JP2011123056A - Apparatus and method for inspecting product - Google Patents

Apparatus and method for inspecting product Download PDF

Info

Publication number
JP2011123056A
JP2011123056A JP2010255714A JP2010255714A JP2011123056A JP 2011123056 A JP2011123056 A JP 2011123056A JP 2010255714 A JP2010255714 A JP 2010255714A JP 2010255714 A JP2010255714 A JP 2010255714A JP 2011123056 A JP2011123056 A JP 2011123056A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
product
block
inspection
displacement
inspection apparatus
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2010255714A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Akio Maeda
明男 前田
Toshimasa Hirai
利昌 平井
Futoshi Shirakawa
太 白川
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
SanyoSeiko Co Ltd
Original Assignee
SanyoSeiko Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by SanyoSeiko Co Ltd filed Critical SanyoSeiko Co Ltd
Priority to JP2010255714A priority Critical patent/JP2011123056A/en
Publication of JP2011123056A publication Critical patent/JP2011123056A/en
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Landscapes

  • Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)

Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an apparatus and a method for inspecting products precisely inspecting the products in an extremely simple and inexpensive configuration and easily coping with various products having different shapes and specifications without depending on the color tones of the products to be inspected. <P>SOLUTION: When inspection units 12a-12d displace a detection block 102 in the direction of an arrow Z via an adaptor 104 in a state where reference units 16a-16d of the products are in contact with positioning bolts 38a-38d, the displacement is amplified by a link member 78 and is converted to displacement in the direction of an arrow X in the displacement block 68. The displaced displacement block 68 is photographed by a CCD camera 20 to get the production quality judged from the image. <P>COPYRIGHT: (C)2011,JPO&INPIT

Description

本発明は、製品の形状を基準製品の形状と比較して検査する製品検査装置及び検査方法に関する。   The present invention relates to a product inspection apparatus and inspection method for inspecting a product by comparing the shape of a product with the shape of a reference product.

近年、技術の進歩及び競争の激化に伴い、環境を配慮した高付加価値を製品に付与するとともに、製品の軽量化やコストダウンを図ることが求められている。これらの要請に対処するため、部品点数を削減することによる製品の一体化、複雑化が進行しており、このような製品の検査を行う製品検査装置も複雑且つ高価なものとなっている。   In recent years, with the advancement of technology and intensifying competition, it has been demanded to provide products with high added value in consideration for the environment, and to reduce the weight and cost of the products. In order to cope with these demands, integration and complication of products are progressing by reducing the number of parts, and product inspection apparatuses for inspecting such products are also complicated and expensive.

例えば、自動車に用いられる部品は、同じ部品であっても、対象となる車種や取り付け部位の左右、輸出先等によって細部の寸法や形状を異なる仕様とする場合がある。このような製品における製造欠陥の有無等を検査するため、車種、製造ライン、仕様等を表す識別ピンを製品の所定部位に形成し、その識別ピンの本数や寸法を確認することで製品検査を行う方法がある。なお、識別ピンには、製品を識別する目的だけでなく、生産効率を向上させるための組立案内ピンとしての機能を兼備させたものもある。従来、識別ピンの状態に基づく製品検査は、作業員の手作業によって行われていた。   For example, even if the parts used in an automobile are the same parts, the dimensions and shapes of the details may be different depending on the target vehicle type, the left and right of the attachment site, the export destination, and the like. In order to inspect the presence or absence of manufacturing defects in such products, product identification is performed by forming identification pins that represent the vehicle type, production line, specifications, etc., in the specified parts of the product and confirming the number and dimensions of the identification pins. There is a way to do it. Some identification pins have not only the purpose of identifying a product but also a function as an assembly guide pin for improving production efficiency. Conventionally, product inspection based on the state of the identification pin has been performed manually by an operator.

しかしながら、製品の多品種化、複雑化に伴い、経験を積んだ作業員であっても、識別ピンを用いて個々の製品を間違いなく確実に検査することは極めて困難となっている。そのため、特に、製品のライフサイクルが短く、製品の仕様変更が頻繁に発生する自動車部品のような製品においては、作業員の手を煩わせることなく、短時間で且つ正確に製品検査を行うことができ、しかも、仕様の異なる種々の製品に容易に対応できる製品検査装置が嘱望されている。   However, along with the increasing variety and complexity of products, it is extremely difficult for even experienced workers to reliably inspect individual products using identification pins. Therefore, in particular, in products such as automobile parts that have a short product life cycle and frequently change product specifications, perform product inspection in a short time and accurately without bothering workers. In addition, a product inspection device that can easily cope with various products having different specifications is desired.

例えば、特許文献1には、搬送される製品の画像をカメラで撮影し、その画像を処理して製品形状を求め、基準製品の形状と比較して欠陥の有無を検出する検査装置が開示されている。   For example, Patent Document 1 discloses an inspection apparatus that takes an image of a product to be conveyed with a camera, processes the image to obtain a product shape, and detects the presence or absence of a defect in comparison with the shape of a reference product. ing.

特許文献2には、搬送される製品に対して規定の検査タイミングでレーザビームを照射し、そのレーザビームを検出して製品の輪郭検査を行うことにより、不良品を抽出する検査装置が開示されている。   Patent Document 2 discloses an inspection apparatus that extracts a defective product by irradiating a conveyed product with a laser beam at a specified inspection timing, detecting the laser beam, and performing a contour inspection of the product. ing.

特許文献3には、製品のバリに接触子を当接させ、接触子と一体に変位する変位計により接触子の変位量を検出することで、製品の外観検査を行う検査装置が開示されている。   Patent Document 3 discloses an inspection device that inspects the appearance of a product by causing the contact to abut against a burr of the product and detecting the displacement of the contact with a displacement meter that is displaced integrally with the contact. Yes.

特許文献4には、アームの一端部に装着された接触子を製品に押圧し、支軸を中心として回動するアームの他端部の変位をリニアセンサにより検出することで、製品寸法を測定する検査装置が開示されている。   Patent Document 4 measures the product dimensions by pressing a contact mounted on one end of the arm against the product and detecting the displacement of the other end of the arm that rotates about the support shaft with a linear sensor. An inspection apparatus is disclosed.

特開平8−29358号公報JP-A-8-29358 特開平11−337499号公報JP-A-11-337499 特開2008−102072号公報JP 2008-102072 A 特開2007−315998号公報JP 2007-315998 A

しかしながら、特許文献1、2に開示された先行技術のように、製品の画像を撮影し、あるいは、レーザビームで製品をスキャンする検査装置の場合、製品の検査部位の色と背景の色とのコントラストが小さいとき、あるいは、製品が透明であるときには、検査部位を抽出することが極めて困難となる。また、検査部位の形状は、通常、製品毎に異なっており、検査部位を確実に抽出して良否判定を行うためには、高度な画像処理技術が必要である。   However, as in the prior art disclosed in Patent Documents 1 and 2, in the case of an inspection apparatus that takes an image of a product or scans a product with a laser beam, the color of the inspection portion of the product and the color of the background When the contrast is small or when the product is transparent, it is extremely difficult to extract the inspection site. In addition, the shape of the examination site is usually different for each product, and advanced image processing technology is required to reliably extract the examination site and make a pass / fail judgment.

一方、特許文献3に開示された先行技術では、製品に接触子を当接させ、その変位量を直接検出するようにしており、製品のバリの有無を高精度に検出するためには、分解能の高いセンサが必要であり、装置が高価なものとなる。   On the other hand, in the prior art disclosed in Patent Document 3, a contact is brought into contact with the product and the amount of displacement is directly detected. In order to detect the presence or absence of burrs on the product with high accuracy, Sensor is required, and the apparatus becomes expensive.

また、特許文献4に開示された先行技術では、アームの一端部に装着された接触子を製品に押圧し、これによって回動するアームの他端部の変位をリニアセンサで検出している。しかしながら、この構成は、接触子の変位量を直接検出する特許文献3の先行技術に代替して、アームの回転により接触子の変位方向を変換して検出するように構成したものに過ぎない。しかも、特許文献4の図2の記載からも明らかなように、アームの一端部の接触子の変位は、縮小されて他端部に伝達される構造になっている。従って、検出感度をアームを用いて高めるようにしたものではない。   In the prior art disclosed in Patent Document 4, a contact mounted on one end of the arm is pressed against the product, and the displacement of the other end of the arm rotated by this is detected by a linear sensor. However, this configuration is merely a configuration in which the displacement direction of the contact is converted and detected by the rotation of the arm, instead of the prior art of Patent Document 3 that directly detects the displacement of the contact. Moreover, as is clear from the description of FIG. 2 of Patent Document 4, the displacement of the contact at one end of the arm is reduced and transmitted to the other end. Therefore, the detection sensitivity is not increased by using an arm.

