JP2012085790A - 内視鏡装置 - Google Patents

Abstract

【課題】ビデオスコープ側、プロセッサ側の明るさ調整処理を協調的に動作処理させながら、被写体像の明るさを適正な明るさに維持する。
【解決手段】スコープ側明るさ調整処理として電子シャッタ速度調整、ゲイン処理が可能であり、プロセッサ側ゲイン処理として光量調整、ゲイン処理が可能な内視鏡装置において、観察状況に応じて電子シャッタ速度、あるいはスコープ側ゲイン処理のゲイン値を設定変更する。プロセッサにおいては、起動時に、電子シャッタ速度、ゲイン値の制御信号出力に関する遅延時間をフレーム単位で自動計測する。そして、観察中に明るさ調整処理を行う間、電子シャッタ速度調整に合わせてプロセッサ側ゲイン処理が実行される。
【選択図】図１

Description

本発明は、ビデオスコープ（電子内視鏡）によって器官内壁などの被写体を撮像し、観察画像をモニタに表示する内視鏡装置に関し、特に、観察画像の明るさ調整処理に関する。

内視鏡装置では、内視鏡作業中に表示される観察画像の明るさを適正な明るさで維持するため、絞りの開閉などによって被写体への照明光量を増減させ、あるいは、ビデオスコープ（電子内視鏡）に設けられた電子シャッタ機能によって露光時間を調整することが可能である。さらには、画像信号に対するゲイン調整をビデオスコープ側、プロセッサ側で行うことによって輝度調整することもできる。

このような様々な調整処理方法を単独で使用するだけでなく、撮影状況に応じて幾つかの明るさ調整処理を同時に動作させることによって、様々な撮影状況にもフレキシブルに対応した協同的明るさ調整処理を実行することができる。例えば、電子シャッタ機能と、絞り等を使った光量調整（自動調光）を組み合わせることが可能である（特許文献１参照）。

そこでは、通常観察において、電子シャッタ機能による明るさ調整を行う。そして、過度に光量不足となる場合、撮影画像のブレ発生を防ぐように絞りを開けて光量増加を一度に行う。一方、照明光量が過剰になる場合、絞りを閉じて大きく減光させる。

特開２００６−１４１４３５号公報

スコープ先端側に設けられた撮像素子、回路基板と制御部の設けられるプロセッサ側との間では信号伝送路が長く、制御値が実際に観察画像の明るさに反映されるまでに時間がかかる。したがって、スコープ側の制御値（電子シャッタ速度、ゲイン値等）を変更するため、プロセッサ側などに設けられる制御部が制御信号を出力しても、遅延時間（制御遅延）の存在によって、プロセッサ側明るさ調整処理に対して制御タイミングがずれる。

そのため、電子シャッタ速度調整、ゲイン調整、光量調整といった複数の明るさ調整処理を協同的に動作させても、スコープ側明るさ調整処理とプロセッサ側明るさ調整処理が同期せず、明るさ調整処理が乱れる恐れがあり、観察画像の明るさを適正な明るさに維持することが難しい。

したがって、被写体像の明るさに乱れが生じることなく、スコープ側、プロセッサ側の明るさ調整処理を協調制御させることが必要とされる。

本発明の内視鏡装置は、先端部に撮像素子を設けたビデオスコープと、ビデオスコープが接続されるプロセッサとを備え、ビデオスコープ先端部の撮像素子から順次読み出される画像信号に基づいて、観察画像を生成する画像信号処理手段を備える。また、本発明の内視鏡装置は、スコープ側で行われる明るさ調整処理と、プロセッサ／光源側で行われる明るさ調整処理とを協同的に動作制御する制御手段を備える。

ここでは、スコープ側明るさ調整処理として、撮像素子に対する電子シャッタ速度を調整可能である。また、プロセッサ／光源側明るさ調整処理として、絞り開閉、照明光強度調整などによる光量調整（自動調光）が可能であり、それとともに、プロセッサに送られる画像信号に対し、プロセッサ側でゲイン処理を実行可能である。

