JP2012251887A - 電極パターン検査装置 - Google Patents

Abstract

【課題】互いに間隔をあけて一方向に並列配置された複数の線状の電極部と当該複数の電極部の一端部同士及び他端部同士を互いに短絡する一対の短絡部とを有する電極パターンを、短時間で安価に検査することができる電極パターン検査装置を提供する。
【解決手段】電極パターン検査装置５００は、トナー担持ローラ１７の外周面に設けられた互いに間隔をあけて一方向に並列配置された複数の電極部２６ａと当該複数の電極部２６ａの一端部同士及び他端部同士を互いに短絡する一対の被給電部２６ｂ、２６ｃとを有する外側電極２６の検査を行う。電極パターン検査装置５００は、複数の電極部２６ａに電流を流して、当該複数の電極部２６ａ上における磁界の強さの上記一方向（トナー担持ローラ１７の周方向）に沿う変化態様を取得して、当該変化態様に基づいて複数の電極部２６ａのそれぞれが正常又は異常であるか判定する。
【選択図】図４

Description

本発明は、例えば、円筒形状又は平板形状などの基体上に設けられた電極パターンを検査する検査装置に関し、特に、互いに間隔をあけて一方向に並列配置された複数の線状の電極部と当該複数の電極部の一端部同士及び他端部同士を互いに短絡する一対の短絡部とを有する電極パターンを検査する電極パターン検査装置に関する。

電子写真プロセスを用いる画像形成装置は、ドラム形状の像担持体としての感光体を有しており、この感光体の表面への放電によって該感光体の表面に電荷を与えて帯電させ、この帯電させた感光体の表面を露光して該感光体の表面に静電潜像を形成する。そして、画像形成装置は、現像装置によって前記感光体の表面に形成した静電潜像にトナーを供給して可視像化させ、この可視像を中間転写体に順次多重転写して中間転写体に多色画像を形成する。そして、画像形成装置は、この多色画像を記録紙等の記録媒体に静電的に一括再転写して、画像ズレのない多色画像を形成している。

このような画像形成装置において用いられる現像装置は、トナーを感光体まで搬送する現像剤担持体を有している。そして、このような現像剤担持体として、図１３に示す構成ものが知られている（特許文献１を参照）。図１３に示す現像剤担持体１０３は、絶縁層で覆われた円筒状の内側電極３３（即ち、基体）の外周面上に、軸方向に平行な直線状に形成されるとともに互いに間隔をあけて周方向に並列して配設された複数の電極部３４ａを有する外側電極３４（即ち、電極パターン）が設けられている。これら複数の電極部３４ａは、一端部同士及び他端部同士が互いに短絡されている。

上述の現像剤担持体１０３は、外側電極３４と内側電極３３とに対して時間的に変化する互いに異なる電圧をそれぞれ印加して、互いに近接するこれら電極間に時間的に変化する電界を形成することにより、互いに近接する外側電極３４と内側電極３３と間でトナーを飛翔させることができる。このようにトナーが飛翔する現象を「フレア」という。これにより、現像剤担持体１０３の外周面近傍の空間においてトナーが雲状に浮遊する、いわゆる、トナーがクラウド化した状態が生じて、現像剤担持体を感光体に接触させることなく当該感光体にトナーを供給することができた。

上述の現像剤担持体１０３が有する外側電極３４は、例えば、フォトリソ工法、スクリーン印刷工法、インクジェット工法、フレキソ印刷工法、オフセット印刷工法、グラビア印刷工法、エッチング、メッキ処理など、多様な方法又はこれら方法の組み合わせによって基体上に形成される。しかしながら、外側電極３４の複数の電極部３４ａは、非常に微細なものであるので、所望の形状を得ることが難しく、そのため、断線や、隣接する電極部との短絡、電極幅の変動（にじみ、欠け）、などの異常形状に形成されてしまうことがある。そして、このような異常形状の電極部３４ａにおいては、正常形状に対してインピーダンスなどの電気特性が変化してしまうので、当該電極部を流れる電流に異常が生じてしまう。そのため、上記電界にも異常が生じて所望のフレアを発生することができなくなり、これにより、感光体に供給するトナー量が変動して、形成された画像に濃度ムラなどを生じさせるおそれがあるという問題があった。そのため、上述したような異常形状の電極部３４ａを含む外側電極３４（即ち、電極パターン）を有する現像剤担持体１０３を検査によって排除する必要があった。

従来、このような電極パターンの検査方法として、例えば、複数の電極部のそれぞれの両端に一対のプローブピンを接触させて給電し、各電極部に流れる電流値又は各電極部の抵抗値を測定することにより検査する方法があった。しかしながら、複数の電極部を１本ずつ検査するので、効率が非常に悪いという問題があった。また、複数の電極部を同時に検査するプローブピンアレイを作製して検査を行うようにすることで効率を改善できるが、電極パターンの形状毎にプローブピンアレイを用意する必要があるので、多品種に対応することができないという別の問題があった。また、これら方法では、電極部にプローブピンを直接接触させるので、電極部にストレスを与えてしまうことがあり、電極部の電気特性などが変化してしまうおそれがあるという問題もあった。また、上記方法では、複数の電極部のそれぞれが互いに電気的に独立している必要があるので、上述したような複数の電極部の一端部同士及び他端部同士が互いに短絡された電極パターンを検査することができなかった。

また、非接触電圧センサを用いて複数の電極部を検査する方法が、特許文献２に開示されている。しかしながら、特許文献２の検査方法は、一端部同士のみが互いに短絡された櫛歯形状の複数の電極部において、互いに短絡されていない他端部における電圧を測定して検査するものであるので、この方法でも、上述したような電極パターンを検査することができなかった。

また、非接触の電界測定プローブを用いて、複数の電極部のそれぞれから発せられる電界を測定することで、上述したような電極パターンを検査する方法が考えられる。しかしながら、このような方法では、電界測定プローブが電極部の異常箇所近傍を走査しないと当該異常を検出できないので、複数の電極部全体を走査しなければならず、そのため、検査に長時間を要してしまうという問題があった。また、複数の電界測定プローブを用いて、１つのプローブ当たりの走査範囲を小さくすることで検査時間を短縮できるが、装置コストが上昇してしまうという別の問題があった。

本発明は、かかる問題を解決することを目的としている。即ち、本発明は、互いに間隔をあけて一方向に並列配置された複数の線状の電極部と当該複数の電極部の一端部同士及び他端部同士を互いに短絡する一対の短絡部とを有する電極パターンを、短時間で安価に検査することができる電極パターン検査装置を提供することを目的としている。

請求項１に記載された発明は、上記目的を達成するために、（ａ）互いに間隔をあけて一方向に並列配置された複数の線状の電極部と当該複数の電極部の一端部同士及び他端部同士を互いに短絡する一対の短絡部とを有する検査対象の電極パターンに、前記複数の電極部に電流が流れるように給電する給電部と、（ｂ）前記複数の電極部に流れる電流によって生じた磁界の強さに応じた信号を出力する非接触プローブと、（ｃ）前記非接触プローブを前記複数の電極部に近接させて保持する保持部と、（ｄ）前記非接触プローブに接続された検査部と、を有する電極パターン検査装置において、（イ）前記保持部が、前記非接触プローブを前記複数の電極部に対して前記一方向に相対移動可能に保持するように構成され、かつ、（ロ）前記検査部には、前記非接触プローブによって出力された前記信号に基づいて、前記複数の電極部上における前記磁界の強さの前記一方向に沿う変化態様を取得する取得手段と、前記取得手段によって取得された前記変化態様に基づいて、前記複数の電極部のそれぞれが正常か否かを判定する判定手段と、が設けられていることを特徴とする電極パターン検査装置である。

