JP2012094246A - メモリ試験装置及びメモリ試験方法 - Google Patents
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Abstract
【課題】本発明は、半導体メモリデバイスを試験するメモリ試験装置に関し、シリアル・メモリデバイスのメモリ試験を簡単な構成で確実に実施できるようにする。
【解決手段】被試験デバイスのシリアルデータ入力ピンに与えるためのコマンドおよびデータと、それらに対応付けられるアドレスのアドレス発生指示を含む試験情報を設定する試験情報設定部10と、その試験情報に基づきアドレス発生指示に対応付けたコマンドとデータを発生する実行制御部11と、実行制御部11からのアドレス発生指示に基づき前記入力ピンに与えるためのアドレスを生成する試験アドレス生成部12と、そのアドレスと実行制御部11からのコマンドとデータを対応付け合成してアドレス単位の試験データを生成する試験データ合成部13と、生成された試験データのコマンド、アドレスおよびデータ各々の多ビット構成データを共通のシフト演算構成によってシリアルデータ化して前記入力ピンに与えるシリアルデータ演算生成手段14とを備える。
【選択図】図1
【解決手段】被試験デバイスのシリアルデータ入力ピンに与えるためのコマンドおよびデータと、それらに対応付けられるアドレスのアドレス発生指示を含む試験情報を設定する試験情報設定部10と、その試験情報に基づきアドレス発生指示に対応付けたコマンドとデータを発生する実行制御部11と、実行制御部11からのアドレス発生指示に基づき前記入力ピンに与えるためのアドレスを生成する試験アドレス生成部12と、そのアドレスと実行制御部11からのコマンドとデータを対応付け合成してアドレス単位の試験データを生成する試験データ合成部13と、生成された試験データのコマンド、アドレスおよびデータ各々の多ビット構成データを共通のシフト演算構成によってシリアルデータ化して前記入力ピンに与えるシリアルデータ演算生成手段14とを備える。
【選択図】図1
Description
本発明は、半導体メモリデバイスを試験するメモリ試験装置に関し、特にシリアル・メモリデバイスを試験する技術に関する。
近年、携帯電話機等の民生機器やパーソナルコンピュータ(以降、パソコンと称す)などでは、多ビットのパラレルデータで入出力が行えるパラレル・メモリデバイスのパラレル・フラッシュメモリに代わって、周辺回路が簡素化できることで製品のコスト低減や小型化が可能となることから、1ビットのシリアルデータで入出力が行えるシリアル・メモリデバイスのシリアル・フラッシュメモリが多く使用されるようになり、その需要が急激に増加してきている。そのため、その急激な需要のシリアル・フラッシュメモリ部品の試験に応えられるとともに、設備投資費の低減にも応えられるメモリ試験設備の実現が望まれている。
そこで従来では、パラレル・フラッシュメモリを試験するメモリ試験装置内に元々備えているパラレル・フラッシュメモリ試験のための機能を活用し、パラレル・フラッシュメモリの試験時でも生成され、パラレルデータの1つでもある自動にて順次増加して発生されるアドレスと、そのアドレスに対応付けられたコマンドおよびデータとによるアドレス単位のパラレルデータ一式を、コマンドおよびアドレス、データごとにそれぞれビットシフトさせて所定の並び(例えば、MSBからLSBの順)のシリアル(1ビット)データへ変換するとともに、シリアルデータに変換されたそれらアドレス、コマンドおよびデータの各単位を所定の並び(例えば、コマンド、アドレス、データの順)としたシリアルデータをシリアル・フラッシュメモリのシリアルデータ入力ピンへ与えて、所定の電気的特性試験を行っていた。(例えば、非特許文献1参照)。
ミナトエレクトロニクス株式会社製 ユニバーサル プログラマ MODEL 1881UXP
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しかしながら、従来の技術は、パラレル・フラッシュメモリを試験するための機能を活用してのシリアルデータ化のために、アドレスを1つずつ順次増加させて行うMSCAN(Memory Scan)のようなメモリ試験を自動にて実施させることは可能であるが、アドレスの繰返しやスキップなどを伴う所定のMARCH試験やMASEST試験を自動にて実施させることができないことから、自動ではシリアル・フラッシュメモリはパラレル・フラッシュメモリと同等の電気的特性試験が行えないという問題がある。勿論、手動による試験データの作成によって、MARCH試験やMASEST試験を実施させることは可能であるが、そのために多大な作業工数を伴うという問題がある。
