JP2011105911A - Epoxy resin composition containing silicone rubber fine particle, prepreg, metal-clad laminate, printed wiring board, and semiconductor device - Google Patents

Epoxy resin composition containing silicone rubber fine particle, prepreg, metal-clad laminate, printed wiring board, and semiconductor device Download PDF

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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an epoxy resin composition containing silicone rubber fine particles, which satisfactorily infiltrates into base materials and from which a prepreg having excellent flame retardancy, low thermal expansion property, drillability, and resistance to desmear is produced, and a metal-clad laminate in which occurrence of streak-shaped irregularity in its surface is extremely suppressed, is produced, to provide the prepreg produced by using the epoxy resin composition, to provide the metal-clad laminate produced by using the epoxy resin composition or the prepreg, to provide a printed wiring board produced by using at least one of the metal-clad laminate, the prepreg and the epoxy resin composition, and to provide a semiconductor device produced by using the printed wiring board and having excellent performance. <P>SOLUTION: The epoxy resin composition contains an epoxy resin, silicone rubber fine particles having an average particle diameter of 1-10 μm, boehmite fine particles having an average particle diameter of 0.2-5 μm, and silica nanoparticles having an average particle diameter of 10-100 nm. <P>COPYRIGHT: (C)2011,JPO&INPIT

Description

本発明は、シリコーンゴム微粒子含有エポキシ樹脂組成物(以下、単に「エポキシ樹脂組成物」と称する場合がある。)、プリプレグ、金属張積層板、プリント配線板及び半導体装置に関するものである。   The present invention relates to a silicone rubber fine particle-containing epoxy resin composition (hereinafter sometimes simply referred to as “epoxy resin composition”), a prepreg, a metal-clad laminate, a printed wiring board, and a semiconductor device.

近年、電子機器の高機能化等の要求に伴い、電子部品の高密度集積化、さらには高密度実装化等が進んでおり、これらに使用される高密度実装対応のプリント配線板等は、従来にも増して、小型薄型化、高密度化、及び多層化が進んでいる。従って、難燃性等の基本要求を満たし、且つ、高密度で微細な導体パターンを形成できるプリント配線板として、特に、低熱膨張性、ドリル加工性に優れ、デスミア処理を良好に行うことができるものが求められている。   In recent years, with the demand for higher functionality of electronic devices, etc., high-density integration of electronic components, and further high-density mounting, etc. are progressing. Compared to the prior art, miniaturization, thinning, high density, and multilayering are progressing. Therefore, as a printed wiring board that satisfies basic requirements such as flame retardancy and can form a high-density and fine conductor pattern, it is particularly excellent in low thermal expansion and drill workability, and can perform desmear treatment well. Things are sought.

プリント配線板の製造に用いられるプリプレグは、一般的に、エポキシ樹脂等の熱硬化性樹脂を主成分とする樹脂組成物を溶剤に溶解させてワニスとし、これを基材に含浸させて加熱乾燥させることにより作製される。従来、プリプレグの耐熱性、低熱膨張性、デスミア耐性等を向上させるために無機充填剤を含有させた樹脂組成物、あるいはプリプレグのドリル加工性等を向上させるために可とう成分を含有させた樹脂組成物を用いて、プリプレグの作製が行われている。   A prepreg used for the production of a printed wiring board is generally a resin composition mainly composed of a thermosetting resin such as an epoxy resin dissolved in a solvent to form a varnish, which is impregnated into a base material and dried by heating. It is produced by making it. Conventionally, a resin composition containing an inorganic filler to improve the heat resistance, low thermal expansion, desmear resistance, etc. of a prepreg, or a resin containing a flexible component to improve the drill workability of a prepreg, etc. A prepreg is produced using the composition.

例えば、特許文献1に開示されているエポキシ樹脂組成物は、エポキシ樹脂、硬化剤、水酸化アルミニウム又は球状シリカ及び水酸化アルミニウムを含む無機充填剤、コアシェル構造を有し、シェル部分が前記エポキシ樹脂と相溶する樹脂で構成されている微粒子からなる可とう成分を含有し、硬化状態での厚み(Z)方向の熱膨張係数αが48以下であることを特徴とし、前記エポキシ樹脂組成物を用いて作製した積層板が、寸法安定性及び孔あけ加工性が良好で、孔あけ加工時のクラックの発生が抑制されることが記載されている。 For example, the epoxy resin composition disclosed in Patent Document 1 has an epoxy resin, a curing agent, an inorganic filler containing aluminum hydroxide or spherical silica and aluminum hydroxide, a core-shell structure, and the shell portion is the epoxy resin. The epoxy resin composition is characterized in that it contains a flexible component composed of fine particles composed of a resin compatible with the resin and has a thermal expansion coefficient α z in the thickness (Z) direction in a cured state of 48 or less. It is described that the laminate produced using the slab has good dimensional stability and drilling workability and suppresses the generation of cracks during drilling.

特開2009−74036号公報JP 2009-74036 A

しかしながら、無機充填材の微粒子又は可とう成分の微粒子を多量に含有した樹脂組成物のワニスは、粘度が高くなるため、基材へ充分量の樹脂組成物を含浸させること、及び微粒子を均一に含浸させることが困難となったり、プリプレグの凹凸と微粒子による圧力がばらつくことにより、樹脂と微粒子との分離が発生しやすく、得られる金属張積層板にスジ状のムラが発生したりするという問題点がある。   However, since the varnish of the resin composition containing a large amount of inorganic filler fine particles or flexible component fine particles has a high viscosity, the substrate is impregnated with a sufficient amount of the resin composition, and the fine particles are uniformly dispersed. Difficult to impregnate, or unevenness of the prepreg and the pressure due to the fine particles may cause separation between the resin and the fine particles, resulting in streaky unevenness in the resulting metal-clad laminate. There is a point.

本発明は、上記実情を鑑みて成し遂げられたものであり、本発明の目的は、基材への含浸性が良好で、難燃性、低熱膨張性、ドリル加工性、及びデスミア耐性に優れるプリプレグを作製でき、表面のスジ状ムラの発生が非常に少ない金属張積層板を作製できる、シリコーンゴム微粒子含有エポキシ樹脂組成物を提供することにある。
本発明の別の目的は、前記シリコーンゴム微粒子含有エポキシ樹脂組成物を用いて作製したプリプレグ、前記シリコーンゴム微粒子含有エポキシ樹脂組成物又は前記プリプレグを用いて作製した金属張積層板、前記金属積層板、前記プリプレグ、及び前記エポキシ樹脂組成物のうち少なくともいずれか1つを用いて作製したプリント配線板、及び前記プリント配線板を用いて作製した性能に優れる半導体装置、を提供することにある。
The present invention has been accomplished in view of the above circumstances, and an object of the present invention is to provide a prepreg having good impregnation into a base material and excellent in flame retardancy, low thermal expansion, drill workability, and desmear resistance. It is an object of the present invention to provide a silicone rubber fine particle-containing epoxy resin composition capable of producing a metal-clad laminate with very little occurrence of surface unevenness.
Another object of the present invention is to provide a prepreg produced using the silicone rubber fine particle-containing epoxy resin composition, a metal-clad laminate produced using the silicone rubber fine particle-containing epoxy resin composition or the prepreg, and the metal laminated plate. Another object of the present invention is to provide a printed wiring board produced using at least one of the prepreg and the epoxy resin composition, and a semiconductor device excellent in performance produced using the printed wiring board.

上記の目的は、下記(1)〜(13)に記載の本発明により達成される。
(1)エポキシ樹脂と、平均粒子径1μm〜10μmのシリコーンゴム微粒子と、平均粒子径0.2μm〜5μmのベーマイト微粒子と、平均粒子径10nm〜100nmのシリカナノ粒子と、を含有することを特徴とする、エポキシ樹脂組成物。
(2)前記シリコーンゴム微粒子は、シリコーンゴムからなるコア部を、シリコーン樹脂で被覆したコアシェル構造粒子である、上記(1)に記載のエポキシ樹脂組成物。
(3)前記シリカナノ粒子の平均粒子径が40nm以上100nm以下である上記(1)又は(2)に記載のエポキシ樹脂組成物。
(4)さらに、シアネート樹脂を含むものである上記(1)乃至(3)のいずれか一に記載のエポキシ樹脂組成物。
(5)さらに、マレイミド樹脂を含むものである上記(1)乃至(4)のいずれか一に記載のエポキシ樹脂組成物。
(6)前記エポキシ樹脂は、ビフェニルアラルキル型エポキシ樹脂、ナフタレン骨格変性エポキシ樹脂、及びクレゾールノボラック型エポキシ樹脂よりなる群から選ばれる少なくとも1種である上記(1)乃至(5)のいずれか一に記載のエポキシ樹脂組成物。
(7)上記(1)乃至(6)のいずれか一に記載のエポキシ樹脂組成物を基材に含浸してなることを特徴とするプリプレグ。
(8)基材中に上記(1)乃至(6)のいずれか一に記載のエポキシ樹脂組成物を含浸してなる樹脂含浸基材層の少なくとも片面に金属箔を有することを特徴とする金属張積層板。
(9)上記(7)に記載のプリプレグ又は当該プリプレグを2枚以上重ね合わせた積層体の少なくとも片面に金属箔を重ね、加熱加圧することにより得られる上記(8)に記載の金属張積層板。
(10)上記(8)又は(9)に記載の金属張積層板を内層回路基板に用いてなることを特徴とするプリント配線板。
(11)内層回路上に、上記(7)に記載のプリプレグを絶縁層に用いてなるプリント配線板。
(12)内層回路上に、上記(1)乃至(6)のいずれか一に記載のエポキシ樹脂組成物を絶縁層に用いてなるプリント配線板。
(13)上記(10)乃至(12)のいずれか一に記載のプリント配線板に半導体素子を搭載してなることを特徴とする半導体装置。
The above object is achieved by the present invention described in the following (1) to (13).
(1) It contains an epoxy resin, silicone rubber fine particles having an average particle size of 1 μm to 10 μm, boehmite fine particles having an average particle size of 0.2 μm to 5 μm, and silica nanoparticles having an average particle size of 10 nm to 100 nm. An epoxy resin composition.
(2) The epoxy resin composition according to (1), wherein the silicone rubber fine particles are core-shell structure particles in which a core portion made of silicone rubber is coated with a silicone resin.
(3) The epoxy resin composition according to the above (1) or (2), wherein the silica nanoparticles have an average particle diameter of 40 nm to 100 nm.
(4) The epoxy resin composition according to any one of (1) to (3), further including a cyanate resin.
(5) The epoxy resin composition according to any one of (1) to (4), further including a maleimide resin.
(6) The epoxy resin is at least one selected from the group consisting of a biphenyl aralkyl type epoxy resin, a naphthalene skeleton-modified epoxy resin, and a cresol novolac type epoxy resin, according to any one of the above (1) to (5) The epoxy resin composition as described.
(7) A prepreg obtained by impregnating a base material with the epoxy resin composition according to any one of (1) to (6) above.
(8) A metal having a metal foil on at least one surface of a resin-impregnated substrate layer obtained by impregnating the epoxy resin composition according to any one of (1) to (6) in a substrate. Tension laminate.
(9) The metal-clad laminate according to (8), which is obtained by superimposing metal foil on at least one surface of the prepreg according to (7) or a laminate obtained by superimposing two or more prepregs, and heating and pressing. .
(10) A printed wiring board comprising the metal-clad laminate according to (8) or (9) described above as an inner layer circuit board.
(11) A printed wiring board obtained by using the prepreg described in (7) as an insulating layer on an inner layer circuit.
(12) A printed wiring board obtained by using the epoxy resin composition according to any one of (1) to (6) as an insulating layer on an inner layer circuit.
(13) A semiconductor device comprising a semiconductor element mounted on the printed wiring board according to any one of (10) to (12).

本発明によれば、シリコーンゴム微粒子と、ベーマイト粒子と、シリカナノ粒子とを組み合わせてエポキシ樹脂組成物に含有させることにより、前記エポキシ樹脂組成物のワニスは低粘度の状態で前記3種類の粒子を多量に含むことができ、前記エポキシ樹脂組成物の基材への含浸性が良好である。前記エポキシ樹脂組成物を用いて作製したプリプレグは、難燃性、低熱膨張性、ドリル加工性、及びデスミア耐性に優れる。前記エポキシ樹脂組成物又は前記プリプレグを用いて作製した金属張積層板は、表面のスジ状ムラの発生が非常に少ない。さらに、前記金属積層板、前記プリプレグ、及び前記エポキシ樹脂組成物のうち少なくともいずれか1つを用いて、性能に優れるプリント配線板を得ることができる。また、本発明によれば、前記プリント配線板を用いて、性能に優れる半導体装置を得ることができる。   According to the present invention, by combining silicone rubber fine particles, boehmite particles, and silica nanoparticles into the epoxy resin composition, the varnish of the epoxy resin composition can contain the three types of particles in a low viscosity state. A large amount can be contained, and the impregnation property to the base material of the said epoxy resin composition is favorable. The prepreg produced using the epoxy resin composition is excellent in flame retardancy, low thermal expansion, drill workability, and desmear resistance. The metal-clad laminate produced using the epoxy resin composition or the prepreg has very little occurrence of streak-like unevenness on the surface. Furthermore, the printed wiring board which is excellent in performance can be obtained using at least any one of the metal laminate, the prepreg, and the epoxy resin composition. Further, according to the present invention, a semiconductor device having excellent performance can be obtained using the printed wiring board.

本発明の金属張積層板の製造方法の一例に用いられる、金属箔、絶縁樹脂層、及び基材について、各々の幅方向寸法の形態例を示す概略図である。It is the schematic which shows the example of each width direction dimension about the metal foil, the insulating resin layer, and base material which are used for an example of the manufacturing method of the metal-clad laminated board of this invention. (1)実施例1で得られた金属張積層板の金属箔層の表面を撮影した写真であり、(2)比較例1で得られた金属張積層板の金属箔層の表面を撮影した写真であり、(3)金属張積層板の金属箔層の表面の写真を説明する図である。(1) It is the photograph which image | photographed the surface of the metal foil layer of the metal-clad laminate obtained in Example 1, (2) The surface of the metal foil layer of the metal-clad laminate obtained in Comparative Example 1 was imaged. It is a photograph and (3) It is a figure explaining the photograph of the surface of the metal foil layer of a metal-clad laminate.

(シリコーンゴム微粒子含有エポキシ樹脂組成物)
まず、シリコーンゴム微粒子含有エポキシ樹脂組成物について説明する。
本発明のシリコーンゴム微粒子含有エポキシ樹脂組成物は、エポキシ樹脂と、平均粒子径1μm〜10μmのシリコーンゴム微粒子と、平均粒子径0.2μm〜5μmのベーマイト微粒子と、平均粒子径10nm〜100nmのシリカナノ粒子と、を含有することを特徴とする。
シリコーンゴム微粒子と、ベーマイト粒子と、シリカナノ粒子とを併用してエポキシ樹脂組成物に含有させることにより、前記エポキシ樹脂組成物のワニスが低粘度の状態で、前記3種類の粒子を多量に含有させることができる。これは、正の表面ゼータ電位を有するベーマイト粒子の周囲に、負の表面ゼータ電位を有するシリカナノ粒子が選択的に付着し、同符号の表面ゼータ電位を有するシリコーンゴム微粒子とベーマイト粒子との反発力が弱まることにより、多量の粒子を含んでいてもワニスが低粘度となるからである。
(Silicone rubber fine particle-containing epoxy resin composition)
First, the silicone rubber fine particle-containing epoxy resin composition will be described.
The epoxy resin composition containing silicone rubber fine particles of the present invention comprises an epoxy resin, silicone rubber fine particles having an average particle size of 1 μm to 10 μm, boehmite fine particles having an average particle size of 0.2 μm to 5 μm, and silica nano particles having an average particle size of 10 nm to 100 nm. And particles.
Silicone rubber fine particles, boehmite particles, and silica nanoparticles are used in combination in the epoxy resin composition, so that the varnish of the epoxy resin composition has a low viscosity and contains a large amount of the three types of particles. be able to. This is because silica nanoparticles having a negative surface zeta potential selectively adhere around boehmite particles having a positive surface zeta potential, and the repulsive force between the silicone rubber fine particles having the same surface zeta potential and the boehmite particles. This is because the varnish has a low viscosity even if it contains a large amount of particles.

