JP2011528794A - 電気的な負荷をシミュレーションするための回路 - Google Patents

電気的な負荷をシミュレーションするための回路 Download PDF

Info

Publication number
JP2011528794A
JP2011528794A JP2011519126A JP2011519126A JP2011528794A JP 2011528794 A JP2011528794 A JP 2011528794A JP 2011519126 A JP2011519126 A JP 2011519126A JP 2011519126 A JP2011519126 A JP 2011519126A JP 2011528794 A JP2011528794 A JP 2011528794A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
switch
circuit
voltage source
bridge
test circuit
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2011519126A
Other languages
English (en)
Other versions
JP5377636B2 (ja
Inventor
シュルテ トーマス
ブラッカー イェルク
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Dspace Digital Signal Processing and Control Engineering GmbH
Original Assignee
Dspace Digital Signal Processing and Control Engineering GmbH
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Dspace Digital Signal Processing and Control Engineering GmbH filed Critical Dspace Digital Signal Processing and Control Engineering GmbH
Publication of JP2011528794A publication Critical patent/JP2011528794A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP5377636B2 publication Critical patent/JP5377636B2/ja
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/50Testing of electric apparatus, lines, cables or components for short-circuits, continuity, leakage current or incorrect line connections
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/2832Specific tests of electronic circuits not provided for elsewhere
    • G01R31/2836Fault-finding or characterising
    • G01R31/2846Fault-finding or characterising using hard- or software simulation or using knowledge-based systems, e.g. expert systems, artificial intelligence or interactive algorithms
    • G01R31/2848Fault-finding or characterising using hard- or software simulation or using knowledge-based systems, e.g. expert systems, artificial intelligence or interactive algorithms using simulation
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/327Testing of circuit interrupters, switches or circuit-breakers
    • GPHYSICS
    • G05CONTROLLING; REGULATING
    • G05BCONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL; FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS; MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS OR ELEMENTS
    • G05B17/00Systems involving the use of models or simulators of said systems
    • G05B17/02Systems involving the use of models or simulators of said systems electric
    • GPHYSICS
    • G05CONTROLLING; REGULATING
    • G05BCONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL; FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS; MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS OR ELEMENTS
    • G05B1/00Comparing elements, i.e. elements for effecting comparison directly or indirectly between a desired value and existing or anticipated values
    • G05B1/01Comparing elements, i.e. elements for effecting comparison directly or indirectly between a desired value and existing or anticipated values electric
    • G05B1/03Comparing elements, i.e. elements for effecting comparison directly or indirectly between a desired value and existing or anticipated values electric for comparing digital signals

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Automation & Control Theory (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Artificial Intelligence (AREA)
  • Evolutionary Computation (AREA)
  • Medical Informatics (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Electronic Switches (AREA)
  • Dc-Dc Converters (AREA)
  • Inverter Devices (AREA)
  • Control Of Electric Motors In General (AREA)
  • Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
  • Measuring Instrument Details And Bridges, And Automatic Balancing Devices (AREA)
  • Control Of Voltage And Current In General (AREA)

Abstract

高い電力変換を伴う大きい負荷をシミュレートすることが本願発明において、次のことによって可能になる。すなわち、ブリッジ横方向分路(12)内に制御可能な電圧源(13)と有効インダクタンス(14)が設けられ、実電流iistが、制御可能な電圧源に作用する電流制御ユニット(15)によって、所定の目標電流isollの値になるまで調整されることによって、高い電力変換を伴う大きい負荷をシミュレートすることが可能になる。

