JP2013008704A - Display device, method for manufacturing display device, and electronic apparatus - Google Patents

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貞一郎 西村
Kaoru Abe
薫 安部
Tamao Asaki
玲生 浅木
Masahiro Mitani
正博 三谷
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To achieve thinness as well as low refractive index of a protective film to protect a display region in an organic electroluminescent element, and to improve efficiency and lifetime.SOLUTION: A display device comprises: a display region 20 of resonator structure to resonate light generated; a protective film 17 formed in a state covering the display region 20; a resin layer 18 to be formed on the protective film 17; and a sealing layer 19 pasted up by the resin layer 18. The protective film 17 is constructed of a single layer of silicon nitride, and a refractive index at wavelength 450 nm is 1.65 or more and 1.75 or less.

Description

本発明は、発生した光を共振させる共振器構造の表示領域を有する表示装置に関し、特に、光の取り出し効率に優れるトップエミッション方式の有機エレクトロルミネッセンス素子を用いた表示装置および電子機器に関する。   The present invention relates to a display device having a display region of a resonator structure that resonates generated light, and more particularly to a display device and an electronic apparatus using a top emission type organic electroluminescence element that is excellent in light extraction efficiency.

陽極と陰極との間に有機正孔輸送層や有機発光層を積層させた有機層を設けてなる有機電界発光素子は、低電圧直流駆動による高輝度発光が可能な発光素子として注目されている。その一方、有機電界発光素子は吸湿によって発光輝度が低下したり、発光が不安定になる等、経時的な安定性が低いといった課題がある。そこで、有機電界発光素子を用いた表示装置においては、有機電界発光素子を保護膜で覆うことにより、有機電界発光素子への水分の到達を防止している。   An organic electroluminescent device comprising an organic layer in which an organic hole transport layer or an organic light emitting layer is laminated between an anode and a cathode is attracting attention as a light emitting device capable of emitting high luminance by low voltage direct current drive. . On the other hand, the organic electroluminescence device has a problem that its stability over time is low, such as light emission luminance being lowered due to moisture absorption and light emission becoming unstable. Therefore, in a display device using an organic electroluminescent element, the organic electroluminescent element is covered with a protective film to prevent moisture from reaching the organic electroluminescent element.

このような観点で有機電界発光素子を覆う保護膜としては、例えば、窒化シリコン酸化膜や窒化シリコン膜が用いられている。窒化シリコン酸化膜は屈折率が低く、透過率も高いためデバイス特性には非常に有利ではあるが、防湿性に劣るために、かなりの膜厚化が必要となる。このような膜厚化は膜の内部応力を増大させ、カソード電極からの剥がれやマイクロクラックなどの発生を招き、有機電界発光素子の特性および耐湿性を劣化させるという矛盾が生じてしまう。   From this point of view, for example, a silicon nitride oxide film or a silicon nitride film is used as the protective film that covers the organic electroluminescent element. A silicon nitride oxide film is very advantageous for device characteristics because of its low refractive index and high transmittance, but it is inferior in moisture proofing, so that a considerable film thickness is required. Such a film thickness increases the internal stress of the film, causes peeling from the cathode electrode, microcracks, and the like, resulting in a contradiction in that the characteristics and moisture resistance of the organic electroluminescent element are deteriorated.

一方、窒化シリコンは原料ガスとして、アンモニアガスを用いずにシランガスと窒素のみを用いたプラズマCVD(Chemical Vapor Deposition)法を適用することが提案され
ている。このように成膜された窒化シリコン膜を保護膜として用いることにより保護膜にクラックや剥離が生じず、有機電界発光素子の動作も安定することになる(例えば、特許文献1参照。)。
On the other hand, it has been proposed to apply a plasma CVD (Chemical Vapor Deposition) method using only silane gas and nitrogen without using ammonia gas as a source gas for silicon nitride. By using the silicon nitride film thus formed as a protective film, the protective film is not cracked or peeled off, and the operation of the organic electroluminescent element is stabilized (for example, see Patent Document 1).

また、原料ガスとして、シランガス、窒素ガス、水素ガスを用いる成膜方法において、窒素ガスの濃度を変えることにより、膜密度を制御し、高密度の窒化シリコン膜を低密度の窒化シリコン膜で挟んだ3層構造とすることで、保護膜中の残留応力を低下させて、膜剥がれを防止する構成も提案されている(例えば、特許文献2参照。)。しかし、これらの手法は保護膜の透過率が低くなることから、特に、青色の波長(450nm近辺)の透過率が著しく低下することにより、色再現性を低下させる要因となる。そのため、アンモニアガスを導入することにより、透過率を向上させ、かつ被覆性の良い膜を形成してする手法も提案されている(例えば、特許文献3参照。)。   In a film formation method using silane gas, nitrogen gas, or hydrogen gas as a source gas, the film density is controlled by changing the concentration of nitrogen gas, and the high-density silicon nitride film is sandwiched between low-density silicon nitride films. A configuration has also been proposed in which the residual stress in the protective film is reduced by using a three-layer structure to prevent film peeling (see, for example, Patent Document 2). However, since these methods have a low transmittance of the protective film, the transmittance of a blue wavelength (around 450 nm) is significantly reduced, which causes a decrease in color reproducibility. For this reason, a method of improving the transmittance and forming a film with good coverage by introducing ammonia gas has been proposed (see, for example, Patent Document 3).

特開2000−223264号公報JP 2000-223264 A 特開2004−63304号公報JP 2004-63304 A 特開2007−184251号公報JP 2007-184251 A

しかしながら、特許文献3に開示される手法は、保護膜の防湿性には優れているものの、屈折率が高くなるため(例えば、1.85から1.91)、その上の樹脂層との界面で反射が起こり、かつ膜干渉があるため膜厚を薄くすると保護膜の膜厚分布により面内の取り出した光の色度および輝度がずれてしまうという問題点が起こり、プロセスマージンを稼ぐことができなくなるという問題が生じる。そのため、膜厚を厚くして多重干渉にすることにより、膜厚分布による色度ずれを解消する必要がある。また、厚膜にすることにより、タクト時間およびコストの増加が問題となる。また、薄膜をするのに比べると保護膜の透過率が下がり、特に、青色の波長(450nm近辺)の透過率が著しく低下することにより、色再現性を低下させる要因となる。   However, although the technique disclosed in Patent Document 3 is excellent in the moisture resistance of the protective film, the refractive index becomes high (for example, 1.85 to 1.91), so that the interface with the resin layer thereabove is used. If the film thickness is reduced, the chromaticity and brightness of the extracted light will be shifted due to the film thickness distribution of the protective film, which may increase the process margin. The problem that it becomes impossible. Therefore, it is necessary to eliminate the chromaticity shift due to the film thickness distribution by increasing the film thickness to cause multiple interference. In addition, increase in the cycle time and cost becomes a problem by using a thick film. In addition, the transmittance of the protective film is lower than that of a thin film, and in particular, the transmittance of the blue wavelength (near 450 nm) is remarkably reduced, which causes a decrease in color reproducibility.