本発明は、前記の課題に鑑みてなされたものであって、検査対象である製品の色調に依存することなく、極めて簡易且つ安価な構成で、製品の検査を高精度に行うことができるとともに、形状や仕様の異なる種々の製品に容易に対応することのできる製品検査装置及び検査方法を提供することを目的とする。   The present invention has been made in view of the above problems, and can inspect products with high accuracy with a very simple and inexpensive configuration without depending on the color tone of the product to be inspected. An object of the present invention is to provide a product inspection apparatus and inspection method that can easily cope with various products having different shapes and specifications.

本発明に係る製品検査装置は、製品の基準部が当接することで、前記製品を位置決めする位置決め手段と、前記製品の所定部位に配設された検査部により押圧されて変位する第1ブロックと、前記第1ブロックに一端部が連結され、前記第1ブロックの変位を増幅して他端部に伝達する伝達部材と、前記伝達部材の前記他端部に連結され、前記伝達部材により変位する第2ブロックと、前記位置決め手段により前記製品が位置決めされたときの前記第2ブロックの位置を検出する検出手段とを備えることを特徴とする。   The product inspection apparatus according to the present invention includes a positioning unit that positions the product by contacting a reference portion of the product, and a first block that is displaced by being pressed by an inspection unit disposed in a predetermined part of the product. , One end connected to the first block, a transmission member for amplifying the displacement of the first block and transmitting it to the other end, and connected to the other end of the transmission member and displaced by the transmission member It is characterized by comprising a second block and detection means for detecting the position of the second block when the product is positioned by the positioning means.

前記製品検査装置において、前記伝達部材は、一端部が前記第1ブロックに連結され、他端部が前記第2ブロックに連結され、中間部が軸体により回動可能に支持されるリンク部材から構成され、前記リンク部材が回動することによる前記一端部の変位を増幅して前記他端部に伝達することを特徴とする。   In the product inspection apparatus, the transmission member includes a link member having one end connected to the first block, the other end connected to the second block, and an intermediate portion rotatably supported by a shaft body. The displacement of the one end due to the rotation of the link member is amplified and transmitted to the other end.

前記製品検査装置において、前記検出手段により検出した前記第2ブロックの位置を所定の閾値と比較して判定する判定手段と、前記判定手段による判定結果を報知する報知手段とを備えることを特徴とする。   The product inspection apparatus includes: a determination unit that determines the position of the second block detected by the detection unit by comparing with a predetermined threshold; and a notification unit that notifies a determination result by the determination unit. To do.

前記製品検査装置において、前記検出手段は、前記第2ブロックの画像を撮影するカメラから構成されることを特徴とする。   In the product inspection apparatus, the detection unit includes a camera that captures an image of the second block.

前記製品検査装置において、前記製品の外観を検査する外観検査部を備え、前記カメラは、前記外観検査部に配置された前記製品の外観を撮影することを特徴とする。   The product inspection apparatus includes an appearance inspection unit that inspects the appearance of the product, and the camera photographs the appearance of the product arranged in the appearance inspection unit.

本発明に係る製品検査方法は、製品の所定部位に配設された検査部により第1ブロックを変位させる第1ステップと、前記第1ブロックの変位を増幅して第2ブロックに伝達し、前記第2ブロックを変位させる第2ステップと、前記第2ブロックの画像を撮影し、前記画像に基づいて前記第2ブロックの位置を求める第3ステップとを含み、前記第2ブロックの位置に基づいて前記製品を検査することを特徴とする。   The product inspection method according to the present invention includes a first step of displacing the first block by an inspection unit disposed in a predetermined part of the product, amplifying the displacement of the first block and transmitting the amplified displacement to the second block, A second step of displacing the second block; and a third step of taking an image of the second block and obtaining a position of the second block based on the image, and based on the position of the second block The product is inspected.

本発明の製品検査装置及び検査方法では、製品の検査部による第1ブロックの変位を伝達部材で増幅し、第2ブロックを変位させて検出することにより、極めて簡易且つ安価な構成で製品の形状を高精度に検査することができる。   In the product inspection apparatus and the inspection method of the present invention, the displacement of the first block by the inspection section of the product is amplified by the transmission member, and the second block is displaced and detected, so that the shape of the product can be realized with a very simple and inexpensive configuration. Can be inspected with high accuracy.

また、製品の検査部の状態を直接確認するのではなく、第2ブロックの位置に基づいて間接的に検査を行うため、例えば、第2ブロックをカメラで撮影し、その画像に基づいて製品の検査部の状態を判定する場合、製品の色が黒色等のコントラストが極めて低い色調であったとしても、その色調に関係なく、極めて良好な画像を取得し、検査部の状態を容易且つ高精度に判定することができる。   In addition, in order to inspect indirectly based on the position of the second block, instead of directly confirming the state of the inspection unit of the product, for example, the second block is photographed with a camera, and the product When determining the state of the inspection unit, even if the product color is a black or other color tone with a very low contrast, an extremely good image can be obtained regardless of the color tone, and the state of the inspection unit can be easily and highly accurately Can be determined.

さらに、第1ブロックを製品の検査部の形状に応じて適宜交換し、あるいは、その位置を調整することにより、形状の異なる種々の製品に容易に対応することができる。   Furthermore, various products having different shapes can be easily handled by appropriately replacing the first block according to the shape of the inspection section of the product or adjusting its position.

さらにまた、外観を検査するために製品を配置する外観検査部を併設し、外観検査部に配置された製品の外観をカメラにより撮影する構成とすることで、製品の形状だけでなく、製品の外観を含む検査を効率的に行うことができる。   Furthermore, an appearance inspection unit that arranges the product for inspecting the appearance is also provided, and the appearance of the product arranged in the appearance inspection unit is photographed with a camera, so that not only the shape of the product but also the product Inspection including appearance can be performed efficiently.

本実施形態の製品検査装置の一部破断構成図である。It is a partially broken block diagram of the product inspection apparatus of this embodiment. 本実施形態の製品検査装置により検査される製品を下方向から見た斜視図である。It is the perspective view which looked at the product test | inspected with the product inspection apparatus of this embodiment from the downward direction. 本実施形態の製品検査装置を構成する検査治具の斜視図である。It is a perspective view of the inspection jig which constitutes the product inspection device of this embodiment. 本実施形態の製品検査装置を構成する検査ユニットの斜視図である。It is a perspective view of the test | inspection unit which comprises the product test | inspection apparatus of this embodiment. 本実施形態の製品検査装置を構成する検査ユニットの側面説明図である。It is side surface explanatory drawing of the inspection unit which comprises the product inspection apparatus of this embodiment. 本実施形態の製品検査装置の制御回路ブロック図である。It is a control circuit block diagram of the product inspection apparatus of this embodiment. 本実施形態の製品検査方法のフローチャートである。It is a flowchart of the product inspection method of this embodiment. 本実施形態の製品検査装置を構成するCCDカメラにより撮影した画像の説明図である。It is explanatory drawing of the image image | photographed with the CCD camera which comprises the product inspection apparatus of this embodiment. 他の実施形態の製品検査装置を構成する検査治具の斜視図である。It is a perspective view of the inspection jig which constitutes the product inspection device of other embodiments. 図9に示す検査治具の側面説明図である。FIG. 10 is an explanatory side view of the inspection jig shown in FIG. 9. 図9に示す検査治具を用いた製品検査方法のフローチャートである。It is a flowchart of the product inspection method using the inspection jig shown in FIG.

以下、本発明の実施形態について図面を参照して説明する。   Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings.

図1は、本実施形態の製品検査装置10の一部破断構成図である。製品検査装置10は、検査対象である製品Wの製造欠陥の有無等を製品形状に基づいて検査する装置である。なお、この製品検査装置10では、製造欠陥以外に、製品形状から製品Wの種別判定等を行うこともできる。   FIG. 1 is a partially broken configuration diagram of a product inspection apparatus 10 according to the present embodiment. The product inspection apparatus 10 is an apparatus that inspects the presence or absence of manufacturing defects of the product W to be inspected based on the product shape. In addition to the manufacturing defects, the product inspection apparatus 10 can also determine the type of the product W from the product shape.

