JP2012189936A - 冷却システム、プロジェクター - Google Patents

Abstract

【課題】偏光素子の温度に応じて冷却対象物の適切な冷却を行うことができる冷却システムを提供する。
【解決手段】基板１１と、基板１１上に平面視縞状に形成された複数の金属細線１２Ａを含むグリッド部１２と、を有する偏光素子１０と、グリッド部１２に含まれる少なくとも一部の金属細線１２Ａの電気抵抗値を測定する測定装置２０と、測定された電気抵抗値に基づく値に応じて運転制御される冷却手段と、を有し、冷却手段は、偏光素子１０を透過する光の光路上に配置された対象物を冷却する冷却ファン３２と、電気抵抗値に基づく値に応じて冷却ファン３２の運転を制御する制御部３１と、を含むことを特徴とする。
【選択図】図１

Description

本発明は、冷却システム、プロジェクターに関するものである。

従来のプロジェクターは、内蔵する電源装置や光源等の発熱による機器内の温度上昇を抑制するために、外部の空気を取り込んでプロジェクターの内部を冷却する冷却システムを備えている。一般的な冷却システムでは、冷却対象の温度を検出し、検出した温度に合わせて冷却装置の運転条件（例えば、空冷ファンであれば、ファンの回転数）を制御する構成になっている（例えば、特許文献１，２参照）。

ここで、冷却対象がプロジェクターの光路上に配置される光学部品である場合、温度センサーの配置箇所によっては該センサーが光を遮ってしまう。そのため、冷却対象の温度を検出することが困難となる。この課題に対し、特許文献３では、光路以外の位置（例えば、光学部品の近傍）の温度を測定することで間接的に光学部品の温度を測定し、光学部品に風を送る送風手段の制御を行う技術が開示されている。

特開２００４−２７９９２４号公報 特開２００１−２２４５１号公報 特開２００２−３５７３１７号公報

しかしながら、上記特許文献の方法では、光路上の光学部品の温度を直接測定しているわけではないため、推定された温度が実際の光学部品の温度と異なるおそれがある。

冷却対象の光学部品としては、光路上において光変調素子（以下、ライトバルブ）の前後に配置される偏光素子が挙げられる。特に、ライトバルブの射出側に配置される吸収型偏光素子は、スクリーン上に投射される画面が白表示の場合では数十度、黒表示時には数百度に達するなど、映像信号に伴って温度が大きく且つ瞬時に変化し続けており、劣化抑制のために適切な冷却が必要である。

ここで、例えば、常に偏光素子を過剰に冷却することとすると、光学部品の劣化抑制という目的を達することはできるが、消費電力が大きくなり、冷却装置の駆動音が常に生じる、といった新たな課題が生じる。

また、上述の方法のように、偏光素子の近傍の温度を測定して偏光素子の温度を推定して冷却装置の駆動を制御することとすると、偏光素子の温度が変化してから温度センサーの検出温度が変化するまでに時間差が生じ、温度制御に遅れが生じるおそれがある。また、偏光素子の劣化防止の観点からは、偏光素子において光源からの光が照射される領域の温度が重要であるが、従来の方法では当該領域の温度を直接測定できていないため、適切な冷却ができないおそれがある。

なお、冷却対象物としては、偏光素子のみならずライトバルブも挙げられるが、ライトバルブについても、偏光素子と同様に光が照射される領域の温度を直接測定できないため、適切な冷却ができないおそれがある。

本発明はこのような事情に鑑みてなされたものであって、偏光素子の温度に応じて冷却対象物の適切な冷却を行うことができる冷却システムを提供することを目的とする。また、このような冷却システムを備えることで冷却対象物の劣化を適切に抑制し、信頼性の高いプロジェクターを提供することをあわせて目的とする。

上記の課題を解決するため、本発明の冷却システムは、基板と、前記基板上に平面視縞状に形成された複数の金属細線を含むグリッド部と、を有する偏光素子と、前記複数の金属細線のうち少なくとも一部の金属細線の電気抵抗値を測定する測定手段と、測定された前記電気抵抗値に基づく値に応じて運転制御される冷却手段と、を有し、前記冷却手段は、前記偏光素子を透過する光の光路上に配置された冷却対象物を冷却する冷却装置と、前記電気抵抗値に基づく値に応じて前記冷却装置の運転を制御する制御手段と、を含むことを特徴とする。