本発明は、発生した光を共振させる共振器構造の表示領域と、表示領域を覆う状態で形成される保護膜と、保護膜の上に形成される樹脂層と、樹脂層によって貼り付けられる封止層とを備える表示装置であり、保護膜が窒化シリコンの単層で構成され、波長450nmでの屈折率が1.65以上、1.75以下となっているものである。また、本発明は、このような表示装置を本体筐体に設けた電子機器でもある。   The present invention relates to a display region having a resonator structure that resonates generated light, a protective film formed so as to cover the display region, a resin layer formed on the protective film, and a seal attached by the resin layer. The protective device is composed of a single layer of silicon nitride, and has a refractive index of 1.65 or more and 1.75 or less at a wavelength of 450 nm. The present invention is also an electronic device in which such a display device is provided in a main body housing.

特に、本発明で適用する保護膜は、シランガス、アンモニアガス、窒素ガスを用いた化学的気相成長法によって成膜したもので、屈折率の低い窒化シリコン膜を積層した構成となっている。保護膜の膜厚としては、100nm以上、1μm以下となっており、保護膜の応力がほぼゼロとなっているものである。   In particular, the protective film applied in the present invention is formed by chemical vapor deposition using silane gas, ammonia gas, and nitrogen gas, and has a structure in which a silicon nitride film having a low refractive index is laminated. The thickness of the protective film is 100 nm or more and 1 μm or less, and the stress of the protective film is almost zero.

これにより、保護膜の屈折率が樹脂層の屈折率と近づき、保護膜を薄膜にしても干渉波の波長が長くなって膜厚分布による面内の取り出した光の色ずれがなくなる。   As a result, the refractive index of the protective film approaches the refractive index of the resin layer, and even if the protective film is made thin, the wavelength of the interference wave becomes long and the color deviation of the extracted light due to the film thickness distribution is eliminated.

例えば、プラズマCVDのパラメータを調整することにより、保護膜である窒化シリコン膜の屈折率を通常よりも下げることにより(波長450nmでの屈折率1.65から1.75)、薄膜にしても干渉波の波長が長くなることにより、膜厚分布による面内の取り出した光の色度ずれがなくなり、プロセスマージンを稼ぐことができるようになる。また、膜厚が薄くなることによる、透過率の向上およびタクト短縮そしてコストダウンにもつながる。また、屈折率を下げたままで被覆性の良い膜を形成することにより、封止信頼性の向上にもつながる。また、薄膜化できることにより、膜の内部応力がほとんどゼロになり、デバイス特性の向上を図ることができる。   For example, by adjusting the parameters of plasma CVD, the refractive index of the silicon nitride film, which is a protective film, is made lower than usual (refractive index of 1.65 to 1.75 at a wavelength of 450 nm), so that even a thin film interferes. By increasing the wavelength of the wave, the chromaticity shift of the extracted light in the plane due to the film thickness distribution is eliminated, and a process margin can be earned. In addition, the reduction in film thickness leads to improved transmittance, shorter tact, and cost reduction. Further, forming a film with good coverage while the refractive index is lowered leads to improvement in sealing reliability. In addition, since the thickness can be reduced, the internal stress of the film becomes almost zero, and the device characteristics can be improved.

ここで、樹脂層と保護膜(窒化シリコン膜)との界面の反射率Rは、窒化シリコン膜の屈折率をn1、樹脂層の屈折率をn2とした場合、
R=(n1−n2)2/(n1+n2)2
となるので、n1を小さくすることにより、界面反射率を小さくして干渉波形の振幅を低減することができる。
Here, the reflectivity R of the interface between the resin layer and the protective film (silicon nitride film) is as follows: when the refractive index of the silicon nitride film is n1 and the refractive index of the resin layer is n2.
R = (n1-n2) 2 / (n1 + n2) 2
Therefore, by reducing n1, the interface reflectance can be reduced and the amplitude of the interference waveform can be reduced.

本発明によれば次のような効果がある。すなわち、保護膜を薄膜化するとともに低屈折率化することにより、樹脂層との間での光の干渉を弱くして、面内色度、輝度分布を小さくすることが可能となる。これにより、光の透過率を向上させ、かつ面内ばらつきによる効率のばらつきを抑えることが可能となる。また、効率向上に伴う、寿命の向上を図ることが可能となる。さらに、保護膜の薄膜化によってプロセスタクト短縮化を図ることが可能となる。   The present invention has the following effects. That is, by reducing the thickness of the protective film and reducing the refractive index, it is possible to weaken the interference of light with the resin layer and reduce the in-plane chromaticity and luminance distribution. As a result, it is possible to improve the light transmittance and suppress the efficiency variation due to the in-plane variation. In addition, it is possible to improve the life due to the efficiency improvement. Furthermore, the process tact can be shortened by reducing the thickness of the protective film.

本実施形態に係る表示装置の構造を説明する模式断面図である。It is a schematic cross section explaining the structure of the display device according to the present embodiment. 3種類の保護膜についての波長に対する屈折率の値を示す図である。It is a figure which shows the value of the refractive index with respect to the wavelength about three types of protective films. 3種類の保護膜の特性を示す図である。It is a figure which shows the characteristic of three types of protective films. RGB各色の膜厚分布による色度変化を示す図である。It is a figure which shows the chromaticity change by the film thickness distribution of each RGB color. 各色の効率およびばらつきにいての比較結果を示す図である。It is a figure which shows the comparison result in the efficiency and dispersion | variation of each color. 各条件における稼働時間に対する輝度の変化を示す図である。It is a figure which shows the change of the brightness | luminance with respect to the working time in each condition. 各条件における半減寿命を示す図である。It is a figure which shows the half life in each condition. フラット型のモジュール形状の例を示す模式図である。It is a schematic diagram which shows the example of a flat type module shape. 本実施形態が適用されるテレビを示す斜視図である。It is a perspective view which shows the television with which this embodiment is applied. 本実施形態が適用されるデジタルカメラを示す斜視図である。It is a perspective view which shows the digital camera to which this embodiment is applied. 本実施形態が適用されるノート型パーソナルコンピュータを示す斜視図である。It is a perspective view which shows the notebook type personal computer to which this embodiment is applied. 本実施形態が適用されるビデオカメラを示す斜視図である。It is a perspective view which shows the video camera to which this embodiment is applied. 本実施形態が適用される携帯端末装置、例えば携帯電話機を示す図である。It is a figure which shows the portable terminal device to which this embodiment is applied, for example, a mobile telephone. 表示撮像装置の構成を表すブロック図である。It is a block diagram showing the structure of a display imaging device. I/Oディスプレイパネルの構成例を表すブロック図である。It is a block diagram showing the structural example of an I / O display panel. 各画素とセンサ読み出し用Hドライバとの接続関係を説明するための回路図である。It is a circuit diagram for demonstrating the connection relation of each pixel and the sensor reading H driver.

以下、本発明の実施の形態を図に基づき説明する。   Hereinafter, embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings.

<表示装置の構造>
図1は、本実施形態に係る表示装置の構造を説明する模式断面図である。なお、本実施形態では、上面発光型の有機ELディスプレイから成る表示装置を例とする。
<Structure of display device>
FIG. 1 is a schematic cross-sectional view illustrating the structure of the display device according to this embodiment. In the present embodiment, a display device including a top emission type organic EL display is taken as an example.

