる。また、プリプレグを2枚以上積層することもできる。プリプレグ2枚以上積層するときは、積層したプリプレグの最も外側の上下両面もしくは片面に金属箔あるいはフィルムを重ねる。次に、プリプレグと金属箔等とを重ねたものを加熱、加圧することで積層板を得ることができる。前記加熱する温度は、特に限定されないが、120〜260℃が好ましく、特に150〜240℃が好ましい。また、前記加圧する圧力は、特に限定されないが、1〜8MPaが好ましく、特に1.5〜7MPaが好ましい。   In the case of a single prepreg, a metal foil or film is stacked on both upper and lower surfaces or one surface. Two or more prepregs can be laminated. When two or more prepregs are laminated, a metal foil or film is laminated on the outermost upper and lower surfaces or one surface of the laminated prepreg. Next, a laminate can be obtained by heating and pressurizing a laminate of a prepreg and a metal foil. Although the temperature to heat is not specifically limited, 120-260 degreeC is preferable and 150-240 degreeC is especially preferable. Moreover, the pressure to pressurize is not particularly limited, but is preferably 1 to 8 MPa, and particularly preferably 1.5 to 7 MPa.

前記金属箔は、例えば銅及び銅系合金、アルミ及びアルミ系合金、銀及び銀系合金、金及び金系合金、亜鉛及び亜鉛系合金、ニッケル及びニッケル系合金、錫及び錫系合金、鉄および鉄系合金等が挙げられる。また、フィルムとしては、例えば、ポリエチレン、ポリプロピレン、ポリスチレン系樹脂、ポリエチレンナフタレート、ポリエチレンテレフタレート、ポリイミド、フッ素系樹脂等を挙げることができる。   The metal foil includes, for example, copper and a copper alloy, aluminum and an aluminum alloy, silver and a silver alloy, gold and a gold alloy, zinc and a zinc alloy, nickel and a nickel alloy, tin and a tin alloy, iron and Examples thereof include iron-based alloys. Examples of the film include polyethylene, polypropylene, polystyrene resin, polyethylene naphthalate, polyethylene terephthalate, polyimide, and fluorine resin.

次に、本発明の樹脂シートについて説明する。   Next, the resin sheet of the present invention will be described.

本発明の樹脂シートは、樹脂組成物からなる絶縁層をフィルム上、または金属箔からなるキャリア層上に形成してなるものである。   The resin sheet of the present invention is formed by forming an insulating layer made of a resin composition on a film or a carrier layer made of a metal foil.

樹脂組成物からなる絶縁層をキャリア層上に形成する方法としては、特に限定されないが、例えば、樹脂組成物を溶剤などに溶解・分散させて樹脂ワニスを調製して、各種塗工装置を用いて樹脂ワニスを基材に塗工した後、これを乾燥する方法、樹脂ワニスをスプレー装置にて基材に噴霧塗工した後、これを乾燥する方法、などが挙げられる。これらの中でも、コンマコーター、ダイコーターなどの各種塗工装置を用いて、樹脂ワニスを基材に塗工した後、これを乾燥する方法が好ましい。これにより、ボイドがなく、均一な絶縁層の厚みを有する樹脂シートを効率よく製造することができる。   The method of forming the insulating layer made of the resin composition on the carrier layer is not particularly limited. For example, the resin composition is dissolved and dispersed in a solvent to prepare a resin varnish, and various coating apparatuses are used. Examples thereof include a method in which a resin varnish is applied to a substrate and then dried, and a method in which the resin varnish is spray-coated on a substrate with a spray device and then dried. Among these, it is preferable to apply a resin varnish to a substrate using various coating apparatuses such as a comma coater and a die coater and then dry the resin varnish. Thereby, the resin sheet which does not have a void and has the thickness of a uniform insulating layer can be manufactured efficiently.

前記樹脂ワニスに用いられる溶媒は、前記樹脂組成物中の樹脂成分に対して良好な溶解性を示すことが望ましいが、悪影響を及ぼさない範囲で貧溶媒を使用しても構わない。良好な溶解性を示す溶媒としては、例えば、アセトン、メチルエチルケトン、メチルイソブチルケトン、シクロヘキサノン、テトラヒドロフラン、ジメチルホルムアミド、ジメチルアセトアミド、ジメチルスルホキシド、エチレングリコール、セルソルブ系、カルビトール系等が挙げられる。   The solvent used in the resin varnish desirably exhibits good solubility in the resin component in the resin composition, but a poor solvent may be used within a range that does not adversely affect the resin varnish. Examples of the solvent exhibiting good solubility include acetone, methyl ethyl ketone, methyl isobutyl ketone, cyclohexanone, tetrahydrofuran, dimethylformamide, dimethylacetamide, dimethyl sulfoxide, ethylene glycol, cellosolve, and carbitol.

前記樹脂ワニス中の固形分含有量としては特に限定されないが、30〜80重量%が好ましく、特に40〜70重量%が好ましい。   Although it does not specifically limit as solid content in the said resin varnish, 30 to 80 weight% is preferable and especially 40 to 70 weight% is preferable.

本発明の樹脂シートにおいて、樹脂組成物をキャリア層上に形成してなる絶縁層の厚さとしては特に限定されないが、5〜120μmであることが好ましい。さらに好ましくは10〜80μmである。これにより、この樹脂シートを用いて多層プリント配線板を製造する際に、内層回路の凹凸を充填して成形することができるとともに、好適な絶縁層厚みを確保することができる。また、樹脂シートの絶縁層部の割れ発生を抑え、裁断時の粉落ちを少なくすることができる。   In the resin sheet of the present invention, the thickness of the insulating layer formed by forming the resin composition on the carrier layer is not particularly limited, but is preferably 5 to 120 μm. More preferably, it is 10-80 micrometers. Thereby, when manufacturing a multilayer printed wiring board using this resin sheet, while being able to fill the unevenness | corrugation of an inner-layer circuit and to shape | mold, suitable insulating layer thickness can be ensured. Moreover, generation | occurrence | production of the crack of the insulating layer part of a resin sheet can be suppressed, and powder fall at the time of cutting can be decreased.

