JP2012028587A - Mounting machine - Google Patents

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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a mounting machine capable of suppressing an increase in total time required for the delivery operation of multiple wafer components.SOLUTION: A mounting machine 100 comprises: two wafer heads 6a and 6b which attract wafer components, and which are vertically reversible; and a head unit 41 having two component mounting heads 41a which receive the wafer components from the two wafer heads 6a and 6b, and which mount the wafer components on a printed circuit board P. The two component mounting heads 41a can simultaneously receive the wafer components attracted by the two wafer heads 6a and 6b, respectively.

Description

この発明は、実装機に関し、特に、突上げ装置により突き上げられたウエハ部品を吸着するとともに、上下反転可能な取出ヘッドを備えた実装機に関する。   The present invention relates to a mounting machine, and more particularly, to a mounting machine having a pick-up head that can pick up a wafer part pushed up by a pushing-up device and can be turned upside down.

従来、突上げ装置により突き上げられたウエハ部品を吸着するとともに、上下反転可能な取出ヘッドを備えた実装機が知られている(たとえば、特許文献1および2参照)。   2. Description of the Related Art Conventionally, there has been known a mounting machine that includes a take-out head that can pick up a wafer part pushed up by a push-up device and can be turned upside down (for example, see Patent Documents 1 and 2).

上記特許文献1には、フリップチップ(ウエハ部品)を保持し、XY方向に移動可能な保持テーブル(ウエハ保持テーブル)と、保持テーブルの下方に配置されるシート剥離機構(突上げ装置)と、フリップチップを吸着する取出ヘッドと、取出ヘッドからフリップチップを受け取って基板に実装する実装ヘッドとを備えた実装機が開示されている。上記特許文献1では、取出ヘッドは1つ設けられている。このため、上記特許文献1では、1つのフリップチップを保持テーブルから取り出してから実装ヘッドにその部品を受け渡し、その後に次のフリップチップの保持テーブルからの取出しおよび実装ヘッドへの受け渡しを行っていると考えられる。   In Patent Document 1, a flip table (wafer part) is held, a holding table (wafer holding table) that can move in the XY directions, a sheet peeling mechanism (push-up device) disposed below the holding table, There is disclosed a mounting machine including an extraction head that sucks a flip chip and a mounting head that receives the flip chip from the extraction head and mounts the flip chip on a substrate. In Patent Document 1, one take-out head is provided. For this reason, in the above-mentioned Patent Document 1, after one flip chip is taken out from the holding table, its components are delivered to the mounting head, and thereafter, the next flip chip is taken out from the holding table and delivered to the mounting head. it is conceivable that.

また、上記特許文献2には、ウエハ部品を保持し、XY方向に移動可能な部品供給テーブル(ウエハ保持テーブル)と、ウエハ部品を吸着する取出ノズルを有する部品取り込み部(取出装置)と、部品取り込み部からウエハ部品を受け取って基板に実装する搭載ノズルを有する実装部(ヘッドユニット)とを備えた実装機が開示されている。上記特許文献2でも上記特許文献1と同様に取出ノズルは1つ設けられており、1つのウエハ部品を部品供給テーブルから取り出してから搭載ノズルにその部品を受け渡し、その後に次のウエハ部品の部品供給テーブルからの取出しおよび搭載ノズルへの受け渡しを行っていると考えられる。   In Patent Document 2, a component supply table (wafer holding table) that holds wafer components and is movable in the X and Y directions, a component take-in unit (extraction device) having an extraction nozzle that adsorbs the wafer components, and components There is disclosed a mounting machine including a mounting unit (head unit) having a mounting nozzle that receives a wafer part from a capturing unit and mounts it on a substrate. Similarly to Patent Document 1, the above Patent Document 2 is also provided with one take-out nozzle. After one wafer part is taken out from the part supply table, the part is delivered to the mounting nozzle, and then the next wafer part part. It is thought that it is being taken out from the supply table and delivered to the mounting nozzle.

特許第4016982号公報Japanese Patent No. 4016982 特開2004−103923号公報JP 2004-103923 A

しかしながら、上記特許文献1では、フリップチップの保持テーブルからの取出し動作および実装ヘッドへのフリップチップの受け渡し動作を1つのフリップチップ毎に行っているので、複数のフリップチップ(ウエハ部品)の受け渡し動作に要する合計時間が増加してしまうという問題点がある。   However, in the above-mentioned Patent Document 1, since the operation of taking out the flip chip from the holding table and the operation of transferring the flip chip to the mounting head are performed for each flip chip, the operation of transferring a plurality of flip chips (wafer parts) is performed. There is a problem that the total time required for the process increases.

また、上記特許文献2においても、ウエハ部品の部品供給テーブルからの取出し動作および搭載ノズルへのそのウエハ部品の受け渡し動作を1つのウエハ部品毎に行っているので、複数のウエハ部品の受け渡し動作に要する合計時間が増加してしまうという問題点がある。   Also in the above-mentioned Patent Document 2, since the operation of taking out wafer components from the component supply table and the operation of transferring the wafer components to the mounting nozzle are performed for each wafer component, a plurality of wafer components are transferred. There is a problem that the total time required increases.

この発明は、上記のような課題を解決するためになされたものであり、この発明の1つの目的は、複数のウエハ部品の受け渡し動作に要する合計時間が増加してしまうことを抑制することが可能な実装機を提供することである。   The present invention has been made to solve the above-described problems, and one object of the present invention is to suppress an increase in the total time required for the transfer operation of a plurality of wafer parts. It is to provide a possible mounting machine.

課題を解決するための手段および発明の効果Means for Solving the Problems and Effects of the Invention

上記目的を達成するために、この発明の一の局面による実装機は、基台と、ウエハ部品を保持可能なウエハ保持テーブルと、ウエハ保持テーブルに保持されたウエハ部品を下方から突き上げる機構を有する突上げ装置と、突上げ装置により突き上げられたウエハ部品を吸着するとともに、上下反転可能な複数の取出ヘッドと、取出ヘッドからウエハ部品を受け取るとともに、ウエハ部品を基板に実装する複数の実装ヘッドを有するヘッドユニットとを備え、複数の取出ヘッドにそれぞれ吸着されたウエハ部品を複数の実装ヘッドが同時に受け取ることが可能に構成されている。   In order to achieve the above object, a mounting machine according to one aspect of the present invention includes a base, a wafer holding table capable of holding a wafer part, and a mechanism for pushing up the wafer part held on the wafer holding table from below. A pick-up device, a plurality of pick-up heads that suck up the wafer parts pushed up by the push-up device, and that can be turned upside down, and a plurality of mounting heads that receive the wafer parts from the pick-up head and mount the wafer parts on the substrate. And a plurality of mounting heads that can simultaneously receive wafer components adsorbed by the plurality of take-out heads.

この一の局面による実装機では、上記のように、複数の取出ヘッドにそれぞれ吸着されたウエハ部品を複数の実装ヘッドが同時に受け取ることが可能であるように構成することによって、複数のウエハ部品の受け渡しを一度に行うことができる。これにより、実装ヘッドへのウエハ部品の受け渡し動作を1つのウエハ部品毎に行う場合と比較して、複数のウエハ部品の受け渡し動作に要する合計時間が増加してしまうことを抑制することができる。   In the mounting machine according to the one aspect, as described above, by configuring the plurality of mounting heads so that the plurality of mounting heads can simultaneously receive the wafer components adsorbed by the plurality of take-out heads, Delivery can be done at once. As a result, it is possible to suppress an increase in the total time required for the delivery operation of a plurality of wafer components, compared to the case where the delivery operation of the wafer components to the mounting head is performed for each wafer component.

上記一の局面による実装機において、好ましくは、少なくとも取出ヘッドからヘッドユニットへのウエハ部品の受け渡し時に、複数の取出ヘッド同士の間隔は、ヘッドユニットの複数の実装ヘッド同士の間隔と同一である。このように構成すれば、複数の取出ヘッドから複数の実装ヘッドに容易に同時にウエハ部品を受け渡すことができる。   In the mounting machine according to the above aspect, preferably, at least when the wafer part is transferred from the take-out head to the head unit, the intervals between the plurality of take-out heads are the same as the intervals between the plurality of mount heads in the head unit. If comprised in this way, a wafer component can be easily simultaneously delivered from several pick-out heads to several mounting heads.

この場合、好ましくは、複数の取出ヘッドを有する取出装置をさらに備え、取出装置に設けられた複数の取出ヘッド同士の間隔は、ヘッドユニットの複数の実装ヘッド同士の間隔と同一となるように構成されている。このように構成すれば、取出装置の複数の取出ヘッドから複数の実装ヘッドに容易に同時にウエハ部品を受け渡すことができる。   In this case, preferably, the apparatus further includes an extraction device having a plurality of extraction heads, and the interval between the plurality of extraction heads provided in the extraction device is configured to be the same as the interval between the plurality of mounting heads of the head unit. Has been. If comprised in this way, a wafer component can be easily simultaneously delivered to several mounting heads from several pick-up heads of the pick-up apparatus.

上記取出装置が複数の取出ヘッドを有する構成において、好ましくは、取出装置は、2つの取出ヘッドと、取出ヘッドの上下反転のための回転駆動をするために設けられる駆動装置とを有しており、2つの取出ヘッドは、互いに隣接して配置されるとともに、駆動装置は、2つの取出ヘッドの外側に配置されている。このように構成すれば、2つの取出ヘッドの間に駆動装置がない分、2つの取出ヘッド同士の間隔を小さくすることができるので、取出装置の2つの取出ヘッド同士の間隔とヘッドユニットの実装ヘッド同士の間隔とを容易に等しくすることができる。   In the configuration in which the take-out device has a plurality of take-out heads, preferably, the take-out device has two take-out heads and a drive device provided for rotationally driving the take-out heads upside down. The two extraction heads are arranged adjacent to each other, and the drive device is arranged outside the two extraction heads. If comprised in this way, since there is no drive device between two extraction heads, since the space | interval of two extraction heads can be made small, the space | interval of two extraction heads of an extraction device and mounting of a head unit are possible. The distance between the heads can be easily made equal.

上記ウエハ部品の受け渡し時に、複数の取出ヘッド同士の間隔が複数の実装ヘッド同士の間隔と同一である構成において、好ましくは、取出装置は、取出ヘッドを少なくとも1つ有するとともに、水平面内で移動可能な第1取出装置と、取出ヘッドを少なくとも1つ有するとともに、第1取出装置から独立して水平面内で移動可能な第2取出装置とを含み、第1取出装置の取出ヘッドおよび第2取出装置の取出ヘッドからヘッドユニットへのウエハ部品の受け渡し時に、第1取出装置の取出ヘッドと第2取出装置の取出ヘッドとの間隔がヘッドユニットの複数の実装ヘッド同士の間隔と同一となるように、第1取出装置および第2取出装置の少なくとも一方が移動するように構成されている。このように構成すれば、互いに独立して移動可能な第1取出装置の取出ヘッドと第2取出装置の取出ヘッドとを用いて、それぞれの取出ヘッドのウエハ部品をヘッドユニットの複数の実装ヘッドに同時に受け渡すことができる。   In the configuration in which the intervals between the plurality of extraction heads are the same as the intervals between the plurality of mounting heads when the wafer part is delivered, preferably the extraction device has at least one extraction head and is movable in a horizontal plane. A first take-out device, and a second take-out device having at least one take-out head and movable in a horizontal plane independently of the first take-out device, the take-out head and the second take-out device of the first take-out device When the wafer parts are transferred from the take-out head to the head unit, the interval between the take-out head of the first take-out device and the take-out head of the second take-out device is the same as the intervals between the plurality of mounting heads of the head unit. At least one of the first take-out device and the second take-out device is configured to move. If comprised in this way, the wafer component of each take-out head can be used as a plurality of mounting heads of the head unit by using the take-out head of the first take-out device and the take-out head of the second take-out device that can move independently from each other. Can be delivered at the same time.

上記一の局面による実装機において、好ましくは、ウエハ保持テーブルは、基台に対して基板が搬送されるX方向と水平面内で直交するY方向に移動可能に構成されており、突上げ装置は、基台に対してX方向に少なくとも移動可能に構成されており、取出装置は、基台に対して少なくともX方向に移動可能に構成されている。このように構成すれば、ウエハ保持テーブルをX方向に移動させなくても、突上げ装置および取出装置をX方向に移動させることによって、取出対象の部品と突上げ装置および取出装置との位置合わせを行うことができる。これにより、比較的平面積の大きいウエハ保持テーブルをX方向に移動させる必要がないので、装置が水平面内のX方向に大きくなってしまうことを抑制することができる。   In the mounting machine according to the one aspect described above, preferably, the wafer holding table is configured to be movable in the Y direction orthogonal to the X direction in which the substrate is transported with respect to the base in the horizontal plane. The take-out device is configured to be movable at least in the X direction with respect to the base. If comprised in this way, even if it does not move a wafer holding table to a X direction, by moving a pushing-up apparatus and a taking-out apparatus to a X direction, alignment of the components to be picked up and a pushing-out apparatus and a taking-out apparatus is carried out. It can be performed. Thereby, since it is not necessary to move the wafer holding table having a relatively large plane area in the X direction, it is possible to prevent the apparatus from becoming large in the X direction in the horizontal plane.

上記一の局面による実装機において、好ましくは、ウエハ保持テーブルは、基台に対して基板が搬送されるX方向と、X方向と水平面内で直交するY方向とに移動可能に構成されている。このように構成すれば、ウエハ保持テーブルをX方向およびY方向に移動させることにより、取出対象のウエハ部品を取出装置の取出ヘッドと突上げ装置とにより挟まれる取出し位置に移動させて取出動作を行うことができる。   In the mounting machine according to the above aspect, the wafer holding table is preferably configured to be movable in the X direction in which the substrate is transported with respect to the base and the Y direction orthogonal to the X direction in the horizontal plane. . According to this structure, the wafer holding table is moved in the X direction and the Y direction, whereby the wafer part to be taken out is moved to the take-out position sandwiched between the take-out head of the take-out device and the push-up device, and the take-out operation is performed. It can be carried out.

