JP2012198083A - クロマトグラフィー分析装置及びクロマトグラフィー分析方法 - Google Patents

クロマトグラフィー分析装置及びクロマトグラフィー分析方法 Download PDF

Info

Publication number
JP2012198083A
JP2012198083A JP2011061886A JP2011061886A JP2012198083A JP 2012198083 A JP2012198083 A JP 2012198083A JP 2011061886 A JP2011061886 A JP 2011061886A JP 2011061886 A JP2011061886 A JP 2011061886A JP 2012198083 A JP2012198083 A JP 2012198083A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
test piece
scanning
chromatography
line
chromatographic
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2011061886A
Other languages
English (en)
Other versions
JP5664386B2 (ja
Inventor
Saneho Yamada
実穂 山田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Konica Minolta Advanced Layers Inc
Original Assignee
Konica Minolta Advanced Layers Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Konica Minolta Advanced Layers Inc filed Critical Konica Minolta Advanced Layers Inc
Priority to JP2011061886A priority Critical patent/JP5664386B2/ja
Publication of JP2012198083A publication Critical patent/JP2012198083A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP5664386B2 publication Critical patent/JP5664386B2/ja
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Landscapes

  • Investigating, Analyzing Materials By Fluorescence Or Luminescence (AREA)
  • Investigating Or Analysing Materials By The Use Of Chemical Reactions (AREA)

Abstract

【課題】テストラインの位置を短時間で正確に検出する。
【解決手段】クロマトグラフィー分析装置1は、光源2と、照射光学系3と、ラインセンサ4と、検出光学系5と、試験片9を走査対象物として走査方向に走査させる走査装置6と、各部を制御する制御部7とを備える。試験片9は、テストライン93aとコントロールライン93bとを、走査方向Xと交差する所定方向にそれぞれ延在した状態でシート上に有している。制御部7は、試験片9に対して検体が供給されてコントロールライン93bに色素標識抗体が結合してから、コントロールライン93bの位置を検出する予備走査を走査装置6に行わせ、検出されたコントロールライン93bの位置に基づいてテストライン93aの位置を算出した後、テストライン93aにおける分析対象物の状態を検知する本走査を走査装置6に行わせる。
【選択図】図3