製品Wには、図2に示すように、製品Wの種類、製造ライン、仕様等を特定するため、あるいは、製品Wの製造欠陥の検査のため、所定部位に複数の検査部12a〜12dが形成されており、識別ピンからなる検査部12a〜12cの本数、有無、長さ、凹部からなる検査部12dの深さ等の製品形状を検出することで、製品Wの種別判定や製造欠陥の検査を行うことができる。また、製品Wは、後述する検査治具に製品Wを係合させるための2つの係合孔14a、14bと、検査治具に製品Wを位置決めするための4つの基準部16a〜16dとを有する。識別ピンからなる各検査部12a〜12cは、基準部16a〜16dの位置を基準として長さが設定され、凹部からなる検査部12dは、基準部16a〜16dの位置を基準として深さが設定される。   As shown in FIG. 2, the product W includes a plurality of inspection units 12 a to 12 d in a predetermined portion in order to specify the type, production line, specification, or the like of the product W or to inspect a manufacturing defect of the product W. By detecting the product shape such as the number of inspection parts 12a to 12c made of identification pins, presence / absence, length, depth of the inspection part 12d made of recesses, etc., it is possible to determine the type of product W and to detect manufacturing defects. Inspection can be performed. Further, the product W includes two engagement holes 14a and 14b for engaging the product W with an inspection jig to be described later, and four reference portions 16a to 16d for positioning the product W on the inspection jig. Have. The lengths of the inspection parts 12a to 12c made of identification pins are set with reference to the positions of the reference parts 16a to 16d, and the depth of the inspection part 12d made of recesses is set with reference to the positions of the reference parts 16a to 16d. Is done.

製品検査装置10は、照明光源18を有するCCDカメラ20(検出手段)を収納した支持台22と、支持台22上に載置される検査治具24とを備える。検査治具24は、位置決めされた製品Wの製品形状を検査するための治具であり、ボルト26a〜26dにより支持台22に着脱可能である。従って、検査治具24を交換することで、仕様の異なる製品Wの検査に対応することができる。なお、検査治具24が載置される支持台22の上面部には、CCDカメラ20を用いて検査治具24を下面部から撮影するための開口部28が形成される。   The product inspection apparatus 10 includes a support base 22 that houses a CCD camera 20 (detection means) having an illumination light source 18, and an inspection jig 24 that is placed on the support base 22. The inspection jig 24 is a jig for inspecting the product shape of the positioned product W, and can be attached to and detached from the support base 22 with bolts 26a to 26d. Therefore, it is possible to cope with the inspection of the product W having different specifications by exchanging the inspection jig 24. An opening 28 for photographing the inspection jig 24 from the lower surface using the CCD camera 20 is formed on the upper surface of the support table 22 on which the inspection jig 24 is placed.

次に、図3の斜視図に従って検査治具24の構成を説明する。検査治具24は、支持台22の開口部28(図1)にボルト26a〜26dにより固定される下部プレート30と、図示しない弾性部材により上方向に付勢される伸縮自在な3本の支柱32a〜32cを介して、下部プレート30に支持される上部プレート34とを備える。   Next, the configuration of the inspection jig 24 will be described with reference to the perspective view of FIG. The inspection jig 24 includes a lower plate 30 fixed by bolts 26a to 26d to the opening 28 (FIG. 1) of the support base 22, and three stretchable columns that are urged upward by an elastic member (not shown). And an upper plate 34 supported by the lower plate 30 via 32a to 32c.

下部プレート30には、上部プレート34の開口部36を介して上方向に延在し、上端部に製品Wの基準部16a〜16d(図2)が当接することで、下部プレート30に対して製品Wを位置決めする4本の位置決めボルト38a〜38d(位置決め手段)が配置される。なお、位置決めボルト38a〜38dは、製品Wの基準部16a〜16dの数及び位置に応じて本数及び高さが調整可能である。また、下部プレート30には、製品Wの各検査部12a〜12dの長さ、有無及び深さを検査するための複数の検査ユニット40a〜40dが配置される。検査ユニット40a〜40dは、製品Wの各検査部12a〜12dの位置に応じて配置される。さらに、下部プレート30には、下部プレート30に対して上部プレート34が所定の位置まで接近したことを検知し、検査を開始するためのトリガ信号を生成するトリガセンサ42と、検査治具24を交換する作業用の取手44a、44bとが配設される。   The lower plate 30 extends upward through the opening 36 of the upper plate 34, and the reference portions 16 a to 16 d (FIG. 2) of the product W are in contact with the upper end portion, so that the lower plate 30 is in contact with the lower plate 30. Four positioning bolts 38a to 38d (positioning means) for positioning the product W are arranged. The number and height of the positioning bolts 38a to 38d can be adjusted according to the number and position of the reference portions 16a to 16d of the product W. The lower plate 30 is provided with a plurality of inspection units 40a to 40d for inspecting the length, presence / absence, and depth of the inspection portions 12a to 12d of the product W. The inspection units 40a to 40d are arranged according to the positions of the inspection units 12a to 12d of the product W. Furthermore, the lower plate 30 includes a trigger sensor 42 that detects that the upper plate 34 has approached a predetermined position with respect to the lower plate 30 and generates a trigger signal for starting an inspection, and an inspection jig 24. Replacement handles 44a and 44b for replacement are provided.

上部プレート34には、製品Wの係合孔14a、14bに係合する2本のガイドピン46a、46bと、上部プレート34に製品Wが装着されたことを検知する製品検知センサ48とが配設される。   The upper plate 34 is provided with two guide pins 46a and 46b that engage with the engagement holes 14a and 14b of the product W, and a product detection sensor 48 that detects that the product W is mounted on the upper plate 34. Established.

検査ユニット40a〜40dは、図4及び図5に示すように構成される。すなわち、検査ユニット40a〜40dは、下部プレート30に2本のボルト50a、50bによって固定されるブロック52を有する。ボルト50a、50bは、ブロック52に形成された長孔54に係合し、これにより、ブロック52の矢印Y方向に対する位置調整が可能である。ブロック52には、門形の支持部材56の脚部58a、58bがボルト60a、60bによって固定される。ボルト60a、60bは、脚部58a、58bに形成された長孔62a、62bに係合し、これにより、支持部材56の矢印X方向に対する位置調整が可能である。   The inspection units 40a to 40d are configured as shown in FIGS. That is, the inspection units 40a to 40d have a block 52 that is fixed to the lower plate 30 by two bolts 50a and 50b. The bolts 50a and 50b are engaged with a long hole 54 formed in the block 52, whereby the position of the block 52 in the direction of arrow Y can be adjusted. Legs 58a and 58b of a gate-shaped support member 56 are fixed to the block 52 by bolts 60a and 60b. The bolts 60a and 60b engage with the long holes 62a and 62b formed in the leg portions 58a and 58b, whereby the position of the support member 56 in the arrow X direction can be adjusted.

支持部材56の脚部58a、58b側の部位には、下部プレート30の面と平行に延在する長孔64a、64bが形成される。長孔64a、64bには、延在方向に所定距離離間する2本の軸体66a、66bが係合する。   Long holes 64 a and 64 b extending in parallel with the surface of the lower plate 30 are formed in the leg portions 58 a and 58 b of the support member 56. Two shaft bodies 66a and 66b that are separated from each other by a predetermined distance in the extending direction engage with the long holes 64a and 64b.

