JP2012127948A5 - - Google Patents
Download PDFInfo
- Publication number
- JP2012127948A5 JP2012127948A5 JP2011264460A JP2011264460A JP2012127948A5 JP 2012127948 A5 JP2012127948 A5 JP 2012127948A5 JP 2011264460 A JP2011264460 A JP 2011264460A JP 2011264460 A JP2011264460 A JP 2011264460A JP 2012127948 A5 JP2012127948 A5 JP 2012127948A5
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- unit
- multilayer structure
- axis
- parameter
- evaluating
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 239000011229 interlayer Substances 0.000 claims description 21
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 17
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 claims description 10
- 238000011156 evaluation Methods 0.000 claims description 10
- 239000010410 layer Substances 0.000 claims description 7
- 239000000463 material Substances 0.000 claims description 7
- 230000001747 exhibiting Effects 0.000 claims description 4
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 238000006011 modification reaction Methods 0.000 description 1
Description
示された詳細な図面および特定の例は、本開示の好ましい実施形態を記述するが、説明のためのものにすぎず、本開示の装置および方法は、開示されたとおりの細部および条件に限定されず、以下の特許請求の範囲によって定められる本開示の趣旨から逸脱することなく、細部および条件に様々な変更を加えることが可能であることを理解されたい。
また、本願は以下に記載する態様を含む。
(態様1)
軸を横切って略整列した複数の縁部を呈する多層構造の層間ギャップを評価するための装置であって、
(a)少なくとも1つのパラメータを検知するように構成された検知ユニット、
(b)前記検知ユニットと結合されて、前記検知ユニットを前記軸に略沿って移動させるように構成された位置決めユニット、ならびに
(c)前記位置決めユニットおよび前記検知ユニットの少なくとも1つと結合された制御ユニット
を備え、前記制御ユニットが、前記検知ユニットに電気信号を供給し、前記検知ユニットが前記複数の縁部を過ぎて移動するときに前記少なくとも1つのパラメータの変化を監視し、かつ前記少なくとも1つのパラメータの前記変化を使用して前記評価を行う装置。
(態様2)
前記複数の縁部が、前記軸と略平行な前記多層構造の少なくとも一部を横断する開口部を実質的に囲んでいる、態様1に記載の多層構造の層間ギャップを評価するための装置。
(態様3)
前記位置決めユニットが、前記位置決めユニットによる前記検知ユニットの変位を示すように構成されており、前記変位が、前記評価の際に前記制御ユニットによって使用される、態様1に記載の多層構造の層間ギャップを評価するための装置。
(態様4)
前記位置決めユニットがマイクロメータユニットとして実現されている、態様1に記載の多層構造の層間ギャップを評価するための装置。
(態様5)
前記検知ユニットが渦電流コイルユニットを含んでいる、態様1に記載の多層構造の層間ギャップを評価するための装置。
(態様6)
前記少なくとも1つのパラメータが、前記渦電流コイルユニットが受けるインピーダンスである、態様5に記載の多層構造の層間ギャップを評価するための装置。
(態様7)
前記位置決めユニットが、前記位置決めユニットによる前記検知ユニットの変位を示すように構成されており、前記変位が、前記評価の際に前記制御ユニットによって使用される、態様2に記載の多層構造の層間ギャップを評価するための装置。
(態様8)
前記検知ユニットが渦電流コイルユニットを含んでいる、態様7に記載の多層構造の層間ギャップを評価するための装置。
(態様9)
前記少なくとも1つのパラメータが、前記渦電流コイルユニットが受けるインピーダンスである、態様8に記載の多層構造の層間ギャップを評価するための装置。
(態様10)
多層構造の軸に略沿って異なる材料層の厚さを決定するためのシステムであって、前記厚さが、実質的に前記軸と交差するように位置合わせされた複数の縁部によって画定されるシステムにおいて、
(a)少なくとも1つの電磁パラメータを検知するように構成された電磁センサユニット、
(b)前記センサユニットと結合されて、前記センサユニットを前記軸に略沿って移動させる位置決めユニット、ならびに
(c)前記センサユニットおよび前記位置決めユニットの少なくとも1つと結合された監視ユニットであって、前記センサユニットに電気入力信号を供給し、前記センサユニットが前記軸に沿って前記複数の縁部を過ぎて移動するときに前記センサユニットから前記少なくとも1つの電磁パラメータの変化の示度を受け取り、前記少なくとも1つの電磁パラメータの前記変化を使用して前記決定を行う監視ユニット
