JP2011123053A - 測定方法及び測定装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】物体の表面の形状を測定する測定方法であって、他の領域と重なり合う領域を有する前記表面の複数の領域のそれぞれに対する表面測定によって前記複数の領域のそれぞれの形状のデータを得るステップと、得られた前記形状のデータに基づいて、前記重なり合う領域での形状の差が最小になるように、前記表面測定の誤差を求めるステップと、前記形状のデータと前記誤差とに基づいて、前記表面の形状を求めるステップと、を有し、前記形状のデータは、要求精度に基づいて決定された閾値を超える空間周波数を有する成分を含まないように得られる、ことを特徴とする測定方法を提供する。
【選択図】図3
Description
Pi(x,y)=Mi(x,y)−AEi(x−xi,y−yi)−SE(x−xi,y−yi) ・・・(式1)
D=Sum1[((Mi(x,y)−Mj(x,y))−(AEi(x−xi,y−yi)−AEj(x−xj,y−yj))−(SE(x−xi,y−yi)−SE(x−xj,y−yj)))2] ・・・(式2)
AEi(x,y)=a1i+a2i・x+a3i・y ・・・(式3)
SE(x,y)=Sum2[aj・fj(x,y)] ・・・(式4)
Mi’(x,y)=Mi(x,y)−AEi(x−xi,y−yi)−SE(x−xi,y−yi) ・・・(式5)
P(x,y)=Sum0[Mi’(x,y)/Count(x,y),{i=1,N}] ・・・(式6)
Claims (14)
- 物体の表面の形状を測定する測定方法であって、
他の領域と重なり合う領域を有する前記表面の複数の領域のそれぞれに対する表面測定によって前記複数の領域のそれぞれの形状のデータを得るステップと、
得られた前記形状のデータに基づいて、前記重なり合う領域での形状の差が最小になるように、前記表面測定の誤差を求めるステップと、
前記形状のデータと前記誤差とに基づいて、前記表面の形状を求めるステップと、
を有し、
前記形状のデータは、要求精度に基づいて決定された閾値を超える空間周波数を有する成分を含まないように得られる、ことを特徴とする測定方法。 - 前記形状のデータを得るステップは、干渉計を用いてなされる、ことを特徴とする請求項1に記載の測定方法。
- 前記形状のデータは、前記干渉計において光学的ローパスフィルタを用いて得られる、ことを特徴とする請求項2に記載の測定方法。
- 前記形状のデータは、前記干渉計によって得られた形状のデータをローパスフィルタでフィルタリングして得られる、ことを特徴とする請求項2に記載の測定方法。
- 前記ローパスフィルタのカットオフ周波数を決定するステップを更に有する、ことを特徴とする請求項4に記載の測定方法。
- 前記形状のデータは、多項式で表現され、前記多項式の最大次数に対応する空間周波数は、前記カットオフ周波数より低くない、ことを特徴とする請求項5に記載の測定方法。
- 前記カットオフ周波数を決定するステップは、前記干渉計によって得られた形状のデータを前記ローパスフィルタでフィルタリングせずに得られたデータに基づいて前記表面の一時的な形状を求め、求められた前記一時的な形状の空間周波数成分に基づいて前記カットオフ周波数を決定する、ことを特徴とする請求項5に記載の測定方法。
- 物体の表面の形状を測定する測定装置であって、
他の領域と重なり合う領域を有する前記表面の複数の領域のそれぞれに対する表面測定によって前記複数の領域のそれぞれの形状のデータを得る測定部と、
得られた前記形状のデータに基づいて前記表面の形状を求める処理部と、
を有し、
前記処理部は、前記形状のデータに基づいて、前記重なり合う領域での形状の差が最小になるように、前記表面測定の誤差を求め、前記形状のデータと前記誤差とに基づいて、前記表面の形状を求め、
前記形状のデータは、要求精度に基づいて決定された閾値を超える空間周波数を有する成分を含まないように得られる、ことを特徴とする測定装置。 - 前記測定部は、干渉計を含む、ことを特徴とする請求項8に記載の測定装置。
- 前記干渉計は、光学的ローパスフィルタを含み、前記形状のデータは、前記光学的ローパスフィルタを介して得られる、ことを特徴とする請求項9に記載の測定装置。
- 前記形状のデータは、前記干渉計によって得られた形状のデータをローパスフィルタでフィルタリングして得られる、ことを特徴とする請求項9に記載の測定装置。
- 前記処理部は、前記ローパスフィルタのカットオフ周波数を決定する、ことを特徴とする請求項11に記載の測定装置。
- 前記処理部は、前記形状のデータを多項式で表現し、前記多項式の最大次数に対応する空間周波数は、前記カットオフ周波数より低くない、ことを特徴とする請求項12に記載の測定装置。
- 前記処理部は、前記干渉計によって得られた形状のデータを前記ローパスフィルタでフィルタリングせずに得られたデータに基づいて前記表面の一時的な形状を求め、求められた前記一時的な形状の空間周波数成分に基づいて前記カットオフ周波数を決定する、ことを特徴とする請求項12に記載の測定装置。
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