JP2011511567A - レベルシフティング回路および方法 - Google Patents

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Abstract

特定の実施例では、方法は、電圧プルアップロジックを含むレベルシフティング回路への入力で入力電圧を受け取ることを含む。その方法は、レベルシフティング回路からの出力信号を提供することを含む。その方法は、レベルシフティング回路の電圧プルアップ論理回路を選択的に動作させることをさらに含む。

Description

本開示は、一般的に、レベルシフティング回路および方法に関する。
技術の進歩は、より小さくより高性能なコンピュータ装置をもたらす結果となった。例えば、携帯無線電話機、携帯情報端末(PDAs)、および小さく軽量でユーザによって容易に持ち運ばれるページング装置のような、無線コンピュータ装置を含む様々なポータブルパーソナルコンピュータ装置が現に存在する。より具体的には、携帯電話およびインターネットプロトコル(IP)電話のような携帯無線電話機は、無線ネットワーク上の音声およびデータパケットを通信することができる。さらに、多くのそのような無線電話が、そこに組込まれる他のタイプの装置を含む。例えば、無線電話はさらにディジタルスチルカメラ、ディジタルビデオカメラ、ディジタルレコーダおよびオーディオファイルプレーヤを含むだろう。さらに、無線電話は、インターネットにアクセスするために使用することができるウェブブラウザアプリケーションのようなソフトウェアアプリケーションを含む実行命令を処理することができる。そのため、これらの無線電話は著しい演算能力を含むだろう。
消費電力を低減するために、またこのようにして携帯機器の電池寿命を拡張するために、電源はますます低電圧で電子部品を動作させる。いくつかの部品は低電圧でうまく動作するかもしれないが、他の部品は高電圧を要求するかもしれない。したがって、異なる電圧で動作する部品を含む装置は、より高くより低い電圧間の信号を変換するためにレベルシフタ(level shifter)を使用するかもしれない。レベルシフタ回路設計は、入力遷移(input transition)への応答時間を改善することと低電圧での動作の範囲を改善することとの間の選択を多くの場合要求する。応答時間の増加は、動作の範囲を一般的に増加させ、その上、動作の範囲を増加することは一般的には応答時間を減少させる。したがって、レベルシフタは、低電力動作中に装置の性能を制限するかもしれない。
特定の実施例では、入力電圧信号を受け取るための入力、および、レベル変換された電圧信号を供給するための出力を含む回路装置が開示される。その回路装置は、入力に連結した第1の弱状態保持パス(weak state holding path)、および、出力に連結した第2の弱状態保持パスを含む。その回路装置は、第1の弱状態保持パスおよび第2の弱状態保持パスに連結した電圧プルアップ論理回路(voltage pull-up logic circuit)をさらに含む。その回路装置は、電圧プルアップ論理回路の動作を選択的に制御するために電圧プルアップ論理回路に連結した制御パスをさらに含む。
別の実施例では、メモリアレイ、および、第1のレベルシフティング回路によってメモリアレイに連結した第1の入力を含むシステムが開示される。そのシステムは、第2のレベルシフティング回路によってメモリアレイに連結した第2の入力をさらに含む。第1のレベルシフティング回路は、第1の入力を受け取るための入力、および、メモリアレイへ第1のレベル変換された電圧信号を供給するための出力をさらに含む。第1のレベルシフティング回路は、入力に連結された第1の弱状態保持パスをさらに含む。第1のレベルシフティング回路は、出力に連結された第2の弱状態保持パスをさらに含む。第1のレベルシフティング回路は、第1の弱状態保持パスおよび第2の弱状態保持パスに連結された電圧プルアップ論理回路を含む。第1のレベルシフティング回路は、電圧プルアップ論理回路の動作を選択的に制御するために電圧プルアップ論理回路に連結された制御パスをさらに含む。
別の実施例では、電圧プルアップロジックを含むレベルシフティング回路への入力で入力電圧を受け取るための手段を含む装置が開示される。その装置は、レベルシフティング回路からの出力信号を供給するための手段をさらに含む。その装置は、レベルシフティング回路の電圧プルアップ論理回路を選択的に動作させるための手段をさらに含む。
別の実施例では、電圧プルアップロジックを含むレベルシフティング回路への入力で入力電圧を受け取ることを含む方法が開示される。その方法はレベルシフティング回路からの出力信号を供給することを含む。その方法はレベルシフティング回路の電圧プルアップ論理回路を選択的に動作させることをさらに含む。
開示された実施例によって提供される1つの特別の利点は、弱状態保持パスによる広い電圧シフト範囲、および、電圧プルアップ論理回路による入力信号遷移への迅速な応答である。別の特別の利点は、レベルシフティング回路の動作が比較的寛容な(tolerant)プロセスであるということである。
現在の開示の他の態様、利点および特徴は、以下のセクションつまり、図面の簡単な説明、詳細な説明および請求項を含む全体の出願の参照の後に明白になるだろう。
図1は、レベルシフティング回路装置の第1の実例となる実施例のブロック図である。 図2は、レベルシフティング回路装置の第2の実例となる実施例の回路図である。 図3は、レベルシフティング回路装置を含むシステムの特別の実例となる実施例のブロック図である。 図4は、図1−3に例証された回路装置のような回路装置を使用する、レベルシフティングの方法の特別の実例となる実施例のフローダイアグラムである。 図5は、図1−4に記述された回路と方法の実施例が使用されるかもしれない代表的なモバイル通信装置のブロック図である。