また、パラレルデータからシリアルデータへの変換は、コマンド、アドレスおよびデータを各々独立してビットシフトすることで行っているためその構成が大きく、しかもそれらコマンド、アドレスおよびデータをビット構成するビット幅値への変更対応の融通性が低いという問題がある。
そこで本発明は、シリアル・メモリデバイスのメモリ試験を簡単な構成で確実に実施できるようにすることを課題とする。
第1の発明のシリアル・メモリデバイス(例えば、シリアル・フラッシュメモリ)を試験するメモリ試験装置は、前記シリアル・メモリデバイスのシリアルデータ入力ピンに与えるためのコマンドおよびデータと、それらに対応付けられるアドレスのアドレス発生指示を含む試験情報を設定する試験情報設定手段と、設定された前記試験情報に基づいて、前記アドレス発生指示に対応付けたコマンドおよびデータを発生する実行制御手段と、該実行制御手段からの前記アドレス発生指示に基づいて、前記シリアルデータ入力ピンに与えるためのアドレスを生成する試験アドレス生成手段と、該試験アドレス生成手段で生成されたアドレスと前記実行制御手段からのコマンドおよびデータとをそれぞれ対応付けて合成し、アドレス単位の試験データを生成する試験データ合成手段と、該試験データ合成手段で生成された前記試験データのコマンド、アドレスおよびデータそれぞれの多ビット構成データを共通のシフト演算構成によって所定のシリアルデータに変換して前記シリアルデータ入力ピンに与えるシリアルデータ演算生成手段とを備える構成とする。
第2の発明のメモリ試験装置は、前記第1の発明のメモリ試験装置において、前記シリアルデータ演算生成手段は、コマンド、アドレスおよびデータそれぞれのビット構成の各ビット幅値を前記実行制御手段から取得して格納するビット幅格納手段と、前記試験データ合成手段からの前記試験データからコマンド、アドレスまたはデータのいずれかの領域を選択してその領域データを得るデータ領域選択手段と、該データ領域選択手段で選択された前記領域データと、前記ビット幅格納手段からの前記ビット幅値とを用いてビット左シフト演算により演算結果を得る第1のシフト演算手段と、前記データ領域選択手段で選択された同一の前記領域データと、前記ビット幅格納手段からの前記ビット幅値とを用いて前記第1のシフト演算手段によるシフト数以上のビットシフトが求められるビット左シフト演算により演算結果を得る少なくとも1つの第2のシフト演算手段と、前記第1のシフト演算手段からの演算結果を格納する第1の演算結果格納手段と、前記第2のシフト演算手段からの演算結果を格納する第2の演算結果格納手段と、前記第1の演算結果格納手段および前記第2の演算結果格納手段それぞれに格納された前記演算結果の最上位ビットを前記第1の演算結果格納手段から順次選択しながら読み出してシリアルデータ化し、該シリアルデータを前記シリアルデータ入力ピンに与えるビット選択手段とを有する構成である。
第3の発明のメモリ試験装置は、前記第2の発明のメモリ試験装置において、前記第1のシフト演算手段は、前記領域データ自身を前記演算結果とし、前記第2のシフト演算手段は、前記ビット幅値から1ビット分を減じた値を超えない範囲内でのシフトすべきビット数値と十進数値での「2」とを乗算した乗算結果値と、前記領域データの値とを二進数乗算して前記演算結果を得る構成である。
第4の発明のメモリ試験装置は、前記第1の発明のメモリ試験装置において、前記試験アドレス生成手段は、前記実行制御手段からの前記アドレス発生指示に基づいて生成されたアドレスをビット反転させるアドレス反転手段を更に有する構成である。
前記第1および第2の発明によれば、試験情報設定手段に設定された試験情報に基づいてコマンド、アドレスおよびデータが生成され、試験データ合成手段にてそれらが相互に対応付けられてアドレス単位の試験データとされ、試験データ内のコマンド、アドレスおよびデータのそれぞれのシリアルデータへの変換が、それぞれ異なる個別の変換手段を必要とせず、それぞれに共通な1つのシフト演算構成にて行える。
また、前記第3の発明によれば、シフト演算手段は、コマンド、アドレスおよびデータそれぞれのビット幅値から1ビット分を減じた値を超えない範囲内でのシフトすべきビット数値と十進数値での「2」(1ビット左シフトのための値)とを乗算した乗算結果値と、対応するコマンド、アドレスおよびデータの領域データの値とを二進数乗算して演算結果を得るようにしたことから、コマンド、アドレスおよびデータそれぞれのビット幅値の変化に対して柔軟に対応できる。
