JP2012209549A - 光電変換装置 - Google Patents

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Abstract

【課題】開放電圧が高く、変換効率の高い光電変換装置を提供する。
【解決手段】一対の電極間に、p型の導電型を有する第1の半導体層と、p型の導電型を有する第2の半導体層と、n型の導電型を有する第3の半導体層を積層し、pn接合を有する光電変換装置を形成する。第1の半導体層は化合物半導体層であり、第2の半導体層は有機化合物及び無機化合物からなり、該有機化合物には正孔輸送性の高い材料が用いられ、該無機化合物には、電子受容性を有する遷移金属酸化物が用いられる。
【選択図】図1

Description

本発明は、有機化合物及び無機化合物で形成された半導体層を有する光電変換装置に関する。
近年、地球温暖化対策として、発電時に二酸化炭素の排出の無い光電変換装置が注目されている。その代表例としては、単結晶半導体基板などを用いたバルク型太陽電池が良く知られているが、製造コストに利点がある薄膜型太陽電池も注目されている。
薄膜型太陽電池の中でも、CuInSe(以下、CISと呼ぶ)やCu(In,Ga)Se(以下、CIGSと呼ぶ)などの化合物半導体を用いた太陽電池は、光劣化が無く、非晶質シリコンを用いた太陽電池よりも変換効率が高いことから、高性能で安価な太陽電池として期待されている。
特に、CIGSは、非特許文献1に示されているようにGaの濃度を変えることで禁制帯幅を制御することができるため、変換効率の高い太陽電池の形成が望める。pn接合太陽電池では理論的に変換効率が最大となる禁制帯幅は、太陽光スペクトルとの整合性から1.4eV〜1.5eVであるとされている。CIGSの禁制帯幅の制御範囲には、これらの値が含まれる。
S.B.Zhang,Su−Huai Wei,and Alex Zunger,"A phenomenological model for systematization and prediction of doping limits in II−VI and I−III−VI2 compounds",J.Appl. Phys.,Vol.83,No.6,15 March 1998
しかしながら、現状のCIGS系光電変換装置では、禁制帯幅を1.2eV〜1.3eV程度とした場合が最も変換効率が高く、禁制帯幅を1.4eV程度までワイドギャップ化してしまうと理論とは逆に変換効率が低下してしまう。
これは、CIGSのワイドギャップ化によってpn接合界面で伝導帯バンドオフセット(ΔEc)が負となり、伝導帯バンドが不連続となることに起因していると言われている。具体的には、光吸収層であるCIGS(p型)とバッファ層(n型)の間の伝導帯バンドがクリフ型となるため、光キャリアが再結合しやすく、開放電圧が低下してしまうのである。したがって、CIGSの禁制帯幅を1.4eV程度までワイドギャップ化しても開放電圧の向上が望めず、変換効率が低下してしまう。
上述の問題を鑑み、本発明の一態様は、開放電圧を低下させずに、光吸収層にワイドギャップ化した半導体層を用いることのできる光電変換装置を提供することを目的とする。
本明細書で開示する本発明の一態様は、有機化合物及び無機化合物で形成されたp型半導体層を有する光電変換装置に関する。
本明細書で開示する本発明の一態様は、一対の電極間に、p型の導電型を有する第1の半導体層と、p型の導電型を有し、第1の半導体層と接する第2の半導体層と、n型の導電型を有し、第2の半導体層と接する第3の半導体層と、第3の半導体層と接する透光性導電膜と、を有し、第2の半導体層は、有機化合物及び無機化合物で形成されていることを特徴とする光電変換装置である。
