JP2011210093A - 通信距離評価装置及び通信距離評価方法 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】非接触型ICタグを備えた測定対象物の形状を目的の形状に矯正した状態に拘束して固定するサンプル設置部2と、上記サンプル設置部2に固定された測定対象物と対向する位置にあるリーダライター9の設置部1aと、リーダライター9の設置部1aに対し、上記サンプル設置部2を進退させる方向に案内する案内部と、上記サンプル設置部2の進退量を計測可能な計測部7と、を備える。
【選択図】図1
Description
ICカードをはじめとする非接触型ICタグは、リーダライターとの通信距離に応じて「密着型」「近接型」「近傍型」「遠隔型」の4種類に区別され、カード型では通信距離10cm以下の近接型が主流である。それ以外のICタグは形状の自由度が高く、使用用途も広範であるため目的によって使い分けられるが、パスポートなど高セキュリティが求められる製品では、一般に「近接型」以下の短い通信距離のものが用いられる。
また単純に、金属により発生する渦電流の影響を避けるため、設置部を長いアームで金属部品から離し、アーム支持部にかかる負担を軽減するための機能を備えた駆動部でアームの上下移動やリーダライターの水平移動を行ってICカードとリーダライター間の距離を変え、その各々で通信の可否を見ることでICカードの最大通信距離を調べる装置が、特許文献2に記載されている。
そこで、本発明では、上述の問題を鑑み、ICカードをはじめとする非接触型ICタグおよびそれらを用いた製品について、製品に実装される前の初期状態だけでなく、実装後に、更には非破壊での正確な性能評価を行うに当たり、比較的容易かつ安価にそれを可能とする評価装置と、それを用いた評価方法を提供することを目的とする。
上記測定対象物の形状を目的の形状に矯正した状態に拘束して固定するサンプル設置部と、上記サンプル設置部に固定された測定対象物と対向する位置にあるリーダライターの設置部と、リーダライターの設置部に対し、上記サンプル設置部を進退させる方向に案内する案内部と、上記サンプル設置部の進退量を計測可能な計測部と、を備えることを特徴とするものである。
次に、請求項3に記載した発明は、請求項1又は請求項2に記載した構成に対し、上記通信距離評価装置を構成する全部品は、非金属からなることを特徴とするものである。
次に、請求項4に記載した発明は、請求項1〜請求項3のいずれか1項に記載した構成に対し、上記測定対象物は、板状若しくはシート状の形状であり、
上記サンプル設置部は、それぞれ非接触型ICが位置する部分が開口し且つ積層される上板と下板とを備え、その2枚の上板と下板の間に上記測定対象物を介挿することで、上記測定対象物の形状を平らな形状に矯正した状態に拘束することを特徴とするものである。
次に、請求項6に記載した発明は、上記請求項1〜請求項5のいずれか1項に記載した通信距離評価装置を使用して、上記サンプル設置部に測定対象物を固定すると共に、リーダライターの設置部にリーダライターを設置して、
測定対象物からリーダライターへの応答を確認しながら、リーダライターの設置部から上記サンプル設置部を離す方向に移動させ、測定対象物からの応答が途切れた時点での距離によって、当該測定対象物の最大通信距離を評価することを特徴とする通信距離評価方法を提供するものである。
また本発明によれば、装置を安価かつ簡便に作成し、評価を行うことが可能になる。
図1は装置全体の概要を示すための斜視図である。
(通信距離評価装置)
台1から支柱3及び支持壁8が立設している。支持壁8は、くの字状に配置されている。サンプル設置部2は、支柱3及び支持壁8に着脱可能に支持されると共に、上記台1の上面に対し進退可能となっている。
ピニオンギア5は、支柱3壁に回転可能に支持されていると共に、ピニオンギア5の回転軸にハンドル6が連結している。これによって、ハンドル6の回転によって、サンプル設置部2は上下に移動可能となってる。
ここで、上記支柱3及びラック&ピニオン機構、計測部支柱7b及びスライダ部7aは案内部を構成する。
ここで、上記構成の通信距離評価装置は、全て樹脂や木材など非金属を用いて構成することが好ましい。少なくとも、台1及びサンプル設置部2は、樹脂や木材など非金属を用いて構成することが必要である。
ここで、本実施形態における無線ICタグを備えた製品としての測定対象物(以下、サンプルSとも呼ぶ。)は、板状若しくはシート状の形状をしたシート、カードなど比較的薄い製品とする。このような形状の場合には、サンプルSに、反りや撓みなどが発生する可能性がある。
このサンプル設置部2は、図2に示すように、上板2a及び下板2bからなる上下2枚の平板を備える。その上板2a及と下板2bとの間にサンプルSを設置した際に、サンプルSの有するICタグのある箇所にあたる位置がくり抜かれて開口部としての窓2fが形成されている。窓2fをあけたことで測定時の上板2aと下板2bによる影響をより排除することが可能である。
そして、上板2a及と下板2bとの間にサンプルSを設置して、当該上板2a及と下板2bとの間にサンプルSを介挿した状態で、非金属素材からなるネジやクリップなどのジグ2dを用いて上板2aと下板2bとを固定する。これによって、サンプルSに反りやたわみがあっても、平らな状態に矯正されてサンプル設置部2に固定される。
ここで、上板2aの質量によっては、下板2bの上に上板2aを載せるだけでサンプルSの形状を矯正可能であるので、この場合には、上記ジグ2dは無くても良い。
このサンプル設置部2は、図3に示すように、上板2a及び下板2bの間に中板2cを介挿して積層して構成したものである。
上記中板2cには、図4に示すように、サンプルSの大きさに合わせた寸法の切欠き2eが形成されている。
その他の構成は、第1例のサンプル設置部2の構成と同様である。
なお、上板2a、中板2c、及び下板2bを貼り合わせて一体物としておいても良いし、第1例と同様に、非金属のジグ2dによって固定するようにしても良い。
図6は、通信距離評価装置を用いた通信距離測定操作の概念図である。
図6に示すように、サンプル設置部2にサンプルSを設置すると共に、台1上面のリーダライター9の設置部に対し、リーダライター9を設置する。リーダライター9にはパーソナルコンピュータ10を接続しておく。
密着させた状態でリーダライター9につながったパーソナルコンピュータ10でリーダライター9を介したサンプルSの応答を確認し、計測部支柱7bに設けた目盛り7cを読む。
ここで、上記実施形態では、サンプル設置部2として、ここでは上板2aと下板2bでサンプルSを挟む例、当該サンプルSの大きさに合わせた中板2cを挟んで貼りあわせた隙間に脇から差し込む例を挙げたが、これはサンプルSの形状や厚さに合わせ、スライダ部7aと連動して上下動が可能なものであれば、部材に非金属を使う限り自由に設定してよい。また、サンプル設置部2と接合部4、サンプル設置部2とスライダ部7aも、取り外し可能な方法であればネジ等に限らず、部材に非金属を使う限り自由に設定してよい。予め貼り合せた隙間からサンプルSを差し込む形でもよい。
装置を構成する、台1〜計測部7の構成部材は全て樹脂を用いた。接合部4とスライダ部7aは、それぞれ背面にコの字型に曲げたレール状の部材を接着し、この部分を支柱3、計測部支柱7bに差し込むことで上下可動な状態(案内可能な状態)で固定した。
リーダライター9のリーダライターの設置部1aには位置合わせのための印を設け、それに合わせてリーダライター9を設置した。
このようにサンプルSを取り付けたサンプル設置部2を、ハンドル6を回して下げ、設置したリーダライター9にサンプルSを密着させたのち、徐々にリーダライター9とサンプルSの距離を離し、計測部支柱7bに設けた目盛り7cで、開始点とサンプルSからの応答が途絶えた点との距離を記録し、これを当該サンプルSの通信距離とした。
1a リーダライターの設置部
2 サンプル設置部
2a 上板
2b 下板
2c 中板
2d ジグ
2e 切欠き
2f 窓
3 支柱
4 接合部
4a ラック部
5 ピニオンギア
6 ハンドル
7 計測部
7a スライダ部
7b 計測部支柱
7c 目盛り
8 支持壁
9 リーダライター
S サンプル
Claims (6)
- 非接触型ICタグを備えた測定対象物の通信距離を評価するための通信距離評価装置であって、
上記測定対象物の形状を目的の形状に矯正した状態に拘束して固定するサンプル設置部と、
上記サンプル設置部に固定された測定対象物と対向する位置にあるリーダライターの設置部と、
リーダライターの設置部に対し、上記サンプル設置部を進退させる方向に案内する案内部と、
上記サンプル設置部の進退量を計測可能な計測部と、
を備えることを特徴とする通信距離評価装置。 - 上記サンプル設置部は、上記案内部に着脱可能に支持されることを特徴とする請求項1に記載した通信距離評価装置。
- 上記通信距離評価装置を構成する全部品は、非金属からなることを特徴とする請求項1又は請求項2に記載した通信距離評価装置。
- 上記測定対象物は、板状若しくはシート状の形状であり、
