JP2012503198A - 全てディジタルの見通し線(los)プロセッサアーキテクチャ - Google Patents
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Abstract
【選択図】 図4
Description
図2に示されているように、受信機50は、クアッド検出器52を含んでいる。クアッド検出器52は、入射放射(例えば、ターゲットで反射した送信パルスと、受信機をアクティブにジャミングするように送信されたパルスと、背景雑音)を検出して、アナログ信号53を発生する。更に、受信機50は、アナログ信号53を増幅する一群の前置増幅器54と、個別チャネルA、B、C、Dにおけるアナログ信号53をディジタル信号56に変換するA/Dコンバータ55とを含んでいる。ディジタル信号は、一連のサンプルを含んでいる。各サンプルは、サンプル又は時間のインデックスと、振幅とを有している。関連する特性が、時間のインデックスであるか、又は振幅であるかに応じて、文脈の中で、サンプルは、「サンプル」、「時間サンプル」、又は「振幅サンプル」と称され得る。ディジタルLOSプロセッサ57は、「パルス」を検出して、ターゲットへのLOSを計算して、更なる処理をして、ターゲットレポート58を生成する。プラットフォームをターゲットに誘導するために、ターゲットレポート58は、ディジタルバス62を介して、コマンド及び誘導プロセッサ60に渡される。プロセッサは、利得を提供する。利得は、ディジタルバス64を介して、前置増幅器に戻される。この図は、フロントエンドのA/D変換を除いて、パルスの検出とLOSの処理との全てが、ディジタルであって、メモリを含む単一のプロセッサ57において実施され得ることを示している。通常、受信機50は、プラットフォームにマウントされている。プラットフォームは、例えば、ミサイル、爆弾、又はスマートな発射体であって、ターゲットに誘導される。様々なディジタル機能を、異なるプロセッサに分けてもよい。全てディジタルのアーキテクチャは、標準のLOSプロセッサよりも、より小型で、より軽量で、使用電力がより少ない。全てディジタルのアーキテクチャは、重要なパルスの検出とLOSの計算との性能を向上し且つ更なる機能を提供するために、ディジタル処理技術を実施するプラットフォームを提供する。
LOSプロセッサの全体的な性能にとって、パルスの最初の検出と獲得は重要である。パルスの検出は、サンプルの振幅と閾値との単純な比較に基づく。振幅が閾値を越えると、サンプルは、「パルス」のサンプルと宣言され、さもなければ、「雑音」のサンプルである。下流の時間相関とPDLとにより、雑音又はジャミングパルスの中から、EMパルスのシーケンスを抽出できるが、最初に検出される非EMパルスの数を制限するのが望ましい。これらの不要なパルスは、緩衝器を満たすか、又はプロセッサのスループットを制限する場合がある。極端な場合に、真のEMパルスを緩衝器に保存できない場合があるか、又は、保存した場合に、パルスの全てを処理して、EMパルス列を捕捉して、LOSの計算を行なうときに、許容できない遅延になり得る。
全てディジタルのLOSプロセッサアーキテクチャは、パルスの検出時に獲得される個別のクアッドチャネル(individual quad channel)に対する4つの最大値を単に受け入れるのではなく、更に優れた向上したLOSの処理のプラットフォームを提供する。パルスを検出すると、メモリ制御装置は、各チャネルに対する複数のサンプルをメモリに記憶する。複数のサンプルは、閾値よりも高い振幅を有する全ての「パルス」のサンプルと、閾値よりも低い振幅を有する幾つかの先端及び後端のサンプルとを含む。1つの実施形態において、1行のうちの3つが閾値よりも低くなるまで、3つの先端のサンプルを記憶して、後端のサンプルを記憶する。獲得されたパルスの強度と閾値とに応じて、これらの先端及び後端のサンプルは、パルスエネルギと雑音とを獲得することができる。プロセッサは、パルス幅を推定して、パルス幅によって規定されるスケールファクタと論理とに基づいて、記憶されている振幅サンプルに曲線を当てはめて、各個別チャネルに対するピーク振幅を推定して、推定ピーク振幅から、ターゲットへのLOSを計算する。プロセッサは、(パルスを検出するために使用される)最強SNRチャネルを選択して、スケールファクタと、処理されるサンプルと、制御論理とを決定するように構成されている。次に、これらのパラメータを、全ての個別チャネルに適用する。その結果、推定ピーク振幅は、サンプリングされたアナログパルス波形のピーク振幅をより正確に表わし、従って、LOSの計算がより正確になる。