前記シリコーンゴム微粒子は、オルガノポリシロキサンで形成されたゴム弾性微粒子であれば特に限定されず、例えば、シリコーンゴム(オルガノポリシロキサン架橋エラストマー)そのものからなる微粒子、及びシリコーンゴムからなるコア部をシリコーン樹脂で被覆したコアシェル構造粒子等が挙げられる。前記シリコーンゴム微粒子としては、KMP−605、KMP−600、KMP−597、KMP−594(信越化学(株)製)、トレフィルE−500、トレフィルE−600(東レ・ダウコーニング(株)製)等の市販品を用いることができる。   The silicone rubber fine particles are not particularly limited as long as they are elastic rubber fine particles formed of organopolysiloxane. For example, the fine particles made of silicone rubber (organopolysiloxane crosslinked elastomer) itself, and the core portion made of silicone rubber are made of silicone resin. And core-shell structured particles coated with. As the silicone rubber fine particles, KMP-605, KMP-600, KMP-597, KMP-594 (manufactured by Shin-Etsu Chemical Co., Ltd.), Trefill E-500, Trefil E-600 (manufactured by Toray Dow Corning Co., Ltd.) Commercial products such as these can be used.

前記シリコーンゴム微粒子は、平均粒子径が1〜10μmであり、含浸性に優れる点から、1〜5μmが好ましい。   The silicone rubber fine particles have an average particle diameter of 1 to 10 μm and are preferably 1 to 5 μm from the viewpoint of excellent impregnation properties.

前記シリコーンゴム微粒子の含有量は、特に限定されないが、エポキシ樹脂組成物全体の固形分基準で5〜50重量%であることが好ましく、含浸性に優れる点から、特に10〜40重量%であることが好ましい。   The content of the silicone rubber fine particles is not particularly limited, but is preferably 5 to 50% by weight based on the solid content of the entire epoxy resin composition, and particularly 10 to 40% by weight from the viewpoint of excellent impregnation properties. It is preferable.

前記ベーマイト粒子は、酸化アルミニウムの1水和物であり、AOH−30(テスコ(株)製)、BN−100(河合石灰工業(株)製)等の市販品を用いることもできる。   The boehmite particles are monohydrates of aluminum oxide, and commercially available products such as AOH-30 (manufactured by Tesco Corporation) and BN-100 (manufactured by Kawai Lime Industry Co., Ltd.) can also be used.

前記ベーマイト粒子は、平均粒子径が0.2〜5μmであり、含浸性に優れる点から、0.5〜4μmが好ましい。   The boehmite particles have an average particle diameter of 0.2 to 5 μm, and 0.5 to 4 μm is preferable from the viewpoint of excellent impregnation properties.

前記ベーマイト粒子の含有量は、特に限定されないが、エポキシ樹脂組成物全体の固形分基準で5〜50重量%であることが好ましく、含浸性に優れる点から、特に10〜40重量%であることが好ましい。   The content of the boehmite particles is not particularly limited, but is preferably 5 to 50% by weight based on the solid content of the entire epoxy resin composition, and particularly 10 to 40% by weight from the viewpoint of excellent impregnation properties. Is preferred.

前記シリカナノ粒子は、平均粒子径が10〜100nmであり、含浸性の点から、40〜100nmが好ましい。平均粒子径が10nm未満では、基材のフィラメント間を広げることができず、また100nmより大きい場合は、フィラメント間に入り込むことができない場合があるからである。   The silica nanoparticles have an average particle diameter of 10 to 100 nm, and 40 to 100 nm is preferable from the viewpoint of impregnation. This is because if the average particle size is less than 10 nm, the space between the filaments of the substrate cannot be expanded, and if it is greater than 100 nm, it may not be possible to enter between the filaments.

前記シリカナノ粒子としては、特に限定されないが、例えば、VMC(Vaperized Metal Combution)法、PVS(Physical Vapor Synthesis)法等の燃焼法、破砕シリカを火炎溶融する溶融法、沈降法、ゲル法等の方法によって製造したものを用いることができる。これらの中でもVMC法が特に好ましい。前記VMC法とは、酸素含有ガス中で形成させた化学炎中にシリコン粉末を投入し、燃焼させた後、冷却することで、シリカ微粒子を形成させる方法である。前記VMC法では、投入するシリコン粉末の粒子径、投入量、火炎温度等を調整することにより、得られるシリカ微粒子の粒子径を調整できる。
また、NSS−5N(トクヤマ(株)製)、Sicastar43−00−501(Micromod社製)等の市販品を用いることもできる。
Although it does not specifically limit as said silica nanoparticle, For example, methods, such as combustion methods, such as VMC (Vaperized Metal Combution) method, PVS (Physical Vapor Synthesis) method, the melting method which flame-melts crushed silica, a sedimentation method, a gel method Can be used. Among these, the VMC method is particularly preferable. The VMC method is a method in which silica powder is formed by putting silicon powder into a chemical flame formed in an oxygen-containing gas, burning it, and then cooling it. In the VMC method, the particle diameter of the silica fine particles to be obtained can be adjusted by adjusting the particle diameter of the silicon powder to be input, the input amount, the flame temperature, and the like.
Commercially available products such as NSS-5N (manufactured by Tokuyama Co., Ltd.) and Sicastar 43-00-501 (manufactured by Micromod) can also be used.

前記シリカナノ粒子の含有量は、特に限定されないが、エポキシ樹脂組成物全体の固形分基準で1〜10重量%であることが好ましく、特に2〜5重量%であることが好ましい。含有量が前記範囲内であると、特に含浸性に優れる。   Although content of the said silica nanoparticle is not specifically limited, It is preferable that it is 1-10 weight% on the solid content basis of the whole epoxy resin composition, and it is especially preferable that it is 2-5 weight%. When the content is within the above range, the impregnation property is particularly excellent.

前記シリカナノ粒子の含有量に対する、前記シリコーンゴム微粒子の含有量の重量比(シリコーンゴム微粒子の重量/シリカナノ粒子の重量)は、特に限定されないが、1〜10であることが好ましく、特に2〜5であることが好ましい。   The weight ratio of the content of the silicone rubber fine particles to the content of the silica nanoparticles (weight of the silicone rubber fine particles / weight of the silica nanoparticles) is not particularly limited, but is preferably 1 to 10, particularly 2 to 5. It is preferable that

前記シリカナノ粒子の含有量に対する、前記ベーマイト粒子の含有量の重量比(ベーマイト粒子の重量/シリカナノ粒子の重量)は、特に限定されないが、1〜50であることが好ましく、特に2〜20であることが好ましい。   The weight ratio of the boehmite particle content to the silica nanoparticle content (boehmite particle weight / silica nanoparticle weight) is not particularly limited, but is preferably 1 to 50, and particularly 2 to 20. It is preferable.

前記シリカナノ粒子の含有量に対する、前記シリコーンゴム微粒子の含有量の重量比、及び前記シリカナノ粒子の含有量に対する、前記ベーマイト粒子の含有量の重量比は、前記範囲内であると、特に成形性を向上することができ、前記範囲より大きい又は小さいと、含浸性が悪くなり、ボイド発生による半田不具合耐熱性、絶縁信頼性の低下が起こりやすくなる。   When the weight ratio of the content of the silicone rubber fine particles to the content of the silica nanoparticles and the weight ratio of the boehmite particles to the content of the silica nanoparticles are within the above ranges, the moldability is particularly good. If it is larger or smaller than the above range, the impregnation property is deteriorated, and the solder failure heat resistance and the insulation reliability are easily lowered due to the generation of voids.

尚、前記シリコーンゴム微粒子、前記ベーマイト粒子、及び前記シリカナノ粒子の平均粒子径は、例えば、レーザー回折散乱法により測定することができる。粒子を水中で超音波により分散させ、レーザー回折式粒度分布測定装置(HOEIBA製、LA−500)により、粒子の粒度分布を体積基準で測定し、そのメディアン径を平均粒子径とする。具体的には、シリコーンゴム微粒子、ベーマイト粒子、シリカナノ粒子の平均粒子径はD50(メディアン径)で規定される。   The average particle diameter of the silicone rubber fine particles, the boehmite particles, and the silica nanoparticles can be measured by, for example, a laser diffraction scattering method. The particles are dispersed in water by ultrasonic waves, and the particle size distribution of the particles is measured on a volume basis by a laser diffraction particle size distribution analyzer (manufactured by HOEIBA, LA-500), and the median diameter is defined as the average particle diameter. Specifically, the average particle diameter of the silicone rubber fine particles, boehmite particles, and silica nanoparticles is defined by D50 (median diameter).

さらに、本発明のエポキシ樹脂組成物は、特性を損なわない範囲で、シリカ、水酸化アルミニウム、タルク等の無機充填剤を含んでいてもよい。   Furthermore, the epoxy resin composition of the present invention may contain an inorganic filler such as silica, aluminum hydroxide, and talc as long as the characteristics are not impaired.

前記エポキシ樹脂としては、特に限定されないが、例えば、ビスフェノールA型エポキシ樹脂、ビスフェノールF型エポキシ樹脂、ビスフェノールE型エポキシ樹脂、ビスフェノールS型エポキシ樹脂、ビスフェノールZ型エポキシ樹脂(4,4’−シクロヘキシジエンビスフェノール型エポキシ樹脂)、ビスフェノールP型エポキシ樹脂(4,4’−(1,4−フェニレンジイソプリジエン)ビスフェノール型エポキシ樹脂)、ビスフェノールM型エポキシ樹脂(4,4’−(1,3−フェニレンジイソプリジエン)ビスフェノール型エポキシ樹脂)等のビスフェノール型エポキシ樹脂、フェノールノボラック型エポキシ樹脂、クレゾールノボラック型エポキシ樹脂等のノボラック型エポキシ樹脂、ビフェニル型エポキシ樹脂、キシリレン型エポキシ樹脂、フェノールアラルキル型エポキシ樹脂、ビフェニルアラルキル型エポキシ樹脂、ビフェニルジメチレン型エポキシ樹脂、トリスフェノールメタンノボラック型エポキシ樹脂、1,1,2,2−(テトラフェノール)エタンのグリシジルエーテル類、3官能、又は4官能のグリシジルアミン類、テトラメチルビフェニル型エポキシ樹脂等のアリールアルキレン型エポキシ樹脂、ナフタレン骨格変性エポキシ樹脂、メトキシナフタレン変性クレゾールノボラック型エポキシ樹脂、メトキシナフタレンジメチレン型エポキシ樹脂等のナフタレン型エポキシ樹脂、アントラセン型エポキシ樹脂、フェノキシ型エポキシ樹脂、ジシクロペンタジエン型エポキシ樹脂、ノルボルネン型エポキシ樹脂、アダマンタン型エポキシ樹脂、フルオレン型エポキシ樹脂、上記エポキシ樹脂をハロゲン化した難燃化エポキシ樹脂等が挙げられる。これらの中の1種類を単独で用いることもできるし、異なる重量平均分子量を有する2種類以上を併用することもでき、1種類又は2種類以上と、それらのプレポリマーを併用することもできる。
これらのエポキシ樹脂の中でも特に、ビフェニルアラルキル型エポキシ樹脂、ナフタレン骨格変性エポキシ樹脂、及びクレゾールノボラック型エポキシ樹脂よりなる群から選ばれる少なくとも1種が好ましい。これにより、耐熱性及び難燃性を向上させる。
Although it does not specifically limit as said epoxy resin, For example, bisphenol A type epoxy resin, bisphenol F type epoxy resin, bisphenol E type epoxy resin, bisphenol S type epoxy resin, bisphenol Z type epoxy resin (4,4'-cyclohexyl) Diene bisphenol type epoxy resin), bisphenol P type epoxy resin (4,4 ′-(1,4-phenylenediisopridiene) bisphenol type epoxy resin), bisphenol M type epoxy resin (4,4 ′-(1,3) -Phenylenediisopridiene) bisphenol type epoxy resin), etc., novolac type epoxy resins such as phenol novolac type epoxy resin, cresol novolac type epoxy resin, biphenyl type epoxy resin, xylylene type epoxy resin. Xy resin, phenol aralkyl type epoxy resin, biphenyl aralkyl type epoxy resin, biphenyl dimethylene type epoxy resin, trisphenol methane novolac type epoxy resin, glycidyl ethers of 1,1,2,2- (tetraphenol) ethane, trifunctional , Or tetrafunctional glycidylamines, arylalkylene type epoxy resins such as tetramethylbiphenyl type epoxy resins, naphthalene skeleton modified epoxy resins, methoxynaphthalene modified cresol novolak type epoxy resins, naphthalene type epoxies such as methoxynaphthalenedylene methylene type epoxy resins Resin, anthracene type epoxy resin, phenoxy type epoxy resin, dicyclopentadiene type epoxy resin, norbornene type epoxy resin, adamantane type epoxy resin, fluorene Epoxy resins, flame-retarded epoxy resin or the like halogenated epoxy resins. One of these can be used alone, two or more having different weight average molecular weights can be used in combination, and one or two or more of these prepolymers can be used in combination.
Among these epoxy resins, at least one selected from the group consisting of biphenyl aralkyl type epoxy resins, naphthalene skeleton-modified epoxy resins, and cresol novolac type epoxy resins is preferable. Thereby, heat resistance and a flame retardance are improved.

前記エポキシ樹脂の含有量は、特に限定されないが、エポキシ樹脂組成物全体の固形分基準で5〜30重量%とすることが好ましい。含有量が前記下限値未満であると、エポキシ樹脂の硬化性が低下したり、当該エポキシ樹脂組成物より得られるプリプレグ、又はプリント配線板の耐湿性が低下したりする場合がある。また、前記上限値を超えると、プリプレグ又はプリント配線板の線熱膨張率が大きくなったり、耐熱性が低下したりする場合がある。   Although content of the said epoxy resin is not specifically limited, It is preferable to set it as 5 to 30 weight% on the solid content basis of the whole epoxy resin composition. If the content is less than the lower limit, the curability of the epoxy resin may decrease, or the prepreg obtained from the epoxy resin composition or the moisture resistance of the printed wiring board may decrease. Moreover, when the said upper limit is exceeded, the linear thermal expansion coefficient of a prepreg or a printed wiring board may become large, or heat resistance may fall.

前記エポキシ樹脂の重量平均分子量は、特に限定されないが、重量平均分子量40〜18000が好ましい。重量平均分子量が前記下限未満であると、ガラス転移点が低下し、前記上限値を超えると流動性が低下し、基材に含浸できない場合がある。重量平均分子量を前記範囲内とすることにより、含浸性に優れたものとすることができる。
前記エポキシ樹脂の重量平均分子量は、例えば、ゲル浸透クロマトグラフィー(GPC)で測定し、ポリスチレン換算の重量分子量として特定することができる。
Although the weight average molecular weight of the said epoxy resin is not specifically limited, The weight average molecular weight 40-18000 is preferable. If the weight average molecular weight is less than the lower limit, the glass transition point is lowered, and if it exceeds the upper limit, the fluidity is lowered and the substrate may not be impregnated. By setting the weight average molecular weight within the above range, the impregnation property can be improved.
The weight average molecular weight of the epoxy resin can be measured by gel permeation chromatography (GPC), for example, and can be specified as a weight molecular weight in terms of polystyrene.