Description

本発明は、テスト回路の接続端子で電気的な負荷をシミュレーションするための回路に関する。ここでこのテスト回路は少なくとも1つの第1のスイッチと第2のスイッチとを有している。ここで回路は第3のスイッチおよび第4のスイッチを有している。テスト回路の第1のスイッチと第2のスイッチは、共通の第1の内側接続点を介して、テスト回路のこの接続端子と接続される。第3のスイッチと第4のスイッチは、共通の第2の内側接続点を介して相互に接続されている。第1のスイッチと第3のスイッチは、第1の外側接続点を介して相互に接続されており、第2のスイッチは第4のスイッチと、第2の外側接続点を介して相互に接続されている。従って、第1のスイッチ、第2のスイッチ、第3のスイッチおよび第4のスイッチは、Hブリッジ回路を構成している。第1の外側接続点と第2の外側接続点には電圧源によって供給電圧Uが印加され、テスト回路を流れる実電流iistは、この接続端子と第2の接続点との間に構成されているブリッジ横方向分路を介して流れる。ここでこのブリッジ横方向分路内に有効インダクタンスが設けられている。
電気的な負荷をシミュレートするこのような回路は以前から知られており、この回路はしばしば、テストされるべき回路(テスト回路と称する)が、自身の機能性に関して検査されるべき場合に使用される。この際にテスト回路を、「実際の」作動環境にもっていく必要はない。
典型的な使用領域は例えば、シミュレータ−テスト環境−であり、これはパワー電子インタフェースを有する制御機器を検査する。ここでこの制御機器、例えばモータ制御機器は、テスト回路を形成する。ここでこれは、制御機器が所望のように反応するか否かを検査するのに有効である。すなわち、制御機器が特定の、(自身のインタフェースを介して受信された)状態量に、(自身のインタフェースを介して送出される)出力量の適切な出力によって反応するか否かを検査するのに有効である。このために、この種のテスト回路の関連する周辺環境が完全に、または部分的にシミュレートされる。モータ制御機器の場合、例えば、I/Oインタフェースを有する1つのシミュレーション計算機または複数のシミュレーション計算機を用いて、駆動制御されるべきモータが(全部または部分的に)シミュレートされる。このために、まずはモータが数学的にマッピングされる。これは、モータの特性データおよび状態量を相互に、計算可能な関係にあらわす。制御機器からの、(シミュレートされる)モータに作用する量(調整信号)が、シミュレーション計算機によって、I/Oインタフェースを介して受信され、このシミュレーション計算機上で、殊に、この情報に基づいて、数学的なモデルによって、(シミュレートされる)モータの状態量が計算される。特定の状態量は通常は、1つないし複数のI/Oインタフェースを介して、モータ制御機器に再び供給される。これは状態量が、入力量としてモータ制御機器によって要求される限りである。このような手法は、非常に一般的に、以下のような格別な利点をもたらす。すなわち、僅かなコストだけで、多様なテストケースを検査することができ、制御機器(例えば種々の駆動ユニット)の変化する周辺環境もシミュレートすることができる、という利点をもたらす。
テスト回路のこのようなシミュレータ(以降では、モータ制御機器の例において)は、小さい信号領域内の信号のみを得るのではなく、テスト回路がパワー電子出力側を有している場合には、電気的な大きい信号も得ることが明らかである。これは例えば、電気的駆動部の駆動制御の場合である。
実際には、電気的負荷をシミュレーションする既知の回路はしばしば次のように作動される。すなわち、テスト回路の出力側での電圧(すなわち、例えばモータ制御機器のパワー部分の出力側での電圧)が測定技術によって検出され、シミュレートされるべきモータの数学的なモデルにおいて、相応する(モータ)電流が計算される。この電流は、テスト回路の接続端子を介して、モータの動作データを考慮して流されなければならない。さらにこの目標電流値が電流制御ユニットに伝達される。この電流制御ユニットは次に、求められた目標電流をできるだけリアルタイムに、回路の適切な駆動制御によって、テスト回路の接続端子にセットする。
WO2007/04228A1号から、例えば、電気的なエネルギー蓄積部としてコイルが使用されている回路が既知である。このコイルは、シミュレートされるべき電気モータの巻き線のインダクタンスよりも格段に低いインダクタンスを有している。通常は、電気モータを駆動制御するために複数の接続端子が必要である。なぜなら、大きい出力を有するこのような駆動部は、多相(主に三相)で駆動制御されるべきだからである。テスト回路の接続端子には、典型的にパルス幅変調(PWM)された電圧信号が印加される。そのクロック周期を介して、この接続端子に、時間的に平均して印加される電圧が調整される。コイルは自身の別の接続端子で、ハーフブリッジを介して、2つの補助電圧源と接続される。従って、ハーフブリッジの1つのスイッチをスイッチングすることによって、コイルのこの第2の接続端子が高いポテンシャルにおかれ、ブリッジの別のスイッチをスイッチングすることによって、コイルの第2の接続端子は、非常に低いポテンシャルに置かれる。従って、コイル内の電流の流れに影響を与え、電流の実際値を、テスト回路の接続端子で、設定された目標電流の値に調節する、ないしは調整することができる。
電圧源は従来技術では、テスト回路の供給電圧と、これに接続されている2つの補助電圧源から成る。この回路から全体としてエネルギーが奪われる。これは、コイル内の電流が低減されるように、2つの補助電圧源のうちの1つをスイッチングすることによって行われる。
ハーフブリッジのスイッチとしては通常は、金属酸化物半導体電界効果トランジスタ(MOSEFT)が使用され、これによって非常に速いスイッチング速度が得られる。ハーフブリッジを高い周波数で駆動制御することによってのみ、実電流の「滑らかな」特性経過が得られるので、MOSFETの高いスイッチング周波数が必要とされる。ハーフブリッジ内でのMOSFETのスイッチング周波数はこのような理由から、テスト回路の出力側での、PWM電圧信号の周波数よりも格段に高い。
例えば、乗用車の駆動ユニットが電気的駆動部によって駆動制御されるべき場合には、テスト回路の出力段から非常に高い電流および電圧が集められるべきである。これは例えば、この駆動ユニットがハイブリッド車両または電気車両において使用される場合である。このような駆動部はしばしば、数10kWから約100kWまでの領域における出力を有している。まさに非常にダイナミックな負荷変化の際に、kV領域にある電圧がテスト回路の接続端子を占有することおよび、数10Aの領域にあり、ピーク時には数100Aにもなる電流が必要になる。
しかしシミュレートされる電気負荷に変換されるべき出力がこのように高い場合には、上述したMOSFET回路部材は自身の限界に陥ってしまう。なぜなら、これらのMOSFET部材の電圧安定性は過度に低いので、切り換え時に生じる電圧をもはや、損傷無しで遮断することができないからである。より頑強なスイッチング部材、例えばIGBTトランジスタ(絶縁ゲートバイポーラトランジスタ)を使用することは容易には可能でない。なぜならこの場合には、必要とされる高いスイッチング速度が得られないからである。
従来技術から知られている幾つかのソリューションでの別の欠点は、負荷をシミュレーションする回路において比較的高い出力が変換される、ということである;作動時の(損失)出力がより低いというソリューションを見つけることが望まれている。
本発明の課題は、本願で論議される種類の、電気的負荷をシミュレーションするための既知の回路における上述の欠点を(少なくとも部分的に)回避し、殊に、高い電圧および出力変換を備えた大きい負荷をシミュレートするのに適している回路を提供することである。
上述した課題が解決される、電気的負荷をシミュレーションする本発明の回路は、初めに、かつ実質的に、次の特徴を有している。すなわちブリッジ横方向分路内に制御可能な電圧源が設けられ、実電流iistが、この制御可能な電圧源に作用する電流制御ユニットによって、所定の目標電流isollの値に調整される、という特徴を有している。
この制御可能な電圧源によって、ブリッジ横方向分路において容易に、実電流iistを、高さおよび方向において調節することが可能になる。このために当然ながら、電流制御ユニットが一方では、実電流を測定技術によって(常に実現されているように)検出し、所定の目標電流isollの値と比較し、相応する調整信号を制御可能な電圧源に転送することが必要である。閉鎖されている電流回路が、ブリッジ横方向分路を取り入れて実現されるように、テスト回路の第1のスイッチおよび第2のスイッチ並びに回路の第3のスイッチおよび第4のスイッチがスイッチングされる限りは、制御可能な電圧源は、ブリッジ横方向分路において有効である。ここで、ブリッジ横方向分路内に制御可能な電圧源を実現するための、種々の方法がある。
本発明の第1の形態では、制御可能な電圧源によって供給された電圧が直接的に、直流結合を介して、ブリッジ横方向分路内に結合される。これに対して、本発明の別の特に有利な形態では、制御可能な電圧源によって供給された電圧は間接的に、誘導結合を介して、ブリッジ横方向分路内に結合される。すなわちこれは殊に、変圧器を介して行われる。
後者の、制御可能な電圧源の間接的な結合によって供給される電圧の場合には、実電流の調整は一次側で行われる。ここで、変圧器の二次側は、Hブリッジ回路のブリッジ横方向分路に結合される。制御可能な電圧源の誘導結合を備えたこのような解決法方法の形態では以下の殊に留意されたい。すなわち、制御可能な電圧源および誘導結合を介して、可変電流成分のみがブリッジ横方向分路内で調整されるということに留意されたい。なぜなら、直流電圧は、誘導結合によっては伝えられないからである。直流電圧成分ないしは直流電流成分の調整は、テスト回路の第1のスイッチおよび第2のスイッチのスイッチングに依存した、回路の第3のスイッチおよび第4のスイッチの適切なスイッチングによって変換されなければならない。このような考察に基づいて、制御可能な電圧源が「迅速に」制御可能な電圧源でなければならないことが分かる。この電圧源は、いずれにせよ、瞬間電流成分が、ブリッジ横方向分路において、所望の調整速度で調整されるような速さでなければならない。