本発明の第1実施形態による実装機の全体構成(ウエハ保持テーブルが部品取出作業位置)を示す平面図である。It is a top view which shows the whole structure of the mounting machine by 1st Embodiment of this invention (a wafer holding table is a component extraction operation position). 本発明の第1実施形態による実装機の全体構成(ウエハ保持テーブルがウエハ受取位置)を示す平面図である。It is a top view which shows the whole structure (the wafer holding table is a wafer receiving position) of the mounting machine by 1st Embodiment of this invention. 本発明の第1実施形態による実装機の全体構成を示す正面図である。It is a front view which shows the whole structure of the mounting machine by 1st Embodiment of this invention. 本発明の第1実施形態による実装機の主な構成要素を示す斜視図である。It is a perspective view which shows the main components of the mounting machine by 1st Embodiment of this invention. 本発明の第1実施形態による実装機のウエハ部品の受け渡し状態を示す側面図である。It is a side view which shows the delivery state of the wafer components of the mounting machine by 1st Embodiment of this invention. 本発明の第1実施形態による実装機のウエハ部品の受け渡し状態を示す正面図である。It is a front view which shows the delivery state of the wafer components of the mounting machine by 1st Embodiment of this invention. 本発明の第1実施形態による実装機の制御系を示すブロック図である。It is a block diagram which shows the control system of the mounting machine by 1st Embodiment of this invention. 本発明の第1実施形態による実装機の実装動作を説明するためのフローチャートである。It is a flowchart for demonstrating mounting operation | movement of the mounting machine by 1st Embodiment of this invention. 本発明の第1実施形態の変形例による実装機の全体構成を示す平面図である。It is a top view which shows the whole structure of the mounting machine by the modification of 1st Embodiment of this invention. 本発明の第2実施形態による実装機の全体構成を示す平面図である。It is a top view which shows the whole structure of the mounting machine by 2nd Embodiment of this invention. 本発明の第2実施形態による実装機のウエハ部品の受け渡し状態を示す側面図である。It is a side view which shows the delivery state of the wafer components of the mounting machine by 2nd Embodiment of this invention. 本発明の第3実施形態による実装機の全体構成を示す平面図である。It is a top view which shows the whole structure of the mounting machine by 3rd Embodiment of this invention. 本発明の第3実施形態による実装機のウエハ部品の受け渡し状態を示す側面図である。It is a side view which shows the delivery state of the wafer components of the mounting machine by 3rd Embodiment of this invention. 本発明の第3実施形態による実装機のウエハ部品の他の受け渡し状態を示す側面図である。It is a side view which shows the other delivery state of the wafer component of the mounting machine by 3rd Embodiment of this invention.

以下、本発明の実施形態を図面に基づいて説明する。   Hereinafter, embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings.

(第1実施形態)
以下、図1〜図7を参照して、本発明の第1実施形態による実装機100の構造について説明する。なお、方向関係を明確にするために図中には適宜XYZ直角座標軸を示している。X軸方向は水平面と平行な方向であり、Y軸方向は水平面上でX軸方向と直交する方向であり、Z軸方向はX軸、Y軸にそれぞれ直交する方向である。
(First embodiment)
Hereinafter, the structure of the mounting machine 100 according to the first embodiment of the present invention will be described with reference to FIGS. In order to clarify the directional relationship, XYZ rectangular coordinate axes are appropriately shown in the drawing. The X-axis direction is a direction parallel to the horizontal plane, the Y-axis direction is a direction orthogonal to the X-axis direction on the horizontal plane, and the Z-axis direction is a direction orthogonal to the X-axis and the Y-axis.

実装機100は、ダイシングされたウエハWからベアチップを取り出してプリント基板P上に実装(装着)するとともに、部品供給装置160により供給されるパッケージ部品等をプリント基板P上に実装することが可能ないわゆる複合型の実装機である。   The mounting machine 100 can take out a bare chip from the diced wafer W and mount (mount) it on the printed circuit board P, and can mount a package component or the like supplied by the component supply device 160 on the printed circuit board P. This is a so-called composite type mounting machine.

この実装機100は、図1および図2に示すように、基台1と、所定の実装作業位置にプリント基板Pを搬入および搬出するためのコンベア2と、チップ部品を供給するためのチップ部品供給部3とを備えている。また、図2および図4に示すように、実装機100は、プリント基板P上に部品(ベアチップまたはチップ部品)を実装するための実装部4と、ウエハ収納部170から引き出されたウエハWを支持するウエハ保持テーブル5と、ウエハ保持テーブル5に支持されたウエハWからベアチップを取り出して実装部4に受け渡す取出装置6と、取出装置6によるベアチップの取出時にそのベアチップを下方から突き上げる突上げ装置7と、取出装置6によるベアチップの取出動作の前にそのベアチップを撮像する部品位置認識用の移動可能なカメラ8とを含む。なお、ベアチップは、本発明の「ウエハ部品」の一例である。   As shown in FIGS. 1 and 2, the mounting machine 100 includes a base 1, a conveyor 2 for loading and unloading a printed board P to and from a predetermined mounting work position, and chip components for supplying chip components. And a supply unit 3. As shown in FIGS. 2 and 4, the mounting machine 100 includes a mounting unit 4 for mounting a component (bare chip or chip component) on the printed circuit board P, and a wafer W pulled out from the wafer storage unit 170. Wafer holding table 5 to be supported, take-out device 6 for taking out the bare chip from wafer W supported by wafer holding table 5 and delivering it to mounting portion 4, and pushing up the bare chip from below when the take-out device 6 takes out the bare chip A device 7 and a movable camera 8 for recognizing a component position for imaging the bare chip before the take-out operation of the bare chip by the take-out device 6 are included. The bare chip is an example of the “wafer part” in the present invention.

コンベア2は、プリント基板Pを搬送するX方向に延びるコンベア本体と、このコンベア本体上でプリント基板Pを持ち上げて位置決めする図示しない位置決め機構とを含む。コンベアは、図1の右側から左側に向かってプリント基板Pをほぼ水平姿勢でX軸方向に搬送し、所定の実装作業位置にプリント基板Pを位置決め固定する。第1実施形態では、コンベア2による搬送経路上であってX軸方向に所定間隔だけ離間する位置(図中のプリント基板Pの位置)がそれぞれ実装作業位置とされる。なお、以下の説明では、実装作業位置のうちプリント基板Pの搬送方向上流側の位置を第1作業位置S1と呼び、下流側の位置を第2作業位置S2と呼ぶ。   The conveyor 2 includes a conveyor main body that extends in the X direction that conveys the printed circuit board P, and a positioning mechanism (not shown) that lifts and positions the printed circuit board P on the conveyor main body. The conveyor conveys the printed board P from the right side to the left side in FIG. 1 in the X-axis direction in a substantially horizontal posture, and positions and fixes the printed board P at a predetermined mounting work position. In the first embodiment, the positions (positions of the printed circuit board P in the drawing) that are separated by a predetermined interval in the X-axis direction on the conveyance path by the conveyor 2 are set as the mounting work positions. In the following description, a position on the upstream side in the transport direction of the printed circuit board P among the mounting work positions is referred to as a first work position S1, and a position on the downstream side is referred to as a second work position S2.

チップ部品供給部3は、実装機100の手前側の両端に設けられている。チップ部品供給部3は、トランジスタ、抵抗、コンデンサ等のチップ部品を供給するために設けられている。チップ部品供給部3には、例えばテープフィーダ161等の部品供給装置160がコンベア2に沿って並んで配置されている。各テープフィーダ161は、トランジスタ等のチップ部品を所定間隔で保持したテープが巻回されるリールと、リールを保持する保持部材と、リールからテープを引出しながらテープフィーダ先端の部品供給位置にチップ部品を送り出す部品送り機構等とを含む。テープフィーダ161はチップ部品供給部3に取り付けられた状態で、実装機100と連動してチップ部品の送り出し動作を行うように構成されている。すなわち、実装機100の実装部4により部品供給位置においてチップ部品をピックアップさせるとともに、このピックアップに伴い次のチップ部品を部品供給位置に繰り出すように構成されている。なお、チップ部品供給部3は、テープフィーダ161の代わりに、半導体パッケージ等の大型のパッケージ部品を載置したトレイ(図示せず)を設置することも可能である。この場合には、実装部4により当該トレイ上から直接パッケージ部品がピックアップされる。   The chip component supply unit 3 is provided at both ends on the front side of the mounting machine 100. The chip component supply unit 3 is provided to supply chip components such as transistors, resistors, and capacitors. In the chip component supply unit 3, for example, a component supply device 160 such as a tape feeder 161 is arranged along the conveyor 2. Each tape feeder 161 includes a reel on which a tape holding a chip component such as a transistor is wound, a holding member that holds the reel, and a chip component at a component supply position at the tip of the tape feeder while pulling out the tape from the reel. And a parts feeding mechanism for feeding The tape feeder 161 is configured to perform a chip component feeding operation in conjunction with the mounting machine 100 while being attached to the chip component supply unit 3. That is, the mounting part 4 of the mounting machine 100 is configured to pick up a chip component at the component supply position and to feed the next chip component to the component supply position along with this pickup. Note that the chip component supply unit 3 may be provided with a tray (not shown) on which a large package component such as a semiconductor package is placed instead of the tape feeder 161. In this case, the package part is picked up directly from the tray by the mounting unit 4.

実装部4は、ベアチップまたはチップ部品をプリント基板P上に実装するものであり、コンベア2の上方位置においてそれぞれ水平方向(XY方向)に移動することが可能な2つのヘッドユニット(第1ヘッドユニット41、第2ヘッドユニット42という)と、これらを個別に駆動する駆動手段とを含む。   The mounting unit 4 mounts a bare chip or a chip component on the printed circuit board P, and has two head units (first head unit) that can move in the horizontal direction (XY direction) above the conveyor 2. 41, the second head unit 42) and driving means for individually driving them.

第1ヘッドユニット41は、基台1上のうち主に第1作業位置S1を含む上流側の領域を可動領域としてこの領域内でのみ移動可能とされ、他方、第2ヘッドユニット42は、基台1上のうち主に第2作業位置S2を含む下流側の領域を可動領域としてこの領域内でのみ移動可能となっている。第1ヘッドユニット41(第2ヘッドユニット42)は、X軸方向に並ぶ2つの部品実装用ヘッド41aおよび1つのカメラ41b(2つの部品実装用ヘッド42aおよび1つのカメラ42b)を備えている。なお、部品実装用ヘッド41aおよび42aは、本発明の「実装ヘッド」の一例である。   The first head unit 41 can be moved only within this area, with the upstream area on the base 1 mainly including the first work position S1 as a movable area. On the other hand, the second head unit 42 is A downstream area on the table 1 that mainly includes the second work position S2 is set as a movable area and can move only within this area. The first head unit 41 (second head unit 42) includes two component mounting heads 41a and one camera 41b (two component mounting heads 42a and one camera 42b) arranged in the X-axis direction. The component mounting heads 41a and 42a are examples of the “mounting head” in the present invention.

第1ヘッドユニット41(第2ヘッドユニット42)は、テープフィーダ161によって供給されるチップ部品をこれら部品実装用ヘッド41a(42a)により吸着してプリント基板P上に実装するとともに、取出装置6によりウエハWから取り出されるベアチップを部品実装用ヘッド41a(42a)により吸着してプリント基板P上に実装する。これにより、トランジスタ、コンデンサ等のチップ部品とベアチップ(ベアチップ)との双方がプリント基板P上に実装される。また、第1ヘッドユニット41(第2ヘッドユニット42)は、プリント基板Pへの部品の実装に先立ってカメラ41b(42b)によりプリント基板Pに付されたフィデューシャルマーク(図示せず)を認識することにより、プリント基板Pの位置ずれが認識され、実装時に位置ずれ補正がされる。   The first head unit 41 (second head unit 42) mounts the chip component supplied by the tape feeder 161 on the printed circuit board P by adsorbing the chip component by the component mounting head 41a (42a). The bare chip taken out from the wafer W is sucked by the component mounting head 41a (42a) and mounted on the printed board P. As a result, both chip components such as transistors and capacitors and bare chips (bare chips) are mounted on the printed circuit board P. Further, the first head unit 41 (second head unit 42) has a fiducial mark (not shown) attached to the printed circuit board P by the camera 41b (42b) prior to mounting of the components on the printed circuit board P. By recognizing, the positional deviation of the printed circuit board P is recognized, and the positional deviation is corrected at the time of mounting.

図3に示すように、第1ヘッドユニット41および42の駆動手段は、第1ヘッドユニット41および第2ヘッドユニット42をそれぞれX軸方向に移動可能に支持する支持部材43および44と、実装機100の天井100aに設けられ、支持部材43および44を別個にY軸方向に移動可能に支持する固定レール45および46と、支持部材43および44に対して第1ヘッドユニット41および第2ヘッドユニット42をX軸方向に移動させるためのリニアモータからなる移動機構(図示せず)と、支持部材43および44をそれぞれ固定レール45および46に沿って別個にY軸方向に移動させるためのリニアモータからなる移動機構(図示せず)とを含む。   As shown in FIG. 3, the driving means of the first head units 41 and 42 includes support members 43 and 44 that support the first head unit 41 and the second head unit 42 so as to be movable in the X-axis direction, and a mounting machine. Fixed rails 45 and 46 which are provided on the ceiling 100a of the 100 and support the support members 43 and 44 separately so as to be movable in the Y-axis direction, and the first head unit 41 and the second head unit with respect to the support members 43 and 44 And a linear motor for moving the support members 43 and 44 separately in the Y-axis direction along the fixed rails 45 and 46, respectively. And a moving mechanism (not shown).