本発明の樹脂シートに用いられるフィルム、または金属箔としては、特に限定されないが、例えば、ポリエチレンテレフタレート、ポリブチレンテレフタレート、ポリエチレンナフタレートなどのポリエステル樹脂、ポリスチレン系樹脂、フッ素系樹脂、ポリイミド樹脂などの耐熱性を有した熱可塑性樹脂フィルム、あるいは、銅及び/又は銅系合金、アルミ及び/又はアルミ系合金、鉄及び/又は鉄系合金、銀及び/又は銀系合金、金及び金系合金、亜鉛及び亜鉛系合金、ニッケル及びニッケル系合金、錫及び錫系合金等の金属箔などを用いることができる。   The film or metal foil used for the resin sheet of the present invention is not particularly limited, and examples thereof include polyester resins such as polyethylene terephthalate, polybutylene terephthalate, and polyethylene naphthalate, polystyrene resins, fluorine resins, and polyimide resins. Heat-resistant thermoplastic resin film, or copper and / or copper-based alloy, aluminum and / or aluminum-based alloy, iron and / or iron-based alloy, silver and / or silver-based alloy, gold and gold-based alloy, Metal foils such as zinc and zinc alloys, nickel and nickel alloys, tin and tin alloys can be used.

前記キャリア層の厚みとしては、特に限定されないが、10〜120μmのものを用いると樹脂シートを製造する際の取り扱い性が良好であり好ましい。   Although it does not specifically limit as thickness of the said carrier layer, When the thing of 10-120 micrometers is used, the handleability at the time of manufacturing a resin sheet is favorable, and it is preferable.

次に、本発明の多層プリント配線板の一実施形態について説明する。   Next, an embodiment of the multilayer printed wiring board of the present invention will be described.

前記で得られた両面に金属箔を有する積層板を用意し、ドリル等によりスルーホールを形成し、メッキにより前記スルーホールを充填した後、積層板の両面に、エッチング等により所定の導体回路(内層回路)を形成し、導体回路を黒化処理等の粗化処理することにより内層回路基板を作製する。   A laminate having metal foil on both sides obtained above is prepared, a through hole is formed by a drill or the like, and after filling the through hole by plating, a predetermined conductor circuit (by etching or the like is formed on both sides of the laminate. The inner layer circuit board is manufactured by forming the inner layer circuit) and subjecting the conductor circuit to a roughening process such as a blackening process.

次に内層回路基板の上下面に、前述した樹脂シート、または前述したプリプレグを形成し、加熱加圧成形する。具体的には、前記樹脂シート、またはプリプレグと内層回路基板とを合わせて、真空加圧式ラミネーター装置などを用いて真空加熱加圧成形させる。その後、熱風乾燥装置等で加熱硬化させることにより内層回路基板上に絶縁層を形成することができる。ここで加熱加圧成形する条件としては特に限定されないが、一例を挙げると、温度60〜160℃、圧力0.2〜3MPaで実施することができる。また、加熱硬化させる条件としては特に限定されないが、一例を挙げると、温度140〜240℃、時間30〜120分間で実施することができる。あるいは、前記樹脂シート、またはプリプレグを内層回路基板に重ね合わせた後に、平板プレス装置などを用いて加熱加圧成形することにより内層回路基板上に絶縁層を形成することもできる。ここで加熱加圧成形する条件としては、特に限定されないが、一例を挙げると、温度140〜240℃、圧力1〜4MPaで実施することができる。   Next, the above-described resin sheet or the above-described prepreg is formed on the upper and lower surfaces of the inner layer circuit board, and is heated and pressed. Specifically, the resin sheet or prepreg and the inner layer circuit board are combined and subjected to vacuum heating and pressing using a vacuum pressurizing laminator apparatus or the like. Thereafter, the insulating layer can be formed on the inner circuit board by heat-curing with a hot air drying device or the like. Although it does not specifically limit as conditions to heat-press form here, if an example is given, it can implement at the temperature of 60-160 degreeC, and the pressure of 0.2-3 MPa. Moreover, it is although it does not specifically limit as conditions to heat-harden, If an example is given, it can implement in temperature 140-240 degreeC and time 30-120 minutes. Alternatively, the insulating layer can be formed on the inner layer circuit board by superposing the resin sheet or the prepreg on the inner layer circuit board and then heat-pressing it using a flat plate press or the like. Although it does not specifically limit as conditions to heat-press form here, If an example is given, it can implement at the temperature of 140-240 degreeC, and the pressure of 1-4 MPa.

上述した方法にて得られた基板は、絶縁層表面を過マンガン酸塩、重クロム酸塩等の酸化剤などにより粗化処理した後、金属メッキにより新たな導電配線回路を形成することができる   The substrate obtained by the above-described method can form a new conductive wiring circuit by metal plating after roughening the surface of the insulating layer with an oxidizing agent such as permanganate or dichromate.

その後、前記絶縁層を加熱することにより硬化させる。硬化させる温度は、特に限定されないが、例えば、100℃〜260℃の範囲で硬化させることができる。好ましくは150℃〜230℃で硬化させることである。   Thereafter, the insulating layer is cured by heating. Although the temperature to harden | cure is not specifically limited, For example, it can be hardened in the range of 100 to 260 degreeC. Preferably it is made to harden | cure at 150 to 230 degreeC.

次に、絶縁層に、炭酸レーザー装置を用いて開口部を設け、電解銅めっきにより絶縁層表面に外層回路形成を行い、外層回路と内層回路との導通を図る。なお、外層回路には、半導体素子を実装するための接続用電極部を設ける。   Next, an opening is provided in the insulating layer by using a carbonic acid laser device, and an outer layer circuit is formed on the surface of the insulating layer by electrolytic copper plating to achieve conduction between the outer layer circuit and the inner layer circuit. The outer layer circuit is provided with a connection electrode portion for mounting a semiconductor element.

その後、最外層にソルダーレジストを形成し、露光・現像により半導体素子が実装できるよう接続用電極部を露出させ、ニッケル金メッキ処理を施し、所定の大きさに切断し、多層プリント配線板を得ることができる。   After that, a solder resist is formed on the outermost layer, the connection electrode part is exposed so that a semiconductor element can be mounted by exposure / development, nickel gold plating treatment is performed, and it is cut into a predetermined size to obtain a multilayer printed wiring board. Can do.