本発明のエポキシ樹脂組成物は、特に限定されないが、シアネート樹脂を含むことが好ましい。これにより、難燃性をより向上させることができる。
前記シアネート樹脂は、特に限定されないが、例えば、ハロゲン化シアン化合物とフェノール類やナフトール類とを反応させ、必要に応じて加熱等の方法でプレポリマー化することにより得ることができる。また、このようにして調製された市販品を用いることもできる。
Although the epoxy resin composition of this invention is not specifically limited, It is preferable that cyanate resin is included. Thereby, a flame retardance can be improved more.
The cyanate resin is not particularly limited, and can be obtained, for example, by reacting a halogenated cyanide compound with phenols or naphthols, and prepolymerizing by a method such as heating as necessary. Moreover, the commercial item prepared in this way can also be used.

前記シアネート樹脂の種類としては、特に限定されないが、例えば、ノボラック型シアネート樹脂、ビスフェノールA型シアネート樹脂、ビスフェノールE型シアネート樹脂、テトラメチルビスフェノールF型シアネート樹脂等のビスフェノール型シアネート樹脂、及びナフトールアラルキル型シアネート樹脂等を挙げることができる。   The kind of the cyanate resin is not particularly limited. For example, bisphenol cyanate resin such as novolak type cyanate resin, bisphenol A type cyanate resin, bisphenol E type cyanate resin, tetramethylbisphenol F type cyanate resin, and naphthol aralkyl type. And cyanate resin.

前記シアネート樹脂は、分子内に2個以上のシアネート基(−O−CN)を有することが好ましい。例えば、2,2’−ビス(4−シアナトフェニル)イソプロピリデン、1,1’−ビス(4−シアナトフェニル)エタン、ビス(4−シアナト−3,5−ジメチルフェニル)メタン、1,3−ビス(4−シアナトフェニル−1−(1−メチルエチリデン))ベンゼン、ジシクロペンタジエン型シアネートエステル、フェノールノボラック型シアネートエステル、ビス(4−シアナトフェニル)チオエーテル、ビス(4−シアナトフェニル)エーテル、1,1,1−トリス(4−シアナトフェニル)エタン、トリス(4−シアナトフェニル)ホスファイト、ビス(4−シアナトフェニル)スルホン、2,2−ビス(4−シアナトフェニル)プロパン、1,3−、1,4−、1,6−、1,8−、2,6−又は2,7−ジシアナトナフタレン、1,3,6−トリシアナトナフタレン、4,4−ジシアナトビフェニル、及びフェノールノボラック型、クレゾールノボラック型の多価フェノール類と、ハロゲン化シアンとの反応で得られるシアネート樹脂、ナフトールアラルキル型の多価ナフトール類と、ハロゲン化シアンとの反応で得られるシアネート樹脂等が挙げられる。これらの中で、フェノールノボラック型シアネート樹脂が難燃性、及び低熱膨張性に優れ、2,2−ビス(4−シアナトフェニル)イソプロピリデン、及びジシクロペンタジエン型シアネートエステルが架橋密度の制御、及び耐湿信頼性に優れている。特に、フェノールノボラック型シアネート樹脂が低熱膨張性の点から好ましい。また、更に他のシアネート樹脂を1種類あるいは2種類以上併用したりすることもでき、特に限定されない。   The cyanate resin preferably has two or more cyanate groups (—O—CN) in the molecule. For example, 2,2′-bis (4-cyanatophenyl) isopropylidene, 1,1′-bis (4-cyanatophenyl) ethane, bis (4-cyanato-3,5-dimethylphenyl) methane, 3-bis (4-cyanatophenyl-1- (1-methylethylidene)) benzene, dicyclopentadiene type cyanate ester, phenol novolac type cyanate ester, bis (4-cyanatophenyl) thioether, bis (4-cyanato) Phenyl) ether, 1,1,1-tris (4-cyanatophenyl) ethane, tris (4-cyanatophenyl) phosphite, bis (4-cyanatophenyl) sulfone, 2,2-bis (4-si Anatophenyl) propane, 1,3-, 1,4-, 1,6-, 1,8-, 2,6- or 2,7-dicyanatonaphthalene, 1 Cyanate resin obtained by reaction of 3,6-tricyanatonaphthalene, 4,4-dicyanatobiphenyl, phenol novolac type, cresol novolac type polyhydric phenols with cyanogen halide, naphthol aralkyl type polyvalent naphthol And cyanate resin obtained by the reaction of a halogenated cyanide. Among these, phenol novolac-type cyanate resin is excellent in flame retardancy and low thermal expansion, and 2,2-bis (4-cyanatophenyl) isopropylidene and dicyclopentadiene-type cyanate ester are used to control the crosslinking density, Excellent moisture resistance reliability. In particular, a phenol novolac type cyanate resin is preferred from the viewpoint of low thermal expansion. Furthermore, other cyanate resins may be used alone or in combination of two or more, and are not particularly limited.

前記シアネート樹脂は、単独で用いてもよいし、重量平均分子量の異なるシアネート樹脂を併用したり、前記シアネート樹脂とそのプレポリマーとを併用したりすることもできる。
前記プレポリマーは、通常、前記シアネート樹脂を加熱反応等により、例えば3量化することで得られるものであり、エポキシ樹脂組成物の成形性、流動性を調整するために好ましく使用されるものである。
前記プレポリマーは、特に限定されないが、例えば、3量化率が20〜50重量%のプレポリマーを用いた場合、良好な成形性、流動性を発現できる。
The said cyanate resin may be used independently, can also use together cyanate resin from which a weight average molecular weight differs, or can also use together the said cyanate resin and its prepolymer.
The prepolymer is usually obtained by, for example, trimerizing the cyanate resin by a heating reaction or the like, and is preferably used for adjusting the moldability and fluidity of the epoxy resin composition. .
The prepolymer is not particularly limited. For example, when a prepolymer having a trimerization rate of 20 to 50% by weight is used, good moldability and fluidity can be expressed.

前記シアネート樹脂の含有量は、特に限定されないが、エポキシ樹脂組成物全体の固形分基準で5〜60重量%であることが好ましく、より好ましくは10〜50重量%であり、特に好ましくは10〜40重量%である。含有量が前記範囲内であると、シアネート樹脂は、効果的に耐熱性、及び難燃性を発現させることができる。シアネート樹脂の含有量が前記下限未満であると熱膨張性が大きくなり、耐熱性が低下する場合があり、前記上限値を超えるとエポキシ樹脂組成物を用いて作製したプリプレグの強度が低下する場合がある。   The content of the cyanate resin is not particularly limited, but is preferably 5 to 60% by weight, more preferably 10 to 50% by weight, and particularly preferably 10 to 50% by weight based on the solid content of the entire epoxy resin composition. 40% by weight. When the content is within the above range, the cyanate resin can effectively exhibit heat resistance and flame retardancy. When the cyanate resin content is less than the lower limit, thermal expansibility increases and heat resistance may decrease. When the upper limit value is exceeded, the strength of the prepreg produced using the epoxy resin composition decreases. There is.

また、本発明のエポキシ樹脂組成物は、特に限定されないが、マレイミド樹脂を含むことが好ましい。これにより、耐熱性を向上させることができる。
前記マレイミド樹脂としては、特に限定されないが、N,N’−(4,4’−ジフェニルメタン)ビスマレイミド、ビス(3−エチル−5−メチル−4−マレイミドフェニル)メタン、2,2−ビス[4−(4−マレイミドフェノキシ)フェニル]プロパン等のビスマレイミド樹脂が挙げられる。また、更に他のマレイミド樹脂を1種類あるいは2種類以上併用したりすることもでき、特に限定されない。
Moreover, although the epoxy resin composition of this invention is not specifically limited, It is preferable that maleimide resin is included. Thereby, heat resistance can be improved.
The maleimide resin is not particularly limited, but N, N ′-(4,4′-diphenylmethane) bismaleimide, bis (3-ethyl-5-methyl-4-maleimidophenyl) methane, 2,2-bis [ And bismaleimide resins such as 4- (4-maleimidophenoxy) phenyl] propane. Furthermore, other maleimide resins can be used alone or in combination of two or more, and are not particularly limited.

前記マレイミド樹脂は、単独で用いてもよいし、重量平均分子量の異なるマレイミド樹脂を併用したり、前記マレイミド樹脂とそのプレポリマーとを併用したりすることもできる。   The maleimide resin may be used alone, or may be used in combination with maleimide resins having different weight average molecular weights, or may be used in combination with the maleimide resin and its prepolymer.

前記マレイミド樹脂の含有量は、特に限定されないが、エポキシ樹脂組成物全体の固形分基準で1〜30重量%であることが好ましく、特に5〜20重量%が好ましい。   Although content of the said maleimide resin is not specifically limited, It is preferable that it is 1-30 weight% on the solid content basis of the whole epoxy resin composition, and 5-20 weight% is especially preferable.

さらに、本発明のエポキシ樹脂組成物は、ポリイミド樹脂、トリアジン樹脂、フェノール樹脂、及びメラミン樹脂よりなる群から選ばれる少なくとも1種を含んでいてもよい。   Furthermore, the epoxy resin composition of the present invention may contain at least one selected from the group consisting of a polyimide resin, a triazine resin, a phenol resin, and a melamine resin.

本発明のエポキシ樹脂組成物は、フェノール系硬化剤を使用することができる。フェノール系硬化剤としては、例えば、フェノールノボラック樹脂、アルキルフェノールノボラック樹脂、ビスフェノールAノボラック樹脂、ジシクロペンタジエン型フェノール樹脂、ザイロック型フェノール樹脂、テルペン変性フェノール樹脂、ポリビニルフェノール類等公知慣用のものを単独あるいは2種類以上組み合わせて使用することができる。   The epoxy resin composition of the present invention can use a phenolic curing agent. As the phenolic curing agent, for example, a phenol novolak resin, an alkylphenol novolak resin, a bisphenol A novolak resin, a dicyclopentadiene type phenol resin, a zyloc type phenol resin, a terpene modified phenol resin, a polyvinyl phenol or the like may be used alone or Two or more types can be used in combination.

前記フェノール系硬化剤の含有量は、特に限定されないが、エポキシ樹脂との当量比(フェノール性水酸基当量/エポキシ基当量)が1.0未満、0.1以上が好ましい。これにより、未反応のフェノール系硬化剤の残留がなくなり、吸湿耐熱性が向上する。更に、厳しい吸湿耐熱性を必要とする場合は、0.2〜0.5の範囲が特に好ましい。また、フェノール樹脂は、硬化剤として作用するだけでなく、シアネート基とエポキシ基との硬化を促進することができる。   Although content of the said phenol type hardening | curing agent is not specifically limited, The equivalent ratio (phenolic hydroxyl group equivalent / epoxy group equivalent) with an epoxy resin is less than 1.0 and 0.1 or more are preferable. As a result, there remains no unreacted phenolic curing agent, and the moisture absorption heat resistance is improved. Furthermore, when severe moisture absorption heat resistance is required, the range of 0.2 to 0.5 is particularly preferable. In addition, the phenol resin not only acts as a curing agent, but can promote curing of a cyanate group and an epoxy group.

本発明のエポキシ樹脂組成物は、必要に応じて、上記成分以外の添加物を、特性を損なわない範囲で添加することができる。上記成分以外の成分は、例えば、エポキシシランカップリング剤、カチオニックシランカップリング剤、アミノシランカップリング剤、チタネート系カップリング剤、シリコーンオイル型カップリング剤等のカップリング剤、イミダゾール類、トリフェニルホスフィン、及び4級ホスホニウム塩等の硬化促進剤、アクリル系重合物等の表面調整剤、染料及び顔料等の着色剤等を挙げることができる。   The epoxy resin composition of this invention can add additives other than the said component in the range which does not impair a characteristic as needed. Components other than the above components include, for example, epoxy silane coupling agents, cationic silane coupling agents, aminosilane coupling agents, titanate coupling agents, coupling agents such as silicone oil type coupling agents, imidazoles, and triphenyl. Examples thereof include curing accelerators such as phosphine and quaternary phosphonium salts, surface conditioners such as acrylic polymers, and colorants such as dyes and pigments.

本発明のエポキシ樹脂組成物は、プリプレグの調製の際に、溶媒に溶解させてワニスとして用いられる。前記ワニスの調製方法は、特に限定されないが、例えば、前記シリコーンゴム微粒子、前記ベーマイト粒子、前記シリカナノ粒子、及び前記無機充填剤を溶媒に分散したスラリーを調製し、当該スラリーにその他のエポキシ樹脂組成物の成分を添加し、さらに前記溶媒を加えて溶解・混合させる方法等が挙げられる。シリカナノ粒子のようなナノサイズの粒子は、凝集し易く、樹脂組成物に配合する際に2次凝集等を形成してしまうことが多いが、スラリー状のものを用いることで、このような2次凝集を防止することができ、分散性が向上される。   The epoxy resin composition of the present invention is dissolved in a solvent and used as a varnish when preparing a prepreg. The method for preparing the varnish is not particularly limited. For example, a slurry in which the silicone rubber fine particles, the boehmite particles, the silica nanoparticles, and the inorganic filler are dispersed in a solvent is prepared, and the epoxy resin composition is added to the slurry. The method of adding the component of a thing, adding the said solvent, and making it melt | dissolve and mix etc. is mentioned. Nano-sized particles such as silica nanoparticles tend to aggregate and often form secondary agglomeration when blended with a resin composition. Secondary aggregation can be prevented and dispersibility is improved.

前記溶媒としては、特に限定されないが、前記エポキシ樹脂組成物に対して良好な溶解性を示す溶媒が好ましく、例えば、MEK、シクロヘキサノン、MIBK、ANON、アセトン、メチルエチルケトン、メチルイソブチルケトン、シクロペンタノン、ジメチルホルムアミド、ジメチルアセトアミド、N−メチルピロリドン等が挙げられる。尚、悪影響を及ぼさない範囲で貧溶媒を使用しても構わない。   The solvent is not particularly limited, but a solvent that exhibits good solubility in the epoxy resin composition is preferable. For example, MEK, cyclohexanone, MIBK, ANON, acetone, methyl ethyl ketone, methyl isobutyl ketone, cyclopentanone, Examples include dimethylformamide, dimethylacetamide, and N-methylpyrrolidone. In addition, you may use a poor solvent in the range which does not exert a bad influence.

前記ワニスが含むエポキシ樹脂組成物の固形分は、特に限定されないが、30〜80重量%が好ましく、特に40〜70重量%が好ましい。これにより、エポキシ樹脂組成物の基材への含浸性を向上できる。   The solid content of the epoxy resin composition contained in the varnish is not particularly limited, but is preferably 30 to 80% by weight, and particularly preferably 40 to 70% by weight. Thereby, the impregnation property to the base material of an epoxy resin composition can be improved.

(プリプレグ)
次に、プリプレグについて説明する。
本発明のプリプレグは、前記エポキシ樹脂組成物を基材に含浸し、加熱乾燥してなるものである。本発明では、エポキシ樹脂組成物にシリコーンゴム微粒子と、ベーマイト粒子と、シリカナノ粒子とを併用して含有させることにより、これらの粒子を多量に含んでいるにも関わらず、粘度の低いエポキシ樹脂組成物が得られ、当該エポキシ樹脂組成物を充分に基材に含浸したプリプレグを得ることができ、得られたプリプレグは、難燃性、低熱膨張性、ドリル加工性、及びデスミア耐性に優れる。
(Prepreg)
Next, the prepreg will be described.
The prepreg of the present invention is obtained by impregnating a base material with the epoxy resin composition and drying by heating. In the present invention, the epoxy resin composition contains a combination of silicone rubber fine particles, boehmite particles, and silica nanoparticles, so that the epoxy resin composition has a low viscosity despite containing a large amount of these particles. A prepreg in which the substrate is sufficiently impregnated with the epoxy resin composition can be obtained, and the obtained prepreg is excellent in flame retardancy, low thermal expansion, drill workability, and desmear resistance.

