JP2012526283A - 固定および可変割出しを有する低容量分析器のための方法および装置 - Google Patents
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Abstract
Description
適用不可
本発明は、下記の図に関連する以下の発明の詳細な記載に言及することにより、より完全に理解される。
開示される方法は、その総計は依然として固定割出し間隔、たとえば1間隔あたり121位置、に等しい、複数(たとえば2または3)の可変間隔長の中間割出し間隔を発生させるために、それ以外では固定となる割出し間隔を周期的に分割することを含む。この開示の目的で、かつ図8に関して、図示された実施態様における第1中間割出し間隔36は、開始リング位置33から10リング位置に等しい。第1中間割出し間隔として10を選択したことは無作為である。固定割出し間隔がキュベット支持リング位置の総計を越えているため、第1中間割出し間隔36は実際のところ10リング位置間隔または105リング位置間隔(95+10)に相当する。
暫定割出しリング位置29(図11の55d番)にむかって4リング位置に割出しすることができる。
可変割出しを用いて多数の試料分析を最適化する方法について記載してきたが、以降同様の目的の試料分析器および制御装置について記載する。試料分析器および試料分析器によって用いられる個別のリソースは当業者には公知であり、可変割出しの属性に関するもの以外の詳細は記載されない。
Claims (19)
- 回転可能なリング内に反応容器および少なくとも1つの固定位置のリソースを収容する構成および配置になっている、固定された数の反応容器支持位置を有する試料分析器を制御する方法で、割出しが周期的に固定割出し間隔を複数の可変間隔長を有する中間固定割出し間隔に分割することを含み、固定された反応容器数を超える固定割出し間隔により、各回転軸の周囲で試料分析器を割出しすることを含む方法。
- 固定割出し間隔を複数の中間割出し間隔に分割することが、固定割出し間隔を固定第1中間割出し間隔および固定第2中間割出し間隔に分割することを含む、請求項1に記載の方法。
- 固定割出し間隔を固定第1中間割出し間隔に分割することが、固定第1中間割出し間隔を複数の可変下位間隔に再分割することを含む、請求項2に記載の方法。
- 固定第1中間割出し間隔を複数の可変下位間隔に再分割することが、
固定第1中間割出し間隔を固定第1中間割出し間隔(T)以下の第1可変下位間隔(N)に再分割すること、および
固定第1中間割出し間隔(T)をさらに、M=T−Nとなるような固定第1中間割出し間隔と第1可変下位間隔の数学的な差に等しい第2可変下位間隔(M)に再分割すること、
を含む請求項3に記載の方法。 - 固定第1中間割出し間隔を第1可変下位間隔に再分割することが、個別の反応容器が、前記第1リング位置から前記固定第1中間割出し間隔以下のいくつかの反応容器支持位置分だけ離れている第2リング位置に位置するときにはいつでも、個別の固定位置リソースを待っている個別の反応容器を、個別の固定位置リソースに対応する第1リング位置にむかって割出しすることを含む、請求項4に記載の方法。
- 固定第1中間割出し間隔を第2可変下位間隔に再分割することが、試料分析器を同期させるために、さらに個別の反応容器を、固定位置リソースに対応するリング位置から間隔M割出しすることを含む、請求項5に記載の方法。
- 反応容器を収容するための固定数の反応容器支持位置、および、少なくとも1つの固定位置リソースを有する試料分析器を制御するコンピュータプログラム製品であって、コンピュータプログラムを格納したコンピュータ読み出し可能な媒体の形態をとり、前記コンピュータプログラムはプロセッサ上で実行可能であり、かつ実行可能な機械語またはコードからなり、
前記コンピュータプログラムは、前記試料分析器を、反応容器の固定数を超える固定割出し間隔により、その回転軸の周囲で割出すためのものであり、