請求項２に記載された発明は、請求項１に記載された発明において、前記電極パターンが、円筒状の基体の外周面上に前記複数の電極部を周方向に並列配置するように設けられ、かつ、前記電極パターン検査装置が、前記基体の軸芯を中心として当該基体を回転可能に支持する基体支持部をさらに有していることを特徴とするものである。

請求項３に記載された発明は、請求項２に記載された発明において、前記保持部が、前記非接触プローブを前記基体の半径方向上に位置づけて保持するように構成されていることを特徴とするものである。

請求項４に記載された発明は、請求項２又は３に記載された発明において、前記電極パターンが、前記基体の軸芯と導通して設けられ、かつ、前記基体支持部が、前記基体の軸芯を回転可能に支持する導体からなる支持部材を有していることを特徴とするものである。

請求項１に記載された発明によれば、互いに間隔をあけて一方向に並列配置された複数の線状の電極部と当該複数の電極部の一端部同士及び他端部同士を互いに短絡する一対の短絡部とを有する電極パターンについて、給電部によって前記複数の電極部に電流を流して、保持部に保持された非接触プローブを上記一方向、即ち、複数の電極部の並列方向に相対移動させる。そして、検査部によって、非接触プローブから出力された信号に基づき、複数の電極部上における磁界の強さの前記一方向に沿う変化態様を取得して、この変化態様に基づいて複数の電極部のそれぞれが正常か否かを判定する。

例えば、複数の電極部が同一間隔で同一形状に形成されている場合、複数の電極部にはそれぞれ同一電流値の電流が流れるので、複数の電極部上における磁界の強さの前記一方向に沿う変化態様は、一定周期かつ一定範囲内で変化するものとなる。ここで、一部の電極部に断線や短絡などの異常が生じると、当該一部の電極部におけるインピーダンスなどの電気特性が変化するので、当該一部の電極部に流れる電流値が他の電極部に流れる電流値に対して変化し、そのため、当該一部の電極部の生じる磁界の強さが変化する。また、複数の電極部のうち任意の一の電極部を流れる電流は、当該一の電極部の長手方向のどの部分でも同一電流値となるので、当該電流によって生じる磁界の強さも長手方向に同一となる。したがって、複数の電極部の長手方向の一箇所についてのみ、磁界の強さの前記一方向（複数の電極部の並列方向）に沿う変化態様を取得して、当該変化態様に基づいて当該複数の電極部のそれぞれが正常か否かを判定することができる。

請求項２に記載された発明によれば、前記電極パターンが、円筒状の基体の外周面上に前記複数の電極部を周方向に並列配置するように設けられ、かつ、前記電極パターン検査装置が、前記基体の軸芯を中心として当該基体を回転可能に支持する基体支持部をさらに有しているので、円筒状の基体を回転可能に支持して、当該基体を回転させながらその外周面上に設けられた電極パターンの検査を行うことができる。

請求項３に記載された発明によれば、前記保持部が、前記非接触プローブを前記基体の半径方向上に位置づけて保持するように構成されているので、当該非接触プローブと任意の一の電極部とが半径方向に相対されたときに、当該一の電極部を非接触プローブに最も近接させることができる。

請求項４に記載された発明によれば、前記電極パターンが、前記基体の軸芯と導通して設けられ、かつ、前記基体支持部が、前記基体の軸芯を回転可能に支持する導体からなる支持部材を有しているので、給電部において電力を出力する一対の電極端子部のうち一方の電極端子部にのみ前記電極パターンに接続する接続端子を設け、他方の電極を支持部材に接続することにより、当該支持部材を通じて電極パターンに給電することができる。

以上より、請求項１に記載された発明によれば、互いに間隔をあけて一方向に並列配置された複数の線状の電極部と当該複数の電極部の一端部同士及び他端部同士を互いに短絡する一対の短絡部とを有する電極パターンについて、給電部によって前記複数の電極部に電流を流して、保持部に保持された非接触プローブを上記一方向、即ち、複数の電極部の並列方向に相対移動させ、そして、検査部によって、非接触プローブから出力された信号に基づき、複数の電極部上における磁界の強さの前記一方向に沿う変化態様を取得して、この変化態様に基づいて複数の電極部のそれぞれが正常か否かを判定するので、複数の電極部全体を走査することなく、複数の電極部の長手方向の一箇所について当該複数の電極部が並列された一方向に走査するのみで検査を行うことができ、そのため、電極パターンの検査を効率よく安価に行うことができる。

請求項２に記載された発明によれば、前記電極パターンが、円筒状の基体の外周面上に前記複数の電極部を周方向に並列配置するように設けられ、かつ、前記電極パターン検査装置が、前記基体の軸芯を中心として当該基体を回転可能に支持する基体支持部をさらに有しているので、円筒状の基体を回転可能に支持して、当該基体を回転させながらその外周面上に設けられた電極パターンの検査を行うことができ、そのため、例えば、ローラ状の現像剤担持体が備える電極パターンなど、円筒状の基体の外周面上に設けられた電極パターンの検査を効率よく安価に行うことができる。

請求項３に記載された発明によれば、前記保持部が、前記非接触プローブを前記基体の半径方向上に位置づけて保持するように構成されているので、当該非接触プローブと任意の一の電極部とが半径方向に相対されたときに、当該一の電極部が非接触プローブに最も近接され、そのため、他の電極部による磁界の影響が小さくなって、当該一の電極部による磁界の強さを正確に検出することができる。

請求項４に記載された発明によれば、前記電極パターンが、前記基体の軸芯と導通して設けられ、かつ、前記基体支持部が、前記基体の軸芯を回転可能に支持する導体からなる支持部材を有しているので、給電部において電力を出力する一対の電極端子部のうち一方の電極端子部にのみ前記電極パターンに接続する接続端子を設け、他方の電極端子部を支持部材に接続することにより、当該接続端子と当該支持部材とを通じて電極パターンに給電することができる。そのため、基体支持部により基体の支持と電極パターンへの給電とを同時に実現でき、上記接続端子と対をなす他の接続端子を他方の電極端子部に設けた場合に必要となる、当該他の接続端子を電極パターンに接触させる工程を省略することができる。よって、検査をより高速に行うことができる。

（ａ）は、本発明の電極パターン検査装置によって検査される電極パターンを有する現像剤担持体の一例であるトナー担持ローラを示す側面図であり、（ｂ）は、（ａ）のＡ１−Ａ１線に沿う拡大断面図である。 電極パターンの複数の電極部の異常形状を説明する図であって、（ａ）は断線、（ｂ）は隣接する他の電極部と短絡、（ｃ）は線幅が太くなるにじみ、（ｄ）は線幅が細くなる欠け、が生じた状態を示す図である。 （ａ）は、本発明の電極パターン検査装置によって検査される電極パターンを有する現像剤担持体の他の一例であるトナー担持板を示す上面図であり、（ｂ）は、（ａ）のＡ２−Ａ２線に沿う拡大断面図である。 本発明の電極パターン検査装置の第１の実施形態を示す斜視図である。 図４の電極パターン検査装置の検査部のＣＰＵが実行する本発明に係る処理（電極パターン検査処理１）の一例を示すフローチャートである。 トナー担持ローラの回転位置と当該回転位置における磁界強さとの関係を模式的に示す図であり、（ａ）は電極パターンの複数の電極部が正常な状態を示し、（ｂ）は複数の電極部の一部が断線している状態を示し、（ｃ）は複数の電極部の一部が短絡している状態を示す。 図４の電極パターン検査装置の変形例の構成を示す斜視図である。 図４の電極パターン検査装置の他の変形例の構成を示す斜視図である。 本発明の電極パターン検査装置の第２の実施形態を示す斜視図である。 図９の電極パターン検査装置の検査部のＣＰＵが実行する本発明に係る処理（電極パターン検査処理２）の一例を示すフローチャートである。 図９の電極パターン検査装置の変形例の構成を示す斜視図である。 トナー担持ローラの回転位置と当該回転位置における磁界強さとの関係について実測したグラフである。 画像形成装置において用いられる現像装置が有する現像剤担持体を示す図である。

