JP2012220722A - Exposure device - Google Patents

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JP2011086356A
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Toshiyuki Kondo
俊之 近藤
Noriyuki Sugimoto
典幸 杉本
Nobuhito Saji
伸仁 佐治
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an exposure device capable of preventing damage to a mask caused by friction between the mask and a surface with which the mask is brought into contact when performing pre-alignment of the mask.SOLUTION: A proximity-scanning exposure device 1 projects exposure light EL through a mask M onto a substrate W and exposes a pattern P of the mask M on the substrate W. A mask tray unit 121 of a mask changer 120 includes: an air supply mechanism 125 that supplies air to an inferior surface of the mask M so as to cause the mask M to float; a mask positioning pin 196 that is brought into contact with an end face of the floating mask M so as to perform positioning of the mask M; and a pressing mechanism 198 that presses the end face of the floating mask M toward the mask positioning pin 196.

Description

本発明は、露光装置に関し、例えば、液晶ディスプレイやプラズマディスプレイ等の大型のフラットパネルディスプレイの基板上にマスクのパターンを露光転写するのに好適な露光装置に関する。   The present invention relates to an exposure apparatus, for example, an exposure apparatus suitable for exposing and transferring a mask pattern onto a substrate of a large flat panel display such as a liquid crystal display or a plasma display.

大型の薄形テレビ等に用いられる液晶ディスプレイやプラズマディスプレイ等の大型のフラットパネルディスプレイは、ワーク上にマスクのパターンを分割逐次露光方式で近接露光転写することで製造されている。この種の分割逐次露光方法としては、マスクを細分化して、これらマスクを保持する複数のマスク保持部を千鳥状に配置し、ワークを一方向に移動させながら露光を行うスキャン露光方式が知られている。この露光方式では、ワークに形成されるパターンに、ある程度繰り返される部位があることを前提として、これをつなぎ合わせることで大きなパターンを形成できることを利用したものである。この場合、マスクは、パネルに合わせて大きくする必要がなく、比較的安価なマスクを用いることができる。   A large flat panel display such as a liquid crystal display or a plasma display used for a large thin television or the like is manufactured by transferring a mask pattern onto a workpiece by proximity exposure transfer using a divided sequential exposure method. As this type of sequential sequential exposure method, a scan exposure method is known in which a mask is subdivided, a plurality of mask holding portions for holding these masks are arranged in a staggered manner, and exposure is performed while moving a work in one direction. ing. This exposure method utilizes the fact that a large pattern can be formed by joining together on the premise that there is a portion that is repeated to some extent in the pattern formed on the workpiece. In this case, the mask does not need to be large in accordance with the panel, and a relatively inexpensive mask can be used.

また、露光装置では、マスクの洗浄などのため、マスクを搬入又は搬出するための受け渡し位置とマスク保持部下の交換位置との間をマスクチェンジャーを用いてマスクを運搬し、マスク交換が行われている。   In the exposure apparatus, the mask is exchanged by using a mask changer between a delivery position for carrying in and out the mask and an exchange position under the mask holding part for cleaning the mask. Yes.

また、特許文献1に記載の露光装置では、マスクとマスク保持部との間で撓み制御空間を形成し、撓み制御空間の圧力をエアで制御することでマスクの撓みを防止することが開示されている。   Further, in the exposure apparatus described in Patent Document 1, it is disclosed that a deflection control space is formed between the mask and the mask holding unit, and the pressure of the deflection control space is controlled by air to prevent the mask from bending. ing.

特許文献2に記載の基板処理装置では、貫通孔を有するクリーナプレートとステージとの間にエアを送風することにより、プレートとステージとのギャップを一定に保ち、その状態でプレートを移動させることで、ステージを傷つけずに異物を除去することが開示されている。   In the substrate processing apparatus described in Patent Document 2, by blowing air between a cleaner plate having a through hole and the stage, the gap between the plate and the stage is kept constant, and the plate is moved in that state. It is disclosed that foreign matters are removed without damaging the stage.

特許文献3に記載の露光装置では、ガス置換された環境下において発生しやすい静電気によるマスクの帯電を防止するため、マスクに形成された導電帯膜をマスクステージを介して電気的に接地することが開示されている。   In the exposure apparatus described in Patent Document 3, the conductive band film formed on the mask is electrically grounded through the mask stage in order to prevent the mask from being charged by static electricity that is likely to occur in a gas-substituted environment. Is disclosed.

特開2006−135087号公報JP 2006-135087 A 特開2010−204650号公報JP 2010-204650 A 特開2001−133959号公報JP 2001-133959 A

ところで、露光装置では、マスクをプリアライメントする際にマスクとマスクが接する面との間の摩擦によりマスクが損傷するのを防止することが要求されている。   By the way, the exposure apparatus is required to prevent the mask from being damaged by friction between the mask and the surface in contact with the mask when pre-aligning the mask.

特許文献1は、エアを使用してマスクの撓みを防止し、特許文献2は、エアを使用して基板の損傷を防止するものであり、摩擦によるマスクの損傷を防止するものではない。また、特許文献3も、帯電によるマスクの損傷を防止するものであり、摩擦によるマスクの損傷を防止するものではない。   Patent Document 1 uses air to prevent the mask from bending, and Patent Document 2 uses air to prevent the substrate from being damaged, and does not prevent the mask from being damaged by friction. Patent Document 3 also prevents damage to the mask due to charging, and does not prevent damage to the mask due to friction.

本発明は、上記事情に鑑みて為されたものであり、その目的は、マスクをプリアライメントする際に、マスクとマスクが接する面との間の摩擦によってマスクが損傷するのを防止することが可能な露光装置を提供することにある。   The present invention has been made in view of the above circumstances, and an object thereof is to prevent the mask from being damaged by friction between the mask and the surface with which the mask contacts when pre-aligning the mask. An object of the present invention is to provide a possible exposure apparatus.

本発明の上記目的は、下記の構成によって達成される。
(1) 基板に対してマスクを介して露光用光を照射し、前記基板に前記マスクのパターンを露光する露光装置であって、
前記マスクを保持するマスク保持部と、
前記マスクを搬入又は搬出するための受け渡し位置と、前記マスク保持部の下面と対向する交換位置との間を移動可能なマスクトレー部を有するマスクチェンジャーと、
を備え、
前記マスクトレー部は、
前記マスクの下面にエアを供給して、前記マスクを浮上させるエア供給機構と、
前記浮上したマスクの端面と当接して、前記マスクを位置決めする位置決め部と、
前記浮上したマスクの端面を前記位置決め部に向けて押圧する押圧機構と、
を有することを特徴とする露光装置。
(2) 前記マスクトレー部は、ベース部と、前記チェイサー板と前記ベース部との間に配置された複数のばね部材と、を有することを特徴とする(1)に記載の露光装置。
(3) 前記露光装置は、複数のマスクに近接しながら所定方向に搬送される基板に対して前記複数のマスクを介して露光用光を照射し、前記基板に前記複数のマスクのパターンを露光する近接スキャン露光装置であり、
前記マスク保持部は、上流側に配置される複数の上流側マスク保持部と下流側に配置される複数の下流側マスク保持部とを有して、前記複数の上流側マスク保持部と前記複数の下流側マスク保持部とは、前記所定方向と交差する方向に沿って千鳥状に配置され、
前記マスクトレー部は、前記受け渡し位置と各上流側マスク保持部の下面と対向する各交換位置との間を移動可能な上流側マスクトレー部と、前記受け渡し位置と各下流側マスク保持部の下面と対向する各交換位置との間を移動可能な下流側マスクトレー部と、を有し、
前記マスクチェンジャーは、前記上流側マスクトレー部と前記下流側マスクトレー部の両方を同期駆動するマスク交換用駆動部を有することを特徴とする(1)または(2)に記載の露光装置。
(4) 前記露光装置は、複数のマスクに近接しながら所定方向に搬送される基板に対して前記複数のマスクを介して露光用光を照射し、前記基板に前記複数のマスクのパターンを露光する近接スキャン露光装置であり、
前記マスク保持部は、上流側に配置される複数の上流側マスク保持部と下流側に配置される複数の下流側マスク保持部とを有して、前記複数の上流側マスク保持部と前記複数の下流側マスク保持部とは、前記所定方向と交差する方向に沿って千鳥状に配置され、
前記マスクトレー部は、前記受け渡し位置と各上流側マスク保持部の下面と対向する各交換位置との間を移動可能な上流側マスクトレー部と、前記受け渡し位置と各下流側マスク保持部の下面と対向する各交換位置との間を移動可能な下流側マスクトレー部と、を有し、
前記マスクチェンジャーは、前記上流側マスクトレー部と前記下流側マスクトレー部をそれぞれ駆動する一対のマスク交換用駆動部を有することを特徴とする(1)または(2)に記載の露光装置。
The above object of the present invention is achieved by the following configurations.
(1) An exposure apparatus that irradiates a substrate with exposure light through a mask and exposes the pattern of the mask onto the substrate,
A mask holding unit for holding the mask;
A mask changer having a mask tray portion movable between a delivery position for carrying in or carrying out the mask and an exchange position facing the lower surface of the mask holding portion;
With
The mask tray part is
An air supply mechanism for supplying air to the lower surface of the mask and floating the mask;
A positioning part for positioning the mask in contact with the end face of the floated mask;
A pressing mechanism that presses the end face of the floated mask toward the positioning portion;
An exposure apparatus comprising:
(2) The exposure apparatus according to (1), wherein the mask tray section includes a base section and a plurality of spring members disposed between the chaser plate and the base section.
(3) The exposure apparatus irradiates the substrate, which is conveyed in a predetermined direction while approaching the plurality of masks, with exposure light through the plurality of masks, and exposes the patterns of the plurality of masks on the substrate. A proximity scan exposure apparatus,
The mask holding unit includes a plurality of upstream mask holding units arranged on the upstream side and a plurality of downstream mask holding units arranged on the downstream side, and the plurality of upstream mask holding units and the plurality of mask holding units are arranged on the downstream side. The downstream mask holding portion is arranged in a staggered manner along a direction intersecting the predetermined direction,
The mask tray portion includes an upstream mask tray portion movable between the delivery position and each exchange position facing the lower surface of each upstream mask holding portion, and the delivery position and the lower surface of each downstream mask holding portion. And a downstream mask tray that is movable between each of the exchange positions facing each other,
The exposure apparatus according to (1) or (2), wherein the mask changer includes a mask replacement drive unit that synchronously drives both the upstream mask tray unit and the downstream mask tray unit.
(4) The exposure apparatus irradiates exposure light through the plurality of masks to the substrate transported in a predetermined direction while approaching the plurality of masks, and exposes the patterns of the plurality of masks on the substrate. A proximity scan exposure apparatus,
The mask holding unit includes a plurality of upstream mask holding units arranged on the upstream side and a plurality of downstream mask holding units arranged on the downstream side, and the plurality of upstream mask holding units and the plurality of mask holding units are arranged on the downstream side. The downstream mask holding portion is arranged in a staggered manner along a direction intersecting the predetermined direction,
The mask tray portion includes an upstream mask tray portion movable between the delivery position and each exchange position facing the lower surface of each upstream mask holding portion, and the delivery position and the lower surface of each downstream mask holding portion. And a downstream mask tray that is movable between each of the exchange positions facing each other,
The exposure apparatus according to (1) or (2), wherein the mask changer includes a pair of mask replacement driving units that respectively drive the upstream mask tray unit and the downstream mask tray unit.