また、基台1上であって第1ヘッドユニット41および第2ヘッドユニット42のそれぞれの可動領域内には、部品認識用の固定カメラ9および10が設置されている。固定カメラ9および10は、例えばCCDやCMOS等の撮像素子を備えるカメラである。固定カメラ9および10は、第1ヘッドユニット41の部品実装用ヘッド41aおよび第2ヘッドユニット42の部品実装用ヘッド42aにより吸着されている部品を下側から撮像して、その画像信号を後述する制御装置11に出力するものである。   Also, fixed cameras 9 and 10 for component recognition are installed on the base 1 and in the movable regions of the first head unit 41 and the second head unit 42, respectively. The fixed cameras 9 and 10 are cameras including an image sensor such as a CCD or a CMOS. The fixed cameras 9 and 10 take images of components sucked by the component mounting head 41a of the first head unit 41 and the component mounting head 42a of the second head unit 42 from below, and the image signals will be described later. This is output to the control device 11.

また、図1に示すように、実装機100の手前側の中央部には、ウエハWが収納されるウエハ収納部170を着脱可能に固定することが可能である。ここで、ウエハ収納部170は、図4に示すように、ダイシングされた複数枚のウエハWを収容するものである。このウエハ収納部170は、ウエハWが保持された略円環状のホルダWhを上下複数段に収容するラックと、このラックを昇降駆動する駆動手段とを含む。ウエハ収納部170は、ラックの昇降によって、所望のウエハWをウエハ保持テーブル5に対して出し入れ可能な所定の出し入れ高さ位置に配置する。また、ウエハ保持テーブル5は、ウエハWの出し入れ機構(図示せず)を備えている。この出し入れ機構は、ウエハ保持テーブル5に対して前後(Y方向)に移動可能に構成され、先端にホルダ把持機構を備えたアームである。出し入れ機構は、ウエハ保持テーブル5がウエハ受取位置(図2参照)に配置された状態で、出し入れ高さ位置に配置されたラック内のウエハW(ホルダWh)をウエハ収納部170からウエハ保持テーブル5上に引き出すとともに、ウエハ保持テーブル5上のウエハWをラック内に収容する(戻す)ことが可能に構成されている。   Further, as shown in FIG. 1, a wafer storage part 170 in which the wafer W is stored can be detachably fixed to the central part on the front side of the mounting machine 100. Here, as shown in FIG. 4, the wafer storage unit 170 stores a plurality of diced wafers W. The wafer storage unit 170 includes a rack for storing a substantially annular holder Wh on which the wafer W is held in a plurality of upper and lower stages, and driving means for driving the rack up and down. The wafer storage unit 170 is arranged at a predetermined loading / unloading height position where a desired wafer W can be loaded / unloaded with respect to the wafer holding table 5 by raising / lowering the rack. Further, the wafer holding table 5 includes a wafer W loading / unloading mechanism (not shown). This loading / unloading mechanism is an arm that is configured to be movable back and forth (Y direction) with respect to the wafer holding table 5 and has a holder gripping mechanism at the tip. The loading / unloading mechanism moves the wafer W (holder Wh) in the rack disposed at the loading / unloading height position from the wafer storage unit 170 to the wafer holding table with the wafer holding table 5 disposed at the wafer receiving position (see FIG. 2). The wafer W on the wafer holding table 5 can be accommodated (returned) in the rack.

ウエハ収納部170に収容されている各ウエハWは、それぞれベアチップがフェイスアップ状態(回路形成面(プリント基板Pに対する実装面)が上向きの状態)となるようにフィルム状のウエハシート上に貼り着けられており、このウエハシートを介してホルダWhにより保持されている。   Each wafer W accommodated in the wafer accommodating portion 170 is stuck on a film-like wafer sheet so that the bare chip is face-up state (circuit formation surface (mounting surface with respect to the printed circuit board P) is upward). It is held by a holder Wh through this wafer sheet.

ウエハ保持テーブル5は、中央部に円形状の開口部を有しており、ウエハWを保持するホルダWhの開口部とウエハ保持テーブル5の開口部とが重なるようにホルダWhを保持可能である。これにより、ウエハ保持テーブル5にウエハW(ホルダWh)が保持された状態で、ウエハ保持テーブル5の下方から後述する突上げ装置7によりベアチップを突き上げることが可能である。   The wafer holding table 5 has a circular opening at the center, and can hold the holder Wh so that the opening of the holder Wh that holds the wafer W and the opening of the wafer holding table 5 overlap. . Accordingly, it is possible to push up the bare chip from below the wafer holding table 5 by the push-up device 7 to be described later while the wafer W (holder Wh) is held on the wafer holding table 5.

ウエハ保持テーブル5は、部品取出作業位置(図1参照)とウエハ受取位置(図2参照)との間で、基台1上をY方向に移動可能に構成されている。具体的には、ウエハ保持テーブル5は、基台1上にY軸方向に延びるように設けられた一対の固定レール51に移動可能に支持されており、所定の駆動手段によって固定レール51に沿って移動される。駆動手段は、固定レール51と平行に延びかつウエハ保持テーブル5のナット部分に螺合挿入されるボールねじ軸52と、ボールねじ軸52を回転駆動するための駆動モータ53とを含む。図3に示すように、ウエハ保持テーブル5は、コンベア2の下方位置を通って、所定の部品取出作業位置(図1参照)とウエハ収納部170近傍のウエハ受取位置(図2参照)との間を移動する。   The wafer holding table 5 is configured to be movable in the Y direction on the base 1 between a component picking work position (see FIG. 1) and a wafer receiving position (see FIG. 2). Specifically, the wafer holding table 5 is movably supported by a pair of fixed rails 51 provided on the base 1 so as to extend in the Y-axis direction, and along the fixed rails 51 by a predetermined driving means. Moved. The drive means includes a ball screw shaft 52 extending in parallel with the fixed rail 51 and screwed into the nut portion of the wafer holding table 5, and a drive motor 53 for driving the ball screw shaft 52 to rotate. As shown in FIG. 3, the wafer holding table 5 passes through a position below the conveyor 2 and is located between a predetermined part picking work position (see FIG. 1) and a wafer receiving position (see FIG. 2) near the wafer storage unit 170. Move between.

突上げ装置7は、部品取出作業位置に配置されたウエハ保持テーブル5上のウエハWのうち、取出し対象となるベアチップをその下側から突き上げることにより、当該ベアチップをウエハシートから剥離させながら持ち上げるものである。   The push-up device 7 lifts the bare chip to be picked up from the lower side of the wafer W on the wafer holding table 5 arranged at the component picking work position, thereby lifting the bare chip from the wafer sheet. It is.

この突上げ装置7は、それぞれ突上げピン(図示せず)を内蔵する一対の小径の突上げロッド(第1突上げロッド71a、第2突上げロッド71bという)備えた突上げヘッド71と、これを基台1上においてX軸方向に移動可能に支持する固定レール72と、突上げヘッド71を固定レール72に沿って移動させるための駆動手段とを含む。この駆動手段は、固定レール72と平行に延びかつ突上げヘッド71に螺合挿入される図外のボールねじ軸とこれを回転駆動するための突上げヘッド駆動モータ(図示せず)とを含む。突上げ装置7をX方向に移動可能に構成することにより、Y方向にのみ移動可能なウエハ保持テーブル5上に支持されているウエハWに対し、突上げヘッド71が任意のベアチップを突き上げることが可能となっている。   The thrust device 7 includes a thrust head 71 including a pair of small-diameter thrust rods (referred to as a first thrust rod 71a and a second thrust rod 71b) each incorporating a thrust pin (not shown). It includes a fixed rail 72 that supports the base 1 so as to be movable in the X-axis direction, and drive means for moving the push-up head 71 along the fixed rail 72. The drive means includes a ball screw shaft (not shown) that extends in parallel with the fixed rail 72 and is screwed into the push-up head 71, and a push-up head drive motor (not shown) for rotationally driving the shaft. . By configuring the push-up device 7 to be movable in the X direction, the push-up head 71 can push up an arbitrary bare chip with respect to the wafer W supported on the wafer holding table 5 movable only in the Y direction. It is possible.

突上げヘッド71の第1突上げロッド71aおよび第2突上げロッド71bは、上下方向に延び、それぞれ図示しないアクチュエータ(エアシリンダ等)により個別に昇降駆動される。つまり、ウエハ保持テーブル5の開口部の内側にこれら第1突上げロッド71aまたは第2突上げロッド71bが配置された状態で、第1突上げロッド71aまたは第2突上げロッド71bがウエハシートの下側のほぼ接触する位置まで上昇駆動され、その後所望のベアチップのXY方向位置に位置付けられた後、第1突上げロッド71aまたは第2突上げロッド71bから突上げピンが駆動モータ(図示せず)により上昇駆動されることによりベアチップを突き上げる。なお、第1突上げロッド71aおよび第2突上げロッド71bは、突上げ対象の部品の大きさなどに応じて突上げピンの太さなどを変更することが可能である。たとえば、異なる突上げピンを第1突上げロッド71aおよび第2突上げロッド71bに装着させておくことにより、部品の大きさなどにより第1突上げロッド71aまたは第2突上げロッド71bを使いわけて使用することが可能である。   The first push-up rod 71a and the second push-up rod 71b of the push-up head 71 extend in the vertical direction and are individually driven up and down by an actuator (such as an air cylinder) not shown. That is, in a state where the first push-up rod 71a or the second push-up rod 71b is arranged inside the opening of the wafer holding table 5, the first push-up rod 71a or the second push-up rod 71b is the wafer sheet. After being driven up to a substantially contacting position on the lower side and then positioned at the desired position in the XY direction of the bare chip, a push-up pin is driven by a drive motor (not shown) from the first push-up rod 71a or the second push-up rod 71b. ) To lift the bare chip. The first push-up rod 71a and the second push-up rod 71b can change the thickness of the push-up pin in accordance with the size of the part to be pushed up. For example, by attaching different push-up pins to the first push-up rod 71a and the second push-up rod 71b, the first push-up rod 71a or the second push-up rod 71b can be used properly depending on the size of the parts. Can be used.

第1突上げロッド71aおよび第2突上げロッド71bは、2段階の高さ位置に昇降駆動可能である。すなわち、ウエハ保持テーブル5を部品取出作業位置(図1参照)とウエハ収納部170近傍のウエハ受取位置(図2参照)との間で移動させる際に、ウエハ保持テーブル5との干渉を避けるための最下位置と、ウエハ保持テーブル5が部品取出作業位置(図1参照)に位置する状態で、ホルダWhの開口部内側においてウエハWの下面近傍に位置する突上げ待機位置との間で昇降駆動可能であり、突上げピンは、待機位置にある第1突上げロッド71aまたは第2突上げロッド71bに内蔵される位置とウエハ保持テーブル5の上面よりも上方に位置する部品突上げ位置との間で昇降駆動可能である。   The first push-up rod 71a and the second push-up rod 71b can be driven up and down to a two-stage height position. That is, in order to avoid interference with the wafer holding table 5 when the wafer holding table 5 is moved between the part picking work position (see FIG. 1) and the wafer receiving position in the vicinity of the wafer storage unit 170 (see FIG. 2). Up and down between the lowermost position and the push-up standby position located in the vicinity of the lower surface of the wafer W inside the opening of the holder Wh with the wafer holding table 5 positioned at the component picking work position (see FIG. 1). The push-up pins can be driven, and the push-up pin has a position built into the first push-up rod 71a or the second push-up rod 71b at the standby position and a component push-up position positioned above the upper surface of the wafer holding table 5. Can be driven up and down.

取出装置6は、突上げ装置7により突き上げられたベアチップを吸着して第1ヘッドユニット41および第2ヘッドユニット42に受け渡すものである。   The take-out device 6 sucks the bare chip pushed up by the push-up device 7 and delivers it to the first head unit 41 and the second head unit 42.

この取出装置6は、所定の駆動手段により部品取出作業位置の上方位置において水平方向(XY方向)に移動される。この駆動手段は、以下のような構成を有する。   The take-out device 6 is moved in the horizontal direction (XY direction) at a position above the part take-out work position by a predetermined driving means. This driving means has the following configuration.

すなわち、部品取出作業位置には、X軸方向に所定間隔を隔てて配置されかつY軸方向に互いに平行に延びる一対の高架の固定レール61と、両端をそれぞれ固定レール61上に移動可能に支持されたX軸方向に延びるフレーム部材62と、固定レール61に近接する位置に配置されてY軸方向に延び、かつフレーム部材62両端のナット部材(図示省略)にそれぞれ螺合挿入される一対のボールねじ軸63と、ボールねじ軸63を回転駆動する一対のフレーム駆動モータ64とが設けられている。   That is, a pair of elevated fixed rails 61 arranged at predetermined intervals in the X-axis direction and extending in parallel with each other in the Y-axis direction, and both ends thereof are movably supported on the fixed rails 61 at the part extraction work position. A pair of frame members 62 extending in the X-axis direction and a pair of screws disposed in positions close to the fixed rail 61 and extending in the Y-axis direction and screwed into nut members (not shown) at both ends of the frame member 62. A ball screw shaft 63 and a pair of frame drive motors 64 that rotationally drive the ball screw shaft 63 are provided.

フレーム部材62には、その手前側に固定されてX軸方向に延びる第1レール(図示省略)と、後側に固定されてX軸方向に延びる第2レール(図示省略)とが設けられている。第1レールに取出装置6が移動可能に支持されており、第2レールにカメラ8がそれぞれ移動可能に支持されている。そして、フレーム部材62に、X軸方向に延びて取出装置6のナット部材(図示省略)に螺合挿入されるボールねじ軸(図示省略)と、このボールねじ軸を回転駆動する駆動モータ65と、X軸方向に延びてカメラ8のナット部材(図示省略)に螺合挿入されるボールねじ軸(図示省略)と、このボールねじ軸を回転駆動する駆動モータ66とが備えられている。すなわち、各フレーム駆動モータ64の作動によりフレーム部材62を固定レール61に沿って移動させ、このフレーム部材62の移動に伴い取出装置6およびカメラ8を一体的にY軸方向に移動させる。   The frame member 62 is provided with a first rail (not shown) fixed to the front side and extending in the X-axis direction, and a second rail (not shown) fixed to the rear side and extending in the X-axis direction. Yes. The take-out device 6 is movably supported on the first rail, and the camera 8 is movably supported on the second rail. A ball screw shaft (not shown) extending in the X-axis direction and screwed into the nut member (not shown) of the take-out device 6 is inserted into the frame member 62, and a drive motor 65 that rotationally drives the ball screw shaft. A ball screw shaft (not shown) that extends in the X-axis direction and is screwed into a nut member (not shown) of the camera 8 and a drive motor 66 that rotationally drives the ball screw shaft are provided. That is, the frame member 62 is moved along the fixed rail 61 by the operation of each frame drive motor 64, and the take-out device 6 and the camera 8 are integrally moved in the Y-axis direction as the frame member 62 moves.