以下に、
（Ａ）：検査対象となる電極パターンを備えた現像剤担持体
（Ｂ１）：本発明の電極パターン検査装置の第１の実施形態
（Ｂ２）：本発明の電極パターン検査装置の第２の実施形態
（Ｃ）：本発明の効果の検証
について順に説明する。

（Ａ）：検査対象となる電極パターンを備えた現像剤担持体
本発明の電極パターン検査装置では、例えば、図１（ａ）、（ｂ）に示すような現像剤担持体が有する電極パターンの検査を行うものである。まず、このような現像剤担持体の構成の一例について説明する。

図１（ａ）、（ｂ）に示すように、現像剤担持体としてのトナー担持ローラ１７は、円筒状の基体からなる内側電極２５と、絶縁層２４と、電極パターンとしての外側電極２６と、表層２３と、軸芯２７と、を有している。

内側電極２５は、ＳＵＳやアルミニウム等の導電性材料を円筒状に成型した金属ローラ基体である。この内側電極２５の外周面には、当該内側電極２５の一端部２５ａを除いた部分にポリカーボネートやアルキッドメラミン等で形成された絶縁層２４が密に重ねて形成されている。絶縁層２４の層厚は、３μｍ〜５０μｍの範囲内に設定されている。

絶縁層２４の上には外側電極２６が形成されている。外側電極２６は、アルミニウム、銅、銀などの金属で形成されている。外側電極２６は、内側電極２５の軸方向に平行な均一幅の直線状に形成されるとともに互いに同一間隔をあけて内側電極２５の周方向（請求項中の「一方向」に相当）に並列配置された複数の電極部２６ａと、複数の電極部２６ａの一端部同士を連接する一方の被給電部２６ｂと、複数の電極部２６ａの他端部同士を連接する他方の被給電部２６ｃと、を有している。複数の電極部２６ａは、それぞれが同一形状に形成されている。

これら複数の電極部２６ａ、一方の被給電部２６ｂ及び他方の被給電部２６ｃは一体に形成されており、全体として１つの梯子形状の外側電極２６を構成している。外側電極２６は、例えば、絶縁層２４の上にメッキや蒸着によって金属膜を形成し、フォトレジスト・エッチングによって梯子形状に形成されている。または、外側電極２６は、インクジェット方式やスクリーン印刷によって導電ペーストを絶縁層２４の上に付着させて形成されていてもよく、本発明の目的に反しない限り、その形成方法は任意である。被給電部２６ｂ、２６ｃは、請求項中の一対の短絡部に相当する。

外側電極２６の複数の電極部２６ａ及び絶縁層２４は、表層２３により覆われている。これにより、内側電極２５の一端部２５ａ及び外側電極２６の一対の被給電部２６ｂ、２６ｃが露出された状態となる。表層２３の材料として、シリコーン、ポリアミド、ウレタン、アルキッドメラミン、ポリカーボネート等が使用される。表層２３の層厚としては、３μｍ〜４０の範囲内に設定されている。なお、図１（ａ）において、説明の便宜上、表層２３は記載を省略している。軸芯２７は、硬質の導電性金属を用いて内側電極２５より外径の小さい円柱棒状に形成されており、内側電極２５の両端面から当該内側電極２５と同軸に突出して設けられている。

内側電極２５と軸芯２７とは導通されている。また、外側電極２６の一方の被給電部２６ｂには、内側電極２５の一端部２５ａまで伸びる片部２６ｄが設けられており、この片部２６ｄによって、外側電極２６と内側電極２５とが導通されている。つまり、外側電極２６と軸芯２７とについても導通されている。この片部２６ｄは、後述する電極パターン検査装置による検査終了後に取り除かれて、外側電極２６と内側電極２５とが絶縁される。

トナー担持ローラ１７では、内側電極２５と外側電極２６との間で作られる電界、より詳しくは、内側電極２５の外側電極２６とは対向していない部分（外側電極２６の複数の電極部２６ａ間に位置する内側電極２５の部分）と外側電極２６の複数の電極部２６ａとの間で作られる電界が、表層３６の外側に形成されることで、トナー担持ローラ１７上のトナーをホッピングさせ、これによりトナーをクラウド化させる。このとき、トナー担持ローラ１７上のトナーは、内側電極２５に絶縁層２４を介して対向した表層２３上の部分Ａと、これに隣接する外側電極２６の電極部２６ａに対向した表層２３上の部分Ｂとの間を、飛翔しながら往復移動するように、ホッピングすることになる。

トナーを安定してクラウド化させるためには、相応する大きさのフレア用電界を形成することが重要となるが、このような大きなフレア用電界を形成するためには内側電極２５と外側電極２６との間に大きな電位差を形成する必要がある。しかし、このような大きな電位差を安定して形成するためには、各電極の形状、特に、外側電極２６の複数の電極部２６ａの形状を精度良く形成する必要がある。

例えば、外側電極２６の複数の電極部２６ａの一部に、図２（ａ）に示すような断線、図２（ｂ）に示すような短絡、図２（ｃ）に示すようなにじみ、図２（ｄ）に示すような欠け、などの異常形状が生じると、当該異常形状の電極部２６ａの電気特性が変化する。これにより、当該異常形状の電極部２６ａを流れる電流と他の正常な電極部２６ａを流れる電流とに差異が生じてしまうので、当該異常形状の電極部２６ａにより生じる電界に異常が生じて適正なフレア用電界を形成することができなくなり、画像シロ抜けや濃度ムラなどの異常発生原因となる。本発明に係る電極パターン検査装置では、このような異常形状の電極の有無等について検査することができる。

また、現像剤担持体として、上述したトナー担持ローラ１７以外にも、例えば、図３（ａ）、（ｂ）に示すトナー担持板１８のように構成されたものであってもよい。このトナー担持板１８は、内側電極２５が矩形板状の基体であること、複数の電極部２６ａが内側電極２５の幅方向（図３（ａ）の上下方向であり、請求項中の「一方向」に相当）に並列配置されていること、及び、軸芯２７を有しないこと以外は、上述したトナー担持ローラ１７と同様に構成されている。

（Ｂ１）：本発明の電極パターン検査装置の第１の実施形態
次に、電極パターン検査装置の第１の実施形態について、図４〜図８を参照して説明する。この電極パターン検査装置は、図１（ａ）、（ｂ）に示すトナー担持ローラ１７の外側電極２６の検査に用いられる。

図４に示すように、電極パターン検査装置（図中、符号５００で示す）は、ベース部５０５と、給電部５１０と、非接触プローブ５２０と、保持部５３０と、基体支持部５４０と、検査部５５０と、を有している。

ベース部５０５は、例えば、鋼鉄などの金属で平板状に形成されており、工場のフロアや作業台などに設置される。このベース部５０５の上面には、保持部５３０及び基体支持部５４０が設けられている。

