JP2012019127A - Processing method - Google Patents
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Abstract
Description
本発明は、サブストレートに貼り付けられたウエーハ等の被加工物を研削して平坦化する加工方法に関する。 The present invention relates to a processing method for grinding and flattening a workpiece such as a wafer attached to a substrate.
半導体デバイスの製造プロセスでは、半導体ウエーハの表面にICやCMOS等の回路素子が複数形成される。回路素子が形成されたウエーハは、研削装置で裏面が研削されて薄化された後、切削装置で切削されて個々のチップへと分割されることで、各種の半導体デバイスが製造されている。製造された半導体デバイスは、携帯電話、PC(パソコン)等の電子機器に広く利用されている。 In a semiconductor device manufacturing process, a plurality of circuit elements such as ICs and CMOSs are formed on the surface of a semiconductor wafer. The wafer on which the circuit element is formed is thinned by grinding the back surface with a grinding device, and then cut with a cutting device and divided into individual chips, thereby producing various semiconductor devices. The manufactured semiconductor devices are widely used in electronic devices such as mobile phones and PCs (personal computers).
近年、電気機器は小型化、薄型化の傾向にあり、組み込まれる半導体デバイスも小型化、薄型化が要求されている。ところが、ウエーハを研削して例えば100μm以下に薄化すると、剛性が著しく低下するためその後のハンドリングが非常に困難になる。更に、場合によってはウエーハに反りが生じ、反りによってウエーハ自体が破損してしまうということがある。 In recent years, electric appliances have a tendency to be reduced in size and thickness, and a semiconductor device to be incorporated is also required to be reduced in size and thickness. However, if the wafer is ground and thinned to, for example, 100 μm or less, the rigidity is remarkably lowered, and subsequent handling becomes very difficult. Further, in some cases, the wafer is warped, and the wafer itself may be damaged by the warp.
このような問題を解決するために、予め剛性のあるサブストレートに半導体ウエーハを貼り付けた後、ウエーハを研削して薄化する手法が広く採用されている(例えば、特開2004−207606号公報参照)。 In order to solve such a problem, a method is widely adopted in which a semiconductor wafer is pasted on a rigid substrate in advance and then the wafer is ground and thinned (for example, Japanese Patent Application Laid-Open No. 2004-207606). reference).
ところが、サブストレートに貼り付けたウエーハを研削する場合、サブストレート自身の厚みばらつきに起因して、研削した後のウエーハが高精度に平坦化されないという問題がある。 However, when grinding a wafer attached to a substrate, there is a problem that the wafer after grinding is not flattened with high accuracy due to the thickness variation of the substrate itself.
特に、近年量産されてきている裏面側方向から光信号を取り込むことで光子の損失要因を取り除き、画素の有効面積を広げた裏面照射型イメージセンサでは、ウエーハを薄化するとともに例えばTTV(ウエーハの厚みの最大値と最小値の差)を1〜2μm程度と高精度に平坦化することが切望されている。 In particular, in a back-illuminated image sensor in which a photon loss factor is removed by taking an optical signal from the back side direction, which has been mass-produced in recent years, and the effective area of the pixel is widened, the wafer is thinned and, for example, TTV (wafer of the wafer) It is anxious to flatten the difference between the maximum value and the minimum value of the thickness with a high accuracy of about 1 to 2 μm.
本発明はこのような点に鑑みてなされたものであり、その目的とするところは、ウエーハを薄化するとともに高精度に平坦化する加工方法を提供することである。 The present invention has been made in view of these points, and an object of the present invention is to provide a processing method for thinning a wafer and flattening it with high accuracy.
本発明によると、サブストレートに貼り付けられた被加工物を研削して平坦化する加工方法であって、サブストレートを研削装置のチャックテーブルで保持するサブストレート保持ステップと、該チャックテーブルで保持された該サブストレートを研削手段で研削して平坦化するサブストレート平坦化ステップと、平坦化された該サブストレートに被加工物を貼り付ける貼り付けステップと、該貼り付けステップを実施した後、該被加工物の該サブストレート側を該サブストレート平坦化ステップで使用したのと同一のチャックテーブルで保持する被加工物保持ステップと、該被加工物保持ステップで該チャックテーブルに保持された該被加工物を、該サブストレート平坦化ステップで使用したのと同一の研削手段で研削して平坦化する被加工物研削ステップと、を具備したことを特徴とする加工方法が提供される。 According to the present invention, there is provided a processing method for grinding and flattening a workpiece attached to a substrate, the substrate holding step for holding the substrate by the chuck table of the grinding device, and the holding by the chuck table. After performing the substrate flattening step of grinding and flattening the formed substrate with a grinding means, the pasting step of pasting the workpiece to the flattened substrate, and the pasting step, A workpiece holding step for holding the substrate side of the workpiece by the same chuck table used in the substrate flattening step, and the workpiece holding step held by the chuck table The workpiece is ground and flattened by the same grinding means used in the substrate flattening step. Machining method being characterized in that it includes the object grinding step, is provided.
好ましくは、サブストレートはシリコンから構成される。 Preferably, the substrate is composed of silicon.
本発明の加工方法では、まず、サブストレートを研削装置のチャックテーブルで保持しながら研削手段で研削して平坦化する。次いで、平坦化されたサブストレートにウエーハを貼り付け、サブストレートに貼り付けられたウエーハは、サブストレートを平坦化したときに使用したのと同一のチャックテーブルと同一の研削手段を用いて平坦化される。従って、研削装置の個体差に起因する厚みばらつきが発生することがなく、ウエーハを薄化するとともに高精度に平坦化することができる。 In the processing method of the present invention, first, the substrate is ground and flattened by a grinding means while being held by a chuck table of a grinding apparatus. Next, the wafer is attached to the flattened substrate, and the wafer attached to the substrate is flattened using the same chuck table and the same grinding means used when the substrate is flattened. Is done. Therefore, thickness variations due to individual differences of the grinding apparatus do not occur, and the wafer can be thinned and flattened with high accuracy.
以下、本発明の実施形態を図面を参照して詳細に説明する。図1は本発明の加工方法を実施するのに適した研削装置2の斜視図を示している。4は研削装置2のハウジングであり、ハウジング4の後方にはコラム6が立設されている。コラム6には、上下方向に延びる一対のガイドレール(一本のみ図示)8が固定されている。
Hereinafter, embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the drawings. FIG. 1 shows a perspective view of a
この一対のガイドレール8に沿って研削ユニット(研削手段)10が上下方向に移動可能に装着されている。研削ユニット10は、そのハウジング20が一対のガイドレール8に沿って上下方向に移動する移動基台12に取り付けられている。
A grinding unit (grinding means) 10 is mounted along the pair of
研削ユニット10は、ハウジング20と、ハウジング20中に回転可能に収容されたスピンドル21(図3(B)参照)と、スピンドル21を回転駆動するモータ22と、スピンドル21の先端に固定されたホイールマウント24と、ホイールマウント24に着脱可能に装着された先端に複数の研削砥石26が固着された研削ホイール25とを含んでいる。
The
研削ユニット10は、研削ユニット10を一対の案内レール8に沿って上下方向に移動するボールねじ14とパルスモータ16とから構成される研削ユニット送り機構18を備えている。パルスモータ16をパルス駆動すると、ボールねじ14が回転し、移動基台12が上下方向に移動される。
The
ハウジング4の中間部分にはチャックテーブル50を有するチャックテーブル機構28が配設されており、チャックテーブル50は図示しないチャックテーブル移動機構によりY軸方向に移動される。30はチャックテーブル機構28をカバーする蛇腹である。
A
ハウジング4の前側部分には、第1のウエーハカセット32と、第2のウエーハカセット34と、ウエーハ搬送用ロボット36と、複数の位置決めピン40を有する位置決め機構38と、ウエーハ搬入機構(ローディングアーム)42と、ウエーハ搬出機構(アンローディングアーム)44と、スピンナユニット46が配設されている。
The front portion of the housing 4 includes a
また、ハウジング4の概略中央部には、チャックテーブル50を洗浄する洗浄水噴射ノズル48が設けられている。この洗浄水噴射ノズル48は、チャックテーブル50が装置手前側のウエーハ搬入・搬出領域に位置付けられた状態において、チャックテーブル50に向かって洗浄水を噴射する。52は研削水供給ノズルであり、先端の噴出口53から研削砥石26とチャックテーブル50に保持された被加工物に向かって研削水を噴出する。
A cleaning
本発明の加工方法では、まず図2に示すように、サブストレート23をチャックテーブル50で吸引保持するサブストレート保持ステップを実施する。このようにサブストレート23をチャックテーブル23で吸引保持しながら、サブストレート23を研削して平坦化するサブストレート平坦化ステップを次に実施する。
In the processing method of the present invention, first, as shown in FIG. 2, a substrate holding step for sucking and holding the
サブストレート平坦化ステップは、図3に示すように、チャックテーブル50で吸引保持したサブストレート23に、研削ユニット送り機構18を駆動することにより研削ホイール25の研削砥石26を接触させ、所定の研削送り速度で研削ホイール25を研削送りしながらチャックテーブル50を矢印aで示す方向に例えば300rpmで回転しつつ、研削ホイール25を矢印bで示す方向に例えば6000rpmで回転して、サブストレート23の研削を実施する。
In the substrate flattening step, the
この研削時には、研削水供給ノズル52の噴出口53から研削水をサブストレート23及び研削ホイール25に供給しながら研削を実施する。好ましくは、サブストレート23の両面を研削して、サブストレート23を平坦化する。サブストレート23は、好ましくはシリコンインゴットからスライスされたシリコンウエーハから構成される。