支持部材56の脚部58a、58b間には、直方体形状の変位ブロック68(第2ブロック)が配設され、この変位ブロック68に軸体66a、66bが固定される。変位ブロック68は、軸体66a、66bを介して長孔64a、64bの延在方向(矢印X方向)に変位可能である。変位ブロック68は、支持台22の内部に配設されたCCDカメラ20によりその画像を撮影するため、下部プレート30に形成された開口部70に臨む。この場合、変位ブロック68は、CCDカメラ20により撮影された画像から変位ブロック68のエッジ部72を容易に認識できる色又は光沢が選択される。また、開口部70には、変位ブロック68の撮影範囲を規制するマスク74(図5)が装着される。   A rectangular parallelepiped displacement block 68 (second block) is disposed between the leg portions 58 a and 58 b of the support member 56, and the shaft bodies 66 a and 66 b are fixed to the displacement block 68. The displacement block 68 can be displaced in the extending direction (arrow X direction) of the long holes 64a and 64b via the shaft bodies 66a and 66b. The displacement block 68 faces the opening 70 formed in the lower plate 30 in order to take an image thereof with the CCD camera 20 disposed inside the support base 22. In this case, the displacement block 68 is selected with a color or gloss that can easily recognize the edge portion 72 of the displacement block 68 from the image taken by the CCD camera 20. In addition, a mask 74 (FIG. 5) that restricts the imaging range of the displacement block 68 is attached to the opening 70.

支持部材56には、T字形状からなるリンク部材78(伝達部材)が、支持部材56の上部プレート34側の部位に装着された支軸76を介して、矢印θ1、θ2方向に回動可能な状態で軸支される。リンク部材78の下部プレート30側の下端部(他端部)には、支軸76を通る直線方向に延在する長孔80a、80bが形成され、この長孔80a、80bに対して、変位ブロック68に固定された軸体66aが支持部材56の長孔64a、64bを介して係合する。   A T-shaped link member 78 (transmission member) can be rotated on the support member 56 in the directions of arrows θ1 and θ2 via a support shaft 76 attached to a portion of the support member 56 on the upper plate 34 side. It is pivotally supported. Long holes 80a and 80b extending in a linear direction passing through the support shaft 76 are formed at the lower end (the other end) of the link member 78 on the lower plate 30 side. The long holes 80a and 80b are displaced with respect to the long holes 80a and 80b. The shaft body 66 a fixed to the block 68 is engaged through the long holes 64 a and 64 b of the support member 56.

また、支持部材56の上部プレート34側の部位には、リンク部材78に隣接して、連結ブロック82が2本のボルト84a、84bにより固定される。ボルト84a、84bは、連結ブロック82に形成された長孔86に係合し、これにより、連結ブロック82の矢印X方向に対する位置調整が可能である。連結ブロック82の位置調整は、調整ねじ88によって行われる。すなわち、図5に示すように、調整ねじ88は、頭部が連結ブロック82に固定されたブラケット90に当接する一方、支持部材56に固定されたブラケット92に螺合する。調整ねじ88を一方向に回転させることにより、連結ブロック82が調整ねじ88に押圧されてリンク部材78側に変位し、調整ねじ88を他方向に回転させることにより、連結ブロック82がブラケット90とともに反対方向に変位する。   In addition, a connection block 82 is fixed to the portion of the support member 56 on the upper plate 34 side adjacent to the link member 78 by two bolts 84a and 84b. The bolts 84a and 84b are engaged with a long hole 86 formed in the connection block 82, whereby the position of the connection block 82 in the arrow X direction can be adjusted. The position adjustment of the connection block 82 is performed by the adjustment screw 88. That is, as shown in FIG. 5, the adjustment screw 88 abuts on a bracket 90 whose head is fixed to the connection block 82, and is screwed to a bracket 92 fixed to the support member 56. By rotating the adjusting screw 88 in one direction, the connecting block 82 is pressed by the adjusting screw 88 and displaced to the link member 78 side, and by rotating the adjusting screw 88 in the other direction, the connecting block 82 is moved together with the bracket 90. Displace in the opposite direction.

なお、連結ブロック82には、連結ブロック82の位置を確認するための目盛り94が形成され、この目盛り94に対応して、支持部材56側に指示板96が形成される。目盛り94に対する指示板96の指示位置に基づき、連結ブロック82の調整位置を確認することができる。   The connecting block 82 has a scale 94 for confirming the position of the connecting block 82, and an indicator plate 96 is formed on the support member 56 side corresponding to the scale 94. Based on the indication position of the indication plate 96 with respect to the scale 94, the adjustment position of the connecting block 82 can be confirmed.

連結ブロック82とリンク部材78との間には、スプリング98が配設される。リンク部材78は、スプリング98の弾発力により、支軸76を中心として矢印θ1方向に回転付勢される。また、リンク部材78の上部プレート34側の上端部(一端部)には、連結ブロック82を貫通する押圧ピン100の下端部が当接する。押圧ピン100は、スプリング98の弾発力に抗してリンク部材78を押圧することで、リンク部材78を矢印θ2方向に回転させる。   A spring 98 is disposed between the connection block 82 and the link member 78. The link member 78 is urged to rotate in the direction of the arrow θ <b> 1 about the support shaft 76 by the elastic force of the spring 98. Further, the lower end portion of the pressing pin 100 penetrating the connecting block 82 is brought into contact with the upper end portion (one end portion) of the link member 78 on the upper plate 34 side. The pressing pin 100 rotates the link member 78 in the direction of the arrow θ <b> 2 by pressing the link member 78 against the elastic force of the spring 98.

押圧ピン100の上端部は、略L字形状からなる検知ブロック102(第1ブロック)に固定される。検知ブロック102は、アダプタ104を介して検査部12a〜12dを検知する。なお、図4及び図5では、識別ピンからなる検査部12a〜12cを図示しているが、凹部からなる検査部12dについても同様に、検査部12dにアダプタ104を挿入して検知することができる。検査部12a〜12dにより検知ブロック102がアダプタ104を介して矢印Z方向に変位することで、押圧ピン100がリンク部材78を押圧する。なお、アダプタ104は、検査部12a〜12dの長さや深さに応じた形状に設定される。検査部12a〜12dの形状によっては、アダプタ104を介することなく、検査部12a〜12dにより、直接、検知ブロック102を押圧するように構成してもよい。   An upper end portion of the pressing pin 100 is fixed to a detection block 102 (first block) having a substantially L shape. The detection block 102 detects the inspection units 12 a to 12 d via the adapter 104. 4 and 5, the inspection units 12a to 12c made of the identification pin are shown. Similarly, the inspection unit 12d made of the recess can be detected by inserting the adapter 104 into the inspection unit 12d. it can. When the detection block 102 is displaced in the arrow Z direction via the adapter 104 by the inspection units 12a to 12d, the pressing pin 100 presses the link member 78. The adapter 104 is set in a shape corresponding to the length and depth of the inspection units 12a to 12d. Depending on the shape of the inspection units 12a to 12d, the detection block 102 may be directly pressed by the inspection units 12a to 12d without using the adapter 104.

図6は、製品検査装置10の制御回路ブロック図である。製品検査装置10は、全体の動作制御を行う制御部106を有する。制御部106には、照明光源18、トリガセンサ42、製品検知センサ48、変位ブロック68の位置の許容範囲である閾値を設定する閾値設定部108、画像コントローラ110(判定手段)、検査部12a〜12dの判定結果を表示するOK/NGランプ112(報知手段)、及び、NGの判定結果をブザー音にて報知する警告ブザー114(報知手段)が接続される。画像コントローラ110には、閾値設定部108で設定した閾値を記憶する閾値メモリ116が接続される。画像コントローラ110は、CCDカメラ20を制御して変位ブロック68の画像を撮影し、取得した画像を処理して変位ブロック68の位置を求め、閾値メモリ116に記憶された閾値と比較することで、検査部12a〜12dの良否判定を行う。   FIG. 6 is a control circuit block diagram of the product inspection apparatus 10. The product inspection apparatus 10 includes a control unit 106 that performs overall operation control. The control unit 106 includes an illumination light source 18, a trigger sensor 42, a product detection sensor 48, a threshold setting unit 108 that sets a threshold that is an allowable range of the position of the displacement block 68, an image controller 110 (determination unit), and inspection units 12 a to 12. An OK / NG lamp 112 (notification means) for displaying the determination result of 12d and a warning buzzer 114 (notification means) for notifying the determination result of NG with a buzzer sound are connected. A threshold memory 116 that stores the threshold set by the threshold setting unit 108 is connected to the image controller 110. The image controller 110 controls the CCD camera 20 to take an image of the displacement block 68, processes the acquired image to determine the position of the displacement block 68, and compares it with the threshold value stored in the threshold value memory 116. The quality of the inspection units 12a to 12d is determined.

