JP2012153814A - Epoxy resin composition - Google Patents

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JP2012153814A JP2011014533A JP2011014533A JP2012153814A JP 2012153814 A JP2012153814 A JP 2012153814A JP 2011014533 A JP2011014533 A JP 2011014533A JP 2011014533 A JP2011014533 A JP 2011014533A JP 2012153814 A JP2012153814 A JP 2012153814A
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Hirotsugu Shirato
洋次 白土
Akihiko Tobisawa
晃彦 飛澤
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To improve dielectric characteristics, and to maintain the other characteristics at the same time.SOLUTION: An epoxy resin composition includes epoxy resin having two or more epoxy groups in one molecule, and tertiary amine compound. The ratio ((B)/(A)) of the number of moles (B) of the tertiary amine compound to the number of moles (A) of the epoxy group of the epoxy resin is 0.05 to 0.65.

Description

本発明は、エポキシ樹脂組成物に関する。   The present invention relates to an epoxy resin composition.

近年、ノート型パーソナルコンピュータや携帯電話等の情報処理機器は高速化が要求されており、CPUクロック周波数が高くなっている。そのため、信号伝搬速度の高速化が要求されており、誘電特性の高いプリント配線板が求められている。   In recent years, information processing devices such as notebook personal computers and mobile phones have been required to be faster, and the CPU clock frequency has been increased. Therefore, a high signal propagation speed is required, and a printed wiring board with high dielectric characteristics is required.

プリント配線板の絶縁材料としては、エポキシ樹脂組成物が用いられている。エポキシ樹脂組成物の硬化は、エポキシ樹脂と、第一級アミン、第二級アミン、多官能性カルボン酸、フェノール樹脂などの活性水素を有する硬化剤とを反応させて行われることが一般的である。しかしながら、こうした硬化反応においては、エポキシ基と活性水素との反応により高極性のアルコール性水酸基が発生するため、誘電特性が低下してしまう。また、耐熱性を付与するため架橋密度を上げると、硬化物中のアルコール性水酸基の濃度がさらに上昇してしまい、誘電特性がいっそう低下する。   An epoxy resin composition is used as an insulating material for the printed wiring board. Curing of the epoxy resin composition is generally performed by reacting an epoxy resin with a curing agent having active hydrogen such as a primary amine, secondary amine, polyfunctional carboxylic acid, or phenol resin. is there. However, in such a curing reaction, a highly polar alcoholic hydroxyl group is generated by a reaction between an epoxy group and active hydrogen, so that dielectric characteristics are deteriorated. Further, when the crosslink density is increased in order to impart heat resistance, the concentration of alcoholic hydroxyl groups in the cured product is further increased, and the dielectric properties are further decreased.

そこで、例えば、特許文献1では、β−メチル基置換型エポキシ基をもつエポキシ樹脂と硬化剤とを必須成分とし、得られる硬化物の周波数1GHzでの誘電率が3.0以下とすることで、成形性を損なわず、且つ耐熱性、耐湿性に優れ、低誘電率、低誘電正接等の電気特性が必要な回路基板や半導体装置用の樹脂成分として好適なエポキシ樹脂組成物を得ている。   Therefore, for example, in Patent Document 1, an epoxy resin having a β-methyl group-substituted epoxy group and a curing agent are essential components, and the dielectric constant of the obtained cured product at a frequency of 1 GHz is 3.0 or less. An epoxy resin composition suitable as a resin component for circuit boards and semiconductor devices that does not impair moldability, has excellent heat resistance and moisture resistance, and requires electrical characteristics such as low dielectric constant and low dielectric loss tangent has been obtained. .

また、特許文献2では、連鎖末端にアリールオキシカルボニル基を有する、芳香族多価カルボン酸と芳香族多価ヒドロキシ化合物との重縮合体をエポキシ樹脂の硬化剤として使用することで、架橋密度を高くし、高い耐熱性と低い誘電正接とを有する硬化剤として用いたエポキシ樹脂組成物の硬化物を得ている。   In Patent Document 2, a polycondensate of an aromatic polyvalent carboxylic acid and an aromatic polyvalent hydroxy compound having an aryloxycarbonyl group at the chain end is used as a curing agent for an epoxy resin, thereby reducing the crosslink density. A cured product of an epoxy resin composition used as a curing agent having a high heat resistance and a low dielectric loss tangent is obtained.

特開2005−307031号公報Japanese Patent Laying-Open No. 2005-307031 特開2008−291279号公報JP 2008-291279 A

しかしながら、情報処理機器の信号伝搬速度の更なる高速化の要求に応えるため、特許文献1よりもいっそう誘電特性を向上させたエポキシ樹脂組成物が求められる。   However, in order to meet the demand for further increasing the signal propagation speed of information processing equipment, there is a need for an epoxy resin composition having a further improved dielectric property compared to Patent Document 1.

また、特許文献2の技術では、誘電特性を向上させる一方で、他の特性については、従来のエポキシ樹脂組成物よりも低下してしまう。例えば、特許文献2の実施例では、硬化条件として、170℃、3MPaの条件で1時間加圧プレス、次いで、190℃、133Paの条件で真空乾燥器中10時間熱硬化させることが記載されており、硬化剤を用いた従来のエポキシ樹脂組成物と比較して、硬化に時間がかかるという点で問題がある。また、特許文献2の樹脂組成物により形成された配線板は、プロセス条件下(例えば、エッチング)で、硬化剤に含まれるエステル結合が加水分解するため、機械強度が低下したり、表面が平滑にならないといった問題もある。   Moreover, in the technique of patent document 2, while improving a dielectric characteristic, about other characteristics, it will fall rather than the conventional epoxy resin composition. For example, in the example of Patent Document 2, it is described that as a curing condition, pressure curing is performed for 1 hour under conditions of 170 ° C. and 3 MPa, and then heat curing is performed in a vacuum dryer for 10 hours under conditions of 190 ° C. and 133 Pa. In comparison with the conventional epoxy resin composition using a curing agent, there is a problem in that it takes time to cure. In addition, the wiring board formed from the resin composition of Patent Document 2 is hydrolyzed by ester bonds contained in the curing agent under process conditions (for example, etching), resulting in a decrease in mechanical strength or a smooth surface. There is also a problem of not becoming.

本発明は上記事情に鑑みてなされたものであり、誘電特性を向上させつつ、他の特性を維持できる、エポキシ樹脂組成物を提供することにある。   This invention is made | formed in view of the said situation, and it is providing the epoxy resin composition which can maintain another characteristic, improving a dielectric characteristic.

本発明によれば、一分子内に二個以上のエポキシ基を有するエポキシ樹脂と、三級アミン化合物とを含み、前記エポキシ樹脂に含まれるエポキシ基のモル数(A)に対する前記三級アミン化合物のモル数(B)の比((B)/(A))が0.05〜0.65である、エポキシ樹脂組成物が提供される。   According to the present invention, the tertiary amine compound with respect to the number of moles (A) of epoxy groups contained in the epoxy resin, including an epoxy resin having two or more epoxy groups in one molecule and a tertiary amine compound. An epoxy resin composition is provided in which the ratio (B) / (A)) of the number of moles (B) is 0.05 to 0.65.

また、本発明によれば、上記のエポキシ樹脂組成物からなる樹脂層と、繊維基材とを有する、プリプレグが提供される。   Moreover, according to this invention, the prepreg which has a resin layer which consists of said epoxy resin composition, and a fiber base material is provided.

また、本発明によれば、上記のプリプレグの片面又は両面に金属層を形成してなる、積層板が提供される。   Moreover, according to this invention, the laminated board formed by forming a metal layer in the one side or both surfaces of said prepreg is provided.

また、本発明によれば、上記のエポキシ樹脂組成物の硬化体が提供される。   Moreover, according to this invention, the hardening body of said epoxy resin composition is provided.

