JP2012160729A - 照明系、リソグラフィ装置および方法 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】照明系は、放射を瞳面に導くよう構成された制御可能ミラーアレイと、放射サブビームを制御可能ミラーアレイに導くよう構成されたレンズアレイとを備える。レンズアレイの第1レンズおよび制御可能ミラーアレイの制御可能ミラーは第1屈折力を有する第1光チャネルを形成し、レンズアレイの第2レンズおよび制御可能ミラーアレイの制御可能ミラーは第2屈折力を有する第2光チャネルを形成し、第1光チャネルにより形成される放射サブビームが瞳面において第1の断面積および形状を有し、第2光チャネルにより形成される放射サブビームが瞳面において異なる第2の断面積および/または形状を有する。
【選択図】図6
Description
照明系の瞳面における空間分布として最も容易に視覚化され、特定される。一般的な照明モードは、環状モード、双極モード、四極モードを含む。
−放射ビームPB(例えば、DUV放射またはEUV放射)を調整する照明系IL。
−パターニングデバイス(例えば、マスク)MAを支持し、要素PLに対してパターニングデバイスを正確に位置決めするよう第1位置決め装置PMに接続される支持構造MT。
−基板(例えば、レジストコートされたウェハ)Wを保持するための基板テーブル(例えば、ウェハテーブル)WT。基板テーブルWTは、PLに対して基板を正確に位置決めするために第2位置決め装置PWに接続される。
−基板Wの目標部分C(例えば、一つまたは複数のダイからなる)に、パターニングデバイスMAによって放射ビームPBに与えられたパターンをイメージングするように構成された投影系(例えば、屈折投影レンズ)PL。
1.ステップモードでは、支持構造MTと、基板テーブルWTとが本質的に静止状態を保つ一方、ビームPBに与えられたパターン全体が目標部分C上に一度に投影される(つまり、単一の静的露光)。続いて、基板テーブルWTをXおよび/またはY方向に移動して、異なる目標部分Cを露光することができる。ステップモードでは、露光領域の最大サイズにより、単一の静的露光で像が与えられる目標部分Cのサイズが制限される。
2.走査モードでは、支持構造MTと基板テーブルWTとが同期して走査される一方、ビームPBに与えられたパターンが目標部分C上に投影される(すなわち、単一の動的露光)。支持構造MTに対する基板テーブルWTの速度および方向は、投影系PLの拡大(縮小)および像反転特性によって決定される。走査モードでは、露光領域の最大サイズが単一の動的露光における目標部分の(非走査方向における)幅を制限するのに対して、走査移動の長さが目標部分の(走査方向における)高さを決定する。
3.別のモードでは、支持構造MTは、プログラム可能なパターニングデバイスを基本的に静止状態で保持し続け、基板テーブルWTは移動または走査される一方、ビームPBに付与されたパターンが目標部分Cに投影される。このモードでは、通常、パルス放射源が採用され、プログラム可能なパターニングデバイスは、基板テーブルWTの各移動の後に、または走査中の連続放射パルスの間に必要に応じて更新される。この動作モードは、上述したようなプログラム可能なミラーアレイのタイプなどのプログラム可能なパターニングデバイスを利用するマスクレスリソグラフィに容易に適用可能である。
Claims (15)
- 放射を瞳面に導くよう構成された制御可能ミラーアレイと、放射サブビームを前記制御可能ミラーアレイに導くよう構成されたレンズアレイとを備える照明系であって、
前記レンズアレイの第1レンズおよび前記制御可能ミラーアレイの制御可能ミラーは第1屈折力を有する第1光チャネルを形成し、前記レンズアレイの第2レンズおよび前記制御可能ミラーアレイの制御可能ミラーは第2屈折力を有する第2光チャネルを形成し、前記第1光チャネルにより形成される放射サブビームが瞳面において第1の断面積および形状を有し、前記第2光チャネルにより形成される放射サブビームが瞳面において異なる第2の断面積および/または形状を有することを特徴とする照明系。 - 前記第1光チャネルは、前記第1屈折力を有する光チャネルのグループの1つであり、前記第2光チャネルは、前記第2屈折力を有する光チャネルのグループの1つであることを特徴とする請求項1に記載の照明系。
- レンズおよび制御可能ミラーの第3グループにより第3グループの光チャネルが形成され、前記第3グループの光チャネルは第3屈折力を付与されており、前記第3グループの光チャネルにより形成される放射サブビームが瞳面において異なる第3の断面積および/または形状を有することを特徴とする請求項2に記載の照明系。
- 同じ屈折力をレンズまたは制御可能ミラーの少なくとも1つのグループが互いに隣接して設けられていることを特徴とする請求項2または3に記載の照明系。
- 追加的なレンズアレイをさらに備え、追加的なレンズアレイは、当該照明系の光軸に沿って前記レンズアレイから離間していることを特徴とする請求項1から4のいずれかに記載の照明系。
- 前記追加的なレンズアレイのレンズアレイは、当該照明系の光軸に沿って移動可能であることを特徴とする請求項5に記載の照明系。
- レンズアレイまたは追加的なレンズアレイのサブセットが、当該照明系光軸に沿って移動可能であることを特徴とする請求項5または6に記載の照明系。
- 前記レンズアレイまたは追加的なレンズアレイの少なくともいくつかのレンズは、シリンドリカルレンズであることを特徴とする請求項1から7のいずれかに記載の照明系。
- 第1方向に屈折力を与える少なくともいくつかのシリンドリカルレンズが前記レンズアレイに設けられており、実質的に垂直な第2方向に屈折力を与える少なくともいくつかの関連するシリンドリカルレンズが前記追加的なレンズアレイに設けられていることを特徴とする請求項5または8に記載の照明系。
- 前記制御可能ミラーアレイは、複数の制御可能ミラーアレイの1つであることを特徴とする請求項1から9のいずれかに記載の照明系。
- 前記制御可能ミラーアレイの少なくとも1つは、少なくとも1つの他の制御可能ミラーアレイのミラーの屈折力と異なる屈折力を有するミラーを備えることを特徴とする請求項10に記載の照明系。