製品形状を検査する本実施形態の製品検査装置10は、基本的には以上のように構成される。次に、その動作について、図7に示すフローチャートに従って説明する。   The product inspection apparatus 10 of this embodiment for inspecting the product shape is basically configured as described above. Next, the operation will be described with reference to the flowchart shown in FIG.

先ず、作業者は、検査対象となる製品Wに対応した検査治具24を支持台22に設置し、製品Wに形成された各検査部12a〜12dの位置、識別ピンからなる検査部12a〜12cの長さ、凹部からなる検査部12dの深さに応じて、検査ユニット40a〜40dを調整する(ステップS1)。例えば、図4において、ボルト50a、50bを緩めた状態でブロック52を矢印Y方向に変位させ、また、ボルト60a、60bを緩めた状態で支持部材56の脚部58a、58bを矢印X方向に変位させることにより、検査ユニット40a〜40dの矢印X、Y方向に対する位置を調整することができる。また、検知ブロック102に装着されるアダプタ104を選択することにより、検査部12a〜12dの長さ又は深さに応じた調整を行うことができる。   First, the operator installs the inspection jig 24 corresponding to the product W to be inspected on the support base 22, and positions of the inspection units 12a to 12d formed on the product W and the inspection units 12a to 12 made of identification pins. The inspection units 40a to 40d are adjusted according to the length of 12c and the depth of the inspection portion 12d made of a recess (step S1). For example, in FIG. 4, the block 52 is displaced in the arrow Y direction with the bolts 50a and 50b loosened, and the legs 58a and 58b of the support member 56 are moved in the arrow X direction with the bolts 60a and 60b loosened. By displacing, the positions of the inspection units 40a to 40d with respect to the directions of the arrows X and Y can be adjusted. Further, by selecting the adapter 104 to be mounted on the detection block 102, it is possible to make adjustments according to the length or depth of the inspection units 12a to 12d.

次に、作業者は、閾値設定部108を用いて、製品Wの製品形状を特定する各検査部12a〜12dが正しく形成されているときの変位ブロック68の位置の許容範囲を、検査部12a〜12d毎の閾値として設定する(ステップS2)。設定した各閾値は、画像コントローラ110を介して閾値メモリ116に記憶される。なお、閾値の設定は、必ずしも検査治具24の設置毎に行う必要はなく、製品Wに対応した複数の閾値を予め閾値メモリ116に記憶させておき、検査治具24を設置した際に、検査対象である製品Wに対応する閾値を閾値メモリ116から読み出すようにしてもよい。   Next, the operator uses the threshold setting unit 108 to determine the allowable range of the position of the displacement block 68 when the inspection units 12a to 12d that specify the product shape of the product W are correctly formed. It is set as a threshold value for every 12d (step S2). Each set threshold value is stored in the threshold memory 116 via the image controller 110. It is not always necessary to set the threshold every time the inspection jig 24 is installed. When a plurality of thresholds corresponding to the product W are stored in the threshold memory 116 in advance and the inspection jig 24 is installed, A threshold value corresponding to the product W to be inspected may be read from the threshold value memory 116.

以上の段取り作業が完了した後、作業者は、検査治具24の上部プレート34に配設されたガイドピン46a、46bに製品Wの係合孔14a、14bを係合させる。このとき、上部プレート34に配設されている製品検知センサ48が製品Wを検知する(ステップS3)。   After the above setup work is completed, the operator engages the engagement holes 14 a and 14 b of the product W with the guide pins 46 a and 46 b disposed on the upper plate 34 of the inspection jig 24. At this time, the product detection sensor 48 disposed on the upper plate 34 detects the product W (step S3).

製品Wを上部プレート34とともに下部プレート30側に押圧し、上部プレート34を所定量変位させると、下部プレート30に配設されている位置決めボルト38a〜38dが製品Wの基準部16a〜16dに当接する。このとき、下部プレート30に配設されているトリガセンサ42が上部プレート34を検知し、各検査ユニット40a〜40dに対する製品Wの位置決めが完了したことを示す位置決め完了信号がトリガ信号として制御部106に出力される(ステップS4)。   When the product W is pressed together with the upper plate 34 toward the lower plate 30 and the upper plate 34 is displaced by a predetermined amount, the positioning bolts 38a to 38d disposed on the lower plate 30 are brought into contact with the reference portions 16a to 16d of the product W. Touch. At this time, the trigger sensor 42 disposed on the lower plate 30 detects the upper plate 34, and a positioning completion signal indicating that the positioning of the product W with respect to each of the inspection units 40a to 40d is completed as a trigger signal. (Step S4).

一方、製品Wが上部プレート34を介して下部プレート30側に変位するとき、製品Wに形成されている各検査部12a〜12dがアダプタ104を介して検知ブロック102を矢印Z方向に変位させる(図4、図5)。検知ブロック102が矢印Z方向に変位すると、検知ブロック102に固定されている押圧ピン100も矢印Z方向に変位し、その端部に当接するリンク部材78を矢印θ2方向に回動させる。   On the other hand, when the product W is displaced to the lower plate 30 side via the upper plate 34, the inspection units 12a to 12d formed on the product W displace the detection block 102 in the arrow Z direction via the adapter 104 ( 4 and 5). When the detection block 102 is displaced in the arrow Z direction, the pressing pin 100 fixed to the detection block 102 is also displaced in the arrow Z direction, and the link member 78 that abuts on the end portion is rotated in the arrow θ2 direction.

リンク部材78が支軸76を中心として矢印θ2方向に回動すると、その端部に形成された長孔80a、80bに係合する軸体66aを介して変位ブロック68が矢印X方向に変位する。この場合、検知ブロック102の矢印Z方向の変位量は、図5に示すように、リンク部材78の支軸76から軸体66aの中心までの距離Z1と、支軸76から押圧ピン100の作用点までの距離X1との比Z1/X1を倍率として増幅される。なお、この倍率は、連結ブロック82に装着された調整ねじ88を用いて、連結ブロック82を矢印X方向に変位させることにより、微調整することができる。また、調整位置は、目盛り94に対する指示板96の位置として確認できる。   When the link member 78 rotates about the support shaft 76 in the direction of the arrow θ2, the displacement block 68 is displaced in the direction of the arrow X through the shaft body 66a that engages with the long holes 80a and 80b formed at the ends. . In this case, as shown in FIG. 5, the displacement amount of the detection block 102 in the arrow Z direction is the distance Z1 from the support shaft 76 of the link member 78 to the center of the shaft body 66a and the action of the pressing pin 100 from the support shaft 76. Amplification is performed using the ratio Z1 / X1 with the distance X1 to the point as a magnification. This magnification can be finely adjusted by displacing the connecting block 82 in the arrow X direction using an adjusting screw 88 attached to the connecting block 82. Further, the adjustment position can be confirmed as the position of the instruction plate 96 with respect to the scale 94.

制御部106は、製品検知センサ48からの製品検知信号と、トリガセンサ42からの位置決め完了を示すトリガ信号とが入力されると、照明光源18を駆動して変位ブロック68を下部プレート30側から照明するとともに、画像コントローラ110を介してCCDカメラ20を駆動する。画像コントローラ110は、CCDカメラ20を制御し、変位ブロック68のエッジ部72を含む部分を撮影する(ステップS5)。この場合、変位ブロック68を、エッジ部72が容易に認識できる色又は光沢に設定することにより、製品Wの色に依存することのないコントラストの高い画像を得ることができる。   When the product detection signal from the product detection sensor 48 and the trigger signal indicating completion of positioning from the trigger sensor 42 are input, the control unit 106 drives the illumination light source 18 to move the displacement block 68 from the lower plate 30 side. While illuminating, the CCD camera 20 is driven via the image controller 110. The image controller 110 controls the CCD camera 20 to photograph a portion including the edge portion 72 of the displacement block 68 (step S5). In this case, by setting the displacement block 68 to a color or gloss that can be easily recognized by the edge portion 72, an image having a high contrast that does not depend on the color of the product W can be obtained.