Description

本発明は、クロマトグラフィー分析装置及びクロマトグラフィー分析方法に関するものである。
従来、抗原抗体反応の特異性を利用して抗原を定性的あるいは定量的に検出する技術分野において、板状のクロマトグラフィー試験片が用いられている。このクロマトグラフィー試験片には、上方に開口したケースと、当該ケース内に収容されたメンブレンシートとが具備されている。そして、メンブレンシートには、検体中の抗原(分析対象物)と色素標識抗体との免疫複合体を特異的に捕捉する抗原特異的抗体が固定化されたテストライン(検出ゾーン)と、色素標識抗体を特異的に捕捉する標識抗体特異的抗体が固定化されたコントロールライン(参照ゾーン)とが間隔をおいて短冊状に設けられている。
このようなクロマトグラフィー試験片においては、一端に液状の検体が滴下されると、色素標識抗体と抗原との結合が促された後、毛細管現象により免疫複合体と色素標識抗体がクロマトグラフィー試験片上を他端に向かって移動する結果、テストライン及びコントロールラインでそれぞれ免疫複合体または色素標識抗体が捕捉されるので、両ラインの呈色を光学的に検出することによって、分析対象物が定性的あるいは定量的に検出される。
ところで、両ラインの呈色を検出するにあたり、特に色素標識に蛍光材料を使用する場合には、励起光をカットして蛍光を測定する必要があるため、蛍光のみを通過させるバンドパスフィルターを用いる必要がある。但し、バンドパスフィルターには角度依存性があり、広いエリアの全体での呈色検出を一遍に行うことができないため、バンドパスフィルターの正面にクロマトグラフィー試験片の全面を走査させる必要が生じてしまい、時間が長くかかって効率が悪い。
この点、テストラインの検出時間を短縮する手法としては、例えば、以下のような3つの手法が考えられる。
即ち、1つ目の手法は、クロマトグラフィー試験片のケースに位置決め用のマークを設けておき、このマークの位置に基づいてテストラインの位置を算出する手法である。
同様に、2つ目の手法は、クロマトグラフィー試験片のメンブレンシートに位置決め用のマークを設けておき、このマークの位置に基づいてテストラインの位置を算出する手法である。なお、これら1つ目、2つ目のような手法は他の技術分野でも用いられており、例えばDNAチップに対して走査を行う技術分野においては、検査したい位置を検知するための発光点や突起物をチップに設ける技術が提案されている(例えば、特許文献1参照)。
そして、3つ目の手法は、テストラインを検出するための走査を行い、検出された時点で走査を終了する手法である。
特開2006−337245号公報
しかしながら、上記1つ目の手法を用いる場合には、一般にクロマトグラフィー試験片ではケースとメンブレンシートとの位置精度が悪いことから、位置決め用のマークとテストラインとが1mm以上ずれることがあり、テストラインの位置を正確に算出することができない。
また、上記2つ目の手法を用いる場合には、位置決め用のマークをメンブレンシートに設けることでメンブレンシート内での毛細管現象や抗原抗体反応が阻害されてしまうという問題がある。
また、上記3つ目の手法を用いる場合には、分析対象物が存在しない場合にはテストラインが呈色しないため、結局メンブレンシートの全面を走査することになってしまう。
そこで、本発明は以上のような事情に鑑みてなされたものであり、テストラインの位置を短時間で正確に検出することのできるクロマトグラフィー分析装置及びクロマトグラフィー分析方法を提供することを目的とするものである。
上記課題を解決するため、本発明の第1の側面によれば、
検体を供給されたクロマトグラフィー試験片上における分析対象物の状態を検知するクロマトグラフィー分析装置において、
光源と、
前記光源から出射された光を前記クロマトグラフィー試験片に導き、当該クロマトグラフィー試験片に対する照射光を出射する照射光学系と、
光電変換を行う受光センサと、
前記照射光に起因して前記クロマトグラフィー試験片で生じる検出対象光を前記受光センサに導く検出光学系と、
前記照射光学系若しくは前記検出光学系における少なくとも1つの光学素子、または前記クロマトグラフィー試験片を走査対象物として走査方向に走査させる走査手段と、
前記受光センサからの出力信号に基づいて分析対象物の状態を特定するとともに、少なくとも前記走査手段を制御する演算処理部とを備え、
前記クロマトグラフィー試験片は、
分析対象物としての抗原と、色素標識抗体との複合体を結合させる帯状のテストラインと、
前記色素標識抗体を結合させる帯状のコントロールラインとを、
前記走査方向と交差する所定の検知ライン方向にそれぞれ延在した状態でシート上に有しており、
前記演算処理部は、
前記クロマトグラフィー試験片に対して検体が供給されて前記コントロールラインに前記色素標識抗体が結合してから、
前記コントロールラインの位置を検出するために前記走査対象物を走査させる予備走査を前記走査手段に行わせ、
検出されたコントロールラインの位置に基づいて前記テストラインの位置を算出した後、
前記テストラインにおける分析対象物の状態を検知するために前記走査対象物を走査させる本走査を前記走査手段に行わせることを特徴とする。
また、本発明の第2の側面によれば、
検体を供給されたクロマトグラフィー試験片上における分析対象物の状態を検知するクロマトグラフィー分析方法において、
クロマトグラフィー分析装置として、
光源と、
前記光源から出射された光を前記クロマトグラフィー試験片に導き、当該クロマトグラフィー試験片に対する照射光を出射する照射光学系と、
光電変換を行う受光センサと、
前記照射光に起因して前記クロマトグラフィー試験片で生じる検出対象光を前記受光センサに導く検出光学系と、
前記照射光学系若しくは前記検出光学系における少なくとも1つの光学素子、または前記クロマトグラフィー試験片を走査対象物として走査方向に走査させる走査手段と、
前記受光センサからの出力信号に基づいて分析対象物の状態を特定する演算処理部とを備えるものを用いるとともに、
前記クロマトグラフィー試験片として、
分析対象物としての抗原と、色素標識抗体との複合体を結合させる帯状のテストラインと、
前記色素標識抗体を結合させる帯状のコントロールラインとを、
前記走査方向と交差する所定の検知ライン方向にそれぞれ延在した状態でシート上に有するものを用い、
前記クロマトグラフィー試験片に対して検体が供給されて前記コントロールラインに前記色素標識抗体が結合してから、
前記コントロールラインの位置を検出するために前記走査対象物を走査させる予備走査を前記走査手段に行わせ、
検出されたコントロールラインの位置に基づいて前記テストラインの位置を算出した後、
前記テストラインにおける分析対象物の状態を検知するために前記走査対象物を走査させる本走査を前記走査手段に行わせることを特徴とする。
本発明によれば、テストラインの位置を短時間で正確に検出することができる。
クロマトグラフィー試験片を示す図である。 クロマトグラフィー分析装置の外観構成を示す図である。 クロマトグラフィー分析装置の内部構成を示す図である。 分析処理を示すフローチャートである。 予備走査処理を示すフローチャートである。 本走査処理を示すフローチャートである。 クロマトグラフィー試験片の厚み方向に被照射位置が変化した場合のラインセンサでの受光の様子を示す図である。 検出光学系における像側,物側の焦点面にラインセンサ,検知対象領域が一致した状態を示す図である。 ラインセンサの短手方向における各位置での受光強度を示す図である。 ラインセンサの長手方向と検知対象領域の検知ライン方向とが平行でない場合の配置を示す図である。 照射光学系の変形例を示す図である。
以下、本発明を図示の実施の形態に基づいて説明するが、本発明は該実施の形態に限られない。なお、図中、同一あるいは同等の部分には同一の番号を付与し、重複する説明は省略する。
(1.クロマトグラフィー試験片)
始めに、本実施の形態におけるクロマトグラフィー試験片について、図1を用いて説明する。
ここで、図1(a)はクロマトグラフィー試験片9(以下、試験片とする)の外観構成の一例を示す斜視図であり、図1(b)、(c)は側面図である。
試験片9は、図1(a)に示すように、矩形板状に形成されており、後述の走査方向Xに長尺となっている。
この試験片9は、図1(b),(c)に示すように、上方に開口したケース(図示せず)内に、シート部95を有している。
このシート部95は、矩形状に形成されており、上面における一端部にはサンプルパッド90が設けられ、他端部には吸収パッド91が設けられている。