を備えるシステム。
(態様11)
前記複数の縁部が、前記軸と略平行な前記多層構造の少なくとも一部を横断する開口部を実質的に囲んでいる、態様10に記載の多層構造の軸に略沿って異なる材料層の厚さを決定するためのシステム。
(態様12)
前記位置決めユニットが、前記位置決めユニットによる前記検知ユニットの変位を示すように構成されており、前記変位が、前記決定の際に前記監視ユニットによって使用される、態様11に記載の多層構造の軸に略沿って異なる材料層の厚さを決定するためのシステム。
(態様13)
前記位置決めユニットがマイクロメータユニットとして実現される、態様12に記載の多層構造の軸に略沿って異なる材料層の厚さを決定するためのシステム。
(態様14)
前記センサユニットが渦電流コイルユニットを含んでいる、態様13に記載の多層構造の軸に略沿って異なる材料層の厚さを決定するためのシステム。
(態様15)
前記少なくとも1つの電磁パラメータが、前記渦電流コイルユニットが受けるインピーダンスである、態様14に記載の多層構造の軸に略沿って異なる材料層の厚さを決定するためのシステム。
(態様16)
軸を横切って略整列した複数の縁部を呈する多層構造において層間ギャップを評価し、前記評価を表すマップを生成するための方法であって、
(a)順不同で、
(1)少なくとも1つのパラメータを検知するように構成された検知ユニットを提供し、
(2)前記検知ユニットと結合されて、前記検知ユニットを前記軸に略平行に移動させるように構成された位置決めユニットを提供し、
(3)前記位置決めユニットおよび前記検知ユニットの少なくとも1つと結合された制御ユニットを提供することと
(b)前記制御ユニットを、前記検知ユニットに電気信号を供給するように動作させることと、
(c)前記検知ユニットが前記複数の縁部を過ぎて移動するとき、前記制御ユニットを、前記少なくとも1つのパラメータの変化を監視するように動作させることと、
(d)前記制御ユニットを、前記少なくとも1つのパラメータの前記変化を使用して前記評価を行うように動作させることと、
(e)前記評価を使用して前記マップを生成することと
を含む方法。
(態様17)
前記複数の縁部が、前記軸と略平行な前記多層構造の少なくとも一部を横断する開口部を実質的に囲む、態様16に記載の多層構造の層間ギャップを評価するための方法。
(態様18)
前記位置決めユニットが、前記位置決めユニットによる前記検知ユニットの変位を示すように配置されたマイクロメータユニットであり、前記変位を、前記評価の際に前記制御ユニットが使用する、態様17に記載の多層構造の層間ギャップを評価するための方法。
(態様19)
前記検知ユニットが渦電流コイルユニットを含む、態様18に記載の多層構造の層間ギャップを評価するための方法。
(態様20)
前記少なくとも1つのパラメータが、前記渦電流コイルユニットが受けるインピーダンスである、態様19に記載の多層構造の層間ギャップを評価するための方法。
また、本願は以下に記載する態様を含む。
(態様1)
軸を横切って略整列した複数の縁部を呈する多層構造の層間ギャップを評価するための装置であって、
(a)少なくとも1つのパラメータを検知するように構成された検知ユニット、
(b)前記検知ユニットと結合されて、前記検知ユニットを前記軸に略沿って移動させるように構成された位置決めユニット、ならびに
(c)前記位置決めユニットおよび前記検知ユニットの少なくとも1つと結合された制御ユニット
を備え、前記制御ユニットが、前記検知ユニットに電気信号を供給し、前記検知ユニットが前記複数の縁部を過ぎて移動するときに前記少なくとも1つのパラメータの変化を監視し、かつ前記少なくとも1つのパラメータの前記変化を使用して前記評価を行う装置。
(態様2)
前記複数の縁部が、前記軸と略平行な前記多層構造の少なくとも一部を横断する開口部を実質的に囲んでいる、態様1に記載の多層構造の層間ギャップを評価するための装置。
(態様3)
前記位置決めユニットが、前記位置決めユニットによる前記検知ユニットの変位を示すように構成されており、前記変位が、前記評価の際に前記制御ユニットによって使用される、態様1に記載の多層構造の層間ギャップを評価するための装置。
(態様4)
前記位置決めユニットがマイクロメータユニットとして実現されている、態様1に記載の多層構造の層間ギャップを評価するための装置。
(態様5)
前記検知ユニットが渦電流コイルユニットを含んでいる、態様1に記載の多層構造の層間ギャップを評価するための装置。
(態様6)
前記少なくとも1つのパラメータが、前記渦電流コイルユニットが受けるインピーダンスである、態様5に記載の多層構造の層間ギャップを評価するための装置。
(態様7)
前記位置決めユニットが、前記位置決めユニットによる前記検知ユニットの変位を示すように構成されており、前記変位が、前記評価の際に前記制御ユニットによって使用される、態様2に記載の多層構造の層間ギャップを評価するための装置。
(態様8)
前記検知ユニットが渦電流コイルユニットを含んでいる、態様7に記載の多層構造の層間ギャップを評価するための装置。
(態様9)
前記少なくとも1つのパラメータが、前記渦電流コイルユニットが受けるインピーダンスである、態様8に記載の多層構造の層間ギャップを評価するための装置。
(態様10)
多層構造の軸に略沿って異なる材料層の厚さを決定するためのシステムであって、前記厚さが、実質的に前記軸と交差するように位置合わせされた複数の縁部によって画定されるシステムにおいて、
(a)少なくとも1つの電磁パラメータを検知するように構成された電磁センサユニット、