給電部５１０は、例えば、周知のシグナルジェネレータなどで構成されており、任意の波形、任意の周波数でかつ任意の大きさの電力（即ち、電流）を出力する。この給電部５１０には、当該電力を出力する図示しない一対の電極端子部が設けられており、これら電極端子部には、導体片からなる一対の接続端子５１１ａ、５１１ｂが電線を介して接続されている。つまり、給電部５１０は、接続端子５１１ａ、５１１ｂ間に所定の電力を出力することができる。一方の接続端子５１１ａは、後述する基体支持部５４０に支持されたトナー担持ローラ１７の外側電極２６の他方の被給電部２６ｃに当接され、他方の接続端子５１１ｂは、トナー担持ローラ１７の軸芯２７に当接される。給電部５１０は、後述する検査部５５０に接続されており、当該検査部５５０からの制御信号によって制御される。

非接触プローブ５２０は、磁界中に位置づけられると当該磁界の強さに応じた信号を出力する部材である。本実施形態において、非接触プローブ５２０は、周知のループアンテナで構成されており、マクスウェルの電磁誘導則によりループ内の磁場（即ち、磁界の強さ）の変化量に応じた電流（信号）を出力する。非接触プローブ５２０は、後述する検査部５５０に接続されており、検査部５５０に対して上記信号を出力する。

保持部５３０は、非接触プローブ５２０を保持する。保持部５３０は、ベース部５０５の上面に設けられた直線棒状のスライダ５３１と、スライダ５３１上を当該スライダ５３１の長手方向（図中矢印Ｘ方向）に水平移動可能に設けられた台部５３２と、台部５３２から上方に立設された柱部５３３と、柱部５３３の側面から上記Ｘ方向に直交するように水平方向に立設された第１保持部分５３４と、第１保持部分５３４に水平方向（図中矢印Ｙ方向）及び鉛直方向（図中矢印Ｚ方向）に移動可能に設けられた第２保持部分５３５と、を有している。

第２保持部分５３５には、非接触プローブ５２０が固定して取り付けられる。このとき、非接触プローブ５２０のループ開口が上記Ｙ方向に向けられている。これにより、ループ開口が、上記複数の電極部２６ａによる磁界の向きと直交するように配置されるので、磁界の検出効率を向上できる。

台部５３２及び第１保持部分５３４には、アクチュエータが設けられている。保持部５３０は、後述する検査部５５０に接続されており、当該検査部５５０からの制御信号によって台部５３２及び第１保持部分５３４に設けられたアクチュエータが制御されて、第２保持部分５３５に取り付けられた非接触プローブ５２０を、上記ＸＹＺ方向に移動させて任意の位置に位置づける。

基体支持部５４０は、トナー担持ローラ１７を回転可能に支持するとともに、トナー担持ローラ１７を回転駆動する部材である。基体支持部５４０は、回転駆動部５４１と、従動部５４２と、を有している。

回転駆動部５４１は、駆動本体部５４１ａと、チャック５４１ｂと、を有している。駆動本体部５４１ａは、箱状に形成されてベース部５０５の上面に配設されたケース内に、サーボモータ及び当該サーボモータの回転軸に接続された歯車などからなる回転伝達部を収容して構成されている。チャック５４１ｂは、円筒状に形成されており、一端が駆動本体部５４１ａから水平方向に突出するように配置され、他端が回転伝達部に接続されている。また、チャック５４１ｂは、トナー担持ローラ１７の軸芯２７が内側に挿入されて、当該軸芯２７を把持するように構成されている。回転駆動部５４１は、サーボモータを備えていることにより、チャック５４１ｂの回転角度、即ち、トナー担持ローラ１７の回転角度を正確に制御することができる。即ち、チャック５４１ｂは、トナー担持ローラ１７（即ち、基体としての内側電極２５）の軸芯２７を回転可能に支持するとともに、トナー担持ローラ１７を回転駆動する。

従動部５４２は、従動本体部５４２ａと、支持部材５４２ｂ、５４２ｃと、を有している。従動本体部５４２ａは、箱状に形成されてベース部５０５の上面に、駆動本体部５４１ａと間隔をあけて上記Ｘ方向に対向するように配設されている。一対の支持部材５４２ｂ、５４２ｃは、例えば、銅などの導電性の金属などを用いて円柱形状に形成されており、それらの回転軸が上記Ｘ方向に平行になるように、互いに若干の間隔をあけて近接して従動本体部５４２ａの上面に回転自在に設けられている。支持部材５４２ｂ、５４２ｃは、それぞれの外周面にトナー担持ローラ１７の軸芯２７が当接するように、支持部材５４２ｂ、５４２ｃの間に当該軸芯２７が載置される。これにより、支持部材５４２ｂ、５４２ｃと軸芯２７とが導通される。即ち、導体からなる支持部材５４２ｂ、５４２ｃは、トナー担持ローラ１７（即ち、基体としての内側電極２５）の軸芯２７を回転可能に支持する。トナー担持ローラ１７は、回転駆動部５４１及び従動部５４２によって支持されると、その軸方向が上記Ｘ方向に平行に配置される。

また、基体支持部５４０（即ち、回転駆動部５４１）は、後述する検査部５５０に接続されており、当該検査部５５０からの制御信号によって制御される。

検査部５５０は、周知のマイクロコンピュータなどで構成されている。検査部５５０は、ＣＰＵ、ＲＯＭ、ＲＡＭ、記憶装置、入力装置、表示装置などを有している。

ＣＰＵは、電極パターン検査装置５００における各種制御を司り、ＲＯＭに記憶されている各種制御プログラムにしたがって本実施形態に係る制御を含む各種の処理を実行する。ＲＯＭは、前記制御プログラムやこの制御プログラムに参照されるパラメータなどの各種情報を記憶している。特に、ＲＯＭは、ＣＰＵを、取得手段、判定手段、などの各種手段として機能させるための制御プログラムを記憶している。そして、ＣＰＵは、この制御プログラムを実行することで前述した各種手段として機能する。ＲＡＭは、ＣＰＵが各種の処理を実行する上において必要なデータ、プログラム等が適宜記憶される。

記憶装置は、例えば、ハードディスク装置やフラッシュメモリカードなどが用いられており、電源断となってもデータを保持できるように構成されている。この記憶装置には、後述する電極パターン検査処理で用いられる各種パラメータ等が記憶されている。入力装置は、周知のキーボード、マウスなどで構成されており、各種操作が入力される。表示装置は、液晶ディスプレイ装置、プリンタ装置などで構成されており、操作メニューや電極パターンの検査結果などが表示される。

検査部５５０には、図示しない外部インタフェース部などを通じて、給電部５１０、保持部５３０、及び、基体支持部５４０、が接続されており、所定の制御信号を送受信することによりこれら各部位を制御するように構成されている。また、検査部５５０には、図示しないアナログ信号入力部に非接触プローブ５２０が接続されており、非接触プローブ５２０によって出力された信号がアナログ信号入力部で量子化されて、ＣＰＵに磁界の強さを示す数値情報として伝えられる。

次に、検査部５５０のＣＰＵによって実行される本発明に係る処理（電極パターン検査処理１）の一例を、図５のフローチャートを参照して説明する。

始めに、電極パターン検査装置５００の基体支持部５４０に、検査対象のトナー担持ローラ１７をセットする。そして、一方の接続端子５１１ａを、外側電極２６の他方の被給電部２６ｃに当接するように配置し、他方の接続端子５１１ｂを、軸芯２７に当接するように配置する。これら一対の接続端子５１１ａ、５１１ｂは、トナー担持ローラ１７が回転されると、他方の被給電部２６ｃ及び軸芯２７に摺動して当接される。

そのあと、電極パターン検査装置５００に電源を投入すると、ＣＰＵは所定の初期化処理を実行する。ＣＰＵは、初期化処理が終了したあとに入力装置に所定の電極パターン検査処理開始操作が入力されると、電極パターン検査処理１を開始する。