本発明の露光装置によれば、マスクチェンジャーのマスクトレー部は、マスクの下面にエアを供給して、マスクを浮上させるエア供給機構と、浮上したマスクの端面と当接して、マスクを位置決めする位置決め部と、浮上したマスクの端面を前記位置決め部に向けて押圧する押圧機構と、を有する。従って、位置決め部と押圧機構によって位置決めしながら浮上したマスクをプリアライメントすることができるので、マスクとマスクが接する面との間の摩擦によってマスクが損傷するのを防止することができる。   According to the exposure apparatus of the present invention, the mask tray portion of the mask changer positions the mask by abutting the air supply mechanism for supplying air to the lower surface of the mask and causing the mask to float and the end face of the mask that has floated. A positioning unit; and a pressing mechanism that presses the end face of the floated mask toward the positioning unit. Therefore, since the mask that has floated while being positioned by the positioning portion and the pressing mechanism can be pre-aligned, it is possible to prevent the mask from being damaged by friction between the mask and the surface in contact with the mask.

また、マスクトレー部によってマスクを浮上させた状態で、押圧機構によって位置決め部に向けてマスクを移動させることでマスクのプリアライメントを行うことができ、マスクの交換時間を短縮することができると共に、マスクのプリアライメントのための装置を別途設ける必要がない。   In addition, the mask can be pre-aligned by moving the mask toward the positioning unit by the pressing mechanism while the mask is floated by the mask tray unit, and the mask replacement time can be shortened. There is no need to separately provide a mask pre-alignment apparatus.

図1は、本発明の一実施形態にかかる近接スキャン露光装置の全体斜視図である。FIG. 1 is an overall perspective view of a proximity scan exposure apparatus according to an embodiment of the present invention. 図2は、近接スキャン露光装置を、照射部等の上部構成を取り除いた状態で示す上面図である。FIG. 2 is a top view showing the proximity scanning exposure apparatus in a state where the upper structure such as the irradiation unit is removed. 図3は、エアパッドの配列状態を説明するための図である。FIG. 3 is a view for explaining an arrangement state of the air pads. 図4は、基板搬送機構を説明するための概略側面図である。FIG. 4 is a schematic side view for explaining the substrate transport mechanism. 図5は、近接スキャン露光装置のマスク配置領域における露光状態を示す側面図である。FIG. 5 is a side view showing an exposure state in the mask arrangement region of the proximity scan exposure apparatus. 図6(a)は、マスクとエアパッドとの位置関係を説明するための要部上面図であり、図6(b)は、その断面図である。FIG. 6A is a top view of the main part for explaining the positional relationship between the mask and the air pad, and FIG. 6B is a cross-sectional view thereof. 図7は、基板プリアライメント機構及び基板アライメント機構を説明するための基板搬入領域の上面図である。FIG. 7 is a top view of the substrate carry-in region for explaining the substrate pre-alignment mechanism and the substrate alignment mechanism. 図8は、照射部の下面図である。FIG. 8 is a bottom view of the irradiation unit. 図9(a)は、遮光装置の概略スケルトン上面図であり、図9(b)は、遮光装置の概略スケルトン側面図である。FIG. 9A is a schematic skeleton top view of the light shielding device, and FIG. 9B is a schematic skeleton side view of the light shielding device. 図10(a)は、一対のブラインド部材とマスクとの関係を示すための要部拡大側面図であり、図10(b)は、一対のブラインド部材の一端部を示す要部拡大図である。FIG. 10A is an enlarged side view of the main part for showing the relationship between the pair of blind members and the mask, and FIG. 10B is an enlarged view of the main part showing one end part of the pair of blind members. . 図11は、近接スキャン露光装置のマスク配置領域におけるマスク交換状態を示す側面図である。FIG. 11 is a side view showing a mask exchange state in the mask arrangement region of the proximity scan exposure apparatus. 図12(a)は、受け渡し位置に位置するマスクチェンジャーをマスクプリアライメント機構を除いて示す上面図であり、(b)はその側面図である。FIG. 12A is a top view showing the mask changer positioned at the transfer position, excluding the mask pre-alignment mechanism, and FIG. 12B is a side view thereof. 図13は、マスクの交換手順を説明するための上面図である。FIG. 13 is a top view for explaining a mask replacement procedure. 図14は、交換位置におけるマスク保持部とマスクトレー部を示す斜視図である。FIG. 14 is a perspective view showing the mask holding part and the mask tray part in the replacement position. 図15は、複数のマスク駆動部の配置の変形例を示す概略図である。FIG. 15 is a schematic diagram illustrating a modification of the arrangement of the plurality of mask driving units. 図16は、複数のマスク駆動部の配置の他の変形例を示す該略図である。FIG. 16 is a schematic diagram showing another modification of the arrangement of the plurality of mask driving units.

以下、本発明の露光装置の一実施形態に係る近接スキャン露光装置について図面を参照して詳細に説明する。   Hereinafter, a proximity scan exposure apparatus according to an embodiment of the exposure apparatus of the present invention will be described in detail with reference to the drawings.

本実施形態の近接スキャン露光装置1は、図6に示すように、マスクMに近接しながら所定方向に搬送される略矩形状の基板Wに対して、パターンPを形成した複数のマスクMを介して露光用光ELを照射し、基板WにパターンPを露光転写する。即ち、該露光装置1は、基板Wを複数のマスクMに対して相対移動しながら露光転写が行われるスキャン露光装置である。なお、本実施形態で使用される略矩形状のマスクのサイズは、300mm×350mmに設定されており、パターンPのX方向長さは、有効露光領域のX方向長さに対応する。   As shown in FIG. 6, the proximity scan exposure apparatus 1 of the present embodiment applies a plurality of masks M on which a pattern P is formed to a substantially rectangular substrate W that is transported in a predetermined direction while approaching the mask M. Then, the exposure light EL is radiated to expose and transfer the pattern P onto the substrate W. That is, the exposure apparatus 1 is a scan exposure apparatus that performs exposure transfer while moving the substrate W relative to a plurality of masks M. Note that the size of the substantially rectangular mask used in the present embodiment is set to 300 mm × 350 mm, and the X-direction length of the pattern P corresponds to the X-direction length of the effective exposure region.

近接スキャン露光装置1は、図1及び図5に示すように、基板Wを浮上させて支持すると共に、基板Wを所定方向(図において、X方向)に搬送する基板搬送機構20と、複数のマスクMをそれぞれ保持し、所定方向と交差する方向(図において、Y方向)に沿って千鳥状に二列配置される複数のマスク保持部71を有するマスク保持機構70と、複数のマスク保持部71の上部にそれぞれ配置され、露光用光ELを照射する複数の照射部80と、複数の照射部80と複数のマスク保持部71との間にそれぞれ配置され、照射部80から出射された露光用光ELを遮光する複数の遮光装置90と、複数のマスク保持部71に保持される各マスクMを交換するためのマスクチェンジャー120と、これらを制御する制御部190を備える。   As shown in FIGS. 1 and 5, the proximity scan exposure apparatus 1 floats and supports the substrate W, and transports the substrate W in a predetermined direction (X direction in the drawing), and a plurality of the substrate scanning mechanism 20. A mask holding mechanism 70 having a plurality of mask holding portions 71 each holding a mask M and arranged in two rows in a staggered manner along a direction (Y direction in the figure) intersecting with a predetermined direction, and a plurality of mask holding portions The plurality of irradiation units 80 that are respectively arranged on the upper part of the 71 and irradiate the exposure light EL, and are arranged between the plurality of irradiation units 80 and the plurality of mask holding units 71, and the exposure emitted from the irradiation unit 80. A plurality of light shielding devices 90 for shielding the light EL for use, a mask changer 120 for exchanging each mask M held by the plurality of mask holding parts 71, and a control part 190 for controlling them.

これら基板搬送機構20、マスク保持機構70、複数の照射部80、遮光装置90、及び、マスクチェンジャー120は、レベルブロック3(図4参照。)を介して地面に設置される装置ベース2上に配置されている。ここで、基板搬送機構20が基板Wを搬送する領域のうち、上方にマスク保持機構70が配置される領域をマスク配置領域EA、マスク配置領域EAに対して上流側の領域を基板搬入側領域IA、マスク配置領域EAに対して下流側の領域を基板搬出側領域OAと称す。   The substrate transport mechanism 20, the mask holding mechanism 70, the plurality of irradiation units 80, the light shielding device 90, and the mask changer 120 are mounted on the apparatus base 2 installed on the ground via the level block 3 (see FIG. 4). Has been placed. Here, of the regions where the substrate transport mechanism 20 transports the substrate W, the region where the mask holding mechanism 70 is disposed above is the mask placement region EA, and the region upstream of the mask placement region EA is the substrate carry-in region. A region downstream of IA and mask placement region EA is referred to as a substrate carry-out region OA.

基板搬送機構20は、装置ベース2上に他のレベルブロック4を介して設置された複数の角パイプ等によってそれぞれ構成される搬入フレーム5、精密フレーム6、搬出フレーム7上に配置され(図4参照。)、エアで基板Wを浮上させて支持する浮上ユニット21と、浮上ユニット21のY方向側方で、装置ベース2上にさらに他のレベルブロック8を介して設置されたフレーム9上に配置され、基板Wを把持すると共に、基板WをX方向に搬送する基板駆動ユニット40と、基板搬入側領域IAに設けられ、この基板搬入側領域IAで待機される基板Wのプリアライメントを行う基板プリアライメント機構50と、基板Wのアライメントを行う基板アライメント機構60と、を有する。なお、各レベルブロック3,4,8は、除振台と置き換えられても良い。   The substrate transport mechanism 20 is disposed on the carry-in frame 5, the precision frame 6, and the carry-out frame 7 respectively configured by a plurality of square pipes or the like installed on the apparatus base 2 via other level blocks 4 (FIG. 4). See), a floating unit 21 that floats and supports the substrate W by air, and a frame 9 installed on the apparatus base 2 via another level block 8 on the side of the floating unit 21 in the Y direction. The substrate driving unit 40 that is arranged and holds the substrate W and transports the substrate W in the X direction and the substrate loading side area IA are provided, and the substrate W waiting in the substrate loading side area IA is pre-aligned. A substrate pre-alignment mechanism 50 and a substrate alignment mechanism 60 that performs alignment of the substrate W are included. Each level block 3, 4, 8 may be replaced with a vibration isolation table.

浮上ユニット21は、図3〜図5に示すように、搬入出及び精密フレーム5,6,7の上面から上方に延びる複数の連結棒22が下面にそれぞれ取り付けられる長尺状の複数の排気エアパッド23,24及び長尺状の複数の吸排気エアパッド25a,25bと、各エアパッド23,24,25a,25bに形成された複数の排気孔26からエアを排出するエア排出系30及びエア排出用ポンプ31と、吸排気エアパッド25a,25bに形成された吸気孔27からエアを吸引するためのエア吸引系32及びエア吸引用ポンプ33と、を備える。   As shown in FIGS. 3 to 5, the levitation unit 21 includes a plurality of long exhaust air pads to which a plurality of connecting rods 22 extending from the upper surface of the carry-in / out and precision frames 5, 6, 7 are respectively attached to the lower surface. 23, 24 and a plurality of elongate intake / exhaust air pads 25a, 25b, an air exhaust system 30 for exhausting air from a plurality of exhaust holes 26 formed in each air pad 23, 24, 25a, 25b, and an air exhaust pump 31, and an air suction system 32 and an air suction pump 33 for sucking air from the intake holes 27 formed in the intake / exhaust air pads 25 a and 25 b.