画像コントローラ110は、CCDカメラ20によって撮影された変位ブロック68の画像を処理し、例えば、図8に示すように、下部プレート30(図5参照)の開口部70の所定位置に装着されているマスク74の端部75と、変位ブロック68のエッジ部72との距離X2を変位ブロック68の位置として算出する。そして、この距離X2と、閾値メモリ116に記憶されている各検査部12a〜12dの閾値とを比較し、距離X2が許容範囲内であるか否か、すなわち、検査部12a〜12dの有無、長さ、深さの良否(OK/NG)を判定し、その判定結果を制御部106に供給する(ステップS6)。   The image controller 110 processes the image of the displacement block 68 photographed by the CCD camera 20, and is mounted at a predetermined position of the opening 70 of the lower plate 30 (see FIG. 5), for example, as shown in FIG. The distance X2 between the end portion 75 of the mask 74 and the edge portion 72 of the displacement block 68 is calculated as the position of the displacement block 68. Then, the distance X2 is compared with the threshold value of each of the inspection units 12a to 12d stored in the threshold memory 116, and whether or not the distance X2 is within an allowable range, that is, whether or not the inspection units 12a to 12d are present, The quality of the length and depth is determined (OK / NG), and the determination result is supplied to the control unit 106 (step S6).

なお、閾値として設定されている変位ブロック68のエッジ部72の許容位置と、画像処理により得られたエッジ部72の位置とを比較して良否判定を行う代わりに、開口部70に臨む変位ブロック68の画像の面積(図8にハッチングで示す範囲)を算出し、その面積を許容範囲の面積の閾値と比較して良否判定するようにしてもよい。この場合、ハッチングで示す範囲の面積は、変位ブロック68の画像のピクセル数(画素数)に基づいて算出することができる。   Instead of comparing the permissible position of the edge portion 72 of the displacement block 68 set as the threshold value with the position of the edge portion 72 obtained by image processing, the displacement block facing the opening 70 is determined. The area of 68 images (the range indicated by hatching in FIG. 8) may be calculated and the pass / fail judgment may be made by comparing the area with the threshold value of the allowable area. In this case, the area of the range indicated by hatching can be calculated based on the number of pixels (number of pixels) of the image of the displacement block 68.

制御部106は、判定の結果、製品Wに形成されている全ての検査部12a〜12dが所望の製品形状であるとき、例えば、緑色のOK/NGランプ112を点灯させることで、作業者に対して当該製品Wが正常な製品形状であることを知らせる(ステップS7)。   As a result of the determination, when all the inspection units 12a to 12d formed in the product W have a desired product shape, the control unit 106 turns on the green OK / NG lamp 112, for example. The product W is informed that it has a normal product shape (step S7).

一方、製品Wに形成されている検査部12a〜12dの1つでも不良の製品形状であれば、制御部106は、例えば、赤色のOK/NGランプ112を点灯させるとともに、警告ブザー114を鳴動させ、作業者に対して当該製品Wが不良品であることを知らせる。OK/NGランプ112及び警告ブザー114により、製品Wが不良品であることが報知されると、作業者は、当該製品Wを廃棄する。この結果、良品である製品Wのみを確実に出荷することができる。   On the other hand, if at least one of the inspection units 12a to 12d formed on the product W has a defective product shape, the control unit 106 turns on the red OK / NG lamp 112 and sounds the warning buzzer 114, for example. To inform the operator that the product W is defective. When the OK / NG lamp 112 and the warning buzzer 114 notify that the product W is defective, the worker discards the product W. As a result, only the non-defective product W can be reliably shipped.

以上の処理を繰り返すことにより(ステップS8)、複雑な構成からなる多数の製品Wの製品形状、例えば、検査部12a〜12cの本数、有無、長さ、凹部からなる検査部12dの深さ等の製品形状の良否判定検査を迅速且つ確実に行うことができる。   By repeating the above processing (step S8), the product shape of a large number of products W having a complicated configuration, for example, the number, presence / absence, length of the inspection units 12a to 12c, the depth of the inspection unit 12d including the recesses, etc. It is possible to quickly and reliably perform the quality determination inspection of the product shape.

図9は、他の実施形態の製品検査装置を構成する検査治具120の斜視図である。また、図10は、検査治具120の側面説明図である。検査治具120は、製品Wの形状検査を行う形状検査部122に対して、製品Wの表面の傷や汚れ等の外観検査を行う外観検査部124を併設させたものである。この場合、形状検査部122の構成は、図3に示す検査治具24と同一であるため、検査治具24の構成要素と同一の参照符号を付し、詳細な説明は省略する。   FIG. 9 is a perspective view of an inspection jig 120 constituting a product inspection apparatus according to another embodiment. FIG. 10 is an explanatory side view of the inspection jig 120. The inspection jig 120 includes a shape inspection unit 122 that performs shape inspection of the product W and an appearance inspection unit 124 that performs external inspection such as scratches and dirt on the surface of the product W. In this case, since the configuration of the shape inspection unit 122 is the same as that of the inspection jig 24 shown in FIG. 3, the same reference numerals as those of the components of the inspection jig 24 are given, and detailed description thereof is omitted.

検査治具120を構成する形状検査部122及び外観検査部124は、共通のプレート126上に配置される。検査治具120は、図1に示す検査治具24に代えて、ボルト26a〜26dにより支持台22に載置固定される。支持台22の内部には、形状検査部122に位置決めされた製品Wの製品形状の検査を行うとともに、外観検査部124に位置決めされた製品Wの傷や汚れ等の外観検査を行うためのCCDカメラ20が配置される。   The shape inspection unit 122 and the appearance inspection unit 124 constituting the inspection jig 120 are arranged on a common plate 126. The inspection jig 120 is placed and fixed on the support base 22 by bolts 26a to 26d instead of the inspection jig 24 shown in FIG. Inside the support base 22, a CCD for inspecting the product shape of the product W positioned in the shape inspection unit 122 and inspecting the appearance of the product W positioned in the appearance inspection unit 124 such as scratches and dirt. A camera 20 is arranged.

外観検査部124は、CCDカメラ20により製品Wの外観を撮影するため、プレート126に形成された方形状の開口部128を有する。この開口部128の周縁部の所定位置には、製品Wの係合孔14a、14bに係合する2本のガイドピン130a、130bと、製品Wが外観検査部124に装着されたことを検知する製品検知センサ132とが配設される。   The appearance inspection unit 124 has a rectangular opening 128 formed in the plate 126 in order to photograph the appearance of the product W by the CCD camera 20. It is detected that two guide pins 130a and 130b engaged with the engagement holes 14a and 14b of the product W and the product W are attached to the appearance inspection unit 124 at predetermined positions on the peripheral edge of the opening 128. The product detection sensor 132 is disposed.

次に、図11に示すフローチャートに基づき、検査治具120を用いた製品検査方法について説明する。   Next, a product inspection method using the inspection jig 120 will be described based on the flowchart shown in FIG.

作業者は、検査対象となる製品Wに対応した検査治具120を支持台22に設置し、形状検査部122に製品Wを位置決めして、製品Wの形状検査を行う(ステップS11)。なお、製品Wの形状検査方法は、図3に示す検査治具24を用いた検査方法と同様であるため、その説明は省略する。   The operator installs the inspection jig 120 corresponding to the product W to be inspected on the support base 22, positions the product W on the shape inspection unit 122, and performs the shape inspection of the product W (step S11). The shape inspection method for the product W is the same as the inspection method using the inspection jig 24 shown in FIG.

製品Wの形状検査が終了すると(ステップS12、YES)、制御部106(図6参照)は、製品Wの検査モードを、形状検査モードから外観検査モードに切り替える(ステップS13)。そこで、作業者は、閾値設定部108を用いて、外観検査のための閾値の設定を行う(ステップS14)。設定した閾値は、閾値メモリ116に記憶される。なお、閾値の設定は、必ずしも検査モードの切り替え毎に行う必要はなく、複数の閾値を予め閾値メモリ116に記憶させておき、検査モードに応じた製品Wに対応する閾値を閾値メモリ116から読み出すようにしてもよい。   When the shape inspection of the product W is completed (step S12, YES), the control unit 106 (see FIG. 6) switches the inspection mode of the product W from the shape inspection mode to the appearance inspection mode (step S13). Therefore, the worker uses the threshold setting unit 108 to set a threshold for appearance inspection (step S14). The set threshold value is stored in the threshold value memory 116. The threshold value need not always be set every time the inspection mode is switched. A plurality of threshold values are stored in the threshold memory 116 in advance, and the threshold value corresponding to the product W corresponding to the inspection mode is read from the threshold memory 116. You may do it.