なお、本明細書等における「第1」、「第2」などの序数詞は、構成要素の混同を避けるために付すものであり、順序や数を限定するものではないことを付記する。
上記第1の半導体層は、Cu(In1−xGa)Se(0≦x≦1、xは0以上1以下の値)で表される化合物半導体であり、xは0.5以上0.8以下であることがより好ましい。
また、上記無機化合物には、元素周期表における第4族乃至第8族に属する金属の酸化物を用いることができる。具体的にはV、Nb、Ta、Cr、Mo、W、Mn、Reのいずれかの元素の酸化物などがある。
また、上記有機化合物には、芳香族アミン化合物、カルバゾール誘導体、芳香族炭化水素、高分子化合物、ジベンゾフラン骨格もしくはジベンゾチオフェン骨格を含む複素環化合物のいずれかを用いることができる。
上記第3の半導体層は、Zn、Cd、Ga、In、Ag、Pb、Mg、Sn、Sb、Te、Geから選ばれた元素を一つ以上含む酸化物で構成されていることが好ましい。
本発明の一態様を用いることにより、開放電圧を低下させずに、光吸収層をワイドギャップ化することができ、変換効率の高い光電変換装置を提供することができる。
本発明の一態様である光電変換装置を説明する断面図。 従来の光電変換装置を説明する断面図。 従来の光電変換装置を説明するバンド図。 本発明の一態様である光電変換装置を説明するバンド図。
以下では、本発明の実施の形態について図面を用いて詳細に説明する。ただし、本発明は以下の説明に限定されず、その形態および詳細を様々に変更し得ることは、当業者であれば容易に理解される。また、本発明は以下に示す実施の形態の記載内容に限定して解釈されるものではない。なお、実施の形態を説明するための全図において、同一部分又は同様な機能を有する部分には同一の符号を付し、その繰り返しの説明は省略することがある。
(実施の形態1)
本実施の形態では、本発明の一態様における光電変換装置、及びその作製方法について説明する。
図1(A)は、本発明の一態様における光電変換装置の断面図であり、基板100上に第1の電極150、第1の半導体層110、第2の半導体層120、第3の半導体層130、透光性導電膜160、第2の電極170が順に積層されている。なお、図1(A)の構成の光電変換装置では、透光性導電膜160側が受光面となるが、基板100上に形成する積層の順序を上記とは逆にして、基板100側を受光面としても良い。
また、図1(B)に示すように、基板100の表面に凹凸を設けた構成としても良い。基板100の表面に凹凸を設けることで、その上に積層する各層の界面及び最上層の表面にも凹凸を形成することができる。該凹凸により、各層表面での多重反射、光吸収層(第1の半導体層110)内での光路長の増大、及び裏面電極からの反射光の光吸収層(第1の半導体層110)表面での全反射効果(光閉じ込め効果)が付与され、光電変換装置の電気特性を向上させることができる。なお、凹凸は基板100ではなく、第1の電極150に設けても良い。
基板100には、例えば、ソーダライムガラスを用いることが好ましい。CIGS系(CIS系含む)光電変換装置は、Naを拡散させることで光吸収層の欠陥を補償することができ、電気特性を改善することができる。したがって、Naの拡散源にもなるソーダライムガラスを基板として用いることが好ましい。
また、アルミノシリケートガラス、バリウムホウケイ酸ガラス、またはアルミノホウケイ酸ガラスなどの無アルカリガラス基板を基板100として用いることもできる。これらのガラス基板は、ソーダライムガラスよりも耐熱性が高いため、基板100上に形成する半導体層や導電膜の形成時の温度を高めることができ、それらの品質を高めることができる。なお、これらのガラス基板を用いる場合は、光吸収層(第1の半導体層110)の形成後にNaの拡散工程を行うことが好ましい。