制御可能な電圧源の有利な形態は、内部電圧源を備えた四象現切り換え装置を有している。ここでこの内部電圧源は殊に、エネルギー蓄積部、有利にはコンデンサとして構成されている。四象現切り換え装置は次のことを可能にする。すなわち内部電圧源を任意の配向(極性)において、切り換え装置の外部接続点と接続することを可能にする。従って内部電圧源は自身の接続電圧を種々異なるように、ブリッジ横方向分路内にもたらすことができる;これは、電圧源によって供給された電圧が直接的に結合されているか、または間接的に結合されているかに依存しない。
有利にはここで四象現切り換え装置は第1のスイッチと、第2のスイッチと、第3のスイッチと、第4のスイッチを有している。第1のスイッチは、第2のスイッチと、第1のブリッジ接続端子を介して接続され、第2のスイッチは第4のスイッチと接続されており、第4のスイッチは第3のスイッチと第2のブリッジ接続端子を介して接続されており、第3のスイッチは第1のスイッチと接続されている。ここで内部電圧源は、第1のスイッチと第3のスイッチの共通の接続部と接続されており、さらに第2のスイッチと第4のスイッチの共通の接続部と接続されている。ここで有利には内部電圧源はコンデンサまたは別の蓄電池または別の電気的な電圧源、例えばDC/DC調整器である。従って内部電圧源によって電圧源が実現され、四象現切り換え装置によって、電圧源の制御性が保証される。
上述した四象現切り換え装置をブリッジ横方向分路内に直接的に結合する場合には、実際には、カスケード接続されたブリッジ回路が生じる。ここでテスト回路の第1のスイッチおよび第2のスイッチと、回路の第3のスイッチおよび第4のスイッチは、外側のHブリッジを構成し、四象現切り換え装置の第4のスイッチは、内側のHブリッジを構成する。このような形態の欠点は、切り換え装置が、外側Hブリッジの切り換え時に跳躍的なポテンシャルにあり、これによって例えば寄生容量が有効になり、ポテンシャル上昇および下降によって、同相障害をもたらす不所望な電流が生起されてしまう、ということである。このような問題は、四象現切り換え装置として実現された、制御可能な電圧源が誘導的に、ブリッジ分路内に結合される場合に解決される。すなわち、四象現切り換え装置は、ブリッジ横方向分路と直流的に接触しておらず、これによって、切り換え装置(外側Hブリッジ)の切り換え時にも、跳躍的なポテンシャルが切り換え装置で生じない。従って、同相障害はここでほぼ回避される。
冒頭で述べたように、ブリッジ横方向分路内に、有効インダクタンスが設けられ、これを介して電流調整が行われる。ブリッジ横方向分路内のこの有効このインダクタンスは回路技術的に、別個の構成部材として(すなわちコイルとして)実現される。しかしこの有効インダクタンスが(または付加的に)、別個の構成部材として実現されず、完全に、既存の寄生している漏れインダクタンスまたは配線インダクタンスとして設けられていてもよい。制御可能な電圧源が間接的にブリッジ横方向分路内に入力結合される場合には、ブリッジ横方向分路内で有効なインダクタンスは構造部分的に一次側でも、制御可能な電圧源においてコイルとして設けられるおよび/または変圧器の漏れインダクタンスとして設けられ、それにもかかわらず、(誘導的な結合に基づいて)インダクタンスとして、ブリッジ横方向分路内で有効である。殊に、インダクタンスはこの場合に、所期の構成によって、磁気漏れ変圧器として、または二巻き線コイルとして実現される。
全体として本発明の回路は、有利な実施形態では、「パワー中性」モードまたは「パワー放棄またはパワー出力」モードにおいて作動される。有利な構成では、回路はパワー中性作動において次のように調整されている。すなわち、回路の第3のスイッチが、テスト回路の第1のスイッチと同期して作動され、回路の第4のスイッチがテスト回路の第2のスイッチと同期して作動されるように調整されている。ここでテスト回路の第1のスイッチと回路の第3のスイッチは、逆相において、テスト回路の第2のスイッチと回路の第4のスイッチに対して同期して作動される。4つのスイッチのこのような関係において、電圧源は効果を有していない。なぜならこれは、内部にブリッジ横方向分路が位置する、閉鎖された電流経路内に接続されていないからである。
これに対して電圧源はパワー放棄またはパワー出力モードにおいて、ブリッジ分路内で効果を有する。従って全体としてこれは、ブリッジ横方向分路内でも電流の流れに影響を与える。このために、上述した同期作動様式とは反対に、短時間、回路の第3のスイッチが、同期して、テスト回路の第1のスイッチとスイッチングされるのではなく、および/または回路の第4のスイッチが、同期して、テスト回路の第2のスイッチとスイッチングされるのではなく、ある程度の遅延を伴ってスイッチングされる。従って、テスト回路の第1のスイッチと回路の第4のスイッチ、ないしはテスト回路の第2のスイッチと回路の第3のスイッチとの、時間的に重畳している作動様式が実現される。パワー放棄モードまたはパワー出力モードは、制御可能な電圧源を直流的に結合している場合には、内部電圧源がエネルギー蓄積器として、殊にコンデンサまたはバッテリーとして実現される。このためにエネルギー蓄積器を充電または放電することが使用される。これはより詳細に、優先権を主張している特許出願DE102008034199号に記載されている。
本発明の別の有利な形態では、回路は全体として次のように作動される。すなわち殊に、制御可能な電圧源の誘導結合時には、関与しているコイルないし変圧器が、磁気的な飽和状態に陥らないように留意されて作動される。なぜなら、このような場合には一次側での電流変化がもはや流れの変化を生じさせず、この結果二次側でも(すなわちブリッジ横方向分路内で)、電流ないしは電圧の変化が生じず、これによって調整が可能ではなくなるからである。これは回路の有利な形態では次のことによって行われる。すなわち、制御可能な電圧源をブリッジ分路と誘導的に結合した場合に、関与しているコイル/変圧器/漏れインダクタンスの差し迫った磁気的飽和を回避するためにパワー放棄モードまたはパワー出力モードが使用されることによって行われる。殊にここではコイル/変圧器、漏れインダクタンスのメインインダクタンス流は有利には常に0に調整される。メインインダクタンス流の検出がどのように行われるのかは、本発明にとって重要ではない。
詳細には、本発明による、電気的負荷をシミュレーションするための回路について種々の実現形態および発展形態が存在する。これについては、請求項1に従属する請求項とともに、図に関連した有利な実施例の説明も参照されたい。
電気的な負荷をシミュレーションするための本発明による回路の基本回路図 誘導性の電圧入力結合を伴う、電気的な負荷をシミュレーションするための、本発明による別の回路の、別の基本回路図 制御可能な電圧源が、内部電圧源を有する四象現切り換え装置として実現されている、本発明による回路の回路図 制御される電圧源の実現に関して図3と比較可能であるが、誘導的に結合されている制御された電圧を有する回路 ブリッジ横方向分路内で効果を有するインダクタンスが、制御された電圧の誘導的な結合時に、一次側で実現されている、本発明による回路の回路図 制御可能な電圧源がハーフブリッジ出力段として実現されている、本発明による回路の回路図 制御可能な電圧が三線変圧器を介して変圧によって結合される、本発明による別の回路の回路図 誘導結合を有する、本発明による別の回路の回路図 同相抑圧が、電圧を制御して行われる、図8に示された本発明による回路の回路図 三相モードにおける、本発明による回路の概略的な回路図
図1〜10に示された全ての回路1は、電気的負荷をシミュレートするために用いられる。この電気的負荷は、テスト回路3の接続端子2においてシミュレートされ、これによってテスト回路3がテストされる。テスト回路3とは、通常は、テストされるべき制御機器であり、これはこの場合にはしばしば、DUT(Device Under Test:被試験デバイス)とも称される。テスト回路3は少なくとも1つの第1のスイッチ4と第2のスイッチ5を有しており、回路1は第3のスイッチ6と第4のスイッチ7を有している。ここで、このテスト回路3の第1のスイッチ4と第2のスイッチ5は、共通の第1の内側接続点8を介して、テスト回路3の接続端子2と接続されており、第3のスイッチ6と第4のスイッチ7は、共通の内側接続点9を介して相互に接続されている。テスト回路3の第1のスイッチ4と第2のスイッチ5は、ここでテスト回路3の出力段を意味している。ここで、テスト回路のこのような出力段は、該当の接続端子2を介してしばしば、PWM電圧信号を出力する。この電圧信号は、2つのスイッチを含んでいるハーフブリッジによって形成される。これは、ここで示されたテスト回路3によっても可能である。回路の第3のスイッチ6および第4のスイッチ7は調整装置(図示されていない)を介して調整可能であり、殊に、テスト回路3の第1のスイッチ4と第2のスイッチ5の動作に依存して、調整可能である。テスト回路3の第1のスイッチ4と第2のスイッチ5は相互にロックされている。すなわちスイッチ4、5は同時に同じスイッチ状態を取らない。同じように、回路1の第3のスイッチ6と第4のスイッチ7は、同時にスイッチングされない。
第1のスイッチ4と第3のスイッチ6は、第1の外側接続点10を介して相互に接続されており、第2のスイッチ5は第4のスイッチ7と第2の外側接続点11を介して接続されている。第1の外側接続点10と第2の外側接続点11には電圧源30によって供給電圧Uが印加され、テスト回路3の接続端子を介して流れる実電流iistは、この接続端子2と第2の接続点9との間に形成されたブリッジ横方向分路12を介して流れる。従って第1のスイッチ4、第2のスイッチ5、第3のスイッチ6および第4のスイッチ7は、ブリッジ横方向分路12とともに、Hブリッジ回路を形成する。