前記基材としては、例えばガラス織布、ガラス不織布、ガラスペーパー等のガラス繊維基材、紙、アラミド、ポリエステル、芳香族ポリエステル、フッ素樹脂等の合成繊維等からなる織布や不織布、金属繊維、カーボン繊維、鉱物繊維等からなる織布、不織布、マット類等が挙げられる。これらの基材は単独又は混合して使用してもよい。これらの中でもガラス繊維基材が好ましい。これにより、プリプレグの剛性、寸法安定性を向上することができる。   Examples of the base material include glass fiber base materials such as glass woven fabric, glass non-woven fabric, and glass paper, paper, aramid, polyester, aromatic polyester, woven fabric and non-woven fabric made of synthetic fibers such as fluororesin, metal fibers, Examples thereof include woven fabrics, nonwoven fabrics and mats made of carbon fibers and mineral fibers. These substrates may be used alone or in combination. Among these, a glass fiber base material is preferable. Thereby, the rigidity and dimensional stability of a prepreg can be improved.

前記エポキシ樹脂組成物を前記基材に含浸させる方法は、例えば基材をエポキシ樹脂組成物のワニスに浸漬する方法、各種コーターによる塗布する方法、スプレーによる吹き付ける方法等が挙げられる。これらの中でも、基材をエポキシ樹脂組成物のワニスに浸漬する方法が好ましい。これにより、基材に対するエポキシ樹脂組成物の含浸性を向上することができる。尚、基材をエポキシ樹脂組成物のワニスに浸漬する場合、通常の含浸塗布設備を使用することができる。前記基材に前記エポキシ樹脂組成物を含浸させ、所定温度、例えば90〜180℃で乾燥させることによりプリプレグを得ることができる。   Examples of the method of impregnating the base material with the epoxy resin composition include a method of immersing the base material in a varnish of the epoxy resin composition, a method of applying with various coaters, and a method of spraying with a spray. Among these, the method of immersing the base material in the varnish of the epoxy resin composition is preferable. Thereby, the impregnation property of the epoxy resin composition with respect to a base material can be improved. In addition, when a base material is immersed in the varnish of an epoxy resin composition, a normal impregnation coating equipment can be used. A prepreg can be obtained by impregnating the base material with the epoxy resin composition and drying at a predetermined temperature, for example, 90 to 180 ° C.

(金属張積層板)
次に、金属張積層板について説明する。
本発明の金属張積層板は、基材に上記のエポキシ樹脂組成物を含浸してなる樹脂含浸基材層の少なくとも片面に金属箔を有するものである。
本発明の金属張積層板は、例えば、上記のプリプレグ又は当該プリプレグを2枚以上重ね合わせた積層体の少なくとも片面に金属箔を張り付けることで製造できる。
プリプレグ1枚のときは、その上下両面もしくは片面に金属箔を重ねる。また、プリプレグを2枚以上積層することもできる。プリプレグ2枚以上積層するときは、積層したプリプレグの最も外側の上下両面もしくは片面に金属箔あるいはフィルムを重ねる。次に、プリプレグと金属箔とを重ねたものを加熱加圧成形することで金属張積層板を得ることができる。
(Metal-clad laminate)
Next, the metal-clad laminate will be described.
The metal-clad laminate of the present invention has a metal foil on at least one surface of a resin-impregnated base material layer obtained by impregnating the base material with the above epoxy resin composition.
The metal-clad laminate of the present invention can be produced, for example, by attaching a metal foil to at least one surface of the prepreg or a laminate obtained by superimposing two or more prepregs.
When one prepreg is used, the metal foil is overlapped on both the upper and lower surfaces or one surface. Two or more prepregs can be laminated. When two or more prepregs are laminated, a metal foil or film is laminated on the outermost upper and lower surfaces or one surface of the laminated prepreg. Next, a metal-clad laminate can be obtained by heat-pressing a laminate of a prepreg and a metal foil.

本発明の金属張積層板は、前記エポキシ樹脂組成物のワニスが低粘度のために、フローは大きいものの、前記エポキシ樹脂組成物がシリコーンゴム微粒子と、ベーマイト粒子と、シリカナノ粒子とを併用して含有することにより、これらの粒子の流動性と樹脂流動性とのバランスが良く、シリコーンゴム微粒子のクッション効果により粒子による圧力のばらつきが少なく、表面のスジ状ムラは非常に少ない。
図2は、(1)実施例1で得られた金属張積層板の金属箔層の表面を撮影した写真、(2)比較例1で得られた金属張積層板の金属箔層の表面を撮影した写真、及び(3)金属張積層板の金属箔層の表面の写真を説明する図であり、前記(3)は、金属張積層板の金属箔層表面、及び当該金属箔層表面上に発生したスジ状ムラを表わす。シリコーンゴム微粒子と、ベーマイト粒子と、シリカナノ粒子とを併用して含有したエポキシ樹脂組成物を用いた本発明の金属張積層板である(1)では、金属箔層の表面にスジ状ムラが見られないのに対し、シリコーンゴム微粒子と、ベーマイト粒子と、シリカナノ粒子とを併用して含有していないエポキシ樹脂組成物を用いた金属張積層板である(2)では、スジ付近に特に大きなフローがあり、金属箔層の表面にスジ状ムラが発生している。
The metal-clad laminate of the present invention has a large flow because the varnish of the epoxy resin composition has a low viscosity, but the epoxy resin composition uses silicone rubber fine particles, boehmite particles, and silica nanoparticles in combination. By containing, the balance between the fluidity of these particles and the resin fluidity is good, the variation in pressure due to the particles is small due to the cushioning effect of the silicone rubber fine particles, and the surface stripe-like unevenness is very small.
2 shows (1) a photograph of the surface of the metal foil layer of the metal-clad laminate obtained in Example 1, and (2) the surface of the metal foil layer of the metal-clad laminate obtained in Comparative Example 1. It is a figure explaining the photographed photograph, and the photograph of the surface of the metal foil layer of (3) metal-clad laminates, and said (3) is the metal foil layer surface of a metal-clad laminate, and the said metal foil layer surface This represents the stripe-shaped unevenness that occurred. In the metal-clad laminate (1) of the present invention using an epoxy resin composition containing a combination of silicone rubber fine particles, boehmite particles, and silica nanoparticles, streaky unevenness is observed on the surface of the metal foil layer. In contrast, in the metal-clad laminate (2) using an epoxy resin composition that does not contain silicone rubber fine particles, boehmite particles, and silica nanoparticles in combination, the flow is particularly large in the vicinity of streaks. There are streaky irregularities on the surface of the metal foil layer.

前記加熱する温度は、特に限定されないが、120〜220℃が好ましく、特に150〜200℃が好ましい。前記加圧する圧力は、特に限定されないが、0.5〜5MPaが好ましく、特に1〜3MPaが好ましい。また、必要に応じて高温槽等で150〜300℃の温度で後硬化を行ってもかまわない。   Although the temperature to heat is not specifically limited, 120-220 degreeC is preferable and especially 150-200 degreeC is preferable. Although the pressure to pressurize is not particularly limited, 0.5 to 5 MPa is preferable, and 1 to 3 MPa is particularly preferable. Moreover, you may perform post-curing at the temperature of 150-300 degreeC with a high temperature tank etc. as needed.

また、別の方法として、本発明の金属張積層板は、WO2007/040125に記載されているような方法によって製造することもできる。この方法は、(a)片面側に絶縁樹脂層が形成された第一及び第二の絶縁樹脂層付き金属箔の絶縁樹脂層側を、基材の両面側にそれぞれ重ね合わせ、減圧条件下でこれらを接合する工程と、(b)前記接合後に、前記絶縁樹脂の溶融温度以上の温度で加熱処理する工程とを有することを特徴とする、金属張積層板の製造方法である。尚、前記絶縁樹脂層は、本発明のエポキシ樹脂組成物からなる。
前記(a)工程での減圧条件は、常圧より700Torr以上減圧した条件であることが好ましく、さらに好ましくは、常圧より740Torr以上減圧した条件である。
前記(b)工程での加熱温度は、前記絶縁樹脂の溶融温度以上の温度、つまり本発明のエポキシ樹脂組成物の溶融温度以上の温度である。前記(b)工程により、絶縁層付き金属箔と基材とが接合した時点で残存していた、減圧ボイドあるいは実質的な真空ボイドを消失させることができ、非充填部分が非常に少ない、あるいは、実質的に存在しない金属張積層板を製造することができる。
As another method, the metal-clad laminate of the present invention can also be produced by a method as described in WO2007 / 040125. In this method, (a) the insulating resin layer side of the metal foil with the first and second insulating resin layers formed with the insulating resin layer on one side is superposed on both sides of the substrate, and the pressure is reduced. A method for producing a metal-clad laminate, comprising: a step of bonding them, and (b) a step of heat treatment at a temperature equal to or higher than the melting temperature of the insulating resin after the bonding. The insulating resin layer is made of the epoxy resin composition of the present invention.
The pressure reducing condition in the step (a) is preferably a pressure reduced by 700 Torr or more from the normal pressure, and more preferably a condition reduced by 740 Torr or more from the normal pressure.
The heating temperature in the step (b) is a temperature equal to or higher than the melting temperature of the insulating resin, that is, a temperature equal to or higher than the melting temperature of the epoxy resin composition of the present invention. By the step (b), the reduced-pressure voids or the substantial vacuum voids remaining at the time when the metal foil with an insulating layer and the substrate are joined can be eliminated, and there are very few unfilled portions, or A metal-clad laminate that is substantially absent can be produced.

前記(a)〜(b)工程により製造される金属張積層板は、例えば図1(1)〜(3)に示したような、第一及び第二の絶縁樹脂層付き金属箔3a、3aとして、基材4よりも幅方向寸法が大きい金属箔を有するとともに、基材4よりも幅方向寸法が大きい絶縁樹脂層を有するものを用いた形態が挙げられる。この形態では、前記(a)工程において、基材4の幅方向寸法の内側領域(基材4が存在する領域)では、第一及び第二の絶縁樹脂付き金属箔3a、3aは、それぞれ基材4と接合することができる。また、基材4の幅方向寸法の外側領域(基材4が存在していない領域)では、第一及び第二の絶縁樹脂層付き金属箔3a、3aそれぞれが有する絶縁樹脂層面を直接接合することができる(図1(2))。これらの接合は減圧下で実施するため、基材4の内部、あるいは、絶縁樹脂層付き金属箔3aと基材4との接合面等に非充填部分が残存していても、これらを減圧ボイドあるいは実質的な真空ボイドとすることができるので、(b)工程の加熱処理により容易に消失させることができ、(b)工程において、幅方向の周辺部から空気が進入して新たなボイドが形成されるのを防ぐことができる(図1(3))。
尚、第一及び第二の絶縁樹脂層付き金属箔3a、3aのうち一方又は両方が、基材4と幅方向寸法が同じ絶縁樹脂層を有していてもよいが、より簡易に絶縁樹脂層により基材を封じて密閉することができ、ボイドが少ない金属張積層板を製造することができる点から、図1に示す形態が好ましい。
The metal-clad laminate produced by the steps (a) to (b) is, for example, first and second metal foils 3a and 3a with an insulating resin layer as shown in FIGS. As an example, a form using a metal foil having a larger dimension in the width direction than the base material 4 and an insulating resin layer having a larger dimension in the width direction than the base material 4 may be used. In this embodiment, in the step (a), the first and second metal foils 3a, 3a with insulating resin are respectively formed in the inner region of the width direction dimension of the substrate 4 (region where the substrate 4 exists). It can be joined to the material 4. Moreover, in the outer side area | region (area | region where the base material 4 does not exist) of the width direction dimension of the base material 4, the insulating resin layer surface which each of the 1st and 2nd metal foils 3a and 3a with an insulating resin layer has joined directly. (FIG. 1 (2)). Since these joinings are performed under reduced pressure, even if unfilled portions remain in the inside of the base material 4 or the joining surface between the metal foil 3a with the insulating resin layer and the base material 4, these are reduced in pressure voids. Alternatively, since it can be a substantial vacuum void, it can be easily eliminated by the heat treatment in the step (b). In the step (b), air enters from the peripheral part in the width direction and a new void is formed. It can be prevented from being formed (FIG. 1 (3)).
One or both of the first and second metal foils 3a, 3a with an insulating resin layer may have an insulating resin layer having the same width direction dimension as that of the substrate 4, but the insulating resin can be more easily obtained. The form shown in FIG. 1 is preferable because the base material can be sealed and sealed with a layer and a metal-clad laminate with few voids can be produced.

図1等の金属張積層板は、特に限定されないが、例えば、絶縁樹脂層付き金属箔を製造する装置及び金属張積層板を製造する装置を用いて製造される。
前記絶縁樹脂層付き金属箔を製造する装置において、金属箔は、例えば長尺のシート品を巻物形態にしたもの等を用い、これにより連続的に巻き出すことにより供給することができる。液状の絶縁樹脂は、絶縁樹脂の供給装置により、所定量が連続的に金属箔上に供給される。ここで液状の絶縁樹脂として、本発明のエポキシ樹脂組成物を溶剤に溶解、分散させた塗布液が用いられる。絶縁樹脂の塗工量は、コンマロールと、当該コンマロールのバックアップロールとのクリアランスにより制御することができる。所定量の絶縁樹脂が塗工された金属箔は、横搬送型の熱風乾燥装置の内部を移送し、液状の絶縁樹脂中に含有される有機溶剤等を実質的に乾燥除去し、必要に応じて、硬化反応を途中まで進めた絶縁樹脂層付き金属箔とすることができる。絶縁樹脂層付き金属箔は、そのまま巻き取ることもできるがラミネートロールにより、絶縁樹脂層が形成された側に保護フィルムを重ね合わせ、当該保護フィルムがラミネートされた絶縁樹脂層付き金属箔を巻き取って、巻物形態の絶縁樹脂層付き金属箔を得ている。
The metal-clad laminate in FIG. 1 and the like is not particularly limited, but is produced using, for example, an apparatus for producing a metal foil with an insulating resin layer and an apparatus for producing a metal-clad laminate.
In the apparatus for producing the metal foil with an insulating resin layer, the metal foil can be supplied by, for example, using a long sheet product in the form of a roll, and continuously unwinding it. A predetermined amount of the liquid insulating resin is continuously supplied onto the metal foil by an insulating resin supply device. Here, as the liquid insulating resin, a coating solution in which the epoxy resin composition of the present invention is dissolved and dispersed in a solvent is used. The coating amount of the insulating resin can be controlled by the clearance between the comma roll and the backup roll of the comma roll. The metal foil coated with a predetermined amount of insulating resin is transported inside a horizontal conveying type hot-air drying device to substantially dry and remove the organic solvent contained in the liquid insulating resin. Thus, a metal foil with an insulating resin layer in which the curing reaction has been advanced halfway can be obtained. Although the metal foil with an insulating resin layer can be wound up as it is, a protective film is laminated on the side on which the insulating resin layer is formed by a laminating roll, and the metal foil with an insulating resin layer laminated with the protective film is wound up. Thus, a metal foil with an insulating resin layer in a roll form is obtained.