例えば、ブレ軽減モードを設定することにより、自動調光処理をしながら、電子シャッタ速度（露光時間）を短くして観察画像に像ぶれが生じないようにすることができる。また、輪郭強調処理を行う場合、スコープ側でゲイン処理を実行してノイズ除去を図ることが可能である。

あるいは、過熱を抑える目的で最大光量が制限されている場合、観察画像の明るさが限界輝度レベル以下になったとき電子シャッタ速度を変更することも可能である。このような光量を増減する明るさ調整と、信号処理による明るさ調整処理とを統合的に制御することで、観察状況に応じた明るさ調整処理が可能となる。

本発明の内視鏡装置は、撮像素子へ送る電子シャッタ速度の制御信号の遅延時間を検出する遅延時間検出手段を備える。そして、制御手段は、電子シャッタ速度制御信号の出力タイミングに合わせてその制御信号に応じた明るさを観察画像に反映させるように、検出される遅延時間に応じてプロセッサ側ゲイン処理を実行させる。

遅延補償する方法として、例えば制御手段は、プロセッサ側ゲイン処理のゲイン値を算出するとき、電子シャッタ速度の制御信号と、遅延時間分だけ以前の制御信号との比をゲイン値として算出すればよい。

遅延時間は、スコープのサイズ、種類、スコープおよびプロセッサ回路特性、あるいは、スコープとプロセッサとの接続状態によって変化する。本発明では、ビデオスコープがプロセッサに接続された状態において、スコープ先端部に設けられる撮像素子へ電子シャッタ速度制御信号を出力するときに生じる遅延時間（制御遅延）を実際に計測し、検出する。

内視鏡装置の構成によって遅延時間を実際に計測することによって、どのようなビデオスコープ、プロセッサの組み合わせにおいても、正確な遅延時間が得られる。そして、遅延時間に基づき、その制御遅延を解消、補償するように、プロセッサ側においてゲイン処理が実行される。その結果、スコープ側の制御遅延に関係なく、光量調整を行うことが可能となり、スコープ側、プロセッサ側の明るさ調整処理を同期制御し、協調動作させることができる。

撮像素子からの出力信号変化が制御値反映を正確に表していると考えれば、遅延時間検出手段は、電子シャッタ速度の制御信号を出力してから撮像素子の出力信号に変化が生じるまでの時間を計測すればよい。また、フレームあるいはフィールド間隔に合わせて明るさ調整処理が実行させることを考慮し、フレーム／フィールド時間を単位として遅延時間を計測するのが望ましい。

通常の観察画像の輝度変化を検出して遅延時間を計測してもよいが、正確な遅延時間を検出することを考慮し、画像信号の変化が読み取り易いようにするのがよい。例えば、遅延時間検出手段は、ホワイトバランス用治具などによって、一定色（白色など）の被写体に基づく画像信号の変化を検出するのがよい。あるいは、画像信号を利用する代わりに、撮像素子のオプティカルブラック領域において生じる熱雑音に基づく信号蓄積を検出し、その信号変化から遅延時間を検出してもよい。

遅延時間の検出は、プロセッサを電源ＯＮにしたとき、あるいはビデオスコープをプロセッサへ接続したときに自動検出するようにしてもよく、あるいは、スコープもしくはプロセッサに設けられたスイッチボタンに対する操作に従って検出してもよい。電源ＯＮ時に遅延時間を自動検出することにより、そのまま明るさ調整処理に移行することができる。

スコープ側明るさ調整処理としては、電子シャッタ速度調整のほかに、撮像素子から読み出される画像信号に対してスコープ側ゲイン処理を実行することが可能である。したがって、遅延時間計測手段が、スコープ側ゲイン処理におけるゲイン値の制御信号の遅延時間を検出することによって、制御手段は、電子シャッタ速度、スコープ側ゲイン値両方の遅延時間を考慮した動作制御を可能にする。