金属細線の電気抵抗値は、温度に応じて変化する。そのため、この構成によれば、金属細線の電気抵抗値に基づく値に応じて、金属細線が高温である場合と低温である場合とで冷却装置の運転条件を変化させることができる。したがって、温度に応じて適切な冷却条件で冷却対象物を冷却することができる。

本発明においては、前記制御手段は、前記電気抵抗値を用いて算出された温度と予め定まる基準温度との差と、予め定めた閾値と、を比較し、比較結果に応じて前記冷却装置の運転を制御することが望ましい。
この構成によれば、金属細線の温度と冷却対象物の温度とを関連付けることにより、冷却対象物を適切な温度に冷却することが容易となる。

本発明においては、前記制御手段は、複数の前記閾値を記憶していることが望ましい。
この構成によれば、多段階に運転条件を変化させて、より適切な冷却条件で冷却対象物を冷却することが可能となる。

本発明においては、前記複数の金属細線のうち、第１の金属細線と第２の金属細線とが相互に電気的に並列に接続され、前記測定手段は、相互に電気的に並列に接続された前記第１の金属細線と前記第２の金属細線の前記電気抵抗値を測定し、前記電気抵抗値は、前記第１の金属細線と前記第２の金属細線との合成電気抵抗値であることが望ましい。
この構成によれば、電気抵抗値の測定が容易となるだけでなく、より広い範囲の偏光素子の温度環境を測定することが可能となる。

本発明においては、前記複数の金属細線の全てが相互に電気的に並列に接続され、前記測定手段は、全ての前記金属細線の前記電気抵抗値を測定し、前記電気抵抗値は、全ての前記金属細線の合成電気抵抗値であることが望ましい。
この構成によれば、全ての金属細線の合成抵抗値を求めることで、偏光素子全体の温度環境を測定することとなる。したがって、より正確な偏光素子の温度情報に基づき、適切な冷却条件で冷却対象物を冷却することができる。

本発明においては、前記グリッド部は、前記測定手段が接続される端子を有することが望ましい。
この構成によれば、測定手段の接続が容易となる。

本発明においては、前記測定手段は、前記グリッド部の一端側の第１の接続位置および他端側の第２の接続位置に接続され、前記金属細線に定電流を供給する定電流供給部と、前記グリッド部における前記第１の接続位置と前記第２の接続位置との間の電流経路に接続され、前記金属細線の電圧降下量を検出する電圧検出部と、を有し、前記定電流供給部と前記電圧検出部とを使用した四端子法により前記電気抵抗値を測定することが望ましい。
この構成によれば、測定手段とグリッド部との接続部分における接触抵抗の影響を受けず、精度よく電気抵抗値を測定することができる。そのため、冷却装置の運転条件をより適切に制御することが可能となる。

本発明においては、前記測定手段は、前記金属細線の温度を算出する際に基準となる基準温度を測定する温度センサーを有することが望ましい。
この構成によれば、精度よく金属細線の温度を推定することができる。

本発明においては、前記冷却対象物が前記偏光素子であることが望ましい。
この構成によれば、偏光素子の熱劣化を適切に抑制することが可能となる。

また、本発明のプロジェクターは、光を射出する照明光学系と、前記光を変調する液晶ライトバルブと、前記液晶ライトバルブで変調された光を被投射面に投射する投射光学系と、上述の冷却システムと、を備え、前記液晶ライトバルブと前記照明光学系との間、及び前記液晶ライトバルブと前記投射光学系との間のうち少なくとも一方に、前記冷却システムが有する偏光素子が設けられており、前記冷却システムの冷却対象物が、前記偏光素子と前記液晶ライトバルブとのうち少なくともいずれか一方であることを特徴とする。
この構成によれば、照明光学系から射出される光の光路上に配置される偏光素子と液晶ライトバルブのうち少なくとも一方の熱劣化を適切に抑制することができ、信頼性が高いプロジェクターとすることができる。

