JP2011159376A - 光学ドライブ装置 - Google Patents

Abstract

【課題】プリピットが形成された光ディスクに記録マークを記録する場合であっても、光ディスクの構造を簡素にできる光学ドライブ装置を提供することを目的とする。
【解決手段】
本発明は、光ディスクに情報を記録することが可能な光学ドライブ装置であって、光ディスクは、トラック上に複数のプリピット２が形成された基板と、基板に支持される記録膜とを有する。この光学ドライブ装置は、光ピックアップと、トラック上において複数のプリピット２に重なる位置で記録マーク３を形成するよう光ピックアップを制御し、記録膜に記録用の光を照射させる記録制御部とを備える。記録制御部は、光ディスクの半径方向に隣接する記録マーク３の間隔を、記録用の光のパワーに応じて変化させる。
【選択図】図６Ａ

Description

本発明は、光ディスクに情報を記録することが可能な光学ドライブ装置に関する。

光ディスクに記録されているデータは、比較的弱い一定強度の光ビームを回転する光ディスクに照射し、光ディスクによって変調された反射光を検出することによって再生される。再生専用の光ディスクには、光ディスクの製造段階でプリピットによる情報が予め同心円またはスパイラル状に記録されている。これに対して、書き換え可能な光ディスクでは、同心円またはスパイラル状のグルーブが形成された基板に、光学的にデータの記録／再生が可能な記録材料膜が蒸着等の方法によって堆積されている。書き換え可能な光ディスクにデータを記録する場合は、記録すべきデータに応じて光パワーを変調したパルス状の光ビームを光ディスクに照射し、それによって記録材料膜の特性を局所的に変化させることによってデータの書き込みを行う。

記録可能な光ディスク又は書き換え可能な光ディスクでは、記録材料膜にデータを記録するとき、上述のように光パワーを変調した光ビームを記録材料膜に照射することより、結晶質の記録材料膜に非晶質の記録マークを形成する。この非晶質の記録マークは、記録用光ビームの照射を受けた記録材料膜の一部が融点以上の温度に上昇した後、急速に冷却されることによって形成される。光ビームを記録マークに照射するときの光パワーを低めに設定すると、光ビームが照射された記録マークの温度は融点を超えず、急冷後に結晶質に戻る（記録マークの消去）。こうして、記録マークの書き換えを何度も行うことが可能になる。データを記録するときの光ビームの光パワーの大きさが不適切であると、記録マークの形状が歪み、データを再生することが難しくなることがある。

光ディスクに記録されているデータを再生するとき、または、記録可能な光ディスクにデータを記録するとき、光ビームが目標トラック上で常に所定の集束状態となる必要がある。このためには、「フォーカス制御」および「トラッキング制御」が必要となる。「フォーカス制御」は、光ビームの焦点（集束点）の位置が常に目標トラック上に位置するように対物レンズの位置をディスク表面の法線方向（以下、「光ディスクの深さ方向」と称する場合がある。）に制御することである。一方、トラッキング制御とは、光ビームのスポットが所定のトラック上に位置するように対物レンズの位置を光ディスクの半径方向（以下、「ディスク径方向」と称する。）に制御することである。

上述したフォーカス制御およびトラッキング制御を行うためには、光ディスクから反射される光に基づいて、フォーカスずれやトラックずれを検知し、そのずれを縮小するように光ビームスポットの位置を調整することが必要である。フォーカスずれおよびトラックずれの大きさは、それぞれ、光ディスクからの反射光に基づいて生成される「フォーカス誤差（ＦＥ）信号」および「トラッキング誤差（ＴＥ）信号」によって示される。

特許文献１および特許文献２は、プリピットが形成された再生専用層（ＲＯＭ層）と記録マークが形成される書き換え可能層とを備える光ディスクを開示している。これらの文献に開示された光ディスクでは、ディスク表面（光入射側の面）から各層までの深さが大きく異なる。このため、再生専用層からデータを読み出すときは、再生専用層に光ビームをフォーカスさせ、書き換え可能層からデータを読み出したり、書き換え可能層にデータを書き込んだりするときは、書き換え可能層に光ビームをフォーカスさせる。

特許文献３および４は、光ディスクのプリピットが形成された層に記録マークを形成する技術が開示されている。

特開平９−１０６５４６号公報 特開２０００−１８６５４３号公報 国際公開第２００２−０３９４３４号 特開２００３−３１７３１８号公報

プリピットは、光ディスクの物理的な構造であり、光ディスクの製造時に形成される。また、記録マークは、通常、光学ドライブ装置内で光ビームを光ディスクに照射し、光ディスクの記録材料膜に光学的な構造の変化を引き起こすことにより形成される。つまり、プリピットと記録マークは、記録方法に違いがある。

特許文献１および特許文献２に開示されている技術によれば、再生専用層および書き換え可能層の各々からデータを再生するため、各層に別々にフォーカス制御およびトラッキング制御を行う必要がある。また、再生専用層か書き換え可能層かに応じて異なる種類のトラッキングエラー（ＴＥ）信号を生成する必要もある。書き換え可能層にはトラッキングのための案内溝が形成されるため、光ディスクの構造は複雑であり、製造が容易ではない。

特許文献３に開示されている技術は、プリピットからの信号と記録マークからの信号とを分離する方法として、光の偏光方向の差異（磁気異方性）を用いている。偏光方向の差異を検出する光学系が必要であるため、光ピックアップの構造が複雑になる。

特許文献４に開示されている技術は、プリピットが形成された面上における反射膜の一部に強い光を照射して追記録を行う。追記録された情報を読み出すには、反射率の僅かな変化を検出する必要がある（特許文献４の段落［００３８］および図６）。反射率が変化した追記録部分の長さは、プリピットの長さよりも短いため、追記録情報を適切に読み出すことが困難である。

本発明は、プリピットが形成された光ディスクに記録マークを記録する場合であっても、光ディスクの構造を簡素にできる光学ドライブ装置を提供することを目的とする。

本発明の光学ドライブ装置は、光ディスクに情報を記録することが可能な光学ドライブ装置であって、前記光ディスクは、トラック上に複数のプリピットが形成された基板と、前記基板に支持される記録膜とを有し、前記光学ドライブ装置は、光ピックアップと、前記トラック上において前記複数のプリピットに重なる位置で記録マークを形成するよう前記光ピックアップを制御し、前記光ディスクの半径方向に隣接する記録マークの中心線間隔が少なくとも２トラックピッチとなるように前記記録膜に記録用の光を照射させる記録制御部とを備える。

ある実施形態において、前記記録制御部は、前記光ディスクの半径方向に隣接する記録マークの中心線間隔を、前記記録用の光のパワーに応じて変化させる。

ある実施形態において、少なくとも１０個のプリピットとオーバーラップする長さを有するように前記記録マークを形成する。

ある実施形態において、前記記録マークが形成される内周側のトラックと前記記録マークが形成される外周側のトラックと間には、前記記録マークが全く形成されないトラックが配置される。

ある実施形態において、前記記録マークが形成される内周側のトラックと前記記録マークが形成される外周側のトラックと間に配置される、前記記録マークが全く形成されないトラックの本数は、前記記録用の光のパワーに応じて変化する。