次に、本発明の半導体装置の一実施形態について説明する。
半導体装置は、上述した方法にて製造された多層プリント配線板に半導体素子を実装し、製造することができる。半導体素子の実装方法、封止方法は特に限定されない。例えば、半導体素子と多層プリント配線板とを用い、フリップチップボンダーなどを用いて多層プリント配線板上の接続用電極部と半導体素子の半田バンプの位置合わせを行う。その後、IRリフロー装置、熱板、その他加熱装置を用いて半田バンプを融点以上に加熱し、多層プリント配線板と半田バンプとを溶融接合することにより接続する。そして、多層プリント配線板と半導体素子との間に液状封止樹脂を充填し、硬化させることで半導体装置を得ることができる。
Next, an embodiment of the semiconductor device of the present invention will be described.
A semiconductor device can be manufactured by mounting a semiconductor element on a multilayer printed wiring board manufactured by the method described above. The mounting method and the sealing method of the semiconductor element are not particularly limited. For example, a semiconductor element and a multilayer printed wiring board are used, and a flip-chip bonder or the like is used to align the connection electrode portions on the multilayer printed wiring board and the solder bumps of the semiconductor element. Thereafter, the solder bump is heated to the melting point or higher by using an IR reflow device, a hot plate, or other heating device, and the multilayer printed wiring board and the solder bump are connected by fusion bonding. And a semiconductor device can be obtained by filling and hardening a liquid sealing resin between a multilayer printed wiring board and a semiconductor element.

なお、本発明は前述の実施形態に限定されるものではなく、本発明の目的を達成できる範囲での変形、改良等は本発明に含まれるものである。   It should be noted that the present invention is not limited to the above-described embodiments, and modifications, improvements, and the like within the scope that can achieve the object of the present invention are included in the present invention.

本発明のフルオレン型シアン酸エステル樹脂の合成例を以下に示す。尚、以下に示す合成例は、例示であり、以下の方法に限定されるものでない。   A synthesis example of the fluorene type cyanate ester resin of the present invention is shown below. In addition, the synthesis example shown below is an illustration and is not limited to the following method.

(合成例1)
(1)ビスクレゾールフルオレン型シアン酸エステル化合物の合成
ビスフェノールフルオレン22.8g(0.06mol、商品名BCF、JFEケミカル製、水酸基当量380 g/eq)とテトラヒドロフラン(以下THF)150mlを仕込み、乾燥N2雰囲気下で攪拌溶解する。溶解後、−20℃まで冷却を行った。−20℃にて臭化シアン(以下BrCN)19.1g(純度95%、0.18mol)を投入し、内温が−15〜―20℃に温度を制御しながら、トリメチルアミン(以下TEA)18.2g(0.18mol)を1時間かけて滴下した。滴下終了後、さらに12時間攪拌を続け、反応を完結させた。
(Synthesis Example 1)
(1) Synthesis of biscresol fluorene-type cyanate compound 22.8 g (0.06 mol, trade name BCF, manufactured by JFE Chemical, hydroxyl equivalent 380 g / eq) of bisphenol fluorene and 150 ml of tetrahydrofuran (hereinafter referred to as THF) were charged and dried N2. Dissolve with stirring under atmosphere. After dissolution, it was cooled to -20 ° C. Cyanogen bromide (hereinafter BrCN) 19.1 g (purity 95%, 0.18 mol) was charged at -20 ° C., and the internal temperature was controlled to -15 to -20 ° C., while trimethylamine (hereinafter TEA) 18 0.2 g (0.18 mol) was added dropwise over 1 hour. After completion of the dropwise addition, stirring was further continued for 12 hours to complete the reaction.

得られた溶液からろ紙(5C)でろ過によりトリエチルアミン塩を除去し、−20℃に冷却したイソプロパノール600mlにゆっくり注ぎ、沈殿を得た。ろ別後、再度、−20℃に冷却したイソプロパノール600mlで洗浄し、ろ紙(5C)でろ過後、真空乾燥機(60℃、1torr)で乾燥させ、22.0g(収率90%)の樹脂を得た。このようにして得られたフルオレン型シアン酸エステルは、赤外吸収スペクトル測定(島津製作所製IR Prestige−21、KBr透過法)により、3200〜3500cm-1の水酸基由来の吸収の消失と2265cm-1のシアン酸エステル由来の吸収を確認した。 The triethylamine salt was removed from the resulting solution by filtration with a filter paper (5C), and slowly poured into 600 ml of isopropanol cooled to −20 ° C. to obtain a precipitate. After filtration, it was washed again with 600 ml of isopropanol cooled to −20 ° C., filtered with a filter paper (5C), and then dried with a vacuum dryer (60 ° C., 1 torr). 22.0 g (yield 90%) of resin Got. Fluorene type cyanate ester obtained in this way is by infrared absorption spectrum measurement (Shimadzu IR Prestige-21, KBr transmission method), and the disappearance of absorption attributable hydroxyl groups of 3200~3500cm -1 2265cm -1 The absorption derived from cyanate ester was confirmed.

(合成例2)
(2)ビスフェノールフルオレン型シアン酸エステル化合物の合成
ビスフェノールフルオレン21.1g(0.06mol、商品名BPFL,JFEケミカル製、水酸基当量176 g/eq)とテトラヒドロフラン(以下THF)150mlを仕込み、乾燥N2雰囲気下で攪拌溶解する。溶解後、−20℃まで冷却を行った。−20℃にて臭化シアン(以下BrCN)19.1g(純度95%、0.18mol)を投入し、内温が−15〜―20℃に温度を制御しながら、トリメチルアミン(以下TEA)18.2g(0.18mol)を1時間かけて滴下した。滴下終了後、さらに12時間攪拌を続け、反応を完結させた。
(Synthesis Example 2)
(2) Synthesis of bisphenolfluorene-type cyanate ester compound 21.1 g (0.06 mol, trade name BPFL, manufactured by JFE Chemical, hydroxyl equivalent 176 g / eq) of bisphenolfluorene and 150 ml of tetrahydrofuran (hereinafter THF) were charged in a dry N2 atmosphere. Dissolve under stirring. After dissolution, it was cooled to -20 ° C. Cyanogen bromide (hereinafter BrCN) 19.1 g (purity 95%, 0.18 mol) was charged at -20 ° C., and the internal temperature was controlled to -15 to -20 ° C., while trimethylamine (hereinafter TEA) 18 0.2 g (0.18 mol) was added dropwise over 1 hour. After completion of the dropwise addition, stirring was further continued for 12 hours to complete the reaction.