また、本発明によれば、上記の積層板の片面又は両面に回路形成面を有してなる、プリント配線板が提供される。   Moreover, according to this invention, the printed wiring board which has a circuit formation surface in the single side | surface or both surfaces of said laminated board is provided.

さらに、本発明によれば、上記のプリント配線板に実装された半導体素子を備える半導体装置が提供される。   Furthermore, according to this invention, a semiconductor device provided with the semiconductor element mounted in said printed wiring board is provided.

本発明によれば、一分子内に二個以上のエポキシ基を有するエポキシ樹脂に含まれるエポキシ基のモル数に対して三級アミン化合物を0.05〜0.65のモル比で含むため、三級アミン化合物を触媒として、エーテル結合を介してエポキシ樹脂同士を重合させることができる。そのため、水酸基の発生が抑えられ、誘電率を上昇させることなく誘電正接が向上することができる。また、こうした三級アミン化合物は、エポキシ基以外に対して触媒的に反応する以外は、他の成分に対して反応性が低く、硬化前後において、エッチング等の過酷なプロセス条件下に影響を受けにくい。したがって、誘電特性を向上させつつ、他の特性を維持できるエポキシ樹脂組成物が実現可能になる。   According to the present invention, the tertiary amine compound is included in a molar ratio of 0.05 to 0.65 with respect to the number of moles of the epoxy group contained in the epoxy resin having two or more epoxy groups in one molecule. Epoxy resins can be polymerized through an ether bond using a tertiary amine compound as a catalyst. Therefore, generation of hydroxyl groups is suppressed, and the dielectric loss tangent can be improved without increasing the dielectric constant. In addition, these tertiary amine compounds have low reactivity with respect to other components except that they react catalytically with respect to other than epoxy groups, and are affected by severe process conditions such as etching before and after curing. Hateful. Therefore, an epoxy resin composition capable of maintaining other characteristics while improving dielectric characteristics can be realized.

本発明によれば、誘電特性を向上させつつ、他の特性を維持できるエポキシ樹脂組成物が提供される。   ADVANTAGE OF THE INVENTION According to this invention, the epoxy resin composition which can maintain another characteristic is improved, improving a dielectric characteristic.

以下、本発明の実施の形態について、説明する。   Hereinafter, embodiments of the present invention will be described.

エポキシ樹脂としては、一分子内に二個以上のエポキシ基を有するエポキシ樹脂であれば特に限定されないが、例えば、ビスフェノールA型エポキシ樹脂、アルキル置換型ビスフェノールA型エポキシ樹脂、ハロゲン置換型ビスフェノールA型エポキシ樹脂、ビスフェノールF型エポキシ樹脂、アルキル置換型ビスフェノールF型エポキシ樹脂、ハロゲン置換型ビスフェノールF型エポキシ樹脂、ビスフェノールS型エポキシ樹脂、グリシジルアミン型エポキシ樹脂、フェノールノボラック型エポキシ樹脂、クレゾールノボラック型エポキシ樹脂、ビフェニル型エポキシ樹脂、ナフタレン型エポキシ樹脂、シクロペンタジエン型エポキシ樹脂が挙げられる。これらの中の1種類を単独で用いることもできるし、2種類以上を併用することもできる。   The epoxy resin is not particularly limited as long as it is an epoxy resin having two or more epoxy groups in one molecule. For example, bisphenol A type epoxy resin, alkyl substituted bisphenol A type epoxy resin, halogen substituted bisphenol A type Epoxy resin, bisphenol F type epoxy resin, alkyl substituted bisphenol F type epoxy resin, halogen substituted bisphenol F type epoxy resin, bisphenol S type epoxy resin, glycidylamine type epoxy resin, phenol novolac type epoxy resin, cresol novolak type epoxy resin , Biphenyl type epoxy resin, naphthalene type epoxy resin, and cyclopentadiene type epoxy resin. One of these can be used alone, or two or more can be used in combination.

エポキシ樹脂はエポキシ樹脂組成物中30重量%以上を含むことが好ましい。こうしたエポキシ樹脂組成物を用いて得られるプリプレグは、金属箔に積層させたとき、高いピール強度を発現することができる。また、エポキシ樹脂組成物中のエポキシ樹脂は、誘電正接を十分に低下させるという観点から、90重量%以下とすることが好ましい。   It is preferable that an epoxy resin contains 30 weight% or more in an epoxy resin composition. The prepreg obtained using such an epoxy resin composition can exhibit high peel strength when laminated on a metal foil. Moreover, it is preferable that the epoxy resin in an epoxy resin composition shall be 90 weight% or less from a viewpoint of fully reducing a dielectric loss tangent.

本発明で用いられる三級アミン化合物とは、3つの炭素原子と結合した窒素原子を分子内に少なくとも1つ有するアミン化合物であれば特に限定されないが、エポキシ樹脂組成物の硬化条件で揮発しないものが好ましい。三級アミン化合物としては、トリメチルアミン、トリエチルアミン、トリベンジルアミンなどの脂肪族三級アミン、トリフェニルアミン、トリp−トルイルアミンなどの芳香族三級アミン、イミダゾール、ピリジン、p−ジメチルアミノピリジン、N−メチルモルホリン、キノリン、イソキノリン、ピリミジン、ピペラジンなどの含窒素複素環式化合物、及び、これらの誘導体などが挙げられる。   The tertiary amine compound used in the present invention is not particularly limited as long as it is an amine compound having at least one nitrogen atom bonded to three carbon atoms in the molecule, but does not volatilize under the curing conditions of the epoxy resin composition. Is preferred. Tertiary amine compounds include aliphatic tertiary amines such as trimethylamine, triethylamine and tribenzylamine, aromatic tertiary amines such as triphenylamine and tri-p-toluylamine, imidazole, pyridine, p-dimethylaminopyridine, N -Nitrogen-containing heterocyclic compounds such as methylmorpholine, quinoline, isoquinoline, pyrimidine, piperazine, and derivatives thereof.

中でも含窒素複素環状式化合物が好ましく、イミダゾール又はその誘導体が特に好ましい。イミダゾールの誘導体としては、イミダゾール骨格を有するものであればよく、例えば、2−メチルイミダゾール、1,2−ジメチルイミダゾール、2−フェニルイミダゾール、2−ウンデシルイミダゾール、2−ヘプタデシルイミダゾール、1−イソブチル−2−メチルイミダゾール、2−フェニル−4−メチルイミダゾール、2−エチル−4−メチルイミダゾール、1−ベンジル−2−フェニルイミダゾール(1B2PZ)、1−ベンジル−2−メチルイミダゾール、1−シアノエチル−2−メチルイミダゾール、1−シアノエチル−2−フェニルイミダゾール、1−シアノエチル−2−ウンデシルイミダゾール、2,4−ジアミノ−6(2′−メチルイミダゾール(1′))エチル−s−トリアジン、2,4−ジアミノ−6(2′−ウンデシルイミダゾール(1′))エチル−s−トリアジン、2,4−ジアミノ−6(2′−エチル−4−メチルイミダゾール(1′))エチル−s−トリアジン、2−フェニル−3,5−ジヒドロキシメチルイミダゾール、2−フェニル−4−ヒドロキシメチル−5−メチルイミダゾール、1−シアノエチル−2−フェニル−3,5−ジシアノエトキシメチルイミダゾール、2,3−ジヒドロ−1H−ピロロ[1,2−a]ベンズイミダゾール(TBZ)、2,4−ジアミノ−6−〔2'−ウンデシルイミダゾリル−(1')〕−エチル−s−トリアジン)(C11Z−A)などのトリアジンダクトイミダゾ−ルが挙げられる。   Of these, nitrogen-containing heterocyclic compounds are preferable, and imidazole or a derivative thereof is particularly preferable. Any imidazole derivative may be used as long as it has an imidazole skeleton, such as 2-methylimidazole, 1,2-dimethylimidazole, 2-phenylimidazole, 2-undecylimidazole, 2-heptadecylimidazole, and 1-isobutyl. 2-methylimidazole, 2-phenyl-4-methylimidazole, 2-ethyl-4-methylimidazole, 1-benzyl-2-phenylimidazole (1B2PZ), 1-benzyl-2-methylimidazole, 1-cyanoethyl-2 -Methylimidazole, 1-cyanoethyl-2-phenylimidazole, 1-cyanoethyl-2-undecylimidazole, 2,4-diamino-6 (2'-methylimidazole (1 ')) ethyl-s-triazine, 2,4 -Diamino-6 (2'-U Decylimidazole (1 ')) ethyl-s-triazine, 2,4-diamino-6 (2'-ethyl-4-methylimidazole (1')) ethyl-s-triazine, 2-phenyl-3,5-dihydroxy Methylimidazole, 2-phenyl-4-hydroxymethyl-5-methylimidazole, 1-cyanoethyl-2-phenyl-3,5-dicyanoethoxymethylimidazole, 2,3-dihydro-1H-pyrrolo [1,2-a] And triazine duct imidazoles such as benzimidazole (TBZ) and 2,4-diamino-6- [2′-undecylimidazolyl- (1 ′)]-ethyl-s-triazine) (C11Z-A).