基板搬入側領域IA及び基板搬出側領域OAに配置される排気エアパッド23は、長手方向が主にX方向に沿うように敷設されており、隣接するパッド同士の間隔を比較的大きくしてコストダウンを図っている。また、図3に示すように、マスク配置領域EAに配置されるエアパッド24,25a,25bのうち、排気エアパッド24は、長手方向がX方向に沿うように敷設される一方、吸排気エアパッド25a,25bは、長手方向がY方向に沿うように敷設されている。   The exhaust air pads 23 arranged in the substrate carry-in side area IA and the substrate carry-out side area OA are laid so that the longitudinal direction is mainly along the X direction, and the distance between adjacent pads is relatively increased to reduce the cost. I am trying. As shown in FIG. 3, among the air pads 24, 25a, 25b arranged in the mask arrangement area EA, the exhaust air pad 24 is laid so that the longitudinal direction is along the X direction, while the intake / exhaust air pads 25a, 25b is laid so that the longitudinal direction is along the Y direction.

また、吸排気エアパッド25a,25bは、図5に示すように、複数の排気孔26及び複数の吸気孔27を有しており、エアパッド25a,25bの支持面34と基板Wとの間のエア圧をバランス調整し、所定の浮上量に高精度で設定することができ、安定した高さで水平支持することができる。   Further, as shown in FIG. 5, the intake / exhaust air pads 25a, 25b have a plurality of exhaust holes 26 and a plurality of intake holes 27, and air between the support surfaces 34 of the air pads 25a, 25b and the substrate W is provided. The pressure can be balanced and set to a predetermined flying height with high accuracy, and can be horizontally supported at a stable height.

図6に示すように、吸排気エアパッド25a,25bは、マスク保持部71に保持された露光時におけるマスクMの下方に位置するように対向配置され、マスクMのパターンPが形成された露光領域より大きく設計されている。このように吸排気エアパッド25a,25bが、マスクMの露光領域より大きく設計されることで、エアパッドによる露光むらが発生するのを抑制することができる。   As shown in FIG. 6, the intake / exhaust air pads 25 a and 25 b are arranged to face each other so as to be positioned below the mask M at the time of exposure held by the mask holding unit 71, and the exposure region where the pattern P of the mask M is formed. Designed larger. In this way, the intake / exhaust air pads 25a and 25b are designed to be larger than the exposure area of the mask M, so that it is possible to suppress the occurrence of uneven exposure due to the air pads.

なお、精密フレーム6は、マスク配置領域EAに配置された吸排気エアパッド24,25a,25bからY方向一側に延設されており、後述するマスクプリアライメント機構140を構成する排気エアパッド141が、長手方向をY方向に沿うように連続配置されている。   The precision frame 6 extends from the intake / exhaust air pads 24, 25a, 25b arranged in the mask arrangement area EA to one side in the Y direction, and an exhaust air pad 141 constituting a mask pre-alignment mechanism 140 described later is provided. The longitudinal direction is continuously arranged along the Y direction.

基板駆動ユニット40は、図2に示すように、真空吸着により基板Wを把持する把持部材41と、把持部材41をX方向に沿って案内するリニアガイド42と、把持部材41をX方向に沿って駆動する駆動モータ43及びボールねじ機構44と、フレーム9の上面から突出するように、基板搬入領域IAにおけるフレーム9の側方にZ方向に移動可能且つ回転自在に取り付けられ、マスク保持機構70への搬送待ちの基板Wの下面を支持する複数のワーク衝突防止ローラ45と、を備える。なお、基板駆動ユニット40は、基板Wの撓み等を考慮して、Y方向一側のみに設けられているが、Y方向両側に設けられる構成であってもよい。また、把持部材41は、基板Wのθ方向(X,Y方向からなる水平面の法線回り)の駆動を許容する構成であってもよい。   As shown in FIG. 2, the substrate drive unit 40 includes a gripping member 41 that grips the substrate W by vacuum suction, a linear guide 42 that guides the gripping member 41 along the X direction, and a gripping member 41 along the X direction. The mask holding mechanism 70 is attached to the drive motor 43 and the ball screw mechanism 44, which are driven in the above manner, and to be movable in the Z direction so as to protrude from the upper surface of the frame 9 and to the side of the frame 9 in the substrate carry-in area IA. And a plurality of work collision prevention rollers 45 that support the lower surface of the substrate W waiting to be conveyed to. The substrate driving unit 40 is provided only on one side in the Y direction in consideration of the bending of the substrate W, but may be provided on both sides in the Y direction. In addition, the gripping member 41 may be configured to allow driving of the substrate W in the θ direction (around the horizontal plane normal to the X and Y directions).

基板プリアライメント機構50は、図7に示すように、基板搬入側領域IAのX方向上流側、及びY方向一側、即ち、基板搬入側領域IAで待機される基板Wの対向辺の一側近傍に配置される複数の基準ピン51,52と、X方向下流側、及びY方向他側、即ち、待機した基板Wの対向辺の他側近傍に配置される複数の押し当てピン53,54と、基板Wを吸着すると共に、吸着した基板Wと共にX方向に駆動可能なハンドシェイクピン55と、を有する。   As shown in FIG. 7, the substrate pre-alignment mechanism 50 includes an upstream side in the X direction of the substrate carry-in side area IA and one side in the Y direction, that is, one side of the opposite side of the substrate W waiting in the substrate carry-in side area IA. A plurality of reference pins 51, 52 arranged in the vicinity, and a plurality of pressing pins 53, 54 arranged in the X direction downstream side and the other side in the Y direction, that is, in the vicinity of the other side of the opposite side of the waiting substrate W. And a handshake pin 55 that adsorbs the substrate W and can be driven in the X direction together with the adsorbed substrate W.

X方向に対向して配置された基準ピン51及び押し当てピン53は、上面視で複数のエアパッド23と重ならない位置に配置される。これら基準ピン51及び押し当てピン53はそれぞれ、図示しない駆動部により、搬入フレーム5の上面から上方に進退可能であると共に、X方向に移動可能である。Y方向に対向して配置された基準ピン52及び押し当てピン54は、Y方向両側の一対のフレーム10(図1参照。)に跨ってY方向に延びる一対の連結フレーム11に掛け渡されるX方向フレーム18に取り付けられる。基準ピン52は、図示しない駆動部により、下方に進退可能に設けられ、また、押し当てピン54は、図示しない駆動部により、下方に進退可能であると共に、Y方向に移動可能である。また、これら基準ピン51,52及び押し当てピン53,54は、基板Wの縁端面と当接する軸受ローラ58,59をそれぞれ有する。さらに、ハンドシェイクピン55は、エアパッド23が配置されていない基板Wと対向可能な位置で搬入フレーム5に設けられ、図示しない駆動部により基板搬入領域IAの略2/3程度に亘ってX方向に移動可能である。   The reference pin 51 and the pressing pin 53 that are disposed to face each other in the X direction are disposed at positions that do not overlap with the plurality of air pads 23 in a top view. Each of the reference pin 51 and the pressing pin 53 can move forward and backward from the upper surface of the carry-in frame 5 and can move in the X direction by a driving unit (not shown). The reference pin 52 and the pressing pin 54 arranged to face each other in the Y direction are stretched over a pair of connecting frames 11 extending in the Y direction across a pair of frames 10 (see FIG. 1) on both sides in the Y direction. Attached to the direction frame 18. The reference pin 52 is provided so as to be able to advance and retract downward by a drive unit (not shown), and the pressing pin 54 can be advanced and retracted downward by a drive unit (not shown) and can be moved in the Y direction. The reference pins 51 and 52 and the pressing pins 53 and 54 have bearing rollers 58 and 59 that abut against the edge surface of the substrate W, respectively. Furthermore, the handshake pin 55 is provided in the carry-in frame 5 at a position that can face the substrate W on which the air pad 23 is not disposed, and is driven in the X direction over approximately 2/3 of the substrate carry-in area IA by a drive unit (not shown). Can be moved to.

なお、基準ピン51のX方向位置は、基板Wのサイズ変更や、基板毎のアライメントマーク位置の変更、後述する遮光装置90との同期を図るための基板Wの搬送開始位置変更等によって調整される。また、各基準ピン及び押し当てピンの本数は、少なくとも図7に示された数、即ち、2本の基準ピン51と、それぞれ1本の基準ピン52、押し当てピン53,54だけ最低限あればよく、必要に応じて増加してもよい。   The position of the reference pin 51 in the X direction is adjusted by changing the size of the substrate W, changing the alignment mark position for each substrate, changing the transfer start position of the substrate W in order to synchronize with the light shielding device 90 described later, and the like. The Further, the number of each reference pin and pressing pin is at least the number shown in FIG. 7, that is, two reference pins 51, one reference pin 52, and pressing pins 53 and 54, respectively. What is necessary is just to increase as needed.

基板アライメント機構60も、図7に示すように、基板Wに設けられた基準マークを検出する2つのアライメント用カメラ61と、基板Wを吸着すると共に、吸着した基板Wと共にY方向にそれぞれ駆動可能な一対のθ補正用吸着ピン62と、を有する。   As shown in FIG. 7, the substrate alignment mechanism 60 can also be driven in the Y direction together with the two alignment cameras 61 for detecting the reference marks provided on the substrate W and the substrate W, and with the sucked substrate W. A pair of θ correction suction pins 62.

アライメント用カメラ61は、連結フレーム11にそれぞれ取り付けられ、図示しない駆動部によりY方向に沿って移動可能である。これにより、カメラ61が基準マークを検出することで、アライメント時の基板WのX,Y,θ方向の補正移動量が算出される。一対の吸着ピン62は、エアパッド23が配置されていない基板Wと対向可能な位置で搬入フレーム5に設けられ、図示しない駆動部によりY方向及びZ方向に移動可能である。従って、X方向に所定距離離れた一対の吸着ピン62がY方向に相対的に移動することで、吸着された基板Wのθ方向の位置合わせが行われる。なお、基板WのX,Y方向のアライメント調整は、把持部材41のX方向補正、後述するマスク保持部71のY方向補正によって行われる。   The alignment cameras 61 are respectively attached to the connection frames 11 and can be moved along the Y direction by a driving unit (not shown). Thereby, when the camera 61 detects the reference mark, the correction movement amount in the X, Y, and θ directions of the substrate W during alignment is calculated. The pair of suction pins 62 is provided on the carry-in frame 5 at a position that can face the substrate W on which the air pad 23 is not disposed, and can be moved in the Y direction and the Z direction by a drive unit (not shown). Accordingly, the pair of suction pins 62 that are separated by a predetermined distance in the X direction move relative to each other in the Y direction, so that the suctioned substrate W is aligned in the θ direction. The alignment adjustment of the substrate W in the X and Y directions is performed by correcting the X direction of the holding member 41 and correcting the Y direction of the mask holding unit 71 described later.