電極パターン検査処理１において、まず、非接触プローブを複数の電極部に近接する位置に移動する（ステップＳ１１０）。具体的には、ＣＰＵは、保持部５３０を制御して、非接触プローブ５２０の先端がトナー担持ローラ１７の外周面（即ち、複数の電極部２６ａ）に０．１ｍｍ〜０．５ｍｍ程度の間隔をあけて近接する位置に当該非接触プローブ５２０を移動する。このとき、上記接続端子５１１ａ、５１１ｂからの磁界の影響を回避するため、非接触プローブ５２０が移動される上記位置は、上記磁界の影響を受けない程度に接続端子５１１ａ、５１１ｂから離れた位置が望ましい。このように、保持部５３０は、非接触プローブ５２０を複数の電極部２６ａに近接させる。そして、この状態でトナー担持ローラ１７が回転されることにより、非接触プローブ５２０は複数の電極部２６ａに対してトナー担持ローラ１７の周方向に相対移動される。保持部５３０は、本検査処理が終了するまで、非接触プローブ５２０を上記位置に固定したまま保持する。

次に、給電部５１０による外側電極２６への給電を開始する（ステップＳ１２０）。具体的には、ＣＰＵは、給電部５１０を制御して、一対の接続端子５１１ａ、５１１ｂ間に所定の電力を出力する。本実施形態において、給電部５１０は、正弦波交流波形、周波数１０ＭＨｚ〜１００ＭＨｚの範囲、大きさ０ｄＢｍ〜１０ｄＢｍの範囲の電力を出力する。これにより、複数の電極部２６ａに交流電流が流れて、当該複数の電極部２６ａ上に磁界が生じる。

次に、トナー担持ローラ１７を回転させながら、磁界の強さを取得する（ステップＳ１３０）。具体的には、ＣＰＵは、基体支持部５４０を制御して、トナー担持ローラ１７を、複数の電極部２６ａの間隔より小さい所定角度回転させ、そして、この回転位置において非接触プローブ５２０が出力した信号を取得して、当該信号によって示される磁界の強さを当該回転位置と関連づけて記憶装置に記憶する。この動作をトナー担持ローラ１７が１回転を超えて回転するまで繰り返す。このようにして、トナー担持ローラ１７の回転に伴って周方向に沿って取得した磁界の強さを、上記回転位置順に並べることで複数の電極部２６ａ上における磁界の強さの周方向に沿う変化態様となる。ＣＰＵは、上記信号の取得が終了すると、給電部５１０を制御して給電を停止し、基体支持部５４０を制御してトナー担持ローラ１７の回転を停止する。

次に、複数の電極部２６ａ上における磁界の強さのトナー担持ローラ１７の周方向の変化態様を判定する（ステップＳ１４０）。具体的には、ＣＰＵは、記憶装置に記憶された磁界の強さと当該磁界の強さを取得した回転位置とに基づいて、磁界の強さが一定の基準範囲Ｋ（例えば、上限から下限までの幅が１ｄＢ）内で回転位置に沿って推移しているか否かを判定する。

図６（ａ）〜（ｃ）に、回転位置と当該回転位置における磁界の強さとの関係、即ち、複数の電極部２６ａ上における磁界の強さの周方向に沿う変化態様を模式的に示す。図６（ａ）は、複数の電極部２６ａに不具合が無い場合を示している。このような場合、複数の電極部２６ａのそれぞれには同一の電流値となる電流が流れるので、磁界の強さは、電極部２６ａの間隔に対応して一定周期で変化するとともに強さ（大きさ）が一定の基準範囲Ｋ内に収まる。図６（ｂ）は、一部の電極部２６ａが断線している場合を示している。このような場合、断線した電極部２６ａに電流が流れない又は小さい電流値の電流が流れるので、磁界の強さは、当該断線した電極部２６ａ対応した回転位置において、周期が乱れるとともに強さ（大きさ）が極端に小さくなって基準範囲Ｋを下回る。図６（ｃ）は、一部の電極部２６ａが隣接する他の電極部２６ａと短絡している場合を示している。このような場合、短絡した電極部２６ａに多くの電流が流れるので、磁界の強さは、当該短絡した電極部２６ａに対応した回転位置において、周期が乱れるとともに強さ（大きさ）が極端に大きくなって基準範囲Ｋを上回る。

このように、ＣＰＵは、トナー担持ローラ１７の周方向の磁界の強さが、回転位置全体に亘って基準範囲Ｋ内に収まっているとき、即ち、磁界の強さの最大値と最小値との差が基準範囲Ｋ以下であれば、複数の電極部２６ａが正常であると判定する。または、トナー担持ローラ１７の周方向の磁界の強さのうち、一部が基準範囲Ｋからはみ出したとき、基準範囲Ｋの下側にはみ出していれば断線若しくは欠け等の異常が生じていると判定し、基準範囲Ｋの上側にはみ出していれば短絡若しくはにじみ等の異常が生じていると判定する。または、上記判定に代えて又は上記判定とともに、上記磁界の強さの周期変化が一定であるか否かによって、複数の電極部２６ａが正常又は異常かを判定しても良い。そして、ＣＰＵは、判定結果（即ち、検査結果）を表示装置に出力して、電極パターン検査処理１を終了する。

上述したステップＳ１３０が、請求項中の取得手段に相当し、ステップＳ１４０が、請求項中の判定手段に相当する。

以上より、本実施形態によれば、互いに間隔をあけてトナー担持ローラ１７の周方向に並列配置された複数の電極部２６ａと当該複数の電極部２６ａの一端部同士及び他端部同士を互いに短絡する一対の被給電部２６ｂ、２６ｃとを有する外側電極２６について、給電部５１０によって複数の電極部２６ａに電流を流して、保持部５３０に保持された非接触プローブ５２０を周方向、即ち、複数の電極部２６ａの並列方向に相対移動させる。そして、検査部５５０によって、非接触プローブ５２０から出力された信号に基づき、複数の電極部２６ａ上における磁界の強さの周方向に沿う変化態様を取得して、この変化態様に基づいて複数の電極部２６ａのそれぞれが正常か否かを判定する。

上述したように複数の電極部２６ａが同一間隔で同一形状に形成されている場合、複数の電極部２６ａにはそれぞれ同一電流値の電流が流れるので、複数の電極部２６ａ上における磁界の強さの周方向に沿う変化態様は、一定周期かつ一定範囲内で変化するものとなる。ここで、一部の電極部２６ａに断線や短絡などの異常が生じると、当該一部の電極部２６ａにおけるインピーダンスなどの電気特性が変化するので、当該一部の電極部２６ａに流れる電流値が他の電極部２６ａに流れる電流値に対して変化し、そのため、当該一部の電極部２６ａの生じる磁界の強さが変化する。また、複数の電極部２６ａのうち任意の一の電極部２６ａを流れる電流は、当該一の電極部２６ａの長手方向のどの部分でも同一電流値となるので、当該電流によって生じる磁界の強さも長手方向に同一となる。したがって、複数の電極部２６ａの長手方向の一箇所についてのみ、磁界の強さの周方向に沿う変化態様を取得して、当該変化態様に基づいて当該複数の電極部２６ａのそれぞれが正常か否かを判定することができる。