すなわち、この表示装置は、例えばガラスから成る絶縁材料の基板(ガラス基板10)上に複数のTFT(Thin Film Transistor)が配列形成された駆動基板と、駆動基板上に形成される表示領域20と、表示領域20を覆う状態で形成される保護膜17と、保護膜17の上に形成される樹脂層18と、樹脂層18によって貼り付けられるガラス基板等から成る封止層19とを備えている。   That is, the display device includes a drive substrate in which a plurality of TFTs (Thin Film Transistors) are arranged on a substrate made of an insulating material made of glass (glass substrate 10), for example, and a display region 20 formed on the drive substrate. A protective film 17 formed so as to cover the display region 20, a resin layer 18 formed on the protective film 17, and a sealing layer 19 made of a glass substrate or the like attached by the resin layer 18. Yes.

カラー画像を表示する表示装置では、駆動基板の上に形成される表示領域20として、赤色の光を発光する表示領域と、緑色の光を発光する表示領域と、青色の光を発光する表示領域とが所定の順番にマトリクス状に配置されたものとなる。   In a display device that displays a color image, as a display area 20 formed on the driving substrate, a display area that emits red light, a display area that emits green light, and a display area that emits blue light. Are arranged in a matrix in a predetermined order.

本実施形態では、表示領域20として、発生した光を共振させる共振器構造を備えている。表示領域20は、下部電極である第一電極(例えば、陽極15)と上部電極である第二電極(例えば、陰極16)との間に、発光層23を含む有機層を有し、発光層23で発生した光を第一電極と第二電極との間で共振させ、第二電極の側から取り出す構造となっている。   In the present embodiment, the display region 20 includes a resonator structure that resonates generated light. The display region 20 includes an organic layer including a light emitting layer 23 between a first electrode (for example, the anode 15) that is a lower electrode and a second electrode (for example, the cathode 16) that is an upper electrode. The light generated at 23 is resonated between the first electrode and the second electrode, and is extracted from the second electrode side.

表示領域20に含まれる有機層は種々の構成をとることができるが、本実施形態では、陽極15側から正孔注入層21、正孔輸送層22、発光層23、電子輸送層24を備えた構成となっている。正孔注入層21は、陽極15から正孔を有機層23内に注入する役目を果たす。正孔輸送層22は、正孔注入層21から注入された正孔を発光層23へ効率よく送り込む役目を果たす。発光層23は、電流の注入により光を発生する部分である。電子輸送層24は、陰極16から発光層23へ電子を注入する役目を果たす。   The organic layer included in the display region 20 can have various configurations. In this embodiment, the organic layer includes a hole injection layer 21, a hole transport layer 22, a light emitting layer 23, and an electron transport layer 24 from the anode 15 side. It becomes the composition. The hole injection layer 21 serves to inject holes from the anode 15 into the organic layer 23. The hole transport layer 22 plays a role of efficiently sending holes injected from the hole injection layer 21 to the light emitting layer 23. The light emitting layer 23 is a portion that generates light by current injection. The electron transport layer 24 serves to inject electrons from the cathode 16 to the light emitting layer 23.

この表示領域20の保護膜17は窒化シリコンから成り、表示領域20を覆うように被着している。本実施形態では、保護膜17が窒化シリコンの単層で構成され、波長450nmでの屈折率が1.65以上、1.75以下となるよう形成している。これにより、保護膜17の屈折率が保護膜17の上に形成される樹脂層18の屈折率(1.5〜1.6)に近づき、保護膜17を薄膜にしても干渉波の波長が長くなって膜厚分布による面内の取り出した光の色ずれをなくすことが可能となる。特に、本実施形態では、波長450nmでの保護膜17と樹脂層18との屈折率差を0.3以下(好ましくは0.2)にしている。これにより、色ずれ抑制の効果をより発揮させることができる。   The protective film 17 in the display area 20 is made of silicon nitride and is deposited so as to cover the display area 20. In the present embodiment, the protective film 17 is formed of a single layer of silicon nitride, and is formed so that the refractive index at a wavelength of 450 nm is 1.65 or more and 1.75 or less. Thereby, the refractive index of the protective film 17 approaches the refractive index (1.5 to 1.6) of the resin layer 18 formed on the protective film 17, and the wavelength of the interference wave is reduced even if the protective film 17 is thin. It becomes long and it becomes possible to eliminate the color shift of the extracted light in the plane due to the film thickness distribution. In particular, in this embodiment, the refractive index difference between the protective film 17 and the resin layer 18 at a wavelength of 450 nm is set to 0.3 or less (preferably 0.2). Thereby, the effect of color misregistration suppression can be exhibited more.

ここで、保護膜17とその上の樹脂層18との界面での反射率Rは、保護膜17である窒化シリコン膜の屈折率をn1、樹脂層の屈折率をn2とした場合、
R=(n1−n2)2/(n1+n2)2
となる。したがって、n1を小さくすることにより、界面反射率を小さくして干渉波形の振幅を低減することができる。
Here, the reflectivity R at the interface between the protective film 17 and the resin layer 18 on the protective film 17 is n1 as the refractive index of the silicon nitride film as the protective film 17 and n2 as the refractive index of the resin layer.
R = (n1-n2) 2 / (n1 + n2) 2
It becomes. Therefore, by reducing n1, the interface reflectance can be reduced and the amplitude of the interference waveform can be reduced.

保護膜17の屈折率を調整するには、保護膜17を形成するプラズマCVDのパラメータを調整することによって行うことができる。また、保護膜17の厚さは100nm以上、1μm以下となっており、薄膜化することで膜の内部応力をほとんどゼロにすることができる。これにより、表示領域20への影響を抑制し、発光特性を向上できるようになる。   The refractive index of the protective film 17 can be adjusted by adjusting the parameters of plasma CVD for forming the protective film 17. Further, the thickness of the protective film 17 is 100 nm or more and 1 μm or less, and the internal stress of the film can be made almost zero by reducing the thickness. Thereby, the influence on the display area 20 can be suppressed and the light emission characteristics can be improved.

<表示装置の製造工程>
次に、本実施形態に係る表示装置の製造方法を工程順に説明する。先ず、例えばガラスなどの絶縁材料からなる基板(ガラス基板10)上に、複数のTFTが配列形成されたTFTアレイを形成する。
<Manufacturing process of display device>
Next, the manufacturing method of the display device according to the present embodiment will be described in the order of steps. First, a TFT array in which a plurality of TFTs are arrayed is formed on a substrate (glass substrate 10) made of an insulating material such as glass.

次に、このTFTアレイが形成されたガラス基板10上に、例えばスピンコート法によりポジ型感光性ポリベンゾオキサゾールからなる第1絶縁膜11を塗布形成する。この第1絶縁膜11は、ガラス基板10の表面側に生じた凹凸を平坦化する平坦化膜として機能する。なお、本実施形態では、ポリベンゾオキサゾールを使用したが、他にもポジ型感光性ポリイミドなどの絶縁材料を使用しても良い。   Next, a first insulating film 11 made of positive photosensitive polybenzoxazole is applied and formed on the glass substrate 10 on which the TFT array is formed, for example, by spin coating. The first insulating film 11 functions as a flattening film that flattens unevenness generated on the surface side of the glass substrate 10. In this embodiment, polybenzoxazole is used, but other insulating materials such as positive photosensitive polyimide may be used.

