JP2012531727A - ホットキャリアエネルギー変換構造、及びその製造方法 - Google Patents

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Abstract

ホットキャリアエネルギー変換構造を製造する方法、及びホットキャリアエネルギー変換構造が提供される。この方法は、トンネル層を有するエネルギー選択性コンタクトESCを形成する工程と、キャリア生成層をESC上に形成する工程と、トンネル層を有しない半導体コンタクトをキャリア生成層上に形成する工程とを有する。

Description

本発明は、概して、ホットキャリアエネルギー変換構造、及びその製造方法に関する。
太陽光のエネルギーを直接的に電力に変換することができる太陽電池は、有望な次世代クリーンエネルギー源として注目を集めている。単位太陽電池面積当たりの電力生成を増大させるには、光電変換効率を高めることが重要であり、そのため、主材料としてのSiの品質を向上させるべく、デバイス構造及びデバイス製造プロセスの開発が進められている。また、吸収端波長が異なる3つの種類の材料(GaInP、GaInAs及びGe)を組み合わせることによって構築される多接合(マルチジャンクション)型太陽電池が開発されている。この構造によれば、太陽光に含有される広い波長域を有する光を吸収することができるので、高い変換効率を達成することが可能である。効率を更に高めるために、4つから6つの異なる種類の材料を組み合わせることによって構築される多接合型太陽電池も研究されている。
しかしながら、接合数を増やすことによって変換効率を高めることができる度合いには限界が存在する。接合数が増大されると、高い欠陥密度を有する半導体界面の数が増加し、そのような界面において、光の吸収によって生成されるキャリアが欠陥によって捕獲され、ひいては消滅する。その結果、光電変換効率が低下する。更なる欠点は、多種類の高価なIII−V族化合物半導体を使用することと、複雑な多層構造がより多くの製造工程を必要とすることとにより、製造コストが大幅に上昇してしまうことである。
他方で、エネルギー変換効率を高める手段として従来のデバイス構造とは異なるデバイス構造を採用した太陽電池が提案されてきている(非特許文献1)。とりわけ、“ホットキャリア”理論は、光の吸収によって生成された、高エネルギー状態を有するキャリア(ホットキャリア)が、高エネルギー状態を維持しながら電極まで移動することが可能となり、それによって高いエネルギー変換効率が達成されるというものである。“ホットキャリア”理論が適用される太陽電池は、接合数(使用される半導体材料の種類の数)を増大させる必要なく、太陽光に含有される広い波長域の光を吸収して、エネルギーロスを低減しながら電力に変換することができるという利点を有する。何れの場合も、太陽光がキャリア生成層に入射すると、入射光の波長に対応する様々なエネルギーを有するキャリアが生成される。
従来型の太陽電池の場合には、例えば、短波長光の吸収によって生成される高エネルギーの電子は、フォノンとの相互作用によってエネルギーを散逸しながら(熱損失)伝導帯の底のエネルギー準位に到達し;その後に、電子移動層を通過して電極から抽出される。結果として、このようなデバイスのエネルギー変換効率は、熱損失に等しい量だけ低下する。このような熱損失を低減するための1つの考え得る方法は、キャリア生成層の伝導帯の底のエネルギー準位を高くすること、すなわち、キャリア生成層のバンドギャップEgを増大させることである。
キャリア生成層のバンドギャップEgより低いエネルギーを有するより長い波長の光は、キャリア生成層内で吸収されず、光透過として失われる。その結果、キャリア生成層のバンドギャップEgを増大させることによって、すなわち、キャリア生成層の伝導帯の底のエネルギー準位を高くすることによって、高エネルギーキャリアの熱損失を低減しようと試みる場合、伝導帯内まで励起されることができないキャリアの数が増えることになり、結果として、光透過によるロス(損失)が増大してしまう。従って、従来の太陽電池においては、過大なバンドギャップEgを有する材料を使用することができない。また、伝導帯の底に対応するエネルギー準位を有するキャリアが抽出されるので、従来のシリコン太陽電池の光起電力は、キャリア生成層のバンドギャップEg及び品質に依存するものの、約0.6Vから0.7Vである。故に、過度に狭いバンドギャップを有しないことも重要であり、さもないと、電圧が低下してしまう。
上述の従来型の太陽電池と対照的に、ホットキャリア型太陽電池では、エネルギー選択性コンタクト(energy selective contact;ESC)が用いられる。より具体的には、ホットキャリア型太陽電池においては、非常に狭いエネルギー幅を有する伝導帯を持つ電子移動層と、非常に狭いエネルギー幅を有する価電子帯を持つ正孔移動層とが、キャリア生成層に隣接して設けられ、その結果、特定のエネルギーを有するキャリアのみが移動層を通り抜けて電極に到達することができる。それより高いエネルギーを有するキャリア、及びそれより低いエネルギーを有するキャリアは、それらキャリア間でのエネルギー伝達を受け、そして、移動層を通過することが可能なエネルギー準位に到達した後に、移動層を通り抜けて電極に到達し、電力生成に寄与する。結果として、高エネルギーキャリアによる熱損失が減少し、エネルギー変換効率が上昇する。
光透過によるロスを低減するために、キャリア生成層にバンドギャップの狭い(狭バンドギャップ)材料を用いることによって伝導帯の底のエネルギー準位が低くされる場合、生成された低エネルギーキャリアは、高エネルギーキャリアと相互作用することによってエネルギーを獲得し、移動層を通り抜けることが可能なエネルギー準位に到達した後に、移動層を通過して電力生成に寄与する。結果として、光透過によるロスが減少し、エネルギー変換効率が上昇する。
このようなESCの特性に関する熱力学の観点からの記述は、高エネルギーのキャリアが、非常に小さいエントロピー増大で収集されるというものである。理想的には、この収集は単一エネルギーコンタクトを用いて等エントロピーになる。エントロピー生成は、ESCのエネルギー幅におおよそ比例し、この幅がkTより遙かに小さい限り無視することができる。
光吸収直後のキャリアエネルギー分布により決まる(ゼロ・リノーマリゼーション条件)ESCからの抽出電流に比べた定常動作時の電流の比は、キャリアエネルギー分布がリノーマライズ(renormalise)するレートと、キャリア抽出レート及びキャリアエネルギーのバンド端への緩和レートと比較した上記レートとによって決定される。
そして、リノーマリゼーション・レートは、ESCエネルギーの上及び下の双方の等しいエネルギー差のキャリア数に依存する(これは、2つのキャリアの一段階衝突による一次のリノーマリゼーションである。2次のリノーマリゼーションは、2段階及び3つ以上のキャリアの衝突によるので、レートはより遅くなる)。故に、リノーマリゼーション効率はまた、ホットキャリアのエネルギー分布に対するESCエネルギーの位置に依存する。この依存性は、ホットキャリア型太陽電池に小さいスペクトル依存性をもたらす。これは、多層(タンデム)太陽電池のスペクトル依存性より遥かに低いものと考えられるが、ESCの幅が小さくなるにつれて増大する。
以下の非特許文献1−7に、“ホットキャリア”理論に基づく太陽電池に関して行われた様々な理論研究が記載されている。