ここで、外観検査のための閾値とは、傷や汚れ等のない理想的な状態にある製品Wの表面をCCDカメラ20により撮影して得られた理想画像と、検査対象である製品Wを撮影して得られた検査画像とを比較し、検査対象である製品Wの表面が許容できる状態であるか否かを判定するための閾値である。この閾値は、例えば、理想画像の全体濃度と検査画像の全体濃度とを比較するための1つの閾値、又は、理想画像及び検査画像を複数の領域に分割し、各領域の濃度を比較するための複数の閾値として設定することができる。   Here, the threshold value for appearance inspection refers to an ideal image obtained by photographing the surface of the product W in an ideal state free from scratches and dirt with the CCD camera 20 and the product W to be inspected. This is a threshold value for comparing the inspection image obtained by photographing and determining whether or not the surface of the product W to be inspected is in an acceptable state. This threshold value is, for example, one threshold value for comparing the overall density of the ideal image and the overall density of the inspection image, or for dividing the ideal image and the inspection image into a plurality of areas and comparing the density of each area. Can be set as a plurality of threshold values.

検査モードが外観検査モードに切り替えられた後、作業者は、形状検査が終了した製品Wを形状検査部122から取り外し、外観検査部124を構成するガイドピン130a、130bに製品Wの係合孔14a、14bを係合させる。このとき、開口部128の周縁部に配設されている製品検知センサ132が製品Wを検知する(ステップS15)。   After the inspection mode is switched to the appearance inspection mode, the operator removes the product W whose shape inspection has been completed from the shape inspection unit 122, and engages the guide pins 130a and 130b constituting the appearance inspection unit 124 with the engagement holes of the product W. 14a and 14b are engaged. At this time, the product detection sensor 132 disposed on the peripheral edge of the opening 128 detects the product W (step S15).

制御部106は、製品検知センサ132から製品検知信号を受信すると、画像コントローラ110を介してCCDカメラ20を駆動する。画像コントローラ110は、CCDカメラ20を制御し、開口部128を介して製品Wの表面を撮影する(ステップS16)。   When receiving the product detection signal from the product detection sensor 132, the control unit 106 drives the CCD camera 20 via the image controller 110. The image controller 110 controls the CCD camera 20 and photographs the surface of the product W through the opening 128 (step S16).

画像コントローラ110は、CCDカメラ20によって撮影された製品Wの表面の画像を処理し、例えば、当該画像の全体の濃度と、ステップS14で設定され、閾値メモリ110に記憶されている閾値とを比較し、表面に不適切な傷や汚れが有るかどうかの良否判定(OK/NG判定)を行い、その判定結果を制御部106に供給する(ステップS17)。   The image controller 110 processes the image of the surface of the product W photographed by the CCD camera 20, and compares, for example, the overall density of the image with the threshold value set in step S14 and stored in the threshold value memory 110. Then, a quality determination (OK / NG determination) is made as to whether or not the surface has inappropriate scratches or dirt, and the determination result is supplied to the control unit 106 (step S17).

制御部106は、判定結果を、例えば、OK/NGランプ112を用いて作業者に報知する(ステップS18)。以上の処理を繰り返すことにより(ステップS19)、多数の製品Wの外観検査を効率的に行うことができる。なお、形状検査部122による製品Wの形状検査に先立ち、外観検査部124による製品Wの外観検査を行うようにしてもよいことは勿論である。   The control unit 106 notifies the operator of the determination result using, for example, the OK / NG lamp 112 (step S18). By repeating the above processing (step S19), it is possible to efficiently inspect the appearance of many products W. Needless to say, the appearance inspection of the product W by the appearance inspection unit 124 may be performed prior to the shape inspection of the product W by the shape inspection unit 122.

このように、検査治具120を用いることにより、形状検査部122による製品Wの形状検査、例えば、検査部12a〜12cの本数、有無、長さ、凹部からなる検査部12dの深さ等の製品形状の検査に続けて、外観検査部124による製品Wの外観検査、例えば、製品Wの表面の傷、汚れ、不適切な変形、部品の欠損、又は、表面に記録されている文字の認識等の外観検査を効率的に行うことができる。この結果、形状検査部122と外観検査部124とが独立に構成される検査治具に比較すると、作業工程を削減できるとともに、作業に要するコストの削減にも寄与することができる。   In this way, by using the inspection jig 120, the shape inspection of the product W by the shape inspection unit 122, such as the number, presence / absence, length of the inspection units 12a to 12c, the depth of the inspection unit 12d formed of the recesses, and the like. Following the inspection of the product shape, the appearance inspection of the product W by the appearance inspection unit 124, for example, the surface of the product W is scratched, dirty, improperly deformed, missing parts, or recognition of characters recorded on the surface The visual inspection such as can be efficiently performed. As a result, as compared with an inspection jig in which the shape inspection unit 122 and the appearance inspection unit 124 are configured independently, the work process can be reduced and the cost required for the work can be reduced.

なお、本発明は、上述した実施の形態に限定されるものではなく、本発明の主旨を逸脱しない範囲で変更することが可能である。   The present invention is not limited to the above-described embodiment, and can be modified without departing from the gist of the present invention.

例えば、製品Wの製品形状の良否判定を行うための閾値は、製品検査装置10の検査治具24に対して正しい形状からなる基準製品をセットし、この基準製品を位置決めしたときに得られる変位ブロック68の画像に基づく所定の許容範囲として自動設定することもできる。同様にして、製品Wの外観の良否判定を行うための閾値も、基準製品に基づいて自動設定することができる。   For example, the threshold value for determining the quality of the product shape of the product W is a displacement obtained when a reference product having a correct shape is set on the inspection jig 24 of the product inspection apparatus 10 and the reference product is positioned. The predetermined allowable range based on the image of the block 68 can be automatically set. Similarly, a threshold value for determining the quality of the appearance of the product W can be automatically set based on the reference product.

また、検査治具24及び検査治具120の形状検査部122を構成する伝達部材としては、第1ブロックの変位を増幅して第2ブロックに伝達できるものであれば、リンク部材78以外の機構を用いてもよい。   Further, as a transmission member constituting the shape inspection section 122 of the inspection jig 24 and the inspection jig 120, any mechanism other than the link member 78 can be used as long as it can amplify the displacement of the first block and transmit it to the second block. May be used.

また、製品Wの外観検査においては、製品Wの表面を撮影して得られた画像をディスプレイに表示させ、作業者がその画像を目視で確認して良否判定を行うようにしてもよい。   In addition, in the appearance inspection of the product W, an image obtained by photographing the surface of the product W may be displayed on a display, and the operator may visually confirm the image to make a pass / fail determination.

また、図10に示す検査治具120では、CCDカメラ20を固定した状態で、製品Wの形状検査を行うための変位ブロック68の画像と、製品Wの外観検査を行うための製品Wの画像とを同時に撮影可能としている。これに対して、形状検査部122の撮影位置と外観検査部124の撮影位置との間を、CCDカメラ20が移動可能となるように構成し、各撮影位置において、変位ブロック68の画像と製品Wの表面の画像とをそれぞれ撮影して検査を行うように構成してもよい。   In the inspection jig 120 shown in FIG. 10, the image of the displacement block 68 for inspecting the shape of the product W and the image of the product W for inspecting the appearance of the product W with the CCD camera 20 fixed. Can be taken at the same time. On the other hand, the CCD camera 20 is configured to be movable between the imaging position of the shape inspection unit 122 and the imaging position of the appearance inspection unit 124, and the image of the displacement block 68 and the product at each imaging position. You may comprise so that it may test | inspect by image | photographing the image of the surface of W, respectively.

また、検査治具120の外観検査部124において、ガイドピン130a、130bの位置を調整可能に構成することにより、形状の異なる種々の製品Wに対応した製品検査装置とすることができる。   In addition, by configuring the appearance inspection unit 124 of the inspection jig 120 so that the positions of the guide pins 130a and 130b can be adjusted, a product inspection apparatus corresponding to various products W having different shapes can be obtained.

さらに、図1に示す製品検査装置10においては、製品形状のみを検査可能な検査治具24を用いて製品Wの形状検査を行った後、検査治具24を図9に示す外観検査部124のみを有する検査治具に置き換えて、外観検査を行うようにしてもよい。   Further, in the product inspection apparatus 10 shown in FIG. 1, after the shape inspection of the product W is performed using the inspection jig 24 capable of inspecting only the product shape, the inspection jig 24 is subjected to the appearance inspection unit 124 shown in FIG. It is possible to replace the inspection jig having only the above and perform an appearance inspection.