上記サンプル設置部は、それぞれ非接触型ICが位置する部分が開口し且つ積層される上板と下板とを備え、その2枚の上板と下板の間に上記測定対象物を介挿することで、上記測定対象物の形状を平らな形状に矯正した状態に拘束することを特徴とする請求項1〜請求項3のいずれか1項に記載した通信距離評価装置。 - 上記上板と下板との間に中板を介挿し、その中板には、上記測定対象物を配置する部分に当該測定対象物の大きさに合わせた切欠きが形成されていることを特徴とする請求項4に記載した通信距離評価装置。
- 上記請求項1〜請求項5のいずれか1項に記載した通信距離評価装置を使用して、上記サンプル設置部に測定対象物を固定すると共に、リーダライターの設置部にリーダライターを設置して、
測定対象物からリーダライターへの応答を確認しながら、リーダライターの設置部から上記サンプル設置部を離す方向に移動させ、測定対象物からの応答が途切れた時点での距離によって、当該測定対象物の最大通信距離を評価することを特徴とする通信距離評価方法。
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Citations (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS58195101A (ja) * | 1982-05-08 | 1983-11-14 | Mitsutoyo Mfg Co Ltd | ハイトゲ−ジ |
JPS61165855A (ja) * | 1985-01-16 | 1986-07-26 | Comput Services Corp | 光メモリカ−ド保持固定装置 |
JPH1085243A (ja) * | 1996-09-11 | 1998-04-07 | G C:Kk | 歯科根管形成用器具用作業長設定用具 |
JPH10141901A (ja) * | 1996-11-07 | 1998-05-29 | Kazuo Naka | 家庭用身長計 |
JPH10309796A (ja) * | 1997-05-13 | 1998-11-24 | Sankyo Seiki Mfg Co Ltd | 刻印装置 |
JP2000011130A (ja) * | 1998-03-26 | 2000-01-14 | Toshiba Corp | 記憶装置、カ―ド型記憶装置、および電子装置 |
JP2004171315A (ja) * | 2002-11-21 | 2004-06-17 | Dainippon Printing Co Ltd | Icカード保持具及びその使用方法 |
JP2007156724A (ja) * | 2005-12-02 | 2007-06-21 | Sony Corp | Icカード通信検査装置 |
-
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Patent Citations (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS58195101A (ja) * | 1982-05-08 | 1983-11-14 | Mitsutoyo Mfg Co Ltd | ハイトゲ−ジ |
JPS61165855A (ja) * | 1985-01-16 | 1986-07-26 | Comput Services Corp | 光メモリカ−ド保持固定装置 |
JPH1085243A (ja) * | 1996-09-11 | 1998-04-07 | G C:Kk | 歯科根管形成用器具用作業長設定用具 |
JPH10141901A (ja) * | 1996-11-07 | 1998-05-29 | Kazuo Naka | 家庭用身長計 |
JPH10309796A (ja) * | 1997-05-13 | 1998-11-24 | Sankyo Seiki Mfg Co Ltd | 刻印装置 |
JP2000011130A (ja) * | 1998-03-26 | 2000-01-14 | Toshiba Corp | 記憶装置、カ―ド型記憶装置、および電子装置 |
JP2004171315A (ja) * | 2002-11-21 | 2004-06-17 | Dainippon Printing Co Ltd | Icカード保持具及びその使用方法 |
JP2007156724A (ja) * | 2005-12-02 | 2007-06-21 | Sony Corp | Icカード通信検査装置 |
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