その後、この第1絶縁膜11に露光を行い、現像することで、第1絶縁膜11にTFTと接続するためのコンタクトホールを形成する。続いて、この状態のガラス基板10に、N2等の不活性ガス雰囲気下でベーク処理を行うことで、ポリベンゾオキサゾールを硬化するとともに、第1絶縁膜11中に含まれる水分などを除去する。 Thereafter, the first insulating film 11 is exposed and developed to form a contact hole for connecting to the TFT in the first insulating film 11. Subsequently, the glass substrate 10 in this state is baked in an inert gas atmosphere such as N 2 to cure the polybenzoxazole and remove moisture and the like contained in the first insulating film 11. .

次に、コンタクトホールを埋め込む状態で、第1絶縁膜11上に、酸化インジウム錫(ITO)膜、Ag合金膜、ITO膜がガラス基板側から順次積層された導電材料層を成膜する。この導電材料層の膜厚は、例えばガラス基板10側から、ITO膜/Ag合金膜/ITO膜=約30nm/約100nm/約10nmであることとする。ここで、Ag合金膜が、後工程でこの導電材料層をパターニングして形成する下部電極(陽極15)の反射層となる。   Next, a conductive material layer in which an indium tin oxide (ITO) film, an Ag alloy film, and an ITO film are sequentially stacked from the glass substrate side is formed on the first insulating film 11 with the contact holes embedded. The film thickness of the conductive material layer is, for example, from the glass substrate 10 side, ITO film / Ag alloy film / ITO film = about 30 nm / about 100 nm / about 10 nm. Here, the Ag alloy film becomes a reflective layer of the lower electrode (anode 15) formed by patterning this conductive material layer in a later step.

続いて、通常のリソグラフィ技術によって形成したレジストパターンをマスクに用いたエッチングにより、この導電材料層をパターニングする。これにより、画素領域内の第1絶縁膜11上に、コンタクトホールを介してTFTに接続され、各画素に対応する下部電極(陽極15)が配列形成されるとともに、画素領域の外側の周辺領域の第1絶縁膜11上に、導電膜が形成される。この導電膜は、約3mmの幅で画素領域を囲う額縁状に形成するとともに、駆動回路と接続させる。   Subsequently, the conductive material layer is patterned by etching using a resist pattern formed by a normal lithography technique as a mask. Thereby, on the first insulating film 11 in the pixel region, the lower electrode (anode 15) corresponding to each pixel is connected to the TFT through the contact hole, and the peripheral region outside the pixel region is arranged. A conductive film is formed on the first insulating film 11. The conductive film is formed in a frame shape surrounding the pixel region with a width of about 3 mm, and is connected to a drive circuit.

ここで、この導電膜は、補助配線として機能し、後工程で形成する上部電極と接続して、配線抵抗を低下させることで、輝度を向上させるとともに、良好な面内輝度分布を得るために設けられるものである。このため、導電性に優れた材料で形成されることが好ましく、その幅は広い方が好ましい。   Here, this conductive film functions as an auxiliary wiring and is connected to an upper electrode formed in a later process to reduce wiring resistance, thereby improving luminance and obtaining a good in-plane luminance distribution. It is provided. For this reason, it is preferable to form with the material excellent in electroconductivity, and the one where the width | variety is wider is preferable.

次に、下部電極(陽極15)および導電膜が設けられた第1絶縁膜11上に、例えば再びスピンコート法によりポジ型感光性ポリベンゾオキサゾールからなる第2絶縁膜12を塗布形成する。   Next, a second insulating film 12 made of positive photosensitive polybenzoxazole is applied and formed again on the first insulating film 11 provided with the lower electrode (anode 15) and the conductive film, for example, by spin coating.

その後、露光を行い、現像、硬化することで、画素領域内に各画素、すなわち、有機EL素子を形成するための画素開口を形成して、下部電極(陽極15)の表面を露出するとともに、周辺領域の導電膜の表面も露出する。なお、本実施形態では、ポリベンゾオキサゾールを使用したが、他にもポジ型感光性ポリイミドなどの絶縁材料を使用しても良い。   Then, by exposing, developing and curing, each pixel, that is, a pixel opening for forming an organic EL element is formed in the pixel region, and the surface of the lower electrode (anode 15) is exposed. The surface of the conductive film in the peripheral region is also exposed. In this embodiment, polybenzoxazole is used, but other insulating materials such as positive photosensitive polyimide may be used.

続いて、この状態のガラス基板10に、N2等の不活性ガス雰囲気下でベーク処理を行うことで、ポリベンゾオキサゾールを硬化するとともに、第1絶縁膜11および第2絶縁膜12に含まれる水分などを除去する。 Subsequently, the glass substrate 10 in this state is baked in an inert gas atmosphere such as N 2 to cure the polybenzoxazole and be included in the first insulating film 11 and the second insulating film 12. Remove moisture.

この後、微小異物を除去するために純水でスピン洗浄を行った後、真空雰囲気下でベーク処理を行い、真空雰囲気を維持した状態で前処理室に搬送し、O2プラズマによって基板の前処理を行い、次に真空雰囲気を維持した状態で次の工程である有機層の蒸着を行う。上記のようなプロセスにすることで、ベーク処理後に大気中の水分などの基板上への吸着が防止されるため、好ましい。 Thereafter, spin cleaning is performed with pure water to remove minute foreign matters, followed by baking in a vacuum atmosphere, transported to the pretreatment chamber in a vacuum atmosphere, and the front surface of the substrate by O 2 plasma. Next, an organic layer is deposited as the next step while maintaining a vacuum atmosphere. The process as described above is preferable because moisture in the atmosphere is prevented from being adsorbed on the substrate after the baking process.

次に、画素開口内の下部電極(陽極15)上に、各色の有機EL素子(赤色有機EL素子、緑色有機EL素子、青色有機EL素子)における有機層、すなわち、赤色有機層、緑色有機層、青色有機層をそれぞれ形成する。   Next, on the lower electrode (anode 15) in the pixel opening, an organic layer in each color organic EL element (red organic EL element, green organic EL element, blue organic EL element), that is, a red organic layer, a green organic layer. And blue organic layers are formed.

この場合には、例えば真空雰囲気下で、青色有機層を蒸着するためのチャンバーに基板を搬送し、基板上に蒸着マスクをアライメントして、底部に下部電極が露出された画素開口の内壁を覆う状態で、正孔注入層21、正孔輸送層22、発光層23、電子輸送層24を順次蒸着することで、青色有機層を、約200nmの膜厚で形成する。   In this case, for example, in a vacuum atmosphere, the substrate is transported to a chamber for depositing the blue organic layer, the deposition mask is aligned on the substrate, and the inner wall of the pixel opening where the lower electrode is exposed at the bottom is covered. In this state, the hole injection layer 21, the hole transport layer 22, the light emitting layer 23, and the electron transport layer 24 are sequentially deposited to form a blue organic layer with a thickness of about 200 nm.

次いで、真空雰囲気を維持した状態で、赤色有機層を蒸着するためのチャンバーに基板を搬送し、基板上に蒸着マスクをアライメントして、青色の有機層と同様に、赤色有機層を約150nmの膜厚で形成する。   Next, in a state where the vacuum atmosphere is maintained, the substrate is transported to a chamber for depositing the red organic layer, the deposition mask is aligned on the substrate, and the red organic layer is about 150 nm in the same manner as the blue organic layer. It is formed with a film thickness.