- 請求項1から11のいずれかに記載の照明系であって、放射ビームを提供するよう構成された照明系と、
パターニングデバイスを支持する支持構造であって、前記放射ビームの断面にパターンを付与するよう機能するパターニングデバイスと、
基板を保持する基板テーブルと、
パターン形成された放射ビームを前記基板の目標部分に投影する投影系と、
を備えることを特徴とするリソグラフィ装置。 - 照明モードを形成する方法であって、当該方法は、レンズアレイを用いて放射ビームを制御可能ミラーアレイのミラーに入射する放射サブビームに分離するステップと、前記制御可能ミラーアレイを用いて前記放射サブビームを瞳面に導くステップと、を備え、
第1レンズおよび制御可能ミラーは、第1屈折力を有する第1光チャネルを形成し、第2レンズおよび制御可能ミラーは第2屈折力を有する第2光チャネルを形成し、前記第1光チャネルにより形成される放射サブビームが瞳面において第1の断面積および形状を有し、前記第2光チャネルにより形成される放射サブビームが瞳面において異なる第2の断面積および/または形状を有することを特徴とする方法。 - 照明系が追加的なレンズアレイをさらに備え、前記レンズアレイと前記追加的なレンズアレイとの離間を変化させることにより放射サブビームの断面積を調整するステップをさらに備えることを特徴とする請求項13に記載の方法。
- 放射を瞳面に導く少なくとも2つの制御可能ミラーアレイと、放射サブビームを前記少なくとも2つの制御可能ミラーアレイに導くよう構成された少なくとも2つの関係するレンズアレイとを備える照明系であって、
第1のアレイのレンズおよび制御可能ミラーは、第1屈折力を有する光チャネルを形成し、第2のアレイのレンズおよび制御可能ミラーは、第2屈折力を有する光チャネルを形成し、レンズおよび制御可能ミラーの第1のアレイにより形成される放射サブビームが当該照明系の瞳面において第1の断面積および形状を有し、レンズおよび制御可能ミラーの第2のアレイにより形成される放射サブビームが当該照明系の瞳面において異なる第2の断面積および/または形状を有することを特徴とする照明系。
Applications Claiming Priority (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US201161438943P | 2011-02-02 | 2011-02-02 | |
US61/438,943 | 2011-02-02 | ||
US201161471773P | 2011-04-05 | 2011-04-05 | |
US61/471,773 | 2011-04-05 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2012160729A true JP2012160729A (ja) | 2012-08-23 |
JP5335108B2 JP5335108B2 (ja) | 2013-11-06 |
Family
ID=46577109
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2012013825A Expired - Fee Related JP5335108B2 (ja) | 2011-02-02 | 2012-01-26 | 照明系、リソグラフィ装置および方法 |
Country Status (7)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US9360762B2 (ja) |
JP (1) | JP5335108B2 (ja) |
KR (1) | KR101301120B1 (ja) |
CN (1) | CN102629079B (ja) |
NL (1) | NL2008009A (ja) |
SG (1) | SG182908A1 (ja) |
TW (1) | TWI448841B (ja) |
Families Citing this family (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
TWI701517B (zh) * | 2014-12-23 | 2020-08-11 | 德商卡爾蔡司Smt有限公司 | 光學構件 |
US9798126B2 (en) * | 2015-08-25 | 2017-10-24 | Rockwell Automation Technologies, Inc. | Modular illuminator for extremely wide field of view |
US9894273B2 (en) | 2015-08-25 | 2018-02-13 | Rockwell Automation Technologies, Inc. | Modular lens for extremely wide field of view |
US10451890B2 (en) | 2017-01-16 | 2019-10-22 | Cymer, Llc | Reducing speckle in an excimer light source |
TWI627440B (zh) * | 2017-05-17 | 2018-06-21 | 力晶科技股份有限公司 | 影像亮度重配模組及影像亮度重配方法 |
DE102017115262B9 (de) * | 2017-07-07 | 2021-05-27 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Verfahren zur Charakterisierung einer Maske für die Mikrolithographie |
DE102017217345B4 (de) * | 2017-09-28 | 2019-12-24 | Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. | Optischer Strahlformer |
