JP2013029879A - フラッシュメモリの制御装置 - Google Patents

フラッシュメモリの制御装置 Download PDF

Info

Publication number
JP2013029879A
JP2013029879A JP2011163443A JP2011163443A JP2013029879A JP 2013029879 A JP2013029879 A JP 2013029879A JP 2011163443 A JP2011163443 A JP 2011163443A JP 2011163443 A JP2011163443 A JP 2011163443A JP 2013029879 A JP2013029879 A JP 2013029879A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
data
block
frequency
flash memory
low
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2011163443A
Other languages
English (en)
Inventor
Masaya Hirota
雅也 廣田
Kenichi Kato
健一 加藤
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Denso Corp
Original Assignee
Denso Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Denso Corp filed Critical Denso Corp
Priority to JP2011163443A priority Critical patent/JP2013029879A/ja
Publication of JP2013029879A publication Critical patent/JP2013029879A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Landscapes

  • Techniques For Improving Reliability Of Storages (AREA)
  • Read Only Memory (AREA)

Abstract

【課題】フラッシュメモリの寿命を延ばすことができる、フラッシュメモリの制御装置を提供する。
【解決手段】フラッシュメモリの複数のブロックを、低頻度データブロックと高頻度データブロックに分ける。低頻度データブロックには、更新頻度の低いデータとして予め設定された低頻度データを記憶する。一方、高頻度データブロックには、更新頻度の高いデータとして予め設定された高頻度データを記憶する。そして、フラッシュメモリに新たに記憶させるデータの種類が低頻度データであれば低頻度データブロックに記憶させ、高頻度データであれば高頻度データブロックに記憶させる。
【選択図】図3