本発明の内視鏡用明るさ調整装置は、ビデオスコープの先端部に設けられた撮像素子に対する電子シャッタ速度を調整可能なスコープ側明るさ調整処理と、プロセッサに送られる画像信号に対してゲイン処理を実行可能なプロセッサ側明るさ調整処理とを動作制御する制御手段と、ビデオスコープがプロセッサに接続された状態において、撮像素子へ送る電子シャッタ速度に応じた制御信号の遅延時間を検出する遅延時間検出手段とを備え、制御手段が、電子シャッタ速度制御信号の出力タイミングに合わせてその制御信号に応じた明るさを観察画像に反映させるように、検出される遅延時間に応じてプロセッサ側ゲイン処理を実行させることを特徴とする。

このように本発明によれば、ビデオスコープ側、プロセッサ側の明るさ調整処理を協調的に動作処理させながら、被写体像の明るさを適正な明るさに維持することができる。

本実施形態である電子内視鏡装置のブロック図である。 遅延時間の計測処理を示したフローチャートである。 プロセッサ制御部において実行される明るさ調整処理のフローチャートである。 電子シャッタ速度、プロセッサ側ゲイン値の時系列的な設定を示した図である。

以下では、図面を参照して本実施形態である電子内視鏡装置について説明する。

図１は、本実施形態である電子内視鏡装置のブロック図である。

電子内視鏡装置は、その挿入部分が体内へ挿入されるビデオスコープ１０と、プロセッサ３０とを備え、ビデオスコープ１０はプロセッサ３０に着脱自在に接続される。プロセッサ３０には、モニタ（図示せず）が接続されている。

プロセッサ３０は、キセノンランプなどの光源部３２を備え、光源部３２から放射された照明光は、集光レンズ３１を介してビデオスコープ１０内に設けられたライトガイド１２に入射し、ライトガイド１２を通ってスコープ先端部１０Ｔから被写体（観察対象）に向けて照射される。

被写体に反射した照明光は、スコープ先端部１０Ｔに設けられた対物レンズ１３を通り、これによって被写体像がＣＣＤなどのイメージセンサ１４の受光面に形成される。イメージセンサ１４では、１フレーム／フィールド分の画像信号が所定時間間隔（例えば１／３０、あるいは１／６０秒時間間隔）で順次読み出される。また、イメージセンサ１４には、Ｃｙ，Ｙｅ，Ｇ，ＭｇあるいはＲ，Ｇ，Ｂから成る色要素をモザイク配列させた補色フィルタが配設されている。

イメージセンサ１４から読み出された画像信号は、初期回路１５によって増幅処理（ゲイン処理）されるとともに、デジタル化処理される。画像処理回路１６では、デジタル化された画像信号に対し、ホワイトバランス処理、ガンマ補正処理などの画像信号処理が施される。これにより、Ｒ，Ｇ，Ｂの画像信号が生成され、プロセッサ３０の画像処理回路３３へ送られる。

画像処理回路３３では、輪郭強調処理、スーパーインポーズ処理、ゲイン処理などが画像信号に対して施される。映像信号がモニタに出力されることにより、観察画像がリアルタイム動画像としてモニタに表示される。ＳＤＲＡＭ４７、ＥＥＰＲＯＭ４８には、画像データなどが一時的に格納される。

プロセッサ制御部４０は、画像処理回路３３、絞り制御部４４などへ制御信号を出力し、プロセッサ３０全体の動作を制御する。一方、スコープ制御部１７は、イメージセンサ１４、画像信号処理回路１６などを駆動制御する。ビデオスコープ１０が接続されると、プロセッサ制御部４０はビデオスコープ１０内に設けられたスコープ制御部１７と相互通信し、スコープ特性（解像度、スコープ種類）に関するデータを取得する。

モニタに表示される被写体像の明るさを維持する明るさ調整処理は、ビデオスコープ１０、およびプロセッサ３０に設けられた明るさ調整処理機構、回路によって実行可能であり、プロセッサ制御部４０は、ビデオスコープ側、プロセッサ側両方の機構を組み合わせて統合的に動作制御する。

