JP2012112907A5 - - Google Patents

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JP6332166B2 (ja) * 2014-03-20 2018-05-30 富士ゼロックス株式会社 光学活性物質の濃度算出システム及びプログラム
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CN113884466A (zh) * 2021-08-30 2022-01-04 清华大学深圳国际研究生院 基于弱测量的表面折射率成像传感器及其测量方法

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3014633B2 (ja) * 1995-11-16 2000-02-28 松下電器産業株式会社 尿検査方法
JP2008070184A (ja) * 2006-09-13 2008-03-27 Citizen Holdings Co Ltd 濃度測定装置
US20120071738A1 (en) * 2009-03-04 2012-03-22 Global Hero Systems, Inc. Methodology and equipment of optical rotation measurements

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