ある実施形態において、隣接する２つのトラックに記録される記録マークは、半径方向に隣接しない位置に形成される。

ある実施形態において、前記記録制御部は、前記記録マークを形成している間、前記光ピックアップから前記記録用の光を連続的に前記記録膜に照射させる。

ある実施形態において、前記光学ドライブ装置は、前記光ピックアップで検出された反射光を示す信号に含まれる前記プリピットの情報に基づいて、トラッキング制御を行なうトラッキング制御部を備える。

ある実施形態において、前記光学ドライブ装置は、前記記録制御部によって前記プリピットと重なる位置に記録マークが形成された光ディスクから、前記光ピックアップを用いて情報を読み出す再生制御部をさらに備え、前記再生制御部は、前記光ピックアップで検出された反射光を示す信号のジッタ特性に基づいて、前記記録制御部によって前記記録マークが記録された箇所を検知する。

ある実施形態において、前記光学ドライブ装置は、前記記録制御部によって前記プリピットと重なる位置に記録マークが記録された光ディスクから、前記光ピックアップを用いて情報を読み出す再生制御部をさらに備え、前記再生制御部は、前記光ピックアップで検出された反射光を示す信号の振幅に基づいて、前記記録制御部によって前記記録マークが記録された箇所を検知する。

本発明によれば、プリピットが形成された光ディスクに記録マークを記録する場合であっても、光ディスクの構造を簡素にできる。

本発明の実施形態１に係る光学ドライブ装置の構成図 実施形態１に係る光ディスクの断面図 実施形態１に係る光ディスクのプリピットを示す斜視図 実施形態１に係る光ディスク（記録マーク３の形成前）の平面図 実施形態１に係る光ディスク（記録マーク３の形成後）の平面図 実施形態１に係るプリピットと記録マークのビット列を示す図 実施形態１に係る光ディスク上の記録マークの位置を示す図 比較例に係る光ディスク上の記録マークの位置を示す図 溝が形成された光ディスク上の記録マークの位置を示す図 実施形態１における記録動作（追記動作）の一例を示すフローチャート 実施形態１に係る記録マーク記録中のＲＦ信号を示す図 実施形態１に係る記録マーク記録後のＲＦ信号を示す図 実施形態１に係るＲＦ信号の分離（プリピット信号及び記録マーク信号）を説明するための図 本実施形態１に係る光ディスク上のＲＦ信号の波形の一例（記録マーク形成後）を示す図 本実施形態１に係る光ディスク上のＲＦ信号の波形の他の例（記録マーク形成後）を示す図 実施形態１に係る光ディスク上のＤＰＤ信号の波形（ＴＥ制御ＯＮ時）を示す図 実施形態１に係る光ディスク上のＤＰＤ信号の波形（ＴＥ制御ＯＦＦ時）を示す図 他の実施形態に係る記録マーク記録中のＴＥ信号を示す図 他の実施形態に係るトラックにおける記録マーク位置の検知を説明するための図 他の実施形態に係る光ディスク上の記録マークの位置を示す図 記録パワーと記録禁止トラックの本数との関係の例を示し表 記録パワーを１ｍＷ、記録禁止トラックの本数を０本に設定したときに形成した２つの隣接する記録マーク３を模式的に示す図 記録パワーを２ｍＷ、記録禁止トラックの本数を１本に設定したときに形成した２つの隣接する記録マーク３を模式的に示す図 記録パワーを３ｍＷ、記録禁止トラックの本数を２本に設定したときに形成した２つの隣接する記録マーク３を模式的に示す図 記録パワーを４ｍＷ、記録禁止トラックの本数を３本に設定したときに形成した２つの隣接する記録マーク３を模式的に示す図

（実施形態１）
以下、本発明による光学ドライブ装置の実施形態を説明する。

＜１．本実施形態の構成＞
＜１．１ 光学ドライブの構成（図１）＞
図１を参照しながら、本実施形態における光学ドライブ５００の構成例を説明する。光学ドライブ５００は、パーソナルコンピューター、光ディスクプレーヤー、光ディスクレコーダー等に用いることができる。

図１は、光学ドライブ５００の構成例を示すブロック図である。光学ドライブ５００は、光ピックアップ５０１と、光ディスク１を回転させるスピンドルモータ５０３と、光ピックアップ５０１の位置を制御する移送モータ５０２と、これらの動作を制御するシステムコントローラ５０５と、不揮発性メモリ５０６と、を備えている。

光ディスク１から光学的に読み出されるデータは、光ピックアップ５０１の受光素子（図示せず）で電気信号に変換され、システムコントローラ５０５に入力される。光ピックアップ５０１は、光ビームを放射する光源（半導体レーザ）と、光ビームを集光して光スポットを光ディスク１上に形成するための対物レンズ５０４と、対物レンズ５０４を駆動するアクチュエータなどの公知の構成要素を備えている。

システムコントローラ５０５は、光ピックアップ５０１から得た電気信号に基づいて、フォーカスエラー（ＦＥ）信号およびトラッキングエラー（ＴＥ）信号を含むサーボ信号の生成、ならび再生信号の波形等価、２値化スライス、同期データなどのアナログ信号処理を行う。

システムコントローラ５０５は、生成されたサーボ信号により、光ピックアップ５０１が光ディスク１上に形成する光スポットを、回転する光ディスク１の目標トラックに追従させる。システムコントローラ５０５は、光ピックアップ５０１が備える対物レンズ５０４のフォーカス制御およびトラッキング制御、光ピックアップ５０１の移送制御、スピンドルモータ制御など一連の制御をデジタルサーボで実現する。すなわち、システムコントローラ５０５の働きにより、対物レンズ５０４のアクチュエータ（図示せず）の駆動のほか、光ピックアップ５０１を光ディスク１の内周や外周へ移送させる移送モータ５０２の駆動や、光ディスク１を回転させるスピンドルモータ５０３の駆動が適切に行われる。なお、システムコントローラ５０５は、半導体ＩＣで実現可能である。

不揮発性メモリ５０６には、システムコントローラ５０５で実行されるソフトウェア及び各種パラメータ等が記憶されている。不揮発性メモリ５０６には、光ディスク１において、記録マーク３を記録すべき箇所を示した情報が含まれている。

＜１．２光ディスクの構成（図２、図３、図４）＞
図２、３、４を参照しながら、光ディスク１の構成を説明する。

図２は、光ディスク１の断面の一部を模式的に示す図である。光ディスク１は、プリピット２が主面に形成された基板１０１と、基板１０１の主面に支持された積層構造とを備えている。本実施形態における積層構造は、基板１０１の側から積層された記録膜１０２と保護膜１０３とハードコート１０４とを有している。

図１の光学ドライブ装置５００は、データを光ディスク１に追記するとき、光ピックアップ５０１によってハードコート１０４の側から記録膜１０２に光を照射して、記録膜１０２に記録マーク３を形成する。

基板１０１は、光ディスク１の基礎となる部材である。図２では、１つのプリピット２が記載されているが、現実の基板１０１の主面には、記録膜１０２側に、多数のプリピット２が形成されている。プリピット２は、基板１０１の主面における物理的な凹凸であり、光ディスク１の製造時に基板１０１の成型工程で作られる。プリピット２を表面に有する基板１０１は、例えばＢＤ−ＲＯＭを製造する公知の方法によって作製され得る。