−Yaw LOS=(D−C)÷(D+C)
・ケース2 Bチャネルの欠落。
−Yaw LOS=(D−C)÷(D+C)
・ケース3 Cチャネルの欠落。
−Yaw LOS=(A−B)÷(A+B)
・ケース4 Dチャネルの欠落。
−Yaw LOS=(A−B)÷(A+B)
図15に示されているように、チャネルのうちの任意の1本が飽和している(即ち、1つ以上のサンプル302が、飽和閾値304よりも高く、その振幅が、圧縮又は飽和して受信機のハードウェアに入り、従って不正確であることを示す)場合に、曲線の当てはめアルゴリズムを無視して、飽和する前の第1の不飽和サンプル306をピーク推定値として使用する。これらのチャネルが飽和しているかどうかにかかわらず、各チャネルに対して、同じ時間サンプルを使用する。このアプローチはSNRを下げるが、それにもかかわらず、これは正確なLOSの推定値を提供する。EMパルスを恐らく飽和させるので、従って、第1の先端のサンプルの振幅は強力なはずである。このアプローチは、受信機ハードウェアの固有の限界を超えて、LOSプロセッサのダイナミックレンジを効果的に拡張する。
広義において、対策は、「ジャマー」パルスと、既知のソースからのEMパルスとを区別して、ジャマーパルスをできるだけ上流で取り除いて、メモリ又はプロセッサを埋めるのを回避する、様々な技術を含む。
Claims (42)
- ソースが既知のパルス繰り返し間隔で電磁(EM)パルスを放射し、前記ソースからターゲットで反射した前記電磁パルスを検出して、前記ターゲットへの見通し線(LOS)を計算する、ディジタル見通し線(LOS)プロセッサであって、
多重チャネル検出器からのそれぞれのアナログ信号を、それぞれの個別チャネルにおける複数のディジタル信号に変換するように構成されている、複数のA/Dコンバータと、
各ディジタル加算器が、異なる複数の前記ディジタル信号を加算して、異なる加算チャネルにおけるディジタル信号を生成するように構成されている、少なくとも1つのディジタル加算器と、
少なくとも1本の加算チャネルを含む複数のチャネルにおける複数のディジタル信号のサンプルの振幅と、それぞれの検出閾値とを比較して、パルスを検出するように構成されている、複数のディジタルパルス検出器と、
メモリと、
前記ディジタルパルス検出器のうちの任意の1つによってパルスを検出したときに、前記個別チャネルの各々に対する複数のサンプルを前記メモリに記憶する、メモリ制御装置と、
メモリに記憶されている、前記個別チャネルに対する前記サンプルの振幅を処理して、前記ターゲットへのLOSを計算するように構成されている、埋め込みプロセッサと、
を具備する、ディジタルLOSプロセッサ。 - 前記多重チャネル検出器は、クアッド検出器を含み、
前記クアッド検出器は、第1のアナログ信号と、第2のアナログ信号と、第3のアナログ信号と、第4のアナログ信号とを出力する、請求項1のディジタルLOSプロセッサ。 - 前記ディジタル加算器と、前記ディジタルパルス検出器と、前記メモリと、前記メモリ制御装置と、前記埋め込みプロセッサは、単一のディジタルプロセッサにおいて統合されている、請求項1のディジタルLOSプロセッサ。
- 複数の有限インパルス応答(FIR)整合フィルタを更に具備し、
前記FIR整合フィルタは、前記それぞれの複数のディジタルチャネル信号を処理して、前記個別チャネルにおける前記それぞれのフィルタにかけられた信号を、前記ディジタル加算器と前記ディジタルパルス検出器とに出力し、
前記FIR整合フィルタは、前記EMソースに関連する名目パルス幅を有するパルス波形からサンプリングされた複数のフィルタ係数を有する、請求項1のディジタルLOSプロセッサ。 - 前記埋め込みプロセッサは、
前記FIR整合フィルタの前記名目パルス幅を適応させるために、前記メモリに記憶されている前記サンプルの前記振幅からのパルス幅と、前記A/Dコンバータのサンプリング期間とを計算するように構成されている、請求項4のディジタルLOSプロセッサ。 - パルスを検出すると、前記メモリ制御装置は、各個別チャネルに対して、
