JP2011088851A - チタンアミド錯体の製造方法 - Google Patents

チタンアミド錯体の製造方法 Download PDF

Info

Publication number
JP2011088851A
JP2011088851A JP2009243395A JP2009243395A JP2011088851A JP 2011088851 A JP2011088851 A JP 2011088851A JP 2009243395 A JP2009243395 A JP 2009243395A JP 2009243395 A JP2009243395 A JP 2009243395A JP 2011088851 A JP2011088851 A JP 2011088851A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
group
titanium
alkyl group
tert
complex
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2009243395A
Other languages
English (en)
Inventor
Kenichi Tada
賢一 多田
Toshiki Yamamoto
俊樹 山本
Kohei Iwanaga
宏平 岩永
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Sagami Chemical Research Institute
Tosoh Corp
Original Assignee
Sagami Chemical Research Institute
Tosoh Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Sagami Chemical Research Institute, Tosoh Corp filed Critical Sagami Chemical Research Institute
Priority to JP2009243395A priority Critical patent/JP2011088851A/ja
Publication of JP2011088851A publication Critical patent/JP2011088851A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Organic Low-Molecular-Weight Compounds And Preparation Thereof (AREA)
  • Chemical Vapour Deposition (AREA)
  • Electrodes Of Semiconductors (AREA)

Abstract

【課題】チタン含有薄膜をCVD法やALD法などにより製造するために有用なチタンアミド錯体(3)を、入手容易な原料から簡便に収率良く製造する方法を提供する。
【解決手段】チタンアルコキソ錯体にリチウムジアルキルアミドを反応させることによって、下記のチタンアミド錯体を製造する。
Figure 2011088851

(式中、R、及びRは各々独立に炭素数1から6のアルキル基を示す。R及びRは各々独立に水素原子又は炭素数1から3のアルキル基を示す。R及びRは各々独立に炭素数1から4のアルキル基を示す。)
【選択図】なし