マスク保持機構70は、図2及び図5に示すように、上述した複数のマスク保持部71と、マスク保持部71毎に設けられ、マスク保持部71をX,Y,Z,θ方向、即ち、所定方向、交差方向、所定方向及び交差方向との水平面に対する鉛直方向、及び、該水平面の法線回りに駆動する複数のマスク駆動部72と、を有する。   As shown in FIGS. 2 and 5, the mask holding mechanism 70 is provided for each of the above-described plurality of mask holding portions 71 and the mask holding portions 71. , A predetermined direction, a crossing direction, a vertical direction with respect to the horizontal plane of the predetermined direction and the crossing direction, and a plurality of mask driving units 72 driven around the normal line of the horizontal plane.

Y方向に沿って千鳥状に二列配置される複数のマスク保持部71は、上流側に配置される複数の上流側マスク保持部71a(本実施形態では、6個)と、下流側に配置される複数の下流側マスク保持部71b(本実施形態では、6個)と、で構成され、装置ベース2のY方向両側に立設した柱部12(図1参照。)間で上流側と下流側に2本ずつ架設されたメインフレーム13にマスク駆動部72を介してそれぞれ支持されている。各マスク保持部71は、Z方向に貫通する開口77を有すると共に、その周縁部下面にマスクMが真空吸着されている。   A plurality of mask holding portions 71 arranged in two rows in a staggered manner along the Y direction are arranged on the downstream side with a plurality of upstream mask holding portions 71a (six in this embodiment) arranged on the upstream side. A plurality of downstream mask holding portions 71b (six in this embodiment), and the upstream side between the column portions 12 (see FIG. 1) erected on both sides of the apparatus base 2 in the Y direction. Two main frames 13 are installed on the downstream side, and supported by mask driving units 72. Each mask holding portion 71 has an opening 77 penetrating in the Z direction, and the mask M is vacuum-sucked on the lower surface of the peripheral portion.

マスク駆動部72は、メインフレーム13に取り付けられ、X方向に沿って移動するX方向駆動部73と、X方向駆動部73の先端に取り付けられ、Z方向に駆動するZ方向駆動部74と、Z方向駆動部74に取り付けられ、Y方向に駆動するY方向駆動部75と、Y方向駆動部75に取り付けられ、θ方向に駆動するθ方向駆動部76と、を有し、θ方向駆動部76の先端にマスク保持部71が取り付けられている。従って、各駆動部73,74,75,76はX方向に並んで配置されており、マスク駆動部72は、マスク保持部71a,71bのX方向側方で、上流側マスク保持部71aと下流側マスク保持部71bとが対向する側と反対側に延びて、メインフレーム13に取り付けられている。   The mask drive unit 72 is attached to the main frame 13 and moves along the X direction. The Z direction drive unit 73 is attached to the tip of the X direction drive unit 73 and is driven in the Z direction. A Y-direction drive unit 75 attached to the Z-direction drive unit 74 and driven in the Y-direction, and a θ-direction drive unit 76 attached to the Y-direction drive unit 75 and driven in the θ-direction. A mask holding portion 71 is attached to the tip of 76. Accordingly, the drive units 73, 74, 75, and 76 are arranged side by side in the X direction, and the mask drive unit 72 is downstream of the upstream mask holding unit 71a and the downstream side of the mask holding units 71a and 71b in the X direction. The side mask holding portion 71b extends to the opposite side to the opposite side and is attached to the main frame 13.

複数の照射部80は、図5及び図8に示すように、筐体81内に図示しない光源、ミラー、オプチカルインテグレータ、シャッター等を備え、マスク保持部71に保持されたマスクMに露光用光ELを照射する。また、筐体81の下面には、ガイドレール82が取り付けられており、照射部80は、メインフレーム13や後述するサブフレーム15に固設されたスライダ83に案内され、マスク保持部71の上方に配置される露光位置EP(図5の実線)と、露光位置EPから外れた後退位置RP(図5の二点鎖線)との間をX方向に移動可能である。このため、照射部80が後退位置RPに位置される場合には、後述する中間連結フレーム16の上方にスペースが形成されるので、作業者が中間連結フレーム16上に乗って、マスク保持機構70、後述する遮光装置90、各種検出手段等の交換やメンテナンスを容易に行うことができる。   As shown in FIGS. 5 and 8, the plurality of irradiation units 80 include a light source, a mirror, an optical integrator, a shutter, and the like (not shown) in the housing 81, and exposure light is applied to the mask M held by the mask holding unit 71. Irradiate EL. A guide rail 82 is attached to the lower surface of the casing 81, and the irradiation unit 80 is guided by a slider 83 fixed to the main frame 13 and a subframe 15 described later, and above the mask holding unit 71. Can be moved in the X direction between an exposure position EP (solid line in FIG. 5) disposed at a position and a retracted position RP (two-dot chain line in FIG. 5) deviating from the exposure position EP. For this reason, when the irradiation unit 80 is positioned at the retracted position RP, a space is formed above the intermediate connection frame 16 to be described later, so that the operator gets on the intermediate connection frame 16 and the mask holding mechanism 70. Therefore, it is possible to easily replace and maintain a light shielding device 90 and various detection means described later.

なお、露光位置EPと後退位置RPでの照射部80の位置決めは、筐体81の下面に設けられた一対のストッパ部材84a,84bをメインフレーム13に設けられた固定部材85に当接させることで行われる。また、照射部80には、露光位置EPに移動したことを検出する位置検知センサが構成されている。具体的には、露光位置EPを規定するストッパ部材84aには、センサドグ86が取り付けられており、固定部材85近傍に設けられたフォトスイッチ87によって、照射部80が露光位置EPに位置決めされたことを検知する。なお、図8に一点鎖線で示された固定部材85及びフォトスイッチ87は、照射部80が露光位置EPに位置する際の筐体81との相対位置を示している。また、本実施形態では、各照射部80のX方向移動量は、670mmに設定されている。   The irradiation unit 80 is positioned at the exposure position EP and the retracted position RP by bringing a pair of stopper members 84 a and 84 b provided on the lower surface of the housing 81 into contact with a fixing member 85 provided on the main frame 13. Done in In addition, the irradiation unit 80 is configured with a position detection sensor that detects movement to the exposure position EP. Specifically, a sensor dog 86 is attached to the stopper member 84a that defines the exposure position EP, and the irradiation unit 80 is positioned at the exposure position EP by the photo switch 87 provided in the vicinity of the fixed member 85. Is detected. Note that the fixing member 85 and the photo switch 87 indicated by the one-dot chain line in FIG. 8 indicate the relative positions with respect to the housing 81 when the irradiation unit 80 is positioned at the exposure position EP. In the present embodiment, the amount of movement in the X direction of each irradiation unit 80 is set to 670 mm.

複数の遮光装置90は、図5、図9及び図10に示すように、マスク保持部71に保持されたマスクMの近傍で、照射部80から出射された露光用光ELを遮光するとともに、露光用光ELを遮光する所定方向における遮光幅、即ち、Z方向から見た投影面積が可変となるように、傾斜角度を変更する一対の板状のブラインド部材(遮光部材)108,109と、一対のブラインド部材108,109の傾斜角度を変更するブラインド駆動ユニット92と、を有する。   As shown in FIGS. 5, 9, and 10, the plurality of light shielding devices 90 shield the exposure light EL emitted from the irradiation unit 80 in the vicinity of the mask M held by the mask holding unit 71, and A pair of plate-like blind members (light-shielding members) 108 and 109 that change the inclination angle so that the light-shielding width in a predetermined direction for shielding the exposure light EL, that is, the projection area viewed from the Z-direction, is variable; And a blind drive unit 92 that changes the inclination angle of the pair of blind members 108 and 109.

ブラインド駆動ユニット92は、上流側及び下流側のメインフレーム13,13との間で、装置ベース2のY方向両側に立設した柱部14,14(図1参照。)間で上流側と下流側に架設されたサブフレーム15,15にZ軸駆動機構91を介してZ方向に昇降可能に固定される。   The blind drive unit 92 is located between the upstream and downstream main frames 13 and 13 and between the column portions 14 and 14 (see FIG. 1) erected on both sides in the Y direction of the apparatus base 2. It is fixed to the subframes 15, 15 installed on the side through a Z-axis drive mechanism 91 so as to be movable up and down in the Z direction.

図9に示すように、ブラインド駆動ユニット92は、開口93aを画成する筐体93のY方向両側で、且つ、上下に取り付けられた4つのモータ95a,95a,95b,95bと、モータ95a,95bの回転によってねじ軸96a,96bを回転させ、ナット97a,97bをX方向に移動させる4つのボールねじ機構98a,98a,98b,98bと、ナット97a,97bをスライダ99a,99bと固定し、スライダ99a,99bがレール100a,100bに案内される4つのリニアガイド101a,101a,101b,101bと、下側のナット97aにねじ固定された連結部102aを介して、ナット97aと共にX方向に移動し、一方のブラインド部材108が取り付けられる一対のアーム部103と、上側のナット97bにねじ固定された連結部102bを介して、ナット97bと共にX方向に移動し、他方のブラインド部材109が取り付けられる一対のアーム部104と、を備える。   As shown in FIG. 9, the blind drive unit 92 includes four motors 95a, 95a, 95b, and 95b that are mounted on both sides in the Y direction of the casing 93 that defines the opening 93a, and a motor 95a, The screw shafts 96a and 96b are rotated by the rotation of 95b, and the four ball screw mechanisms 98a, 98a, 98b and 98b for moving the nuts 97a and 97b in the X direction and the nuts 97a and 97b are fixed to the sliders 99a and 99b. The sliders 99a and 99b move in the X direction together with the nut 97a via the four linear guides 101a, 101a, 101b and 101b guided by the rails 100a and 100b and the connecting portion 102a fixed to the lower nut 97a by screws. A pair of arm portions 103 to which one blind member 108 is attached and an upper nut. Via a screw fixed coupling part 102b to 97b, provided to move in the X direction together with the nut 97b, a pair of arms 104 the other blind member 109 is attached, a.

また、各アーム部103,104はそれぞれ、図10(a)に示すように、筐体93からナット97a,97bと共にX方向に移動する第1アーム部105a,105bと、各一端が第1アーム部105a,105bの下端とそれぞれ連結し、各他端同士が互いに連結される第2アーム部106a,106bと、を備える。Y方向両側に設けられた第2アーム部106aの下方には、その長手方向がY方向に沿うように一方のブラインド部材108が固定される。また、Y方向両側に設けられた第2アーム部106bの下方には、その長手方向がY方向に沿うように他方のブラインド部材109が固定される。   Further, as shown in FIG. 10A, each of the arm portions 103 and 104 includes first arm portions 105a and 105b that move in the X direction together with the nuts 97a and 97b from the casing 93, and each end is a first arm. Second arm portions 106a and 106b that are respectively connected to the lower ends of the portions 105a and 105b and whose other ends are connected to each other. One blind member 108 is fixed below the second arm portion 106a provided on both sides in the Y direction so that the longitudinal direction thereof is along the Y direction. Further, the other blind member 109 is fixed below the second arm portion 106b provided on both sides in the Y direction so that the longitudinal direction thereof is along the Y direction.