本実施形態の冷却システムを示す模式図である。 金属細線の温度と抵抗値との関係の一例を示すグラフである。 本発明のプロジェクターの一実施形態を示す図である。 プロジェクターに適用される冷却システムを示す説明図である。

［第１実施形態］
以下、図１〜図３を参照しながら、本発明の第１実施形態に係る冷却システムについて説明する。なお、以下の全ての図面においては、図面を見やすくするため、各構成要素の寸法や比率などは適宜異ならせてある。

図１は、本実施形態の冷却システムを示す模式図である。図に示すように、本実施形態の冷却システム１は、複数の金属細線１２Ａを含む偏光素子１０と、金属細線１２Ａの電気抵抗値を測定する測定装置（測定手段）２０と、電気抵抗値に応じて冷却対象物を冷却する冷却部（冷却手段）３０と、を有している。

偏光素子１０は、基板１１と、基板１１上に平面視縞状に形成された複数の金属細線１２Ａを含むグリッド部１２と、を備えている。

基板１１は、ガラスや石英、プラスチック等の透光性材料を形成材料としている。偏光素子１０を適応する用途によっては、偏光素子１０が蓄熱し高温になるため、基板１１は、耐熱性の高いガラスや石英を形成材料とすることが好ましい。本実施形態では基板１１としてガラス基板を用いている。

グリッド部１２は、複数の金属細線１２Ａと、金属細線１２Ａの両端で複数の金属細線１２Ａ同士を電気的に並列に接続する２つの接続線１２Ｂと、２つの接続線１２Ｂ各々の中央付近に設けられ測定装置２０が接続される端子１２Ｃと、を有している。図では、接続線１２Ｂにより、全ての金属細線１２Ａが電気的に並列に接続されていることとして示している。

複数の金属細線１２Ａは、基板１１上で一方向に延在して形成されており、基板１１上に所定のピッチで互いに平行に配列されている。複数の金属細線１２Ａは、例えば、予め基板１１上に形成した金属薄膜をエッチングすることにより形成することができる。

金属細線１２Ａの材料としては、可視域において光の反射率が高い材料が用いられる。具体的には、例えばアルミニウム、銀、銅、クロム、チタン、ニッケル、タングステン、鉄など、またはこれらの金属の合金を金属細線１２Ａの材料として用いることができる。本実施形態では金属細線１２Ａの材料としてアルミニウムを用いている。

接続線１２Ｂおよび端子１２Ｃは、導電性を有する材料であれば、金属細線１２Ａと同じ材料で形成してもよく、異なる材料で形成してもよい。金属細線１２Ａと同じ材料で接続線１２Ｂおよび端子１２Ｃを形成する場合には、複数の金属細線１２Ａを形成する工程で同時に形成することができるため、グリッド部１２の形成が容易となる。また、金属細線１２Ａと異なる材料で接続線１２Ｂおよび端子１２Ｃを形成する場合には、材料選択の幅が広がり設計自由度が高くなる。

測定装置２０は、定電流供給部２１と電圧検出部２２と演算部２３と、を有している。定電流供給部２１は、金属細線１２Ａの延在方向におけるグリッド部１２の一端側の第１の接続位置（端子１２Ｃ）および金属細線１２Ａの延在方向におけるグリッド部１２の他端側の第２の接続位置（端子１２Ｃ）に接続され、接続線１２Ｂによって互いに電気的に並列接続された複数の金属細線１２Ａに定電流を供給する。

電圧検出部２２は、端子１２Ｃにおいて定電流供給部２１が接続された位置よりも金属細線１２Ａ側に接続され、電圧を検出する。具体的には、電圧検出部２２は、グリッド部１２における第１の接続位置と第２の接続位置との間の電流経路に接続され、互いに電気的に並列接続された複数の金属細線１２Ａによる電圧降下量を検出する。

演算部２３は、定電流供給部２１と電圧検出部２２との検出結果を用いて互いに電気的に並列接続された複数の金属細線１２Ａの電気抵抗値および互いに電気的に並列接続された複数の金属細線１２Ａの温度を算出する。