このうち、サンプルパッド90は、液状の検体が滴下されて供給される部分である。また、吸収パッド91は、サンプルパッド90に滴下された検体を吸収することにより、当該検体を毛細管現象によって検体移動方向Kに流させる部分である。なお、本実施の形態においては、検体移動方向Kと走査方向Xとは平行となっている。
サンプルパッド90に対して検体移動方向Kの下流側には、コンジュゲートパッド92が配設されている。このコンジュゲートパッド92は、検体中に含まれる分析対象物としての抗原と結合する色素標識抗体を含んでおり、サンプルパッド90から供給される検体を検体移動方向Kの下流側に移動させつつ、検体内の抗原を色素標識抗体と結合させるようになっている。
コンジュゲートパッド92の下面から吸収パッド91の下面までの間には、メンブレンシート96が延在している。このメンブレンシート96には、分析対象物の状態を検知するための帯状の検知対象領域93として、テストライン93aとコントロールライン93bとが設けられている。これらテストライン93a及びコントロールライン93bは、検体移動方向Kの直交方向、つまり試験片9の幅方向(以下、検知ライン方向Zとする)にそれぞれ延在した状態で、所定の間隔を空けて、それぞれ所定の幅で配設されている。なお、本実施の形態においては、テストライン93aとコントロールライン93bとの間隔は2mm程度となっており、検体移動方向Kにおける検知対象領域93の長さ(幅)は1mm〜3mm程度となっている。また、テストライン93aとコントロールライン93bとは、同一の塗布装置によってメンブレンシート96上に形成されており、両者の位置精度は50μm以内となっている。
このうち、テストライン93aは、検出ゾーンとも称される領域であり、検体中の抗原(分析対象物)と色素標識抗体との複合体を結合させるようになっている。具体的には、テストライン93aには、抗原(分析対象物)と色素標識抗体との免疫複合体を特異的に捕捉する抗原特異的抗体が固定化されている。なお、本実施の形態においてはテストライン93aは試験片9に1本のみ設けられていることとして説明するが、複数種類の抗原を検出できるよう、複数本設けられていても良い。この場合には、各テストライン93aの間隔は、コントロールライン93bと、最もコントロールライン93bに近いテストライン93aとの間隔と等しいことが好ましい。
また、コントロールライン93bは、参照ゾーンとも称される領域であり、色素標識抗体を結合させるようになっている。具体的には、コントロールライン93bには、色素標識抗体を特異的に捕捉する標識抗体特異的抗体が固定化されている。
なお、以上のような試験片9としては、従来より公知のクロマトグラフィー試験片を用いることができる。
(2.クロマトグラフィー分析装置)
(2−1.外観構成)
続いて、本発明に係るクロマトグラフィー分析装置の外観構成について、図2を用いて説明する。
ここで、図2はクロマトグラフィー分析装置1の外観構成の一例を示す斜視図である。
この図に示すように、クロマトグラフィー分析装置1は、試験片9上における分析対象物の状態を検知するものであり、挿入口10と、スイッチ群11と、ディスプレイ12と、プリンタ部13とを備えている。
このうち、挿入口10は、クロマトグラフィー分析装置1に対して試験片9を挿入したり、クロマトグラフィー分析装置1内の試験片9を排出したりするための開口部である。
スイッチ群11は、クロマトグラフィー分析装置1に対して各種の指示を行うための複数のスイッチを有している。具体的には、本実施の形態におけるスイッチ群11は、起動状態への移行を指示するためのパワースイッチ11aと、測定の開始指示を行うための測定開始スイッチ11bと、測定結果のプリントを指示するためのプリントスイッチ11cと、クロマトグラフィー分析装置1内の試験片9の排出を指示するための排出スイッチ11d等とを有している。
ディスプレイ12は、試験片9の分析結果など、各種の情報を表示するものであり、本実施の形態においてはLCD(Liquid Crystal Display)となっている。
プリンタ部13は、試験片9の分析結果など、各種の情報をプリントアウトするものである。
(2−2.内部構成)
続いて、クロマトグラフィー分析装置1の内部構成について、図3を用いて説明する。
ここで、図3はクロマトグラフィー分析装置1の内部構成の一例を示す模式図である。
この図に示すように、クロマトグラフィー分析装置1は、光源2と、照射光学系3と、ラインセンサ4と、検出光学系5と、走査装置6と、制御部7とを備えている。
光源2は、光を出射するものであり、本実施の形態においては、レーザ光源となっている。このレーザ光源の波長は、使用する色素標識抗体の種類に依存するものの、630nm〜780nmの範囲であることが好ましい。
照射光学系3は、光源2から出射された光を試験片9に導いて、当該試験片9に対する照射光Sを出射する光学系であり、本実施の形態においては、レンズ30,32と、バンドパスフィルター31と、アパーチャ33とを有している。なお、本実施の形態において照射光Sとは、光源2から試験片9に向かって照射された光のうち、照射光学系3を通過した後、試験片9に当たるまでの部分をいう。
レンズ30は、光源2から出射された光を平行光に変換してバンドパスフィルター31に入射させるようになっている。
バンドパスフィルター31は、光源2から出射された光の各周波数成分のうち、試験片9の色素標識抗体を励起して蛍光を生じさせる周波数成分のみを通過させるようになっている。なお、本実施の形態においては、波長660nmの光によって色素標識抗体から生じる蛍光の波長は700nm付近となっている。
レンズ32は、バンドパスフィルター31を通過した光を試験片9上に集光するようになっている。
アパーチャ33は、レンズ32から出射される収束光の周辺部分を遮ることにより、試験片9に不要な光が当たるのを防止するようになっている。
なお、以上の照射光学系3は、照射光Sを検知ライン方向Z(試験片9における検知対象領域93の延在方向)に断面の長尺な略平行光とするようになっている。
また、この照射光学系3は、試験片9の照射スポットの短尺方向(本実施の形態においては走査方向X)でのスポットサイズをd(mm)、検出光学系5の横倍率を−M(但し、M>0)、ラインセンサ4の短手方向(本実施の形態においては走査方向X)のサイズをt(mm)とした場合に、照射光Sに以下の(1)式を満足させるようになっている。
40>dM/t>3 …(1)
(但し、スポットサイズdは照射強度がピーク照射強度の1/e2となるサイズを表す。)
更に、本実施の形態においては、スポットサイズ「d」(mm)は、テストライン93aと、コントロールライン93bとの間隔未満、かつ、テストライン93a及びコントロールライン93bの走査方向Xでの幅の半分より大きくなっている。なお、試験片9にテストライン93aが複数設けられる場合には、スポットサイズ「d」は、これらのテストライン93aの間隔未満でもあることが好ましい。
ラインセンサ4は、ライン状に配列された複数の画素によって光電変換を行う受光センサであり、所定の長手方向Yに延在して配設されている。このように受光センサとしてラインセンサ4を用いることにより、受光センサとしてエリアセンサやフォトダイオードを用いる場合と比較して、信号処理の制御や走査機構の構成を簡略化することができる。なお、ラインセンサ4としては、ラインCCDやラインCMOS、1次元に配列されたフォトダイオードなど、従来より公知のものを用いることができる。
ここで、ラインセンサ4の長手方向Yは検出対象光Tの中心軸Jtの軸方向と、検知ライン方向Z(試験片9における検知対象領域93の延在方向)とを含む平面に対して略平行となっており、好ましくは検知ライン方向Zに対して略平行となっている。
検出光学系5は、照射光Sに起因して試験片9で生じる検出対象光Tをラインセンサ4に導く光学系であり、本実施の形態においては、レンズ50,52と、バンドパスフィルター51とを有している。なお、本実施の形態において検出対象光Tとは、光源2からの出射光に起因して試験片9で発生する光のうち、検出光学系5に入射するまでの部分をいい、励起された色素標識抗体で生じる蛍光や、試験片9での反射光、散乱光を含んでいる。
レンズ50は、試験片9で生じる検出対象光Tを平行光に変換してバンドパスフィルター51に入射させるようになっている。
バンドパスフィルター51は、検出対象光Tの各周波数成分うち、色素標識抗体で生じた蛍光の周波数成分のみを通過させるようになっている。