また、駆動モータ65の作動によりフレーム部材62のY方向手前側の位置で取出装置6をX軸方向に移動させるとともに、駆動モータ66の作動によりフレーム部材62のY方向の後側の位置でカメラ8をX軸方向に移動させる。これにより取出装置6およびカメラ8が部品取出作業位置の上方位置において水平方向(XY方向)にそれぞれ独立に移動可能となっている。   The take-out device 6 is moved in the X-axis direction at a position on the front side in the Y direction of the frame member 62 by the operation of the drive motor 65, and the camera is moved at the position on the rear side in the Y direction of the frame member 62 by the operation of the drive motor 66. 8 is moved in the X-axis direction. As a result, the take-out device 6 and the camera 8 can be independently moved in the horizontal direction (XY direction) at a position above the part take-out work position.

取出装置6のXY方向における可動領域と第1ヘッドユニット41および第2ヘッドユニット42のXY方向における可動領域とは一部重複している。これにより、後述するように取出装置6から第1ヘッドユニット41および第2ヘッドユニット42へのベアチップの受渡しが可能となっている。なお、図3に示すように、取出装置6、カメラ8および上記したこれらの駆動手段は、第1ヘッドユニット41および第2ヘッドユニット42およびこれらの駆動手段よりも下方に位置している。従って、取出装置6等の可動領域と第1ヘッドユニット41および第2ヘッドユニット42の各可動領域とは上記のように一部重複するが、取出装置6と第1ヘッドユニット41および第2ヘッドユニット42とが互いに干渉することは無い。   The movable area in the XY direction of the take-out device 6 and the movable areas in the XY direction of the first head unit 41 and the second head unit 42 partially overlap. As a result, the bare chip can be delivered from the take-out device 6 to the first head unit 41 and the second head unit 42 as will be described later. As shown in FIG. 3, the take-out device 6, the camera 8, and the driving means described above are positioned below the first head unit 41, the second head unit 42, and the driving means. Accordingly, the movable area of the take-out device 6 and the movable areas of the first head unit 41 and the second head unit 42 partially overlap as described above, but the take-out apparatus 6, the first head unit 41, and the second head. The units 42 do not interfere with each other.

取出装置6は、一対のウエハヘッド(第1ウエハヘッド6a、第2ウエハヘッド6bと呼ぶ)を備えている。なお、第1ウエハヘッド6aおよび第2ウエハヘッド6bは、本発明の「取出ヘッド」の一例である。   The take-out device 6 includes a pair of wafer heads (referred to as a first wafer head 6a and a second wafer head 6b). The first wafer head 6a and the second wafer head 6b are examples of the “takeout head” in the present invention.

第1ウエハヘッド6aおよび第2ウエハヘッド6bは、ドラム型のヘッドである。すなわち、第1ウエハヘッド6aおよび第2ウエハヘッド6bは、X軸方向と平行な軸線回りに回転が可能で、かつ上下方向への移動(昇降)が可能となるように、取出装置6のフレーム部材6cにそれぞれ昇降可能に支持されるブラケット部材6dと、ブラケット部材6dにX軸回りに回転可能に支持されるとともに、両ブラケット部材6dの内側に設けられる部品吸着用の一対のノズル6eとを有する。   The first wafer head 6a and the second wafer head 6b are drum type heads. That is, the first wafer head 6a and the second wafer head 6b can be rotated about an axis parallel to the X-axis direction, and can be moved in the vertical direction (lifted / lowered). A bracket member 6d that is supported by the member 6c so as to be movable up and down, and a pair of nozzles 6e that are supported by the bracket member 6d so as to be rotatable about the X axis and that are provided inside the bracket members 6d. Have.

第1ウエハヘッド6aの一対のノズル6eは、上下真逆の位置に設けられており、一方側のノズル6eが真下に向くときに他方側のノズル6eが真上を向くように設けられている。両ブラケット部材6dの外側にそれぞれ設けられた駆動モータ6fが回転駆動されることにより、一対のノズル6eの位置が交互に入れ替わる。なお、取出装置6において、第1ウエハヘッド6aおよび第2ウエハヘッド6bは互いに隣接して配置されているとともに、駆動モータ6fは一対のウエハヘッドを挟んで外側に配置されている。なお駆動モータ6fは、本発明の「駆動装置」の一例である。   The pair of nozzles 6e of the first wafer head 6a are provided at positions that are exactly upside down, and are provided so that the nozzle 6e on the other side faces directly above when the nozzle 6e on one side faces directly below. . The drive motors 6f provided on the outer sides of both bracket members 6d are rotationally driven, whereby the positions of the pair of nozzles 6e are alternately switched. In the take-out device 6, the first wafer head 6a and the second wafer head 6b are disposed adjacent to each other, and the drive motor 6f is disposed outside with the pair of wafer heads interposed therebetween. The drive motor 6f is an example of the “drive device” in the present invention.

また、図示しない駆動モータの駆動により、ブラケット部材6dがフレーム部材6cに対し昇降し、ノズル6eを含む第1ウエハヘッド6a全体が昇降する。第2ウエハヘッド6bも同様の構成である。なお、図6に示すように、第1ウエハヘッド6aおよび第2ウエハヘッド6bのノズル6e同士の間隔D1(X軸方向の間隔)は、第1ヘッドユニット41に搭載される部品実装用ヘッド41aの間隔D2および第2ヘッドユニット42に搭載される部品実装用ヘッド42aの間隔D2と同間隔とされている。これにより、2つのウエハヘッド(第1ウエハヘッド6aおよび第2ウエハヘッド6b)から第1ヘッドユニット41の2つの部品実装用ヘッド41aまたは第2ヘッドユニット42の2つの部品実装用ヘッド42aに対して、同時に2つのベアチップの受渡しが可能となっている。   Further, by driving a drive motor (not shown), the bracket member 6d is moved up and down with respect to the frame member 6c, and the entire first wafer head 6a including the nozzle 6e is moved up and down. The second wafer head 6b has the same configuration. As shown in FIG. 6, the distance D1 (the distance in the X-axis direction) between the nozzles 6e of the first wafer head 6a and the second wafer head 6b is a component mounting head 41a mounted on the first head unit 41. The distance D2 is equal to the distance D2 between the component mounting heads 42a mounted on the second head unit 42. As a result, the two component mounting heads 41a of the first head unit 41 or the two component mounting heads 42a of the second head unit 42 from the two wafer heads (the first wafer head 6a and the second wafer head 6b). At the same time, two bare chips can be delivered.

カメラ8は、例えばCCDやCMOS等の撮像素子を備えるカメラである。カメラ8は、ウエハWからのベアチップの取り出しに先立ち、取り出し対象となるベアチップを撮像し、その画像信号を制御装置11に出力するものである。なお、取出装置6がヘッドユニットに部品を受け渡す時には、取出装置6はコンベア2に最も近接した位置(部品受け渡し位置Y1)に移動される。この時、図5に示すように、カメラ8のY方向の位置Y2と突上げ装置7のY方向の位置とが重なるように突上げ装置7のY方向の位置は決められている。これにより、部品の受け渡し動作と並行して次の部品の撮像を行った後、その次の部品の取出動作を行う際に、部品のヘッドユニットへの受け渡しから次の部品の取出しまでの取出装置6の移動量を最小限(位置Y1から位置Y2まで)にすることができる。   The camera 8 is a camera including an image sensor such as a CCD or a CMOS. Prior to the removal of the bare chip from the wafer W, the camera 8 images the bare chip to be extracted and outputs the image signal to the control device 11. When the take-out device 6 delivers a component to the head unit, the take-out device 6 is moved to a position closest to the conveyor 2 (component delivery position Y1). At this time, as shown in FIG. 5, the position of the thrusting device 7 in the Y direction is determined so that the position Y2 of the camera 8 in the Y direction and the position of the thrusting device 7 in the Y direction overlap. As a result, after the next part is imaged in parallel with the part delivery operation, when the next part is taken out, the take-out device from the delivery of the part to the head unit until the next part is taken out. 6 can be minimized (from position Y1 to position Y2).

図7は、この実装機100の制御系をブロック図で示している。図7に示すように、この実装機100は、CPUや各種メモリ、HDD等からなる制御装置11を備えている。この制御装置11には、上記した各駆動モータ等(駆動モータ53、フレーム駆動モータ64、駆動モータ65、駆動モータ66、駆動モータ6f、その他の駆動モータ、さらに第1突上げロッド71a昇降用エアシリンダおよび第2突上げロッド71a昇降用エアシリンダへの空気回路における制御弁駆動ソレノイドを含む)、カメラ8、固定カメラ9および10等がそれぞれ電気的に接続されており、これにより各部の動作が制御装置11によって統括的に制御される。また、この制御装置11には、図外の入力装置が電気的に接続されており、オペレータによる各種情報がこの入力装置の操作に基づき入力されるとともに、各駆動モータに内蔵される図外のエンコーダ等の位置検出手段からの出力信号も入力される。   FIG. 7 shows a control system of the mounting machine 100 in a block diagram. As shown in FIG. 7, the mounting machine 100 includes a control device 11 including a CPU, various memories, an HDD, and the like. The control device 11 includes the above-described drive motors and the like (drive motor 53, frame drive motor 64, drive motor 65, drive motor 66, drive motor 6f, other drive motors, and air for raising and lowering the first push-up rod 71a. The control valve drive solenoid in the air circuit to the cylinder and the second thrust rod 71a ascending / descending air cylinder), the camera 8, the fixed cameras 9 and 10 and the like are electrically connected to each other. It is controlled by the control device 11 in a centralized manner. Further, an input device (not shown) is electrically connected to the control device 11, and various types of information by the operator are input based on the operation of the input device, and are not shown. An output signal from position detection means such as an encoder is also input.

この制御装置11は、その機能要素として、上記各駆動モータの駆動や各制御弁の駆動ソレノイドを制御する軸制御部11aと、各カメラ(固定カメラ9および10、カメラ41b、42bなど)からの画像信号に所定の処理を施す画像処理部11bと、図外のセンサからの信号の入力および各種制御信号の出力等を制御するI/O処理部11cと、外部装置との通信を制御する通信制御部11dと、実装プログラム等の各種プログラムや各種データを記憶する記憶部11eと、これらを統括的に制御するとともに、各種の演算処理を実行する主演算部11fとを含んでいる。   As a functional element, the control device 11 includes a shaft control unit 11a that controls driving of the driving motors and driving solenoids of the control valves, and cameras (fixed cameras 9 and 10, cameras 41b and 42b, etc.). An image processing unit 11b that performs predetermined processing on an image signal, an I / O processing unit 11c that controls input of signals from a sensor (not shown), output of various control signals, and the like, and communication that controls communication with an external device It includes a control unit 11d, a storage unit 11e that stores various programs such as mounting programs and various data, and a main calculation unit 11f that performs overall control and executes various calculation processes.

そして、この制御装置11は、各駆動モータ等を予め定められたプログラムに基づいて制御することにより、コンベア2、ウエハ保持テーブル5、取出装置6、突上げ装置7、第1ヘッドユニット41および第2ヘッドユニット42等を制御する。これにより、ウエハ収納部170に対するウエハWの出し入れ、ウエハWからのベアチップの取り出しおよび第1ヘッドユニット41および第2ヘッドユニット42による部品の実装等の一連の動作(部品実装動作)を実行させる。   The control device 11 controls each drive motor and the like based on a predetermined program, whereby the conveyor 2, the wafer holding table 5, the take-out device 6, the push-up device 7, the first head unit 41, and the first head unit 41 2 The head unit 42 and the like are controlled. Thus, a series of operations (component mounting operation) such as loading / unloading of the wafer W into / from the wafer storage unit 170, removal of the bare chip from the wafer W, and mounting of components by the first head unit 41 and the second head unit 42 are executed.

次に、図8を参照して、この制御装置11による部品実装動作の制御について説明する。   Next, the control of the component mounting operation by the control device 11 will be described with reference to FIG.

まず、ステップS1において、制御装置11は、コンベア2を制御することにより、プリント基板Pを実装機100内に搬入する。そして、ステップS2において、制御装置11は、コンベア2を制御することにより、プリント基板Pを第1作業位置S1および第2作業位置S2に配置した状態で固定する。   First, in step S <b> 1, the control device 11 carries the printed board P into the mounting machine 100 by controlling the conveyor 2. And in step S2, the control apparatus 11 fixes the printed circuit board P in the state arrange | positioned in 1st work position S1 and 2nd work position S2 by controlling the conveyor 2. FIG.

この後、ステップS3において、制御装置11は、ウエハ保持テーブル5を制御することによりウエハ収納部170からウエハWを引き出す。具体的には、駆動モータ53を駆動することによりウエハ保持テーブル5をウエハ受取位置(図2参照)に移動させる。そして、図示しない出し入れ機構によりウエハW(ホルダWh)をウエハ収納部170からウエハ保持テーブル5上に引き出す。そして、ステップS4において、引き出したウエハWをウエハ保持テーブル5に固定する。この後、ウエハ保持テーブル5を制御することにより、部品取出作業位置(図1参照)に配置する。   Thereafter, in step S <b> 3, the control device 11 pulls out the wafer W from the wafer storage unit 170 by controlling the wafer holding table 5. Specifically, the drive motor 53 is driven to move the wafer holding table 5 to the wafer receiving position (see FIG. 2). Then, the wafer W (holder Wh) is pulled out from the wafer storage unit 170 onto the wafer holding table 5 by a loading / unloading mechanism (not shown). In step S 4, the pulled wafer W is fixed to the wafer holding table 5. Thereafter, the wafer holding table 5 is controlled so as to be placed at the part picking work position (see FIG. 1).