図1を参照して、レベルシフティング回路装置の第1の実例となる実施例は表現されて100と一般的に示される。レベルシフティング回路装置100は、入力電圧信号を受け取るための入力102を含む。出力104はレベル変換された電圧信号を提供する。第1の弱状態保持パス106は、入力102および出力104に連結される。第1の弱状態保持パス106は、入力102にさらに連結される第2の弱状態保持パス108に互いに連結される。電圧プルアップ論理回路110は、両方の第1の弱状態保持パス106および第2の弱状態保持パス108に連結される。制御パス112は、電圧プルアップ論理回路110に制御信号を供給するために連結される。
特定の実施例では、入力102で受け取られた入力電圧信号は、ハイ状態(V1L)とロー状態(V0)との間の第1の電圧範囲内にある。入力電圧信号に応じて、第1の弱状態保持パス106は、ハイ状態(V1H)とロー状態(V0)の間の第2の電圧範囲内にある、出力104でレベル変換された電圧信号を生成する。特定の実施例では、第1の弱状態保持パス106および第2の弱状態保持パス108は、0.6-1.4Vあるいはその電圧以下でのレベルシフティングを含む、入力電圧の広い範囲のレベルシフティングを可能にするように構成される。しかしながら、入力電圧の広い範囲上で動作することができることの結果、第1の弱状態保持パス106および第2の弱状態保持パス108は、入力102で受け取られた入力信号の遷移に応じて比較的遅い遷移時間を示すかもしれない。
特定の実施例では、電圧プルアップ論理回路110は、第1の弱状態保持パス106および第2の弱状態保持パス108に電流を供給することにより、出力104でスイッチング速度を改善するのに作用する。弱状態保持パス106および108に電圧プルアップ論理回路110によって提供される追加電流は、入力信号の遷移に対する、より速いレスポンスを可能にする。特定の実施例では、電圧プルアップ論理回路110は、入力102で受け取られた入力信号の検知された遷移に応じて第1の弱状態保持パス106および第2の弱状態保持パス108の少なくとも1つにレベルシフティング電流を供給するために主に動作する。電圧プルアップ論理回路110は、非遷移期間に入力102で低電圧信号への弱状態保持パス106および108の感度を維持するために弱状態保持パス106および108に電流を供給することをやめるために制御パス112に反応する。
制御パス112は電圧プルアップ論理回路110の動作を選択的に制御するのに適している。特定の実施例では、制御パス112は、出力104から電圧プルアップ論理回路110までの自己調時式フィードバックパス(self-timed feedback path)118を含む。制御パス112は、出力104で電圧レベル変化を検知するのに作用するかもしれず、かつ、特定の遅れが出力104での遷移に基づいて経過したと自己調時式フィードバックパス118が判断する場合に、弱状態保持パス106および108の1つ以上への電流をオフにするために電圧プルアップ制御論理110に動作信号を供給する。
別の実施例では、制御パス112は、入力102に連結された遅れ論理回路114を含む。この実施例では、制御パス112は、入力102での遷移を検知し、かつ電圧プルアップ論理回路110に動作信号を送るのに作用する。動作信号は、論理状態(logic states)間で遷移するために、弱状態保持パス106、108あるいは両方を支援するために電圧プルアップ論理回路110に電流の供給を開始させるかもしれない。制御パス112は、十分な遅れが入力102の遷移から経過したと判断する遅れ論理回路114に応じて、電圧プルアップ論理回路110に第2の制御信号を送るのにさらに作用するかもしれない。第2の制御信号は、入力電圧の広範囲に関して、弱状態保持パス106および108の通常動作を再開することで、電圧プルアップ論理回路110を動作させなくするかもしれない。特定の実施例では、遅れ論理回路114は調整可能で、かつ、第2の制御信号に関連した遅れを制御するための調整式遅れコンポーネント(adjustable delay component)116を含むかもしれない。
動作中に、第1の入力信号は第1の電子部品から入力102で受け取られるかもしれない。レベルシフティング回路装置100は入力電圧レベルを遷移または変換するかもしれず、出力104で出力電圧レベルを生成する。例えば、入力信号は、プロセッサ、バス、メモリあるいは他の電子部品から受け取られるかもしれず、また、出力は、プロセッサ、バス、メモリあるいは他の電子部品に提供されるかもしれない。第1の入力信号は、第1の電源に関連した電圧レベルV0からV1Lを反映するかもしれない。出力104は、第2の電圧レベルV0からV1Hで動作する1つ以上の他の電子部品に連結されるかもしれない。実例となる例として、第1の電圧レベルは、0Vから1.0Vまでの電圧範囲に関連した信号かもしれず、また、第2の電圧レベルは、0Vから3.3Vまでの電圧範囲に関連した信号かもしれない。
第2の入力信号への入力102での遷移に応じて、第1および第2の弱状態保持パス106および108は、状態間に遷移し始める。電圧プルアップ論理回路110は、1つ以上のトランジスタへ電荷(charge)を供給することによって電圧レベル遷移を支援するために第1の弱状態保持パス106、第2の弱状態保持パス108あるいは両方に電流を供給し始める。特定の実施例では、電圧プルアップ論理回路110は、弱状態保持パス106および108の少なくとも1つが状態間に遷移し始めたことを検知することに応じて電流を供給し始める。別の実施例では、電圧プルアップ論理回路110は、制御パス112からの制御信号に応じて電流をその代りに供給し始めるかもしれない。
例えば自己調時式フィードバックパス118や遅れ論理回路パス114経由のような適切な遅れ周期の後、制御パス112は、弱状態保持パス106および108への電流を供給することをやめるために電圧プルアップ論理回路110を動作させなくするために制御信号を提供する。電圧プルアップ論理回路110の非動作にしたがって、互いに連結された弱状態保持パス106および108は、出力104で新しい出力電圧レベルを維持する。電圧プルアップ論理回路110を選択的に動作させることによって、広範囲の入力動作電圧および速い出力レベル遷移は、レベルシフティング回路装置100によって両方とも提供される。