Description

本発明は、フラッシュメモリの制御装置に関し、特に、フラッシュメモリの寿命を延ばすことができる制御装置に関する。
フラッシュメモリは、データの消去を、所定サイズに設定されたブロック単位でしか行うことができない。そのため、新たに記憶するデータは、既に書き込まれたデータに対する更新データであっても、既に書きこまれたデータに上書きするのではなく、既に書き込まれたデータと同じブロック内の空き領域に順次記憶していく。そして、ブロックに空き領域がなくなったら、ブロック内のデータのうち有効なデータを別のブロックに退避させた後に、ブロック単位で消去を行う。新たなデータの記憶は、有効なデータを退避させたブロックの空き領域に行っていく。
ところで、フラッシュメモリには書き換え回数寿命が存在し、書き換え回数寿命に到達したブロックには書き込みを行うことができない。そこで、特許文献1では、各ブロックの書換回数が、できるだけ書き換え回数寿命に到達しないようにするため、書き換え回数の少ないブロックを優先的に使用してデータの書き込みを行うようにしている。
特開平8−16482号公報
前述のように、ブロックに記憶されたデータを消去する際には、ブロック内のデータのうち有効なデータを、何も記憶されていない別のブロックに退避させる。この退避させるデータが多い場合、すなわち有効なデータが多い場合には、退避先のブロックは、退避させたデータが記憶された直後から既に空き領域が少ないことになる。その結果、そのブロックは、少ない書き込み量で一杯になってしまうので、少ない書き込み量で消去をしなければならないことになる。従って、そのブロックは、書き換え回数寿命が早く来てしまうことになる。
前述の特許文献1には、ブロックに書きこむデータの種類については特に記載はないが、ここで、1つのブロックに、更新頻度の高いデータと更新頻度の低いデータとが混在している場合を考える。
更新頻度の高いデータと更新頻度の低いデータとが同じブロックに混在している場合、そのブロックは、更新頻度の高いデータの更新頻度の影響により、比較的早くに一杯になってしまう。そして、一杯になった場合には、ブロック単位で消去を行う前に、有効なデータを全部退避させる。従って、更新頻度の低いデータも、更新頻度の高いデータに基づく更新頻度で他のブロックへ退避させられることになる。
更新頻度の高いデータは、消去されるブロックに、最新のデータのみならず過去のデータも含まれることも多く、最新のデータと過去のデータとが含まれている場合、最新のデータのみを退避先のブロックに退避させればよい。よって、更新頻度の高いデータが多いほど、退避先のブロックは、退避直後の空き容量が多いことになる。一方で、更新頻度の低いデータは、消去されるブロックに、最新のデータと過去のデータが両方含まれていることは少ない。よって、更新頻度の低いデータは、更新頻度の高いデータとは異なり、退避データ量を、消去されるブロックに記憶されているデータに対して少なくすることができない場合が多い。
このように、同一ブロックに更新頻度の高いデータと更新頻度の低いデータとが混在していると、更新頻度の低いデータは、更新頻度の高いデータに基づく頻度で退避させられるものの、更新頻度の高いデータほどには、退避させるデータ量を少なくすることができない。このことにより、退避先のブロックの退避直後の空き容量が不要に少なくなっており、書き換え回数寿命に早く到達してしまっていた。
本発明は、この事情に基づいて成されたものであり、その目的とするところは、フラッシュメモリの寿命を延ばすことができる、フラッシュメモリの制御装置を提供することにある。
前記目的を達成するための請求項1記載の発明は、記憶領域が複数のブロックに分けられており、データの消去はブロック単位で行うフラッシュメモリに対してデータの記憶および消去を行うフラッシュメモリの制御装置であって、前記複数のブロックに対して、更新頻度の低いデータとして予め設定された低頻度データを記憶する低頻度データブロックと、更新頻度の高いデータとして予め設定された高頻度データを記憶する高頻度データブロックとを設定し、前記フラッシュメモリに新たに記憶させるデータの種類が、前記低頻度データであれば前記低頻度データブロックに記憶させ、高頻度データであれば前記高頻度データブロックに記憶させることを特徴とする。
このようにすれば、高頻度データブロックには、更新頻度の低い低頻度データは含まれず、更新頻度の高い高頻度データのみが記憶されるので、高頻度データブロックが一杯になったときには、同じ種類のデータであって、最新のデータと過去のデータとが含まれることが多くなる。よって、高頻度データブロックが一杯になったときに退避させるデータ量を少なくすることができる。すなわち、退避先のブロックの空き容量を多くすることができる。これにより、退避先のブロックが一杯になるのが遅くなるので、そのブロックの寿命を延ばすことができる。
請求項2記載の発明は、前記低頻度データブロックに記憶されているデータを、そのブロックに記憶されている最も古いデータの記憶時点から、フラッシュメモリのデータ保持期間よりも短い期間に設定された書換期間経過後に、他の低頻度データブロックに移動させることを特徴とする。
低頻度データと高頻度データとを別々のブロックに記憶させることにより、低頻度データは、低頻度データブロックが一杯になる前に、データ保持期間が経過してしまうことも考えられる。しかし、このように、低頻度データブロックに記憶されているデータについては、フラッシュメモリのデータ保持期間よりも短い期間に設定された書換期間経過後に他のブロックに移動させることにすれば、データ保持期間が経過してしまうことを防止できる。よって、低頻度データが、データ保持期間経過により消滅してしまうことを防止できる。