この際、制御装置11は、ウエハW内のベアチップのうち取り出し対象となるベアチップのY方向位置が、X方向に移動可能な突上げヘッド71の第1突上げロッド71aの中心の突上げピン、および第2突上げロッド71bの中心の突上げピンのY方向位置に一致するようにウエハ保持テーブル5を移動させる。   At this time, the control device 11 has a push-up pin at the center of the first push-up rod 71a of the push-up head 71 in which the Y-direction position of the bare chip to be taken out of the bare chips in the wafer W is movable in the X direction, Then, the wafer holding table 5 is moved so as to coincide with the Y-direction position of the push-up pin at the center of the second push-up rod 71b.

ウエハWが部品取出作業位置に配置されると、ステップS5において、制御装置11は、カメラ8を制御することにより、取出し対象のベアチップの撮像を行う。具体的には、フレーム駆動モータ64を駆動することによりフレーム部材62をY軸方向に移動させるとともに、駆動モータ66を駆動することによりカメラ8をX軸方向に移動させる。これにより取り出し対象(吸着対象)となるベアチップの上方位置にカメラ8を配置する。そして、カメラ8にそのベアチップを撮像させる。制御装置11は、この画像データに基づいてベアチップの位置(位置ずれ)を求める。この場合、制御装置11は、必要に応じて複数のベアチップを一度に、又は連続してカメラ8に撮像させる。   When the wafer W is placed at the component extraction work position, in step S5, the control device 11 controls the camera 8 to image the bare chip to be extracted. Specifically, the frame drive motor 64 is driven to move the frame member 62 in the Y-axis direction, and the drive motor 66 is driven to move the camera 8 in the X-axis direction. As a result, the camera 8 is arranged at a position above the bare chip to be taken out (sucking target). Then, the bare chip is imaged by the camera 8. The control device 11 obtains the position (position shift) of the bare chip based on this image data. In this case, the control device 11 causes the camera 8 to image a plurality of bare chips at once or continuously as necessary.

次に、制御装置11は、カメラ8による撮像結果に基づき、突上げ装置7、取出装置6およびウエハ保持テーブル5を制御し、突上げヘッド71の突上げピンと、取出装置6のノズル6eと、取り出し対象となるベアチップとをXY平面上の同一位置に移動させる。具体的には、突上げヘッド71をX軸方向に移動させるとともに、駆動モータ53を駆動することによりウエハ保持テーブル5をY軸方向に移動させる。これにより突上げヘッド71の第1突上げロッド71aまたは第2突上げロッド71bを、中心の突上げピンが取り出し対象となるベアチップの下方位置となるように移動させる。また、フレーム駆動モータ64を駆動することによりフレーム部材62をY軸方向に移動させるとともに、駆動モータ65を駆動することにより取出装置6をX軸方向にそれぞれ移動させる。これにより第1ウエハヘッド6aまたは第2ウエハヘッド6bをベアチップの上方位置に移動させる。   Next, the control device 11 controls the push-up device 7, the take-out device 6 and the wafer holding table 5 on the basis of the imaging result by the camera 8, and the push-up pin of the push-up head 71, the nozzle 6 e of the take-out device 6, The bare chip to be taken out is moved to the same position on the XY plane. Specifically, the push-up head 71 is moved in the X-axis direction, and the drive motor 53 is driven to move the wafer holding table 5 in the Y-axis direction. As a result, the first push-up rod 71a or the second push-up rod 71b of the push-up head 71 is moved so that the center push-up pin is positioned below the bare chip to be taken out. The frame drive motor 64 is driven to move the frame member 62 in the Y-axis direction, and the drive motor 65 is driven to move the take-out device 6 in the X-axis direction. Thus, the first wafer head 6a or the second wafer head 6b is moved to a position above the bare chip.

そして、制御装置11は、部品の大きさなどに応じて第1突上げロッド71aまたは第2突上げロッド71bから突上げピンを上昇させる(駆動する)ことにより当該ベアチップをその下側から突き上げる。この際、突上げロッド71aまたは71bの先端面に負圧を発生させてベアチップが貼り付けられているウエハシートを吸着保持しがら、突上げロッド71aまたは71bの先端面中央部から突上げピンを突き上げる。その一方で、第1ウエハヘッド6aあるいは第2ウエハヘッド6bを下降させて、突上げられることによりウエハシートから剥がされたベアチップをノズル6eの先端部の負圧により吸着させる。これによりウエハWからのベアチップの取り出しを行う。以上のウエハWからのベアチップの取り出しは、第1ウエハヘッド6aおよび第2ウエハヘッド6bそれぞれについて順次実施され、各ノズル6eにそれぞれベアチップが吸着保持される。   The control device 11 pushes up the bare chip from the lower side by raising (driving) the push-up pin from the first push-up rod 71a or the second push-up rod 71b according to the size of the component. At this time, a negative pressure is generated on the front end surface of the push-up rod 71a or 71b to suck and hold the wafer sheet to which the bare chip is attached, and the push-up pin is inserted from the center of the front end surface of the push-up rod 71a or 71b. Push up. On the other hand, the first wafer head 6a or the second wafer head 6b is lowered and the bare chip peeled off from the wafer sheet by being pushed up is adsorbed by the negative pressure at the tip of the nozzle 6e. Thereby, the bare chip is taken out from the wafer W. The above-described removal of the bare chip from the wafer W is sequentially performed for each of the first wafer head 6a and the second wafer head 6b, and the bare chip is sucked and held by each nozzle 6e.

次に、ステップS7において、制御装置11は、取出装置6からヘッドユニットへのベアチップの受け渡しを行う。具体的には、制御装置11は、取出装置6を制御することにより所定の部品受渡し位置(コンベア2に最も近接した位置)に取出装置6を移動させるとともに、実装部4を制御することにより第1ヘッドユニット41(又は第2ヘッドユニット42)を部品受渡し位置に移動させる。これにより部品受渡し位置において取出装置6と第1ヘッドユニット41(又は第2ヘッドユニット42)とを上下に配置する。   Next, in step S7, the control device 11 delivers the bare chip from the take-out device 6 to the head unit. Specifically, the control device 11 controls the take-out device 6 to move the take-out device 6 to a predetermined component delivery position (position closest to the conveyor 2) and to control the mounting unit 4 to The one head unit 41 (or the second head unit 42) is moved to the component delivery position. Accordingly, the take-out device 6 and the first head unit 41 (or the second head unit 42) are arranged vertically at the component delivery position.

取出装置6および第1ヘッドユニット41(第2ヘッドユニット42)が部品受渡し位置に配置されるまでの移動中に、制御装置11は、両駆動モータ6fを制御することにより第1ウエハヘッド6aおよび第2ウエハヘッド6bを回転させる。これにより各ノズル6eに吸着されているベアチップを反転(フェイスダウンの状態に反転)させた後、当該ベアチップを第1ヘッドユニット41の下降させた2つの部品実装用ヘッド41aまたは第2ヘッドユニット42の下降させた2つの部品実装用ヘッド42aにより吸着させる。これにより取出装置6から第1ヘッドユニット41(第2ヘッドユニット42)へのベアチップの受渡しを2つのベアチップ分まとめて同時に行う。   During the movement until the take-out device 6 and the first head unit 41 (second head unit 42) are arranged at the component delivery position, the control device 11 controls the first drive head 6a and the first wafer head 6a by controlling both drive motors 6f. The second wafer head 6b is rotated. As a result, the bare chip adsorbed by each nozzle 6e is reversed (reversed to the face-down state), and then the two heads 41a or the second head unit 42 in which the first head unit 41 descends the bare chip. It is adsorbed by the two component mounting heads 42a lowered. As a result, the delivery of bare chips from the take-out device 6 to the first head unit 41 (second head unit 42) is performed simultaneously for two bare chips.

次に、ステップS8において、制御装置11は、第1ヘッドユニット41を固定カメラ9(第2ヘッドユニット42の場合は固定カメラ10)上方に移動させ、各部品実装用ヘッドに吸着されたベアチップを固定カメラに撮像させるとともに、その画像データに基づき各部品実装用ヘッドに対するベアチップの吸着ずれを演算する。   Next, in step S8, the control device 11 moves the first head unit 41 above the fixed camera 9 (the fixed camera 10 in the case of the second head unit 42), and removes the bare chip adsorbed by each component mounting head. While making a fixed camera image, the adsorption | suction deviation | shift of the bare chip with respect to each component mounting head is calculated based on the image data.

次に、ステップS9において、制御装置11は、第1ヘッドユニット41(第2ヘッドユニット42)のカメラ41b(42b)により、コンベア2に固定されているプリント基板Pに付されているフィデューシャルマーク(図示せず)を認識する。これにより、制御装置11はプリント基板Pのコンベア2に対する位置ずれを認識する。   Next, in step S <b> 9, the control device 11 uses the camera 41 b (42 b) of the first head unit 41 (second head unit 42) to perform the fiducial attached to the printed circuit board P fixed to the conveyor 2. Recognizes a mark (not shown). Thereby, the control apparatus 11 recognizes the position shift with respect to the conveyor 2 of the printed circuit board P. FIG.

そして、ステップS10において、制御装置11は、ベアチップの吸着ずれおよびプリント基板Pの位置ずれに基づいて第1ヘッドユニット41(第2ヘッドユニット42)をプリント基板P上方の補正した位置に移動させる。そして、所定の実装位置で部品実装用ヘッドを下降させることによりベアチップをプリント基板P上に実装する。   In step S <b> 10, the control device 11 moves the first head unit 41 (second head unit 42) to the corrected position above the printed circuit board P based on the bare chip suction displacement and the printed circuit board P displacement. Then, the bare chip is mounted on the printed circuit board P by lowering the component mounting head at a predetermined mounting position.

この後、ステップS11において、制御装置11は、全てのベアチップの実装が完了したか否かを判断する。実装対象のベアチップがまだ残っている場合には、ステップS5に戻り、実装動作を継続する。   Thereafter, in step S11, the control device 11 determines whether or not all bare chips have been mounted. If the bare chip to be mounted still remains, the process returns to step S5 to continue the mounting operation.

また、全てのベアチップの実装が完了した場合には、ステップS12において、制御装置11は、コンベア2を制御することにより、プリント基板Pの固定を解除する。そして、ステップS13において、制御装置11は、コンベア2を制御することにより、プリント基板Pを実装機100外に搬出する。   Further, when all the bare chips have been mounted, the control device 11 releases the fixation of the printed circuit board P by controlling the conveyor 2 in step S12. In step S <b> 13, the control device 11 carries the printed circuit board P out of the mounting machine 100 by controlling the conveyor 2.

以上、制御装置11による部品実装動作の制御について説明したが、このフローチャートに示す制御は、ベアチップのみを実装する場合の最も基本的な部品実装動作の制御例である。つまり、実際のプリント基板Pの生産時には、より効率的にプリント基板Pを生産すべく、制御装置11は、ウエハ保持テーブル5によるウエハWの出し入れ動作、取出装置6および突上げ装置7によるベアチップの取出動作、およびヘッドユニットの実装動作等の複数の動作の一部を並行して実行する。特に、第1実施形態では、取出装置6からヘッドユニットへのベアチップの受け渡しの際またはヘッドユニットによるベアチップのプリント基板Pへの実装の際に、次の実装部品のカメラ8による撮像を並行して行っている。さらに、複数のプリント基板Pに順次ベアチップを実装する場合には、ステップS13からステップS1に戻って次のプリント基板Pが搬入されてステップS2が実施されるが、ウエハ保持テーブル5上のウエハWにベアチップが残っている場合は、ステップS3およびS4はスキップされる。   Although the control of the component mounting operation by the control device 11 has been described above, the control shown in this flowchart is the most basic control example of the component mounting operation when only the bare chip is mounted. That is, at the time of actual production of the printed circuit board P, in order to produce the printed circuit board P more efficiently, the control device 11 performs the wafer W loading / unloading operation by the wafer holding table 5 and the bare chip by the unloading device 6 and the push-up device 7. A part of a plurality of operations such as a take-out operation and a head unit mounting operation are executed in parallel. In particular, in the first embodiment, when the bare chip is delivered from the take-out device 6 to the head unit, or when the bare chip is mounted on the printed circuit board P by the head unit, the next mounting component is imaged by the camera 8 in parallel. Is going. Further, when the bare chips are sequentially mounted on the plurality of printed circuit boards P, the process returns from step S13 to step S1 and the next printed circuit board P is loaded and step S2 is performed. Steps S3 and S4 are skipped if there is a bare chip remaining.

第1実施形態では、上記のように、第1ウエハヘッド6aおよび第2ウエハヘッド6bにそれぞれ吸着されたウエハ部品を第1ヘッドユニット41の2つの部品実装用ヘッド41aまたは第2ヘッドユニット42の2つの部品実装用ヘッド42aが同時に受け取ることが可能であるように構成することによって、2つのウエハ部品の受け渡しを一度に行うことができる。これにより、部品実装用ヘッド41aまたは42aへのウエハ部品の受け渡し動作を1つのウエハ部品毎に行う場合と比較して、複数のウエハ部品の受け渡し動作に要する合計時間が増加してしまうことを抑制することができる。   In the first embodiment, as described above, the wafer components adsorbed by the first wafer head 6a and the second wafer head 6b are used as the two component mounting heads 41a of the first head unit 41 or the second head unit 42, respectively. By configuring so that the two component mounting heads 42a can receive at the same time, two wafer components can be transferred at a time. This suppresses an increase in the total time required for the delivery operation of a plurality of wafer components, compared to the case where the delivery operation of the wafer components to the component mounting head 41a or 42a is performed for each wafer component. can do.