(b)前記センサユニットと結合されて、前記センサユニットを前記軸に略沿って移動させる位置決めユニット、ならびに
(c)前記センサユニットおよび前記位置決めユニットの少なくとも1つと結合された監視ユニットであって、前記センサユニットに電気入力信号を供給し、前記センサユニットが前記軸に沿って前記複数の縁部を過ぎて移動するときに前記センサユニットから前記少なくとも1つの電磁パラメータの変化の示度を受け取り、前記少なくとも1つの電磁パラメータの前記変化を使用して前記決定を行う監視ユニット
を備えるシステム。
(態様11)
前記複数の縁部が、前記軸と略平行な前記多層構造の少なくとも一部を横断する開口部を実質的に囲んでいる、態様10に記載の多層構造の軸に略沿って異なる材料層の厚さを決定するためのシステム。
(態様12)
前記位置決めユニットが、前記位置決めユニットによる前記検知ユニットの変位を示すように構成されており、前記変位が、前記決定の際に前記監視ユニットによって使用される、態様11に記載の多層構造の軸に略沿って異なる材料層の厚さを決定するためのシステム。
(態様13)
前記位置決めユニットがマイクロメータユニットとして実現される、態様12に記載の多層構造の軸に略沿って異なる材料層の厚さを決定するためのシステム。
(態様14)
前記センサユニットが渦電流コイルユニットを含んでいる、態様13に記載の多層構造の軸に略沿って異なる材料層の厚さを決定するためのシステム。
(態様15)
前記少なくとも1つの電磁パラメータが、前記渦電流コイルユニットが受けるインピーダンスである、態様14に記載の多層構造の軸に略沿って異なる材料層の厚さを決定するためのシステム。
(態様16)
軸を横切って略整列した複数の縁部を呈する多層構造において層間ギャップを評価し、前記評価を表すマップを生成するための方法であって、
(a)順不同で、
(1)少なくとも1つのパラメータを検知するように構成された検知ユニットを提供し、
(2)前記検知ユニットと結合されて、前記検知ユニットを前記軸に略平行に移動させるように構成された位置決めユニットを提供し、
(3)前記位置決めユニットおよび前記検知ユニットの少なくとも1つと結合された制御ユニットを提供することと
(b)前記制御ユニットを、前記検知ユニットに電気信号を供給するように動作させることと、
(c)前記検知ユニットが前記複数の縁部を過ぎて移動するとき、前記制御ユニットを、前記少なくとも1つのパラメータの変化を監視するように動作させることと、
(d)前記制御ユニットを、前記少なくとも1つのパラメータの前記変化を使用して前記評価を行うように動作させることと、
(e)前記評価を使用して前記マップを生成することと
を含む方法。
(態様17)
前記複数の縁部が、前記軸と略平行な前記多層構造の少なくとも一部を横断する開口部を実質的に囲む、態様16に記載の多層構造の層間ギャップを評価するための方法。
(態様18)
前記位置決めユニットが、前記位置決めユニットによる前記検知ユニットの変位を示すように配置されたマイクロメータユニットであり、前記変位を、前記評価の際に前記制御ユニットが使用する、態様17に記載の多層構造の層間ギャップを評価するための方法。
(態様19)
前記検知ユニットが渦電流コイルユニットを含む、態様18に記載の多層構造の層間ギャップを評価するための方法。
(態様20)
前記少なくとも1つのパラメータが、前記渦電流コイルユニットが受けるインピーダンスである、態様19に記載の多層構造の層間ギャップを評価するための方法。
Claims (8)
- 軸を横切って略整列した複数の縁部を呈する多層構造の層間ギャップを評価するための装置であって、
(a)少なくとも1つのパラメータを検知するように構成された検知ユニット、
(b)前記検知ユニットと結合されて、前記検知ユニットを前記軸に略沿って移動させるように構成された位置決めユニット、ならびに
(c)前記位置決めユニットおよび前記検知ユニットの少なくとも1つと結合された制御ユニット
を備え、前記制御ユニットが、前記検知ユニットに電気信号を供給し、前記検知ユニットが前記複数の縁部を過ぎて移動するときに前記少なくとも1つのパラメータの変化を監視し、かつ前記少なくとも1つのパラメータの前記変化を使用して前記評価を行う装置。 - 前記複数の縁部が、前記軸と略平行な前記多層構造の少なくとも一部を横断する開口部を実質的に囲んでいる、請求項1に記載の多層構造の層間ギャップを評価するための装置。
- 前記位置決めユニットがマイクロメータユニットとして実現されている、請求項1に記載の多層構造の層間ギャップを評価するための装置。
- 前記位置決めユニットが、前記位置決めユニットによる前記検知ユニットの変位を示すように構成されており、前記変位が、前記評価の際に前記制御ユニットによって使用される、請求項1または2に記載の多層構造の層間ギャップを評価するための装置。
- 前記検知ユニットが渦電流コイルユニットを含んでいる、請求項1または4に記載の多層構造の層間ギャップを評価するための装置。
- 前記少なくとも1つのパラメータが、前記渦電流コイルユニットが受けるインピーダンスである、請求項5に記載の多層構造の層間ギャップを評価するための装置。
- 多層構造の軸に略沿って異なる材料層の厚さを決定するためのシステムであって、前記厚さが、実質的に前記軸と交差するように位置合わせされた複数の縁部によって画定されるシステムにおいて、
(a)少なくとも1つの電磁パラメータを検知するように構成された電磁センサユニット、
(b)前記センサユニットと結合されて、前記センサユニットを前記軸に略沿って移動させる位置決めユニット、ならびに