10…製品検査装置
12a〜12d…検査部
14a、14b…係合孔
16a〜16d…基準部
18…照明光源
20…CCDカメラ
22…支持台
24、120…検査治具
30…下部プレート
34…上部プレート
38a〜38d…位置決めボルト
40a〜40d…検査ユニット
42…トリガセンサ
46a、46b、130a、130b…ガイドピン
48、132…製品検知センサ
56…支持部材
68…変位ブロック
78…リンク部材
82…連結ブロック
98…スプリング
100…押圧ピン
102…検知ブロック
106…制御部
108…閾値設定部
110…画像コントローラ
112…OK/NGランプ
114…警告ブザー
116…閾値メモリ
122…形状検査部
124…外観検査部
126…プレート
W…製品
DESCRIPTION OF SYMBOLS 10 ... Product inspection apparatus 12a-12d ... Inspection part 14a, 14b ... Engagement hole 16a-16d ... Reference | standard part 18 ... Illumination light source 20 ... CCD camera 22 ... Support stand 24, 120 ... Inspection jig 30 ... Lower plate 34 ... Upper part Plate 38a-38d ... Positioning bolt 40a-40d ... Inspection unit 42 ... Trigger sensor 46a, 46b, 130a, 130b ... Guide pin 48, 132 ... Product detection sensor 56 ... Support member 68 ... Displacement block 78 ... Link member 82 ... Connection block 98 ... Spring 100 ... Pressing pin 102 ... Detection block 106 ... Control unit 108 ... Threshold setting unit 110 ... Image controller 112 ... OK / NG lamp 114 ... Warning buzzer 116 ... Threshold memory 122 ... Shape inspection unit 124 ... Appearance inspection unit 126 ... Plate W ... Product

Claims (6)

製品の基準部が当接することで、前記製品を位置決めする位置決め手段と、
前記製品の所定部位に配設された検査部により押圧されて変位する第1ブロックと、
前記第1ブロックに一端部が連結され、前記第1ブロックの変位を増幅して他端部に伝達する伝達部材と、
前記伝達部材の前記他端部に連結され、前記伝達部材により変位する第2ブロックと、
前記位置決め手段により前記製品が位置決めされたときの前記第2ブロックの位置を検出する検出手段と、
を備えることを特徴とする製品検査装置。
Positioning means for positioning the product by contacting the reference portion of the product;
A first block that is pressed and displaced by an inspection section disposed in a predetermined part of the product;
A transmission member having one end connected to the first block, amplifying the displacement of the first block and transmitting the amplified displacement to the other end;
A second block connected to the other end of the transmission member and displaced by the transmission member;
Detecting means for detecting the position of the second block when the product is positioned by the positioning means;
A product inspection apparatus comprising:
請求項1記載の製品検査装置において、
前記伝達部材は、一端部が前記第1ブロックに連結され、他端部が前記第2ブロックに連結され、中間部が軸体により回動可能に支持されるリンク部材から構成され、前記リンク部材が回動することによる前記一端部の変位を増幅して前記他端部に伝達することを特徴とする製品検査装置。
The product inspection apparatus according to claim 1,
The transmission member includes a link member having one end connected to the first block, the other end connected to the second block, and an intermediate portion rotatably supported by a shaft. A product inspection apparatus characterized by amplifying the displacement of the one end due to the rotation of the rotation and transmitting it to the other end.
請求項1又は2に記載の製品検査装置において、
前記検出手段により検出した前記第2ブロックの位置を所定の閾値と比較して判定する判定手段と、
前記判定手段による判定結果を報知する報知手段と、
を備えることを特徴とする製品検査装置。
The product inspection apparatus according to claim 1 or 2,
Determination means for comparing the position of the second block detected by the detection means with a predetermined threshold;
Notification means for notifying the determination result by the determination means;
A product inspection apparatus comprising:
請求項1〜3のいずれか1項に記載の製品検査装置において、
前記検出手段は、前記第2ブロックの画像を撮影するカメラから構成されることを特徴とする製品検査装置。
In the product inspection apparatus according to any one of claims 1 to 3,
The product inspection apparatus according to claim 1, wherein the detection unit includes a camera that captures an image of the second block.
請求項4記載の製品検査装置において、
前記製品の外観を検査する外観検査部を備え、
前記カメラは、前記外観検査部に配置された前記製品の外観を撮影することを特徴とする製品検査装置。
The product inspection apparatus according to claim 4,
An appearance inspection unit for inspecting the appearance of the product,
The product inspection apparatus, wherein the camera photographs an appearance of the product arranged in the appearance inspection unit.
製品の所定部位に配設された検査部により第1ブロックを変位させる第1ステップと、
前記第1ブロックの変位を増幅して第2ブロックに伝達し、前記第2ブロックを変位させる第2ステップと、
前記第2ブロックの画像を撮影し、前記画像に基づいて前記第2ブロックの位置を求める第3ステップと、
を含み、前記第2ブロックの位置に基づいて前記製品を検査することを特徴とする製品検査方法。
A first step of displacing the first block by an inspection unit disposed at a predetermined part of the product;
A second step of amplifying and transmitting the displacement of the first block to the second block and displacing the second block;
A third step of taking an image of the second block and determining a position of the second block based on the image;
And inspecting the product based on the position of the second block.
JP2010255714A 2009-11-16 2010-11-16 Apparatus and method for inspecting product Pending JP2011123056A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2010255714A JP2011123056A (en) 2009-11-16 2010-11-16 Apparatus and method for inspecting product

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2009261077 2009-11-16
JP2009261077 2009-11-16
JP2010255714A JP2011123056A (en) 2009-11-16 2010-11-16 Apparatus and method for inspecting product

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2011123056A true JP2011123056A (en) 2011-06-23

Family

ID=44287056

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2010255714A Pending JP2011123056A (en) 2009-11-16 2010-11-16 Apparatus and method for inspecting product

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2011123056A (en)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101588442B1 (en) * 2015-02-09 2016-01-26 주식회사 정남 A test apparatus for a car lamp assembly
WO2023120266A1 (en) * 2021-12-24 2023-06-29 トヨタ自動車株式会社 Inspection device and inspection method

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101588442B1 (en) * 2015-02-09 2016-01-26 주식회사 정남 A test apparatus for a car lamp assembly
WO2023120266A1 (en) * 2021-12-24 2023-06-29 トヨタ自動車株式会社 Inspection device and inspection method

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP6425755B2 (en) Foreign substance inspection method of substrate
WO2009090871A1 (en) Apparatus for inspecting subject to be inspected
JP2012032344A (en) Picture measuring device, picture measuring method and program for picture measuring device
US7477370B2 (en) Method of detecting incomplete edge bead removal from a disk-like object
JP2010175491A (en) Apparatus and method for inspecting nozzle plate
JP5589888B2 (en) Evaluation apparatus for surface inspection apparatus and evaluation method for surface inspection apparatus
JP2011220794A (en) Calibration jig and imaging apparatus calibration method using the same
KR101802843B1 (en) Automated Vision Inspection System
JP2007240207A (en) Tool inspection apparatus and method
JP2011158363A (en) Soldering inspection device for pga mounting substrate
KR101470424B1 (en) Testing apparatus for lens
JP2011123056A (en) Apparatus and method for inspecting product
JP2006220427A (en) Device for inspecting substrate
WO2021033396A1 (en) Wafer appearance inspection device and method
JP5060821B2 (en) Substrate inspection apparatus and substrate inspection method
JP2005283267A (en) Through hole measuring device, method, and program for through hole measurement
JP4563254B2 (en) IC parts bump inspection system
JP5758474B2 (en) Sitting posture determination device for semiconductor package test
JP5635946B2 (en) Printed matter inspection method and printed matter inspection apparatus
JP2007294815A (en) Visual inspection method and apparatus
JP4757595B2 (en) Mounting component inspection equipment
JP2014185878A (en) Fixing state determination apparatus and fixing state determination method
TWI807567B (en) Multifunctional standard calibration piece and detecting method of optical detecting apparatus
JP2009085900A (en) System and method for testing component
WO2021039019A1 (en) Wafer appearance inspection device and method