Green、「Potential for low dimensional structures in photovoltaics」、Materials Science and Engineering、2000年、B74、pp.118-124 Wurfel、「Solar energy conversion with hot electrons from impact ionisation」、Solar Energy Materials and Solar Cells、1997年、No.46、pp.43-52 Conibeer等、「Selective Energy Contacts for Potential Application to Hot Carrier PV Cells」、3rd World Conference on Photovoltaic Energy Conversion、2003年5月11-18日、pp.2730-2733 Green、「Third Generation Photovoltaics:Theoretical and Experimental Progress」、19th European Photovoltaic Solar Energy Conference、2004年6月7-11日、pp.3-8 Wurfel等、「Particle Conversion in the Hot-Carrier Solar Cell」、Progress in Photovoltaics:Research and Applications、Prog. Photovolt:Res. Appl.、2005年、13:277-285 Conibeer等、「Phononic Band Gap Engineering for Hot Carrier Solar Cell Absorbers」20th European Photovoltaic Solar Energy Conference、2005年6月6-10日、pp.35-38 G.J.Conibeer、N.Ekins-Daukes、D.Konig、E-C.Cho、C-W.Jiang、S.Shrestha、M.A.Green、「Progress on Hot Carrier solar cells」、Solar Energy Materials and Solar Cells、2009年、No.93、pp.713-719
本発明の第1の態様によれば、ホットキャリアエネルギー変換構造を製造する方法が提供される。
この方法は、トンネル層を有するエネルギー選択性コンタクト(ESC)を形成することと、キャリア生成層をESC上に形成することと、トンネル層を有しない半導体コンタクトをキャリア生成層上に形成することとを有する。
ESCは負側のESCを有し、半導体コンタクトは正側の半導体コンタクトを有し得る。
この方法は更に、ESCと半導体コンタクトとの間の仕事関数差を制御するよう、半導体コンタクトの仕事関数を制御する工程を有し得る。
半導体コンタクトの仕事関数を制御することは、半導体コンタクトの材料、半導体コンタクトの酸化物、又はこれら双方を選択することにより成し得る。
好ましくは、キャリア生成層を形成する工程の後に高温アニール工程を必要としない工程が望ましい。
トンネル層はトータルエネルギーフィルタリングを提供し得る。
半導体コンタクトは、その伝導帯の下端のエネルギー準位が、キャリア生成層内で生成される電子の平均エネルギーレベル、又は該電子のエネルギー密度分布のピークエネルギーレベルより高いように形成され得る。
半導体コンタクトの伝導帯の下端のエネルギー準位は、キャリア生成層内で生成される電子のエネルギー密度分布の上端のエネルギー準位より高くされ得る。
ESCの伝導帯のエネルギー準位は、キャリア生成層内で生成される電子の平均エネルギーレベル、又は該電子のエネルギー密度分布のピークエネルギーレベルに実質的に等しくされ得る。
ESCの価電子帯の上端のエネルギー準位は、キャリア生成層内で生成される正孔の平均エネルギーレベル、又は該正孔のエネルギー密度分布のピークエネルギーレベルより低くされ得る。
ESCの価電子帯の上端のエネルギー準位は、キャリア生成層内で生成される正孔のエネルギー密度分布の下端より低くされ得る。
量子効果層は、バリア層内に埋め込まれたn型半導体材料を有していてもよく、電子移動層の伝導帯のエネルギー準位は、該n型半導体材料のドーパント濃度を制御することによって選定され得る。
バリア層は他のn型半導体材料を有していてもよく、バリア層のエネルギー準位は、該他のn型半導体材料のドーパント濃度を制御することによって選定され得る。
半導体コンタクトは、その価電子帯の上端のエネルギー準位がキャリア生成層の価電子帯の上端より高いように形成され得る。
量子効果層は、量子井戸層、量子細線及び量子ドットからなる群のうちの1つを有し得る。
この方法は更に、エネルギー変換構造の出力を最大化するように調整された電圧を正極と負極との間に印加すること有し得る。
該電圧を印加することは、上記出力を最大化するように調整された抵抗値を有する負荷を使用し得る。
本発明の第2の態様によれば、トンネル層を有するエネルギー選択性コンタクト(ESC)と、ESC上のキャリア生成層と、キャリア生成層上の、トンネル層を有しない半導体コンタクトとを有するホットキャリアエネルギー変換構造が提供される。
ESCは負側のESCを有し、前記半導体コンタクトは正側の半導体コンタクトを有し得る。
半導体コンタクトの仕事関数は、ESCと半導体コンタクトとの間の仕事関数差を制御するように制御され得る。
半導体コンタクトの仕事関数を制御することは、半導体コンタクトの材料、半導体コンタクトの酸化物、又はこれら双方を選択することにより成し得る。
トンネル層はトータルエネルギーフィルタリングを提供し得る。
半導体コンタクトの伝導帯の下端のエネルギー準位は、キャリア生成層内で生成される電子の平均エネルギーレベル、又は該電子のエネルギー密度分布のピークエネルギーレベルより高くされ得る。
半導体コンタクトの伝導帯の下端のエネルギー準位は、キャリア生成層内で生成される電子のエネルギー密度分布の上端のエネルギー準位より高くされ得る。
ESCの伝導帯のエネルギー準位は、キャリア生成層内で生成される電子の平均エネルギーレベル、又は該電子のエネルギー密度分布のピークエネルギーレベルに実質的に等しくされ得る。
ESCの価電子帯の上端のエネルギー準位は、キャリア生成層内で生成される正孔の平均エネルギーレベル、又は該正孔のエネルギー密度分布のピークエネルギーレベルより低くされ得る。
ESCの価電子帯の上端のエネルギー準位は、キャリア生成層内で生成される正孔のエネルギー密度分布の下端より低くされ得る。
量子効果層は、バリア層内に埋め込まれたn型半導体材料を有していてもよく、電子移動層の伝導帯のエネルギー準位は、該n型半導体材料のドーパント濃度を制御することによって選定され得る。
バリア層は他のn型半導体材料を有していてもよく、バリア層のエネルギー準位は、該他のn型半導体材料のドーパント濃度を制御することによって選定され得る。
半導体コンタクトの価電子帯の上端のエネルギー準位は、キャリア生成層の価電子帯の上端より高くされ得る。
量子効果層は、量子井戸層、量子細線及び量子ドットからなる群のうちの1つを有し得る。
このエネルギー変換構造は更に、当該エネルギー変換構造の出力を最大化するように調整された電圧を正極と負極との間に印加する手段を更に有し得る。
該電圧を印加する手段は、上記出力を最大化するように調整された抵抗値を有する負荷とし得る。
本発明の実施形態は、以下の図を含む図面とともに、一例についての以下の説明を読むことによって、当業者に一層十分に理解され且つ容易に明らかになるであろう。