図2を参照して、レベルシフティング回路装置の第2の実例となる実施例は表現されて200と一般的に示される。レベルシフティング回路装置200は、高電圧VddLと低電圧Vssの間の第1の電圧範囲に対応する入力信号を受け取るように構成された入力202を含む。レベルシフティング回路装置200は、高電圧VddHによって表わされるハイ信号、および低電圧Vssによって表わされるロー信号と共に、第2の電圧範囲への入力202のレベルシフティングに対応する出力信号を提供するように構成された出力204をさらに含む。レベルシフティング回路装置200は、第1の弱状態保持パス206および第2の弱状態保持パス208をさらに含む。第1の弱状態保持パス206は、入力202に連結され、また、第2の弱状態保持パス208は、第1の電圧範囲で動作するインバータ207を経由して入力202に連結される。電圧プルアップ論理回路210は、第1の弱状態保持パス206および第2の弱状態保持パス208の両方に連結される。制御パス212は、電圧プルアップ論理回路210および出力204に連結される。
特定の実施例では、第1の弱状態保持パス206は、電源電圧VddHに連結された第1の端子、第2の弱状態保持パス208に連結された制御端子および第3の端子を有する第1の弱pチャネルトランジスタ(weak p-channel transistor)220を含む。第1の弱状態保持パス206は、第1の弱pチャネルトランジスタ220の第3の端子に連結される第4の端子を含む第2の弱pチャネルトランジスタ222をさらに含む。第2の弱pチャネルトランジスタ222は、入力202に連結された第2の制御端子、および第1のノード223に連結された第5の端子を有する。第1のノード223は電圧プルアップ論理回路210に連結される。第1の弱状態保持パス206は、第1のノード223に連結された第6の端子、入力202に連結された第3の制御端子、および第2の電源電圧Vssに連結された第7の端子を含む強nチャネルトランジスタ(strong n-channel transistor)224をさらに有する。ここに使用されるように、強トランジスタは弱トランジスタに比して、例えばゲート電圧のような、制御端子で信号に対してより速い電流レスポンスを有し、かつ弱トランジスタより広く、より短いチャネルを有するかもしれない。例えば、弱pチャネルトランジスタ220および222は、およそ幅0.12マイクロメートル(um)で長さ0.1umであるチャネルを備えたpチャネルMOSFETsかもしれず、また、強nチャネルトランジスタ224は、およそ幅0.6umで長さ0.04umであるチャネルを備えたnチャネルMOSFETかもしれない。
特定の実施例では、第2の弱状態保持パス208は、電源電圧VddHに連結された第1の端子、第1の弱状態保持パス206に連結された制御端子、および第2の弱pチャネルトランジスタ232に連結された第3の端子を含む第1の弱pチャネルトランジスタ230を含む。第2の弱pチャネルトランジスタ232は、第1の弱pチャネルトランジスタ230の第3の端子に連結された第4の端子、インバータ207の出力に連結された第2の制御端子、および第2のノード233に連結された第5の端子を含む。強nチャネルトランジスタ234は、第2のノード233に連結された第6の端子、インバータ207の出力に連結された第3の制御端子、および第2の電源電圧Vssに連結された第7の端子を有する。第2の弱状態保持パス208の第2のノード233は、第1の弱状態保持パス206の第1の弱pチャネルトランジスタ220の第1の制御端子に連結される。同様に、第1の弱状態保持パス206の第1のノード223は、第2の弱状態保持パス208の第1の弱pチャネルトランジスタ230の第1の制御端子に連結される。
プルアップ論理回路210は、第2の弱状態保持パス208に連結される第1の強プルアップパス(strong pull-up path)241を含み、第1の弱状態保持パス206に連結される第2の強プルアップパス246をさらに含む。第1の強プルアップパス241は、電源電圧VddHに連結された、かつ、制御パス212に連結される制御端子を有する第1の強pチャネルトランジスタ242を含む。第1の強プルアップパス241は、第1の強pチャネルトランジスタ242に連結されて、第1のノード223にさらに連結された第2の強pチャネルトランジスタ244を有する。第2の強pチャネルトランジスタ244は、第2のノード233に連結された制御端子を有する。
同様に、第2の強プルアップパス246は、電源電圧VddHに連結された、かつ、制御パス212に連結された制御端子を有する第1の強pチャネルトランジスタ248を有する。第2の強プルアップパス246は、第1の強pチャネルトランジスタ248と第2のノード233の間で連結されて、第1のノード223に連結される制御端子を有する、第2の強pチャネルトランジスタ250をさらに含む。
出力204は、出力インバータ266を経由して第1のノード223に連結される。制御パス212は、出力204、第2の強プルアップパス246の第1の強pチャネルトランジスタ248の制御端子、および、インバータ270を経由した第1の強プルアップパス241の第1の強pチャネルトランジスタ242の制御端子に連結される。制御パス212は、出力204から電圧プルアップ論理回路210までの調時式フィードバックパスを含む。特に、電圧プルアップ論理回路210は、ノード223か233のうちの1つが、低電圧レベルから高電圧レベルに遷移するときに動作を開始し、第1のノード223での電圧遷移が強プルアップパス241および246のトランジスタ242および248の制御端子への出力インバータ266を介して伝搬するまで動作し続ける。強プルアップパス241および246のトランジスタ242および248への制御パス212によって提供される、結果として生じる制御信号は、電圧プルアップ論理回路210を動作させなくする。