このように、測定装置２０は、互いに電気的に並列接続された複数の金属細線１２Ａの電気抵抗値を四端子法により測定する構成となっている。ただし、互いに電気的に並列接続された複数の金属細線１２Ａの電気抵抗値とは、互いに電気的に並列接続された複数の金属細線１２Ａの合成電気抵抗値を意味する。

以下、簡単のため、互いに電気的に並列接続された複数の金属細線１２Ａの電気抵抗値（合成電気抵抗値）のことを、金属細線１２Ａの電気抵抗値と呼び、互いに電気的に並列接続された複数の金属細線１２Ａの温度のことを金属細線１２Ａの温度と呼ぶ。また、電気的に並列接続された複数の金属細線１２Ａの電気抵抗値のことを、複数の金属細線１２Ａのうち少なくとも一部の金属細線１２Ａの電気抵抗値と呼ぶことがある。

演算部２３は、定電流供給部２１で供給される定電圧値と、電圧検出部２２で検出される電気的に並列接続された複数の金属細線１２Ａによる一方の端子１２Ｃと他方の端子１２Ｃとの間の電圧降下値と、を用いて、オームの法則から電気抵抗値を算出する。

さらに演算部２３は、算出する電気抵抗値を用いて、金属細線１２Ａの温度を算出することができる。ある温度における金属細線１２Ａの抵抗値は、基準となる温度における金属細線１２Ａの抵抗値と、金属細線１２Ａの形成材料の抵抗温度係数と、を用いて以下の式１で表すことができる。

［数１］
Ｒ＝ａ（１＋α×（Ｔ−Ｔ_０）） …（１）
（Ｔ：金属細線１２Ａの温度（℃）、Ｒ：温度Ｔにおける金属細線１２Ａの抵抗値（Ω）、Ｔ_０：基準となる温度（基準温度）（℃）、ａ：温度Ｔ_０における金属細線１２Ａの抵抗値（Ω）、α：金属細線１２Ａの形成材料の抵抗温度係数（／℃））

図２は、金属細線１２Ａの形成材料をアルミニウムとしたときの上記式１を示したグラフであり、横軸は基準となる温度（基準温度）Ｔ_０と現在の温度Ｔとの温度差、縦軸は金属細線の抵抗値を表す。図では、アルミニウムの抵抗温度係数α＝０．００４２として図示している。

演算部２３においては、式１や図２のような関係を予め記憶しておくことで、冷却システムの運転開始時からの温度変化を算出することができる。例えば、図２において、電圧検出部２２で検出する抵抗値が、初期の抵抗値の１．５倍となっている場合には、金属細線１２Ａの現在の温度は、初期の温度から１１９℃上昇した温度であると算出することができる。初期の抵抗値は、運転初期に測定装置２０で検出した値を採用することができる。

なお、演算部２３は、式１や図２のような関係をルックアップテーブルとして記憶しておくこととしても構わない。

さらに、基準となる温度Ｔ_０として冷却システム１の近傍の温度を測定し、冷却システム１の近傍の温度を演算部２３に入力する温度センサー２４を備えることとしてもよい。運転初期に温度センサー２４が検出した温度を、基準となる温度Ｔ_０として採用することで、現在の金属細線１２Ａの温度をより精度よく推定することができる。

冷却部３０は、冷却ファン（冷却装置）３２と、冷却ファン３２の駆動を制御する制御部（制御手段）３１と、を有している。なお、制御部３１と冷却ファン３２とは、それぞれ通常知られた構成のものを用いることができる。

制御部３１は、演算部２３で算出される金属細線１２Ａの温度に応じて、冷却ファン３２の運転を制御する。具体的には、金属細線１２Ａの現在の温度Ｔと初期の温度Ｔ_０との差が予め定めた温度上昇値の閾値を超えたときに冷却ファン３２の回転数をあげるように冷却ファン３２の運転を制御する。この場合、温度上昇値の閾値を複数設定し、多段階に冷却ファン３２の回転数を制御しても構わない。

冷却ファン３２は、例えば、熱を帯びた偏光素子（冷却対象物）１０に送風し、偏光素子１０を冷却することができる。
本実施形態の冷却システム１は、以上のような構成となっている。