前記検出閾値未満の振幅を有する少なくとも1つの先端の雑音のサンプルと、
前記検出閾値を超えた振幅を有する少なくとも1つのパルスのサンプルと、
前記検出閾値未満の振幅を有する少なくとも1つの後端の雑音のサンプルと、
を、前記メモリに記憶する、請求項1のディジタルLOSプロセッサ。 - 前記埋め込みプロセッサは、
前記パルス繰り返し間隔に対する前記検出されたパルスの時間相関をとって、パルスの1つ以上の候補シーケンスに選択を絞り込んで、
前記候補シーケンス中の前記パルスの各々から、弁別パラメータを抽出して、
前記候補シーケンスに対する前記弁別パラメータと時間相関の誤差とを評価して、パルスのターゲットシーケンスを捕捉して追跡して、前記LOSを計算するように構成されている、請求項1のディジタルLOSプロセッサ。 - 前記埋め込みプロセッサは、
各パルスに対する最強SNRチャネルを決定して、
前記最強SNRチャネルにおける前記検出されたパルスに対して時間相関をとって、
前記最強SNRチャネルからの前記候補シーケンス中の前記パルスから、弁別パラメータを抽出するように構成されている、請求項7のディジタルLOSプロセッサ。 - 前記埋め込みプロセッサは、個別のパルスのための前記弁別パラメータと、前記候補シーケンスにわたるパルスのための合同の弁別パラメータと、時間相関の誤差とを組み合わせて、関連誤差にするように構成されていて、
前記候補シーケンスを許可又は拒絶するために、前記関連誤差を評価する、請求項7のディジタルLOSプロセッサ。 - 前記合同の弁別パラメータは、前記候補シーケンス中の個別のパルスのための前記弁別パラメータに対する一様性のメトリックを含む、請求項9のディジタルLOSプロセッサ。
- 前記埋め込みプロセッサは、前記ターゲットシーケンスに対する最後に検出されるパルスよりも前に、前記パルス繰り返し間隔に追跡ゲートを配置して、次に検出されるパルスを捕捉するように構成されていて、
前記ターゲットシーケンス中の追跡パルス数が増加すると、前記埋め込みプロセッサは、前記追跡ゲートの幅を適応させて、名目上小さくする、請求項7のディジタルLOSプロセッサ。 - 前記埋め込みプロセッサは、前記ターゲットシーケンスに対する最後に検出されるパルスよりも前に、前記パルス繰り返し間隔に追跡ゲートを配置して、次に検出されるパルスを捕捉するように構成されていて、
前記追跡ゲート内に、複数の検出されたパルスがある場合に、
前記埋め込みプロセッサは、
弁別パラメータに基づいて、パルスを除去して、
残りのパルスから、(a)最大振幅を有するパルス、(b)前記追跡ゲートの中心に最も近いパルス、或いは(c)最後のパルス又は最初のパルスを選択することができる、請求項7のディジタルLOSプロセッサ。 - 前記パルス繰り返し間隔の繰り返し率よりも1オクターブを超えた高い繰り返し率で発生するパルスを取り除くフィルタ、を更に具備する、請求項7のディジタルLOSプロセッサ。
- 前記埋め込みプロセッサは、前記メモリに記憶されている前記サンプルの前記振幅と、前記A/Dコンバータのサンプリング期間とから、パルス幅を計算するように構成されている、請求項1のディジタルLOSプロセッサ。
- 前記埋め込みプロセッサは、
現在のパルスの最強SNRチャネルに対する前記パルス幅を計算して、
全てのチャネルに対して、前記パルス幅を使用するように構成されている、請求項14のディジタルLOSプロセッサ。 - 前記埋め込みプロセッサは、ピークエネルギに対するパルス電力の比として、前記パルス幅を計算するように構成されている、請求項14のディジタルLOSプロセッサ。
- パルスを検出すると、前記メモリ制御装置は、各前記個別チャネルに対して、
前記検出閾値を超えた振幅を有する全てのパルスのサンプルと、
前記検出閾値未満の振幅を有する、少なくとも、1つの先端のサンプルと1つの後端のサンプルと、
を記憶して、
前記埋め込みプロセッサは、
パルス幅の閾値の固定インクリメントを、最大サンプル振幅未満に設定して、
前記パルス幅の閾値を超えた振幅を有する全てのサンプルに対する振幅と、前記パルス幅の閾値未満の振幅を有する少なくとも1つの前方のサンプルに対する加重振幅と、前記パルス幅の閾値未満の振幅を有する少なくとも1つの後方のサンプルに対する加重振幅とを加算して、