レンズ52は、バンドパスフィルター51を通過した光をラインセンサ4上に集光するようになっている。
なお、以上の照射光学系3、ラインセンサ4及び検出光学系5において、ラインセンサ4の長手方向Yと、照射光学系3から出射される照射光Sの中心軸Jsと、検出光学系5に入射する検出対象光Tの中心軸Jtとは、同一平面上に存在している。
走査装置6は、照射光学系3若しくは検出光学系5における少なくとも1つの光学素子、または試験片9を走査対象物として走査方向Xに走査させるものであり、本実施の形態においては、試験片9を下方から支持する板状の支持台60と、当該支持台60を走査方向Xに往復運動させるモータ61とを有し、試験片9を走査対象物として支持台60ごと走査方向Xに走査させるようになっている。ここで、モータ61としてはステッピングモータやボイスコイルモータ、DCモータなど、従来より公知のモータを用いることができる。また、本実施の形態においては、走査方向Xはラインセンサ4の長手方向Yと交差しており、好ましくは直交している。
また、この走査装置6は、1回の走査を複数回のステップに分けて行うようになっており、換言すれば、試験片9を走査方向Xに複数回移動させることによって、当該試験片9を1回走査させるようになっている。
制御部7は、スイッチ群11から入力される指示に応じて所定の処理を実行し、各機能部への指示やデータの転送等を行い、クロマトグラフィー分析装置1を統括的に制御するとともに、種々の演算を行うものである。例えば、この制御部7は、ラインセンサ4からの出力信号に基づいて分析対象物の状態を特定するようになっており、本実施の形態においては、検体中での分析対象物の濃度を算出して、分析対象物の状態として特定するようになっている。但し、制御部7は分析対象物の有無を検知することとしても良いし、他の状態を検知することとしても良い。なお、図3では制御部7が光源2やラインセンサ4、モータ61などに接続された状態を図示しているが、制御部7の接続対象はこれらに限定されるものではない。
続いて、クロマトグラフィー分析装置1による分析処理について、図4〜図6を参照しながら説明する。
まず、図4に示すように、クロマトグラフィー分析装置1に電源が接続されると(ステップS1)、制御部7はクロマトグラフィー分析装置1の初期設定を行った後(ステップS2)、パワースイッチ11aのON・OFFを判定する(ステップS3)。
このステップS3においてパワースイッチ11aがOFFになっていると判定した場合(ステップS3;OFF)には、制御部7は、スリープモードに入って操作の待機状態に入った後(ステップS4)、ステップS3に移行する。
また、ステップS3においてパワースイッチ11aがONになっていると判定した場合(ステップS3;ON)には、制御部7は、通常モードに入って各種の設定値を読み出すとともに(ステップS5)、モータ61などの各駆動部を初期位置に移動させる(ステップS6)。
次に、制御部7は、測定開始スイッチ11bがONにされるか否かを判定し(ステップS7)、ONにされないと判定した場合(ステップS7;OFF)には、後述のステップS20に移行する。なお、本実施の形態においては、試験片9に検体が供給されて当該試験片9における検体移動方向Kの下流側の端部まで検体が移動した後、つまりコントロールライン93bに色素標識抗体が結合した後に、測定開始スイッチ11bがONにされる。但し、コントロールライン93bに色素標識抗体が結合した後に、試験片9が挿入口10に挿入されることとしても良い。検体の滴下からコントロールライン93bに色素標識抗体が結合するまでの時間は、一般に検体の滴下から10分程度である。
また、測定開始スイッチ11bがONにされたと判定した場合(ステップS7;ON)には、制御部7は、モータ61が初期位置にあるか否かを判定し(ステップS11)、初期位置に無いと判定した場合(ステップS11;NG)には、ディスプレイ12にエラーメッセージを表示させた後(ステップS19)、後述のステップS20に移行する。
また、ステップS11においてモータ61が初期位置にあると判定した場合(ステップS11;OK)には、制御部7は、試験片9が挿入口10から挿入されてセットされているか否かを判定し(ステップS12)、セットされていないと判定した場合(ステップS12;無)には、上述のステップS19に移行する。
また、ステップS12において試験片9が挿入口10から挿入されてセットされていると判定した場合(ステップS12;有)には、制御部7は、予備走査を行うための予備走査処理を行う(ステップS13)。ここで、予備走査とは、走査装置6によって複数回行われる走査のうち初回に行われる走査であり、試験片9上でのコントロールライン93bの位置や幅、コントロールライン93bに対してラインセンサ4で受光される光量などを検出するための走査である。
具体的には、図5に示すように、この予備走査処理においてまず制御部7は、モータ61を駆動して試験片9を1ステップ分だけ走査方向Xに移動させる(ステップT1)。より具体的には、このとき制御部7は、照射光Sによる試験片9の被照射領域が当該試験片9の検体移動方向Kにおける下流端の側から上流端の側に向かって移動するよう試験片9を走査方向Xに移動させる。ここで、1ステップ分の移動量としては、走査方向Xにおけるコントロールライン93bの幅より小さい所定の移動量が予め設定されている。これにより、確実にコントロールライン93bに照射光Sを照射することができる。
次に、制御部7は、光源2を点灯させて光を照射させた後(ステップT2)、ラインセンサ4から各画素での受光信号のデータを取得して(ステップT3)、光源2を消灯させる(ステップT4)。
そして、制御部7は、走査方向Xにおいてコントロールライン93bの全域が検出されたか否かを判定し(ステップT5)、検出されていないと判定した場合(ステップT5;NG)には上述のステップT1に移行する一方、検出されたと判定した場合(ステップT5;OK)には、予備走査処理を終了する。なお、このステップT5において制御部7は、所定の閾値以上に明るい領域が検知された場合には、その位置がコントロールライン93bであると判断し、一旦、閾値以上に明るい領域が検知された後、暗い領域が検知された場合には、その位置がコントロールライン93bの境界部分であると判断する。
以上の予備走査処理が終了したら、図4に示すように、次に制御部7は、予備走査処理で検知されたコントロールライン93bの位置に基づいて、テストライン93aの位置を算出して特定するとともに、コントロールライン93bでの光量に基づいて、光源2のパワーを変更し、テストライン93aの検知に用いる閾値を変更した後(ステップS14)、本走査を行うための本走査処理を行う(ステップS15)。ここで、本走査とは、走査装置6によって複数回行われる走査のうち2回目以降に行われる走査であり、テストライン93aにおける分析対象物の状態(本実施の形態においては分析対象物の濃度)を検知するための走査である。
具体的には、図6に示すように、この本走査処理においてまず制御部7は、特定されたテストライン93aの位置に基づいて、走査方向Xにおいて当該位置の直前にモータ61を移動させた後(ステップU1)、1回の走査において行うべきステップ数を決定する(ステップU2)。具体的には、このステップU2において制御部7は、走査方向Xにおけるテストライン93aの幅を1ステップ当たりの移動量で割ることにより、ステップ数を算出する。ここで、1ステップ分の移動量としては、走査方向Xにおけるテストライン93aの幅より小さい所定の移動量が予め設定されている。これにより、確実にテストライン93aに照射光Sを照射し、当該テストライン93aにおける分析対象物の状態を検知することができる。
次に、制御部7は、1ステップ分だけモータ61を駆動させる(ステップU3)。
次に、制御部7は、光源2を点灯させて光を照射させた後(ステップU4)、ラインセンサ4から各画素での受光信号のデータを取得して(ステップU5)、光源2を消灯させる(ステップU6)。これにより、走査装置6が本走査を行っている場合には、照射光Sによる試験片9の照射スポットがテストライン93aと、当該テストライン93aの近傍とに位置するタイミングのみで光源2から光が出射される。このように照射光Sによる試験片9の照射スポットがテストライン93aと、当該テストライン93aの近傍とに位置するタイミングのみで光源が光を出射することにより、エネルギーのロスが防止されるとともに、試験片9が過度な光の照射によって退色などの悪影響を受けてしまうのが防止される。