定常的な動作中に、電圧プルアップ論理回路210はオフである。特に、第1の強電流パス241のトランジスタ242および244の少なくとも1つはオフであり(つまり、通電していない)、また、第2の強電流パス246のトランジスタ248および250の少なくとも1つはオフである。
ロー信号(例えばVss)が入力202で維持される場合、高電圧(例えば、「1」信号と認められる電圧を含めるようにこの前後関係(context)の中で使用されたVddH)で第1のノード223にバイアスをかけることで弱状態保持パス206の第1の強nチャネルトランジスタ224はオフであり、2つの弱pチャネルトランジスタ220と222はオンとなる。出力インバータ266は、第1のノード223に連結された入力を有し、低電圧(例えば「0」信号と認められる電圧を含めるようにこの前後関係の中で使用されたVss)を出力する。低電圧で第2のノード233にバイアスをかけることで、第2の弱状態保持パス208の強nチャネルトランジスタ234はオンであり、また、弱pチャネルトランジスタ230および232はオフである。電圧プルアップ論理回路210では、第1の強プルアップパス241の第1のトランジスタ242はオフであり、また、第2のトランジスタ244はオンである。反対に、第2の強プルアップパス246の第1のトランジスタ248はオンであり、また、第2のトランジスタ250はオフである。
入力202がロー信号からハイ信号(例えばVssからVddLまで)まで遷移する場合、第1の弱状態保持パス206の強nチャネルトランジスタ224は、第1のノード223を高電圧状態(例えばVddH)から低電圧状態(例えばVss)に至らしてオンにする。遷移の間、弱pチャネルトランジスタ220および222はVddHとVddLによって決定された状態で動作する。たとえ、高電圧状態で第1のノードにバイアスをかけるためにnチャネルトランジスタ234に逆らって(fighting)弱pチャネルトランジスタ222がオンするかもしれなくとも、より強いnチャネルトランジスタ224は低電圧状態に第1のノードを引く(pull)。同様に、第2の弱状態保持パス208の強nチャネルトランジスタは、第2のノード233を低電圧から高電圧に至らしてオフにするが、その遷移は、弱pチャネルトランジスタ232による電流フロー(current flow)によって制限されている。
しかしながら、第1のノード223がロー状態に遷移する場合、第2の強プルアップパス246の強pチャネルトランジスタ250はオンにされ、一方、トランジスタ248はオンにさらに維持する。したがって、電流は、強nチャネルトランジスタ234をチャージするために第2の強プルアップ電流パス246を介して流れる。第1のノード223がロー状態に移行する場合、出力インバータ266は、ロー状態からハイ状態に遷移し、そしてそれは第2の強プルアップパス246をオフにして、トランジスタ248の制御端子への制御パス212を介して提供される。
ハイ信号(例えばVddL)が入力202で維持されるときに、低電圧(例えばVddL)で第1のノード223にバイアスをかけることで、弱状態保持パス206の第1の強nチャネルトランジスタ224はオンを維持し、弱pチャネルトランジスタ220および222はオフになる。出力インバータ266は高電圧(例えばVddH)を出力する。第2の弱状態保持パス208の強nチャネルトランジスタ234は、高電圧で第2のノード233にバイアスをかけることでオフである。電圧プルアップ論理回路210では、第1の強プルアップパス241の第1のトランジスタ242はオンであり、また、第2のトランジスタ244はオフである。反対に、第2の強プルアップパス246の第1のトランジスタ248はオフであり、また、第2のトランジスタ250はオンである。
入力202がハイ信号からロー信号(例えばVddLからVssまで)に遷移する場合、インバータ207の出力は、第2の弱状態保持パス208の強nチャネルトランジスタ234をオンにして、第2のノード233高電圧状態から低電圧状態に至らすことで、ロー状態からハイ状態に遷移する。遷移の間、弱pチャネルトランジスタ230および232はVddHとVddLによって決定された状態で動作する。たとえ、高電圧状態で第2のノードにバイアスをかけるためにnチャネルトランジスタ234に逆らって弱pチャネルトランジスタ232がオンするかもしれなくとも、より強いnチャネルトランジスタは低電圧状態に第2のノードを引く(pull)。
第2のノード233が低電圧状態に移行する場合、第1の強プルアップパス241の強pチャネルトランジスタ244はオンにされ、一方、トランジスタ242はオンを維持する。さらに、弱pチャネルトランジスタ220も同様にオンにされる。したがって、電流は、第1の強プルアップ電流パス241およびさらに第1のノード222をチャージするための第1の弱状態保持パス206を介して流れ、一方、強nチャネルトランジスタ224はオフされる。第1のノード223がハイ状態に遷移する場合、出力インバータ266はハイ状態からロー状態に遷移し、そしてそれは、第1の強プルアップパス241をオフにすることで、トランジスタ242の制御端子へ、制御パス212およびインバータ270を介して提供される。
したがって、入力202の遷移の間、ハイ状態からロー状態までのノード223および233のうちの1つの初期遷移は、それぞれの弱pチャネルトランジスタ220−222か230−232によって制限され、しかし、ロー状態からハイ状態までの他のノード223あるいは233の遷移は、電圧プルアップ制御回路210によって支援される。入力202がハイまたはロー信号で保持される場合、電圧プルアップ制御回路210はオフであり、また、互いに連結された弱状態保持パス206および208は、入力202で低電圧入力範囲に感度が良いままである。遷移が入力202で生じる場合、電圧プルアップ論理回路210は、新しい状態への遷移を加速するために、弱状態保持パス206および208への電流を供給するために動作する。電圧プルアップ論理回路210は、出力204で遷移を示す制御パス212に応じて動作しなくなる。したがって電圧プルアップ論理回路210は、入力202に応じて状態間の弱状態保持パス206と208遷移を支援するために電流のパルスを提供する。電圧プルアップ論理回路210を選択的に動作させることによって、広範囲の入力動作電圧および速い出力レベル遷移は、レベルシフティング回路装置200によって両方とも提供される。
図3は、レベルシフティング回路装置を含むシステム300の特別の実例となる実施例のブロック図である。機構(structure)302は、メモリセル選択信号を受け取るために連結された第1の入力304を含む。第2の入力306はデータ信号を受け取るために連結される。第1の入力304は第1のレベルシフティング回路308に提供され、また、第2の入力306は第2のレベルシフティング回路310に提供される。メモリアレイ312は第1のレベルシフティング回路308および第2のレベルシフティング回路310の出力を受け取るために連結される。機構302は第1の電圧レベルVstructで動作し、また、メモリアレイ312は第2の電圧レベルVarrayで動作する。
第1のレベルシフティング回路308は、第1の入力304を受け取るための入力320、および、メモリアレイ312へ第1のレベル変換された電圧信号を供給するための出力321を含む。第1のレベルシフティング回路308は、入力320および出力321に連結された、第1の弱状態保持パス322を含む。第1の弱状態保持パス322は、第2の弱状態保持パス326のような相互連結回路にさらに連結される。電圧プルアップ論理回路328は、第1の弱状態保持パス322および第2の弱状態保持パス326に連結される。制御パス324は、電圧プルアップ論理回路328の動作を選択的に制御するために、電圧プルアップ論理回路328に連結される。特定の実施例では、第1のレベルシフティング回路308は、図1−2に例証されたレベルシフティング回路装置100あるいは200を含むかもしれない。
第2のレベルシフティング回路310は、第2の入力306を受け取るための入力330、および、メモリアレイ312へ第1のレベルシフト電圧信号を提供するための出力331を含む。特定の実施例では、第2のレベルシフティング回路310は、入力330および出力331に連結された、第1の弱状態保持パス332を含む。第1の弱状態保持パス332は、第2の弱状態保持パス336のような相互連結回路にさらに連結される。電圧プルアップ論理回路338は、第1の弱状態保持パス332および第2の弱状態保持パス336に連結される。制御パス334は、電圧プルアップ論理回路338の動作を選択的に制御するために、電圧プルアップ論理回路338に連結される。特定の実施例では、第2のレベルシフティング回路310は、図1−2に例証された、レベルシフティング回路装置100あるいは200を含むかもしれない。
動作中に、第1の入力304および第2の入力306の少なくとも1つは、Vstructのような第1の電圧レベルにあるかもしれないが、メモリアレイ312は、Varrayのような第2の電圧レベルで電源によって電力が供給されるかもしれない。例えば、第1の電圧レベルは第2の電圧レベル未満かもしれない。レベルシフティング回路306と308は、入力304および306での電圧レベルを、メモリアレイ312に関して適切な電圧レベルへ変換するかもしれない。特定の実施例では、レベルシフティング回路306と308は、例えば入力信号の変更に応じて速い遷移を可能にして広範囲のオペレーションをさらに可能にする、制御パス324および334によって選択的に動作される、プルアップ論理回路328および338をそれぞれ含む。例えば、レベルシフティング回路306および308は0.6-1.4Vを含む電圧範囲において動作可能かもしれない。
図4は、図1−3に例証された回路装置のような回路装置を使用する、レベルシフティングの方法の特別の実例となる実施例のフローダイアグラムである。402で、入力電圧は、電圧プルアップロジックを含むレベルシフティング回路への入力で受け取られる。特定の実施例では、入力信号は第1の弱状態保持パスに適用される。第1の弱状態保持パスは、多数の弱pチャネルトランジスタ、および直列配列された強nチャネルトランジスタを含むかもしれない。
404へ移動して、出力信号はレベルシフティング回路から提供される。特定の実施例では、入力信号は第1の電圧を有し、また、出力信号は第2の電圧を有する。406へ進んで、レベルシフティング回路の電圧プルアップ論理回路は、選択的に動作される。特定の実施例では、電圧プルアップ論理回路は、弱状態保持パスの遷移時間を減少させるために電荷(charge)を提供する。
408へ継続して、特定の実施例では、制御信号は電圧プルアップ論理回路に提供される。制御信号は出力信号に反応するフィードバック信号かもしれない。特定の実施例では、制御信号は電圧プルアップ論理回路に弱状態保持パスをチャージすることを中止させる。特定の実施例では、電圧プルアップ論理回路の出力は入力信号に応じて開始して制御信号に応じて終了する電流パルスを含む。
図5は、図1−4に記述された回路と方法の実施例が使用されるかもしれない代表的なモバイル通信装置500のブロック図である。通信装置500は、ディジタル信号プロセッサ(DSP)510のようなプロセッサを含む。電圧プルアップロジック564を備えたレベルシフティング回路は、DSP510とメモリデバイス532の間の電圧レベルシフトを提供するために、DSP510に連結される。実例となる実施例では、電圧プルアップロジック564を備えたレベルシフティング回路は、図1−3に例証された回路装置100、200、308、あるいは310を含む。実例となる実施例では、電圧プルアップロジック564を備えたレベルシフティング回路は、図4に例証された方法を行なう。
図5は、ディジタル信号プロセッサ510およびディスプレイ528に連結されるディスプレイ制御装置526をさらに示す。コーダ/デコーダ(コーデック)534は、ディジタル信号プロセッサ510にさらに連結されるだろう。スピーカ536およびマイクロフォン538はコーデック534に連結されるだろう。
図5は、無線制御装置540がディジタル信号プロセッサ510および無線アンテナ542に連結されるかもしれないことをさらに示す。特定の実施例では、入力装置530および電源544はオンチップシステム522に連結される。さらに、特定の実施例中で、図5に例証されるように、ディスプレイ528、入力装置530、スピーカ536、マイクロフォン538、無線アンテナ542および電源544は、オンチップシステム522の外側にある。しかしながら、各々は、インターフェースまたはコントローラのようなオンチップシステム522の部品に連結されるだろう。
たとえ、電圧プルアップロジック564を備えたレベルシフティング回路が、DSP510とメモリデバイス532の間のレベルシフトを提供するために連結されるように表現されるとしても、電圧プルアップロジック564を備えたレベルシフティング回路は、異なる電圧レベルを使用する通信装置500の他の部品間のレベルシフティングを提供するためにさらに使用されるかもしれない。例えば、電圧プルアップロジック564を備えたレベルシフティング回路は、オンチップシステム522と、ディスプレイ528、入力装置530、スピーカ536、マイクロフォン538、無線アンテナ542、電源544、あるいはそれの任意の組み合わせとの間に連結されるかもしれない。別の例として、電圧プルアップロジック564を備えたレベルシフティング回路は、DSP510とオンチップシステム522の他の部品との間で連結されるかもしれない。さらに別の例として、電圧プルアップロジック564を備えたレベルシフティング回路は、DSP510の内の低電圧レベルで動作するレジスタファイルでのようにDSP510の部品に関してレベルシフティングを供給するために、DSP510に一体化されるかもしれない。
開示されたシステムや方法と共に、電圧レベルシフティングは、図1−3に例証されて、例えば入力102、202、320および330のように、電圧プルアップロジックを含むレベルシフティング回路への入力で入力電圧を受け取るための手段を含む装置によって行なわれるかもしれない。その装置は、例えば図1−3に例証されるような、それぞれの出力に連結された出力104、204、321および331、ならびに対応する回路機構のようなレベルシフティング回路からの出力信号を提供するための手段をさらに含むかもしれない。その装置は、図1−3に例証されるように、制御パス112、212、324および334のようなレベルシフティング回路の電圧プルアップ論理回路を選択的に動作させるための手段をさらに含むかもしれない。
当業者は更に、本明細書において開示された実施例に関連して記載された、実例となる様々な論理ブロック、構造、モジュール、回路、及びアルゴリズムステップが、電子工学的ハードウェア、コンピュータソフトウェア、又はそれらの組合せとして実現されうることをよく理解するであろう。ハードウェアとソフトウェアとの相互置換性を明確に説明するために、様々な実例となる構成要素、ブロック、構造、モジュール、回路、及びステップが、それらの機能の観点から一般的に説明された。このような機能が、ハードウェアとして実現されるかソフトウェアとして実現されるかは、システム全体に課された設計制約及び特定のアプリケーションによる。当業者は、各特定のアプリケーションのために上述した機能を様々な方法で実現することができるが、このような実現の決定は、本開示の範囲から逸脱させるものとして解釈されてはならない。
本明細書において開示された実施例に関連して記述された方法やアルゴリズムのステップは、ハードウェアによって直接、プロセッサによって実行されるソフトウェア・モジュールによって、又は、これらの組み合わせによって具現化されうる。ソフトウェア・モジュールは、RAMメモリ、フラッシュ・メモリ、ROMメモリ、PROMメモリ、EPROMメモリ、EEPROMメモリ、レジスタ、ハード・ディスク、リムーバブル・ディスク、CD−ROM、あるいは当該技術分野で知られているその他任意の形式の記憶媒体に収納されうる。典型的な記憶媒体は、プロセッサがそこから情報を読み取り、またそこに情報を書き込むことができるように、プロセッサに統合されうる。このプロセッサと記憶媒体とは、ASIC内に存在することができる。ASICは、コンピュータ装置またはユーザ端末内に存在することができる。あるいはこのプロセッサと記憶媒体とは、コンピュータ装置またはユーザ端末内のディスクリート部品として存在することができる。
本開示された実施例における上記記載は、当業者をして、本開示された実施例の製造又は利用を可能とするために提供される。これらの実施例への様々な変形例もまた、当業者には明らかであり、本明細書で定義された一般原理は、本発明の精神又は範囲から逸脱することなく他の実施形態にも適用されうる。従って現在の開示は、本明細書で示された実施例に限定することは意図されておらず、以下の請求項によって定義される原理及び新規特徴と整合が取れた最も広い範囲と出来る限り一致するように意図されている。

Claims (25)

  1. 入力電圧信号を受け取る入力と、
    レベル変換された電圧信号を提供する出力と、
    前記入力に連結された第1の弱状態保持パスと、
    前記出力に連結された第2の弱状態保持パスと、
    前記第1の弱状態保持パスおよび前記第2の弱状態保持パスに連結された電圧プルアップ論理回路と、
    前記電圧プルアップ論理回路の動作を選択的に制御するために前記電圧プルアップ論理回路に連結された制御パスと
    を具備する回路装置。
  2. 前記制御パスは、前記出力から前記電圧プルアップ論理回路までの自己調時式フィードバックパスをさらに具備する請求項1の回路装置。
  3. 前記制御パスは、前記電圧プルアップ論理回路に前記入力を連結する請求項1の回路装置。
  4. 前記制御パスは、タイミング遅れを提供するための遅れ論理回路を具備する請求項3の回路装置。
  5. 前記遅れ論理回路は、調整式遅れコンポーネントを具備する請求項4の回路装置。
  6. 前記第1の弱状態保持パスは、
    電源電圧に連結された第1の端子、前記第2の弱状態保持パスに連結された制御端子、および第3の端子を具備する第1の弱pチャネルトランジスタと、
    前記第3の端子に連結された第4の端子、前記入力に連結された第2の制御端子、および前記電圧プルアップ論理回路に連結されたノードに連結された第5の端子を含む第2の弱pチャネルトランジスタと、
    前記ノードに連結された第6の端子、前記入力に連結された第3の制御端子、および第2の電源電圧に連結された第7の端子を含む強nチャネルトランジスタと
    をさらに具備する請求項1の回路装置。
  7. 前記第2の弱状態保持パスは、多数の弱pチャネルトランジスタ、および直列配列された強nチャネルトランジスタを具備する請求項1の回路装置。
  8. 前記電圧プルアップ論理回路は、
    少なくとも1つの第1のトランジスタを含む第1の強プルアップパス、および、少なくとも1つの第2のトランジスタを含む第2の強プルアップパス、前記少なくとも1つの第1のトランジスタに連結された前記少なくとも1つの第2のトランジスタ
    をさらに具備する請求項1の回路装置。
  9. 前記第1の強プルアップパスおよび前記第2の強プルアップパスはインバータによって連結される請求項8の回路装置。
  10. 前記第1の弱状態保持パスおよび前記第2の弱状態保持パスはインバータによって連結される請求項1の回路装置。
  11. 前記第1の弱状態保持パスは第2の強プルアップパスに連結され、また、前記第2の弱状態保持パスは前記第1の強プルアップパスに連結される請求項10の回路装置。
  12. 前記制御パスは、前記第2の弱状態保持パスのエレメントに連結されるインバータの出力に連結される請求項1の回路装置。
  13. メモリアレイと、
    第1のレベルシフティング回路によって前記メモリアレイに連結された第1の入力と、
    第2のレベルシフティング回路によって前記メモリアレイに連結された第2の入力とを具備し、
    前記第1のレベルシフティング回路は、
    第1の入力を受け取る入力と、
    前記メモリアレイへ第1のレベル変換された電圧信号を供給する出力と、
    前記入力と前記出力に連結された第1の弱状態保持パスと、
    前記第1の弱状態保持パスに連結された相互連結回路と、
    前記第1の弱状態保持パスに連結された電圧プルアップ論理回路と、
    前記電圧プルアップ論理回路の動作を選択的に制御するために前記電圧プルアップ論理回路に連結された制御パスと
    を具備するシステム。
  14. 前記相互連結回路は第2の弱状態保持パスを含む請求項13のシステム。
  15. 前記メモリアレイは、第2の電圧レベルで電源によって電源供給され、また、前記第1の入力および前記第2の入力の少なくとも1つは第1の電圧レベルにある請求項13のシステム。
  16. 前記第1の電圧レベルは前記第2の電圧レベル未満である請求項15のシステム。
  17. 電圧プルアップロジックを含むレベルシフティング回路への入力で入力電圧を受け取ることと、
    前記レベルシフティング回路からの出力信号を提供することと、
    前記レベルシフティング回路の前記電圧プルアップ論理回路を選択的に動作させることとを具備する方法。
  18. 前記電圧プルアップ論理回路に制御信号を供給することをさらに具備する請求項17の方法。
  19. 前記制御信号は前記出力信号に応答するフィードバック信号である請求項18の方法。
  20. 前記入力信号は第1の電圧を有し、前記出力信号は第2の電圧を有する請求項17の方法。
  21. 前記入力信号は第1の弱状態保持パスに適用される請求項17の方法。
  22. 前記第1の弱状態保持パスは、多数の弱pチャネルトランジスタ、および直列配列された強nチャネルトランジスタを具備する請求項21の方法。
  23. 電圧プルアップロジックを含むレベルシフティング回路への入力で入力電圧を受け取るための手段と、
    前記レベルシフティング回路からの出力信号を提供するための手段と、
    前記レベルシフティング回路の前記電圧プルアップ論理回路を選択的に動作させるための手段と
    を具備する装置。
  24. 前記電圧プルアップ論理回路に制御信号を供給するための手段をさらに具備する請求項23の装置。
  25. 前記制御信号は前記出力信号に応答するフィードバック信号である請求項24のデバイス。
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Families Citing this family (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US8896360B2 (en) 2011-02-15 2014-11-25 Cavium, Inc. Level-up shifter circuit for high speed and low power applications
US8525572B2 (en) * 2011-02-15 2013-09-03 Cavium, Inc. Level-up shifter circuit
US9461624B2 (en) * 2014-11-17 2016-10-04 Infineon Technologies Ag Output driver slew control
US11223359B2 (en) * 2016-03-31 2022-01-11 Qualcomm Incorporated Power efficient voltage level translator circuit
