JP2012113538A - 試験テーブル生成装置及びその方法 - Google Patents

Abstract

【課題】所望の機器の試験テーブルを作成・用意しなくても、当該試験テーブルを自動的に生成することが可能な技術を提供することを目的とする。
【解決手段】試験テーブル生成装置は、機器集合入力部１と、上流図書解析部３と、機器特性取得部４と、機器特性マッチング部５と、試験テーブル生成部１４とを備える。上流図書解析部３は、機器集合入力部１で指定された機器たる対象機器の上流図書を解析し、機器特性取得部４は、その解析結果に基づいて対象機器の機器特性を取得する。機器特性マッチング部５は、当該対象機器の機器特性についてマッチングを行い、当該対象機器と同じ機器特性を有する類似機器を特定する。試験テーブル生成部１４は、当該類似機器の試験テーブルを取得し、当該試験テーブルに基づいて対象機器の試験テーブルを生成する。
【選択図】図１

Description

本発明は、監視制御システムの機器における監視制御の内容を表すロジック図面の試験において、当該ロジック図面の合否を判断するための入力値と出力値との対応表である試験テーブルを生成する試験テーブル生成装置、及び、その方法に関するものである。

監視制御システムは、温度、圧力、位置、その他各種センサー等、監視の対象となる装置からの情報を運転員・監視員に提示するとともに、運転員・監視員の操作によりモーター、弁、開閉器、油圧装置など各種装置を制御するシステムであり、発電プラント、化学プラント、受配電設備、上下水道など、幅広い分野で用いられている。

典型的な監視制御システムにおいては、監視制御の対象となる機器と信号の送受信を行うなど、処理ごとに分割されたモジュールを複数備え、これらが通信経路によって結合されることにより、多様な処理が実現されている。

監視制御システムの各モジュールの処理内容は、回路図のように、信号の入出力方向を矢印で示す有向グラフで表されることが多くなっている。具体的には、各モジュールの処理内容は、信号の処理を示すノード（以下「演算素子」と呼ぶこともある）と、ノード間を繋ぎ、信号の流れを示すリンク（以下「信号線」と呼ぶこともある）とを組合せて表現される。モジュールの処理内容は、古くはハードウェア回路で固定的に実現されていたが、柔軟性やコストパフォーマンスの観点から、近年はデジタル計算機上で動作を模擬して処理を実現できるように、デジタル計算機上のプログラムとして実装されることが多くなっている。

処理内容を演算素子と信号線で表現するプログラミング言語の規格としては、例えば、国際規格ＩＥＣ６１１３１−３が挙げられる。演算素子は前記国際規格のＦＢＤ（Function Block Diagram）で記述され、演算素子と信号線とを組合せて表現される処理内容は、ロジック図面と呼ばれる図面によって表わされる。

さて、近年、プログラムの大規模化に伴い、プログラムの試験項目を適切に抽出することが困難になりつつある。この現象は、監視制御システムの監視制御を表すロジック図面が正しいか否かを調べる試験においても同様となりつつある。具体的には、試験の際にロジック図面の合否を判断するための入力値及び出力値（期待値）や試験項目などを記述した試験テーブルを、試験前に作成する必要があるが、多数の入出力信号のそれぞれについて試験を行うため試験の数が多く、その試験テーブルの内容も膨大なものとなりがちになっている。

それにもかかわらず、試験テーブルは、設計者等によって、監視制御システムの設計段階で作成される上流図書及びロジック図面から、経験等に頼りながら手作業で作成されていることから、作成時間が長くなっているだけでなく、誤りや抜けが発生してしまう可能性があった。また、試験テーブルの作成は、項目抽出や試験順序にノウハウがあるため、上流図書とロジック図面からの単純な自動作成は非常に困難であった。このように、監視制御システムにおけるロジック図面の試験においては、当該ロジック図面に対応する試験テーブルの作成を効率的に行うことが課題となっていた。

それを解決する技術の一例として、試験テーブルの雛型を用いて、ロジック図面の試験テーブルを自動生成する技術が、特許文献１に開示されている。特許文献１に記載の電子的文書作成装置は、試験対象のロジック図面と基本ロジック図面とを整理された演算プログラムに変形した上でパターンマッチングするパターンマッチング手段と、一致した基本ロジック図面に対応した試験テーブルを取り出す試験テーブル取出し手段と、試験対象ロジック図面と基本ロジック図面との信号を対応させて信号を抽出する信号抽出手段と、試験テーブル中の基本ロジック図面の信号を対象となるロジック図面の信号と置き換えを行う試験テーブル埋め込み手段とを備えている。

特開２０００−３３１０５６号公報

特許文献１に記載の電子的文書作成装置は、対象のロジック図面と基本ロジック図面とのマッチングを行い、マッチングで一致した基本ロジック図面の試験テーブルを用いて、対象の試験テーブルを作成する。しかしながら、この技術では、基本ロジック図面と同じ数だけ雛型となる試験テーブルを作成・用意する作業が必要であることから、基本ロジック図面の数が多くなると多数の試験テーブルを作成・用意しなければならず、その作業の手間及び時間がかかるものとなっていた。

そこで、本発明は、上記のような問題点を鑑みてなされたものであり、所望の機器の試験テーブルを作成・用意しなくても、当該試験テーブルを自動的に生成することが可能な技術を提供することを目的とする。

本発明に係る試験テーブル生成装置は、監視制御システムの機器における監視制御の内容を表すロジック図面の試験において、当該ロジック図面の合否を判断するための入力値と出力値との対応表である試験テーブルを生成する。この試験テーブル生成装置は、前記機器の中から、前記試験テーブルを生成する対象とすべき対象機器を指定する機器集合入力部と、前記機器に関する情報たる上流図書の中から、前記対象機器に関する前記上流図書を取得し、当該上流図書を解析する上流図書解析部と、前記上流図書解析部の解析結果に基づいて、前記対象機器の機器特性を取得する機器特性取得部とを備える。そして、前記機器特性取得部で取得された前記対象機器の機器特性についてマッチングを行い、当該対象機器と同じ機器特性を有する類似機器を特定する機器特性マッチング部と、前記類似機器の前記試験テーブルを取得し、当該試験テーブルに基づいて前記対象機器の前記試験テーブルを生成する試験テーブル生成部とを備える。

本発明によれば、対象機器と同じ機器特性を有する類似機器を特定し、特定した類似機器の試験テーブルを雛型として、対象機器の試験テーブルを自動生成する。したがって、対象機器の試験テーブルを作成・用意しなくても、当該試験テーブルを自動的に生成することができる。よって、その分の作業の手間及び時間を省くことができる。