得られた溶液からろ紙(5C)でろ過によりトリエチルアミン塩を除去し、−20℃に冷却したイソプロパノール600mlにゆっくり注ぎ、沈殿を得た。ろ別後、再度、−20℃に冷却したイソプロパノール600mlで洗浄し、ろ紙(5C)でろ過後、真空乾燥機(60℃、1torr)で乾燥させ、23.9g(収率92%)の樹脂を得た。このようにして得られたフルオレン型シアン酸エステルは、赤外吸収スペクトル測定(島津製作所製IR Prestige−21、KBr透過法)により、3200〜3500cm-1の水酸基由来の吸収の消失と2265cm-1のシアン酸エステル由来の吸収を確認した。 The triethylamine salt was removed from the resulting solution by filtration with a filter paper (5C), and slowly poured into 600 ml of isopropanol cooled to −20 ° C. to obtain a precipitate. After filtration, it was washed again with 600 ml of isopropanol cooled to −20 ° C., filtered through a filter paper (5C), and then dried with a vacuum dryer (60 ° C., 1 torr) to obtain 23.9 g (yield 92%) of resin. Got. Fluorene type cyanate ester obtained in this way is by infrared absorption spectrum measurement (Shimadzu IR Prestige-21, KBr transmission method), and the disappearance of absorption attributable hydroxyl groups of 3200~3500cm -1 2265cm -1 The absorption derived from cyanate ester was confirmed.

(合成例3)
(3)ビスフェノールタイプのフルオレン型シアン酸エステル化合物の合成
ビスフェノールタイプのフルオレン22.7g(0.06mol、商品名CP−001、大阪ガスケミカル製、水酸基当量176 g/eq)とテトラヒドロフラン(以下THF)150mlを仕込み、乾燥N2雰囲気下で攪拌溶解する。溶解後、−20℃まで冷却を行った。−20℃にて臭化シアン(以下BrCN)19.1g(純度95%、0.18mol)を投入し、内温が−15〜―20℃に温度を制御しながら、トリメチルアミン(以下TEA)18.2g(0.18mol)を1時間かけて滴下した。滴下終了後、さらに12時間攪拌を続け、反応を完結させた。
(Synthesis Example 3)
(3) Synthesis of bisphenol-type fluorene-type cyanate compound 22.7 g of bisphenol-type fluorene (0.06 mol, trade name CP-001, manufactured by Osaka Gas Chemical Co., Ltd., hydroxyl equivalent 176 g / eq) and tetrahydrofuran (hereinafter THF) 150 ml is charged and dissolved under stirring in a dry N2 atmosphere. After dissolution, it was cooled to -20 ° C. Cyanogen bromide (hereinafter BrCN) 19.1 g (purity 95%, 0.18 mol) was charged at -20 ° C., and the internal temperature was controlled to -15 to -20 ° C., while trimethylamine (hereinafter TEA) 18 0.2 g (0.18 mol) was added dropwise over 1 hour. After completion of the dropwise addition, stirring was further continued for 12 hours to complete the reaction.

得られた溶液からろ紙(5C)でろ過によりトリエチルアミン塩を除去し、−20℃に冷却したイソプロパノール600mlにゆっくり注ぎ、沈殿を得た。ろ別後、再度、−20℃に冷却したイソプロパノール600mlで洗浄し、ろ紙(5C)でろ過後、真空乾燥機(60℃、1torr)で乾燥させ、24.7g(収率95%)の樹脂を得た。このようにして得られたフルオレン型シアン酸エステルは、赤外吸収スペクトル測定(島津製作所製IR Prestige−21、KBr透過法)により、3200〜3500cm-1の水酸基由来の吸収の消失と2265cm-1のシアン酸エステル由来の吸収を確認した。 The triethylamine salt was removed from the resulting solution by filtration with a filter paper (5C), and slowly poured into 600 ml of isopropanol cooled to −20 ° C. to obtain a precipitate. After filtration, the sample was again washed with 600 ml of isopropanol cooled to −20 ° C., filtered through a filter paper (5C), and then dried with a vacuum dryer (60 ° C., 1 torr) to obtain 24.7 g (yield 95%) of resin. Got. Fluorene type cyanate ester obtained in this way is by infrared absorption spectrum measurement (Shimadzu IR Prestige-21, KBr transmission method), and the disappearance of absorption attributable hydroxyl groups of 3200~3500cm -1 2265cm -1 The absorption derived from cyanate ester was confirmed.

以下に、本発明のシアン酸エステル化合物を用いた樹脂組成物を、実施例及び比較例により説明する。本発明はこれに限定されるものではない。   Below, the resin composition using the cyanate ester compound of the present invention will be described with reference to Examples and Comparative Examples. The present invention is not limited to this.

(1)樹脂ワニスの調製
前記合成例1で得られたビスクレレゾールシアン酸エステル化合物20重量部、ビフェニルジメチレン型エポキシ樹脂(日本化薬株式会社製、NC−3000H、エポキシ当量275)15重量部、ビフェニルジメチレン型フェノール樹脂(明和化成株式会社製、MEH−7851−3H、水酸基当量230)15重量部、およびエポキシシラン型カップリング剤(GE東芝シリコーン株式会社製、A−187)0.3重量部をメチルエチルケトンに常温で溶解し、球状溶融シリカ(株式会社アドマテックス社製、球状溶融シリカ、SO−25R、平均粒径0.5μm)49.7重量部を添加し、高速攪拌機を用いて10分攪拌して、樹脂ワニスを得た。
(1) Preparation of resin varnish 20 parts by weight of the biscleresol cyanate ester compound obtained in Synthesis Example 1, 15 parts by weight of biphenyldimethylene type epoxy resin (Nippon Kayaku Co., Ltd., NC-3000H, epoxy equivalent 275) Parts, 15 parts by weight of a biphenyldimethylene type phenol resin (Maywa Kasei Co., Ltd., MEH-7851-3H, hydroxyl group equivalent 230), and an epoxy silane type coupling agent (GE Toshiba Silicone Co., Ltd., A-187). 3 parts by weight is dissolved in methyl ethyl ketone at room temperature, 49.7 parts by weight of spherical fused silica (manufactured by Admatechs Co., Ltd., spherical fused silica, SO-25R, average particle size 0.5 μm) is added, and a high-speed stirrer is used. For 10 minutes to obtain a resin varnish.