(c)前記センサユニットおよび前記位置決めユニットの少なくとも1つと結合された監視ユニットであって、前記センサユニットに電気入力信号を供給し、前記センサユニットが前記軸に沿って前記複数の縁部を過ぎて移動するときに前記センサユニットから前記少なくとも1つの電磁パラメータの変化の示度を受け取り、前記少なくとも1つの電磁パラメータの前記変化を使用して前記決定を行う監視ユニット
を備えるシステム。 - 軸を横切って略整列した複数の縁部を呈する多層構造において層間ギャップを評価し、前記評価を表すマップを生成するための方法であって、
(a)順不同で、
(1)少なくとも1つのパラメータを検知するように構成された検知ユニットを提供し、
(2)前記検知ユニットと結合されて、前記検知ユニットを前記軸に略平行に移動させるように構成された位置決めユニットを提供し、
(3)前記位置決めユニットおよび前記検知ユニットの少なくとも1つと結合された制御ユニットを提供することと
(b)前記制御ユニットを、前記検知ユニットに電気信号を供給するように動作させることと、
(c)前記検知ユニットが前記複数の縁部を過ぎて移動するとき、前記制御ユニットを、前記少なくとも1つのパラメータの変化を監視するように動作させることと、
(d)前記制御ユニットを、前記少なくとも1つのパラメータの前記変化を使用して前記評価を行うように動作させることと、
(e)前記評価を使用して前記マップを生成することと
を含む方法。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US12/965,356 | 2010-12-10 | ||
US12/965,356 US8903680B2 (en) | 2010-12-10 | 2010-12-10 | Apparatus and method for evaluating layers in a multi-layer structure |
Publications (3)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2012127948A JP2012127948A (ja) | 2012-07-05 |
JP2012127948A5 true JP2012127948A5 (ja) | 2015-01-22 |
JP5954726B2 JP5954726B2 (ja) | 2016-07-20 |
Family
ID=45560312
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2011264460A Active JP5954726B2 (ja) | 2010-12-10 | 2011-12-02 | 多層構造において層を評価するための装置および方法 |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US8903680B2 (ja) |
JP (1) | JP5954726B2 (ja) |
CN (1) | CN102607402B (ja) |
CA (1) | CA2755744C (ja) |
GB (1) | GB2486347B (ja) |
Families Citing this family (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN104833298B (zh) * | 2014-02-12 | 2018-02-09 | 鸿发国际科技股份有限公司 | 纸张厚度检测装置及其纸张厚度检测方法 |
US11148070B2 (en) * | 2018-03-07 | 2021-10-19 | Palo Alto Research Center Incorporated | Systems and methods of nanofiltration using graphene oxide |
CN110006996B (zh) * | 2019-04-22 | 2021-11-30 | 葫芦岛探克科技有限公司 | 金属复合材料超声波测厚方法及层间界面在超声波测厚中的应用 |
CN111458415B (zh) * | 2020-04-13 | 2023-07-18 | 润电能源科学技术有限公司 | 一种超声相控阵换能器与待测工件耦合状态的检测方法 |
Family Cites Families (23)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3693075A (en) * | 1969-11-15 | 1972-09-19 | Forster F M O | Eddy current system for testing tubes for defects,eccentricity,and wall thickness |
JPS5672303A (en) * | 1979-11-15 | 1981-06-16 | Nuclear Fuel Ind Ltd | Measuring method of displacement of fuel rod of noncontact type |
FR2494837A1 (fr) | 1980-11-26 | 1982-05-28 | Commissariat Energie Atomique | Dispositif de controle des dimensions et de l'ecartement de pieces rigides disposees en faisceau |
FR2585868B1 (fr) * | 1985-08-02 | 1987-11-27 | Framatome Sa | Dispositif de controle de l'alignement dans la direction verticale des equipements internes superieurs et inferieurs d'un reacteur nucleaire a eau sous pression. |