実施の形態１に係る試験テーブル生成装置の構成を示す図である。 典型的な監視制御システムの構成を示す図である。 系統図面を示す図である。 機器仕様リストを示す図である。 類似機器のロジック図面を示す図である。 類似機器のロジック図面の試験に用いられる試験テーブルを示す図である。 類似機器検索部の動作を示すフローチャートである。 試験テーブル生成部の動作を示すフローチャートである。 実施の形態１に係る対象機器のロジック図面を示す図である。 試験テーブル差分反映部が生成する試験テーブルを示す図である。 実施の形態２に係る対象機器のロジック図面を示す図である。 試験テーブル生成部の動作を示すフローチャートである。 試験テーブル差分反映部が生成する試験テーブルを示す図である。 実施の形態３に係る試験テーブル生成装置の構成を示す図である。

＜実施の形態１＞
図１は本発明の実施の形態１に係る試験テーブル生成装置の構成を示す図である。本実施の形態では、監視制御システムの機器における監視制御の内容はロジック図面により表されており、本実施の形態に係る試験テーブル生成装置は、当該ロジック図面の試験において、当該ロジック図面の合否を判断するための入力値と出力値（期待値）との対応表である試験テーブルを生成する。機器の監視制御の内容を表すロジック図面は、図５等に示される図面であり、当該ロジック図面が正しいか否かを判断するための試験テーブルは、図６等に示されるテーブルである。これらロジック図面及び試験テーブルについては後で詳細に説明する。

本実施の形態に係る試験テーブル生成装置及びその方法では、予め用意された試験テーブルに基づいて、所望の機器の試験テーブルを自動生成するものとなっている。以下、このような試験テーブル生成装置について詳細に説明する。なお、以下の説明においては、監視制御システムが備える、監視制御の対象となる複数の機器を、簡単に「複数の機器」と呼ぶこともある。

図１に示されるように、本実施の形態に係る試験テーブル生成装置は、機器集合入力部１と、複数の機器に関する情報たる上流図書が格納された上流図書格納装置２と、上流図書解析部３と、機器特性取得部４と、機器特性マッチング部５と、複数の機器のロジック図面が格納されたロジック図面格納装置６と、ロジック図面解析部７と、ロジック図面比較部８と、複数の試験テーブルが格納された入力用試験テーブル格納装置９と、試験テーブル解析部１０と、試験テーブル差分反映部１１と、出力用試験テーブル格納装置１２とを備える。

機器集合入力部１は、試験テーブル作成者からの操作を受け付ける。そして、機器集合入力部１は、当該操作に基づいて、試験テーブルを生成する対象とすべき機器または機器集合を、複数の機器の中から対象機器として指定する。機器集合入力部１は、対象機器を示す情報を、類似機器検索部１３及び試験テーブル生成部１４に出力する。

上流図書解析部３は、上流図書格納装置２に格納された上流図書の中から、対象機器に関する上流図書を取得し、取得した上流図書の解析を行う。上流図書は、監視制御システムの設計段階で作成される情報であり、本実施の形態では、後述する図３及び図４に示される情報を含んでいる。機器特性取得部４は、上流図書解析部３の解析結果に基づいて、対象機器に関する機器特性を取得する。機器特性マッチング部５は、機器特性取得部４で取得された対象機器の機器特性についてマッチングを行い、当該対象機器と同じ機器特性を有する（当該対象機器と類似する）類似機器を特定する。

類似機器検索部１３は、以上の上流図書解析部３、機器特性取得部４及び機器特性マッチング部５から構成されていることから、機器集合入力部１で指定された対象機器と機器特性と類似する類似機器を特定（検索）する。類似機器検索部１３は、類似機器を特定する情報を、試験テーブル生成部１４に出力する。

ロジック図面解析部７は、ロジック図面格納装置６に格納されたロジック図面の中から、類似機器検索部１３で特定された類似機器についてのロジック図面と、対象機器についてのロジック図面とを取得し、これらのロジック図面を解析する。ロジック図面比較部８は、ロジック図面解析部７の解析結果を比較して（つまり、ロジック図面解析部７の解析結果に基づいて）、類似機器のロジック図面と、対象機器のロジック図面との間の差分情報を抽出する。

試験テーブル解析部１０は、入力用試験テーブル格納装置９に格納された試験テーブルの中から、類似機器検索部１３で特定された類似機器についての試験テーブルを雛型として取得し、当該試験テーブルを解析する。試験テーブル差分反映部１１は、試験テーブル解析部１０が取得した試験テーブルに、その解析結果と、ロジック図面比較部８で抽出された差分情報とを反映して、対象機器の試験テーブルを生成する。生成された対象機器の試験テーブルは、出力用試験テーブル格納装置１２に格納される。

試験テーブル生成部１４は、以上のロジック図面解析部７、ロジック図面比較部８、試験テーブル解析部１０及び試験テーブル差分反映部１１から構成されていることから、類似機器の試験テーブルに基づいて、対象機器の試験テーブルを生成する。

図２は、典型的な監視制御システム５４の構成を示す図である。監視制御システム５４は、通信経路５３によって結合された４つのモジュール５０を有する。これら４つのモジュール５０は、通信経路５３を介して相互に信号の送受信を行う。

４つモジュール５０は、演算モジュール５０ａと、インタフェースモジュール５０ｂと、制御モジュール５０ｃ，５０ｄとから構成されている。制御モジュール５０ｃ，５０ｄは、それぞれ監視制御の対象とすべき機器５１ａ，５１ｂ（以下、機器５１ａ，５１ｂを区別しない場合には「機器５１」と呼ぶこともある）を制御する。インタフェースモジュール５０ｂは、運転員・監視員５２との情報のやり取りを行う。演算モジュール５０ａは、他の３つのモジュール５０からの情報をもとに計算等を行う。

図３は、上流図書として上流図書格納装置２に格納される系統図面ＤＣ１を示す図である。つまり、本実施の形態に係る上流図書は、監視制御システム５４の監視制御対象となる機器５１（図２）同士の間の相互接続関係を図示した系統図面ＤＣ１を含んでいる。

図３に示される例では、監視制御システム５４は、それぞれが当該機器５１に相当する、タンク３０、３つの電動ポンプ３１，３２，３３、３つの空気操作弁３４，３５，３６、２つの電動弁３７，３８及び３つの逆止弁３９，４０，４１と、これらを繋ぐ配管とから構成されている。具体的には、タンク３０は、電動ポンプ３２，３３を介して電動弁３７，３８と繋がれているとともに、電動ポンプ３１とも繋がれている。電動ポンプ３１は、空気操作弁３４，３５，３６を介して逆止弁３９，４０，４１と繋がれている。各機器５１には「Ｔ−００１」や「Ｐ−００１」などの各機器５１に固有の機器名称が付記されている。