なお、このとき、走査装置6による走査対象物(試験片9)の走査方向Xはラインセンサ4の長手方向Yと交差しており、当該長手方向Yと、試験片9に対する照射光Sの中心軸Jsと、試験片9からの検出対象光Tの中心軸Jtとは同一平面上に存在するので、図7に示すように、試験片9の寸法のバラツキや走査時におけるガタツキなどによって試験片9の厚み方向(図中の上下方向)に被照射位置が変化する場合であっても、試験片9上の被照射位置がラインセンサ4の長手方向Yにずれ、試験片9での検出対象光Tが確実にラインセンサ4に当たる。従って、試験片9の厚み方向に被照射位置が変化する場合であっても、正確な分析が行われることとなる。
また、検出対象光Tの中心軸Jtの軸方向と、検知ライン方向Zとを含む平面に対してラインセンサ4の長手方向Yが略平行であるので、この平面に対してラインセンサ4の長手方向Yが交差する場合と異なり、検知対象領域93の検知ライン方向Zの各位置で生じる検出対象光Tを、ラインセンサ4の長手方向Yの各画素に当てることが可能となる。従って、試験片9上で液状検体が目詰まりを起こして分析対象物が局所的に散在する場合であっても、正確な分析が行われることとなる。
また、ラインセンサ4の長手方向Yと、試験片9における検知ライン方向Z(検知対象領域93の延在方向)とは略平行であるので、両者が平行で無い場合と異なり、図8に示すように、検出光学系5における像側,物側の焦点面にラインセンサ4,検知対象領域93を一致させて配置することが可能となる。従って、試験片9と、ラインセンサ4の各画素とにそれぞれフォーカスを合わせた状態で試験片9からの検出対象光Tをラインセンサ4に受光させることが可能となるため、検知対象領域93の各位置における分析対象物の状態が精度良くラインセンサ4で検出されることとなる。なお、図8では、バンドパスフィルター51の図示を省略している。
また、照射光Sは略平行光であるので、照射光Sによる試験片9の照射スポット内で照度が容易に均一化される。また、試験片9における被照射位置が照射光Sの中心軸に沿ってずれる場合であっても、照射スポット内での照度分布の変化が防止されることとなる。また、照射光Sは検知ライン方向Z(帯状の検知対象領域93の延在方向)に断面が長尺であるので、バックノイズや迷光の影響が緩和され、効率よく分析が行われることとなる。
また、照射光Sは短尺方向でのスポットサイズをd(mm)、検出光学系5の横倍率を−M(但し、M>0)、ラインセンサ4の短手方向のサイズをt(mm)とした場合に、40>dM/t>3を満足するので、dM/t≦3の場合と異なり、ラインセンサ4上での受光領域が小さくなってしまうのが防止され、照射光学系3と検出光学系5との光軸アライメントが容易化される。また、ラインセンサ4上での受光領域が小さくなってしまうのを防止することが可能となるため、装置の経時劣化や温度特性に起因して照射光学系3と検出光学系5との光軸ずれが生じる場合であっても、ラインセンサ4上での受光光量が減少して分析対象物の状態検知に支障をきたすのを防止することが可能となる。例えば、ラインセンサ4における短手方向の画素サイズtをt=0.06mm、光学系の倍率MをM=1、照明スポットの短辺方向のサイズdをd=0.2mmとしたとき、つまりdM/t=3.3としたときには、ラインセンサ4上の結像スポットでの受光強度分布は、図9(a)に示すような状態となる。ここで、図中の太線は短手方向におけるラインセンサ4を表す。この図によれば、10μmの光軸アライメント誤差が生じた場合であっても、ラインセンサ4の面内で受光する光量の最小値(受光強度分布のグラフと太線(ラインセンサ4)との交点の強度)の変化をおよそ10%程度の低下に抑えられることが分かる。
また、40≦dM/tの場合と異なり、試験片9における照明スポットが大きくなり過ぎて分析対象物の状態検知に不要な光が多くなってしまうのを防止することが可能となるため、不要光によるフレアが防止されるとともに、試験片9が不要光の照射によって退色などの悪影響を受けてしまうのを防止することが可能となる。なお、ラインセンサ4における短手方向の画素サイズtをt=0.06mm、光学系の倍率MをM=1、照明スポットの短辺方向のサイズdをd=2.2mmとしたとき、つまりdM/t=36.7としたときには、図9(b)に示すように、ラインセンサ4上の結像スポットでの受光強度分布は均一になるため、ラインセンサ4の光軸アライメントが多少ズレた場合であっても、ラインセンサ4の面内で受光する光量の変化は少ない。
そして、上記のステップS6の次に制御部7は、ステップU2で決定したステップ数だけモータ61の駆動を行ったか否か、つまりテストライン93aの幅を超える分だけ試験片9の移動を行ったか否かを判定し(ステップU7)、行っていないと判定した場合(ステップU7;未満)には上述のステップU3に移行する一方、行ったと判定した場合(ステップU7;終了)には本走査処理を終了する。
以上の本走査処理が終了したら、図4に示すように、次に制御部7は、走査装置6による各回の走査時にラインセンサ4から得られる出力信号に基づいて、分析対象物の濃度を算出する演算を行った後(ステップS16)、その結果をディスプレイ12に表示させる(ステップS17)。
より詳細には、このステップS16において制御部7は、ラインセンサ4における各画素のうち、検出光学系5を介して検出対象光Tを受光した領域内の画素による出力の和に基づいて、分析対象物の濃度を算出する。
このようにステップS16でラインセンサ4における各画素のうち、検出光学系5を介して検出対象光Tを受光した領域内の画素による出力の和に基づいて分析対象物の濃度を算出することにより、ラインセンサ4の画素ごとに異なる量で発生するノイズの影響を低減し、分析対象物の濃度を正確に算出することができる。また、試験片9上で液状検体が目詰まりを起こして分析対象物が局所的に散在する場合であっても、分析対象物の濃度を確実に算出することができる。なお、ラインセンサ4における各画素のうち、検出対象光Tを受光した領域内の画素としては、例えば所定の閾値を越える出力信号を出力する画素を用いることができる。
また、このステップS16において制御部7は、検出光学系5における周辺光量の低下分を補正して分析対象物の濃度を算出する。例えば、検出光学系5がコサイン4乗則に準ずる光量低下を示す場合には、各画素での検出光量を(cosθ)4で除算して濃度計算を行う。ここで、θは検出光学系5における主光線がラインセンサ4に入射する角度である。このように検出光学系5における周辺光量の低下分を補正して分析対象物の濃度を算出することにより、検出光学系5の周辺領域を通過する検出対象光Tからであっても、分析対象物の濃度を正確に算出することができる。
また、このステップS16では、例えば複数回の出力信号を合算して分析対象物の状態を特定することが好ましい。この場合には、各走査時での出力信号に含まれるランダムノイズの影響を低減し、いっそう正確な分析を行うことができる。
次に、制御部7は、排出スイッチ11dがONに操作されるか否かを判定し(ステップS20)、ONに操作されないと判定した場合(ステップS20;OFF)には、後述のステップS22に移行する。
また、ステップS20において排出スイッチ11dがONに操作されたと判定した場合(ステップS20;ON)には、制御部7は、挿入口10から試験片9を排出させた後(ステップS21)、プリントスイッチ11cがONに操作されるか否かを判定する(ステップS22)。
このステップS22においてプリントスイッチ11cがONに操作されないと判定した場合(ステップS22;OFF)には、制御部7は、パワースイッチ11aがONになっているか否かを判定し(ステップS26)、なっていないと判定した場合(ステップS26;OFF)には、上述のステップS4に移行する一方、ONになっていると判定した場合(ステップS26;ON)には上述のステップS6に移行する。
また、上述のステップS22においてプリントスイッチ11cがONに操作されたと判定した場合(ステップS22;ON)には、制御部7は、試験片9について測定(分析)を行っているか否かを判定し(ステップS23)、行っていると判定した場合(ステップS23;Yes)には測定結果をプリンタ部13にプリントさせた後(ステップS24)、上述のステップS26に移行する。
また、ステップS23において測定を行っていないと判定した場合(ステップS23;No)にはディスプレイ12にエラーメッセージを表示させた後(ステップS25)、上述のステップS26に移行する。