してみると、本実施形態によれば、互いに間隔をあけてトナー担持ローラ１７の周方向に並列配置された複数の電極部２６ａと当該複数の電極部２６ａの一端部同士及び他端部同士を互いに短絡する一対の被給電部２６ｂ、２６ｃとを有する外側電極２６について、給電部５１０によって複数の電極部２６ａに電流を流して、保持部５３０に保持された非接触プローブ５２０を周方向、即ち、複数の電極部２６ａの並列方向に相対移動させ、そして、検査部５５０によって、非接触プローブ５２０から出力された信号に基づき、複数の電極部２６ａ上における磁界の強さの周方向に沿う変化態様を取得して、この変化態様に基づいて複数の電極部２６ａのそれぞれが正常か否かを判定するので、複数の電極部２６ａ全体を走査することなく、複数の電極部２６ａの長手方向の一箇所について当該複数の電極部２６ａが並列された周方向に走査するのみで検査を行うことができ、そのため、電極パターンの検査を効率よく安価に行うことができる。

また、外側電極２６が、円筒状の内側電極２５外周面上に複数の電極部２６ａを周方向に並列配置するように設けられ、かつ、電極パターン検査装置５００が、トナー担持ローラ１７の軸芯２７を中心として当該トナー担持ローラ１７を回転可能に支持する基体支持部５４０をさらに有しているので、トナー担持ローラ１７を回転可能に支持して、当該トナー担持ローラ１７を回転させながらその外周面上に設けられた外側電極２６の検査を行うことができ、そのため、ローラ状のトナー担持ローラ１７が備える外側電極２６の検査を効率よく安価に行うことができる。

また、保持部５３０が、非接触プローブ５２０をトナー担持ローラ１７の半径方向上に位置づけて保持するように構成されているので、当該非接触プローブ５２０と任意の一の電極部２６ａとが半径方向に相対されたときに、当該一の電極部２６ａが、非接触プローブ５２０に最も近接され、そのため、他の電極部２６ａによる磁界の影響が小さくなって、当該一の電極部２６ａによる磁界の強さを正確に検出することができる。

上述した本実施形態において、給電部５１０に接続された他方の接続端子５１１ｂをトナー担持ローラ１７の軸芯２７に接続するものであったが、これに限定されるものではない。例えば、図７に示すように、他方の接続端子５１１ｂに代えて、基体支持部５４０の従動部５４２の支持部材５４２ｂ、５４２ｃを給電部５１０に接続するようにしてもよい。このようにすることで、給電部５１０は、一方の接続端子５１１ａと支持部材５４２ｂ、５４２ｃとの間に所定の電力を出力することができ、つまり、支持部材５４２ｂ、５４２ｃを通じて外側電極２６に給電することができる。そのため、基体支持部５４０によりトナー担持ローラ１７の支持と外側電極２６への給電とを同時に実現でき、一方の接続端子５１１ａを他方の被給電部２６ｃに接続するのみでよく、他方の給電端子５１１ｂを軸芯２７（即ち、電極パターン）に接触させる工程を省略することができる。よって、検査をより高速に行うことができる。または、トナー担持ローラ１７の外側電極２６に片部２６ｄを設けない構成、つまり、外側電極２６と内側電極２５とが導通されていない構成などにおいては、図８に示すように、他方の接続端子５１１ｂを、外側電極２６の一方の被給電部２６ｂに接続するようにしてもよい。

（Ｂ２）：本発明の電極パターン検査装置の第２の実施形態
次に、電極パターン検査装置の第２の実施形態について、図９〜図１１を参照して説明する。この電極パターン検査装置は、図３（ａ）、（ｂ）に示すトナー担持板１８の外側電極２６の検査に用いられる。

図９に示すように、電極パターン検査装置（図中、符号５００Ａで示す）は、ベース部５０５Ａと、給電部５１０と、非接触プローブ５２０と、保持部５３０と、検査部５５０Ａと、を有している。なお、上述した第１の実施形態と同一の構成要素については、同一符号を付して説明を省略する。

ベース部５０５Ａは、第１の実施形態と同様に、例えば、鋼鉄などの金属で平板状に形成されており、工場のフロアや作業台などに設置される。このベース部５０５Ａの上面には、保持部５３０が設けられている。また、ベース部５０５Ａの上面には、上述した第１の実施形態における基体支持部５４０に代えて平面状の固定領域５０６が設けられている。この固定領域５０６には、上記トナー担持板１８が載置されて、例えば、ネジなどの図示しない固定手段によって当該トナー担持板１８がベース部５０５Ａ上面に固定される。

検査部５５０Ａは、第１の実施形態と同様のハードウェア構成を有し、周知のマイクロコンピュータなどで構成されている。検査部５５０ＡのＣＰＵは、上述した電極パターン検査処理１に代えて、以下の電極パターン検査処理２を実行する。

次に、検査部５５０のＣＰＵによって実行される本発明に係る処理（電極パターン検査処理２）の一例を、図１０のフローチャートを参照して説明する。

始めに、電極パターン検査装置５００Ａの固定領域５０６に、検査対象のトナー担持板１８をセットする。このとき、トナー担持板１８の幅方向（即ち、外側電極２６の複数の電極部２６ａの並列方向）が、図中Ｙ方向に平行になるように配置する。そして、一方の接続端子５１１ａを、外側電極２６の他方の被給電部２６ｃに当接するように配置し、他方の接続端子５１１ｂを、内側電極２５の一端部２５ａに当接するように配置する。

そのあと、電極パターン検査装置５００Ａに電源を投入すると、ＣＰＵは所定の初期化処理を実行する。ＣＰＵは、初期化処理が終了したあとに入力装置に所定の電極パターン検査処理開始操作が入力されると、電極パターン検査処理２を開始する。

電極パターン検査処理２において、まず、非接触プローブを複数の電極部に近接する位置に移動する（ステップＴ１１０）。具体的には、ＣＰＵは、保持部５３０を制御して、非接触プローブ５２０の先端がトナー担持板１８の上面における幅方向の一縁部（即ち、図９で一番手前の電極部２６ａ）に０．１ｍｍ〜０．５ｍｍ程度の間隔をあけて近接する位置に当該非接触プローブ５２０を移動する。このとき、上記接続端子５１１ａ、５１１ｂからの磁界の影響を回避するため、非接触プローブ５２０が移動される上記位置は、上記磁界の影響を受けない程度に接続端子５１１ａ、５１１ｂから離れた位置が望ましい。このように、保持部５３０は、非接触プローブ５２０を複数の電極部２６ａに近接させる。

次に、給電部５１０による外側電極２６への給電を開始する（ステップＴ１２０）。具体的には、ＣＰＵは、給電部５１０を制御して、一対の接続端子５１１ａ、５１１ｂ間に所定の電力を出力する。本実施形態において、給電部５１０は、正弦波交流波形、周波数１０ＭＨｚ〜１００ＭＨｚの範囲、大きさ０ｄＢｍ〜１０ｄＢｍの範囲の電力を出力する。これにより、複数の電極部２６ａに交流電流が流れて、当該複数の電極部２６ａ上に磁界が生じる。

次に、非接触プローブ５２０を複数の電極部２６ａの並列方向に移動させながら、磁界の強さを取得する（ステップＴ１３０）。具体的には、ＣＰＵは、保持部５３０を制御して、非接触プローブ５２０を、トナー担持板１８の上面との間隔を維持したままトナー担持板１８の幅方向（即ち、上記並列方向）に複数の電極部２６ａの間隔より小さい所定距離移動させ、そして、この移動位置において非接触プローブ５２０が出力した信号を取得して、当該信号によって示される磁界の強さを当該移動位置と関連づけて記憶装置に記憶する。この動作を非接触プローブ５２０が複数の電極部２６ａのうち他方の端に位置するもの（図９で一番奥の電極部２６ａ）を超えて移動するまで繰り返す。このようにして、トナー担持板１８の幅方向に沿って取得した磁界の強さは、複数の電極部２６ａ上における磁界の強さの当該複数の電極部２６ａ並列方向に沿う変化態様を示す。ＣＰＵは、上記信号の取得が終了すると、給電部５１０を制御して給電を停止する。