(2)プリプレグの製造
前記樹脂ワニスをガラス織布(厚さ94μm、日東紡績製、WEA−2116)に含浸し、170℃の加熱炉で2分間乾燥して、プリプレグ中のワニス固形分が約50重量%のプリプレグを得た。
(2) Production of prepreg The glass woven fabric (thickness 94 μm, manufactured by Nitto Boseki Co., Ltd., WEA-2116) is impregnated with the resin varnish, and dried in a heating furnace at 170 ° C. for 2 minutes, so that the varnish solid content in the prepreg is about A 50% by weight prepreg was obtained.

(3)樹脂シートの製造
前記樹脂ワニスをPET(ポリエチレンテレフタレート、帝人デュポンフィルム製ピューレックスフィルム36um)上に塗工し、150℃の乾燥機で2分間乾燥して、樹脂シートを得た。
(3) Manufacture of resin sheet The resin varnish was coated on PET (polyethylene terephthalate, Purex film 36um made by Teijin DuPont Films) and dried for 2 minutes with a dryer at 150 ° C to obtain a resin sheet.

(4)積層板の製造
上述のプリプレグを2枚重ね、両面に18μmの銅箔を重ねて、圧力4MPa、温度220℃で2時間加熱加圧成形することによって、厚さ0.2mmの両面に銅張を有する積層板を得た。
(4) Manufacture of laminated board Two prepregs as described above are stacked, 18 μm copper foil is stacked on both sides, and heated and pressure-molded at a pressure of 4 MPa and a temperature of 220 ° C. for 2 hours. A laminate having copper clad was obtained.

(5)多層プリント配線板の作製
前記で得られた両面に銅張を有する積層板に、0.1mmのドリルビットを用いてスルーホール加工を行った後、メッキによりスルーホールを充填した。さらに、両面をエッチングにより回路形成し、内層回路基板として用いた。前記内層回路基板の表裏に、市販の樹脂フィルム(ビルドアップ材と称す場合もある。)(味の素ファインテクノ社製、ABF GX−13、厚さ40μm)を内層回路上に真空積層装置を用いて積層し、温度170℃、時間60分間加熱硬化し積層体を得た。
(5) Production of Multilayer Printed Wiring Board After the through-hole processing was performed using the 0.1 mm drill bit on the laminated board having copper clad on both sides obtained above, the through-hole was filled by plating. Further, a circuit was formed on both sides by etching and used as an inner layer circuit board. On the front and back of the inner layer circuit board, a commercially available resin film (sometimes referred to as a build-up material) (Ajinomoto Fine Techno Co., ABF GX-13, thickness 40 μm) is used on the inner layer circuit using a vacuum laminating apparatus. Laminated and heat cured at a temperature of 170 ° C. for 60 minutes to obtain a laminate.

その後、前記で得られた積層体に、炭酸レーザー装置を用いてφ60μmの開孔部(ブラインド・ビアホール)を形成し、70℃の膨潤液(アトテックジャパン社製、スウェリングディップ セキュリガント P)に5分間浸漬し、さらに80℃の過マンガン酸カリウム水溶液(アトテックジャパン社製、コンセントレート コンパクト CP)に15分浸漬後、中和して粗化処理を行った。次に脱脂、触媒付与、活性化の工程を経た後、無電解銅メッキ皮膜を約0.5μmの給電層を形成した。次にこの給電層表面に、厚さ25μmの紫外線感光性ドライフィルム(旭化成社製AQ−2558)をホットロールラミネーターにより貼り合わせ、最小線幅/線間が20/20μmのパターンが描画されたクロム蒸着マスク(トウワプロセス社製)を使用して、位置を合わせ、露光装置(ウシオ電機社製UX−1100SM−AJN01)にて露光、炭酸ソーダ水溶液にて現像し、めっきレジストを形成した。   Then, a φ 60 μm aperture (blind via hole) was formed in the laminate obtained above using a carbonic acid laser device, and a 70 ° C. swelling liquid (Swelling Dip Securigant P, manufactured by Atotech Japan Co., Ltd.) was formed. It was immersed for 5 minutes, further immersed in an aqueous solution of potassium permanganate at 80 ° C. (manufactured by Atotech Japan, Concentrate Compact CP) for 15 minutes, and then neutralized and roughened. Next, after passing through degreasing, catalyst application, and activation steps, an electroless copper plating film was formed with a power supply layer of about 0.5 μm. Next, a 25 μm thick UV-sensitive dry film (AQ-2558 manufactured by Asahi Kasei Co., Ltd.) is bonded to the surface of the power supply layer with a hot roll laminator, and a chromium having a pattern with a minimum line width / line spacing of 20/20 μm is drawn. Using a vapor deposition mask (manufactured by Towa Process Co., Ltd.), the position was adjusted, exposure was performed with an exposure apparatus (UX-1100SM-AJN01 manufactured by USHIO INC.), And development was performed with a sodium carbonate aqueous solution to form a plating resist.

次に、給電層を電極として電解銅めっき(奥野製薬社製81−HL)を3A/dm2、30分間行って、厚さ約25μmの銅配線を形成した。ここで2段階剥離機を用いて、前記めっきレジストを剥離した。各薬液は、1段階目のアルカリ水溶液層にはモノエタノールアミン溶液(三菱ガス化学社製R−100)、2段階目の酸化性樹脂エッチング剤には過マンガン酸カリウムと水酸化ナトリウムを主成分とする水溶液(日本マクダーミッド社製マキュダイザー9275、9276)、中和には酸性アミン水溶液(日本マクダーミッド社製マキュダイザー9279)をそれぞれ用いた。   Next, electrolytic copper plating (81-HL manufactured by Okuno Pharmaceutical Co., Ltd.) was performed at 3 A / dm 2 for 30 minutes using the power feeding layer as an electrode to form a copper wiring having a thickness of about 25 μm. Here, the plating resist was peeled off using a two-stage peeling machine. Each chemical solution is mainly composed of monoethanolamine solution (R-100 manufactured by Mitsubishi Gas Chemical Co., Ltd.) in the first stage alkaline aqueous solution layer, and potassium permanganate and sodium hydroxide as the main ingredients in the second stage oxidizing resin etchant. An aqueous solution of acidic amine (Mc. Dicer 9279, manufactured by Nihon McDermid Co., Ltd.) was used for neutralization.