図４は、上流図書として上流図書格納装置２に格納される機器仕様リストＤＣ２を示す図である。つまり、本実施の形態に係る上流図書は、上述の系統図面ＤＣ１だけでなく、系統図面ＤＣ１に記述された複数の機器５１の機器仕様が記述された機器仕様リストＤＣ２をさらに含んでいる。

図４に示す例では、複数の機器５１の機器仕様として、「機器名称」と、機器５１の種類を示す「機器種類」と、機器５１における制御（操作）の種類を示す「制御種類」と、機器５１の製造元等を示す「メーカー」と、機器５１の「形式」とが、機器仕様リストＤＣ２に記述されている。「制御種類」は、例えば、「入」ボタンと「切」ボタンとだけで電動ポンプを制御する場合や、これらに「ロック」ボタンを加えて電動ポンプを制御する場合などがあり、例えば「タイプＡ」や「タイプＢ」などと対応付けられている。なお、機器仕様リストＤＣ２の「制御種類」において記述されている「−」は、制御されないことを意味している。

図５は、ロジック図面格納装置６に格納されるロジック図面ＬＧ１の一例を示す図である。このロジック図面ＬＧ１は、制御モジュール５０ｃ（図２）が、インタフェースモジュール５０ｂ及び制御モジュール５０ｄからの入力信号に基づいて、機器５１ａを監視制御する内容（制御ロジック）を表している。

演算素子６０は、当該機器５１ａ以外の他の機器５１ｂ（図２）を制御する制御モジュール５０ｄからの信号が入力される、制御モジュール５０ｃでの入力点を表す。各演算素子６１，６２，６３は、インタフェースモジュール５０ｂ（図２）からの信号が入力される、制御モジュール５０ｃでの入力点を表す。ここでは、インタフェースモジュール５０ｂは操作器７５に対応しており、インタフェースモジュール５０ｂから制御モジュール５０ｃに入力される入力信号は、操作器７５における運転員・監視員５２の操作に応じて変化する。操作器７５には、「開」の操作に対応する入力信号を演算素子６１に出力する開操作ボタン７２と、「閉」の操作に対応する入力信号を演算素子６２に出力する閉操作ボタン７３と、「ロック」の操作に対応する入力信号を演算素子６３に出力するロック操作ボタン７４とが設けられている。

各演算素子６９，７０，７１は、機器５１ａ（図２）を制御する機器制御回路７９に対して信号を出力する、制御モジュール５０ｃでの出力点を表す。なお、実際には、機器制御回路７９が備える機器制御部７６，７７，７８にはそれぞれ、機器５１ａ等の機器を操作（ＯＰＥＮ、ＣＬＯＳＥ、ＬＯＣＫ）するための回路が割り当てられるが、本図では、それら回路の詳細な構成は省略している。

以下、説明の理解を容易にするため、上述の演算素子６０〜６３を「入力点６０〜６３」と呼び、上述の演算素子６９〜７１を「出力点６９〜７１」と呼ぶこともある。入力点６０〜６３及び出力点６９〜７１のそれぞれの右横には、属性情報として対応する信号の名称が「０１Ｄ」、「０１Ａ」などのように付記されている。

各演算素子６４，６５，６６は、入力が全て「１」の場合にのみ「１」を出力し、その他の場合には「０」を出力する素子、つまり、信号に論理積の演算を行う素子である。演算素子６７は、入力が「０」の場合には「１」を出力し、入力が「１」には「０」を出力する素子、つまり、信号に否定の演算を行う素子である。演算素子６８は、入力が「０」から「１」に変化するごとに出力の状態を「０」から「１」に、または、「１」から「０」に反転して出力する素子、つまり、１入力フリップフロップの機能を有する素子である。以下の説明においては、演算素子６４〜６６を「論理積素子６４〜６６」と呼び、演算素子６７を「否定素子６７」と呼び、演算素子６８を「１入力フリップフロップ素子６８」と呼ぶこともある。

入力点６３からの信号は、１入力フリップフロップ素子６８を経た後、二つに分岐される。当該分岐後の一方の信号は出力点７１に出力され、他方の信号は否定素子６７を経た後、さらに二つに分岐され、二つの論理積素子６４，６５にそれぞれ出力される。入力点６２からの信号は、論理積素子６５に出力される。論理積素子６５は、入力点６２からの信号と、否定素子６７からの信号との論理積をとって得られる信号を出力点７０に出力する。入力点６１からの信号は、論理積素子６４に出力される。論理積素子６４は、入力点６１からの信号と、否定素子６７からの信号との論理積をとって得られる信号を論理積素子６６に出力する。入力点６０からの信号は、論理積素子６６に出力される。論理積素子６６は、入力点６０からの信号と、論理積素子６４からの信号との論理積をとって得られる信号を出力点６９に出力する。図５に示される例では、以上のような信号の入出力が行われるように、複数の演算素子６０〜７１が信号線を介して接続されている。

図６は、上述のロジック図面ＬＧ１、つまり、制御モジュール５０ｃにおける監視制御の内容が正しいか否かを調べる試験に用いられる試験テーブルＴＢ１の一部を示す図である。この図６に示されるように、試験テーブルＴＢ１においては、ロジック図面ＬＧ１の合否を判断するための入力値と出力値（期待値）とが対応付けられている。より具体的には、試験テーブルＴＢ１では、図６の左から順に、試験項目と、操作器７５の入力操作と、設定されるべき入力信号の入力値（設定値）と、出力信号の出力として確認されるべき出力値（確認値）とが主に記述されている。なお、図６に示される試験テーブルＴＢ１においては、「入力信号」の「０１Ａ」、「０１Ｂ」、「０１Ｃ」は、「操作器」の「開」、「閉」、「ロック」にそれぞれ対応している。

試験テーブルＴＢ１に表される試験は、上段から下段に向かう順に行われ、試験テーブルＴＢ１の枠内に表示される「↓」という矢印は、その枠内の状態が、その枠上段の試験項目の状態と同じであることを示している。例えば、試験テーブルＴＢ１の試験項目「開を押し保持」を開始するときには、「操作器」の「開」をＯＦＦからＯＮに切り替えることが記述されており、ロジック図面ＬＧ１の試験の際には記述通りに、操作器７５の開操作用の開操作ボタン７２が押下げ保持される。そして、この試験の際に、入力信号の「０１Ａ」及び出力信号の「０１Ｅ」が「１」になり、それ以外は「０」になることが確認される。