前記サンプリング期間によって前記和を乗算して、前記パルス電力を推定するように構成されている、請求項16のディジタルLOSプロセッサ。 - 前記埋め込みプロセッサは、
前記チャネルを処理して、パルス幅を推定して、第1のスケールファクタを提供して、
最大振幅を有する時間サンプルと次の最高振幅を有する時間サンプルとを選択して、
前記パルス幅を使用して、平均論理又は曲線の当てはめ論理を選択して、
前記第1のスケールファクタを使用する前記選択された曲線の当てはめ論理、又は平均論理を、前記最大振幅と前記次の最高振幅とに適用して、ピーク振幅を推定して、
前記個別チャネルに対する前記推定されたピーク振幅から、前記ターゲットへのLOSを計算するように構成されている、請求項1のディジタルLOSプロセッサ。 - 前記埋め込みプロセッサは、
最強SNRチャネルを決定して、
前記最強SNRチャネルを処理して、
(a)前記最強SNRチャネルに対するパルス幅を推定して、第1のスケールファクタを提供して、
(b)2つの最高振幅を有する時間サンプルを選択して、
(c)前記パルス幅を使用して、平均論理又は曲線の当てはめ論理を選択して、
前記個別チャネルを処理して、
(d)前記2つの選択された時間サンプルから、最大振幅を有する時間サンプルと最小振幅を有する時間サンプルとを識別して、
(e)前記第1のスケールファクタを使用する前記選択された曲線の当てはめ論理、又は平均論理を、前記最大振幅と前記最小振幅とに適用して、ピーク振幅を推定して、
前記個別チャネルに対する前記推定されたピーク振幅から、ターゲットへのLOSを計算するように構成されている、請求項1のディジタルLOSプロセッサ。 - 前記埋め込みプロセッサは、
前記パルス幅と閾値の幅とを比較して、
前記閾値よりも大きいパルス幅に対して、平均論理を選択して、
前記閾値よりも小さいパルス幅に対して、曲線の当てはめ論理を選択するように構成されている、請求項19のディジタルLOSプロセッサ。 - 前記曲線の当てはめ論理を適用するときに、前記埋め込みプロセッサは、
前記第1のスケールファクタと、前記最小振幅に対する前記最大振幅の比とを使用して、第2のスケールファクタを計算して、前記最大振幅をスケーリングして、前記ピーク振幅を推定して、
前記比が1に近付くと、前記第1のスケールファクタがより小さくなり、前記第2のスケールファクタがより大きくなるように、前記第2のスケールファクタが定義される、請求項20のディジタルLOSプロセッサ。 - 前記第1のスケールファクタと前記比との積が、最も狭い予想パルス幅に対する最大値と、前記パルスの前記ピーク振幅における最大振幅とを達成するように、前記パルス幅から前記第1のスケールファクタを決定して、
前記積が前記最大値を超えている場合に、前記埋め込みプロセッサは、
1に等しい前記第2のスケールファクタを設定して、前記最大振幅を、前記ピーク振幅の推定値として出力するように構成されている、請求項21のディジタルLOSプロセッサ。 - 前記曲線の当てはめ論理を各チャネルに適用するときに、前記埋め込みプロセッサは、
(a)前記最小振幅に対する最大振幅の比を、前記スケールファクタによって乗算して、当てはめパラメータを定義して、
(b)max fitが前記当てはめパラメータの許容最大値である場合に、前記最大振幅を、[1+(max fit−当てはめパラメータ)/(2×max fit)]によって乗算して、前記ピーク振幅を推定するように構成されている、請求項19のディジタルLOSプロセッサ。 - 前記検出されたパルスは、
前記検出閾値を超えた振幅を有するパルスのサンプルと、
前記検出閾値未満の振幅を有する雑音のサンプルと、を含み、
前記ディジタルLOSプロセッサは、
前記複数のディジタルパルス検出器と対にされた複数の閾値プロセッサ、を更に具備しており、
各前記閾値プロセッサは、
前記チャネルにおける前記雑音のサンプルを処理して、雑音を推定して、
前記チャネルの雑音の関数として、パルス繰り返し間隔当たりに、前記検出閾値を複数回更新する、請求項1のディジタルLOSプロセッサ。 - 各前記閾値プロセッサは、