ビデオスコープ側の明るさ調整処理としては、電子シャッタ速度調整、および画像信号に対するゲイン処理が実行可能である。スコープ制御部１７は、プロセッサ制御部４０から送られてくるコマンドに応じて、イメージセンサ１４の１フレーム／フィールド期間における電子シャッタ速度（露光時間）を調整し、また、初期回路１５における増幅処理（ゲイン処理）のゲイン値を設定変更する。

一方、プロセッサ側の明るさ調整処理としては、絞り４２の開閉による光量調整、および画像処理回路３３におけるデジタルゲイン処理が実行可能である。絞り制御部４４は、画像処理回路３３から送られてくる１フレーム／フィールド分の輝度信号に基づいて被写体像の輝度レベル（明るさレベル）を検出する。そして、目標となる参照輝度レベルと検出された輝度レベルとの差に応じて絞り４２を開閉する。

画像処理回路３３のゲイン処理では、設定される電子シャッタ速度に従ってゲイン値が設定される。後述するように、プロセッサ３０が起動すると、ビデオスコープ１０へ送る明るさ調整処理に関した制御信号の遅延時間をフレーム単位で自動計測し、プロセッサ制御部４０内のメモリ４０Ｍへ一時的に記憶する。そして、スコープ制御部４０は、検出された遅延フレーム期間に従って、画像処理回路３３でのゲイン値を設定する。

プロセッサ３０のフロントパネルには、ブレ軽減モードスイッチボタン５２、光量制限モードスイッチボタン５４、輪郭強調モードスイッチボタン５６、遅延時間計測モードスイッチボタン５８が設けられている。各モードでは、ビデオスコープ側、プロセッサ側の明るさ調整処理が協働して動作している。

器官内空間が大きい、あるいはスコープ先端部から観察部位までの距離が遠く、十分に照明できない観察状況の場合、観察画像が暗く、監察画像がブレやすい。この場合、ブレ軽減モードスイッチボタン５２をＯＮ状態にすることによって、電子シャッタ速度が変更される。ここでは、電子シャッタ速度が基準となる電子シャッタ速度の１／２倍、すなわち露光時間が２倍に設定され、像ブレが軽減される。

一方、光量制限モードスイッチボタン５４がＯＮになると、観察部位への照明光量を抑えるため、絞り４２の最大開度が制限される。これにより、被写体像が必要以上に暗くなる場合、電子シャッタ速度とスコープ側ゲイン値を上げ、適正な被写体像の明るさを得る。

輪郭強調モードスイッチボタン５６がＯＮ状態になると、表示されている観察画像の輪郭を強調するように、画像処理回路３３において輪郭協調処理が実行される。このとき、輪郭強調によって画像に含まれるノイズが目立つのを防ぐため、スコープ側ゲイン値を下げてノイズ軽減を図っている。

図２は、遅延時間の計測処理を示したフローチャートである。プロセッサの電源がＯＮになると、処理が開始される。

ステップＳ１０１では、電子シャッタ速度調整、スコープ側ゲイン処理の制御値（パラメータ）が反映されるまでの遅延時間が計測される。電子シャッタ速度については、ある所定の電子シャッタ速度（例えば、１／３０秒）に一定期間設定し、所定の時点で電子シャッタ速度を大きく異なる値（例えば、１／１２０秒）に設定変更する。

イメージセンサ１４の受光面には、遮光部となるオプティカルブラック領域が設けられており、熱雑音に起因して出力される信号蓄積値が画像処理回路３３において計測される。この信号レベルは微弱であるが、被写体の特性に影響を受けずに遅延時間を計測可能である。ここでは、電子シャッタ速度変更に見合った信号レベルの変化がある場合、制御値出力からその変化時点までを遅延時間と判断する。

また、スコープ制御部４０は、制御信号出力してから信号蓄積値に変化があらわれるまでの時間をフレーム単位で検出する。この遅延時間計測を複数回行い、最も頻度の高い遅延時間を、電子シャッタの遅延時間として決定する。