負荷を実際に、テスト回路3の接続端子2でシミュレートすることができるようにするために、実電流iistは、所定の値まで上がるように調整されなければならない。これは図1〜10に示された全ての実施例において、次のことによって実現されている。すなわち、ブリッジ横方向分路12内に、制御可能な電圧源13と、ブリッジ横方向分路12内で有効なインダクタンス14が設けられ、実電流iistが、制御可能な電圧源13に作用する電流制御ユニット15によって、所定の目標電流isollの値まで上がるように調整されることによって実現されている。
図1に示された実施例では、制御可能な電圧源13は直接的に、ブリッジ横方向分路12内に配置されている。従って、制御可能な電圧源13によって供給される電圧は直接的に、直流結合を介して、ブリッジ横方向分路12内に供給される。制御可能な電圧源13によって供給される電圧を変えることによって、ブリッジ横方向分路12内の電流の流れが直接的に影響され、通常の調整器によって、所定の目標電流isollの値まで上がるように調整されることが分かる。
図2に示された回路では、制御可能な電圧源13によって供給される電圧は間接的に、誘導結合を介して、ブリッジ横方向分路12内に入力結合される。ここで、この誘導結合は変圧器16によって実現されている。すなわち、電流制御ユニット15によって制御される電圧源13は、変圧器16の一次側の電流に影響を与える。ここでこの変圧器16は、電流(ないし一次側で得られる電流変化を介して形成される電圧)をブリッジ横方向分路12内で二次側に伝送する。非常に基本的には、誘導性結合を介しては、交流電流を伝送することしかできないので、図2に示されているような間接的に作用する制御可能な電圧源13によって、ブリッジ横方向分路内の電流の交流成分にしか影響を与えることができない。ブリッジ横方向分路12内を流れる負荷電流の直流成分の調整はこの場合には、テスト回路3の第1のスイッチ4および第2のスイッチ5に関して、回路1の第1のスイッチ6および第2のスイッチ7の適切なスイッチングを介して行われる。ここでテスト回路3の第1のスイッチ4と第2のスイッチ5との関係は、アクティブ制御の範囲においては制御可能ではなく、テスト回路3によって定められる。制御可能な電圧源13によって供給される電圧の誘導結合はさらに、図4〜9に示された実施例においても実現される。
図3および図4は、四象現切り換え装置17を備えた、制御可能な電圧源13の特別な実現を示している。ここでこの切り換え装置は内部電圧源18を有している。切り換え装置17の四象現性能によって、この内部電圧源18を種々の配向において、ブリッジ横方向分路12内で有効にすることができる。これは、四象現切り換え装置17の形をした制御可能な電圧源13が、直接的にブリッジ横方向分路12内に結合されているか、間接的にブリッジ横方向分路12内に入力されているに依存しない。
いずれにせよ四象現切り換え装置17は、第1のスイッチ19、第2のスイッチ20、第3のスイッチ21および第4のスイッチ22を有している。ここでこの第1のスイッチ19は、第2のスイッチ20と第1のブリッジ接続端子23を介して接続されており、第2のスイッチ20は、第4のスイッチ22と接続されており、第4のスイッチ22は第3のスイッチ21と第2のブリッジ接続端子24を介して接続されており、第3のスイッチ21は同じように、第1のスイッチ19と接続されている。ここで、内部電圧源18は、第1のスイッチ19と第3のスイッチ21の共通の接続部25と接続されており、内部電圧源18は付加的に、第2のスイッチ20と第4のスイッチ22の共通の接続部26と接続されている。
第1のブリッジ接続端子23および第2のブリッジ接続端子24を介して、四象現切り換え装置17は、ブリッジ横方向分路12内に、有効に結合される。図3に示された回路内では、四象現切り換え装置17はHブリッジ回路も、(上述したように)、第1のスイッチ4、第2のスイッチ5、第3のスイッチ6および第4のスイッチ7から成る回路も構成する。従って、図示の回路1は全体として、カスケード接続されたHブリッジ回路と称される。切り換え装置17の第2のスイッチ20と第3のスイッチ21が同時に開放されているときに、第1のスイッチ19と第4のスイッチ22を同時に閉成することによって、内部電圧源18が、第1の配向において、ブリッジ横方向分路12内に結合され、ちょうど反対の、スイッチ19、20、21および22の開放ないし閉成の際に、内部電圧源18は、これと反対の配向において、ブリッジ横方向分路12内に結合され、有効にされる。
常に存在する電気的な損失を補償するためおよび、制御可能な電圧源13によってもはや実現されない、テスト回路3の接続端子2を介して流れる負荷電流を大幅に変えるために、外側のHブリッジ回路を用いることが必要である。これは、テスト回路3の第1のスイッチ4と第2のスイッチ5および回路1の第1のスイッチ6および第2のスイッチ7、並びにテスト回路3の接続端子2と、第2の内部接続点9との間のブリッジ横方向分路12から成る。このために、回路1はパワー形成モードまたはパワー崩壊モードにおいて作動される、パワー中性モードで作動される。ここでは調整は、「小規模に」、主に制御可能な電圧源13を介して、電流制御ユニット15と関連して行われる。パワー中性モードを実現するために、図示された回路1は次のように調整される。すなわち、回路1の第3のスイッチ6が、テスト回路3の第1のスイッチ4と同期して作動され、回路1の第4のスイッチ7が、テスト回路3の第2のスイッチ5と同期して作動されるように調整される。ここでテスト回路3の第1のスイッチ4および回路1の第3のスイッチ6は実質的に、逆相で、テスト回路3の第2のスイッチ5および回路1の第4のスイッチ7に対して同期して作動される。このモードにおいては、2つの電流回路しか実現されない。ここでは電圧源30は有効でない。
これに対して、パワー形成またはパワー崩壊モードは、図示の回路1では、次のことによって実現される。すなわち電圧源30が有効に、ブリッジ横方向分路12内に接続されることによって実現される。すなわち、回路1の第3のスイッチ6が、テスト回路3の第1のスイッチ4と同期してスイッチングされるのではなく、ないしは回路1の第4のスイッチ7がテスト回路3の第2のスイッチ5と同期してスイッチングされるのではなく、ある程度の遅延を伴ってスイッチングされることによって実現される。従って、スイッチ4および6ないしはスイッチ5および7の、僅かに遅延を伴う作動様式が結果として生じ、これによってスイッチ4および7ないし5および6の時間的に重畳した作動様式が実現される。これによって常に、電圧源30はブリッジ横方向分路12と直列接続され、(極性に応じて)ブリッジ横方向分路12内で、電流を低減させるまたは電流を増大させるように作用する。パワー放棄モードまたはパワー出力モードはここで、制御可能な電圧源13を直流結合するときに、および内部電圧源18をエネルギー蓄積器として、コンデンサの形状において、図示のように実現するときに、エネルギー蓄積器を充電または放電するのに用いられる(DE102008034199も参照)。
図1〜4および図6〜9において、ブリッジ横方向分路12内で、有効インダクタンス14がそれぞれコイルとして実現される。しかし、ここには図示されていない別の実施例では、ブリッジ横方向分路12内の有効インダクタンス14が寄生的に、漏れインダクタンスまたは配線インダクタンスとして実現されれば十分である。すなわち、構成部分としては全く現れない。
図5に示された実施例では、ブリッジ横方向分路12内の有効インダクタンス14は一次側で、制御可能な電圧源13においてコイルとして実現されている。これによって当然ながら次のことも意図される。すなわち、コイルが、電圧源13を有するユニットとして構成されるのではなく、むしろ、電流回路内に配置されることも意図される。ここでは、図5において示されているように、制御可能な電圧源13が有効である。
図6に示された実施例において、制御可能な電圧源13は、完全なHブリッジ回路として実現されるのではなく、むしろ2つの内部電圧源を有するハーフブリッジとして実現される。これにかかる、その構造および駆動制御時のコストは、1つのフルブリッジを備えたソリューションに比べて低い。
図7に示されているソリューションは、Hブリッジ回路の2つの可能な電流経路のそれぞれ1つを流れる電流を制御することによって、ブリッジ横方向分路12内の電流を制御する。ここでは、構造がシンプルであるので、三巻き線変圧器26が使用される。これによって、制御に使用される変圧器の一次側が、跳躍的に変化するポテンシャルを有することが回避される。
図8に示された回路では、アクティブな同相抑圧が、駆動制御部27によって実現される。これは、図9の形態でも実現されている。しかし図9では、テスト回路3の接続端子2に印加されている電圧が使用されている。ここでは、結合コンデンサ28を介して、直流成分の抑圧が行われる。
図10においては基本的に、電気的負荷をシミュレーションするための本発明の回路1は当然ながら、一相だけで使用されるのではないことが示されている。すなわち、テスト回路の1つの接続端子ないし1つの接続端子対のみで、唯一の電流経路を調整するために使用されるのではなく、回路は容易に、多相の電気的な負荷がシミュレーションされるべき使用ケースにおいても使用可能である。ここでは、シミュレーションされるべき各相に対して、1つの、負荷をシミュレートする本発明の回路が設けられる。シミュレートされるべき負荷が中央接続点(「中性点」)を有する場合には、この回路は容易に使用される。シミュレーションモデルはこの場合には、接続されている全ての相にわたった総電流が零と等しいことを保証する。
図10には、電気モータのシミュレーションモデル50がどのように、相で計測された電圧から、実際の負荷の電流を計算し、これを電流目標値として、本発明の回路1の元来の負荷部分51に加えるかも示されている。本発明による回路1の元来の負荷部分51は、多相(ここでは三相)の配置に相応して、複数倍で(ここでは三倍で)存在し、回路1の各実現形態に依存しないで、実質的にそれぞれスイッチ6および7、制御可能な電圧源13、有効インダクタンス14および電流制御ユニット15を含んでいる。ここで、シミュレーションモデル50によって形成された電流目標値は、上述の構成に相応して、この相における電流を調整する、元来の負荷部分51内に含まれている電流制御ユニット15にそれぞれ挿入される。