以上のように、本実施形態によれば、試験片9に対して検体が供給されてコントロールライン93bに色素標識抗体が結合してから、予備走査(コントロールライン93bの位置を検出するための走査)が行われ、検出されたコントロールライン93bの位置に基づいてテストライン93aの位置が算出された後、本走査(テストライン93aにおける分析対象物の状態を検知するための走査)が行われるので、検体の供給前には呈色していないコントロールライン93bを、テストライン93aの位置算出の基準位置として用いることができる。
そして、コントロールライン93bはテストライン93aと共に同一の塗布装置にてメンブレンシート96上に塗布されることで50μm以内の位置精度が確保できるように設けられているため、試験片9のケースに位置決め用のマークを設ける場合と異なり、テストライン93aの位置を正確に算出することができる。そのため、テストライン93aの位置検出ミスが生じることで分析対象物が存在しないと誤認識してしまうのを防止することができる。
また、位置決め用の新たなマークをメンブレンシート96上に設ける必要がないため、メンブレンシート96内での毛細管現象や抗原抗体反応が阻害されてしまうのを防止することができる。
また、検体中に分析対象物が存在しない場合であってもコントロールライン93bの位置からテストライン93aの位置を正確に算出することができるため、テストライン93a以外の余分な範囲を本走査する手間を省き、検出時間を短縮することができる。
また、試験片9は走査方向X(検体移動方向K)に長尺で、コントロールライン93bをテストライン93aよりも検体移動方向Kの下流側に有しており、照射光Sによる試験片9の被照射領域が当該試験片9における下流端から上流端の側に向かって移動するよう走査装置6が予備走査を行うので、上流端から下流端の側に向かって予備走査を行う場合と比較して、コントロールライン93bの検出までの時間を短縮することができる。
また、予備走査の後に行われる本走査でも同様に検体移動方向Kの下流側から上流側に走査を行うので、コントロールライン93bの側からテストライン93aについて本走査を行うことができる。従って、本走査を上流端から下流端に行う場合と比較して、テストライン93aの検出までの時間を短縮することができる。
また、試験片9の照射スポットの走査方向Xでのスポットサイズ「d」(mm)は、テストライン93aと、コントロールライン93bとの間隔未満となっているので、コントロールライン93bの検出時にテストライン93aに照射光Sが照射されたり、テストライン93aの検出時にコントロールライン93bに照射光Sが照射されたりするのを防止することができる。従って、テストライン93aやコントロールライン93bが過度な光の照射によって褪色などの悪影響を受けてしまうのを防ぐことができる。
なお、本発明を適用可能な実施形態は、上述した実施形態に限定されることなく、本発明の趣旨を逸脱しない範囲で適宜変更可能である。
例えば、上記の実施形態においては、走査方向Xと、ラインセンサ4の長手方向Yとが交差することとして説明したが、平行であることとしても良い。また、長手方向Yと、試験片9に対する照射光Sの中心軸Jsと、試験片9からの検出対象光Tの中心軸Jtとは同一平面上に存在することとして説明したが、同一平面上に存在しないこととしても良い。
また、ラインセンサ4の長手方向Yと、検知対象領域93の検知ライン方向Zとは略平行であることとして説明したが、図10に示すように、平行でないこととしても良い。ここで、ラインセンサ4を検知ライン方向Zに対して平行ではなく配設するには他の手法を用いてもよく、例えば図3で示した検出光学系5においてレンズ50とバンドパスフィルター51との間にミラーやダイクロイックミラー、ダイクロイックプリズムなどの光学素子を配置し、この光学素子で検出対象光Tを屈曲させることで、ラインセンサ4の長手方向Yと、検知対象領域93の検知ライン方向Zとを非平行としても良い。なお、ダイクロイックミラーやダイクロイックプリズムを配置する場合には、この光学素子によってバンドパスフィルター51の機能を兼ねることができるため、バンドパスフィルター51を省略しても良い。
また、照射光学系3はレンズ32で集光した収束光を照射光Sとして出射することとして説明したが、平行光を照射光Sとして出射することとしても良い。この場合には、レンズ32を省くことができるため、装置全体を低コスト化することができる。
また、バンドパスフィルター31をレンズ30,32の間、バンドパスフィルター51をレンズ50,52の間に配設されることとして説明したが、バンドパスフィルター31,51に対しておよそ垂直(例えば80度〜100度)に光が入射する限りにおいて、他の位置に配設されることとしても良い。
また、レンズ30,50をコリメータレンズとし、レンズ31,51を集光レンズとして説明したが、図11に示すように、他の機能を有するレンズ、例えばシリンドリカルレンズ等としても良い。ここで、図11は、照射光学系3の代わりに配設される照射光学系3Aを図示している。但し、この図では、バンドパスフィルター31及びアパーチャ33の図示を省略している。この照射光学系3Aは、レンズ32の代わりにシリンドリカルレンズ32Aを有している。シリンドリカルレンズ32Aは、レンズ30から出射される平行光のうち、走査方向Xにおける中心部分のみを自身に入射させつつ走査方向Xに集光して照射光Sを出射することにより、照射光Sによる試験片9の照射スポットのうち、検出光学系5によって受光されうる領域内で照度を均一とするようになっている。ここで、照度が均一であるとは、最小ピークと最大ピークの光量差が小さいことを言い、例えば光量の最小値が最大値の50%以上であることを言う。この照射光学系3Aによれば、照射光Sは試験片9の照射スポット内で照度が均一であるので、試験片9の厚み方向において被照射位置が変化してラインセンサ4での受光位置が当該ラインセンサ4の中心からずれる場合であっても、受光した画素からの出力の変化を低減することができる。従って、照射スポット内での照度分布にガウス分布のような特性がある場合と異なり、被照射位置の変化に応じてラインセンサ4からの出力値を補正する必要がないため、制御部7での処理を簡素化することができる。なお、照射光Sによる試験片9の照射スポットのうち、検出光学系5によって受光されうる領域内で照度を均一とするには他の手法を用いても良く、例えばケーラー照明や、フライアイインテグレーター、ロッドインテグレーターなどの光学系を照射光学系3に適用しても良い。ここで、ケーラー照明の光学系を照射光学系3に適用する場合には、光源2をLEDとしても良い。
また、予備走査においては照射光Sによる試験片9の被照射領域が当該試験片9の検体移動方向Kにおける下流端の側から上流端の側に向かって移動するよう試験片9を走査方向Xに移動させることとして説明したが、照射光Sによる試験片9の被照射領域が当該試験片9におけるコントロールライン93bよりも上流端の側から下流端の側に向かって移動するよう、より好ましくはコントロールライン93bが存在すると推定される領域よりも僅かに上流側の位置から下流側に向かって移動するよう、試験片9を走査方向Xに移動させることとしても良い。この場合には、試験片9における検体の上流側から下流側に向かって被照射領域が移動するよう予備走査が行われることとなる。従って、コントロールライン93bに対して十分に色素標識抗体が供給されず、上流側から下流側に向かって呈色の度合いが小さくなる場合であっても、コントロールライン93の上流端、つまり最も明確に呈色する部分を検出することができるため、正確にコントロールライン93bの位置を検出することができる。
同様に、本走査においても、試験片9における検体移動方向Kの上流側から下流側に向かって被照射領域が移動するよう試験片9を走査させることとしても良い。この場合には、分析対象物の量が少ない場合、つまり、テストライン93aに分析対象物と色素標識抗体との複合体が十分に供給されず、上流側から下流側に向かって呈色の度合いが小さくなる場合であっても、テストライン93aの上流端、つまり最も明確に呈色する部分を検出することができるため、正確にテストライン93aの位置を検出することができる。
また、本発明における受光センサをラインセンサ4として説明したが、フォトダイオードやエリアセンサなど、他の形状の受光センサとしても良い。
1 クロマトグラフィー分析装置
2 光源
3 照射光学系
4 ラインセンサ
5 検出光学系
6 走査手段
7 制御部
93a テストライン
93b コントロールライン
S 照射光
T 検出対象光