第1の電極150には、Au、Moを用いることができる。第1の電極150は、基板100からのNaの拡散経路としての役割もあるため、成膜時に低密度化しやすいMoを用いることが特に好ましい。
第1の半導体層110は光吸収層であり、Cu(In1−xGa)Se(0≦x≦1、xは0以上1以下の値)で表されるp型の化合物半導体層を用いる。なお、本発明の一態様においては、ワイドギャップ化した光吸収層を用いることが目的の一つであり、該光吸収層の禁制帯幅を1.4eV〜1.5eVとするため、xは0.5以上0.8以下にすることがより好ましい。
第2の半導体層120は内部電界形成用のp型の接合形成層であり、無機化合物と有機化合物の複合材料で形成される。該無機化合物としては、遷移金属酸化物を用いることができ、特に元素周期表における第4族乃至第8族に属する金属の酸化物であることが好ましい。具体的にはV、Nb、Ta、Cr、Mo、W、Mn、Reのいずれかの元素の酸化物を用いることができる。中でも特に、酸化モリブデンは大気中でも安定であり、吸湿性が低く、扱いやすいため好ましい。
また、上記有機化合物としては、芳香族アミン化合物、カルバゾール誘導体、芳香族炭化水素、高分子化合物(オリゴマー、デンドリマー、ポリマー等)、ジベンゾフラン骨格もしくはジベンゾチオフェン骨格を含む複素環化合物など、種々の化合物を用いることができる。なお、複合材料に用いる有機化合物としては、正孔輸送性の高い有機化合物を用いる。具体的には、10−6cm/Vs以上の正孔移動度を有する物質であることが好ましい。但し、電子よりも正孔の輸送性の高い物質であれば、これら以外のものを用いてもよい。
上述の遷移金属酸化物は電子受容性を有し、正孔輸送性の高い有機化合物との複合材料はキャリア密度が高く、p型の半導体特性を示す。また、該複合材料はEg=約3eVであり、可視光域から赤外域の広い波長範囲に渡って透過率が高い特性を有している。
第3の半導体層130は内部電界形成用のn型の接合形成層であり、ZnOを用いることが好ましい。その他、ZnMgO、ZnGa、ZnSnO、ZnIn、ZnSnO、CdO、CdIn、CdGaO、CdGeO、CdTeO、CdSb、Ga、GaInO、CdSnO、In、InGaMgO、InGaZnO、AgSbO、AgInO、PbO、MgIn、CdO−GeO、In−GaO−ZnO、In−ZnOなどを用いることもできる。
透光性導電膜160には、第3の半導体層130よりもキャリア濃度が高い材料を用いることが好ましい。例えば、ZnOにAl、B、Ga、またはInを添加した材料、ZnIn、ZnSnO、CdO、CdIn、CdSnO、CdSnO、CdTeO、CdSb、In、SnO、PbO、GaInO、In−ZnO、CdO−GeO、In−SnO(ITO)などを用いることができる。
また、第2の電極170には、Al、Ti、Ag、Mo、Ta、W、Cr、またはCuなどの金属膜を用いることができる。金属膜は単層に限らず、異なる膜の積層でも良い。
図2は、従来の一般的なCIGS系(CIS系含む)光電変換装置の断面図である。基板200上に第1の電極250、半導体層210、バッファ層280、透光性導電膜260、第2の電極270が順に積層されている。
第1の電極250及び半導体層210には、前述した第1の電極150及び第1の半導体層110と同様の材料が用いられる。また、透光性導電膜260及び第2の電極270には、前述した透光性導電膜160及び第2の電極170と同様の材料が用いられる。
図2の光電変換装置においてpn接合は、p型の半導体層210(例えばCIGS)とn型の半導体層であるバッファ層280との界面に形成される。バッファ層280には、n型の半導体特性を示す、CdS、ZnS、ZnS(O,OH)などが用いられる。