その後、真空雰囲気を維持した状態で、緑色有機層を蒸着するためのチャンバーに基板を搬送し、基板上に蒸着マスクをアライメントして、青色有機層と同様に、緑色有機層を約100nmの膜厚で形成する。   Thereafter, the substrate is transported to a chamber for depositing the green organic layer in a vacuum atmosphere, the deposition mask is aligned on the substrate, and the green organic layer is formed to a film of about 100 nm in the same manner as the blue organic layer. Form with thickness.

以上のように、各有機層を形成した後、真空雰囲気を維持した状態で、基板上に蒸着マスクをアライメントして、例えば蒸着法により、有機層上、第2絶縁膜12上および導電膜上に、例えばLiFからなる電子注入層(図示せず)を約1nmの膜厚で形成する。   As described above, after forming each organic layer, the deposition mask is aligned on the substrate while maintaining the vacuum atmosphere, and the organic layer, the second insulating film 12 and the conductive film are formed on the substrate by, for example, vapor deposition. In addition, an electron injection layer (not shown) made of, for example, LiF is formed with a thickness of about 1 nm.

その後、この蒸着マスクを用いた真空蒸着法により、電子注入層上に例えば半透過性のMgAg合金からなる上部電極(陰極16)を約10nmの膜厚で形成する。これにより、電子注入層を介して導電膜と上部電極(陰極16)とが接続される。   Thereafter, an upper electrode (cathode 16) made of, for example, a semi-transmissive MgAg alloy is formed with a film thickness of about 10 nm on the electron injection layer by a vacuum evaporation method using this evaporation mask. Thereby, the conductive film and the upper electrode (cathode 16) are connected via the electron injection layer.

その後、今回の発明のポイントとなる、シランガス、アンモニアガス、窒素ガスを使ったCVD(化学気相成膜)でSiNx(窒化シリコン)を成膜する。窒化シリコンは、各色に対応した表示領域20である有機層および上部電極(陰極16)を覆う状態で形成され、保護膜17として構成される。 Thereafter, SiN x (silicon nitride) is formed by CVD (chemical vapor deposition) using silane gas, ammonia gas, and nitrogen gas, which is the point of the present invention. The silicon nitride is formed so as to cover the organic layer and the upper electrode (cathode 16) which are the display regions 20 corresponding to the respective colors, and is configured as the protective film 17.

保護膜17を形成した後は、大気暴露することなく、樹脂層18を塗布し、ガラス基板から成る封止層19を形成して封止を行なう。以上の方法で、完全固体封止型の有機発光素子を作成する。   After the protective film 17 is formed, the resin layer 18 is applied without exposure to the atmosphere, and the sealing layer 19 made of a glass substrate is formed to perform sealing. With the above method, a completely solid-sealed organic light emitting device is produced.

<保護膜の特性比較>
ここで、本発明の保護膜を説明するための比較サンプルとして、特開2007−184251号公報に記載されている保護膜を成膜した。膜厚は5.3μmである(条件1)。また、特開2007−184251号公報に記載されている保護膜の寿命特性に良い条件2の膜単層1μmも成膜した(条件2)。
<Characteristic comparison of protective film>
Here, as a comparative sample for explaining the protective film of the present invention, a protective film described in JP 2007-184251 A was formed. The film thickness is 5.3 μm (Condition 1). Further, a film single layer of 1 μm in Condition 2 having good life characteristics of the protective film described in JP-A-2007-184251 was also formed (Condition 2).

本発明による保護膜は、アンモニアガスを用いたCVD法によって成膜され、シランガスとアンモニアガスの比率が1:2以上になる流量比によって、透過率86%(波長450nm)、またその流量を維持したまま、圧力を上げることにより、{ HYPERLINK "mailto:屈折率1.71@450nm" ,屈折率n=1.74(波長450nm})の膜が得られた。膜厚
は0.5μmである。以上の3種類の膜にてついて比較する。なお、これらの保護膜の特性をまとめたものを図2に示す。
The protective film according to the present invention is formed by a CVD method using ammonia gas, and the transmittance is 86% (wavelength 450 nm) and the flow rate is maintained by a flow rate ratio in which the ratio of silane gas to ammonia gas is 1: 2 or more By raising the pressure while maintaining the film, a film of {HYPERLINK "mailto: refractive index 1.71@450nm", refractive index n = 1.74 (wavelength 450nm}) was obtained. The film thickness is 0.5 μm. The above three types of films will be compared. A summary of the characteristics of these protective films is shown in FIG.

<比較例1>
比較例1は、膜厚分布による色度ずれの比較結果である。先ず、波長に対する屈折率の値を上記3種類の膜について測定した結果を図3に示す。この結果を元に、RGB各色の膜厚分布による色度変化を図4(a)〜(c)に示す。この図では、(a)が赤色の色度変化、(b)が緑の色度変化、(c)が青の色度変化を示し、各図とも横軸が膜厚のバラツキ、縦軸が色度u’、v’のずれを示している。
<Comparative Example 1>
Comparative Example 1 is a comparison result of the chromaticity deviation due to the film thickness distribution. First, FIG. 3 shows the result of measuring the refractive index value with respect to the wavelength for the above three types of films. Based on this result, the chromaticity change by the film thickness distribution of each color of RGB is shown in FIGS. In this figure, (a) shows the chromaticity change of red, (b) shows the chromaticity change of green, and (c) shows the chromaticity change of blue. The deviation of chromaticity u ′, v ′ is shown.

この図より、条件1では干渉の影響は平均化されて見えないが、条件2程度になると特性変動として現れているのが分かる。条件2と本実施形態とを比較した場合、本発明の保護膜の方が屈折率が低いことから、干渉の影響を受けにくいことが分かる。   From this figure, it can be seen that the influence of interference is averaged and not visible under condition 1, but appears as characteristic fluctuations when condition 2 is reached. When the condition 2 is compared with the present embodiment, it can be seen that the protective film of the present invention has a lower refractive index and thus is less susceptible to interference.

<比較例2>
比較例2は、屈折率による効率の向上およびばらつき精度の比較結果である。図5は、各色の効率およびばらつきにいての比較結果を示す図である。図5では、RGB各色について、本発明、条件1、条件2での保護膜による屈折率、膜厚、そのときの色度(x、y座標)、保護膜の膜厚分布による効率の値、条件2と比較したときの効率の差、効率のばらつき(膜厚分布による効率分布)を示している。
<Comparative example 2>
Comparative Example 2 is a result of comparison of efficiency improvement and variation accuracy by refractive index. FIG. 5 is a diagram showing a comparison result of the efficiency and variation of each color. In FIG. 5, for each color of RGB, the refractive index and film thickness by the protective film in the present invention, Condition 1 and Condition 2, the chromaticity (x, y coordinates) at that time, the efficiency value by the film thickness distribution of the protective film, The difference in efficiency when compared with condition 2 and the variation in efficiency (efficiency distribution due to film thickness distribution) are shown.