更に、前記第4の発明によれば、アドレス反転手段はアドレスの全ビットを一斉にビット反転できるため、MASEST試験で必要とされる隣り合ったアドレスの組合せ、例えば十進数でのアドレス0と15、1と14、2と13などが、前者アドレスのビット反転により後者アドレスが容易に得られる。
本発明によれば、試験情報設定手段に設定された試験情報に基づいてコマンド、アドレスおよびデータが生成され、シリアルデータ演算生成手段によってそれらコマンド、アドレスおよびデータのそれぞれのシリアルデータへの変換がそれぞれに共通な1つのシフト演算構成にて行えることから、シリアル・メモリデバイスのメモリ試験を簡単な構成で確実に実施できるようになる。
また、シリアルデータ演算生成手段ではシフト演算構成によって、コマンド、アドレスおよびデータの各データとそれらのビット幅値とによりシリアルデータへ変換しているために例えばソフトウェア・プログラム対応なども容易なことから、将来のシリアル・メモリデバイスのコマンド、アドレスおよびデータそれぞれのビット幅値の変化に対して柔軟に対応できるようになる。
以上のことは、メモリ試験装置のための設備投資費の低減にも繋がることである。
(実施例1)
以下、本発明の実施の形態について、図面を参照しながら説明する。
図1は、本発明の実施例のメモリ試験装置の構成を示す図である。
以下、本発明の実施の形態について、図面を参照しながら説明する。
図1は、本発明の実施例のメモリ試験装置の構成を示す図である。
図1において、メモリ試験装置1は、シリアル・フラッシュメモリなどのシリアル・メモリデバイス2のための所定の電気的特性試験であるメモリ試験を行うものである。ここではシリアル・メモリデバイス2は、シリアル・フラッシュメモリとして説明する。
試験情報設定部10は、シリアル・メモリデバイス2のシリアルデータ入力ピン(SI入力ピンのことであり、以下、SI入力ピンと称す)に与えるためのコマンド(例えば、READ、WRITEコマンドなど)およびデータ(入力データだけでなく、出力データも含む)と、それらに対応付けられるシリアル・メモリデバイス2のためのアドレスのアドレス発生指示を含む試験情報が設定される。
前記アドレス発生指示は、直接的なアドレス値指定に限らず、プログラム的指定(例えば、或るアドレス値から+1のインクリメントなど)であっても良い。また、ここでの試験情報には、SI入力ピンに与えられるコマンド、アドレスおよびデータのそれぞれの構成ビット数である各ビット幅も含む。その場合、各ビット幅は直接的な数値設定(例えば、8ビット幅)であっても、間接的なシリアル・メモリデバイス2の部品仕様(部品型名など)の設定に基づくビット幅変換による設定であっても構わない。
実行制御部11は、試験情報設定部10に設定された前記試験情報に基づいて、前記アドレス発生指示に対応付けたコマンドおよびデータを発生する。更に、それらに対応する前記各ビット幅も発生する。
試験アドレス生成部12は、実行制御部11からの前記アドレス発生指示に基づいて、SI入力ピンに与えるためのアドレスを生成する。
試験アドレス生成部12には、実行制御部11からの前記アドレス発生指示に基づいて生成されたアドレスをビット反転させるアドレス反転部を更に有しても良い。
試験アドレス生成部12には、実行制御部11からの前記アドレス発生指示に基づいて生成されたアドレスをビット反転させるアドレス反転部を更に有しても良い。
試験データ合成部13は、試験アドレス生成部12で生成されたアドレスと実行制御部11からのコマンドおよびデータとをそれぞれ対応付けて、コマンド、アドレスおよびデータを含む1つのデータ形態に合成し、シリアル・メモリデバイス2のアドレス単位の試験データを生成する。
シリアルデータ演算生成部14は、試験データ合成部13で生成された前記試験データのコマンド、アドレスおよびデータそれぞれの多ビット構成データを共通のシフト演算構成によって所定のシリアルデータに変換してSI入力ピンに与える。
シリアルデータ演算生成部14の具体的な構成であるビット幅格納部41は、コマンド、アドレスおよびデータそれぞれのビット構成の各ビット幅値を実行制御部11から取得して格納する。データ領域選択部42は、試験データ合成部13からの前記試験データからコマンド、アドレスまたはデータのいずれかの領域を選択してその領域データを得る。その際に各々のビット幅値を必要とする場合、ビット幅格納部41に格納されたビット幅値を用いれば良い。