次に、複数の電極部２６ａ上における磁界の強さの上記並列方向の変化態様を判定する（ステップＴ１４０）。具体的には、ＣＰＵは、記憶装置に記憶された磁界の強さと当該磁界の強さを取得した移動位置とに基づいて、磁界の強さが一定の基準範囲Ｋ（例えば、上限から下限までの幅が１ｄＢ）内で移動位置に沿って推移しているか否かを判定する。

具体的には、ＣＰＵは、トナー担持板１８の上記並列方向の磁界の強さが、移動位置全体に亘って基準範囲Ｋ内に収まっているとき、即ち、磁界の強さの最大値と最小値との差が基準範囲Ｋ以下であれば、複数の電極部２６ａが正常であると判定する。または、トナー担持板の上記並列方向の磁界の強さのうち、一部が基準範囲Ｋからはみ出したとき、基準範囲Ｋの下側にはみ出していれば断線若しくは欠け等の異常が生じていると判定し、基準範囲Ｋの上側にはみ出していれば短絡若しくはにじみ等の異常が生じていると判定する。または、上記判定に代えて又は上記判定とともに、上記磁界の強さの周期変化が一定であるか否かによって、複数の電極部２６ａが正常又は異常かを判定しても良い。そして、ＣＰＵは、判定結果（即ち、検査結果）を表示装置に出力して、電極パターン検査処理２を終了する。

上述したステップＴ１３０が、請求項中の取得手段に相当し、ステップＴ１４０が、請求項中の判定手段に相当する。

以上より、本実施形態によれば、互いに間隔をあけてトナー担持板１８の幅方向に並列配置された複数の電極部２６ａと当該複数の電極部２６ａの一端部同士及び他端部同士を互いに短絡する一対の被給電部２６ｂ、２６ｃとを有する外側電極２６について、給電部５１０によって複数の電極部２６ａに電流を流して、保持部５３０に保持された非接触プローブ５２０を幅方向、即ち、複数の電極部２６ａの並列方向に移動させる。そして、検査部５５０によって、非接触プローブ５２０から出力された信号に基づき、複数の電極部２６ａ上における磁界の強さの幅方向に沿う変化態様を取得して、この変化態様に基づいて複数の電極部２６ａのそれぞれが正常か否かを判定する。

上述したように複数の電極部２６ａが同一間隔で同一形状に形成されている場合、複数の電極部２６ａにはそれぞれ同一電流値の電流が流れるので、複数の電極部２６ａ上における磁界の強さの幅方向に沿う変化態様は、一定周期かつ一定範囲内で変化するものとなる。ここで、一部の電極部２６ａに断線や短絡などの異常が生じると、当該一部の電極部２６ａにおけるインピーダンスなどの電気特性が変化するので、当該一部の電極部２６ａに流れる電流値が他の電極部２６ａに流れる電流値に対して変化し、そのため、当該一部の電極部２６ａの生じる磁界の強さが変化する。また、複数の電極部２６ａのうち任意の一の電極部２６ａを流れる電流は、当該一の電極部２６ａの長手方向のどの部分でも同一電流値となるので、当該電流によって生じる磁界の強さも長手方向に同一となる。したがって、複数の電極部２６ａの長手方向の一箇所についてのみ、磁界の強さの幅方向に沿う変化態様を取得して、当該変化態様に基づいて当該複数の電極部２６ａのそれぞれが正常か否かを判定することができる。

してみると、本実施形態によれば、本実施形態によれば、互いに間隔をあけてトナー担持板１８の幅方向に並列配置された複数の電極部２６ａと当該複数の電極部２６ａの一端部同士及び他端部同士を互いに短絡する一対の被給電部２６ｂ、２６ｃとを有する外側電極２６について、給電部５１０によって複数の電極部２６ａに電流を流して、保持部５３０に保持された非接触プローブ５２０を幅方向、即ち、複数の電極部２６ａの並列方向に移動させ、そして、検査部５５０によって、非接触プローブ５２０から出力された信号に基づき、複数の電極部２６ａ上における磁界の強さの幅方向に沿う変化態様を取得して、この変化態様に基づいて複数の電極部２６ａのそれぞれが正常か否かを判定するので、複数の電極部２６ａ全体を走査することなく、複数の電極部２６ａの長手方向の一箇所について当該複数の電極部２６ａが並列された幅方向に走査するのみで検査を行うことができ、そのため、電極パターンの検査を効率よく安価に行うことができる。

上述した各実施形態において、非接触プローブ５２０の出力した信号に基づいて取得した磁界の強さが、トナー担持ローラ１７の周方向及びトナー担持板１８の幅方向、即ち、複数の電極部２６ａの並列方向全体亘って所定の基準範囲内に収まっているか否かによって、複数の電極部２６ａの正常・異常を判定するものであったが、これに限定されるものではない。例えば、予備計測やシミュレーションなどによって、複数の電極部２６ａが正常な場合の磁界の強さの変化態様（基準変化態様）を準備しておき、取得した変化態様とこの基準変化態様とを比較することによって、複数の電極部２６ａの正常・異常を判定するものであってもよい。このようにすることで、互いに形状・配置間隔等が異なる複数の電極部を有する電極パターンについて検査を行うことができる。

また、上述した各実施形態において、給電部５１０をシグナルジェネレータで構成するものであったが、これに限定されるものではない。給電部５１０を、例えば、固定周波数でかつ固定電流値の電流を出力することができる正弦波（又は矩形波）発振回路などで構成してもよく、本発明の目的に反しない限り、給電部５１０の構成は任意である。

また、上述した各実施形態において、非接触プローブ５２０をループアンテナで構成するものであったが、これに限定されるものではない。例えば、磁気インピーダンス素子などで非接触プローブ５２０を構成するなど、磁界（磁場）の強さに応じた信号を出力できるものであれば、本発明の目的に反しない限り、非接触プローブ５２０の構成は任意である。

また、上述した第１の実施形態において、非接触プローブ５２０をＸＹＺ方向に移動可能なように保持部５３０を構成するものであったが、これに限定されるものではない。例えば、非接触プローブ５２０を、基体支持部５４０によって回転可能に支持されたトナー担持ローラ１７の外周面に近接させて固定するものであってもよく、非接触プローブ５２０を複数の電極部２６ａに対して少なくとも当該複数の電極部２６ａの並列方向に相対移動可能に保持するものであれば、本発明の目的に反しない限り、保持部５３０の構成は任意である。

また、上述した各実施形態においては、現像剤担持体に設けられた外側電極（電極パターン）の検査に用いる場合について説明するものであったが、これに限定されるものではない。上述した電極パターン検査装置を、例えば、プリント基板（ＰＷＢ）やフレキシブルプリント基板（ＦＰＣ）、フレキシブルフラットケーブル（ＦＦＣ）など、の検査に用いてもよく、本発明の目的に反しない限り、その検査対象は任意である。但し、ＦＰＣやＦＦＣの検査に用いる場合、これらＦＰＣやＦＦＣにおいて間隔をあけて互いに並列配置された複数の配線部（即ち、複数の電極部）の一端部同士及び他端部同士を予め短絡しておき、これら複数の配線部を短絡した状態で検査を行い、検査終了後、短絡部分を取り除くなどして、複数の配線部をそれぞれ独立させる必要がある。