Description

本発明は、半導体素子の製造用材料として有用なチタンアミド錯体の製造方法に関する。
アミド配位子を有するチタン錯体は、化学気相蒸着法(CVD法)又は原子層蒸着法(ALD法)などを用いて、チタン、窒化チタン、酸化チタン、チタン含有複合酸化物などのチタン含有薄膜を形成するための原料として注目されている。特許文献1に記載されているチタンアミド錯体は、良好な気化特性及び優れた熱安定性を持つことから、CVD法又はALD法などの手法によってチタン含有薄膜を形成するための原料として有用である。また、特許文献1には、このチタンアミド錯体の製造方法として、ジイミンと金属リチウム又は金属ナトリウムを反応させ、次いでテトラキス(ジアルキルアミド)チタンを反応させる製造方法が記載されている。
特開2007−153872号公報
特許文献1に記載されているチタンアミド錯体の製造方法は、合成原料としてテトラキス(ジアルキルアミド)チタンを用いているため、必ずしも経済的な製法とは言えない。本発明の課題は、チタン含有薄膜をCVD法やALD法などにより製造するために有用なチタンアミド錯体を、入手容易な原料から簡便に収率良く製造する方法を提供することである。
本発明者等は上記の課題を解決すべく鋭意検討した結果、入手容易なチタンアルコキソ錯体を原料として用いても、リチウムジアルキルアミドとの反応によりチタンアミド錯体を簡便に収率良く製造する方法を見いだし、本発明を完成するに至った。
すなわち本発明は、一般式(1)
Figure 2011088851
(式中、R、R及びRは各々独立に炭素数1から6のアルキル基を示す。R及びRは各々独立に水素原子又は炭素数1から3のアルキル基を示す。)で表されるチタンアルコキソ錯体に、一般式(2)
Figure 2011088851
(式中、R及びRは各々独立に炭素数1から4のアルキル基を示す。)で表されるリチウムジアルキルアミドを反応させることを特徴とする、一般式(3)
Figure 2011088851
(式中、R、R、R、R、R及びRは前記と同じ意味を示す。)で表されるチタンアミド錯体の製造方法に関するものである。
以下に本発明をさらに詳細に説明する。一般式(3)で表されるチタンアミド錯体は、一般式(3a)
Figure 2011088851
(式中、R、R、R、R、R及びRは前記と同じ意味を示す。)で表される共鳴構造をとりうるが、本発明においては、表記の簡略化のためこれらを併せて一般式(3)として記載する。また一般式(1)で表されるチタンアルコキソ錯体についても同様の共鳴構造をとりうるが、本発明においては、これについても表記の簡略化のために、これらを併せて一般式(1)として記載する。
まず、一般式中のR、R、R、R、R、R及びRについて説明する。
及びRで表される炭素数1から6のアルキル基としては、直鎖状、分岐状又は環状のいずれのアルキル基でも良く、具体的には、メチル基、エチル基、プロピル基、イソプロピル基、シクロプロピル基、ブチル基、イソブチル基、sec−ブチル基、tert−ブチル基、シクロブチル基、シクロプロピルメチル基、ペンチル基、イソペンチル基、ネオペンチル基、tert−ペンチル基、1−メチルブチル基、2−メチルブチル基、1,2−ジメチルプロピル基、1−エチルプロピル基、シクロペンチル基、シクロブチルメチル基、1−シクロプロピルエチル基、ヘキシル基、イソヘキシル基、1−メチルペンチル基、2−メチルペンチル基、3−メチルペンチル基、1,1−ジメチルブチル基、1,2−ジメチルブチル基、2,2−ジメチルブチル基、1,3−ジメチルブチル基、2,3−ジメチルブチル基、3,3−ジメチルブチル基、1−エチルブチル基、2−エチルブチル基、1,1,2−トリメチルプロピル基、1,2,2−トリメチルプロピル基、1−エチル−1−メチルプロピル基、1−エチル−2−メチルプロピル基、シクロヘキシル基、2−メチルシクロペンチル基、3−メチルシクロペンチル基、4−メチルシクロペンチル基等を例示することが出来る。チタンアミド錯体(3)の収率が良い点で、R及びRは各々独立に炭素数3から5の分岐状アルキル基が好ましく、R及びRが共にtert−ブチル基であること又はR及びRが共にtert−ペンチル基であることが更に好ましい。
及びRで表される炭素数1から3のアルキル基としては、直鎖状、分岐状又は環状のいずれのアルキル基でも良く、具体的には、メチル基、エチル基、プロピル基、イソプロピル基、シクロプロピル基を例示することが出来る。製造原料であるチタンアルコキソ錯体(1)を容易に入手できる点で、R及びRは水素原子が好ましい。