ここで、図2の光電変換装置のpn接合近傍のバンド構造を図3を用いて説明する。図3(A)は、現状用いられている禁制帯幅1.2eV〜1.3eVを有するCIGSを半導体層210として用いた場合のバンド図である。半導体層210とバッファ層280との間にpn接合が形成されるが、両者の電子親和力に差があるため、伝導帯バンドオフセットが正(ΔEc>0)となり、pn接合部にスパイク状の障壁が形成される。この障壁は短絡電流低下の要因と成り得るが、半導体層210とバッファ層280との電子親和力の差が小さければ、キャリアの輸送への影響を少なくすることができる。
図3(B)は、理論上高い変換効率が期待される1.4eV〜1.5eVの禁制帯幅を有するCIGSを半導体層210として用いた場合のバンド図である。この場合、伝導帯バンドオフセットが負(ΔEc<0)となり、pn接合部における伝導体バンドの形状がクリフ状となる。このため、光キャリアの接合界面近傍での滞留が起こり、再結合しやすくなることから、開放電圧及び曲線因子が低下する。したがって、半導体層210に理論上高い変換効率が得られるとされている禁制帯幅1.4eV〜1.5eVのCIGSを用いても変換効率を向上させることができなかった。
図4は、本発明の一態様における光電変換装置のバンド構造である。該光電変換装置のpn接合は、禁制帯幅が共に約3eVであるp型の第2の半導体層120とn型の第3の半導体層130との間に形成される。まず、開放電圧はpn接合を形成する材料の禁制帯幅を大きくすることで増加させることが可能になるため、図4の構成の光電変換装置は、CIGSを直接、pn接合の内部電界形成層に用いるよりも開放電圧を高めることができる。
また、光吸収層であるp型の第1の半導体層110は、第2の半導体層120に接続されるが、両者の禁制帯幅が異なるため、障壁が生じる。そのため、第1の半導体層110の禁制帯幅を広くし、障壁を下げることが好ましい。
つまり、従来のCIGS系(CIS系含む)光電変換装置は、図3(B)を説明する理由から禁制帯幅を広くすることができなかったが、本発明の一態様の光電変換装置では、理論上高い変換効率が期待される1.4eV〜1.5eVの禁制帯幅を有するCIGSを用いることが望ましい構成となる。
また、第2の半導体層120は、1nm以上30nm以下の範囲の膜厚で形成することができる。より好ましくは、1nm以上10nm以下の膜厚とすることで、第1の半導体層110で光励起されたキャリアを第3の半導体層130側へ量子効果により輸送することもできる。したがって、第1の半導体層110と第2の半導体層120との間に障壁があっても、実質的にキャリア輸送への影響を少なくすることができる。
以上により、本発明の一態様における光電変換装置は、光励起されたキャリアによる光電流を低下させることなく、開放電圧を向上させ、変換効率を向上させることができる。
次に、図1(A)の光電変換装置の作製方法の一例について説明する。
まず、基板100上に第1の電極150となる導電膜を形成する。ここでは、スパッタ法を用い、膜厚1μmのMo膜を形成する。
次に、第1の半導体層110として、3段階蒸着法で約2μmのCu(In1−xGa)Seを成膜する。本実施の形態では、x=0.6となるようにGa濃度を調整する。まず、第1の電極150上に基板温度300℃以上400℃以下で(In,Ga)Seを成膜する。そして、基板温度500℃以上でCu及びSeを成膜し、Cu過剰のCu(In,Ga)Seを得た後、In、Ga、及びSeを同時に成膜し、目的の組成に整える。
次に、第1の半導体層110上に、第2の半導体層120を形成する。第2の半導体層120は、前述した無機化合物及び有機化合物の共蒸着法により形成する。共蒸着法とは、一つの処理室内で複数の蒸発源から同時に蒸着を行う蒸着法である。成膜は高真空下で行われることが好ましい。例えば、真空度は5×10−3Pa以下、好ましくは10−4Pa乃至10−6Pa程度とする。