そして、給電層を過硫酸アンモニウム水溶液(メルテックス(株)製AD−485)に浸漬処理することで、エッチング除去し、配線間の絶縁を確保した。次に絶縁層を温度200℃時間60分で最終硬化させ、最後に回路表面にソルダーレジスト(太陽インキ社製PSR4000/AUS308)を形成し多層プリント配線板を得た。   Then, the power feeding layer was immersed in an ammonium persulfate aqueous solution (AD-485 manufactured by Meltex Co., Ltd.) to remove it by etching and ensure insulation between the wirings. Next, the insulating layer was finally cured at a temperature of 200 ° C. for 60 minutes, and finally a solder resist (PSR4000 / AUS308 manufactured by Taiyo Ink Co., Ltd.) was formed on the circuit surface to obtain a multilayer printed wiring board.

(6)半導体装置の作製
前記で多層プリント配線板の絶縁層に炭酸レーザー装置を用いて開口部を設け、電解銅めっきにより絶縁層表面に外層回路形成を行い、外層回路と内層回路との導通を図った。なお、外層回路は、半導体素子を実装するための接続用電極部を設けた。その後、最外層にソルダーレジスト(太陽インキ社製、PSR4000/AUS308)を形成し、露光・現像により半導体素子が実装できるよう接続用電極部を露出させ、ニッケル金メッキ処理を施し、50mm×50mmの大きさに切断し、多層プリント配線板を得た。その後、半導体素子(TEGチップ、サイズ15mm×15mm、厚み0.8mm)は、半田バンプはSn/Pb組成の共晶で形成され、回路保護膜はポジ型感光性樹脂(住友ベークライト社製CRC−8300)で形成されたものを使用した。半導体装置の組み立ては、まず、半田バンプにフラックス材を転写法により均一に塗布し、次にフリップチップボンダー装置を用い、上記多層プリント配線板上に加熱圧着により搭載した。次に、IRリフロー炉で半田バンプを溶融接合した後、液状封止樹脂(住友ベークライト社製、CRP−4152S)を充填し、液状封止樹脂を硬化させることで半導体装置を得た。尚、液状封止樹脂は、温度150℃、120分の条件で硬化させた。
(6) Fabrication of semiconductor device As described above, an opening is provided in the insulating layer of the multilayer printed wiring board using a carbonic acid laser device, an outer layer circuit is formed on the surface of the insulating layer by electrolytic copper plating, and conduction between the outer layer circuit and the inner layer circuit is performed. I planned. Note that the outer layer circuit was provided with a connection electrode part for mounting a semiconductor element. Thereafter, a solder resist (manufactured by Taiyo Ink, PSR4000 / AUS308) is formed on the outermost layer, the connection electrode part is exposed so that a semiconductor element can be mounted by exposure and development, and nickel gold plating treatment is performed, and the size is 50 mm × 50 mm. A multilayer printed wiring board was obtained by cutting. Thereafter, in the semiconductor element (TEG chip, size 15 mm × 15 mm, thickness 0.8 mm), the solder bump is formed of a eutectic of Sn / Pb composition, and the circuit protective film is a positive photosensitive resin (CRC- manufactured by Sumitomo Bakelite Co., Ltd.). 8300) was used. In assembling the semiconductor device, first, a flux material was uniformly applied to the solder bumps by a transfer method, and then mounted on the multilayer printed wiring board by thermocompression bonding using a flip chip bonder device. Next, after solder bumps were melt-bonded in an IR reflow furnace, a liquid sealing resin (manufactured by Sumitomo Bakelite Co., Ltd., CRP-4152S) was filled and the liquid sealing resin was cured to obtain a semiconductor device. The liquid sealing resin was cured at a temperature of 150 ° C. for 120 minutes.