請求項3記載の発明は、低頻度データブロックに設定しているブロックと、高頻度データブロックに設定しているブロックとを、逐次、入れ替えることを特徴とする。
高頻度データブロックは低頻度データブロックに比べて書換頻度が高くなることから、このように、低頻度データブロックに設定しているブロックと、高頻度データブロックに設定しているブロックとを、逐次、入れ替えるようにすれば、各ブロックの書換頻度が平準化され、フラッシュメモリ全体の寿命をさらに延ばすことができる。
本発明が適用された制御装置10、および、この制御装置10が制御するフラッシュメモリ20を備えた記憶システムの全体構成図である。 制御装置10がフラッシュメモリ20にデータを記憶させる際に実行する処理を示すフローチャートである。 図2に示したフローチャートの処理により行われるデータの記憶・退避処理を、従来処理と対比して概念的に説明する図である。
以下、本発明の実施形態を図面に基づいて説明する。図1は、本発明が適用された制御装置10、および、この制御装置10が制御するフラッシュメモリ20を備えた記憶システムの全体構成図である。この記憶システムは、たとえば、車両に搭載され、車両の機器の状態を逐次記憶する車両ダイアグシステムの一部として用いられる。
図1に示すように、制御装置10とフラッシュメモリ20とはバスライン30により互いに接続されている。制御装置10は、CPU11、ROM12、RAM13を備えたコンピュータであり、CPU11が、RAM13の一時記憶機能を利用しつつ、ROM12に記憶されたプログラムを実行することで、制御装置10は、フラッシュメモリ20に対して、データの記憶、読み出し、消去を行う。また、ROM12には上記プログラムの他に、外部から入力されるデータの種類と、頻度種別(低頻度データか高頻度データかを示すもの)との対応関係も記憶している。
上記制御装置10により制御するフラッシュメモリ20は、NOR型、NAND型のいずれでもよいが、本実施形態では、NAND型であるとする。NOR型、NAND型のいずれのフラッシュメモリであってもデータの消去はブロック単位で行う。しかし、書き込み単位には相違があり、NOR型では1バイトまたは1ワード単位で書き込みを行うのに対して、NAND型では、ブロック単位(消去単位)よりも小さな単位に設定されているページ単位で書き込みを行う。
フラッシュメモリ20は、記憶領域が多数のブロックに分けられている。このブロックの大きさは、フラッシュメモリ20の用途により適宜設定されるものである。また、フラッシュメモリ20に書きこむデータの構造は、公知の種々のデータ構造を採用できる。たとえば、「有効データフラグ」、「データ種類」、「データサイズ」、「データ本体」、「CRCチェックデータ」を順に含む構造とすることができる。なお、単にデータというときは、「有効データフラグ」・・・を含む一組のデータを指すものとする。
制御装置10は、バスライン30を介して、フラッシュメモリ20に記憶させる必要があるデータ(以下、取得データ)を外部から取得した場合には、その取得データに基づいて、上述の「有効データフラグ」等を有するデータを作成して、フラッシュメモリ20に記憶させる。
図2は、制御装置10がフラッシュメモリ20にデータを記憶させる際に実行する処理を示すフローチャートである。この図2に示すフローチャートを用いて、制御装置10がフラッシュメモリ20にデータを記憶させる際に実行する処理を説明する。
この図2に示す処理は、前述の取得データを取得した場合に実行する。まず、ステップS1では、取得データのデータ種類を判別する。データ種類の判別は、取得データに含まれている「データ種類」に基づいて行う。データ種類には、たとえば、車両ダイアグシステムに用いられる場合には、比較的短い周期で取得するダイアグデータ(機器の状態を示すデータ、作動要因データ)や、工場出荷時に設定される初期データなどがある。
続くステップS2では、上記取得データを記憶する記憶先ブロックを決定する。記憶先ブロックとしては、低頻度データブロックと高頻度データブロックとがある。低頻度データブロックとは、更新頻度の低いデータとして予め設定された低頻度データを記憶するブロックである。一方、高頻度データブロックは、更新頻度の高いデータとして予め設定された高頻度データを記憶するブロックである。制御装置10は、フラッシュメモリ20の多数のブロックのうちの一部または全部を、低頻度データブロック、高頻度データブロックに設定している。
取得データが低頻度データであるか高頻度データであるかは、ステップS1で判別したデータ種別と、ROM12に記憶している対応関係とを用いて決定する。たとえば、前述のダイアグデータは高頻度データであり、初期データは低頻度データである。そして、取得データが低頻度データであれば記憶先を低頻度データブロックのうちの書き込みに使用中の1つのブロックに決定し、高頻度データであれば高頻度データブロックのうちの書き込みに使用中の1つのブロックに決定する。
続くステップS3では、取得データに基づいて、前述の「有効データフラグ」等を有するデータを作成し、そのデータをステップS2で決定したブロックにおいて、記憶済みのページの直後の空きページに記憶させる。また、このステップS3では、上記データが、同ブロックに既に記憶済みのデータの更新データとなる場合には、既に記憶済みのデータの有効データフラグを1(有効)から0(無効)に書き換える。なお、フラッシュメモリは、一般的に、このような1→0の書き換えは可能である。
続くステップS4では、ステップS3でデータを記憶させた結果、そのデータを記憶させたブロックが一杯となったか否かを判断する。この判断は、書き込みアドレスが、ブロックの最終ページのアドレスであるか否かにより行う。