第1のシフト演算部43aは、データ領域選択部42で選択された前記領域データとビット幅格納部41からの前記ビット幅値とを用いてビット左シフト演算により演算結果を得るとともに、第2のシフト演算手段43bでは、データ領域選択部42で選択された同一の前記領域データとビット幅格納部41からの前記ビット幅値とを用いて第1のシフト演算部43aによるシフト数以上のビットシフトが求められるビット左シフト演算により演算結果を得る。
具体的には第1のシフト演算部43aでは、前記領域データ自身を前記演算結果とし、一方、第2のシフト演算部43bでは、前記ビット幅値から1ビット分を減じた値を超えない範囲内でのシフトすべきビット数値と十進数での「2」(二進数値「0010」でも良い)とを乗算した結果である乗算結果値と、前記領域データの値とを、二進数乗算して前記演算結果を得る。
第1の演算結果格納部44aは第1のシフト演算部43aからの演算結果を格納し、また、第2の演算結果格納部44bは第2のシフト演算部43bからの演算結果を格納する。ビット選択部45は、第1の演算結果格納部44aおよび第2の演算結果格納部44bに格納された演算結果のそれぞれの最上位ビットを、第1の演算結果格納部44aから順次選択してシリアルデータ化し、このシリアルデータをSI入力ピンに与える。
次に、本発明の動作について、図面を参照しながら説明する。図2は、本発明のメモリ試験装置の動作を示すフローチャートであり、図3は、シリアルデータ演算生成部の実施例を説明する図である。また、図4は、試験アドレス生成部の実施例の構成を示す図である。
図2において、メモリ試験装置の操作者から試験情報設定部10に、シリアル・メモリデバイス2のメモリ試験のためのコマンド、データおよびアドレス発生指示などの一連の試験情報が設定される(S1)。設定された試験情報に基づいて、実行制御部11はそれぞれ相互に対応付けられたコマンド、データ、アドレス発生指示およびビット幅値などを発生する(S2)。発生されたアドレス発生指示に基づき試験アドレス生成部12はSI入力ピンに与える試験アドレスを生成し(S3)、その試験アドレスにコマンドとデータとを対応付けた試験データを試験データ合成部13で生成する(S4)。
次に、シリアルデータ演算生成部14におけるデータ領域選択部42では、試験データ内からコマンド領域データ(例えば、二進数「0010」)を選択する(S5)。選択されたそのコマンド領域データを、第1のシフト演算部43aでは、そのコマンド領域データ自身を演算結果(二進数「0010」)として得て(S6)、その演算結果を第1の演算結果格納部44aに格納し(S7)、一方、第2のシフト演算部43bでは、シフトすべきビット数値の1と十進数での「2」(二進数値「0010」でも良い)とを乗算した乗算結果値(十進数「2」)と、選択されたコマンド領域データとを、二進数乗算して演算結果(二進数「0100」)を得て(S8)、その演算結果を第2の演算結果格納部44bに格納する(S9)。なお、十進数での「2」を乗算させることは、ビット構成全体を1ビット左シフトさせるビット操作を行うことを意味する。
その後、ビット選択部45では、格納されたそれぞれの演算結果の最上位ビットを第1の演算結果格納部44a、第2の演算結果格納部44bの順にて順次選択しながら読み出してシリアルデータ化し、そのシリアルデータをシリアル・メモリデバイス2のSI入力ピンに与える(S10)。前記の選択順は、コマンド領域データの最上位ビットに最も近い演算結果格納部から最も低い演算結果格納部への順に等しい。なお、各演算結果格納部へ格納するビットは、演算結果の最上位ビットだけでも構わない。
次にデータ領域選択部42は、試験データ内からコマンド領域データ以外のアドレス領域データとデータ領域データを順次選択し、選択されたそれぞれのアドレス領域データとデータ領域データは、前述したコマンド領域データの動作と同様の動作によってシリアルデータ化され、SI入力ピンに与えられる。その動作としてはステップS5〜S10の動作に同等のため、図示と説明は省略する。なお、コマンド、アドレス、データの処理順は、シリアル・メモリデバイス2のSI入力ピンへのシリアルデータの入力仕様(通常は、コマンド、アドレス、データの順)に応じて決定することが好ましい。
以上は、或る試験アドレス1つについての動作説明であるが、上記一連の処理動作(少なくともステップS1を除く処理)を試験対象アドレス全てについて繰り返すことで、試験対象のシリアル・メモリデバイス2のメモリ試験が実施できる。