前記金属張積層板を製造する装置は、前記(a)〜(b)工程を実施できる装置である。前記金属張積層板を製造する装置において、(a)工程は、真空ラミネート装置を使用して実施される。真空ラミネート装置の内部には、前記(a)工程で得られた絶縁樹脂層付き金属箔と基材とが、それぞれ連続的に供給可能に設置されている。絶縁樹脂層付き金属箔は、絶縁樹脂層表面に前記保護フィルムがラミネートされているので、巻き取りロールにより、当該保護フィルムを剥離しながら連続的に供給される。また、基材は、巻物形態の基材から連続的に供給される。絶縁樹脂層付き金属箔は、それぞれ絶縁樹脂層側で繊維布を挟む形態で重ね合わされ、ラミネートロールにより接合される。このとき、絶縁樹脂層は、ほぼ無溶剤状態の未硬化物又は半硬化物であるが、熱溶融により流動化しているので、基材に含浸される。接合後の接合物は、そのまま次工程に送ることもできるし、ラミネートロールにより、温度と圧力を作用させて、絶縁樹脂層付き金属箔と基材との接合温度を調整することもできる。接合後の接合物は、横搬送型の熱風乾燥装置間を移送し、絶縁樹脂の溶融温度以上の温度で加熱処理する。これにより、接合物の内部に残存している比充填部分を消失させることができる。加熱処理後の金属張積層板は、ピンチロールで挟みながら、これを連続的に巻き取ることにより、巻物形態の金属張積層板とすることができる。   The apparatus for producing the metal-clad laminate is an apparatus that can carry out the steps (a) to (b). In the apparatus for producing the metal-clad laminate, the step (a) is performed using a vacuum laminating apparatus. Inside the vacuum laminating apparatus, the metal foil with an insulating resin layer obtained in the step (a) and the base material are installed so as to be continuously supplied. Since the protective film is laminated on the surface of the insulating resin layer, the metal foil with the insulating resin layer is continuously supplied while peeling off the protective film by a winding roll. Moreover, a base material is continuously supplied from the base material of a roll form. The metal foils with an insulating resin layer are overlapped with each other in such a manner that the fiber cloth is sandwiched on the insulating resin layer side, and bonded by a laminate roll. At this time, the insulating resin layer is an uncured or semi-cured material in a substantially solvent-free state, but since it is fluidized by heat melting, it is impregnated into the base material. The joined product after joining can be sent to the next process as it is, or the joining temperature between the metal foil with insulating resin layer and the base material can be adjusted by applying temperature and pressure with a laminate roll. The bonded product after the bonding is transferred between horizontal conveying type hot air dryers and heat-treated at a temperature equal to or higher than the melting temperature of the insulating resin. Thereby, the specific filling part remaining inside the bonded product can be eliminated. The metal-clad laminate after the heat treatment can be formed into a roll-like metal-clad laminate by continuously winding the metal-clad laminate with pinch rolls.

(プリント配線板)
次に、本発明のプリント配線板について説明する。
本発明のプリント配線板は、上記の金属張積層板を内層回路基板に用いてなる。
また、本発明のプリント配線板は、内層回路上に、上記のプリプレグを絶縁層に用いてなる。
また、本発明のプリント配線板は、内層回路上に、上記のエポキシ樹脂組成物を絶縁層に用いてなる。
(Printed wiring board)
Next, the printed wiring board of the present invention will be described.
The printed wiring board of the present invention uses the above metal-clad laminate as an inner layer circuit board.
Moreover, the printed wiring board of this invention uses said prepreg for an insulating layer on an inner layer circuit.
Moreover, the printed wiring board of this invention uses said epoxy resin composition for an insulating layer on an inner layer circuit.

本発明においてプリント配線板とは、絶縁層の上に金属箔等の導電体で回路を形成したものであり、片面プリント配線板(一層板)、両面プリント配線板(二層板)、及び多層プリント配線板(多層板)のいずれであってもよい。多層プリント配線板とは、メッキスルーホール法やビルドアップ法等により3層以上に重ねたプリント配線板であり、内層回路基板に絶縁層を重ね合わせて加熱加圧成形することによって得ることができる。
前記内層回路基板としては、例えば、本発明の金属張積層板の金属層に、エッチング等により所定の導体回路を形成し、導体回路部分を黒化処理したものを好適に用いることができる。
前記絶縁層としては、本発明のプリプレグ、又は本発明のエポキシ樹脂組成物からなる樹脂フィルムを用いることができる。尚、前記絶縁層として、前記プリプレグ又は前記エポキシ樹脂組成物からなる樹脂フィルムを用いる場合は、前記内層回路基板は本発明の金属張積層板からなるものでなくてもよい。
In the present invention, a printed wiring board is a circuit in which a circuit is formed of a conductive material such as a metal foil on an insulating layer, a single-sided printed wiring board (single-layer board), a double-sided printed wiring board (double-layer board), and a multilayer. Any of printed wiring boards (multilayer boards) may be used. A multilayer printed wiring board is a printed wiring board that is laminated in three or more layers by a plated through hole method, a build-up method, or the like, and can be obtained by heating and press-molding an insulating layer on an inner circuit board. .
As the inner layer circuit board, for example, a metal layer of the metal-clad laminate of the present invention in which a predetermined conductor circuit is formed by etching or the like and the conductor circuit portion is blackened can be suitably used.
As the insulating layer, a prepreg of the present invention or a resin film made of the epoxy resin composition of the present invention can be used. In addition, when using the resin film which consists of the said prepreg or the said epoxy resin composition as said insulating layer, the said inner-layer circuit board does not need to consist of a metal-clad laminated board of this invention.

以下、本発明のプリント配線板の代表例として、本発明の金属張積層板を内層回路基板として用い、本発明のプリプレグを絶縁層として用いる場合の多層プリント配線板について説明する。
前記金属張積層板の片面又は両面に回路形成し、内層回路基板を作製する。場合によっては、ドリル加工、レーザー加工によりスルーホールを形成し、メッキ等で両面の電気的接続をとることもできる。この内層回路基板に前記プリプレグを重ね合わせて加熱加圧形成することで絶縁層を形成する。同様にして、エッチング等で形成した導体回路層と絶縁層とを交互に繰り返し形成することにより、多層プリント配線板を得ることができる。
Hereinafter, as a representative example of the printed wiring board of the present invention, a multilayer printed wiring board in which the metal-clad laminate of the present invention is used as an inner circuit board and the prepreg of the present invention is used as an insulating layer will be described.
A circuit is formed on one or both sides of the metal-clad laminate to produce an inner layer circuit board. In some cases, through holes can be formed by drilling or laser processing, and electrical connection on both sides can be achieved by plating or the like. The insulating layer is formed by superposing the prepreg on the inner layer circuit board and forming it by heating and pressing. Similarly, a multilayer printed wiring board can be obtained by alternately and repeatedly forming conductive circuit layers and insulating layers formed by etching or the like.

具体的には、前記プリプレグと前記内層回路基板とを合わせて、真空加圧式ラミネーター装置などを用いて真空加熱加圧成形させ、その後、熱風乾燥装置等で絶縁層を加熱硬化させる。ここで加熱加圧成形する条件としては、特に限定されないが、一例を挙げると、温度60〜160℃、圧力0.2〜3MPaで実施することができる。また、加熱硬化させる条件としては、特に限定されないが、一例を挙げると、温度140〜240℃、時間30〜120分間で実施することができる。   Specifically, the prepreg and the inner layer circuit board are combined and subjected to vacuum heating and pressing using a vacuum pressurizing laminator device or the like, and then the insulating layer is heated and cured using a hot air drying device or the like. Although it does not specifically limit as conditions to heat-press form here, If an example is given, it can implement at the temperature of 60-160 degreeC, and the pressure of 0.2-3 MPa. Moreover, it is although it does not specifically limit as conditions to carry out heat hardening, If an example is given, it can implement in temperature 140-240 degreeC and time 30-120 minutes.

尚、次工程においてレーザーを照射し、絶縁層に開口部を形成するが、その前に基材を剥離する必要がある。基材の剥離は、絶縁層を形成後、加熱硬化の前、又は加熱硬化後のいずれに行っても特に問題はない。   In the next step, laser is irradiated to form an opening in the insulating layer, but it is necessary to peel off the substrate before that. There is no particular problem in peeling the base material either after the insulating layer is formed, before heat curing, or after heat curing.

次に、絶縁層にレーザーを照射して、開孔部を形成する。前記レーザーは、エキシマレーザー、UVレーザー及び炭酸ガスレーザー等が使用できる。   Next, the insulating layer is irradiated with laser to form an opening. As the laser, an excimer laser, a UV laser, a carbon dioxide gas laser, or the like can be used.

レーザー照射後の樹脂残渣等(スミア)は過マンガン酸塩、重クロム酸塩等の酸化剤等により除去する処理、すなわちデスミア処理を行うことが好ましい。デスミア処理が不十分で、デスミア耐性が十分に確保されていないと、開孔部に金属メッキ処理を行っても、スミアが原因で上層金属配線と下層金属配線との通電性が十分に確保されなくなるおそれがある。また、平滑な絶縁層の表面を同時に粗化することができ、続く金属メッキにより形成する導電配線回路の密着性を上げることができる。   It is preferable to perform a treatment for removing resin residues (smear) after laser irradiation with an oxidizing agent such as permanganate or dichromate, that is, desmear treatment. If the desmear treatment is inadequate and the desmear resistance is not sufficiently secured, even if metal plating is applied to the opening, sufficient conductivity is ensured between the upper metal wiring and the lower metal wiring due to smear. There is a risk of disappearing. Further, the surface of the smooth insulating layer can be simultaneously roughened, and the adhesion of the conductive wiring circuit formed by subsequent metal plating can be improved.

次に、外層回路を形成する。外層回路の形成方法は、金属メッキにより絶縁樹脂層間の接続を図り、エッチングにより外層回路パターン形成を行う。   Next, an outer layer circuit is formed. The outer layer circuit is formed by connecting the insulating resin layers by metal plating and forming an outer layer circuit pattern by etching.

さらに絶縁層を積層し、前記同様回路形成を行っても良いが、多層プリント配線板では、回路形成後、最外層にソルダーレジストを形成する。ソルダーレジストの形成方法は、特に限定されないが、例えば、ドライフィルムタイプのソルダーレジストを積層(ラミネート)し、露光、及び現像により形成する方法、又は液状レジストを印刷したものを露光、及び現像により形成する方法によりなされる。尚、得られた多層プリント配線板を半導体装置に用いる場合、半導体素子を実装するため接続用電極部を設ける。接続用電極部は、金メッキ、ニッケルメッキ及び半田メッキ等の金属皮膜で適宜被覆することができる。   Further, an insulating layer may be stacked and a circuit may be formed in the same manner as described above. However, in a multilayer printed wiring board, a solder resist is formed on the outermost layer after the circuit is formed. The method of forming the solder resist is not particularly limited. For example, a method of laminating (laminating) a dry film type solder resist and forming it by exposure and development, or a method of printing a liquid resist by exposure and development It is done by the method to do. In addition, when using the obtained multilayer printed wiring board for a semiconductor device, the electrode part for a connection is provided in order to mount a semiconductor element. The connection electrode portion can be appropriately coated with a metal film such as gold plating, nickel plating, or solder plating.

前記金メッキの代表的な方法の1つとして、ニッケル−パラジウム−金無電解メッキ法がある。この方法では、接続用電極部に、クリーナー等の適宜の方法により前処理を行った後、パラジウム触媒を付与し、その後さらに、無電解ニッケルメッキ処理、無電解パラジウムメッキ処理、及び無電解金メッキ処理を順次行う。
ENEPIG法は、前記ニッケル−パラジウム−金無電解メッキ法の無電解金メッキ処理段階において、置換金メッキ処理を行う方法である。下地メッキとしての無電解ニッケルメッキ皮膜と、無電解金メッキ皮膜との間に無電解パラジウムメッキ皮膜を設けることによって、接続用電極部における導体材料の拡散防止性、耐食性が向上する。下地ニッケルメッキ皮膜の拡散防止を図ることができるので、Au−Au接合の信頼性が向上し、また金によるニッケル酸化を防止することができるので、熱負荷の大きい鉛フリー半田接合の信頼性も向上する。ENEPIG法では、通常、無電解パラジウムメッキ処理を行う前に表面処理を行って、メッキ工程での導通不良の発生を防ぐ必要があり、導通不良が甚だしい場合には隣接する端子間でショートを起こす原因となる。一方、本発明のプリント配線板は、表面処理を行わなくても上記のような導通不良がなく、簡単にメッキ処理を行うことができる。
One of the typical gold plating methods is a nickel-palladium-gold electroless plating method. In this method, a pretreatment is performed on the connecting electrode portion by an appropriate method such as a cleaner, and then a palladium catalyst is applied. Thereafter, an electroless nickel plating treatment, an electroless palladium plating treatment, and an electroless gold plating treatment are further performed. Are performed sequentially.
The ENEPIG method is a method in which a substitution gold plating process is performed in the electroless gold plating process stage of the nickel-palladium-gold electroless plating process. By providing the electroless palladium plating film between the electroless nickel plating film as the base plating and the electroless gold plating film, the diffusion preventing property and the corrosion resistance of the conductor material in the connection electrode portion are improved. Since it is possible to prevent the diffusion of the underlying nickel plating film, the reliability of the Au-Au joint is improved and the nickel oxidation due to gold can be prevented. improves. In the ENEPIG method, it is usually necessary to perform surface treatment before performing electroless palladium plating to prevent the occurrence of poor conduction in the plating process. If the poor conduction is severe, a short circuit occurs between adjacent terminals. Cause. On the other hand, the printed wiring board of the present invention does not have the above-described conduction failure without performing surface treatment, and can be easily plated.

(半導体装置)
次に、本発明の半導体装置について説明する。
前記で得られたプリント配線板に半田バンプを有する半導体素子を実装し、半田バンブを介して、前記プリント配線板との接続を図る。そして、プリント配線板と半導体素子との間には液状封止樹脂を充填し、半導体装置を形成する。半田バンプは、錫、鉛、銀、銅、ビスマス等からなる合金で構成されることが好ましい。
(Semiconductor device)
Next, the semiconductor device of the present invention will be described.
A semiconductor element having solder bumps is mounted on the printed wiring board obtained above, and connection to the printed wiring board is attempted through the solder bump. A liquid sealing resin is filled between the printed wiring board and the semiconductor element to form a semiconductor device. The solder bump is preferably made of an alloy made of tin, lead, silver, copper, bismuth or the like.

半導体素子とプリント配線板との接続方法は、フリップチップボンダー等を用いて、基板上の接続用電極部と半導体素子の半田バンプとの位置合わせを行ったあと、IRリフロー装置、熱板、その他加熱装置を用いて半田バンプを融点以上に加熱し、プリント配線板と半田バンプとを溶融接合することにより接続する。尚、接続信頼性を良くするため、予めプリント配線板上の接続用電極部に半田ペースト等、比較的融点の低い金属の層を形成しておいてもよい。この接合工程に先んじて、半田バンプ及び/又はプリント配線板上の接続用電極部の表層にフラックスを塗布することで接続信頼性を向上させることもできる。   The connection method between the semiconductor element and the printed wiring board is to use a flip chip bonder or the like to align the connection electrode part on the substrate and the solder bump of the semiconductor element, and then to an IR reflow device, a heat plate, etc. The solder bumps are heated to a melting point or higher by using a heating device, and the printed wiring board and the solder bumps are connected by fusion bonding. In order to improve connection reliability, a metal layer having a relatively low melting point, such as solder paste, may be formed in advance on the connection electrode portion on the printed wiring board. Prior to this joining step, the connection reliability can be improved by applying a flux to the surface layer of the connection electrode portion on the solder bump and / or printed wiring board.