本実施の形態では、第2の半導体層120は、4−フェニル−4’−(9−フェニルフルオレン−9−イル)トリフェニルアミン(略称:BPAFLP)及び酸化モリブデンを共蒸着することにより形成する。その膜厚は、10nmとし、BPAFLPと酸化モリブデンの比率は、重量比で2:1(=BPAFLP:酸化モリブデン)となるように調節する。
次に、第2の半導体層120上に、第3の半導体層130として100nmのZnO膜をスパッタ法で形成する。第3の半導体層130の形成には、スパッタ法以外に、MOCVD(Metal Organic Chemical Vapor Deposition)を用いてもよい。
次に、第3の半導体層130上に、透光性導電膜160として1μmのZnOにAlを添加した材料の膜をスパッタ法で形成する。透光性導電膜160は、スパッタ法以外に、MOCVDを用いて形成してもよい。また、図1に図示していないが、透光性導電膜160上に表面の反射率を下げる目的で、別途、反射防止膜を設けてもよい。反射防止膜材料としては、MgF、SiO、SiOxNy(x>y)などの低屈折率材料を、スパッタ法、蒸着法などで形成することができる。
次に、透光性導電膜160上に第2の電極170として0.5μm〜10μmの導電膜を形成する。ここでは、1μmのAl膜をスパッタ法で形成する。
以上により、本発明の一態様の光電変換装置を作製することができる。なお、本実施の形態では、図1に例示した単一のセル構成の作製方法を説明したが、スクライブ法などと組み合わせて複数のセルを直列に接続した集積化構造を形成することもできる。
本実施の形態は、他の実施の形態に記載した構成と適宜組み合わせて実施することが可能である。
(実施の形態2)
本実施の形態では、実施の形態1で示した第2の半導体層について説明する。
実施の形態1で示した光電変換装置における第2の半導体層120には、遷移金属酸化物と有機化合物とを複合した材料を用いることができる。なお、本明細書中において、複合とは、単に2つの材料を混合させるだけでなく、複数の材料を混合することによって材料間での電荷の授受が行われ得る状態になることを言う。
上記遷移金属酸化物としては、電子受容性を有する遷移金属酸化物を用いることができる。具体的には、遷移金属酸化物の中でも、元素周期表における第4族乃至第8族に属する金属の酸化物であることが好ましい。特に、V、Nb、Ta、Cr、Mo、W、Mn、Reの酸化物は電子受容性が高いため好ましい。中でも特に、酸化モリブデンは大気中でも安定であり、吸湿性が低く、扱いやすいため好ましい。
また、上記有機化合物としては、芳香族アミン化合物、カルバゾール誘導体、芳香族炭化水素、高分子化合物(オリゴマー、デンドリマー、ポリマー等)、ジベンゾフラン骨格もしくはジベンゾチオフェン骨格を含む複素環化合物など、種々の化合物を用いることができる。なお、複合材料に用いる有機化合物としては、正孔輸送性の高い有機化合物を用いる。具体的には、10−6cm/Vs以上の正孔移動度を有する物質であることが好ましい。但し、電子よりも正孔の輸送性の高い物質であれば、これら以外のものを用いてもよい。
上記遷移金属酸化物と上記有機化合物とを含む複合材料では、有機化合物の最高被占有軌道準位(HOMO準位)にある電子が、遷移金属酸化物の伝導帯に移動することにより、遷移金属酸化物と有機化合物との間に相互作用が生じる。この相互作用により、遷移金属酸化物と有機化合物とを含む複合材料は、キャリア密度が高く、p型の半導体特性を示す。
以下では、複合材料に用いることのできる有機化合物を具体的に列挙する。