本発明の第1実施形態に係るホットキャリア型太陽電池の基本構造を示す図である。 図2(a)は、図1の太陽電池をその積層方向を横軸方向に向けて示した図であり、図2(b)は、図1に示した構造の太陽電池内でのホットキャリアの生成及び移動を説明するためのエネルギーバンド図である。 図1の太陽電池のキャリア生成層内の、電子のエネルギー密度分布及び正孔のエネルギー密度分布を示す図である。 図1の太陽電池のエネルギーバンド構造を示す図である。 本発明の第2実施形態に係る太陽電池のキャリア生成層内の、電子のエネルギー密度分布及び正孔のエネルギー密度分布を示す図である。 本発明の第3実施形態に係る太陽電池のエネルギーバンド構造を示す図である。 図7(a)は、本発明の第4実施形態に係る太陽電池の構造を示す図であり、図7(b)は、図7(a)に示した構造の太陽電池内でのホットキャリアの生成及び移動を説明するためのエネルギーバンド図である。 図7(a)及び7(b)の太陽電池のキャリア生成層内の、電子のエネルギー密度分布及び正孔のエネルギー密度分布を示す図である。 本発明の第5実施形態に係る太陽電池のキャリア生成層内の、電子のエネルギー密度分布及び正孔のエネルギー密度分布を示す図である。 本発明の第6実施形態に係る太陽電池のエネルギーバンド構造を示す図である。 本発明の第8実施形態に係るエネルギーバンド構造を示す図である。 一実施形態例に係るホットキャリアエネルギー変換構造を製造する方法を示すフローチャートである。
説明する実施形態例にて、正孔収集コンタクトには従来のp型半導体を用い、電子コンタクトのみにESCを適用することを提案する。これは、双方のコンタクトにESCを有するとする通常のホットキャリア型太陽電池の説明とは異なるものである。本願の発明者により認識されたことには、1つのESCのみである有意な利点は、ダブルバリアQD若しくはQW構造(又は、その他の共鳴トンネル構造)をもつ2つのESCの仕事関数ではなく、1つの仕事関数のみを用いて太陽電池の出力電圧を得るための設計をすればよいということである。実施形態例において、ESCのドーピングを調整することより遙かに容易な処理であるp型コンタクトのドーピングを調整することにより適切な仕事関数差を容易に得ることができる。
本願の発明者によって更に認識されたことには、1つのESCコンタクトはまた、より高い製造可能性という有意な利点を有する。ESCを最初に堆積することで、高温アニール工程を、壊れやすい吸収体材料の堆積前に実行することができる。2つのESCをもつデバイスは、第2のESCの堆積後に高温段階を必要とするため、吸収体の層に影響を及ぼす。
本願の発明者によって更に認識されたことには、このような片側ESCデバイスは、ダブル(二重)ESCデバイスとほぼ同じ限界変換効率が得られる。何故なら、実際の適用において、吸収体内のホットキャリアエネルギーの殆どは(殆どの材料において電子の有効質量が正孔のそれと比較して小さいことに起因して)電子にて担持されており、コンタクトで収集されるエネルギーの非選択性正孔コンタクトによる損失は比較的小さいからである。
本願の発明者によって更に認識されたことには、片側ESCデバイスのもう1つの重要な利点は、材料選択に一層大きい自由度が与えられることである。ダブルESCデバイスの場合、外部電圧を確立するために、仕事関数差を2つのコンタクト間で定めなければならない。これは、量子ドット(QD)又は量子井戸(QW)のサイズの注意深い制御に加えて2つの異なる仕事関数を設計しなければならないという点で、それらESCの材料特性に更なる制約を課す。この仕事関数差を達成するためには、QD/QWのドーピングが少なくとも1つのESCに対して必要とされる。このような構造のドーピングはよく理解されていないが、欠陥密度を増大させ、ひいては有効性を低減してしまう可能性がある。
実施形態例における片側ESCの場合には、QD/QWのサイズの制御による量子閉じ込め構造を有することのみを必要とし、必要とされる仕事関数の差は、ESCでない他方のコンタクトにて最適化することができる。ESCの材料には、金属絶縁体半導体(MIS)型コンタクトに適切な金属、及び場合により、それに好ましい酸化物、を選択することによって容易に行うことができる。他の例では、p型半導体の正孔収集コンタクトを用いてもよい。
2つのコンタクトの要件がこのように分離されることは、有利なことに最適化を大幅に容易にするものであり、実施形態例における片側ESC手法により生み出される非対称性の直接的な結果である。これは有利なことに、実用上達成可能な効率を高め且つ材料の組み合わせ範囲を広げ、ひいては、材料又はプロセスの不調和の可能性を低減するとともに、材料及びプロセスのコストの最適化可能性を有利に高めることになる。
図1は、本発明の第1実施形態に係るホットキャリア型太陽電池の構造を示している。この図において、参照符号1は負極であり、参照符号2は量子効果層20とバリア層21とを含む電子移動層である。参照符号4はトンネル層のないp半導体コンタクトであり、参照符号5は正極である。
負極1は、電子移動層2に接続されており、キャリア生成層3内で生成された電子を収集するよう作用する。それらの電子は電子移動層2を通り抜ける。負極1は透明導電層から形成され、高屈折率膜と低屈折率膜とを組み合わせることによって形成される反射防止膜でコーティングされていてもよい。負極1は、例えば、従来の太陽電池の場合においてのように、櫛形の電極で構成され得る。電子移動層2は、バリア層21内に量子効果層20を含んでおり、キャリア閉じ込め効果(量子効果)を示す。量子効果層20は、例えば、量子井戸層、量子細線又は量子ドットから形成される。電子移動層2において、キャリアが存在することが可能な伝導帯のエネルギー幅は、量子効果層20のキャリア閉じ込め効果に起因して狭い。一例において、バリア層21のバンドギャップは4.0eVから5.0eVであり、厚さは2nmから10nmである。量子効果層20が量子ドットから形成される場合、ドットの直径(φ)は2nmから5nmであり、バンドギャップは1.8eVから2.2eVである。
キャリア生成層3は、n型、i型又はp型の、例えばSi、C又はIII−V族化合物半導体などの半導体材料から形成されており、太陽光を吸収することによって、太陽光の波長に対応するエネルギーを有する正キャリア及び負キャリアを生成する。正キャリアとしての正孔30は正極5によって収集される。負キャリアとしての電子31は、電子移動層2を通過させられて負極1に到達し、そこで収集される。一例において、キャリア生成層3は、主として、0.5eVから1.0eVのバンドギャップを有する材料から形成される。
正極5は、キャリア生成層3内で生成された正孔を収集する。正極5は、例えば、アルミニウムなどの金属から形成される。図1に示した実施形態において、負極1は、例えば、薄い金属コンタクト若しくは透明導電性酸化物、及びボトムアップ製造プロセスにて形成される構造を用いて、受光面側に配設されている。代替的に、正極5が受光面側に設けられてもよい。その場合、この構造は、基板を受光面側にした使用向きにおける該構造の背面に、不透明とし得る金属コンタクトを配置して、同じ順序で透明基板上に製造されることが可能である。また、キャリア生成層3は、光の吸収によって電子及び正孔を生成する材料ではなく、熱エネルギーの吸収によって電子及び正孔を生成する材料から形成されてもよい。