Claims (11)

  1. テスト回路(3)の接続端子(2)で電気的な負荷をシミュレーションするための回路であって、
    前記テスト回路(3)は少なくとも1つの第1のスイッチ(4)と第2のスイッチ(5)とを有しており、
    前記回路(1)は、第3のスイッチ(6)と第4のスイッチ(7)を有しており、
    前記テスト回路(3)の第1のスイッチ(4)と第2のスイッチ(5)は、共通の第1の内側接続点(8)を介して、テスト回路(3)の前記接続端子(2)と接続されており、
    前記第3のスイッチ(6)と第4のスイッチ(7)は、共通の第2の内側接続点(9)を介して相互に接続されており、
    前記第1のスイッチ(4)と前記第3のスイッチ(6)は、第1の外側接続点(10)を介して相互に接続されており、
    前記第2のスイッチ(5)と前記第4のスイッチ(7)は、第2の外側接続点(11)を介して相互に接続されており、
    前記第1のスイッチ(4)、前記第2のスイッチ(5)、前記第3のスイッチ(6)および前記第4のスイッチ(7)は、Hブリッジ回路を構成しており、
    前記第1の外側接続点(10)と前記第2の外側接続点(11)には電圧源(30)によって供給電圧U が印加され、
    テスト回路(3)の前記接続端子(2)を流れる実電流iistは、当該接続端子(2)と前記第2の接続点(9)との間に構成されているブリッジ横方向分路(12)を介して流れ、
    ここで当該ブリッジ横方向分路(12)内に有効インダクタンス(14)が設けられている
    形式の回路において、
    前記ブリッジ横方向分路(12)内に、制御可能な電圧源(13)が設けられており、
    前記実電流iistは、当該制御可能な電圧源(13)に作用する電流制御ユニット(15)によって、所定の目標電流isollの値になるように調整される、
    ことを特徴とする、電気的な負荷をシミュレーションするための回路。
  2. 前記制御可能な電圧源(13)によって供給される電圧は直接的に、直流結合を介して、前記ブリッジ横方向分路(12)内に入力結合される、請求項1記載の回路。
  3. 前記制御可能な電圧源(13)によって供給される電圧は間接的に、誘導結合を介して、前記ブリッジ横方向分路(12)内に入力結合され、殊に、少なくとも1つの変圧器(16)を介して入力結合される、請求項1記載の回路。
  4. 前記制御可能な電圧源(13)は、内部電圧源(18)、殊にエネルギー蓄積器、有利にはコンデンサを備えた四象現切り換え装置(17)によって実現される、請求項1から3までのいずれか1項記載の回路。
  5. 前記四象現切り換え装置(17)は、第1のスイッチ(19)、第2のスイッチ(20)、第3のスイッチ(21)および第4のスイッチ(22)を有しており、
    前記第1のスイッチ(19)は、前記第2のスイッチ(20)と、第1のブリッジ接続端子(23)を介して接続されており、前記第2のスイッチ(20)は、前記第4のスイッチ(22)と接続されており、前記第4のスイッチ(22)は、前記第3のスイッチ(21)と第2のブリッジ接続端子(24)を介して接続されており、前記第3のスイッチ(21)は、前記第1のスイッチ(19)と接続されており、
    前記内部電圧源(18)は、前記第1のスイッチ(19)と前記第3のスイッチ(21)の共通の接続部(25)と接続されており、さらに、前記第2のスイッチ(20)と前記第4のスイッチ(22)の共通の接続部(26)と接続されており、殊にここでは前記内部電圧源(18)はコンデンサである、請求項4記載の回路。
  6. 前記ブリッジ横方向分路(12)内の有効インダクタンス(14)はコイルとして実現されている、および/または寄生的に、漏れインダクタンスまたは配線インダクタンスとして実現されている、請求項1から5までのいずれか1項記載の回路。
  7. 前記ブリッジ横方向分路(12)内の有効インダクタンス(14)は、殊に磁気漏れ変圧器としてまたは二巻き線コイルとして、所期のように構成することによって、変圧器(16)の漏れインダクタンスとして存在する、請求項6および3記載の回路。
  8. 前記回路の第3のスイッチ(6)が、前記テスト回路(3)の第1のスイッチと同期して作動され、前記回路の第4のスイッチ(7)が、前記テスト回路の第2のスイッチ(5)と同期して作動されるように、前記回路はパワー中性モードにおいて調整され、
    この際に、前記テスト回路(3)の第1のスイッチ(4)と前記回路(1)の第3のスイッチ(6)は、逆位相において、前記テスト回路(3)の第2のスイッチ(5)および前記回路(1)の前記第4のスイッチ(7)に対して同期して作動される、請求項1から7までのいずれか1項記載の回路。
  9. パワー形成モードまたはパワー崩壊モードにおいて、前記電圧源(30)は有効に、前記ブリッジ横方向分路(12)内に接続され、殊に、短時間、前記回路の第3のスイッチ(6)が、前記テスト回路の第1のスイッチ(4)と同期接続されず、および/または前記回路の第4のスイッチ(7)が、前記テスト回路の第2のスイッチ(5)と同期接続されず、ある程度の遅れを伴っている、請求項1から7までのいずれか1項記載の回路。
  10. 前記制御可能な電圧源(13)を前記ブリッジ横方向分路(12)と誘導結合した場合には、関与しているコイル/変圧器/漏れインンダクタンスの差し迫った磁気的飽和を阻止するために、前記パワー形成モードまたはパワー崩壊モードが使用され、
    殊にここで前記コイル/変圧器/漏れインダクタンスのメインインダクタンス電流は、有利には0に調整される、請求項9記載の回路。
  11. 前記制御可能な電圧源(13)を前記ブリッジ横方向分路(12)内に直流結合した場合には、前記エネルギー蓄積器を充電するまたは放電するために前記パワー形成モードまたはパワー崩壊モードが使用され、
    殊にここで前記制御可能な電圧源(13)は四象現切り換え装置として構成されており、有利には、前記内部電圧源はエネルギー蓄積器として、コンデンサまたはバッテリーの形状で構成される、請求項9記載の回路。
JP2011519126A 2008-07-21 2009-07-15 電気的な負荷をシミュレーションするための回路 Expired - Fee Related JP5377636B2 (ja)