従って、遮光装置90が照射部80から出射された露光用光ELを遮光する場合には、一対のブラインド部材108,109が、開口93a内の露光領域から外れた位置に収納された状態から、上側の一対のモータ95a,95aを駆動して、第1アーム部105bを第1アーム部105aから離間するようにX方向に移動させることで、一対のブラインド部材108,109が同一の傾斜角度を持って徐々に開かれる。これにより、ブラインド部材108,109が露光領域に進出した部分の露光用光ELが遮光される。   Therefore, when the light shielding device 90 shields the exposure light EL emitted from the irradiating unit 80, the pair of blind members 108 and 109 is stored in a position outside the exposure area in the opening 93a. By driving the upper pair of motors 95a and 95a to move the first arm portion 105b in the X direction so as to be separated from the first arm portion 105a, the pair of blind members 108 and 109 have the same inclination angle. Hold it gradually. Thereby, the exposure light EL in the part where the blind members 108 and 109 have advanced into the exposure region is shielded.

さらに、下側の一対のモータ95b、95bを駆動して、第1アーム部105aを第1アーム部105bから離間するようにX方向に移動させることで、一対のブラインド部材108,109がさらに開かれ、露光領域全域をブラインド部材108,109によって遮光できる。   Further, the pair of blind members 108 and 109 are further opened by driving the pair of lower motors 95b and 95b to move the first arm portion 105a in the X direction so as to be separated from the first arm portion 105b. In addition, the entire exposure area can be shielded by the blind members 108 and 109.

また、図10(b)に示すように、一方のブラインド部材108の一端部108aは、略平板状に形成され、他方のブラインド部材109の一端部109aは、一方のブラインド部材108の一端部108aを覆う湾曲形状を有する。両ブラインド部材108,109は、駆動ユニット92によって傾斜角度を可変とするが、これら一端部108a,109aは、互いに近接対向し、傾斜角度に関わらず、上下方向から見て互いにオーバーラップしている。これにより、一対のブラインド部材108,109が傾斜角度を変えてX方向に移動した際に、互いの一端部側において露光用光ELが漏れることが防止される。   As shown in FIG. 10B, one end 108a of one blind member 108 is formed in a substantially flat plate shape, and one end 109a of the other blind member 109 is one end 108a of one blind member 108. Has a curved shape covering. Both the blind members 108 and 109 are variable in inclination angle by the drive unit 92, but the one end portions 108a and 109a are close to each other and overlap each other when viewed from the vertical direction regardless of the inclination angle. . Thereby, when the pair of blind members 108 and 109 move in the X direction while changing the inclination angle, the exposure light EL is prevented from leaking at one end side of each other.

また、一対のブラインド部材108,109は互いに平行となる位置まで傾斜角度を変更可能であるので、ブラインド部材108,109が露光領域を横切る際の露光量の低下を極力抑制することができる。   Further, since the inclination angle of the pair of blind members 108 and 109 can be changed to a position where they are parallel to each other, it is possible to suppress the decrease in the exposure amount when the blind members 108 and 109 cross the exposure region as much as possible.

マスクチェンジャー120は、図11及び図12に示すように、上流側マスク保持部71aと下流側マスク保持部71bとの間に配置されており、マスクMを保持すると共に、マスクMをマスク保持部71の下面に吸着させるべく、上流側及び下流側マスク保持部71a,71bの下面と対向可能な一対のマスクトレー部121と、上流側マスク保持部71aと下流側マスク保持部71bとの間で、これら一対のマスクトレー部121を連結する連結部122と、これら一対のマスクトレー部を連結部122と共にY方向に駆動するマスク交換用駆動部123と、を有する。   As shown in FIGS. 11 and 12, the mask changer 120 is disposed between the upstream mask holding portion 71a and the downstream mask holding portion 71b, holds the mask M, and holds the mask M in the mask holding portion. 71 between a pair of mask trays 121 that can be opposed to the lower surfaces of the upstream and downstream mask holding portions 71a and 71b, and between the upstream mask holding portion 71a and the downstream mask holding portion 71b. And a connecting portion 122 for connecting the pair of mask tray portions 121 and a mask replacement driving portion 123 for driving the pair of mask tray portions together with the connecting portion 122 in the Y direction.

一対のマスクトレー部121は、平板状のベース部191と、このベース部191の上方でベース部191に対して水平方向に相対移動可能に配置される平板状のチェイサー板192と、このチェイサー板192の周縁部の上面に設けられ、マスクMが載置可能であると共に、マスクMの下面にエアを供給して、マスクMを浮上させる複数のエア供給機構125と、を備える。   The pair of mask tray portions 121 includes a flat base portion 191, a flat plate chaser plate 192 disposed above the base portion 191 so as to be relatively movable in the horizontal direction with respect to the base portion 191, and the chaser plate. A plurality of air supply mechanisms 125 that are provided on the upper surface of the peripheral edge of 192 and on which the mask M can be placed and that supply air to the lower surface of the mask M to float the mask M are provided.

また、一対のマスクトレー部121は、チェイサー板192とベース部191との間に配置された複数のばね部材194と、後述するマスクプリアライメントの際に、浮上したマスクMの端面と当接して、チェイサー板192に対してマスクMを水平方向に位置決めするための複数のマスク用位置決めピン(位置決め部)196と、同じくマスクプリアライメントの際に、浮上したマスクMの端面をマスク用位置決めピン196に向けて押圧する押圧機構198と、を備える。   In addition, the pair of mask tray portions 121 abuts a plurality of spring members 194 disposed between the chaser plate 192 and the base portion 191 and the end face of the mask M that has floated during mask pre-alignment described later. , A plurality of mask positioning pins (positioning portions) 196 for positioning the mask M in the horizontal direction with respect to the chaser plate 192, and the end face of the mask M that has floated during mask pre-alignment are also used as mask positioning pins 196. And a pressing mechanism 198 that presses toward the center.

チェイサー板192は、ばね部材194を介してベース部191の上方で支持されている。このため、チェイサー板192は、ベース部191に対して相対移動可能であるとともに、マスクMとともにマスク保持部71の移動に追従させることができる。これにより、マスク保持部71にマスクMを取り付けるとき、マスク保持部71が一定の位置に降下する際、ばね部材194を伸縮させることで、マスクMの取付位置を変えることができ、マスクMの吸着力を一定にすることができる。また、マスク保持部71にマスクMを取り付けるときに、マスク保持部71がマスクMに衝突したとしても、ばね部材194を伸縮させることでマスクMに過大な力が掛かるのを抑制することができ、マスクMが変形したり、マスクMが破損したりするのを防止することができる。   The chaser plate 192 is supported above the base portion 191 via a spring member 194. For this reason, the chaser plate 192 can move relative to the base portion 191 and can follow the movement of the mask holding portion 71 together with the mask M. Thereby, when the mask M is attached to the mask holding part 71, the attachment position of the mask M can be changed by extending and contracting the spring member 194 when the mask holding part 71 descends to a certain position. The adsorption force can be made constant. Further, when attaching the mask M to the mask holding part 71, even if the mask holding part 71 collides with the mask M, it is possible to prevent an excessive force from being applied to the mask M by expanding and contracting the spring member 194. It is possible to prevent the mask M from being deformed or the mask M from being damaged.

マスク用位置決めピン196は、複数のエア供給機構125によって浮上されるマスクMの端面がプリアライメントされる際に当接可能な位置で、X方向一方側及びY方向一方側でベース部191上に配置されている。   The mask positioning pins 196 are positions where they can come into contact when the end surfaces of the mask M levitated by the plurality of air supply mechanisms 125 are pre-aligned, and on the base portion 191 on one side in the X direction and one side in the Y direction. Has been placed.

押圧機構198は、マスク用位置決めピン196が配置される側と反対側のX方向他方側及びY方向他方側でベース部191上に配置されている。押圧機構198は、図示しない、シリンダ機構または、サーボ機構などによって構成され、浮上したマスクMの端面をマスク用位置決めピン196に向けてX方向及びY方向から押圧し、マスクMの端面をマスク用位置決めピン196に当接させることで、マスクMのプリアライメントが行われる。なお、マスク用位置決めピン196及び押圧機構198は、チェイサー板192上に配置されてもよい。   The pressing mechanism 198 is disposed on the base portion 191 on the other side in the X direction and the other side in the Y direction opposite to the side on which the mask positioning pins 196 are disposed. The pressing mechanism 198 is configured by a cylinder mechanism or a servo mechanism (not shown), and presses the end face of the mask M that has floated toward the mask positioning pins 196 from the X direction and the Y direction, and the end face of the mask M is used for the mask. The mask M is pre-aligned by being brought into contact with the positioning pins 196. The mask positioning pins 196 and the pressing mechanism 198 may be disposed on the chaser plate 192.

連結部122は、上部にスライダ127が取り付けられる連結部本体128と、千鳥状に配置されるマスク保持部71の配置に併せて、一対のマスクトレー部121をX方向に対して斜めに連結する一対の腕部129と、を有している。   The connecting part 122 connects the pair of mask tray parts 121 obliquely with respect to the X direction in accordance with the arrangement of the connecting part main body 128 to which the slider 127 is attached and the mask holding part 71 arranged in a staggered manner. A pair of arm portions 129.

マスク交換用駆動部123は、Y方向に延びる中間連結フレーム16の下部に同じくY方向に延設された支持部131内に収容され、駆動モータ132によって回転駆動されるベルト133と、連結部122に固定されると共に、ベルト133の一部と連結され、ベルト133の回転によりY方向に駆動される可動部134と、を有する。可動部134は、支持部131の開口部131aから側方に延び、下方に位置する連結部122に固定される。また、支持部131の下部にはガイドレール135が設けられ、ガイドレール135を跨ぐスライダ127によって一対のマスクトレー部121をY方向に案内する。なお、中間連結フレーム16は、上流側及び下流側のサブフレーム15,15をY方向両側で連結するX方向に延びるフレーム17,17の中間部に取り付けられている(図1参照。)。   The mask replacement drive unit 123 is housed in a support unit 131 that extends in the Y direction below the intermediate connection frame 16 that extends in the Y direction, and a belt 133 that is rotationally driven by the drive motor 132 and the connection unit 122. And a movable portion 134 that is coupled to a part of the belt 133 and is driven in the Y direction by the rotation of the belt 133. The movable part 134 extends laterally from the opening 131a of the support part 131 and is fixed to the connecting part 122 positioned below. In addition, a guide rail 135 is provided below the support portion 131, and the pair of mask tray portions 121 are guided in the Y direction by a slider 127 straddling the guide rail 135. The intermediate connection frame 16 is attached to an intermediate portion of frames 17 and 17 extending in the X direction that connect the upstream and downstream subframes 15 and 15 on both sides in the Y direction (see FIG. 1).

従って、連結部122を介して可動部134と連結された一対のマスクトレー部121は、マスクMを交換すべく、ベルト133を駆動して、マスクMを搬入又は搬出するための受け渡し位置WPと、各マスク保持部71の下面と対向する交換位置CPとの間でY方向に移動する。この受け渡し位置WPは、マスクトレー部121やマスク交換駆動部123等が基板駆動ユニット40の各部品と干渉しないように、基板駆動ユニット40が設置されるY方向の一端側と反対側に設けられている。   Accordingly, the pair of mask tray parts 121 connected to the movable part 134 via the connecting part 122 drives the belt 133 to exchange the mask M, and a delivery position WP for carrying in or out the mask M. Then, it moves in the Y direction between the lower surface of each mask holding portion 71 and the exchange position CP facing it. The delivery position WP is provided on the side opposite to the one end side in the Y direction where the substrate driving unit 40 is installed so that the mask tray unit 121, the mask exchange driving unit 123, and the like do not interfere with each component of the substrate driving unit 40. ing.