エポキシ樹脂のエポキシ基のモル数(A)に対する三級アミン化合物のモル数(B)の比((B)/(A))は、0.05〜0.65であるが、耐熱性(ガラス転移点)を向上させるという観点からは、0.1〜0.25であることが好ましい。   The ratio of the number of moles (B) of the tertiary amine compound to the number of moles (A) of the epoxy groups of the epoxy resin ((B) / (A)) is 0.05 to 0.65, but the heat resistance (glass From the viewpoint of improving the transition point, it is preferably 0.1 to 0.25.

また、三級アミン化合物の含有量は、エポキシ樹脂100重量部に対し、三級アミンを5〜50重量部であることが好ましいが、耐熱性(ガラス転移点)の観点からは、5〜20重量部とすることがより好ましい。三級アミン化合物の含量を下限値以上にすることで、良好な誘電特性を得ることができる。また、三級アミン化合物の含量を上限値以下にすることで、高いガラス転移温度を得ることができる。   Further, the content of the tertiary amine compound is preferably 5 to 50 parts by weight of the tertiary amine with respect to 100 parts by weight of the epoxy resin, but from the viewpoint of heat resistance (glass transition point), 5 to 20 is preferable. More preferred are parts by weight. By setting the content of the tertiary amine compound to the lower limit value or more, good dielectric properties can be obtained. Moreover, high glass transition temperature can be obtained by making the content of a tertiary amine compound below an upper limit.

本発明のエポキシ樹脂組成物は、エポキシ樹脂以外の熱硬化性樹脂を含んでいてもよい。エポキシ樹脂以外の熱硬化性樹脂としては、ユリア(尿素)樹脂、メラミン樹脂等のトリアジン環を有する樹脂、不飽和ポリエステル樹脂、ビスマレイミド樹脂、ポリウレタン樹脂、ジアリルフタレート樹脂、シリコーン樹脂、ベンゾオキサジン環を有する樹脂等が挙げられる。   The epoxy resin composition of the present invention may contain a thermosetting resin other than the epoxy resin. Examples of thermosetting resins other than epoxy resins include urea (urea) resins, melamine resins and other triazine ring resins, unsaturated polyester resins, bismaleimide resins, polyurethane resins, diallyl phthalate resins, silicone resins, and benzoxazine rings. And the like.

また、本発明のエポキシ樹脂組成物は、導体層との密着性を向上させるための樹脂成分を添加しても良い。例えば、フェノキシ樹脂、ポリアミド系樹脂、ポリビニルアルコール系樹脂等が挙げられる。   Moreover, you may add the resin component for improving the adhesiveness with a conductor layer to the epoxy resin composition of this invention. For example, phenoxy resin, polyamide resin, polyvinyl alcohol resin, and the like can be given.

本発明のエポキシ樹脂組成物は、タルク、アルミナ、ガラス、シリカ、マイカ、水酸化アルミニウム、水酸化マグネシウムなどの無機充填材を含んでいてもよいが、中でも低熱膨張性に優れる溶融シリカが好ましい。その形状は破砕状、球状があるが、樹脂組成物の溶融粘度を下げるためには球状シリカを使う、などその目的に合わせた使用方法が採用される。無機充填材は、エポキシ樹脂組成物に含まれる下限を50重量%以上にすると、熱膨張、吸水率が小さくなるので好ましい。また、エポキシ樹脂組成物に含まれる上限を90重量%以下にすると、含浸等の操作性を低下させる懸念がない。   The epoxy resin composition of the present invention may contain an inorganic filler such as talc, alumina, glass, silica, mica, aluminum hydroxide, magnesium hydroxide, etc. Among them, fused silica excellent in low thermal expansion is preferable. The shape is crushed and spherical, but in order to lower the melt viscosity of the resin composition, a usage method suitable for the purpose such as using spherical silica is adopted. It is preferable that the inorganic filler has a lower limit contained in the epoxy resin composition of 50% by weight or more because thermal expansion and water absorption are reduced. Further, when the upper limit contained in the epoxy resin composition is 90% by weight or less, there is no concern that the operability such as impregnation is lowered.

本発明のエポキシ樹脂組成物は、樹脂と充填材との界面のぬれ性を向上させるため、シランカップリング剤を用いることもできる。シランカップリング剤としては、エポキシシランカップリング剤、カチオニックシランカップリング剤、アミノシランカップリング剤、チタネート系カップリング剤、シリコーンオイル型カップリング剤等が挙げられ、これらを1種又は複数種用いてもよい。シランカップリング剤の顔料は、エポキシ樹脂組成物全体に対して、0.1〜5重量%が好ましい。0.1重量%以上とすることで、充填材の表面全体にカップリング剤を分散させることができる。また5重量%以下とすることで、ガラス転移温度の低下を防ぐことができる。   Since the epoxy resin composition of the present invention improves the wettability of the interface between the resin and the filler, a silane coupling agent can also be used. Examples of the silane coupling agent include an epoxy silane coupling agent, a cationic silane coupling agent, an aminosilane coupling agent, a titanate coupling agent, and a silicone oil type coupling agent, and one or more of these are used. May be. The pigment of the silane coupling agent is preferably 0.1 to 5% by weight with respect to the entire epoxy resin composition. By setting it as 0.1 weight% or more, a coupling agent can be disperse | distributed to the whole surface of a filler. Moreover, the fall of glass transition temperature can be prevented by setting it as 5 weight% or less.

本発明のエポキシ樹脂組成物は、その特性を損なわない範囲で、顔料、染料、消泡剤、レベリング剤、紫外線吸収剤、発泡剤、酸化防止剤、難燃剤、イオン捕捉剤等の上記成分以外の添加剤を添加することができる。   The epoxy resin composition of the present invention is within the range not impairing its properties, other than the above components such as pigments, dyes, antifoaming agents, leveling agents, ultraviolet absorbers, foaming agents, antioxidants, flame retardants, ion scavengers, etc. Additives can be added.

つづいて、プリプレグについて説明する。このプリプレグは、前述のエポキシ樹脂組成物からなる樹脂層と、繊維基材とを有するものである。これにより、誘電特性及び耐熱性に優れたプリント配線板を製造するのに好適なプリプレグを得ることができる。   Next, the prepreg will be described. This prepreg has a resin layer made of the above-described epoxy resin composition and a fiber base material. Thereby, the prepreg suitable for manufacturing the printed wiring board excellent in the dielectric property and heat resistance can be obtained.