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE102008034109.6 2008-07-21
DE102008034109.6A DE102008034109B4 (de) 2008-07-21 2008-07-21 Schaltung zur Nachbildung einer elektrischen Last
PCT/EP2009/059073 WO2010010022A1 (de) 2008-07-21 2009-07-15 Schaltung zur nachbildung einer elektrischen last

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2011528794A true JP2011528794A (ja) 2011-11-24
JP5377636B2 JP5377636B2 (ja) 2013-12-25

Family

ID=41129313

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2011519126A Expired - Fee Related JP5377636B2 (ja) 2008-07-21 2009-07-15 電気的な負荷をシミュレーションするための回路

Country Status (6)

Country Link
US (1) US8754663B2 (ja)
EP (1) EP2310919B1 (ja)
JP (1) JP5377636B2 (ja)
CN (1) CN102099755B (ja)
DE (1) DE102008034109B4 (ja)
WO (1) WO2010010022A1 (ja)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US8945767B2 (en) 2009-08-27 2015-02-03 Dainichiseika Color & Chemicals Mfg. Co., Ltd Aqueous coating liquid for an electrode plate, electrode plate for an electrical storage device, method for manufacturing an electrode plate for an electrical storage device, and electrical storage device
JP2015195666A (ja) * 2014-03-31 2015-11-05 シンフォニアテクノロジー株式会社 インバータ試験装置
JP2017142237A (ja) * 2016-01-19 2017-08-17 ディスペース デジタル シグナル プロセッシング アンド コントロール エンジニアリング ゲゼルシャフト ミット ベシュレンクテル ハフツングdspace digital signal processing and control engineering GmbH シミュレーション装置およびシミュレーション方法