例えば、複合材料に用いることのできる芳香族アミン化合物としては、例えば、4,4’−ビス[N−(1−ナフチル)−N−フェニルアミノ]ビフェニル(略称:NPB)、N,N’−ビス(3−メチルフェニル)−N,N’−ジフェニル−[1,1’−ビフェニル]−4,4’−ジアミン(略称:TPD)、4,4’,4’’−トリス(N,N−ジフェニルアミノ)トリフェニルアミン(略称:TDATA)、4,4’,4’’−トリス[N−(3−メチルフェニル)−N−フェニルアミノ]トリフェニルアミン(略称:MTDATA)、N,N’−ビス(スピロ−9,9’−ビフルオレン−2−イル)−N,N’−ジフェニルベンジジン(略称:BSPB)等を用いることができる。また、N,N’−ビス(4−メチルフェニル)−N,N’−ジフェニル−p−フェニレンジアミン(略称:DTDPPA)、4,4’−ビス[N−(4−ジフェニルアミノフェニル)−N−フェニルアミノ]ビフェニル(略称:DPAB)、N,N’−ビス[4−[ビス(3−メチルフェニル)アミノ]フェニル]−N,N’−ジフェニル−[1,1’−ビフェニル]−4,4’−ジアミン(略称:DNTPD)、1,3,5−トリス[N−(4−ジフェニルアミノフェニル)−N−フェニルアミノ]ベンゼン(略称:DPA3B)、4−フェニル−4’−(9−フェニルフルオレン−9−イル)トリフェニルアミン(略称:BPAFLP)、4,4’−ビス[N−(9,9−ジメチルフルオレン−2−イル)−N−フェニルアミノ]ビフェニル(略称:DFLDPBi)等を挙げることができる。
複合材料に用いることのできるカルバゾール誘導体としては、具体的には、3−[N−(9−フェニルカルバゾール−3−イル)−N−フェニルアミノ]−9−フェニルカルバゾール(略称:PCzPCA1)、3,6−ビス[N−(9−フェニルカルバゾール−3−イル)−N−フェニルアミノ]−9−フェニルカルバゾール(略称:PCzPCA2)、3−[N−(1−ナフチル)−N−(9−フェニルカルバゾール−3−イル)アミノ]−9−フェニルカルバゾール(略称:PCzPCN1)等を挙げることができる。
さらに、複合材料に用いることのできるカルバゾール誘導体としては、4,4’−ジ(N−カルバゾリル)ビフェニル(略称:CBP)、1,3,5−トリス[4−(N−カルバゾリル)フェニル]ベンゼン(略称:TCPB)、9−[4−(N−カルバゾリル)フェニル]−10−フェニルアントラセン(略称:CzPA)、1,4−ビス[4−(N−カルバゾリル)フェニル]−2,3,5,6−テトラフェニルベンゼン等も用いることができる。
複合材料に用いることのできる芳香族炭化水素としては、例えば、2−tert−ブチル−9,10−ジ(2−ナフチル)アントラセン(略称:t−BuDNA)、2−tert−ブチル−9,10−ジ(1−ナフチル)アントラセン、9,10−ビス(3,5−ジフェニルフェニル)アントラセン(略称:DPPA)、2−tert−ブチル−9,10−ビス(4−フェニルフェニル)アントラセン(略称:t−BuDBA)、9,10−ジ(2−ナフチル)アントラセン(略称:DNA)、9,10−ジフェニルアントラセン(略称:DPAnth)、2−tert−ブチルアントラセン(略称:t−BuAnth)、9,10−ビス(4−メチル−1−ナフチル)アントラセン(略称:DMNA)、9,10−ビス[2−(1−ナフチル)フェニル]−2−tert−ブチルアントラセン、9,10−ビス[2−(1−ナフチル)フェニル]アントラセン、2,3,6,7−テトラメチル−9,10−ジ(1−ナフチル)アントラセン、2,3,6,7−テトラメチル−9,10−ジ(2−ナフチル)アントラセン、9,9’−ビアントリル、10,10’−ジフェニル−9,9’−ビアントリル、10,10’−ビス(2−フェニルフェニル)−9,9’−ビアントリル、10,10’−ビス[(2,3,4,5,6−ペンタフェニル)フェニル]−9,9’−ビアントリル、アントラセン、テトラセン、ルブレン、ペリレン、2,5,8,11−テトラ(tert−ブチル)ペリレン等が挙げられる。また、この他、ペンタセン、コロネン等も用いることができる。このように、1×10−6cm/Vs以上の正孔移動度を有し、炭素数14〜42である芳香族炭化水素を用いることがより好ましい。