US4645634A (en) | 1983-12-19 | 1987-02-24 | The Babcock & Wilcox Company | Apparatus for measuring the pitch between adjacent rods in a nuclear fuel assembly |
DE3542200A1 (de) | 1985-11-29 | 1987-06-04 | Bbc Reaktor Gmbh | Verfahren zum pruefen der abmessungen eines brennelementes fuer kernreaktoren |
JPH0636046B2 (ja) * | 1988-06-08 | 1994-05-11 | 株式会社日立製作所 | 燃料集合体,燃料スペーサ及び原子炉の初装荷炉心 |
US4876506A (en) * | 1988-06-13 | 1989-10-24 | Westinghouse Electric Corp. | Apparatus and method for inspecting the profile of the inner wall of a tube employing a wall follower and an eddy current probe |
FR2656415B1 (fr) * | 1989-12-27 | 1993-04-09 | Framatome Sa | Procede et dispositif de mesure simultanee de distance entre tubes metalliques et d'epaisseur d'oxyde sur les tubes. |
JPH0442002A (ja) * | 1990-06-07 | 1992-02-12 | Nuclear Fuel Ind Ltd | 燃料棒ギャップ測定装置 |
FR2669843B1 (fr) * | 1990-11-29 | 1995-01-20 | Lorraine Laminage | Dispositif de detection des criques longitudinales sur des brames, notamment sur des brames d'acier. |
US5371462A (en) * | 1993-03-19 | 1994-12-06 | General Electric Company | Eddy current inspection method employing a probe array with test and reference data acquisition and signal processing |
US5341678A (en) * | 1993-05-12 | 1994-08-30 | General Electric Company | Method for determining thickness of ferromagnetic material deposition on nuclear fuel rods |
JPH09318784A (ja) * | 1996-05-31 | 1997-12-12 | Mitsubishi Heavy Ind Ltd | 核燃料集合体の燃料棒間隔測定装置 |
US5744952A (en) * | 1997-02-25 | 1998-04-28 | Mcdermott Technology, Inc. | Eddy current measurement of tube element spacing |
JP4328066B2 (ja) * | 2002-07-26 | 2009-09-09 | コーア株式会社 | 膜厚検査装置および膜厚検査方法 |
US7314075B2 (en) * | 2003-04-04 | 2008-01-01 | Nisca Corporation | Adhesive dispensing apparatus and image forming apparatus |
DE102004034081A1 (de) * | 2004-07-15 | 2006-02-09 | Robert Bosch Gmbh | Verfahren zur berührungsfreien Bestimmung einer Dicke einer Schicht aus elektrisch leitendem Material |
DE102004034083A1 (de) * | 2004-07-15 | 2006-02-09 | Robert Bosch Gmbh | Verfahren zur berührungsfreien Bestimmung einer Schichtdicke durch Widerstands- und Induktivitätsmessung einer Sensorspule |
JP2006349377A (ja) * | 2005-06-13 | 2006-12-28 | Shinko Electric Co Ltd | 2自由度センサ |
DE102005054593B4 (de) * | 2005-11-14 | 2018-04-26 | Immobiliengesellschaft Helmut Fischer Gmbh & Co. Kg | Messonde zur Messung der Dicke dünner Schichten |
CN101074861B (zh) * | 2007-06-27 | 2011-02-02 | 力帆实业(集团)股份有限公司 | 一种仿形梳组件 |