以下、本発明を実施例及び比較例に基づいて詳細に説明するが、本発明はこれに限定されるものではない。   EXAMPLES Hereinafter, although this invention is demonstrated in detail based on an Example and a comparative example, this invention is not limited to this.

(実施例1)
(1)エポキシ樹脂組成物含有ワニスの調製
まず、シリコーンゴム微粒子(信越化学工業(株)製、KMP−600、平均粒子径5μm)26.4重量%、ベーマイト粒子(テスコ(株)製、AOH−30、平均粒子径1.8μm)18.2重量%、及びシリカナノ粒子(トクヤマ(株)製、NSS−5N、平均粒子径70nm)2.4重量%をANON:MIBK=1:1(v/v)の溶媒に分散させて、濃度65重量%のスラリーを調製した。このスラリーに、エポキシ樹脂(日本化薬(株)製、NC3000、ビフェニルアラルキル型エポキシ樹脂、重量平均分子量1300、軟化点57℃、エポキシ当量276g/eq)25.4重量%、シアネート樹脂(ロンザジャパン(株)製、PT30、ノボラック型シアネート樹脂、重量平均分子量380)21.2重量%と、硬化剤としてフェノール樹脂(日本化薬(株)製、GPH−103、ビフェニルアラルキル型フェノール樹脂)6.4重量%とを溶解・混合させ、高速撹拌装置を用い撹拌して、エポキシ樹脂組成物が固形分基準で70重量%のワニスを得た。
Example 1
(1) Preparation of epoxy resin composition-containing varnish First, silicone rubber fine particles (manufactured by Shin-Etsu Chemical Co., Ltd., KMP-600, average particle size 5 μm) 26.4% by weight, boehmite particles (manufactured by Tesco Corp., AOH) -30, average particle size 1.8 μm) 18.2% by weight, and silica nanoparticles (manufactured by Tokuyama Corp., NSS-5N, average particle size 70 nm) 2.4% by weight ANON: MIBK = 1: 1 (v / V) was dispersed in a solvent to prepare a slurry having a concentration of 65% by weight. To this slurry, epoxy resin (Nippon Kayaku Co., Ltd., NC3000, biphenyl aralkyl type epoxy resin, weight average molecular weight 1300, softening point 57 ° C., epoxy equivalent 276 g / eq) 25.4% by weight, cyanate resin (Lonza Japan) 5. Co., Ltd., PT30, novolac-type cyanate resin, weight average molecular weight 380) 21.2% by weight, and a phenol resin (manufactured by Nippon Kayaku Co., Ltd., GPH-103, biphenyl aralkyl type phenol resin) 4 wt% was dissolved and mixed, and the mixture was stirred using a high-speed stirrer to obtain a varnish having an epoxy resin composition of 70 wt% based on the solid content.

(2)プリプレグの作製
前記ワニスをガラス織布(厚さ94μm、日東紡績製Eガラス織布、WEA−2116)に含浸し、180℃の加熱炉で2分間乾燥して、プリプレグ中のエポキシ樹脂組成物が固形分基準で約49重量%のプリプレグを得た。
(2) Preparation of prepreg The varnish was impregnated into a glass woven fabric (thickness 94 μm, Nittobo E glass woven fabric, WEA-2116), dried in a heating furnace at 180 ° C. for 2 minutes, and epoxy resin in the prepreg A prepreg having a composition of about 49% by weight based on the solid content was obtained.

(3)金属張積層板の作製
前記プリプレグを4枚重ね、その両面に12μmの銅箔(三井金属鉱業社製、3EC−VLP箔)を重ねて、圧力3MPa、温度220℃で2時間加熱加圧成形し、厚さ0.130mmの両面に銅箔を有する金属張積層板を得た。
(3) Fabrication of metal-clad laminate Four layers of the prepreg were stacked, and 12 μm copper foil (3EC-VLP foil manufactured by Mitsui Kinzoku Mining Co., Ltd.) was stacked on both sides, and heated at a pressure of 3 MPa and a temperature of 220 ° C. for 2 hours. A metal-clad laminate having copper foil on both sides having a thickness of 0.130 mm was obtained by pressure forming.

(4)プリント配線板の製造
両面に銅箔を有する前記金属張積層板を、ドリル機で開孔後、無電解メッキで上下銅箔間の導通を図り、両面の銅箔をエッチングすることにより内層回路を両面に形成したL(導体回路幅(μm))/S(導体回路間幅(μm))=50/50。
次に、内層回路に過酸化水素水と硫酸を主成分とする薬液(旭電化工業(株)製、テックSO−G)をスプレー吹き付けすることにより、粗化処理による凹凸形成を行った。
(4) Manufacture of printed wiring board By opening the metal-clad laminate having copper foil on both sides with a drilling machine, conducting conduction between the upper and lower copper foils by electroless plating, and etching the copper foils on both sides L (conductor circuit width (μm)) / S (interconductor circuit width (μm)) = 50/50 in which inner layer circuits are formed on both surfaces.
Next, the chemical | medical solution (Asahi Denka Kogyo Co., Ltd. make, Tech SO-G) which has hydrogen peroxide water and a sulfuric acid as a main component was spray-sprayed to the inner layer circuit, and the unevenness | corrugation formation by a roughening process was performed.

次に前記プリプレグを内層回路上に真空積層装置を用いて積層し、温度170℃、時間60分間加熱硬化し、積層体を得た。
その後、得られた積層体が有するプリプレグに、炭酸レーザー装置(日立ビアメカニクス(株)製:LG−2G212)を用いてφ60μmの開孔部(ブラインド・ビアホール)を形成し、70℃の膨潤液(アトテックジャパン社製、スウェリングディップ セキュリガント P)に5分間浸漬し、さらに80℃の過マンガン酸カリウム水溶液(アトテックジャパン社製、コンセントレートコンパクト CP)に15分浸漬後、中和して粗化処理を行った。
次に、脱脂、触媒付与、活性化の工程を経た後、無電解銅メッキ皮膜による約0.5μmの給電層を形成した。この給電層表面に、厚さ25μmの紫外線感光性ドライフィルム(旭化成社製、AQ−2558)をホットロールラミネーターにより貼り合わせ、最小線幅/線間が20/20μmのパターンが描画されたクロム蒸着マスク(トウワプロセス社製)を使用して、位置を合わせ、露光装置(ウシオ電機社製UX−1100SM−AJN01)にて露光、炭酸ソーダ水溶液にて現像し、めっきレジストを形成した。
Next, the prepreg was laminated on the inner layer circuit using a vacuum laminating apparatus, and was cured by heating at a temperature of 170 ° C. for 60 minutes to obtain a laminated body.
Thereafter, an opening (blind via hole) having a diameter of 60 μm is formed on the prepreg of the obtained laminate using a carbonic acid laser device (manufactured by Hitachi Via Mechanics Co., Ltd .: LG-2G212), and a swelling liquid at 70 ° C. (Atotech Japan Co., Swelling Dip Securigant P) for 5 minutes, and further immersed in an aqueous solution of potassium permanganate at 80 ° C. (Atotech Japan Co., Concentrate Compact CP) for 15 minutes, neutralized and roughened The treatment was performed.
Next, after the steps of degreasing, applying a catalyst, and activating, a power supply layer of about 0.5 μm was formed by an electroless copper plating film. Chromium vapor deposition in which a 25 μm thick UV photosensitive dry film (AQ-2558, manufactured by Asahi Kasei Co., Ltd.) is pasted on the surface of the power feeding layer with a hot roll laminator, and a pattern with a minimum line width / line spacing of 20/20 μm is drawn. The position was adjusted using a mask (manufactured by Towa Process Co., Ltd.), exposure was performed with an exposure apparatus (UX-1100SM-AJN01 manufactured by Ushio Electric Co., Ltd.), and development was performed with an aqueous sodium carbonate solution to form a plating resist.

次に、給電層を電極として電解銅めっき(奥野製薬社製81−HL)を3A/dm、30分間行って、厚さ約25μmの銅配線を形成した。ここで2段階剥離機を用いて、前記めっきレジストを剥離した。各薬液は、1段階目のアルカリ水溶液層にはモノエタノールアミン溶液(三菱ガス化学社製R−100)、2段階目の酸化性樹脂エッチング剤には過マンガン酸カリウムと水酸化ナトリウムを主成分とする水溶液(日本マクダーミッド社製、マキュダイザー9275、9276)、中和には酸性アミン水溶液(日本マクダーミッド社製マキュダイザー9279)をそれぞれ用いた。 Next, electrolytic copper plating (81-HL manufactured by Okuno Pharmaceutical Co., Ltd.) was performed at 3 A / dm 2 for 30 minutes using the power feeding layer as an electrode to form a copper wiring having a thickness of about 25 μm. Here, the plating resist was peeled off using a two-stage peeling machine. Each chemical solution is mainly composed of monoethanolamine solution (R-100 manufactured by Mitsubishi Gas Chemical Co., Ltd.) in the first stage alkaline aqueous solution layer, and potassium permanganate and sodium hydroxide as the main ingredients in the second stage oxidizing resin etchant. An aqueous solution of acidic amine (Mc. Dicer 9279, manufactured by Nihon Mcder Mid Co., Ltd.) was used for neutralization.

そして、給電層を過硫酸アンモニウム水溶液(メルテックス(株)製、AD−485)に浸漬処理することで、エッチング除去し、配線間の絶縁を確保した。次に、絶縁層を温度200℃、時間60分で最終硬化させ、最後に回路表面にソルダーレジスト(太陽インキ社製、PSR4000/AUS308)を形成し、プリント配線板を得た。
前記プリント配線板は、半導体素子の半田バンプ配列に相当する接続用電極部にENEPIG処理を施した。ENEPIG処理は、[1]クリーナー処理、[2]ソフトエッチング処理、[3]酸洗処理、[4]プレディップ処理、[5]パラジウム触媒付与、[6]無電解ニッケルメッキ処理、[7]無電解パラジウムメッキ処理、[8]無電解金メッキ処理の工程で行われた。
Then, the power feeding layer was immersed in an ammonium persulfate aqueous solution (AD-485 manufactured by Meltex Co., Ltd.) to remove the etching, and ensure insulation between the wirings. Next, the insulating layer was finally cured at a temperature of 200 ° C. for 60 minutes, and finally a solder resist (manufactured by Taiyo Ink Co., PSR4000 / AUS308) was formed on the circuit surface to obtain a printed wiring board.
The printed wiring board was subjected to the ENEPIG process on the connection electrode portion corresponding to the solder bump array of the semiconductor element. ENEPIG treatment includes [1] cleaner treatment, [2] soft etching treatment, [3] pickling treatment, [4] pre-dip treatment, [5] palladium catalyst application, [6] electroless nickel plating treatment, [7] The electroless palladium plating treatment and [8] electroless gold plating treatment were performed.

(5)半導体装置の製造
ENEPIG処理を施されたプリント配線板を50mm×50mmの大きさに切断し使用した。半導体素子(TEGチップ、サイズ15mm×15mm、厚み0.8mm)は、Sn/Pb組成の共晶で形成された半田バンプを有し、半導体素子の回路保護膜はポジ型感光性樹脂(住友ベークライト社製、CRC-8300)で形成されたものを使用した。半導体装置の組み立ては、まず、半田バンプにフラックス材を転写法により均一に塗布し、次にフリップチップボンダー装置を用い、プリント配線板上に加熱圧着により搭載した。次に、IRリフロー炉で半田バンプを溶融接合した後、液状封止樹脂(住友ベークライト社製、CRP−4152S)を充填し、液状封止樹脂を硬化させることで半導体装置を得た。尚、液状封止樹脂の効果条件は、温度150℃、120分の条件であった。
(5) Manufacture of Semiconductor Device A printed wiring board subjected to ENEPIG treatment was cut into a size of 50 mm × 50 mm and used. A semiconductor element (TEG chip, size 15 mm × 15 mm, thickness 0.8 mm) has a solder bump formed of a eutectic of Sn / Pb composition, and a circuit protective film of the semiconductor element is a positive photosensitive resin (Sumitomo Bakelite). What was formed by the company make, CRC-8300) was used. In assembling the semiconductor device, first, a flux material was uniformly applied to the solder bumps by a transfer method, and then mounted on a printed wiring board by thermocompression bonding using a flip chip bonder device. Next, after solder bumps were melt-bonded in an IR reflow furnace, a liquid sealing resin (manufactured by Sumitomo Bakelite Co., Ltd., CRP-4152S) was filled and the liquid sealing resin was cured to obtain a semiconductor device. The effect condition of the liquid sealing resin was a temperature of 150 ° C. for 120 minutes.

(実施例2)
スラリーの成分を、シリコーンゴム微粒子(信越化学工業(株)製、KMP−600、平均粒子径5μm)32.4重量%、ベーマイト粒子(テスコ(株)製、AOH−30、平均粒子径1.8μm)12.2重量%、及びシリカナノ粒子(トクヤマ(株)製、NSS−5N、平均粒子径70nm)2.4重量%とした以外は、実施例1と同様にした。
(Example 2)
The components of the slurry were silicone rubber fine particles (manufactured by Shin-Etsu Chemical Co., Ltd., KMP-600, average particle size 5 μm) 32.4% by weight, boehmite particles (manufactured by Tesco Co., Ltd., AOH-30, average particle size 1. 8 μm) 12.2 wt%, and silica nanoparticles (Tokuyama Co., Ltd., NSS-5N, average particle diameter 70 nm), except that the amount was 2.4 wt%.

(実施例3)
シリコーンゴム微粒子(信越化学工業(株)製、KMP−600、平均粒子径5μm)26.4重量%、ベーマイト粒子(テスコ(株)製、AOH−30、平均粒子径1.8μm)18.2重量%、及びシリカナノ粒子(トクヤマ(株)製、NSS−5N、平均粒子径70nm)2.4重量%をANON:MIBK=1:1(v/v)の溶媒に分散させて、濃度65重量%のスラリーを調製した。このスラリーに、エポキシ樹脂(日本化薬(株)製、NC3000、ビフェニルアラルキル型エポキシ樹脂、重量平均分子量1300、軟化点57℃、エポキシ当量276g/eq)18.6重量%、シアネート樹脂(ロンザジャパン(株)製、PT30、ノボラック型シアネート樹脂、重量平均分子量380)34.4重量%と、硬化触媒としてオクチル酸亜鉛(東京化成(株)製)0.02重量%とを溶解・混合させ、高速撹拌装置を用い撹拌して、エポキシ樹脂組成物が固形分基準で70重量%のワニスを得た以外は、実施例1と同様にした。
(Example 3)
Silicone rubber fine particles (manufactured by Shin-Etsu Chemical Co., Ltd., KMP-600, average particle size 5 μm) 26.4% by weight, boehmite particles (manufactured by Tesco Co., Ltd., AOH-30, average particle size 1.8 μm) 18.2 % By weight and 2.4% by weight of silica nanoparticles (manufactured by Tokuyama Co., Ltd., NSS-5N, average particle diameter 70 nm) are dispersed in a solvent of ANON: MIBK = 1: 1 (v / v) to a concentration of 65 weights. % Slurry was prepared. To this slurry, epoxy resin (Nippon Kayaku Co., Ltd., NC3000, biphenyl aralkyl type epoxy resin, weight average molecular weight 1300, softening point 57 ° C., epoxy equivalent 276 g / eq) 18.6% by weight, cyanate resin (Lonza Japan) 30.0% by weight of PT30, novolak-type cyanate resin, weight average molecular weight 380) and 0.02% by weight of zinc octylate (manufactured by Tokyo Chemical Industry Co., Ltd.) as a curing catalyst, Stirring was performed using a high-speed stirring device, and the same procedure as in Example 1 was performed except that the epoxy resin composition obtained a varnish having a solid content of 70% by weight.

