JP2012163777A - 画像処理装置、撮像装置およびプログラム - Google Patents
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Abstract
【解決手段】 画像処理装置は、観察対象を撮像した画像を取得する取得部と、画像のうちで観察対象の領域を除いた背景領域での輝度分布を推定する推定部とを備える。推定部は、背景領域の残差に対して観察対象の残差よりも大きな重みを付与した状態で最小二乗法の演算を行って、背景領域での輝度分布を推定する。
【選択図】 図1
Description
図1は、一の実施形態での画像処理装置の構成例を示す図である。一の実施形態での画像処理装置は、シェーディング補正を行う画像処理プログラムがインストールされたパーソナルコンピュータである。
図8は、他の実施形態における撮像装置の構成例を示す図である。他の実施形態の撮像装置は、共焦点蛍光顕微鏡による結像を撮像する装置であって、シェーディング補正を行う画像処理装置が組み込まれている。
(補足事項1)上記実施形態では、観察対象が背景領域よりも明るく写る暗視野の画像を処理対象とする例を説明したが、本発明は上記実施形態に限定されるものではない。例えば、本発明は、観察対象が背景領域よりも暗く写る明視野の画像(例えば、液晶方式やプラズマ方式等のフラット表示デバイスに用いるガラス基板や、ウェハなどを観察対象とする工業用顕微鏡の画像など)を処理対象とする画像処理装置や撮像装置にも応用できる。なお、明視野の画像を撮像できる位相差顕微鏡や微分干渉顕微鏡の光学系はいずれも公知であるので、明視野の顕微鏡画像を撮像する撮像装置の説明は省略する。
Claims (6)
- 観察対象を撮像した画像を取得する取得部と、
前記画像のうちで前記観察対象の領域を除いた背景領域での輝度分布を推定する推定部と、を備え、
前記推定部は、前記背景領域の残差に対して前記観察対象の残差よりも大きな重みを付与した状態で最小二乗法の演算を行って、前記背景領域での輝度分布を推定する画像処理装置。 - 請求項1に記載の画像処理装置において、
前記推定部は、前記背景領域と前記観察対象とで残差の重みを等しくした状態で最小二乗法の演算を行って、前記背景領域の輝度分布を推定するときの演算モデルの初期パラメータを求める画像処理装置。 - 請求項1または請求項2に記載の画像処理装置において、
前記画像の分散値または微分値に基づいて、前記画像から非背景領域を抽出するフィルタ処理部をさらに備え、
前記推定部は、前記画像のうちで前記非背景領域を除いた範囲を対象として、前記背景領域での輝度分布を推定する画像処理装置。 - 請求項1から請求項3のいずれか1項に記載の画像処理装置において、
前記推定部によって推定された輝度分布を用いて、前記背景領域での輝度ムラを補正する補正部をさらに備える画像処理装置。 - 顕微鏡を介して観察対象を撮像する撮像部と、
請求項1から請求項4のいずれか1項に記載の画像処理装置と、
を備える撮像装置。 - 観察対象を撮像した画像を取得する取得処理と、
前記画像のうちで前記観察対象の領域を除いた背景領域での輝度分布を推定する推定処理とをコンピュータに実行させ、
前記推定処理では、前記背景領域の残差に対して前記観察対象の残差よりも大きな重みを付与した状態で最小二乗法の演算を行って、前記背景領域での輝度分布を推定するプログラム。
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Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN105765625A (zh) * | 2013-12-04 | 2016-07-13 | 皇家飞利浦有限公司 | 荧光图像处理装置和方法 |
US20160373670A1 (en) * | 2015-06-17 | 2016-12-22 | Olympus Corporation | Microscope system |
JP2019184401A (ja) * | 2018-04-09 | 2019-10-24 | 浜松ホトニクス株式会社 | 試料観察装置及び試料観察方法 |
WO2023007920A1 (ja) * | 2021-07-29 | 2023-02-02 | 株式会社島津製作所 | 画像処理方法および画像処理装置 |
WO2023008525A1 (ja) * | 2021-07-29 | 2023-02-02 | 株式会社島津製作所 | 細胞画像解析方法 |
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Cited By (12)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN105765625A (zh) * | 2013-12-04 | 2016-07-13 | 皇家飞利浦有限公司 | 荧光图像处理装置和方法 |
JP2016538542A (ja) * | 2013-12-04 | 2016-12-08 | コーニンクレッカ フィリップス エヌ ヴェKoninklijke Philips N.V. | 蛍光画像処理装置及び方法 |
US9672629B2 (en) | 2013-12-04 | 2017-06-06 | Koninklijke Philips N.V. | Fluorescence image processing apparatus and method |
CN105765625B (zh) * | 2013-12-04 | 2019-06-04 | 皇家飞利浦有限公司 | 荧光图像处理装置和方法 |
US20160373670A1 (en) * | 2015-06-17 | 2016-12-22 | Olympus Corporation | Microscope system |
JP2017009650A (ja) * | 2015-06-17 | 2017-01-12 | オリンパス株式会社 | 顕微鏡システム |
US10079985B2 (en) | 2015-06-17 | 2018-09-18 | Olympus Corporation | Microscope system |
JP2019184401A (ja) * | 2018-04-09 | 2019-10-24 | 浜松ホトニクス株式会社 | 試料観察装置及び試料観察方法 |
JP7298993B2 (ja) | 2018-04-09 | 2023-06-27 | 浜松ホトニクス株式会社 | 試料観察装置及び試料観察方法 |
US11709350B2 (en) | 2018-04-09 | 2023-07-25 | Hamamatsu Photonics K.K. | Sample observation device and sample observation method |
WO2023007920A1 (ja) * | 2021-07-29 | 2023-02-02 | 株式会社島津製作所 | 画像処理方法および画像処理装置 |
WO2023008525A1 (ja) * | 2021-07-29 | 2023-02-02 | 株式会社島津製作所 | 細胞画像解析方法 |
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