JP4803323B2 (ja) * | 2010-02-25 | 2011-10-26 | Jfeスチール株式会社 | ワイヤロープピッチの測定方法とワイヤロープピッチ測定装置およびワイヤロープの製造方法 |
-
2010
- 2010-12-10 US US12/965,356 patent/US8903680B2/en active Active
-
2011
- 2011-10-20 CA CA2755744A patent/CA2755744C/en active Active
- 2011-12-02 JP JP2011264460A patent/JP5954726B2/ja active Active
- 2011-12-09 GB GB1121319.6A patent/GB2486347B/en active Active
- 2011-12-12 CN CN201110437963.4A patent/CN102607402B/zh active Active
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US9464979B2 (en) | Monitoring a conductive fluid conduit | |
WO2011158098A8 (en) | Eddy current sensor and eddy current measurement method | |
CA2896638C (en) | Reference speed measurement for a non-destructive testing system | |
JP2012127948A5 (ja) | ||
JP2010532651A5 (ja) | ||
JP2016507098A5 (ja) | ||
WO2014105363A3 (en) | Non-contact magnetostrictive sensing systems and methods | |
JP2013522595A5 (ja) | ||
CN103529121B (zh) | 复合材料层压板机加孔边缘脉冲反射法分层缺陷模拟方法 | |
FR2983965B1 (fr) | Sonde de mesure d'incidence locale et procede mettant en oeuvre la sonde | |
JP2015504166A5 (ja) | ||
CN104914157B (zh) | 一种用于金属结构微小空间内的缺陷无损检测装置 | |
JP2009247203A5 (ja) | ||
MX341497B (es) | Dispositivo de prueba no destructiva. | |
CN105527978B (zh) | 提离值控制装置及控制方法 | |
JP5954726B2 (ja) | 多層構造において層を評価するための装置および方法 | |
BR112013013879A2 (pt) | aparelho para influenciar e/ou detectar partículas magnéticas em um campo de visão, método para influenciar e/ou detectar partículas magnéticas em um campo de visão, programa de computador e unidade geradora de sinal de campo de acionamento para uso em um aparelho para influenciar e/ou partículas magnéticas em um campo de visão | |
Li et al. | Application of guided waves and probability imaging approach for insulation damage detection of large generator stator bar | |
JP2007292760A (ja) | 材料の損傷を検出する装置 | |
US9091526B2 (en) | Equipment of inspecting thickness of fibre cloth and method therefor | |
Wong et al. | Real-time electrical impedance resonance shift of piezoelectric sensor for detection of damage in honeycomb core sandwich structures | |
FR2961898B1 (fr) | Procede de detection d'une panne des moyens de degivrage d'une sonde de mesure d'un parametre physique | |
GB201113631D0 (en) | Position sensing apparatus and method | |
Khazi et al. | Microfabricated Eddy-Current Sensors for Non-Destructive Testing of the Micro Grinding Burn | |
Lotrakul et al. | The monitoring of three-dimensional printer filament feeding process using an acoustic emission sensor |