この図より、条件1と条件2とを比較した場合、屈折率は大きく変わらないが、膜厚が薄いため、効率は向上することが分かる。しかし、屈折率が小さいために、膜厚が薄くなると、膜厚のばらつきによる効率のばらつきが大きくなる。一方、本発明では、屈折率まで下げることにより、効率を向上させつつ、ばらつきも押さえられる傾向が見られる。   From this figure, it can be seen that when Condition 1 and Condition 2 are compared, the refractive index does not change greatly, but the efficiency is improved because the film thickness is thin. However, since the refractive index is small, the variation in efficiency due to the variation in film thickness increases as the film thickness decreases. On the other hand, in the present invention, by decreasing the refractive index, there is a tendency that variation is suppressed while improving efficiency.

<比較例3>
比較例3は、寿命の向上についての比較結果である。図6は、各条件における稼働時間に対する輝度の変化を示す図である。輝度合わせによる寿命特性を行なったところ、比較例1、比較例2を踏まえて、膜厚が薄くなるために同輝度での効率が向上するため、一番懸念される青色において寿命が向上されているのが分かる。また、加速定数を出して計算した実際の寿命を図7に示す。図7では、各条件における半減寿命を示しており、本発明の保護膜を用いた場合の寿命が最も長いことが分かる。
<Comparative Example 3>
The comparative example 3 is a comparison result about the improvement of lifetime. FIG. 6 is a diagram illustrating a change in luminance with respect to operating time under each condition. When the lifetime characteristics by brightness matching were performed, the efficiency at the same luminance was improved because the film thickness was reduced based on Comparative Example 1 and Comparative Example 2, so that the lifetime was improved in blue, which is most concerned. I can see that In addition, FIG. 7 shows the actual lifetime calculated by calculating the acceleration constant. FIG. 7 shows the half-life under each condition, and it can be seen that the lifetime is the longest when the protective film of the present invention is used.

次に、本実施形態に係る表示装置の適用例について説明する。   Next, an application example of the display device according to the present embodiment will be described.

<電子機器>
本実施形態に係る表示装置は、図8に示すようにフラット型のモジュール形状のものを含む。例えば絶縁性の基板上2002に、発光領域、薄膜トランジスタ、受光素子等からなる画素をマトリックス状に集積形成した画素アレイ部2002aを設ける、この画素アレイ部(画素マトリックス部)2002aを囲むように接着剤2021を配し、ガラス等の対向基板2006を貼り付けて表示モジュールとする。この透明な対向基板2006には必要に応じて、カラーフィルタ、保護膜、遮光膜等を設けてもよい。表示モジュールには、外部から画素アレイ部2002aへの信号等を入出力するためのコネクタとして例えばFPC(フレキシブルプリントサーキット)2023を設けてもよい。
<Electronic equipment>
The display device according to the present embodiment includes a flat module-shaped display as shown in FIG. For example, a pixel array portion 2002a in which pixels made up of a light emitting region, a thin film transistor, a light receiving element, and the like are integrated and formed in a matrix is provided on an insulating substrate 2002. An adhesive is provided so as to surround the pixel array portion (pixel matrix portion) 2002a. 2021 is provided, and a counter substrate 2006 such as glass is attached to form a display module. The transparent counter substrate 2006 may be provided with a color filter, a protective film, a light shielding film, and the like as necessary. For example, an FPC (flexible printed circuit) 2023 may be provided in the display module as a connector for inputting / outputting a signal or the like to / from the pixel array unit 2002a from the outside.

以上説明した本実施形態に係る表示装置は、図9〜図13に示す様々な電子機器、例えば、デジタルカメラ、ノート型パーソナルコンピュータ、携帯電話等の携帯端末装置、ビデオカメラなど、電子機器に入力された映像信号、若しくは、電子機器内で生成した映像信号を、画像若しくは映像として表示するあらゆる分野の電子機器の表示装置に適用することが可能である。以下に、本実施形態が適用される電子機器の一例について説明する。   The display device according to the present embodiment described above is input to various electronic devices shown in FIGS. 9 to 13 such as a digital camera, a notebook personal computer, a portable terminal device such as a mobile phone, and a video camera. The video signal generated or the video signal generated in the electronic device can be applied to a display device of an electronic device in any field for displaying as an image or a video. Below, an example of the electronic device to which this embodiment is applied is demonstrated.

図9は、本実施形態が適用されるテレビを示す斜視図である。本適用例に係るテレビは、フロントパネル102やフィルターガラス103等から構成される映像表示画面部101を含み、その映像表示画面部101として本実施形態に係る表示装置を用いることにより作成される。   FIG. 9 is a perspective view showing a television to which the present embodiment is applied. The television according to this application example includes a video display screen unit 101 including a front panel 102, a filter glass 103, and the like, and is created by using the display device according to the present embodiment as the video display screen unit 101.

図10は、本実施形態が適用されるデジタルカメラを示す斜視図であり、(A)は表側から見た斜視図、(B)は裏側から見た斜視図である。本適用例に係るデジタルカメラは、フラッシュ用の発光部111、表示部112、メニュースイッチ113、シャッターボタン114等を含み、その表示部112として本実施形態に係る表示装置を用いることにより作製される。   FIG. 10 is a perspective view showing a digital camera to which the present embodiment is applied, in which (A) is a perspective view seen from the front side, and (B) is a perspective view seen from the back side. The digital camera according to this application example includes a light emitting unit 111 for flash, a display unit 112, a menu switch 113, a shutter button 114, and the like, and is manufactured by using the display device according to the present embodiment as the display unit 112. .

図11は、本実施形態が適用されるノート型パーソナルコンピュータを示す斜視図である。本適用例に係るノート型パーソナルコンピュータは、本体121に、文字等を入力するとき操作されるキーボード122、画像を表示する表示部123等を含み、その表示部123として本実施形態に係る表示装置を用いることにより作製される。   FIG. 11 is a perspective view showing a notebook personal computer to which this embodiment is applied. A notebook personal computer according to this application example includes a main body 121 including a keyboard 122 that is operated when characters or the like are input, a display unit 123 that displays an image, and the like, and the display unit 123 includes a display device according to the present embodiment. It is produced by using.

図12は、本実施形態が適用されるビデオカメラを示す斜視図である。本適用例に係るビデオカメラは、本体部131、前方を向いた側面に被写体撮影用のレンズ132、撮影時のスタート/ストップスイッチ133、表示部134等を含み、その表示部134として本実施形態に係る表示装置を用いることにより作製される。   FIG. 12 is a perspective view showing a video camera to which the present embodiment is applied. The video camera according to this application example includes a main body 131, a subject shooting lens 132 on a side facing forward, a start / stop switch 133 at the time of shooting, a display unit 134, and the like. It is manufactured by using the display device according to the above.

図13は、本実施形態が適用される携帯端末装置、例えば携帯電話機を示す図であり、(A)は開いた状態での正面図、(B)はその側面図、(C)は閉じた状態での正面図、(D)は左側面図、(E)は右側面図、(F)は上面図、(G)は下面図である。本適用例に係る携帯電話機は、上側筐体141、下側筐体142、連結部(ここではヒンジ部)143、ディスプレイ144、サブディスプレイ145、ピクチャーライト146、カメラ147等を含み、そのディスプレイ144やサブディスプレイ145として本実施形態に係る表示装置を用いることにより作製される。   FIG. 13 is a view showing a mobile terminal device to which the present embodiment is applied, for example, a mobile phone, in which (A) is a front view in an opened state, (B) is a side view thereof, and (C) is closed. (D) is a left side view, (E) is a right side view, (F) is a top view, and (G) is a bottom view. The mobile phone according to this application example includes an upper housing 141, a lower housing 142, a connecting portion (here, a hinge portion) 143, a display 144, a sub display 145, a picture light 146, a camera 147, and the like. In addition, the display device according to this embodiment is used as the sub display 145.

