JP2011090363A - 定電圧発生回路及びそれを内蔵した半導体集積回路 - Google Patents
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Abstract
【課題】サンプリング駆動される定電圧発生回路において、負荷容量が大きくても非サンプリング期間における出力電圧の変動を低減する。
【解決手段】この定電圧発生回路は、第1及び第2の電源電位から第1及び第2のスイッチ回路を介して電源電圧が供給されて出力信号を出力する差動増幅回路と、差動増幅回路の出力端子に接続された第1の端子を有する第3のスイッチ回路と、第3のスイッチ回路の第2の端子と第2の電源電位との間に接続された第1のコンデンサと、第3のスイッチ回路がオンしているときに、第3のスイッチ回路の第2の端子から供給される出力信号を増幅して出力ノードに供給し、第3のスイッチ回路がオフしているときに、第1のコンデンサに保持されている電位を増幅して出力ノードに供給する増幅回路と、出力ノードと差動増幅回路の出力端子との間に接続された第2のコンデンサとを含む。
【選択図】図1
【解決手段】この定電圧発生回路は、第1及び第2の電源電位から第1及び第2のスイッチ回路を介して電源電圧が供給されて出力信号を出力する差動増幅回路と、差動増幅回路の出力端子に接続された第1の端子を有する第3のスイッチ回路と、第3のスイッチ回路の第2の端子と第2の電源電位との間に接続された第1のコンデンサと、第3のスイッチ回路がオンしているときに、第3のスイッチ回路の第2の端子から供給される出力信号を増幅して出力ノードに供給し、第3のスイッチ回路がオフしているときに、第1のコンデンサに保持されている電位を増幅して出力ノードに供給する増幅回路と、出力ノードと差動増幅回路の出力端子との間に接続された第2のコンデンサとを含む。
【選択図】図1
Description
本発明は、ディジタルカメラや携帯電話等の携帯機器において、計時情報を管理するリアルタイムクロックの発振回路等に定電圧を供給する定電圧発生回路に関し、さらに、そのような定電圧発生回路を内蔵した半導体集積回路に関する。
ディジタルカメラや携帯電話等の携帯機器においては、メインスイッチを切ったときに、計時情報を管理するリアルタイムクロック用ICが、バックアップ用の充電池(二次電池)又は大容量キャパシタから供給される電力によって動作する。二次電池等からの電力供給時間を長く確保するために、近年において、リアルタイムクロック用ICは、200nA以下の低消費電流で動作している。
このような低消費電流動作を実現するために、リアルタイムクロック用IC内部の発振回路や分周回路等を、定電圧発生回路によって生成される定電圧で動作させることが行われている。例えば、二次電池等からICに供給される電源電圧が3V若しくは5Vであっても、IC内部の定電圧発生回路によって、0.8V、1.0V、又は、1.5V等の低い電源電圧を生成し、この電源電圧で発振回路等を動作させることにより、低消費電流動作が実現される。さらに低消費電流化を図るために、定電圧発生回路をサンプリング駆動(間欠駆動)することも行われている。
図6は、従来の定電圧発生回路の構成例を示す回路図である。この定電圧発生回路は、電源電位VDD(図6においては、接地電位とする)及び電源電位VSSに基づいて、定電圧である出力電圧VREGを発生し、出力電圧VREGを出力ノードN6から発振回路等の被駆動回路に出力する。
ノードN1とノードN2との間に、定電流源A1と、PチャネルMOSトランジスタQP1及びQP2と、NチャネルMOSトランジスタQN1及びQN2とによって、差動増幅回路が構成されている。電源電位VDDとノードN1との間には、スイッチ回路としてPチャネルMOSトランジスタQP3が接続されており、ノードN2と電源電位VSSとの間には、スイッチ回路としてNチャネルMOSトランジスタQN3が接続されている。