さて、一般に、監視制御システムにおいて制御処理が行われる機器の機器特性は類似することが多く、その監視制御処理も類似することが多い。そして、監視制御処理が類似する場合には、ロジック図面及び試験テーブルも類似する。

そこで、本実施の形態に係る試験テーブル生成装置及びその方法においては、上流図書を解析して機器特性のマッチングを行うことにより、複数の機器の中から対象機器と類似する類似機器を特定し、特定した類似機器の既存の試験テーブル（図６）を雛型として、対象機器の試験テーブル（図１０）を自動的に生成するものとなっている。したがって、対象機器の試験テーブルを作成する作業を省くことができることから、設計者等の作業負担を軽減することが可能となっている。次に、このような本実施の形態に係る試験テーブル生成装置及びその方法の動作について説明する。

図７は、類似機器検索部１３（図１）が対象機器の類似機器を特定する動作を示すフローチャートであり、図８は、試験テーブル生成部１４（図１）が、類似機器の試験テーブルに基づいて対象機器の試験テーブルを生成する動作を示すフローチャートである。以下、図４に示される機器「Ｖ−００５」が機器集合入力部１において対象機器として指定された際の、本実施の形態に係る試験テーブル生成装置の動作について、図７及び図８等を用いながら詳細に説明する。

まず、図７を用いて、類似機器検索部１３が対象機器「Ｖ−００５」の類似機器を特定する動作について説明する。

ステップＳ１０１において、上流図書解析部３は、機器集合入力部１において指定された対象機器「Ｖ−００５」に関連する上流図書を、上流図書格納装置２から取得する。具体的には、上流図書解析部３は、この上流図書として、図３に示した系統図面ＤＣ１と、図４に示した機器仕様リストＤＣ２とを取得する。

ステップＳ１０２において、上流図書解析部３が機器仕様リストＤＣ２（機器種類及び制御種類）を解析することにより、機器特性取得部４が対象機器「Ｖ−００５」の機器特性（機器種類及び制御種類）を取得する。図４に示される例では、対象機器「Ｖ−００５」の機器種類及び制御種類として、「電動弁Ａ」及び「タイプＣ」がそれぞれ取得されることになる。

ステップＳ１０３において、上流図書解析部３が系統図面ＤＣ１を解析して、対象機器「Ｖ−００５」と比較される機器５１（以下「比較機器」と呼ぶ）があるかを検索する。本ステップＳ１０３は、後述するステップＳ１０７及びＳ１０９の後に行われる場合があり、この場合には本ステップＳ１０３が複数回行われることになる。ここで、ステップＳ１０３での検索対象となる比較機器は、ステップＳ１０３が行われるごとに変更されていく。本実施の形態では、ステップＳ１０３の検索対象となる比較機器は、「Ｔ−００１」、「Ｐ−００１」、「Ｐ−００２」、「Ｐ−００３」、「Ｖ−００１」、「Ｖ−００２」、「Ｖ−００３」、「Ｖ−００４」、「Ｖ−００５」、「Ｖ−００６」、「Ｖ−００７」、「Ｖ−００８」の順に一つずつ変更されていく。

ステップＳ１０４において、上流図書解析部３は、ステップＳ１０３での比較機器の検索ができたかを判定する。検索できた場合にはステップＳ１０５に進み、検索できなかった場合（本実施の形態では、すでに「Ｖ−００８」まで検索していたとき）には動作を終了する。

ステップＳ１０５においては、ステップＳ１０２と同様に、上流図書解析部３が機器仕様リストＤＣ２（機器種類及び制御種類）を解析することにより、機器特性取得部４が比較機器の機器特性（機器種類及び制御種類）を取得する。例えば、本実施の形態において最初に本ステップＳ１０５が行われた場合には、機器特性取得部４は、「Ｔ−００１」の機器種類及び制御種類、つまり、「タンク」及び「−」を取得する。

ステップＳ１０６において、機器特性マッチング部５は、比較機器の機器種類及び制御種類と、対象機器「Ｖ−００５」の機器種類及び制御種類とを比較して、これらが一致するかを判定するマッチングを行う。ステップＳ１０７において、機器特性マッチング部５は、当該マッチングにおいて一致すると判定した場合にはステップＳ１０８に進み、一致しないと判定した場合にはステップＳ１０３に戻る。

例えば、本実施の形態において最初にステップＳ１０６及びＳ１０７が行われた場合には、機器特性マッチング部５は、比較機器「Ｔ−００１」の機器種類及び制御種類と、対象機器「Ｖ−００５」の機器種類及び制御種類とのマッチングを行う。比較機器「Ｔ−００１」の機器種類及び制御種類は「タンク」及び「−」であり、対象機器「Ｖ−００５」の機器種類及び制御種類は「電動弁Ａ」及び「タイプＣ」であることから、これらは互いに一致しないと判定され、その結果、ステップＳ１０３に戻ることになる。その後、以上のステップＳ１０３〜Ｓ１０７が複数回行われ、機器「Ｖ−００４」（機器種類「電動弁」及び制御種類「タイプＣ」）が比較機器となった場合に、ステップＳ１０８に進むことになる。

ステップＳ１０８において、ステップＳ１０７でマッチングされていると判定された比較機器と、対象機器とのそれぞれについて、上流図書解析部３が系統図面ＤＣ１のトポロジーを解析し、機器特性取得部４が当該解析結果に基づいて、それら機器の機器特性（接続関係）を取得する。

ステップＳ１０９において、機器特性マッチング部５は、比較機器の接続関係と、対象機器「Ｖ−００５」の接続関係とが類似するかを判定する。そして、同ステップＳ１０９において比較機器と対象機器とが類似接続関係にあると判定された場合には、当該比較機器を類似機器とするとともに図７に示される動作を終了し、そうでない場合にはステップＳ１０３に戻る。これにより、ステップＳ１０９において類似接続関係にあると判定されるまで、以上の動作が繰り返されることになる。

具体例を挙げて説明すると、比較機器「Ｖ−００４」は「Ｔ−００１」、「Ｐ−００２」の下流に接続されており、対象機器「Ｖ−００５」は「Ｔ−００１」、「Ｐ−００３」の下流に接続されており、これらは並列接続関係に相当する。更に、「Ｐ−００２」と「Ｐ−００３」とは機器特性（機器種類及び制御種類）が同じであることから、機器特性マッチング部５は、比較機器「Ｖ−００４」と対象機器「Ｖ−００５」とは、類似接続関係にあると判定する。したがって、図７に示される動作により、類似機器検索部１３において、機器「Ｖ−００４」が対象機器「Ｖ−００５」の類似機器として特定されることになる。