プリピット２の深さは、照射する光ビームの波長をλとするとき、例えばλ／７〜λ／４の範囲内の大きさに設定される。例えばλ＝約４０５ｎｍのとき、プリピット２の深さの典型例は、約６０〜１００ｎｍ（０．０６〜０．１μｍ）に設定され得る。プリピット２のトラック方向における長さは、例えば０．１５μｍから、その数倍までの範囲内に設定され得る。

本実施形態では、図３に示すように、「Ｉｎ−Ｐｉｔ」で光ディスク１にプリピット２が形成されている。「Ｉｎ−Ｐｉｔ」とは、光入射面に対して、凹部の形状を有するプリピットをいう。一方、「Ｏｎ−Ｐｉｔ」とは、光入射面に対して、凸部の形状を有するプリピットをいう。図２、３に示す例では、プリピット２は基板１０１の光入射側面に形成された凹部であるが、他の例において、プリピット２は凸部であってもよい。

基板１０１は、例えばポリカーボネート材料から形成され得る。プリピット２は、同心円またはスパイラル状に配列され、トラックを形成する。すなわち、トラック上にプリピット２の列が形成されている。プリピット２により、基板１０１には作製時から書き換え不能のデータを記録される。プリピット２が形成されている基板１０１の主面は、読み出し専用の情報記録面（ＲＯＭ面）として機能する。本実施形態で使用する光ディスク１は、このＲＯＭ面に接する記録膜１０２をも有している。

光ディスク１が図１の光学ドライブ装置に装填され、動作するとき、記録膜１０２は、光ピックアップ５０１から出射された光によって照射される。光は、対物レンズ５０４を介して記録膜１０２上に集光され、記録膜１０２上に光スポットを形成する。光ディスク１の回転に伴って光スポットは、光ディスク上をその周方向に移動することになる。記録膜１０２に情報の追記がなされるとき、記録膜１０２は十分に強い光で照射され、その結果、照射部分における記録膜１０２の反射率、透過率、位相差等の光学特性が変化する。

記録膜１０２のうち、記録用の光の照射によって光学特性が変化した部分が「記録マーク３」として機能する。トラックに沿って複数の記録マーク３を形成することにより、記録膜１０２に情報（追記データ）を書き込むことができる。同一トラック上において、隣接する記録マーク３と記録マーク３との間の部分を「スペース」と呼ぶことにする。記録マーク３およびスペースの長さは、記録すべき情報に応じて決定される。言い換えると、記録マーク３は、異なる複数の長さから選択された長さを有している。記録マーク３およびスペースが存在するトラックを読み出しのための光で走査すると、反射光（再生光）の強度が記録マーク３とスペースとの間で変化する。再生光の強度を検出することにより、記録膜１０２に記録された情報（追記情報）を読み出すことができる。再生光の強度変化は、高い周波数で生じるため、再生信号は「ＲＦ信号」と称されている。

記録膜１０２に追記された情報を読み出すとき、記録膜１０２は光ピックアップから出射された比較的弱い光で照射される。本実施形態で好適に用いられる記録膜１０２は、特別に反射層を有していなくとも、前記光を反射することができる。つまり、記録膜１０２は、記録膜及び反射膜として作用する。記録膜１０２は、例えば、Ｇｅ、Ｓｂ、Ｔｅ、Ｉｎ、Ａｇ等による相変化材料から形成され得る。相変化材料から形成された記録膜１０２を用いると、記録マークの書き換えを行うことができる。また、記録膜１０２は、Ｔｅ、Ｐｄ、Ｏ、Ｃｕ、Ｇｅ、Ｂｉ、Ｎ等の無機あるいは有機材料から形成され得る。このような材料からなる記録膜１０２に形成した記録マークは書き換えることはできない。記録膜１０２は、例えばＡｌやＡｇから形成した金属膜であってもよい。このような金属膜に強い光を照射すると、金属膜に開口部を形成することが可能である。この開口部が「記録マーク」に相当する。

保護膜１０３は、記録膜１０２を保護する。例えば、保護膜１０３は、樹脂材料から形成され得る。ハードコート１０４は、記録膜１０２や保護膜１０３の外側からの傷や汚れを軽減する。例えば、ハードコート１０４は、ＳｉＯ₂粒子と潤滑剤から形成され得る。

本実施形態における記録膜１０２は、基板１０１のプリピット２が形成された面（主面）に接触しているが、基板１０１の主面と記録膜１０２との間には、他の膜または層が存在していてもよい。ただし、光ピックアップからの光ビームを記録膜１０２上にフォーカスしているときに得られる反射光の強度がプリピット２の有無によって変化するように光ディスク１が設計されていることが好ましい。本発明の好ましい実施形態において、重要な点は、記録膜１０２に記録マーク３で情報を書き込むとき、あるいは、記録膜１０２に形成された記録マーク３の情報を読み出すとき、プリピット２によるトラッキングエラー信号を生成する必要がある。このため、基板１０１の主面と記録膜１０２との間に配置される膜または層の厚さは、０．５μｍ以下であることが好ましい。

本実施形態によれば、光ディスク１からプリピット２の情報を読み出すときに必要なトラッキング制御と、記録マーク３の情報を光ディスク１に追記するとき、および記録マーク３の情報を光ディスク１から読み出すときに必要なトラッキング制御の両方が、同一のトラッキングエラー信号に基づいて実行できる。このため、トラッキングエラー信号を生成するトラッキングエラー信号生成部の構成が著しく簡単になる。トラッキングエラー信号生成部は、一組の四分割光検出器を使って実現できるため、本実施形態の構成には、光ピックアップを低コストで製造できる利点がある。

次に、図４Ａおよび図４Ｂを参照して、記録マーク３を形成する前の光ディスク１と、記録マーク３を形成した後の光ディスク１を説明する。

図４Ａは、記録マーク３を形成する前の光ディスク１ａの平面図である。光ディスク１ａには、基板１０１上にプリピット２が同心円状またはスパイラル状に内周から外周まで刻まれている。図４Ｂは、記録マーク３を形成した後の光ディスク１ｂの平面図である。光ディスク１ｂでは、記録マーク３がプリピット２に重なるように記録膜１０２に形成されている。記録マーク３の長さ（トラックに沿って計測されるサイズ）は、各記録マーク３が少なくとも１０個のプリピット２とオーバーラップするように設定されている。図４Ｂに記載されている記録マーク３は、トラック上に直列的に配列された３つのプリピットとオーバーラップしているが、実際の記録マークは、１０個を超える個数のプリピット２とオーバーラップしている。記録マークの長さは、プリピットの最短長の１０倍以上であり、好ましくはプリピットの最短長の５０倍以上である。例えば１−７変調方式で変調されたデータがプリピット２によって形成される場合、チャネルクロックの周期をＴとすると、プリッピット２の最小長さは２Ｔであり、最大長さは８Ｔである。記録マーク３の長さは、例えば８０Ｔ以上に設定される。プリピット２は、記録マーク３が形成された後も、光学ドライブ装置５００で読み取り可能である。プリピット２が読み取り可能な理由については後述する。