サンプリング期間においては、サンプリング信号SPがハイレベルに活性化され、サンプリング信号XSPがローレベルに活性化されるので、トランジスタQP3及びQN3がオン状態となる。一方、非サンプリング期間においては、サンプリング信号SPがローレベルに非活性化され、サンプリング信号XSPがハイレベルに非活性化されるので、トランジスタQP3及びQN3がオフ状態となる。
サンプリング期間において、トランジスタQP3及びQN3がオン状態となったときに、差動増幅回路は、ノードN1及びノードN2から電源電圧(VDD−VSS)が供給され、第1の入力端子(ノードN3)の電位と第2の入力端子(ノードN4)の電位との差を増幅して、出力端子(ノードN5)から出力信号を出力する。
ノードN1とノードN2との間には、バイアス発生用のPチャネルMOSトランジスタQP4と定電流源A2とが直列に接続されており、トランジスタQP4と定電流源A2との接続点における電位が、差動増幅回路の第1の入力端子(ノードN3)に供給される。
また、ノードN1と定電圧発生回路の出力ノードN6との間には、定電流源A3とバイアス発生用のNチャネルMOSトランジスタQN4とが直列に接続されており、定電流源A3とトランジスタQN4との接続点における電位が、差動増幅回路の第2の入力端子(ノードN4)に供給される。
さらに、定電圧発生回路の出力ノードN6と電源電位VSSとの間には、出力段の増幅回路を構成するNチャネルMOSトランジスタQN5が接続されている。トランジスタQN5のゲートは、差動増幅回路の出力端子(ノードN5)に接続されており、トランジスタQN5のドレインは、定電圧発生回路の出力ノードN6に接続されており、トランジスタQN5のソースは、電源電位VSSに接続されている。
トランジスタQN5のゲートと電源電位VSSとの間には、非サンプリング期間においてトランジスタQN5のゲートバイアス電位を保持するためのコンデンサC1が接続されている。また、トランジスタQN5のドレインとゲートとの間には、トランジスタQN5の発振を防止するための位相補償用コンデンサC2が接続されている。
トランジスタQN5は、サンプリング期間において、差動増幅回路の出力信号を増幅して定電圧発生回路の出力ノードN6に供給し、非サンプリング期間において、コンデンサC1に保持されているゲートバイアス電位を増幅して定電圧発生回路の出力ノードN6に供給する。
定電圧発生回路の出力ノードN6には、被駆動回路が接続されるが、被駆動回路や配線は、入力容量や浮遊容量を有している。図6においては、そのような入力容量や浮遊容量を、負荷容量CLとして表している。
図6に示す定電圧発生回路の動作を詳しく説明すると、サンプリング期間においては、差動増幅回路が動作して、出力段の増幅回路を構成するトランジスタQN5のゲートバイアス電位を制御する。バイアス発生用のトランジスタQP4のしきい値電圧をVTP4とし、バイアス発生用のトランジスタQN4のしきい値電圧をVTN4とすると、定電圧発生回路の出力ノードN6には、電圧(VTP4+VTN4)に依存した定電圧である出力電圧VREGが得られる。この出力電圧VREGは、電源電位VDD及びVSSには依存しない。
一方、非サンプリング期間においては、差動増幅回路は動作を停止するが、コンデンサC1がトランジスタQN5のゲートバイアス電位を保持するので、定電圧発生回路の出力ノードN6において出力電圧VREGが維持される。しかしながら、定電圧発生回路の負荷となる負荷容量CLが大きい場合には、定電圧発生回路の出力電圧VREGが不安定になってしまうという現象が生じている。
図7は、定電圧発生回路の負荷容量が大きい場合における出力電圧の変動を示す波形図である。定電圧発生回路の出力電圧VREGは、破線で示すように、本来、安定した値をとらなければならないが、実際には、実線で示すように、サンプリング駆動毎に変動して不安定となってしまい、被駆動回路の誤動作を招くことがあった。その原因について、以下に説明する。
図8は、非サンプリング期間における定電圧発生回路の等価回路を示す回路図である。非サンプリング期間においては、差動増幅回路の入出力系統がハイインピーダンス状態となるので、図8に示すように、差動増幅回路による制御経路と出力段の増幅回路とが切り離された状態となる。
一方、電源電位VDDから、負荷容量CL、コンデンサC2、及び、コンデンサC1を介して、電源電位VSSに到る直列経路(図8中の太線)が存在する。これにより、サンプリング期間において所定の定電圧を出力ノードN6に出力するように制御されていたトランジスタQN5のゲートバイアス電位が、非サンプリング期間において、負荷容量CL、コンデンサC2、及び、コンデンサC1によって分圧された値に変動してしまう。さらに、負荷容量CL、コンデンサC2、及び、コンデンサC1によって分圧されたトランジスタQN5のゲートバイアス電位は、被駆動回路の消費電流等によって変動するので、定電圧発生回路の出力電圧VREGが、継続的に変動してしまう。
関連する技術として、特許文献1には、チップサイズを増大することなく低消費電力化を実現すると共に、出力電位の変動を低減する定電圧発生回路が開示されている。この定電圧発生回路は、電流源から出力される電流に基づいて基準電位を発生する基準電位発生手段と、基準電位発生手段が発生する基準電位を保持するためのコンデンサと、基準電位発生手段が発生する基準電位に基づいて出力電位を発生する増幅手段と、印加される信号に基づいて基準電位発生手段に含まれる電流源をオン/オフさせるスイッチ手段とを具備する。
特許文献1の定電圧発生回路においても、定電圧発生回路の負荷容量が大きい場合には、非サンプリング期間において、基準電位発生手段が発生する基準電位を保持するためのコンデンサに保持されている電位が変動するので、定電圧発生回路の出力電圧の変動は避けられない。
そこで、上記の点に鑑み、本発明は、サンプリング駆動される定電圧発生回路において、定電圧発生回路の負荷容量が大きくても、非サンプリング期間における出力電圧の変動を低減することを目的とする。
以上の課題を解決するため、本発明の1つの観点に係る定電圧発生回路は、第1の電源電位及び第2の電源電位に基づいて定電圧を発生し、該定電圧を出力ノードから負荷に出力する定電圧発生回路であって、第1のノード及び第2のノードから電源電圧が供給されたときに、第1の入力端子の電位と第2の入力端子の電位との差を増幅して出力端子から出力信号を出力する差動増幅回路と、第1の電源電位と第1のノードとの間に接続され、印加されるサンプリング信号に同期してオン/オフする第1のスイッチ回路と、第2のノードと第2の電源電位との間に接続され、印加されるサンプリング信号に同期してオン/オフする第2のスイッチ回路と、第1のノードと差動増幅回路の第1の入力端子との間に第1のバイアス電圧を発生する第1のバイアス電圧発生回路と、差動増幅回路の第2の入力端子と出力ノードとの間に第2のバイアス電圧を発生する第2のバイアス電圧発生回路と、差動増幅回路の出力端子に接続された第1の端子を有し、印加されるサンプリング信号に同期してオン/オフする第3のスイッチ回路と、第3のスイッチ回路の第2の端子と第2の電源電位との間に接続された第1のコンデンサと、第3のスイッチ回路がオンしているときに、第3のスイッチ回路の第2の端子から供給される差動増幅回路の出力信号を増幅して出力ノードに供給し、第3のスイッチ回路がオフしているときに、第1のコンデンサに保持されている電位を増幅して出力ノードに供給する増幅回路と、出力ノードと差動増幅回路の出力端子との間に接続された第2のコンデンサとを具備する。
また、本発明の1つの観点に係る半導体集積回路は、本発明の1つの観点に係る定電圧発生回路と、間欠的に活性化される少なくとも1つのサンプリング信号を生成して定電圧発生回路の間欠動作を制御する間欠動作制御回路とを具備する。
ここで、間欠動作制御回路が、第1〜第3のスイッチ回路を略同時にオンさせると共に、第3のスイッチ回路をオフさせた後に第1及び第2のスイッチ回路をオフさせるようにしても良い。
また、第1のスイッチ回路が、Pチャネルトランジスタによって構成され、第2のスイッチ回路が、Nチャネルトランジスタによって構成され、第3のスイッチ回路が、Nチャネルトランジスタによって構成されるようにしても良い。
その場合に、間欠動作制御回路が、間欠的にハイレベルに活性化されるタイミング信号を生成し、タイミング信号を遅延させて第1のサンプリング信号を生成し、第1のサンプリング信号を反転して第2のサンプリング信号を生成し、タイミング信号と第1のサンプリング信号との論理積を求めることにより第3のサンプリング信号を生成して、第1のサンプリング信号を第2のスイッチ回路に供給し、第2のサンプリング信号を第1のスイッチ回路に供給し、第3のサンプリング信号を第3のスイッチ回路に供給するようにしても良い。
さらに、増幅回路が、第3のスイッチ回路の第2の端子に接続されたゲートと、出力ノードに接続されたドレインと、第2の電源電位に接続されたソースとを有するトランジスタを含むようにしても良い。
加えて、第1のバイアス電圧発生回路が、第1のノードと差動増幅回路の第1の入力端子との間に接続され、ゲートとドレインとが接続された少なくとも1つのトランジスタを含み、第2のバイアス電圧発生回路が、差動増幅回路の第2の入力端子と出力ノードとの間に接続され、ゲートとドレインとが接続された少なくとも1つのトランジスタを含むようにしても良い。
本発明の1つの観点によれば、差動増幅回路の出力端子と出力段の増幅回路の入力端子との間に接続され、印加されるサンプリング信号に同期してオン/オフする第3のスイッチ回路を設けたことにより、非サンプリング期間において出力段の増幅回路の入力端子の電位を安定に保持することができるので、定電圧発生回路の負荷容量が大きくても、非サンプリング期間における出力電圧の変動を低減することが可能となる。
以下、本発明の実施形態について、図面を参照しながら詳しく説明する。なお、同一の構成要素には同一の参照符号を付して、説明を省略する。
図1は、本発明の第1の実施形態に係る定電圧発生回路を内蔵した半導体集積回路の構成を示す回路図である。本実施形態においては、計時情報を管理するリアルタイムクロック用ICに本発明を適用した場合について説明する。
図1は、本発明の第1の実施形態に係る定電圧発生回路を内蔵した半導体集積回路の構成を示す回路図である。本実施形態においては、計時情報を管理するリアルタイムクロック用ICに本発明を適用した場合について説明する。
図1に示すように、この半導体集積回路は、間欠動作によって定電圧を発生する定電圧発生回路1と、定電圧発生回路1の間欠動作を制御する間欠動作制御回路2と、定電圧発生回路1から定電圧が供給される発振回路や分周回路等の被駆動回路3とを含んでいる。また、定電圧発生回路1の負荷となる被駆動回路3や配線は、入力容量や浮遊容量を有しているので、図1においては、そのような入力容量や浮遊容量を、負荷容量CLとして表している。
定電圧発生回路1は、電源電位VDD(本実施形態においては、接地電位とする)及び電源電位VSS(VSS<VDD)に基づいて、定電圧である出力電圧VREGを発生し、出力電圧VREGを出力ノードN6から負荷(被駆動回路3及び負荷容量CL)に出力する。
定電圧発生回路1において、ノードN1とノードN2との間に、定電流源A1と、PチャネルMOSトランジスタQP1及びQP2と、NチャネルMOSトランジスタQN1及びQN2とによって、差動増幅回路11が構成されている。定電流源A1の一端は、ノードN1に接続され、定電流源A1の他端は、差動ペアを構成するトランジスタQP1及びQP2のソースに接続されている。
トランジスタQP1のゲートは、差動増幅回路11の第1の入力端子(ノードN3)に接続されており、トランジスタQP1のドレイン及びトランジスタQN1のドレインは、差動増幅回路11の出力端子(ノードN5)に接続されている。また、トランジスタQP2のゲートは、差動増幅回路11の第2の入力端子(ノードN4)に接続されており、トランジスタQP2のドレインは、トランジスタQN2のドレイン及びゲートと、トランジスタQN1のゲートとに接続されている。トランジスタQN1及びQN2のソースは、ノードN2に接続されている。
電源電位VDDとノードN1との間には、第1のスイッチ回路としてPチャネルMOSトランジスタQP3が接続されており、ノードN2と電源電位VSSとの間には、第2のスイッチ回路としてNチャネルMOSトランジスタQN3が接続されている。トランジスタQN3のゲートには、サンプリング信号SP1が印加され、トランジスタQP3のゲートには、サンプリング信号XSP1が印加される。サンプリング信号XSP1は、サンプリング信号SP1を反転したものである。
トランジスタQP3及びQN3は、それぞれに印加されるサンプリング信号に同期してオン/オフする。サンプリング期間において、サンプリング信号SP1がハイレベルに活性化され、サンプリング信号XSP1がローレベルに活性化されるので、トランジスタQP3及びQN3がオン状態となる。一方、非サンプリング期間においては、サンプリング信号SP1がローレベルに非活性化され、サンプリング信号XSP1がハイレベルに非活性化されるので、トランジスタQP3及びQN3がオフ状態となる。
サンプリング期間において、トランジスタQP3及びQN3がオン状態となったときに、差動増幅回路11は、ノードN1及びノードN2から電源電圧(VDD−VSS)が供給され、第1の入力端子(ノードN3)の電位と第2の入力端子(ノードN4)の電位との差を増幅して、出力端子(ノードN5)から出力信号を出力する。
ノードN1と差動増幅回路11の第1の入力端子(ノードN3)との間には、ゲートとドレインとが接続された少なくとも1つのトランジスタ(図1においては、PチャネルMOSトランジスタQP4を示す)が接続されており、差動増幅回路11の第1の入力端子(ノードN3)とノードN2との間には、定電流源A2が接続されている。これらは、ノードN1と差動増幅回路11の第1の入力端子(ノードN3)との間に第1のバイアス電圧を発生する第1のバイアス電圧発生回路を構成する。
また、ノードN1と差動増幅回路11の第2の入力端子(ノードN4)との間には、定電流源A3が接続されており、差動増幅回路11の第2の入力端子(ノードN4)と定電圧発生回路1の出力ノードN6との間には、ゲートとドレインとが接続された少なくとも1つのトランジスタ(図1においては、NチャネルMOSトランジスタQN4を示す)が接続されている。これらは、差動増幅回路11の第2の入力端子(ノードN4)と定電圧発生回路1の出力ノードN6との間に第2のバイアス電圧を発生する第2のバイアス電圧発生回路を構成する。
さらに、定電圧発生回路1の出力ノードN6と電源電位VSSとの間には、出力段の増幅回路を構成するNチャネルMOSトランジスタQN5が接続されている。トランジスタQN5のドレインは、定電圧発生回路1の出力ノードN6に接続されており、トランジスタQN5のソースは、電源電位VSSに接続されている。
本実施形態においては、差動増幅回路11の出力端子(ノードN5)とトランジスタQN5のゲートとの間に、第3のスイッチ回路としてNチャネルMOSトランジスタQN6が接続されている。トランジスタQN6のドレインは、差動増幅回路11の出力端子(ノードN5)に接続されており、トランジスタQN6のソースは、トランジスタQN5のゲートに接続されている。トランジスタQN6のゲートには、サンプリング信号SP2が印加される。本実施形態においては、サンプリング信号SP2は、サンプリング信号SP1と同相である。
トランジスタQN5のゲートと電源電位VSSとの間には、非サンプリング期間においてトランジスタQN5のゲートバイアス電位を保持するためのコンデンサC1が接続されている。また、定電圧発生回路1の出力ノードN6と差動増幅回路11の出力端子(ノードN5)との間には、トランジスタQN5の発振を防止するための位相補償用のコンデンサC2が接続されている。
トランジスタQN6は、印加されるサンプリング信号SP2に同期してオン/オフする。サンプリング期間においては、サンプリング信号SP2がハイレベルに活性化されるので、トランジスタQN6がオン状態となる。一方、非サンプリング期間においては、サンプリング信号SP2がローレベルに非活性化されるので、トランジスタQN6がオフ状態となる。
トランジスタQN5は、サンプリング期間において、差動増幅回路11の出力端子(ノードN5)からトランジスタQN6を介してゲートに供給される差動増幅回路11の出力信号を増幅して定電圧発生回路1の出力ノードN6に供給し、非サンプリング期間において、コンデンサC1に保持されているゲートバイアス電位を増幅して定電圧発生回路1の出力ノードN6に供給する。
ここで、トランジスタQN5の増幅動作は、ゲートに入力される信号とドレインから出力される信号とが逆相関係となる反転増幅動作であるので、位相補償用のコンデンサC2をゲート・ドレイン間に接続することにより、トランジスタQN5の高域発振を防止することができる。
間欠動作制御回路2は、サンプリング信号SP1、サンプリング信号XSP1、及び、サンプリング信号SP2を生成する。あるいは、定電圧発生回路1において、サンプリング信号SP1を反転することによりサンプリング信号XSP1を得るようにしても良いし、サンプリング信号XSP1を反転することによりサンプリング信号SP1を得るようにしても良い。
第1の実施形態においては、サンプリング信号SP2として、サンプリング信号SP1をそのまま用いることができるので、間欠動作制御回路2は、少なくとも1つのサンプリング信号(サンプリング信号SP1又はサンプリング信号XSP1)を生成すれば良い。
図2は、本発明の第1の実施形態におけるサンプリング信号の波形を示す波形図である。図2においては、例として、サンプリング信号SP1の波形が示されている。サンプリング期間T1においては、サンプリング信号SP1がハイレベルに活性化され、非サンプリング期間T2においては、サンプリング信号SP1がローレベルに非活性化される。
この例において、定電圧発生回路の間欠動作の周期は1ms程度であり、サンプリング信号SP1がハイレベルである期間の割合(デューティ)T1/(T1+T2)は、1/8〜1/16程度が適当である。これにより、間欠動作における定電圧発生回路の動作電流は、連続動作における定電圧発生回路の動作電流の1/8〜1/16程度となり、さらなる低消費電流化を実現することができる。
再び図1を参照すると、サンプリング期間においては、差動増幅回路11が動作して、出力段の増幅回路を構成するトランジスタQN5のゲートバイアス電位を制御する。トランジスタQP4のしきい値電圧をVTP4とし、トランジスタQN4のしきい値電圧をVTN4とすると、定電圧発生回路1の出力ノードN6には、電圧(VTP4+VTN4)に依存した定電圧である出力電圧VREGが得られる。この出力電圧VREGは、電源電位VDD及びVSSには依存しない。
一方、非サンプリング期間においては、差動増幅回路11は動作を停止するが、コンデンサC1がトランジスタQN5のゲートバイアス電位を保持するので、定電圧発生回路1の出力ノードN6において出力電圧VREGが維持される。また、トランジスタQN6がオフ状態となるので、図8に示すような、電源電位VDDから、負荷容量CL、コンデンサC2、及び、コンデンサC1を介して、電源電位VSSに到る直列経路(図8中の太線)は形成されない。従って、コンデンサC1によって保持されるゲートバイアス電位の変動が抑制されるので、定電圧発生回路1の出力電圧VREGが安定する。
このように、第1の実施形態によれば、非サンプリング期間においても安定した定電圧を負荷に供給することができるので、定電圧発生回路のより一層の低消費電流化が可能となる。また、第1の実施形態に係る定電圧発生回路は、従来の定電圧発生回路に1個のトランジスタを追加することによって実現できるので、大幅なコストアップを招くことがない。
次に、本発明の第2の実施形態について、図1及び図3〜図5を参照しながら説明する。第2の実施形態においては、間欠動作制御回路2が、定電圧発生回路1の第1〜第3のスイッチ回路を略同時にオンさせると共に、第3のスイッチ回路をオフさせた後に第1及び第2のスイッチ回路をオフさせる。その他の点に関しては、第1の実施形態と同様である。
図3は、本発明の第2の実施形態におけるサンプリング信号の波形を示す波形図である。間欠動作制御回路2は、第2のスイッチ回路を構成するトランジスタQN3のゲートに供給されるサンプリング信号SP1を、サンプリング期間においてハイレベルに活性化し、非サンプリング期間においてローレベルに活性化する。第1のスイッチ回路を構成するトランジスタQP3のゲートに供給されるサンプリング信号XSP1は、サンプリング信号SP1を反転したものであり、間欠動作制御回路2又は定電圧発生回路1において生成される。
さらに、間欠動作制御回路2は、第3のスイッチ回路を構成するトランジスタQN6のゲートに供給されるサンプリング信号SP2を、サンプリング信号SP1及びサンプリング信号XSP1と略同一のタイミングで活性化すると共に、サンプリング信号SP1及びサンプリング信号XSP1よりも所定の時間ΔTだけ早いタイミングで非活性化する。ここで、所定の時間ΔTは、例えば、100ns程度である。
図4は、本発明の第2の実施形態において用いられる間欠動作制御回路の具体的な構成例を示す回路図である。図4に示すように、間欠動作制御回路2は、タイミング信号生成回路21と、インバータ22〜25と、コンデンサ26及び27と、論理積(AND)回路28とを含んでいる。
図5は、図4に示す間欠動作制御回路が生成する信号の波形を示す波形図である。タイミング信号生成回路21は、間欠的にハイレベルに活性化されるタイミング信号TMを生成する。インバータ22及び23の各々は、2つのトランジスタによって構成され、それらのトランジスタのオン抵抗とコンデンサ26又は27とによって定まる時定数によって、入力されるタイミング信号TMを所定の時間ΔTだけ遅延させてサンプリング信号SP1を生成する。さらに、インバータ24は、サンプリング信号SP1を反転してサンプリング信号XSP1を生成し、インバータ25は、サンプリング信号XSP1を再度反転してサンプリング信号SP1を出力する。
AND回路28は、タイミング信号TMとサンプリング信号SP1との論理積を求めることにより、サンプリング信号SP2を生成する。間欠動作制御回路2は、第1のスイッチ回路を構成するトランジスタQP3のゲートにサンプリング信号XSP1を供給し、第2のスイッチ回路を構成するトランジスタQN3のゲートにサンプリング信号SP1を供給し、第3のスイッチ回路を構成するトランジスタQN6のゲートにサンプリング信号SP2を供給する。
第2の実施形態によれば、第3のスイッチ回路を構成するトランジスタQN6のゲートに供給されるサンプリング信号SP2の非活性化タイミングを、第1及び第2のスイッチ回路に供給されるサンプリング信号XSP1及びSP1の非活性化タイミングよりも早くすることによって、コンデンサC1に保持されている電位をコンデンサC2から迅速に切り離すことができるので、第1の実施形態におけるよりも安定した定電圧を供給することが可能である。
1 定電圧発生回路、 2 間欠動作制御回路、 3 被駆動回路、 11 差動増幅回路、 21 タイミング信号生成回路、 22〜25 インバータ、 26、27 コンデンサ、 28 AND回路、 CL 負荷容量、 QP1〜QP4 PチャネルMOSトランジスタ、 QN1〜QN6 NチャネルMOSトランジスタ、 A1〜A3 定電流源
Claims (7)
- 第1の電源電位及び第2の電源電位に基づいて定電圧を発生し、該定電圧を出力ノードから負荷に出力する定電圧発生回路であって、
第1のノード及び第2のノードから電源電圧が供給されたときに、第1の入力端子の電位と第2の入力端子の電位との差を増幅して出力端子から出力信号を出力する差動増幅回路と、
前記第1の電源電位と前記第1のノードとの間に接続され、印加されるサンプリング信号に同期してオン/オフする第1のスイッチ回路と、
前記第2のノードと前記第2の電源電位との間に接続され、印加されるサンプリング信号に同期してオン/オフする第2のスイッチ回路と、
前記第1のノードと前記差動増幅回路の第1の入力端子との間に第1のバイアス電圧を発生する第1のバイアス電圧発生回路と、
前記差動増幅回路の第2の入力端子と前記出力ノードとの間に第2のバイアス電圧を発生する第2のバイアス電圧発生回路と、
前記差動増幅回路の出力端子に接続された第1の端子を有し、印加されるサンプリング信号に同期してオン/オフする第3のスイッチ回路と、
前記第3のスイッチ回路の第2の端子と前記第2の電源電位との間に接続された第1のコンデンサと、
前記第3のスイッチ回路がオンしているときに、前記第3のスイッチ回路の第2の端子から供給される前記差動増幅回路の出力信号を増幅して前記出力ノードに供給し、前記第3のスイッチ回路がオフしているときに、前記第1のコンデンサに保持されている電位を増幅して前記出力ノードに供給する増幅回路と、
前記出力ノードと前記差動増幅回路の出力端子との間に接続された第2のコンデンサと、
を具備する定電圧発生回路。 - 請求項1記載の定電圧発生回路と、
間欠的に活性化される少なくとも1つのサンプリング信号を生成して前記定電圧発生回路の間欠動作を制御する間欠動作制御回路と、
を具備する半導体集積回路。 - 前記間欠動作制御回路が、前記第1〜第3のスイッチ回路を略同時にオンさせると共に、前記第3のスイッチ回路をオフさせた後に前記第1及び第2のスイッチ回路をオフさせる、請求項2記載の半導体集積回路。
- 前記第1のスイッチ回路が、Pチャネルトランジスタによって構成され、前記第2のスイッチ回路が、Nチャネルトランジスタによって構成され、前記第3のスイッチ回路が、Nチャネルトランジスタによって構成される、請求項2又は3記載の半導体集積回路。
- 前記間欠動作制御回路が、間欠的にハイレベルに活性化されるタイミング信号を生成し、前記タイミング信号を遅延させて第1のサンプリング信号を生成し、前記第1のサンプリング信号を反転して第2のサンプリング信号を生成し、前記タイミング信号と前記第1のサンプリング信号との論理積を求めることにより第3のサンプリング信号を生成して、前記第1のサンプリング信号を前記第2のスイッチ回路に供給し、前記第2のサンプリング信号を前記第1のスイッチ回路に供給し、前記第3のサンプリング信号を前記第3のスイッチ回路に供給する、請求項4記載の半導体集積回路。
- 前記増幅回路が、前記第3のスイッチ回路の第2の端子に接続されたゲートと、前記出力ノードに接続されたドレインと、前記第2の電源電位に接続されたソースとを有するトランジスタを含む、請求項2〜5のいずれか1項記載の半導体集積回路。
- 前記第1のバイアス電圧発生回路が、前記第1のノードと前記差動増幅回路の第1の入力端子との間に接続され、ゲートとドレインとが接続された少なくとも1つのトランジスタを含み、前記第2のバイアス電圧発生回路が、前記差動増幅回路の第2の入力端子と前記出力ノードとの間に接続され、ゲートとドレインとが接続された少なくとも1つのトランジスタを含む、請求項2〜6のいずれか1項記載の半導体集積回路。
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JP2009241127A JP2011090363A (ja) | 2009-10-20 | 2009-10-20 | 定電圧発生回路及びそれを内蔵した半導体集積回路 |
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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CN110442180A (zh) * | 2018-05-02 | 2019-11-12 | 亚德诺半导体无限责任公司 | 功率-循环电压参考 |
-
2009
- 2009-10-20 JP JP2009241127A patent/JP2011090363A/ja not_active Withdrawn
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