また、第1実施形態では、上記のように、第1ウエハヘッド6aと第2ウエハヘッド6bとの各中心の間隔D1(以下単に間隔D1と言う)を、第1ヘッドユニット41の2つの部品実装用ヘッド41a同士の各中心の間隔D2(以下単に間隔D2と言う)または第2ヘッドユニット42の2つの部品実装用ヘッド42a同士の各中心の間隔D2(以下単に間隔D2と言う)と同一にしている。このように構成することにより、2つのウエハヘッド6aおよび6bから2つの部品実装用ヘッド41aまたは部品実装用ヘッド42aに容易に同時にウエハ部品を受け渡すことができる。   In the first embodiment, as described above, the distance D1 between the centers of the first wafer head 6a and the second wafer head 6b (hereinafter simply referred to as the distance D1) is defined as the two components of the first head unit 41. The distance D2 between the centers of the mounting heads 41a (hereinafter simply referred to as the distance D2) or the distance D2 between the centers of the two component mounting heads 42a of the second head unit 42 (hereinafter simply referred to as the distance D2). I have to. With this configuration, wafer components can be easily and simultaneously delivered from the two wafer heads 6a and 6b to the two component mounting heads 41a or the component mounting head 42a.

また、第1実施形態では、取出装置6を、2つのウエハヘッド6aおよびウエハヘッド6bを互いに隣接して配置するとともに、2つの駆動モータ6fを2つのウエハヘッド6aおよびウエハヘッド6bを挟んで外側に配置するように構成している。これにより、2つのウエハヘッド6aおよびウエハヘッド6bの間に駆動モータがない分、2つのウエハヘッド6aおよびウエハヘッド6b同士の間隔を小さくすることができるので、2つのウエハヘッド6aおよびウエハヘッド6b同士の間隔とヘッドユニットの実装ヘッド同士の間隔とを容易に等しくすることができる。   Further, in the first embodiment, the take-out device 6 has two wafer heads 6a and 6b arranged adjacent to each other, and two drive motors 6f are disposed outside the two wafer heads 6a and wafer head 6b. It is comprised so that it may arrange | position. As a result, since there is no drive motor between the two wafer heads 6a and 6b, the distance between the two wafer heads 6a and 6b can be reduced, so the two wafer heads 6a and 6b. The distance between each other and the distance between the mounting heads of the head unit can be easily made equal.

また、第1実施形態では、上記のように、基台1に対してY方向に移動可能なウエハ保持テーブル5と、基台1に対してX方向に移動可能な突上げ装置7と、基台1に対してX方向に移動可能な取出装置6とを設けることによって、ウエハ保持テーブル5をX方向に移動させなくても、突上げ装置7および取出装置6をX方向に移動させることによって、取出対象のベアチップと突上げ装置7および取出装置6との位置合わせを行うことができる。これにより、突上げ装置7および取出装置6に対して比較的平面積の大きいウエハ保持テーブル5をX方向に移動させる必要がないので、装置がX方向に大きくなってしまうことを抑制することができる。   In the first embodiment, as described above, the wafer holding table 5 movable in the Y direction with respect to the base 1, the push-up device 7 movable in the X direction with respect to the base 1, and the base By providing the take-out device 6 movable in the X direction with respect to the table 1, the push-up device 7 and the take-out device 6 can be moved in the X direction without moving the wafer holding table 5 in the X direction. The alignment of the bare chip to be taken out with the push-up device 7 and the take-out device 6 can be performed. Thereby, since it is not necessary to move the wafer holding table 5 having a relatively large plane area in the X direction with respect to the push-up device 7 and the take-out device 6, it is possible to suppress the apparatus from becoming large in the X direction. it can.

また、第1実施形態では、上記のように、突上げ装置7に対して取出装置6を相対的にY方向に移動可能に構成することによって、突上げ装置7と取出装置6とが固定されている場合と異なり、突上げ装置7と取出装置6との位置を微調整することができる。これにより、部品取出時における突上げ装置7と取出装置6との位置ずれを抑制することができるので、部品の吸着不良が生じるのを抑制することができる。   Further, in the first embodiment, as described above, the take-up device 7 and the take-out device 6 are fixed by configuring the take-out device 6 to be movable relative to the push-up device 7 in the Y direction. Unlike the case, the positions of the push-up device 7 and the take-out device 6 can be finely adjusted. Thereby, since position shift with the pushing-up apparatus 7 and the taking-out apparatus 6 at the time of picking up a component can be suppressed, it can suppress that the adsorption | suction defect of components arises.

また、第1実施形態では、ウエハ保持テーブル5をY方向に移動可能に構成し、かつ、カメラ8もY方向に移動可能に構成している。これにより、取出し対象のベアチップの撮像を行うためにカメラ8と取出し対象のベアチップとの位置合わせを行う際に、ウエハ保持テーブル5とカメラ8との両方を互いに近づき合うように移動させて位置合わせを行うことができる。これにより、ウエハ撮像カメラがY方向に固定されている場合のようにウエハ保持テーブル5のみを移動させてカメラ8と取出し対象のベアチップとの位置合わせを行う場合と比較して、短時間で位置合わせを行うことができる。   In the first embodiment, the wafer holding table 5 is configured to be movable in the Y direction, and the camera 8 is configured to be movable in the Y direction. Accordingly, when the camera 8 and the bare chip to be taken out are aligned in order to take an image of the bare chip to be taken out, both the wafer holding table 5 and the camera 8 are moved so as to approach each other. It can be performed. Thus, as compared with the case where only the wafer holding table 5 is moved and the camera 8 and the bare chip to be taken out are aligned as in the case where the wafer imaging camera is fixed in the Y direction, the position can be shortened. Can be combined.

また、第1実施形態では、上記のように、取出装置6をY方向に移動可能に構成しているとともに、突上げ装置7をY方向に固定している。このように構成することによって、取出装置6をY方向に移動させることによって、取出動作を行うための突上げ装置7と取出装置6との位置合わせを行うことができる。   In the first embodiment, as described above, the take-out device 6 is configured to be movable in the Y direction, and the push-up device 7 is fixed in the Y direction. By configuring in this way, by moving the take-out device 6 in the Y direction, it is possible to align the push-up device 7 and the take-out device 6 for performing the take-out operation.

また、第1実施形態では、上記のように、ベアチップの取出装置6からヘッドユニットへの受け渡しと並行して、または、ヘッドユニットによるプリント基板Pへのベアチップの実装と並行して、ウエハ保持テーブル5に保持された次に実装するベアチップのカメラ8による撮像を行うことによって、次のウエハ部品の撮像と、前の部品の実装またはウエハ部品の受け渡しとにかかる合計時間を短縮することができる。   In the first embodiment, as described above, in parallel with the delivery from the bare chip take-out device 6 to the head unit, or in parallel with the mounting of the bare chip on the printed circuit board P by the head unit, the wafer holding table By performing imaging of the bare chip to be mounted next held by the camera 8 with the camera 8, the total time required for imaging of the next wafer part and mounting of the previous part or delivery of the wafer part can be shortened.

(第1実施形態の変形例)
上記第1実施形態では、第1作業位置S1および第2作業位置S2にそれぞれ対応する第1ヘッドユニット41および第2ヘッドユニット42を1つずつ設けた例について説明したが、図9に示す第1実施形態の変形例の実装機200のように、X方向に延びるフレーム部材201に移動可能に支持される1つのヘッドユニット202により、第1作業位置S1および第2作業位置S2を対応させてもよい。
(Modification of the first embodiment)
In the first embodiment, the example in which one first head unit 41 and one second head unit 42 corresponding to the first work position S1 and the second work position S2 are provided is described. Like the mounting machine 200 according to the modified example of the first embodiment, the first work position S1 and the second work position S2 are associated with each other by one head unit 202 that is movably supported by the frame member 201 extending in the X direction. Also good.

また、上記第1実施形態では、取出装置6をY方向に移動可能に構成しているとともに、突上げ装置7をY方向に固定したが、取出装置6をY方向に固定し、突上げ装置7をY方向に移動可能に構成しても良い。これにより突上げ装置7をY方向に移動させることによって、取出動作を行うための突上げ装置7と取出装置6との位置合わせを行うことができ、取出装置6をY方向に固定することで、装置を安価にすることができる。さらに、取出装置6と突上げ装置7の両方をY方向に移動可能に構成しても良い。ウエハ保持テーブル5のY方向移動との多様な移動の仕方により効率を向上することができる。   In the first embodiment, the take-out device 6 is configured to be movable in the Y direction, and the push-up device 7 is fixed in the Y direction. However, the take-out device 6 is fixed in the Y direction, and the push-up device is fixed. 7 may be configured to be movable in the Y direction. Thus, by moving the push-up device 7 in the Y direction, the push-up device 7 for performing the take-out operation can be aligned with the take-out device 6, and by fixing the take-out device 6 in the Y direction The device can be made inexpensive. Further, both the take-out device 6 and the push-up device 7 may be configured to be movable in the Y direction. Efficiency can be improved by various ways of moving the wafer holding table 5 in the Y direction.

(第2実施形態)
次に、図10および図11を参照して、本発明の第2実施形態による実装機300について説明する。この第2実施形態では、上記第1実施形態と異なり、2つの取出装置を設けた例について説明する。
(Second Embodiment)
Next, a mounting machine 300 according to the second embodiment of the present invention will be described with reference to FIGS. 10 and 11. In the second embodiment, unlike the first embodiment, an example in which two take-out devices are provided will be described.

第2実施形態では、図10に示すように、取出装置が2つ(第1取出装置301および第2取出装置302)設けられている。第1取出装置301および第2取出装置302のそれぞれの構成は、上記第1実施形態の取出装置6と同様である。第1取出装置301および第2取出装置302は、共に、フレーム部材62の手前側に固定されてX軸方向に延びる固定レールに移動可能に支持されている。   In the second embodiment, as shown in FIG. 10, two take-out devices (a first take-out device 301 and a second take-out device 302) are provided. Each structure of the 1st extraction apparatus 301 and the 2nd extraction apparatus 302 is the same as that of the extraction apparatus 6 of the said 1st Embodiment. Both the first take-out device 301 and the second take-out device 302 are supported by a fixed rail that is fixed to the front side of the frame member 62 and extends in the X-axis direction.

そして、フレーム部材62に、X軸方向に延びるボールねじ軸(図示省略)と、このボールねじ軸に螺合するとともに第1取出装置301に回転可能且つ軸方向に固定して取り付けられる第1のナット部材(図示省略)と、ボールねじ軸が貫通するとともに第1のナット部材を回転駆動し、且つ第1取出装置301に取り付けられる第1の中空モータ(図示省略)と、ボールねじ軸に螺合するとともに第2取出装置302に回転可能且つ軸方向に固定して取り付けられる第2のナット部材(図示省略)と、ボールねじ軸が貫通するとともに第2のナット部材を回転駆動し、且つ第2取出装置301に取り付けられる第2の中空モータ(図示省略)とが備えられている。すなわち、第1の中空モータの作動によりフレーム部材62の手前側の位置で第1取出装置301をX軸方向に移動させるとともに、第2の中空モータの作動によりフレーム部材62の手前側の位置で第2取出装置302をX軸方向に移動させる。これにより、第1取出装置301および第2取出装置302は、部品取出作業位置の上方位置において水平方向(XY方向)に移動可能となっている。   Then, a ball screw shaft (not shown) extending in the X-axis direction and a first screw screwed to the ball screw shaft and fixed to the first take-out device 301 and fixed in the axial direction are attached to the frame member 62. A nut member (not shown) and a ball screw shaft pass therethrough, the first nut member is driven to rotate, and the first hollow motor (not shown) attached to the first take-out device 301 is screwed onto the ball screw shaft. And a second nut member (not shown) which is rotatably attached to the second take-out device 302 and fixed in the axial direction, and the ball screw shaft penetrates and the second nut member is driven to rotate, and 2 is provided with a second hollow motor (not shown) attached to the take-out device 301. That is, the first hollow motor is actuated to move the first take-out device 301 in the X-axis direction at a position on the near side of the frame member 62, and the second hollow motor is actuated on the position on the near side of the frame member 62. The second extraction device 302 is moved in the X-axis direction. Thereby, the 1st taking-out apparatus 301 and the 2nd taking-out apparatus 302 can move to a horizontal direction (XY direction) in the upper position of a component taking-out operation position.

また、第2実施形態では、X方向に延びるフレーム部材303に、X方向に移動可能に1つのヘッドユニット304が支持されている。フレーム部材303は、Y方向に移動可能に構成されている。1つのヘッドユニット304により、第1作業位置S1および第2作業位置S2の実装が行われる。   In the second embodiment, one head unit 304 is supported by a frame member 303 extending in the X direction so as to be movable in the X direction. The frame member 303 is configured to be movable in the Y direction. The mounting of the first work position S1 and the second work position S2 is performed by one head unit 304.

図11に示すように、ヘッドユニット304は、4つの部品実装用ヘッド304aと、カメラ304bとを有している。ヘッドユニット304の互いに隣接する部品実装用ヘッド304a同士の各中心の間隔D3(以下単に間隔D3と言う)は、第1取出装置301のウエハヘッド同士の間隔D1および第2取出装置302のウエハヘッド同士の間隔D1と等しい。なお、部品実装用ヘッド304aは、本発明の「実装ヘッド」の一例である。   As shown in FIG. 11, the head unit 304 has four component mounting heads 304a and a camera 304b. The distance D3 between the centers of the component mounting heads 304a adjacent to each other in the head unit 304 (hereinafter simply referred to as the distance D3) is the distance D1 between the wafer heads of the first extraction device 301 and the wafer head of the second extraction device 302. It is equal to the distance D1 between them. The component mounting head 304a is an example of the “mounting head” in the present invention.

第2実施形態のウエハ部品の受け渡し動作としては、たとえば、第1取出装置301によりヘッドユニット304の2つの部品実装用ヘッド304aへの2つのウエハ部品の受け渡しを同時に行った後、第2取出装置302によりヘッドユニット304の残りの2つの部品実装用ヘッド304aへの2つのウエハ部品の受け渡しを同時に行う。第2実施形態の実装機300のその他の構成は、上記第1実施形態と同様である。   As the wafer component delivery operation of the second embodiment, for example, the first take-out device 301 simultaneously delivers two wafer components to the two component mounting heads 304a of the head unit 304, and then performs the second take-out device. In step 302, the two wafer components are simultaneously transferred to the remaining two component mounting heads 304a of the head unit 304. Other configurations of the mounting machine 300 of the second embodiment are the same as those of the first embodiment.