＜２．光学ドライブの動作＞
＜２．１システムコントローラ５０５の記録制御＞
次に、システムコントローラ５０５による記録マーク３の記録制御を説明する。以下では、システムコントローラ５０５の記録前の制御及び記録中の制御を説明する。なお、システムコントローラ５０５は、外部機器からの指示を受け付けると、記録マークを光ディスクに記録するよう動作する。

＜２．１．１ 記録前の制御＞
システムコントローラ５０５は、光ディスク１に記録する記録マーク３を決定する。ここで不揮発性メモリ５０６には、記録マーク３の１ビットの記録長が予め記録されている。前述したように、記録マーク３の１ビットの記録長は、光ディスク１に形成されたプリピット２の長さよりも長いマークになるよう決められている。例えば、図５に示すように、多数のプリピット２が１２８ビットのデータを示すように形成されているところに、１ビットの記録マーク３が形成されるよう決められている。図５では、プリピット２および記録マーク３を模式的に示す図が信号波形とともに記載されている。この図におけるプリピット２の位置は、模式的な例に過ぎず、図示されているプリピット信号の波形とは厳密には対応していない。

図５の例では、記録マーク３が形成されている部分が「１」、記録マーク３が形成されていない部分が「０」を示す。１ビット分の記録マーク３の長さは、典型的には、同一トラック上で一定である。例えば２つの「１」が連続している部分は、２ビット分の長さを持ち、連続する２つの記録マーク３によって構成されていると解釈できる。一方、各プリピット２の長さは、ＢＤ−ＲＯＭのように情報に応じて変調されており、一定ではない。

１つの記録マーク３の長さ（追記データの１ビットの記録長）が、プリピット２によって記録されているＲＯＭデータの何ビット分に対応するかは、あらかじめ図１の不揮発性メモリ５０６内に記録されている。本実施形態では、追記データの１ビットの記録長は、ＲＯＭデータの１２８ビットの長さに相当しているが、本発明は、このような例に限定されない。後述するように、本発明によれば、追記データとＲＯＭデータとが重畳したＲＦ信号が再生されるため、これらのデータを識別するため、ＲＦ信号における各データの周波数を１桁以上異なるようにすることが好ましい。

システムコントローラ５０５は、不揮発性メモリ５０６に記録された記録マーク３の１ビットの記録長を用いて、記録マーク３の長さを決定する。これによって、システムコントローラ５０５は、光ディスク１に記録するための記録マーク３の制御信号を生成する。

次に、図６Ａおよび図６Ｂを参照しながら、記録マーク３の形成位置を説明する。図６Ａは、本実施形態における記録マーク３の形成位置の例を示す図である。図６Ｂは、比較例における記録マーク３の形成位置の例を示す図である。

本実施形態では、システムコントローラ５０５が、各トラックに形成する記録マーク３が、隣接するトラックに形成されている記録マーク３との間で影響し合わないように、記録マーク３の形成位置を調整する。図６Ａに示す例では、第１の記録マーク３ａがトラックｔ７に形成され、第２の記録マーク３ｂがトラックｔ３に形成されている。図６Ｂに示す比較例では、第２の記録マーク３ｂがトラックｔ３ではなく、トラックｔ６に形成されている。比較例では、例えばトラックｔ７から追記情報を読み出そうとするとき、隣接するトラックｔ６に形成された第２の記録マーク３ｂの影響を受ける結果、第１の記録マーク３ａが形成されてない領域に第１の記録マーク３ａが形成されているとの誤検出を行う可能性がある。

本実施形態で使用する光ディスクには、案内溝が存在せず、また、長い記録マーク３を形成するため、光ビームの照射によって発生した熱が光ディスクの半径方向（トラックに垂直な方向）に拡散しやすい。特に、本実施形態では、記録マーク３を形成するとき、光源をマルチパルス状に発光させるのではなく、連続的に発光させる。このため、記録マーク３の幅は、トラックピッチ程度、または、それ以上に大きくなりやすい。記録マーク３の幅は、記録マーク形成のために照射する光ビームのパワーが大きいほど、広くなりやすい。このため、記録マーク３を形成するトラックと、記録マーク３を形成しないトラックとを決める。

図６Ｃは、プリピット間に溝を設けた光ディスク上の記録マークの形成位置を示している。プリピットから得られるトラッキングエラー信号（好ましくはＤＰＤ信号）を用いてトラッキング制御を行う場合、トラッキングのための案内溝は不要である。しかし、溝をトラック間に形成すると、熱の拡散が溝によって阻止されるため、記録マークの幅の拡大を抑制する効果が得られる。このため、溝をトラック間に形成してもよい。溝の深さは、トラッキングエラー信号の生成とは無関係に設定され、任意である。

本明細書では、記録マーク３が形成され得るトラックを「記録領域トラック」、記録マークを形成しないトラックを「記録禁止トラック」と称することとする。記録禁止トラックの本数が１本の場合、その記録禁止トラックを挟む２つの記録領域トラックに形成される記録マークのうち、光ディスクの半径方向に隣接する記録マークの中心線間隔は、少なくとも２トラックピッチである。

記録マーク形成のために照射する光ビームのパワーは、光学ドライブ装置に装填される光ディスクによって異なる値に最適化され得る。このため、記録マーク３の幅は、光学ドライブ装置に装填される光ディスクの種類によって変化し得る。

光ディスクが光学ドライブ装置に装填された後、光ビームのパワーを決定するための学習動作を実行することが好ましい。この学習動作は、テスト記録のステップと再生信号の評価ステップとを含む。具体的には、まず、異なる大きさの記録パワーで光ビームを光ディスクに照射して複数の記録マークを形成した後、これらの記録マークに再生用の光ビームを照射して再生信号の質を評価する。再生信号の質は、信号波形の形状やジッタによって評価され得る。質の最も高い再生信号が得られる記録パワーを選択することが好ましい。

２つの記録領域トラックの間に何本の記録禁止トラックを配置するかは、記録マークの現実の幅に基づいて決定する必要はなく、上記の学習動作によって決定した記録パワーに基づいて決定してもよい。記録マークの幅が充分に小さいとき、２つの記録領域トラックの間に記録禁止トラックを１本も配置しなくてもよい。システムコントローラ５０５は、記録パワーの大きさとは無関係に光ディスク上のトラックを「記録領域トラック」と「記録禁止トラック」とに分けてもよい。

本発明の好ましい実施形態では、複数の「記録パワー」と、各記録パワーに対応する「記録禁止トラック」との関係を規定する情報を決定した後、この情報を光ディスク装置のメモリに格納する。「記録パワー」と「記録禁止トラック」の関係を規定する情報は、例えば図１６に示されるように、記録パワーの値と、その記録パワーで記録を行うときの「記録禁止トラック」の本数とを関連づけたものである。この情報は、例えばテーブルの形態で不揮発性メモリ５０６に格納される。

上記の情報における「記録パワー」の値は、記録パワーを連続的または段階的に変えて光ディスク１に光ビームを照射するときの記録パワーの値である。この記録パワーの値は、記録パワーの学習時において設定される記録パワーの値と一致することが好ましい。

図１６に示すようなテーブルが不揮発性メモリ５０６に格納されている場合、好ましい例では、そのテーブルにおける「記録パワー」の値の中から、実際の記録動作を行うときの記録パワーが選択され得る。ただし、実際の記録動作を行うときの記録パワーが、テーブルにおける「記録パワー」の値と異なるときは、実際の記録動作を行うときの記録パワーよりも大きく、かつ、その記録パワーに最も近い記録パワーをテーブルから選択し、選択された記録パワーに対応する「記録禁止トラック」の本数を選択することが好ましい。例えば、現実の記録パワーが２．３ｍＷの場合、図１６に例示されるテーブルでは、３ｍＷの記録パワーを選択し、これに対応する「記録禁止トラック」の本数を２本に設定することが好ましい。

図１７Ａは、記録パワーを１ｍＷ、記録禁止トラックの本数を０本に設定したときに形成した２つの隣接する記録マーク３を模式的に示している。この例では、記録マーク３の幅が小さく、隣接するトラックにおいて、記録マーク３を光ディスクの半径方向に隣接するように形成しても、クロストーク（再生する際に隣の記録マークを読み出す）やクロスイレース（記録する際に既に記録されている隣の記録マークを消してしまう）を防止できる。

最適な記録パワーと「記録禁止トラック」の本数との関係は、種々の方法で設定可能である。例えば、複数の異なる記録パワーで形成された記録マーク３を再生し、再生された信号の振幅やジッタ等の信号品質が、記録禁止トラックの本数に依存してどのよう変化するかを測定することにより、記録禁止トラックの本数を決定してもよい。また、記録マークの情報をデコードする際のエラーレートが記録禁止トラックの本数に依存してどのように変化するかを求め、「記録禁止トラック」の本数を決定してもよい。

図１７Ｂは、記録パワーを２ｍＷ、記録禁止トラックの本数を１本に設定したときに形成した２つの隣接する記録マーク３を模式的に示している。この例では、記録マーク３の幅がやや広がっている。このため、図１７Ａに示すように隣接するトラックにおいて、記録マーク３を光ディスクの半径方向に隣接するように形成すると、クロストークやクロスイレースを十分に防止できない。したがって、この例では、記録パワーを２ｍＷに設定するとき、光ディスクの半径方向に隣接する記録マーク３の間に１本の記録禁止トラックを配置する。その結果、クロストークやクロスイレースを防止することができる。

図１７Ｃは、記録パワーを３ｍＷ、記録禁止トラックの本数を２本に設定したときに形成した２つの隣接する記録マーク３を模式的に示している。図１７Ｄは、記録パワーを４ｍＷ、記録禁止トラックの本数を３本に設定したときに形成した２つの隣接する記録マーク３を模式的に示している。

図１７Ｃおよび図１７Ｄに示す例では、記録マーク３の一部が隣接する「記録禁止トラック」の少なくとも一部を覆っている。記録禁止トラックには、記録マーク３が形成されず、したがって、記録マーク３の中心が記録禁止トラック上に位置することはない。しかし、記録マーク３の幅が拡大した結果、記録マーク３の一部が記録禁止トラック上にはみ出すことは許容される。記録禁止トラックとは、そのトラック中心上に記録マーク３の中心が位置することが禁止されるトラックであり、他のトラック上に記録された記録マーク３が延びてきて一部が覆われてもよい。

図１７Ｄの例における「記録領域トラック」は、トラックｔ３、ｔ７であり、「記録禁止トラック」は、トラックｔ４、ｔ５、ｔ６である。「記録領域トラック」であるトラックｔ３に形成した記録マーク３の一部は、「記録禁止トラック」であるトラックｔ４を覆っている。このような場合でも、「隣接する２つの記録マークの間に、３つの記録禁止トラックが配置されている」と言える。

図１７Ａ、図１７Ｂ、図１７Ｃ、図１７Ｄに示すように、記録パワーを上昇させていくと、記録マーク３の幅（光ディスクの半径方向のサイズ）が広がるため、その度合いに応じて「記録領域トラック」と「記録領域トラック」の間に挟まれる「記録禁止トラック」の本数を適切に設定し、不揮発性メモリ５０６内に保持させておくことが望ましい。

なお、記録パワー学習で設定する最も高い記録パワーにおいてもトラック方向に位置する記録マーク同士がお互いにクロストークやクロスイレースの影響を及ぼさない「記録禁止トラック」の本数を固定値で設定しても良い。

図１７Ａ、図１７Ｂ、図１７Ｃ、図１７Ｄを参照しながら説明したことは、図１６の表に示す例に対応しているが、記録パワーと記録禁止トラックの本数との関係は、図１６および図１７Ａから図１７Ｄに示す例に限定されない。

次に、図７を参照して、追記動作の一例を説明する。図７は、追記動作の一例を示すフローチャートである。

まず、追記を開始するに先立ち、システムコントローラ５０５は、不揮発性メモリ５０６から記録パワー学習時の情報を読み出す（ステップＳ１）。記録パワー学習時の情報は、「記録領域トラック」に隣接する「記録禁止トラック」の本数を示す前述の情報を含む。この情報の例は、図１６を参照して説明した情報であり、テーブルの形態で不揮発性メモリ５０６に格納される。

次に、不揮発性メモリ５０６からの情報に基づき、光ディスク１上の記録パワー学習領域において、システムコントローラ５０５により記録パワー学習が実施される（ステップＳ２）。記録パワー学習は、図１６に示す記録パワー１ｍＷで特定のトラックに記録し、記録パワー２ｍＷで１トラック離したトラックに記録する。また、記録パワー３ｍＷで２トラック離したトラックに記録する。更に、記録パワー４ｍＷで３トラック離したトラックに記録する。更に、記録パワー５ｍＷで４トラック離したトラックに記録する。本実施形態では、この５通りの記録条件で記録したデータを再生し、信号品質などに基づいて、記録特性の最適な記録条件を選択する。最適な記録条件が決定されると、その記録パワーと「記録禁止トラック」の本数が決まる。

記録パワー学習領域は、光ディスク側で固定された領域である必要はない。不揮発性メモリ５０６の情報に基づき、光学ドライブ装置が光ディスクから任意に領域を選択し、その領域を記録パワー学習に使用してもよい。

なお、起動時ではなく、光ディスクの再生中に、光ディスクの記録パワー学習領域内の未記録箇所を選択し、その選択された箇所で記録パワー学習を実行してもよい。このようにして選択される箇所は、光ディスクに記録されていた情報を読み出し、その情報によって指定された箇所であってもよい。

次にステップＳ２で決定された記録条件を用いて、記録領域に実際のデータを記録する（ステップＳ３）。データの記録領域は、記録パワー学習領域と同様に、光ディスク側で固定して決められる必要はなく、不揮発性メモリ５０６の情報に基づき、光学ドライブ装置側が任意に設定可能である。また、光ディスクを再生して指定された、記録パワー学習領域内の未記録箇所を選択して記録を実施する。

「記録領域トラック」の本数、位置、または配置関係を決定した後、システムコントローラ５０５は、スピンドルモータ５０３の回転速度を決定する。記録マーク３を形成するために光ビームを光ディスク１に照射するとき、この光ビームのパワーが高すぎると、図２に示す基板１０１の一部が熱によって変形してプリピット２の形状が変化する可能性がある。プリピット２の情報が消えてしまわないように、光ピックアップ５０１の光源のパワーを設定することが好ましい。

システムコントローラ５０５は、上記条件が決まると、光ピックアップ５０１、スピンドルモータ５０３等を制御する。つまり、光ピックアップ５０１による記録マーク３の記録が開始される。

＜２．１．２ 記録中の制御＞
光ピックアップ５０１から出射された光ビームが、光ディスク１上のプリピット２にフォーカスし、目標とするトラック上のプリピット２を追従するようにフォーカス制御およびトラッキング制御が実行される。ここで光学ドライブ装置５００は、光ディスク１の反射光から得られる非点収差情報に基づき、フォーカス制御を実行する。また、光学ドライブ装置５００は、光ディスク１の反射光に含まれる、プリピット２からの位相差情報（Ｄｉｆｆｅｒｅｎｔｉａｌ Ｐｈａｓｅ Ｄｅｔｅｃｔｉｏｎ 以下、「ＤＰＤ」)に基づき、トラッキング制御を実行する。ＤＰＤ信号は、ＲＦ信号の振幅を十分に大きくするような深さを有するプリピット２の列にトラッキングするために好適に用いることのできるトラッキングエラー信号である。プッシュプル方式のトラッキングエラー信号の振幅は、プリピット２の深さがλ／８のときに最も大きくなるが、深さがλ／８のプリピット２から得られるＲＦ信号の振幅はゼロになってしまう。逆に深さがλ／４のプリピット２から得られるＲＦ信号の振幅は最大化されるが、深さがλ／４のプリピット２からは、プッシュプル方式のトラッキングエラー信号の振幅がゼロになってしまう。このため、プリピット２の列に対してトラッキング制御を行うには、プッシュプル方式のトラッキングエラー信号を用いるのではなく、ＤＰＤ方式のトラッキングエラー信号を用いることが好ましい。

なお、プリピット２の両側に、プリピット２の深さ（例えばλ／４）とは異なる深さ（例えばλ／８）を有するグルーブ（案内溝）を形成した場合、この案内溝を利用してプッシュプル方式のトラッキングエラー信号を生成することが可能である。本実施形態では、ＤＰＤ方式のトラッキングエラー信号を用いるため、このようなグルーブは不要である。

ここで、図８Ａを参照して、記録マーク形成中のトラッキング制御を説明する。本実施形態では、ディスク表面の法線方向から光ディスク１を見たときの記録マーク３を形成する箇所に、プリピットが存在している。したがって、光学ドライブ装置５００は、案内溝がないトラックにおいて、記録マーク３を形成する場合であっても、光ディスク１からの反射光に含まれるプリピット信号を用いてＤＰＤトラッキング制御を行なうことが可能である。記録マーク３を形成しないときは、トラッキング制御に必要なＤＰＤ信号を得るために必要なパワーで光ビームを照射するが、記録マーク３を形成するとき、その光ビームのパワーを一時的に高める。パワーを高められた光ビームの照射を受けた記録膜１０２の光学的性質が局所的に変化し、記録マーク３が形成される。本実施形態では、プリピット２に比べて格段に長い記録マーク３を形成している間、前述したように、光源をマルチパルス状に発光させるのではなく、連続的に発光させる。ここで、記録マーク３を形成するために必要な光パワーをＰ_high、記録マーク３を形成しないがＤＰＤ信号を得るために必要な光パワーをＰ_lowとする。この場合、光パワーをＰ_lowからＰ_highに上昇させているとき、記録マーク３が形成される。このため、光パワーをＰ_lowからＰ_highに上昇させている時間に比例した長さを記録マーク３が形成される。

従来、記録用の光ビームを光ディスク１の目標トラックに照射しながら、トラッキングエラー信号を得るための光ビーム（サブビーム）を目標トラックに隣接するトラックに照射する技術が存在する。本実施形態では、１本のビームでトラッキングエラー信号（ＤＰＤ信号）を生成しながら、長い記録マーク３をトラック上に正しく形成することができる。

図８Ａに示す例では、記録マーク３を形成しているとき、光ビームのパワーが高いため、その反射光の強度を示すＲＦ信号のレベルも全体として高くなっている。ＲＦ信号上の相対的に高い周波数の波形は、例えば図６Ａに示す複数のプリピット２によるものである。図６Ａに示すように、１つの記録マーク３が多数のプリピット２とオーバーラップしているため、記録マーク３を形成しているときの反射光の強度も、図８Ａに示すように、多数のプリピット２による高周波信号が重畳される。図８Ａでは、プリピット２の信号は模式的に記載されており、現実の反射光には、図示されているよりも高周波のプリピット信号が重畳される。

図８Ａに示すように、記録マーク３の形成中において、光ディスク１の反射光から、プリピット信号を分離して読み出すことが可能である。これは、プリピット２の長さに比べて記録マーク３の記録長が充分に長いからである。また、プリピット２の反射光が光ピックアップ５０１の受光素子で飽和しないように光ピックアップ５０１の光源の光量を調整したためである。

このように、システムコントローラ５０５は、記録マーク３の形成中において、プリピット２からの信号を得ることができる。言い換えると、記録マーク３を形成している最中も、ＤＰＤ信号を得ることができる。このため、光学ドライブ装置５００は、ＤＰＤトラッキング制御を行った上で記録マーク３を形成できる。

加えて、記録開始直前のプリピット２の情報を読み取りながらＰＬＬ制御を安定にかけてクロック信号を生成できる。そのクロック信号を基準に記録タイミングを生成し、さらに、記録マーク３の形成中もプリピット２の情報を読み取り、クロックの生成が可能である。このため、記録マークを形成するために必要な高いパワーで発光するタイミングを正確に制御でき、結果としてジッタの少ない記録マーク３を作成できる。

前述したように、本実施形態では、記録マーク３の形成中もマルチパルスではなく連続的な光の照射を行うため、その間にトラッキングエラー信号およびクロック信号の生成が可能になる。特に本実施形態では、非常に長い記録マーク３を形成するため、その最中にトラッキングエラー信号およびクロック信号を継続的に生成できることは品質の高い記録マークの形成を行う上で有益である。

ここで、ＤＰＤトラッキング制御を使うメリットを説明する。通常の記録用の光ピックアップでは、往路で３ビームに分割し、４分割の光検出器を３組用意して、ＤＰＰトラッキング制御を行う。これにより、光ディスク１の偏芯に対物レンズが追従することにより発生するＴＥオフセットをキャンセルし、光ディスクの案内溝に安定に追従する。

一方、本実施形態では、記録中にもＤＰＤトラッキングでトラッキング制御が可能である。そのため、光検出器は、４分割の光検出器が１組で良い。つまり、光検出器のサイズが小さくなり、光ディスク１のサイズを小型化、低価格化することが可能となる。また、３ビームに分割する必要がないので、往路の回折格子が不要になる。そのため、同様に光ディスク１のサイズを小型化、低価格化に寄与する。さらに、３ビームに分割しないので、光源の利用効率が良くなり、消費電力が減少する。加えて、３ビームに分割しないので、光源の利用可能時間が増大し、低発光パワーの光源が利用可能となる。

なお、本実施形態では、記録マーク３の記録長をプリピット２よりも十分長くした。そのため、光ピックアップ５０１の光源の光量の切替を少なくすることができる。このため、安価なレーザー制御回路を利用することができる。

＜２．２システムコントローラ５０５の再生制御＞
次に、図８Ｂから図１２を参照して、システムコントローラ５０５による光ディスク１の再生制御を説明する。光ディスク１には、プリピット２上に記録マーク３が記録されているものとする。

図８Ｂは、１ビットの記録マークが形成されている部分、および、その前後に位置する未記録部分から得られるＲＦ信号の波形例を示している。記録マークが形成されている部分から得られるＲＦ信号のレベルは、未記録部分から得られるＲＦ信号のレベルよりも低い。図８Ａでは、記録マークを形成するとき、光ビームのパワーが高くなるため、記録マークの反射率が未記録部分の反射率よりも低下したとしても、記録マーク形成中に得られるＲＦ信号のレベルは高くなる。しかし、データ再生時には、比較的低い一定のパワーの光ビームで光ディスク１を照射するため、図８Ｂに示すように、反射率が低下した記録マークから得られるＲＦ信号のレベルが低下することになる。記録マークと未記録部分との間には、このようにＲＦ信号のレベルに差異があるため、これを検知すれば、記録マークを検出することができる。

本実施形態におけるシステムコントローラ５０５は、光ピックアップ５０１を制御し、プリピット２上に記録マーク３が記録された光ディスク１から情報を読み出すことが可能である。より詳細には、システムコントローラ５０５は、光ディスク１に記録された記録マーク３及びプリピット２を両方検出可能である。これは、記録マーク３の記録長がプリピット２に対して格段に長く、それぞれの信号周波数が異なるため、ＲＦ信号から２種類の信号を容易に周波数で分割できるためである。図９は、ＲＦ信号を受け取り、その中から相対的に周波数が高いプリピット信号を選択的に通過させるハイパスフィルタ（ＨＰＦ）と、同様にＲＦ信号を受け取り、その中から相対的に周波数が低い記録マーク信号を選択的に通過させるローパスフィルタ（ＬＰＦ）とを備えるフィルタ回路の構成例を示している。システムコントローラ５０５は、図９に示すようなフィルタ回路を含むことにより、図８Ｂに示すようなＲＦ信号からプリピット信号と記録マーク信号とを分離することができる。

また、システムコントローラ５０５は、プリピット２上に記録マーク３が記録されたとしても、プリピット２の信号を用いて、トラッキング制御可能である。例えば、図８Ｂに示すように、記録マーク３記録後においても、プリピット２の信号光（高周波の波形）を取得できる。また、プリピット２によるＤＰＤ信号を得ることもできる。これは、プリピット２の情報を潰さない（消してしまわない）ように記録マーク３の情報を記録したためである。上述したように、記録マーク３とプリピット２の信号周波数帯域が十分に離れていることにより、それぞれの情報を反射光からフィルタ回路で分離することが可能になる。なお、プリピット２の最長ピットより記録マーク３の最短マーク長が１０倍以上と長ければ、フィルタ回路の特性上、容易に分離することが可能になる。

光ディスク１の反射光に基づいて記録マーク３による情報を読み出す方法は、上記の方法に限定されない。図１０Ａおよび図１０Ｂを参照して、記録マーク３による情報を読み出す方法の他の例を説明する。

図１０Ａは、記録マークからの反射光強度が未記録部分からの反射光（ＲＦ信号）強度よりも低い場合の反射光の波形例を示す。一方、図１０Ｂは、記録マークからの反射光強度の平均値が未記録部分からの反射光強度の平均よりも高い場合の反射光の波形例を示している。図１０Ａおよび図１０Ｂの横軸は時間である。

前述したように、図９に示すフィルタ回路を用いることにより、ＲＦ信号から記録マーク３による情報を取り出すことができるが、ＲＦ信号の平均値１２および／またはエンベロープに基づいて記録マーク３による情報を取り出すこともできる。図１０Ａおよび図１０Ｂには、ＲＦ信号の平均値１２を示す破線、ならびに、ＲＦ信号の上エンベロープ１４および下エンベロープ１６を示す実線が示される。図１０Ａに示す波形の例では、ＲＦ信号の平均値１２、上エンベロープ１４、および下エンベロープ１６のいずれもが、記録マークと未記録部との間で異なるレベルにある。このため、例えばＲＦ信号の平均値１２を求め、この平均値１２が相対的に低下したとき、光ビームが記録マーク３の上を通過していると判定することができる。同様に、ＲＦ信号の上エンベロープ１４または下エンベロープ１６を求め、それが相対的に低下したとき、光ビームが記録マーク３の上を通過していると判定してもよい。

図１０Ｂに示す例では、ＲＦ信号の上エンベロープ１４が記録マークと未記録部分との間で変化していない。このような波形は、例えば、記録マークを形成するときの光ビームのパワーが小さいために記録膜の光学特性がほとんど変化しなかったのに、プリピット２の形状が熱によって変化した場合に生じ得る。このような現象は、プリピット２の形状が熱で変化し、それによってプリピット２の深さがλ／４から変化したとき、プリピット２からの反射光の強度が高まることによって生じ得る。図１０Ｂに示すような場合、ＲＦ信号の平均値１２または下エンベロープ１６を求め、それが相対的に上昇したとき、光ビームが記録マーク３の上を通過していると判定すればよい。

上述したように、本発明によれば、「記録マーク」は、必ずしも記録膜中に形成されるとは限られない。記録膜において記録マークが形成された領域の光学特性（反射率など）が未記録部分に比べて変化していない場合でも、基板表面の物理的状態を未記録部分の物理的状態から変化させることにより記録マークを形成することができる（図１０Ｂ）。言い換えると、本発明における記録マークは、記録膜または基板表面に形成され得る。

なお、図１０Ｂに示すようなＲＦ信号の波形は、例えば、次のような場合にも得られる。すなわち、記録マークを形成するときの光ビームのパワーが小さいために記録膜の光学特性が、全体としては、ほとんど変化しなかったのに、プリピット２の凹部に熱が蓄積され、その結果、記録膜のうち、プリピット２の凹部に位置する部分の光学特性が局所的に変化すると、図１０Ｂに示すようなＲＦ信号が得られることがある。

システムコントローラ５０５は、プリピット２上に記録マーク３が形成されたとしても、ＤＰＤ信号に基づくトラッキング制御を行うことができる。これは、プリピット２を潰さない（プリピット２による情報を消してしまわない）ように記録マーク３の情報を記録したためである。図１０Ａおよび図１０Ｂに示す例でも、記録マーク３を形成した領域でも、プリピット２の情報は消去されず、ＲＦ信号に残っている。

次に、図１１および図１２を参照する。図１１は、追記情報を記録した後の光ディスクから得られるＤＰＤ信号の波形を示している。トラッキング制御はオン状態にある。ＤＰＤ信号がゼロレベル（ＧＮＤ）に維持されるようにトラッキングが実行されている。図１１の波形は、未記録部でも記録マーク部でも安定にＴＥ制御が行われていることを示している。

図１２は、追記情報を記録した後の光ディスクから得られるＤＰＤ信号の波形を示している。トラッキング制御はオフ状態にある。ＤＰＤ信号のレベルは、光ビームがトラックを横切るごとに増減し、三角波状の波形を示している。

このように、ＤＰＤ信号は、記録マークの形成中も、記録マークを形成した後も適正に得られる。もしも、記録マークを形成した領域からトラッキングエラー信号を得ることができない場合は、記録マークの長さを十分に短縮し、記録マーク形成時にトラッキングホールドを行えばよい。しかしながら、記録マークが長い場合にトラッキングホールドを行うと、トラッキングが外れてしまうことになる。本発明によれば、記録マークがプリピット上に存在してもＤＰＤ信号が得られるため、このＤＰＤ信号を用いてトラッキング制御を行えば、トラッキングホールドを行った場合にトラッキングが外れてしまうような長い記録マークを作成することが可能である。

（他の実施形態）
図１３を参照して、トラッキングホールドを行う例を説明する。図１３は、記録マークの形成中に、反射光の強度が光検出器の検出レンジを越えて飽和するときのＲＦ信号の波形例を示している。図１３に示すように、記録中にＲＦ信号振幅が大きく、光検出器の検出レンジを越えて飽和してしまう場合であっても、より安定して記録マークを形成できる。また、光源のパワー（光量）によって反射膜の反射率が下がり、ＤＰＤ信号の検出精度が下がってしまう場合も、記録マーク形成領域からは適正なトラッキングエラー信号を得ることが困難になる。このような場合も、記録マークが形成されている領域ではトラッキングホールドを行うことが有効であり得る。

上記の実施形態では、記録マーク３の記録動作中に、ＤＰＤトラッキング制御を行なうようにした。しかし、これに限られず、記録マーク３の記録動作中に、プッシュプル信号を用いてトラッキング制御を行っても良い。プリピット２の再生信号の周波数帯域が、ＤＰＤトラッキング制御の位相差検出回路の信号帯域を外れるような場合（光ディスクを極端に遅く、あるいは速く回転させた場合に該当）、ＤＰＤトラッキング制御を安定に行うことができない場合がある。このような場合、プッシュプル信号の方がより安定にトラッキング制御を行うことができる。

上記の実施形態では、図１０Ａなどに示すようなＲＦ信号の振幅を用いて記録マーク３を検知するようにした。しかし、これに限られず、図１４に示すＲＦ信号の信号品質（ジッタ特性等）に基づいて記録マーク３を検知するようにしてもよい。記録マーク３が記録された箇所にプリピットが形成されているため、記録マークの記録部と未記録部との間でＲＦ信号の振幅に差異が無い場合においても、双方のプリピットによる再生ジッタに差異があり得る。このような再生ジッタの差異に基づいて、どの部分に記録マークが記録されているかを検知することができる。

本実施形態では、図６Ａに示すように、複数の記録マーク３を形成する際、第１の記録マーク３ａと第２の記録マーク３ｂが隣接するトラックに記録されないようにした。しかし、これに限られず、例えば、図１５に示すように、光ディスクの半径方向において、記録マーク３が隣接しないようにしてもよい。この場合においても、光ディスクの半径方向に隣接する記録マークの中心線間隔は、２トラックピッチ以上である。

Ｉｎ−Ｐｉｔで形成した場合、以下のメリットがある。つまり、プリピットの凹んでいる部分が記録膜に断熱効果を与え、記録マーク３の記録が容易になる場合がある。その際、光ピックアップ５０１の光源のパワーを弱くできる。

プリピットは、記録マークが記録された後に、読み取り不可能であってもかまわない。つまり、本実施形態では、プリピット上に記録マークが記録できれば、どのような構成であってもよい。

本発明は、光ディスクに情報を記録することが可能な光学ドライブ装置などに適用可能である。

１ 光ディスク
２ プリピット
３ 記録マーク
３ａ 第１の記録マーク
３ｂ 第２の記録マーク
４ 溝
１０１ 基板
１０２ 記録膜
１０３ 保護膜
１０４ ハードコート
５００ 光学ドライブ装置
５０１ 光ピックアップ
５０２ 移送モータ
５０３ スピンドルモータ
５０５ システムコントローラ
５０６ 不揮発性メモリ

Claims (10)

1. 光ディスクに情報を記録することが可能な光学ドライブ装置であって、
   前記光ディスクは、トラック上に複数のプリピットが形成された基板と、前記基板に支持される記録膜とを有し、
   前記光学ドライブ装置は、
   光ピックアップと、
   前記トラック上において前記複数のプリピットに重なる位置で記録マークを形成するよう前記光ピックアップを制御し、前記光ディスクの半径方向に隣接する記録マークの中心線間隔が少なくとも２トラックピッチとなるように前記記録膜に記録用の光を照射させる記録制御部と、
   を備える光学ドライブ装置。
2. 前記記録制御部は、前記光ディスクの半径方向に隣接する記録マークの中心線間隔を、前記記録用の光のパワーに応じて変化させる、請求項１に記載の光学ドライブ装置。
3. 少なくとも１０個のプリピットとオーバーラップする長さを有するように前記記録マークを形成する、請求項１または２に記載の光学ドライブ装置。
4. 前記記録マークが形成される内周側のトラックと前記記録マークが形成される外周側のトラックと間には、前記記録マークが全く形成されないトラックが配置される、請求項１から３のいずれかに記載の光学ドライブ装置。
5. 前記記録マークが形成される内周側のトラックと前記記録マークが形成される外周側のトラックと間に配置される、前記記録マークが全く形成されないトラックの本数は、前記記録用の光のパワーに応じて変化する、請求項４に記載の光学ドライブ装置。
6. 隣接する２つのトラックに記録される記録マークは、半径方向に隣接しない位置に形成される、請求項１から３のいずれかに記載の光学ドライブ装置。
7. 前記記録制御部は、前記記録マークを形成している間、前記光ピックアップから前記記録用の光を連続的に前記記録膜に照射させる、請求項１に記載の光学ドライブ装置。
8. 前記光ピックアップで検出された反射光を示す信号に含まれる前記プリピットの情報に基づいて、トラッキング制御を行なうトラッキング制御部を備える、請求項１に記載の光学ドライブ装置。
9. 前記記録制御部によって前記プリピットと重なる位置に記録マークが形成された光ディスクから、前記光ピックアップを用いて情報を読み出す再生制御部をさらに備え、
   前記再生制御部は、前記光ピックアップで検出された反射光を示す信号のジッタ特性に基づいて、前記記録制御部によって前記記録マークが記録された箇所を検知する、請求項１に記載の光学ドライブ装置。
10. 前記記録制御部によって前記プリピットと重なる位置に記録マークが記録された光ディスクから、前記光ピックアップを用いて情報を読み出す再生制御部をさらに備え、
    前記再生制御部は、前記光ピックアップで検出された反射光を示す信号の振幅に基づいて、前記記録制御部によって前記記録マークが記録された箇所を検知する、請求項１に記載の光学ドライブ装置。

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