Claims (14)

  1. 検体を供給されたクロマトグラフィー試験片上における分析対象物の状態を検知するクロマトグラフィー分析装置において、
    光源と、
    前記光源から出射された光を前記クロマトグラフィー試験片に導き、当該クロマトグラフィー試験片に対する照射光を出射する照射光学系と、
    光電変換を行う受光センサと、
    前記照射光に起因して前記クロマトグラフィー試験片で生じる検出対象光を前記受光センサに導く検出光学系と、
    前記照射光学系若しくは前記検出光学系における少なくとも1つの光学素子、または前記クロマトグラフィー試験片を走査対象物として走査方向に走査させる走査手段と、
    前記受光センサからの出力信号に基づいて分析対象物の状態を特定するとともに、少なくとも前記走査手段を制御する演算処理部とを備え、
    前記クロマトグラフィー試験片は、
    分析対象物としての抗原と、色素標識抗体との複合体を結合させる帯状のテストラインと、
    前記色素標識抗体を結合させる帯状のコントロールラインとを、
    前記走査方向と交差する所定の検知ライン方向にそれぞれ延在した状態でシート上に有しており、
    前記演算処理部は、
    前記クロマトグラフィー試験片に対して検体が供給されて前記コントロールラインに前記色素標識抗体が結合してから、
    前記コントロールラインの位置を検出するために前記走査対象物を走査させる予備走査を前記走査手段に行わせ、
    検出されたコントロールラインの位置に基づいて前記テストラインの位置を算出した後、
    前記テストラインにおける分析対象物の状態を検知するために前記走査対象物を走査させる本走査を前記走査手段に行わせることを特徴とするクロマトグラフィー分析装置。
  2. 請求項1記載のクロマトグラフィー分析装置において、
    前記クロマトグラフィー試験片は、
    前記走査方向に長尺で、一端の側に供給される検体を他端の側に向かって伝わらせるようになっており、かつ、
    前記コントロールラインを前記テストラインよりも前記他端の側に有しており、
    前記演算処理部は、
    前記照射光による前記クロマトグラフィー試験片の被照射領域が当該クロマトグラフィー試験片における前記他端から前記一端の側に向かって移動するよう、前記走査手段に前記予備走査を行わせることを特徴とするクロマトグラフィー分析装置。
  3. 請求項1記載のクロマトグラフィー分析装置において、
    前記クロマトグラフィー試験片は、
    前記走査方向に長尺で、一端の側に供給される検体を他端の側に向かって伝わらせるようになっており、かつ、
    前記コントロールラインを前記テストラインよりも前記他端の側に有しており、
    前記演算処理部は、
    前記照射光による前記クロマトグラフィー試験片の被照射領域が当該クロマトグラフィー試験片における前記コントロールラインよりも前記一端の側から前記他端の側に向かって移動するよう、前記走査手段に前記予備走査を行わせることを特徴とするクロマトグラフィー分析装置。
  4. 請求項1〜3の何れか一項に記載のクロマトグラフィー分析装置において、
    前記演算処理部は、
    前記照射光による前記クロマトグラフィー試験片の被照射領域が当該クロマトグラフィー試験片における前記一端の側から前記他端の側に向かって移動するよう、前記走査手段に前記本走査を行わせることを特徴とするクロマトグラフィー分析装置。
  5. 請求項1〜3の何れか一項に記載のクロマトグラフィー分析装置において、
    前記演算処理部は、
    前記照射光による前記クロマトグラフィー試験片の被照射領域が当該クロマトグラフィー試験片における前記他端の側から前記一端の側に向かって移動するよう、前記走査手段に前記本走査を行わせることを特徴とするクロマトグラフィー分析装置。
  6. 請求項1〜5の何れか一項に記載のクロマトグラフィー分析装置において、
    前記照射光による前記クロマトグラフィー試験片上での照射スポットの前記走査方向でのサイズは、
    前記テストラインと、前記コントロールラインとの間隔未満であり、かつ、
    これらテストライン及びコントロールラインの前記走査方向の幅の半分よりも大きいことを特徴とするクロマトグラフィー分析装置。
  7. 請求項6記載のクロマトグラフィー分析装置において、
    前記クロマトグラフィー試験片は、
    前記テストラインを複数有しており、
    前記照射光による前記クロマトグラフィー試験片上での照射スポットの前記走査方向でのサイズは、
    前記複数のテストラインの間隔未満であることを特徴とするクロマトグラフィー分析装置。
  8. 検体を供給されたクロマトグラフィー試験片上における分析対象物の状態を検知するクロマトグラフィー分析方法において、
    クロマトグラフィー分析装置として、
    光源と、
    前記光源から出射された光を前記クロマトグラフィー試験片に導き、当該クロマトグラフィー試験片に対する照射光を出射する照射光学系と、
    光電変換を行う受光センサと、
    前記照射光に起因して前記クロマトグラフィー試験片で生じる検出対象光を前記受光センサに導く検出光学系と、
    前記照射光学系若しくは前記検出光学系における少なくとも1つの光学素子、または前記クロマトグラフィー試験片を走査対象物として走査方向に走査させる走査手段と、
    前記受光センサからの出力信号に基づいて分析対象物の状態を特定する演算処理部とを備えるものを用いるとともに、
    前記クロマトグラフィー試験片として、
    分析対象物としての抗原と、色素標識抗体との複合体を結合させる帯状のテストラインと、
    前記色素標識抗体を結合させる帯状のコントロールラインとを、
    前記走査方向と交差する所定の検知ライン方向にそれぞれ延在した状態でシート上に有するものを用い、
    前記クロマトグラフィー試験片に対して検体が供給されて前記コントロールラインに前記色素標識抗体が結合してから、
    前記コントロールラインの位置を検出するために前記走査対象物を走査させる予備走査を前記走査手段に行わせ、
    検出されたコントロールラインの位置に基づいて前記テストラインの位置を算出した後、
    前記テストラインにおける分析対象物の状態を検知するために前記走査対象物を走査させる本走査を前記走査手段に行わせることを特徴とするクロマトグラフィー分析方法。
  9. 請求項8記載のクロマトグラフィー分析方法において、
    前記クロマトグラフィー試験片として、
    前記走査方向に長尺で、一端の側に供給される検体を他端の側に向かって伝わらせるようになっており、かつ、
    前記コントロールラインを前記テストラインよりも前記他端の側に有するものを用い、
    前記照射光による前記クロマトグラフィー試験片の被照射領域が当該クロマトグラフィー試験片における前記他端から前記一端の側に向かって移動するよう、前記走査手段に前記予備走査を行わせることを特徴とするクロマトグラフィー分析方法。
  10. 請求項8記載のクロマトグラフィー分析方法において、
    前記クロマトグラフィー試験片として、
    前記走査方向に長尺で、一端の側に供給される検体を他端の側に向かって伝わらせるようになっており、かつ、
    前記コントロールラインを前記テストラインよりも前記他端の側に有するものを用い、
    前記照射光による前記クロマトグラフィー試験片の被照射領域が当該クロマトグラフィー試験片における前記コントロールラインよりも前記一端の側から前記他端の側に向かって移動するよう、前記走査手段に前記予備走査を行わせることを特徴とするクロマトグラフィー分析方法。
  11. 請求項8〜10の何れか一項に記載のクロマトグラフィー分析方法において、
    前記照射光による前記クロマトグラフィー試験片の被照射領域が当該クロマトグラフィー試験片における前記一端の側から前記他端の側に向かって移動するよう、前記走査手段に前記本走査を行わせることを特徴とするクロマトグラフィー分析方法。
  12. 請求項8〜10の何れか一項に記載のクロマトグラフィー分析方法において、
    前記照射光による前記クロマトグラフィー試験片の被照射領域が当該クロマトグラフィー試験片における前記他端の側から前記一端の側に向かって移動するよう、前記走査手段に前記本走査を行わせることを特徴とするクロマトグラフィー分析方法。
  13. 請求項8〜12の何れか一項に記載のクロマトグラフィー分析方法において、
    前記照射光による前記クロマトグラフィー試験片上での照射スポットの前記走査方向でのサイズを、
    前記テストラインと、前記コントロールラインとの間隔未満、かつ、
    これらテストライン及びコントロールラインの前記走査方向の幅の半分よりも大きくすることを特徴とするクロマトグラフィー分析方法。
  14. 請求項13記載のクロマトグラフィー分析方法において、
    前記クロマトグラフィー試験片として、
    前記テストラインを複数有するものを用い、
    前記照射光による前記クロマトグラフィー試験片上での照射スポットの前記走査方向でのサイズを、
    前記複数のテストラインの間隔未満とすることを特徴とするクロマトグラフィー分析方法。
JP2011061886A 2011-03-22 2011-03-22 クロマトグラフィー分析装置及びクロマトグラフィー分析方法 Expired - Fee Related JP5664386B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2011061886A JP5664386B2 (ja) 2011-03-22 2011-03-22 クロマトグラフィー分析装置及びクロマトグラフィー分析方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2011061886A JP5664386B2 (ja) 2011-03-22 2011-03-22 クロマトグラフィー分析装置及びクロマトグラフィー分析方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2012198083A true JP2012198083A (ja) 2012-10-18
JP5664386B2 JP5664386B2 (ja) 2015-02-04