以上のような構成の冷却システム１によれば、冷却ファン３２の駆動が、金属細線１２Ａの電気抵抗値に基づいて算出される金属細線１２Ａの温度に応じて制御されるため、金属細線１２Ａが高温である場合と低温である場合とで回転数を変化させ、適切な冷却条件で金属細線１２Ａを冷却することができる。

なお、本実施形態においては、冷却ファン３２で冷却対象物に送風し冷却する空冷式であることとしたが、冷却対象物を冷媒で冷却する液冷式であるとしても構わない。
その場合は、例えば、偏光素子１０を冷却する場合、基板１１の側面に冷媒が流動する流路を設け、冷媒を流動させるポンプの駆動条件を金属細線１２Ａの温度に応じて制御する構成とすることが望ましい。

また、本実施形態においては、全ての金属細線１２Ａを接続線１２Ｂで電気的に並列に接続し、全ての金属細線１２Ａの電気抵抗値をまとめて測定することとしたが、これに限らない。例えば、複数の金属細線１２Ａのうち２本の金属細線（第１の金属細線と第２の金属細線）を電気的に並列に接続し、接続した第１の金属細線と第２の金属細線とについて電気抵抗値（合成電気抵抗値）を測定することとしてもよい。もちろん、２本より多い金属細線を電気的に並列に接続して、相互に接続した金属細線の合成抵抗値を測定することとしても構わない。また、１本の金属細線１２Ａについて電気抵抗値を測定することとしても、本発明の冷却システム１を機能させることは可能である。

また、本実施形態においては、測定装置２０が、四端子法により金属細線１２Ａの電気抵抗値を測定する構成であることとしたが、測定装置２０が二端子法により電気抵抗値を測定する構成であることとしてもよい。ただし、二端子法よりも四端子法の方が接触抵抗による測定値の測定誤差が少ないため、本実施形態のように四端子法を採用する測定装置２０の方が望ましい。

［プロジェクター］
図３は、本発明のプロジェクターの一実施形態を示す図である。
図３に示すプロジェクター１００は、光源（照明光学系）１１０、ダイクロイックミラー１１３、ダイクロイックミラー１１４、反射ミラー１１５、反射ミラー１１６、反射ミラー１１７、入射レンズ１１８、リレーレンズ１１９、射出レンズ１２０、光変調部１２２、光変調部１２３、光変調部１２４、クロスダイクロイックプリズム１２５、投射レンズ１２６、を有している。

光源１１０は、メタルハライド等のランプ１１１とランプの光を反射するリフレクター１１２とからなる。なお、光源１１０としては、メタルハライド以外にも超高圧水銀ランプ、フラッシュ水銀ランプ、高圧水銀ランプ、Ｄｅｅｐ ＵＶランプ、キセノンランプ、キセノンフラッシュランプ等を用いることも可能である。

ダイクロイックミラー１１３は、光源１１０からの白色光に含まれる赤色光を透過させるとともに、青色光と緑色光とを反射する。透過した赤色光は反射ミラー１１７で反射されて、赤色光用の光変調部１２２に入射される。また、ダイクロイックミラー１１３で反射された青色光と緑色光のうち、緑色光は、ダイクロイックミラー１１４によって反射され、緑色光用の光変調部１２３に入射される。青色光は、ダイクロイックミラー１１４を透過し、長い光路による光損失を防ぐために設けられた入射レンズ１１８、リレーレンズ１１９及び射出レンズ１２０を含むリレー光学系１２１を介して、青色光が光変調部１２４に入射される。

光変調部１２２は、液晶ライトバルブ１３０を挟んで両側に、入射側偏光素子１４０と射出側偏光素子部１５０と、が配置されている。入射側偏光素子１４０は、光源１１０から射出された光の光路上の、光源１１０と液晶ライトバルブ１３０との間に設けられている。また、射出側偏光素子部１５０は、液晶ライトバルブ１３０を通過した光の光路上の、液晶ライトバルブ１３０と投射レンズ１２６との間に設けられている。入射側偏光素子１４０と射出側偏光素子部１５０とは、互いの透過軸が直交して（クロスニコル配置）配置されている。光変調部１２３および光変調部１２４の構成も光変調部１２２の構成と同様であるため、説明は省略する。