なお、吸収体層からの一層高いエネルギーのキャリアの収集は、典型的に、通常の半導体においては非常に小さいものとなる。何故なら、フォノンとの間でのキャリアの緩和が効率的に起こり、ホットキャリアの個体数を数ピコ秒のうちに減少させるからである。これは、例え電子−電子リノーマリゼーション散乱事象が非常に高速(何十フェムト秒)であっても、該事象はコールドエレクトロンとの散乱に利用可能なホットエレクトロンを削減し、ひいては、エネルギー選択性コンタクトの空乏化エネルギーレベルの再占有を抑制する。
とはいえ、通常の半導体は、実施形態例に係る片側ESCデバイスにおけるホットキャリア効果を例証するのに使用可能である。これらの材料を‘吸収体層’として用いての収集は、エネルギー選択性コンタクトとの界面の近傍(例えば、約10−20nm)からのものになる。この領域は、該領域からホットキャリアが、数ピコ秒で、すなわち、緩和することが可能な前に、拡散することができる領域である。高い照明強度により、高エネルギー光学フォノン(ホット光学フォノン)が増大するので、ホットキャリア効果を更に高めることができる。
一部の既存のバルク半導体は、高エネルギーの局在化された光学フォノンから低エネルギーの進行性の音響フォノン(すなわち、熱)へのエネルギーの散逸が生じるようなフォノンモードを持たないため、この‘フォノンボトルネック効果’を増強することができる。好適な材料は、好ましくは、その複数の構成原子間で大きい質量差を有し、故に、化合物である。一例に係る材料はInNである。質量における大きい差異は、光学フォノンモード及び音響フォノンモードに、これら2つの分散(dispersion)間に大きいギャップを有する離隔され且つかなり離散的なエネルギーをもたらし、該ギャップにより、光学フォノンから音響フォノンへのエネルギーの散逸を阻止することができる。
図2は、図1に示したホットキャリア型太陽電池の電力生成原理を示す図であり、この図はキャリア生成層3内でのホットキャリアの生成及び移動を明確に示している。図2(a)は、太陽電池をその積層方向を横軸方向に向けて示しており、図2(b)は、各層のエネルギーバンド構造を示している。
光の吸収によってキャリア生成層3内で生成される電子及び正孔は、入射光の波長に対応するエネルギーレベルまで励起される。すなわち、伝導帯32において、高いエネルギーを有する電子31が短波長の光に対して生成され、低いエネルギーを有する電子31が長波長の光に対して生成され、価電子帯33において、高いエネルギーを有する正孔30が短波長の光に対して生成され、低いエネルギーを有する正孔30が長波長の光に対して生成される。伝導帯32において、高エネルギー電子と低エネルギー電子との間の相互作用によりエネルギー伝達が起こり、斯くして、電子のエネルギー密度分布(例えば、図3参照)が熱平衡に達する。
電子移動層2において、伝導帯のエネルギー幅は、量子井戸、量子細線、量子ドット又はこれらに類するもののキャリア閉じ込め効果のよって狭くなっている。これは、電子移動層2において、制限されたエネルギー幅(エネルギー幅A)を有する伝導帯22の形成をもたらし、これらがキャリア生成層3に接続される。結果として、キャリア生成層3における電子のエネルギー密度分布内で、特定のエネルギー準位を有する電子のみが、負極1まで移動することが可能となる。一方、キャリア生成層3内で生成される正孔30は、p半導体コンタクト4の価電子帯42を介して正極5まで移動する。
図3は、本実施形態に係る太陽電池の特性を示す図であり、特に、キャリア生成層3内の電子のエネルギー密度分布と電子移動層2のエネルギー準位との間の関係を示している。この図において、縦軸はエネルギー準位を表している。図3において、参照符号34は、キャリア生成層3内の電子エネルギー密度分布を指し示している。先述のように、キャリア生成層3内で光が吸収されるとき、吸収される波長に対応するエネルギーレベルまで励起された電子及び正孔が伝導帯32内に生成され、その後、エネルギー伝達を伴う相互作用が電子間で起こり、それにより、図3に示すような電子エネルギー密度分布34が形成される。
本実施形態に係る太陽電池において、電子移動層2の伝導帯22の底のエネルギー準位22aは、キャリア生成層3内で生成される電子の平均エネルギーレベルに近く、あるいはほぼ等しく、設定される。一方、半導体コンタクト4の伝導帯41の下端のエネルギー準位41aは、キャリア生成層3内で生成される電子の平均エネルギーより高く設定される。
本実施形態に係る太陽電池においては、図3に示すように、電子移動層2の伝導帯22の底のエネルギー準位22aが、キャリア生成層3内で生成される電子の平均エネルギー付近に設定されているので、平均エネルギーレベル又はその付近のエネルギーを有する電子のみが、負極1まで移動することを許される。これは、電子の熱損失を低減し、エネルギー変換効率を高めるように作用する。
電子移動層2の伝導帯の底のエネルギー準位22aが電子の平均エネルギーより高く設定される場合、キャリア生成層3内で生成される高エネルギー電子が負極1へ移動することが可能であるので、低エネルギー電子にエネルギーを引き渡す高エネルギー電子の密度が低下する。結果として、電子移動層2の伝導帯の底のエネルギー準位22aより低くなる電子の密度がキャリア生成層3内で増大し、故に、負極1へ移動することができない電子の密度が増大し、ひいては、エネルギーロスが増大する。逆に、伝導帯の底のエネルギー準位22aが電子の平均エネルギーより低く設定される場合、低エネルギー電子が負極1へ移動することが可能であるので、高エネルギー電子のエネルギーロスが増大する。さらに、伝導帯の底のエネルギー準位22aが一層低いことにより、太陽電池の光起電力が低下する。
図4は、上述のホットキャリア型太陽電池のエネルギーバンド構造の一例を示している。図4の構造において、電子移動層2のバリア層21に、バンドギャップが4.0eVから5.0eVの材料が選択されており、その厚さは2nmから10nmである。一方、量子ドット20’には、バンドギャップが1.8eVから2.2eVの材料が選択されており、ドットの直径(φ)は2nmから5nmである。キャリア生成層3は主に、バンドギャップが0.5eVから1.0eVの材料から形成される。p半導体コンタクト4は主に、バンドギャップが1.8eVから3eVであり且つ好ましくはキャリア生成層の価電子帯と揃う仕事関数を有する材料から形成される。
伝導帯内の電子のエネルギー間での相互作用により、従来型太陽電池における熱損失である、より高いエネルギーを有するように励起される電子によるエネルギーロスを低減することができる。バンドギャップを狭くしても、電子のエネルギーロスは増大しない。結果として、光透過によるロスを低減するように作用する狭ギャップ半導体材料をキャリア生成層に使用することが可能である。また、図1に示した単純な構造を用いて、5個以上の接合を有する多接合型太陽電池と同じほど効率的に、エネルギーロスを最小化しながら、太陽光に含有される広い波長域の光を電気エネルギーに変換することができる。従って、高いエネルギー変換効率を有し且つ製造にあまりコストが掛からない太陽電池を実現することができる。