繊維基材としては、特に限定されないが、ガラス織布、ガラス不織布等のガラス繊維基材、ポリアミド樹脂繊維、芳香族ポリアミド樹脂繊維、全芳香族ポリアミド樹脂繊維等のポリアミド系樹脂繊維、ポリエステル樹脂繊維、芳香族ポリエステル樹脂繊維、全芳香族ポリエステル樹脂繊維等のポリエステル系樹脂繊維、ポリイミド樹脂繊維、フッ素樹脂繊維等を主成分とする織布または不織布で構成される合成繊維基材、クラフト紙、コットンリンター紙、リンターとクラフトパルプとの混抄紙等を主成分とする紙基材等の有機繊維基材等が挙げられる。これらの中でもガラス繊維基材が好ましい。これにより、プリプレグの強度が向上し、吸水率を下げることができ、また、熱膨張係数を小さくすることができる。   Although it does not specifically limit as a fiber base material, Glass fiber base materials, such as a glass woven fabric and a glass nonwoven fabric, Polyamide-type resin fibers, such as a polyamide resin fiber, an aromatic polyamide resin fiber, and a wholly aromatic polyamide resin fiber, A polyester resin fiber Synthetic fiber base materials composed of woven or non-woven fabrics mainly composed of polyester resin fibers such as aromatic polyester resin fibers and wholly aromatic polyester resin fibers, polyimide resin fibers and fluororesin fibers, kraft paper, cotton Examples thereof include organic fiber base materials such as linter paper and paper base materials mainly composed of linter paper and kraft pulp mixed paper. Among these, a glass fiber base material is preferable. Thereby, the intensity | strength of a prepreg can improve, a water absorption can be lowered | hung, and a thermal expansion coefficient can be made small.

ガラス繊維基材を構成するガラスは、特に限定されないが、例えばEガラス、Cガラス、Aガラス、Sガラス、Dガラス、NEガラス、Tガラス、Hガラス等が挙げられる。これらの中でもEガラス、Tガラス、または、Sガラスが好ましい。これにより、ガラス繊維基材の高弾性化を達成することができ、熱膨張係数も小さくすることができる。   Although the glass which comprises a glass fiber base material is not specifically limited, For example, E glass, C glass, A glass, S glass, D glass, NE glass, T glass, H glass etc. are mentioned. Among these, E glass, T glass, or S glass is preferable. Thereby, the high elasticity of a glass fiber base material can be achieved and a thermal expansion coefficient can also be made small.

プリプレグを製造する方法は、特に限定されないが、例えば、前述したエポキシ樹脂組成物を用いて樹脂ワニスを調製し、繊維基材を樹脂ワニスに浸漬する方法、各種コーターにより塗布する方法、スプレーにより吹き付ける方法等が挙げられる。これらの中でも、繊維基材を樹脂ワニスに浸漬する方法が好ましい。これにより、繊維基材に対する樹脂組成物の含浸性を向上することができる。なお、繊維基材を樹脂ワニスに浸漬する場合、通常の含浸塗布設備を使用することができる。   Although the method for producing the prepreg is not particularly limited, for example, a resin varnish is prepared using the above-described epoxy resin composition, a method of immersing a fiber substrate in the resin varnish, a method of applying with various coaters, and spraying by spraying Methods and the like. Among these, the method of immersing the fiber base material in the resin varnish is preferable. Thereby, the impregnation property of the resin composition with respect to the fiber base material can be improved. In addition, when a fiber base material is immersed in a resin varnish, a normal impregnation coating equipment can be used.

樹脂ワニスに用いられる溶媒は、エポキシ樹脂組成物中の樹脂成分に対して良好な溶解性を示すことが望ましいが、悪影響を及ぼさない範囲で貧溶媒を使用しても構わない。良好な溶解性を示す溶媒は、例えばアセトン、メチルエチルケトン、メチルイソブチルケトン(MIBK)、シクロヘキサノン、シクロペンタノン、テトラヒドロフラン、ジメチルホルムアミド、ジメチルアセトアミド、ジメチルスルホキシド、エチレングリコール、セルソルブ系、カルビトール系等が挙げられる。   The solvent used for the resin varnish desirably has good solubility in the resin component in the epoxy resin composition, but a poor solvent may be used as long as it does not adversely affect the resin varnish. Examples of the solvent exhibiting good solubility include acetone, methyl ethyl ketone, methyl isobutyl ketone (MIBK), cyclohexanone, cyclopentanone, tetrahydrofuran, dimethylformamide, dimethylacetamide, dimethyl sulfoxide, ethylene glycol, cellosolve, and carbitol. It is done.

樹脂ワニスの固形分は、特に限定されないが、エポキシ樹脂組成物の固形分50〜80重量%が好ましく、特に60〜78重量%が好ましい。これにより、樹脂ワニスの基材への含浸性を更に向上できる。繊維基材にエポキシ樹脂組成物を含浸させた後、所定温度に加熱して乾燥させてプリプレグを得ることができる。乾燥温度は、特に限定されないが、例えば90〜220℃とすることができる。   The solid content of the resin varnish is not particularly limited, but the solid content of the epoxy resin composition is preferably 50 to 80% by weight, and particularly preferably 60 to 78% by weight. Thereby, the impregnation property to the base material of a resin varnish can further be improved. After impregnating the fiber base material with the epoxy resin composition, it can be heated to a predetermined temperature and dried to obtain a prepreg. Although a drying temperature is not specifically limited, For example, it can be 90-220 degreeC.

前述のプリプレグの片面又は両面に金属層を形成して積層板を作製してもよい。この積層板は、具体的には、前述したプリプレグを少なくとも1枚又は複数枚積層したものの上下両面に金属箔を重ね、加熱及び加圧することで、作製することができる。加熱する温度は、特に限定されないが、120〜230℃が好ましく、特に150〜210℃が好ましい。また、加圧する圧力は、特に限定されないが、1〜5MPaが好ましく、特に2〜4MPaが好ましい。これにより、誘電特性、高温多湿化での機械的、電気的接続信頼性に優れた積層板を得ることができる。   A laminate may be produced by forming a metal layer on one or both sides of the prepreg. Specifically, this laminated plate can be produced by stacking at least one or a plurality of the above-described prepregs on top and bottom surfaces of metal foil, and heating and pressing. Although the temperature to heat is not specifically limited, 120-230 degreeC is preferable and especially 150-210 degreeC is preferable. Moreover, the pressure to pressurize is not particularly limited, but is preferably 1 to 5 MPa, and particularly preferably 2 to 4 MPa. Thereby, the laminated board excellent in the dielectric property and the mechanical and electrical connection reliability in high temperature and high humidity can be obtained.

金属箔は、特に限定されないが、例えば銅及び銅系合金、アルミ及びアルミ系合金、銀及び銀系合金、金及び金系合金、亜鉛及び亜鉛系合金、ニッケル及びニッケル系合金、錫及び錫系合金、鉄および鉄系合金等の金属箔が挙げられる。   The metal foil is not particularly limited, but, for example, copper and copper alloys, aluminum and aluminum alloys, silver and silver alloys, gold and gold alloys, zinc and zinc alloys, nickel and nickel alloys, tin and tin alloys Metal foils, such as an alloy, iron, and an iron-type alloy, are mentioned.

金属箔の厚さは、特に限定されないが、0.1μm以上70μm以下であることが好ましい。金属箔の厚さを0.1μm以上とすることで、金属箔の傷つき、ピンホールの発生が抑制される。また、金属箔をエッチングし導体回路として用いた場合には、回路パターン成形時のメッキバラツキ、回路断線、エッチング液やデスミア液等の薬液の染み込みなどが発生する懸念がなくなる。また、上限を70μm以下とすることで、金属箔の厚みや金属箔粗化面の表面粗さのバラツキを最小限にすることができる。   Although the thickness of metal foil is not specifically limited, It is preferable that they are 0.1 micrometer or more and 70 micrometers or less. By setting the thickness of the metal foil to 0.1 μm or more, the metal foil is damaged and the generation of pinholes is suppressed. In addition, when the metal foil is etched and used as a conductor circuit, there is no fear of plating variations during circuit pattern formation, circuit disconnection, or infiltration of a chemical solution such as an etching solution or a desmear solution. Further, by setting the upper limit to 70 μm or less, variations in the thickness of the metal foil and the surface roughness of the metal foil roughened surface can be minimized.