また、図12に示すように、マスクトレー部121のベース部191は、複数の照射部80からの各露光用光ELが照射される各位置に、各露光用光ELの照度を検出する照度センサ199を備える。また、各照射部80には、照射部80内での露光用光ELの照度を検出する他の照度センサが設けられており、制御部190は、照度センサ199を用いて、各照射部80における照度が目標照度値となるように光源の電流値を制御し、また、複数の他の照度センサによって各照射部80における照度値が維持されるように制御することで、複数の照射部80における各光源の照度を同一に制御することができる。   Further, as shown in FIG. 12, the base 191 of the mask tray 121 has an illuminance for detecting the illuminance of each exposure light EL at each position where each exposure light EL from the plurality of irradiation units 80 is irradiated. A sensor 199 is provided. Each irradiating unit 80 is provided with another illuminance sensor that detects the illuminance of the exposure light EL in the irradiating unit 80, and the control unit 190 uses the illuminance sensor 199 to each irradiating unit 80. The current value of the light source is controlled so that the illuminance at the target illuminance value becomes the target illuminance value, and the illuminance values at the respective irradiating units 80 are controlled by a plurality of other illuminance sensors. The illuminance of each light source in can be controlled to be the same.

また、図4及び図11に示すように、近接スキャン露光装置1には、レーザー変位計160,161、マスクアライメント用カメラ171、追従用カメラ172、追従用照明173等の各種検出手段が配置されている。   As shown in FIGS. 4 and 11, the proximity scanning exposure apparatus 1 includes various detection means such as laser displacement meters 160 and 161, a mask alignment camera 171, a tracking camera 172, and a tracking illumination 173. ing.

レーザー変位計160(160a,160b,160c)は、基板Wと各マスクMとが対向する領域で少なくとも3箇所の位置にそれぞれ設けられている。マスクMの上方に位置する一つのレーザー変位計160aは、マスク保持部71に取り付けられており、基板WとマスクMとのギャップを検出するギャップセンサを構成する。基板の下方に位置する2つのレーザー変位計160b,160cは、マスクMの下方に位置する露光領域より大きいエアパッド25aの側方で、基板WとマスクMとが対向する位置に配置され、基板Wの厚さを検出する(図3参照。)。なお、基板Wが素ガラスの場合には、レーザー変位計160b,160cは、上記ギャップも検出可能であり、レーザー変位計160a,160b,160cが、ギャップセンサを構成する。   Laser displacement meters 160 (160a, 160b, 160c) are provided at at least three positions in the region where the substrate W and each mask M face each other. One laser displacement meter 160 a located above the mask M is attached to the mask holding unit 71 and constitutes a gap sensor that detects a gap between the substrate W and the mask M. The two laser displacement meters 160b and 160c located below the substrate are arranged at positions where the substrate W and the mask M face each other on the side of the air pad 25a larger than the exposure region located below the mask M. Is detected (see FIG. 3). When the substrate W is a raw glass, the laser displacement meters 160b and 160c can also detect the gap, and the laser displacement meters 160a, 160b and 160c constitute a gap sensor.

マスクアライメント用カメラ171は、マスクMに形成された基準マークを撮像して、後述する制御部190に送信する。追従用カメラ172は、マスクMと基板Wとの相対位置ズレを検出するため、基板W上の基準マーク、又は基板Wに形成された下地パターンを撮像して、後述する制御部190に送信する。   The mask alignment camera 171 images the reference mark formed on the mask M and transmits it to the control unit 190 described later. The tracking camera 172 captures an image of a reference mark on the substrate W or a ground pattern formed on the substrate W in order to detect a relative displacement between the mask M and the substrate W, and transmits the image to the control unit 190 described later. .

これら2つのレーザー変位計160b,160c、マスクアライメント用カメラ171、追従用カメラ172は、マスク配置領域EAの隣接するエアパッド24,25a,25b間に、エアパッド24,25a,25bの上面より突出しないように精密フレーム6に取り付けられている。   These two laser displacement meters 160b and 160c, the mask alignment camera 171 and the tracking camera 172 do not protrude from the upper surfaces of the air pads 24, 25a and 25b between the adjacent air pads 24, 25a and 25b in the mask arrangement area EA. It is attached to the precision frame 6.

また、レーザー変位計161は、搬入フレーム5に取り付けられ、基板Wの厚さを検出する。追従用照明173は、ブラインド駆動ユニット92の筐体93に取り付けられる。   The laser displacement meter 161 is attached to the carry-in frame 5 and detects the thickness of the substrate W. The follower illumination 173 is attached to the housing 93 of the blind drive unit 92.

ここで、図4に示すように、搬入、精密、搬出フレーム5,6,7は、装置ベース2上に水平方向に延びる複数の角パイプ180、及び鉛直方向に延びる複数の角パイプ181を連結して構成され、X方向及びY方向に貫通するスペース182を画成している。これにより、作業者は、このスペース182内に入り込んで、例えば、エアパッド22,23,24,25a,25bや、上述した各種検出手段、ワーク衝突防止ローラ45、また、基準ピン51、押し付けピン53、ハンドシェイクピン55、吸着ピン62、及びこれらピン51,53,55,62の駆動軸等、これら補機類の交換、メンテナンス作業等を容易に行うことができる。   Here, as shown in FIG. 4, the carry-in, precision, and carry-out frames 5, 6, and 7 connect a plurality of square pipes 180 extending in the horizontal direction and a plurality of square pipes 181 extending in the vertical direction on the apparatus base 2. Configured to define a space 182 penetrating in the X direction and the Y direction. As a result, the worker enters the space 182 and, for example, the air pads 22, 23, 24, 25a, 25b, the above-described various detection means, the work collision prevention roller 45, the reference pin 51, and the pressing pin 53 The auxiliary machines such as the handshake pin 55, the suction pin 62, and the drive shafts of the pins 51, 53, 55, and 62 can be easily exchanged and maintenance work can be easily performed.

制御部190は、上記検出手段や上記各駆動部を含む基板搬送機構20、マスク保持機構70、照射部80、遮光装置90、マスクチェンジャー120等の各機構と接続されており、プログラムや各検出手段からの検出信号に基づいて各機構を駆動制御する。特に、制御部190は、露光時において、マスクMと基板Wとの相対位置ズレを検出し、検出された相対位置ズレに基づいてマスク駆動部72を駆動させ、マスクMの位置を基板Wにリアルタイムで追従させる。同時に、マスクMと基板Wとのギャップを検出し、検出されたギャップに基づいてマスク駆動部72を駆動させ、マスクMと基板Wのギャップをリアルタイムで補正する。   The control unit 190 is connected to each mechanism such as the substrate transport mechanism 20, the mask holding mechanism 70, the irradiation unit 80, the light-shielding device 90, the mask changer 120, and the like including the detection unit and the driving units. Each mechanism is driven and controlled based on the detection signal from the means. In particular, the control unit 190 detects a relative positional deviation between the mask M and the substrate W during exposure, drives the mask driving unit 72 based on the detected relative positional deviation, and sets the position of the mask M to the substrate W. Make it follow in real time. At the same time, the gap between the mask M and the substrate W is detected, the mask driving unit 72 is driven based on the detected gap, and the gap between the mask M and the substrate W is corrected in real time.

次に、以上のように構成される近接スキャン露光装置1を用いて、基板Wの露光転写について説明する。なお、本実施形態では、下地パターン(例えば、ブラックマトリクス)が描画されたカラーフィルタ基板Wに対して、R(赤)、G(緑)、B(青)のいずれかのパターンを描画する場合について説明する。   Next, exposure transfer of the substrate W will be described using the proximity scan exposure apparatus 1 configured as described above. In the present embodiment, when a pattern of R (red), G (green), or B (blue) is drawn on the color filter substrate W on which a base pattern (for example, a black matrix) is drawn. Will be described.

近接スキャン露光装置1は、図示しないローダ等によって、基板搬入領域IAに搬送された基板Wを排気エアパッド23からのエアによって浮上させて支持し、基板Wのプリアライメント作業、アライメント作業を行った後、基板駆動ユニット40の把持部材41にてチャックされた基板Wをマスク配置領域EAに搬送する。   After the proximity scan exposure apparatus 1 supports the substrate W transported to the substrate carry-in area IA by air from the exhaust air pad 23 by a loader or the like (not shown) and performs pre-alignment work and alignment work for the substrate W. Then, the substrate W chucked by the holding member 41 of the substrate driving unit 40 is transferred to the mask arrangement area EA.

そして、基板Wがマスク配置領域EAに設けられた排気エアパッド24及び吸排気エアパッド25a,25b上に移動し、振動を極力排除した状態で浮上させて支持される。そして、照射部80内の光源から露光用光ELを出射すると、かかる露光用光ELは、マスク保持部71に保持されたマスクMを通過し、パターンを基板Wに露光転写する。   Then, the substrate W moves onto the exhaust air pad 24 and the intake / exhaust air pads 25a and 25b provided in the mask arrangement area EA, and is lifted and supported with vibrations eliminated as much as possible. When the exposure light EL is emitted from the light source in the irradiation unit 80, the exposure light EL passes through the mask M held by the mask holding unit 71, and the pattern is exposed and transferred to the substrate W.

このとき、基板Wの移動誤差によるパターンのズレが、追従用カメラ172によって検出された下地パターンの画像を処理することで与えられる。そして、マスク駆動部72が、この処理された画像データに応じてマスクMの位置を微調整することで、パターンのズレをリアルタイムに補正することができる。   At this time, the shift of the pattern due to the movement error of the substrate W is given by processing the image of the base pattern detected by the tracking camera 172. Then, the mask drive unit 72 can finely adjust the position of the mask M in accordance with the processed image data, thereby correcting the pattern deviation in real time.

また、露光動作中、各マスク毎に設置されたレーザー変位計160a,160b,160cは、基板WとマスクMとの間のギャップを検出している。そして、検出されたギャップに基づいて、マスク駆動部72のZ方向駆動部74が、マスク保持部71を上下方向にリアルタイムに駆動制御する。このため、基板Wが基板搬送機構20によって搬送される際、基板Wの厚さばらつきにより、30μm〜40μm程度の高さのばらつきが発生する場合があるが、上記制御によりリアルタイムでのギャップ調整を可能としている。   During the exposure operation, the laser displacement meters 160a, 160b, and 160c installed for each mask detect the gap between the substrate W and the mask M. Then, based on the detected gap, the Z direction drive unit 74 of the mask drive unit 72 controls the mask holding unit 71 in real time in the vertical direction. For this reason, when the substrate W is transported by the substrate transport mechanism 20, a height variation of about 30 μm to 40 μm may occur due to the thickness variation of the substrate W. It is possible.