この判断が否定判断である場合には、図2に示す処理を終了する。一方、肯定判断であった場合には、ステップS5に進み、そのブロックに記憶されている複数のデータのうち有効なデータのみを、別のブロックに退避(移動)させる。移動先のブロックは、一杯になったブロックと同種の頻度種別データを記憶するブロックであって、一度も書き込みが行われていないため、あるいは、データ消去により、何もデータが記憶されていないブロックである。これに該当するブロックが複数ある場合には、それら複数のブロックのうち、所定の規則(たとえば、物理アドレス順)により、一つのブロックを決定する。続くステップS6では、一杯になったデータブロック全体の記憶内容を消去する。
図3は、図2に示したフローチャートの処理により行われるデータの記憶・退避処理を、従来処理と対比して概念的に説明する図であり、図3(A)が図2の処理に基づくデータの記憶・退避処理、図3(B)が従来処理に基づくデータの記憶・退避処理である。
図3(A)、(B)とも、G1−Dx(x=1、2、・・・)は低頻度データを意味し、G2−Dxは高頻度データを意味している。図3(B)に示す従来処理では、低頻度データG1−Dxと、高頻度データG2−Dxとを同じブロックに記憶しているので、ブロックmが一杯になったときに、「→」で示す4つのデータを退避させる必要がある。その結果、退避先のブロックは、退避データが書きこまれた直後から、空き容量が少なくなってしまう。
これに対して、図3(A)に示すように、本実施形態では、低頻度データG1−Dxと、高頻度データG2−Dxとを別々のブロックに記憶している。従って、ブロックmが一杯になったときに退避させるデータは、「→」にて示す最新のG2−D1、G2−D2の2つのデータのみである。よって、退避先のブロックには、比較的大きい空き容量が存在する。
制御装置10は、図2に示した処理の他に、低頻度データブロックについては、そのブロックに記憶されている最も古いデータの記憶時点からの経過時間を計時している。そして、その経過時間が、フラッシュメモリ20のデータ保持期間よりも短い期間に設定された書換期間を経過した時点で、そのブロックに記憶されているデータを別の低頻度データブロックに移動させる。なお、ここで移動させるデータは、移動元の低頻度データブロックに記憶されている全てのデータでもよいが、そのブロックに記憶されているデータのうちの有効なデータのみとすることが好ましい。
データの移動後は、データ移動元の低頻度データブロックの消去を行うが、その後は、この物理ブロックを高頻度データブロックに設定変更し、代わりに、それまで高頻度データブロックであった物理ブロックを低頻度データブロックに設定する。このようにすることにより、上記書換期間が経過する毎に、低頻度データブロックと高頻度データブロックとを入れ替えることになる。
なお、入れ替えにより低頻度データブロックとなるブロックをどのブロックにするかは適宜設定することができる。一例を挙げると、たとえば、図3(A)において、ブロック0、1が低頻度データブロックに設定され、他のブロックが高頻度データブロックに設定されているとする。上記書換期間が経過したことにより、ブロック0のデータをブロック1に退避させ、そのブロック0を高頻度データに設定するとともに、ブロック1に1を加えたブロックを、新たな低頻度データブロックとすることが考えられる。このようにすれば、低頻度データブロックが1つずつ順番に移動することになる。
以上、説明した本実施形態によれば、高頻度データブロックには、更新頻度の高い高頻度データのみが記憶されるので、高頻度データブロックが一杯になったときには、同じ種類のデータについて、最新のデータと過去のデータとが含まれることが多くなる。よって、高頻度データブロックが一杯になったときに退避させるデータ量が少なくなるので、退避先のブロックの空き容量を多くすることができる。その結果、退避先のブロックが一杯になるのが遅くなるので、そのブロックが書換回数寿命に到達するのを遅くする、すなわち、そのブロックの寿命を長くすることができる。
また、本実施形態によれば、低頻度データブロックに記憶されているデータについては、フラッシュメモリ20のデータ保持期間よりも短い期間に設定された書換期間が経過した時点で他のブロックに移動させている。これにより、低頻度データブロックに記憶させたデータに対して書き換えを行うまでの期間は、フラッシュメモリ20のデータ保持期間よりも長くならないので、低頻度データが、データ保持期間経過により消滅してしまうことを防止できる。
また、本実施形態によれば、低頻度データブロックの書換期間が経過した時点で、低頻度データブロックに設定しているブロックと、高頻度データブロックに設定しているブロックとを入れ替えている。これにより、各ブロックの書換頻度が平準化されるので、フラッシュメモリ20の全体の寿命をさらに延ばすことができる。
以上、本発明の実施形態を説明したが、本発明は上述の実施形態に限定されるものではなく、次の実施形態も本発明の技術的範囲に含まれ、さらに、下記以外にも要旨を逸脱しない範囲内で種々変更して実施することができる。
たとえば、前述の実施形態では、データの退避を行う際、有効なデータか否かを、データに含まれている有効データフラグにより判断していた。すなわち、有効なデータか否かをそのデータに含まれている情報により判断していた。しかし、これに限られず、各ブロックのデータが有効か否かを記憶するテーブルをそれらのデータ外に記憶しておき、データ退避を行う際には、そのテーブルを参照して有効なデータを決定してもよい。
また、前述の実施形態では、低頻度データブロックと高頻度データブロックの入れ替えは、低頻度データブロックについて書換期間が経過した時点で行っていたが、これに加えて、低頻度データブロックが一杯になって他のブロックにデータを移す時点で、ブロックの種別の入れ替えを行ってもよい。
10:制御装置、 11:CPU、 12:ROM、 13:RAM、 フラッシュメモリ20、 30:バスライン