また、本発明のエポキシ樹脂組成物からなる樹脂層をキャリアフィルム又は金属箔上に形成して、接着シートを作製してもよい。この場合、まず、本発明のエポキシ樹脂組成物を、アセトン、メチルエチルケトン、メチルイソブチルケトン、トルエン、酢酸エチル、シクロヘキサン、ヘプタン、シクロヘキサンシクロヘキサノン、テトラヒドロフラン、ジメチルホルムアミド、ジメチルアセトアミド、ジメチルスルホキシド、エチレングリコール、セルソルブ系、カルビトール系、アニソール等の有機溶剤中で、超音波分散方式、高圧衝突式分散方式、高速回転分散方式、ビーズミル方式、高速せん断分散方式、および自転公転式分散方式などの各種混合機を用いて溶解、混合、撹拌して樹脂ワニスを作製する。   Moreover, you may produce the adhesive sheet by forming the resin layer which consists of an epoxy resin composition of this invention on a carrier film or metal foil. In this case, first, the epoxy resin composition of the present invention is acetone, methyl ethyl ketone, methyl isobutyl ketone, toluene, ethyl acetate, cyclohexane, heptane, cyclohexane cyclohexanone, tetrahydrofuran, dimethylformamide, dimethylacetamide, dimethyl sulfoxide, ethylene glycol, cellosolve type. In various organic solvents such as carbitol and anisole, various mixing machines such as ultrasonic dispersion method, high-pressure collision dispersion method, high-speed rotation dispersion method, bead mill method, high-speed shear dispersion method, and rotation and revolution dispersion method are used. Dissolve, mix and stir to make a resin varnish.

樹脂ワニス中のエポキシ樹脂組成物の含有量は、特に限定されないが、45〜85重量%が好ましく、特に55〜75重量%が好ましい。   Although content of the epoxy resin composition in a resin varnish is not specifically limited, 45 to 85 weight% is preferable and 55 to 75 weight% is especially preferable.

次に樹脂ワニスを、各種塗工装置を用いて、キャリアフィルム又は金属箔上に塗工した後、これを乾燥する。または、樹脂ワニスをスプレー装置によりキャリアフィルムまたは金属箔に噴霧塗工した後、これを乾燥する。これらの方法により、接着シートを作製することができる。   Next, the resin varnish is coated on a carrier film or a metal foil using various coating apparatuses, and then dried. Or after spray-coating a resin varnish on a carrier film or metal foil with a spray apparatus, this is dried. By these methods, an adhesive sheet can be produced.

塗工装置は、特に限定されないが、例えば、ロールコーター、バーコーター、ナイフコーター、グラビアコーター、ダイコーター、コンマコーターおよびカーテンコーターなどを用いることができる。これらの中でも、ダイコーター、ナイフコーター、およびコンマコーターを用いる方法が好ましい。これにより、ボイドがなく、均一な樹脂層の厚みを有する接着シートを効率よく製造することができる。   Although a coating apparatus is not specifically limited, For example, a roll coater, a bar coater, a knife coater, a gravure coater, a die coater, a comma coater, a curtain coater, etc. can be used. Among these, a method using a die coater, a knife coater, and a comma coater is preferable. Thereby, the adhesive sheet which does not have a void and has the thickness of the uniform resin layer can be manufactured efficiently.

キャリアフィルムは、キャリアフィルムに樹脂層を形成するため、取扱いが容易であるものを選択することが好ましい。また、キャリアフィルムは、回路形成面を有する積層板の回路形成面に接着シートの樹脂層を積層後に剥離することから、積層板に積層後、剥離が容易であるものであることが好ましい。例えば、ポリエチレンテレフタレート、ポリブチレンテレフタレートなどのポリエステル樹脂、フッ素系樹脂、ポリイミド樹脂などの耐熱性を有した熱可塑性樹脂フィルムなどを用いることが好ましい。中でも、剥離が容易であるという観点から、ポリエステルで構成されるフィルムが特に好ましい。   Since the carrier film forms a resin layer on the carrier film, it is preferable to select a carrier film that is easy to handle. Further, since the carrier film is peeled off after laminating the resin layer of the adhesive sheet on the circuit forming surface of the laminated plate having the circuit forming surface, it is preferable that the carrier film be easily peeled off after being laminated on the laminated plate. For example, it is preferable to use a polyester resin such as polyethylene terephthalate or polybutylene terephthalate, a thermoplastic resin film having heat resistance such as a fluorine resin, or a polyimide resin. Among these, a film made of polyester is particularly preferable from the viewpoint of easy peeling.

キャリアフィルムの厚さは、特に限定されないが、1〜100μmが好ましく、特に3〜50μmが好ましい。こうすることで、取扱いが容易で、かつ、樹脂層の表面の平坦性に優れる接着シートとすることができる。   Although the thickness of a carrier film is not specifically limited, 1-100 micrometers is preferable and 3-50 micrometers is especially preferable. By carrying out like this, it can be set as the adhesive sheet which is easy to handle and excellent in the flatness of the surface of a resin layer.

積層板の回路形成面に接着シートを積層した後、金属箔は、剥離しても良いし、エッチングして導体回路を形成しても良い。金属箔は、前述した積層板で使用可能なものと同じものを用いることができるが、金属箔の厚みは、さらには、1μm以上35μm以下が好ましく、1.5μm以上18μm以下がより好ましい。   After laminating the adhesive sheet on the circuit forming surface of the laminate, the metal foil may be peeled off or etched to form a conductor circuit. The same metal foil that can be used for the above-described laminated plate can be used as the metal foil, but the thickness of the metal foil is further preferably 1 μm or more and 35 μm or less, and more preferably 1.5 μm or more and 18 μm or less.

また、金属箔は、キャリア箔付き極薄金属箔を用いることもできる。キャリア箔付き極薄金属箔とは、剥離可能なキャリア箔と極薄金属箔とを張り合わせた金属箔である。キャリア箔付き極薄金属箔を用いることで樹脂層の両面に極薄金属箔層を形成できる。したがって、例えば、セミアディティブ法などで回路を形成する場合、無電解メッキを行うことなく、極薄金属箔を直接給電層として電解メッキすることで、回路を形成後、極薄銅箔をフラッシュエッチングすることができる。キャリア箔付き極薄金属箔を用いることによって、厚さ10μm以下の極薄金属箔でも、例えばプレス工程での極薄金属箔のハンドリング性の低下や、極薄銅箔の割れや切れを防ぐことができる。   The metal foil can also be an ultrathin metal foil with a carrier foil. The ultrathin metal foil with a carrier foil is a metal foil obtained by laminating a peelable carrier foil and an ultrathin metal foil. An ultrathin metal foil layer can be formed on both surfaces of the resin layer by using an ultrathin metal foil with a carrier foil. Therefore, for example, when forming a circuit by the semi-additive method, etc., without performing electroless plating, electrolytic plating is performed by using an ultrathin metal foil as a direct feed layer, and after the circuit is formed, the ultrathin copper foil is flash etched. can do. By using an ultra-thin metal foil with a carrier foil, even with an ultra-thin metal foil having a thickness of 10 μm or less, for example, a reduction in handling properties of the ultra-thin metal foil in a pressing process, and cracking or cutting of the ultra-thin copper foil are prevented. Can do.