電子シャッタの遅延時間が計測されると、次にスコープ側ゲイン処理の遅延時間が計測される。計測手法は、電子シャッタ速度と同じであり、ゲイン値を変更してから信号蓄積値の変化が現れるまでのフレーム数を遅延時間として計測する。計測された遅延時間は、プロセッサ制御部４０内のメモリ４０Ｍへ記憶される。

遅延時間計測が終了した後、その他の内視鏡動作に関して初期化処理が実行される（Ｓ１０２）。そして、電源がＯＦＦになるまで、撮影動作処理、入力処理といった一連のルーチンから成るメイン処理が実行される（Ｓ１０３）。なお、遅延時間計測ボタン５８（図１参照）を押下することにより、内視鏡作業中に遅延時間を計測することも可能である。

次に、図３、４を用いて、明るさ調整処理について説明する。ここでは、絞りを使用した自動調光処理が実行されている状態でブレ軽減モードスイッチボタン５２がＯＮ状態になったときのスコープ側明るさ調整処理の動作制御について説明する。

図３は、プロセッサ制御部において実行される明るさ調整処理のフローチャートである。図４は、電子シャッタ速度、プロセッサ側ゲイン値の時系列的な設定を示した図である。明るさ調整処理は、１フレーム時間間隔でメイン処理に対し割り込み処理される。

ステップＳ２０１では、被写体像の明るさを示す輝度レベルが検出される。輝度レベルは、各画素の輝度レベルの平均値、あるいは輝度ピーク値に基づいて検出される。ステップＳ２０２では、被写体像の適切な明るさを表す参照輝度レベルと、検出された輝度レベルに基づき、絞り３２の駆動量である制御値が求められる。

ここでの制御値は、参照輝度レベルと計測された輝度レベルの比によって求められる。具体的には、フレーム期間ごとに検出される輝度レベルをＦＩＲフィルタなどのローパスフィルタに通し、連続的に検出される輝度レベルと参照輝度レベルとの比を順次算出する。

そして、ステップＳ２０３では、電子シャッタ速度、およびプロセッサ側ゲイン処理のゲイン値が設定される。本実施形態では、図２の遅延時間検出処理によって検出された遅延時間（３フレーム）に基づき、プロセッサ側ゲイン処理のゲイン値が設定される。

図４では、フレームごとに電子シャッタ速度値Ｇとゲイン値ＤＧを時系列的に並べている。フレーム期間ｎ−１，ｎ，ｎ＋１，ｎ＋２，ｎ＋３，・・・に合わせて、電子シャッタ速度の制御値Ｇ、ゲイン値ＤＧが設定されている。

ブレ軽減モードに切り替えられておらず、通常観察である場合、実質的に絞り３２の開閉だけに基づく自動調光処理が実行される。その間、電子シャッタ速度の制御値Ｇは一定に維持される。

プロセッサ側ゲイン処理のゲイン値ＤＧは、同じフレーム期間の電子シャッタ速度制御値と、フレーム遅延時間分だけ戻ったフレーム期間の電子シャッタ速度制御値との比によって算出される。したがって、電子シャッタ速度制御値が一定で維持されている間、ゲイン値は１に設定され、プロセッサ側ゲイン処理は事実上行われない。

ここでは、遅延時間が３フレームとして計測されたとしている。３フレーム分の遅延時間が存在するので、例えば、フレーム期間ｎ＋１におけるゲイン値ＤＧ（ｎ＋２）は、３フレーム分前の電子シャッタ速度制御値Ｇ（ｎ−１）と、同じフレーム期間の電子シャッタ速度制御値Ｇ（ｎ＋２）との比（Ｇ（ｎ＋２）／Ｇ（ｎ−１））によって求められる。

図３のステップＳ２０４では、求められた絞り制御値、電子シャッタ速度制御値、スコープ側ゲイン値の制御信号が出力される。絞り３２は、制御値に基づいて開放、あるいは閉塞し、光量増減によって被写体像の明るさが調整される。

ブレ軽減スイッチボタン５２がＯＮ状態に切り替わり、ブレ軽減モードが設定されると、電子シャッタ速度制御値が変更される。上述したように、フレーム期間電子シャッタ速度が１／２倍，すなわち露光時間が２倍に設定変更される。

図４では、フレーム期間ｎ−１まで通常観察状態であり、フレーム期間ｎでブレ軽減モードに切り替えられている。したがって、電子シャッタ速度制御値Ｇは、フレーム期間ｎ以降において、それより前のフレーム期間の半分になっている。

ゲイン値ＤＧは、同じフレーム期間の電子シャッタ速度制御値に依存する。そのため、電子シャッタ速度制御値が切り替えるタイミングに合わせてゲイン値ＤＧも変更される。電子シャッタ速度切替のあったフレーム期間ｎでは、ゲイン値ＤＧ（ｎ）は、フレーム期間ｎ−１のゲイン値Ｇ（ｎ−１）の半分（１／２Ｇ（ｎ−１））に設定される。

そして、電子シャッタ速度変更から３フレーム期間経過すると、ゲイン値ＤＧ（ｎ＋３）は、設定変更された後の電子シャッタ速度制御値Ｇ（ｎ）と、同じ制御値であるＧ（ｎ＋３）との比によって求められる。したがって、ゲイン値ＤＧ（ｎ＋３）は１となり、プロセッサ側ゲイン処理は実質的に行われない。

このように、電子シャッタ速度制御値を出力してから実際に観察画像にその影響が現れるまでの期間、プロセッサ側ゲイン処理を実行させることにより、モード切替と同時に観察画像の明るさが変更後の電子シャッタ速度制御値を反映させた明るさに切り替えられる。

モード切り換えと同時に観察画像の明るさを切り替える動作制御は、他のモードにおいても実施される。輪郭強調モードに切り換えられると、スコープ側ゲイン処理が実行される。このとき、スコープ側ゲイン値の遅延時間に基づいて、プロセッサ側ゲイン処理が実行される。

また、光量制限モードが設定された場合、観察画像の明るさが許容輝度レベル以下になると、電子シャッタ速度が変更されて露光時間が長くなるように設定される。また、電子シャッタ速度とともに、スコープ側ゲイン処理も行われる。この場合、電子シャッタ速度、スコープ側ゲイン値それぞれの遅延時間に基づいて、プロセッサ側ゲイン処理が実行される。

このように本実施形態によれば、スコープ側明るさ調整処理として電子シャッタ速度調整、ゲイン処理が可能であり、プロセッサ側ゲイン処理として光量調整、ゲイン処理が可能な内視鏡装置において、観察状況に応じて電子シャッタ速度、あるいはスコープ側ゲイン処理のゲイン値を設定変更する。

プロセッサにおいては、起動時に、電子シャッタ速度、ゲイン値の制御信号出力に関する遅延時間をフレーム単位で自動計測する。そして、観察中に明るさ調整処理を行う間、電子シャッタ速度調整に合わせてプロセッサ側ゲイン処理が実行される。

電子シャッタ速度変更の制御遅延を補償するように、プロセッサ側ゲイン処理が実行されるため、明るさ調整の切換えと同時に観察画像に設定変更の影響が反映される。絞り３２を使用する光量調整は、応答特性などの影響で追随性が悪くなる恐れがあるが、電子シャッタ速度の設定変更に合わせて瞬時に光量調整も対応することができ、明るさが収束しないハンチング状態を防ぐことができる。

また、フリッカーノイズといった周期の短い光の揺らぎ（輝度変化）など、光源特性によって観察画像の明るさが周期的に変化するが、電子シャッタ速度変更が障害になって光量調整が狂う恐れもなく、適切に明るさ補正することができる。

なお、遅延時間の計測については、段階的に電子シャッタ速度を変更しながら（１／３０秒、１／６０秒、１／１２０秒、・・・・）、遅延時間を計測するようにしてもよい。また、スコープ先端部を手で遮光して、信号蓄積値の変化を読み取るようにしてもよい。

あるいは、観察画像の画像信号に基づいて遅延時間を計測することも可能であり、ホワイトバランス用治具によってスコープ先端部を囲み、白色被写体を撮影して得られる画像信号に基づいて遅延時間を検出してもよい。さらに、計測中、明るさ変化のないようにプロセッサ側でゲイン処理を行ってもよい。

プロセッサ内部に光源部を設ける代わりに、独立した光源装置とプロセッサとを接続させる構成であってもよい。また、光源の発光強度を変えるなどによって光量調整を行ってもよい。また、プロセッサ側、スコープ側ゲイン処理は、アナログ、デジタルどちらでもよい。遅延時間をフレーム／フィールド単位以外で計測してもよい。

１０ ビデオスコープ
４２ 絞り
４４ 絞り制御部

Claims (8)

1. ビデオスコープ先端部に設けられた撮像素子から順次読み出される画像信号に基づいて、観察画像を生成する画像信号処理手段と、
   前記撮像素子に対する電子シャッタ速度を調整可能なスコープ側明るさ調整処理と、光量調整とともに、前記ビデオスコープと接続したプロセッサに送られる画像信号に対してプロセッサ／光源側ゲイン処理を実行可能なプロセッサ側明るさ調整処理とを、動作制御する制御手段と、
   前記ビデオスコープが前記プロセッサに接続された状態において、前記撮像素子へ送る電子シャッタ速度に応じた制御信号の遅延時間を計測して検出する遅延時間検出手段とを備え、
   前記制御手段が、電子シャッタ速度制御信号の出力タイミングに合わせてその制御信号に応じた明るさを観察画像に反映させるように、検出される前記遅延時間に応じて前記プロセッサ側ゲイン処理を実行させることを特徴とする内視鏡装置。
2. 前記遅延時間検出手段が、前記電子シャッタ速度の制御信号を出力してから前記撮像素子の出力信号に変化が生じるまでの時間を計測することを特徴とする請求項１に記載の内視鏡装置。
3. 前記遅延時間検出手段が、一定色の被写体に基づく画像信号、あるいは遮光状態に基づく熱雑音に関する信号を利用して、前記遅延時間を計測することを特徴とする請求項１乃至２のいずれかに記載の内視鏡装置。
4. 前記遅延時間検出手段が、フレーム／フィールド期間を単位として前記遅延時間を計測することを特徴とする請求項１乃至３のいずれかに記載の内視鏡装置。
5. 前記遅延時間検出手段が、前記プロセッサの起動時に前記遅延時間を検出することを特徴とする請求項１乃至４のいずれかに記載の内視鏡装置。
6. 前記制御手段が、前記電子シャッタ速度の制御信号と、前記遅延時間分だけ以前の制御信号との比をゲイン値として前記プロセッサ側ゲイン処理を実行させることを特徴とする請求項１乃至５のいずれかに記載の内視鏡装置。
7. 前記スコープ側明るさ調整処理が、前記撮像素子から読み出される画像信号に対し、前記ビデオスコープ内においてスコープ側ゲイン処理を実行可能であり、
   前記遅延時間計測手段が、前記スコープ側ゲイン処理におけるゲイン値の制御信号の遅延時間を検出することを特徴とする請求項１乃至６のいずれかに記載の内視鏡装置。
8. ビデオスコープの先端部に設けられた撮像素子に対する電子シャッタ速度を調整可能なスコープ側明るさ調整処理と、プロセッサに送られる画像信号に対してゲイン処理を実行可能なプロセッサ側明るさ調整処理とを動作制御する制御手段と、
   前記ビデオスコープが前記プロセッサに接続された状態において、前記撮像素子へ送る電子シャッタ速度に応じた制御信号の遅延時間を検出する遅延時間検出手段とを備え、
   前記制御手段が、電子シャッタ速度制御信号の出力タイミングに合わせてその制御信号に応じた明るさを観察画像に反映させるように、検出される前記遅延時間に応じて前記プロセッサ側ゲイン処理を実行させることを特徴とする内視鏡用明るさ調整装置。
   
   

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