実施例2〜13、比較例1は、表1に記載の配合表に従い樹脂ワニスを調製した以外は、実施例1と同様にプリプレグ、樹脂シート、積層板、多層プリント配線板、及び半導体装置を作製した。なお実施例1に用いた原料(合成例2,3を除く)以外の実施例2〜13、及び比較例1に用いた原料を以下に示す。
(1)シアネート樹脂/ノボラック型シアネート樹脂:ロンザジャパン社製・「プリマセットPT−30」、シアネート当量124
(2)シアネート樹脂/ビスフェノールA型シアネート樹脂:ロンザジャパン社製・「プリマセットBA−230」、シアネート当量232
(3)エポキシ樹脂/ビフェニルジメチレン型エポキシ樹脂:日本化薬社製・「NC−3000H」、エポキシ当量275
(4)エポキシ樹脂/ナフタレン型2官能エポキシ樹脂:DIC社製・「HP−4032D」、エポキシ当量140g/eq
(5)エポキシ樹脂/ナフタレン型4官能エポキシ樹脂:DIC社製・「HP−4700」、エポキシ当量165g/eq
(6)フェノール樹脂/ビフェニルアルキレン型ノボラック樹脂:明和化成社製「MEH−7851−3H」、水酸基当量230
(7)無機充填材/球状シリカ;アドマテックス社製・「SO-25R」、平均粒子径0.5μm
(8)無機充填材/球状シリカ;アドマテックス社製・「SO-31R」、平均粒子径1.0μm
(9)無機充填材/球状シリカ;トクヤマ社製・「NSS−5N」、平均粒子70nm
(10)無機充填材/ベーマイト;河合石灰社製・「BMT−3L」、平均粒子2.9μm
(11)無機充填材/窒化ホウ素;水島合金鉄社製・「HP−P1」、平均粒径2.0μm
(12)無機充填材/アルミナ;日本軽金属社製・「LS−22」、平均粒径2.4μm
(13)無機充填材/タルク;富士タルク社製・「LMS−200」、平均粒子径6.0μm
(14)カップリング剤/エポキシシラン;GE東芝シリコーン社製・「A‐187」
In Examples 2 to 13 and Comparative Example 1, a prepreg, a resin sheet, a laminated board, a multilayer printed wiring board, and a semiconductor device were prepared in the same manner as in Example 1 except that a resin varnish was prepared according to the recipe shown in Table 1. Produced. The raw materials used in Examples 2 to 13 and Comparative Example 1 other than the raw materials used in Example 1 (excluding Synthesis Examples 2 and 3) are shown below.
(1) Cyanate resin / Novolac type cyanate resin: Lonza Japan Co., Ltd. “Primaset PT-30”, cyanate equivalent 124
(2) Cyanate resin / bisphenol A type cyanate resin: Lonza Japan Co., Ltd. “Primaset BA-230”, cyanate equivalent 232
(3) Epoxy resin / biphenyl dimethylene type epoxy resin: Nippon Kayaku Co., Ltd. “NC-3000H”, epoxy equivalent 275
(4) Epoxy resin / naphthalene type bifunctional epoxy resin: manufactured by DIC, “HP-4032D”, epoxy equivalent 140 g / eq
(5) Epoxy resin / naphthalene type tetrafunctional epoxy resin: manufactured by DIC, “HP-4700”, epoxy equivalent of 165 g / eq
(6) Phenol resin / biphenylalkylene type novolak resin: “MEH-7851-3H” manufactured by Meiwa Kasei Co., Ltd., hydroxyl equivalent 230
(7) Inorganic filler / spherical silica; manufactured by Admatechs Co., Ltd. “SO-25R”, average particle size 0.5 μm
(8) Inorganic filler / spherical silica; manufactured by Admatechs Co., Ltd. “SO-31R”, average particle size 1.0 μm
(9) Inorganic filler / spherical silica; “NSS-5N” manufactured by Tokuyama Corporation, average particle 70 nm
(10) Inorganic filler / boehmite; “BMT-3L” manufactured by Kawai Lime Co., Ltd., average particle 2.9 μm
(11) Inorganic filler / boron nitride; made by Mizushima Alloy Iron Co., Ltd. “HP-P1”, average particle size 2.0 μm
(12) Inorganic filler / alumina; manufactured by Nippon Light Metal Co., Ltd. “LS-22”, average particle size 2.4 μm
(13) Inorganic filler / talc; “LMS-200” manufactured by Fuji Talc Co., Ltd., average particle size 6.0 μm
(14) Coupling agent / epoxysilane; manufactured by GE Toshiba Silicone Co., Ltd. “A-187”

表1に実施例、並びに比較例の樹脂ワニスの配合、及び評価結果を表1、及び表2に示す。 Table 1 shows the blending of resin varnishes of Examples and Comparative Examples, and the evaluation results are shown in Table 1 and Table 2.

評価方法を以下の(1)〜(7)に示す。
(1)ガラス転移温度:
厚さ0.1mmの両面に銅箔を有する銅張積層板を全面エッチングし、得られた積層板から10mm×60mmのテストピースを切り出し、動的粘弾性測定装置(TAインスツルメント社製、DMA983)を用いて3℃/分で昇温し、測定した。ガラス転移温度は、tanδのピーク位置の温度とした。
Evaluation methods are shown in the following (1) to (7).
(1) Glass transition temperature:
A copper-clad laminate having copper foil on both sides with a thickness of 0.1 mm was etched all over, a 10 mm × 60 mm test piece was cut out from the obtained laminate, and a dynamic viscoelasticity measuring apparatus (TA Instruments, The temperature was increased at 3 ° C./min using DMA983) and measured. The glass transition temperature was the temperature at the peak position of tan δ.

(2)線膨張係数:
厚さ0.1mmの両面に銅箔を有する積層板を全面エッチングし、得られた積層板から2mm×2mmのテストピースを切り出し、TMA(TAインスツルメント社製)を用いて厚み方向(XY方向)の線膨張係数を測定した。測定は、窒素雰囲気下、引っ張りモードで昇温速度5℃/min、温度25〜300℃、荷重5g、2サイクル測定を行った。熱膨張率は、2サイクル目の温度50〜100℃における平均線熱膨張係数とした。
(2) Linear expansion coefficient:
A laminated board having a copper foil on both sides having a thickness of 0.1 mm is entirely etched, and a 2 mm × 2 mm test piece is cut out from the obtained laminated board, and the thickness direction (XY) is obtained using TMA (TA Instruments). Direction) was measured. The measurement was performed in a pulling mode under a nitrogen atmosphere at a rate of temperature increase of 5 ° C./min, a temperature of 25 to 300 ° C., a load of 5 g, and two cycles. The coefficient of thermal expansion was the average linear thermal expansion coefficient at a temperature of 50 to 100 ° C. in the second cycle.

(3)比誘電率:
トリプレート線路共振器法にて厚さ0.1mmの両面に銅箔を有する積層板を全面エッチングし、得られた積層板から20mm×50mmのテストピースを切り出し16枚重ねて1.6mm厚にして1GHzの値を測定した。
(3) Relative permittivity:
A laminated plate having copper foil on both sides with a thickness of 0.1 mm is etched on the entire surface by the triplate line resonator method, and a test piece of 20 mm × 50 mm is cut out from the obtained laminated plate to obtain a 1.6 mm thickness by stacking 16 pieces. The value of 1 GHz was measured.

(4)難燃性:
UL−94規格に従い、厚さ0.1mmの両面に銅箔を有する積層板を全面エッチングし、得られた積層板から13mm×125mmのテストピースを切り出し0.1mm厚のテストピースを垂直法により測定した。
(4) Flame retardancy:
In accordance with the UL-94 standard, a laminated board having copper foil on both sides with a thickness of 0.1 mm is etched on the entire surface, and a 13 mm × 125 mm test piece is cut out from the obtained laminated board, and a 0.1 mm thick test piece is obtained by a vertical method It was measured.