次に、図８を用いて、試験テーブル生成部１４が、類似機器「Ｖ−００４」の試験テーブルを雛型として用いて、対象機器「Ｖ−００５」の試験テーブルを生成する動作について説明する。なお、以下の説明においては、図５に示したロジック図面ＬＧ１は、類似機器「Ｖ−００４」のロジック図面であり、図６に示した試験テーブルＴＢ１は、類似機器「Ｖ−００４」の試験テーブルであるものとする。また、図９には、対象機器「Ｖ−００５」のロジック図面ＬＧ２が示されているものとする。そして、ロジック図面ＬＧ１，ＬＧ２はロジック図面格納装置６（図１）に格納されており、試験テーブルＴＢ１は入力用試験テーブル格納装置９（図１）に格納されているものとする。

ステップＳ２０１において、ロジック図面解析部７は、機器集合入力部１で指定された対象機器「Ｖ−００５」のロジック図面ＬＧ２と、類似機器検索部１３で特定された類似機器「Ｖ−００４」のロジック図面ＬＧ１とを、ロジック図面格納装置６から取得する。

ステップＳ２０２において、ロジック図面解析部７は、二つのロジック図面ＬＧ１，ＬＧ２の入出力点の対応付けを行う。ここでは、ロジック図面解析部７は、操作器７５，９５と入力点６１〜６３，８１〜８３との接続関係に基づいて、ロジック図面ＬＧ１の入力点６１（「０１Ａ」）、入力点６２（「０１Ｂ」）及び入力点６３（「０１Ｃ」）と、ロジック図面ＬＧ２の入力点８１（「０２Ａ」）、入力点８２（「０２Ｂ」）及び入力点８３（「０２Ｃ」）とをそれぞれ対応付ける。そして、ロジック図面解析部７は、ロジック図面ＬＧ１の残りの入力点６０（「０１Ｄ」）と、ロジック図面ＬＧ２の残りの入力点８０（「０２Ｄ」）とを対応付ける。

また、同ステップＳ２０２において、ロジック図面解析部７は、機器制御回路７９，９９と出力点６９〜７１，８９〜９１との接続関係に基づいて、ロジック図面ＬＧ１の出力点６９（「０１Ｅ」）、出力点７０（「０１Ｆ」）及び出力点７１（「０１Ｇ」）と、ロジック図面ＬＧ２の出力点８９（「０２Ｅ」）、出力点９０（「０２Ｆ」）及び出力点９１（「０２Ｇ」）とをそれぞれ対応付ける。

ステップＳ２０３において、ロジック図面比較部８は、対応付けられた入出力点の入力点６０〜６３，８０〜８３から、出力点６９〜７１，８９〜９１に向かって信号線を辿りながら演算素子を比較していく。ロジック図面ＬＧ１（図５）と、ロジック図面ＬＧ２（図９）との当該比較においては演算素子の種類等に差異点がないことから、演算素子の差分は検出されずに、当該出力点に辿りつく。

ステップＳ２０４において、ロジック図面比較部８は、演算素子の比較結果から、二つのロジック図面ＬＧ１，ＬＧ２の二種類の差分情報（ここでは制御ロジック及び信号名称の差分情報）を抽出する。

二種類の差分情報のうちの制御ロジックの差分情報に関しては、ロジック図面比較部８は、ステップＳ２０３で対応付けられた演算素子以外の演算素子を制御ロジックの差分情報として検出する。ロジック図面比較部８が、図５に示されるロジック図面ＬＧ１と図９に示されるロジック図面ＬＧ２とに対してこの検出を行った場合には、これらのロジック図面にはステップＳ２０３で対応付けられた演算素子しか存在しないから、制御ロジックの差分情報は検出されない。なお、制御ロジックに差分がある場合については、実施の形態２について説明する。

二種類の差分情報のうちの信号名称の差分情報に関しては、ロジック図面比較部８は、ステップＳ２０３で対応付けられた演算素子同士の信号名称の差分情報を検出する。ロジック図面比較部８が、図５に示されるロジック図面ＬＧ１と図９に示されるロジック図面ＬＧ２に対してこの検出を行った場合には、ロジック図面ＬＧ１での信号名称「０１Ａ」、「０１Ｂ」、「０１Ｃ」、「０１Ｅ」、「０１Ｆ」、「０１Ｇ」と、ロジック図面ＬＧ２での信号名称「０２Ａ」、「０２Ｂ」、「０２Ｃ」、「０２Ｅ」、「０２Ｆ」、「０２Ｇ」とが、信号名称の差分情報として検出される。

ステップＳ２０５において、試験テーブル解析部１０は、類似機器検索部１３で特定された類似機器「Ｖ−００４」の試験テーブルＴＢ１（図６）を、入力用試験テーブル格納装置９から取得する。

図１０は、試験テーブル差分反映部１１が、ステップＳ２０６を行うことにより生成する対象機器「Ｖ−００５」の試験テーブルＴＢ２を示す図である。ステップＳ２０６において、試験テーブル差分反映部１１は、試験テーブル解析部１０が取得した試験テーブルＴＢ１に対して、ステップＳ２０４で取得した差分情報（信号名称の差分情報）の反映を行うことにより、図１０に示される試験テーブルＴＢ２を生成する。具体的には、試験テーブル差分反映部１１は、当該取得した試験テーブルＴＢ１における信号名称「０１Ａ」、「０１Ｂ」、「０１Ｃ」、「０１Ｅ」、「０１Ｆ」、「０１Ｇ」を、信号名称「０２Ａ」、「０２Ｂ」、「０２Ｃ」、「０２Ｅ」、「０２Ｆ」、「０２Ｇ」にそれぞれ書き換える。

以上により、試験テーブル差分反映部１１は、対象機器「Ｖ−００５」の試験テーブルＴＢ２を生成する。そして、試験テーブル差分反映部１１は、生成した試験テーブルＴＢ２を出力用試験テーブル格納装置１２に格納する。

以上のような本実施の形態に係る試験テーブル生成装置及びその方法によれば、対象機器と同じ機器特性を有する類似機器を特定し、特定した類似機器の試験テーブルＴＢ１を雛型として、対象機器の試験テーブルＴＢ２を自動生成する。したがって、所望の機器の試験テーブルを作成・用意しなくても、当該試験テーブルを自動的に生成することができることから、その分の作業の手間及び時間を省くことができる。