で表される炭素数1から6のアルキル基としては、直鎖状、分岐状又は環状のいずれのアルキル基でも良く、具体的には、メチル基、エチル基、プロピル基、イソプロピル基、シクロプロピル基、ブチル基、イソブチル基、sec−ブチル基、tert−ブチル基、シクロブチル基、シクロプロピルメチル基、ペンチル基、イソペンチル基、ネオペンチル基、tert−ペンチル基、1−メチルブチル基、2−メチルブチル基、1,2−ジメチルプロピル基、1−エチルプロピル基、シクロペンチル基、シクロブチルメチル基、1−シクロプロピルエチル基、ヘキシル基、イソヘキシル基、1−メチルペンチル基、2−メチルペンチル基、3−メチルペンチル基、1,1−ジメチルブチル基、1,2−ジメチルブチル基、2,2−ジメチルブチル基、1,3−ジメチルブチル基、2,3−ジメチルブチル基、3,3−ジメチルブチル基、1−エチルブチル基、2−エチルブチル基、1,1,2−トリメチルプロピル基、1,2,2−トリメチルプロピル基、1−エチル−1−メチルプロピル基、1−エチル−2−メチルプロピル基、シクロヘキシル基、2−メチルシクロペンチル基、3−メチルシクロペンチル基、4−メチルシクロペンチル基等を例示することが出来る。チタンアミド錯体(3)の収率が良い点及び製造原料であるチタンアルコキソ錯体(1)を容易に入手できる点で、Rは炭素数2から4のアルキル基が好ましく、とりわけエチル基又はイソプロピル基が好ましい。
及びRで表される炭素数1から4のアルキル基としては、直鎖状、分岐状又は環状のいずれのアルキル基でも良く、具体的には、メチル基、エチル基、プロピル基、イソプロピル基、シクロプロピル基、ブチル基、イソブチル基、sec−ブチル基、tert−ブチル基、シクロブチル基、シクロプロピルメチル基等を例示することが出来る。チタンアミド錯体(3)の収率が良い点で、R及びRの少なくとも一方がメチル基又はエチル基であることが好ましく、R及びRの両方が各々独立にメチル基又はエチル基であることが更に好ましい。
本発明の製造原料として用いるチタンアルコキソ錯体(1)は、特願2008−163477号明細書に記載の方法に準じて、すなわち下記反応式に従って容易に製造することが出来る。
Figure 2011088851
(式中、R、R、R、R、Rは前記と同じ意味を示す。Mはアルカリ金属を示す。)
次に本発明の製造方法について説明する。本発明の製造方法では、チタンアルコキソ錯体(1)とリチウムジアルキルアミド(2)を反応させることによって、チタンアミド錯体(3)を収率良く製造することが出来る。
Figure 2011088851
チタンアミド錯体(3)の収率が良い点で、不活性ガス中で反応を行うことが好ましい。不活性ガスとしては、ヘリウム、ネオン、アルゴン、クリプトン、キセノンなどの希ガスや窒素を例示することが出来る。
また本発明の製造方法では、反応に用いるチタンアルコキソ錯体(1)とリチウムジアルキルアミド(2)の量に制限は無いが、チタンアミド錯体(3)の収率が良い点で、チタンアルコキソ錯体(1)に対してリチウムジアルキルアミド(2)を1.8から3.0当量の範囲から適宜選択して用いるのが好ましい。
さらに、本発明の製造方法では、溶媒を用いなくても良いが、チタンアミド錯体(3)の収率が良い点で、反応を有機溶媒中で実施することが好ましい。具体的な有機溶媒の種類としては、チタンアルコキソ錯体(1)、リチウムジアルキルアミド(2)又はチタンアミド錯体(3)と反応しないものであれば制限はない。例えば、ペンタン、ヘキサン、ヘプタン、オクタン、シクロヘキサン、ベンゼン、トルエン、キシレン、エチルベンゼン、ジエチルエーテル、ジイソプロピルエーテル、シクロペンチルメチルエーテル、シクロペンチルエチルエーテル、ジオキサン、テトラヒドロフラン、1,2−ジメトキシエタン等を挙げることが出来る。チタンアミド錯体(3)の収率が良い点で、テトラヒドロフラン、ヘキサン、ヘプタン又はこれらの混合物が好ましい。溶媒の量には特に制限はなく、適宜選択された量の溶媒を用いることによって収率良くチタンアミド錯体(3)を製造することができる。
さらに本発明の製造方法では、反応を実施する温度には特に制限は無いが、好ましくは−80〜100℃の範囲から適宜選ばれた温度でチタンアルコキソ錯体(1)とリチウムジアルキルアミド(2)を反応させることにより、チタンアミド錯体(3)を収率良く製造することができる。
反応終了後は、必要に応じてろ過、抽出、蒸留、昇華、結晶化等の一般的な精製方法を適宜選択して用いることにより、チタンアミド錯体(3)を精製することが出来る。
本発明の製造方法によって、チタン含有薄膜をCVD法やALD法などにより製造するために有用なチタンアミド錯体(3)を、入手容易な原料から簡便に収率良く製造することができる。
以下、実施例を挙げて本発明をさらに詳細に説明するが、本発明はこれらに限定されるものではない。なお、本明細書中では、Me、Et、Pr、Bu及びPeは、それぞれメチル基、エチル基、イソプロピル基、tert−ブチル基及びtert−ペンチル基を示す。
参考例1
アルゴン雰囲気下で、N,N’−ジ(tert−ブチル)−1,4−ジアザ−1,3−ブタジエン(BuNCHCHNBu)8.68g(51.6mmol)をテトラヒドロフラン80mLに溶かし、ナトリウム2.37g(103mmol)を加えて室温で12時間撹拌した。生成した濃赤色の反応液をテトラエトキソチタン(Ti(OEt))11.2g(49.1mmol)とヘキサン40mLの混合物に加え、室温で12時間撹拌した。得られたスラリーから溶媒を減圧下で留去し、残渣にヘキサン80mLを加えた。生成した不溶物をろ別して除去し、ろ液から溶媒を減圧留去した。得られた濃赤色油状物を減圧蒸留(留出温度85℃/7Pa)することにより、エテン−1,2−ジイルビス(tert−ブチルアミド)ジエトキソチタン(Ti(BuNCHCHNBu)(OEt))を濃赤色の液体として得た(収量10.68g、収率71%)。
H−NMR(500MHz,C,δ/ppm)
5.98(s,2H),4.20(br,4H),1.29(s,18H),1.16−1.32(br,6H).
13C−NMR(125MHz,C,δ/ppm)
102.4,68.0−70.0(br),58.0,31.6,21.2。
参考例2
アルゴン雰囲気下で、N,N’−ジ(tert−ブチル)−1,4−ジアザ−1,3−ブタジエン(BuNCHCHNBu)2.22g(13.2mmol)をテトラヒドロフラン20mLに溶かし、ナトリウム606mg(26.4mmol)を加えて室温で12時間撹拌した。生成した濃赤色の反応液をテトライソプロポキソチタン(Ti(OPr))3.56g(12.5mmol)とヘキサン10mLの混合物に加え、室温で12時間撹拌した。得られたスラリーから溶媒を減圧下で留去し、残渣にヘキサン20mLを加えた。生成した不溶物をろ別して除去し、ろ液から溶媒を減圧留去した。得られた濃赤色油状物を減圧蒸留(留出温度85℃/7Pa)することにより、エテン−1,2−ジイルビス(tert−ブチルアミド)ジイソプロポキソチタン(Ti(BuNCHCHNBu)(OPr))を濃赤色の液体として得た(収量3.91g、収率93%)。
H−NMR(500MHz,C,δ/ppm)
5.96(s,2H),4.0−5.0(br,2H),1.30(s,18H),1.1−1.3(br,12H).
13C−NMR(125MHz,C,δ/ppm)
102.7,74.5(br),57.6,31.7,27.8。
参考例3
アルゴン雰囲気下で、N,N’−ジ(tert−ペンチル)−1,4−ジアザ−1,3−ブタジエン(PeNCHCHNPe)8.64g(44.0mmol)をテトラヒドロフラン70mLに溶かし、ナトリウム2.06g(89.6mmol)を加えて室温で12時間撹拌した。生成した濃赤色の反応液をテトラエトキソチタン(Ti(OEt))9.75g(42.7mmol)とヘキサン40mLの混合物に加え、室温で12時間撹拌した。得られたスラリーから溶媒を減圧下で留去し、残渣にヘキサン80mLを加えた。生成した不溶物をろ別して除去し、ろ液から溶媒を減圧留去した。得られた濃赤色油状物を減圧蒸留(留出温度100℃/7Pa)することにより、エテン−1,2−ジイルビス(tert−ペンチルアミド)ジエトキソチタン(Ti(PeNCHCHNPe)(OEt))を濃赤色の液体として得た(収量11.04g、収率77%)。
H−NMR(500MHz,C,δ/ppm)
5.91(s,2H),3.4−4.8(br,4H),1.55(q,J=8Hz,4H),1.25(s,12H),1.1−1.5(br,6H),0.80(t,J=8Hz,6H).
13C−NMR(125MHz,C,δ/ppm)
102.3,71.0(br),60.7,36.6,29.1(br),21.1,9.2。
実施例1
アルゴン雰囲気下で、エテン−1,2−ジイルビス(tert−ブチルアミド)ジエトキソチタン(Ti(BuNCHCHNBu)(OEt))2.89g(9.44mmol)をテトラヒドロフラン10mLに溶かし、リチウムジメチルアミドのヘキサンスラリー(5.2wt%)20.8g(20.8mmol)を加えて室温で12時間撹拌した。反応溶液から溶媒を減圧留去し、残渣にヘキサン10mlを加えて室温で10分間撹拌した。生成した不溶物をろ別して除去し、ろ液から溶媒を減圧留去した。得られた濃赤色油状物を減圧蒸留することにより(留出温度78℃/4Pa)、エテン−1,2−ジイルビス(tert−ブチルアミド)ビス(ジメチルアミド)チタン(Ti(BuNCHCHNBu)(NMe)を濃赤色の液体2.33gとして得た(収率83%)。
H−NMR(500MHz,C,δ/ppm)5.86(s,2H),3.06(s,12H),1.28(s,18H).
13C−NMR(125MHz,C,δ/ppm)102.0,58.7,43.6,31.6。
実施例2