入射側偏光素子１４０は反射型の偏光素子であり、透過軸と直交する振動方向の光を反射させる。入射側偏光素子１４０には、上述の冷却システムが有する偏光素子を用いる。詳しくは後述する。

一方、射出側偏光素子部１５０は、第１偏光素子（プリ偏光板と同義）１５２と、第２偏光素子１５４と、を有している。また、第２偏光素子１５４は、有機材料を形成材料とする偏光素子である。第１偏光素子１５２及び第２偏光素子１５４は、いずれも吸収型の偏光素子であり、第１偏光素子１５２と第２偏光素子１５４とが協働して光を吸収している。

光変調部１２２、光変調部１２３、光変調部１２４により変調された３つの色光は、クロスダイクロイックプリズム１２５に入射する。このクロスダイクロイックプリズム１２５は４つの直角プリズムを貼り合わせたものであり、その界面には赤光を反射する誘電体多層膜と青光を反射する誘電体多層膜とがＸ字状に形成されている。これらの誘電体多層膜により３つの色光が合成されて、カラー画像を表す光が形成される。合成された光は、投射光学系である投射レンズ１２６によってスクリーン（被投射面）１２７上に投写され、画像が拡大されて表示される。

図４は、プロジェクター１００に適用される冷却システム２を示す説明図であり、プロジェクター１００の液晶ライトバルブ１３０、入射側偏光素子１４０、射出側偏光素子部１５０を示している。なお、図４においては、図１と共通する構成要素については同じ符号を付しており、詳細な説明は省略する。

図３に示す光源１１０から射出された光Ｌは、入射側偏光素子１４０、液晶ライトバルブ１３０、射出側偏光素子部１５０を透過することで画像光Ｌａへと変換される。

ここで、上述したように、本実施形態のプロジェクター１００では、入射側偏光素子１４０が冷却システム２の偏光素子であり、冷却システム２の一部を構成している。そのため、光Ｌの光路上に配置されている金属細線１２Ａの温度（すなわち、入射側偏光素子１４０の温度）を測定装置２０で測定することができる。また、金属細線１２Ａの温度の測定値に応じて、冷却ファン３２の運転条件を適切に設定し、入射側偏光素子１４０を冷却することができる。

また、入射側偏光素子１４０の温度を測定することにより、近傍に配置されている液晶ライトバルブ１３０の温度、特に、液晶ライトバルブ１３０の光照射面の温度を精度よく推定することができる。そのため、冷却システム２では、液晶ライトバルブ１３０の光照射面の温度に応じて、液晶ライトバルブ１３０を冷却することもできる。また、冷却システム２が、液晶ライトバルブ１３０と入射側偏光素子１４０とを同時に冷却する構成としてもよい。

以上のような構成のプロジェクター１００は、入射側偏光素子部１４０に、上述した実施形態の偏光素子を用いることとしているため、入射側偏光素子１４０や液晶ライトバルブ１３０の適切な冷却が可能であり、劣化を抑制することができる。そのため、信頼性の高いプロジェクター１００とすることができる。

なお、本実施形態においては、入射側偏光素子１４０として冷却システム２の偏光素子を適用し、入射側偏光素子１４０が冷却システム２の一部を構成することとして説明したが、入射側偏光素子１４０の代わりに第１偏光素子１５２が冷却システム２の一部を構成することとしてもできる。

［第２実施形態］
第２実施形態に係る冷却システムについて説明する。なお、以下の説明では、第１実施形態に係る冷却システムと異なる点についてのみ説明し、同じ構成については説明を省略する。

本実施形態では、金属細線１２Ａの温度Ｔが予め定めた温度の閾値を超えた時に、冷却ファン３２の回転数をあげるように冷却ファン３２の運転を制御する。すなわち、このことは式１において、基準となる温度Ｔ_０を０℃に設定することに対応する。この場合も、第１実施形態に係る冷却システムと同様、温度の閾値を複数設定し、多段階に冷却ファン３２の制御を行うこととしても構わない。