極薄金属箔の厚さは、0.1μm以上10μm以下が好ましい。薄金属箔の厚みの下限を0.1μm以上とすることで、キャリア箔を剥離後の極薄金属箔の傷つき、極薄金属箔のピンホールの発生が抑制される。また、ピンホールの発生による回路パターン成形時において、メッキバラツキ、回路配線の断線、エッチング液やデスミア液等の薬液の染み込みなどが発生する懸念がなくなる。また、上限を10μm以下とすることで、極薄金属箔の厚みや粗化面の表面粗さのバラツキを小さくすることができる。さらには、0.5μm以上5μm以下が好ましく、1μm以上3μm以下がより好ましい。通常、キャリア箔付き極薄金属箔は、プレス成形後の積層板に回路パターン形成する前にキャリア箔を剥離する。   The thickness of the ultrathin metal foil is preferably 0.1 μm or more and 10 μm or less. By setting the lower limit of the thickness of the thin metal foil to 0.1 μm or more, damage to the ultrathin metal foil after peeling the carrier foil and generation of pinholes in the ultrathin metal foil are suppressed. In addition, there is no risk of plating variations, circuit wiring disconnection, or infiltration of chemicals such as an etching solution or a desmear solution during circuit pattern formation due to pinholes. Further, by setting the upper limit to 10 μm or less, variations in the thickness of the ultrathin metal foil and the surface roughness of the roughened surface can be reduced. Furthermore, 0.5 to 5 μm is preferable, and 1 to 3 μm is more preferable. Usually, an ultrathin metal foil with a carrier foil peels off the carrier foil before forming a circuit pattern on the press-molded laminate.

次に、プリント配線板について説明する。このプリント配線板は、前述した積層板の片面又は両面に回路形成面を有してなるものである。   Next, the printed wiring board will be described. This printed wiring board has a circuit forming surface on one side or both sides of the above-mentioned laminated board.

具体的には、両面に銅箔を有する積層板を用意し、ドリル等によりスルーホールを形成し、メッキにより前記スルーホールを充填した後、積層板の両面に、エッチング等により所定の導体回路(内層回路)を形成し、導体回路を黒化処理等の粗化処理して回路形成面を作製する。   Specifically, a laminated board having copper foil on both sides is prepared, a through hole is formed by a drill or the like, and after filling the through hole by plating, a predetermined conductor circuit ( Inner layer circuit) is formed, and the conductor circuit is roughened such as blackening to produce a circuit formation surface.

次に積層板の回路形成面に、前述した接着シート又は前述したプリプレグを形成し、真空加圧式ラミネーターなどを用いて加熱加圧成形する。加熱加圧成形する条件としては特に限定されないが、一例を挙げると、温度60〜160℃、圧力0.2〜3MPaで実施することができる。   Next, the above-mentioned adhesive sheet or the above-mentioned prepreg is formed on the circuit forming surface of the laminated board, and is heated and pressed using a vacuum pressure laminator or the like. Although it does not specifically limit as conditions to heat-press-mold, If an example is given, it can implement at the temperature of 60-160 degreeC, and the pressure of 0.2-3 MPa.

その後、平板プレス装置などを用いて加熱加圧成形してもよい。加熱加圧成形する条件としては、特に限定されないが、一例を挙げると、温度140〜240℃、圧力1〜4MPaで実施することができる。   Then, you may heat-press-mold using a flat plate press apparatus etc. Although it does not specifically limit as conditions to heat-press-mold, If an example is given, it can implement at the temperature of 140-240 degreeC, and the pressure of 1-4 MPa.

次に、本発明のエポキシ樹脂組成物を硬化して、積層板の回路形成面に積層するビルドアップ層を形成する。硬化条件としては特に限定されないが、一例を挙げると、温度100℃〜250℃、30〜180分間で実施することができる。加圧してもよいが、大気圧下で硬化させることが好ましい。   Next, the epoxy resin composition of the present invention is cured to form a build-up layer that is laminated on the circuit forming surface of the laminate. Although it does not specifically limit as hardening conditions, If an example is given, it can implement at the temperature of 100 to 250 degreeC, and 30 to 180 minutes. Although it may be pressurized, it is preferably cured under atmospheric pressure.

その後、ビルドアップ層の表面を過マンガン酸塩、重クロム酸塩等の酸化剤などにより粗化処理し、金属メッキにより新たな導電配線回路を形成することができる。また、これをコア材として、さらに、ビルドアップ層を形成させてもよい。   Thereafter, the surface of the build-up layer can be roughened with an oxidizing agent such as permanganate or dichromate, and a new conductive wiring circuit can be formed by metal plating. Further, this may be used as a core material to further form a buildup layer.

次に、ビルドアップ層に、炭酸レーザー装置を用いて開口部を設け、電解銅めっきによりビルドアップ層表面に外層回路形成を行い、外層回路と内層回路との導通を図る。なお、外層回路には、半導体素子を実装するための接続用電極部を設ける。その後、最外層にソルダーレジストを形成し、露光・現像により半導体素子が実装できるよう接続用電極部を露出させ、ニッケル金メッキ処理を施し、所定の大きさに切断して、プリント配線板を得る。   Next, an opening is provided in the build-up layer using a carbonic acid laser device, and an outer layer circuit is formed on the surface of the build-up layer by electrolytic copper plating to achieve conduction between the outer layer circuit and the inner layer circuit. The outer layer circuit is provided with a connection electrode portion for mounting a semiconductor element. Thereafter, a solder resist is formed on the outermost layer, the connection electrode portion is exposed so that a semiconductor element can be mounted by exposure and development, nickel gold plating is performed, and the printed wiring board is cut to a predetermined size.

つづいて、半導体装置について説明する。半導体装置は、上述した方法にて製造されたプリント配線板に半導体素子を実装し、製造することができる。半導体素子の実装方法、封止方法は特に限定されない。例えば、半導体素子とプリント配線板とを用い、フリップチップボンダーなどを用いてプリント配線板上の接続用電極部と半導体素子の半田バンプの位置合わせを行う。その後、IRリフロー装置、熱板、その他加熱装置を用いて半田バンプを融点以上に加熱し、プリント配線板と半田バンプとを溶融接合することにより接続する。そして、プリント配線板と半導体素子との間に液状封止樹脂を充填し、硬化させることで半導体装置を得ることができる。   Next, the semiconductor device will be described. A semiconductor device can be manufactured by mounting a semiconductor element on a printed wiring board manufactured by the method described above. The mounting method and the sealing method of the semiconductor element are not particularly limited. For example, a semiconductor element and a printed wiring board are used, and a flip-chip bonder or the like is used to align the connection electrode portions on the printed wiring board and the solder bumps of the semiconductor element. Thereafter, the solder bump is heated to the melting point or higher by using an IR reflow device, a hot plate, or other heating device, and the printed wiring board and the solder bump are connected by fusion bonding. And a semiconductor device can be obtained by filling and hardening a liquid sealing resin between a printed wiring board and a semiconductor element.

つづいて、本発明のエポキシ樹脂組成物の効果について具体的に説明する。
本発明によれば、一分子内に二個以上のエポキシ基を有するエポキシ樹脂のエポキシ基のモル数に対して三級アミン化合物を0.05〜0.65のモル比で含むため、三級アミン化合物を触媒として、エーテル結合を介してエポキシ樹脂同士を重合させることができる。本発明の重合メカニズムの予測をしたものを式(1)に示す。
It continues and demonstrates the effect of the epoxy resin composition of this invention concretely.
According to the present invention, the tertiary amine compound is contained in a molar ratio of 0.05 to 0.65 with respect to the number of moles of epoxy groups of the epoxy resin having two or more epoxy groups in one molecule. Epoxy resins can be polymerized via an ether bond using an amine compound as a catalyst. A prediction of the polymerization mechanism of the present invention is shown in Formula (1).