Family

ID=47180464

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2011061886A Expired - Fee Related JP5664386B2 (ja) 2011-03-22 2011-03-22 クロマトグラフィー分析装置及びクロマトグラフィー分析方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP5664386B2 (ja)

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2014077142A1 (ja) * 2012-11-14 2014-05-22 コニカミノルタ株式会社 クロマトグラフィー試験片、クロマトグラフィー試験方法及びメンブレン
WO2014115666A1 (ja) * 2013-01-23 2014-07-31 テルモ株式会社 校正方法及び校正システム、並びにこの方法を用いて校正された体液成分測定装置
KR102231379B1 (ko) * 2019-11-13 2021-03-25 주식회사 나노바이오라이프 현장검사 리더기 데이터의 처리 방법
EP3859337A4 (en) * 2018-09-28 2022-06-22 Denka Company Limited DOSAGE DETERMINATION DEVICE AND DOSAGE DETERMINATION METHOD
WO2022210312A1 (ja) * 2021-04-01 2022-10-06 富士フイルム株式会社 検査装置

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2003098078A (ja) * 2001-09-20 2003-04-03 Matsushita Electric Ind Co Ltd 試料濃度測定装置
JP2005134211A (ja) * 2003-10-29 2005-05-26 Hamamatsu Photonics Kk 免疫クロマト試験片の読取装置、これに用いるカートリッジ及び免疫クロマト試験片の検査システム
JP2007212261A (ja) * 2006-02-09 2007-08-23 Wako Pure Chem Ind Ltd 試験紙測定装置及び測定方法
WO2008084607A1 (ja) * 2007-01-09 2008-07-17 Hamamatsu Photonics K.K. 免疫クロマト試験片の測定方法
WO2012086376A1 (ja) * 2010-12-20 2012-06-28 コニカミノルタオプト株式会社 クロマトグラフィー分析装置

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2003098078A (ja) * 2001-09-20 2003-04-03 Matsushita Electric Ind Co Ltd 試料濃度測定装置
JP2005134211A (ja) * 2003-10-29 2005-05-26 Hamamatsu Photonics Kk 免疫クロマト試験片の読取装置、これに用いるカートリッジ及び免疫クロマト試験片の検査システム
JP2007212261A (ja) * 2006-02-09 2007-08-23 Wako Pure Chem Ind Ltd 試験紙測定装置及び測定方法
WO2008084607A1 (ja) * 2007-01-09 2008-07-17 Hamamatsu Photonics K.K. 免疫クロマト試験片の測定方法
WO2012086376A1 (ja) * 2010-12-20 2012-06-28 コニカミノルタオプト株式会社 クロマトグラフィー分析装置

Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2014077142A1 (ja) * 2012-11-14 2014-05-22 コニカミノルタ株式会社 クロマトグラフィー試験片、クロマトグラフィー試験方法及びメンブレン
WO2014115666A1 (ja) * 2013-01-23 2014-07-31 テルモ株式会社 校正方法及び校正システム、並びにこの方法を用いて校正された体液成分測定装置
CN104937396A (zh) * 2013-01-23 2015-09-23 泰尔茂株式会社 校正方法及校正系统、以及使用该方法进行校正的体液成分测定装置
JPWO2014115666A1 (ja) * 2013-01-23 2017-01-26 テルモ株式会社 校正方法及び校正システム、並びにこの方法を用いて校正された体液成分測定装置
EP3859337A4 (en) * 2018-09-28 2022-06-22 Denka Company Limited DOSAGE DETERMINATION DEVICE AND DOSAGE DETERMINATION METHOD
KR102231379B1 (ko) * 2019-11-13 2021-03-25 주식회사 나노바이오라이프 현장검사 리더기 데이터의 처리 방법
WO2022210312A1 (ja) * 2021-04-01 2022-10-06 富士フイルム株式会社 検査装置

Also Published As

Publication number Publication date
JP5664386B2 (ja) 2015-02-04

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5664386B2 (ja) クロマトグラフィー分析装置及びクロマトグラフィー分析方法
US9658222B2 (en) Planar waveguide based cartridges and associated methods for detecting target analyte
JP5574783B2 (ja) 蛍光検出装置および方法
JP5928343B2 (ja) クロマトグラフィー分析装置
JP5886545B2 (ja) 微小粒子分析装置及び微小粒子分析方法
US20130203627A1 (en) System and Method For Detecting Multiple Molecules in One Assay
US20110101243A1 (en) Microarray characterization system and method
EP3104168B1 (en) Surface plasmon resonance fluorescence analysis device and surface plasmon resonance fluorescence analysis method
JP4860489B2 (ja) 免疫クロマト試験片の測定方法
EP2065752A1 (en) Optical illumination apparatus for illuminating a sample with a line beam
US11199500B2 (en) Method and microscopy system for recording a microscopic fluorescence image of a sample region containing a biological sample
JP3747890B2 (ja) 光学部品ならびに当該光学部品を用いた光検出装置、光検出方法および分析方法
JP4022830B2 (ja) 蛍光検出装置
EP2646803B1 (en) Sensor device with double telecentric optical system
EP3023772A1 (en) Surface plasmon resonance fluorescence analysis device and surface plasmon resonance fluorescence analysis method
KR20200141275A (ko) 이미지센서를 이용한 시간제어측정 형광 리더기 시스템
JP2005062515A (ja) 蛍光顕微鏡
EP1157268B1 (en) Imaging system for an optical scanner
JP5052318B2 (ja) 蛍光検出装置
JP2012137355A (ja) クロマトグラフィー分析装置
JP2009128012A (ja) 分析素子チップ及びこの分析素子チップを用いた表面プラズモン共鳴蛍光分析装置
JP2005291900A (ja) レンズメータ
JP2005140956A (ja) 焦点検出装置および蛍光顕微鏡
JP2010117240A (ja) 蛍光検出装置
CN219891259U (zh) 用于蛋白流式检测的光学装置

Legal Events

Date Code Title Description
A711 Notification of change in applicant

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A712

Effective date: 20130416

A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20130913

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20140122

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20140603

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20140716

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20141111

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20141124

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 5664386

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees