JP2011168558A - 光反応性部位を有する多孔性配位高分子 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】金属イオンと該金属イオンに配位可能な有機化合物(配位子)とが繰り返し単位を構成するた配位高分子化合物であって、光照射することにより細孔内に電子欠損種を発生させることが可能であることを特徴とする多孔性配位高分子化合物。
【選択図】図1
Description
(1) 金属イオンと該金属イオンに配位可能な有機化合物(配位子)とが繰り返し単位を構成するた多孔性配位高分子化合物であって、光照射することにより細孔内に電子欠損種を発生させることが可能であることを特徴とする多孔性配位高分子化合物。
(2) 光照射することによって得られる電子欠損種がラジカル、カルベンまたはナイトレンである(1)に記載の多孔性配位高分子化合物。
(3) 構成要素となる配位子に電子欠損種を生じさせる為の官能基部位としてアジド基を有することを特徴とする(2)に記載の多孔性配位高分子化合物。
(4) 構成要素となる配位子が、以下の式1から式4を含むことを特徴とする(2)又は(3)に記載の多孔性配位高分子化合物:
(5) 構成要素となる配位子が、5-アジドイソフタル酸を含むことを特徴とする(4)に記載の多孔性配位高分子化合物。
(6) 構成要素となる金属イオンが、Al3+、Fe3+、Co2+、Ni2+、Cu2+及びZn2+からなる群から選ばれることを特徴とする(1)〜(5)のいずれかに記載の多孔性配位高分子化合物。
(7) 溶液中で金属イオンを放出する化合物と該金属イオンに配位可能な有機化合物(配位子)を溶液中で反応させることを特徴とする(1)〜(6)のいずれかに記載の多孔性配位高分子化合物の製造方法。
(8) (1)〜(6)のいずれかに記載の多孔性配位高分子化合物を含むセンサー素子。
配位高分子は、金属元素と有機配位子の反応により得られる高分子で、その主鎖の繰り返し単位が配位結合によって結合しているものをいう(「理化学事典 第4版」、久保、長倉、井口、江沢編集、岩波書店、1987)。本発明に使用される配位高分子化合物は、光照射することによって細孔内にラジカル、カルベン、ナイトレン等の電子欠損種を有する配位高分子化合物である。生成する電子欠損種はラジカル、カルベン、ナイトレンが考えられるが安定化の観点からナイトレンが最も好ましい。
前記金属イオン(金属原子) としては、特に制限はなく、目的に応じて適宜選択することができるが、例えば、長周期型周期表における6族元素から12族元素の中から選択される元素のイオン(原子) が挙げられる。これらは、1種単独で使用してもよいし、2 種以上を併用してもよい。これらの中でも、前記金属イオン二量体ユニットを形成可能とする観点からは、2価以上の金属イオンが好ましく、規則的な有機金属層を形成する観点からは、アルミニウムイオン、鉄イオン、コバルトイオン、銅イオン、ニッケルイオン、及び亜鉛イオンから選択される金属イオンが更に好ましく、入手が容易である銅イオン及び亜鉛イオンが特に好ましい。なお、前記金属イオンは、前記有機金属錯体構造体の製造の際の原料としては、該金属イオンを含む塩等の化合物を使用してもよい。金属イオンの塩としては、硫酸塩、硝酸塩、炭酸塩、酢酸塩、リン酸塩、塩酸塩、臭化水素酸塩などが挙げられる。
前記有機化合物としては、特に制限はなく、目的に応じて適宜選択することができるが、例えば、前記金属イオンに架橋可能な架橋配位子が好適に挙げられる。該有機化合物が前記架橋配位子である場合には、前記金属イオンと前記有機化合物とで前記金属錯体層を形成することができる。前記有機化合物の具体例としては、比較的安定で高強度な前記有機金属層を形成する観点からは、環状構造を有する化合物が好適に挙げられる。 前記環状構造を有する化合物としては、例えば、脂環式化合物及びその誘導体、芳香族化合物及びその誘導体、ヘテロ芳香族化合物及びその誘導体、などが挙げられる。これらは、1種単独で使用してもよいし、2種以上を併用してもよい。これらの中でも、ヘテロ芳香族化合物及びその誘導体から選択されるものが好ましい。この場合、前記有機金属錯体構造体においては、該有機化合物におけるヘテロ原子が一の金属イオンに対して配位結合可能であると共に、該有機化合物における架橋性部が他の金属イオンに対して架橋可能である。
上述の金属元素、有機配位子、溶媒を混合して拡散させるだけで得られることもあるが、ゼオライト合成と同様オートクレーブなどの耐圧容器に入れ高温・加圧下で反応させても良い。
反応時間は、反応温度は合成のスケールによって一概には決められないが、低温であるほど長時間を要し、一般に30分〜3週間である。反応を均一溶媒で実施する際は数時間程度で問題ないが、耐圧容器下、不均一条件で反応を実施する場合は長時間、具体的には1週間程度必要とする場合もある。
配位高分子化合物の合成反応をより促進させるため沸酸、塩酸、蟻酸、酢酸、硝酸など少量の酸や水酸化ナトリウムなどのアルカリを反応溶媒に加えてもよい。酸やアルカリは多量に用いると配位高分子化合物の合成を妨げる為、配位子に対して0.1〜10倍モル、好ましくは1〜5倍モル程度が良い。
溶媒に関しては水、アセトン、メタノール、エタノール等のアルコール類、アセトニトリル、テトラヒドロフラン、ジオキサン、ジメチルホルムアミド、ジメチルアセトアミド、トルエン、ヘキサン等の有機溶剤のいずれを使用しても良く混合させても良い。溶媒の使用量に関しては特に限定はないものの、重量基準で10〜2000倍程度が反応制御の容易さの点で好ましい。
反応終了後、沈殿物をろ過、遠心分離することによって、生成物を簡単に単離することができる。生成物単離後は、必要に応じ水や有機溶媒による洗浄を行う。単離された生成物を吸着材として使用するためには、これを速やかに減圧下で加熱することによって、脱溶媒することが特に好ましい。脱溶媒することにより配位高分子化合物が安定化して多孔質構造が維持される傾向にある。その加熱温度は、50〜350℃程度が好適である。なお脱溶媒せずに長時間、例えば数日間放置すると、配位高分子化合物の結晶構造が変わり、比表面積が減少し吸着材、触媒としての性能を損ねる怖れがある。
このような本発明の配位高分子化合物の形状は、特に制限されないが、粒子状或いは膜状であることが好ましい。形状が粒子状の場合、粒子の平均粒径は0.01〜100μmであることが好ましく、0.01〜50μmであることがより好ましく、0.1〜50μmであることが特に好ましい。
本発明の配位高分子化合物は光照射させることによって細孔内に電子欠損種を発生することができ、細孔内に電子欠損種が存在した状態でガス吸蔵させることによって分子を整列保持した状態で変換可能であることから分子センサー素子として使用可能である。
また、本発明の多孔性配位高分子化合物は、分子レベルでの検出乃至分析が可能である高性能なセンサーであることから電子、磁気、吸着、触媒、発光、医薬、担体、分析等をはじめとする各種分野などの用途においても使用可能である。
光照射装置:オプチカルモジュレックスSX-UI 501HQ(ウシオ電機株式会社製)
光源:超高圧水銀ランプUSH-500SC(ウシオ電機株式会社製)
電子スピン共鳴(ESR)装置 :JES-FA100(日本電子株式会社製)
測定セル:石英製チューブ(外径5ミリメートル)
測定条件:真空(<10-2 Pa)中、-196℃
また、合成した有機配位子並びに、ガス吸蔵下、光照射により生じた電子欠損種と反応した配位子の同定には、以下の装置及び条件にて評価した。
核磁気共鳴装置:JNM-ECS400(日本電子株式会社製)
共鳴周波数:399.8 MHz
溶媒:重水素化ジメチルスルホキシド(濃塩酸5%混合)
測定温度:20℃
積算回数:128回
尚、配位高分子化合物のX線回折の測定は、粉末X線回折装置を用い、ターゲットにMoを有するX線管球から発生したX線を試料に照射し、試料により回折された回折X線を検出することにより行なった。
使用X線:MoKa線(l = 0.71069 A)
測定温度:-180℃
結晶サイズ:0.20 x 0.05 x 0.05 ミリメートル
実施例1.多孔性配位高分子合成例
[5-アジドイソフタル酸の合成]
5-アミノイソフタル酸(東京化成(株)製:試薬)5gの2mol/リットル塩酸溶液500mlを0℃に冷却し、亜硝酸ナトリウム(和光純薬社製: 試薬)2gの水溶液50mlを15分間かけて加え、得られた溶液を0℃で15分間撹拌した。得られた黄色溶液にアジ化ナトリウム(和光純薬社製: 試薬)1.9gの水溶液50mlを20分間で加え、0℃で30分撹拌し、室温に戻した後、さらに12時間撹拌を続けた。析出した固体をろ別、水にて洗浄したのち、乾燥させることで、5-アジドイソフタル酸を収率94%で得た。
[多孔性配位高分子の合成]
硝酸亜鉛六水和物1.19 mg(0.04 mmol)をDMF(ジメチルホルムアミド)2mlに溶解させてB液とし、直管に仕込んだ。次いで、DMF0.2ml 及びメタノール0.2mlからなる溶媒(C 液) を、上記の直管のB液の上に静かに加えた。そして、aip(5-アジドイソフタル酸)8.3mg(0.04mmol) とbpy(4,4’−ビピリジン)6.2mg(0.04mmol)をメタノール2mlからなる溶媒に溶解させてA液とし、これを上記直管のC液の上に静かに加えた。その後、直管を静置したところ、各液は徐々に混合していき、室温にて2週間放置し、生じた薄黄色結晶を吸引濾過した後、室温にて真空乾燥したところ、目的物である錯体が8.1mg得られた。
得られた結晶を120℃で減圧乾燥した後、目的物である多孔性配位高分子7.2mgを得た。
[電子欠損種の生成]
続いて上記配位高分子1mgを石英製チューブに詰め、真空下で封入した試料に対して、77Kにて超高圧水銀ランプにより30分間光照射を行い、ESRスペクトルでモニターした。このモニター結果が図2である。
[ガス吸蔵下での電子欠損種発生]
本多孔性配位高分子を80kPaの酸素雰囲気下、120Kにおいて10時間光照射を行った後、少量の塩酸を加えて多孔性配位高分子を構成成分である金属イオンと有機配位子へと分解した。こうして得られた溶液のプロトンNMRスペクトル測定をした結果が図3である。
Claims (8)
- 金属イオンと該金属イオンに配位可能な有機化合物(配位子)とが繰り返し単位を構成するた多孔性配位高分子化合物であって、光照射することにより細孔内に電子欠損種を発生させることが可能であることを特徴とする多孔性配位高分子化合物。
- 光照射することによって得られる電子欠損種がラジカル、カルベンまたはナイトレンである請求項1に記載の多孔性配位高分子化合物。
- 構成要素となる配位子に電子欠損種を生じさせる為の官能基部位としてアジド基を有することを特徴とする請求項2に記載の多孔性配位高分子化合物。
- 構成要素となる配位子が、5-アジドイソフタル酸を含むことを特徴とする請求項4に記載の多孔性配位高分子化合物。
- 構成要素となる金属イオンが、Al3+、Fe3+、Co2+、Ni2+、Cu2+及びZn2+からなる群から選ばれることを特徴とする請求項1〜5のいずれかに記載の多孔性配位高分子化合物。
- 溶液中で金属イオンを放出する化合物と該金属イオンに配位可能な有機化合物(配位子)を溶液中で反応させることを特徴とする請求項1〜6のいずれかに記載の多孔性配位高分子化合物の製造方法。
- 請求項1〜6のいずれかに記載の多孔性配位高分子化合物を含むセンサー素子。
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