Figure 2012153814
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従来、エポキシ樹脂と、一級アミンや二級アミンといった硬化剤とを反応させる方法では、下記式(2)で示すように反応が起こっていた。そのため、水酸基が発生し、誘電特性を低下させていた。   Conventionally, in a method of reacting an epoxy resin with a curing agent such as a primary amine or a secondary amine, a reaction has occurred as shown by the following formula (2). For this reason, hydroxyl groups are generated and the dielectric properties are degraded.

Figure 2012153814
Figure 2012153814

一方、本発明の場合は、式(1)で示すように、三級アミンの作用により、エポキシ基が開環して生じるアニオンがエポキシ基と反応して、エーテル結合が形成し、エポキシ樹脂同士の自己重合が発生する。そのため、アルコール性水酸基の生成が抑えられ、誘電率を上昇させることなく誘電正接が向上するとともに架橋密度も向上させることができる。   On the other hand, in the case of the present invention, as shown by the formula (1), an anion generated by the ring opening of the epoxy group reacts with the epoxy group by the action of the tertiary amine, and an ether bond is formed. Self-polymerization occurs. Therefore, the generation of alcoholic hydroxyl groups can be suppressed, the dielectric loss tangent can be improved and the crosslinking density can be improved without increasing the dielectric constant.

また、本発明のエポキシ樹脂組成物は、硬化剤を用いた従来のエポキシ樹脂組成物の特性を良好に維持している。例えば、本発明のエポキシ樹脂組成物から形成される、積層板やプリント配線板の絶縁層は、140℃下のゲルタイムが10分以内であり、低温においても十分な硬化速度を有している。また、ガラス転移温度は100〜200℃、吸水率は、0.1〜0.2%、熱膨張係数は、厚み方向で10〜30K−1とすることができる。また、本発明のエポキシ樹脂組成物から形成される積層板やプリント配線板のピール強度は、硬化剤を用いた従来のエポキシ樹脂組成物と比べて良好であり、0.5〜1.5kN/mとすることができる。したがって、本発明では、硬化剤を用いた従来のエポキシ樹脂組成物の特性を維持しつつ、さらに誘電特性を向上させた、エポキシ樹脂組成物が実現可能になる。なお、本発明のエポキシ樹脂組成物の評価は、JIS−C−6481(プリント配線板用銅張積層板試験方法)に準拠して行うことができる。 Moreover, the epoxy resin composition of this invention is maintaining the characteristic of the conventional epoxy resin composition using the hardening | curing agent favorably. For example, an insulating layer of a laminated board or a printed wiring board formed from the epoxy resin composition of the present invention has a gel time at 140 ° C. within 10 minutes and has a sufficient curing rate even at a low temperature. The glass transition temperature can be 100 to 200 ° C., the water absorption can be 0.1 to 0.2%, and the thermal expansion coefficient can be 10 to 30 K −1 in the thickness direction. Moreover, the peel strength of the laminated board and printed wiring board formed from the epoxy resin composition of the present invention is better than that of a conventional epoxy resin composition using a curing agent, and is 0.5 to 1.5 kN / m. Therefore, in the present invention, it is possible to realize an epoxy resin composition that further improves the dielectric characteristics while maintaining the characteristics of the conventional epoxy resin composition using a curing agent. In addition, evaluation of the epoxy resin composition of this invention can be performed based on JIS-C-6481 (copper-clad laminated board test method for printed wiring boards).

以上、本発明の実施形態について述べたが、これらは本発明の例示であり、上記以外の様々な構成を採用することもできる。   As mentioned above, although embodiment of this invention was described, these are illustrations of this invention and various structures other than the above are also employable.

実施例1〜10、比較例1〜5
表1に示す配合で、アルミカップ上にエポキシ樹脂と三級アミン化合物とを混合し、180℃の熱板の上に置き溶解させた。事前に測定したゲルタイムの8割の時間が経過した時点で熱板からはずし、室温(23℃)になるまで放冷し、固化させた。その後固化した資料を粉砕し、アルミ箔上に敷き詰め、圧力4MPa、温度220℃で180分間プレスした後アルミ箔を剥離してレジン板を得た。
Examples 1-10, Comparative Examples 1-5
In the formulation shown in Table 1, an epoxy resin and a tertiary amine compound were mixed on an aluminum cup, placed on a hot plate at 180 ° C. and dissolved. When 80% of the gel time measured in advance passed, the gel plate was removed from the hot plate, allowed to cool to room temperature (23 ° C.), and solidified. Thereafter, the solidified material was pulverized, spread on an aluminum foil, pressed at a pressure of 4 MPa and a temperature of 220 ° C. for 180 minutes, and then peeled off the aluminum foil to obtain a resin plate.

[評価1]
1.誘電特性(誘電率、誘電正接)
レジン板の1GHzでの誘電特性をトリプレート共振器法で測定した。結果を表1に示す。
2.ガラス転移温度
TMA(熱機械分析、TAインスツルメント社製、TMA Q400)にて熱膨張係数を測定し、熱膨張係数の変移点をガラス転移温度とした。結果を表1に示す。
[Evaluation 1]
1. Dielectric properties (dielectric constant, dielectric loss tangent)
The dielectric characteristics of the resin plate at 1 GHz were measured by the triplate resonator method. The results are shown in Table 1.
2. Glass transition temperature The thermal expansion coefficient was measured by TMA (thermal mechanical analysis, manufactured by TA Instruments, TMA Q400), and the transition point of the thermal expansion coefficient was taken as the glass transition temperature. The results are shown in Table 1.

Figure 2012153814
Figure 2012153814

[評価2]
表1で示す実施例1〜3及び比較例1〜3の配合で、アルミカップ上にエポキシ樹脂と三級アミン化合物とを混合し、200℃のオーブンで2時間置いたものを赤外分光装置(製品名:AVATAE320 FT−IR、製造元:ThermoNicolet社製)で測定した。波長1500cm−1付近の吸収帯における炭素−炭素二重結合(C=C)の伸縮振動を示すピークを基準ピークとし、基準ピークのピーク強度に対する波長1130cm−1付近の吸収帯におけるエーテル結合(−O−)の伸縮振動を示すピーク強度の比率、及び、波長916cm−1付近の吸収帯におけるエポキシ基の伸縮振動を示すピークに対するピーク強度の比率を調べた。結果を表2に示す。
[Evaluation 2]
Infrared spectroscopic apparatus in which an epoxy resin and a tertiary amine compound were mixed on an aluminum cup and placed in an oven at 200 ° C. for 2 hours with the formulation of Examples 1 to 3 and Comparative Examples 1 to 3 shown in Table 1. (Product name: AVATAE320 FT-IR, manufacturer: manufactured by ThermoNicolet). The peak showing the stretching vibration of the carbon-carbon double bond (C = C) in the absorption band near the wavelength of 1500 cm −1 is defined as a reference peak, and the ether bond (− in the absorption band near the wavelength of 1130 cm −1 with respect to the peak intensity of the reference peak) The ratio of the peak intensity showing the stretching vibration of O-) and the ratio of the peak intensity to the peak showing the stretching vibration of the epoxy group in the absorption band near the wavelength of 916 cm −1 were examined. The results are shown in Table 2.

Figure 2012153814
Figure 2012153814

表2で示す結果から、エポキシ基の含有量に対する三級アミン化合物の存在量が増加することにより、エーテル結合の生成量が増加することが示された。したがって、本発明のエポキシ樹脂化合物では、式(1)で示すような自己重合が生じるため、アルコール性水酸基の生成が少なくなり、誘電特性が向上するものと推察された。   From the results shown in Table 2, it was shown that the amount of ether bonds generated increased as the amount of the tertiary amine compound increased with respect to the epoxy group content. Therefore, in the epoxy resin compound of this invention, since self-polymerization as shown by Formula (1) arises, it was guessed that the production | generation of an alcoholic hydroxyl group decreases and a dielectric property improves.