アルゴン雰囲気下で、ブチルリチウムのヘキサン溶液(1.65M)14.5mLを−78℃に冷却し、テトラヒドロフラン10mL及びジエチルアミン1.73g(24.0mmol)を順に加えた。この混合物を室温まで徐々に温め、室温で30分間撹拌することにより、リチウムジエチルアミド溶液を調製した。このリチウムジエチルアミド溶液をエテン−1,2−ジイルビス(tert−ブチルアミド)ジエトキソチタン(Ti(BuNCHCHNBu)(OEt))3.06g(10.0mmol)とテトラヒドロフラン10mLの混合物に加え、室温で12時間撹拌した。反応溶液から溶媒を減圧留去し、残渣にヘキサン10mlを加えて室温で10分間撹拌した。生成した不溶物をろ別して除去し、ろ液から溶媒を減圧留去した。得られた濃赤色油状物を減圧蒸留することにより(留出温度115℃/8Pa)、エテン−1,2−ジイルビス(tert−ブチルアミド)ビス(ジエチルアミド)チタン(Ti(BuNCHCHNBu)(NEt)を濃赤色の液体3.10gとして得た(収率86%)。
H−NMR(500MHz,C,δ/ppm)5.85(s,2H),3.47(q,J=7Hz,4H),1.31(s,18H),1.10(t,J=7Hz,6H).
13C−NMR(125MHz,C,δ/ppm)102.0,58.1,44.0,31.4,15.9。
実施例3
アルゴン雰囲気下で、ブチルリチウムのヘキサン溶液(1.54M)136mLを−78℃に冷却し、テトラヒドロフラン100mL及びジエチルアミン15.4g(210mmol)を順に加えた。この混合物を室温まで徐々に温め、室温で30分間撹拌することにより、リチウムジエチルアミド溶液を調製した。このリチウムジエチルアミド溶液をエテン−1,2−ジイルビス(tert−ブチルアミド)ジイソプロポキソチタン(Ti(BuNCHCHNBu)(OiPr))33.4g(100mmol)とテトラヒドロフラン100mLの混合物に加え、室温で12時間撹拌した。反応溶液にクロロトリメチルシランを22.8g(210mmol)加え、さらに12時間室温で撹拌した。得られたスラリーから溶媒を減圧留去し、残渣にヘキサン100mlを加えて室温で10分間撹拌した。生成した不溶物をろ別して除去し、ろ液から溶媒を減圧留去した。得られた濃赤色油状物を減圧蒸留することにより(留出温度115℃/8Pa)、エテン−1,2−ジイルビス(tert−ブチルアミド)ビス(ジエチルアミド)チタン(Ti(BuNCHCHNBu)(NEt)を濃赤色の液体30.6gとして得た(収率85%)。このようにして得たTi(BuNCHCHNBu)(NEtH及び13C−NMRスペクトルを測定したところ、これらのスペクトルは実施例2で得たもののスペクトルと一致した。
実施例4
アルゴン雰囲気下で、エテン−1,2−ジイルビス(tert−ペンチルアミド)ジエトキソチタン(Ti(PeNCHCHNPe)(OEt))4.07g(12.2mmol)をテトラヒドロフラン10mLに溶かし、リチウムジメチルアミドのヘキサンスラリー(5.2wt%)29.3g(29.3mmol)を加えて室温で12時間撹拌した。反応溶液から溶媒を減圧留去し、残渣にヘキサン10mlを加えた。生成した不溶物をろ別して除去し、ろ液から溶媒を減圧留去した。得られた濃赤色油状物を減圧蒸留することにより(留出温度106℃/8Pa)、エテン−1,2−ジイルビス(tert−ペンチルアミド)ビス(ジメチルアミド)チタン(Ti(PeNCHCHNPe)(NMe)を濃赤色の液体3.31gとして得た(収率82%)。
H−NMR(500MHz,C,δ/ppm)5.77(s,2H),3.05(s,6H),1.52(q,J=7Hz,2H),1.24(s,6H),0.78(t,J=7Hz,3H).
13C−NMR(125MHz,C,δ/ppm)101.7,61.0,43.5,36.6,28.6,9.0。
実施例5
アルゴン雰囲気下で、ブチルリチウムのヘキサン溶液(1.65M)33.5mLを−78℃に冷却し、テトラヒドロフラン23mL及びN−メチルブチルアミン4.81g(55.2mmol)を順に加えた。この混合物を室温まで徐々に温め、室温で30分間撹拌することにより、リチウムブチル(メチル)アミド溶液を調製した。このリチウムブチル(メチル)アミド溶液をエテン−1,2−ジイルビス(tert−ブチルアミド)ジエトキソチタン(Ti(BuNCHCHNBu)(OEt))7.04g(23.0mmol)とテトラヒドロフラン23mLの混合物に加え、室温で15.5時間撹拌した。反応溶液から溶媒を減圧留去し、残渣にヘキサン23mlを加えて室温で30分間撹拌した。生成した不溶物をろ別して除去し、ろ液から溶媒を減圧留去した。得られた濃赤色油状物を減圧蒸留することにより(留出温度93℃/8Pa)、エテン−1,2−ジイルビス(tert−ブチルアミド)ビス[ブチル(メチル)アミド]チタン(Ti(BuNCHCHNBu)(NBuMe))を濃赤色の液体6.87gとして得た(収率77%)。
H−NMR(500MHz,C,δ/ppm)5.89(s,2H),3.41(br,4H),3.02(s,6H),1.49−1.54(br,4H),1.34−1.41(m,4H),1.32(s,18H),0.97(t,J=7Hz,6H).
13C−NMR(125MHz,C,δ/ppm)102.0,58.3,56.9(br),38.5,32.6,31.3,21.0,14.5。