US10436953B2 (en) | 2017-12-01 | 2019-10-08 | Rockwell Automation Technologies Inc. | Arched collimating lens forming a disk-like illumination |
US10609266B2 (en) | 2018-08-21 | 2020-03-31 | Rockwell Automation Technologies, Inc. | Camera for wide field of view with an arbitrary aspect ratio |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2005236088A (ja) * | 2004-02-20 | 2005-09-02 | Nikon Corp | 照明光学装置、露光装置、および露光方法 |
JP2010034553A (ja) * | 2008-07-25 | 2010-02-12 | Asml Netherlands Bv | 測定装置および方法 |
JP2010525589A (ja) * | 2007-04-25 | 2010-07-22 | カール・ツァイス・エスエムティー・アーゲー | マイクロリソグラフィ露光装置においてマスクを照明するための照明系 |
Family Cites Families (23)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5745153A (en) * | 1992-12-07 | 1998-04-28 | Eastman Kodak Company | Optical means for using diode laser arrays in laser multibeam printers and recorders |
DE10053587A1 (de) * | 2000-10-27 | 2002-05-02 | Zeiss Carl | Beleuchtungssystem mit variabler Einstellung der Ausleuchtung |
US6373633B1 (en) | 2000-07-06 | 2002-04-16 | Mems Optical, Llc | Shaping irradiance profiles using optical elements with positive and negative optical powers |
US6576912B2 (en) * | 2001-01-03 | 2003-06-10 | Hugo M. Visser | Lithographic projection apparatus equipped with extreme ultraviolet window serving simultaneously as vacuum window |
US7015491B2 (en) * | 2001-06-01 | 2006-03-21 | Asml Netherlands B.V. | Lithographic apparatus, device manufacturing method and device manufactured thereby, control system |
KR100576746B1 (ko) | 2001-06-01 | 2006-05-03 | 에이에스엠엘 네델란즈 비.브이. | 리소그래피장치, 디바이스제조방법, 그 디바이스,제어시스템, 컴퓨터프로그램, 및 컴퓨터프로그램물 |
JP2003280094A (ja) * | 2002-03-22 | 2003-10-02 | Ricoh Co Ltd | 照明装置 |
WO2003098856A2 (en) * | 2002-05-20 | 2003-11-27 | Metconnex Canada Inc. | Reconfigurable optical add-drop module, system and method |
DE602004031844D1 (de) * | 2003-07-30 | 2011-04-28 | Zeiss Carl Smt Gmbh | Beleuchtungssystem für die mikrolithographie |
EP1668421A2 (en) * | 2003-09-12 | 2006-06-14 | Carl Zeiss SMT AG | Illumination system for a microlithography projection exposure installation |
JP2008517264A (ja) | 2004-10-15 | 2008-05-22 | コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ | 温度インジケータ |
US20070127005A1 (en) * | 2005-12-02 | 2007-06-07 | Asml Holding N.V. | Illumination system |
US8937706B2 (en) | 2007-03-30 | 2015-01-20 | Asml Netherlands B.V. | Lithographic apparatus and method |
US7944624B2 (en) * | 2007-08-29 | 2011-05-17 | Scaggs Michael J | Method for homogenizing light |
KR101708943B1 (ko) * | 2007-11-06 | 2017-02-21 | 가부시키가이샤 니콘 | 제어 장치, 노광 방법 및 노광 장치 |
JP5315711B2 (ja) * | 2008-02-08 | 2013-10-16 | ソニー株式会社 | 照明装置及び画像投影装置 |
WO2009135586A1 (en) * | 2008-05-09 | 2009-11-12 | Carl Zeiss Smt Ag | Illumination system comprising a fourier optical system |