During this grinding, grinding is carried out while supplying grinding water to the
次いで、このように平坦化されたサブストレート23に、図4に示すように半導体ウエーハ11を接着剤で貼り付ける貼り付けステップを実施する。半導体ウエーハ11は、例えば厚さが700μmのシリコンウエーハからなっており、表面11aに複数のストリート(分割予定ライン)13が格子状に形成されているとともに、該複数のストリート13によって区画された各領域にIC,LSI等のデバイス15が形成されている。
Next, an affixing step of affixing the
このように構成された半導体ウエーハ11は、デバイス15が形成されているデバイス領域17と、デバイス領域17を囲繞する外周余剰領域19をその表面11aの平坦部に備えている。
The
貼り付けステップを実施した後、図5に示すように、ウエーハ11に貼り付けられたサブストレート23をサブストレート平坦化ステップで使用したのと同一のチャックテーブル50で吸引保持する。
After performing the attaching step, as shown in FIG. 5, the
このようにサブストレート23側をチャックテーブル50で吸引保持してウエーハ11の裏面11bを露出させた状態で、ウエーハ11を研削して平坦化するウエーハ研削ステップを実施する。
A wafer grinding step is performed in which the
このウエーハ研削ステップは、図6に示すように、サブストレート平坦化ステップで使用したのと同一のチャックテーブル50及び研削手段10を使用して実施する。このウエーハ研削ステップでは、サブストレート23に貼り付けられたウエーハ11に、研削ユニット送り機構18を駆動することにより研削ホイール25の研削砥石26を接触させ、所定の研削送り速度で研削ホイール25を研削送りしながらチャックテーブル50を矢印aで示す方向へ例えば300rpmで回転しつつ、研削ホイール25を矢印bで示す方向に例えば6000rpmで回転して、ウエーハ11の研削を実施してウエーハ11を平坦化する。
As shown in FIG. 6, this wafer grinding step is performed using the same chuck table 50 and grinding means 10 used in the substrate flattening step. In this wafer grinding step, the
ウエーハ11の研削時には、サブストレート23の研削時と同様に、研削水供給ノズル52の噴出口53から研削水をウエーハ11及び研削ホイール25に供給しながら研削を実施する。
When the
上述した実施形態によると、サブストレート23に貼着されたウエーハ11は、サブストレート23を平坦化したときに使用したチャックテーブル50と同一のチャックテーブル及び研削手段10と同一の研削手段を用いて平坦化される。従って、研削装置2の個体差に起因する厚みばらつきが発生することがなく、ウエーハ11を薄化するとともに高精度に平坦化することができる。
According to the above-described embodiment, the
2 研削装置
10 研削手段(研削ユニット)
11 半導体ウエーハ
23 サブストレート
25 研削ホイール
26 研削砥石
50 チャックテーブル
2 Grinding
11
Claims (2)
サブストレートを研削装置のチャックテーブルで保持するサブストレート保持ステップと、
該チャックテーブルで保持された該サブストレートを研削手段で研削して平坦化するサブストレート平坦化ステップと、
平坦化された該サブストレートに被加工物を貼り付ける貼り付けステップと、
該貼り付けステップを実施した後、該被加工物の該サブストレート側を該サブストレート平坦化ステップで使用したのと同一のチャックテーブルで保持する被加工物保持ステップと、
該被加工物保持ステップで該チャックテーブルに保持された該被加工物を、該サブストレート平坦化ステップで使用したのと同一の研削手段で研削して平坦化する被加工物研削ステップと、
を具備したことを特徴とする加工方法。 A processing method for grinding and flattening a workpiece pasted on a substrate,
A substrate holding step for holding the substrate by a chuck table of a grinding device;
A substrate flattening step in which the substrate held by the chuck table is ground and ground by a grinding means;
An attaching step of attaching a workpiece to the flattened substrate;
A workpiece holding step for holding the substrate side of the workpiece with the same chuck table used in the substrate flattening step after performing the attaching step;
A workpiece grinding step in which the workpiece held on the chuck table in the workpiece holding step is flattened by grinding with the same grinding means used in the substrate flattening step;
The processing method characterized by comprising.
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