なお、第2実施形態の効果は、上記第1実施形態と同様である。   The effect of the second embodiment is the same as that of the first embodiment.

(第2実施形態の変形例)
第2実施形態では、ヘッドユニット304が1つ設けられており、第1取出装置301および第2取出装置302が1つのヘッドユニット304に対して順番にウエハ部品の受け渡し動作を行う例を説明した。ここで、上記第1実施形態のようにヘッドユニットが2つ(第1ヘッドユニット41および第2ヘッドユニット42)設けられている場合には、第1取出装置301および第2取出装置302から第1ヘッドユニット41および第2ヘッドユニット42のそれぞれに対して受け渡し動作を行うことにより、一度に4つのウエハ部品を同時に受け渡すことも可能である。
(Modification of the second embodiment)
In the second embodiment, one head unit 304 is provided, and the example in which the first take-out device 301 and the second take-out device 302 perform the wafer part transfer operation in order to one head unit 304 has been described. . Here, when two head units (the first head unit 41 and the second head unit 42) are provided as in the first embodiment, the first take-out device 301 and the second take-out device 302 can By performing a delivery operation to each of the first head unit 41 and the second head unit 42, it is possible to deliver four wafer parts at the same time.

(第3実施形態)
次に、図12、図13および図14を参照して、本発明の第3実施形態による実装機400について説明する。この第3実施形態では、2つのウエハヘッドを有する取出装置6を1つ設けた上記第1実施形態と異なり、1つのウエハヘッドを有する取出装置を2つ設けた例を説明する。
(Third embodiment)
Next, a mounting machine 400 according to a third embodiment of the present invention will be described with reference to FIG. 12, FIG. 13, and FIG. In the third embodiment, an example will be described in which two extraction devices each having one wafer head are provided, unlike the first embodiment in which one extraction device 6 having two wafer heads is provided.

第3実施形態では、図12および図13に示すように、取出装置が2つ(第1取出装置401および第2取出装置402)設けられている。第1取出装置401および第2取出装置402は、共に、フレーム部材62の手前側においてX軸方向に延びる固定レールに移動可能に支持されている。第1取出装置401および第2取出装置402は、上記第2実施形態と同様の中空モータを使った機構により、互いに独立してフレーム部材62の固定レール上をX軸方向に移動可能である。   In the third embodiment, as shown in FIGS. 12 and 13, two take-out devices (a first take-out device 401 and a second take-out device 402) are provided. Both the first take-out device 401 and the second take-out device 402 are movably supported by a fixed rail extending in the X-axis direction on the front side of the frame member 62. The first take-out device 401 and the second take-out device 402 can move in the X-axis direction on the fixed rail of the frame member 62 independently of each other by a mechanism using a hollow motor similar to that of the second embodiment.

また、第1取出装置401および第2取出装置402は、それぞれ1つのウエハヘッド401aおよび402aを有している。第1取出装置401のウエハヘッド401aは、X軸方向と平行な軸線回りに回転が可能で、かつ上下方向への移動(昇降)が可能となるように、第1取出装置401のフレーム部材401bに昇降可能に支持されるブラケット部材401cと、ブラケット部材401cにX軸回りに回転可能に支持されるとともに、ブラケット部材401cに対して第2取出装置402側に設けられる部品吸着用の一対のノズル401dとを有する。ブラケット部材401cに対して第2取出装置402と反対側に設けられた駆動モータ401eが回転駆動されることにより、一対のノズル401dの位置が交互に入れ替わる。   Further, each of the first take-out device 401 and the second take-out device 402 has one wafer head 401a and 402a. The wafer head 401a of the first take-out device 401 can rotate around an axis parallel to the X-axis direction and can be moved in the vertical direction (lifted / lowered) so that the frame member 401b of the first take-out device 401 can be moved. Bracket member 401c supported to be movable up and down, and a pair of nozzles for component suction provided on bracket member 401c so as to be rotatable about the X axis and provided on the second take-out device 402 side with respect to bracket member 401c. 401d. The drive motor 401e provided on the opposite side of the second extraction device 402 with respect to the bracket member 401c is rotationally driven, whereby the positions of the pair of nozzles 401d are alternately switched.

また、第2取出装置402のウエハヘッド402aも第1取出装置401と同様の構成を有している。第2取出装置402は、フレーム部材402b、ブラケット部材402c、ノズル402dおよび駆動モータ402eを含んでいる。なお、ウエハヘッド401aおよびウエハヘッド402aは、本発明の「取出ヘッド」の一例である。   Further, the wafer head 402 a of the second extraction device 402 has the same configuration as that of the first extraction device 401. The second take-out device 402 includes a frame member 402b, a bracket member 402c, a nozzle 402d, and a drive motor 402e. The wafer head 401a and the wafer head 402a are examples of the “takeout head” in the present invention.

なお、第2取出装置402のウエハヘッド402aは、第1取出装置401のウエハヘッド401aと互いに向かい合うように配置されている。第1取出装置401の駆動モータ401eおよび第2取出装置402の駆動モータ402eは、ウエハヘッド402aおよび401aを挟んで外側に配置されている。第3実施形態の実装機400のその他の構成は、上記第1実施形態と同様である。   The wafer head 402a of the second extraction device 402 is disposed so as to face the wafer head 401a of the first extraction device 401. The drive motor 401e of the first take-out device 401 and the drive motor 402e of the second take-out device 402 are disposed on the outside with the wafer heads 402a and 401a interposed therebetween. Other configurations of the mounting machine 400 of the third embodiment are the same as those of the first embodiment.

第3実施形態の取出し動作および受け渡し動作としては、まず、第1取出装置401のウエハヘッド401aと第2取出装置402のウエハヘッド402aとが個々にウエハ部品(ベアチップ)を取り出す。その後、第1取出装置401または第2取出装置402の少なくとも一方が移動することにより、第1取出装置401および第2取出装置402が所定の受け渡し位置に移動する。ここで、第3実施形態では、図13に示すように、制御装置(図示せず)は、受け渡し位置において第1取出装置401のウエハヘッド401aと第2取出装置402のウエハヘッド402aとの各中心の間隔(ノズル401dとノズル402dとの各中心の間隔D4、以下単に間隔D4と言う)が第1ヘッドユニット420の部品実装用ヘッド420aの各中心の間隔または第2ヘッドユニット421の部品実装用ヘッド421aの各中心の間隔D5(以下単に間隔D5と言う)と等しくなるように、第1取出装置401および第2取出装置402を配置させる。   As the take-out operation and delivery operation of the third embodiment, first, the wafer head 401a of the first take-out device 401 and the wafer head 402a of the second take-out device 402 individually take out wafer components (bare chips). Thereafter, when at least one of the first take-out device 401 or the second take-out device 402 moves, the first take-out device 401 and the second take-out device 402 move to a predetermined delivery position. Here, in the third embodiment, as shown in FIG. 13, the control device (not shown) allows each of the wafer head 401 a of the first take-out device 401 and the wafer head 402 a of the second take-out device 402 at the transfer position. The distance between the centers (the distance D4 between the centers of the nozzle 401d and the nozzle 402d, hereinafter simply referred to as the distance D4) is the distance between the centers of the component mounting head 420a of the first head unit 420 or the component mounting of the second head unit 421. The first take-out device 401 and the second take-out device 402 are arranged so as to be equal to the distance D5 (hereinafter simply referred to as the distance D5) between the centers of the heads 421a.

この後、上記第1実施形態と同様に、第1取出装置401のウエハヘッド401aおよび第2取出装置402のウエハヘッド402aから第1ヘッドユニット420の2つの部品実装用ヘッド420aまたは第2ヘッドユニット421の2つの部品実装用ヘッド421aに同時にウエハ部品が受け渡される。   Thereafter, as in the first embodiment, the two component mounting heads 420a or the second head unit of the first head unit 420 from the wafer head 401a of the first extraction device 401 and the wafer head 402a of the second extraction device 402 are used. Wafer components are simultaneously delivered to the two component mounting heads 421a of 421.

第3実施形態では、上記のように、第1取出装置401および第2取出装置402から第1ヘッドユニット420または第2ヘッドユニット421へのウエハ部品の受け渡し時に、第1取出装置401のウエハヘッド401aと第2取出装置402のウエハヘッド402aとの間隔が第1ヘッドユニット420の2つの部品実装用ヘッド420a同士の間隔または第2ヘッドユニット421の2つの部品実装用ヘッド421a同士の間隔と同一となるように、第1取出装置401および第2取出装置402の少なくとも一方を移動させる。このように構成することによって、互いに独立して移動可能な第1取出装置401のウエハヘッド401aと第2取出装置402のウエハヘッド402aとを用いて、それぞれのウエハヘッドのウエハ部品をヘッドユニットの4つの部品実装用ヘッドの内いずれかの隣接する2つの部品実装用ヘッドに同時に受け渡すことができる。   In the third embodiment, as described above, the wafer head of the first extraction device 401 is transferred when the wafer parts are transferred from the first extraction device 401 and the second extraction device 402 to the first head unit 420 or the second head unit 421. The distance between 401a and the wafer head 402a of the second take-out device 402 is the same as the distance between the two component mounting heads 420a of the first head unit 420 or the distance between the two component mounting heads 421a of the second head unit 421. At least one of the first take-out device 401 and the second take-out device 402 is moved so that With this configuration, the wafer head 401a of the first take-out device 401 and the wafer head 402a of the second take-out device 402, which are movable independently of each other, are used to transfer the wafer components of each wafer head to the head unit. Any one of the four component mounting heads can be simultaneously transferred to any two adjacent component mounting heads.

なお、図14に示すように、第3実施形態では、第1取出装置401および第2取出装置402から第1ヘッドユニット420または第2ヘッドユニット421へのウエハ部品の受け渡し時に、第1取出装置401のウエハヘッド401aと第2取出装置402のウエハヘッド402aとの間隔D4が第1ヘッドユニット420の2つの部品実装用ヘッド420a同士の間隔または第2ヘッドユニット421の2つの部品実装用ヘッド421a同士の間隔D5の2倍(整数倍)と同一となるように、第1取出装置401および第2取出装置402の少なくとも一方を移動させる。これにより、互いに独立して移動可能な第1取出装置401のウエハヘッド401aと第2取出装置402のウエハヘッド402aとを用いて、それぞれのウエハヘッドのウエハ部品をヘッドユニットの4つの部品実装用ヘッドの内いずれかの、間隔がD5の2倍(整数倍)の2つの部品実装用ヘッドに同時に受け渡すことができる。   As shown in FIG. 14, in the third embodiment, when the wafer parts are transferred from the first take-out device 401 and the second take-out device 402 to the first head unit 420 or the second head unit 421, the first take-out device is used. The distance D4 between the wafer head 401a of 401 and the wafer head 402a of the second take-out device 402 is the distance between the two component mounting heads 420a of the first head unit 420 or the two component mounting heads 421a of the second head unit 421. At least one of the first take-out device 401 and the second take-out device 402 is moved so as to be equal to twice (integer multiple) the distance D5 between them. As a result, the wafer head 401a of the first take-out device 401 and the wafer head 402a of the second take-out device 402, which can move independently from each other, are used to mount the wafer parts of the respective wafer heads on the four components of the head unit. Any one of the heads can be simultaneously transferred to two component mounting heads whose interval is twice (integer multiple) D5.

なお、第3実施形態のその他の効果は、上記第1実施形態と同様である。   The remaining effects of the third embodiment are similar to those of the aforementioned first embodiment.

なお、今回開示された実施形態は、すべての点で例示であって制限的なものではないと考えられるべきである。本発明の範囲は、上記した実施形態の説明ではなく特許請求の範囲によって示され、さらに特許請求の範囲と均等の意味および範囲内でのすべての変更が含まれる。   The embodiment disclosed this time should be considered as illustrative in all points and not restrictive. The scope of the present invention is shown not by the above description of the embodiments but by the scope of claims for patent, and further includes all modifications within the meaning and scope equivalent to the scope of claims for patent.

たとえば、上記第1〜第3実施形態では、ヘッドユニットの部品実装用ヘッドを2つまたは4つ設けた例を示したが、本発明はこれに限らず、3つまたは5つ以上設けてもよい。また、取出装置の取出ヘッドを3つ以上設けてもよい。   For example, in the first to third embodiments, the example in which two or four heads for component mounting of the head unit are provided has been described. However, the present invention is not limited thereto, and three or five or more heads may be provided. Good. Further, three or more extraction heads of the extraction device may be provided.

この場合、上記第1あるいは第2実施形態において、取出装置6(301、302)の第1ウエハヘッド6aと第2ウエハヘッド6bとの間隔D1が、ヘッドユニット41(42、202、304)の同じ間隔D2(D3)で並ぶ3つ以上の部品実装用ヘッド41a(42a、304a)に対し、間隔D2(D3)の整数倍と同一となるようにする。これにより、隣接する2つの部品実装用ヘッド、あるいは間に他の部品実装用ヘッドが1つあるいは複数介在する2つの部品実装用ヘッドに、それぞれのウエハヘッドのウエハ部品を同時に受け渡すことができる。   In this case, in the first or second embodiment, the distance D1 between the first wafer head 6a and the second wafer head 6b of the take-out device 6 (301, 302) is equal to that of the head unit 41 (42, 202, 304). The three or more component mounting heads 41a (42a, 304a) arranged at the same interval D2 (D3) are set to be equal to an integral multiple of the interval D2 (D3). Accordingly, the wafer components of the respective wafer heads can be simultaneously delivered to two adjacent component mounting heads or two component mounting heads having one or more other component mounting heads interposed therebetween. .