また、従来の試験テーブル生成装置と比較すると、従来の試験テーブル生成装置においては、対象機器のロジック図面と雛型のロジック図面とが完全にマッチングした場合にしか試験テーブルの生成をすることができないことから、試験テーブルの生成効率が悪いという問題があった。それに対し、本実施の形態に係る試験テーブル生成装置及びその方法によれば、対象機器のロジック図面ＬＧ２と類似機器のロジック図面ＬＧ１との差分を反映して対象機器の試験テーブルＴＢ２を生成する。したがって、ロジック図面が完全に一致していなくても、対象機器の試験テーブルＴＢ２を生成することができることから、使い勝手の良い試験テーブル生成装置及びその方法を提供することができる。

また、本実施の形態に係る試験テーブル生成装置及びその方法によれば、ロジック図面解析部７が、対象機器のロジック図面ＬＧ２と類似機器のロジック図面ＬＧ１との入出力点の対応付けを行い、ロジック図面比較部８が、対応付けられた入出力点の一方の点（入力点）から他方の点（出力点）に向かって信号線を辿りながらこれら図面を比較することによって差分情報を抽出する。したがって、多様な接続パターンからなるロジック図面から、差分情報を精度よく抽出することができる。なお、以上の説明では、ロジック図面比較部８は、入力点から出力点に向かって信号線を辿りながら差分情報を抽出したが、これに限ったものではなく、出力点から入力点に向かって信号線を辿りながら差分情報を抽出するものであってもよい。

また、本実施の形態に係る試験テーブル生成装置及びその方法によれば、上流図書解析部３が、監視制御システム５４の機器５１同士の間の相互接続関係を図示した系統図面ＤＣ１を解析し、機器特性取得部４が、その解析結果に基づいて対象機器の機器特性を取得する。したがって、精度の高い類似機器の特定が可能となり、より適切な試験テーブルの生成を行うことができる。

また、本実施の形態に係る試験テーブル生成装置及びその方法によれば、上流図書解析部３が、機器種類及び制御種類を解析し、機器特性取得部４が、その解析結果に基づいて対象機器の特性を取得する。したがって、精度の高い類似機器の特定が可能となり、より適切な試験テーブルの生成を行うことができる。

なお、以上の説明においては、本実施の形態に係る試験テーブル生成装置が機器「Ｖ−００５」の試験テーブルを生成する動作について説明したが、それ以外の機器５１についても機器「Ｖ−００５」と同様に動作することにより、当該機器５１についても試験テーブルを生成することができる。

また、本実施の形態においては、図９のようなごく簡単なロジック図面に係る試験テーブル生成について説明を行ったが、このような単純なケースに限定されるものではない。例えば、モジュール５０内での動作が大規模になると、一枚のロジック図面に挙動を記述することが困難になり、複数の図面によって表現されることが多い。そのとき、各図面中においては、一の図面から他の図面への信号をシンボルで表すなどして接続関係を格納して置き、複数の図面にまたがってロジック図面間の比較を行えばよい。

また、本実施の形態においては、機器特性は、機器仕様リストＤＣ２（機器種類及び制御種類）及び系統図面ＤＣ１であるものとして説明した。しかし、機器特性は、機器種類及び制御種類のみであってもよく、あるいは、機器特性は、系統図面ＤＣ１のみであってもよい。この場合、本実施の形態に説明した場合よりも類似機器の類似精度は低くなるが、試験テーブルを生成する可能性を高めることができる。

また、機器特性は、機器種類、制御種類及び系統図面ＤＣ１の３種類に限ったものではない。また、機器特性が系統図面ＤＣ１や機器仕様リストＤＣ２以外の図書から取得される必要がある場合には、該当する図書を解析するための上流図書解析部３を用いれば、上述と同様に機器特性を取得することができる。

＜実施の形態２＞
本実施の形態２では、実施の形態１のステップＳ２０４において、対象機器のロジック図面と類似機器のロジック図面との間に制御ロジックの差分がある場合の試験テーブル生成装置の動作及びその方法について説明する。なお、以下の説明においては、実施の形態１と同様に、機器集合入力部１において機器「Ｖ−００５」が指定され、類似機器検索部１３において機器「Ｖ−００４」が特定されたものとする。

なお、本実施の形態に係る対象機器「Ｖ−００５」のロジック図面は、図１１に示されるロジック図面ＬＧ３であるものとする。図１１に示されるロジック図面ＬＧ３は、ロジック図面ＬＧ１（図５）及びロジック図ＬＧ２（図９）のそれぞれと、左側の部分の制御ロジックが異なっている。この場合に、試験テーブル生成装置の試験テーブル生成部１４は、実施の形態１で説明した動作とは少し異なる動作を行う。

図１２は、対象機器のロジック図面が、類似機器のロジック図面と異なる場合の、試験テーブル生成装置（試験テーブル生成部１４）の動作を示すフローチャートである。ステップＳ２０１〜Ｓ２０６においては、実施の形態１と実質的には同様の動作が行われ、本実施の形態ではステップＳ２０７が追加されている点が実施の形態１と大きく異なる点である。

ステップＳ２０１において、ロジック図面解析部７は、機器集合入力部１で指定された対象機器「Ｖ−００５」のロジック図面ＬＧ３と、類似機器検索部１３で特定された類似機器「Ｖ−００４」のロジック図面ＬＧ１とを、ロジック図面格納装置６から取得する。

ステップＳ２０２において、ロジック図面解析部７は、二つのロジック図面ＬＧ１，ＬＧ３の入出力点の対応付けを行う。ここでは、ロジック図面解析部７は、操作器７５，１１５と入力点６１〜６３，１０１〜１０３との接続関係に基づいて、ロジック図面ＬＧ１の入力点６１（「０１Ａ」）、入力点６２（「０１Ｂ」）及び入力点６３（「０１Ｃ」）と、ロジック図面ＬＧ３の入力点１０１（「０２Ａ」）、入力点１０２（「０２Ｂ」）及び入力点１０３（「０２Ｃ」）とをそれぞれ対応付ける。

ロジック図面解析部７は、機器制御回路７９，１１９と出力点６９〜７１，１０９〜１１１との接続関係に基づいて、ロジック図面ＬＧ１の出力点６９（「０１Ｅ」）、出力点７０（「０１Ｆ」）及び出力点７１（「０１Ｇ」）と、ロジック図面ＬＧ３の出力点１０９（「０２Ｅ」）、出力点１１０（「０２Ｆ」）及び出力点１１１（「０２Ｇ」）とをそれぞれ対応付ける。

