JP2012137301A - 三次元座標測定機簡易検査用ゲージ - Google Patents
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Abstract
【解決手段】三次元座標測定機簡易検査用ゲージ1は、基台3と、前記基台3上に設けられる半球状の本体4と、それぞれ一方の端部に保持具6を介して球体7が取り付けられ、もう一方の端部が前記本体4に固定される複数本のシャフト5からなり、該複数本のシャフト5(5−1〜5−9)のうち、1本のシャフト5−9は前記本体の極から鉛直方向に延びるように取り付けられ、残りのシャフト5−1〜5−8は平面視したときに隣のシャフトと一定の角度をなすように且つ斜め上方向に延びるように取り付けられている。
【選択図】図1
Description
本体材質:ネクセラ(新日鐵製;超低熱膨張ファインセラミックス)
本体熱膨張係数:0±0.02×10−6/K
シャフト長さ:130mm
シャフト材質:炭素繊維強化プラスチック(高剛性繊維<1方向> ピッチ系繊維)
総重量:約6kg
球材質:窒化ケイ素
球直径:25.40mm(中央)
19.05(中央以外)
中央以外の4本のシャフトの水平面からの傾斜角度は35度、残りの4本のシャフトの水平面からの傾斜角度は55度
この三次元座標測定機簡易検査ゲージで、複数本のスタイラスを取り付けた図2に示す固定式マルチスタイラスブロービングシステムをもつ三次元座標測定機を検査した結果を図5に示す。この三次元座標測定機簡易検査用ゲージの値付けがされれば、No.1スタイラスの結果がJISB 7440−2に関する三次元座標測定機の寸法検査(目盛校正)の簡易検査になる。また、一つの球体を複数のスタイラスが重複して測定することで、それぞれの球体の結果(中心座標値)からそれぞれのスタイラスの相関が評価できる。マルチスタイラス8の5本のスタイラスで9個の球体7全てを測定しても約30分で検査を行うことができた。
3 基台
4 半球状の本体
5(5−1〜5−9) シャフト
6 保持具
7 球体
8(8−1〜8−5) マルチスタイラス
9 スタイラス
Claims (3)
- 基台と、前記基台上に設けられる半球状の本体と、それぞれ一方の端部に保持具を介して球体が取り付けられ、もう一方の端部が前記本体に固定される複数本のシャフトからなり、該複数本のシャフトのうち、1本のシャフトは前記本体の極から鉛直方向に延びるように取り付けられ、残りのシャフトは平面視したときに隣のシャフトと一定の角度をなすように且つ斜め上方向に延びるように取り付けられていることを特徴とする三次元座標測定機簡易検査用ゲージ。
- 前記本体が前記基台上に回転可能に設けられることを特徴とする請求項1に記載の三次元座標測定機簡易検査用ゲージ。
- 前記複数本のシャフトに取り付けられた球体は、スタイラスの方向の極とその極に対する赤道に対して、三次元座標測定機が有する固定式マルチスタイラスシステムの各スタイラスの先端または複数の姿勢をとり得るスタイラスを備えた回転式プロービングシステムの前記スタイラスの先端と接触可能となっていることを特徴とする請求項1または2に記載の三次元座標測定機簡易検査用ゲージ。
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Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2013050451A (ja) * | 2003-09-22 | 2013-03-14 | Renishaw Plc | 被較正疑似品 |
WO2014192889A1 (ja) | 2013-05-29 | 2014-12-04 | 地方独立行政法人東京都立産業技術研究センター | X線エネルギー別画像再構成装置及び方法並びにx線三次元測定装置及び方法 |
JP2018194430A (ja) * | 2017-05-17 | 2018-12-06 | 株式会社ミツトヨ | ステップゲージ |
JP2020027090A (ja) * | 2018-08-17 | 2020-02-20 | 地方独立行政法人東京都立産業技術研究センター | 比較測定機用校正ゲージ及び比較測定機の校正方法 |
DE102020134786A1 (de) | 2020-12-23 | 2022-06-23 | Carl Zeiss Industrielle Messtechnik Gmbh | Verfahren und Prüfkörper zur rein optischen Überprüfung der Rechtwinkligkeit der Ausrichtung der Führungsachsen bei einem Koordinatenmessgerät |
USD984288S1 (en) * | 2020-11-16 | 2023-04-25 | Mitutoyo Corporation | Inspection gauge for coordinate measuring machine |
Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0267902A (ja) * | 1988-07-13 | 1990-03-07 | Uranit Gmbh | 座標測定装置用の検査体 |
JPH02128101A (ja) * | 1988-10-03 | 1990-05-16 | Carl Zeiss:Fa | 座標測定装置のための検査体 |