図３に示したプロジェクター１００において、第２実施形態に係る冷却システムを適用することにより、信頼性の高いプロジェクターを実現することができる。

以上、添付図面を参照しながら本発明に係る好適な実施の形態例について説明したが、本発明は係る例に限定されないことは言うまでもない。上述した例において示した各構成部材の諸形状や組み合わせ等は一例であって、本発明の主旨から逸脱しない範囲において設計要求等に基づき種々変更可能である。

１，２…冷却システム、１０…偏光素子、１１…基板、１２…グリッド部、１２Ａ…金属細線、１２Ｃ…端子、２０…測定装置（測定手段）、２１…定電流供給部、２２…電圧検出部、２４…温度センサー、３０…冷却部（冷却手段）、３１…制御部（制御手段、冷却手段）、３２…冷却ファン（冷却装置、冷却手段）、１００…プロジェクター、１１０…光源（照明光学系）、１２６…投射レンズ（投射光学系）、１３０…液晶ライトバルブ、Ｌ…光、

Claims (10)

1. 基板と、前記基板上に平面視縞状に形成された複数の金属細線を含むグリッド部と、を有する偏光素子と、
   前記複数の金属細線のうち少なくとも一部の金属細線の電気抵抗値を測定する測定手段と、
   測定された前記電気抵抗値に基づく値に応じて運転制御される冷却手段と、を有し、
   前記冷却手段は、前記偏光素子を透過する光の光路上に配置された冷却対象物を冷却する冷却装置と、
   前記電気抵抗値に基づく値に応じて前記冷却装置の運転を制御する制御手段と、を含むことを特徴とする冷却システム。
2. 前記制御手段は、前記電気抵抗値を用いて算出された温度と予め定まる基準温度との差と、予め定めた閾値と、を比較し、比較結果に応じて前記冷却装置の運転を制御することを特徴とする請求項２に記載の冷却システム。
3. 前記制御手段は、複数の前記閾値を記憶していることを特徴とする請求項２に記載の冷却システム。
4. 前記複数の金属細線のうち、第１の金属細線と第２の金属細線とが相互に電気的に並列に接続され、
   前記測定手段は、相互に電気的に並列に接続された前記第１の金属細線と前記第２の金属細線の前記電気抵抗値を測定し、
   前記電気抵抗値は、前記第１の金属細線と前記第２の金属細線との合成電気抵抗値であることを特徴とする請求項１から３のいずれか１項に記載の冷却システム。
5. 前記複数の金属細線の全てが相互に電気的に並列に接続され、
   前記測定手段は、全ての前記金属細線の前記電気抵抗値を測定し、
   前記電気抵抗値は、全ての前記金属細線の合成電気抵抗値であることを特徴とする請求項４に記載の冷却システム。
6. 前記グリッド部は、前記測定手段が接続される端子を有することを特徴とする請求項１から５のいずれか１項に記載の冷却システム。
7. 前記測定手段は、前記グリッド部の一端側の第１の接続位置および他端側の第２の接続位置に接続され、前記金属細線に定電流を供給する定電流供給部と、
   前記グリッド部における前記第１の接続位置と前記第２の接続位置との間の電流経路に接続され、前記金属細線の電圧降下量を検出する電圧検出部と、を有し、
   前記定電流供給部と前記電圧検出部とを使用した四端子法により前記電気抵抗値を測定することを特徴とする請求項１から６のいずれか１項に記載の冷却システム。
8. 前記測定手段は、前記金属細線の温度を算出する際に基準となる基準温度を測定する温度センサーを有することを特徴とする請求項１から７のいずれか１項に記載の冷却システム。
9. 前記冷却対象物が、前記偏光素子であることを特徴とする請求項１から８のいずれか１項に記載の冷却システム。
10. 光を射出する照明光学系と、前記光を変調する液晶ライトバルブと、前記液晶ライトバルブで変調された光を被投射面に投射する投射光学系と、請求項１から９のいずれか１項に記載の冷却システムと、を備え、
    前記液晶ライトバルブと前記照明光学系との間、及び前記液晶ライトバルブと前記投射光学系との間のうち少なくとも一方に、前記冷却システムが有する偏光素子が設けられており、
    前記冷却システムの冷却対象物が、前記偏光素子と前記液晶ライトバルブとのうち少なくともいずれか一方であることを特徴とするプロジェクター。

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