本実施形態において、電子移動層2は、選択エネルギーコンタクトに二重バリア共鳴トンネル層を有し、これら2つの絶縁性バリア間に、離散的なエネルギー準位を提供する量子ドットを有する。これは、この離散エネルギー準位に強いピークを有する伝導をもたらし得る。量子ドットに基づく構造のトータルエネルギーフィルタリングは、選択エネルギーコンタクトにとって、1Dエネルギーフィルタリングより好ましいものである。何故なら、例えば量子井戸共鳴トンネルデバイスにおける1Dエネルギーフィルタリングは、井戸の平面に完全に垂直な運動量を有するキャリアに対してのみ有効だからである。この法線から逸脱する運動量成分を有するキャリアは、それらのエネルギーと運動量とのベクトル和(トータルエネルギー)がエネルギーフィルタのエネルギー範囲内である場合、その(運動量から独立した)静的なエネルギーがこの範囲の外側であっても、伝送され得る。これは、1Dフィルタによって伝送されるキャリアエネルギーの範囲を拡げることになり、その効率を有意に低下させる。故に、本実施形態においては、有利には、量子ドットを用いる共鳴トンネル構造、又は共鳴中心としてのその他の離散的な完全なエネルギー閉じ込め中心が使用されて、トータルエネルギーフィルタリングが提供される。このようなフィルタは、全ての方向において負性微分抵抗(negative differential resistance;NDR)を示すはずである。
二酸化シリコン(SiO)マトリクス内のシリコン量子ドット(Si QD)群で構成される二重バリア共鳴トンネル構造の製造は、例えば、ARC Photovoltaics Centre of Excellence,UNSWにて実証されている(E.-C.Cho,Y.H.Cho,R.Corkish,J.Xia,M.A.Green,D.S.Moon、Asia-Pacific Nanotechnology Forum、ケアンズ、2003年;E.-C.Cho,Y.H.Cho,T.Trupke,R.Corkish,G.Canibeer,M.A.Green、Proc. 19th European Photovoltaic Solar Energy Conference、パリ、2004年)。本実施形態において、所望厚さのSiO、シリコンリッチの酸化シリコン(SiO、x<2)及びSiOの交互層がRFマグネトロンスパッタリングによって堆積される。これらの層は、Si及び石英のターゲットからの同時スパッタリングによって成長される。シリコンリッチ酸化物(SRO)は1173℃未満で熱力学的に不安定であり、SiO膜内での相分離が、量子ドット(QD)を形成するナノ結晶の析出を生じさせる。
Si QDのサイズは、当初のSRO層の厚さと結晶化条件とを調整することによって制御することができる。ナノ結晶の直径は、10nm未満の膜厚の場合のSRO厚さに実質的に等しく、一様なサイズ可制御性が提供される。Si QDの空間密度は、SRO膜の化学量論によって制御することができる。Si QD構造は、共鳴トンネリングの特徴である負性微分抵抗を室温で示している。
しかしながら、言及しておくに、他の実施形態においては、例えばトータルエネルギーフィルタリングを提供する量子ドットとは異なり1Dでのみエネルギーフィルタリングを提供するものであるが、量子井戸を用いることも可能である。
本実施形態において、量子効果構造は、Siリッチの酸化シリコンの4nmの層が間にスパッタリングされた、スパッタリングされたSiOのバリアで構成される。例えば約1100℃でのアニールを受け、Siリッチ層から、透過型電子顕微鏡(TEM)によって決定される該層の厚さにサイズ的に制限されたSiナノ結晶が析出する。小さいサイズのこれらナノ結晶は、(他のサンプルのフォトルミネッセンスによって示唆される)離散的な量子閉じ込めエネルギー準位が生じて、それらが真の量子ドットと見なされ得るようにされる。面積1/16cmの複数のメサをリソグラフィによって準備した。本実施形態で使用した成長及びアニールの条件で、このサイズの各メサは約1010個のSi Qdを含む。
図5は、本発明の第2実施形態に係る太陽電池の特徴を示している。この実施形態の太陽電池は、図1に示した太陽電池と同じ多層構造を有するが、電子移動層2の伝導帯の底のエネルギー準位22bが、キャリア生成層3内の電子のエネルギー密度分布34のピーク値Peに近く、あるいはほぼ等しく設定されている。また、p半導体コンタクト4の伝導帯41bの下端のエネルギー準位41bは、キャリア生成層3内で生成される電子のエネルギー密度分布のピークエネルギーレベルより高く設定されている。
電子移動層2の伝導帯22の底のエネルギー準位22bが、キャリア生成層3内で生成される電子のエネルギー密度分布のピークエネルギーレベル付近に設定されるとき、高エネルギー電子と低エネルギー電子との間での相互作用を促進させることができ、全体としてのエネルギーロスが低減される。結果として、電流密度が増大し、光電変換効率が向上する。一方、p半導体コンタクト4の価電子帯42の上端42bは、キャリア生成層3の価電子帯の上端33aより高く設定される。
一例として、図5に示した構造において、電子エネルギー密度分布34のピークエネルギーレベルPeは、キャリア生成層3の伝導帯の底のエネルギー準位32aより0.3eVから1.0eVだけ高く設定される。また、電子移動層2の伝導帯22の底のエネルギー準位22bは、キャリア生成層3内の電子エネルギー密度分布のピークエネルギーレベルPeに対して±0.1eVの範囲内にあるように設定される。
図6は、本発明の第3実施形態に係るホットキャリア型太陽電池のエネルギーバンド構造を示している。上述の第1及び第2の実施形態においては電子移動層の伝導帯の底のエネルギー準位に注意が払われてきたが、本実施形態においては、電子移動層の価電子帯の上端のエネルギー準位にも注意が払われ、それにより、一層高いエネルギー変換効率を有する太陽電池が提案される。
図6に示すように、本実施形態に係る太陽電池において、電子移動層2の価電子帯24の上端のエネルギー準位24aは、キャリア生成層3内の正孔エネルギー密度分布35の平均エネルギーレベルMhより低く、あるいは、正孔エネルギー密度分布35のピークエネルギーレベルPhより低く設定される。この構造を用いることで、キャリア生成層3内で生成される正孔が電子移動層2内に移動して電子移動層2内に存在する電子と再結合することによって消滅することを防止し得る。換言すれば、生成キャリアの消滅に伴う電流損失が減少し、光電変換効率が更に向上する。一方、p半導体コンタクト4の伝導帯41の下端41cは、キャリア生成層3内の電子のエネルギー密度分布34の上端のエネルギー準位Heより高く設定され、斯くして、キャリア生成層3内で生成された電子がp半導体コンタクト4内に移動することが防止される。
本実施形態の一例において、キャリア生成層3内の電子エネルギー密度分布34の平均エネルギーレベルMe又はピークエネルギーレベルPeは、キャリア生成層3の伝導帯32の底のエネルギー準位32aより0.3eVから1.0eVだけ高く設定される。また、電子移動層2の価電子帯の上端のエネルギー準位24aは、正孔エネルギー密度分布35の平均エネルギーレベルMh又はピークエネルギーレベルPhに対して−0.8eVから0eVの範囲内にあるように設定される。結果として、太陽電池の電流密度が増大し、光電変換効率が更に向上する。
図7の(a)は、本発明の第4実施形態に係る太陽電池の構造を示しており、図7の(b)は、図7(a)に示した構造の太陽電池内でのキャリアの生成及び移動を模式的に示している。図7の(a)及び(b)において、図1及び2においてと同じ参照符号は、同様あるいは類似の構成要素を指し示しており、ここではそれらの説明は繰り返さないこととする。太陽電池の外に電力を供給するとき、太陽電池は負荷6に接続され、出力を最大化するように調整された電圧が2つの電極間に与えられる。あるいは、負荷6の抵抗値が、出力を最大化するように調整される。結果として、太陽電池に電流が流れ、すなわち、デバイスを貫いてキャリア(電子及び正孔)が移動し、それにより、負極1、電子移動層2、キャリア生成層3及び正極5のエネルギー準位が変化する。例えば、電子移動層2のエネルギー準位は、図2に示したものより低くなる。同様に、キャリア生成層3内の電子及び正孔のエネルギー密度分布も、図8及び9に示すように変化する。