Claims (3)

  1. 一般式(1)
    Figure 2011088851
    (式中、R、R及びRは各々独立に炭素数1から6のアルキル基を示す。R及びRは各々独立に水素原子又は炭素数1から3のアルキル基を示す。)で表されるチタンアルコキソ錯体に、一般式(2)
    Figure 2011088851
    (式中、R及びRは各々独立に炭素数1から4のアルキル基を示す。)で表されるリチウムジアルキルアミドを反応させることを特徴とする、一般式(3)
    Figure 2011088851
    (式中、R、R、R、R、R及びRは前記と同じ意味を示す。)で表されるチタンアミド錯体の製造方法。
  2. 及びRが各々独立に炭素数3から5の分岐状アルキル基であり、R及びRが水素原子であり、Rが炭素数2から4のアルキル基であり、R及びRの少なくとも一方がメチル基又はエチル基である、請求項1に記載の製造方法。
  3. 及びRが共にtert−ブチル基又はtert−ペンチル基であり、R及びRが水素原子であり、Rがエチル基又はイソプロピル基であり、R及びRが各々独立にメチル基又はエチル基である、請求項1又は2に記載の製造方法。
JP2009243395A 2009-10-22 2009-10-22 チタンアミド錯体の製造方法 Pending JP2011088851A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2009243395A JP2011088851A (ja) 2009-10-22 2009-10-22 チタンアミド錯体の製造方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2009243395A JP2011088851A (ja) 2009-10-22 2009-10-22 チタンアミド錯体の製造方法