US10050624B2 (en) 2016-05-18 2018-08-14 Cavium, Inc. Process-compensated level-up shifter circuit
KR102534821B1 (ko) * 2016-10-31 2023-05-22 에스케이하이닉스 주식회사 전원 제어장치 및 이를 포함하는 반도체 메모리 장치
US9997208B1 (en) * 2017-03-29 2018-06-12 Qualcomm Incorporated High-speed level shifter
US9762238B1 (en) * 2017-04-03 2017-09-12 Nxp Usa, Inc. Systems and methods for supplying reference voltage to multiple die of different technologies in a package
US11152937B2 (en) * 2019-05-31 2021-10-19 Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. Level shifter
CN110601690A (zh) * 2019-10-10 2019-12-20 无锡安趋电子有限公司 一种低工作电压的快速下行电平移位电路
US11031054B1 (en) * 2020-01-22 2021-06-08 Micron Technology, Inc. Apparatuses and methods for pre-emphasis control
US11437997B1 (en) * 2021-09-30 2022-09-06 Texas Instruments Incorporated Level shifter circuit

Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH04192622A (ja) * 1990-11-22 1992-07-10 Nec Corp 半導体集積回路
JPH06243680A (ja) * 1993-02-22 1994-09-02 Mitsubishi Electric Corp 信号レベル変換回路
JPH11261401A (ja) * 1997-12-23 1999-09-24 Sharp Corp 交差型電圧レベルシフト回路
JP2001298356A (ja) * 2000-02-10 2001-10-26 Matsushita Electric Ind Co Ltd レベルシフト回路
US20070164789A1 (en) * 2006-01-17 2007-07-19 Cypress Semiconductor Corp. High Speed Level Shift Circuit with Reduced Skew and Method for Level Shifting
JP2007259005A (ja) * 2006-03-23 2007-10-04 Renesas Technology Corp 半導体集積回路

Family Cites Families (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4039862A (en) * 1976-01-19 1977-08-02 Rca Corporation Level shift circuit
JPH07254275A (ja) * 1994-01-31 1995-10-03 Toshiba Corp 半導体記憶装置
US6445210B2 (en) 2000-02-10 2002-09-03 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Level shifter
US6853234B2 (en) * 2003-06-09 2005-02-08 International Business Machines Corporation Level shift circuitry having delay boost
US20070188194A1 (en) 2006-02-15 2007-08-16 Samsung Electronics Co: Ltd. Level shifter circuit and method thereof

Patent Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH04192622A (ja) * 1990-11-22 1992-07-10 Nec Corp 半導体集積回路
JPH06243680A (ja) * 1993-02-22 1994-09-02 Mitsubishi Electric Corp 信号レベル変換回路
JPH11261401A (ja) * 1997-12-23 1999-09-24 Sharp Corp 交差型電圧レベルシフト回路
JP2001298356A (ja) * 2000-02-10 2001-10-26 Matsushita Electric Ind Co Ltd レベルシフト回路
US20070164789A1 (en) * 2006-01-17 2007-07-19 Cypress Semiconductor Corp. High Speed Level Shift Circuit with Reduced Skew and Method for Level Shifting
JP2007259005A (ja) * 2006-03-23 2007-10-04 Renesas Technology Corp 半導体集積回路

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