Families Citing this family (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US8664921B2 (en) * 2011-08-04 2014-03-04 Tektronix, Inc. Means of providing variable reactive load capability on an electronic load
CN103092081B (zh) * 2012-12-28 2015-05-27 北京控制工程研究所 一种嵌入式电机及负载功率级模拟系统
US9645194B2 (en) 2014-03-05 2017-05-09 Rockwell Automation Technologies, Inc. Systems and methods for testing motor drives
DE102014111675A1 (de) * 2014-08-15 2016-02-18 Dspace Digital Signal Processing And Control Engineering Gmbh Simulationsvorrichtung und Verfahren zur Simulation einer an ein Regelungsgerät anschließbaren peripheren Schaltungsanordnung
SE541339C2 (en) * 2014-12-19 2019-07-16 Nok9 Ip Ab A mobile device tester for precise inductive power measurement and a calibration unit therefor
DE102016100771A1 (de) 2016-01-19 2017-07-20 Dspace Digital Signal Processing And Control Engineering Gmbh Simulationsvorrichtung und Verfahren zur Simulation
DE102016108933A1 (de) 2016-05-13 2017-11-16 Dspace Digital Signal Processing And Control Engineering Gmbh Simulationsverfahren und Simulationsvorrichtung
AT518368B1 (de) * 2016-02-15 2021-06-15 Omicron Electronics Gmbh Prüfgerät und Verfahren zum Prüfen einer Steuereinheit einer Schaltvorrichtung einer Schaltanlage
US10741094B2 (en) 2016-06-30 2020-08-11 Timpson Electrical & Aerial Services, LLC High voltage training device and system and method thereof
CN106353675B (zh) * 2016-09-09 2023-04-28 深圳市振邦智能科技股份有限公司 一种利用电感耦合方式的无源隔离开关检测装置
CN106919064A (zh) * 2017-04-18 2017-07-04 国网上海市电力公司 协同仿真接口设置方法
EP3462471B1 (en) * 2017-09-29 2022-04-13 Rockwell Automation Switzerland GmbH Safety switch
CN111123010A (zh) * 2019-12-30 2020-05-08 深圳市创荣发电子有限公司 一种模拟智能锁负载测试电路

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH06189554A (ja) * 1992-05-13 1994-07-08 N F Kairo Sekkei Block:Kk 交流電子負荷装置
WO2007042228A1 (de) * 2005-10-07 2007-04-19 Dspace Digital Signal Processing And Control Engineering Gmbh Verfahren und vorrichtung zum simulieren einer elektrischen/elektronischen last

Family Cites Families (46)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3756837A (en) * 1972-04-04 1973-09-04 Lockheed Aircraft Corp Coating compositions using liquid drying vehicles
US4680537A (en) * 1985-04-12 1987-07-14 Conax Florida Corporation Method and apparatus for testing a conductivity sensing circuit
NL8601331A (nl) * 1986-05-26 1987-12-16 At & T & Philips Telecomm Zender voor isdn s-bus koppelvlakcircuit.
ATE89685T1 (de) 1986-12-22 1993-06-15 Acec Transport Sa Durch halbleiter unterstuetzter ultra-schneller schalter.
US5038247A (en) 1989-04-17 1991-08-06 Delco Electronics Corporation Method and apparatus for inductive load control with current simulation
US5805923A (en) * 1995-05-26 1998-09-08 Sony Corporation Configurable power management system having a clock stabilization filter that can be enabled or bypassed depending upon whether a crystal or can oscillator is used
JP3323106B2 (ja) 1996-10-16 2002-09-09 株式会社日立製作所 半導体電力変換装置
US5949158A (en) * 1997-05-05 1999-09-07 Gerhard Kurz Method and arrangement for controlling the output of electrical consumers connected to an AC line voltage
EP1112504B1 (de) * 1998-09-09 2002-07-31 Siemens Aktiengesellschaft Diagnoseschaltung zur widerstands- und leckstrommessung mindestens eines elektrischen verbrauchers, insbesondere einer zündpille eines kraftfahrzeug-insassenschutzsystems, und entsprechend ausgelegtes insassenschutzsystem
DE19850001A1 (de) * 1998-10-30 2000-05-04 Mannesmann Vdo Ag Fehlerstromerkennung in Steuereinheiten
DE19926173A1 (de) * 1999-06-09 2000-12-21 Bosch Gmbh Robert Bustreiberschaltung für ein Zweileiter-Bussystem
JP2001201524A (ja) * 2000-01-20 2001-07-27 Agilent Technologies Japan Ltd 電気信号の比率測定装置、電気素子測定装置、電気素子測定装置の校正方法及び電気信号の比率測定方法
JP4800557B2 (ja) * 2000-08-12 2011-10-26 ローベルト ボツシユ ゲゼルシヤフト ミツト ベシユレンクテル ハフツング 方形波パルスを形成するための回路装置
DE10043905A1 (de) * 2000-09-06 2002-03-14 Infineon Technologies Ag Stromkopplung bei der gemischten Simulation von Schaltungen
US6597138B2 (en) * 2001-08-01 2003-07-22 The Chamberlain Group, Inc. Method and apparatus for controlling power supplied to a motor
JP4043855B2 (ja) * 2002-06-10 2008-02-06 株式会社日立製作所 半導体集積回路装置
US7276954B2 (en) * 2002-06-26 2007-10-02 Kabushiki Kaisha Toyota Jidoshokki Driver for switching device
US6798271B2 (en) * 2002-11-18 2004-09-28 Texas Instruments Incorporated Clamping circuit and method for DMOS drivers
DE10254481B3 (de) * 2002-11-19 2004-07-15 Metrax Gmbh Externer Defibrillator
US6809500B2 (en) * 2003-01-28 2004-10-26 Valence Technology, Inc. Power supply apparatuses and power supply operational methods
EP1450167A1 (de) * 2003-02-24 2004-08-25 ELMOS Semiconductor AG Verfahren und Vorrichtung zum Messen des Widerstandswertes eines elektronischen Bauelements
JP2004325233A (ja) * 2003-04-24 2004-11-18 Matsushita Electric Ind Co Ltd 半導体装置
US20040239401A1 (en) * 2003-05-27 2004-12-02 Chi-Shun Liao Zero-voltage-switching full-bridge converter
CA2531416C (en) * 2003-07-09 2015-03-24 Isra-Juk Electronics Ltd. System, apparatus and method for detection of electrical faults
JP3992665B2 (ja) 2003-07-25 2007-10-17 東京電力株式会社 三相交流負荷模擬装置
US7760525B2 (en) 2003-08-21 2010-07-20 Marvell World Trade Ltd. Voltage regulator
DE102004010331B4 (de) * 2004-02-25 2014-03-20 Newfrey Llc Verfahren und Vorrichtung zum Erzeugen eines elektrischen Heizstroms, insbesondere zum induktiven Erwärmen eines Werkstücks
JP2005304210A (ja) * 2004-04-14 2005-10-27 Renesas Technology Corp 電源ドライバ装置及びスイッチング電源装置
US7091728B2 (en) * 2004-08-27 2006-08-15 Gencsus Voltage isolated detection apparatus and method
US7260486B2 (en) * 2004-09-22 2007-08-21 Endress + Hauser Flowtec Ag Method for operating and/or reviewing a magneto-inductive flow meter
JP4762553B2 (ja) 2005-01-05 2011-08-31 三菱電機株式会社 テキスト音声合成方法及びその装置、並びにテキスト音声合成プログラム及びそのプログラムを記録したコンピュータ読み取り可能な記録媒体
JP5145219B2 (ja) 2005-07-06 2013-02-13 アイ.ビー.アイ イスラエル バイオメディカル イノベーションズ リミテッド 外科用ファスナ及びファスニング・デバイス
DE102005046993B3 (de) * 2005-09-30 2007-02-22 Infineon Technologies Ag Vorrichtung und Verfahren zum Erzeugen eines Leistungssignals aus einem Laststrom
US20070279068A1 (en) * 2006-05-31 2007-12-06 Harres Daniel N Power diagnostic system and method
DE102006030821A1 (de) * 2006-06-30 2008-01-03 Braun Gmbh Schaltungsanordnung und Verfahren zum Ansteuern eines elektrischen Verbrauchers
US7602228B2 (en) * 2007-05-22 2009-10-13 Semisouth Laboratories, Inc. Half-bridge circuits employing normally on switches and methods of preventing unintended current flow therein
WO2009006633A1 (en) * 2007-07-05 2009-01-08 Mastercard International Incorporated Method and system for simulating a proximity-based transaction device
ATE459029T1 (de) 2007-10-10 2010-03-15 Silver Atena Electronic System Verfahren zur simulation eines elektromotors oder generators
EP2048343A1 (en) * 2007-10-11 2009-04-15 Delphi Technologies, Inc. Detection of faults in an injector arrangement
US9093846B2 (en) * 2009-12-04 2015-07-28 National Semiconductor Corporation Methodology for controlling a switching regulator based on hardware performance monitoring
DE102010026919A1 (de) * 2010-07-13 2012-01-19 Leopold Kostal Gmbh & Co. Kg Verfahren zur Erfassung einer Schaltstellung einer Schalteinrichtung
CN102467091B (zh) * 2010-11-11 2017-03-01 帝斯贝思数字信号处理和控制工程有限公司 具有故障仿真的电池模拟设备及方法
DE102010062838A1 (de) * 2010-12-10 2012-06-14 Dspace Digital Signal Processing And Control Engineering Gmbh Echtzeitfähige Batteriezellensimulation
JP5333619B2 (ja) * 2011-03-30 2013-11-06 株式会社デンソー 電圧検出装置および結合回路
DE102011117491B4 (de) * 2011-10-27 2013-10-17 Hagenuk KMT Kabelmeßtechnik GmbH Prüfvorrichtung von Kabeln zur Spannungsprüfung durch eine VLF-Spannung
JP5953077B2 (ja) * 2012-03-13 2016-07-13 東芝三菱電機産業システム株式会社 インバータ試験装置