定誤警報率(CFAR)係数と前記チャネルの雑音との関数として、前記検出閾値を更新するように構成されている、請求項24のディジタルLOSプロセッサ。 - パルスカウントが、指定期間に対して定められた最大カウントを超えると直ぐに、前記埋め込みプロセッサは、前記CFAR係数を上げるように構成されている、請求項25のディジタルLOSプロセッサ。
- 前記埋め込みプロセッサは、
前記指定期間の最後において、前記パルスカウントが最小カウント未満である場合に、前記CFAR係数を下げるように構成されており、
前記指定期間よりも短い所定の部分的期間の間、前記パルスカウントがゼロである場合に、前記CFAR係数をより積極的に下げるように構成されている、請求項26のディジタルLOSプロセッサ。 - 前記パルス繰り返し間隔に対する繰り返し率よりも1オクターブを超えた高い繰り返し率で発生するパルスを取り除くフィルタ、を更に具備する、請求項1のディジタルLOSプロセッサ。
- 前記ディジタル加算器は、前記ディジタル信号の全てを加算して、一次加算チャネルにおけるディジタル信号を生成する、請求項1のディジタルLOSプロセッサ。
- 前記複数のディジタルパルス検出器は、
前記一次加算チャネルと前記個別チャネルの各々における複数の前記ディジタル信号のサンプルの振幅と、それぞれの検出閾値とを比較して、パルスを検出するように構成されている、請求項29のディジタルLOSプロセッサ。 - 前記ディジタルLOSプロセッサは、
それぞれの二次加算チャネルにおけるディジタル信号を生成するために、前記個別チャネルにおける全ての前記ディジタル信号よりも少ないディジタル信号の異なるサブセットを加算するように構成されている、複数のディジタル加算器、を更に具備し、
前記複数のディジタルパルス検出器は、
前記一次加算チャネルと前記二次加算チャネルとの各々における複数の前記ディジタル信号のサンプルの振幅と、それぞれの検出閾値とを比較して、パルスを検出するように構成されている、請求項29のディジタルLOSプロセッサ。 - 前記複数のディジタル加算器は、前記二次加算チャネルを形成するために、異なる対のディジタル信号を加算する、請求項31のディジタルLOSプロセッサ。
- 前記複数のディジタルパルス検出器は、前記個別チャネルの各々と、前記一次加算チャネルと、前記二次加算チャネルの各々とにおける複数の前記ディジタル信号のサンプルの振幅と、それぞれの検出閾値とを比較して、パルスを検出するように構成されている、請求項31のディジタルLOSプロセッサ。
- 前記ディジタルLOSプロセッサは、
前記ターゲットへの推定LOSに基づいて、比較的に低いSNRを有する、一次及び二次加算チャネル又は個別チャネルの1本以上に対して、前記ディジタルパルス検出器を選択的にデアクティブにするように構成されている、請求項33のディジタルLOSプロセッサ。 - 前記多重チャネル検出器は、比較的により高いSNRのチャネルを、前記ターゲットに向けるように操縦されて、
前記ディジタルLOSプロセッサは、
前記ターゲットに向けられていない、比較的により低いSNRの1本以上の前記チャネルに対して、前記ディジタルパルス検出器をデアクティブにするように構成されている、請求項33のディジタルLOSプロセッサ。 - 前記ディジタルLOSプロセッサは、
どのチャネルが比較的に高いSNRを有する可能性が高く、どのチャネルが比較的に低いSNRを有する可能性が高いかを決定して、
比較的に低いSNRを有する、加算チャネル又は個別チャネルの1本以上に対して、前記ディジタルパルス検出器を選択的にデアクティブにするように構成されている、請求項1のディジタルLOSプロセッサ。 - ソースが既知のパルス繰り返し間隔で電磁(EM)パルスを放射し、前記ソースからターゲットで反射した前記電磁パルスを検出して、前記ターゲットへの見通し線(LOS)を計算する、ディジタルLOSプロセッサであって、
多重チャネル検出器からのそれぞれのアナログ信号を、それぞれの個別チャネルにおける複数のディジタル信号に変換するように構成されている、複数のA/Dコンバータと、
一次加算チャネルにおけるディジタル信号を生成するために、前記複数のディジタル信号の全てを加算するように構成されている、ディジタル加算器と、
それぞれの二次加算チャネルにおける異なるディジタル信号を生成するために、前記複数のディジタル信号の全てよりも少ないディジタル信号の異なるサブセットを加算するように構成されている、複数のディジタル加算器と、