（Ｃ）：本発明の効果の検証
次に、本発明者らは、上述した電極パターン検査装置５００を用いて、本発明の効果について検証を行った。

本発明者らは、外径を１６ｍｍ、長さを３６０ｍｍとした内側電極２５の外周面上に、厚みを２０μｍとして絶縁層２４を形成し、この絶縁層２４上に幅を０．１ｍｍ、長さを２９５ｍｍとした電極部２６ａを内側電極２５の周方向に０．１５ｍｍ間隔で並列配置して外側電極２６を形成して、さらに表層２３を重ねて形成して、トナー担持ローラ１７を作成した。このトナー担持ローラ１７において、内側電極２５と軸芯２７とは導通されている。また、外側電極２６の一方の被給電部２６ｂには、内側電極２５の一端部２５ａまで伸びる片部２６ｄが設けられており、この片部２６ｄによって、外側電極２６と内側電極２５とが導通されている。そして、このトナー担持ローラ１７において、一部の電極部２６ａをそれに隣接する他の電極部２６ａと故意に短絡させるとともに、他の一部の電極部２６ａを故意に断線させた。そして、このようなトナー担持ローラ１７を、図４に示すように、上述した電極パターン検査装置５００にセットして、一方の接続端子５１１ａを、外側電極２６の他方の被給電部２６ｃに当接するように配置し、他方の接続端子５１１ｂを、他方の被給電部２６ｃ寄りの軸芯２７に当接するように配置する。そして、非接触プローブ５２０を、その先端とトナー担持ローラ１７の外周面（即ち、複数の電極部２６ａ）との間隔が０．２ｍｍとなる位置に移動させて、正弦波交流波形、周波数３０ＭＨｚ、大きさ１０ｄＢｍの電力を給電して複数の電極部２６ａに電流を流して、このときのトナー担持ローラ１７の回転位置と当該回転位置における磁界強さを取得した。図１２に回転位置と当該回転位置における磁界強さとの関係を示すグラフ（即ち、磁界強さの周方向に沿う変化態様）を示す。

図１２の実線（Ｎ＝１）は、非接触プローブ５２０をトナー担持ローラ１７の他方の被給電部２６ｃ寄り（図４の左側寄り）の位置に配置して取得したグラフであり、破線（Ｎ＝２）は、非接触プローブ５２０をトナー担持ローラ１７の一方の被給電部２６ｂ寄り（図４の右側寄り）の位置に配置して取得したグラフである。左側の縦軸が実線グラフ（Ｎ＝１）の磁界強さを示し、右側の縦軸が破線グラフ（Ｎ＝２）の磁界強さを示す。

図１２から、非接触プローブ５２０による磁界検出位置をトナー担持ローラ１７の軸方向に変えて磁界強さを検出したとき、それぞれの磁界強さは異なるものの、取得したグラフ形状が概ね同一になった。つまり、トナー担持ローラ１７の軸方向の異なる位置において周方向に亘り磁界の強さを検出したときに、各位置での磁界強さのグラフ形状、即ち、磁界強さの周方向に沿う変化態様が同一であることが判った。なお、磁界検出位置によって磁界強さが異なる理由については、次のように考えられる。このトナー担持ローラ１７では外側電極２６と内側電極２５とが絶縁層２４を挟んで近接して配置されているので、擬似的にこれら電極間に微小なコンデンサが分布して配置されている構成とみなすことができる。そのため、図４に示すように、トナー担持ローラ１７の一方の端部（図４の左側寄り）から交流電力を給電すると、他方の端部（図４の右側寄り）に向かうにしたがって、上記コンデンサを通じて電極間に電流が流れて上記他方の端部に向かう電流が減少してしまい、そのため、給電箇所から離れるにしたがって、磁界強さが弱くなるものと考えられる。

また、図１２から、磁界の強さは、概ね−７５．５ｄＢ±０．５ｄＢの範囲内又は−８５．５ｄＢ±０．５ｄＢの範囲内（即ち、基準範囲１ｄＢ）を推移しており、回転位置が０．２５ｍｍ〜０．５ｍｍのときに磁界の強さが他に比べて大きくなり、回転位置が４．２５ｍｍ〜４．５ｍｍのときに磁界の強さが他に比べて小さくなっていることが判る。

そして、トナー担持ローラ１７の外周面における回転位置が０．２５ｍｍ〜０．５ｍｍの部分を確認すると、当該部分には短絡された電極部２６ａが設けられていた。これは、短絡によって電極部２６ａのインピーダンスが変化して、当該電極部２６ａを流れる電流値が大きくなり、そのため、当該部分の磁界の強さが大きくなったものと考えられる。

また、回転位置が４．２５ｍｍ〜４．５ｍｍの部分を確認すると、当該部分には断線された電極部２６ａが設けられていた。これは、断線によって電極部２６ａのインピーダンスが変化して、当該電極部を流れる電流値が小さくなり、そのため、当該部分の磁界の強さが小さくなったものと考えられる。

以上より、実動作による検証でも本発明の効果を確認することができた。

なお、本発明は、上記実施形態に限定されるものではない。即ち、本発明の骨子を逸脱しない範囲で種々変形して実施することができる。

１７ トナー担持ローラ
１８ トナー担持板
２３ 表層
２４ 絶縁層
２５ 内側電極（基体）
２６ 外側電極（電極パターン）
２６ａ 電極部
２６ｂ、２６ｃ 被給電部（短絡部）
２６ｄ 片部
２７ 軸芯
５００、５００Ａ 電極パターン検査装置
５１０ 給電部
５２０ 非接触プローブ
５３０ 保持部
５４０ 基体支持部
５４２ｂ、５４２ｃ 支持部材
５５０、５５０Ａ 検査部
Ｓ１３０、Ｔ１３０ 取得手段
Ｓ１４０、Ｔ１４０ 判定手段

特開２０１１−６５０２７号公報 特開平８−１０５９２６号公報

Claims (4)

1. （ａ）互いに間隔をあけて一方向に並列配置された複数の線状の電極部と当該複数の電極部の一端部同士及び他端部同士を互いに短絡する一対の短絡部とを有する検査対象の電極パターンに、前記複数の電極部に電流が流れるように給電する給電部と、（ｂ）前記複数の電極部に流れる電流によって生じた磁界の強さに応じた信号を出力する非接触プローブと、（ｃ）前記非接触プローブを前記複数の電極部に近接させて保持する保持部と、（ｄ）前記非接触プローブに接続された検査部と、を有する電極パターン検査装置において、
   （イ）前記保持部が、前記非接触プローブを前記複数の電極部に対して前記一方向に相対移動可能に保持するように構成され、かつ、
   （ロ）前記検査部には、前記非接触プローブによって出力された前記信号に基づいて、前記複数の電極部上における前記磁界の強さの前記一方向に沿う変化態様を取得する取得手段と、前記取得手段によって取得された前記変化態様に基づいて、前記複数の電極部のそれぞれが正常か否かを判定する判定手段と、が設けられている
   ことを特徴とする電極パターン検査装置。
2. 前記電極パターンが、円筒状の基体の外周面上に前記複数の電極部を周方向に並列配置するように設けられ、かつ、
   前記電極パターン検査装置が、前記基体の軸芯を中心として当該基体を回転可能に支持する基体支持部をさらに有している
   ことを特徴とする請求項１に記載の電極パターン検査装置。
3. 前記保持部が、前記非接触プローブを前記基体の半径方向上に位置づけて保持するように構成されていることを特徴とする請求項２に記載の電極パターン検査装置。
4. 前記電極パターンが、前記基体の軸芯と導通して設けられ、かつ、
   前記基体支持部が、前記基体の軸芯を回転可能に支持する導体からなる支持部材を有している
   ことを特徴とする請求項２又は３に記載の電極パターン検査装置。

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