図1に示した第1実施形態における電子移動層2の伝導帯の底のエネルギー準位は、開回路状態でのエネルギー準位に相当する。しかしながら、負荷6が接続されてデバイス中を電流が流れる状態においては、上述のようにそれぞれの領域のエネルギー準位が変化するので、定常状態に対して最適化された電子移動層2の伝導帯の底のエネルギー準位は、必ずしも最適でない。
本実施形態においては、図7に示すように太陽電池に負荷6が接続され、且つ、出力を最大化するよう調整された電圧が負極1と正極5との間に印加される、あるいは負荷6の抵抗値が出力を最大化するよう調整される状態で、図8に示すように、電子移動層2の伝導帯25の底のエネルギー準位25aが、キャリア生成層3内に形成される電子エネルギー密度分布36の平均値付近に設定される。結果として、キャリアのエネルギーロスが減少し、変換効率が向上する。一方、p半導体コンタクト4の伝導帯47の下端47aは、キャリア生成層3内に形成される電子エネルギー密度分布36の平均値より高く設定される。
一例において、キャリア生成層3内の電子エネルギー密度分布36の平均エネルギーレベルは、キャリア生成層3の伝導帯の底32aより0.3eVから1.0eVだけ高く設定される。電子移動層2の伝導帯の底のエネルギー準位25aは、キャリア生成層3の伝導帯内の電子エネルギー密度分布36の平均エネルギーレベルに対して+0.1eVの範囲内にあるように設定される。
この構造を用いることで、向上されたエネルギー変換効率を有する太陽電池を達成することができる。
図9は、本発明の第5実施形態に係る太陽電池のキャリア生成層内の、電子のエネルギー密度分布及び正孔のエネルギー密度分布を示している。本実施形態に係る太陽電池は、図7(a)に示したものと同じ基本構造を有するが、以下の点で相違する:太陽電池に負荷6が接続され、且つ、出力を最大化するよう調整された電圧が負極1と正極5との間に印加される、あるいは負荷6の抵抗値が出力を最大化するよう調整される状態で、電子移動層2の伝導帯25の底のエネルギー準位25bが、キャリア生成層3の伝導帯32内の電子エネルギー密度分布36のピークエネルギーレベル付近に設定され、それにより、太陽電池の電流率度が増大され、エネルギー変換効率が高められる。一方、p半導体コンタクト4の伝導帯47のエネルギー準位47bは、伝導帯32内の電子エネルギー密度分布36のピークエネルギーレベルより高く設定される。
一例において、キャリア生成層3内の電子エネルギー密度分布36のピークエネルギーレベルは、キャリア生成層3の伝導帯の底32aより0.3eVから1.0eVだけ高く設定される。電子移動層2の伝導帯25の底のエネルギー準位25bは、キャリア生成層3の伝導帯32内の電子エネルギー密度分布36のピークエネルギーレベルに対して±0.1eVの範囲内にあるように設定される。
この構造を用いることで、向上されたエネルギー変換効率を有する太陽電池を達成することができる。
図10は、本発明の第6実施形態に係る太陽電池のエネルギーバンド構造を示している。この実施形態に係る太陽電池の基本構造とホットキャリアの生成及び移動の原理とは、図7に示したものと同じである。しかしながら、本実施形態においては、電子移動層2の価電子帯26の上端のエネルギー準位26aが、キャリア生成層3内に形成される正孔のエネルギー密度分布37の平均エネルギーレベル又はピークエネルギーレベルより低く設定されている。あるいは、好ましくは、エネルギー準位26aは正孔エネルギー密度分布37の底37aより低く設定される。一方、電子移動層2の伝導帯25の底のエネルギー準位25aは、図8及び9に示した第4及び第5の実施形態においてと同様に設定される。p半導体コンタクト4の伝導帯47の下端のエネルギー準位47cは、電子エネルギー密度分布36の上端のエネルギー準位36aより高く設定される。
この構造により、太陽電池の電流密度を増大させ、エネルギー変換効率を高めることができる。
一例において、キャリア生成層3内の電子エネルギー密度分布36のピークエネルギーレベルは、キャリア生成層3の伝導帯の底のエネルギー準位32aより0.3eVから1.0eVだけ高く設定される。電子移動層2の価電子帯の上端のエネルギー準位26aは、キャリア生成層3内の正孔エネルギー密度分布37の平均又はピークのエネルギーレベルに対して−0.8eVから0eVの範囲内にあるように設定される。結果として、太陽電池の電流密度が増大し、光電変換効率が更に向上する。
この構造を用いることで、向上されたエネルギー変換効率を有する太陽電池を達成することができる。
第7実施形態は、上述の第1乃至第6の実施形態の何れかに係る太陽電池において、電子移動層2の伝導帯及び価電子帯のエネルギー準位を制御することに関する。電子移動層の伝導帯及び価電子帯のエネルギー準位は、量子効果層を形成する例えば量子井戸、量子細線又は量子ドットによって形成される。従って、本実施形態は、電子移動層の伝導帯の底のエネルギー準位を、キャリア生成層3の伝導帯内の電子エネルギー密度分布の平均又はピークのエネルギーレベル付近に設定し、価電子帯の上端のエネルギー準位を、正孔エネルギー密度分布の平均又はピークのエネルギーレベルより低く設定することを提案する。
このような構造を達成するため、本実施形態において、例えば図2(a)又は図7(a)に示した電子移動層2内の量子効果層(量子井戸層、量子配線又は量子ドット)20が、n型半導体材料から、該半導体材料内のドーパント濃度を制御することによって各量子効果層のエネルギー準位を所望値に調整して形成される。
ドーパント濃度が制御されない半導体材料が用いられる場合、例えば、伝導帯の底のエネルギー準位が最適レベルに設定されないときに、価電子帯の上端のエネルギー準位が最適レベルより高くなるので、電流損失を低減することが困難となる。逆に、価電子帯の上端のエネルギー準位が最適レベルに設定されないときには、伝導帯の底のエネルギー準位が最適レベルより高くなり、電流損失が増大する。これを考慮し、本実施形態においては、電子移動層はn型半導体から形成され、伝導帯及び価電子帯の双方のエネルギー準位が、ドーパント元素の濃度を調整することによって最適化される。これらのエネルギー準位を最適化することにより、電流密度が増大し、変換効率が向上する。
一例において、電子移動層2内の量子ドット20’は、2.0eVから2.5eVのバンドギャップを有し且つ1012cm−3から1018cm−3のキャリア密度を有するn型半導体から形成される。
第8実施形態は、上述の第7実施形態に係る太陽電池において、電子移動層2内のバリア層のエネルギー準位を制御することに関する。電子移動層2のバリア層21を形成することには、絶縁材料又は広いバンドギャップを有する半導体材料を用いることができる。キャリア生成層3から負極に移動する電子に対して、移動中に抵抗などによって生じるロスが低減される。この目的のため、電子移動層2において、量子効果層20の伝導帯の底のエネルギー準位と、バリア層21の伝導帯の底のエネルギー準位との間の差が低減される。
図11は、量子効果層とバリア層との間のエネルギー準位差が低減された太陽電池のエネルギーバンド構造を示している。図示のように、電子移動層2において、バリア層21の伝導帯の底のエネルギー準位21aと量子ドット20’の伝導帯の底のエネルギー準位20aとの間の差が低減される。