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH06189554A (ja) * 1992-05-13 1994-07-08 N F Kairo Sekkei Block:Kk 交流電子負荷装置
WO2007042228A1 (de) * 2005-10-07 2007-04-19 Dspace Digital Signal Processing And Control Engineering Gmbh Verfahren und vorrichtung zum simulieren einer elektrischen/elektronischen last

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US8945767B2 (en) 2009-08-27 2015-02-03 Dainichiseika Color & Chemicals Mfg. Co., Ltd Aqueous coating liquid for an electrode plate, electrode plate for an electrical storage device, method for manufacturing an electrode plate for an electrical storage device, and electrical storage device
US9359508B2 (en) 2009-08-27 2016-06-07 Dainichiseika Color & Chemicals Mfg. Co., Ltd. Water-based slurry composition, electrode plate for electricity storage device, and electricity storage device
US9359509B2 (en) 2009-08-27 2016-06-07 Dainichiseika Color & Chemicals Mfg. Co., Ltd. Aqueous carbon filler dispersion coating liquid, conductivity-imparting material, electrode plate for an electrical storage device, manufacturing method therefore, and electrical storage device
US9834688B2 (en) 2009-08-27 2017-12-05 Dainichiseika Color & Chemicals Mfg. Co., Ltd. Aqueous carbon filler dispersion coating liquid, conductivity-imparting material, electrode plate for an electrical storage device, manufacturing method therefore, and electrical storage device
JP2015195666A (ja) * 2014-03-31 2015-11-05 シンフォニアテクノロジー株式会社 インバータ試験装置
JP2017142237A (ja) * 2016-01-19 2017-08-17 ディスペース デジタル シグナル プロセッシング アンド コントロール エンジニアリング ゲゼルシャフト ミット ベシュレンクテル ハフツングdspace digital signal processing and control engineering GmbH シミュレーション装置およびシミュレーション方法

Also Published As

Publication number Publication date
CN102099755B (zh) 2014-07-02
WO2010010022A1 (de) 2010-01-28
US8754663B2 (en) 2014-06-17
JP5377636B2 (ja) 2013-12-25
EP2310919B1 (de) 2014-12-24
EP2310919A1 (de) 2011-04-20
US20110133763A1 (en) 2011-06-09
WO2010010022A8 (de) 2010-12-29
DE102008034109A1 (de) 2010-02-04
CN102099755A (zh) 2011-06-15
DE102008034109B4 (de) 2016-10-13

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5377636B2 (ja) 電気的な負荷をシミュレーションするための回路
Cardozo et al. Novel nonlinear control of Dual Active Bridge using simplified converter model
Hajian et al. 30 kW, 200 V/900 V, thyristor LCL DC/DC converter laboratory prototype design and testing
US10436844B2 (en) Synthetic test circuit for testing submodule performance in power compensator and test method thereof
CN101203820A (zh) 多级有源滤波器
US10432101B2 (en) Power conversion apparatus
US11747841B2 (en) Current control apparatus
Alepuz et al. Development and testing of a bidirectional distribution electronic power transformer model
CN114175481B (zh) 电力转换系统的dc-dc转换器
CN111886793A (zh) 马达模拟器
JP7199520B2 (ja) 電力変換装置
Majmunović et al. 1 kV, 10-kW SiC-based quadruple active bridge DCX stage in a DC to three-phase AC module for medium-voltage grid integration
Chattopadhyay et al. Modular isolated DC-DC converter with multi-limb transformer for interfacing of renewable energy sources
Chattopadhyay et al. Power flow control and ZVS analysis of three limb high frequency transformer based three-port DAB
CN110299860B (zh) 用于中压逆变器的初始充电系统和用于控制该系统的方法
Kim et al. Design of Triple-Active Bridge Converter with Inherently Decoupled Power Flows
De et al. Improved utilisation of an HF transformer in DC–AC application
CN202837382U (zh) 用于产生过电压的测试装置
US11152918B1 (en) Low modulation index 3-phase solid state transformer
JP4232504B2 (ja) 交流電圧調整装置
US20150280596A1 (en) Single Phase AC Chopper for High Current Control of Complex and Simple Loads
Carstensen et al. Novel 3 level bidirectional buck converter with wide operating range for hardware-in-the-loop test systems
Liu et al. Automatic current sharing of input-parallel output-parallel dual active bridge converters with coupled inductors
US9729078B2 (en) AC/DC voltage transformer and method of operation therefor
JP7548072B2 (ja) 電力変換装置

Legal Events

Date Code Title Description
A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20130125

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20130201

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20130423

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20130513

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20130808

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20130826

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20130924

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 5377636

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees