JP2011100341A - エッジ検出方法及び画像処理装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】被撮像物IOのエッジを検出するために、制御部3は、被撮像物を実質的に半円形状で囲むように複数設けられた光源LEDを予め定められた順番で1つずつ点灯させることで、その点灯タイミングに同期して被撮像物を定点からカメラ2で撮像して当該被撮像物の濃淡画像を連続的に取得する。演算処理部4は、この点灯タイミングに同期して連続的に取得したすべての濃淡画像で、画素列毎に各画素の階調を比較して、階調の最大値となる画素と最小値となる画素との差分値を微分処理して画素列毎に微分値分布を算出し、この微分値分布から予め定められた閾値以上の画素位置をエッジ点として検出する。
【選択図】図1
Description
2……カメラ
3……制御部
4……演算処理部
41……濃淡画像取得機能
42……差分処理機能
43……微分処理機能
44……エッジ点検出機能
45……エッジ抽出機能
LED……光源
IO……被撮像物
Claims (8)
- 被撮像物を実質的に半円形状で囲むように複数設けられた光源を当該被撮像物に対して照射させるにあたり、前記複数設けられた光源を予め定められた順番で1つずつ点灯させる点灯ステップと、
前記点灯ステップで順次点灯させる前記複数の光源の点灯タイミングに同期して前記被撮像物を定点から撮像して当該被撮像物の濃淡画像を取得する撮像ステップと、
前記撮像ステップで前記点灯タイミングに同期して取得したすべての前記濃淡画像で、予め定められた画素列毎に各画素の階調を比較して、前記画素毎に前記階調の最大値となる画素と、最小値となる画素との差分値を算出する差分処理ステップと、
前記差分処理ステップで算出した前記画素の前記差分値を微分処理して前記画素列毎に微分値分布を算出する微分処理ステップと、
前記微分処理ステップで算出した前記微分値分布から予め定められた閾値以上の画素位置をエッジ点として検出するエッジ点検出ステップとを有することを特徴とするエッジ検出方法。 - 前記エッジ点検出ステップで検出された前記エッジ点となる前記画素の前記微分値を前記画素列毎に連結して前記被撮像物のエッジ部位を抽出するエッジ抽出ステップを含むことを特徴とする請求項1記載のエッジ検出方法。
- 前記閾値は、前記被撮像物の前記エッジとして捉えることができる値であることを特徴とする請求項1又は請求項2記載のエッジ検出方法。
- 前記被撮像物を実質的に半円形状で囲むように複数設けられた光源と、
前記複数設けられた光源側に設けられ前記被撮像物を定点から撮像するカメラと、
前記複数設けられた光源を予め定められた順番で1つずつ点灯させると共に、前記複数設けられた光源の点灯タイミングに同期して前記カメラのシャッターを駆動させる制御部と、
前記カメラで前記点灯タイミングに同期して撮像された前記被撮像物の画像の濃淡から当該被撮像物のエッジを検出する演算処理部とを備え、
前記演算処理部は、
前記カメラで前記点灯タイミングに同期して撮像された前記被撮像物の濃淡画像を取得する濃淡画像取得機能と、
前記濃淡画像取得機能で取得したすべての前記濃淡画像で、予め定められた画素列毎に各画素の階調を比較して、前記画素毎に前記階調の最大値となる画素と、最小値となる画素との差分値を算出する差分処理機能と、
前記差分処理機能で算出した前記画素の前記差分値を微分処理して前記画素列毎に微分値分布を算出する微分処理機能と、
前記微分処理機能で算出した前記微分値分布から予め定められた閾値以上の画素位置をエッジ点として検出するエッジ点検出機能とを有することを特徴とする画像処理装置。 - 前記演算処理部は、前記エッジ点検出機能で検出された前記エッジ点となる前記画素の前記微分値を前記画素列毎に連結して前記被撮像物のエッジ部位を抽出するエッジ抽出機能を有することを特徴とする請求項4記載の画像処理装置。
- 前記複数設けられた光源は、等間隔で配置されていることを特徴とする請求項4又は請求項5記載の画像処理装置。
- 前記複数設けられた光源は、前記カメラを中心にして同数で振り分けられていることを特徴とする請求項6記載の画像処理装置。
- 前記光源は発光ダイオードであることを特徴とする請求項4乃至請求項7のうち何れか1項に記載の画像処理装置。
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