次に図3にて、シリアルデータ演算生成部14の動作を、4ビット(ビット幅値)で構成されるアドレス領域データを例として具体的に説明する。
なお、前述した説明に重複する部分については、説明を省略する。
なお、前述した説明に重複する部分については、説明を省略する。
図3において、シフト演算部A43aは第1のシフト演算部43aに相当し、またシフト演算部B43b1は第2のシフト演算部43bの1つに相当し、更にシフト演算部C43b2は第2のシフト演算部43bの次の1つに相当し、シフト演算部D43b3は第2のシフト演算部43bの更なる次の1つに相当するもので、これらシフト演算部の総数(この例では4構成)はビット幅値(この例では4ビット)に一致する。
シフト演算部Aでは前述したコマンド領域データの場合と同様に、データ領域選択部42で選択されたアドレス領域データ(例えば、二進数「1101」)自身を演算結果(二進数「1101」。同図中、AX=’1101として表示)として得て、またシフト演算部Bでも前述と同様に、シフトすべきビット数値の1と十進数値での「2」とを乗算した乗算結果値(十進数では「2」)と、前記選択された同一のアドレス領域データとを、二進数乗算して演算結果(二進数「1010」)を得る。
更にシフト演算部Cでは、シフトすべきビット数値の2と十進数値での「2」とを乗算した乗算結果値(十進数では「4」)と、選択された同一のアドレス領域データとを、二進数乗算して演算結果(二進数「0100」)を得て、またシフト演算部Dでは、シフトすべきビット数値の3と十進数値での「2」とを乗算した乗算結果値(十進数では「6」)と、選択された同一のアドレス領域データとを、二進数乗算して演算結果(二進数「1000」)を得ることで、全ての各演算結果を得る。
それら演算結果を、第1の演算結果格納部44aに相当する演算結果格納部A44a、更に第2の演算結果格納部44bの1つに相当する演算結果格納部B44b1、同じく第2の演算結果格納部44bの次の1つに相当する演算結果格納部C44b2、同じく第2の演算結果格納部44bの更なる次の1つに相当する演算結果格納部D44b3にそれぞれ格納する。
ビット選択部45では、格納されたそれぞれの演算結果の最上位ビットを演算結果格納部Aから演算結果格納部Dへの順にて順次選択しながら読み出してシリアルデータ化し、4ビットのシリアルデータをSI入力ピンに与える。
上述した例は4ビット構成の場合であるが、第2の演算結果格納部44bに相当する演算結果格納部を同様にして順次追加し、演算結果格納部ごとのシフトすべきビット数値を同様にして変化させることで、更なる多ビット構成にも容易に対応できる。
なお、上述したシフト演算部の説明は全てビット左シフトの場合で説明したが、同様の考え方でビット右シフトによっても同様のことが可能なことは言うまでもない。その場合、ビット選択部45では、格納されたそれぞれの演算結果の最下位ビットを演算結果格納部Dから演算結果格納部Aへの順にて順次選択しながら読み出してシリアルデータ化することとなる。
次に、本発明の試験アドレス生成部12の1実施例について、図4を参照しながら説明する。
図4において、試験アドレス生成部12内のXアドレス生成部121aは、シリアル・メモリデバイス2内のメモリセル部が2次元座標として捉えられるX座標アドレスとなるように生成し、一方、Yアドレス生成部121bは同様にしてY座標アドレスとなるように生成する。なお、XおよびY座標アドレスは、生成したアドレスビット全体を二等分して、例えばその上位側をX座標アドレスとし、下位側をY座標アドレスとすることでも構わない。
Xアドレス反転部122aは、実行制御部11からのアドレス発生指示(ここではアドレスビット反転指示)に応じてXアドレス生成部121aからのXアドレスをビット反転(例えば全ビットを一斉反転)させ、同様にYアドレス反転部122bは、Yアドレス生成部121bからのYアドレスをビット反転させる。
アドレス合成部123では、Xアドレス反転部122aからのXアドレスとYアドレス反転部122bからのYアドレスとを合成して、SI入力ピンに与えるための1つのアドレスにする。なお、XアドレスとYアドレスへの分離は、分離したアドレスならばそれらを個々に単純に順次+1(インクリメント指示)させることができるなど、試験アドレスの進め方や設定に容易性を持たせるためである。