JPH02504427A (ja) * | 1988-05-27 | 1990-12-13 | レニショウ パブリック リミテッド カンパニー | 位置決定装置用テストバー |
US5269067A (en) * | 1989-09-11 | 1993-12-14 | Leitz Messtechnik Gmbh | Test specimens composed of rod segments for co-ordinate measuring instruments |
US6023850A (en) * | 1996-10-28 | 2000-02-15 | Trapet; Eugen Herbert | Ball cube |
JP2001330428A (ja) * | 2000-05-23 | 2001-11-30 | Natl Inst Of Advanced Industrial Science & Technology Meti | 3次元測定機の測定誤差評価方法及び3次元測定機用ゲージ |
-
2010
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Patent Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH02504427A (ja) * | 1988-05-27 | 1990-12-13 | レニショウ パブリック リミテッド カンパニー | 位置決定装置用テストバー |
JPH0267902A (ja) * | 1988-07-13 | 1990-03-07 | Uranit Gmbh | 座標測定装置用の検査体 |
JPH02128101A (ja) * | 1988-10-03 | 1990-05-16 | Carl Zeiss:Fa | 座標測定装置のための検査体 |
US5269067A (en) * | 1989-09-11 | 1993-12-14 | Leitz Messtechnik Gmbh | Test specimens composed of rod segments for co-ordinate measuring instruments |
US6023850A (en) * | 1996-10-28 | 2000-02-15 | Trapet; Eugen Herbert | Ball cube |
JP2001330428A (ja) * | 2000-05-23 | 2001-11-30 | Natl Inst Of Advanced Industrial Science & Technology Meti | 3次元測定機の測定誤差評価方法及び3次元測定機用ゲージ |
Cited By (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2013050451A (ja) * | 2003-09-22 | 2013-03-14 | Renishaw Plc | 被較正疑似品 |
WO2014192889A1 (ja) | 2013-05-29 | 2014-12-04 | 地方独立行政法人東京都立産業技術研究センター | X線エネルギー別画像再構成装置及び方法並びにx線三次元測定装置及び方法 |
EP3109625A1 (en) | 2013-05-29 | 2016-12-28 | Tokyo Metropolitan Industrial Technology Research Institute | Combination of coordinate measurements and computer tomography |
JP2018194430A (ja) * | 2017-05-17 | 2018-12-06 | 株式会社ミツトヨ | ステップゲージ |
JP2020027090A (ja) * | 2018-08-17 | 2020-02-20 | 地方独立行政法人東京都立産業技術研究センター | 比較測定機用校正ゲージ及び比較測定機の校正方法 |
JP7092348B2 (ja) | 2018-08-17 | 2022-06-28 | 地方独立行政法人東京都立産業技術研究センター | 比較測定機用校正ゲージ及び比較測定機の校正方法 |
USD984288S1 (en) * | 2020-11-16 | 2023-04-25 | Mitutoyo Corporation | Inspection gauge for coordinate measuring machine |
DE102020134786A1 (de) | 2020-12-23 | 2022-06-23 | Carl Zeiss Industrielle Messtechnik Gmbh | Verfahren und Prüfkörper zur rein optischen Überprüfung der Rechtwinkligkeit der Ausrichtung der Führungsachsen bei einem Koordinatenmessgerät |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP5667431B2 (ja) | 2015-02-12 |
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