実施例11〜14、比較例9〜10
表3に示すように配合した樹脂ワニスを調製し、ガラスクロス(1035E、日東紡績社製、厚み0.03mm)100重量部に対して、樹脂ワニスで固形分80重量部含浸させた後、190℃の乾燥炉で5分間乾燥させて、樹脂含有量55重量%のプリプレグを作製した。このプリプレグを4枚重ね、両面を厚み35μmの銅箔で挟んで、220℃、4MPaで180分間加熱加圧成型を行い、厚さ0.5mmの銅張積層板を作製した。
Examples 11-14, Comparative Examples 9-10
A resin varnish blended as shown in Table 3 was prepared, and after impregnating 80 parts by weight of the solid content with the resin varnish with respect to 100 parts by weight of glass cloth (1035E, manufactured by Nitto Boseki Co., Ltd., thickness 0.03 mm), 190 A prepreg having a resin content of 55% by weight was produced by drying in a drying oven at 5 ° C for 5 minutes. Four prepregs were stacked and both sides were sandwiched between copper foils having a thickness of 35 μm, and heat-press molding was performed at 220 ° C. and 4 MPa for 180 minutes to prepare a copper-clad laminate having a thickness of 0.5 mm.

[評価3]
1.誘電特性
評価1と同じ方法で測定した。
2.ゲルタイム
140℃に保った熱板上に1gの試料をのせ、スパチュラで、常時、かき混ぜながら、スパチュラを持ち上げても、樹脂組成物が糸を引かなくなるまでの時間を測定した。この時間が短いほど、硬化速度が速いことを示す。
3.ピール強度
JIS C 6481に準拠して測定した。
4.吸水率
銅箔を全面エッチングし、50mm×50mmのテストピースを切り出し、JIS C 6481に従い測定した。
5.ガラス転移温度
評価1と同じ方法で測定した。
6.熱膨張係数
厚み方向熱膨張係数をTMA(熱機械分析、TAインスツルメント社製、TMA Q400)で測定し、50℃から150℃の平均値を示した。
[Evaluation 3]
1. Dielectric property Measured by the same method as in Evaluation 1.
2. Gel time 1 g of a sample was placed on a hot plate maintained at 140 ° C., and the time until the resin composition did not pull the yarn even when the spatula was lifted while stirring with a spatula was measured. The shorter this time, the faster the curing rate.
3. Peel strength Measured according to JIS C 6481.
4). Water absorption The copper foil was etched on the entire surface, and a 50 mm × 50 mm test piece was cut out and measured according to JIS C 6481.
5. Glass transition temperature It was measured by the same method as in Evaluation 1.
6). Thermal expansion coefficient The thermal expansion coefficient in the thickness direction was measured by TMA (thermomechanical analysis, manufactured by TA Instruments, TMA Q400), and an average value from 50 ° C to 150 ° C was shown.

Figure 2012153814
Figure 2012153814

Claims (9)

一分子内に二個以上のエポキシ基を有するエポキシ樹脂と、三級アミン化合物とを含み、前記エポキシ樹脂に含まれるエポキシ基のモル数(A)に対する前記三級アミン化合物のモル数(B)の比((B)/(A))が0.05〜0.65である、エポキシ樹脂組成物。   An epoxy resin having two or more epoxy groups in one molecule and a tertiary amine compound, the number of moles of the tertiary amine compound (B) relative to the number of moles of epoxy groups (A) contained in the epoxy resin The epoxy resin composition whose ratio ((B) / (A)) is 0.05 to 0.65. 前記三級アミン化合物の含有量が、前記エポキシ樹脂100重量部に対し、5〜50重量部である、請求項1に記載のエポキシ樹脂組成物。   The epoxy resin composition according to claim 1, wherein a content of the tertiary amine compound is 5 to 50 parts by weight with respect to 100 parts by weight of the epoxy resin. 前記三級アミン化合物が、含窒素芳香複素環化合物である、請求項1又は2に記載のエポキシ樹脂組成物。   The epoxy resin composition according to claim 1 or 2, wherein the tertiary amine compound is a nitrogen-containing aromatic heterocyclic compound. 前記三級アミン化合物が、イミダゾール又はその誘導体である、請求項3記載のエポキシ樹脂組成物。   The epoxy resin composition according to claim 3, wherein the tertiary amine compound is imidazole or a derivative thereof. 請求項1乃至4いずれか1項に記載のエポキシ樹脂組成物からなる樹脂層と、繊維基材とを有する、プリプレグ。   The prepreg which has a resin layer which consists of an epoxy resin composition of any one of Claims 1 thru | or 4, and a fiber base material. 請求項5記載のプリプレグの片面又は両面に金属層を形成してなる、積層板。   The laminated board formed by forming a metal layer in the single side | surface or both surfaces of the prepreg of Claim 5. 請求項1乃至4いずれか1項に記載のエポキシ樹脂組成物の硬化体。   The hardened | cured material of the epoxy resin composition of any one of Claims 1 thru | or 4. 請求項6記載の積層板の片面又は両面に回路形成面を有してなる、プリント配線板。   The printed wiring board which has a circuit formation surface in the single side | surface or both surfaces of the laminated board of Claim 6. 請求項8記載のプリント配線板に実装された半導体素子を備える半導体装置。   A semiconductor device comprising a semiconductor element mounted on the printed wiring board according to claim 8.
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2012158681A (en) * 2011-01-31 2012-08-23 Sumitomo Bakelite Co Ltd Epoxy resin composition

Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6239618A (en) * 1985-08-13 1987-02-20 Matsushita Electric Ind Co Ltd Flame-retardant epoxy resin composition
JPS6296484A (en) * 1985-10-23 1987-05-02 Agency Of Ind Science & Technol Polyepoxy compound
JPH09130041A (en) * 1995-10-31 1997-05-16 Sumitomo Bakelite Co Ltd Manufacture of multilayer printed wiring board
WO2005035617A1 (en) * 2003-10-10 2005-04-21 Asahi Kasei Chemicals Corporation Latent curing agent and composition
JP2007073989A (en) * 2006-11-20 2007-03-22 Ibiden Co Ltd Multilayer printed wiring board and manufacturing method thereof
WO2008044552A1 (en) * 2006-10-06 2008-04-17 Sumitomo Bakelite Company, Ltd. Resin composition, insulating sheet with base, prepreg, multilayer printed wiring board and semiconductor device
JP2010260890A (en) * 2009-04-30 2010-11-18 Toyobo Co Ltd Prepreg using pyridobisimidazole fiber

Patent Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6239618A (en) * 1985-08-13 1987-02-20 Matsushita Electric Ind Co Ltd Flame-retardant epoxy resin composition
JPS6296484A (en) * 1985-10-23 1987-05-02 Agency Of Ind Science & Technol Polyepoxy compound
JPH09130041A (en) * 1995-10-31 1997-05-16 Sumitomo Bakelite Co Ltd Manufacture of multilayer printed wiring board
WO2005035617A1 (en) * 2003-10-10 2005-04-21 Asahi Kasei Chemicals Corporation Latent curing agent and composition
WO2008044552A1 (en) * 2006-10-06 2008-04-17 Sumitomo Bakelite Company, Ltd. Resin composition, insulating sheet with base, prepreg, multilayer printed wiring board and semiconductor device
JP2007073989A (en) * 2006-11-20 2007-03-22 Ibiden Co Ltd Multilayer printed wiring board and manufacturing method thereof
JP2010260890A (en) * 2009-04-30 2010-11-18 Toyobo Co Ltd Prepreg using pyridobisimidazole fiber

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2012158681A (en) * 2011-01-31 2012-08-23 Sumitomo Bakelite Co Ltd Epoxy resin composition

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