以上、同様にして、連続露光することで、基板W全体にパターンの露光を行うことができる。マスク保持部71に保持されたマスクMは、千鳥状に配置されているので、上流側或いは下流側のマスク保持部71a,71bに保持されるマスクMが離間して並べられていても、基板Wに隙間なくパターンを形成することができる。   As described above, pattern exposure can be performed on the entire substrate W by performing continuous exposure in the same manner. Since the masks M held by the mask holding unit 71 are arranged in a staggered pattern, even if the masks M held by the upstream or downstream side mask holding units 71a and 71b are arranged apart from each other, the substrate A pattern can be formed in W without a gap.

また、マスクMを所定のタイミングで洗浄するために、マスクチェンジャー120を用いて随時マスクMの交換が行われる。該マスク交換は、図13に示すように、まず、Y方向一端に配置された1番目の上流側及び下流側のマスク保持部71a1,71b1において左右同時に行われ、順次、隣の上流側及び下流側のマスク保持部71a2,71b2,...,71a5,71b5にて行われ、最後に、Y方向他端に配置された6番目の上流側及び下流側のマスク保持部71a6,71b6にて行われる。   Further, in order to clean the mask M at a predetermined timing, the mask M is exchanged at any time using the mask changer 120. As shown in FIG. 13, the mask exchange is performed at the same time in the first upstream and downstream side mask holding portions 71a1 and 71b1 arranged at one end in the Y direction, and the next upstream side and downstream side in turn. Side mask holders 71a2, 71b2,. . . , 71a5, 71b5, and finally the sixth upstream and downstream mask holding portions 71a6, 71b6 arranged at the other end in the Y direction.

具体的に、まず、マスク駆動部72は、全てのマスク保持部71を、マスク交換を行うための退避位置に上昇させる。この時、遮光装置90も筐体93を上昇して退避させる。そして、マスクMが搭載されていない空の一対のマスクトレー部121を1番目の上流側及び下流側のマスク保持部71a1,71b1の下方(交換位置CP)へ移動させる。そして、1番目の上流側及び下流側のマスク保持部71a1,71b1のマスク駆動部72を駆動して、マスク保持部71a1,71b1を着脱位置まで下降させる。   Specifically, first, the mask driving unit 72 raises all the mask holding units 71 to the retreat position for performing mask replacement. At this time, the light shielding device 90 also raises and retracts the housing 93. Then, the pair of empty mask tray portions 121 on which the mask M is not mounted are moved below the first upstream and downstream mask holding portions 71a1 and 71b1 (exchange position CP). Then, the mask driving units 72 of the first upstream and downstream mask holding units 71a1 and 71b1 are driven to lower the mask holding units 71a1 and 71b1 to the attachment / detachment positions.

次に、マスク保持部71a1,71b1に保持された使用済みのマスクMをマスクトレー部121が受け取る。具体的に、マスク保持部71a1,71b1が使用済みのマスクMの吸着を解除すると共に、マスクトレー部121では、エア供給機構125からエアをマスクMの下面に送り、押圧機構198によって浮上したマスクMの端面をマスク用位置決めピン196に向けて押圧することでチェイサー板192に対して浮上したマスクを位置決め保持する。その後、マスク保持部71a1,71b1を退避位置まで上昇させ、マスクトレー部121を受け渡し位置WPに移動させる。マスクMを搬送する際には、マスク用位置決めピン196と押圧機構198によって位置決めしつつ、浮上したマスクMを搬送してもよく、或いは、マスクMを浮上させずにエア供給機構125の上面に載置した状態でマスクMを搬送してもよい。特に、マスクMを浮上させながら、マスクトレー部121がマスクMの受け渡し位置WPと交換位置CPとの間を移動することで、摩擦によってマスクMが損傷するのを防止することができる。   Next, the mask tray 121 receives the used mask M held by the mask holders 71a1 and 71b1. Specifically, the mask holding portions 71a1 and 71b1 release the suction of the used mask M, and the mask tray portion 121 sends air from the air supply mechanism 125 to the lower surface of the mask M and floats by the pressing mechanism 198. The mask floated with respect to the chaser plate 192 is positioned and held by pressing the end face of M toward the mask positioning pins 196. Thereafter, the mask holding portions 71a1 and 71b1 are raised to the retracted position and moved to the delivery position WP. When transporting the mask M, the mask M that has floated may be transported while being positioned by the mask positioning pins 196 and the pressing mechanism 198, or may be transported to the upper surface of the air supply mechanism 125 without floating the mask M. You may convey the mask M in the mounted state. In particular, it is possible to prevent the mask M from being damaged by friction because the mask tray 121 moves between the transfer position WP of the mask M and the replacement position CP while the mask M is levitated.

受け渡し位置WPでは、まず、図示しないマスクローダにより、浮上している使用済みのマスクMをマスクトレー部121から図示しないカセットに戻す。その後、未使用(洗浄済み)のマスクMをマスクローダによりカセットからマスクトレー部121に載置すると、マスクMのプリアライメントが行われる。   At the delivery position WP, first, the used mask M that has floated is returned from the mask tray unit 121 to a cassette (not shown) by a mask loader (not shown). Thereafter, when an unused (cleaned) mask M is placed on the mask tray 121 from the cassette by a mask loader, the mask M is pre-aligned.

具体的に、未使用のマスクMは、エア供給機構125から供給されたエアによって浮上して保持され、押圧機構198によって浮上したマスクMの端面をマスク用位置決めピン196に向けて押圧することでチェイサー板192に対して浮上したマスクMが位置決め保持される。これにより、未使用のマスクMのプリアライメントが完了する。なお、マスクMのプリアライメントは、各マスク保持部71a,71bの下方へ移動した際、マスクアライメント用カメラ171を用いて行うことも可能である。また、マスクMのプリアライメントは、マスクMの搬送中でも可能であり、これにより、タクトタイムの短縮、スループットの向上につながる。   Specifically, the unused mask M is floated and held by the air supplied from the air supply mechanism 125, and the end face of the mask M lifted by the pressing mechanism 198 is pressed toward the mask positioning pins 196. The mask M that has floated with respect to the chaser plate 192 is positioned and held. Thereby, the pre-alignment of the unused mask M is completed. Note that the pre-alignment of the mask M can be performed using the mask alignment camera 171 when the mask M is moved below the mask holding portions 71a and 71b. Further, the pre-alignment of the mask M is possible even during the transfer of the mask M, which leads to a reduction in tact time and an improvement in throughput.

そして、マスクMが載置されたトレー部121を再び、1番目の上流側及び下流側マスク保持部71a1,71b1の下方へ移動させた後、1番目のマスク保持部71a1,71b1を再び着脱位置まで下降させる。   Then, after the tray portion 121 on which the mask M is placed is moved again below the first upstream and downstream mask holding portions 71a1 and 71b1, the first mask holding portions 71a1 and 71b1 are again attached and detached. To lower.

また、1番目のマスク保持部71a1,71b1をマスク駆動部72により移動させ、未使用のマスクMの位置を微調整する。その後、未使用のマスクMがマスクトレー部121上で浮上した状態で、マスク保持部71a1,71b1でマスクMが吸着される。また、マスク保持部71a1,71b1が退避位置まで上昇する。これにより、1番目のマスクMの交換を完了する。なお、マスク保持部71a1,71b1でのマスクMの吸着は、マスクMを浮上させずに行うことも可能である。   Further, the first mask holding units 71a1 and 71b1 are moved by the mask driving unit 72, and the position of the unused mask M is finely adjusted. Thereafter, the mask M is sucked by the mask holding portions 71a1 and 71b1 in a state where the unused mask M is floated on the mask tray portion 121. Further, the mask holding portions 71a1 and 71b1 are raised to the retracted position. Thereby, the replacement of the first mask M is completed. The suction of the mask M by the mask holding portions 71a1 and 71b1 can be performed without causing the mask M to float.

次に、空きとなったマスクトレー部121をY方向一端から隣の2番目の上流側及び下流側のマスク保持部71a2,71b2の下方へ移動させる。   Next, the vacant mask tray 121 is moved from one end in the Y direction to the lower side of the second upstream and downstream mask holders 71a2 and 71b2.

以降、上記動作を繰り返し行い、Y方向他端側の6番目のマスク保持部71a6,71b6のマスクMが交換されるまで行われ、マスクMの交換作業が完了する。交換作業の完了後は、マスクチェンジャー120のマスクトレー部121は受け渡し位置WPに移動する。従って、上記マスク交換によれば、一対のマスクトレー部121の1往復の動作で1対のマスクMの回収及び装着を実現でき、タクトタイムの短縮を図ることができる。   Thereafter, the above operation is repeated until the mask M of the sixth mask holding portions 71a6 and 71b6 on the other end side in the Y direction is replaced, and the replacement operation of the mask M is completed. After the replacement work is completed, the mask tray portion 121 of the mask changer 120 moves to the delivery position WP. Therefore, according to the above-described mask exchange, the pair of masks M can be collected and mounted by one reciprocating operation of the pair of mask tray portions 121, and the tact time can be shortened.

以上説明したように、本実施形態の近接スキャン露光装置1によれば、マスクチェンジャー120のマスクトレー部121は、マスクMの下面にエアを供給して、マスクMを浮上させるエア供給機構125と、浮上したマスクMの端面と当接して、マスクMを位置決めするマスク用位置決めピン196と、浮上したマスクMの端面をマスク用位置決めピン196に向けて押圧する押圧機構198と、を有する。従って、マスク用位置決めピン196と押圧機構198によって位置決めしながら浮上したマスクをプリアライメントすることができるので、マスクMとマスクMが接する面との間の摩擦によってマスクMが損傷するのを防止することができる。また、マスクトレー部121によってマスクMを浮上させた状態で、押圧機構198によってマスク用位置決めピン196に向けてマスクMを移動させることでマスクMのプリアライメントを行うことができ、マスクMの交換時間を短縮することができると共に、マスクMのプリアライメントのための装置を別途設ける必要がない。   As described above, according to the proximity scanning exposure apparatus 1 of the present embodiment, the mask tray unit 121 of the mask changer 120 supplies the air to the lower surface of the mask M, and the air supply mechanism 125 that floats the mask M. And a mask positioning pin 196 for positioning the mask M in contact with the end face of the mask M that has floated, and a pressing mechanism 198 for pressing the end face of the mask M that has floated toward the mask positioning pin 196. Accordingly, the mask that has floated while being positioned by the mask positioning pin 196 and the pressing mechanism 198 can be pre-aligned, and therefore, the mask M is prevented from being damaged by friction between the mask M and the surface with which the mask M is in contact. be able to. In addition, the mask M can be pre-aligned by moving the mask M toward the mask positioning pins 196 by the pressing mechanism 198 in a state where the mask M is floated by the mask tray 121, and the mask M is replaced. The time can be shortened, and there is no need to separately provide an apparatus for pre-alignment of the mask M.

また、一対のマスクトレー部121は、チェイサー板192とベース部191との間に配置された複数のばね部材194を有するので、マスクMを浮上させずにマスク保持部71にマスクMを取り付ける場合であっても、マスク保持部71が一定の位置に降下する際、ばね部材194を伸縮させることで、マスクMの取付位置を変えることができ、マスクMの吸着力を一定にすることができる。また、マスク保持部71にマスクMを取り付けるときに、マスク保持部71がマスクMに衝突したとしても、ばね部材194を伸縮させることでマスクMに過大な力が掛かるのを抑制することができ、マスクMが変形したり、マスクMが破損したりするのを防止することができる。   Further, since the pair of mask tray parts 121 includes a plurality of spring members 194 disposed between the chaser plate 192 and the base part 191, the mask M is attached to the mask holding part 71 without causing the mask M to float. Even so, when the mask holding part 71 descends to a certain position, the attachment position of the mask M can be changed by expanding and contracting the spring member 194, and the suction force of the mask M can be made constant. . Further, when attaching the mask M to the mask holding part 71, even if the mask holding part 71 collides with the mask M, it is possible to prevent an excessive force from being applied to the mask M by expanding and contracting the spring member 194. It is possible to prevent the mask M from being deformed or the mask M from being damaged.