上述した構成や一連の処理動作にて、図1の構成においてはシリアルデータ演算生成部14を除く構成、また図2のフローチャートにおいてはステップS5からS10を除く処理についてはパラレル・メモリデバイスのメモリ試験にも共通であるため、本発明の実施のメモリ試験装置は、シリアル・メモリデバイスとパラレル・メモリデバイスとに共通なものとしても使用できる。
1 メモリ試験装置
2 シリアル・メモリデバイス
10 試験情報設定部
11 実行制御部
12 試験アドレス生成部
13 試験データ合成部
14 シリアルデータ演算生成部
41 ビット幅格納部
42 データ領域選択部
43a 第1のシフト演算部
43b 第2のシフト演算部
44a 第1の演算結果格納部
44b 第2の演算結果格納部
45 ビット選択部
2 シリアル・メモリデバイス
10 試験情報設定部
11 実行制御部
12 試験アドレス生成部
13 試験データ合成部
14 シリアルデータ演算生成部
41 ビット幅格納部
42 データ領域選択部
43a 第1のシフト演算部
43b 第2のシフト演算部
44a 第1の演算結果格納部
44b 第2の演算結果格納部
45 ビット選択部
Claims (2)
- シリアル・メモリデバイスを試験するメモリ試験装置であって、
該シリアル・メモリデバイスのシリアルデータ入力ピンに与えるためのコマンドおよびデータと、該コマンドおよび該データに対応付けられるアドレスのアドレス発生指示を含む試験情報を設定する試験情報設定手段と、
設定された該試験情報に基づいて、該アドレス発生指示に対応付けたコマンドおよびデータを発生する実行制御手段と、
該アドレス発生指示に基づいて、該シリアルデータ入力ピンに与えるためのアドレスを生成する試験アドレス生成手段と、
該試験アドレス生成手段で生成された該アドレスと該実行制御手段からの該コマンドおよび該データとをそれぞれ対応付けて合成し、アドレス領域データ、コマンド領域データ、データ領域データを含む試験データを生成する試験データ合成手段と、
該コマンド、該アドレスおよび該データのそれぞれのビット幅値を取得して格納するビット幅格納手段と、
該試験データ合成手段で生成された該試験データに含まれるコマンド領域データ、アドレス領域データ、およびデータ領域データのずれかを選択するデータ領域選択手段と、
該データ領域選択手段が該コマンド領域データを選択した場合に、該コマンド領域データを構成するビット列から、シフト演算によりビットを操作して、該コマンド領域データのビット幅値に対応する数のビット列を生成し該コマンド領域データの演算結果として取得し、該データ領域選択手段が該アドレス領域データを選択した場合に、該アドレス領域データを構成するビット列から、シフト演算によりビットを操作して、該アドレス領域データのビット幅値に対応する数のビット列を生成し該アドレス領域データの演算結果として取得し、該データ領域選択手段が該データ領域データを選択した場合に、該データ領域データを構成するビット列から、シフト演算によりビットを操作して、該データ領域データのビット幅値に対応する数のビット列を生成し該データ領域データの演算結果として取得するシフト演算手段と、
該シフト演算手段が該コマンド領域データの演算結果として取得した場合に、該コマンド領域データのビット幅値に対応する数のビット列の値をそれぞれ記憶し、該シフト演算手段が該アドレス領域データの演算結果として取得した場合に、該アドレス領域データのビット幅値に対応する数のビット列の値をそれぞれ記憶し、該シフト演算手段が該データ領域データの演算結果として取得した場合に、該データ領域データのビット幅値に対応する数のビット列の値をそれぞれ記憶するように設けられた、それぞれのビット幅値の数に対応する数の演算結果格納手段と、
それぞれの該演算結果格納手段に記憶されたビット列のビットの値を選択しながら読み出してシリアルデータ化し、該シリアルデータを前記シリアルデータ入力ピンに与えるビット選択手段と、
を備えることを特徴とするメモリ試験装置。 - 該試験アドレス生成手段は、前記シリアル・メモリデバイス内のメモリセル部がX座標とY座標とからなる2次元座標のアドレスで特定される場合に、該アドレスのX座標を生成する第一アドレス生成手段と、該アドレスのY座標を生成する第二アドレス生成手段とを有し、該第一アドレス生成手段で生成された該アドレスのX座標および該第二アドレス生成手段で生成された該アドレスのY座標の値を個々に変更することを特徴とする請求項1に記載のメモリ試験装置。
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