複合材料に用いることのできる芳香族炭化水素は、ビニル骨格を有していてもよい。ビニル基を有している芳香族炭化水素としては、例えば、4,4’−ビス(2,2−ジフェニルビニル)ビフェニル(略称:DPVBi)、9,10−ビス[4−(2,2−ジフェニルビニル)フェニル]アントラセン(略称:DPVPA)等が挙げられる。
また、複合材料に用いることのできる有機化合物は、ジベンゾフラン骨格もしくはジベンゾチオフェン骨格を含む複素環化合物であっても良い。
また、複合材料に用いることのできる有機化合物は、高分子化合物であってもよく、例えば、ポリ(N−ビニルカルバゾール)(略称:PVK)、ポリ(4−ビニルトリフェニルアミン)(略称:PVTPA)、ポリ[N−(4−{N’−[4−(4−ジフェニルアミノ)フェニル]フェニル−N’−フェニルアミノ}フェニル)メタクリルアミド](略称:PTPDMA)ポリ[N,N’−ビス(4−ブチルフェニル)−N,N’−ビス(フェニル)ベンジジン](略称:Poly−TPD)などを用いても良い。
また、本実施の形態で示す複合材料は、広い禁制帯幅を持つため、光電変換装置の光吸収層であるCISまたはCIGSが光吸収を示す波長範囲において透光性に優れている。従って、該複合材料における光吸収損失がほとんど無く、効率良く光吸収層へ光を到達させることができる。
上述の半導体層の形成方法としては、乾式法、湿式法を問わず、種々の方法を用いることができる。乾式法としては、例えば、複数の蒸着源から複数の蒸着材料を気化させて成膜する共蒸着法などが挙げられる。また、湿式法としては、ゾル−ゲル法などを用いて複合材料を含む組成物を調整し、インクジェット法またはスピンコート法などを用いて成膜することができる。
本実施の形態は、他の実施の形態に記載した構成と適宜組み合わせて実施することが可能である。
100 基板
110 第1の半導体層
120 第2の半導体層
130 第3の半導体層
150 第1の電極
160 透光性導電膜
170 第2の電極
200 基板
210 半導体層
250 第1の電極
260 透光性導電膜
270 第2の電極
280 バッファ層

Claims (6)

  1. 一対の電極間に、
    p型の導電型を有する第1の半導体層と、
    p型の導電型を有し、前記第1の半導体層と接する第2の半導体層と、
    n型の導電型を有し、前記第2の半導体層と接する第3の半導体層と、
    前記第3の半導体層と接する透光性導電膜と、
    を有し、
    前記第2の半導体層は、有機化合物及び無機化合物で形成されていることを特徴とする光電変換装置。
  2. 請求項1において、前記第1の半導体層は、Cu(In1−xGa)Se(0≦x≦1、xは0以上1以下の値)で表される化合物半導体であることを特徴とする光電変換装置。
  3. 請求項1または2において、前記無機化合物は、元素周期表における第4族乃至第8族に属する金属の酸化物であることを特徴とする光電変換装置。
  4. 請求項1または2において、前記無機化合物は、V、Nb、Ta、Cr、Mo、W、Mn、Reのいずれかの元素の酸化物であることを特徴とする光電変換装置。
  5. 請求項1乃至4のいずれか一項において、前記有機化合物は、芳香族アミン化合物、カルバゾール誘導体、芳香族炭化水素、高分子化合物、ジベンゾフラン骨格もしくはジベンゾチオフェン骨格を含む複素環化合物のいずれかであることを特徴とする光電変換装置。
  6. 請求項1乃至5のいずれか一項において、前記第3の半導体層は、Zn、Cd、Ga、In、Ag、Pb、Mg、Sn、Sb、Te、Geから選ばれた元素を一つ以上含む酸化物で構成されていることを特徴とする光電変換装置。
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