なお、本実施形態では、複数のマスク駆動部72は、複数の上流側及び下流側マスク保持部71a,71bが互いに対向する側と反対側に延びて配置される場合、マスクトレー部121は、受け渡し位置WPと各上流側マスク保持部71aの各交換位置CPとの間を移動可能な上流側マスクトレー部と、受け渡し位置WPと各下流側マスク保持部71bの各交換位置CPとの間を移動可能な下流側マスクトレー部と、を有し、マスクチェンジャー120は、上流側マスクトレー部と下流側マスクトレー部の両方を同期駆動するマスク交換用駆動部123を有する。一方、図15に示すように、複数のマスク駆動部72が、複数の上流側及び下流側マスク保持部71a,71b間に位置するように配置されている場合には、マスクチェンジャー120は、上流側マスクトレー部と下流側マスクトレー部をそれぞれ駆動する一対のマスク交換用駆動部123を有するようにしてもよい。また、図16に示すように、複数のマスク駆動部72がすべて、上流側及び下流側マスク保持部71a,71bの下流側に延びて配置されている場合にも、マスクチェンジャー120は、上流側マスクトレー部と下流側マスクトレー部をそれぞれ駆動する一対のマスク交換用駆動部123を有するようにしてもよい。   In the present embodiment, when the plurality of mask driving units 72 are arranged so that the plurality of upstream and downstream mask holding units 71a and 71b extend on the opposite side to the side facing each other, the mask tray unit 121 is Between the upstream mask tray part movable between the delivery position WP and each exchange position CP of each upstream mask holding part 71a, and between the delivery position WP and each exchange position CP of each downstream mask holding part 71b. The mask changer 120 includes a mask replacement drive unit 123 that synchronously drives both the upstream mask tray unit and the downstream mask tray unit. On the other hand, as shown in FIG. 15, when the plurality of mask driving units 72 are arranged so as to be positioned between the plurality of upstream and downstream mask holding units 71a and 71b, You may make it have a pair of mask replacement drive parts 123 which each drive a side mask tray part and a downstream mask tray part. In addition, as shown in FIG. 16, even when all of the plurality of mask driving units 72 are arranged to extend to the upstream side and the downstream side of the downstream side mask holding portions 71 a and 71 b, You may make it have a pair of mask replacement drive parts 123 which each drive a mask tray part and a downstream mask tray part.

以上、本発明を実施の形態を参照して説明してきたが、本発明は上記実施の形態に限定されることなく、その発明の範囲内で変更・改良が可能であることはもちろんである。   The present invention has been described above with reference to the embodiments. However, the present invention is not limited to the above-described embodiments, and can of course be changed or improved within the scope of the invention.

本発明の基板を浮上させて支持する機構は、本実施形態のように、低コストで入手でき取り扱いが容易なエアを利用した浮上ユニットであると好ましいが、それに限られない。また、本発明の基板を浮上させて支持する機構は、少なくとも露光領域に設けられていればよく、他の領域においては、支持面から突出する複数のローラで基板Wを支持し、支持面から浮上させる構成であってもよい。   The mechanism for levitating and supporting the substrate of the present invention is preferably a levitating unit using air that is available at low cost and is easy to handle as in the present embodiment, but is not limited thereto. In addition, the mechanism for levitating and supporting the substrate of the present invention may be provided at least in the exposure region. In other regions, the substrate W is supported by a plurality of rollers protruding from the support surface, The structure which floats may be sufficient.

また、本発明のマスクチェンジャー120は、一対のマスクトレー部121がそれぞれ1枚ずつマスクMを搬送しているが、それぞれ複数枚ずつマスクMを搬送するように構成してもよい。   Further, the mask changer 120 of the present invention is configured such that each of the pair of mask tray portions 121 conveys the mask M one by one, but a plurality of masks M may be conveyed respectively.

1 近接スキャン露光装置(露光装置)
2 装置ベース
3,4,8 レベルブロック
13 メインフレーム
15 サブフレーム
20 基板搬送機構
21 浮上ユニット
40 基板駆動ユニット
50 基板プリアライメント機構
60 基板アライメント機構
70 マスク保持機構
71 マスク保持部
72 マスク駆動部
80 照射部
82 ガイドレール
83 スライダ
90 遮光装置
120 マスクチェンジャー
121 マスクトレー部
125 エア供給機構
190 制御部
192 チェイサー板
194 ばね部材
196 マスク用位置決めピン(位置決め部)
198 押圧機構
199 照度センサ
CP 交換位置
WP 受け渡し位置
EP 露光位置
RP 後退位置
IA 基板搬入側領域
EA マスク配置領域
OA 基板搬出領域
1 Proximity scan exposure equipment (exposure equipment)
2 Device base 3, 4, 8 Level block 13 Main frame 15 Sub frame 20 Substrate transport mechanism 21 Floating unit 40 Substrate drive unit 50 Substrate pre-alignment mechanism 60 Substrate alignment mechanism 70 Mask holding mechanism 71 Mask holding unit 72 Mask driving unit 80 Irradiation Portion 82 guide rail 83 slider 90 light shielding device 120 mask changer 121 mask tray portion 125 air supply mechanism 190 control portion 192 chaser plate 194 spring member 196 mask positioning pin (positioning portion)
198 Pressing mechanism 199 Illuminance sensor CP Replacement position WP Delivery position EP Exposure position RP Retraction position IA Substrate carry-in side area EA Mask placement area OA Substrate carry-out area

Claims (4)

基板に対してマスクを介して露光用光を照射し、前記基板に前記マスクのパターンを露光する露光装置であって、
前記マスクを保持するマスク保持部と、
前記マスクを搬入又は搬出するための受け渡し位置と、前記マスク保持部の下面と対向する交換位置との間を移動可能なマスクトレー部を有するマスクチェンジャーと、
を備え、
前記マスクトレー部は、
前記マスクの下面にエアを供給して、前記マスクを浮上させるエア供給機構と、
前記浮上したマスクの端面と当接して、前記マスクを位置決めする位置決め部と、
前記浮上したマスクの端面を前記位置決め部に向けて押圧する押圧機構と、
を有することを特徴とする露光装置。
An exposure apparatus that irradiates a substrate with exposure light through a mask and exposes the mask pattern onto the substrate,
A mask holding unit for holding the mask;
A mask changer having a mask tray portion movable between a delivery position for carrying in or carrying out the mask and an exchange position facing the lower surface of the mask holding portion;
With
The mask tray part is
An air supply mechanism for supplying air to the lower surface of the mask and floating the mask;
A positioning part for positioning the mask in contact with the end face of the floated mask;
A pressing mechanism that presses the end face of the floated mask toward the positioning portion;
An exposure apparatus comprising:
前記マスクトレー部は、ベース部と、前記チェイサー板と前記ベース部との間に配置された複数のばね部材と、を有することを特徴とする請求項1に記載の露光装置。   The exposure apparatus according to claim 1, wherein the mask tray portion includes a base portion, and a plurality of spring members disposed between the chaser plate and the base portion. 前記露光装置は、複数のマスクに近接しながら所定方向に搬送される基板に対して前記複数のマスクを介して露光用光を照射し、前記基板に前記複数のマスクのパターンを露光する近接スキャン露光装置であり、
前記マスク保持部は、上流側に配置される複数の上流側マスク保持部と下流側に配置される複数の下流側マスク保持部とを有して、前記複数の上流側マスク保持部と前記複数の下流側マスク保持部とは、前記所定方向と交差する方向に沿って千鳥状に配置され、
前記マスクトレー部は、前記受け渡し位置と各上流側マスク保持部の各交換位置との間を移動可能な上流側マスクトレー部と、前記受け渡し位置と各下流側マスク保持部の各交換位置との間を移動可能な下流側マスクトレー部と、を有し、
前記マスクチェンジャーは、前記上流側マスクトレー部と前記下流側マスクトレー部の両方を同期駆動するマスク交換用駆動部を有することを特徴とする請求項1または2に記載の露光装置。
The exposure apparatus irradiates a substrate transported in a predetermined direction while approaching a plurality of masks through the plurality of masks, and exposes the patterns of the plurality of masks on the substrate. An exposure apparatus,
The mask holding unit includes a plurality of upstream mask holding units arranged on the upstream side and a plurality of downstream mask holding units arranged on the downstream side, and the plurality of upstream mask holding units and the plurality of mask holding units are arranged on the downstream side. The downstream mask holding portion is arranged in a staggered manner along a direction intersecting the predetermined direction,
The mask tray section includes an upstream mask tray section movable between the delivery position and each exchange position of each upstream mask holding section, and each exchange position of the delivery position and each downstream mask holding section. A downstream mask tray portion movable between,
3. The exposure apparatus according to claim 1, wherein the mask changer includes a mask replacement drive unit that synchronously drives both the upstream mask tray unit and the downstream mask tray unit.
前記露光装置は、複数のマスクに近接しながら所定方向に搬送される基板に対して前記複数のマスクを介して露光用光を照射し、前記基板に前記複数のマスクのパターンを露光する近接スキャン露光装置であり、
前記マスク保持部は、上流側に配置される複数の上流側マスク保持部と下流側に配置される複数の下流側マスク保持部とを有して、前記複数の上流側マスク保持部と前記複数の下流側マスク保持部とは、前記所定方向と交差する方向に沿って千鳥状に配置され、
前記マスクトレー部は、前記受け渡し位置と各上流側マスク保持部の各交換位置との間を移動可能な上流側マスクトレー部と、前記受け渡し位置と各下流側マスク保持部の各交換位置との間を移動可能な下流側マスクトレー部と、を有し、
前記マスクチェンジャーは、前記上流側マスクトレー部と前記下流側マスクトレー部をそれぞれ駆動する一対のマスク交換用駆動部を有することを特徴とする請求項1または2に記載の露光装置。
The exposure apparatus irradiates a substrate transported in a predetermined direction while approaching a plurality of masks through the plurality of masks, and exposes the patterns of the plurality of masks on the substrate. An exposure apparatus,
The mask holding unit includes a plurality of upstream mask holding units arranged on the upstream side and a plurality of downstream mask holding units arranged on the downstream side, and the plurality of upstream mask holding units and the plurality of mask holding units are arranged on the downstream side. The downstream mask holding portion is arranged in a staggered manner along a direction intersecting the predetermined direction,
The mask tray section includes an upstream mask tray section movable between the delivery position and each exchange position of each upstream mask holding section, and each exchange position of the delivery position and each downstream mask holding section. A downstream mask tray portion movable between,
3. The exposure apparatus according to claim 1, wherein the mask changer includes a pair of mask replacement driving units that respectively drive the upstream mask tray unit and the downstream mask tray unit. 4.
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