また、上記第1〜第3実施形態では、取出装置を介してベアチップをヘッドユニットに吸着させた例を示したが、本発明はこれに加え、ヘッドユニットのノズルをウエハ保持テーブル上のウエハWまでアクセス可能に構成することにより、ヘッドユニットが取出装置を介さずに直接ベアチップを吸着可能に構成してもよい。すなわち、ベアチップの種類に対応して取出装置を介してベアチップをフェイスダウン状態でヘッドユニットに吸着させて実装したり、取出装置を介さずに直接ベアチップをフェイスアップ状態で吸着させて実装したりを、実装機100〜400のいずれかの1台あるいは複数台の実装機で実施するようにしても良い。   In the first to third embodiments, the example in which the bare chip is adsorbed to the head unit via the take-out device has been described. However, in addition to this, the nozzle of the head unit is connected to the wafer W on the wafer holding table. The head unit may be configured to be capable of directly sucking the bare chip without going through the take-out device. In other words, corresponding to the type of bare chip, the bare chip can be sucked and mounted on the head unit in a face-down state via the take-out device, or the bare chip can be sucked and mounted directly in the face-up state without going through the take-out device. The mounting may be performed by one or a plurality of mounting machines 100 to 400.

この場合、上記第1〜第3実施形態のようにヘッドユニットのY方向の可動範囲をコンベア2の近傍までにする場合には、突上げ装置をコンベア2の近傍に設置するか、または突上げ装置をコンベア2の近傍に移動可能なようにY方向に移動可能に構成する必要がある。また、第1実施形態などのように突上げ装置が部品取出作業位置でY方向に固定されている場合にも、ヘッドユニットのY方向の可動範囲を部品取出作業位置まで広げることにより、ヘッドユニットが取出装置を介さずに直接ベアチップを吸着することが可能となる。   In this case, when the movable range in the Y direction of the head unit is extended to the vicinity of the conveyor 2 as in the first to third embodiments, a push-up device is installed in the vicinity of the conveyor 2 or the push-up is performed. The apparatus needs to be configured to be movable in the Y direction so as to be movable in the vicinity of the conveyor 2. In addition, even when the lifting device is fixed in the Y direction at the component extraction work position as in the first embodiment, the head unit can be expanded by extending the movable range of the head unit in the Y direction to the component extraction operation position. However, the bare chip can be directly adsorbed without using the take-out device.

また、上記第1実施形態では、図5に示したように、取出装置6がヘッドユニットに部品を受け渡す時に、カメラ8のY方向の位置Y2と突上げ装置7のY方向の位置とが重なるように突上げ装置7を配置(Y方向に固定)したが、本発明はこれに限られない。すなわち、部品の受け渡し時の取出装置のY方向の位置Y1と、その時の移動カメラのY方向の位置Y2との間に突上げ装置7を配置(Y方向に固定)してもよい。この場合、部品の受け渡し動作と並行して次の部品の撮像を行った後、その次の部品の取出動作を行う際に、取出装置とウエハ保持テーブル(取出し対象部品)とを互いに近づき合うようにY方向に移動させて突上げ装置の上方に位置合わせすることができる。これにより、部品のヘッドユニットへの受け渡しから次の部品の取出しまでの時間をさらに短縮することができる。なお、取出装置のY方向の移動速度とウエハ保持テーブルの移動速度とが等しいときは、突上げ装置を位置Y1と位置Y2との中間に配置(Y方向に固定)する。取出装置のY方向の移動速度がウエハ保持テーブルの移動速度よりも小さいときは、その速度差に応じて、突上げ装置を位置Y1と位置Y2との中間よりも位置Y1寄りとする。   Further, in the first embodiment, as shown in FIG. 5, when the take-out device 6 delivers parts to the head unit, the position Y2 of the camera 8 in the Y direction and the position of the push-up device 7 in the Y direction are determined. Although the push-up device 7 is disposed so as to overlap (fixed in the Y direction), the present invention is not limited to this. That is, the push-up device 7 may be arranged (fixed in the Y direction) between the position Y1 in the Y direction of the take-out device at the time of parts delivery and the position Y2 in the Y direction of the moving camera at that time. In this case, after the next part is imaged in parallel with the part delivery operation, the take-out device and the wafer holding table (part to be taken out) are brought close to each other when the next part is taken out. Can be moved in the Y direction and aligned above the thrusting device. As a result, the time from delivery of a part to the head unit to removal of the next part can be further shortened. When the moving speed of the take-out device in the Y direction is equal to the moving speed of the wafer holding table, the push-up device is arranged in the middle between the position Y1 and the position Y2 (fixed in the Y direction). When the moving speed of the extracting device in the Y direction is smaller than the moving speed of the wafer holding table, the push-up device is moved closer to the position Y1 than the middle between the position Y1 and the position Y2 according to the speed difference.

また、上記第1〜第3実施形態では、ウエハ保持テーブル、取出装置、突上げ装置、部品位置認識用のカメラなどをボールねじを用いて駆動した例を示したが、本発明はこれに限らず、リニアモータなど他の駆動機構を用いてもよい。また、ヘッドユニットについてはリニアモータを用いて駆動した例を示したが、本発明はこれに限らず、ボールねじを用いて駆動しても良い。   Further, in the first to third embodiments, the example in which the wafer holding table, the take-out device, the push-up device, the camera for recognizing the component position, etc. are driven using the ball screw is shown, but the present invention is not limited to this. Alternatively, other drive mechanisms such as a linear motor may be used. Further, although an example in which the head unit is driven using a linear motor has been shown, the present invention is not limited to this, and the head unit may be driven using a ball screw.

また、上記第1および第2実施形態では、1つの取出装置に2つのウエハヘッドと2つのウエハヘッドにそれぞれ対応する2つの駆動モータとを設けた例を示したが、本発明はこれに限られない。すなわち、2つ(複数)のウエハヘッドを1つの駆動モータにより上下反転駆動させてもよい。この場合にも、駆動モータを2つのウエハヘッドの外側に配置することが好ましい。   In the first and second embodiments, an example in which two wafer heads and two drive motors corresponding to the two wafer heads are provided in one take-out device has been described. However, the present invention is not limited to this. I can't. That is, two (a plurality) wafer heads may be driven upside down by one drive motor. In this case as well, it is preferable to dispose the drive motor outside the two wafer heads.

また、上記第1〜第3実施形態では、ウエハ保持テーブル5がY方向にのみ移動可能で、かつ、取出装置および突上げ装置7をX方向に移動可能に構成した例について説明したが、本発明はこれに限らず、ウエハ保持テーブルをXY方向に移動可能にしてもよい。この場合、たとえば突上げ装置がXY方向に固定されている場合(取出し位置が固定されている場合)にも、ウエハ保持テーブルをX方向およびY方向に移動させることにより、取出対象のウエハ部品を取出装置の取出ヘッドと突上げ装置とにより挟まれる取出し位置に移動させて取出動作を行うことができる。   In the first to third embodiments, the example in which the wafer holding table 5 is movable only in the Y direction and the take-out device and the push-up device 7 are movable in the X direction has been described. The invention is not limited to this, and the wafer holding table may be movable in the XY directions. In this case, for example, even when the push-up device is fixed in the X and Y directions (when the extraction position is fixed), the wafer holding table is moved in the X and Y directions so that the wafer part to be extracted can be moved. The take-out operation can be performed by moving to the take-out position sandwiched between the take-out head of the take-out device and the push-up device.

また、上記第3実施形態では、第1取出装置および第2取出装置にそれぞれ1つのウエハヘッドを設けた例を示したが、本発明はこれに限らず、第1取出装置および第2取出装置にそれぞれ複数のウエハヘッドを設けてもよい。   In the third embodiment, an example in which one wafer head is provided in each of the first extraction device and the second extraction device has been described. However, the present invention is not limited to this, and the first extraction device and the second extraction device are provided. Each may be provided with a plurality of wafer heads.

1 基台
2 コンベア
4 実装部
5 ウエハ保持テーブル
6 取出装置
6a 第1ウエハヘッド(取出ヘッド)
6b 第2ウエハヘッド(取出ヘッド)
6f 駆動モータ(駆動装置)
7 突上げ装置
41 第1ヘッドユニット(ヘッドユニット)
41a 部品実装用ヘッド(実装ヘッド)
42 第2ヘッドユニット(ヘッドユニット)
42a 部品実装用ヘッド(実装ヘッド)
202 ヘッドユニット
301、401 第1取出装置(取出装置)
302、402 第2取出装置(取出装置)
304 ヘッドユニット
304a 部品実装用ヘッド
401a ウエハヘッド(取出ヘッド)
402a ウエハヘッド(取出ヘッド)
100、200、300、400 実装機
P プリント基板(基板)
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Base 2 Conveyor 4 Mounting part 5 Wafer holding table 6 Take-out apparatus 6a 1st wafer head (take-out head)
6b Second wafer head (take-out head)
6f Drive motor (drive device)
7 Push-up device 41 First head unit (head unit)
41a Component mounting head (mounting head)
42 Second head unit (head unit)
42a Component mounting head (mounting head)
202 Head unit 301, 401 First take-out device (take-out device)
302, 402 Second take-out device (take-out device)
304 Head unit 304a Component mounting head 401a Wafer head (takeout head)
402a Wafer head (take-out head)
100, 200, 300, 400 Mounting machine P Printed circuit board (board)

Claims (7)

基台と、
ウエハ部品を保持可能なウエハ保持テーブルと、
前記ウエハ保持テーブルに保持されたウエハ部品を下方から突き上げる機構を有する突上げ装置と、
前記突上げ装置により突き上げられたウエハ部品を吸着するとともに、上下反転可能な複数の取出ヘッドと、
前記取出ヘッドから前記ウエハ部品を受け取るとともに、前記ウエハ部品を基板に実装する複数の実装ヘッドを有するヘッドユニットとを備え、
複数の前記取出ヘッドにそれぞれ吸着された前記ウエハ部品を前記複数の実装ヘッドが同時に受け取ることが可能に構成されている、実装機。
The base,
A wafer holding table capable of holding wafer parts;
A thrusting device having a mechanism for thrusting a wafer part held on the wafer holding table from below;
A plurality of pick-up heads that suck up the wafer parts pushed up by the push-up device and can be turned upside down,
A head unit having a plurality of mounting heads for receiving the wafer component from the take-out head and mounting the wafer component on a substrate;
A mounting machine configured such that the plurality of mounting heads can simultaneously receive the wafer parts adsorbed by the plurality of take-out heads.
少なくとも前記取出ヘッドから前記ヘッドユニットへの前記ウエハ部品の受け渡し時に、前記複数の取出ヘッド同士の間隔は、前記ヘッドユニットの複数の実装ヘッド同士の間隔と同一である、請求項1に記載の実装機。   2. The mounting according to claim 1, wherein the interval between the plurality of extraction heads is the same as the interval between the plurality of mounting heads of the head unit at least when the wafer part is transferred from the extraction head to the head unit. Machine. 前記複数の取出ヘッドを有する取出装置をさらに備え、
前記取出装置に設けられた前記複数の取出ヘッド同士の間隔は、前記ヘッドユニットの前記複数の実装ヘッド同士の間隔と同一となるように構成されている、請求項2に記載の実装機。
And further comprising a take-out device having the plurality of take-out heads,
The mounting machine according to claim 2, wherein an interval between the plurality of extraction heads provided in the extraction device is configured to be the same as an interval between the plurality of mounting heads of the head unit.
前記取出装置は、2つの前記取出ヘッドと、前記取出ヘッドの上下反転のための回転駆動をするために設けられる駆動装置とを有しており、
前記2つの取出ヘッドは、互いに隣接して配置されるとともに、前記駆動装置は、前記2つの取出ヘッドの外側に配置されている、請求項3に記載の実装機。
The take-out device has two take-out heads and a drive device provided for rotationally driving the take-out head for upside down,
The mounting machine according to claim 3, wherein the two take-out heads are arranged adjacent to each other, and the driving device is arranged outside the two take-out heads.
前記取出装置は、前記取出ヘッドを少なくとも1つ有するとともに、水平面内で移動可能な第1取出装置と、前記取出ヘッドを少なくとも1つ有するとともに、前記第1取出装置から独立して水平面内で移動可能な第2取出装置とを含み、
前記第1取出装置の取出ヘッドおよび前記第2取出装置の取出ヘッドから前記ヘッドユニットへの前記ウエハ部品の受け渡し時に、前記第1取出装置の取出ヘッドと前記第2取出装置の取出ヘッドとの間隔が前記ヘッドユニットの複数の実装ヘッド同士の間隔と同一となるように、前記第1取出装置および前記第2取出装置の少なくとも一方が移動するように構成されている、請求項2〜4のいずれか1項に記載の実装機。
The take-out device has at least one take-out head, and has a first take-out device movable in a horizontal plane, and has at least one take-out head, and moves in a horizontal plane independently of the first take-out device. A second take-out device possible,
The distance between the take-out head of the first take-out device and the take-out head of the second take-out device when the wafer part is transferred from the take-out head of the first take-out device and the take-out head of the second take-out device to the head unit. 5. The structure according to claim 2, wherein at least one of the first take-out device and the second take-out device is moved so that the distance between the plurality of mounting heads of the head unit is the same. The mounting machine according to item 1.
前記ウエハ保持テーブルは、前記基台に対して前記基板が搬送されるX方向と水平面内で直交するY方向に移動可能に構成されており、
前記突上げ装置は、前記基台に対して前記X方向に少なくとも移動可能に構成されており、
前記取出装置は、前記基台に対して少なくとも前記X方向に移動可能に構成されている、請求項1〜5のいずれか1項に記載の実装機。
The wafer holding table is configured to be movable in the Y direction orthogonal to the X direction in which the substrate is transported with respect to the base in a horizontal plane,
The push-up device is configured to be movable at least in the X direction with respect to the base.
The mounting apparatus according to claim 1, wherein the take-out device is configured to be movable at least in the X direction with respect to the base.
前記ウエハ保持テーブルは、前記基台に対して前記基板が搬送されるX方向と、前記X方向と水平面内で直交するY方向とに移動可能に構成されている、請求項1〜5のいずれか1項に記載の実装機。   The said wafer holding table is comprised so that a movement to the X direction in which the said board | substrate is conveyed with respect to the said base and the Y direction orthogonal to the said X direction in a horizontal surface is possible. The mounting machine according to item 1.
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