ステップＳ２０３において、ロジック図面比較部８は、対応付けられた入出力点の入力点６０〜６３，１００〜１０３から、出力点６９〜７１，１０９〜１１１に向かって信号線を辿りながら演算素子を比較していく。ロジック図面ＬＧ１（図５）と、ロジック図面ＬＧ３（図１１）との当該比較においては演算素子の種類等に差異点がないことから、演算素子の差分は検出されずに、当該出力点に辿りつく。

ステップＳ２０４において、ロジック図面比較部８は、演算素子の比較結果から、二つのロジック図面ＬＧ１，ＬＧ２の二種類の差分情報（ここでは制御ロジック及び信号名称の差分情報）を抽出する。

二種類の差分情報のうちの制御ロジックの差分情報に関しては、ロジック図面比較部８は、ステップＳ２０３で対応付けられた演算素子以外の演算素子を制御ロジックの差分情報として検出する。ロジック図面比較部８が、二つのロジック図面ＬＧ１，ＬＧ３に対してこの検出を行った場合には、ロジック図面ＬＧ１（図５）における入力点６０（「０１Ｄ」）と、ロジック図面ＬＧ３（図１１）における入力点１００（「０１Ｄ」），１２０（「０１Ｋ」）、否定素子１２１、及び、論理積素子１２２の組合せとが対応して異なっているという情報と、ロジック部面ＬＧ３（図１１）において出力点１２３（「０２Ｈ」）が加わっている情報とが制御ロジックの差分情報として検出される。

二種類の差分情報のうちの信号名称の差分情報に関しては、ロジック図面比較部８は、ステップＳ２０３で対応付けられた演算素子同士の信号名称の差分情報を検出する。ロジック図面比較部８が、図５に示されるロジック図面ＬＧ１と図１１に示されるロジック図面ＬＧ３に対してこの検出を行った場合には、ロジック図面ＬＧ１での信号名称「０１Ａ」、「０１Ｂ」、「０１Ｃ」、「０１Ｅ」、「０１Ｆ」、「０１Ｇ」と、ロジック図面ＬＧ２での信号名称「０２Ａ」、「０２Ｂ」、「０２Ｃ」、「０２Ｅ」、「０２Ｆ」、「０２Ｇ」とを、信号名称の差分情報として検出する。

ステップＳ２０５において、試験テーブル解析部１０は、類似機器検索部１３で特定された類似機器「Ｖ−００４」の試験テーブルＴＢ１（図６）を、入力用試験テーブル格納装置９から取得する。

図１３は、試験テーブル差分反映部１１が、ステップＳ２０６及びＳ２０７を行うことにより生成する対象機器「Ｖ−００５」の試験テーブルＴＢ３を示す図である。

ステップＳ２０６において、試験テーブル差分反映部１１は、試験テーブル解析部１０が取得した試験テーブルＴＢ１に対して、ステップＳ２０４で取得した差分情報（信号名称の差分情報）の反映を行う。具体的には、試験テーブル差分反映部１１は、当該取得した試験テーブルＴＢ１における信号名称「０１Ａ」、「０１Ｂ」、「０１Ｃ」、「０１Ｅ」、「０１Ｆ」、「０１Ｇ」を、信号名称「０２Ａ」、「０２Ｂ」、「０２Ｃ」、「０２Ｅ」、「０２Ｆ」、「０２Ｇ」にそれぞれ書き換える。

ステップＳ２０７において、試験テーブル差分反映部１１は、信号名称が書き換えられた試験テーブルＴＢ１に対して、ステップＳ２０４で取得した差分情報（制御ロジックの差分情報）の反映を行う。

具体的には、ロジック図面ＬＧ１における入力点６０「０１Ｄ」と、ロジック図面ＬＧ３における入力点１００（「０１Ｄ」），１２０（「０１Ｋ」）、否定素子１２１、及び、論理積素子１２２の組合せとが対応しているため、試験テーブル差分反映部１１は、信号名称が書き換えられた試験テーブルにおいて、「入力点」の部分に「０１Ｋ」の列を追加する。そして、試験テーブル差分反映部１１は、当該試験テーブルにおいて、入力点１００「０１Ｄ」の設定値が「０」である場合には、入力点１００「０１Ｄ」の設定値を「０」にし、かつ、入力点１２０「０１Ｋ」の設定値を「０」にする。一方、試験テーブル差分反映部１１は、試験テーブルにおいて、入力点１００「０１Ｄ」の設定値が「１」である場合には、入力点１００「０１Ｄ」の設定値を「０」にし、かつ、入力点１２０「０１Ｋ」の設定値を「１」にする。

また、試験テーブル差分反映部１１は、試験テーブルの「試験項目」についても上記差分情報を反映する。具体的には、試験テーブル差分反映部１１は、以上の変更が行われた試験テーブルの４行目を「０１ＤをＯＮ」から「０１ＫをＯＮ」へ変更し、同試験テーブルの９行目を「０１ＤをＯＦＦ」から「０１ＫをＯＦＦ」へ変更する。さらに、試験テーブル差分反映部１１は、以上の変更が行われた試験テーブルにおいて、「出力点」の部分に「０２Ｈ」の列を追加し、当該列に出力点１０９（「０２Ｅ」）の列の確認値をそのまま書き込む。

以上により、試験テーブル差分反映部１１は、対象機器「Ｖ−００５」の試験テーブルＴＢ３を生成する。そして、試験テーブル差分反映部１１は、生成した試験テーブルＴＢ３を出力用試験テーブル格納装置１２に格納する。

＜実施の形態３＞
図１４は本発明の実施の形態３に係る試験テーブル生成装置の構成を示す図である。なお、本実施の形態に係る試験テーブル生成装置等においては、実施の形態１と同様の構成要素については同じ符号を付すものとし、これらと異なる部分を中心に説明する。図１４に示されるように、本実施の形態に係る試験テーブル生成装置は、実施の形態１に係る試験テーブル生成装置に、試験テーブル有無判定部２０と、表示操作部２１と、試験テーブル追加登録部２２とを備える。表示操作部２１は、外部に対して文字・画像等を表示する表示部としての機能を有するとともに、新規の試験テーブルの登録操作を受け付ける操作部としての機能を有するものである。この表示操作部２１には、例えば、タッチパネルが用いられる。

機器集合入力部１での対象機器を指定する操作から、類似機器検索部１３による類似機器の特定までの動作は、実施の形態１と同様である。試験テーブル有無判定部２０は、類似機器検索部１３が特定した類似機器の試験テーブルが、入力用試験テーブル格納装置９に格納されているかどうかを判定する。つまり、試験テーブル有無判定部２０は、機器特性マッチング部５で特定された類似機器の試験テーブルが、所定の複数の試験テーブルの中に存在するか否かを判定する。