(5)吸水率:
厚さ0.1mmの両面に銅箔を有する積層板を全面エッチングし、得られた積層板から50mm×50mmのテストピースを切り出し、JIS6481に従い測定した。
(5) Water absorption rate:
A laminated board having a copper foil on both sides having a thickness of 0.1 mm was etched on the entire surface, and a 50 mm × 50 mm test piece was cut out from the obtained laminated board and measured according to JIS6481.

(6)吸湿はんだ耐熱性:
厚さ0.1mmの両面に銅箔を有する積層板から50mm×50mmに切り出し、JIS6481に従い半面エッチングを行ってテストピースを作製した。
プレッシャークッカーを用いて121℃で、24時間処理後、288℃の半田に60秒浸漬させ、膨れの有無を観察した。各符号は以下のとおりである。
○:異常なし
×:膨れが発生
(6) Hygroscopic solder heat resistance:
A test piece was prepared by cutting out a 50 mm × 50 mm from a laminate having a copper foil on both sides having a thickness of 0.1 mm and performing half-side etching in accordance with JIS 6481.
After treating for 24 hours at 121 ° C. using a pressure cooker, it was immersed in 288 ° C. solder for 60 seconds, and the presence or absence of swelling was observed. Each code | symbol is as follows.
○: No abnormality ×: Swelling occurred

(7)吸湿マルチリフロー
前記で得られた多層プリント配線板を、IPC/JEDECのJ−STD−20に準拠して、温度85℃湿度60%時間168時間前処理後に、260℃リフロー炉を通し、5回毎に、超音波深傷検査装置で多層プリント配線板の絶縁層の剥離、およびクラックの欠損を評価した。
各符号は以下の通りである。
◎:20回以上絶縁層の剥離、及びクラックの発生なし。
○:10回以上、20回未満で剥離、またはクラックが発生した。
△:5回以上、10回未満で剥離、またはクラックが発生した。
×:5回未満 絶縁層の剥離、またはクラックが発生した。
(7) Moisture absorption multi-reflow The multilayer printed wiring board obtained above was passed through a 260 ° C. reflow furnace after pretreatment at a temperature of 85 ° C. and a humidity of 60% for 168 hours in accordance with J-STD-20 of IPC / JEDEC. Every five times, peeling of the insulating layer of the multilayer printed wiring board and defect of cracks were evaluated with an ultrasonic deep flaw inspection apparatus.
Each code is as follows.
A: No peeling of the insulating layer and generation of cracks 20 times or more.
○: Peeling or cracking occurred 10 times or more and less than 20 times.
Δ: Peeling or cracking occurred 5 times or more and less than 10 times.
X: Less than 5 times Insulating layer peeling or cracking occurred.

各実施例で得られた積層板は、ハロゲン系難燃剤およびリン化合物を使用していないにもかかわらず優れた難燃性を有しており、近年の電子機器に求められる耐熱性、低熱膨張率、低誘電特性、耐吸湿特性吸湿を有したバランスに優れたものであることがわかる。また、多層プリント配線板の吸湿後のリフロー耐熱性に優れていた。一方、比較例1は、難燃性、吸水率、耐半田性において良好な結果を得ることができなかった。   The laminates obtained in each example have excellent flame retardancy despite the absence of halogen-based flame retardants and phosphorus compounds, and have the heat resistance and low thermal expansion required for recent electronic devices. It can be seen that it has an excellent balance of rate, low dielectric property and moisture absorption resistance. Moreover, the reflow heat resistance after moisture absorption of the multilayer printed wiring board was excellent. On the other hand, Comparative Example 1 could not obtain good results in flame retardancy, water absorption, and solder resistance.

本発明のシアン酸エステル化合物を用いた樹脂組成物は低熱線膨張率であり、流動性に優れるため、プリプレグに好適に用いることができる。当該プリプレグは、スジムラ等外観不良がなく、成形性、加工性に優れる。   Since the resin composition using the cyanate ester compound of the present invention has a low coefficient of thermal expansion and excellent fluidity, it can be suitably used for a prepreg. The prepreg has no appearance defects such as stripes, and is excellent in formability and workability.

Claims (7)

下記式(1)で表されるシアン酸エステル化合物を必須成分とし、
さらにエポキシ樹脂、および硬化剤を含むことを特徴とする樹脂組成物。
[式中 Rは、下記の式(2)〜式(5)のいずれかである。]
[式中 Rは、H、C1〜C3の脂肪族炭化水素、C6〜C12の芳香族炭化水素の何れかを示す。]
The cyanate ester compound represented by the following formula (1) is an essential component,
Furthermore, the resin composition characterized by including an epoxy resin and a hardening | curing agent.
[Wherein R 1 is any one of the following formulas (2) to (5). ]
[Wherein R 2 represents any one of H, a C1-C3 aliphatic hydrocarbon, and a C6-C12 aromatic hydrocarbon. ]
さらに無機充填材を含む請求項に記載の樹脂組成物。The resin composition of claim 1 further comprising an inorganic filler. 前記無機充填材は、シリカ、水酸化アルミニウム、ベーマイト、タルク、及び炭酸カルシウムからなる群より選ばれた少なくとも1種類である請求項に記載の樹脂組成物。The resin composition according to claim 2 , wherein the inorganic filler is at least one selected from the group consisting of silica, aluminum hydroxide, boehmite, talc, and calcium carbonate. 請求項ないし請求項のいずれかに記載の樹脂組成物を基材に含浸させてなるプリプレグ。Prepreg comprising a resin composition by impregnating a base material according to any one of claims 1 to 3. 請求項に記載のプリプレグを1枚以上成形してなる積層板。A laminate obtained by molding one or more prepregs according to claim 4 . 請求項ないし請求項のいずれかに記載の樹脂組成物からなる絶縁層と、フィルムまたは金属箔からなるキャリア層とを有する樹脂シート。The resin sheet which has an insulating layer which consists of a resin composition in any one of Claim 1 thru | or 3 , and a carrier layer which consists of a film or metal foil. 少なくとも請求項4に記載のプリプレグ、請求項5に記載の積層板および請求項6に記載の樹脂シートいずれかを用いて作製される多層プリント配線板。A multilayer printed wiring board produced using at least one of the prepreg according to claim 4, the laminate according to claim 5, and the resin sheet according to claim 6 .
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