Claims (3)

  1. 記憶領域が複数のブロックに分けられており、データの消去はブロック単位で行うフラッシュメモリに対してデータの記憶および消去を行う、フラッシュメモリの制御装置であって、
    前記複数のブロックに対して、更新頻度の低いデータとして予め設定された低頻度データを記憶する低頻度データブロックと、更新頻度の高いデータとして予め設定された高頻度データを記憶する高頻度データブロックとを設定し、
    前記フラッシュメモリに新たに記憶させるデータの種類が、前記低頻度データであれば前記低頻度データブロックに記憶させ、高頻度データであれば前記高頻度データブロックに記憶させることを特徴とする、フラッシュメモリの制御装置。
  2. 請求項1において、
    前記低頻度データブロックに記憶されているデータを、そのブロックに記憶されている最も古いデータの記憶時点から、フラッシュメモリのデータ保持期間よりも短い期間に設定された書換期間経過後に、他の低頻度データブロックに移動させることを特徴とする、フラッシュメモリの制御装置。
  3. 請求項2において、
    前記低頻度データブロックに設定しているブロックと、前記高頻度データブロックに設定しているブロックとを、逐次、入れ替えることを特徴とする、フラッシュメモリの制御装置。
JP2011163443A 2011-07-26 2011-07-26 フラッシュメモリの制御装置 Pending JP2013029879A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2011163443A JP2013029879A (ja) 2011-07-26 2011-07-26 フラッシュメモリの制御装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2011163443A JP2013029879A (ja) 2011-07-26 2011-07-26 フラッシュメモリの制御装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2013029879A true JP2013029879A (ja) 2013-02-07

Family

ID=47786897

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2011163443A Pending JP2013029879A (ja) 2011-07-26 2011-07-26 フラッシュメモリの制御装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2013029879A (ja)

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2016002325A1 (ja) * 2014-07-04 2016-01-07 日本電気株式会社 情報処理システム、情報処理方法、記憶制御装置およびその制御方法と制御プログラム
CN105389264A (zh) * 2014-08-29 2016-03-09 Emc公司 存储系统中垃圾收集的方法和系统
JP2017015553A (ja) * 2015-07-01 2017-01-19 ファナック株式会社 収集するデータ毎に記憶媒体を分けて保存できるデータロガー
JPWO2015114829A1 (ja) * 2014-02-03 2017-03-23 株式会社日立製作所 情報処理装置
CN108269602A (zh) * 2016-12-30 2018-07-10 西部数据技术公司 非易失性存储存储器中的处理器
US11069404B2 (en) 2019-04-22 2021-07-20 Samsung Electronics Co., Ltd. Nonvolatile memory device including banks operating in different operation modes, operation method of memory controller, and storage device comprising nonvolatile memory device and memory controller