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2011088851A true JP2011088851A (ja) 2011-05-06

Family

ID=44107445

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2009243395A Pending JP2011088851A (ja) 2009-10-22 2009-10-22 チタンアミド錯体の製造方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2011088851A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2013035672A1 (ja) 2011-09-05 2013-03-14 東ソー株式会社 製膜用材料、iv族金属酸化物膜及びビニレンジアミド錯体

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2013035672A1 (ja) 2011-09-05 2013-03-14 東ソー株式会社 製膜用材料、iv族金属酸化物膜及びビニレンジアミド錯体
EP2754638A4 (en) * 2011-09-05 2015-08-05 Tosoh Corp FILMOGENIC MATERIAL, GROUP IV METAL OXIDE FILM AND VINYLENE DIAMIDE COMPLEX
US9371452B2 (en) 2011-09-05 2016-06-21 Tosoh Corporation Film-forming material, group IV metal oxide film and vinylenediamide complex

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5180040B2 (ja) 三座ベータケトイミネートの金属錯体
JP5136576B2 (ja) 有機ルテニウム化合物およびその製造方法
US6593484B2 (en) Tantalum tertiary amylimido tris (dimethylamide), a process for producing the same, a solution of starting material for mocvd using the same, and a method of forming a tantalum nitride film using the same
JP6065840B2 (ja) トリス(ジアルキルアミド)アルミニウム化合物及び当該アルミニウム化合物を用いるアルミニウム含有薄膜の製造方法
US7947814B2 (en) Metal complexes of polydentate beta-ketoiminates
TWI359804B (en) Metal-containing compound, method for producing th
JP5857970B2 (ja) (アミドアミノアルカン)金属化合物、及び当該金属化合物を用いた金属含有薄膜の製造方法
US7442407B2 (en) Tantalum and niobium compounds and their use for chemical vapour deposition (CVD)
JP5148186B2 (ja) イミド錯体、その製造方法、金属含有薄膜及びその製造方法
JP2014511380A (ja) N−アミノアミジナート配位子を有する金属錯体
JP2006516031A (ja) タンタル系材料の蒸着のための化学蒸着前駆体
JP2010111672A (ja) 第2族金属酸化物膜の堆積のための第2族金属前駆体
KR101306811B1 (ko) 신규의 텅스텐 아미노아미드 할로겐 화합물, 이의 제조방법 및 이를 이용하여 박막을 형성하는 방법
KR20170055268A (ko) 인듐 전구체, 이의 제조방법, 및 이를 이용하여 박막을 형성하는 방법
EP1466918B1 (en) Novel bismuth compounds, process of producing the same, and process of producing a film
JP2011088851A (ja) チタンアミド錯体の製造方法
JP5919882B2 (ja) コバルト化合物の混合物、及び当該コバルト化合物の混合物を用いたコバルト含有薄膜の製造方法
JP5732962B2 (ja) ジルコニウムアミド化合物の製造方法
KR101306812B1 (ko) 신규의 텅스텐 실릴아미드 화합물, 이의 제조방법 및 이를 이용하여 박막을 형성하는 방법
JP5558142B2 (ja) ジアザシラシクロペンテン誘導体、その製造方法及びケイ素含有薄膜の製法
KR102418179B1 (ko) 원자층 증착 또는 화학적 기상증착용 전구체로서의 신규한 유기-지르코늄 화합물 및 그 제조방법
KR101306813B1 (ko) 신규의 텅스텐 아미노아미드 아지드 화합물, 이의 제조방법 및 이를 이용하여 박막을 형성하는 방법
JP4513358B2 (ja) 新規ビスマス化合物、その製造方法、および膜の製造方法
JP2006249047A (ja) 有機金属アミド錯体の精製方法
JP2001131745A (ja) 銅薄膜形成用有機銅化合物