従って、量子効果層が、第7実施形態にて示したようにそのドーパント濃度を制御することによって形成されるとき、同時にバリア層内のドーパント濃度を制御することによって、上記エネルギー準位差を低減することができる。これは、太陽電池の抵抗損を低減し、エネルギー変換効率を高めるように作用する。この目的のため、本実施形態においては、電子移動層2のバリア層21はn型半導体材料から形成される。
一例において、電子移動層2内のバリア層21は、3.5eVから4.5eVのバンドギャップを有し且つ1012cm−3から1018cm−3のキャリア密度を有するn型半導体材料から形成される。
第9実施形態は、電子移動層2の伝導帯のエネルギー幅A(図2(a)及び7(a)を参照)を検討するものである。本実施形態に係るキャリア生成層3内で生成されるキャリアのエネルギー変換デバイスにおいては、平均値又はピーク値の付近のエネルギー準位を有する電子のみが負極へ移動することが許され、故に、キャリアのエネルギーロスが低減される。
エネルギー幅Aが大きい場合、電子エネルギー密度分布の平均エネルギー又はピークエネルギーより高いエネルギーを有する電子が負極へ移動するので、エネルギーロスが増大する。高エネルギー電子が負極へ移動することが可能である場合、低エネルギー電子にエネルギーを引き渡す高エネルギー電子の密度が低下する。結果として、電子移動層の伝導帯エネルギー準位より低いエネルギーを有する電子の密度が増大し、従って、電極に移動することができない電子の密度が増大し、ひいては、エネルギーロスが増大する。一方、低エネルギー電子が負極へ移動することが許される場合、高エネルギー電子のエネルギーロスが増大する。さらに、光起電力が低下する。
従って、本実施形態においては、電子移動層の伝導帯のエネルギー幅Aは0.2eV以下、好ましくは0.05eV以下に設定される。この構成を用いることで、電子のエネルギーロスが減少し、高いエネルギー変換効率を有する太陽電池が達成され得る。
図12は、一実施形態例に係るホットキャリアエネルギー変換構造を製造する方法を示すフローチャート1200を示している。工程1202にて、トンネル層を有するエネルギー選択性コンタクトESCが形成される。工程1204にて、キャリア生成層がESC上に形成される。工程1206にて、トンネル層を有しない半導体コンタクトがキャリア生成層上に形成される。
当業者に認識されるように、特定の実施形態にて示した本発明には、広く記載される本発明の精神又は範囲を逸脱することなく、数多くの変形及び/又は変更が為され得る。故に、これらの実施形態は、あらゆる点で、限定的なものではなく例示的なものと見なされるべきである。

Claims (33)

  1. ホットキャリアエネルギー変換構造を製造する方法であって、
    トンネル層を有するエネルギー選択性コンタクト(ESC)を形成する工程と、
    キャリア生成層を前記ESC上に形成する工程と、
    トンネル層を有しない半導体コンタクトを前記キャリア生成層上に形成する工程と、
    を有する方法。
  2. 前記ESCは負側のESCを有し、前記半導体コンタクトは正側の半導体コンタクトを有する、請求項1に記載の方法。
  3. 前記ESCと前記半導体コンタクトとの間の仕事関数差を制御するよう、前記半導体コンタクトの仕事関数を制御する工程、を更に有する請求項1又は2に記載の方法。
  4. 前記半導体コンタクトの前記仕事関数を制御する工程は、前記半導体コンタクトの材料、前記半導体コンタクトの酸化物、又はこれら双方を選択することを有する、請求項3に記載の方法。
  5. 前記キャリア生成層を形成する工程の後に高温アニール工程は行われない、請求項1乃至4の何れか一項に記載の方法。
  6. 前記トンネル層はトータルエネルギーフィルタリングを提供する、請求項1乃至5の何れか一項に記載の方法。
  7. 前記半導体コンタクトは、その伝導帯の下端のエネルギー準位が、前記キャリア生成層内で生成される電子の平均エネルギーレベル、又は該電子のエネルギー密度分布のピークエネルギーレベルより高い、ように形成される、請求項1乃至6の何れか一項に記載の方法。
  8. 前記半導体コンタクトの伝導帯の下端のエネルギー準位は、前記キャリア生成層内で生成される電子のエネルギー密度分布の上端のエネルギー準位より高い、請求項1乃至7の何れか一項に記載の方法。
  9. 前記ESCの伝導帯のエネルギー準位は、前記キャリア生成層内で生成される電子の平均エネルギーレベル、又は該電子のエネルギー密度分布のピークエネルギーレベルに実質的に等しい、請求項1乃至8の何れか一項に記載の方法。
  10. 前記ESCの価電子帯の上端のエネルギー準位は、前記キャリア生成層内で生成される正孔の平均エネルギーレベル、又は該正孔のエネルギー密度分布のピークエネルギーレベルより低い、請求項1乃至9の何れか一項に記載の方法。
  11. 前記ESCの価電子帯の上端のエネルギー準位は、前記キャリア生成層内で生成される正孔のエネルギー密度分布の下端より低い、請求項1乃至10の何れか一項に記載の方法。
  12. 量子効果層は、バリア層内に埋め込まれたn型半導体材料を有し、電子移動層の伝導帯のエネルギー準位は、前記n型半導体材料のドーパント濃度を制御することによって選定される、請求項1乃至11の何れか一項に記載の方法。
  13. 前記バリア層は他のn型半導体材料を有し、前記バリア層のエネルギー準位は、前記他のn型半導体材料のドーパント濃度を制御することによって選定される、請求項12に記載の方法。
  14. 前記半導体コンタクトは、その価電子帯の上端のエネルギー準位が前記キャリア生成層の価電子帯の上端より高いように形成される、請求項1乃至13の何れか一項に記載の方法。
  15. 量子効果層は、量子井戸層、量子細線及び量子ドットからなる群のうちの1つを有する、請求項1乃至14の何れか一項に記載の方法。
  16. トンネル層を有するエネルギー選択性コンタクト(ESC)と、
    前記ESC上のキャリア生成層と、
    前記キャリア生成層上の、トンネル層を有しない半導体コンタクトと、
    を有するホットキャリアエネルギー変換構造。
  17. 前記ESCは負側のESCを有し、前記半導体コンタクトは正側の半導体コンタクトを有する、請求項16に記載の構造。
  18. 前記半導体コンタクトの仕事関数は、前記ESCと前記半導体コンタクトとの間の仕事関数差を制御するように制御される、請求項16又は17に記載の構造。
  19. 前記半導体コンタクトの前記仕事関数を制御することは、前記半導体コンタクトの材料、前記半導体コンタクトの酸化物、又はこれら双方を選択することを有する、請求項18に記載の構造。
  20. 前記トンネル層はトータルエネルギーフィルタリングを提供する、請求項16乃至19の何れか一項に記載の構造。
  21. 前記半導体コンタクトの伝導帯の下端のエネルギー準位は、前記キャリア生成層内で生成される電子の平均エネルギーレベル、又は該電子のエネルギー密度分布のピークエネルギーレベルより高い、請求項16乃至20の何れか一項に記載の構造。
  22. 前記半導体コンタクトの伝導帯の下端のエネルギー準位は、前記キャリア生成層内で生成される電子のエネルギー密度分布の上端のエネルギー準位より高い、請求項16乃至21の何れか一項に記載の構造。
  23. 前記ESCの伝導帯のエネルギー準位は、前記キャリア生成層内で生成される電子の平均エネルギーレベル、又は該電子のエネルギー密度分布のピークエネルギーレベルに実質的に等しい、請求項16乃至22の何れか一項に記載の構造。