<表示撮像装置>
本実施形態に係る表示装置は、以下のような表示撮像装置に適用可能である。また、この表示撮像装置は、先に説明した各種電子機器に適用可能である。図14には、表示撮像装置の全体構成を表すものである。この表示撮像装置は、I/Oディスプレイパネル2000と、バックライト1500と、表示ドライブ回路1200と、受光ドライブ回路1300と、画像処理部1400と、アプリケーションプログラム実行部1100とを備えている。
<Display imaging device>
The display device according to the present embodiment is applicable to the following display imaging device. In addition, the display imaging device can be applied to the various electronic devices described above. FIG. 14 illustrates the overall configuration of the display imaging apparatus. The display imaging apparatus includes an I / O display panel 2000, a backlight 1500, a display drive circuit 1200, a light receiving drive circuit 1300, an image processing unit 1400, and an application program execution unit 1100.

I/Oディスプレイパネル2000は、複数の画素が全面に渡ってマトリクス状に配置された有機電界発光素子からなり、線順次動作をしながら表示データに基づく所定の図形や文字などの画像を表示する機能(表示機能)を有すると共に、後述するようにこのI/Oディスプレイ2000に接触または近接する物体を撮像する機能(撮像機能)を有するものである。また、バックライト1500は、例えば複数の発光ダイオードが配置されてなるI/Oディスプレイパネル2000の光源であり、後述するようにI/Oディスプレイ2000の動作タイミングに同期した所定のタイミングで、高速にオン・オフ動作を行うようになっている。   The I / O display panel 2000 includes organic electroluminescent elements in which a plurality of pixels are arranged in a matrix over the entire surface, and displays an image such as a predetermined figure or character based on display data while performing line sequential operation. In addition to having a function (display function), as described later, it has a function (imaging function) for imaging an object that is in contact with or close to the I / O display 2000. The backlight 1500 is a light source of the I / O display panel 2000 in which, for example, a plurality of light emitting diodes are arranged, and at a high speed at a predetermined timing synchronized with the operation timing of the I / O display 2000 as described later. An on / off operation is performed.

表示ドライブ回路1200は、I/Oディスプレイパネル2000において表示データに基づく画像が表示されるように(表示動作を行うように)、このI/Oディスプレイパネル2000の駆動を行う(線順次動作の駆動を行う)回路である。   The display drive circuit 1200 drives the I / O display panel 2000 (drives line-sequential operation) so that an image based on display data is displayed on the I / O display panel 2000 (so as to perform a display operation). Circuit).

受光ドライブ回路1300は、I/Oディスプレイパネル2000において受光データが得られるように(物体を撮像するように)、このI/Oディスプレイパネル2000の駆動を行う(線順次動作の駆動を行う)回路である。なお、各画素での受光データは、例えばフレーム単位でフレームメモリ1300Aに蓄積され、撮像画像として画像処理部14へ出力されるようになっている。   The light receiving drive circuit 1300 is a circuit that drives the I / O display panel 2000 (drives line-sequential operation) so that light reception data can be obtained in the I / O display panel 2000 (so as to image an object). It is. The light reception data at each pixel is accumulated in the frame memory 1300A, for example, in units of frames, and is output to the image processing unit 14 as a captured image.

画像処理部1400は、受光ドライブ回路1300から出力される撮像画像に基づいて所定の画像処理(演算処理)を行い、I/Oディスプレイ2000に接触または近接する物体に関する情報(位置座標データ、物体の形状や大きさに関するデータなど)を検出し、取得するものである。なお、この検知する処理の詳細については後述する。   The image processing unit 1400 performs predetermined image processing (arithmetic processing) based on the captured image output from the light receiving drive circuit 1300, and information (position coordinate data, object of the object) that is in contact with or close to the I / O display 2000. Data on the shape and size, etc.) are detected and acquired. The details of the detection process will be described later.

アプリケーションプログラム実行部1100は、画像処理部1400による検知結果に基づいて所定のアプリケーションソフトに応じた処理を実行するものであり、例えば検知した物体の位置座標を表示データに含むようにし、I/Oディスプレイパネル2000上に表示させるものなどが挙げられる。なお、このアプリケーションプログラム実行部1100で生成される表示データは表示ドライブ回路1200へ供給されるようになっている。   The application program execution unit 1100 executes processing according to predetermined application software based on the detection result of the image processing unit 1400. For example, the display data includes the position coordinates of the detected object, and the I / O What is displayed on the display panel 2000 is mentioned. The display data generated by the application program execution unit 1100 is supplied to the display drive circuit 1200.

次に、図15を参照してI/Oディスプレイパネル2000の詳細構成例について説明する。このI/Oディスプレイパネル2000は、表示エリア(センサエリア)2100と、表示用Hドライバ2200と、表示用Vドライバ2300と、センサ読み出し用Hドライバ2500と、センサ用Vドライバ2400とを有している。   Next, a detailed configuration example of the I / O display panel 2000 will be described with reference to FIG. The I / O display panel 2000 includes a display area (sensor area) 2100, a display H driver 2200, a display V driver 2300, a sensor readout H driver 2500, and a sensor V driver 2400. Yes.

表示エリア(センサエリア)2100は、有機電界発光素子からの光を変調して表示光を出射すると共にこのエリアに接触または近接する物体を撮像する領域であり、発光素子(表示素子)である有機電界発光素子と後述する受光素子(撮像素子)とがそれぞれマトリクス状に配置されている。   The display area (sensor area) 2100 is an area that modulates light from the organic electroluminescent element to emit display light and images an object that is in contact with or close to the area, and is an organic light emitting element (display element). Electroluminescent elements and light receiving elements (imaging elements), which will be described later, are arranged in a matrix.

表示用Hドライバ2200は、表示ドライブ回路1200から供給される表示駆動用の表示信号および制御クロックに基づいて、表示用Vドライバ2300と共に表示エリア2100内の各画素の有機電界発光素子を駆動するものである。   The display H driver 2200 drives the organic electroluminescence element of each pixel in the display area 2100 together with the display V driver 2300 based on the display drive display signal and the control clock supplied from the display drive circuit 1200. It is.

センサ読み出し用Hドライバ2500は、センサ用Vドライバ2400と共にセンサエリア2100内の各画素の受光素子を線順次駆動し、受光信号を取得するものである。   The sensor readout H driver 2500 drives the light receiving element of each pixel in the sensor area 2100 together with the sensor V driver 2400 to obtain a light reception signal.

次に、図16を参照して、表示エリア2100内の各画素とセンサ読み出し用Hドライバ2500との接続関係について説明する。この表示エリア2100では、赤(R)用の画素3100と、緑(G)用の画素3200と、青(B)用の画素3300とが並んで配置されている。   Next, a connection relationship between each pixel in the display area 2100 and the sensor readout H driver 2500 will be described with reference to FIG. In this display area 2100, a red (R) pixel 3100, a green (G) pixel 3200, and a blue (B) pixel 3300 are arranged side by side.