前記割り出しは、周期的に固定割出し間隔を可変間隔長を有する複数の中間割出し間隔に分割することを含む、プログラム製品。
機械語 - 固定割出し間隔を複数の中間割出し間隔に分割するための実行可能な機械語もしくはコードが、固定割出し間隔を固定第1中間割出し間隔および固定第2中間割出し間隔に分割することを含む、請求項7に記載のプログラム製品。
- 固定割出し間隔を固定第1中間割出し間隔に分割するための実行可能な機械語もしくはコードが、固定第1中間割出し間隔を複数の可変下位間隔に再分割することを含む、請求項8に記載のプログラム製品。
- 固定第1中間割出し間隔(T)を複数の可変下位間隔に再分割するための実行可能な機械語もしくはコードが、固定第1中間割出し間隔(T)を、固定第1中間割出し間隔(T)以下の第1可変下位間隔(N)に再分割することおよび、固定第1中間割出し間隔(T)を、M=T−Nとなるような固定第1中間割出し間隔(T)と第1可変下位間隔(N)の数学的な差に等しい第2可変下位間隔(M)にさらに再分割することを含む、請求項9に記載のプログラム製品。
- 固定第1中間割出し間隔を第1可変下位間隔に再分割するための実行可能な機械語もしくはコードは、個別の反応容器が、前記第1リング位置から前記固定第1中間割出し間隔以下のいくつかの反応容器支持位置分だけ離れている第2リング位置に位置するときにはいつでも、個別の固定位置リソースを待っている個別の反応容器を、個別の固定位置リソースに対応する第1リング位置にむかって割出しすることを含む、請求項10に記載のプログラム製品。
- 固定第1中間割出し間隔を第2可変下位間隔に再分割するための実行可能な機械語もしくはコードは、試料分析器を同期させるために、さらに個別の反応容器を、固定位置リソースに対応するリング位置から間隔M割出しすることを含む、請求項11に記載のプログラム製品。
- 反応容器を支持するための複数の反応容器支持位置および回転軸を有する、反応容器支持リング、
複数の試薬の1つが入っている試薬容器を保管するための、反応容器支持リングと同心でかつ同軸の試薬保管リング、
少なくとも1つの反応容器に対してある処理を行うための固定位置に配置されたリソース、
固定割出し間隔に従って反応容器支持リングを動かすように構成され、かつ、最初に固定割出し間隔を実施することなく個別の反応容器を利用可能なリソースに移動するために、固定割出し間隔の代わりに複数の中間割出し間隔を用いる構成および配置になっている制御装置、
からなる、測定される試料の濃度を分析するための試料分析器。 - 複数の試薬アームのうち少なくとも1つが角状アームである、試薬を試薬の入った容器から反応容器に移すための複数の試薬アームからさらになる、請求項13に記載の試料分析器。
- 第1試薬アームが固定アームで、かつ第2試薬アームが角状アームである、請求項14に記載の試料分析器。
- 第1試薬アームが角状アームで、かつ第2試薬アームが角状アームである、請求項14に記載の試料分析器。
- リソースが、光度計、光学比濁計、反応容器の装填、取り外しまたは移動装置、アリコート操作リング、および化学発光読み取り器からなる群から選択される、請求項13に記載の試料分析器。
- 制御装置が、固定割出し間隔を、第1および第2中間割出し間隔の各々が固定間隔長あるいは可変間隔長を有する、第1中間割出し間隔および第2中間割出し間隔に再分割するように構成される、請求項13に記載の試料分析器。
- 第1中間割出し間隔を、第1可変下位間隔および第2可変下位間隔に再分割し、
個別の反応容器を、第1可変下位間隔によって、利用可能なリソースの固定位置に対応する中間割出しリング位置に動かし、
前記個別の反応容器が利用可能なリソースにおいて処理された後、前記個別の反応容器を、試料分析器を同期させるために、第2可変下位間隔によって動かし、かつ
前記個別の反応容器を、第2割出し間隔によって動かす
ように制御装置が構成される、請求項18に記載の試料分析器。
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