試験テーブル有無判定部２０により、類似機器の試験テーブルが存在すると判定された場合には、試験テーブル生成装置（試験テーブル生成部１４）による以降の試験テーブル生成動作は、実施の形態１と同様である。

試験テーブル有無判定部２０により、類似機器の試験テーブルが存在しないと判定された場合には、表示操作部２１は、類似機器の試験テーブルが存在しない旨を表示して通知する。この場合、つまり、類似機器の試験テーブルが入力用試験テーブル格納装置９内に存在しない場合には、対象機器の試験テーブルの自動生成を行うことができないため、試験テーブルは手作業で作成される。

対象機器の試験テーブルが外部操作により新規に作成された後、表示操作部２１が操作されると、当該試験テーブルの登録が試験テーブル追加登録部２２に指示される。なお、外部操作により作成された当該試験テーブルを、以下「作成試験テーブル」と呼ぶこともある。表示操作部２１における作成試験テーブルの登録指示を受けて、試験テーブル追加登録部２２は、当該作成試験テーブルを、所定の複数の試験テーブルの一つとして入力用試験テーブル格納装置９に追加登録する。

以上のような本実施の形態に係る試験テーブル生成装置によれば、自身に類似機器の試験テーブルが存在しない場合には、作成試験テーブルを追加登録することになり、その後、追加登録された作成試験テーブルは、類似機器の試験テーブルとして用いられることになる。したがって、類似機器の試験テーブルの種類を増やすことができるので、その後に対象機器の試験テーブルを生成する可能性を高めることができる。

１ 機器集合入力部、３ 上流図書解析部、４ 機器特性取得部、５ 機器特性マッチング部、７ ロジック図面解析部、８ ロジック図面比較部、１０ 試験テーブル解析部、１１ 試験テーブル差分反映部、１４ 試験テーブル生成部、２０ 試験テーブル有無判定部、２２ 試験テーブル追加登録部、６０〜６３，８０〜８３，１００〜１０３ 入力点、６９〜７１，８９〜９１，１０９〜１１１ 出力点、ＤＣ１ 系統図面。

Claims (7)

1. 監視制御システムの機器における監視制御の内容を表すロジック図面の試験において、当該ロジック図面の合否を判断するための入力値と出力値との対応表である試験テーブルを生成する試験テーブル生成装置であって、
   前記機器の中から、前記試験テーブルを生成する対象とすべき対象機器を指定する機器集合入力部と、
   前記機器に関する情報たる上流図書の中から、前記対象機器に関する前記上流図書を取得し、当該上流図書を解析する上流図書解析部と、
   前記上流図書解析部の解析結果に基づいて、前記対象機器の機器特性を取得する機器特性取得部と、
   前記機器特性取得部で取得された前記対象機器の機器特性についてマッチングを行い、当該対象機器と同じ機器特性を有する類似機器を特定する機器特性マッチング部と、
   前記類似機器の前記試験テーブルを取得し、当該試験テーブルに基づいて前記対象機器の前記試験テーブルを生成する試験テーブル生成部と
   を備える、試験テーブル生成装置。
2. 請求項１に記載の試験テーブル生成装置であって、
   前記試験テーブル生成部は、
   前記機器のロジック図面の中から、前記類似機器のロジック図面と前記対象機器のロジック図面とを取得して、これらのロジック図面を解析するロジック図面解析部と、
   前記ロジック図面解析部の解析結果に基づいて、前記類似機器のロジック図面と前記対象機器のロジック図面との間の差分情報を抽出するロジック図面比較部と、
   前記機器特性マッチング部で特定された前記類似機器の前記試験テーブルを、所定の複数の前記試験テーブルの中から取得する試験テーブル解析部と、
   前記試験テーブル解析部で取得した前記試験テーブルに前記差分情報を反映して、前記対象機器の前記試験テーブルを生成する試験テーブル差分反映部と
   を備える、試験テーブル生成装置。
3. 請求項２に記載の試験テーブル生成装置であって、
   前記ロジック図面解析部は、
   前記類似機器のロジック図面に表される当該類似機器の入出力点と、前記対象機器のロジック図面に表される当該対象機器の入出力点との対応付けを行い、
   前記ロジック図面比較部は、
   対応付けられた入出力点の一方の点から他方の点に向かって信号線を辿りながら、これらロジック図面を比較することによって前記差分情報を抽出する、試験テーブル生成装置。
4. 請求項１乃至請求項３のいずれかに記載の試験テーブル生成装置であって、
   前記機器特性マッチング部で特定された前記類似機器の前記試験テーブルが、前記所定の複数の試験テーブルの中に存在するか否かを判定する試験テーブル有無判定部と、
   外部操作により作成された作成試験テーブルを、前記所定の複数の試験テーブルの一つとして追加登録する試験テーブル追加登録部と
   をさらに備え、
   前記試験テーブル有無判定部において前記類似機器の前記試験テーブルが存在しないと判定された場合には、前記試験テーブル追加登録部が前記作成試験テーブルを前記所定の複数の試験テーブルに追加登録する、試験テーブル生成装置。
5. 請求項１乃至請求項４のいずれかに記載の試験テーブル生成装置であって、
   前記上流図書は、
   前記監視制御システムの前記機器同士の間の相互接続関係を図示した系統図面を含み、
   前記上流図書解析部は前記系統図面を解析する、試験テーブル生成装置。
6. 請求項１乃至請求項５のいずれかに記載の試験テーブル生成装置であって、
   前記上流図書は、
   前記監視制御システムの前記機器の種類を示す機器種類と、前記機器を制御する方法を示す制御種類とを含み、
   前記上流図書解析部は前記機器種類及び前記制御種類を解析する、試験テーブル生成装置。
7. 監視制御システムの機器における監視制御の内容を表すロジック図面の試験において、当該ロジック図面の合否を判断するための入力値と出力値との対応表である試験テーブルを生成する試験テーブル生成方法であって、
   （ａ）前記機器の中から、前記試験テーブルを生成する対象とすべき対象機器を指定する工程と、
   （ｂ）前記機器に関する情報たる上流図書の中から、前記対象機器に関する前記上流図書を取得し、当該上流図書を解析する工程と、
   （ｃ）前記工程（ｂ）での解析結果に基づいて、前記対象機器の機器特性を取得する工程と、
   （ｄ）前記工程（ｃ）で取得された前記対象機器の機器特性についてマッチングを行い、当該対象機器と同じ機器特性を有する類似機器を特定する工程と、
   （ｅ）前記類似機器の前記試験テーブルを取得し、当該試験テーブルに基づいて前記対象機器の前記試験テーブルを生成する工程と
   を備える、試験テーブル生成方法。

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