US8497977B2 (en) | 2009-03-12 | 2013-07-30 | Nikon Corporation | Optical integrator, illumination optical system, exposure apparatus, and device manufacturing method |
JP5390691B2 (ja) | 2009-03-19 | 2014-01-15 | カール・ツァイス・エスエムティー・ゲーエムベーハー | マイクロリソグラフィ投影露光装置の照明系 |
WO2011012148A1 (en) * | 2009-07-31 | 2011-02-03 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Optical beam deflecting element and method of adjustment |
EP2369413B1 (en) | 2010-03-22 | 2021-04-07 | ASML Netherlands BV | Illumination system and lithographic apparatus |
NL2006625A (en) | 2010-05-26 | 2011-11-29 | Asml Netherlands Bv | Illumination system and lithographic apparatus. |
DE102010042901B3 (de) | 2010-10-26 | 2012-04-05 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Polarisationsaktuator |
-
2011
- 2011-12-21 NL NL2008009A patent/NL2008009A/en not_active Application Discontinuation
-
2012
- 2012-01-04 TW TW101100372A patent/TWI448841B/zh not_active IP Right Cessation
- 2012-01-04 SG SG2012000329A patent/SG182908A1/en unknown
- 2012-01-26 JP JP2012013825A patent/JP5335108B2/ja not_active Expired - Fee Related
- 2012-01-27 KR KR1020120008208A patent/KR101301120B1/ko active IP Right Grant
- 2012-01-30 CN CN201210020846.2A patent/CN102629079B/zh not_active Expired - Fee Related
- 2012-01-30 US US13/361,397 patent/US9360762B2/en not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2005236088A (ja) * | 2004-02-20 | 2005-09-02 | Nikon Corp | 照明光学装置、露光装置、および露光方法 |
JP2010525589A (ja) * | 2007-04-25 | 2010-07-22 | カール・ツァイス・エスエムティー・アーゲー | マイクロリソグラフィ露光装置においてマスクを照明するための照明系 |
JP2010034553A (ja) * | 2008-07-25 | 2010-02-12 | Asml Netherlands Bv | 測定装置および方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP5335108B2 (ja) | 2013-11-06 |
US9360762B2 (en) | 2016-06-07 |
US20120194794A1 (en) | 2012-08-02 |
CN102629079A (zh) | 2012-08-08 |
TW201235797A (en) | 2012-09-01 |
SG182908A1 (en) | 2012-08-30 |
KR20120089572A (ko) | 2012-08-13 |
TWI448841B (zh) | 2014-08-11 |
KR101301120B1 (ko) | 2013-09-03 |
NL2008009A (en) | 2012-08-06 |
CN102629079B (zh) | 2014-12-17 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20130626 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20130702 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20130730 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 5335108 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
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|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
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R250 | Receipt of annual fees |
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|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |