JP2012032360A - 超音波探触子の接触構造 - Google Patents

超音波探触子の接触構造 Download PDF

Info

Publication number
JP2012032360A
JP2012032360A JP2010174323A JP2010174323A JP2012032360A JP 2012032360 A JP2012032360 A JP 2012032360A JP 2010174323 A JP2010174323 A JP 2010174323A JP 2010174323 A JP2010174323 A JP 2010174323A JP 2012032360 A JP2012032360 A JP 2012032360A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
contact member
ultrasonic probe
inspection object
concave portion
recession
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2010174323A
Other languages
English (en)
Inventor
Naoyoshi Toriumi
直義 鳥海
Naoya Hirose
尚哉 廣瀬
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
IHI Inspection and Instrumentation Co Ltd
Original Assignee
IHI Inspection and Instrumentation Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by IHI Inspection and Instrumentation Co Ltd filed Critical IHI Inspection and Instrumentation Co Ltd
Priority to JP2010174323A priority Critical patent/JP2012032360A/ja
Publication of JP2012032360A publication Critical patent/JP2012032360A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Landscapes

  • Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Ultrasonic Waves (AREA)

Abstract

【課題】凹部と接触部材の間に空気溜まりが残ることを防止し且つ凹部の清掃を不要にする超音波探触子の接触構造を提供する。
【解決手段】検査対象物Sの凹部Dに対し、凸状の接触部材3を先端に配した超音波探触子1を接触部材3側から押し付け、検査対象物Sの超音波探傷を行う超音波探触子の接触構造であって、
凸状の接触部材3を検査対象物Sの凹部Dに押し付ける際に、凸状の接触部材3は、凹部D内に点接触または面接触した後、凹部D内の空気を周囲外方へ逃がすように変形し、更に凹部の形状に沿って変形して凹部Dの底面D1及び周囲面D2の全面に密接するように構成され、
凸状の接触部材3を検査対象物Sの凹部Dから離間した後に、凸状の接触部材3は、元の形状に戻るように構成される。
【選択図】図1

Description

本発明は、検査対象物を超音波探傷するための超音波探触子の接触構造に関するものである。
一般に、鋼材や金属等の検査対象物を超音波探傷する際には、超音波探触子の先端表面と検査対象物の間に水やゼリー状の接触部材を介在させて検査対象物を超音波探傷している。
ここでゼリー状の接触部材は、超音波を透過する粘性の素材のものであり、ゼリー状の接触部材を使用する際には、超音波探触子の先端表面または検査対象物にゼリー状の接触部材を1回の使用ごとに塗布して使用している。
尚、超音波探触子の接触構造の一般的技術水準を示すものとしては、例えば、特許文献1がある。
特公平2−21252号公報
しかしながら、凹部がある検査対象物に対し、水やゼリー状の接触部材を用いて超音波探傷した後には、検査対象物の凹部に水やゼリー状の接触部材の一部が残るため、残った水やゼリー状の接触部材の一部を検査対象物の凹部から拭き取るように清掃しなければならない等の問題があった。
また図9に示す如く超音波探触子1に平面状のゲルシートの接触部材2を配して金属等の検査対象物Sを超音波探傷することが考えられているが、検査対象物Sの凹部Dに接触部材2側から超音波探触子1を押し付ける際には、凹部D内の空気を逃がすことができず(図9では凹部D内の矢印で示す)、図10に示す如く凹部Dと接触部材2の間に超音波非透過性の空気溜まりAが残るため、検査対象物Sを適切に超音波探傷することができないという問題があった。
本発明は、上記従来の問題点に鑑みてなしたもので、凹部と接触部材の間に空気溜まりが残ることを防止し且つ凹部の清掃を不要にする超音波探触子の接触構造を提供することを目的とする。
本発明の超音波探触子の接触構造は、検査対象物の凹部に対し、凸状の接触部材を先端に配した超音波探触子を接触部材側から押し付け、検査対象物の超音波探傷を行う超音波探触子の接触構造であって、前記凸状の接触部材を検査対象物の凹部に押し付ける際に、前記凸状の接触部材は、凹部内に点接触または面接触した後、凹部内の空気を周囲外方へ逃がすように変形し、更に凹部の形状に沿って変形して凹部の底面及び周囲面の全面に密接するように構成され、前記凸状の接触部材を検査対象物の凹部から離間した後に、前記凸状の接触部材は、元の形状に戻るように構成されるものである。
本発明の超音波探触子の接触構造において、凸状の接触部材は、凹部の底面に先端を向ける円錐体、凹部の底面に端面を向ける截頭円錐体、凹部の底面に曲面を向ける曲面体から選択された1つを備えることが好ましい。
本発明の超音波探触子の接触構造によれば、前記凸状の接触部材を検査対象物の凹部に押し付ける際に、前記凸状の接触部材は、凹部内の空気を周囲外方へ逃がすように変形し、更に変形して凹部の底面及び周囲面の全面に密接するので、検査対象物の凹部と凸状の接触部材の間に空気溜まりが残ることを防止し、検査対象物を適切に超音波探傷することができる。また前記凸状の接触部材を検査対象物の凹部から離間した後に、前記凸状の接触部材は、元の形状に戻るので、検査後、検査対象物の凹部に凸状の接触部材の一部が残ることを防ぎ、検査対象物の凹部の清掃を不要にすることができるという優れた効果を奏し得る。
本発明の実施の形態の第一例を示す概念図である。 本発明の接触部材の取付構造を示す概念図である。 本発明の接触部材の他の取付構造を示す概念図である。 本発明の接触部材の別の取付構造を示す概念図である。 本発明の接触部材を押し付ける直前の状態を示す概念図である。 本発明の接触部材を押し付けた状態を示す概念図である。 本発明の実施の形態の第二例を示す概念図である。 本発明の実施の形態の第三例を示す概念図である。 従来の接触部材を押し付ける直前の状態を示す概念図である。 従来の接触部材を押し付けた状態を示す概念図である。
以下、本発明の超音波探触子の接触構造を実施する形態の第一例を図1〜図6を参照して説明する。なお、図中、図9、図10と同一の符号を付した部分は同一物を表わしている。
実施の形態の第一例の超音波探触子の接触構造は、鋼材や金属等の検査対象物Sの表面に形成されたスポット溶接等の凹部Dに対応するものである。ここで凹部Dは、開口から数mmの深さに位置する底面D1と、該底面D1から開口へ向かって内径が広がる周囲面D2とから形成されており、凹部Dの底面D1の径は、数mm以上数十mm以下、好ましくは3mm以上20mm以下になっている。なお凹部Dの周囲面D2には角がないことが好ましい。
超音波探触子1は、内部に振動子(図示せず)を備え、先端側から超音波を発振するものであり、超音波探触子1の先端には凸状の接触部材3が配置されている。凸状の接触部材3は、外方に先端を向ける円錐体4と、円錐体4の底面側に位置して超音波探触子1の先端に配置する胴部体5とを備えて形成されている。また凸状の接触部材3は、検査対象物Sの凹部Dの大きさに対応して種々の大きさを備えることが可能であり、具体的な一例を提示すると、検査対象物Sの凹部Dの深さが1mm、底面D1の径が5mmの場合には、円錐体4は高さ1mm、底面の径6〜7mm、胴部体5は高さ1mm、内径6〜7mmになっている。
更に凸状の接触部材3の材質は、超音波を透過するゲル状、ゴム状のものであって、検査対象物Sの凹部Dに接触した際には変形し、更に検査対象物Sの凹部Dから離間した後には元の形状に戻るものになっている。また凸状の接触部材3の材質は、有機物、無機物等のどのようなものでも良いが、炭化水素系高分子ゲル、シリコンゴム等が好ましい。更に凸状の接触部材3は、凹部Dに充填し得る体積を有して配置されている。
ここで凸状の接触部材3は、超音波探触子1の先端に接触部材3自体の粘着性により貼り付けても良いし、粘着シートや接着剤等の部材を介して貼り付けても良い。また図2に示す如く超音波探触子1の先端に嵌合する筒状の嵌合部6を備えても良いし、図3に示す如く超音波探触子1の先端側と係合するように超音波探触子1の段部7に対応する係合部8を備えても良いし、図4に示す如く紐やバンド等の係止手段9により筒状の嵌合部6を係止するようにしても良い。
以下、本発明の超音波探触子の接触構造を実施する形態の第一例の作用を説明する。
検査対象物Sを超音波探傷するために検査対象物Sの一箇所の凹部Dに対して超音波探触子1を接触部材3側から押し付ける際には、凸状の接触部材3のうち円錐体4の先端が、図5に示す如く凹部Dの底面D1に点接触した後、凹部D内の空気を周囲外方へ逃がすように変形し、更に図6に示す如く凹部Dの形状に沿って変形し、凹部Dの底面D1及び周囲面D2の全面に密接する。
一方、検査対象物Sを超音波探傷した後に接触部材3を検査対象物Sの凹部Dから離間した際には、凸状の接触部材3は、変形した状態から元の形状に戻る。
このように実施の形態の第一例によれば、凸状の接触部材3を検査対象物Sの凹部Dに押し付ける際に、凸状の接触部材3は、凹部Dとの間に空気溜まりAが残ることを防止し、検査対象物Sを適切に超音波探傷することができる。また凸状の接触部材3を検査対象物Sの凹部Dから離間した後に、凸状の接触部材3は元の形状に戻るので、検査後、検査対象物Sの凹部Dに接触部材3の一部が残ることを防ぎ、検査対象物Sの凹部Dの清掃を不要にすることができる。
更に実施の形態の第一例において、凸状の接触部材3は、凹部Dの底面D1に先端を向ける円錐体4を備えると、凸状の接触部材3を凹部Dに押し付ける際に、凸状の接触部材3の先端を凹部Dの底面D1に向け、凸状の接触部材3を凹部Dに対して容易に位置合わせし得るので、凸状の接触部材3を適切に変形させ、凹部Dとの間に空気溜まりAが残ることを防止し、検査対象物Sを好適に超音波探傷することができる。
以下、本発明の超音波探触子の接触構造を実施する形態の第二例を図7を参照して説明する。なお、図中、第一例の図1〜図6と同一の符号を付した部分は同一物を表わしている。
実施の形態の第二例の超音波探触子の接触構造は、第一例における凸状の接触部材3の形状を変えたものであって、第一例と同様な検査対象物Sの凹部Dに対応するようになっている。
凸状の接触部材3は、外方に端面11aを向ける截頭円錐体11と、截頭円錐体11の底面側に位置して超音波探触子1の先端に配置する胴部体12とを備えて形成されている。ここで截頭円錐体11は、円錐体の頭部を底面と平行な平面で切り取り、残った部分が為す立体であり、また平行な平面で切り取った面の端面11aは、凹部Dの底面D1より小さく形成されている。更に凸状の接触部材3は、第一例と同様に、検査対象物Sの凹部Dの大きさに対応して種々の大きさを備えることが可能であり、具体的な一例を提示すると、検査対象物Sの凹部Dの深さが1mm、底面D1の径が5mmの場合には、截頭円錐体11は高さ1mm、端面の径4〜5mm、底面の径6〜7mm、胴部体5は高さ1mm、内径6〜7mmになっている。
また凸状の接触部材3の材質は、第一例と同様に構成されており、更に凸状の接触部材3は、第一例と同様な手段や形状により配置されている。
以下、本発明の超音波探触子の接触構造を実施する形態の第二例の作用を説明する。
検査対象物Sを超音波探傷するために検査対象物Sの一箇所の凹部Dに対して超音波探触子1を接触部材3側から押し付ける際には、凸状の接触部材3のうち截頭円錐体11の端面11aが、凹部Dの底面D1に面接触した後、凹部D内の空気を周囲外方へ逃がすように変形し、更に凹部Dの形状に沿って変形し、凹部Dの底面D1及び周囲面D2の全面に密接する。
一方、検査対象物Sを超音波探傷した後に接触部材3を検査対象物Sの凹部Dから離間した際には、凸状の接触部材3は、変形した状態から元の形状に戻る。
このように実施の形態の第二例によれば、第一例と同様な作用効果を得ることができる。また凸状の接触部材3は、凹部Dの底面D1に先端を向ける截頭円錐体11を備えると、凸状の接触部材3の先端を凹部Dの形状にほぼ合致する形状にし得るので、凹部Dとの間に空気溜まりAが残ることを一層防止し、検査対象物Sを好適に超音波探傷することができる。
以下、本発明の超音波探触子の接触構造を実施する形態の第三例を図8を参照して説明する。なお、図中、第一例の図1〜図6と同一の符号を付した部分は同一物を表わしている。
実施の形態の第三例の超音波探触子の接触構造は、第一例における凸状の接触部材3の形状を変えたものであって、第一例と同様な検査対象物Sの凹部Dに対応するようになっている。
凸状の接触部材3は、外方に曲面を向ける曲面体13と、曲面体13の底面側に位置して超音波探触子1の先端に配置する胴部体14とを備えて形成されている。ここで曲面体13は、円球の一側(胴部体側)を平面に切り欠いた立体、または楕円球の一側(胴部体側)を平面に切り欠いた立体である。
また凸状の接触部材3の材質は、第一例及び第二例と同様に構成されており、更に凸状の接触部材3は、第一例及び第二例と同様な手段や形状により配置されている。
以下、本発明の超音波探触子の接触構造を実施する形態の第三例の作用を説明する。
検査対象物Sを超音波探傷するために検査対象物Sの一箇所の凹部Dに対して超音波探触子1を接触部材3側から押し付ける際には、凸状の接触部材3のうち曲面体13の曲面が、凹部Dの底面D1に点接触した後、凹部D内の空気を周囲外方へ逃がすように変形し、更に凹部Dの形状に沿って変形し、凹部Dの底面D1及び周囲面D2の全面に密接する。
一方、検査対象物Sを超音波探傷した後に接触部材3を検査対象物Sの凹部Dから離間した際には、凸状の接触部材3は、変形した状態から元の形状に戻る。
このように実施の形態の第三例によれば、第一例と同様な作用効果を得ることができる。また凸状の接触部材3は、凹部Dの底面D1に先端を向ける曲面体13を備えると、凹部Dの形状の許容範囲が広がるので、凹部Dとの間に空気溜まりAが残ることを容易に防止し、検査対象物Sを容易に超音波探傷することができる。
なお、本発明の超音波探触子の接触構造は、本発明の要旨を逸脱しない範囲内において種々変更を加え得ることは勿論である。
1 超音波探触子
3 接触部材
4 円錐体
11 截頭円錐体
11a 端面
13 曲面体
D 凹部
D1 底面
D2 周囲面
S 検査対象物

Claims (2)

  1. 検査対象物の凹部に対し、凸状の接触部材を先端に配した超音波探触子を接触部材側から押し付け、検査対象物の超音波探傷を行う超音波探触子の接触構造であって、
    前記凸状の接触部材を検査対象物の凹部に押し付ける際に、前記凸状の接触部材は、凹部内に点接触または面接触した後、凹部内の空気を周囲外方へ逃がすように変形し、更に凹部の形状に沿って変形して凹部の底面及び周囲面の全面に密接するように構成され、
    前記凸状の接触部材を検査対象物の凹部から離間した後に、前記凸状の接触部材は、元の形状に戻るように構成されたことを特徴とする超音波探触子の接触構造。
  2. 凸状の接触部材は、凹部の底面に先端を向ける円錐体、凹部の底面に端面を向ける截頭円錐体、凹部の底面に曲面を向ける曲面体から選択された1つを備えることを特徴とする請求項1に記載の超音波探触子の接触構造。
JP2010174323A 2010-08-03 2010-08-03 超音波探触子の接触構造 Pending JP2012032360A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2010174323A JP2012032360A (ja) 2010-08-03 2010-08-03 超音波探触子の接触構造

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2010174323A JP2012032360A (ja) 2010-08-03 2010-08-03 超音波探触子の接触構造

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2012032360A true JP2012032360A (ja) 2012-02-16

Family

ID=45845920

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2010174323A Pending JP2012032360A (ja) 2010-08-03 2010-08-03 超音波探触子の接触構造

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2012032360A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2016050811A (ja) * 2014-08-29 2016-04-11 株式会社Ihi検査計測 Tofd探傷法による超音波探傷装置と方法

Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH01147806U (ja) * 1988-03-31 1989-10-12
JPH04238208A (ja) * 1991-01-23 1992-08-26 Osaka Gas Co Ltd 超音波センサー
JPH08304357A (ja) * 1995-05-12 1996-11-22 Mitsubishi Heavy Ind Ltd 直接接触型超音波センサー
JP2776541B2 (ja) * 1989-03-17 1998-07-16 東洋メディカル株式会社 超音波探触子用接触端子
JP2005241337A (ja) * 2004-02-25 2005-09-08 Fuji Heavy Ind Ltd 超音波非破壊検査装置の超音波センサヘッド
JP2012002586A (ja) * 2010-06-15 2012-01-05 Toshiba Corp 超音波探触子および超音波探傷方法

Patent Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH01147806U (ja) * 1988-03-31 1989-10-12
JP2776541B2 (ja) * 1989-03-17 1998-07-16 東洋メディカル株式会社 超音波探触子用接触端子
JPH04238208A (ja) * 1991-01-23 1992-08-26 Osaka Gas Co Ltd 超音波センサー
JPH08304357A (ja) * 1995-05-12 1996-11-22 Mitsubishi Heavy Ind Ltd 直接接触型超音波センサー
JP2005241337A (ja) * 2004-02-25 2005-09-08 Fuji Heavy Ind Ltd 超音波非破壊検査装置の超音波センサヘッド
JP2012002586A (ja) * 2010-06-15 2012-01-05 Toshiba Corp 超音波探触子および超音波探傷方法

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2016050811A (ja) * 2014-08-29 2016-04-11 株式会社Ihi検査計測 Tofd探傷法による超音波探傷装置と方法

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5542534B2 (ja) 超音波探触子および超音波探傷方法
US7210355B2 (en) Supersonic sensor head for supersonic non-destructive test apparatus
KR20120125233A (ko) 음향 변환기를 본체에 음향적으로 결합하기 위한 커플링 소자 및 이 커플링 소자를 포함하는 음향 변환기
WO2008051473A3 (en) Improved ultrasonic transducer system
GB201018259D0 (en) Ultrasonic inspection tool
EP2637166A3 (en) Ultrasound backing element, transducer and ultrasound probe including the same
DE502006005936D1 (de) Verfahren und vorrichtung zur bildgebenden ultraschallprüfung an eine dreidimensionalen werkstück
JP2014127921A5 (ja)
JP2021067603A5 (ja)
EP2883623A3 (en) Ultrasonic transducer device, ultrasonic measurement apparatus, and ultrasonic imaging apparatus
JP2019095438A5 (ja)
JP6347713B2 (ja) 超音波探触子用アタッチメント、超音波検査装置及び超音波検査方法
CN104267106A (zh) 一种自耦合超声波检测探头装置
JP2012032360A (ja) 超音波探触子の接触構造
JP6300618B2 (ja) 音響整合体、プローブアタッチメント、超音波プローブ及び超音波診断装置
EP2827142A3 (en) Ultrasonic inspection system for non-planar surfaces
KR960035020A (ko) 고정 다각형 소켓 스크루를 초음파 테스트를 하는 테스트헤드
ES2626454T3 (es) Dispositivo de inspección de espesor de pared
EP2573556A3 (en) Method for the non-destructive inspection of a test object of great material thickness by means of ultrasound, the use of a test probe for carrying out of the method, an ultrasonic test probe, a control unit for an ultrasonic test probe and a device for the non-destructive inspection of a test object of great material thickness by means of ultrasound
US9116097B2 (en) Part fixture for nondestructive inspection
JP2009034212A (ja) 超音波プローブの保護カバー
WO2017168795A1 (ja) 非破壊検査方法及び接触媒質押付用治具
ATE514924T1 (de) VORRICHTUNG ZUR BESTIMMUNG UND/ODER ÜBERWACHUNG EINER PROZESSGRÖßE
EP1923996A3 (en) Surface acoustic wave device
US10473627B2 (en) Portable acoustic apparatus for in-situ monitoring of a workpiece

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20130705

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20140130

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20140204

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20140404

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20140819

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20141216