前記個別チャネルと、前記一次加算チャネルと、前記二次加算チャネルとにおける前記複数のディジタル信号のサンプルの振幅と、それぞれの検出閾値とを比較して、前記検出閾値を超えた振幅を有するパルスのサンプルと、前記検出閾値未満の振幅を有する雑音のサンプルとを含むパルスを検出するように構成されている、複数のディジタルパルス検出器と、
前記既知のパルス繰り返し間隔に対する繰り返し率よりも1オクターブを超えた高い繰り返し率で発生するパルスを取り除くように構成されている、フィルタと、
前記加算チャネルと前記個別チャネルの各々とにおける前記雑音のサンプルを処理して、各チャネルにおける雑音を推定して、前記チャネルの雑音と定誤警報率(CFAR)係数との関数として、パルス繰り返し間隔当たりに複数回、前記検出閾値を更新するように構成されている、複数の閾値プロセッサと、
メモリと、
前記ディジタルパルス検出器のうちの任意の1つによってパルスを検出すると、各前記個別チャネルに対して、少なくとも、1つのパルスと、1つの先端の雑音のサンプルと、1つの後端の雑音のサンプルとを含む複数のサンプルを、前記メモリに記憶する、メモリ制御装置と、
(a)各パルスに対する最強SNRチャネルを決定して、(b)前記既知のパルス繰り返し間隔に対して、前記最強SNRチャネルにおける前記検出されたパルスの時間相関をとって、1本以上の候補シーケンスに選択を絞り込んで、前記最強SNRチャネルにおける個別のパルスからパルスの特徴を抽出して、前記候補シーケンス全体にわたる合同の特徴を計算して、前記パルスの特徴と、前記合同の特徴と、時間相関の誤差とを組み合わせて、パルスのターゲットシーケンスを捕捉して追跡して、(c)前記最強SNRチャネルからの前記ターゲットシーケンス中の前記パルスの前記サンプルの振幅を処理して、曲線の当てはめを決定して、前記曲線の当てはめを、メモリに記憶されている前記個別チャネルに対する前記サンプルに適用して、ピーク振幅を推定して、前記ターゲットへのLOSを計算するように構成されている、埋め込みプロセッサと、
を具備する、ディジタルLOSプロセッサ。 - 前記埋め込みプロセッサは、
メモリに記憶されている前記振幅のサンプルからの前記最強SNRチャネルにおける各パルスに対するパルス幅であって、パルスの特徴として使用されるパルス幅と、前記A/Dコンバータのサンプリング期間とを計算して、前記曲線の当てはめを決定するように構成されている、請求項37のディジタルLOSプロセッサ。 - 前記埋め込みプロセッサは、
ピークエネルギに対するパルス電力の比として、前記パルス幅を計算するように構成されている、請求項38のディジタルLOSプロセッサ。 - 前記埋め込みプロセッサは、
前記パルス幅から第1のスケールファクタを計算して、
2つの最高振幅を有する前記最強SNRチャネルから時間サンプルを選択して、
前記パルス幅とパルス幅の閾値とを比較して、平均論理又は曲線の当てはめ論理を選択して、
各個別チャネルを処理して、前記選択された2つの時間サンプルから、最大振幅を有する時間サンプルと、最小振幅を有する時間サンプルとを識別して、
前記第1のスケールファクタを使用する前記選択された曲線の当てはめ論理、又は前記平均論理を、前記最大振幅と前記最小振幅とに適用して、ピーク振幅を推定して、
前記個別チャネルに対する前記推定されたピーク振幅から、前記ターゲットへのLOSを計算するように構成されている、請求項38のディジタルLOSプロセッサ。 - 前記埋め込みプロセッサは、
パルスカウントが指定期間に対して定められた最大カウントを超えると直ぐに、CFAR係数を上げて、
カウント期間をリセットするように構成されている、請求項37のディジタルLOSプロセッサ。 - 前記ディジタルLOSプロセッサは、
どのチャネルが比較的に高いSNRを有する可能性が高く、どのチャネルが比較的に低いSNRを有する可能性が高いかを決定して、
比較的に低いSNRを有する、一次及び二次加算チャネル又は個別チャネルの1本以上に対して、前記ディジタルパルス検出器を選択的にデアクティブにするように構成されている、請求項37のディジタルLOSプロセッサ。
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