(実施例4)
シリコーンゴム微粒子(信越化学工業(株)製、KMP−600、平均粒子径5μm)26.4重量%、ベーマイト粒子(テスコ(株)製、AOH−30、平均粒子径1.8μm)18.2重量%、及びシリカナノ粒子(トクヤマ(株)製、NSS−5N、平均粒子径70nm)2.4重量%をANON:MIBK=1:1(v/v)の溶媒に分散させて、濃度65重量%のスラリーを調製した。このスラリーに、エポキシ樹脂(日本化薬(株)製、NC3000、ビフェニルアラルキル型エポキシ樹脂、重量平均分子量1300、軟化点57℃、エポキシ当量276g/eq)19.6重量%、シアネート樹脂(ロンザジャパン(株)製、PT30、ノボラック型シアネート樹脂、重量平均分子量380)13.3重量%、マレイミド樹脂(ケイアイ化成(株)製、BMI−70、(3−エチル−5−メチル−4−マレイミドフェニル)メタン、ビスマレイミド樹脂)20.1重量%と、硬化触媒としてオクチル酸亜鉛(東京化成(株)製)0.02重量%とを溶解・混合させ、高速撹拌装置を用い撹拌して、エポキシ樹脂組成物が固形分基準で70重量%のワニスを得た以外は、実施例1と同様にした。
Example 4
Silicone rubber fine particles (manufactured by Shin-Etsu Chemical Co., Ltd., KMP-600, average particle size 5 μm) 26.4% by weight, boehmite particles (manufactured by Tesco Co., Ltd., AOH-30, average particle size 1.8 μm) 18.2 % By weight and 2.4% by weight of silica nanoparticles (manufactured by Tokuyama Co., Ltd., NSS-5N, average particle diameter 70 nm) are dispersed in a solvent of ANON: MIBK = 1: 1 (v / v) to a concentration of 65 weights. % Slurry was prepared. To this slurry, epoxy resin (Nippon Kayaku Co., Ltd., NC3000, biphenyl aralkyl type epoxy resin, weight average molecular weight 1300, softening point 57 ° C., epoxy equivalent 276 g / eq) 19.6% by weight, cyanate resin (Lonza Japan) PT30, novolak-type cyanate resin, weight average molecular weight 380, 13.3% by weight, maleimide resin (manufactured by Keisei Kasei Co., Ltd., BMI-70, (3-ethyl-5-methyl-4-maleimidophenyl) ) Methane, bismaleimide resin) 20.1% by weight and 0.02% by weight zinc octylate (manufactured by Tokyo Chemical Industry Co., Ltd.) as a curing catalyst are dissolved and mixed, and stirred using a high-speed stirrer. The same procedure as in Example 1 was conducted except that the resin composition obtained 70% by weight of varnish based on the solid content.

(実施例5)
シリコーンゴム微粒子(信越化学工業(株)製、KMP−600、平均粒子径5μm)26.4重量%、ベーマイト粒子(テスコ(株)製、AOH−30、平均粒子径1.8μm)18.2重量%、及びシリカナノ粒子(トクヤマ(株)製、NSS−5N、平均粒子径70nm)2.4重量%をANON:MIBK=1:1(v/v)の溶媒に分散させて、濃度65重量%のスラリーを調製した。このスラリーに、エポキシ樹脂(東都化成(株)製、ESN−375、ナフタレン型エポキシ樹脂、重量平均分子量700、軟化点75℃、エポキシ当量167g/eq)25.4重量%、シアネート樹脂(ロンザジャパン(株)製、PT30、ノボラック型シアネート樹脂、重量平均分子量380)21.2重量%と、硬化剤としてフェノール樹脂(日本化薬(株)製、GPH−103、ビフェニルアラルキル型フェノール樹脂)6.4重量%とを溶解・混合させ、高速撹拌装置を用い撹拌して、エポキシ樹脂組成物が固形分基準で70重量%のワニスを得た以外は、実施例1と同様にした。
(Example 5)
Silicone rubber fine particles (manufactured by Shin-Etsu Chemical Co., Ltd., KMP-600, average particle size 5 μm) 26.4% by weight, boehmite particles (manufactured by Tesco Co., Ltd., AOH-30, average particle size 1.8 μm) 18.2 % By weight and 2.4% by weight of silica nanoparticles (manufactured by Tokuyama Co., Ltd., NSS-5N, average particle diameter 70 nm) are dispersed in a solvent of ANON: MIBK = 1: 1 (v / v) to a concentration of 65 weights. % Slurry was prepared. To this slurry, epoxy resin (manufactured by Toto Kasei Co., Ltd., ESN-375, naphthalene type epoxy resin, weight average molecular weight 700, softening point 75 ° C., epoxy equivalent 167 g / eq) 25.4% by weight, cyanate resin (Lonza Japan) 5. Co., Ltd., PT30, novolac-type cyanate resin, weight average molecular weight 380) 21.2% by weight, and a phenol resin (manufactured by Nippon Kayaku Co., Ltd., GPH-103, biphenyl aralkyl type phenol resin) 4% by weight was dissolved and mixed, and stirred using a high-speed stirrer to obtain a varnish having an epoxy resin composition based on solid content of 70% by weight.

(実施例6)
シリコーンゴム微粒子(信越化学工業(株)製、KMP−600、平均粒子径5μm)26.4重量%、ベーマイト粒子(テスコ(株)製、AOH−30、平均粒子径1.8μm)18.2重量%、及びシリカナノ粒子(トクヤマ(株)製、NSS−5N、平均粒子径70nm)2.4重量%をANON:MIBK=1:1(v/v)の溶媒に分散させて、濃度65重量%のスラリーを調製した。このスラリーに、エポキシ樹脂(日本化薬(株)製、NC3000、ビフェニルアラルキル型エポキシ樹脂、重量平均分子量1300、軟化点57℃、エポキシ当量276g/eq)25.4重量%、シアネート樹脂(ロンザジャパン(株)製、PT30、ノボラック型シアネート樹脂、重量平均分子量380)21.2重量%と、硬化剤としてフェノール樹脂(明和化成(株)製、MEH−7500、トリフェニルメタン型フェノール樹脂、水酸基当量97g/eq)6.4重量%とを溶解・混合させ、高速撹拌装置を用い撹拌して、エポキシ樹脂組成物が固形分基準で70重量%のワニスを得た以外は、実施例1と同様にした。
(Example 6)
Silicone rubber fine particles (manufactured by Shin-Etsu Chemical Co., Ltd., KMP-600, average particle size 5 μm) 26.4% by weight, boehmite particles (manufactured by Tesco Co., Ltd., AOH-30, average particle size 1.8 μm) 18.2 % By weight and 2.4% by weight of silica nanoparticles (manufactured by Tokuyama Co., Ltd., NSS-5N, average particle diameter 70 nm) are dispersed in a solvent of ANON: MIBK = 1: 1 (v / v) to a concentration of 65 weights. % Slurry was prepared. To this slurry, epoxy resin (Nippon Kayaku Co., Ltd., NC3000, biphenyl aralkyl type epoxy resin, weight average molecular weight 1300, softening point 57 ° C., epoxy equivalent 276 g / eq) 25.4% by weight, cyanate resin (Lonza Japan) Made by Co., Ltd., PT30, novolac-type cyanate resin, weight average molecular weight 380) 21.2% by weight and phenolic resin as a curing agent (Maywa Kasei Co., Ltd., MEH-7500, triphenylmethane type phenolic resin, hydroxyl equivalent 97 g / eq) 6.4% by weight was dissolved and mixed and stirred using a high-speed stirrer to obtain a varnish having an epoxy resin composition of 70% by weight based on the solid content. I made it.

(比較例1)
シリコーンゴム微粒子(信越化学工業(株)製、KMP−600、平均粒子径5μm)37.5重量%、及びシリカ粒子(アドマテックス(株)製、SO−25R、平均粒子径0.5μm)2.5重量%をANON:MIBK=1:1(v/v)の溶媒に分散させて、濃度65重量%のスラリーを調製した。このスラリーに、エポキシ樹脂(東都化成(株)製、ESN−375、ナフタレン型エポキシ樹脂、重量平均分子量700、軟化点75℃、エポキシ当量167g/eq)38.0重量%と、硬化剤としてフェノール樹脂(明和化成(株)製、MEH−7500、トリフェニルメタン型フェノール樹脂、水酸基当量97g/eq)22.0重量%とを溶解・混合させ、高速撹拌装置を用い撹拌して、エポキシ樹脂組成物が固形分基準で70重量%のワニスを得た以外は、実施例1と同様にした。
(Comparative Example 1)
Silicone rubber fine particles (manufactured by Shin-Etsu Chemical Co., Ltd., KMP-600, average particle size 5 μm) 37.5% by weight, and silica particles (manufactured by Admatechs Co., Ltd., SO-25R, average particle size 0.5 μm) 2 A slurry with a concentration of 65% by weight was prepared by dispersing 0.5% by weight in a solvent of ANON: MIBK = 1: 1 (v / v). To this slurry, epoxy resin (manufactured by Tohto Kasei Co., Ltd., ESN-375, naphthalene type epoxy resin, weight average molecular weight 700, softening point 75 ° C., epoxy equivalent 167 g / eq) 38.0% by weight, phenol as a curing agent The resin (Maywa Kasei Co., Ltd., MEH-7500, triphenylmethane type phenolic resin, hydroxyl group equivalent 97 g / eq) 22.0% by weight is dissolved and mixed and stirred using a high-speed stirring device to obtain an epoxy resin composition The procedure was the same as in Example 1 except that the product obtained a varnish of 70% by weight based on the solid content.

(比較例2)
スラリーの成分を、ベーマイト粒子(テスコ(株)製、AOH−30、平均粒子径1.8μm)18.2重量%、シリカナノ粒子(トクヤマ(株)製、NSS−5N、平均粒子径70nm)2.4重量%、及びシリカ粒子(アドマテックス(株)製、SO−25R、平均粒子径0.5μm)26.4重量%とした以外は、実施例1と同様にした。
(Comparative Example 2)
The components of the slurry were boehmite particles (Tesco Co., Ltd., AOH-30, average particle size 1.8 μm) 18.2% by weight, silica nanoparticles (Tokuyama Co., Ltd., NSS-5N, average particle size 70 nm) 2 The same procedure as in Example 1 except that the content was 0.4 wt% and the silica particles (manufactured by Admatechs Co., Ltd., SO-25R, average particle size 0.5 μm) were 26.4 wt%.

(比較例3)
スラリーの成分を、シリコーンゴム微粒子(信越化学工業(株)製、KMP−600、平均粒子径5μm)18.2重量%、シリカナノ粒子(トクヤマ(株)製、NSS−5N、平均粒子径70nm)2.4重量%、及びシリカ粒子(アドマテックス(株)製、SO−25R、平均粒子径0.5μm)26.4重量%とした以外は、実施例1と同様にした。
(Comparative Example 3)
The components of the slurry were silicone rubber fine particles (Shin-Etsu Chemical Co., Ltd., KMP-600, average particle size 5 μm) 18.2% by weight, silica nanoparticles (Tokuyama Co., Ltd., NSS-5N, average particle size 70 nm). The procedure was the same as Example 1 except that the content was 2.4% by weight and 26.4% by weight of silica particles (manufactured by Admatechs Co., Ltd., SO-25R, average particle size 0.5 μm).

(比較例4)
スラリーの成分を、ベーマイト粒子(テスコ(株)製、AOH−30、平均粒子径1.8μm)20.6重量%、及びシリカ粒子(アドマテックス(株)製、SO−25R、平均粒子径0.5μm)26.4重量%とした以外は、実施例1と同様にした。
(Comparative Example 4)
The components of the slurry were boehmite particles (Tesco Co., Ltd., AOH-30, average particle size 1.8 μm) 20.6% by weight, and silica particles (Admatex Co., Ltd., SO-25R, average particle size 0) 0.5 μm) Same as Example 1 except 26.4% by weight.

(比較例5)
スラリーの成分を、ベーマイト粒子(テスコ(株)製、AOH−30、平均粒子径1.8μm)44.6重量%、及びシリカナノ粒子(トクヤマ(株)製、NSS−5N、平均粒子径70nm)2.4重量%とした以外は、実施例1と同様にした。
(Comparative Example 5)
The components of the slurry were boehmite particles (Tesco Co., Ltd., AOH-30, average particle size 1.8 μm) 44.6% by weight, and silica nanoparticles (Tokuyama Co., Ltd., NSS-5N, average particle size 70 nm) The procedure was the same as Example 1 except that the content was 2.4% by weight.

実施例及び比較例で得られたプリプレグ、金属張積層板、プリント配線板、及び半導体装置等について以下の評価を行った。評価項目を内容と共に示す。得られた結果を表1に示す。   The following evaluation was performed on the prepregs, metal-clad laminates, printed wiring boards, semiconductor devices, and the like obtained in the examples and comparative examples. The evaluation items are shown together with the contents. The obtained results are shown in Table 1.

(1)線膨張係数
得られた金属張積層板の銅箔をエッチングにより除去し、評価用試料として2mm×2mmを採取し、TMA装置(TAインスツルメント社製)を用いて、10℃/分の条件で、30〜150℃まで昇温させ、50〜100℃における厚み方向(Z方向)の線膨張係数(CTE)を測定した。
(1) Coefficient of linear expansion The copper foil of the obtained metal-clad laminate is removed by etching, 2 mm × 2 mm is taken as an evaluation sample, and 10 ° C./min using a TMA apparatus (TA Instruments). The temperature was raised to 30 to 150 ° C. under the condition of minutes, and the linear expansion coefficient (CTE) in the thickness direction (Z direction) at 50 to 100 ° C. was measured.

(2)難燃性
前記金属張積層板の製造において、前記プリプレグを10枚重ね、その両面に12μmの銅箔を重ねて、圧力3MPa、温度200℃で2時間加熱加圧成形し、厚さ1.02mmの両面金属張積層板を得た。前記で得られた金属張積層板の銅箔をエッチングし、UL−94規格に従い、1.0mm厚のテストピースを垂直法により測定した。
規格外:全焼するものが5本のテストピース中1本以上あった。
(2) Flame retardancy In the production of the metal-clad laminate, 10 sheets of the prepreg are stacked, 12 μm copper foil is stacked on both sides, and heat-pressed at a pressure of 3 MPa and a temperature of 200 ° C. for 2 hours to obtain a thickness. A 1.02 mm double-sided metal-clad laminate was obtained. The copper foil of the metal-clad laminate obtained above was etched, and a 1.0 mm-thick test piece was measured by the vertical method according to the UL-94 standard.
Nonstandard: One or more of the five test pieces burned out.

(3)ドリル摩耗性
得られた金属積層板を3枚重ねて、ユニオンツール(株)製ドリルビット(UV L0950)により、ドリル回転速度160rpm、送り速度3.2m/分のドリル加工条件で、φ150の孔あけ加工3000穴を行い、使用前のドリル刃幅を100%とし、使用後のドリル刃幅の残存率を測定した。
(3) Drill wearability Three metal laminates obtained were stacked, and a drill bit (UV L0950) manufactured by Union Tool Co., Ltd. was used with a drill rotation speed of 160 rpm and a feed speed of 3.2 m / min. Drilling 3000 holes of φ150 was performed, the drill blade width before use was taken as 100%, and the remaining ratio of the drill blade width after use was measured.