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007172447A (ja) * 2005-12-26 2007-07-05 Jatco Ltd フラッシュメモリ
JP2010009500A (ja) * 2008-06-30 2010-01-14 Canon Finetech Inc 不揮発性メモリ制御装置および方法、ならびにインクジェット記録装置
JP2011002945A (ja) * 2009-06-17 2011-01-06 Renesas Electronics Corp 半導体装置

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007172447A (ja) * 2005-12-26 2007-07-05 Jatco Ltd フラッシュメモリ
JP2010009500A (ja) * 2008-06-30 2010-01-14 Canon Finetech Inc 不揮発性メモリ制御装置および方法、ならびにインクジェット記録装置
JP2011002945A (ja) * 2009-06-17 2011-01-06 Renesas Electronics Corp 半導体装置

Cited By (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPWO2015114829A1 (ja) * 2014-02-03 2017-03-23 株式会社日立製作所 情報処理装置
WO2016002325A1 (ja) * 2014-07-04 2016-01-07 日本電気株式会社 情報処理システム、情報処理方法、記憶制御装置およびその制御方法と制御プログラム
CN105389264A (zh) * 2014-08-29 2016-03-09 Emc公司 存储系统中垃圾收集的方法和系统
JP2016051481A (ja) * 2014-08-29 2016-04-11 イーエムシー コーポレイションEmc Corporation 非一時的なコンピュータ可読媒体、記憶装置、およびデータを管理するための方法
US9600409B2 (en) 2014-08-29 2017-03-21 EMC IP Holding Company LLC Method and system for garbage collection in a storage system based on longevity of stored data
US10001946B2 (en) 2014-08-29 2018-06-19 EMC IP Holding Company LLC Method and system for garbage collection in a storage system based on longevity of stored data
JP2017015553A (ja) * 2015-07-01 2017-01-19 ファナック株式会社 収集するデータ毎に記憶媒体を分けて保存できるデータロガー
CN108269602A (zh) * 2016-12-30 2018-07-10 西部数据技术公司 非易失性存储存储器中的处理器
US11069404B2 (en) 2019-04-22 2021-07-20 Samsung Electronics Co., Ltd. Nonvolatile memory device including banks operating in different operation modes, operation method of memory controller, and storage device comprising nonvolatile memory device and memory controller

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN109725847B (zh) 存储器系统及控制方法
US8909870B2 (en) Cache evictions from data cache based on content of address translation table cache and address translation table
JP6016137B2 (ja) ソリッドステートドライブおよびその動作方法
US8898541B2 (en) Storage controller, storage device, information processing system, and storage controlling method
JP2013029879A (ja) フラッシュメモリの制御装置
US10409502B2 (en) Method and apparatus for writing metadata into cache
TW201916018A (zh) 資料儲存裝置與將資料寫入記憶體裝置之方法
JP2005301591A (ja) 不揮発性メモリを備えた装置及びメモリコントロ−ラ
US20130103889A1 (en) Page-buffer management of non-volatile memory-based mass storage devices
US20170336992A1 (en) Method, device, and program for managing a flash memory for mass storage
JP2024511385A (ja) コピーオンライトを使用するon-SSDコピー技法
JP2007156633A (ja) メモリ装置及びメモリ制御方法
JP2010020586A (ja) データ処理装置
TW201411343A (zh) 資料儲存裝置與快閃記憶體控制方法
JP2014048679A (ja) Ssd(ソリッドステートドライブ)装置
US20170269870A1 (en) Memory controller, nonvolatile storage device, nonvolatile storage system, and memory control method
US20130159604A1 (en) Memory storage device and memory controller and data writing method thereof
CN107045423B (zh) 存储器装置及其数据存取方法
US8527733B2 (en) Memory system
JP2016184402A (ja) メモリコントローラ、不揮発性記憶装置、不揮発性記憶システム、及びメモリ制御方法
JP5858081B2 (ja) メモリコントローラ、メモリシステム及びメモリ制御方法
JP2008287398A (ja) 主記憶装置、主記憶装置の制御方法、およびこの主記憶装置を用いた情報処理装置
JP2012068765A (ja) メモリコントローラ及びメモリコントローラを備えるフラッシュメモリシステム、並びにフラッシュメモリの制御方法
JP2003036204A (ja) フラッシュ型メモリの更新方法
JP2013196155A (ja) メモリシステム

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20140326

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20140926

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20150303