各画素の受光センサ3100c,3200c,3300cに接続されたコンデンサに蓄積された電荷は、それぞれのバッファアンプ3100f,3200f,3300fで増幅され、読み出しスイッチ3100g,3200g,3300gがオンになるタイミングで、信号出力用電極を介してセンサ読み出し用Hドライバ2500へ供給される。なお、各信号出力用電極には定電流源4100a,4100b,4100cがそれぞれ接続され、センサ読み出し用Hドライバ2500で感度良く受光量に対応した信号が検出されるようになっている。   The charges accumulated in the capacitors connected to the light receiving sensors 3100c, 3200c, and 3300c of each pixel are amplified by the respective buffer amplifiers 3100f, 3200f, and 3300f, and the signals are output at the timing when the readout switches 3100g, 3200g, and 3300g are turned on. It is supplied to the sensor reading H driver 2500 via the output electrode. Each signal output electrode is connected to a constant current source 4100a, 4100b, 4100c, and a signal corresponding to the amount of received light is detected with high sensitivity by the sensor reading H driver 2500.

10…ガラス基板、11…第1絶縁膜、12…第2絶縁膜、15…陽極、16…陰極、17…保護膜、18…樹脂層、19…封止層、21…正孔注入層、22…正孔輸送層、23…発光層、24…電子輸送層   DESCRIPTION OF SYMBOLS 10 ... Glass substrate, 11 ... 1st insulating film, 12 ... 2nd insulating film, 15 ... Anode, 16 ... Cathode, 17 ... Protective film, 18 ... Resin layer, 19 ... Sealing layer, 21 ... Hole injection layer, 22 ... hole transport layer, 23 ... light emitting layer, 24 ... electron transport layer

Claims (16)

下部電極と上部電極との間に、発光層を含む有機層を有する表示領域と、
前記表示領域を覆う状態で形成され、窒化シリコンから成る保護膜と、
前記保護膜の上に形成される樹脂層とを備え、
前記保護膜は、アンモニアガスを用いた化学気相成長法によって成膜され、シランガスとアンモニアガスの比率が1:2以上になる流量比によって得られる表示装置。
A display region having an organic layer including a light emitting layer between the lower electrode and the upper electrode;
A protective film formed in a state of covering the display area and made of silicon nitride;
A resin layer formed on the protective film,
The protective film is formed by a chemical vapor deposition method using ammonia gas, and is obtained by a flow rate ratio in which the ratio of silane gas to ammonia gas is 1: 2 or more.
前記樹脂層の屈折率が1.5〜1.6であり、
前記保護膜は、波長450nmでの屈折率が1.65以上、1.75以下となっている請求項1に記載の表示装置。
The refractive index of the resin layer is 1.5 to 1.6,
The display device according to claim 1, wherein the protective film has a refractive index of 1.65 or more and 1.75 or less at a wavelength of 450 nm.
前記表示領域は、前記発光層で発生した光を共振させる共振器構造を備える請求項1または請求項2に記載の表示装置。   The display device according to claim 1, wherein the display region includes a resonator structure that resonates light generated in the light emitting layer. 前記保護膜は、窒化シリコンの単層で構成されている請求項1から請求項3のいずれか1項に記載の表示装置。   The display device according to claim 1, wherein the protective film is formed of a single layer of silicon nitride. 前記保護膜の応力がほぼゼロとなっている請求項1から請求項4のいずれか1項に記載の表示装置。   The display device according to claim 1, wherein the stress of the protective film is substantially zero. 前記保護膜の膜厚が100nm以上、1μm以下となっている請求項1から請求項5のいずれか1項に記載の表示装置。   The display device according to claim 1, wherein the protective film has a thickness of 100 nm or more and 1 μm or less. 前記表示領域が前記保護膜によって大気暴露されることなく覆われている請求項1から請求項6のいずれか1項に記載の表示装置。   The display device according to claim 1, wherein the display area is covered with the protective film without being exposed to the atmosphere. 前記表示領域は、前記発光層で発生した光を前記上部電極の側から取り出す請求項1から請求項7のいずれか1項に記載の表示装置。   The display device according to claim 1, wherein the display region extracts light generated in the light emitting layer from a side of the upper electrode. 波長450nmでの前記保護膜と前記樹脂層との屈折率差が0.3以下となっている請求項1から請求項8のいずれか1項に記載の表示装置。   The display device according to claim 1, wherein a refractive index difference between the protective film and the resin layer at a wavelength of 450 nm is 0.3 or less. 前記樹脂層によって貼り付けられる封止層を有する請求項1から請求項9のいずれか1項に記載の表示装置。   The display device according to claim 1, further comprising a sealing layer attached by the resin layer. 前記上部電極は、MgAg合金から成る請求項1から請求項10のいずれか1項に記載の表示装置。   The display device according to claim 1, wherein the upper electrode is made of an MgAg alloy. 前記上部電極は、前記有機層を覆っている請求項1から請求項11のいずれか1項に記載の表示装置。   The display device according to claim 1, wherein the upper electrode covers the organic layer. 前記保護膜は、前記有機層及び前記上部電極を覆う状態で形成されている前記有機層を覆っている請求項1から請求項12のいずれか1項に記載の表示装置。   The display device according to claim 1, wherein the protective film covers the organic layer formed in a state of covering the organic layer and the upper electrode. 下部電極と上部電極との間に、発光層を含む有機層を有する表示領域と、
前記表示領域を覆う状態で形成され、窒化シリコンから成る保護膜と、
前記保護膜の上に形成される樹脂層とを備える表示装置の製造に当たって、
前記保護膜を、アンモニアガスを用いた化学気相成長法により、シランガスとアンモニアガスの比率が1:2以上になる流量比によって成膜する表示装置の製造方法。
A display region having an organic layer including a light emitting layer between the lower electrode and the upper electrode;
A protective film formed in a state of covering the display area and made of silicon nitride;
In manufacturing a display device comprising a resin layer formed on the protective film,
A method for manufacturing a display device, wherein the protective film is formed by a chemical vapor deposition method using ammonia gas at a flow ratio in which the ratio of silane gas to ammonia gas is 1: 2 or more.
前記保護膜を、前記流量比の流量を維持したまま、圧力を上げることによって成膜する請求項14に記載の表示装置の製造方法。   The method for manufacturing a display device according to claim 14, wherein the protective film is formed by increasing pressure while maintaining a flow rate of the flow rate ratio. 本体筐体に表示装置が設けられ、
前記表示装置は、
下部電極と上部電極との間に、発光層を含む有機層を有する表示領域と、
前記表示領域を覆う状態で形成され、窒化シリコンから成る保護膜と、
前記保護膜の上に形成される樹脂層とを備え、
前記保護膜は、アンモニアガスを用いた化学気相成長法によって成膜され、シランガスとアンモニアガスの比率が1:2以上になる流量比によって得られる電子機器。
A display device is provided in the main body casing,
The display device
A display region having an organic layer including a light emitting layer between the lower electrode and the upper electrode;
A protective film formed in a state of covering the display area and made of silicon nitride;
A resin layer formed on the protective film,
The protective film is an electronic device formed by a chemical vapor deposition method using ammonia gas and obtained by a flow rate ratio in which the ratio of silane gas to ammonia gas is 1: 2 or more.
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