(4)プリプレグ含浸性
得られた金属張積層板の断面観察を行った。断面観察は、走査電子顕微鏡を用いた。含浸性は、断面観察結果において、観察されたボイドの面積で評価した。
○:全面積10%未満の箇所で、未含浸ボイドが見られたが、実用可能レベルであった。
△:全面積10〜30%の箇所で、未含浸ボイドが見られ、実用不可であった。
×:全面積50%以上の箇所で、未含浸ボイドが見られ、実用不可であった。
(4) Prepreg impregnation The cross section of the obtained metal-clad laminate was observed. A scanning electron microscope was used for cross-sectional observation. The impregnation property was evaluated by the area of the observed void in the cross-sectional observation result.
○: Unimpregnated voids were observed at locations where the total area was less than 10%, but this was at a practical level.
Δ: Unimpregnated voids were found at locations where the total area was 10 to 30%, which was not practical.
X: Unimpregnated voids were observed at locations where the total area was 50% or more, which was not practical.

(5)デスミア耐性
得られた金属張積層板の銅箔をエッチングにより除去し、1枚で、炭酸レーザー装置(日立ビアメカニクス(株)製:LG−2G212)を用いてφ60μmのビアホール500穴を形成し、70℃の膨潤液(アトテックジャパン社製、スウェリングディップ セキュリガント P)に5分間浸漬し、さらに80℃の過マンガン酸カリウム水溶液(アトテックジャパン社製、コンセントレートコンパクト CP)に15分浸漬後、中和して粗化処理を行うことでデスミア処理を行い、デスミア処理による減膜量を測定した。
(5) Resistance to desmear The copper foil of the obtained metal-clad laminate is removed by etching, and a single hole is used to form a φ60 μm via hole 500 hole using a carbonic acid laser device (manufactured by Hitachi Via Mechanics Co., Ltd .: LG-2G212). And then immersed in a swelling solution at 70 ° C. (Atotech Japan, Swelling Dip Securigant P) for 5 minutes, and further in an aqueous potassium permanganate solution (Atotech Japan, Concentrate Compact CP) at 80 ° C. for 15 minutes. After soaking, it was neutralized and subjected to a roughening treatment to carry out a desmear treatment, and the amount of film reduction due to the desmear treatment was measured.

(6)スジ状ムラの発生状況
図2に、(1)実施例1で得られた金属張積層板の表面を撮影した写真、(2)比較例1で得られた金属張積層板の表面を撮影した写真、及び(3)金属張積層板の金属箔層の表面の写真を説明する図を示す。写真に示すように、比較例1の金属張積層板の金属箔層の表面には、スジ状のムラが発生したが、実施例1の金属張積層板の金属箔層の表面は、スジ状のムラが見られなかった。
(6) Occurrence of streaky irregularities FIG. 2 shows (1) a photograph of the surface of the metal-clad laminate obtained in Example 1, and (2) the surface of the metal-clad laminate obtained in Comparative Example 1. The photograph which image | photographed (3) and the figure explaining the photograph of the surface of the metal foil layer of a metal-clad laminated board are shown. As shown in the photograph, streaky unevenness occurred on the surface of the metal foil layer of the metal-clad laminate of Comparative Example 1, but the surface of the metal foil layer of the metal-clad laminate of Example 1 was The unevenness of was not seen.

(7)ENEPIG特性
以下の手順でENEPIG工程を行って作製したプリント配線板の細線間の金属析出を
SEM観察により確認した。
[1]クリーナー処理
クリーナー液として上村工業(株)製ACL−007を用い、上記テストピースを液温50℃のクリーナー液に5分間浸漬した後、3回水洗した。
[2]ソフトエッチング処理
クリーナー処理後、ソフトエッチング液として過硫酸ソーダと硫酸の混液を用い、上記テストピースを液温25℃のソフトエッチング液に1分間浸漬した後、3回水洗した。
[3]酸洗処理
ソフトエッチング処理後、上記テストピースを液温25℃の硫酸に1分間浸漬した後、3回水洗した。
[4]プレディップ処理
酸洗処理後、上記テストピースを液温25℃の硫酸に1分間浸漬した。
[5]パラジウム触媒付与工程
プレディップ処理後、端子部分にパラジウム触媒を付与するために、パラジウム触媒付与液として上村工業(株)製KAT−450を用いた。上記テストピースを、液温25℃の当該パラジウム触媒付与液に2分間浸漬した後、3回水洗した。
[6]無電解Niめっき処理
パラジウム触媒付与工程の後、上記テストピースを液温80℃の無電解Niめっき浴(上村工業(株)製NPR−4)に35分間浸漬した後、3回水洗した。
[7]無電解Pdめっき処理
無電解Niめっき処理後、上記テストピースを液温50℃の無電解Pdめっき浴(上村工業(株)製TPD−30)に5min)分間浸漬した後、3回水洗した。
[8]無電解Auめっき処理
無電解Pdめっき処理後、上記テストピースを液温80℃の無電解Auめっき浴(上村工業(株)製TWX−40)に30min)分間浸漬した後、3回水洗した。
○:回路間50μm×50μmの範囲で金属析出部の割合が面積で5%以下。
×:回路間50μm×50μmの範囲で金属析出部の割合が面積で5%以上。
(7) ENEPIG characteristic The metal precipitation between the thin wires of the printed wiring board produced by performing the ENEPIG process in the following procedures was confirmed by SEM observation.
[1] Cleaner treatment ACL-007 manufactured by Uemura Kogyo Co., Ltd. was used as a cleaner liquid, and the test piece was immersed in a cleaner liquid at a liquid temperature of 50 ° C. for 5 minutes and then washed with water three times.
[2] Soft Etching Treatment After the cleaner treatment, a mixed solution of sodium persulfate and sulfuric acid was used as a soft etching solution, and the test piece was immersed in a soft etching solution at a liquid temperature of 25 ° C. for 1 minute and then washed with water three times.
[3] Pickling treatment After the soft etching treatment, the test piece was immersed in sulfuric acid having a liquid temperature of 25 ° C. for 1 minute and then washed with water three times.
[4] Pre-dip treatment After the pickling treatment, the test piece was immersed in sulfuric acid at a liquid temperature of 25 ° C. for 1 minute.
[5] Palladium catalyst application step After the pre-dip treatment, KAT-450 manufactured by Uemura Kogyo Co., Ltd. was used as a palladium catalyst application solution in order to apply a palladium catalyst to the terminal portion. The test piece was immersed in the palladium catalyst application solution at a liquid temperature of 25 ° C. for 2 minutes and then washed with water three times.
[6] Electroless Ni plating treatment After the palladium catalyst application step, the test piece was immersed in an electroless Ni plating bath (NPR-4 manufactured by Uemura Kogyo Co., Ltd.) at a liquid temperature of 80 ° C. for 35 minutes, and then washed with water three times. did.
[7] Electroless Pd plating treatment After the electroless Ni plating treatment, the test piece was immersed in an electroless Pd plating bath (TPD-30 manufactured by Uemura Kogyo Co., Ltd.) at a liquid temperature of 50 ° C. for 3 minutes, and then three times. Washed with water.
[8] Electroless Au plating treatment After the electroless Pd plating treatment, the test piece was immersed in an electroless Au plating bath (TWX-40, manufactured by Uemura Kogyo Co., Ltd.) for 30 minutes for 3 times. Washed with water.
○: The ratio of the metal precipitation part is 5% or less in terms of the area in the range of 50 μm × 50 μm between circuits.
X: The ratio of the metal precipitation part is 5% or more in an area in the range of 50 micrometers x 50 micrometers between circuits.

表1に記載されている評価結果より、以下のことがわかる。
比較例1では、本発明で特定したシリカナノ粒子及びベーマイト粒子を用いなかったことに起因し、プリプレグ含浸性が悪いため、線膨張係数、難燃性、デスミア耐性、及びENEPIG特性が実用可能なレベルに達していなかった。
比較例2では、本発明で特定したシリコーンゴム微粒子を用いず、シリカ粒子を用いたことに起因し、ドリル摩耗性が実用可能なレベルに達していなかった。
比較例3では、本発明で特定したベーマイト粒子を用いなかったことに起因し、難燃性及びドリル摩耗性が実用可能なレベルに達していなかった。
比較例4では、本発明で特定したシリコーンゴム微粒子及びシリカナノ粒子を用いなかったことに起因し、プリプレグ含浸性が悪いため、デスミア耐性、及びENEPIG特性が実用可能なレベルに達していなかった。
比較例5では、本発明で特定したシリコーンゴム微粒子を用いず、ベーマイト粒子を多量に用いたことに起因し、線膨張係数が実用可能なレベルに達していなかった。
尚、比較例1及び比較例4は、ドリル摩耗性の数値は実施例の結果と同等であるものの、テストピースはボイドが非常に多量に含んだ状態であり、実施例と客観的に対比することはできない。
また、比較例1及び比較例4の線膨張係数試験では、テストピースのプリプレグ含浸性が悪かったため、充填性の高い部分を選定して測定を行った。
実施例1〜6で得られた本発明のエポキシ樹脂組成物、プリプレグ、金属張積層板、プリント配線板、及び半導体装置は、線膨張係数、難燃性、ドリル摩耗性、プリプレグ含浸性、デスミア耐性、及びENEPIG特性のすべてが良好であった。従って、本発明で特定した、エポキシ樹脂と、シリコーンゴム微粒子と、ベーマイト粒子と、シリカナノ粒子とを含むことを特徴とするシリコーンゴム微粒子含有エポキシ樹脂組成物を用いることにより、性能の優れたプリプレグ、金属張積層板、プリント配線板、及び半導体装置を得られることがわかる。
From the evaluation results described in Table 1, the following can be understood.
In Comparative Example 1, due to the fact that the silica nanoparticles and boehmite particles specified in the present invention were not used, the prepreg impregnation property was poor, so that the linear expansion coefficient, flame retardancy, desmear resistance, and ENEPIG characteristics were practical. It was not reached.
In Comparative Example 2, the wear resistance of the drill did not reach a practical level due to the use of silica particles without using the silicone rubber fine particles specified in the present invention.
In Comparative Example 3, the flame retardancy and drill wearability did not reach practical levels because the boehmite particles specified in the present invention were not used.
In Comparative Example 4, due to the fact that the silicone rubber fine particles and silica nanoparticles specified in the present invention were not used, the prepreg impregnation property was poor, so that desmear resistance and ENEPIG characteristics did not reach practical levels.
In Comparative Example 5, the silicone rubber fine particles specified in the present invention were not used, and a large amount of boehmite particles was used, so that the linear expansion coefficient did not reach a practical level.
In Comparative Example 1 and Comparative Example 4, the numerical value of drill wearability is equivalent to the result of the example, but the test piece is in a state containing a very large amount of voids and is objectively compared with the example. It is not possible.
Moreover, in the linear expansion coefficient test of Comparative Example 1 and Comparative Example 4, since the prepreg impregnation property of the test piece was bad, measurement was performed by selecting a portion having a high filling property.
The epoxy resin compositions, prepregs, metal-clad laminates, printed wiring boards, and semiconductor devices obtained in Examples 1 to 6 have a coefficient of linear expansion, flame retardancy, drill wear, prepreg impregnation, and desmear. The tolerance and ENEPIG properties were all good. Therefore, by using the epoxy resin composition containing silicone rubber fine particles characterized by containing epoxy resin, silicone rubber fine particles, boehmite particles, and silica nanoparticles specified in the present invention, a prepreg having excellent performance, It can be seen that a metal-clad laminate, a printed wiring board, and a semiconductor device can be obtained.

3a…絶縁樹脂層付き金属箔
4…基材
3a ... Metal foil with insulating resin layer 4 ... Base material

Claims (13)

エポキシ樹脂と、平均粒子径1μm〜10μmのシリコーンゴム微粒子と、平均粒子径0.2μm〜5μmのベーマイト微粒子と、平均粒子径10nm〜100nmのシリカナノ粒子と、を含有することを特徴とする、エポキシ樹脂組成物。   An epoxy resin comprising: an epoxy resin; silicone rubber fine particles having an average particle diameter of 1 μm to 10 μm; boehmite fine particles having an average particle diameter of 0.2 μm to 5 μm; and silica nanoparticles having an average particle diameter of 10 nm to 100 nm. Resin composition. 前記シリコーンゴム微粒子は、シリコーンゴムからなるコア部を、シリコーン樹脂で被覆したコアシェル構造粒子である、請求項1に記載のエポキシ樹脂組成物。   The epoxy resin composition according to claim 1, wherein the silicone rubber fine particles are core-shell structured particles in which a core portion made of silicone rubber is coated with a silicone resin. 前記シリカナノ粒子の平均粒子径が40nm以上100nm以下である請求項1又は2に記載のエポキシ樹脂組成物。   The epoxy resin composition according to claim 1 or 2, wherein an average particle diameter of the silica nanoparticles is 40 nm or more and 100 nm or less. さらに、シアネート樹脂を含むものである請求項1乃至3のいずれか一項に記載のエポキシ樹脂組成物。   Furthermore, the epoxy resin composition as described in any one of Claims 1 thru | or 3 which contains cyanate resin. さらに、マレイミド樹脂を含むものである請求項1乃至4のいずれか一項に記載のエポキシ樹脂組成物。   Furthermore, the epoxy resin composition as described in any one of Claims 1 thru | or 4 which contains a maleimide resin. 前記エポキシ樹脂は、ビフェニルアラルキル型エポキシ樹脂、ナフタレン骨格変性エポキシ樹脂、及びクレゾールノボラック型エポキシ樹脂よりなる群から選ばれる少なくとも1種である請求項1乃至5のいずれか一項に記載のエポキシ樹脂組成物。   The epoxy resin composition according to any one of claims 1 to 5, wherein the epoxy resin is at least one selected from the group consisting of a biphenyl aralkyl type epoxy resin, a naphthalene skeleton-modified epoxy resin, and a cresol novolac type epoxy resin. object. 請求項1乃至6のいずれか一項に記載のエポキシ樹脂組成物を基材に含浸してなることを特徴とするプリプレグ。   A prepreg obtained by impregnating a base material with the epoxy resin composition according to any one of claims 1 to 6. 基材中に請求項1乃至6のいずれか一項に記載のエポキシ樹脂組成物を含浸してなる樹脂含浸基材層の少なくとも片面に金属箔を有することを特徴とする金属張積層板。   A metal-clad laminate having a metal foil on at least one surface of a resin-impregnated substrate layer obtained by impregnating the epoxy resin composition according to any one of claims 1 to 6 in a substrate. 請求項7に記載のプリプレグ又は当該プリプレグを2枚以上重ね合わせた積層体の少なくとも片面に金属箔を重ね、加熱加圧することにより得られる請求項8に記載の金属張積層板。   The metal-clad laminate according to claim 8, which is obtained by superimposing a metal foil on at least one surface of the prepreg according to claim 7 or a laminate in which two or more prepregs are superposed and heating and pressing. 請求項8又は9に記載の金属張積層板を内層回路基板に用いてなることを特徴とするプリント配線板。   A printed wiring board comprising the metal-clad laminate according to claim 8 or 9 as an inner circuit board. 内層回路上に、請求項7に記載のプリプレグを絶縁層に用いてなるプリント配線板。   The printed wiring board which uses the prepreg of Claim 7 for an insulating layer on an inner layer circuit. 内層回路上に、請求項1乃至6のいずれか一項に記載のエポキシ樹脂組成物を絶縁層に用いてなるプリント配線板。   The printed wiring board which uses the epoxy resin composition as described in any one of Claims 1 thru | or 6 for an insulating layer on an inner layer circuit. 請求項10乃至12のいずれか一項に記載のプリント配線板に半導体素子を搭載してなることを特徴とする半導体装置。   13. A semiconductor device comprising a semiconductor element mounted on the printed wiring board according to any one of claims 10 to 12.
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