  24. 前記ESCの価電子帯の上端のエネルギー準位は、前記キャリア生成層内で生成される正孔の平均エネルギーレベル、又は該正孔のエネルギー密度分布のピークエネルギーレベルより低い、請求項16乃至23の何れか一項に記載の構造。
  25. 前記ESCの価電子帯の上端のエネルギー準位は、前記キャリア生成層内で生成される正孔のエネルギー密度分布の下端より低い、請求項16乃至24の何れか一項に記載の構造。
  26. 量子効果層は、バリア層内に埋め込まれたn型半導体材料を有し、電子移動層の伝導帯のエネルギー準位は、前記n型半導体材料のドーパント濃度を制御することによって選定される、請求項16乃至25の何れか一項に記載の構造。
  27. 前記バリア層は他のn型半導体材料を有し、前記バリア層のエネルギー準位は、前記他のn型半導体材料のドーパント濃度を制御することによって選定される、請求項26に記載の構造。
  28. 前記半導体コンタクトの価電子帯の上端のエネルギー準位は、前記キャリア生成層の価電子帯の上端より高い、請求項16乃至27の何れか一項に記載の構造。
  29. 量子効果層は、量子井戸層、量子細線及び量子ドットからなる群のうちの1つを有する、請求項16乃至28の何れか一項に記載の構造。
  30. 当該エネルギー変換構造の出力を最大化するように調整された電圧を正極と負極との間に印加する手段、を更に有する請求項16乃至29の何れか一項に記載の構造。
  31. 前記電圧を印加する手段は、前記出力を最大化するように調整された抵抗値を有する負荷である、請求項30に記載の構造。
  32. 前記エネルギー変換構造の出力を最大化するように調整された電圧を正極と負極との間に印加すること、を更に有する請求項1乃至15の何れか一項に記載の方法。
  33. 前記電圧を印加することは、前記出力を最大化するように調整された抵抗値を有する負荷を使用する、請求項32に記載の方法。
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Families Citing this family (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP5745958B2 (ja) 2011-07-07 2015-07-08 トヨタ自動車株式会社 光電変換素子
DE102012003467A1 (de) 2012-02-21 2013-08-22 Hans-Josef Sterzel Photovoltaische Solarzellen auf der Basis von Emittern sehr niedriger Austrittsarbeit, einer Tunnelschicht und einem Kollektor mit negativer Elektronenaffinität zur Nutzung heißer Elektronen
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DE102013105462A1 (de) 2013-05-28 2014-12-04 Ernst-Abbe-Fachhochschule Jena Schichtenfolge zur photoelektrischen Umwandlung von Licht sowie Hot Carrier Solarzelle
TWI493739B (zh) * 2013-06-05 2015-07-21 Univ Nat Taiwan 熱載子光電轉換裝置及其方法
US10559864B2 (en) 2014-02-13 2020-02-11 Birmingham Technologies, Inc. Nanofluid contact potential difference battery
CN106206269B (zh) * 2016-07-26 2019-09-17 山东大学 一种利用半导体极性场提高热电子注入效率的方法
CN109065722B (zh) * 2018-07-12 2020-12-01 西南大学 一种基于热载流子的太阳能电池及其制备方法
FR3135349A1 (fr) * 2022-05-06 2023-11-10 Institut Photovoltaique d'Ile de France Cellules solaires multi-jonctions à porteurs chauds

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009059915A (ja) * 2007-08-31 2009-03-19 Toyota Central R&D Labs Inc 光起電力素子
JP2009141320A (ja) * 2007-12-06 2009-06-25 Samsung Electro Mech Co Ltd 太陽電池

Family Cites Families (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6916451B1 (en) * 1999-05-04 2005-07-12 Neokismet, L.L.C. Solid state surface catalysis reactor
JP2003298077A (ja) * 2002-03-29 2003-10-17 Ebara Corp 太陽電池
JP4457692B2 (ja) * 2004-02-23 2010-04-28 パナソニック電工株式会社 最大電力追尾制御方法及び電力変換装置
US20070137693A1 (en) * 2005-12-16 2007-06-21 Forrest Stephen R Intermediate-band photosensitive device with quantum dots having tunneling barrier embedded in inorganic matrix
WO2008143721A2 (en) * 2007-02-12 2008-11-27 Solasta, Inc. Photovoltaic cell with reduced hot-carrier cooling

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009059915A (ja) * 2007-08-31 2009-03-19 Toyota Central R&D Labs Inc 光起電力素子
JP2009141320A (ja) * 2007-12-06 2009-06-25 Samsung Electro Mech Co Ltd 太陽電池

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
JPN6013059967; G.J. Conibeer, C.-W. Jiang, D. Konig, S. Shrestha, T. Walsh, M.A. Green: 'Selective energy contacts for hot carrier solar cells' thin solid films Volume 516, Issue 23, 20080115, Pages 6968-6973 *

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